JP3110574B2 - 光スイッチ装置およびその調芯方法 - Google Patents

光スイッチ装置およびその調芯方法

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勤 渡邉
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光スイッチ装置およびそ
の調芯方法に関する。
【0002】
【従来の技術】1本の光ファイバ(マスター側光ファイ
バ)とn本の光ファイバ(n側光ファイバ)を端面同志
で対向させ、マスター側光ファイバを移動させることに
より、光結合対象のn側光ファイバを切り換えるものと
して、1:n光スイッチ装置がある。この種の従来装置
では、機械的接触を伴う光切り換えがなされていた。例
えば、マスター側光ファイバをフェルールに挿入し、こ
れを割りスリーブに挿入する。ここで、割りスリーブに
はn側光ファイバが各スリーブごとにセットされてお
り、挿入対象を変えることで光切り換えが可能になって
いた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような物
理的接触を伴うものでは、当然に磨耗によるフェルール
の外形変化が生じ、位置合わせ精度が使用と共に低下す
る。特に、シングルモード光ファイバ同志の接続では、
コア径は10μm程度であるため、例えば1μm程度の
軸ずれがあると、一般に0.3〜0.5dB程度の光結
合損失が生じることになる。
【0004】そこで、当然に非接触方式の光スイッチ装
置およびその調芯方法が望まれることになるが、非接触
では光軸合わせが極めて困難である。因みに、n側光フ
ァイバをシリコン基板などのV溝に固定しても、その位
置精度を1μm以下にすることは非現実的である。ま
た、マスター側光ファイバの移動量コントロールも1μ
m以下の精度で行うことは極めて困難である。
【0005】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たもので、精度良く調芯することの可能な非接触方式の
光スイッチ装置と、光スイッチングのための調芯方法を
提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光スイッチ
装置は光通信信号が伝送されるマスター側光導波路を有
するマスター側光コネクタと、各々の端面が光結合端面
でアレイ状に配置された複数のn側光導波路を有し、光
結合端面が前記マスター側光導波路の端面と対向するよ
うに配置されたn側光コネクタと、マスター側光導波路
と一体化した光入射位置検出装置用光源と、この光源か
らの光を受光する光入射位置検出装置と、マスター側光
導波路と光入射位置検出用光源とを光結合端面に沿って
平行移動させる平行微駆動手段と、n側光導波路を前記
光結合端面に沿って平行移動させる平行粗駆動手段と、
マスター側光導波路にセンシング用光導波路を結合する
光結合手段と、センシング用光導波路にセンシング光を
入射するセンシング光源と、マスター側光導波路からn
側光導波路に入射された後に反射され、当該マスター側
光導波路を経由して戻ってくるモニタ光を検出するモニ
タ光検出手段と、モニタ光検出手段による検出光量が最
大のときの光入射位置検出装置による検出位置をメモリ
するメモリ手段と、メモリ手段の内容と、光入射位置検
出用装置による検出位置を比較する比較手段と、比較手
段からの出力信号にもとづき、マスター側光導波路がそ
の偏位を修正する方向に移動するよう平行微駆動手段を
制御する制御手段とを備えることを特徴とする。
【0007】ここで、マスター側光導波路にセンシング
用光導波路を付設し、光通信信号伝送用の光導波路とは
別の光導波路で位置決めを行うようにしてもよい。
【0008】また、本発明に係る光スイッチの調芯方法
は、光通信信号が伝送されるマスター側光導波路を有す
るマスター側光コネクタと、各々の端面が光結合端面で
アレイ状に配置された複数のn側光導波路を有するn側
光コネクタとを端面同士が対向するよう配置すると共
に、マスター側光導波路と一体的に設けた光入射位置検
出用光源を光入射位置検出装置に対向するように配置す
る第1のステップと、マスター側光導波路とn側光導波
路とを相対的に平行移動させると共に、当該マスター側
光導波路にセンシング光を入射してその端面からn側光
コネクタに向けて出射すると共に、光入射位置検出用光
源から光入射位置検出装置に向けて光を出射する第2の
ステップと、n側光コネクタより戻ってきたセンシング
光の反射光のうち、マスター側光導波路に入射したもの
を検出すると共に、この入射光量がが最大のときの光入
射位置検出用の光源位置をメモリする第3ステップと、
第3ステップでメモリしたメモリ内容と、光入射位置検
出用光源の検出位置を比較する第4ステップと、第4ス
テップで求めた比較信号にもとづきマスター側光導波路
をその偏位と反対方向に移動する第5のステップとを備
えることを特徴とする。
【0009】なお、マスター側光導波路にセンシング用
光導波路を付設し、この光導波路からセンシング光を出
射することによってマスター側とn側の調芯をしてもよ
い。
【0010】
【作用】本発明の構成によると、マスター側光導波路と
n側光導波路は非接触状態で対向させられ、マスター側
光導波路あるいはこれに付設されたセンシング用光導波
路と一体に光入射位置検出用光源は移動する。そして、
これら光導波路にセンシング光が入射され、これら光導
波路と対向するn側光導波路あるいはモニタ用光導波路
に向けて出射される。
【0011】このセンシング光は、n側光導波路あるい
はモニタ用光導波路の内部で反射され、マスター側光導
波路あるいはセンシング用光導波路に戻ってくる。そし
て、マスター側光導波路あるいはセンシング用光導波路
と、これらに対向するn側光導波路あるいはモニタ用光
導波路との光結合率が最大値を示すときの光源の検出位
置(つまり調芯時の位置)をメモリ手段に入力する。こ
のメモリ手段の内容と、マスター側光導波路の位置とを
比較して光入射位置検出用光源の偏位方向を検出し、こ
れを修正するようにマスター側光導波路を平行微駆動動
させることにより調芯状態を保持する。
【0012】
【実施例】以下、添附図面により本発明のいくつかの実
施例を説明する。なお、同一の要素には同一の符号を付
することにより、重複した説明は省略する。
【0013】図1は第1実施例に係る光スイッチ装置の
全体構成図である。マスター側光ファイバ31はフェル
ール(図示せず)に挿入されたうえ、マスター側の微動
機構48を構成する微動アーム43によって垂直に支持
されている。ここで微動機構48には圧電駆動方式が採
用されたマスター側光ファイバ31の平行微動手段と、
光入射位置検出装置(以下PSDと称し、後に詳述す
る)47に光ビームを投射するLEDを支持する光源支
持手段を同時に構成している。すなわち、上記微動アー
ム43には、マスター側光ファイバ31の近傍にPSD
用光源42が設けられている。
【0014】上記のマスター側光ファイバ31の対向す
る位置にはn側光コネクタ4が設置され、この光結合端
面にはn本のn側光ファイバ41の端面が一定ピッチで
アレイ状に配設されている。n側光コネクタ4はX軸粗
動ステージ21に固定され、X軸粗動ステージ21はY
軸粗動ステージ22に取り付けられる。これらX軸粗動
ステージ21およびY軸粗動ステージ22は、例えばス
テッピングモータによってn側光ファイバ41の平行粗
動手段を構成し、同時に外部からのスイッチ切換指令に
よりコントロールされる切換駆動手段を構成している。
【0015】光通信用の信号が伝送されるマスター側光
ファイバ31にはセンシング用光ファイバ32が光結合
される。なお、これらの光結合を行なうカプラ(3dB
カプラ)34、35は、例えば光ファイバ同士を加熱し
て融着、延伸することにより構成される。センシング用
光ファイバ32は光通信用の信号と波長の異なるセンシ
ング光を出力するLD(レーザダイオード)モジュール
51に接続され、このLDモジュール51の発光はLD
駆動回路52によりドライブされる。光ファイバ33は
ホトダイオードなどのモニタ光検出器61に接続され、
その出力(センシング光が反射されて戻ってきたモニタ
光の検出出力)はプリアンプ62で増幅され、A/Dコ
ンバータ69でデジタル信号に変換されCPU100に
送られる。
【0016】CPU100は全体の制御を司るもので、
まず別途に入力された切換指令にもとづき、X軸粗動コ
ントローラ71とY軸粗動コントローラ72に指令を与
える。ここで、切換指令は、n側光コネクタ4における
n本のn側光ファイバ41のうち、どのn側光ファイバ
41とマスター側光ファイバ31を結合させるかの指令
(アドレス指令)である。X軸粗動コントローラ71は
X軸粗駆動回路73をコントロールし、Y軸粗動コント
ローラ72はY軸粗動回路74をコントロールし、これ
らによってステッピングモータなどからなるX軸粗動ス
テージ21とY軸粗動ステージ22が粗動させられる。
【0017】一方、CPU100はモニタ光検出器61
の検出光量を示す信号を入力し、最大光量であるか否か
を判断すると共に、マスター側光ファイバ31を支持す
る微動アーム43の位置を示す信号を入力する。すなわ
ち、マスター側光ファイバ31と、PSD用光源42と
は微動アーム43に一体に保持されており、PSD47
の出力信号がX軸アンプ621とY軸アンプ622とで
増幅されている。そして、モニタ光検出器61の検出光
量が最大の時(すなわち、調芯時)におけるPSD47
の出力が、CPU100からの指令によりX軸調芯時P
SD出力メモリ63とY軸調芯時PSD出力メモリ64
に入力して記憶される。X軸アンプ621の出力はX軸
調芯時PSD出力メモリ63の出力と共にX軸比較回路
67に入力されY軸アンプ622の出力はY軸調芯時P
SD出力メモリ64とと共にY軸比較回路68に入力さ
れ、両者が比較される。そして、X軸比較回路67とY
軸比較回路68からの出力信号(調芯時のPSD出力か
らのX軸、Y軸方向のずれ量を示す信号)は、X軸A/
Dコンバータ65とY軸A/Dコンバータ66でデジタ
ル信号に変換され、CPU100に送られる。
【0018】ピーク位置保持回路81は、マスター側光
ファイバ31とn側光ファイバ41のうちの結合対象の
光ファイバの調芯を保持するための基準信号を発生し、
そのX成分とY成分をそれぞれX軸アナログ演算器82
とY軸アナログ演算器83に入力する。一方、X軸D/
Aコンバータ84とY軸D/Aコンバータ85にはCP
U100からデジタル信号が与えられており、これはモ
ニタ光のパワーが最大(つまり調芯)となるようにマス
ター側光ファイバ31をn側光コネクタ4の光結合端面
に対し平行方向に微動させるためのサーボ制御信号であ
る。そして、このX軸D/Aコンバータ84の出力はX
軸アナログ演算器82に与えられてピーク位置保持回路
81のX出力と演算され、X方向微動用のアナログ信号
(X軸微動信号)として出力され、かつY軸D/Aコン
バータ85の出力はY軸アナログ演算器83に与えられ
たピーク位置保持回路81のY出力と演算され、Y方向
微動用のアナログ信号(Y軸微動信号)として出力され
ている。
【0019】上記のアナログ演算の結果は、X軸正微駆
動回路86、X軸負微駆動回路87、Y軸正微駆動回路
88及びY軸負微駆動回路89に与えられ、これからの
4つの駆動信号は微動機構48に与えられる。これによ
りマスター側光ファイバ31を支持する微動アーム43
は水平方向の微移動を行なう。
【0020】次に、図2を参照することにより、マスタ
ー側光ファイバ31とn側光コネクタ4の結合部近傍の
構成を示す。図2は上記構成の側面図で、同図に示すと
おり、ベース53の一端側に設けた基台54にはX軸粗
動ステージ21とY軸粗動ステージ22とが設置されて
いる。そして、これら粗動ステージ21,22上にn側
光ファイバ41を支持するn側光コネクタ4が固定され
ている。
【0021】図2の構造において、X軸粗動ステージ2
1はX軸粗駆動回路73から信号(パルス信号)が与え
られることによりX軸方向に粗動し、Y軸粗動ステージ
22は、Y軸粗駆動回路74からの信号(パルス信号)
が与えられることによりY軸方向に粗動する。これによ
って、CPU100からの光結合切換指令(アドレス指
示)に従って、マスター側光ファイバ31に光結合され
るn側光コネクタ4のn側光ファイバ41が切り換えら
れる。なお、X軸粗動ステージ21とY軸粗動ステージ
22はステッピングモータにより構成され、与えられた
パルス信号のパルス数に応じた量だけステップ移動す
る。
【0022】つぎに、マスター側光ファイバ31を支持
する微動アーム43の近傍の構成を説明する。微動アー
ム43は支持台55上に設けられたピエゾステージ56
上に取り付けられて、その先端部にマスター側光ファイ
バ31が支持され、その中間部にはPSD用の光源42
が設けられている。光源42はLEDにより構成されL
ED駆動回路44に接続されている。ピエゾステージ5
6は堆積された圧電材料層の上面にプラスX電極とマイ
ナスX電極を対向させると共にプラスY電極とマイナス
Y電極を対向させて4つの電極(いずれも図示せず)を
設けた公知の圧電ユニットにより構成される。
【0023】上記の各電極には、上記のアナログ加算の
結果にもとづいてX軸正微駆動回路86、X軸負微駆動
回路87、Y軸正微駆動回路88およびY軸負微駆動回
路89が接続されており、各回路からの信号にもとづい
て、上記の各電極に加える電圧の直流バイアスを変化さ
せると、圧電材料層に引張りあるいは圧縮歪みが生じ
て、微動アーム43をμmの単位で水平に微動させるこ
とができ、これによってマスター側光ファイバ31の動
きも上記の運動に従った動きとなる。
【0024】一方、支持台55にはPSD47が配設さ
れており、このPSD47にPSD用アンプ621、6
22が接続されている。PSD47はPSD用光源42
から光の入射を受けてその入射位置を検知するものであ
る。図2の場合、支持台55上にPSD用光源42と対
向して集光用の対物レンズ57が配設されており、レン
ズからの光は光ガイド孔58を通り反射ミラー59によ
り直角に曲げられたうえ、さらに光ガイド孔60を通っ
てPSD47に入射するように構成されている。
【0025】PSD47は、図3に示すように、平板状
のシリコンから成るI層23の表面側にP型抵抗層22
が一様に積層されると共に、裏面側にn+ 層24が積層
され、さらに、P型抵抗層22の4隅にI×A電極2
5、I×B電極26、IYA電極27およびIYB電極28
の4個の出力電極を2個ずつが対向するように設けて構
成され、光スポット29の入射位置を2次元的に検出す
るようになってる。
【0026】つまり、図3に示すように、いまPSD4
7の光スポット29の位置に入射があったとするとき、
光スポット29からIXA電極25までの距離をXA 、I
XB電極26までの距離をXB 、IYA電極27までの距離
をYA 、IYB電極28までの距離をYB とすると次の式 XA :XB =IXB:IXAA :YB =IYB:IYA が成立する。よって、各電極25、26、27、28か
らの出力を測定することにより上記の式にもとづいてP
SD用光源42の移動位置、つまりマスター側光ファイ
バ31の移動位置が分かる。
【0027】上記微動アーム43が微動するとき、マス
ター側光ファイバ31からはセンシング光が出射されて
いるものと仮定すると、このセンシング光は、マスター
側光ファイバ31とn側光ファイバ41の光結合率に応
じた割合でn側光ファイバ41に入射し、内部で反射さ
れて戻ってくる。戻ってきたモニタ光は、マスター側光
ファイバ31に再び入射されてモニタ光検出器61によ
り検出されるが、この検出光量の変動は、上記のマスタ
ー側光ファイバ31とn側光ファイバ41の光結合率の
変動に対応している。
【0028】ところで、マスター側光ファイバ31が微
動アーム43によって移動するとき、PSD用光源42
も一体に移動するので、上記光結合率が最大のとき(調
芯時)のPSD用光源42の位置をPSD47で検知し
て、その信号をX軸アンプ621とY軸アンプ622と
に入力することができる。各X軸アンプ621とY軸ア
ンプ622からの信号は、前述したように、それぞれX
軸とY軸の調芯時PSD出力メモリ63、64とX軸お
よびY軸比較回路67、68に入力され、さらにX軸A
/Dコンバータ65とY軸A/Dコンバータ66でデジ
タル信号に変換され、CPU100に送られる。
【0029】このようにして、マスター側光ファイバ3
1からのモニタ光量がピークのとき(つまり調芯のと
き)の微動アーム43の位置をX軸調芯時PSD出力メ
モリ63とY軸調芯時PSD出力メモリ64に入力する
ことにより、以後センシング光の出射がなくとも、上記
各調芯時PSD出力メモリ63、64の内容と、微動ア
ーム43の偏位とを比較するX、Yの比較回路67、6
8からの制御信号により、マスター側の光ファイバ31
とn側光ファイバ41の調芯位置を自動的に追跡し、そ
の位置を保持することができる。
【0030】次に、上記調芯時PSD出力メモリ63,
64にモニタ光がピーク値となったときのPSD47の
出力を入力してメモリするため、マスター側光ファイバ
31を微動させて行なう調芯方法を説明する。この調芯
方法では、対向する光ファイバは、それぞれの中心が合
致したときその断面における光パワー分布が、一般にコ
アの中心を頂点とする円錐状の分布をしているという性
質にもとづいて、n側光ファイバ41断面の複数の点を
指示し、所定の操作により仮の光パワーのピーク点を探
し、このピーク点にマスター側光ファイバ31を順次移
動して行なっている。
【0031】以下順に説明すると、まず、マスター側光
ファイバ31とn側光ファイバ41の中心が略合致した
状態でLPモジュール51よりセンシング光を出射させ
る。つぎに、図4(a)に示すように、n側光ファイバ
41の断面において任意の3点の採光点P.Q.Rを指
定し、マスター側光ファイバ31の中心を順次この位置
に移動する。各点P、Q、Rへのマスター側光ファイバ
31の移動はCPU100からの指令信号がX、YのD
/Aコンバータ84,85に入力され、X,Yの各正負
駆動回路86〜89により微動機構48を駆動すること
により行なわれる。そして、各点P.Q.Rにおけるモ
ニタ光の光パワー値を測定し、その内容をモニタ光検出
器61を介してCPU100に入力する。
【0032】上記の各点P.Q.Rについて、その光パ
ワー値が、今P>R>Qの関係にあるとすれば、上記
P.Qの線分上において、R点の光パワー値と等しいR
´の点を求め、その点をCPU100に入力する。
【0033】同様に、n側光ファイバ41の断面の他の
任意の3点X,Y,Zを指定し、上記と同じ操作を繰返
し、Y点の光パワー値と等しいY´の点を求める。その
後、上記線分R,R´上からQ点と反対方向に延びる垂
直2等分線と、線分Y,Y´からZ位置と反対方向に延
びる垂直2等分線が交わる点を探すもので、この点が仮
のピーク点Cである。そして、この仮のピーク点Cにマ
スター側光ファイバ31の中心を移動させる。
【0034】上記の方法によって仮ピーク点Cを求めた
あと、図4(c)に示すように仮ピーク点Cの周囲の数
点を指定し、これら諸点へマスター側光ファイバ31を
移動し、最も光パワー値が強くなる点C´に移動させ
る。光して、移動した後、仮のピーク点C´を新たな中
心として上記の操作を繰返す。この場合、仮ピーク点C
の周囲の数点の光パワー値の測定についてはモニタ光検
出器61で行ない、この測定結果にもとづくCPU10
0からの指令で仮ピークの点に隣接する位置を複数指定
して、微動アーム43を移動させ、その位置における光
パワー値を記録し、一巡したところで、最も高い光パワ
ー値を示す位置に移動させることを繰返して調芯点を求
めることができる。ここで、調芯点は、その周囲の点の
光パワー値がすべてこの調心点より低い点のことであ
る。そして、この調芯時におけるPSD用光源42の位
置をPSD47で検出し、そのデータをX軸調芯時PS
D出力メモリ63とY軸調芯時出力メモリ64に入力す
る。
【0035】なお、上記のように2組の任意の3点につ
いて、それぞれの位置と光パワー値を順次求めて調芯点
を探る方式のかわりに次の方式でモニタ光のピーク点を
求めてもよい。すなわち、図4(b)に示すようにn側
光ファイバ41の断面任意の4点P.Q.R.Sについ
てその位置および光パワー値を求める。つぎに、その光
パワー値が今、S>P>R>Qの順にある場合、まず線
分PQ上において、点Rの光パワー値と等しいR1 を求
め、同様に線分SR上において点Pの光パワー値と等し
いP´を求め、各線分R,R´とP,P´からSの方向
にそれぞれ延びる2等分線の交点を仮のピーク点Cとす
る。その後、図4(c)に基づいて説明したのと同じ方
法を用いてマスター側光ファイバ31を移動させ、調芯
位置を求めることができる。
【0036】上記の調芯方法は、モニタ光のパワー値の
変動をCPU100が管理し、CPU100からの指令
により微動アーム43を移動させ、順次最大光パワー値
に近い装置に近ずけることによって調芯するもので、マ
スター側光ファイバ31とn側光ファイバ41の調芯を
速く、しかも確実に行なうことができる。
【0037】次に、上記実施例の装置を用いた光スイッ
チングの動作および調芯保持動作を図5,図6のフロー
チャートに従って説明する。
【0038】まず、マスター側光ファイバ31と光結合
すべきn側光ファイバ41のアドレスがCPU100に
指示され、これにもとづく切換位置指令がX軸粗動コン
トローラ71とY軸粗動コントローラ72に与えられる
(ステップ102)。これによりX軸粗動ステージ21
とY軸粗動ステージ22がステップ駆動され、n側光フ
ァイバ41が結合対象のマスター側光ファイバ31の対
向位置に粗動させられる(ステップ104)。
【0039】次に、LD駆動回路52がオンとされ(最
初からオンとなっていてもよい)、LDモジュール51
からのセンシング光は、センシング用光ファイバ32に
入射される(ステップ106)。このセンシング光は、
カプラ35とカプラ34を通ってマスター側光ファイバ
31から出射され、n側光ファイバ41に入射されて内
部で反射される。反射光(モニタ光)は再びマスター側
光ファイバ31に入射し、カプラ34とカプラ35を通
って光ファイバ33からモニタ光検出器61に入射さ
れ、このモニタ光検出器61により検出される(ステッ
プ108)。
【0040】モニタ光検出61から出力される信号は、
CPU100を介してX軸D/Aコンバータ84とY軸
D/Aコンバータ85に入力され、これらの信号がピー
ク位置保持回路81からの信号とともにX軸アナログ演
算器82およびY軸アナログ演算器83に入力され、X
軸正微動回路86、X軸負微駆動回路87、Y軸正微駆
動回路88およびY軸負微駆動回路89の出力電圧によ
りピエゾステージ45の圧電式駆動部をサーボ駆動して
微動アーム43を微動させ、モニタ光のピーク値を前述
した調芯方法を用いてさがす(ステップ110)。
【0041】このモニタ光がピーク値を示したときを調
芯位置として、このときのPSD用光源42の位置を指
示するPSD47の出力をX軸およびY軸の各調芯時P
SD出力用メモリ63,64に入力する(ステップ11
2)。
【0042】つづいて、マスター側光ファイバ31とn
側光ファイバ41が調芯状態を保持するようサーボコン
トロール(ステップ114)を行なうが、このサーボコ
ントロールの操作手段を図6のフローチャートに従って
説明する。まず、モニタ光のピーク値におけるPSD用
光源42の位置を入力しているX,Yの各調芯時PSD
出力メモリ63,64の内容Aと、外部から力が作用し
た時に移動する恐れがある微動アーム43のPSD用光
源42(つまりマスター側光ファイバ31)の変位に対
応するPSD出力の内容Bを、XとYの各比較回路6
7,68に入力する(ステップ116)。
【0043】このとき比較回路67,68がAY軸A/
DコンバータがA=Bか否かを判定し(ステップ11
8)、その変位量を求める。上記のメモリ内容の値Aと
PSD出力の値Bの差が規定値以下のとき(雑音成分が
支配的であるとき)には、X軸D/Aコンバータ84お
よびY軸D/Aコンバータ85の出力とピーク位置保持
回路81の出力値は同値を示し、アナログ演算の結果、
マスター側光ファイバ31とn側光ファイバ41とは調
芯された範囲にあるものとみなし、X軸とY軸の各正負
の微駆動回路86〜89はピエゾステージ45に微動信
号を出力せず、次のPSD出力を取り込む(ステップ1
22)。
【0044】一方、上記AとBの値の差が規定値を超え
るときは、偏位方向の修正方向にマスター側光ファイバ
31を微動させる(ステップ120)。つまり、このと
きは、CPU100を介してX,YのD/Yコンバータ
84,85から出力される値とピーク位置保持回路81
からの出力値とに差が生じ、その差がX軸アナログ演算
器82およびY軸アナログ演算器83で演算され、その
結果にもとづいて、X軸正微駆動回路86、X軸負微駆
動回路87、Y軸正微駆動回路88およびY軸負微駆動
回路89の出力電圧に直流バイアスが加わり、微動アー
ム43を微動させる。
【0045】そして、上記のステップ116〜122の
サーボ制御が続けられ、ピーク位置保持回路81がオン
である限り、微動アーム43が偏位を修正する方向に移
動し、マスター側の光ファイバ31はn側光ファイバ4
1に対して調芯状態を保持し、その下で光通信が可能と
なる。なお、モニタ光がピーク値を示すときのPSD用
光源42の位置を調芯時PSD用メモリ63、64に入
力した後は、LDモジュール51からのセンシング光の
出力は停止してかまわない。
【0046】本発明については種々の変形が可能であ
り、これを上記実施例を対象に説明すると、次のように
なる。
【0047】まず、n側光ファイバ41の途中に、LD
モジュール51からのセンシング光のみを反射するフィ
ルタを設けてよい。このようにすると、n本のn側光フ
ァイバ41におけるセンシング光の反射率を略同一にで
きる。このようなフィルタとしては、誘電体多層膜ある
いはファイバグレーティングにより実現できる。ここ
で、センシング光としては、波長0.48μmのものが
使用できる。
【0048】図7は、上記第1実施例を変形した光スイ
ッチ装置の要部構成を示している。この変形例では、図
1におけるカプラ34に代えて、損失が0.2〜0.3
dBの1×2型の光スイッチ36を用いている。なお、
カプラ35は3dBカプラである。光スイッチ36の具
体的構成としては、機械的な移動によって切り換えるも
のであってもよい。また、電圧印加による電気光学結晶
の屈折率変化により、光の経路を切り換えるものであっ
てもよい。
【0049】この変形例では、調芯の際にはマスター側
光ファイバ31とセンシング用光ファイバ32が接続さ
れ、調芯が終了するとマスター側光ファイバ31同志が
光スイッチ36で接続される。したがって、調芯が完了
した後には、センシング光がマスター側光ファイバ31
からn側光ファイバ41に漏れることがない。
【0050】この変形例による利点は、下記の通りであ
る。すなわち、例えば波長1.65μmのOTDR(光
ファイバ障害点探索装置)を用いる場合であって、波長
1.31μmと1.55μmの両方で光通信を行なうと
きには、1.314μmと1.55μmと1.65μm
の波長のセンシング光は、図1の構成では用いることが
できない。このため、LDモジュール51に用いうるL
Dの種類が制限される。
【0051】ところが、図7の変形例によると、マスタ
ー側光ファイバ31とセンシング用光ファイバ32との
結合が1×2光スイッチ36で切り換えられるので、上
記波長帯のLDモジュール51を用いることができる。
また、2×2型のカプラ34についても、100%の効
率で分岐することはできず、OTDR用の光は少なから
ず損失をうける。ところが光スイッチ36を用いると、
OTDRが動作させられる光結合時(光通信時)には、
光スイッチ36は高効率(0.2〜0.3dBの損失)
でマスター側光ファイバ31同士を結合しているので、
このような問題は発生しない。
【0052】
【発明の効果】以上説明したとおり、マスター側光導波
路とn側光導波路は非接触状態で対向させられ、マスタ
ー側光導波路あるいはこれに付設されたセンシング導波
路は、これと一体に設けられた光入射位置検出装置用光
源と一体に移動させられる。そして、これら光導波路か
らセンシング光をn側光導波路あるいはモニタ用光導波
路に向けて出射し、n側光導波路あるいはモニタ用光導
波路の内部で反射され、マスター側光導波路あるいはセ
ンシング用光導波路に戻ってきたときのセンシング光の
光量がピーク値(つまり調芯された状態)のときの上記
光入射位置検出による光源の検出位置をメモリ手段に入
力する。その後、マスター側光導波路あるいはセンシン
グ用光導波路と、これらに対向するn側光導波路あるい
はモニタ用光導波路との光結合効率は、マスター側光導
波路とn側光導波路の位置ずれにともなって低下する
が、このマスター側光導波路の位置ずれに対応する光入
射位置検出装置による検出位置と、メモリ手段の内容を
比較手段とで比較しその信号をCPUに送る。そこで、
CPUからの信号によりマスター側光導波路を支持する
平行微駆動手段は、光結合効率がピーク値を保持するよ
う修正移動し、これによりマスター側光導波路とn側光
導波路を調芯することが可能になる。このため、マスタ
ー側光導波路を極めて高速かつ高精度にn側光導波路に
調芯できるので、非接触方式で光スイッチングを実現す
ることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例の装置の全体構成図である。
【図2】マスター側光ファイバとn側光ファイバの支持
機構の側面図である。
【図3】図(a)は光入射位置検出装置(PSD)の平
面図、図(b)は図(a)の側面図である。
【図4】図(a),(b),(c)は調芯方法の説明図
である。
【図5】実施例の動作のフローチャートである。
【図6】サーボコントロールのフローチャートである。
【図7】変形例の要部構成図である。
【符号の説明】
100…CPU、21…X軸粗動ステージ、22…Y軸
粗動ステージ、31…マスター側光ファイバ、32…セ
ンシング用光ファイバ、33…光ファイバ、34…カプ
ラ、35…カプラ、36…光スイッチ、4…n側光コネ
クタ、41…n側光ファイバ、42…PSD用光源、4
3…微動アーム、44…モニタ用光ファイパ、45…ピ
エゾステージ、47…光入射位置検出装置(PSD)、
48…微動機構、51…LDモジュール、52…LD駆
動回路、61…モニタ光検出器、62…プリアンプ、6
3…X軸調芯時PSD出力メモリ、64…Y軸調芯時P
SD出力メモリ、65…X軸A/Dコンバータ、66…
Y軸A/Dコンバータ、71…X軸粗動コントローラ、
72…Y軸粗動コントロール、73…X軸粗動駆動回
路、74…Y軸粗駆動回路、81…ピーク位置保持回
路、82…X軸アナログ演算器、83…Y軸アナログ演
算器、84…X軸D/Aコンバータ、85…Y軸D/A
コンバータ、86…X軸正微駆動回路、87…X軸負微
駆動回路、88…Y軸正微駆動回路、89…Y軸負微駆
動回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 和人 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 渡邉 勤 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 服部 保次 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 古川 眞一 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平6−138404(JP,A) 特開 平1−134404(JP,A) 特開 昭58−107912(JP,A) 特開 平2−143221(JP,A) 特開 平1−101507(JP,A) 特開 平4−199010(JP,A) 実開 平1−84008(JP,U) 特公 昭46−19270(JP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 26/08

Claims (10)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光通信信号が伝送されるマスター側光導
    波路を有するマスター側光コネクタと、 各々の端面が光結合端面でアレイ状に配置された複数の
    n側光導波路を有し、前記光結合端面が前記マスター側
    光導波路の端面と対向するように配置されたn側光コネ
    クタと、 前記マスター側光導波路と一体化した光入射位置検出用
    光源と、 前記光入射装置検出用光源からの光を受光する光入射位
    置検出装置と、 前記マスター側光導波路と前記光入射装置検出用光源と
    を前記光結合端面に沿って平行移動させる平行微駆動手
    段と、 前記n側光導波路を前記光結合端面に沿って平行移動さ
    せる平行粗駆動手段と、 前記マスター側光導波路にセンシング用光導波路を結合
    する光結合手段と、 前記センシング用光導波路にセンシング光を入射するセ
    ンシング光源と、 前記マスター側光導波路から前記n側光導波路に入射さ
    れた後に反射され、当該マスター側光導波路を経由して
    戻ってくるモニタ光を検出するモニタ光検出手段と、 前記モニタ光検出手段による検出光量が最大のときの前
    記光入射位置検出装置による検出位置をメモリするメモ
    リ手段と、 前記メモリ手段の内容と、前記光入射位置検出装置によ
    る検出位置を比較する比較手段と、 前記比較手段からの信号にもとづき前記マスター側光導
    波路がその偏位を修正する方向に移動するよう前記平行
    微駆動手段を制御する制御手段とを備えることを特徴と
    する光スイッチ装置。
  2. 【請求項2】 前記光結合手段は、前記マスター側光導
    波路に前記センシング用光導波路が光結合された第1の
    状態と、前記マスター側光導波路に前記センシング用光
    導波路が光結合されない第2の状態を切り替え得るよう
    に構成され、 前記制御手段は、前記メモリ手段に前記モニタ光検出手
    段による検出光量が最大のときの前記光入射位置検出装
    置の検出位置がメモリされるまでを前記第1の状態と
    し、前記検出位置がメモリされたとき前記第2の状態と
    する請求項1記載の光スイッチ装置。
  3. 【請求項3】 前記制御手段は、前記メモリ手段に前記
    モニタ光検出手段による検出光量が最大のときの前記光
    入射位置検出装置の検出位置がメモリされた後、前記セ
    ンシング光源を消灯させる請求項1または2記載の光ス
    イッチ装置。
  4. 【請求項4】 光通信信号が伝送されるマスター側光導
    波路と、これと平行に所定間隔で配置されたセンシング
    用光導波路とを有するマスター側光コネクタと、 各々の端面が光結合端面でアレイ状に配置された複数の
    n側光導波路を有し、前記光結合端面が前記マスター側
    光導波路の端面と対向するように配置されたn側光コネ
    クタと、 前記マスター側光導波路と一体化した光入射位置検出用
    光源と、 前記光入射位置検出用光源からの光を受光する光入射位
    置検出装置と、 前記マスター側光導波路と前記光入射位置検出用光源と
    を前記光結合端面に沿って平行移動させる平行微駆動手
    段と、 前記n側光導波路を前記光結合端面に沿って平行移動さ
    せる平行駆動手段と、 前記センシング用光導波路にセンシング光を入射するセ
    ンシング光源と、 前記センシング用光導波路から前記n側光導波路と隣接
    する別のn側光導波路に入射された後に反射され、当該
    センシング用光導波路を経由して戻ってくるモニタ光を
    検出するモニタ光検出手段と、 前記モニタ光検出手段による検出光量が最大のときの前
    記光入射位置検出装置による検出位置をメモリするメモ
    リ手段と、 前記メモリ手段の内容と、前記光入射位置検出装置によ
    る検出位置を比較する比較手段と、 前記比較手段からの信号にもとづき前記マスター側光導
    波路がその偏位を修正する方向に移動するよう前記平行
    微駆動手段を制御する制御手段とを備えることを特徴と
    する光スイッチ装置。
  5. 【請求項5】 光通信信号が伝送されるマスター側光導
    波路と、これと平行に所定間隔で配置されたセンシング
    用光導波路とを有するマスター側光コネクタと、 各々の端面が光結合端面でアレイ状に配置された複数の
    n側光導波路と、これらと前記所定間隔をあけて平行に
    配置された複数のモニタ用光導波路を有し、前記光結合
    端面が前記マスター側光導波路の端面とを対向するよう
    に配置されたn側光コネクタと、 前記マスター側光導波路と一体化した光入射位置検出用
    光源と、 前記光入射位置検出用光源からの光を受光する光入射位
    置検出装置と、 前記マスター側光導波路と前記光入射位置検出用光源と
    を前記光結合端面に沿って平行移動させる平行微駆動手
    段と、 前記n側光導波路を前記光結合端面に沿って平行移動さ
    せる平行粗駆動手段と、 前記センシング用光導波路にセンシング光を入射するセ
    ンシング光源と、 前記センシング用光導波路から前記モニタ用光導波路に
    入射された後に反射され、当該モニタ用光導波路を経由
    して戻ってくるモニタ光を検出するモニタ光検出手段
    と、 前記モニタ光検出手段による検出光量が最大のときの光
    入射位置検出装置による検出位置をメモリするメモリ手
    段と、 前記メモリ手段の内容と前記光入射位置検出装置による
    検出の位置を比較する比較手段と、 前記比較手段からの信号にもとづき前記マスター側光導
    波路がその偏位を修正する方向に移動するよう前記平行
    微駆動手段を制御する制御手段とを備えることを特徴と
    する光スイッチ装置。
  6. 【請求項6】 前記センシング用光導波路は前記マスタ
    ー側光導波路の両側に配置され、前記モニタ用光導波路
    は前記複数のn側光導波路のそれぞれの両側に前記セン
    シング用光導波路と略同一のピッチで配設され、前記ペ
    アとされたセンシング用光導波路はカプラにより1本に
    光結合されている請求項4または5記載の光スイッチ装
    置。
  7. 【請求項7】 前記マスター側光コネクタを前記結合端
    面に沿って平行移動させることにより、前記マスター側
    光導波路と対向する前記側光導波路を切り換える切換駆
    動手段と、 入力された切換指令にもとづき、前記マスター側導波路
    が指令されたn側光導波路と対向する位置に移動するよ
    う前記切換駆動手段を制御する前記切換制御手段とを更
    に備える請求項1ないし6のいずれか記載の光スイッチ
    装置。
  8. 【請求項8】 前記n側光コネクタを前記結合端面と平
    行な方向に移動させることにより、前記マスター側光導
    波路と対向する前記n側光導波路を切り換える切換駆動
    手段と、 入力された切換指令にもとづき、指令された前記n側光
    導波路が前記マスター側光導波路と対向する位置に移動
    するよう前記切換駆動手段を制御する切換制御手段とを
    更に備える請求項1ないし6のいずれか一項に記載の光
    スイッチ装置。
  9. 【請求項9】 光通信信号が伝送されるマスター側光導
    波路を有するマスター側光コネクタと、各々の端面が光
    結合端面でアレイ状に配置された複数のn側光導波路を
    有するn側光コネクタとを端面同士が対向するよう配置
    すると共に、前記マスター側光導波路と一体的に設けた
    光入射位置検出用光源を光入射位置検出装置に対向する
    ように配置する第1のステップと、 前記マスター側光導波路と前記n側光導波路とを相対的
    に平行移動させると共に、当該マスター側光導波路にセ
    ンシング光を入射してその端面からn側光コネクタに向
    けて出射すると共に、前記光入射位置検出用光源から前
    記光入射位置検出装置に向けて光を出射する第2のステ
    ップと、 前記n側光コネクタより戻ってきた前記センシング光の
    反射光のうち、前記マスター側光導波路に入射したもの
    を検出すると共に、この入射光量が最大のときの前記光
    入射装置検出用光源の位置をメモリする第3ステップ
    と、 前記第3ステップでメモリしたメモリ内容と、光入射位
    置検出用光源の検出位置を比較する第4ステップと、 前記第4ステップで求めた比較信号にもとづき前記マス
    ター側光導波路をその偏位と反対方向に微動する第5の
    ステップとを備える光スイッチの調芯方法。
  10. 【請求項10】 光通信信号が伝送されるマスター側光
    導波路とこれと平行に配置されたセンシング用光導波路
    とを有するマスター側光コネクタと、各々の端面が光結
    合端面でアレイ状に配置された複数のn側光導波路を有
    するn側光コネクタとを端面同士が対向するよう配置す
    ると共に、前記マスター側光導波路と一体的に設けた光
    入射位置検出用光源を光入射位置検出装置に対向するよ
    うに配置する第1ステップと、 前記マスター側光導波路と前記n側光導波路とを相対的
    に平行移動させると共に、当該センシング用光導波路に
    センシング光を入射してその端面からn側光コネクタに
    向けて出射すると共に、前記光入射位置検出用光源から
    前記光入射位置検出装置に向けて光を出射する第2のス
    テップと、 前記n側光コネクタより戻ってきた前記センシング光の
    反射光の内、前記センシング用光導波路に入射したもの
    を検出すると共に、この入射光量が最大のときの前記光
    入射位置検出用光源の位置をメモリする第3ステップ
    と、 前記第3ステップでメモリしたメモリ内容と、光入射位
    置検出用光源の位置を比較する第4のステップと、 前記第4のステップで求めた比較信号にもとづき前記マ
    スター側光導波路をその偏位と反対方向に微動する第5
    のステップとを備える光スイッチ調芯方法。
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