JP3101745B2 - 振動インテンシティ解析装置 - Google Patents

振動インテンシティ解析装置

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JP3101745B2
JP3101745B2 JP04062222A JP6222292A JP3101745B2 JP 3101745 B2 JP3101745 B2 JP 3101745B2 JP 04062222 A JP04062222 A JP 04062222A JP 6222292 A JP6222292 A JP 6222292A JP 3101745 B2 JP3101745 B2 JP 3101745B2
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忍 ▲吉▼田
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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、振動インテンシティ解
析に係り、特に測定対象物の非接触測定信号を入力し演
算処理するのに好適な振動インテンシティ解析装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】振動インテンシティという物理量は、振
動が問題となる機器の振動源の探索や、エネルギ流れの
評価に用いられる。２点間の振動インテンシティｗは、
加速度和α1＋α2と速度差ｖ1−ｖ2の積（α1＋α2）・
（ｖ1−ｖ2）で求められる。振動インテンシティ解析の
基本原理については、例えば日本音響学会講演論文集、
昭和６１年１０月号Ｐ４２７〜４２８に記載されてい
る。
【０００３】振動センサを用いて検出した測定信号をア
ナログ回路を用いて演算処理し、振動インテンシティを
算出する回路の構成が特開昭６４−４４８２２号公報に
開示されている。また、２対の振動センサを用いて、振
動インテンシティベクトルを２次元的に分析する回路
が、特開平１−１９６５２１号公報に開示されている。
開示されている振動インテンシティ解析のための入力信
号は、いずれも振動センサを用いて、すなわち、加速度
のレベルを検出し、その信号を演算処理して振動インテ
ンシティを求めている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の振動インテンシ
ティ解析にあっては、微細な構造物を対象として振動の
大きさを検出するとき、加速度センサを用いると、その
センサの重量が測定対象物の振動特性に影響し、正確な
振動測定が行えない問題があった。
【０００５】本発明の第１の目的は、このように加速度
センサを取り付けて振動計測を行うことが困難な微細な
構造物の振動の大きさを非接触測定し、その測定信号を
演算処理する振動インテンシティ解析装置を提供するこ
とにある。
【０００６】そして、本発明の第２の目的は、非接触信
号を演算処理して振動インテンシティを算出すると同時
に、測定対象物の多くの点の振動インテンシティを短時
間で測定することにある。
【０００７】また、本発明の第３の目的は、非接触信号
を演算処理して振動インテンシティを算出すると同時
に、測定対象物の多くの点の振動インテンシティを短時
間で測定し、そして測定した点の振動インテンシティを
視覚的に表示することにある。さらに本発明の第４の目
的は、非接触信号を演算処理して振動インテンシティを
算出すると同時に、測定対象物の多くの点の振動インテ
ンシティを短時間で測定し、そして測定した点の２次元
的な振動インテンシティベクトルを、視覚化し、表示す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明に係る振動インテンシティ解析装置は、測定
対象物の２点で非接触測定されたそれぞれの非接触測定
信号を入力する２個の速度信号入力端子と、それぞれの
速度信号入力端子に接続する演算回路部とよりなり、演
算回路部は、それぞれの速度信号入力端子より取り込ん
だそれぞれの入力信号の和を演算し微分する第１の演算
手段と、それぞれの入力信号を減算しその減算値と微分
した微分値とを掛け算する第２の演算手段とを具備して
いる構成とする。
【０００９】そして測定対象物の２点の速度を非接触測
定する速度検出プローブと速度検出回路とよりなる速度
検出器と、該速度検出器に接続しそれぞれの非接触測定
信号を入力する２個の速度信号入力端子と、それぞれの
速度信号入力端子に接続する演算回路部とよりなり、演
算回路部は、それぞれの速度信号入力端子より取り込ん
だそれぞれの入力信号の和を演算し微分する第１の演算
手段と、それぞれの入力信号を減算しその減算値と微分
した微分値とを掛け算する第２の演算手段とを具備して
いる構成でもよい。
【００１０】また速度検出器に、測定対象物の速度検出
点を走査する走査機構を接続した構成てもよい。
【００１１】さらに測定対象物の速度検出点の位置と、
それぞれの位置の振動インテンシティベクトルとを表示
する表示装置を接続した構成でもよい。
【００１２】そして測定対象物の２点で非接触測定され
たそれぞれの非接触測定信号を入力する２個の変位信号
入力端子と、それぞれの変位信号入力端子に接続する演
算回路部とよりなり、演算回路部は、それぞれの変位信
号入力端子より取り込んだそれぞれの入力信号の和を演
算し２階微分する第３の演算手段と、それぞれの入力信
号を減算して微分した微分値と２階微分した２階微分値
とを掛け算する第４の演算手段とを具備している構成で
もよい。
【００１３】また測定対象物の２点の変位を非接触測定
する変位検出プローブと変位検出回路とよりなる変位検
出器と、変位検出器に接続しそれぞれの非接触測定信号
を入力する２個の変位信号入力端子と、それぞれの変位
信号入力端子に接続する演算回路部とよりなり、演算回
路部は、それぞれの変位信号入力端子より取り込んだそ
れぞれの入力信号の和を演算し２階微分する第３の演算
手段と、それぞれの入力信号を減算して微分した微分値
と２階微分した２階微分値とを掛け算する第４の演算手
段とを具備している構成でもよい。
【００１４】さらに請求項６記載の振動インテンシティ
解析装置の変位検出器に、測定対象物の変位検出点を走
査する走査機構を接続した構成でもよい。
【００１５】そして請求項７記載の振動インテンシティ
解析装置の測定対象物の速度検出点の位置と、それぞれ
の位置の振動インテンシティベクトルとを表示する表示
装置を接続した構成でもよい。
【００１６】また測定対象物の２方向の２対の点で非接
触測定されたそれぞれの非接触測定信号を入力する２方
向の２対の速度信号入力端子と、それぞれの速度信号入
力端子に接続する演算回路部とよりなり、演算回路部
は、それぞれの速度信号入力端子より取り込んだそれぞ
れの入力信号の対ごとに和を演算し微分する第１の演算
手段と、それぞれの入力信号を対ごとに減算しその減算
値と微分した微分値とを掛け算する第２の演算手段とを
具備している構成でもよい。
【００１７】さらに測定対象物の２方向の２対の点の速
度を非接触測定する速度検出プローブと速度検出回路と
よりなる速度検出器と、速度検出器に接続しそれぞれの
非接触測定信号を入力する２方向の２対の速度信号入力
端子と、それぞれの速度信号入力端子に接続する演算回
路部とよりなり、演算回路部は、それぞれの速度信号入
力端子より取り込んだそれぞれの入力信号の対ごとに和
を演算し微分する第１の演算手段と、それぞれの入力信
号を対ごとに減算しその減算値と微分した微分値とを掛
け算する第２の演算手段とを具備している構成でもよ
い。
【００１８】そして請求項１０記載の振動インテンシテ
ィ解析装置の速度検出器に、測定対象物の速度検出点を
走査する走査機構を接続した構成でもよい。
【００１９】また請求項１１記載の振動インテンシティ
解析装置の測定対象物の速度検出点の位置と、それぞれ
の位置の振動インテンシティベクトルとを表示する表示
装置を接続した構成でもよい。
【００２０】さらに測定対象物の２方向の２対の点を非
接触測定したそれぞれの非接触測定信号を入力する２方
向の２対の変位信号入力端子と、それぞれの変位信号入
力端子に接続する演算回路部とよりなり、演算回路部
は、それぞれの変位信号入力端子より取り込んだそれぞ
れの入力信号の対ごとに和を演算し２階微分する第３の
演算手段と、それぞれの入力信号を対ごとに減算して微
分した微分値と２階微分した２階微分値とを掛け算する
第４の演算手段とを具備している構成でもよい。
【００２１】そして測定対象物の２方向の２対の点の変
位を非接触測定する変位検出プローブと変位検出回路と
よりなる変位検出器と、変位検出器に接続しそれぞれの
非接触測定信号を入力する２方向の２対の変位信号入力
端子と、それぞれの変位信号入力端子に接続する演算回
路部とよりなり、演算回路部は、それぞれの変位信号入
力端子より取り込んだそれぞれの入力信号の対ごとに和
を演算し２階微分する第３の演算手段と、それぞれの入
力信号を対ごとに減算して微分した微分値と２階微分し
た２階微分値とを掛け算する第４の演算手段とを具備し
ている構成でもよい。
【００２２】また請求項１４記載の振動インテンシティ
解析装置の変位検出器に、測定対象物の変位検出点を走
査する走査機構を接続した構成でもよい。
【００２３】さらに請求項１５記載の振動インテンシテ
ィ解析装置の測定対象物の速度検出点の位置と、それぞ
れの位置の振動インテンシティベクトルとを表示する表
示装置を接続した構成でもよい。
【００２４】
【作用】本発明によれば、測定対象物の２点の振動速度
が非接触な検出器で測定され、２個の入力端子より検出
信号を取り込む。２個の入力信号の和の微分は加速度の
和α1＋α2であり、その結果を一旦バッファアンプに蓄
える。また一方、２個の入力信号を減算して得られる速
度差ｖ1−ｖ2を別のバッファアンプに蓄える。そして、
これらバッファアンプに蓄えられた信号を掛け算して出
力すると振動インテンシティｗ＝（α1＋α2）・（ｖ1
−ｖ2）が算出される。
【００２５】また、測定対象物の２点の振動変位が非接
触な検出器で測定され、２個の入力端子より検出信号を
取り込む。２個の入力信号の和の２階微分は加速度の和
α1＋α2であり、その結果を一旦バッファアンプに蓄え
る。また一方、２個の入力信号の減算結果を微分して得
られる速度差ｖ1−ｖ2を別のバッファアンプに蓄える。
そして、これらバッファアンプに蓄えられた信号を掛け
算して出力すると振動インテンシティｗ＝（α1＋α2）
・（ｖ1−ｖ2）が算出される。
【００２６】
【実施例】本発明の第１の実施例を図１及び図２を参照
しながら説明する。図１に示すように、測定対象物の例
えばｘ軸方向の２点で非接触測定されたそれぞりの非接
触測定信号を入力する２個の速度信号入力端子１ｖと、
２個の速度信号入力端子１ｖに接続する演算回路部２ａ
とより構成される。２個の速度信号入力端子１ｖより速
度信号を取り込み、演算回路部２ａでは、２個の入力信
号の和の微分結果と、入力信号の減算結果とを掛け算し
て、振動インテンシティを求める。
【００２７】演算回路部２ａは図２に示すように、入力
アンプ４、バンドパスフィルタ５、微分回路８、バッフ
ァアンプ９、および加算回路６、減算回路７及び乗算回
路１０で構成され、第１の演算手段は例えば加算回路６
及び微分回路８などよりなり、第２の演算手段は例えば
減算回路７及び乗算回路１０などよりなるものとする。
【００２８】対象とする構造物の２点の振動速度が非接
触な検出器で測定されたとき、２個の入力端子より検出
信号を取り込む。２個の入力信号は、それぞれ入力アン
プを経てバンドパスフィルタによって特定の帯域の信号
とされる。これら２個の入力信号の和の微分は加速度の
和α1＋α2であり、その結果を一旦バッファアンプに蓄
える。また一方、２個の入力信号を減算して得られる速
度差ｖ1−ｖ2を別のバッファアンプに蓄える。そして、
これらバッファアンプに蓄えられた信号を掛け算して出
力すると振動インテンシティｗ＝（α1＋α2）・（ｖ1
−ｖ2）が算出される。
【００２９】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器など
により非接触測定された測定信号から振動インテンシテ
ィを算出することができる。
【００３０】本発明の第２の実施例は、図３に示すよう
に、測定対象物の２点の速度を非接触測定する速度検出
プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖとよりなる２点の
速度を検出する速度検出器と、それぞれの非接触測定信
号を入力する２個の速度信号入力端子１ｖと、２個の速
度信号入力端子１ｖに接続する演算回路部２ａとよりな
る。
【００３１】２個の速度信号入力端子１ｖと、演算回路
部２ａとは第１の実施例で述べた回路である。速度検出
プローブ１１ｖは、図４に示す先端にレンズ１３ａが付
いた光ファイバ１３ｂの上下の２本を束ねた構造になっ
ている。レンズ１３ａは光ファイバ１３ｂの端部より出
力されるレーザビームの広がりを防止し、ビーム径を小
さくしている。本実施例では、速度検出プローブ１１ｖ
と速度検出回路１２ｖとよりなる速度検出器は、ドップ
ラ効果を利用した速度計である。対象とする構造物の２
点の振動速度を上記の非接触な速度検出器で測定して、
２個の速度信号入力端子１ｖより検出信号を取り込む。
演算回路部２ａでは、第１の実施例で述べた演算処理を
行って、振動インテンシティを求める。
【００３２】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定された測定信号から振動インテンシティを
算出することができる。また２個の速度検出ロープの相
対的な位置関係が固定されており、設定が簡単で取扱い
が容易となる。
【００３３】本発明の第３の実施例は、図５に示すよう
に、測定対象物の２点の速度を非接触測定する速度検出
プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖとよりなる２点の
速度を検出する速度検出器と、それぞれの非接触測定信
号を入力する２個の速度信号入力端子１ｖと、演算回路
部２ａと、測定対象物の速度検出点を走査する走査用ミ
ラー（走査機構）２１とよりなる。
【００３４】２個の速度信号入力端子１ｖと、演算回路
部２ａとは第１の実施例で述べた回路である。速度検出
プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖよりなる速度検出
器は、第２の実施例で述べたドップラ効果を利用した速
度計である。
【００３５】対象とする構造物の２点の振動速度を上記
の非接触な速度検出器で測定して、２個の速度信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ａで
は、第１の実施例で述べた演算を行って、振動インテン
シティを求める。走査用ミラー２１を微小角度回転さ
せ、光軸１４の反射方向をわずかに変化させて振動速度
の測定点を走査し、逐次速度信号を取り込んで振動イン
テンシティを計算する。
【００３６】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００３７】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００３８】本発明の第４の実施例は、図６に示すよう
に、速度検出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖとよ
りなる２点の速度を検出する速度検出器と、２個の速度
信号入力端子１ｖと、演算回路部２ａと、測定対象物を
搭載した走査台（走査機構）２２とよりなる。２個の速
度信号入力端子１ｖと、演算回路部２ａとは第１の実施
例で述べた回路である。速度検出プローブ１１ｖと速度
検出回路１２ｖとよりなる速度検出器とは、第２の実施
例で述べたドップラ効果を利用した速度計である。
【００３９】対象とする構造物の２点の振動速度を上記
の非接触な速度検出器で測定して、２個の速度信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ａで
は、第１の実施例で述べた演算処理を行って、振動イン
テンシティを求める。走査台２２を微小変位移動させ
て、振動速度の測定点を走査し、逐次速度信号を取り込
んで振動インテンシティを計算する。
【００４０】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００４１】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００４２】本発明の第５の実施例は、図７に示すよう
に、速度検出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖとよ
りなる２点の速度を検出する速度検出器と、２個の速度
信号入力端子１ｖと、インテンシティ出力端子３と、演
算回路部２ａと、走査用ミラー２１と、表示装置３１と
よりなる。２個の速度信号入力端子１ｖと、演算回路部
２とは第１の実施例で述べた回路である。速度検出プロ
ーブ１１ｖと速度検出回路１２ｖとよりなる速度検出器
は、第２の実施例で述べたドップラ効果を利用した速度
計である。
【００４３】対象とする構造物の２点の振動速度を上記
の非接触な速度検出器で測定して、２個の速度信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ａで
は、第１の実施例で述べた演算を行って、振動インテン
シティを求める。走査用ミラー２１を微小角度回転させ
て、振動速度の測定点を走査し、逐次速度信号を取り込
んで振動インテンシティを計算する。走査用ミラー２１
の回転角度と、測定対象上の振動インテンシティの信号
はともに表示装置３１に接続され、測定点に対応して振
動インテンシティの大きさと方向が表示装置３１に表示
される。
【００４４】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００４５】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００４６】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００４７】また本実施例によれば、測定した点の振動
インテンシティの分布（振動インテンシティベクトル）
を視覚的に表示することができる。
【００４８】本発明の第６の実施例は、図８に示すよう
に、２個の変位信号入力端子１ｄと、演算回路部２ｂと
より構成される。２個の変位信号入力端子１ｄより変位
信号を取り込み、演算回路部２ｂでは、２個の入力信号
の和の２階微分の結果と、入力信号の減算の微分結果と
を掛け算して、振動インテンシティを求める。
【００４９】演算回路部２ｂは図９に示すように、入力
アンプ４、バンドパスフィルタ５、２階微分回路１８、
微分回路８、バッファアンプ９、加算回路６、減算回路
７及び乗算回路１０で構成される。第３の演算手段は例
えば加算回路６及び２階微分回路１８などよりなり、第
３の演算手段は例えば減算回路７及び乗算回路１０より
なるものとする。
【００５０】対象とする構造物の２点の振動変位が非接
触な検出器で測定されたとき、２個の入力端子より検出
信号を取り込む。２個の入力信号は、それぞれ入力アン
プを経てバンドパスフィルタによって特定の帯域の信号
とされる。これら２個の信号の和の２階微分は加速度の
和α1＋α2であり、その結果を一旦バッファアンプに蓄
える。また一方、２個の信号を減算、さらに微分して得
られる速度差ｖ1−ｖ2を別のバッファアンプに蓄える。
そして、これらバッファアンプに蓄えられた信号を掛け
算して出力すると振動インテンシティｗ＝（α1＋α2）
・（ｖ1−ｖ2）が算出される。
【００５１】本実施例によれば、変位信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、変位検出器によ
り非接触測定された測定信号から振動インテンシティを
算出することができる。
【００５２】本発明の第７の実施例は、図１０に示すよ
うに、変位検出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄと
よりなる２点の変位を検出する変位検出器と、２個の変
位信号入力端子１ｄと、演算回路部２ｂとよりなる。
【００５３】２個の変位信号入力端子１ｄと、演算回路
部２とは第６の実施例で述べた回路である。変位検出プ
ローブ１１ｄは、本実施例では、照射光と反射光の干渉
による明暗をカウントする変位計である。
【００５４】対象とする構造物の２点の振動変位を上記
の非接触な変位検出器で測定して、２個の変位信号入力
端子１ｄより検出信号を取り込む。演算回路部２ｂで
は、第６の実施例で述べた演算を行って、振動インテン
シティを求める。
【００５５】本実施例によれば、変位信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、変位検出器によ
り非接触測定された測定信号から振動インテンシティを
算出することができる。
【００５６】本発明の第８の実施例は、図１１に示すよ
うに、変位検出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄと
よりなる２点の変位を検出する変位検出器と、２個の変
位信号入力端子１ｄと、インテンシティ出力端子３と、
演算回路部２ｂと、走査用ミラー２１と、表示装置３１
とよりなる。
【００５７】２個の変位信号入力端子１ｄと、演算回路
部２ｂとは第６の実施例で述べた回路である。変位検出
プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄとよりなる変位検
出器は、第７の実施例で述べた照射光と反射光の干渉に
よる明暗をカウントする変位計である。
【００５８】対象とする構造物の２点の振動変位を上記
の非接触な変位検出器で測定して、２個の変位信号入力
端子１ｄより検出信号を取り込む。演算回路部２ｂで
は、第６の実施例で述べた演算処理を行って、振動イン
テンシティを求める。走査用ミラー２１を微小角度回転
させて、振動変位の測定点を走査し、逐次変位信号を取
り込んで振動インテンシティを計算する。
【００５９】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００６０】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００６１】本発明の第９の実施例は、図１２に示すよ
うに、変位検出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄと
よりなる２点の変位検出する変位検出器と、２個の変位
信号入力端子１ｄと、演算回路部２ｂと、測定対象を搭
載した走査台２２とよりなる。
【００６２】２個の変位信号入力端子１ｄと、演算回路
部２ｂとは第６の実施例で述べた回路である。変位検出
プローブ１１ｖと変位検出回路１２ｄとよりなる変位検
出器は、第７の実施例で述べた照射光と反射光の干渉に
よる明暗をカウントする変位計である。
【００６３】対象とする構造物の２点の振動変位を上記
の非接触な変位検出器で測定して、２個の変位信号入力
端子１ｄより検出信号を取り込む。演算回路部２ｂで
は、第６の実施例で述べた演算を行って、振動インテン
シティを求める。走査台２２を微小変位移動させて、振
動変位の測定点を走査し、逐次変位信号を取り込んで振
動インテンシティを計算する。
【００６４】本実施例によれば、変位信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、変位検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００６５】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００６６】本発明の第１０の実施例は、図１３に示す
ように、変位検出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄ
とよりなる２点の変位を検出する変位検出器と、２個の
変位信号入力端子１ｄと、インテンシティ出力端子３
と、演算回路部２ｂと、走査用ミラー２１と、表示装置
３１とよりなる。
【００６７】２個の変位信号入力端子１ｄと、演算回路
部２ｂとは第６の実施例で述べた回路である。変位検出
プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄとよりなる変位検
出器は、第７の実施例で述べた照射光と反射光の干渉に
よる明暗をカウントする変位計である。
【００６８】対象とする構造物の２点の振動変位を上記
の非接触な変位検出器で測定して、２個の変位信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ｂで
は、第６の実施例で述べた演算を行って、振動インテン
シティを求める。走査用ミラー２１を微小角度回転させ
て、振動変位の測定点を走査し、逐次変位信号を取り込
んで振動インテンシティを計算する。走査用ミラー２１
の回転角度と、測定対象上の振動インテンシティの信号
とはともに表示装置３１に接続され、測定点に対応して
振動インテンシティの大きさと方向とが表示装置３１に
表示される。
【００６９】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００７０】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００７１】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００７２】また本実施例によれば、測定した点の振動
インテンシティの分布を視覚的に表示することができ
る。
【００７３】本発明の第１１の実施例は、図１４に示す
ように、測定対象物の２方向例えばｘ軸方向及びｙ軸方
向のそれぞれの２対の点でそれぞれの非接触測定信号を
入力する２方向の２対の速度信号入力端子１ｖと、２対
の速度信号入力端子１ｖに接続する演算回路部２ｃとよ
り構成される。２対の速度信号入力端子１ｖより速度信
号を取り込み、演算回路部２ｃでは、各対ごとに２個の
入力信号の和の微分結果と、入力信号の減算結果とを掛
け算して、振動インテンシティを求める。
【００７４】演算回路部２ｃは図１５に示すように、入
力アンプ４、バンドパスフィルタ５、微分回路８、バッ
ファアンプ９、加算回路６、減算回路８及び乗算回路１
０で構成される。
【００７５】対象とする構造物の４点の振動速度が非接
触な検出器で測定されたとき、２対、４個の入力端子よ
り検出信号を取り込む。各対の２個の入力信号は、それ
ぞれ入力アンプを経てバンドパスフィルタによって特定
の帯域の信号とされる。これら２個の信号の和の微分は
加速度の和α1＋α2であり、その結果を一旦バッファア
ンプに蓄える。また一方、２個の信号を減算して得られ
る速度差ｖ1−ｖ2を別のバッファアンプに蓄える。そし
て、これらバッファアンプに蓄えられた信号を掛け算し
て出力すると各対における振動インテンシティｗ＝（α
1＋α2）・（ｖ1−ｖ2）が算出される。
【００７６】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるので、速度検出器によ
り非接触測定された測定信号から振動インテンシティを
算出することができる。
【００７７】本発明の第１２の実施例は、図１６に示す
ように、速度検出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖ
とよりなる４点の速度を検出する速度検出器と、２対の
速度信号入力端子１ｖと、演算回路部２ｃとよりなる。
【００７８】２対の速度信号入力端子１ｖと、演算回路
部２ｃは第１１の実施例で述べた回路である。速度検出
プローブ１１ｖは、図１７に示す先端にレンズが付いた
光ファイバ４本を９０°ピッチで配置し、束ねた構造に
なっており、対向する２個が対となっている。本実施例
では、速度検出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖと
よりなる速度検出器は、ドップラ効果を利用した速度計
である。
【００７９】対象とする構造物の２点の振動速度を上記
の非接触な速度検出器で測定して、２個の速度信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ｃで
は、第１１の実施例で述べた演算を行って、振動インテ
ンシティを求める。
【００８０】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定された測定信号から振動インテンシティを
算出することができる。
【００８１】本発明の第１３の実施例は、図１８に示す
ように、速度検出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖ
とよりなる４点の速度を検出する速度検出器と、２対の
速度信号入力端子１ｖと、演算回路部２ｃと、走査用ミ
ラー２１とよりなる。
【００８２】２対の速度信号入力端子１ｖと、演算回路
部２ｃとは第１１の実施例で述べた回路である。速度検
出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖよりなる速度検
出器は、第１２の実施例で述べたドップラ効果を利用し
た速度計である。
【００８３】対象とする構造物の４点の振動速度を上記
の非接触な速度検出器で測定して、２対の速度信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ｃで
は、第１１の実施例で述べた演算を行って、振動インテ
ンシティを求める。走査用ミラー２１を微小角度回転さ
せて、振動速度の測定点を走査し、逐次速度信号を取り
込んで振動インテンシティを計算する。
【００８４】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるので、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００８５】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００８６】本発明の第１４の実施例は、図１９に示す
ように、速度検出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖ
とよりなる４点の速度を検出する速度検出器と、２対の
速度信号入力端子１ｖと、演算回路部２ｃと、測定対象
を搭載した走査台２２とよりなる。
【００８７】２対の速度信号入力端子１ｖと、演算回路
部２ｃとは第１１の実施例で述べた回路である。速度検
出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖとよりなる速度
検出器は、第１２の実施例で述べたドップラ効果を利用
した速度計である。
【００８８】対象とする構造物の４点の振動速度を上記
の非接触な速度検出器で測定して、２対の速度信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ｃで
は、第１１の実施例で述べた演算を行って、振動インテ
ンシティを求める。走査台２２を微小変位移動させて、
振動速度の測定点を走査し、逐次速度信号を取り込んで
振動インテンシティを計算する。
【００８９】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるので、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００９０】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００９１】本発明の第１５の実施例は、図２０に示す
ように、速度検出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖ
とよりなる４点の速度を検出する速度検出器と、２対の
速度信号入力端子１ｖと、インテンシティ出力端子３
と、演算回路部ｃ２と、走査用ミラー２１と、表示装置
３１とよりなる。
【００９２】２対の速度信号入力端子１ｖと、演算回路
部２ｃとは第１１の実施例で述べた回路である。速度検
出プローブ１１ｖと速度検出回路１２ｖとよりなる速度
検出器は、第１２の実施例で述べたドップラ効果を利用
した速度計である。
【００９３】対象とする構造物の４点の振動速度を上記
の非接触な速度検出器で測定して、２対の速度信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ｃで
は、第１１の実施例で述べた演算を行って、振動インテ
ンシティを求める。走査用ミラー２１を微小角度回転さ
せて、振動速度の測定点を走査し、逐次速度信号を取り
込んで振動インテンシティを計算する。走査用ミラー２
１の回転角度と、測定対象上の振動インテンシティの信
号はともに表示装置３１に接続され、測定点に対応して
振動インテンシティの大きさと方向が表示装置３１に表
示される。
【００９４】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００９５】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【００９６】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【００９７】また本実施例によれば、測定した点の振動
インテンシティの分布を視覚的に表示することができ
る。
【００９８】本発明の第１６の実施例は、図２１に示す
ように、２対の変位信号入力端子１ｄと、演算回路部２
ｄとより構成される。２対の変位信号入力端子１ｄより
変位信号を取り込み、演算回路部２ｄでは、各対におい
て２個の入力信号の和の２階微分の結果と、入力信号の
減算の微分結果とを掛け算して、振動インテンシティを
求める。
【００９９】演算回路部２ｄは図２２に示すように、入
力アンプ４、バンドパスフィルタ５、２階微分回路１
８、微分回路８、バッファアンプ９、加算回路６、減算
回路７及び乗算回路１０で構成される。
【０１００】対象とする構造物の４点の振動変位が非接
触な検出器で測定されたとき、２対の入力端子より検出
信号を取り込む。各対の２個の入力信号は、それぞれ入
力アンプを経てバンドパスフィルタによって特定の帯域
の信号とされる。これら２個の信号の和の２階微分は加
速度の和α1＋α2であり、その結果を一旦バッファアン
プに蓄える。また一方、２個の信号を減算、さらに微分
して得られる速度差ｖ1−ｖ2を別のバッファアンプに蓄
える。そして、これらバッファアンプに蓄えられた信号
を掛け算して出力すると各対の振動インテンシティｗ＝
（α1＋α2）・（ｖ1−ｖ2）が算出される。
【０１０１】本実施例によれば、変位信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、変位検出器によ
り非接触測定された測定信号から振動インテンシティを
算出することができる。
【０１０２】本発明の第１７の実施例は、図２３に示す
ように、変位検出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄ
とよりなる４点の変位を検出する変位検出器と、２対の
変位信号入力端子１ｄと、演算回路部２ｄとよりなる。
【０１０３】２対の変位信号入力端子１ｄと、演算回路
部２ｄとは第１６の実施例で述べた回路である。変位検
出プローブ１１ｄは、本実施例では、照射光と反射光の
干渉による明暗をカウントする変位計である。
【０１０４】対象とする構造物の４点の振動変位を上記
の非接触な変位検出器で測定して、２対の変位信号入力
端子１ｄより検出信号を取り込む。演算回路部２ｄで
は、第１６の実施例で述べた演算を行って、振動インテ
ンシティを求める。
【０１０５】本実施例によれば、変位信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、変位検出器によ
り非接触測定された測定信号から振動インテンシティを
算出することができる。
【０１０６】本発明の第１８の実施例は、図２４に示す
ように、変位検出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄ
とよりなる４点の変位を検出する変位検出器と、２個の
変位信号入力端子１ｄと、インテンシティ出力端子３
と、演算回路部２ｄと、走査用ミラー２１と、表示装置
３１とよりなる。
【０１０７】２対の変位信号入力端子１ｄと、演算回路
部２ｄとは第１６の実施例で述べた回路である。変位検
出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄとよりなる変位
検出器は、第１７の実施例で述べた照射光と反射光の干
渉による明暗をカウントする変位計である。
【０１０８】対象とする構造物の４点の振動変位を上記
の非接触な変位検出器で測定して、２対の変位信号入力
端子１ｄより検出信号を取り込む。演算回路部２ｄで
は、第１６の実施例で述べた演算を行って、振動インテ
ンシティを求める。走査用ミラー２１を微小角度回転さ
せて、振動変位の測定点を走査し、逐次変位信号を取り
込んで振動インテンシティを計算する。
【０１０９】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【０１１０】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【０１１１】本発明の第１９の実施例は、図２５に示す
ように、変位検出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄ
とよりなる４点の変位検出する変位検出器と、２対の変
位信号入力端子１ｄと、演算回路部２ｄと、測定対象を
搭載した走査台２２とよりなる。
【０１１２】２対の変位信号入力端子１ｄと、演算回路
部２ｄとは第１６の実施例で述べた回路である。変位検
出プローブ１１ｖと変位検出回路１２ｄとよりなる変位
検出器は、第１７の実施例で述べた照射光と反射光の干
渉による明暗をカウントする変位計である。
【０１１３】対象とする構造物の４点の振動変位を上記
の非接触な変位検出器で測定して、２対の変位信号入力
端子１ｄより検出信号を取り込む。演算回路部２ｄで
は、第１６の実施例で述べた演算を行って、振動インテ
ンシティを求める。走査台２２を微小変位移動させて、
振動変位の測定点を走査し、逐次変位信号を取り込んで
振動インテンシティを計算する。
【０１１４】本実施例によれば、変位信号から振動イン
テンシティを求めることができるため、変位検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【０１１５】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【０１１６】本発明の第２０の実施例は、図２６に示す
ように、変位検出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄ
とよりなる４点の速度を検出する変位検出器と、２対の
変位信号入力端子１ｄと、インテンシティ出力端子３
と、演算回路部２と、走査用ミラー２１と、表示装置３
１とよりなる。
【０１１７】２対の変位信号入力端子１ｄと、演算回路
部２ｄとは第１６の実施例で述べた回路である。変位検
出プローブ１１ｄと変位検出回路１２ｄよりなる変位検
出器は、第１７の実施例で述べた照射光と反射光の干渉
による明暗をカウントする変位計である。
【０１１８】対象とする構造物の４点の振動変位を上記
の非接触な変位検出器で測定して、２対の変位信号入力
端子１ｖより検出信号を取り込む。演算回路部２ｄで
は、第１６の実施例で述べた演算を行って、振動インテ
ンシティを求める。走査用ミラー２１を微小角度回転さ
せて、振動変位の測定点を走査し、逐次変位信号を取り
込んで振動インテンシティを計算する。走査用ミラー２
１の回転角度と、測定対象上の振動インテンシティの信
号はともに表示装置３１に接続され、測定点に対応して
振動インテンシティの大きさと方向が表示装置３１に表
示される。
【０１１９】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるので、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【０１２０】本実施例によれば、速度信号から振動イン
テンシティを求めることができるので、速度検出器によ
り非接触測定し、その測定信号から振動インテンシティ
を算出することができる。
【０１２１】また本実施例によれば、対象とする構造物
の多くの点の振動インテンシティを短時間で測定するこ
とができる。
【０１２２】また本実施例によれば、測定した点の振動
インテンシティの分布を視覚的に表示することができ
る。
【０１２３】以上の実施例では、非接触測定の手段に、
レーザ光のドップラ効果や干渉による明暗変化を用いて
いるが、光量変化型のセンサや静電容量変化型のセン
サ、うず電流型のセンサを非接触計測手段に用い、その
測定信号を演算処理して振動インテンシティを算出する
こともできる。
【０１２４】
【発明の効果】本発明によれば、２個の速度信号入力端
子より検出信号を取り込み、それら２個の入力信号の和
の微分結果と、２個の入力信号の減算結果とを掛け算し
振動インテンシティを算出すること、２個の変位信号入
力端子より検出信号を取り込み、それら２個の入力信号
の和の２階微分結果と、２個の入力信号の差の微分結果
とを掛け算し振動インテンシティを算出することが可能
となるため、微細な測定対象物の振動を非接触測定し、
その測定信号を処理して振動インテンシティを求めるこ
とができる。そして、走査機構を設けることによって、
測定対象物の多くの点の振動インテンシティを短時間で
測定することができる。また、表示装置を設けることに
よって、測定した点の振動インテンシティを視覚的に表
示することができる。
【０１２５】さらに、２方向の２対の速度信号入力端子
より検出信号を取り込み、各対の入力信号の和の微分結
果と、各対の入力信号の減算結果とを掛け算し、あるい
は各対の変位信号入力端子より検出信号を取り込み、そ
れら各対の入力信号の和の２階微分結果と、各対の入力
信号の差の微分結果とを掛け算して振動インテンシティ
を算出し、走査機構と表示装置とを設けることによっ
て、測定対象物の速度検出点の各位置の振動インテンシ
ティを短時間で測定し、２次元的な振動インテンシティ
ベクトルを視覚化し表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例を示す速度信号を入力す
る装置の斜視図である。
【図２】図１の演算回路部を示す回路図である。
【図３】本発明の第２の実施例を示す速度検出器を備え
た装置の斜視図である。
【図４】図３の速度検出プローブの拡大図である。
【図５】本発明の第３の実施例を示す速度検出器と走査
機構とを備えた装置の斜視図である。
【図６】本発明の第４の実施例を示す速度検出器と走査
機構とを備えた装置の斜視図である。
【図７】本発明の第５の実施例を示す速度検出器と走査
機構と表示装置とを備えた装置の斜視図である。
【図８】本発明の第６の実施例を示す変位信号を入力と
する装置の斜視図である。
【図９】図８の演算回路部を示す回路図である。
【図１０】本発明の第７の実施例を示す変位検出器を備
えた装置の斜視図である。
【図１１】本発明の第８の実施例を示す変位検出器と走
査機構とを備えた装置の斜視図である。
【図１２】本発明の第９の実施例を示す変位検出器と走
査機構とを備えた装置の斜視図である。
【図１３】本発明の第１０の実施例を示す変位検出器と
走査機構と表示装置とを備えた装置の斜視図である。
【図１４】本発明の第１１の実施例を示す２対の速度信
号を入力とする装置の斜視図である。
【図１５】図１４の演算回路部を示す回路図である。
【図１６】本発明の第１２の実施例を示す速度検出器を
備えた装置の斜視図である。
【図１７】図１６の速度検出プローブの拡大図である。
【図１８】本発明の第１３の実施例を示す速度検出器と
走査機構とを備えた装置の斜視図である。
【図１９】本発明の第１４の実施例を示す速度検出器と
走査機構とを備えた装置の斜視図である。
【図２０】本発明の第１５の実施例を示す速度検出器と
走査機構と表示装置とを備えた装置の斜視図である。
【図２１】本発明の第１６の実施例を示す２対の変位度
信号を入力とする装置の斜視図である。
【図２２】図２１の演算回路部を示す回路図である。
【図２３】本発明の第１７の実施例を示す変位検出器を
備えた装置の斜視図である。
【図２４】本発明の第１８の実施例を示す変位検出器と
走査機構とを備えた装置の斜視図である。
【図２５】本発明の第１９の実施例を示す変位検出器と
走査機構とを備えた装置の斜視図である。
【図２６】本発明の第２０の実施例を示す変位検出器と
走査機構と表示装置とを備えた装置の斜視図である。
【符号の説明】
１ｖ 速度入力端子 １ｄ 変位入力端子 ２ 演算回路部 ３ インテンシティ出力端子 １１ｖ 速度検出プローブ １１ｄ 変位検出プローブ １２ｖ 速度検出回路 １２ｄ 変位検出回路 １３ａ レンズ １３ｂ 光ファイバ １４ 光軸 ２１ 走査用ミラー（走査機構） ２２ 走査台（走査機構） ２３ 測定対象物 ３１ 表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−196521（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−44822（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01H 17/00 G01H 9/00

Claims (16)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 測定対象物の２点で非接触測定されたそ
    れぞれの非接触測定信号を入力する２個の速度信号入力
    端子と、それぞれの速度信号入力端子に接続する演算回
    路部とよりなり、該演算回路部は、それぞれの速度信号
    入力端子より取り込んだそれぞれの入力信号の和を演算
    し微分する第１の演算手段と、それぞれの入力信号を減
    算しその減算値と前記微分した微分値とを掛け算する第
    ２の演算手段とを具備していることを特徴とする振動イ
    ンテンシティ解析装置。
  2. 【請求項２】 測定対象物の２点の速度を非接触測定す
    る速度検出プローブと速度検出回路とよりなる速度検出
    器と、該速度検出器に接続しそれぞれの非接触測定信号
    を入力する２個の速度信号入力端子と、それぞれの速度
    信号入力端子に接続する演算回路部とよりなり、該演算
    回路部は、それぞれの速度信号入力端子より取り込んだ
    それぞれの入力信号の和を演算し微分する第１の演算手
    段と、それぞれの入力信号を減算しその減算値と前記微
    分した微分値とを掛け算する第２の演算手段とを具備し
    ていることを特徴とする振動インテンシティ解析装置。
  3. 【請求項３】 速度検出器に、測定対象物の速度検出点
    を走査する走査機構を接続したことを特徴とする請求項
    ２記載の振動インテンシティ解析装置。
  4. 【請求項４】 測定対象物の速度検出点の位置と、それ
    ぞれの位置の振動インテンシティベクトルとを表示する
    表示装置を接続したことを特徴とする請求項３記載の振
    動インテンシティ解析装置。
  5. 【請求項５】 測定対象物の２点で非接触測定されたそ
    れぞれの非接触測定信号を入力する２個の変位信号入力
    端子と、それぞれの変位信号入力端子に接続する演算回
    路部とよりなり、該演算回路部は、それぞれの変位信号
    入力端子より取り込んだそれぞれの入力信号の和を演算
    し２階微分する第３の演算手段と、それぞれの入力信号
    を減算して微分した微分値と前記２階微分した２階微分
    値とを掛け算する第４の演算手段とを具備していること
    を特徴とする振動インテンシティ解析装置。
  6. 【請求項６】 測定対象物の２点の変位を非接触測定す
    る変位検出プローブと変位検出回路とよりなる変位検出
    器と、該変位検出器に接続しそれぞれの非接触測定信号
    を入力する２個の変位信号入力端子と、それぞれの変位
    信号入力端子に接続する演算回路部とよりなり、該演算
    回路部は、それぞれの変位信号入力端子より取り込んだ
    それぞれの入力信号の和を演算し２階微分する第３の演
    算手段と、それぞれの入力信号を減算して微分した微分
    値と前記２階微分した２階微分値とを掛け算する第４の
    演算手段とを具備していることを特徴とする振動インテ
    ンシティ解析装置。
  7. 【請求項７】 変位検出器に、測定対象物の変位検出点
    を走査する走査機構を接続したことを特徴とする請求項
    ６記載の振動インテンシティ解析装置。
  8. 【請求項８】 測定対象物の速度検出点の位置と、それ
    ぞれの位置の振動インテンシティベクトルとを表示する
    表示装置を接続したことを特徴とする請求項７記載の振
    動インテンシティ解析装置。
  9. 【請求項９】 測定対象物の２方向の２対の点で非接触
    測定されたそれぞれの非接触測定信号を入力する２方向
    の２対の速度信号入力端子と、それぞれの速度信号入力
    端子に接続する演算回路部とよりなり、該演算回路部
    は、それぞれの速度信号入力端子より取り込んだそれぞ
    れの入力信号の対ごとに和を演算し微分する第１の演算
    手段と、それぞれの入力信号を対ごとに減算しその減算
    値と前記微分した微分値とを掛け算する第２の演算手段
    とを具備していることを特徴とする振動インテンシティ
    解析装置。
  10. 【請求項１０】 測定対象物の２方向の２対の点の速度
    を非接触測定する速度検出プローブと速度検出回路とよ
    りなる速度検出器と、該速度検出器に接続しそれぞれの
    非接触測定信号を入力する２方向の２対の速度信号入力
    端子と、それぞれの速度信号入力端子に接続する演算回
    路部とよりなり、該演算回路部は、それぞれの速度信号
    入力端子より取り込んだそれぞれの入力信号の対ごとに
    和を演算し微分する第１の演算手段と、それぞれの入力
    信号を対ごとに減算しその減算値と前記微分した微分値
    とを掛け算する第２の演算手段とを具備していることを
    特徴とする振動インテンシティ解析装置。
  11. 【請求項１１】 速度検出器に、測定対象物の速度検出
    点を走査する走査機構を接続したことを特徴とする請求
    項１０記載の振動インテンシティ解析装置。
  12. 【請求項１２】 測定対象物の速度検出点の位置と、そ
    れぞれの位置の振動インテンシティベクトルとを表示す
    る表示装置を接続したことを特徴とする請求項１１記載
    の振動インテンシティ解析装置。
  13. 【請求項１３】 測定対象物の２方向の２対の点を非接
    触測定したそれぞれの非接触測定信号を入力する２方向
    の２対の変位信号入力端子と、それぞれの変位信号入力
    端子に接続する演算回路部とよりなり、該演算回路部
    は、それぞれの変位信号入力端子より取り込んだそれぞ
    れの入力信号の対ごとに和を演算し２階微分する第３の
    演算手段と、それぞれの入力信号を対ごとに減算して微
    分した微分値と前記２階微分した２階微分値とを掛け算
    する第４の演算手段とを具備していることを特徴とする
    振動インテンシティ解析装置。
  14. 【請求項１４】 測定対象物の２方向の２対の点の変位
    を非接触測定する変位検出プローブと変位検出回路とよ
    りなる変位検出器と、該変位検出器に接続しそれぞれの
    非接触測定信号を入力する２方向の２対の変位信号入力
    端子と、それぞれの変位信号入力端子に接続する演算回
    路部とよりなり、該演算回路部は、それぞれの変位信号
    入力端子より取り込んだそれぞれの入力信号の対ごとに
    和を演算し２階微分する第３の演算手段と、それぞれの
    入力信号を対ごとに減算して微分した微分値と前記２階
    微分した２階微分値とを掛け算する第４の演算手段とを
    具備していることを特徴とする振動インテンシティ解析
    装置。
  15. 【請求項１５】 変位検出器に、測定対象物の変位検出
    点を走査する走査機構を接続したことを特徴とする請求
    項１４記載の振動インテンシティ解析装置。
  16. 【請求項１６】 測定対象物の速度検出点の位置と、そ
    れぞれの位置の振動インテンシティベクトルとを表示す
    る表示装置を接続したことを特徴とする請求項１５記載
    の振動インテンシティ解析装置。
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