JP3105529B2 - アルシンの精製方法 - Google Patents
アルシンの精製方法Info
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Description
シン(AsH3「水素化砒素」、以下同様)の精製方法に関
する。
いられるアルシンは極めて高純度であることが絶対的に
必要である。
シーブ(分子ふるい)が用いられている。
たアルシンを用いて製造された化合物は半導体、特に半
導体レーザーなどの半導体では、十分な性能が得られな
い問題があった。
二酸化炭素等は除去し得るが、アルシン中には製造過程
で、その外の不純物が混入するものと思われ、モレキュ
ラーシーブにより精製したものでは、所望するに足りる
充分な性能を有する化合物半導体が得られないのが実情
である。これはその他に何等かの不純物が極微量混入し
ているものと考えられ、その対応解決が望まれていた。
分に行われ、優れた性能の光半導体などを得ることがで
きるアルシンの精製方法を提供することにある。
としてアルミナゲルを用いて精製することによって得ら
れたアルシンを使用すると極めて良好な性能を有する化
合物半導体を製造し得ることを知見し得たものである。
従来より気体の乾燥などの用途に用いられる吸着剤の1
種であるが、この発明では、このものを活性化処理して
精製剤として用いる。このアルミナゲルとしては、アル
ミナ単独からなるものは勿論、少量のシリカや酸化ナト
リウムなどを含んでいるものでも使用しうる。具体的な
ものとしては、例えば活性化アルミナとして水沢化学工
業(株)製の「ネオビードD」,「ネオビードP」,
「ネオビードMHB」,「ネオビードC」,「ネオビードG
B」などを使うことができる。活性化処理は、このアル
ミナゲルを110〜200℃の温度範囲で200〜300分程度加熱
する方法や110〜200℃に加熱されたアルゴン、窒素など
の不活性ガスと接触させる方法などがある。活性化温度
は上記温度範囲内であれば、高い方が高活性化されて好
ましいが、200℃を越えるとアルミナゲルの粉化が生じ
て好ましくない。110℃未満では実質的に活性化が困難
である。
あることが必要であり、不純物の除去効率の点からは50
℃以上、好ましくは100℃前後が望ましい。
されたアルミナゲルを充填し、カラムの一方から未精製
のアルシンを上記温度範囲にて他方に流す方法やアルミ
ナゲルを充填したカラムに、予め加熱された不活性ガス
を流してアルミナゲルを活性化したのち、未精製アルシ
ンをカラムに流す方法などが簡便であるが、要はアルミ
ナゲルと未精製アルシンとが接触すればよく、これら以
外の方法でも勿論採用可能である。
を示すもので、図中符号1はステンレス鋼などからなる
カラムである。このカラム1の両端にはそれぞれ流入パ
イプ2と流出パイプ3とが取り付けられており、これら
2つのパイプ2,3の先端にはフランジ4,5が取り付けられ
ている。カラム1内には、粒状のアルミナゲルAが充填
されており、カラム1内の両端側にはアルミナゲルAの
流出を防止するためのフィルタ6,7が設けられている。
によって使用に供される。精製装置11の流入パイプ2に
三方切換弁12を介して未精製アルシンが充填されたボン
ベ13が接続されている。また、三方切換弁12には管14を
経て加熱窒素ガス発生手段15が接続されている。また、
精製装置11の流出パイプ3は管16を経て図示しない供給
先に接続されている。
15からの温度110〜200℃に加熱された窒素ガスを精製装
置に送り込み、カラム1内のアルミナゲルAを活性化す
る。加熱窒素ガスの流量はアルミナゲル1g当たり20〜50
ml程度で十分である。活性化処理が終了したら、三方切
換弁12を操作し、ボンベ13から未精製アルシンが精製装
置11に流入するようにして精製を開始する。カラム1に
ヒータを設けて内部を加熱し、アルミナゲルとの接触の
際の温度を高めるようにしてもよい。未精製アルシンの
流速はアルミナゲル10g当たり100〜250ml/分程度が好ま
しい。
除去された精製アルシンが得られ供給先に送られる。
ナゲルは、吸着剤の如き再生することができず、再使用
は不可能である。従って再生が不可能であり、精製効率
が高い温度の方が高いことから考えて、ここでのアルミ
ナゲルの精製作用は少なくとも吸着作用によるものでは
ないと考えられる。
に、アルミナゲルとして「ネオビードD」(粒径16〜32
メッシュ)を150ml(約85g)充填した。そして充填し
たアルミナゲルは別に窒素ガス雰囲気下、200℃で120分
加熱して活性化処理したものを用いた。
/分と一定とし、精製温度を60℃として、サンプルガ
スを流しつづけて精製した。
ンと未精製のアルシンとを用いて、それぞれ金属酸化物
気相エピタキシャル成長法(MOVPE)によって、GaAsエ
ピタキシャル層を成長させ、これらエピタキシャル層に
ついてホール測定および低温ホトルミネッセンスによっ
て比較評価した。成長条件は温度630℃、速度5μm/時
間、V/III比30である。
不純物濃度は、室温で1.35×1014cm-3、77Kで1.9×1014
cm-3であり、移動度は、室温で7980cm2/Vs、77Kで10580
0cm2/Vsであった。これに対して、精製アルシンを用い
て得られたエピタキシャル層では高抵抗であり、ホール
測定はできなかった。
4.2Kにおけるホトルミネッセンススペクトラムを示し、
第6図は精製アルシンによる同様のホトルミネッセンス
スペクトラムを示すものである。これらのスペクトラム
において、(B−A)はバンドアクセプタ遷移、(A-,
X)はイオン化アクセプとエキシトンの複合体、(D−
A)はドナーアクセプタペア発光によるピークであり、
820nm付近のピークはドナーに関連したエキシトンから
の発光である。
では、(B−A),(A-,X)のピークが高くなってお
り、(D−A)のピークが低くなっている。このことか
ら、精製アルシンによるエピタキシャル層はP-であると
推定され、N型不純物が減少したことが推定された。
純物が除去され、特性の良好な光半導体等を製造するこ
とが可能であることがわかる。
結果、下記の表の通りの性能を示した。
件にて精製温度のみ変化させて行ったものである。
度で精製可能であり、そして高い温度にすればより精製
効果が向上することが判明した。しかし、150℃以上に
て精製するとアルミナゲルが粉化してこれを同伴する不
都合が生じる。
再生して再使用は出来なかった。
は、アルミナゲルを用いるものであるので、アルシン中
に含まれる不純物がほぼ完全に除去され、高純度のアル
シンを得ることができる。よって、この発明の精製方法
で精製されたアルシンによれば、特性の優れた半導体レ
ーザーなどの化合物半導体等を得ることができる。
一例を示す部分断面図、第2図は第1図に示された精製
装置を用いてアルシンを精製するためのシステムの例を
示す構成図、第3図ないし第4図は、いずれも実験例の
結果を示すグラフである。
Claims (1)
- 【請求項1】アルシン(AsH3)を活性化温度110〜200℃
で活性化したアルミナゲルと50〜100℃の温度下で接触
せしめて、含有するN型不純物を除去することを特徴と
するアルシンの精製方法。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP02246533A JP3105529B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | アルシンの精製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP02246533A JP3105529B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | アルシンの精製方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH04124001A JPH04124001A (ja) | 1992-04-24 |
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ID=17149827
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP02246533A Expired - Fee Related JP3105529B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | アルシンの精製方法 |
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1990
- 1990-09-17 JP JP02246533A patent/JP3105529B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04124001A (ja) | 1992-04-24 |
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