JP3106447B2 - 自動校正機能付き残留塩素計 - Google Patents
自動校正機能付き残留塩素計Info
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- JP3106447B2 JP3106447B2 JP05026583A JP2658393A JP3106447B2 JP 3106447 B2 JP3106447 B2 JP 3106447B2 JP 05026583 A JP05026583 A JP 05026583A JP 2658393 A JP2658393 A JP 2658393A JP 3106447 B2 JP3106447 B2 JP 3106447B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，安定な濃度に希釈され
た次亜塩素酸塩を校正の都度測定対象の液体の塩素濃度
程度に再希釈して被測定液の塩素濃度を自動的に校正す
る様にした自動校正機能付き残留塩素計に関するもので
ある。
た次亜塩素酸塩を校正の都度測定対象の液体の塩素濃度
程度に再希釈して被測定液の塩素濃度を自動的に校正す
る様にした自動校正機能付き残留塩素計に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】図２は実開平２−１７６５６号公報に記
載された従来の自動校正機能付き残留塩素計の要部を示
す構成図である。図において２１は被測定液Ｍが供給さ
れる流路，２２は流路２１と校正用標準液Ｓが流される
流路２３とを切換える３方電磁弁，２４は３方電磁弁２
２の下流側に設けられた定流量ポンプ，２５はポーラロ
グラフ法により測定液中の有効塩素濃度を測定する残留
塩素センサで，廃液は流路２６から排出される。
載された従来の自動校正機能付き残留塩素計の要部を示
す構成図である。図において２１は被測定液Ｍが供給さ
れる流路，２２は流路２１と校正用標準液Ｓが流される
流路２３とを切換える３方電磁弁，２４は３方電磁弁２
２の下流側に設けられた定流量ポンプ，２５はポーラロ
グラフ法により測定液中の有効塩素濃度を測定する残留
塩素センサで，廃液は流路２６から排出される。
【０００３】２７は一定高濃度のＮａＣｌ水溶液を供給
する浄水供給手段，２９は塩水供給手段２７及び浄水供
給手段２８から所定量のＮａＣｌ水溶液と浄水とが導入
され，これらの混合液に金属不活性電極対が浸漬された
標準液発生手段である。この標準液発生手段２９の内部
はテフロン膜のような，電気的には導通するが，ある大
きさ以上の分子は通さない性質の隔膜２９ａで仕切ら
れ，室Ａ，Ｂが形成されている。このうち室Ａには陽極
２９ｂが，室ＢにはＮａＣｌ電解液が充填されるととも
に陰極２９ｃが設けられている。
する浄水供給手段，２９は塩水供給手段２７及び浄水供
給手段２８から所定量のＮａＣｌ水溶液と浄水とが導入
され，これらの混合液に金属不活性電極対が浸漬された
標準液発生手段である。この標準液発生手段２９の内部
はテフロン膜のような，電気的には導通するが，ある大
きさ以上の分子は通さない性質の隔膜２９ａで仕切ら
れ，室Ａ，Ｂが形成されている。このうち室Ａには陽極
２９ｂが，室ＢにはＮａＣｌ電解液が充填されるととも
に陰極２９ｃが設けられている。
【０００４】３０はこの標準液発生手段の電極間に一定
電流を流す定電流発生源であり，攪拌器３５により前記
室Ａ内の溶液を攪拌し，ＮａＣｌ濃度を均一にした後，
定電流源３０をオンにして電極２９ｂ，２９ｃ間に一定
時間電流を流す。これにより電極２９ｂに一定量のＣｌ
2が発生する。３１はセンサ２５の検出信号に各種の演
算処理（感度調整も含む）を行い，定電流源３０，３方
電磁弁２２等に対し制御信号を与える演算制御部，３５
は攪拌器である。
電流を流す定電流発生源であり，攪拌器３５により前記
室Ａ内の溶液を攪拌し，ＮａＣｌ濃度を均一にした後，
定電流源３０をオンにして電極２９ｂ，２９ｃ間に一定
時間電流を流す。これにより電極２９ｂに一定量のＣｌ
2が発生する。３１はセンサ２５の検出信号に各種の演
算処理（感度調整も含む）を行い，定電流源３０，３方
電磁弁２２等に対し制御信号を与える演算制御部，３５
は攪拌器である。
【０００５】上記の構成において，測定時には３方電磁
弁２２を流路２１側に切換え，定流量ポンプ２４によっ
てセンサ２５に被測定液Ｍを供給する。センサ２５から
の検出出力Ｓ1は演算制御部３１に与えられ，各種の演
算処理が施された後，指示出力Ｓ2として出力される。
校正時に校正開始信号が入ると演算制御部３１から制御
信号が浄水供給手段２８及び塩水供給手段２７に与えら
れ，所定量の浄水とＮａＣｌ水溶液が標準液発生手段２
９に導入される。攪拌器３５により攪拌し濃度を均一に
した後，定電流源３０をオンにして，標準液発生手段２
９の電極間に一定時間電流を流す。
弁２２を流路２１側に切換え，定流量ポンプ２４によっ
てセンサ２５に被測定液Ｍを供給する。センサ２５から
の検出出力Ｓ1は演算制御部３１に与えられ，各種の演
算処理が施された後，指示出力Ｓ2として出力される。
校正時に校正開始信号が入ると演算制御部３１から制御
信号が浄水供給手段２８及び塩水供給手段２７に与えら
れ，所定量の浄水とＮａＣｌ水溶液が標準液発生手段２
９に導入される。攪拌器３５により攪拌し濃度を均一に
した後，定電流源３０をオンにして，標準液発生手段２
９の電極間に一定時間電流を流す。
【０００６】これによって一定量の有効塩素が発生し，
標準液発生手段２９には一定有効塩素濃度の校正用標準
液Ｌが貯蔵される。この後３方電磁弁２２を標準液発生
手段２９側に切換え，標準液Ｌをセンサ２５に与えて自
動校正を行う。自動校正は例えば標準液Ｌの有効濃度に
対応した指示出力が出力されるように感度調整を自動で
行う。校正終了後３方電磁弁２２を切換え，定流量ポン
プ２４によってセンサ２５に被測定液Ｍを供給し測定に
戻る。
標準液発生手段２９には一定有効塩素濃度の校正用標準
液Ｌが貯蔵される。この後３方電磁弁２２を標準液発生
手段２９側に切換え，標準液Ｌをセンサ２５に与えて自
動校正を行う。自動校正は例えば標準液Ｌの有効濃度に
対応した指示出力が出力されるように感度調整を自動で
行う。校正終了後３方電磁弁２２を切換え，定流量ポン
プ２４によってセンサ２５に被測定液Ｍを供給し測定に
戻る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら，上記構
成の自動校正機能付き残留塩素計においては，標準液発
生手段として，室内を隔膜で区切り一方の室には希釈し
たＮａＣｌ水溶液と正電極を他方の室にはＮａＣｌ電解
液と負電極を入れ，それらの電極に一定時間電流を流す
ことにより所定量のＣｌ2を得ているが，装置が複雑に
なるとともに再現性のある校正液を得るのは難しいとい
う問題があった。
成の自動校正機能付き残留塩素計においては，標準液発
生手段として，室内を隔膜で区切り一方の室には希釈し
たＮａＣｌ水溶液と正電極を他方の室にはＮａＣｌ電解
液と負電極を入れ，それらの電極に一定時間電流を流す
ことにより所定量のＣｌ2を得ているが，装置が複雑に
なるとともに再現性のある校正液を得るのは難しいとい
う問題があった。
【０００８】本発明は上記従来技術の課題を解決するた
めになされたもので，安定な濃度に希釈された次亜塩素
酸塩を校正の都度測定対象の液体の塩素濃度程度に再希
釈してその導電率を測定し，予め測定した塩素濃度と導
電率計の出力の関係から塩素濃度を同定して校正を行う
自動校正機能付き残留塩素計を提供することを目的とし
ている。
めになされたもので，安定な濃度に希釈された次亜塩素
酸塩を校正の都度測定対象の液体の塩素濃度程度に再希
釈してその導電率を測定し，予め測定した塩素濃度と導
電率計の出力の関係から塩素濃度を同定して校正を行う
自動校正機能付き残留塩素計を提供することを目的とし
ている。
【０００９】安定な濃度に希釈された次亜塩素酸塩を収
納する次亜塩素酸塩槽と、純水が収納された純水槽と、
前記次亜塩素酸塩と純水の所定量を導入してそれらの混
合液を収納する攪拌槽と、該攪拌槽に収納され前記混合
液の導電率を測定する導電率計と、校正モード又は測定
モードに応じて前記攪拌槽の混合液又は被測定液を導入
してそれらの液の塩素濃度を測定するポーラログラフ式
残留塩素計と、校正モードから測定モードに至る一連の
動作を制御する制御手段とを具備し、前記ポーラログラ
フ式残留塩素計は、予め前記導電率計で測定した残留塩
素濃度が既知の複数種類の混合液の残留塩素濃度と導電
率との関係を記憶しておき、校正に際してはその都度作
製した混合液の導電率と前記残留塩素濃度と導電率の関
係からその混合液の残留塩素濃度を同定するようにした
ことを特徴とする自動校正機能付き残留塩素計。
納する次亜塩素酸塩槽と、純水が収納された純水槽と、
前記次亜塩素酸塩と純水の所定量を導入してそれらの混
合液を収納する攪拌槽と、該攪拌槽に収納され前記混合
液の導電率を測定する導電率計と、校正モード又は測定
モードに応じて前記攪拌槽の混合液又は被測定液を導入
してそれらの液の塩素濃度を測定するポーラログラフ式
残留塩素計と、校正モードから測定モードに至る一連の
動作を制御する制御手段とを具備し、前記ポーラログラ
フ式残留塩素計は、予め前記導電率計で測定した残留塩
素濃度が既知の複数種類の混合液の残留塩素濃度と導電
率との関係を記憶しておき、校正に際してはその都度作
製した混合液の導電率と前記残留塩素濃度と導電率の関
係からその混合液の残留塩素濃度を同定するようにした
ことを特徴とする自動校正機能付き残留塩素計。
【００１０】
【作用】安定な濃度に希釈された次亜塩素酸塩と純水の
所定量を導入して測定対象であるｐｐｍオーダの希釈水
を作製する。センサ（残留塩素計）には予めその塩素濃
度と導電率計の出力の関係を記憶させておく。次亜塩素
酸塩のｐｐｍオーダの希釈水は分解しやすく不安定であ
るが校正の都度これをつくって分解する前に導電率を測
定し塩素濃度と導電率計の出力の関係から校正を行う。
所定量を導入して測定対象であるｐｐｍオーダの希釈水
を作製する。センサ（残留塩素計）には予めその塩素濃
度と導電率計の出力の関係を記憶させておく。次亜塩素
酸塩のｐｐｍオーダの希釈水は分解しやすく不安定であ
るが校正の都度これをつくって分解する前に導電率を測
定し塩素濃度と導電率計の出力の関係から校正を行う。
【００１１】
【実施例】次に図面を用いて本発明を説明する。図１は
本発明の自動校正機能付き残留塩素計の一実施例の構成
図である。図１において実線は配管を点線は電気信号の
配線を示している。１は純水に６〜７重量％程度の次亜
塩素酸塩が希釈された安定な濃度の溶液を収納する次亜
塩素酸塩槽，２は純水槽，３は攪拌槽であり，次亜塩素
酸塩槽１と純水槽２から所定量の液体が導入されてｐｐ
ｍオーダの希釈水が格納される。この攪拌槽３内には槽
内を攪拌する攪拌器４と導電率センサ７が配置されてい
る。
本発明の自動校正機能付き残留塩素計の一実施例の構成
図である。図１において実線は配管を点線は電気信号の
配線を示している。１は純水に６〜７重量％程度の次亜
塩素酸塩が希釈された安定な濃度の溶液を収納する次亜
塩素酸塩槽，２は純水槽，３は攪拌槽であり，次亜塩素
酸塩槽１と純水槽２から所定量の液体が導入されてｐｐ
ｍオーダの希釈水が格納される。この攪拌槽３内には槽
内を攪拌する攪拌器４と導電率センサ７が配置されてい
る。
【００１２】５は導電率変換器，６は残留塩素計，１０
は測定モードから校正モード（若しくはその逆）に至る
一連の動作を制御する制御装置，Ｖ1，Ｖ2は２方電磁
弁，Ｖ 3，Ｖ4は３方電磁弁である。上記の構成におい
て，始めに塩素濃度と導電率計の出力の関係を決定す
る。この場合攪拌槽３内は空であり電磁弁Ｖ1〜Ｖ4のバ
ルブは全て閉となっている。
は測定モードから校正モード（若しくはその逆）に至る
一連の動作を制御する制御装置，Ｖ1，Ｖ2は２方電磁
弁，Ｖ 3，Ｖ4は３方電磁弁である。上記の構成におい
て，始めに塩素濃度と導電率計の出力の関係を決定す
る。この場合攪拌槽３内は空であり電磁弁Ｖ1〜Ｖ4のバ
ルブは全て閉となっている。
【００１３】そして電磁弁Ｖ1及びＶ2が開となり次亜塩
素酸塩槽１と純水槽２から所定量の液体が導入され，導
入後電磁弁Ｖ1及びＶ2が閉となる。これらの混合液は攪
拌器４により攪拌されるが，それぞれの開閉時間や流量
を調節することにより被測定流体の残留塩素量と同程度
のｐｐｍオーダに希釈される。攪拌槽３内の混合液は含
有塩素量が導電率センサ７により電気信号に変換され，
導電率変換器５により所定の信号に変換されて残留塩素
計６に伝送される。
素酸塩槽１と純水槽２から所定量の液体が導入され，導
入後電磁弁Ｖ1及びＶ2が閉となる。これらの混合液は攪
拌器４により攪拌されるが，それぞれの開閉時間や流量
を調節することにより被測定流体の残留塩素量と同程度
のｐｐｍオーダに希釈される。攪拌槽３内の混合液は含
有塩素量が導電率センサ７により電気信号に変換され，
導電率変換器５により所定の信号に変換されて残留塩素
計６に伝送される。
【００１４】この場合ｐｐｍオーダの残留塩素量は別に
用意した例えばラボ用の塩素計で正確に測定するものと
する。上記の方法により希釈濃度（純水のみの場合を含
む）を複数種類変えて測定し既知の残留塩素量と導電率
計の電気信号の関係を残留塩素計で記憶しておく。その
後攪拌槽３内の混合液は３方電磁弁のＶ4aとＶ4cを開と
して排出しておく。
用意した例えばラボ用の塩素計で正確に測定するものと
する。上記の方法により希釈濃度（純水のみの場合を含
む）を複数種類変えて測定し既知の残留塩素量と導電率
計の電気信号の関係を残留塩素計で記憶しておく。その
後攪拌槽３内の混合液は３方電磁弁のＶ4aとＶ4cを開と
して排出しておく。
【００１５】測定モード時，電磁弁Ｖ3のＶ3cとＶ3bが
開となり被測定液であるＭを残留塩素計６に供給し被測
定液に含有される残留塩素量を測定している。そして校
正モードが制御装置１０から司令されると電磁弁Ｖ1及
びＶ2が開となり次亜塩素酸塩槽１と純水槽２から所定
量の液体が導入され，その後電磁弁Ｖ1及びＶ2が閉とな
る。これらの混合液は攪拌器４により攪拌されるが，そ
れぞれの電磁弁Ｖ1，Ｖ2の開閉時間や流量を制御装置１
０で調節することにより被測定流体の残留塩素量と同程
度のｐｐｍオーダに希釈される。
開となり被測定液であるＭを残留塩素計６に供給し被測
定液に含有される残留塩素量を測定している。そして校
正モードが制御装置１０から司令されると電磁弁Ｖ1及
びＶ2が開となり次亜塩素酸塩槽１と純水槽２から所定
量の液体が導入され，その後電磁弁Ｖ1及びＶ2が閉とな
る。これらの混合液は攪拌器４により攪拌されるが，そ
れぞれの電磁弁Ｖ1，Ｖ2の開閉時間や流量を制御装置１
０で調節することにより被測定流体の残留塩素量と同程
度のｐｐｍオーダに希釈される。
【００１６】攪拌槽３内の混合液は含有塩素量が導電率
センサ７により電気信号に変換され、導電率変換器５に
より所定の信号に変換されて残留塩素計６に伝送され
る。残留塩素計はその電気信号に基づいて予め記憶して
ある残留塩素量と導電率計の電気信号の関係により校正
を行う。この場合、攪拌槽３内の混合液は残留塩素計６
を経ることなく電磁弁４のＶ4aとＶ4cを開とすることに
より排出する。なおゼロ調整は攪拌槽３に純水のみを満
たして行う。
センサ７により電気信号に変換され、導電率変換器５に
より所定の信号に変換されて残留塩素計６に伝送され
る。残留塩素計はその電気信号に基づいて予め記憶して
ある残留塩素量と導電率計の電気信号の関係により校正
を行う。この場合、攪拌槽３内の混合液は残留塩素計６
を経ることなく電磁弁４のＶ4aとＶ4cを開とすることに
より排出する。なおゼロ調整は攪拌槽３に純水のみを満
たして行う。
【００１７】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば，安定
な濃度に希釈された次亜塩素酸塩を校正の都度測定対象
の液体の塩素濃度程度に再希釈してその導電率を測定
し，予め測定した塩素濃度と導電率計の出力の関係から
塩素濃度を同定して校正を行う様にしたので比較的簡単
な装置により正確な自動校正機能付き残留塩素計を実現
することができる。
な濃度に希釈された次亜塩素酸塩を校正の都度測定対象
の液体の塩素濃度程度に再希釈してその導電率を測定
し，予め測定した塩素濃度と導電率計の出力の関係から
塩素濃度を同定して校正を行う様にしたので比較的簡単
な装置により正確な自動校正機能付き残留塩素計を実現
することができる。
【図１】本発明の自動校正機能付き残留塩素計の一実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図２】従来の自動校正機能付き残留塩素計の要部を示
す構成図である。
す構成図である。
１ 次亜塩素酸塩槽 ２ 純水槽 ３ 攪拌槽 ４ 攪拌器 ５ 導電率変換器 ６ 残留塩素計 ７ 導電率センサ １０ 制御装置 Ｖ1，Ｖ2 ２方電磁弁 Ｖ3，Ｖ4 ３方電磁弁
Claims (1)
- 【請求項１】安定な濃度に希釈された次亜塩素酸塩を収
納する次亜塩素酸塩槽と、 純水が収納された純水槽と、前記次亜塩素酸塩と純水の
所定量を導入してそれらの混合液を収納する攪拌槽と、
該攪拌槽に収納され前記混合液の導電率を測定する導電
率計と、校正モード又は測定モードに応じて前記攪拌槽の混合液
又は被測定液を導入してそれらの液の塩素濃度を測定す
るポーラログラフ式残留塩素計と、 校正モードから測定モードに至る一連の動作を制御する
制御手段とを具備し、 前記ポーラログラフ式残留塩素計は、予め前記導電率計
で測定した残留塩素濃度が既知の複数種類の混合液の残
留塩素濃度と導電率との関係を記憶しておき、校正に際
してはその都度作製した混合液の導電率と前記残留塩素
濃度と導電率の関係からその混合液の残留塩素濃度を同
定するようにしたことを特徴とする 自動校正機能付き残
留塩素計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05026583A JP3106447B2 (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 自動校正機能付き残留塩素計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05026583A JP3106447B2 (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 自動校正機能付き残留塩素計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06242071A JPH06242071A (ja) | 1994-09-02 |
| JP3106447B2 true JP3106447B2 (ja) | 2000-11-06 |
Family
ID=12197574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05026583A Expired - Fee Related JP3106447B2 (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 自動校正機能付き残留塩素計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3106447B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4377197B2 (ja) | 2003-10-22 | 2009-12-02 | 株式会社タニタ | 残留塩素計 |
| CN110368845B (zh) * | 2019-08-27 | 2024-02-09 | 广州泰道安医疗科技有限公司 | 一种含氯消毒水生产设备 |
-
1993
- 1993-02-16 JP JP05026583A patent/JP3106447B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06242071A (ja) | 1994-09-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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