CN115236413A - 屏蔽效能测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种屏蔽效能测试系统及方法，首先，利用全向天线向任意方向同时发射测试电磁波信号，全向天线外套设有待测样品，因此发射出的测试电磁波信号与待测样品成不同角度，再将接收天线设置在支撑架朝向全向天线的一侧的不同位置上，此时接收天线接收来自全向天线的测试电磁波信号，即能同时根据不同入射角度的电磁波信号测试出待测样品的屏蔽效能。本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，由于只测试一次，因此测试时发射的电磁波信号高度一致，即一致性好，避免由于多次测试导致发射的电磁波信号一致性差，进而导致测试结果误差较大，因此本申请能减少测试误差，提高测试准确度，同时能极大地提高测试效率。

Description

屏蔽效能测试系统及方法

技术领域

本申请涉及电磁兼容技术领域，特别涉及为一种屏蔽效能测试系统及方法。

背景技术

随着电子技术的发展，空间环境中的电磁环境越来越复杂。复杂的电磁环境会对该环境中的电子设备产生干扰甚至毁伤。而电磁屏蔽能切断电磁波的传播途径，从而消除干扰。

通过电磁屏蔽效能测试方法能有效测试电磁屏蔽材料的屏蔽效能。现有技术如主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法、装置及系统(公布号：CN109406899A、公布日：2019.03.01)，通过电磁波信号产生装置产生预设强度电磁波信号，并将电磁波信号辐照至安装有光学玻璃的窗口的金属箱体的窗口处，光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜，电磁屏蔽效能计算装置采集经所述待测透光屏蔽薄膜屏蔽后金属箱体内的电磁波信号强度，并计算其与不经待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内电磁波信号强度的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。从而实现对透光屏蔽薄膜屏蔽效能的准确测试。

在测试根据不同入射角度的电磁波信号测试出的待测样品屏蔽效能时，现有测试方法为：当第一次测试完毕后，需要关闭发射天线，并改变发射天线的位置，再打开发射天线，进行第二次测试。再多次循环以上步骤，直至测完所有入射角度下待测样品的屏蔽效能。该方法存在以下问题：第二次测试时发射的电磁波信号无法与第一次发射的电磁波信号保持完全一致，同理，每一次测试时发射的电磁波信号都与之前测试发射的电磁波信号无法保持一致，测试次数越多，误差积累的越多，导致多次测试后的测试结果误差较大。

发明内容

本发明的目的在于提供一种屏蔽效能测试系统及方法，能够解决现有屏蔽材料屏蔽效能测试技术中根据不同入射角度的电磁波信号测试出待测样品屏蔽效能时，每一次测试时发射的电磁波信号都与之前测试发射的电磁波信号无法保持一致，即一致性差，导致多次测试之后测试结果误差较大的问题。

为了实现上述发明目的，本发明提供如下技术方案：

第一方面，提供一种屏蔽效能测试系统，包括屏蔽室，所述系统还包括：

信号发射装置，设置在所述屏蔽室内，所述信号发射装置包括全向天线，用于向任意方向同时发射测试电磁波信号，当所述全向天线外套设有待测样品时，全向天线在待测样品围成的样品空间内发射的多个测试电磁波信号与待测样品的表面成不同角度；

信号接收装置，设置在所述屏蔽室内，所述信号接收装置包括支撑架、若干接收天线，所述全向天线设置在所述支撑架中心处，且若干所述接收天线设置在所述支撑架朝向所述全向天线的一侧的不同位置上，用于接收与待测样品表面成不同角度的测试电磁波信号。

第一方面的一个可能的实现方式，所述屏蔽室内表面全部设置有吸波材料。

第一方面的一个可能的实现方式，所述支撑架为圆环状。

第一方面的一个可能的实现方式，所述支撑架竖直安装在所述屏蔽室内。

第一方面的一个可能的实现方式，所述支撑架水平安装在所述屏蔽室内。

第一方面的一个可能的实现方式，所述支撑架为球形，所述全向天线位于所述球形支撑架中心。

第一方面的一个可能的实现方式，所述系统还包括：支撑构件，包括多个安装面，所述支撑构件套设在所述全向天线外，多个所述安装面对应安装有多块待测样品，使得待测样品围成一个样品空间，样品空间内全向天线发射的测试电磁波信号与待测样品的表面成不同角度。

第一方面的一个可能的实现方式，所述系统还包括：屏蔽组件，所述屏蔽组件包括屏蔽层和粘贴层，所述粘贴层用于粘贴在所述安装面与所述待测样品的连接处，以封闭所述安装面与所述待测样品之间的缝隙，所述屏蔽层覆盖在所述粘贴层表面。

第一方面的一个可能的实现方式，所述系统还包括：支撑底座，所述支撑底座为吸波材质，用于支撑所述待测样品。

第二方面，提供一种屏蔽效能测试方法，应用于上述屏蔽效能测试系统，所述方法包括以下步骤：

第一信号发射步骤：当信号发射装置外套设有待测样品时，信号发射装置接收第一信号发射指令，发射第一测试电磁波信号；

第一信号接收步骤：信号接收装置采集透过所述待测样品的所述第一测试电磁波信号并读取第一数值，将所述第一数值发送至计算装置；

第二信号发射步骤：当移除信号发射装置外套设的待测样品时，所述信号发射装置接收第二信号发射指令，发射第二测试电磁波信号；

第二信号接收步骤：信号接收装置采集未透过所述待测样品的所述第二测试电磁波信号并读取第二数值，将所述第二数值发送至所述计算装置；

计算步骤：所述计算装置根据接收的所述第一数值和所述第二数值计算所述待测样品的屏蔽效能。

上述屏蔽效能测试系统及方法，首先，利用全向天线向任意方向同时发射测试电磁波信号，全向天线外套设有待测样品，因此发射出的测试电磁波信号与待测样品成不同角度，再将接收天线设置在支撑架朝向全向天线的一侧的不同位置上，此时接收天线接收来自全向天线的测试电磁波信号，即能同时根据不同入射角度的电磁波信号测试出待测样品的屏蔽效能。相较于现有技术需要进行多次测试才能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，由于只测试一次，因此测试时发射的电磁波信号高度一致，即一致性好，避免由于多次测试导致发射的电磁波信号一致性差，进而导致测试结果误差较大，因此本申请能减少测试误差，提高测试准确度。

其次，本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，不同于现有技术需要多次测试，导致需要多次调整设备位置，及多次控制设备来测试屏蔽效能。因此在测试不同入射角度下待测样品的屏蔽效能时，本申请能极大地提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1为一个实施例中角度示意图；

图2为一个实施例中屏蔽效能测试系统结构示意图；

图3为一个实施例中屏蔽效能测试系统结构示意图；

图4为一个实施例中屏蔽效能测试系统结构示意图；

图5为一个实施例中屏蔽效能测试系统结构示意图；

图6为一个实施例中屏蔽效能测试系统部分结构示意图；

图7为一个实施例中屏蔽效能测试系统部分结构示意图；

图8为一个实施例中屏蔽效能测试方法的流程图。

其中，1、屏蔽室；2、信号发射装置；21、全向天线；3、信号接收装置；31、支撑架；32、接收天线；4、待测样品；5、吸波材料；6、支撑构件；7、屏蔽组件；8、支撑底座。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

下面将结合本申请的实施例中的附图，对本申请的实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”、“包含”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、终端、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。在本申请的权利要求书、说明书以及说明书附图中的术语，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体/操作/对象与另一个实体/操作/对象区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体/操作/对象之间存在任何这种实时的关系或者顺序。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。

值得注意的是，本申请提到的角度为全向天线21发射的测试电磁波信号的方向与待测样品4表面的各个位置所成的角度。如图1所示，角度a和角度b为全向天线21发射的两个测试电磁波信号的方向与待测样品表面4所成的角度，可以理解为全向天线21与接收天线32的连线(即图中的两条虚线)与待测样品表面4所成的角度。

在现有技术中，测试样品的屏蔽效能一般是将信号接收装置放置在屏蔽室内，在屏蔽室外放置信号发射装置，在屏蔽室开一个窗口，将待测样品放置在窗口处测试屏蔽效能。在测试根据不同入射角度的电磁波信号测试出的待测样品屏蔽效能时，需要移动屏蔽室外的信号发射装置，来改变信号发射装置发射出的电磁波信号与待测样品所成的角度，测试该角度下待测样品的屏蔽效能，当需要测试多个角度下下待测样品的屏蔽效能时，就需要多次重复“关闭信号发射装置、移动信号发射装置、打开信号发射装置”这个过程。此时就会存在每次测试发射的电磁波信号的一致性差，导致测试结果误差大以及测试效率低下的问题。为了解决这些问题，本申请采用全向天线发射电磁波信号，将样品套设在全向天线外，此时全向天线在待测样品围成的样品空间内同时发射的多个测试电磁波信号与待测样品的表面成不同角度，而在全向天线外设置的支撑架上设置有不同位置的接收天线，能接收到与待测样品表面成不同角度的测试电磁波信号。因此本申请能只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，由于只测试一次，因此测试时发射的电磁波信号高度一致，即一致性好，避免由于多次测试导致发射的电磁波信号一致性差，进而导致测试结果误差较大，因此本申请能减少测试误差，提高测试准确度。其次，本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，不同于现有技术需要多次测试，导致需要多次调整设备位置，及多次控制设备来测试屏蔽效能。因此在测试不同入射角度下待测样品的屏蔽效能时，本申请能极大地提高测试效率。

如图2所示，提出了一种屏蔽效能测试系统，所述系统包括：

信号发射装置2，设置在所述屏蔽室1内，所述信号发射装置2包括全向天线21，用于向任意方向同时发射测试电磁波信号，当所述全向天线21外套设有待测样品4时，全向天线21在待测样品4围成的样品空间内发射的多个测试电磁波信号与待测样品4的表面成不同角度；

信号接收装置3，设置在所述屏蔽室1内，所述信号接收装置3包括支撑架31、若干接收天线32，所述全向天线21设置在所述支撑架31中心处，且若干所述接收天线32设置在所述支撑架31朝向所述全向天线21的一侧的不同位置上，用于接收与待测样品4表面成不同角度的测试电磁波信号。

其中，图2为侧视角度下屏蔽效能测试系统的结构示意图，屏蔽室1为封闭式的全金属箱体结构，也可以是由其他屏蔽材料组成的封闭空间。信号发射装置2包括全向天线21和信号发射器，以及固定全向天线21的支撑柱。全向天线21和信号发射器电连接。值得注意的是，全向天线21会向四面八方发射信号，前后左右都可以接受到信号。全向天线21外套设有待测样品4，待测样品4可以是一体成型的，如一体成型的立方体，圆柱体等。待测样品4也可以安装在支撑架31上，支撑架31有多个面用于安装待测样品4，使得每个面安装形状对应的待测样品4后，多个面的待测样品4能围成一个封闭的样品空间。值得注意的是，全向天线21与待测样品4之间没有接触，全向天线21依靠下方的支撑柱固定在空中，支撑柱内开设有线缆通道，待测样品4依靠支撑底座8套设在全向天线21外，支撑底座8套设在支撑柱外，待测样品4的下表面需要开设一个与支撑柱截面形状匹配的口，才能不接触的套设在全向天线21外，待测样品4开口处于支撑柱的缝隙需要用屏蔽效能强的材料封住，例如导电胶带。此外，当全向天线21在待测样品4围成的样品空间内同时向任意方向同时发射测试电磁波信号时，此时就会有多个测试电磁波信号与待测样品4的表面成不同角度，因此就能测试不同角度的电磁波信号测试出的待测样品4屏蔽效能。

另外，信号接收装置3包括多个接收天线32(图中只标出一个接收天线32)和频谱分析仪，以及固定多个接收天线32的支撑架31。接收天线32和频谱分析仪电连接。全向天线21设置在支撑架31的中心处，例如支撑架31为圆环，则全向天线21设置在圆心处。接收天线32设置在支撑架31朝向全向天线21的一侧的不同位置上，可以是均匀设置，也可以根据需要自行设置。当与待测样品4成不同角度的测试电磁波信号透过待测样品4时，就能被支撑架31上的多个接收天线32接收到，并由频谱分析仪进行读值。再将待测样品4移除，读取全向天线21发出的测试电磁波信号在没有待测样品4的阻挡时的强度值。根据两次读值来计算不同角度下待测样品4的屏蔽效能。

本申请测试不同角度下待测样品4的屏蔽效能的操作步骤为：开启信号发射装置2、读值、关闭信号发射装置2、移除待测样品4、开启信号发射装置2、读值、计算。相较于现有技术繁琐的步骤，本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品4的屏蔽效能，由于只测试一次，因此测试时发射的电磁波信号高度一致，即一致性好，避免由于多次测试导致发射的电磁波信号一致性差，进而导致测试结果误差较大，因此本申请能减少测试误差，提高测试准确度。

其次，本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品4的屏蔽效能，不同于现有技术需要多次测试，导致需要多次调整设备位置，及多次控制设备来测试屏蔽效能。因此在测试不同入射角度下待测样品4的屏蔽效能时，本申请能极大地提高测试效率。

如图3所示，在一个优选实施例中，所述屏蔽室1内表面全部设置有吸波材料5。

其中，图3为侧视角度下屏蔽效能测试系统的结构示意图。吸波材料5(图中只标出一处)优选为吸波海绵，吸波海绵通过胶水固定或其他固定方式固定在屏蔽室1的内表面。在一些场景中，人们希望材料的屏蔽效能越弱越好，例如汽车玻璃，屏蔽效能越弱，在车内接收的手机信号越好。在测试这些材料的屏蔽效能时，由于其屏蔽效能弱，大量电磁波信号轻易透过待测样品4，在屏蔽室1内四处反射，引起多径效应，因此本申请在屏蔽室1内表面全部设置有吸波材料5。设置吸波材料5的目的是削弱甚至消除电磁波传播过程中的多径效应，避免屏蔽室1内表面如地板、墙壁、天花板等反射电磁波，造成屏蔽室1内能量密度不一致，随机极化，进而导致信号接收装置3接收的电磁波信号不准确。因此，通过在屏蔽室1内表面全部设置有吸波材料5，吸波材料5能吸收被屏蔽室1内的地面、天花板和墙壁反射的电磁波信号，减少因屏蔽室1内表面反射造成的电磁波信号波动，使屏蔽室1内的电磁信号能量密度保持稳定，减少测试结果的误差。

在一个优选的实施例中，所述支撑架31为圆环状。

值得注意的是，当支撑架31为圆环状时，全向天线21设置在支撑架31的中心处，支撑架31朝向全向天线21的一侧设置有接收天线32，此时各个接收天线32到全向天线21的距离是一致的，因此各个接收天线32接收的电磁波信号只会因为透过待测样品4的角度不同导致电磁波信号的强度不同，而不会因为发射天线到接收天线32的距离不同导致电磁波信号的强度不同，排除了距离因素的干扰，使得测试结果更准确。

如图2所示，在一个具体的实施例中，所述支撑架31竖直安装在所述屏蔽室1内。

值得注意的是，当支撑架31竖直安装在屏蔽室1内时，支撑架31的底部可以固定在其他支撑结构上，可以通过焊接、螺栓连接等固定方式固定。竖直安装支撑架31的优势在于安装简单，配套设备完善，安装成本低。

如图4所示，在另一个具体的实施例中，所述支撑架31水平安装在所述屏蔽室1内。

值得注意的是，图4为侧视角度下屏蔽效能测试系统的结构示意图。当支撑架31水平安装在屏蔽室1内时，支撑架31可以通过其他支撑结构来固定支撑架31，例如通过两根柱子来支撑起支撑架31，可以通过焊接、螺栓连接等固定方式固定。当支撑架31水平安装在屏蔽室1内时，全向天线21与支撑架31在同一水平面上且位于支撑架31的圆心处。水平安装支撑架31的优势在于全向天香在水平方向发射的电磁波信号是均匀的，在竖直方向会受到一定的限制，导致发射的电磁波信号在某些角度不均匀，例如全向天线21的底部处的电磁波信号与其他位置的电磁波信号不一致。即全向天线21在竖直方向有一小部分区域发射的电磁波信号会存在误差。因此将支撑架31水平设置，支撑架31上的接收天线32与全向天线21处于同一水平面，因此接收天线32接收到是全向天线21水平方向发射的电磁波信号，不存在误差，也就不存在测试死角。

如图5所示，在另一个优选的实施例中，所述支撑架31为球形，所述全向天线21位于所述球形支撑架31中心。

值得注意的是，图5为侧视角度下屏蔽效能测试系统的结构示意图。当支撑架31为球形时，支撑架31可以通过其他支撑结构来固定支撑架31，例如利用底座来固定支撑架31，可以通过焊接、螺栓连接等固定方式固定。当支撑架31为球形时，全向天线21位于球形支撑架31中心处，在球形支撑架31内表面均匀设置有接收天线32。球形支撑架31的优势在于能接受任意角度的电磁波信号，由于全向天线21能发射任意角度的电磁波信号，因此综合起来就可以测试任意角度下待测样品4的屏蔽效能，也能进一步提高测试效率。

如图6所示，在一个具体的实施例中，所述系统还包括：支撑构件6，包括多个安装面，所述支撑构件6套设在所述全向天线21外，多个所述安装面对应安装有多块待测样品4，使得待测样品4围成一个样品空间，样品空间内全向天线21发射的测试电磁波信号与待测样品4的表面成不同角度。

值得注意的是，支撑构件6的材质为屏蔽效能强的材质，例如金属等。不同待测材料的一体成型的加工难度不同，例如玻璃等材料，因此本申请设置有支撑构件6，如图6所示，支撑构件6的形状优选为立方体，支撑构件6是空心的，且每一面都镂空，形成安装面(图6只标出一个安装面)，安装面的形状优选为矩形。因此待测样品4只需要加工成与安装面匹配的形状即可，例如将待测样品4加工成矩形。大大降低了待测样品4的加工难度，提高了适用性。同时可以在不同的安装面安装不同的测试样品，能同时测试多个样品，提高了测试效率。

此外，在支撑构件6的多个安装面上安装好待测样品4后，支撑构件6内部形成了一个闭合的样品空间，全向天线21设置在样品空间内，全向天线21发射的测试电磁波信号与不同安装面的待测样品4的表面成不同角度。

在一个优选的实施例中，所述系统还包括：屏蔽组件7，所述屏蔽组件7包括屏蔽层和粘贴层，所述粘贴层用于粘贴在所述安装面与所述待测样品4的连接处，以封闭所述安装面与所述待测样品4之间的缝隙，所述屏蔽层覆盖在所述粘贴层表面。

值得注意的是，待测样品4安装在安装面后，待测样品4与支撑构件6之间还存在缝隙，电磁波信号能通过这些缝隙进入信号接收空间，导致信号接收装置3接收的电磁波信号不全是透过待测样品4的电磁波信号，会影响测试结果的准确性。因此本实施例还设置有屏蔽组件7，包括屏蔽层和粘贴层。其中屏蔽层是由屏蔽材料如金属制成，粘贴层是由具有粘性的材料制成。本实施例的屏蔽组件7优选为导电胶带。图7所示为一个安装面与待测样品4的缝隙处粘贴屏蔽组件7的示意图。屏蔽组件7的粘贴层贴在待测样品4和支撑构件6的连接处，封闭住连接处的缝隙，屏蔽层覆盖在粘贴层的表面，屏蔽电磁波信号，防止电磁波信号透过粘贴层进入信号接收空间，干扰测试。

在一个更优选的实施例中，所述系统还包括：屏蔽组件7，所述屏蔽组件7包括屏蔽层、粘贴层和导电丝网，所述导电丝网用于填充所述样品框与所述样品之间的缝隙，所述粘贴层用于固定所述导电丝网，所述屏蔽层覆盖在所述粘贴层表面。

其中，待测样品4安装在安装面后，待测样品4与支撑构件6之间还存在缝隙，电磁波信号能通过这些缝隙进入信号接收空间，导致信号接收装置3接收的电磁波信号不全是透过待测样品4的电磁波信号，会影响测试结果的准确性。因此本实施例还设置有屏蔽组件7，包括屏蔽层、粘贴层和导电丝网，导电丝网是由金属导电丝制成的网，具有较好的屏蔽效能，将导电丝网填充在样品框与样品之间的缝隙处，堵住缝隙，作为第一重防护。由于导电丝网依靠与缝隙间的摩擦力进行固定，容易脱落，因此在导电丝网外还粘贴一层粘贴层，用于固定导电丝网，屏蔽层覆盖在所述粘贴层表面，作为第二重防护。利用导电丝网和屏蔽层的双重防护，防止电磁波信号透过粘贴层进入信号接收空间，干扰测试。

如图2所示，在一个具体的实施例中，所述系统还包括：支撑底座8，所述支撑底座8为吸波材质，用于支撑所述待测样品4。

值得注意的是，由于待测样品4与全向天线21不能直接接触，否则会影响测试准确性，因此需要一个结构来固定待测样品4。本实施例通过一个支撑底座8来支撑待测样品4，支撑底座8的下端固定在屏蔽室1地面上，支撑底座8上端支撑待测样品4。支撑底座8的高度适应性设置，使待测样品4与全向天线21保持合适的距离。此外，支撑底座8为吸波材质，不能是金属等材质，如果底座为金属，全向天线21透过待测样品4底部的电磁波信号会被金属底座反射回来，影响测试结果准确性。

如图8所示，提出了一种屏蔽效能测试方法，应用于屏蔽效能测试系统，所述方法包括以下步骤：

第一信号发射步骤101：当信号发射装置2外套设有待测样品4时，信号发射装置2接收第一信号发射指令，发射第一测试电磁波信号；

第一信号接收步骤102：信号接收装置3采集透过所述待测样品4的所述第一测试电磁波信号并读取第一数值，将所述第一数值发送至计算装置；

第二信号发射步骤103：当移除信号发射装置2外套设的待测样品4时，所述信号发射装置2接收第二信号发射指令，发射第二测试电磁波信号；

第二信号接收步骤104：信号接收装置3采集未透过所述待测样品4的所述第二测试电磁波信号并读取第二数值，将所述第二数值发送至所述计算装置；

计算步骤105：所述计算装置根据接收的所述第一数值和所述第二数值计算所述待测样品4的屏蔽效能。

值得注意的是，信号发射装置2、信号接收装置3都与外界的计算装置电连接，计算装置既具有计算功能，又具有控制功能。计算装置向信号接收装置3发射信号发射指令后，信号接收装置3中的全向天线21向任意方向同时发射第一测试电磁波信号；信号接收装置3自动采集从多个角度透过待测样品4的第一测试电磁波信号并读值，将读取的第一数值发送至计算装置。移走待测样品4之后，计算装置再次向信号发射装置2发射信号发射指令后，信号发射装置2中的全向天线21向任意方向同时发射第二测试电磁波信号；信号接收装置3自动采集多个角度未透过待测样品4的第二测试电磁波信号并读值，将读取的第二数值发送至计算装置。计算装置根据接收的第一数值和第二数值，按照预设的计算方法进行计算，输出待测样品4与测试电磁波信号成各个角度下待测样品4的屏蔽效能。至此完成测试。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种屏蔽效能测试系统，包括屏蔽室，其特征在于，所述系统还包括：

信号发射装置，设置在所述屏蔽室内，所述信号发射装置包括全向天线，用于向任意方向同时发射测试电磁波信号，当所述全向天线外套设有待测样品时，全向天线在待测样品围成的样品空间内发射的多个测试电磁波信号与待测样品的表面成不同角度；

信号接收装置，设置在所述屏蔽室内，所述信号接收装置包括支撑架、若干接收天线，所述全向天线设置在所述支撑架中心处，且若干所述接收天线设置在所述支撑架朝向所述全向天线的一侧的不同位置上，用于接收与待测样品表面成不同角度的测试电磁波信号。

2.如权利要求1所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述屏蔽室内表面全部设置有吸波材料。

3.如权利要求2所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述支撑架为圆环状。

4.如权利要求3所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述支撑架竖直安装在所述屏蔽室内。

5.如权利要求3所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述支撑架水平安装在所述屏蔽室内。

6.如权利要求2所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述支撑架为球形，所述全向天线位于所述球形支撑架中心。

7.如权利要求2所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述系统还包括：

支撑构件，包括多个安装面，所述支撑构件套设在所述全向天线外，多个所述安装面对应安装有多块待测样品，使得待测样品围成一个样品空间，样品空间内全向天线发射的测试电磁波信号与待测样品的表面成不同角度。

8.如权利要求7所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述系统还包括：

屏蔽组件，所述屏蔽组件包括屏蔽层和粘贴层，所述粘贴层用于粘贴在所述安装面与所述待测样品的连接处，以封闭所述安装面与所述待测样品之间的缝隙，所述屏蔽层覆盖在所述粘贴层表面。

9.如权利要求2所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述系统还包括：

支撑底座，所述支撑底座为吸波材质，用于支撑所述待测样品。

10.一种屏蔽效能测试方法，应用于如权利要求1-9任一项所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

第一信号发射步骤：当信号发射装置外套设有待测样品时，信号发射装置接收第一信号发射指令，发射第一测试电磁波信号；

第一信号接收步骤：信号接收装置采集透过所述待测样品的所述第一测试电磁波信号并读取第一数值，将所述第一数值发送至计算装置；

第二信号发射步骤：当移除信号发射装置外套设的待测样品时，所述信号发射装置接收第二信号发射指令，发射第二测试电磁波信号；

第二信号接收步骤：信号接收装置采集未透过所述待测样品的所述第二测试电磁波信号并读取第二数值，将所述第二数值发送至所述计算装置；

计算步骤：所述计算装置根据接收的所述第一数值和所述第二数值计算所述待测样品的屏蔽效能。

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