JP3070651B2 - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
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- JP3070651B2 JP3070651B2 JP5278021A JP27802193A JP3070651B2 JP 3070651 B2 JP3070651 B2 JP 3070651B2 JP 5278021 A JP5278021 A JP 5278021A JP 27802193 A JP27802193 A JP 27802193A JP 3070651 B2 JP3070651 B2 JP 3070651B2
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Description
り制御される測定装置に関し、詳しくは、表示器の表示
を見ながら設定パネルを操作して各種の測定条件を設定
するように構成された測定装置の測定条件の設定の改善
に関するものである。
示器の表示を見ながら設定パネルを操作して各種の測定
条件を設定するように構成された測定装置の一種に、記
録計がある。このようなマイクロプロセッサにより制御
される記録計における測定条件の設定項目としては、 記録の年月日時刻を設定するタイム設定、 記録紙の送り速度を設定するチャートスピード設定、 測定チャンネル毎に測定値の大きさと予め設定された
設定値との大小関係を比較してその結果をアラーム情報
として表示するためのアラーム設定、 測定範囲を設定するレンジ設定 測定データを物理量の大きさに変換するためのスケー
リング設定、 記録範囲の左右両端の物理量を設定するスパン設定、 記録紙上における記録範囲とその範囲に記録可能な物
理量の大きさを設定するゾーン記録設定、 などがある。
設備などの装置に監視記録用として組み込まれるユーザ
ー側での用途が明確に限定されている機能固定形と各種
の実験における各種のデータ記録用として用途が限定さ
れない機能変更形とに大別でき、これらの製造にあたっ
てはこれら機能固定形と機能変更形の作り分けが行われ
ている。
は上記設定項目のうち例えばからは第1群の測定条
件としてからは第2群の測定条件とし、第1群の測
定条件はユーザーが任意に設定できるが第2群の測定条
件はユーザーから提示される仕様に合致した専用機とし
てメーカーで調整して出荷することが行われている。こ
のように機能が限定されていてユーザーが設定変更すべ
きパラメータは最小限にとどめられていることから、表
示部や操作部分の構造が簡略化でき比較的安価になると
いう利点がある。
にユーザー自身が用途に応じてその機能を変更できると
いう利点があるが、ユーザーが設定変更すべきパラメー
タが多くなることから表示部や操作部分の構造は比較的
複雑になってコストが高くなってしまう。このような機
能固定形と機能可変形の作り分けは記録計に限るもので
はなく、広く各種の測定装置に共通して行われている。
録計とはいうものの、上記設定項目のからについて
も、購入後にユーザー自身が必要に応じて比較的簡単な
器具や操作で変更できるように配慮されていることが望
ましい。本発明は、このような機能固定形の測定装置の
問題点を解決するものであり、その目的は、通常の使用
状態では機能固定形として動作するが、必要に応じて機
能可変形として動作させることができる測定装置を実現
することにある。
イクロプロセッサにより制御され、表示器の表示を見な
がら設定パネルを操作して測定条件を設定するように構
成された測定装置において、測定装置本体に内蔵された
設定パネルと、測定装置本体に内蔵された第1の表示器
と、測定装置本体に着脱可能な第2の表示器と、第2の
表示器の着脱に連動して選択的に読みだされる測定条件
設定用のプログラムを格納するメモリ、を設けたことを
特徴とする。
表示器が接続されない状態では複数の測定条件のうちの
内蔵の第1の表示器の表示に従って設定できる限られた
部分しか設定変更できない機能固定形として動作するも
のが読みだされ、第2の表示器が接続されることにより
第2の表示器の表示に従って複数の測定条件全般にわた
って設定変更できる機能可変形として動作するものが読
みだされる。
接続されない状態では機能固定形として動作し、第2の
表示器が接続されることにより機能可変形として動作す
ることになる。すなわち、第2の表示器の着脱により、
機能固定形と機能可変形を切り換えることができる。
る。図1は本発明の一実施例を示すブロック図、図2は
その外観の一例を示す構成説明図である。図において、
1は測定信号の入力端子であり、入力信号処理部2に接
続されている。入力信号処理部2は測定信号をデジタル
値に変換する機能を有するものであり、通常は測定信号
としてアナログ信号が入力されるのでA/D変換器が設
けられている。3はマイクロプロセッサである。4は通
信入力端子であり、RS232CやGP−IBなどの通
信インタフェース5を介してマイクロプロセッサ3に接
続されている。6はマンマシーンインタフェースとして
測定装置本体に設けられている設定パネル、7は同じく
測定装置本体に設けられている第1の表示器である。8
は第2の表示器であり、コネクタ9,10を介して測定
装置本体に着脱される。ここで、第1の表示器7として
は例えば表示が2桁のものを用い、第2の表示器8とし
ては表示が11桁のものを用いる。11はリードオンリ
メモリであり、機種毎に必要な複数種類の機能を実行す
るための複数種類のプログラムが格納されている。この
他、リードオンリメモリ11には、必要に応じて、印字
パターンデータや各種の固定パラメータ、機能を設定す
るためにプログラムに従って参照されるデータテーブル
なども格納される。12,13はそれぞれ測定条件設定
用のプログラムを格納するメモリであり、メモリ12に
は第1の表示器7を見ながら設定パネル6を操作して測
定条件を設定するためのプログラムが格納され、メモリ
13には第2の表示器8を見ながら設定パネル6を操作
して測定条件を設定するためのプログラムが格納され
る。なお、これらメモリ12,13としてはリードオン
リメモリ11の一部の領域を割り当ててもよい。14は
ランダムアクセスメモリであり、測定データを一時的に
格納するために設けられている。15は電源を切っても
書き込まれたデータが保持される不揮発メモリであり、
リードオンリメモリ11に格納されているプログラムを
選択するために機種毎に必要な機能を指定するデータ
や、各種の測定条件データなどが格納されている。これ
ら不揮発メモリ15に格納される各種のデータは、通信
インタフェース5を介して外部から書き込まれたり、ユ
ーザーの設定パネル操作により書き込まれる。16は測
定結果の出力部である。このような出力部16としては
例えばデジタルマルチメータの場合には多桁のデジタル
表示器を用い、記録計の場合にはペン書きやドット記録
を行う記録部を用いる。
が格納されたリードオンリメモリ11と機種毎に必要な
機能を指定するデータを書き込む前の状態で不揮発メモ
リ15が実装された状態で保管されていて、出荷にあた
って通信インタフェース5を介して通信入力端子4から
マイクロプロセッサ3に機能設定コマンドや測定条件な
どが入力される。
ンドが機能設定コマンドかどうかを判断し、機能設定コ
マンドの場合には不揮発メモリ15に機種毎に必要な機
能を指定するデータとして格納する。例として、測定装
置が仕様Aと仕様Bの2機種を選択できる場合を想定す
る。ここで、仕様Aは例えば入力が電圧で記録も電圧を
mVで表示する記録計とし、仕様Bは例えば入力が電圧
で記録は温度を表示する記録計とする。この場合、機能
設定コマンドの中に仕様Aまたは仕様Bを表すコードを
入れておく。このコードは機種毎に必要な機能を指定す
るデータとしては不揮発メモリ15に書き込まれ、電源
がオフになっても不揮発メモリ15に保持される。ここ
まではメーカーにおける動作であり、製品はこの状態で
ユーザーに対して出荷される。そして、ユーザーでの測
定にあたっては不揮発メモリ15から機種毎に必要な機
能を指定する仕様に応じたデータが読み出され、測定デ
ータに対してそれぞれの仕様に応じた処理が施されるこ
とになる。
ながら、通信インタフェース5を介して不揮発メモリ1
5に機種毎に必要な機能を指定するデータを書き込むこ
とにより予めリードオンリメモリ11に格納されている
プログラムの中から機種毎の機能に必要なプログラムが
選択されて実行され、ユーザーが要求する仕様の測定装
置を簡単に実現できる。
内蔵されている第1の表示器7や必要に応じて着脱され
る第2の表示器8の表示を見ながら設定パネル6を操作
することによって、測定条件を設定変更できる。すなわ
ち、例えば前述と同様にからまでの項目を設定する
例について説明すると、からの3項目については第
1の測定条件群として第2の表示器8を接続しなくても
メモリ12から読みだされるプログラムに従って設定パ
ネル6を操作することにより設定できるが、からの
4項目については第2の測定条件群として測定装置本体
が第2の表示器8が接続されたことを検出することによ
ってメモリ13から読みだされるプログラムに従って設
定パネル6を操作することにより設定できるように構成
されている。
すフローチャートである。測定条件の設定処理にあたっ
ては、まず、第2の表示器8の接続の有無を判断する
(ステップ)。第2の表示器8が接続されていない場
合にはプログラムメモリ1(メモリ12)をアクセスし
(ステップ)、第2の表示器8が接続されている場合
にはプログラムメモリ2(メモリ13)をアクセスする
(ステップ)。そして、プログラムメモリ1から例え
ば2桁の第1の表示器7の表示を見ながら第1の測定条
件群を設定するためのプログラムが読みだされ、プログ
ラムメモリ2から例えば11桁の第2の表示器8の表示
を見ながら第1の測定条件群を設定するためのプログラ
ムが読みだされる。その後、これら選択的に読みだされ
るいずれかのプログラムに従って第1の測定条件が設定
される(ステップ)。なお、これら第1の測定条件は
不揮発メモリ15に格納される。
第2の表示器8の接続の有無を判断する(ステップ
)。第2の表示器8が接続されていない場合には第2
の測定条件の設定は予定されていないことになり、測定
条件設定処理を終了する。第2の表示器8が接続されて
いる場合には再びプログラムメモリ2をアクセスする
(ステップ)。これにより、プログラムメモリ2から
例えば11桁の第2の表示器8の表示を見ながら第2の
測定条件群を設定するためのプログラムが読みだされ
る。そして、プログラムメモリ2から読みだされるプロ
グラムに従って第2の測定条件群が設定される(ステッ
プ)。なお、第2の測定条件も不揮発メモリ15に格
納される。
がら設定パネル6を操作して測定条件を設定する具体例
の説明図である。図において、表示器7の左の桁aは設
定対象の数字の桁番号を表し(表示例では1桁目)、小
数点の点灯は桁番号表示状態を表している。表示器7の
右の桁bは左の桁aが表示している桁における設定数値
(表示例では5)を表している。設定パネル6の上向き
三角が付されたキーaは表示器7の右桁bの表示値を増
加(0→1→2…9→0)させるときに押し下げられ、
設定パネル6の下向き三角が付されたキーbは表示器7
の右桁bの表示値を減少(0→9→8…9→0)させる
ときに押し下げられ、右向き三角が付されたキーcは表
示器7の左桁aの桁番号を減少(1→5→4…1→5)
させるときに押し下げられる。
る。まず、表示器7の左の桁aの桁番号表示値を変更し
て桁を移動させるかどうかを判断する(ステップ)。
桁番号表示値が所望の値になっている場合には表示器7
の右桁bに表示されているその桁位置の数値を増減させ
る操作処理を行い(ステップ)、桁番号表示値が所望
の値でない場合には桁位置の移動操作処理を行う(ステ
ップ)。これらの操作処理を変更したい桁の全てにつ
いて実行した時点で一連の設定を終了する(ステップ
)。
ら少なくとも3つの操作キーで5桁の設定値の変更が行
える。図6は図2の測定装置本体における第2の表示器
8の取付け例図である。図6の例では、第2の表示器8
はフック17を介してドア18の上部に着脱自在に縣架
されている。
ック17の主平面は第2の表示器8の背面に取り付けら
れ、フック17の上部19はドア18の上部を挟むよう
にコ字形に折り曲げ形成され、フック17の下部20は
第2の表示器8が矢印Aの方向に倒れ込まないようにす
るための位置決め部材として端部がドア18の裏面に当
たるようにL字形に折り曲げ形成されている。また、こ
のフック17の下部20の側辺は、第2の表示器8がフ
ック17を介してドア18の上部に縣架された状態で矢
印Bの方向にスライドした場合にドア18の側面21の
内壁に当たって第2の表示器8の脱落を防止するストッ
パとしても機能する。
2個以上であってもよい。また、本発明は記録計に限る
ものではなく、各種の測定装置にも適用可能である。こ
のような構成にすることにより、測定装置本体の構成を
比較的簡略化でき、測定条件の設定変更が必要な場合に
のみ第2の表示器を接続すればよいので複数台の測定装
置に対しても1台の第2の表示器があればよく、全体と
してもコストを下げることができる。
通常の使用状態では機能固定形として動作するが、必要
に応じて機能可変形として動作させることができる測定
装置を実現できる。
る。
ルを操作して測定条件を設定する具体例の説明図であ
る。
明図である。
Claims (1)
- 【請求項1】マイクロプロセッサにより制御され、表示
器の表示を見ながら設定パネルを操作して測定条件を設
定するように構成された測定装置において、 測定装置本体に内蔵された設定パネルと、 測定装置本体に内蔵された第1の表示器と、 測定装置本体に着脱可能な第2の表示器と、 第2の表示器の着脱に連動して選択的に読みだされる測
定条件設定用のプログラムを格納するメモリ、を設けた
ことを特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5278021A JP3070651B2 (ja) | 1993-11-08 | 1993-11-08 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5278021A JP3070651B2 (ja) | 1993-11-08 | 1993-11-08 | 測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07128094A JPH07128094A (ja) | 1995-05-19 |
JP3070651B2 true JP3070651B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=17591547
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5278021A Expired - Fee Related JP3070651B2 (ja) | 1993-11-08 | 1993-11-08 | 測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3070651B2 (ja) |
-
1993
- 1993-11-08 JP JP5278021A patent/JP3070651B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07128094A (ja) | 1995-05-19 |
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