CN220105165U - 一种屏蔽效能检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例涉及屏蔽效能检测技术领域,尤其公开了一种屏蔽效能检测装置，包括屏蔽箱、信号组件和检测组件，信号组件包括信号源、信号放大器和射频天线，射频天线设置于屏蔽箱内部，信号放大器的一端通过电缆与信号源连通，信号放大器的另一端通过电缆贯穿屏蔽箱与射频天线连接，检测组件包括测试治具、射频接收器和频谱仪，测试治具设置于屏蔽箱内，并且测试治具位于射频天线的下方，射频接收器固定于测试治具，频谱仪通过电缆贯穿屏蔽箱与射频接收器连接，测试治具用于安装待测物体，以使待测物体覆盖射频接收器。通过屏蔽箱的设置，相对于传统的屏蔽室，屏蔽箱的整体体积减小，适用于小型待测物体的屏蔽效能检测。

Description

一种屏蔽效能检测装置

技术领域

本实用新型实施例涉及屏蔽效能检测技术领域，特别是涉及一种屏蔽效能检测装置。

背景技术

随着科学技术的发展，电子设备趋向于小型化和紧凑化发展。对于电子设备内部的不同电子元器件，在工作过程中，易产生互相干扰的现象，例如，电子元器件之间会造成电磁干扰，进而影响电子元器件的正常工作。而为了减小电子元器件之间的电磁干扰，通常采用屏蔽盖覆盖电子元器件以达到减小电磁干扰的目的。

对于屏蔽盖，屏蔽效能的好坏需要通过检测装置进行检测。目前，市面上一般采用屏蔽室窗口法进行屏蔽效能的检测。屏蔽室窗口法是一种通过在屏蔽室中使用窗口进行屏蔽效能测试的方法，即在屏蔽室的墙壁或天花板上安装一个窗口，以便将射频信号引入屏蔽室进行测试。因此，屏蔽室窗口法一般适用于大型电子设备、大型通信设备或大型屏蔽盖的屏蔽效能检测，而不适用于小型屏蔽盖的屏蔽效能检测。

实用新型内容

本实用新型实施例主要解决的技术问题是提供一种屏蔽效能检测装置，能够适用于小型屏蔽盖的检测。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：一种屏蔽效能检测装置，包括屏蔽箱、信号组件和检测组件，信号组件包括信号源、信号放大器和射频天线，信号源和信号放大器设置于屏蔽箱外部，射频天线设置于屏蔽箱内部，信号放大器的一端通过电缆与信号源连通，信号放大器的另一端通过电缆贯穿屏蔽箱与射频天线连接，检测组件包括测试治具、射频接收器和频谱仪，测试治具设置于屏蔽箱内，并且测试治具位于射频天线的下方，射频接收器固定于测试治具，频谱仪设置于屏蔽箱外部，频谱仪通过电缆贯穿屏蔽箱与射频接收器连接，测试治具用于安装待测物体，以使待测物体覆盖射频接收器。

可选的，待测物体的屏蔽效能定义为S，当测试治具未安装待测物体时，频谱仪所检测到的射频信号强度定义为S1，当测试治具已安装待测物体时，频谱仪所检测到的射频信号强度定义为S2，其中，S＝S1-S2。

可选的，射频天线固定于屏蔽箱内的顶部，射频接收器通过测试治具固定于屏蔽箱内的底部，射频天线的中心正对射频接收器的中心。

可选的，屏蔽箱设有第一端子，第一端子的一端位于屏蔽箱内，第一端子的另一端位于屏蔽箱外，第一端子的一端通过电缆与射频天线连通，第一端子的另一端通过电缆与信号放大器的另一端连通。

可选的，屏蔽箱设有第二端子，第二端子的一端位于屏蔽箱内，第二端子的另一端位于屏蔽箱外，第二端子的一端通过电缆与射频接收器连通，第二端子的另一端通过电缆与频谱仪连通。

可选的，屏蔽箱包括箱体和门体，箱体设有收容腔和开口，开口与收容腔连通，门体用于盖合开口，收容腔用于收容射频天线、测试治具和射频接收器，开口用于供待测物体伸入收容腔并固定于测试治具。

可选的，箱体为方形，箱体定义有长度、宽度和高度，长度的范围小于或等于1.5米，宽度的范围小于或等于1.5米，高度的范围小于或等于2米。

可选的，还包括吸波件，吸波件覆盖于收容腔的内壁，吸波件用于吸收收容腔内部的电磁波和屏蔽收容腔外部的电磁波。

可选的，射频天线为喇叭天线，并且射频天线的频率范围为0.5GHz-40GHz。

可选的，频谱仪的频率范围为10Hz-44GHz，并且频谱仪的检测动态范围大于100dB。

本实用新型实施例的有益效果是：区别于现有技术的情况，本实用新型实施例包括屏蔽箱、信号组件和检测组件，信号组件包括信号源、信号放大器和射频天线，信号源和信号放大器设置于屏蔽箱外部，射频天线设置于屏蔽箱内部，信号放大器的一端通过电缆与信号源连通，信号放大器的另一端通过电缆贯穿屏蔽箱与射频天线连接，检测组件包括测试治具、射频接收器和频谱仪，测试治具设置于屏蔽箱内，并且测试治具位于射频天线的下方，射频接收器固定于测试治具，频谱仪设置于屏蔽箱外部，频谱仪通过电缆贯穿屏蔽箱与射频接收器连接，测试治具用于安装待测物体，以使待测物体覆盖射频接收器。通过屏蔽箱的设置，相对于传统的屏蔽室，屏蔽箱的整体体积减小，适用于小型待测物体的屏蔽效能检测，例如：屏蔽盖。此外，相对于传统的屏蔽室，屏蔽箱的整体体积减小，还有利于降低屏蔽效能检测的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施例或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。

图1是本实用新型实施例提供的屏蔽效能检测装置的整体结构示意图。

图中：1屏蔽箱、11第一端子、12第二端子、13箱体、131收容腔、2信号组件、21信号源、22信号放大器、23射频天线、3检测组件、31测试治具、32射频接收器、33频谱仪、4吸波件、5屏蔽盖。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面结合附图和具体实施例，对本实用新型进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用的术语“上”、“下”、“内”、“外”、“垂直的”、“水平的”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本实用新型。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1，一种屏蔽效能检测装置，包括屏蔽箱1、信号组件2和检测组件3，屏蔽箱1中空设置，信号组件2包括信号源21、信号放大器22和射频天线23，信号源21和信号放大器22设置于屏蔽箱1外部，射频天线23设置于屏蔽箱1内部，信号放大器22的一端通过电缆与信号源21连通，信号放大器22的另一端通过电缆贯穿屏蔽箱1与射频天线23连接，检测组件3包括测试治具31、射频接收器32和频谱仪33，测试治具31设置于屏蔽箱1内，并且测试治具31位于射频天线23的下方，射频接收器32固定于测试治具31，频谱仪33设置于屏蔽箱1外部，频谱仪33通过电缆贯穿屏蔽箱1与射频接收器32连接，测试治具31用于安装待测物体，例如：屏蔽盖5，以使待测物体覆盖射频接收器32。

在一些实施例中，屏蔽箱1设有第一端子11，第一端子11的一端位于屏蔽箱1内，第一端子11的另一端位于屏蔽箱1外，第一端子11的一端通过电缆与射频天线23连通，即电缆的一端与第一端子11的一端通过插接的方式连接，电缆的另一端通过连接器与射频天线23建立连接，第一端子11的另一端通过电缆与信号放大器22的另一端连通，即电缆的一端与第一端子11的另一端通过插接的方式连接，电缆的另一端通过连接器与放大器建立连接。通过上述第一端子11的设置，使得射频天线23与信号放大器22通过第一端子11间接连接，进而避免电缆贯穿屏蔽箱1导致电缆与屏蔽箱1的贯穿处产生缝隙，从而避免屏蔽箱1内部的电磁波泄露至外部，及避免屏蔽箱1外部的电磁波对屏蔽箱1内部的检测造成干扰，以提高屏蔽效能检测的准确性。

在一些实施例中，屏蔽箱1设有第二端子12，第二端子12的一端位于屏蔽箱1内，第二端子12的另一端位于屏蔽箱1外，第二端子12的一端通过电缆与射频接收器32连通，第二端子12的另一端通过电缆与频谱仪33连通。对于第二端子12的两端通过电缆与射频接收器32和频谱仪33连接的结构和作用，可参阅上述第一端子11的实施例，此处不再一一赘述。

在一些实施例中，测试治具31固定待测物体的方式为螺丝固定、磁吸固定、卡槽固定或夹持固定中的一种，具体的固定方式可以根据待测物体的形状和材料进行选择。

进一步的，对于上述屏蔽效能检测的具体过程，请参阅图1，待测物体的屏蔽效能定义为S，当测试治具31未安装待测物体时，频谱仪33所检测到的射频信号强度定义为S1，当测试治具31已安装待测物体时，频谱仪33所检测到的射频信号强度定义为S2，其中，S＝S1-S2。

在一些实施例中，对于上述屏蔽效能的检测和计算过程，具体如下：在测试治具31没有安装待测物体时，信号源21产生射频信号，进而通过信号放大器22将射频信号放大，从而射频信号通过第一端子11和电缆传输至射频天线23，以使射频天线23辐射至射频接收器32，射频接收器32接收来自射频天线23辐射的射频信号，进而通过第二端子12和电缆传输至频谱仪33，从而频谱仪33显示射频信号的强度，此时，记录为S1。在测试治具31安装待测物体后，信号源21产生射频信号，进而通过信号放大器22将射频信号放大，从而射频信号通过第一端子11和电缆传输至射频天线23，以使射频天线23辐射至射频接收器32，射频接收器32接收来自射频天线23辐射的射频信号，进而通过第二端子12和电缆传输至频谱仪33，从而频谱仪33显示射频信号的强度，此时，记录为S2。通过S1-S2，即可得出待测物体的屏蔽效能S。

在一些实施例中，待测物体可以为具体的电子设备的零部件，例如：屏蔽盖5，或待测物体还可以为具体的屏蔽材料，即上述屏蔽效能检测装置不仅适用于电子设备零部件的屏蔽效能检测，还适用于屏蔽材料的屏蔽效能检测装置。

进一步的，对于上述射频天线23和射频接收器32，请参阅图1，射频天线23固定于屏蔽箱1内的顶部，射频接收器32通过测试治具31固定于屏蔽箱1内的底部，射频天线23的中心正对射频接收器32的中心。通过射频天线23的中心正对射频接收器32的中心，使得射频接收器32能够最大程度地提高信号接收的效率，减少信号损耗和衰减，进而确保射频接收器32接收更佳的射频信号并传递至频谱仪33，从而提高屏蔽效能的检测的准确性。

在一些实施例中，射频天线23为喇叭天线，射频天线23的频率范围为0.5GHz-40GHz。通过射频天线23设置为喇叭天线，使得射频天线23能够在相对较宽的频率范围内有效地接收和辐射射频信号，进而扩大屏蔽效能检测的频率范围，有助于提高屏蔽效能检测的可靠性。

在一些实施例中，频谱仪33的频率范围为10Hz-44GHz，并且频谱仪33的检测动态范围大于100dB。通过上述方式，频谱仪33能够检测多种不同频率的射频信号，进而使得频谱仪33适用于不同类型的屏蔽效能检测任务，提高频谱仪33的适应性。此外，频谱仪33的检测动态范围大于100dB，使其能够同时测量并显示相对较强和相对较弱的射频信号，进而使其能够捕捉到低信号水平下的细微变化，并提供准确的测量结果，提高屏蔽效能检测的精确性，以及进一步提高屏蔽效能检测的可靠性。

进一步的，对于上述屏蔽箱1，请参阅图1，屏蔽箱1包括箱体13和门体(图未示)，箱体13设有收容腔131和开口(图未示)，开口(图未示)与收容腔131连通，门体(图未示)用于盖合开口(图未示)，收容腔131用于收容射频天线23、测试治具31和射频接收器32，开口(图未示)用于供待测物体伸入收容腔131并固定于测试治具31。

在一些实施例中，箱体13为方形，箱体13定义有长度、宽度和高度，长度的范围小于或等于1.5米，宽度的范围小于或等于1.5米，高度的范围小于或等于2米。通过上述设置，使得屏蔽箱1能够适应小型待测物体的屏蔽效能检测之外，还能够扩大箱体13容纳待测物体的体积，即屏蔽箱1还能够适应大型待测物体的屏蔽效能检测，扩大屏蔽箱1对待测物体体积的容纳范围。

进一步的，请参阅图1，还包括吸波件4，吸波件4覆盖于收容腔131的内壁，吸波件4用于吸收收容腔131内部的电磁波和屏蔽收容腔131外部的电磁波。

在一些实施例中，吸波件4为锯齿状的吸波材料制备形成，通过锯齿状的设置，能够增加吸波件4的表面积，进而提高吸波件4的吸波效果，从而减少回波，以避免回波对射频信号产生干扰，此外，通过锯齿状的设置，能够增加收容腔131内表面的有效吸收面积，提高屏蔽效能，降低电磁波泄漏的可能性，并且减少电磁波在收容腔131内的反射和干扰，有利于进一步提高屏蔽效能检测的可靠性。

本实用新型实施例包括屏蔽箱1、信号组件2和检测组件3，信号组件2包括信号源21、信号放大器22和射频天线23，信号源21和信号放大器22设置于屏蔽箱1外部，射频天线23设置于屏蔽箱1内部，信号放大器22的一端通过电缆与信号源21连通，信号放大器22的另一端通过电缆贯穿屏蔽箱1与射频天线23连接，检测组件3包括测试治具31、射频接收器32和频谱仪33，测试治具31设置于屏蔽箱1内，并且测试治具31位于射频天线23的下方，射频接收器32固定于测试治具31，频谱仪33设置于屏蔽箱1外部，频谱仪33通过电缆贯穿屏蔽箱1与射频接收器32连接，测试治具31用于安装待测物体，以使待测物体覆盖射频接收器32。通过屏蔽箱1的设置，相对于传统的屏蔽室，屏蔽箱1的整体体积减小，适用于小型待测物体的屏蔽效能检测，例如：屏蔽盖。此外，相对于传统的屏蔽室，屏蔽箱1的整体体积减小，还有利于降低屏蔽效能检测的成本。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种屏蔽效能检测装置，其特征在于，包括：

屏蔽箱；

信号组件，包括信号源、信号放大器和射频天线，所述信号源和信号放大器设置于所述屏蔽箱外部，所述射频天线设置于所述屏蔽箱内部，所述信号放大器的一端通过电缆与所述信号源连通，所述信号放大器的另一端通过电缆贯穿所述屏蔽箱与所述射频天线连接；

检测组件，包括测试治具、射频接收器和频谱仪，所述测试治具设置于所述屏蔽箱内，并且所述测试治具位于所述射频天线的下方，所述射频接收器固定于所述测试治具，所述频谱仪设置于所述屏蔽箱外部，所述频谱仪通过电缆贯穿所述屏蔽箱与所述射频接收器连接，所述测试治具用于安装待测物体，以使待测物体覆盖所述射频接收器。

2.根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

所述待测物体的屏蔽效能定义为S，当所述测试治具未安装待测物体时，所述频谱仪所检测到的射频信号强度定义为S1，当所述测试治具已安装待测物体时，所述频谱仪所检测到的射频信号强度定义为S2，其中，S＝S1-S2。

3.根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

所述射频天线固定于所述屏蔽箱内的顶部，所述射频接收器通过所述测试治具固定于所述屏蔽箱内的底部，所述射频天线的中心正对所述射频接收器的中心。

4.根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

所述屏蔽箱设有第一端子，所述第一端子的一端位于所述屏蔽箱内，所述第一端子的另一端位于所述屏蔽箱外，所述第一端子的一端通过电缆与所述射频天线连通，所述第一端子的另一端通过电缆与所述信号放大器的另一端连通。

5.根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

所述屏蔽箱设有第二端子，所述第二端子的一端位于所述屏蔽箱内，所述第二端子的另一端位于所述屏蔽箱外，所述第二端子的一端通过电缆与所述射频接收器连通，所述第二端子的另一端通过电缆与所述频谱仪连通。

6.根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

所述屏蔽箱包括箱体和门体，所述箱体设有收容腔和开口，所述开口与所述收容腔连通，所述门体用于盖合所述开口，所述收容腔用于收容所述射频天线、测试治具和射频接收器，所述开口用于供待测物体伸入所述收容腔并固定于所述测试治具。

7.根据权利要求6所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

所述箱体为方形，所述箱体定义有长度、宽度和高度，所述长度的范围小于或等于1.5米，所述宽度的范围小于或等于1.5米，所述高度的范围小于或等于2米。

8.根据权利要求6所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

还包括吸波件，所述吸波件覆盖于所述收容腔的内壁，所述吸波件用于吸收收容腔内部的电磁波和屏蔽收容腔外部的电磁波。

9.根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

所述射频天线为喇叭天线，并且所述射频天线的频率范围为0.5GHz-40GHz。

10.根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，

所述频谱仪的频率范围为10Hz-44GHz，并且所述频谱仪的检测动态范围大于100dB。