JP3076269B2 - 自動配線方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、自動配線方法に関
し、特に、半導体集積回路のレイアウトでセルブロック
を使用した自動配線方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の自動配置配線プログラムによるレ
イアウトでは、あらかじめ機能単位でセルブロックを設
計し、そのセル名，セル枠，端子名，端子位置などの情
報を抽出して、それらのデータと各セルとの接続関係を
示すネットリストを入力して、それらを基に自動配置配
線を実行させるのが一般的であった。このため、セルブ
ロック作成時にレイアウトがどのようにできあがるかわ
からない。従って、自動配置配線実行後に配線が交差し
ないように端子位置を設定することが出来ず、それによ
って生じる交差配線が多くなると配線密度が高くなり、
配線領域を広げないと全配線を通す事が出来なくなる場
合がある。その結果、チップ面積が増大しまうという問
題があった。

【０００３】そこで、特開平３−２９３４１号公報に記
載されたように、端子配置を変更する事により、交差配
線を低減させて配線引き回しを改善できるレイアウト方
法が提案されている。

【０００４】図９は、上記提案によるレイアウト方法の
一例を示すフローチャートである。なお、図中（９−
１）〜（９−９）は各ステップを示す。まず通常の自動
レイアウトと同様にネットリスト入力し（ステップ９−
１）、セル名，セル枠，端子名，各端子を引き出すこと
の出来る位置などのデータをライブラリに登録し（ステ
ップ９−２）、既存の配置配線プログラムはネットリス
トに合わせて、セルのデフォルトの形態を使用して仮配
置配線を行う（ステップ９−３）。そして隣り合ったセ
ルに配線されている信号を検出し、その信号の入力端子
がセルを並べる事により配線することなく接続可能とな
る位置へ移動可能かどうかを各々のセルの端子情報から
検索し（ステップ９−４）、互いに可能な場合に各セル
に端子の移動情報を与える（ステップ９−５）。更に各
セルについてそのセルに接続されている信号が互いに交
差しているかを検出し、交差している場合に、端子位置
移動により交差を無くすことが出来るかどうかを検出し
て（ステップ９−４）、交差を無くす事が可能な場合そ
の位置へ端子が移動可能かどうかを検出し、すべて可能
であれば端子の移動情報をセルに与える（ステップ９−
５）。以上の端子位置変更を行った上で再び仮配線を行
い、上記ステップ９−４，９−５の操作を端子位置変更
を行う必要の無くなるまで繰り返し、それによって作成
されたセルの情報を用いて最終配置配線を行う（ステッ
プ９−６）。次に、セルデータと最適端子位置指定デー
タとからセルレイアウト変形を行い（ステップ９−
７）、ステップ９−６で得られた最終の配置配線に基づ
きセル割付けを行い（ステップ９−８）、そのデータを
レイアウトデータとしてディスク等に記憶する（ステッ
プ９−９）。

【０００５】次に、図１０は、従来例での交差配線の検
出方法を示すフローチャートである。従来例では、まず
対象セルに対しライブラリデータから全端子を抽出し
（ステップ１０−１）、次に仮配線の結果から各端子に
接続される配線を抽出する（ステップ１０−２）。そし
て任意の２端子について、接続する各配線同士が互いに
図形データとして重なるかどうか（ステップ１０−
３）、例えば、それぞれの配線パスデータを盤何学的な
パターンにデータ変換して論理演算を行い、論理積が０
でなければ図形的に重なっているか判断し（ステップ１
０−４）、重なっている場合に交差配線として検出する
（ステップ１０−５）。

【０００６】次に、図１１は、従来の自動レイアウトで
の交差配線例を示す配線図である。この交差配線図例で
示される同一セル内で接続している配線が交差する
（ａ）のパターンは検出できるが、それぞれ別セル同士
の配線が交差している（ｂ），（ｃ）のパターンは交差
配線として検出されない。特に、（ｃ）のパターンでは
セルブロック上を通過する配線との交差であり重要であ
る。というのも今回引用した従来例での主な配線層対象
としてはポリシリおよびメタル１層のみであったが、今
日では多層メタル配線の使用が一般的となっている。そ
れによってセルの外周部に限らずセル全面において端子
を配置出来、更にセルの上も配線領域として活用出来る
ようになった。これらはセル間配線領域を低減させるの
に非常に有効であり、従って、セルブロック上を通過す
る配線も少なくはない。

【０００７】以上説明したように、従来の技術では対応
できる交差配線パターンが少なくとも充分でない為、部
分的に配線密度を減らし、その結果チップ面積を縮小さ
せる等の効果が弱かった。その理由は、各セルの各々い
くつかある端子に接続された配線同士のみを抽出するア
ルゴリズムとなっているからである。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来例におけ
る自動配線方法では、人手設計の発想を適切な手段で自
動的に処理させた明瞭かつ有用な発明であるが、よくよ
く考慮してみるといくつかの不具合が有り、特に交差配
線の検出方法において問題があった。

【０００９】まず、従来例の動作説明で述べた「各セル
についてそのセルに接続されている信号が互いに交差し
ているかを検出し、・・・」とあるように、同一セル内
で接続している配線同士が互いに交差している場合は対
応できるが、交差している配線が互いに別のセルに接続
している場合は検出できない事である。つまり、各セル
の各々いくつかある端子に接続された配線同士のみを抽
出するアルゴリズムとなっている。図１１の交差配線図
例で示される同一セル内で接続している配線が交差する
（ａ）のパターンは検出できるが、それぞれ別セル同士
の配線が交差している（ｂ），（ｃ）のパターンは交差
配線として検出されない。特に、（ｃ）のパターンでは
セルブロック上を通過する配線との交差であり重要であ
る。従って、従来例では対応できる交差配線パターンが
少なくとも充分でない為、部分的に配線密度を減らし、
その結果チップ面積を縮小させる等の効果がいという問
題があった。

【００１０】また、処理手順として一度通常と同様に配
置配線を実行後、その結果から交差配線を検出して端子
位置変更処理を行い、最終的に端子位置が変更されたセ
ル情報を用いて本配線を行っているからである。つまり
実質的に配線処理を２回実行するようになっており、更
に端子位置の変更処置を行う時間も加わる。従って、少
なくとも通常の配置配線プログラムで処理する時間にお
いて、配線処理が２倍以上かかり、処理時間の増大とい
う問題があった。この問題に関しては、特に近年処理規
模が非常に大規模なものとなっているので尚手厳しい。

【００１１】そこで、本発明の目的は、上記問題を解消
すべく、チップ面積を削減出来る自動配線方法を提供す
ることにある。

【００１２】また、本発明の他の目的は、処理時間の増
加が少ない自動配線方法を提供することにある。

【００１３】

【００１４】

【課題を解決するための手段】 上記目的を達成するため
に、本発明の自動配線方法は、接続情報に基づいて、端
子同士を一通り接続した後、接続に用いられた配線の配
線交差パターンを検索するステップと、検索するステッ
プにより検索された配線交差パターンに接続されるセル
が、このセルの配線交差パターンに接続された端子をこ
のセルの他の一端子と入れ替えた同一サイズのセルと置
き換え可能か否かを判定するステップと、判定するステ
ップにより置き換え可能の場合に、セルの置換を行うス
テップと、セルの置換により発生した未結線部分の再配
線を行うステップとを含み、予め配置された複数のセル
が持つ端子同士を接続情報に基づいて自動的に接続を行
う半導体集積回路の自動配線方法において、交差配線パ
ターンを検索するステップは、 配線領域内の第１方向配
線の一端に接続された第１のビアを抽出するステップ
と、第１方向配線に接続されるセルの数は１個か否かを
判定するステップと、セルの数が１個と判定された場合
に、第１方向配線に接続されるセルのセル幅を示す第１
方向座標軸に直交する第１，第２の第２方向座標値を抽
出するステップと、第１のビアに接続する第２方向配線
を抽出するステップと、第２方向配線の両端のうち、ど
ちらか一端の座標が第１のビアと同一か否かを判定する
ステップと、第２方向配線の両端のうち、どちらか一端
の座標が第１のビアと同一と判定された場合に、第１の
ビアに接続されるセルのセル幅内に、第２方向配線の両
端のうち、第１のビアと座標が同一でない他端の第２方
向座標値が存在するか否かを判定するステップと、他端
の第２方向座標値が存在すると判定された場合、交差配
線パターンとして抽出し、他端の第２方向座標値が存在
しないと判定された場合に、第１方向配線に交差する別
の交差第２方向配線が存在するか否かを判定するステッ
プと、交差第２方向配線が存在すると判定された場合
に、交差第２方向配線を抽出するステップと、交差第２
方向配線の一端に接続された第２のビアを抽出するステ
ップと、第２のビアの第２方向座標値が、セルのセル幅
内に存在するか否かを判定するステップと、セルのセル
幅内に存在すると判定された場合に、第２のビアの第２
方向座標値が第１方向配線の一端に接続されたビアに接
続する第２方向配線の両端間を示す第１，第２の第２方
向座標値間に存在するか否かを判定するステップと、第
２方向配線の両端間内に存在すると判定された場合に、
交差第２方向配線の両端のうちどちらか一端の座標が、
第２のビアと同一か否かを判定するステップとを含み、
座標が同一と判定された場合に交差配線パターンとして
抽出することを特徴とする。

【００１５】さらに、予めセルデータを作成するとき
に、同一座標で端子名を入れ替えた同一機能のセルを複
数作成し、交差配線パターンに接続するセルを、他の同
一機能セルに入れ替えるのが好ましい。

【００１６】またさらに、交差配線パターンに接続する
セルを、同一座標で端子名を入れ替えた同一機能のセル
を作成して入れ替えるのが好ましい。

【００１７】また、セルの入れ替えまたは置き換えをし
た場合に、配線領域に必要とされる間隔が小さくなる場
合のみ、セルの入れ替えおよび部分再配線を行うのが好
ましい。

【００１８】本発明の自動配線方法は、特に、交差配線
パターンを検索するステップと、セルブロックの入れ替
えを行うステップと、一部分の再配線を行うステップと
を有する。具体的には交差配線を配線層切り替えのため
のビアホールより検索する手段と、セルブロックの入れ
替えをブロックサイズが同じで端子配置が異なるセルブ
ロックに置き換える手段と置き換えたセルブロックの配
置変更した端子に接続する配線のみ再配線する手段とを
有する。

【００１９】上記手段により、交差配線の検出を配線層
切り替えの為のビアホールからパターン検出している。
このため配線接続先にかかわらず、交差配線を検出出来
る。

【００２０】また、セルブロックの入れ替えをブロック
サイズが同じで端子配置の変更されたセルブロックに置
き換え、配置変更した端子に接続する配線のみ限定して
再配線するため、全体の配置配線を２度実行する必要が
無い。

【００２１】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について、
図面を参照して説明する。

【００２２】図１は、本発明の自動配線方法を示すフロ
ーチャートである。この方法は、まずセルブロックの自
動配置配線に必要な各種レイアウト情報を入力し（ステ
ップ１−１）、入力したデータを基にセルブロックの自
動配置配線を実行する（ステップ１−２）。次に、作成
された配置配線データについて交差配線パターンを検索
して（ステップ１−３）、端子位置移動により交差配線
を無くす事が可能なセルブロックを検出する（ステップ
１−４）。置き換え出来るセルブロックが検出されたな
ら、そのセルブロックの置換を行い（ステップ１−
５）、そしてセル置換によって端子配置が変更されたこ
とにより未結線となった配線に対して部分再配線を行い
（ステップ１−６）、その結果を出力する（ステップ１
−７）。

【００２３】以下、具体的な実施例について説明する。

【００２４】図２は、本発明の自動配線方法の第１の実
施例を示すフローチャートである。本実施例では、ま
ず、データ読み込みによってネットリストやセルライブ
ラリ等のデータをＣＡＤ装置に入力し（ステップ２−
１）、そのデータから既存の自動レイアウトプログラム
により配置配線を行う（ステップ２−２）。その際、各
セルは、図３に示すセル端子配置の一例のようにそれぞ
れ端子配置を全端子組み合わせ分用意してライブラリに
登録しておき、配置配線時はそのうち一つをデフォルト
として使用する。そしてセル間配線においてビアホール
の打ち替え配線パターンを、図４で示すフローチャート
によってパターン照合し（ステップ２−３）、適合しな
ければ、次のビアホールを探しに行き、適合した場合
（ステップ２−４）、まず、レイアウトデータをファイ
ルに一時保管してから（ステップ２−５ａ）、セルにお
いてステップ２−３で対象になったビアホールに接続し
た端子と、他の一端子のみ入れ替えたセルとを選択して
置換する（ステップ２−５ｂ）。次に、入れ替わる端子
に接続する配線の再配線を実行するが、他のセルブロッ
クの配置は変更せず、また、置換したセルブロックに隣
接する配線領域内でのみ処理を行う（ステップ２−６
ａ）。再配線した結果、全配線領域で各セル間での通過
可能配線本数をチェックし（ステップ２−６ｂ）、セル
置換前と比較して（ステップ２−６ｃ）減少していたら
減少分の面積を削減し（ステップ２−６ｄ）、増加もし
くは変わり無い場合は、ステップ２−５ａで一時的に保
管したセル置換前のデータに戻す（ステップ２−６
ｅ）。更に端子配置入れ替え対象セルブロックにおい
て、端子数がＮ個（Ｎ≧３；Ｎは整数）存在する場合、
端子入れ替え可能なセル数は（Ｎ−１）個存在するの
で、その数分ステップ２−５ａ以降を繰り返し実行する
（ステップ２−６ｆ）。そして配線領域すべてのビアホ
ール対してステップ２−３以降を実行し（ステップ２−
６ｇ）、最終的にレイアウトデータを記憶装置等に書き
込む（ステップ２−７）。

【００２５】図３は、本発明の第１の実施例のステップ
２−２における端子配置を示す図である。端子配置の一
例として、Ｃ００〜Ｃ０５に示すように、例えば、端子
Ｉ₁，Ｉ₂ ，Ｏの端子配置を、全端子組み合わせ分用意
してライブラリに登録しておき、配置配線時はそのうち
一つをデフォルトとして使用する。

【００２６】次に、図４，図５を参照して、上述した本
発明の第１の実施例のステップ２−３における交差線検
出の詳細について説明する。

【００２７】図４は、本発明の第１の実施例のステップ
２−３における交差配線検出の詳細を示すフローチャー
トであり、図５は、交差配線パターンを示す配線図であ
る。本実施例では、図５に示される（Ａ），（Ｂ）の２
つのパターンを検出している。尚、本実施例では配線層
として、第１及び第２配線層を使用しているが、通常使
い分けがされており、本実施例の場合、セルブロック内
の電源配線等を第１配線層で配線することにより、セル
ブロック上を第２配線層が使用できるようにしている。
そしてセル間配線領域では、通常、異層配線同士は格子
状に配線するので、第１配線層と第２配線層とは互いに
直交している。

【００２８】まず、図５に示す対象ビアホールＢＨ，Ｂ
Ｈ’に接続する第２配線層ＳＣ，ＳＣ’を抽出し（ステ
ップ４−１）、この配線が接続されるセルが１個である
か調べ（ステップ４−２）、１個のみであればその接続
セルＣＣ，ＣＣ’のＸ座標値を抽出する（ステップ４−
３）。次に、対象ビアホールに接続する第１配線層Ｓ
Ｄ，ＳＤ’を抽出し（ステップ４−４）、その始点また
は終点座標が対象ビアホールと同一、つまりビアホール
からの第１配線層の配線が貫通配線でないか調べ（ステ
ップ４−５）、そうでなければ、その第１配線層の始点
および終点座標が上記接続セル幅内にあるか（ステップ
４−６）、要するに接続セル幅内で配線の内ち替えが終
了しているかを調べる。これによってまず図５（Ａ）の
パターンが検出出来る。この図５（Ａ）のパターンの場
合、第１配線層ＳＤの中間点で交差している配線が存在
しても、この第１配線層ＳＤと交差する配線の有無に係
わらず、セルＣＣの置き替えにより第１配線層ＳＤと配
線層切替のビアホール２個を無くすことができる。この
ため、第１配線層ＳＤと交差する配線の有無に係わら
ず、交差パターンとして抽出することができる。

【００２９】この接続セル幅内で配線の打ち替えが終了
していないパターンで、今度は対象ビアホールに接続し
ていた第２配線層の配線に交差している第１配線層が有
るか調べ（ステップ４−７）、有った場合、まず交差し
ている第１配線層ＳＥを抽出し（ステップ４−８）、次
にその交差している第１配線層が接続しているビアホー
ルＢＨ”を抽出する（ステップ４−９）。そして、その
Ｘ座標値がこの接続セル幅内に存在するか調べ（ステッ
プ４−１０）、存在した場合、更にそのビアホールＸ座
標値が対象ビアホールに接続していた第１配線層ＳＤ’
のパス長内に存在しているか調べる（ステップ４−１
１）。このパス長内にビアホールＢＨ”が存在した場
合、最後に交差第１配線層ＳＥの始点または終点座標値
が上記ビアホールと同一、つまりビアホールからの第１
配線層の配線が貰通配線でないか調べ（ステップ４−１
２）、貫通配線でない事が確認できれば、図５（Ｂ）の
パターンを検出した事になる。

【００３０】図６は、本発明の自動配線方法を適用する
自動レイアウト配線図の一例を示す図である。図６
（１）は本実施例の自動配線方法を適用する前の自動レ
イアウト配線図の一例であり、図６（２）は本実施例の
自動配線方法を適用後の自動レイアウト配線図の一例で
ある。セルをＣで、配線をＯで、端子をａ〜で示してい
る。図６（１）において交差配線がいくつか存在してい
るが、そのうちセルＣ１の端子ａ，ｂに接続する配線Ｓ
０，Ｓ１のパターンが、図５（Ｂ）に適合し、セルＣ２
の端子ｃに接続する配線Ｓ２と交差するセルＣ５の端子
ｌに接続する配線Ｓ３とのパターンも同様に図５（Ｂ）
に適合している。また、セルＣ３の端子ｆに接続する配
線Ｓ４と交差するセルＣ３，Ｃ６のセル通過配線Ｓ５
（それぞれセル通過端子ｇ，ｏに接続）とのパターン
は、図５（Ａ）に適合するため、それぞれ図２のフロー
で示される手段によって処置される。その結果が図６
（２）であり、具体的には、セルＣ１をＣ１’に置き換
える事により、端子ａとｂが入れ替わって配線Ｓ０とＳ
１との交差が無くなり、セルＣ２をＣ２’に置き換える
事により、端子ｃと端子ｅが入れ替わって、配線Ｓ２と
Ｓ３との交差が無くなり、同様に、セルＣ３をＣ３’に
置き換える事により、端子ｆと端子ｈとが入れ替わって
配線Ｓ４とＳ５との交差が無くなる。このようにして、
それぞれの再配線の結果、セル間配線領域ＤＳにおい
て、その通過配線本数が４本から３本に減らせるので面
積を削減出来る。

【００３１】図７は、本発明の自動配線方法の第２の実
施例を示すフローチャートである。本実施例では、ま
ず、データ読み込みによってネットリストやセルライブ
ラリ等のデータをＣＡＤ装置に入力し（ステップ７−
１）、そのデータから既存の自動レイアウトプログラム
により配置配線を行う（ステップ７−２）。その際、各
セルは、第１の実施例とは異なり、従来例と同様、それ
ぞれ配置を１つだけデフォルトとしてライブラリに登録
する。そしてセル間配線においてビアホールの打ち替え
配線パターンを、図４に示すフローによってパターン照
合し（ステップ７−３）、適合しなければ次のビアホー
ルを探しに行き、適合した場合（ステップ７−４ａ）、
そのセルにおいてステップ７−３で対象になったビアホ
ールに接続した端子と他の一端子とを入れ替えたセル
を、端子組み合わせ分作成して（ステップ７−４ｂ）、
レイアウトデータを一時ファイルに保管してから（ステ
ップ７−５ａ）、まずそのうち１つのセルについて置換
を行う（ステップ７−５ｂ）。次に入れ替わる端子に接
続する配線の再配線を実行するが、他のセルブロックの
配置は変更せず、また置換したセルブロックに隣接する
配線領域内でのみ処理を行う（ステップ７−６ａ）。再
配線した結果、全配線領域で各セル間での通過可能配線
本数をチェックし（ステップ７−６ｂ）、セル置換前と
比較して（ステップ７−６ｃ）減少していたら減少分の
面積を削減し（ステップ７−６ｄ）、増加もしくは変わ
り無い場合はステップ７−５ａで一時的に保管したセル
置換前のデータに戻す（ステップ７−６ｅ）。更に端子
配置入れ替え対象セルブロックにおいて端子数がＮ個
（Ｎ≧３；Ｎは整数）存在する場合、端子入れ替え可能
なセル数は（Ｎ−１）個存在するので、その数分ステッ
プ７−５ａ以降を繰り返し実行する（ステップ７−６
ｆ）。そして配線領域すべてのビアホール対してステッ
プ７−３以降を実行し（ステップ７−６ｇ）、最終的に
レイアウトデータを記憶装置等に書き込む（ステップ７
−７）。

【００３２】この第２の実施例では、最初セルライブラ
リデータとして端子配置データを各セル１つづつ用意し
て、必要に応じて異なる端子配置のセルデータを作成す
ればよい為、特に扱うセルの種類が多い場合、ライブラ
リデータをコンパクトに出来る利点がある。

【００３３】図８は、本発明の自動配線方法の第３の実
施例を示すフローチャートである。本実施例では、ま
ず、データ読み込みによってネットリストやセルライブ
ラリ等のデータをＣＡＤ装置に入力し（ステップ８−
１）、そのデータから既存の自動レイアウトプログラム
により配置配線を行う（ステップ８−２）。その際、各
セルは、図３に示すようなそれぞれ端子配置を全端子組
み合わせ分用意してライブラリに登録しておき、配置配
線時はそのうち一つをデフォルトとして使用する。次
に、セル間配線においてビアホールの打ち替え配線パタ
ーンを、図４に示すフローによってパターン照合し（ス
テップ８−３）、適合するしなければ次のビアホールを
探しに行き、適合した場合（ステップ８−４ａ）、セル
置換による交差配線解消で生じる第１配線層の重なる部
分がセル間幅を決定している配線領域の配線本数ｍａｘ
部分であるか調べる（ステップ８−４ｂ）。上記条件に
該当すれば、まずレイアウトデータを一時ファイルに保
管してから（ステップ８−５ａ）、そのセルにおいてス
テップ８−３で対象になったビアホールに接続した端子
と他の一端子のみ入れ替えたセルを選択して置換を行い
（ステップ８−５ｂ）、それ以外なら別の交差パターン
を検索する。次に入れ替わる端子に接続する配線の再配
線を実行するが、他のセルブロックの配置は変更せず、
また、置換したセルブロックに隣接する配線領域内での
み処理を行う（ステップ８−６ａ）。再配線した結果、
全配線領域で各セル間での通過可能配線本数をチェック
し（ステップ８−６ｂ）、セル置換前と比較して（ステ
ップ８−６ｃ）減少していたら、減少分の面積を削減し
（ステップ８−６ｄ）、増加もしくは変わり無い場合
は、ステップ８−５ａで一時的に保管したセル置換前の
データに戻す（ステップ８−６ｅ）。更に端子配置入れ
替え対象セルブロックにおいて、端子数がＮ個（Ｎ≧
３；Ｎは整数）存在する場合、端子入れ替え可能なセル
数は、（Ｎ−１）個存在するので、その数分ステップ８
−５ａ以降を繰り返し実行する（ステップ８−６ｆ）。
そして配線領域すべてのビアホールに対してステップ８
−３以降を実行し（ステップ８−６ｇ）、最終的にレイ
アウトデータを記憶装置等に書き込む（ステップ８−
７）。

【００３４】以上説明したように、本実施例では、あら
かじめセル置換時に交差配線解消で生じる配線領域縮小
が出来るかどうか判断し、出来ない場合は、セル置換以
降実行しない為、他の実施例と比較して全体の実行時間
の短縮を図る事が出来る。

【００３５】なお、以上の実施例では、配線層として第
１および第２配線層の２層配線までを対象に説明してき
たが、近年では２層以上の配線層使用も多くなってきて
いる。しかしながら、本発明では異なる２種類の配線層
においてそれぞれを接合するビアホールがあれば異層間
同士の交差配線が検出出来るので、当然の如く、２層以
上の配線層を使用する場合でも適用可能である。

【００３６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の自動配線
方法では、配線層切り替えの為のビアホールから交差す
るパターンを検出する為、配線接続先に関わらず単純な
図形認識として交差配線が検出できる。従って、互いに
別セルに接続している交差配線について検出が可能にな
るという効果を奏する。

【００３７】また、交差配線を無くす事により配線領域
で無駄な配線の重なりが減らせる。例えば、セル間配線
本数が最大１０本の配線領域においては、本発明を適用
すると９本に減らせるので、配線領域としては１０％削
減となる。従って、配線領域においてサイズを縮小出来
るという効果を奏する。

【００３８】さらに、配線同士の交差が無くなるのでク
ロストークは当然のごとく減り、また、図５（Ａ）で示
される交差パターンの場合、配線層切り替えのビアホー
ル２ケ分を無くせる為、その分の容量および抵抗を減ら
せる。従って、配線に伴う各種特性の向上を図ることが
でき、クロストークや配線容量および抵抗値の低減が可
能になるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の自動配線方法を示すフローチャートで
ある。

【図２】本発明の第１の実施例を示すフローチャート図
である。

【図３】本発明で使用するセルブロックの一例を示す端
子配置図である。

【図４】本発明における交差配線パターン検出を示すフ
ローチャートである。

【図５】図４で検出する交差配線パターンを示す配線図
である。

【図６】本発明の自動配線方法を適用する自動レイアウ
ト配線図である。（１）は、適用前の一例を示し、
（２）は適用後の一例を示す図である。

【図７】本発明の第２の実施例を示すフローチャートで
ある。

【図８】本発明の第３の実施例を示すフローチャートで
ある。

【図９】従来の自動配線方法の一例を示すフローチャー
トである。

【図１０】従来の自動配線方法の交差配線の検出方法を
示すフローチャートである。

【図１１】従来の自動レイアウトでの交差配線例を示す
配線図である。

【符号の説明】

ＣＣ，ＣＣ’ セルブロック ＢＨ，ＢＨ’ スルーホール ＳＣ，ＳＣ’ 第２配線層配線 ＳＤ，ＳＤ’ 第１配線層配線 Ｓ０〜Ｓ５ 接続配線 ＤＳ セル間配線領域 １−１ データ入力のステップ １−２ セル配置，配線のステップ １−３ 交差配線パターン検索のステップ １−４ セル置き換えを判断するステップ １−５ セル置き換えのステップ １−６ 部分再配線のステップ １−７ データ出力 ２−１ データ読み込みのステップ ２−２ セル配置，配線のステップ ２−３ ビアホール接続，配線パターン検索のステップ ２−４ セル置き換え判断のステップ ２−５ａ データ一時書き込みのステップ ２−５ｂ セル置換のステップ ２−６ａ 部分再配線のステップ ２−６ｂ 配線領域配線チェックのステップ ２−６ｃ ｍａｘ配線本数判断のステップ ２−６ｄ 配線領域縮小のステップ ２−６ｅ データ置き換えのステップ ２−６ｆ セル端子置き換え対象分未了か判断するステ
ップ ２−６ｇ 配線量域ビアホール検索終了か判断するステ
ップ ２−７ データ書き込みのステップ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H01L 21/82 H01L 27/118

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 接続情報に基づいて、端子同士を一通り接
   続した後、接続に用いられた配線の配線交差パターンを
   検索するステップと、前記検索するステップにより検索
   された配線交差パターンに接続されるセルが、このセル
   の前記配線交差パターンに接続された端子をこのセルの
   他の一端子と入れ替えた同一サイズのセルと置き換え可
   能か否かを判定するステップと、前記判定するステップ
   により置き換え可能の場合に前記セルの置換を行うステ
   ップと、前記セルの置換により発生した未結線部分の再
   配線を行うステップとを含み、予め配置された複数のセ
   ルが持つ端子同士を接続情報に基づいて自動的に接続を
   行う半導体集積回路の自動配線方法において、 前記配線交差パターンを検出するステップは、 配線領域内の第１方向配線の一端に接続された第１のビ
   アを抽出するステップと、 前記第１方向配線に接続されるセルの数は１個か否かを
   判定するステップと、 前記セルの数が１個と判定された場合に、前記第１方向
   配線に接続されるセルのセル幅を示す第１方向座標軸に
   直交する第１，第２の第２方向座標値を抽出するステッ
   プと、 前記第１のビアに接続する第２方向配線を抽出するステ
   ップと、 前記第２方向配線の両端のうち、どちらか一端の座標が
   前記第１のビアと同一か否かを判定するステップと、 前記第２方向配線の両端のうち、どちらか一端の座標が
   前記第１のビアと同一と判定された場合に、前記第１の
   ビアに接続されるセルのセル幅内に、前記第２方向配線
   の両端のうち、前記第１のビアと座標が同一でない他端
   の第２方向座標値が存在するか否かを判定するステップ
   と、 前記他端の第２方向座標値が存在すると判定された場
   合、交差配線パターンとして抽出し、前記他端の第２方
   向座標値が存在しないと判定された場合に、前記第１方
   向配線に交差する別の交差第２方向配線が存在するか否
   かを判定するステップと、 前記交差第２方向配線が存在すると判定された場合に、
   前記交差第２方向配線を抽出するステップと、 前記交差第２方向配線の一端に接続された第２のビアを
   抽出するステップと、 前記第２のビアの第２方向座標値が、前記セルのセル幅
   内に存在するか否かを判定するステップと、 前記セルのセル幅内に存在すると判定された場合に、前
   記第２のビアの第２方向座標値が前記第１方向配線の一
   端に接続されたビアに接続する第２方向配線の両端間を
   示す第１，第２の第２方向座標値間に存在するか否かを
   判定するステップと、 前記第２方向配線の両端間内に存在すると判定された場
   合に、前記交差第２方向配線の両端のうちどちらか一端
   の座標が、前記第２のビアと同一か否かを判定するステ
   ップと、 を含み、前記座標が同一と判定された場合に交差配線パ
   ターンとして抽出することを特徴とする自動配線方法。
2. 【請求項２】 予めセルデータを作成するときに、同一座
   標で端子名を入れ替えた同一機能のセルを複数作成し、
   前記交差配線パターンに接続するセルを、他の同一機能
   セルに入れ替えることを特徴とする、請求項１に記載の
   自動配線方法。
3. 【請求項３】 前記交差配線パターンに接続するセルを、
   同一座標で端子名を入れ替えた同一機能のセルを作成し
   て入れ替えることを特徴とする、請求項１に記載の自動
   配線方法。
4. 【請求項４】 前記セルの入れ替えまたは置き換えをした
   場合に、配線領域に必要とされる間隔が小さくなる場合
   のみ、前記セルの入れ替えおよび部分再配線を行うこと
   を特徴とする、請求項１から３までのいずれかに記載の
   自動配線方法。