JP3114372B2 - Active matrix display panel - Google Patents

Active matrix display panel

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JP3114372B2
JP3114372B2 JP18682292A JP18682292A JP3114372B2 JP 3114372 B2 JP3114372 B2 JP 3114372B2 JP 18682292 A JP18682292 A JP 18682292A JP 18682292 A JP18682292 A JP 18682292A JP 3114372 B2 JP3114372 B2 JP 3114372B2
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signal line
interlayer insulating
electrode
display panel
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尊史 中沢
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はドライバ内蔵型アクティ
ブマトリクス表示パネルに関し、特に、その配線層の構
造技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix display panel with a built-in driver, and more particularly to a wiring layer structure technology.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶の配向状態などを利用して情報を表
示するフラット型表示パネルのうち、ドライバ内蔵型ア
クティブマトリクス方式の液晶表示パネルにおいては、
その全体構成を図10にブロック図で示すように、画素
マトリクス10,信号線駆動回路11(X側ドライバー
回路)および走査線駆動回路12(Y側ドライバー回
路)が同一の透明基板上に形成されて、表示装置の小型
化,高精細化および低コスト化が図られている。ここ
で、信号線駆動回路11は、クロック信号CL,CL*
(CLに逆相のクロック信号)で駆動されるシフトレジ
スタ部13,そこから送出された出力信号に基づいて動
作するn型TFTをアナログスイッチとして備えたサン
プルホールド回路部14およびビデオ信号線15を有す
る一方、走査線駆動回路12はシフトレジスタおよび必
要に応じてバッファ回路を有する。また、画素マトリク
ス10は、信号線駆動回路11の側に接続された複数の
信号線X1 ,X2 ,X3 ・・・と、走査線駆動回路12
の側に接続された複数の走査線Y1 ,Y2 ・・・と、こ
れらの走査線Y1 ,Y2 ・・・・・・および信号線X1
,X2 ,X3 ・・・の交点に形成された複数の画素領
域G11,G12・・G21,G22・・・とを有し、各画素領
域G11,G12・・G21,G22・・・には薄膜トランジス
タT11,T12・・T21,T22・・・および液晶セルを有
する。ここで、シフトレジスタ部13においては、イン
バータ131およびクロックドインバータ132で構成
されたシフトレジスタ130と、インバータで構成され
たバッファ回路133とを有し、これらのインバータは
いずれもp型TFTとn型TFTとで構成され、これら
のp型TFTとn型TFTが配線層で配線接続されて駆
動回路が構成されている。なお、信号線駆動回路11に
は、正電源側からの正電源配線VDDおよび負電源側から
の負電源配線VSSが形成され、シフトレジスタ部13に
は、クロック信号CL,CL* をシフトレジスタ部13
に入力する2つのクロック信号線161a,161bが
形成されている。
2. Description of the Related Art Among flat display panels that display information by utilizing the orientation state of liquid crystal, etc., among active-matrix liquid crystal display panels with built-in drivers,
As shown in a block diagram in FIG. 10, the overall configuration is such that a pixel matrix 10, a signal line driving circuit 11 (X side driver circuit) and a scanning line driving circuit 12 (Y side driver circuit) are formed on the same transparent substrate. Accordingly, the display device has been reduced in size, increased in definition, and reduced in cost. Here, the signal line driving circuit 11 generates the clock signals CL, CL *
(A clock signal having a phase opposite to that of CL), a sample-and-hold circuit section 14 having an n-type TFT operating as an analog switch based on an output signal sent from the shift register section 13 and a video signal line 15. On the other hand, the scanning line driving circuit 12 has a shift register and a buffer circuit as necessary. The pixel matrix 10 includes a plurality of signal lines X 1, X 2, X 3... Connected to the signal line driving circuit 11 and a scanning line driving circuit 12.
Are connected to a plurality of scanning lines Y1, Y2,..., And these scanning lines Y1, Y2,.
, X2, X3,..., Are formed at the intersections of the pixel regions G11, G12,..., G21, G22,. .., T21,..., T22,. Here, the shift register unit 13 includes a shift register 130 formed of an inverter 131 and a clocked inverter 132, and a buffer circuit 133 formed of an inverter. Each of these inverters is a p-type TFT and an n-type TFT. The p-type TFT and the n-type TFT are wiring-connected in a wiring layer to form a drive circuit. The signal line drive circuit 11 is provided with a positive power supply line VDD from the positive power supply side and a negative power supply line VSS from the negative power supply side. The shift register section 13 receives clock signals CL and CL * in the shift register section. 13
, Two clock signal lines 161a and 161b are formed.

【0003】このような構成のドライバ内蔵型アクティ
ブマトリクス表示パネルにおいて、その従来の画素領域
は、その断面図を図11に示すように、液晶表示パネル
全体を支持する透明基板51(ガラス基板)の表面側に
多結晶シリコン層52が形成されており、多結晶シリコ
ン層52には、真性の多結晶シリコン領域であるチャネ
ル領域52aを除いて、n型の不純物としてのリンが導
入されて薄膜トランジスタ57(TFT)のソース53
およびドレイン54が形成されている。ここで、リンの
導入は、多結晶シリコン層51の表面側に形成されたゲ
ート酸化膜55の上のゲート電極56をマスクとするイ
オン注入で行われる。また、TFT57の表面側には、
シリコン酸化膜からなる層間絶縁膜58が堆積されてお
り、そのうちの第1の接続孔58aを介して、アルミニ
ウム層たる信号線59がソース53に導電接続し、第2
の接続孔58bを介してITO層たる画素電極60がド
レイン54に導電接続している。
In a driver-incorporated active matrix display panel having such a structure, the conventional pixel area is formed by a transparent substrate 51 (glass substrate) supporting the entire liquid crystal display panel, as shown in a sectional view of FIG. A polycrystalline silicon layer 52 is formed on the front surface side. Phosphorus as an n-type impurity is introduced into the polycrystalline silicon layer 52 except for a channel region 52a which is an intrinsic polycrystalline silicon region. (TFT) source 53
And a drain 54 are formed. Here, the introduction of phosphorus is performed by ion implantation using the gate electrode 56 on the gate oxide film 55 formed on the surface side of the polycrystalline silicon layer 51 as a mask. Also, on the front side of the TFT 57,
An interlayer insulating film 58 made of a silicon oxide film is deposited, of which a signal line 59 as an aluminum layer is conductively connected to a source 53 through a first connection hole 58a.
The pixel electrode 60 serving as an ITO layer is conductively connected to the drain 54 through the connection hole 58b.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ドライ
バ内蔵型アクティブマトリクス表示パネルにおいて、画
素領域側および駆動回路側は、いずれも、ゲート酸化膜
55および層間絶縁膜58(駆動回路側では、これらの
絶縁膜と同層の層間絶縁膜)のみを利用して多層配線構
造を構成しているため、それらの構造に対する設計の自
由度が低いので、それぞれの機能に適した構造を実現で
きないという問題点がある。たとえば、画素領域におい
て、信号線59と画素電極60とは、いずれも層間絶縁
膜58の表面側に形成されて同層にあるため、それらが
ショートしないように、信号線59と画素電極60の端
部との間に所定寸法の平面的な隙間を確保せざるを得
ず、その隙間に相当する分は、高集積化を阻害するとと
もに、画素領域における光が通過可能な領域の割合(開
口率)が犠牲になっているという問題点がある。しか
も、画素領域側と駆動回路側とは、工程を互いに援用し
て透明基板51の上に作り込んでいくため、画素領域側
の構造と駆動回路の構造とは互いに制約し合って、それ
ぞれの機能に適した構造にできない。たとえば、信号線
59と駆動回路側の配線層とは同時形成されて同一材料
で構成せざるを得ないことから、クロック信号線161
a,161bなどの配線層における信号の遅延を防止す
る目的に、駆動回路側の配線層に膜厚が0.5〜1.0
μmの厚いアルミニウム層を採用すると、画素領域側に
おいては、信号線59の膜厚も厚くなって、信号線59
周囲の平坦性が損なわれるため、そこでの液晶のラビン
グに支障が生じて、表示の品位が低下するという問題点
がある。
However, in an active matrix display panel with a built-in driver, both the pixel region side and the drive circuit side have a gate oxide film 55 and an interlayer insulating film 58 (the drive circuit side has these insulating layers). Since the multilayer wiring structure is configured using only the same layer as the interlayer insulating film), the degree of freedom in designing these structures is low, so that a structure suitable for each function cannot be realized. is there. For example, in the pixel region, both the signal line 59 and the pixel electrode 60 are formed on the surface side of the interlayer insulating film 58 and are in the same layer. A planar gap of a predetermined dimension must be secured between the end portion and the gap, and the portion corresponding to the gap hinders high integration, and at the same time, the ratio of the area through which light can pass in the pixel area (opening area). Rate) is sacrificed. Moreover, since the pixel region side and the drive circuit side are formed on the transparent substrate 51 with the help of each other, the structure on the pixel region side and the structure of the drive circuit are mutually restricted, and The structure cannot be adapted to the function. For example, since the signal line 59 and the wiring layer on the drive circuit side must be formed simultaneously and made of the same material, the clock signal line 161
In order to prevent signal delay in wiring layers such as a and 161b, the wiring layer on the drive circuit side has a thickness of 0.5 to 1.0.
When a thick aluminum layer having a thickness of μm is employed, the thickness of the signal line 59 on the pixel region side also increases,
Since the surrounding flatness is impaired, rubbing of the liquid crystal there is hindered, and there is a problem that display quality is deteriorated.

【0005】以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、
多層配線構造の設計に対する自由度を高めて、画素領域
側および駆動回路側のいずれの側の配線構造にも、機能
に適した配線構造を採用し、表示の品位を向上可能なド
ライバ内蔵型アクティブマトリクス表示パネルを実現す
ることにある。
[0005] In view of the above problems, an object of the present invention is to provide:
A driver-incorporated active type that can improve the display quality by increasing the degree of freedom in designing the multilayer wiring structure and adopting a wiring structure suitable for the function on both the pixel area side and the drive circuit side It is to realize a matrix display panel.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、基板上に複数の走査線と、複数の信号線
と、上記各走査線と上記各信号線に接続された薄膜トラ
ンジスタと、上記薄膜トランジスタに接続された画素電
極とを有し、上記薄膜トランジスタのソース・ドレイン
領域となるシリコン層と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極
とがこの順に積層されてなるアクティブマトリクス表示
パネルにおいて、上記シリコン層及びゲート電極上に配
置された第1層間絶縁膜と、上記第1層間絶縁膜及び上
記ゲート絶縁膜に形成された第1接続孔を介して前記ソ
ース領域に接続された前記信号線と、上記第1層間絶縁
膜及び上記ゲート絶縁膜に形成された第2接続孔を介し
て上記ドレイン領域に接続された積み上げ電極と、上記
信号線及び上記積み上げ電極上に形成された第2層間絶
縁膜と、上記第2層間絶縁膜に形成された第3接続孔を
介して上記積み上げ電極に接続された上記画素電極とを
有し、上記信号線及び上記積み上げ電極は、耐エッチン
グ性及び遮光性の高い導電性遮光層からなると共に、上
記画素電極の端部は、上記信号線と上記第2層間絶縁膜
を介して重なっていることを特徴とする
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a plurality of scanning lines and a plurality of signal lines on a substrate.
And a thin film transistor connected to each of the scanning lines and each of the signal lines.
Transistor and a pixel electrode connected to the thin film transistor.
And a source and a drain of the thin film transistor.
Silicon layer to be a region, gate insulating film, and gate electrode
And an active matrix display in which
In the panel, it is arranged on the silicon layer and the gate electrode.
A first interlayer insulating film disposed on the first interlayer insulating film and
Through the first connection hole formed in the gate insulating film.
The signal line connected to the source region and the first interlayer insulation
Through the film and the second connection hole formed in the gate insulating film.
A stacked electrode connected to the drain region
Second interlayer insulation formed on signal lines and the stacked electrodes
An edge film and a third connection hole formed in the second interlayer insulating film.
And the pixel electrode connected to the stacked electrode through
The signal lines and the stacked electrodes are etch-resistant
It consists of a conductive light-shielding layer with high
The end of the pixel electrode is connected to the signal line and the second interlayer insulating film.
Are overlapped with each other .

【0007】ここで、上記信号線及び上記積み上げ電極
はモリブデンを主成分とすることが好ましい
Here, the signal line and the stacked electrode
Preferably contains molybdenum as a main component .

【0008】また、上記基板上には、上記信号線と上記
走査線の少なくとも一方に信号を送出するための駆動回
路を有し、上記駆動回路の配線層は上記信号線よりも低
抵抗な材料からなることが好ましい
The signal line and the signal line are provided on the substrate.
A drive circuit for sending a signal to at least one of the scanning lines
And the wiring layer of the drive circuit is lower than the signal line.
Preferably, it is made of a resistive material .

【0009】そして、上記配線層はアルミニウムを主成
分とすることが好ましい
The wiring layer is mainly made of aluminum.
Minutes .

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【作用】本発明に係るアクティブマトリクス表示パネル
の画素領域では、信号線が第1層間絶縁膜及びゲート絶
縁膜に形成された第1接続孔を介して薄膜トランジスタ
のソース領域に導電接続しているのに対して、画素電極
は、第1層間絶縁膜及びゲート絶縁膜の第2接続孔を介
してドレイン領域に接続された積み上げ電極と信号線及
び積み上げ電極上に形成された第2層間絶縁膜の第3接
続孔を介して積み上げ電極に導電接続し、画素電極と信
号電極とが第2層間絶縁膜を介する構造となっており、
信号線及び積み上げ電極は、耐エッチング性及び遮光性
の高い導電性遮光層からなると共に、画素電極の端部
は、信号線と第2層間絶縁膜を介して重なっている。従
って、画素領域における開口率を高めることができる。
また、画素領域に対して、駆動回路側にも、第1層間絶
縁膜および第2層間絶縁膜に同層の層間絶縁膜を形成で
きるため、低抵抗のみを優先して材質や膜厚などを設定
した低抵抗配線層を第2層間絶縁膜に設けることがで
In the pixel region of the active matrix display panel according to the present invention, the signal line is conductively connected to the source region of the thin film transistor via the first connection hole formed in the first interlayer insulating film and the gate insulating film. On the other hand, the pixel electrode is provided through the second connection hole of the first interlayer insulating film and the gate insulating film.
The stacked electrode and signal line connected to the drain region
And third contact of the second interlayer insulating film formed on the stacked electrode
Conductive connection to the stacked electrode through the connection hole, and communication with the pixel electrode
No. electrode and has a structure via a second interlayer insulating film,
Signal lines and stacked electrodes are resistant to etching and light
Of the pixel electrode
Overlap with the signal line via the second interlayer insulating film . Therefore, the aperture ratio in the pixel region can be increased.
Further, for the pixel region, even in the driver circuit side, in an interlayer insulating film in the same layer on the first interlayer insulating film and the second interlayer insulating film
Kill for, that-out <br/> in that providing the low-resistance wiring layer sets the material and the thickness is preferentially only low resistance on the second interlayer insulating film.

【0012】[0012]

【実施例】次に、本発明の実施例について、添付図面を
参照して説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

【0013】〔実施例1〕図1は本発明の実施例1に係
るドライバ内蔵型液晶表示パネルのアクティブマトリク
スの一部を示す平面図、図2はそのA−A′線における
断面図、図3はそのB−B′線における断面図である。
ここで、本例のドライバ内蔵型液晶表示パネルの全体構
成については、図10に示したドライバ内蔵型液晶表示
パネルと同様であるので、その説明については省略す
る。
FIG. 1 is a plan view showing a part of an active matrix of a liquid crystal display panel with a built-in driver according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a sectional view taken along line AA 'of FIG. 3 is a sectional view taken along line BB '.
Here, the overall configuration of the liquid crystal display panel with a built-in driver according to the present embodiment is the same as that of the liquid crystal display panel with a built-in driver shown in FIG. 10, and a description thereof will be omitted.

【0014】図1において、本例のドライバ内蔵型液晶
表示パネルのアクティブマトリクスにおいては、垂直方
向の信号線21a,21b・・・(信号線)と、水平方
向の走査線31a,31b・・・(走査線)とが格子状
に配線され、それらの間にマトリクスアレイの各画素領
域20a,20b・・が形成されている。
In FIG. 1, in the active matrix of the liquid crystal display panel with a built-in driver of this embodiment, vertical signal lines 21a, 21b... (Signal lines) and horizontal scanning lines 31a, 31b. (Scanning lines) are wired in a grid pattern, and pixel regions 20a, 20b,... Of the matrix array are formed between them.

【0015】以下に、画素領域20bを例にとって、そ
の構造を説明する。この画素領域20bにおいて、信号
線21aが導電接続するソース4、走査線31bが導電
接続するゲート電極5、および画素電極6が導電接続す
るドレイン7によって、薄膜トランジスタ(TFT)8
が形成されている。ここで、画素電極6は、ITOから
なる透明電極であって、画素領域20bのほぼ全面にわ
たって形成されている。たとえば、画素電極6の端部6
1aは信号線21aの上方位置にある一方、これに対向
する端部61bは信号線21bの上方位置にある。ま
た、画素電極6の端部62aは前段の走査線31aの上
方位置にあって、画素領域20bには容量が作り込まれ
ている。また、信号線21aは、耐エッチング性および
遮光性が高い導電性遮光層としてのモリブデン層で構成
されているのに対して、走査線31bは、不純物ドープ
型の多結晶シリコン層から構成されている。
Hereinafter, the structure of the pixel region 20b will be described as an example. In the pixel region 20b, a thin film transistor (TFT) 8 is formed by the source 4 to which the signal line 21a is conductively connected, the gate electrode 5 to which the scanning line 31b is conductively connected, and the drain 7 to which the pixel electrode 6 is conductively connected.
Are formed. Here, the pixel electrode 6 is a transparent electrode made of ITO, and is formed over substantially the entire surface of the pixel region 20b. For example, the end 6 of the pixel electrode 6
1a is located above the signal line 21a, while the opposite end 61b is located above the signal line 21b. The end 62a of the pixel electrode 6 is located above the preceding scanning line 31a, and a capacitance is formed in the pixel region 20b. The signal line 21a is formed of a molybdenum layer as a conductive light-shielding layer having high etching resistance and light-shielding properties, whereas the scanning line 31b is formed of an impurity-doped polycrystalline silicon layer. I have.

【0016】このTFT8の断面構造は、図2に示すよ
うに、液晶表示パネル全体を支持する透明基板9(ガラ
ス基板)の表面側に多結晶シリコン層24が形成されて
おり、多結晶シリコン層24には、真性の多結晶シリコ
ン領域であるチャネル領域24aを除いて、n型の不純
物としてのリンが導入されて、ソース4およびドレイン
7が形成されている。ここで、リンの導入は、多結晶シ
リコン層24の表面側に形成されたゲート酸化膜22の
上のゲート電極5をマスクとするイオン注入またはイオ
ンシャワードーピングを利用することにより、ソース4
およびドレイン7がセルフアラインとなるように行われ
る。このTFT8の表面側には、シリコン酸化膜からな
る下層側層間絶縁膜23が堆積されており、下層側層間
絶縁膜23およびゲート酸化膜22には第1の接続孔2
3aが開口されている。また、下層側層間絶縁膜23の
表面側には、モリブデン層で構成された信号線21aが
形成されており、信号線21aは第1の接続孔23aを
介してTFT8のソース4に導電接続している。さら
に、下層側層間絶縁膜23の表面側には、上層側層間絶
縁膜27が形成されており、この上層側層間絶縁膜2
7,下層側層間絶縁膜23およびゲート酸化膜22には
第2の接続孔27aが開口されている。また、上層側層
間絶縁膜27の表面側には、ITO層で構成された画素
電極6が形成されており、画素電極6は第2の接続孔2
7aを介してTFT8のドレイン7に導電接続してい
る。これにより、ドレイン7から画素電極6に対して電
位が印加可能になっている。
As shown in FIG. 2, the TFT 8 has a cross-sectional structure in which a polycrystalline silicon layer 24 is formed on the front side of a transparent substrate 9 (glass substrate) supporting the entire liquid crystal display panel. Except for the channel region 24a, which is an intrinsic polycrystalline silicon region, the source 24 and the drain 7 are formed by introducing phosphorus as an n-type impurity. Here, the phosphorus is introduced by using ion implantation or ion shower doping using the gate electrode 5 on the gate oxide film 22 formed on the surface side of the polycrystalline silicon layer 24 as a mask.
And the drain 7 is self-aligned. A lower interlayer insulating film 23 made of a silicon oxide film is deposited on the surface side of the TFT 8, and the first connection hole 2 is formed in the lower interlayer insulating film 23 and the gate oxide film 22.
3a is open. A signal line 21a made of a molybdenum layer is formed on the surface side of the lower interlayer insulating film 23. The signal line 21a is conductively connected to the source 4 of the TFT 8 through the first connection hole 23a. ing. Further, an upper interlayer insulating film 27 is formed on the surface side of the lower interlayer insulating film 23.
7. A second connection hole 27a is opened in the lower interlayer insulating film 23 and the gate oxide film 22. A pixel electrode 6 made of an ITO layer is formed on the surface side of the upper-layer interlayer insulating film 27, and the pixel electrode 6 is connected to the second connection hole 2.
It is conductively connected to the drain 7 of the TFT 8 via 7a. Thus, a potential can be applied from the drain 7 to the pixel electrode 6.

【0017】また、図1および図3に示すように、画素
領域20bの画素電極6は、その端部61aが、それ自
身が属する画素領域20bを隣接する画素領域20aか
ら区画する信号線21aの上方位置にあって、画素領域
20bの画素電極6の端部61aと、隣接する画素領域
20aの画素電極の端部61cとは、信号線21aの上
方位置において対峙する構造になっている。ここで、画
素電極6は上層側層間絶縁膜27の上層側に形成されて
いる一方、信号線21aは上層側層間絶縁膜27の下層
側に形成されて、画素電極6と信号線21aとは上層側
層間絶縁膜27を介して多層配線構造になっている。こ
のため、画素電極6の端部61aと信号線21aと近接
配置しても、これらが短絡することがないので、画素電
極6の形成領域を広くでき、その開口率が高い。しか
も、画素電極6の端部61aが信号線21aの上方に配
置されているとともに、信号線21aは遮光性のモリブ
デン層で構成されていることを利用して、本例のドライ
バ内蔵型液晶表示パネルのアクティブマトリクスにおい
ては、信号線21aは、この方向における遮光マスクと
して利用されており、対向電極の側には走査線31a,
31bの方向の遮光マスクのみが形成されている。
As shown in FIG. 1 and FIG. 3, the pixel electrode 6 of the pixel region 20b has an end 61a having a signal line 21a for dividing the pixel region 20b to which the pixel electrode 6 belongs from an adjacent pixel region 20a. In the upper position, the end 61a of the pixel electrode 6 in the pixel region 20b and the end 61c of the pixel electrode in the adjacent pixel region 20a face each other at a position above the signal line 21a. Here, the pixel electrode 6 is formed on the upper layer side of the upper interlayer insulating film 27, while the signal line 21a is formed on the lower layer side of the upper interlayer insulating film 27. A multilayer wiring structure is formed via an upper interlayer insulating film 27. For this reason, even if the end 61a of the pixel electrode 6 and the signal line 21a are arranged close to each other, they are not short-circuited, so that the formation area of the pixel electrode 6 can be widened and the aperture ratio is high. In addition, by utilizing the fact that the end 61a of the pixel electrode 6 is disposed above the signal line 21a and that the signal line 21a is formed of a light-shielding molybdenum layer, the driver built-in type liquid crystal display of this example is used. In the active matrix of the panel, the signal line 21a is used as a light-shielding mask in this direction, and the scanning line 31a,
Only the light shielding mask in the direction of 31b is formed.

【0018】さらに、本例のアクティブマトリクス20
においては、図10に示すように、その透明基板9の上
に、ビデオ信号線15からのビデオ信号を信号線X1 ,
X2,X3 ・・・(信号線21a)を介して画素領域G1
1,G12・・G21,G22・・・(画素領域20b)に時
系列的に送出する信号線駆動回路11(X側ドライバー
回路)と、各画素領域G11,G12・・G21,G22・・・
(画素領域20b)の薄膜トランジスタT11,T12・・
・T21,T22・・・(TFT8)をオン・オフ動作する
ための走査信号を走査線Y1 ,Y2 ・・・を介して送出
する走査線駆動回路12(Y側ドライバー回路)が形成
されて、表示装置の小型化,高精細化および低コスト化
が図られている。ここで、信号線駆動回路11および走
査線駆動回路12のいずれもにも、シフトレジスタが構
成されており、たとえば、信号線駆動回路11において
は、TFTを回路素子とするインバータ131,クロッ
クドインバータ132およびバッファ回路133を有
し、これらのインバータはいずれもp型TFTとn型T
FTとで構成されている。ここで、p型TFTとn型T
FTは、たとえば、図4に示すように配線接続されてC
MOS構造になっている。すなわち、図4において、p
型TFT30のドレイン301とn型TFT31のドレ
イン311とは第1の配線層32(下層側配線層)で導
電接続しているのに対して、p型TFT30のソース3
02には正電源配線層VDDの側からの膜厚が0.5μm
のアルミニウム層からなる第2の配線層33(低抵抗配
線層)が導電接続し、n型TFT31のソース312に
は負電源配線層VSSの側からの膜厚が0.5μmのアル
ミニウム層からなる第3の配線層34(低抵抗配線層)
が導電接続している。ここで、駆動回路側のp型TFT
30,n型TFT31,それらの配線層および層間絶縁
膜は、画素領域側の各構成部分の形成工程を最大限援用
して形成されたものである。すなわち、図2および図4
を参照して、TFTの形成工程以降の工程で形成された
各構成部分を説明すると、以下のとおりである。まず、
画素領域20bの側の下層側層間絶縁膜23と、第1の
配線層32の下層側にある第2の層間絶縁膜36とは、
同時形成されて同層にある。また、画素領域20bの側
の信号線31aと、第1の配線層32とは、同時形成さ
れて同層にあり、いずれも、モリブデン層である。さら
に、画素領域20bの側の上層側層間絶縁膜27と、第
2の層間絶縁膜36および第1の配線層32の上層側に
ある第1の層間絶縁膜37とは、同時形成されて同層に
ある。この上層側層間絶縁膜27が画素領域20bに形
成されていることを利用して、第2の配線層33および
第3の配線層34は、画素領域20bの側の形成工程と
は別に行われる。
Further, the active matrix 20 of this embodiment
In FIG. 10, as shown in FIG. 10, a video signal from a video signal line 15 is
X2, X3 (pixel line G1) via (signal line 21a)
, G21, G22,... (Pixel region 20b) and a signal line driving circuit 11 (X-side driver circuit) for transmitting the signals in time series to each pixel region G11, G12,.
(Pixel region 20b) of thin film transistors T11, T12,.
A scanning line driving circuit 12 (Y side driver circuit) for transmitting a scanning signal for turning on / off the T21, T22... (TFT 8) via the scanning lines Y1, Y2. Display devices have been reduced in size, definition and cost have been reduced. Here, both the signal line driving circuit 11 and the scanning line driving circuit 12 constitute a shift register. For example, in the signal line driving circuit 11, an inverter 131 using a TFT as a circuit element, a clocked inverter 132 and a buffer circuit 133, and these inverters are both p-type TFTs and n-type TFTs.
And FT. Here, a p-type TFT and an n-type TFT
The FT is, for example, wired and connected as shown in FIG.
It has a MOS structure. That is, in FIG.
While the drain 301 of the p-type TFT 30 and the drain 311 of the n-type TFT 31 are conductively connected in the first wiring layer 32 (lower wiring layer), the source 3 of the p-type TFT 30
02 has a thickness of 0.5 μm from the side of the positive power supply wiring layer VDD.
Second wiring layer 33 of aluminum layer (low-resistance wiring layer) is conductively connected to the source 312 of the n-type TFT31 from thickness 0.5μm layer of aluminum from the side of the negative power supply wiring layer V SS of Third wiring layer 34 (low-resistance wiring layer)
Are conductively connected. Here, the p-type TFT on the drive circuit side
The 30, the n-type TFT 31, the wiring layer and the interlayer insulating film thereof are formed by making maximum use of the process of forming each component on the pixel region side. 2 and 4
The respective components formed in the steps after the TFT forming step will be described with reference to FIG. First,
The lower interlayer insulating film 23 on the pixel region 20b side and the second interlayer insulating film 36 on the lower layer side of the first wiring layer 32
Simultaneously formed and in the same layer. The signal line 31a on the side of the pixel region 20b and the first wiring layer 32 are formed simultaneously and are in the same layer, and both are molybdenum layers. Further, the upper interlayer insulating film 27 on the pixel region 20b side and the first interlayer insulating film 37 on the upper layer side of the second interlayer insulating film 36 and the first wiring layer 32 are formed at the same time. In layers. Utilizing the fact that the upper interlayer insulating film 27 is formed in the pixel region 20b, the second wiring layer 33 and the third wiring layer 34 are formed separately from the step of forming the pixel region 20b. .

【0019】従って、画素領域20bに使用されていな
い膜厚が0.5〜1.0μmのアルミニウム層(低抵抗
配線層)で、第2の配線層33および第3の配線層34
を構成して、配線抵抗の低減が図られている。すなわ
ち、ドライバ内蔵型液晶表示パネルにおいて、その画素
数が増加して、そのシフトレジスタを200段以上にな
ると、膜厚が0.5〜1.0μmのアルミニウム層また
はアルミニウム−シリコン層などの低抵抗配線層を使用
して、そのシート抵抗を100〜50mΩ/□に設定
し、信号の遅延を防止する必要があるためである。ここ
で、アルミニウム層で構成された低抵抗配線層は、p型
TFT30とn型TFT31との間に配線層の他にも、
低抵抗であることが求められる正電源配線VDD,負電源
配線VSS,ビデオ信号線15およびクロック信号線16
1a,161bにも採用される。なお、第1の配線層3
2および信号線21aは、膜厚が約0.2μmのモリブ
デン層で構成されて、そのシート抵抗は0.5〜0.6
Ω/□であるが、対角が5〜6″の液晶表示パネルであ
れば、そのシート抵抗に起因する遅延の問題は発生しな
い。
Therefore, the second wiring layer 33 and the third wiring layer 34 are made of an aluminum layer (low-resistance wiring layer) having a thickness of 0.5 to 1.0 μm that is not used in the pixel region 20b.
To reduce the wiring resistance. That is, in a liquid crystal display panel with a built-in driver, when the number of pixels is increased and the number of shift registers is increased to 200 or more, low resistance such as an aluminum layer or an aluminum-silicon layer having a thickness of 0.5 to 1.0 μm is obtained. This is because it is necessary to set the sheet resistance to 100 to 50 mΩ / □ using a wiring layer to prevent signal delay. Here, the low-resistance wiring layer composed of the aluminum layer is provided between the p-type TFT 30 and the n-type TFT 31 in addition to the wiring layer.
Positive power supply wiring V DD , negative power supply wiring V SS , video signal line 15 and clock signal line 16 required to have low resistance
1a and 161b. Note that the first wiring layer 3
2 and the signal line 21a are formed of a molybdenum layer having a thickness of about 0.2 μm, and have a sheet resistance of 0.5 to 0.6.
Although it is Ω / □, if the liquid crystal display panel has a diagonal of 5 to 6 ″, the problem of delay due to the sheet resistance does not occur.

【0020】以上のとおり、本例のアクティブマトリク
ス表示パネルにおいては、信号線21aがTFT8のゲ
ート絶縁膜22およびゲート電極5の表面側に形成され
た下層側層間絶縁膜23を介してTFT8のソース4に
導電接続しているのに対して、画素電極6は下層側層間
絶縁膜23の表面側に形成された上層側層間絶縁膜27
の表面側に形成されて、信号線21aと画素電極6とは
層間絶縁膜を介する多層構造になっているため、画素電
極6の端部61a,61bを信号線21a,21bの近
傍位置、さらには上方位置にまで配置できるので、画素
領域における開口率を高めることができる。しかも、信
号線21aを構成するモリブデンと、TFT側のシリコ
ンとのコンタクト抵抗が小さいので、画素領域20bの
接続孔23aも縮小化できる。換言すれば、同じ開口率
を確保するのに、画素領域20bを縮小できる一方、駆
動回路側では3層構造であることを利用して、駆動回路
側を微細ピッチで形成することもできるので、アクティ
ブマトリクス表示パネルの高集積化を実現できる。ま
た、画素電極6の端部61aは信号線21aの上方位置
にまで配置されているとともに、信号信号線21aは遮
光性をもつモリブデン層で構成されているため、アルミ
ニウム層で構成した場合と相違してヒロックなどが発生
せず、信号線21aと画素電極6とが短絡することがな
いことに加えて、信号線21a自身で、信号線21a方
向の遮光マスク(ブラックストライプ)を構成すること
ができる。従って、信号線21a方向の遮光マスクは、
対向電極側(対向基板)に設ける必要がないので、位置
合わせのためのマージンを必要としない。しかも、信号
線21aを構成するモリブデン層の遮光性が高く、ま
た、駆動回路側とは別個に形成されて膜厚が約0.2μ
mの薄いモリブデン層であるため、信号線21aの付近
の平坦性を損なうことないので、透明基板9の上にラビ
ングされた液晶は、信号線21a付近でも配向が乱れな
い。それ故、本例のアクティブマトリクス表示パネルに
おいては、その画素領域20bの開口部分を図5に斜線
領域で示すように、対向電極側には走査線31a方向に
対する遮光マスクBMは必要であるが、信号線21a方
向においては、信号線21a自身が遮光マスクとして機
能するため、マージンを設ける必要がなく、信号線21
aまでは開口部として利用できる。このため、50μm
角の画素領域20bにおいて、開口部の縦寸法を38μ
m、開口部の横寸法を45μmにまで確保でき、その開
口率は68.4%と高い。これに対して、従来のアクテ
ィブマトリクス表示パネルにおいては、その開口部分を
図6に斜線領域で示すように、50μm角の画素領域に
おいて、開口部の縦寸法は38μmと同等であっても、
対向電極側に遮光マスクを設けるときに、位置合わせ精
度に対応した約4μmのマージンM1 および液晶の配向
が段差によって乱れる信号線付近をも遮光するための約
3μmのマージンM2 が必要であるので、開口部の横寸
法は31μmしか確保できず、その開口率は47.1%
と低い。従って、本例のアクティブマトリクス表示パネ
ルにおいては、その開口率が高いため、表示の品位が高
い。また、本例のアクティブマトリクス表示パネルにお
いては、同じ輝度の表示に要する電力が小さく、省電力
化されているので、携帯用ビデオカメラなど、電池を電
力源とする装置に適している。
As described above, in the active matrix display panel of this embodiment, the signal line 21a is connected to the source of the TFT 8 via the gate insulating film 22 of the TFT 8 and the lower interlayer insulating film 23 formed on the surface side of the gate electrode 5. 4, the pixel electrode 6 is connected to the upper interlayer insulating film 27 formed on the surface side of the lower interlayer insulating film 23.
And the signal line 21a and the pixel electrode 6 have a multilayer structure with an interlayer insulating film interposed therebetween, so that the ends 61a and 61b of the pixel electrode 6 are located near the signal lines 21a and 21b, Can be arranged up to the upper position, so that the aperture ratio in the pixel region can be increased. In addition, since the contact resistance between molybdenum forming the signal line 21a and silicon on the TFT side is small, the connection hole 23a in the pixel region 20b can also be reduced. In other words, in order to secure the same aperture ratio, the pixel region 20b can be reduced, while the drive circuit side can be formed at a fine pitch by utilizing the three-layer structure on the drive circuit side. High integration of the active matrix display panel can be realized. In addition, the end 61a of the pixel electrode 6 is arranged up to the position above the signal line 21a, and the signal signal line 21a is formed of a molybdenum layer having a light-shielding property. As a result, hillocks and the like do not occur, and the signal line 21a and the pixel electrode 6 are not short-circuited. In addition, the signal line 21a itself can constitute a light-shielding mask (black stripe) in the direction of the signal line 21a. it can. Therefore, the light-shielding mask in the signal line 21a direction is
Since it is not necessary to provide on the counter electrode side (counter substrate), a margin for alignment is not required. Moreover, the molybdenum layer constituting the signal line 21a has a high light-shielding property, and is formed separately from the drive circuit side to have a thickness of about 0.2 μm.
Since the molybdenum layer has a small m, the flatness in the vicinity of the signal line 21a is not impaired. Therefore, the orientation of the liquid crystal rubbed on the transparent substrate 9 is not disturbed even in the vicinity of the signal line 21a. Therefore, in the active matrix display panel of this example, as shown by the hatched area in FIG. 5 in the opening of the pixel region 20b, a light-shielding mask BM in the direction of the scanning line 31a is required on the counter electrode side. In the direction of the signal line 21a, since the signal line 21a itself functions as a light shielding mask, there is no need to provide a margin.
Up to a can be used as an opening. For this reason, 50 μm
In the corner pixel region 20b, the vertical dimension of the opening is 38 μm.
m, the lateral dimension of the opening can be assured to 45 μm, and the opening ratio is as high as 68.4%. On the other hand, in the conventional active matrix display panel, as shown by the hatched area in FIG. 6, the vertical dimension of the opening is equal to 38 μm in the pixel area of 50 μm square.
When a light-shielding mask is provided on the counter electrode side, a margin M1 of about 4 μm corresponding to the alignment accuracy and a margin M2 of about 3 μm for shielding the vicinity of a signal line where the alignment of liquid crystal is disturbed by a step are required. The lateral dimension of the opening can only be secured at 31 μm, and the aperture ratio is 47.1%.
And low. Therefore, in the active matrix display panel of the present example, since the aperture ratio is high, the display quality is high. Further, in the active matrix display panel of this example, the power required for displaying the same luminance is small and the power consumption is reduced, so that the active matrix display panel is suitable for an apparatus using a battery as a power source, such as a portable video camera.

【0021】また、信号線21aを構成するモリブデン
層は、HBr系のITO用エッチング液に耐エッチング
性を有するため、画素電極6の下層側に設けても、エッ
チングされないので、製造プロセス上は支障がない。し
かも、上層側層間絶縁膜27にピンホールなどがあって
も、信号線21aに断線が生じることもない。
Further, since the molybdenum layer forming the signal line 21a has etching resistance to the HBr-based ITO etchant, it is not etched even if it is provided below the pixel electrode 6, so that there is a problem in the manufacturing process. There is no. Moreover, even if there is a pinhole or the like in the upper interlayer insulating film 27, there is no occurrence of disconnection in the signal line 21a.

【0022】〔実施例2〕図7は本発明の実施例2に係
るドライバ内蔵型液晶表示パネルのアクティブマトリク
スの断面図である。ここで、本例のドライバ内蔵型液晶
表示パネルのアクティブマトリクスの平面図は、図1と
同様に表され、その全体構成については、図10に示し
たドライバ内蔵型液晶表示パネルと同様であるので、対
応する部分には同符号を付して、それらの説明を省略す
る。
[Embodiment 2] FIG. 7 is a sectional view of an active matrix of a liquid crystal display panel with a built-in driver according to Embodiment 2 of the present invention. Here, a plan view of the active matrix of the liquid crystal display panel with a built-in driver according to the present embodiment is shown in the same manner as in FIG. 1, and the entire configuration is the same as that of the liquid crystal display panel with a built-in driver shown in FIG. Corresponding parts have the same reference characters allotted, and description thereof will not be repeated.

【0023】図7に示すように、本例のドライバ内蔵型
液晶表示パネルのアクティブマトリクスにおいて、その
画素領域40bに形成されたTFT8は、液晶表示パネ
ル全体を支持する透明基板9(ガラス基板)の表面側に
多結晶シリコン層24が形成されており、多結晶シリコ
ン層24には、真性の多結晶シリコン領域であるチャネ
ル領域24aを除いて、n型の不純物としてのリンが導
入されたソース4およびドレイン7が形成されている。
また、TFT8の表面側には、シリコン酸化膜からなる
下層側層間絶縁膜43が堆積されており、下層側層間絶
縁膜43およびゲート酸化膜22には第1の接続孔43
aが開口されている。また、下層側層間絶縁膜43の表
面側には、モリブデン層で構成された信号線41aが形
成されており、信号線41aは第1の接続孔43aを介
してTFT8のソース4に導電接続している。さらに、
下層側層間絶縁膜43およびゲート酸化膜22には第2
の接続孔43bも開口されており、下層側層間絶縁膜4
3の表面側には、信号線41aと同時形成されたモリブ
デン層で構成された積み上げ電極49が形成されて、積
み上げ電極49は第2の接続孔43bを介してTFT8
のドレイン7に導電接続している。また、下層側層間絶
縁膜43の表面側には、上層側層間絶縁膜47が形成さ
れており、この上層側層間絶縁膜47には第3の接続孔
47aが開口されている。また、上層側層間絶縁膜47
の表面側には、ITO層で構成された画素電極46が形
成されており、画素電極46は第3の接続孔47aを介
して積み上げ電極49に導電接続している。これによ
り、ドレイン7から画素電極46に対して電位が印加可
能になっている。
As shown in FIG. 7, in the active matrix of the liquid crystal display panel with a built-in driver according to the present embodiment, the TFT 8 formed in the pixel region 40b is formed on a transparent substrate 9 (glass substrate) supporting the entire liquid crystal display panel. A polycrystalline silicon layer 24 is formed on the surface side, and the polycrystalline silicon layer 24 has a source 4 doped with phosphorus as an n-type impurity except for a channel region 24a which is an intrinsic polycrystalline silicon region. And a drain 7 are formed.
A lower interlayer insulating film 43 made of a silicon oxide film is deposited on the front side of the TFT 8, and a first connection hole 43 is formed in the lower interlayer insulating film 43 and the gate oxide film 22.
a is open. A signal line 41a made of a molybdenum layer is formed on the surface of the lower interlayer insulating film 43. The signal line 41a is conductively connected to the source 4 of the TFT 8 via the first connection hole 43a. ing. further,
The lower interlayer insulating film 43 and the gate oxide film 22
The connection hole 43b is also opened, and the lower interlayer insulating film 4 is formed.
3, a stacked electrode 49 made of a molybdenum layer formed simultaneously with the signal line 41a is formed, and the stacked electrode 49 is connected to the TFT 8 via the second connection hole 43b.
Is electrically connected to the drain 7 of the semiconductor device. An upper interlayer insulating film 47 is formed on the surface side of the lower interlayer insulating film 43, and a third connection hole 47a is opened in the upper interlayer insulating film 47. In addition, the upper interlayer insulating film 47
A pixel electrode 46 made of an ITO layer is formed on the surface of the pixel electrode 46. The pixel electrode 46 is conductively connected to the stacked electrode 49 via the third connection hole 47a. Thus, a potential can be applied from the drain 7 to the pixel electrode 46.

【0024】また、本例のドライバ内蔵型液晶表示パネ
ルのアクティブマトリクスにおいても、図8に示すよう
に、画素電極46の端部461aが、それ自身が属する
画素領域40bを画素領域40aから区画する信号線4
1aの上方位置にある。ここで、画素電極46は上層側
層間絶縁膜47の上層側に形成されている一方、信号線
41aは上層側層間絶縁膜47の下層側に形成されて、
画素電極46と信号線41aとは上層側層間絶縁膜47
を介して多層配線構造になっているため、画素電極46
の端部461aと信号線41aとを近接配置しても、こ
れらが短絡することがないので、画素電極46の形成領
域が広く、その開口率が高い。
In the active matrix of the liquid crystal display panel with a built-in driver according to the present embodiment, as shown in FIG. 8, the end 461a of the pixel electrode 46 partitions the pixel region 40b to which the pixel electrode 46 belongs from the pixel region 40a. Signal line 4
1a. Here, the pixel electrode 46 is formed on the upper layer side of the upper interlayer insulating film 47, while the signal line 41 a is formed on the lower layer side of the upper interlayer insulating film 47.
The pixel electrode 46 and the signal line 41a are connected to the upper interlayer insulating film 47.
, The pixel electrode 46 has a multilayer wiring structure.
Even if the end portion 461a and the signal line 41a are arranged close to each other, they are not short-circuited, so that the formation area of the pixel electrode 46 is wide and the aperture ratio is high.

【0025】さらに、本例のアクティブマトリクスにお
いては、実施例1に係るアクティブマトリクスと同様
に、その透明基板9の上に、ビデオ信号を画素領域40
bに時系列的に送出する信号線駆動回路(X側ドライバ
ー回路)と、TFT8をオン・オフ動作するための走査
信号を画素領域40bに送出する走査線駆動回路(Y側
ドライバー回路)が形成されており、これらの信号線駆
動回路および走査線駆動回路に形成されたシフトレジス
タの配線層は、画素領域40bにおいて信号線41aの
上層に上層側層間絶縁膜47が形成されていることを利
用して、図4に示すように、画素領域40bに使用され
ていない膜厚が0.5〜1.0μmのアルミニウム層
(低抵抗配線層)で、第2の配線層33および第3の配
線層34を構成して、配線抵抗の低減が図られている。
Further, in the active matrix according to the present embodiment, similarly to the active matrix according to the first embodiment, a video signal is applied to the pixel region 40 on the transparent substrate 9.
a signal line driving circuit (X-side driver circuit) for transmitting a time-series signal to the pixel region 40b, and a scanning line driving circuit (Y-side driver circuit) for transmitting a scanning signal for turning on and off the TFT 8 to the pixel region 40b. The wiring layer of the shift register formed in the signal line driving circuit and the scanning line driving circuit utilizes the fact that the upper interlayer insulating film 47 is formed on the signal line 41a in the pixel region 40b. Then, as shown in FIG. 4, the second wiring layer 33 and the third wiring are formed of an aluminum layer (low-resistance wiring layer) having a thickness of 0.5 to 1.0 μm that is not used in the pixel region 40b. By forming the layer 34, the wiring resistance is reduced.

【0026】以上のとおり、本例のアクティブマトリク
ス表示パネルにおいては、信号線41aと画素電極46
とが層間絶縁膜を介する多層構造になっているため、画
素電極46と信号線41aとが短絡することがないの
で、画素電極46の形成領域を最大限広げて、画素領域
46の開口率を高めることができる。しかも、画素領信
号線41aは遮光性をもつモリブデン層で構成されてい
るため、それ自身で遮光マスクを構成することができる
ので、信号線41a方向において、遮光マスクによる遮
光幅を最小限にして、開口率を向上することができる。
さらに、信号線41aを構成するモリブデン層は、耐エ
ッチング性が高いので、製造プロセス上の支障などがな
いことなど、実施例1に係るアクティブマトリクス表示
パネルと同様な効果を奏する。さらには、耐エッチング
性が高いモリブデン層で構成された積み上げ電極49を
利用して、上層側層間絶縁膜47に第3の接続孔47a
を形成するときに、CF4 などを用いたドライエッチン
グを採用しても、積み上げ電極49によって、ドレイン
7が保護されるので、工程上の自由度も高い。
As described above, in the active matrix display panel of this example, the signal line 41a and the pixel electrode 46
Has a multilayer structure with an interlayer insulating film interposed therebetween, so that the pixel electrode 46 and the signal line 41a do not short-circuit, so that the formation area of the pixel electrode 46 is maximized and the aperture ratio of the pixel area 46 is reduced. Can be enhanced. In addition, since the pixel area signal line 41a is made of a molybdenum layer having a light-shielding property, the light-shielding mask can be formed by itself. Therefore, in the signal line 41a direction, the light-shielding width of the light-shielding mask is minimized. The aperture ratio can be improved.
Further, since the molybdenum layer forming the signal line 41a has high etching resistance, the same effect as the active matrix display panel according to the first embodiment is obtained, for example, there is no trouble in the manufacturing process. Further, the third connection hole 47a is formed in the upper interlayer insulating film 47 by using the stacked electrode 49 formed of a molybdenum layer having high etching resistance.
Even when dry etching using CF 4 or the like is employed, the drain electrode 7 is protected by the stacked electrode 49, so that the degree of freedom in the process is high.

【0027】さらに、本例のアクティブマトリクス表示
パネルにおいては、画素電極46は積み上げ電極49を
介してTFT8のドレイン7に導電接続しており、この
積み上げ電極49を構成しているモリブデン層はTFT
8のドレイン7を構成するシリコンに対するコンタクト
抵抗がアルミニウムやITOに比較して低い。たとえ
ば、3μm角のコンタクトにおいて、シリコンとITO
のコンタクト抵抗は30〜50kΩであるのに対して、
シリコンとモリブデンのコンタクト抵抗は0.1〜0.
5kΩ、モリブデンとITOのコンタクト抵抗は0.0
1〜0.02kΩである。それ故、電気的特性面が向上
するとともに、第1の接続孔43aおよび第2の接続孔
43bは小さくてもよい。また、下層側層間絶縁膜43
に最小寸法、たとえば、3μm角の第2の接続孔43b
を形成した後に、図8に示すように、ドッグボーン形状
と称せられる多結晶シリコン層24の拡張部241a
(ドレイン7)の形状、寸法に合わせて、積み上げ電極
49を形成してあるので、図9(a)に示すように、積
み上げ電極49に画素電極46を導電接続するための第
3の接続孔47aも3μm角で形成することができる。
従って、多結晶シリコン層24の拡張部241aおよび
積み上げ電極49の大きさは、3μm角の第2の接続孔
43bの大きさに対して2μmのマージンを両側に加え
ても、7μm角で充分である。それ故、下層側層間絶縁
膜43と上層側層間絶縁膜47との2層構造にしても、
開口率が犠牲にならない。すなわち、本例のアクティブ
マトリクス表示パネルと異なり、図9(b)に示すよう
に、上層側層間絶縁膜および下層側層間絶縁膜に連通す
る接続孔を形成する場合には、位置合わせ精度を考慮し
て、下層側層間絶縁膜に形成する接続孔431bの寸法
を上層側層間絶縁膜に形成する接続孔471aの寸法に
比して大きくする必要があるため、上層側層間絶縁膜に
形成する接続孔471aの寸法が3μm角であっても、
下層側層間絶縁膜に形成する接続孔431bの寸法は、
2μmのマージンを両側に加えて7μm角とする必要が
あるため、多結晶シリコン層241の拡張部241bの
大きさは、2μmのマージンを両側に加えて11μm角
にする必要があるので、開口率が犠牲になるが、本例の
アクティブマトリクス表示パネルにおいては、大きな拡
張部を必要としない。
Further, in the active matrix display panel of this embodiment, the pixel electrode 46 is conductively connected to the drain 7 of the TFT 8 via the stacked electrode 49, and the molybdenum layer forming the stacked electrode 49 is formed of a TFT.
The contact resistance with respect to the silicon constituting the drain 7 is lower than that of aluminum or ITO. For example, in a 3 μm square contact, silicon and ITO
Has a contact resistance of 30 to 50 kΩ,
The contact resistance between silicon and molybdenum is 0.1 to 0.1.
5 kΩ, contact resistance between molybdenum and ITO is 0.0
1 to 0.02 kΩ. Therefore, the first connection hole 43a and the second connection hole 43b may be small while the electrical characteristics are improved. Also, the lower interlayer insulating film 43
The second connection hole 43b having a minimum dimension, for example, a 3 μm square.
After forming, as shown in FIG. 8, an extended portion 241a of the polycrystalline silicon layer 24 called a dogbone shape is formed.
Since the stacked electrode 49 is formed according to the shape and size of the (drain 7), as shown in FIG. 9A, a third connection hole for conductively connecting the pixel electrode 46 to the stacked electrode 49 is formed. 47a can also be formed in 3 μm square.
Therefore, the size of the expanded portion 241a of the polycrystalline silicon layer 24 and the size of the stacked electrode 49 are sufficient to be 7 μm square even if a margin of 2 μm is added to both sides of the size of the second connection hole 43b of 3 μm square. is there. Therefore, even if a two-layer structure of the lower interlayer insulating film 43 and the upper interlayer insulating film 47 is used,
The aperture ratio is not sacrificed. That is, unlike the active matrix display panel of the present example, as shown in FIG. 9B, when forming a connection hole communicating with the upper interlayer insulating film and the lower interlayer insulating film, the alignment accuracy is taken into consideration. Then, the size of the connection hole 431b formed in the lower interlayer insulating film needs to be larger than the size of the connection hole 471a formed in the upper interlayer insulating film. Even if the size of the hole 471a is 3 μm square,
The dimensions of the connection hole 431b formed in the lower interlayer insulating film are as follows:
Since it is necessary to add a margin of 2 μm to both sides and make it 7 μm square, the size of the expanded portion 241 b of the polycrystalline silicon layer 241 needs to be made 11 μm square by adding a margin of 2 μm to both sides. However, the active matrix display panel of the present example does not require a large extension.

【0028】なお、液晶表示パネルの各領域の形状や大
きさなどは、製造すべき液晶表示パネルのサイズ、用途
などによって、所定の条件に設定されるべき性質のもの
であり、限定のないものである。また、耐エッチング性
が高い導電性遮光層としては、モリブデンの他にも、タ
ングステンなども採用することができる。
The shape and size of each region of the liquid crystal display panel are properties that should be set to predetermined conditions according to the size and use of the liquid crystal display panel to be manufactured, and are not limited. It is. As the conductive light-shielding layer having high etching resistance, tungsten or the like can be used in addition to molybdenum.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上のとおり、本発明に係るアクティブ
マトリクス表示パネルにおいては、信号線と画素電極と
第2層間絶縁膜を介する構造になっており、信号線及
び積み上げ電極は、耐エッチング性及び遮光性の高い導
電性遮光層からなると共に、画素電極の端部は、信号線
と第2層間絶縁膜を介して重なっていることに特徴を有
する。従って、本発明によれば、画素領域における開口
率を高めて表示の品位を向上することができる。また、
信号線の表面側には、第2層間絶縁膜があるため、駆動
回路側の配線層は信号線と同時形成せずとも、第2層間
絶縁膜と同層の層間絶縁膜の表面側に別の配線材料で形
成できるので、画素領域側と駆動回路側との間で、それ
ぞれの領域に対して適正な配線材料を採用することがで
きる。従って、信号線を薄い導電性遮光層で構成して、
それ自身を遮光マスクとして利用することによって、遮
光マスクの遮光幅を最小限にして開口率を高めるなど、
表示の品位をさらに向上することができる。
As described above, according to the present invention, in the active matrix display panel according to the present invention, the signal line and the pixel electrode has a structure through the second interlayer insulating film, the signal line及
And stacked electrodes are conductive with high etching resistance and light shielding.
It consists of an electrically conductive light-shielding layer, and the end of the pixel electrode
And a second interlayer insulating film . Therefore, according to the present invention, the display quality can be improved by increasing the aperture ratio in the pixel region. Also,
Since the second interlayer insulating film is provided on the surface side of the signal line, the wiring layer on the drive circuit side is not formed simultaneously with the signal line, but is separately formed on the surface side of the interlayer insulating film in the same layer as the second interlayer insulating film. Therefore, an appropriate wiring material can be adopted for each region between the pixel region side and the drive circuit side. Therefore, the signal line is composed of a thin conductive light shielding layer,
By using itself as a light-shielding mask, it is possible to minimize the light-shielding width of the light-shielding mask and increase the aperture ratio.
The display quality can be further improved.

【0030】さらに、画素電極が積み上げ電極を介して
ドレインに導電接続する構造であることから第2層間
絶縁膜と第1層間絶縁膜との間で積み上げ電極が中継す
るため、第1層間絶縁膜に形成する第2接続孔の大きさ
を最小寸法にできるので、第1層間絶縁膜と第2層間絶
縁膜の2層構造にしても、開口率が犠牲にならない。
Furthermore, since a structure that electrically connected to the drain via the electrode stacked pixel electrode, the electrode stacked between the second interlayer insulating film and the first interlayer insulating film relays, the first interlayer insulating Since the size of the second connection hole formed in the film can be minimized, the aperture ratio is not sacrificed even with a two-layer structure of the first interlayer insulating film and the second interlayer insulating film.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1に係るドライバ内蔵型液晶表
示パネルのマトリクスアレイの一部を示す平面図であ
る。
FIG. 1 is a plan view showing a part of a matrix array of a liquid crystal display panel with a built-in driver according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1のA−A′線における断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA 'of FIG.

【図3】図1のB−B′線における断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along the line BB 'of FIG.

【図4】図1に示すマトリクスアレイと同一基板上に形
成された駆動回路側の一部を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a part of a driving circuit formed on the same substrate as the matrix array shown in FIG. 1;

【図5】図1に示すマトリクスアレイの画素領域におけ
る開口領域を示す説明図である。
5 is an explanatory diagram showing an opening region in a pixel region of the matrix array shown in FIG.

【図6】図1に示すマトリクスアレイの画素領域におけ
る開口領域の拡大効果を説明するための従来のマトリク
スアレイの画素領域における開口領域を示す説明図であ
る。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing an opening region in a pixel region of a conventional matrix array for explaining an effect of enlarging an opening region in a pixel region of the matrix array shown in FIG. 1;

【図7】本発明の実施例1に係るドライバ内蔵型液晶表
示パネルのマトリクスアレイの一部を示す断面図であ
る。
FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a part of a matrix array of the liquid crystal display panel with a built-in driver according to the first embodiment of the present invention.

【図8】図7に示すドライバ内蔵型液晶表示パネルのマ
トリクスアレイの一部を示す平面図である。
8 is a plan view showing a part of a matrix array of the liquid crystal display panel with a built-in driver shown in FIG. 7;

【図9】(a)は図7に示すドライバ内蔵型液晶表示パ
ネルのマトリクスアレイの第2および第3の接続孔の形
成領域周囲を示す説明図、(b)は図9(a)に示す第
2および第3の接続孔の形成領域周囲の特徴点を説明す
るための比較例としての接続孔の形成領域周囲の説明図
である。
9A is an explanatory view showing the periphery of a region where second and third connection holes are formed in the matrix array of the liquid crystal display panel with a built-in driver shown in FIG. 7, and FIG. 9B is a view showing FIG. FIG. 9 is an explanatory diagram around a connection hole formation region as a comparative example for describing feature points around a second and third connection hole formation region.

【図10】ドライバ内蔵型液晶表示パネルのマトリクス
アレイの全体構成を示すブロック図である。
FIG. 10 is a block diagram showing an entire configuration of a matrix array of a liquid crystal display panel with a built-in driver.

【図11】従来のドライバ内蔵型液晶表示パネルのマト
リクスアレイの断面図である。
FIG. 11 is a sectional view of a matrix array of a conventional liquid crystal display panel with a built-in driver.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4,302,312・・・ソース 5・・・ゲート電極 6,46・・・画素電極 7,301,311・・・ドレイン 8・・・TFT(薄膜トランジスタ) 10・・・画素マトリクス 11・・・信号線駆動回路 12・・・走査線駆動回路 13・・・シフトレジスタ部 14・・・サンプルホールド回路部 15・・・ビデオ信号線 20a,20b,40a,40b・・・画素領域 21a,21b,41a・・・信号線 31a,31b・・・走査線 22・・・ゲート酸化膜 23,43・・・下層側層間絶縁膜 27,47・・・上層側層間絶縁膜 30・・・p型TFT 31・・・n型TFT 32・・・第1の配線層(下層側配線層) 33・・・第2の配線層(低抵抗配線層) 34・・・第3の配線層(低抵抗配線層) 36・・・第2の層間絶縁膜 37・・・第1の層間絶縁膜 49・・・積み上げ電極 131・・・インバータ 132・・・クロックドインバータ 130・・・シフトレジスタ 133・・・バッファ回路 G11,G12・・G21,G22・・・画素領域 T11,T12・・T21,T22・・・薄膜トランジスタ X1 ,X2 ,X3 ・・・信号線 Y1 ,Y2 ・・・走査線 4, 302, 312 Source 5 Gate electrode 6, 46 Pixel electrode 7, 301, 311 Drain 8 TFT (thin film transistor) 10 Pixel matrix 11 Signal line drive circuit 12 Scanning line drive circuit 13 Shift register section 14 Sample hold circuit section 15 Video signal lines 20a, 20b, 40a, 40b Pixel regions 21a, 21b, 41a: Signal line 31a, 31b: Scan line 22: Gate oxide film 23, 43: Lower interlayer insulating film 27, 47: Upper interlayer insulating film 30: p-type TFT 31 ... n-type TFT 32 ... first wiring layer (lower wiring layer) 33 ... second wiring layer (low resistance wiring layer) 34 ... third wiring layer (low resistance wiring) Layer) 36... Second interlayer Insulating film 37: First interlayer insulating film 49: Stacked electrode 131: Inverter 132: Clocked inverter 130: Shift register 133: Buffer circuit G11, G12, G21, G22 ··· Pixel area T11, T12 ··· T21, T22 ··· Thin film transistor X1, X2, X3 ··· Signal line Y1, Y2 ··· Scanning line

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板上に複数の走査線と、複数の信号線
と、前記各走査線と前記各信号線に接続された薄膜トラ
ンジスタと、前記薄膜トランジスタに接続された画素電
極とを有し、前記薄膜トランジスタのソース・ドレイン
領域となるシリコン層と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極
とがこの順に積層されてなるアクティブマトリクス表示
パネルにおいて、 前記シリコン層及びゲート電極上に配置された第1層間
絶縁膜と、前記第1層間絶縁膜及び前記ゲート絶縁膜に
形成された第1接続孔を介して前記ソース領域に接続さ
れた前記信号線と、前記第1層間絶縁膜及び前記ゲート
絶縁膜に形成された第2接続孔を介して前記ドレイン領
域に接続された積み上げ電極と、前記信号線及び前記積
み上げ電極上に形成された第2層間絶縁膜と、前記第2
層間絶縁膜に形成された第3接続孔を介して前記積み上
げ電極に接続された前記画素電極とを有し、 前記信号線及び前記積み上げ電極は、耐エッチング性及
び遮光性の高い導電性遮光層からなると共に、前記画素
電極の端部は、前記信号線と前記第2層間絶縁膜を介し
て重なっている ことを特徴とするアクティブマトリクス
表示パネル。
A plurality of scanning lines and a plurality of signal lines are provided on a substrate.
And a thin film transistor connected to each of the scanning lines and each of the signal lines.
Transistor and a pixel electrode connected to the thin film transistor.
And a source / drain of the thin film transistor
Silicon layer to be a region, gate insulating film, and gate electrode
And an active matrix display in which
In the panel, a first interlayer disposed on the silicon layer and the gate electrode
An insulating film, the first interlayer insulating film and the gate insulating film;
The source region is connected to the source region through the formed first connection hole.
The signal line, the first interlayer insulating film, and the gate
The drain region is formed through a second connection hole formed in the insulating film.
A stacked electrode connected to a region, the signal line and the product
A second interlayer insulating film formed on the lift-up electrode;
Stacking via a third connection hole formed in the interlayer insulating film;
And the pixel electrode connected to the gate electrode, wherein the signal line and the stacked electrode have etching resistance and
And a conductive light-shielding layer having high light-shielding properties and the pixel
An end of the electrode is interposed between the signal line and the second interlayer insulating film.
An active matrix display panel characterized by overlapping .
【請求項2】 前記信号線及び前記積み上げ電極は、モ
リブデンを主成分とすることを特徴とする請求項1に記
載のアクティブマトリクス表示パネル。
2. The signal line and the stacked electrode are
2. The method according to claim 1, wherein the main component is lithium.
Active matrix display panel of the mounting.
【請求項3】 前記基板上には、前記信号線と前記走査
線の少なくとも一方に信号を送出するための駆動回路を
有し、前記駆動回路の配線層は前記信号線よりも低抵抗
な材料からなることを特徴とする請求項1又は請求項2
に記載のアクティブマトリクス表示パネル。
3. The method according to claim 1 , wherein the signal line and the scanning line are provided on the substrate.
A drive circuit for sending a signal to at least one of the lines
Wherein the wiring layer of the drive circuit has a lower resistance than the signal line.
3. The method according to claim 1, wherein the material is made of a suitable material.
An active matrix display panel according to 1.
【請求項4】 前記配線層は、アルミニウムを主成分と
することを特徴とする請求項3に記載のアクティブマト
リクス表示パネル。
4. The wiring layer contains aluminum as a main component.
The active matrix display panel according to claim 3, wherein:
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