JP3070039B2 - Ａｔｍ交換機およびａｔｍ網の試験システム - Google Patents
Ａｔｍ交換機およびａｔｍ網の試験システムInfo
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- JP3070039B2 JP3070039B2 JP5182706A JP18270693A JP3070039B2 JP 3070039 B2 JP3070039 B2 JP 3070039B2 JP 5182706 A JP5182706 A JP 5182706A JP 18270693 A JP18270693 A JP 18270693A JP 3070039 B2 JP3070039 B2 JP 3070039B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、非同期転送モード（Ａ
ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ ＴｒａｎｓｆｅｒＭｏｄｅ、
以下、ＡＴＭと記載）での転送を行なうＡＴＭ交換機お
よびＡＴＭ網の試験システムに係わり、特に、現用系と
予備系に冗長化されたＡＴＭ交換機およびＡＴＭ網の試
験を効率良く行なうのに好適なＡＴＭ交換機およびＡＴ
Ｍ網の試験システムに関するものである。
ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ ＴｒａｎｓｆｅｒＭｏｄｅ、
以下、ＡＴＭと記載）での転送を行なうＡＴＭ交換機お
よびＡＴＭ網の試験システムに係わり、特に、現用系と
予備系に冗長化されたＡＴＭ交換機およびＡＴＭ網の試
験を効率良く行なうのに好適なＡＴＭ交換機およびＡＴ
Ｍ網の試験システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】広帯域ＩＳＤＮ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ
Ｓｅｒｖｉｃｅｓ ＤｉｇｉｔａｌＮｅｔｗｏｒｋ、
サービス総合ディジタル通信網）においては、例えば、
「日経コミュニケーション別冊 ＩＳＤＮ活用の手引
き」（１９８８年、日経ＢＰ社発行）の第１６８頁から
第１７７頁に記載のように、ＡＴＭによる情報の転送技
術が提案されている。このＡＴＭでは、情報を４８バイ
ト長（４８×８ビット）に区切り、５バイトのヘッダを
付加して合計５３バイトのＡＴＭフォーマットにしてセ
ル化し、ＡＴＭ交換機で、このセルのヘッダを元に、情
報の多重化、識別、分配、および、ルーティング等を行
なう。ＡＴＭ交換機には、このような情報の多重化や、
識別、分配、および、ルーティング等のセルの転送を行
なう各機能ブロックが、現用系と予備系に冗長化して設
けられ、現用系の障害時に、予備系に切り替えて、セル
の伝送を行なう。
Ｓｅｒｖｉｃｅｓ ＤｉｇｉｔａｌＮｅｔｗｏｒｋ、
サービス総合ディジタル通信網）においては、例えば、
「日経コミュニケーション別冊 ＩＳＤＮ活用の手引
き」（１９８８年、日経ＢＰ社発行）の第１６８頁から
第１７７頁に記載のように、ＡＴＭによる情報の転送技
術が提案されている。このＡＴＭでは、情報を４８バイ
ト長（４８×８ビット）に区切り、５バイトのヘッダを
付加して合計５３バイトのＡＴＭフォーマットにしてセ
ル化し、ＡＴＭ交換機で、このセルのヘッダを元に、情
報の多重化、識別、分配、および、ルーティング等を行
なう。ＡＴＭ交換機には、このような情報の多重化や、
識別、分配、および、ルーティング等のセルの転送を行
なう各機能ブロックが、現用系と予備系に冗長化して設
けられ、現用系の障害時に、予備系に切り替えて、セル
の伝送を行なう。
【０００３】図１０は、従来の冗長化されたＡＴＭ交換
機の構成例とその動作を示す説明図である。本例は、従
来の一般的なＡＴＭ交換機内の各機能ブロック間の接続
構成を示しており、ＡＴＭ交換機を構成する機能ブロッ
ク（図中、Ａ＃０、Ａ＃１、Ｂ＃０、Ｂ＃１、Ｃ＃０、
Ｃ＃１と記載）１〜６は、それぞれ冗長化されており、
各機能ブロック１〜６間には、系交絡２０、２１が配備
されている。この系交絡２０、２１は、上流の機能ブロ
ックの各系から、両系の下流側の機能ブロックへ、セル
を転送するための分配部（図中、Ｄと記載）３０〜３３
と、両系の上流機能ブロックから転送されるセルのう
ち、任意の１つから入力されるセルを選択する（パス設
定）ための交絡セレクタ（図中、Ｓと記載）５０〜５３
および系選択指示回路７０、７１から構成されている。
系選択指示回路７０、７１は、各上流の機能ブロック１
〜４の系切り替えに伴い、下流側の機能ブロック３〜６
の各系が、上流側の機能ブロックの同一の系からのセル
流を選択するように、それぞれ、交絡セレクタ５０〜５
３を制御する。すなわち、情報データの流れに注目した
場合の下流側の機能ブロックは、現用系および予備系共
に、系交絡２０、２１を介して、同一系の上流側の機能
ブロックを選択する機構になっている。
機の構成例とその動作を示す説明図である。本例は、従
来の一般的なＡＴＭ交換機内の各機能ブロック間の接続
構成を示しており、ＡＴＭ交換機を構成する機能ブロッ
ク（図中、Ａ＃０、Ａ＃１、Ｂ＃０、Ｂ＃１、Ｃ＃０、
Ｃ＃１と記載）１〜６は、それぞれ冗長化されており、
各機能ブロック１〜６間には、系交絡２０、２１が配備
されている。この系交絡２０、２１は、上流の機能ブロ
ックの各系から、両系の下流側の機能ブロックへ、セル
を転送するための分配部（図中、Ｄと記載）３０〜３３
と、両系の上流機能ブロックから転送されるセルのう
ち、任意の１つから入力されるセルを選択する（パス設
定）ための交絡セレクタ（図中、Ｓと記載）５０〜５３
および系選択指示回路７０、７１から構成されている。
系選択指示回路７０、７１は、各上流の機能ブロック１
〜４の系切り替えに伴い、下流側の機能ブロック３〜６
の各系が、上流側の機能ブロックの同一の系からのセル
流を選択するように、それぞれ、交絡セレクタ５０〜５
３を制御する。すなわち、情報データの流れに注目した
場合の下流側の機能ブロックは、現用系および予備系共
に、系交絡２０、２１を介して、同一系の上流側の機能
ブロックを選択する機構になっている。
【０００４】ここで、例えば、機能ブロック１、２に対
して試験セルを挿入し、機能ブロック５、６から試験セ
ルを取り出し、その間の導通状態の正常性を試験する試
験回路２００を設置した場合を考える。この場合、現用
系の機能ブロック１、３、５は、相互に接続されている
ため、導通試験が可能であるが、予備系の機能ブロック
２、４、６については、相互に接続されておらず、シス
テムの運用中には、導通状態の正常性を検証することが
できない。あるいは、系を切り替えて試験を行なうこと
が必要である。また、試験回路２００を直接接続できな
いＰＫＧの増設などを行なった場合にも、予備系の機能
ブロック同士の接続ができないため、サービスの中断な
しに、この増設ＰＫＧについてのセル導通試験を行なう
ことができない。
して試験セルを挿入し、機能ブロック５、６から試験セ
ルを取り出し、その間の導通状態の正常性を試験する試
験回路２００を設置した場合を考える。この場合、現用
系の機能ブロック１、３、５は、相互に接続されている
ため、導通試験が可能であるが、予備系の機能ブロック
２、４、６については、相互に接続されておらず、シス
テムの運用中には、導通状態の正常性を検証することが
できない。あるいは、系を切り替えて試験を行なうこと
が必要である。また、試験回路２００を直接接続できな
いＰＫＧの増設などを行なった場合にも、予備系の機能
ブロック同士の接続ができないため、サービスの中断な
しに、この増設ＰＫＧについてのセル導通試験を行なう
ことができない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、従来の技術では、冗長化されたＡＴＭ交換機内の
予備系の各機能ブロックのセル導通性などの試験や、試
験回路を直接接続できない増設ＰＫＧの試験を、システ
ムの運用中に行なうことができない点である。本発明の
目的は、これら従来技術の課題を解決し、運用中のサー
ビスを中断することなく現用系および予備系のセル導通
試験や保守試験等を可能とし、予備系に潜在化していた
故障の早期検出による障害発生の防止や、運用中の現用
系でのユーザからのクレームに対する詳細な検証試験に
よる迅速かつ詳細な原因解析を行なうことができるＡＴ
Ｍ交換機およびＡＴＭ網の試験システムを提供すること
である。
点は、従来の技術では、冗長化されたＡＴＭ交換機内の
予備系の各機能ブロックのセル導通性などの試験や、試
験回路を直接接続できない増設ＰＫＧの試験を、システ
ムの運用中に行なうことができない点である。本発明の
目的は、これら従来技術の課題を解決し、運用中のサー
ビスを中断することなく現用系および予備系のセル導通
試験や保守試験等を可能とし、予備系に潜在化していた
故障の早期検出による障害発生の防止や、運用中の現用
系でのユーザからのクレームに対する詳細な検証試験に
よる迅速かつ詳細な原因解析を行なうことができるＡＴ
Ｍ交換機およびＡＴＭ網の試験システムを提供すること
である。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のＡＴＭ交換機の試験システムは、現用系と
予備系に冗長化され、セルの転送を行なう複数の機能ブ
ロックと、各々の機能ブロック間のパス設定を行なう複
数の系交絡とを有するＡＴＭ交換機の試験システムであ
り、現用系の最上流の機能ブロックと予備系の最下流の
機能ブロックとに接続され、現用系の最上流の機能ブロ
ックと予備系の最下流の機能ブロック間のセル導通試験
を行なう試験回路と、系交絡を制御して、現用系のパス
とは独立に、上流の現用系の機能ブロックから下流の予
備系の機能ブロックへのパスを設定させると共に、試験
回路による試験毎に、予備系の最下流の機能ブロック側
から順次に、パスの上流側を現用系から予備系に切り替
えさせる系交絡制御部とを設け、現用系でのサービス提
供中に、現用系の最上流の機能ブロックと予備系の最下
流の機能ブロック間の現用系から予備系への交絡ルート
の試験を行なうことを特徴とする。また、本発明のＡＴ
Ｍ網の試験システムは、上述の複数のＡＴＭ交換機間、
もしくは、このＡＴＭ交換機と同様の現用系と予備系の
冗長構成を持つ複数の伝送装置間を、現用系と予備系の
伝送媒体で接続し、複数のＡＴＭ交換機もしくは伝送装
置間にまたがるＡＴＭ網の現用系から予備系への交絡ル
ートのセル導通状態の正常性の試験を、現用系でのサー
ビス提供中に行なうことを特徴とする。また、現用系と
予備系に冗長化され、セルの転送を行なう複数の機能ブ
ロックと、各々の機能ブロック間のパス設定を行なう複
数の系交絡と、この系交絡を制御して、現用系のパスと
は独立に、予備系の各機能ブロック間のパスを設定させ
る系交絡制御部と、この系交絡制御部の制御に基づきパ
ス設定された予備系のセル導通試験を行なう試験回路と
を有し、現用系でのサービス提供中に予備系の試験を行
なう複数のＡＴＭ交換機間、もしくは、このＡＴＭ交換
機と同様の現用系と予備系の冗長構成を持つ複数の伝送
装置間を、現用系と予備系の伝送媒体で接続し、複数の
ＡＴＭ交換機もしくは伝送装置間にまたがるＡＴＭ網の
予備系でのセル導通状態の正常性の試験を、現用系での
サービス提供中に行なうことを特徴とする。 また、この
ＡＴＭ網の試験システムにおいて、複数のＡＴＭ交換機
もしくは伝送装置間にまたがる現用系と予備系のそれぞ
れに、セルの導通試験を行なう網試験回路を個別に設
け、複数のＡＴＭ交換機もしくは伝送装置間にまたがる
ＡＴＭ網のセル導通試験を、現用系と予備系で独立に行
なうことを特徴とする。
め、本発明のＡＴＭ交換機の試験システムは、現用系と
予備系に冗長化され、セルの転送を行なう複数の機能ブ
ロックと、各々の機能ブロック間のパス設定を行なう複
数の系交絡とを有するＡＴＭ交換機の試験システムであ
り、現用系の最上流の機能ブロックと予備系の最下流の
機能ブロックとに接続され、現用系の最上流の機能ブロ
ックと予備系の最下流の機能ブロック間のセル導通試験
を行なう試験回路と、系交絡を制御して、現用系のパス
とは独立に、上流の現用系の機能ブロックから下流の予
備系の機能ブロックへのパスを設定させると共に、試験
回路による試験毎に、予備系の最下流の機能ブロック側
から順次に、パスの上流側を現用系から予備系に切り替
えさせる系交絡制御部とを設け、現用系でのサービス提
供中に、現用系の最上流の機能ブロックと予備系の最下
流の機能ブロック間の現用系から予備系への交絡ルート
の試験を行なうことを特徴とする。また、本発明のＡＴ
Ｍ網の試験システムは、上述の複数のＡＴＭ交換機間、
もしくは、このＡＴＭ交換機と同様の現用系と予備系の
冗長構成を持つ複数の伝送装置間を、現用系と予備系の
伝送媒体で接続し、複数のＡＴＭ交換機もしくは伝送装
置間にまたがるＡＴＭ網の現用系から予備系への交絡ル
ートのセル導通状態の正常性の試験を、現用系でのサー
ビス提供中に行なうことを特徴とする。また、現用系と
予備系に冗長化され、セルの転送を行なう複数の機能ブ
ロックと、各々の機能ブロック間のパス設定を行なう複
数の系交絡と、この系交絡を制御して、現用系のパスと
は独立に、予備系の各機能ブロック間のパスを設定させ
る系交絡制御部と、この系交絡制御部の制御に基づきパ
ス設定された予備系のセル導通試験を行なう試験回路と
を有し、現用系でのサービス提供中に予備系の試験を行
なう複数のＡＴＭ交換機間、もしくは、このＡＴＭ交換
機と同様の現用系と予備系の冗長構成を持つ複数の伝送
装置間を、現用系と予備系の伝送媒体で接続し、複数の
ＡＴＭ交換機もしくは伝送装置間にまたがるＡＴＭ網の
予備系でのセル導通状態の正常性の試験を、現用系での
サービス提供中に行なうことを特徴とする。 また、この
ＡＴＭ網の試験システムにおいて、複数のＡＴＭ交換機
もしくは伝送装置間にまたがる現用系と予備系のそれぞ
れに、セルの導通試験を行なう網試験回路を個別に設
け、複数のＡＴＭ交換機もしくは伝送装置間にまたがる
ＡＴＭ網のセル導通試験を、現用系と予備系で独立に行
なうことを特徴とする。
【０００７】
【０００８】
【０００９】
【作用】本発明においては、 系交絡制御部の系交絡への
制御により、試験回路のセル出力部を現用系の最上流の
機能ブロックに、また、試験回路のセル受信部を予備系
の最下流の機能ブロックに接続し、そして、この予備系
の最下流の機能ブロックを上流の現用系の機能ブロック
に接続し、この接続状態で、機能ブロック間の導通試験
を行なう。その後、予備系の最下流の機能ブロックの上
流側の接続先を、同じ予備系の機能ブロックに切り替
え、この予備系の機能ブロックを、上流の現用系の機能
ブロックに接続して、試験を行なう。このようにして、
順次、予備系の機能ブロックの上流側の接続先を、現用
系から予備系に切り替えて試験を行なうことにより、現
用系から予備系への全ての交絡ルートの正常性の試験を
行なうことができる。尚、この場合、主情報を、現用系
および予備系の双方の機能ブロック内で転送することが
できる。
制御により、試験回路のセル出力部を現用系の最上流の
機能ブロックに、また、試験回路のセル受信部を予備系
の最下流の機能ブロックに接続し、そして、この予備系
の最下流の機能ブロックを上流の現用系の機能ブロック
に接続し、この接続状態で、機能ブロック間の導通試験
を行なう。その後、予備系の最下流の機能ブロックの上
流側の接続先を、同じ予備系の機能ブロックに切り替
え、この予備系の機能ブロックを、上流の現用系の機能
ブロックに接続して、試験を行なう。このようにして、
順次、予備系の機能ブロックの上流側の接続先を、現用
系から予備系に切り替えて試験を行なうことにより、現
用系から予備系への全ての交絡ルートの正常性の試験を
行なうことができる。尚、この場合、主情報を、現用系
および予備系の双方の機能ブロック内で転送することが
できる。
【００１０】
【００１１】
【００１２】また、複数のこのようなＡＴＭ交換機、も
しくは、このＡＴＭ交換機と同様な冗長構成の複数の伝
送装置で通信網を構成することにより、ＡＴＭ網内にお
ける現用系と予備系を交差させて各種の試験を行なうこ
とができる。また、系交絡制御部の系交絡への制御によ
り、サービス提供のための現用系とは別に、予備系の機
能ブロック同士を連結した試験系を構成し、この試験系
に試験回路を接続して予備系の各機能ブロックのセル転
送の正常性試験を含む各種の試験を行なう複数のＡＴＭ
交換機間、もしくは、この交換機と同様な冗長構成の複
数の伝送装置間で通信網を構成することにより、ＡＴＭ
網内における予備系の各種の試験を現用系でのサービス
提供中に行なうことができる。また、複数のＡＴＭ交換
機もしくは伝送装置間にまたがる現用系と予備系のそれ
ぞれに、網試験回路を個別に設けることにより、ＡＴＭ
網内における現用系と予備系の各種の試験を、独立にま
たは同時に行なうことができる。
しくは、このＡＴＭ交換機と同様な冗長構成の複数の伝
送装置で通信網を構成することにより、ＡＴＭ網内にお
ける現用系と予備系を交差させて各種の試験を行なうこ
とができる。また、系交絡制御部の系交絡への制御によ
り、サービス提供のための現用系とは別に、予備系の機
能ブロック同士を連結した試験系を構成し、この試験系
に試験回路を接続して予備系の各機能ブロックのセル転
送の正常性試験を含む各種の試験を行なう複数のＡＴＭ
交換機間、もしくは、この交換機と同様な冗長構成の複
数の伝送装置間で通信網を構成することにより、ＡＴＭ
網内における予備系の各種の試験を現用系でのサービス
提供中に行なうことができる。また、複数のＡＴＭ交換
機もしくは伝送装置間にまたがる現用系と予備系のそれ
ぞれに、網試験回路を個別に設けることにより、ＡＴＭ
網内における現用系と予備系の各種の試験を、独立にま
たは同時に行なうことができる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面により詳細に
説明する。図１は、本発明のＡＴＭ網の試験システムに
係わるＡＴＭ交換機の試験システムの構成と動作例を示
す説明図である。本例では、ＡＴＭ交換機を構成する各
機能ブロック（図中、Ａ＃０、Ａ＃１、Ｂ＃０、Ｂ＃
１、Ｃ＃０、Ｃ＃１と記載）１〜６は、それぞれ現用系
（機能ブロック１、３、５）と予備系（機能ブロック
２、４、６）に冗長化されており、各機能ブロック１〜
６間には、系交絡２０、２１が配備されている。この系
交絡２０、２１は、上流の機能ブロックの各系から、両
系の下流側の機能ブロックへ、ＡＴＭセルを転送するた
めの分配部（図中、Ｄと記載）３０〜３３と、両系の上
流装置から転送されるセルのうち、任意の１つから入力
されるセルを選択するための交絡セレクタ（図中、Ｓと
記載）５０〜５３および系選択指示回路７０、７１、そ
して、本発明の第１の系交絡制御部としての制御を行な
う個別系選択指示回路１００〜１０３から構成されてい
る。
説明する。図１は、本発明のＡＴＭ網の試験システムに
係わるＡＴＭ交換機の試験システムの構成と動作例を示
す説明図である。本例では、ＡＴＭ交換機を構成する各
機能ブロック（図中、Ａ＃０、Ａ＃１、Ｂ＃０、Ｂ＃
１、Ｃ＃０、Ｃ＃１と記載）１〜６は、それぞれ現用系
（機能ブロック１、３、５）と予備系（機能ブロック
２、４、６）に冗長化されており、各機能ブロック１〜
６間には、系交絡２０、２１が配備されている。この系
交絡２０、２１は、上流の機能ブロックの各系から、両
系の下流側の機能ブロックへ、ＡＴＭセルを転送するた
めの分配部（図中、Ｄと記載）３０〜３３と、両系の上
流装置から転送されるセルのうち、任意の１つから入力
されるセルを選択するための交絡セレクタ（図中、Ｓと
記載）５０〜５３および系選択指示回路７０、７１、そ
して、本発明の第１の系交絡制御部としての制御を行な
う個別系選択指示回路１００〜１０３から構成されてい
る。
【００１４】系選択指示回路７０、７１は、上流の機能
ブロックの系切り替えに伴い、下流側の機能ブロックの
各系が、上流側の機能ブロックの同一の系からのセル流
を選択するように、それぞれ、交絡セレクタ５０〜５３
を制御する。本発明に係わる個別系選択指示回路１００
〜１０３は、各系の対応する交絡セレクタ５０〜５３に
対し、個別系選択イネーブル状態信号と系指定信号を送
出する。各交絡セレクタ５０〜５３は、個別系選択イネ
ーブル状態信号が、ディセーブル状態のときは、系選択
指示回路７０、７１により指示される系を選択し、ま
た、個別系選択イネーブル状態信号がイネーブル状態の
時は、上流側の個別系選択指示回路１００〜１０３によ
り指示される系を、優先的に選択する。このようにし
て、現用系および予備系の各交絡セレクタ５０〜５３
は、通常時は、現用の上流側の機能ブロックを選択し、
必要に応じて、個別に予備系の上流側の機能ブロックを
選択することができる。
ブロックの系切り替えに伴い、下流側の機能ブロックの
各系が、上流側の機能ブロックの同一の系からのセル流
を選択するように、それぞれ、交絡セレクタ５０〜５３
を制御する。本発明に係わる個別系選択指示回路１００
〜１０３は、各系の対応する交絡セレクタ５０〜５３に
対し、個別系選択イネーブル状態信号と系指定信号を送
出する。各交絡セレクタ５０〜５３は、個別系選択イネ
ーブル状態信号が、ディセーブル状態のときは、系選択
指示回路７０、７１により指示される系を選択し、ま
た、個別系選択イネーブル状態信号がイネーブル状態の
時は、上流側の個別系選択指示回路１００〜１０３によ
り指示される系を、優先的に選択する。このようにし
て、現用系および予備系の各交絡セレクタ５０〜５３
は、通常時は、現用の上流側の機能ブロックを選択し、
必要に応じて、個別に予備系の上流側の機能ブロックを
選択することができる。
【００１５】本例では、現用系の機能ブロック３、５の
交絡セレクタ５０、５２は、系選択指示回路７０、７１
の示す現用系機能ブロック１、３を選択しており、ま
た、予備系の機能ブロック４、６の交絡セレクタ５１、
５３は、個別系選択イネーブル状態になっている上流側
の個別系選択指示回路１０１、１０３の示す予備系の機
能ブロック２、４を選択している。さらに、予備系の機
能ブロック２、６には、試験回路２００が接続されてお
り、現用系でのサービス提供状態とは独立に、複数の予
備系の機能ブロック２、４、６内、および、それら機能
ブロック２、４、６相互間の接続部のセル導通状態の正
常性の試験を行なうことができる。尚、本例では、各機
能ブロックの「＃０」系が現用系である場合を例とした
が、任意の系が現用系であっても良く、その一例とし
て、機能ブロック１、５の０系および機能ブロック４の
１系が現用系である場合の例を、次の図２に示す。
交絡セレクタ５０、５２は、系選択指示回路７０、７１
の示す現用系機能ブロック１、３を選択しており、ま
た、予備系の機能ブロック４、６の交絡セレクタ５１、
５３は、個別系選択イネーブル状態になっている上流側
の個別系選択指示回路１０１、１０３の示す予備系の機
能ブロック２、４を選択している。さらに、予備系の機
能ブロック２、６には、試験回路２００が接続されてお
り、現用系でのサービス提供状態とは独立に、複数の予
備系の機能ブロック２、４、６内、および、それら機能
ブロック２、４、６相互間の接続部のセル導通状態の正
常性の試験を行なうことができる。尚、本例では、各機
能ブロックの「＃０」系が現用系である場合を例とした
が、任意の系が現用系であっても良く、その一例とし
て、機能ブロック１、５の０系および機能ブロック４の
１系が現用系である場合の例を、次の図２に示す。
【００１６】図２は、図１におけるＡＴＭ交換機の試験
システムの他の構成例および動作例を示す説明図であ
る。本例のＡＴＭ交換機では、現用系の機能ブロック
４、５の交絡セレクタ５１、５２は、系選択指示回路７
０、７１が示す現用系の機能ブロック１、４を選択して
おり、予備系の機能ブロック３、６の交絡セレクタ５
０、５３は、個別系選択イネーブル状態になっている上
流側の個別系選択指示回路１００、１０３が示す予備系
の機能ブロック２、３を選択している。
システムの他の構成例および動作例を示す説明図であ
る。本例のＡＴＭ交換機では、現用系の機能ブロック
４、５の交絡セレクタ５１、５２は、系選択指示回路７
０、７１が示す現用系の機能ブロック１、４を選択して
おり、予備系の機能ブロック３、６の交絡セレクタ５
０、５３は、個別系選択イネーブル状態になっている上
流側の個別系選択指示回路１００、１０３が示す予備系
の機能ブロック２、３を選択している。
【００１７】図３は、本発明のＡＴＭ網の試験システム
に係わるＡＴＭ交換機の試験システムの他の構成と動作
例を示す説明図である。本例と、図１、２における例と
の相違は、ＡＴＭ交換機に配備された試験回路２００、
２０１が冗長されている点である。本例においては、現
用系の機能ブロック１、５には、現用系の試験回路２０
１を接続し、また、予備系の機能ブロック２、６には、
予備系の試験回路２００を接続し、各交絡セレクタ５０
〜５３の動作を、図１で示した状態と同一にすることに
より、各機能ブロック１〜６内、および、それら相互間
の接続部のセル導通状態の正常性の試験を、現用系と予
備系について独立または同時に行なうことができる。
に係わるＡＴＭ交換機の試験システムの他の構成と動作
例を示す説明図である。本例と、図１、２における例と
の相違は、ＡＴＭ交換機に配備された試験回路２００、
２０１が冗長されている点である。本例においては、現
用系の機能ブロック１、５には、現用系の試験回路２０
１を接続し、また、予備系の機能ブロック２、６には、
予備系の試験回路２００を接続し、各交絡セレクタ５０
〜５３の動作を、図１で示した状態と同一にすることに
より、各機能ブロック１〜６内、および、それら相互間
の接続部のセル導通状態の正常性の試験を、現用系と予
備系について独立または同時に行なうことができる。
【００１８】図４は、本発明のＡＴＭ網の試験システム
の本発明に係わる構成と動作の第１の実施例を示す説明
図である。本例のＡＴＭ網は、図１に示した構成を有す
る交換機または伝送装置４０、４１間を、現用系および
予備系の伝送路１５０、１５１で接続することにより構
成されている。本図において、交換機または伝送装置４
０、４１内の各予備系機能ブロック４、６、１０、１２
用の交絡セレクタ５１、５３、５５、５７は、個別系選
択イネーブル状態になっている上流側の個別系選択指示
回路１０１、１０３、１０５、１０７の示す予備系の各
機能ブロック２、４、８、１０を選択している。また、
試験回路２００、２０２は、本発明の網試験回路を構成
し、試験回路２００は、機能ブロック２に対して試験セ
ルを発生し、試験回路２０２は、機能ブロック１２から
受信する試験セルの検査を行なう。
の本発明に係わる構成と動作の第１の実施例を示す説明
図である。本例のＡＴＭ網は、図１に示した構成を有す
る交換機または伝送装置４０、４１間を、現用系および
予備系の伝送路１５０、１５１で接続することにより構
成されている。本図において、交換機または伝送装置４
０、４１内の各予備系機能ブロック４、６、１０、１２
用の交絡セレクタ５１、５３、５５、５７は、個別系選
択イネーブル状態になっている上流側の個別系選択指示
回路１０１、１０３、１０５、１０７の示す予備系の各
機能ブロック２、４、８、１０を選択している。また、
試験回路２００、２０２は、本発明の網試験回路を構成
し、試験回路２００は、機能ブロック２に対して試験セ
ルを発生し、試験回路２０２は、機能ブロック１２から
受信する試験セルの検査を行なう。
【００１９】このようにして、現用系でのサービス提供
状態とは独立に、交換機または伝送装置４０、４１にま
たがって、予備系の機能ブロック内およびそれら相互間
の接続部のセル導通状態の正常性の試験を行なうことが
できる。尚、本例では、図１で示した構成のＡＴＭ交換
機間を伝送路１５０、１５１で接続したＡＴＭ網を用い
ているが、図２、図３で示した構成のＡＴＭ交換機から
なるＡＴＭ網においても同様にして、予備系の試験を、
現用系のサービス提供中に行なうことができる。以下、
図５により、図３で示した構成のＡＴＭ交換機からなる
ＡＴＭ網における本発明に係わる動作説明を行なう。
状態とは独立に、交換機または伝送装置４０、４１にま
たがって、予備系の機能ブロック内およびそれら相互間
の接続部のセル導通状態の正常性の試験を行なうことが
できる。尚、本例では、図１で示した構成のＡＴＭ交換
機間を伝送路１５０、１５１で接続したＡＴＭ網を用い
ているが、図２、図３で示した構成のＡＴＭ交換機から
なるＡＴＭ網においても同様にして、予備系の試験を、
現用系のサービス提供中に行なうことができる。以下、
図５により、図３で示した構成のＡＴＭ交換機からなる
ＡＴＭ網における本発明に係わる動作説明を行なう。
【００２０】図５は、本発明のＡＴＭ網の試験システム
の本発明に係わる構成と動作の第２の実施例を示す説明
図である。図４における第１の実施例との相違は、ＡＴ
Ｍ交換機または伝送装置４０ａ、４１ａに配備された本
発明の網試験回路を構成する試験回路２００、２０１、
２０２、２０３が冗長化されている点である。本図５に
おいて、現用系の機能ブロック１、１１には、現用系の
試験回路２０１、２０３を接続し、また、予備系の機能
ブロック２、１２には、予備系の試験回路２００、２０
２を接続し、各交絡セレクタの動作を図３で示した状態
と同一にすることにより、ＡＴＭ交換機または伝送装置
４０ａ、４１ａ間にまたがって各機能ブロック内および
それら相互間の接続部のセル導通状態の正常性の試験
を、現用系と予備系について独立または同時に行なう。
の本発明に係わる構成と動作の第２の実施例を示す説明
図である。図４における第１の実施例との相違は、ＡＴ
Ｍ交換機または伝送装置４０ａ、４１ａに配備された本
発明の網試験回路を構成する試験回路２００、２０１、
２０２、２０３が冗長化されている点である。本図５に
おいて、現用系の機能ブロック１、１１には、現用系の
試験回路２０１、２０３を接続し、また、予備系の機能
ブロック２、１２には、予備系の試験回路２００、２０
２を接続し、各交絡セレクタの動作を図３で示した状態
と同一にすることにより、ＡＴＭ交換機または伝送装置
４０ａ、４１ａ間にまたがって各機能ブロック内および
それら相互間の接続部のセル導通状態の正常性の試験
を、現用系と予備系について独立または同時に行なう。
【００２１】図６および図７は、本発明のＡＴＭ交換機
の試験システムの本発明に係わる構成と動作の第１、第
２の実施例を示す説明図である。本第１、第２の実施例
は、図１のＡＴＭ交換機における個別系選択指示回路１
００〜１０３とは異なる制御を行なう個別系選択指示回
路１００ａ〜１０３ａを、それぞれ設けたものである。
図６においては、試験回路２００のセル発生部を現用系
の機能ブロック１に接続し、また、試験回路２００のセ
ル受信部を予備系の機能ブロック６に接続し、そして、
予備系の機能ブロック４、６の交絡セレクタ５１、５３
は、系選択指示回路７０、７１の指示に従い、現用系の
機能ブロック１、３を選択した状態である。この状態
で、まず、機能ブロック間の導通試験を行ない、その次
に、個別系選択指示回路１０３ａをイネーブルにするこ
とにより、図７で示すように、交絡セレクタ５３に、予
備系の上流側機能ブロック４を選択するように切り替え
て試験を行なう。そして、その後、試験回路２００のセ
ル受信部に近い下流側の予備系の機能ブロックの交絡セ
レクタから、順次に、上流側の個別系選択指示回路をイ
ネーブルにすることにより、予備系の上流側の機能ブロ
ックを選択するように切り替えて試験を行ない、現用系
から予備系への全ての交絡ルートの正常性を試験する。
尚、本例においては、次の図８、図９と同様に、主情報
を、現用系および予備系の双方の機能ブロック内で転送
することができる。
の試験システムの本発明に係わる構成と動作の第１、第
２の実施例を示す説明図である。本第１、第２の実施例
は、図１のＡＴＭ交換機における個別系選択指示回路１
００〜１０３とは異なる制御を行なう個別系選択指示回
路１００ａ〜１０３ａを、それぞれ設けたものである。
図６においては、試験回路２００のセル発生部を現用系
の機能ブロック１に接続し、また、試験回路２００のセ
ル受信部を予備系の機能ブロック６に接続し、そして、
予備系の機能ブロック４、６の交絡セレクタ５１、５３
は、系選択指示回路７０、７１の指示に従い、現用系の
機能ブロック１、３を選択した状態である。この状態
で、まず、機能ブロック間の導通試験を行ない、その次
に、個別系選択指示回路１０３ａをイネーブルにするこ
とにより、図７で示すように、交絡セレクタ５３に、予
備系の上流側機能ブロック４を選択するように切り替え
て試験を行なう。そして、その後、試験回路２００のセ
ル受信部に近い下流側の予備系の機能ブロックの交絡セ
レクタから、順次に、上流側の個別系選択指示回路をイ
ネーブルにすることにより、予備系の上流側の機能ブロ
ックを選択するように切り替えて試験を行ない、現用系
から予備系への全ての交絡ルートの正常性を試験する。
尚、本例においては、次の図８、図９と同様に、主情報
を、現用系および予備系の双方の機能ブロック内で転送
することができる。
【００２２】図８は、本発明のＡＴＭ交換機の試験シス
テムの本発明に係わる詳細な構成と動作例を示す説明図
である。本例においては、ＡＴＭ交換機を構成するそれ
ぞれ冗長化された各機能ブロック（Ａ＃０、Ａ＃１、Ｂ
＃０、Ｂ＃１、Ｃ＃０、Ｃ＃１）１〜６間に、系交絡８
０、８１が配備されている。系交絡８０、８１は、上流
の機能ブロックの各系から、両系の下流側の機能ブロッ
クへ、セルを転送するための分配部（図中、Ｄと記載）
３０〜３３と、両系の上流の機能ブロックから転送され
てきたセルに対し、セルヘッダまたは情報フィールド内
の識別子により、主情報セルか予備系の試験セルかを識
別し、さらに、フィルタ指示回路１３０〜１３３の指示
により、これら各種セルを選択的に転送または廃棄する
セルフィルタ（図中、Ｆと記載）１１０〜１１７と、セ
ルフィルタ１１０〜１１７通過後の両系からのセルを多
重化して、下流へ転送する多重化回路（図中、Ｍと記
載）１２０〜１２３とにより構成されている。この系交
絡８０、８１により、フィルタ指示回路１３０〜１３３
の設定次第で、セル種別ごとに、各機能ブロック１〜６
の現用系と予備系の各系の転送可否を制御する。
テムの本発明に係わる詳細な構成と動作例を示す説明図
である。本例においては、ＡＴＭ交換機を構成するそれ
ぞれ冗長化された各機能ブロック（Ａ＃０、Ａ＃１、Ｂ
＃０、Ｂ＃１、Ｃ＃０、Ｃ＃１）１〜６間に、系交絡８
０、８１が配備されている。系交絡８０、８１は、上流
の機能ブロックの各系から、両系の下流側の機能ブロッ
クへ、セルを転送するための分配部（図中、Ｄと記載）
３０〜３３と、両系の上流の機能ブロックから転送され
てきたセルに対し、セルヘッダまたは情報フィールド内
の識別子により、主情報セルか予備系の試験セルかを識
別し、さらに、フィルタ指示回路１３０〜１３３の指示
により、これら各種セルを選択的に転送または廃棄する
セルフィルタ（図中、Ｆと記載）１１０〜１１７と、セ
ルフィルタ１１０〜１１７通過後の両系からのセルを多
重化して、下流へ転送する多重化回路（図中、Ｍと記
載）１２０〜１２３とにより構成されている。この系交
絡８０、８１により、フィルタ指示回路１３０〜１３３
の設定次第で、セル種別ごとに、各機能ブロック１〜６
の現用系と予備系の各系の転送可否を制御する。
【００２３】本図８に示す例では、予備系の機能ブロッ
ク２、６に試験回路２００を接続し、現用系の機能ブロ
ック１、３から現用系の機能ブロック３、５へのセル転
送ルート上のセルフィルタ１１０、１１４は全てのセル
を転送し、予備系の機能ブロック２、４から現用系の機
能ブロック３、５へのセル転送ルート上のフィルタ１１
１、１１５は全てのセルを廃棄し、また、現用系の機能
ブロック１、３から予備系の機能ブロック４、６へのセ
ル転送ルート上のフィルタ１１２、１１６は全てのセル
を転送し、そして、予備系の機能ブロック２、４から予
備系の機能ブロック４、６へのセル転送ルート上のフィ
ルタ１１３、１１７は予備系の試験セルのみを転送す
る。このことにより、主情報は現用系および予備系の双
方の機能ブロック１、３〜６内を転送され、同時に、予
備系の試験セルは、予備系の機能ブロック２、４、６内
を転送されて、予備系の機能ブロック２、４、６内およ
び相互間のセル導通の正常性の確認試験を行なうことが
できる。
ク２、６に試験回路２００を接続し、現用系の機能ブロ
ック１、３から現用系の機能ブロック３、５へのセル転
送ルート上のセルフィルタ１１０、１１４は全てのセル
を転送し、予備系の機能ブロック２、４から現用系の機
能ブロック３、５へのセル転送ルート上のフィルタ１１
１、１１５は全てのセルを廃棄し、また、現用系の機能
ブロック１、３から予備系の機能ブロック４、６へのセ
ル転送ルート上のフィルタ１１２、１１６は全てのセル
を転送し、そして、予備系の機能ブロック２、４から予
備系の機能ブロック４、６へのセル転送ルート上のフィ
ルタ１１３、１１７は予備系の試験セルのみを転送す
る。このことにより、主情報は現用系および予備系の双
方の機能ブロック１、３〜６内を転送され、同時に、予
備系の試験セルは、予備系の機能ブロック２、４、６内
を転送されて、予備系の機能ブロック２、４、６内およ
び相互間のセル導通の正常性の確認試験を行なうことが
できる。
【００２４】図９は、本発明のＡＴＭ交換機の試験シス
テムの本発明に係わる他の詳細な構成と動作例を示す説
明図である。本例においては、ＡＴＭ交換機を構成する
それぞれ冗長化された各機能ブロック（Ａ＃０、Ａ＃
１、Ｂ＃０、Ｂ＃１、Ｃ＃０、Ｃ＃１）１〜６間に、系
交絡８２、８３が配備されている。系交絡８２、８３
は、図８における系交絡８０、８１と同様に、上流の機
能ブロックの各系から、両系の下流側の機能ブロック
へ、セルを転送するための分配部（図中、Ｄと記載）３
０〜３３と、両系の上流の機能ブロックから転送される
セルに対し、セルヘッダまたは情報フィールド内の識別
子により、主情報セルと現用系試験セルおよび予備系の
試験セルを識別し、さらに、フィルタ指示回路１３０〜
１３３の指示により、これら各種セルを選択的に転送ま
たは廃棄するセルフィルタ（図中、Ｆと記載）１１０〜
１１７と、セルフィルタ１１０〜１１７通過後の両系か
らのセルを多重化して、下流へ転送する多重化回路（図
中、Ｍと記載）１２０〜１２３とにより構成されてい
る。この系交絡８２、８３により、フィルタ指示回路１
３０〜１３３の設定次第で、セル種別ごとに、各機能ブ
ロック１〜６の現用系と予備系の各系の転送可否を制御
する。
テムの本発明に係わる他の詳細な構成と動作例を示す説
明図である。本例においては、ＡＴＭ交換機を構成する
それぞれ冗長化された各機能ブロック（Ａ＃０、Ａ＃
１、Ｂ＃０、Ｂ＃１、Ｃ＃０、Ｃ＃１）１〜６間に、系
交絡８２、８３が配備されている。系交絡８２、８３
は、図８における系交絡８０、８１と同様に、上流の機
能ブロックの各系から、両系の下流側の機能ブロック
へ、セルを転送するための分配部（図中、Ｄと記載）３
０〜３３と、両系の上流の機能ブロックから転送される
セルに対し、セルヘッダまたは情報フィールド内の識別
子により、主情報セルと現用系試験セルおよび予備系の
試験セルを識別し、さらに、フィルタ指示回路１３０〜
１３３の指示により、これら各種セルを選択的に転送ま
たは廃棄するセルフィルタ（図中、Ｆと記載）１１０〜
１１７と、セルフィルタ１１０〜１１７通過後の両系か
らのセルを多重化して、下流へ転送する多重化回路（図
中、Ｍと記載）１２０〜１２３とにより構成されてい
る。この系交絡８２、８３により、フィルタ指示回路１
３０〜１３３の設定次第で、セル種別ごとに、各機能ブ
ロック１〜６の現用系と予備系の各系の転送可否を制御
する。
【００２５】本図９に示す例においては、現用系の機能
ブロック１、５に現用系の試験回路２０１を接続し、予
備系の機能ブロック２、６に予備系の試験回路２００を
接続する。そして、現用系の機能ブロック１、３から現
用系の機能ブロック３、５へのセル転送ルート上のセル
フィルタ１１０、１１４は全てのセルを転送し、予備系
の機能ブロック２、４から現用系の機能ブロック３、５
へのセル転送ルート上のセルフィルタ１１１、１１５は
全てのセルを廃棄し、また現用系の機能ブロック１、３
から予備系の機能ブロック４、６へのセル転送ルート上
のセルフィルタ１１２、１１６は主情報セルのみを転送
し、そして、予備系の機能ブロック２、４から予備系の
機能ブロック４、６へのセル転送ルート上のセルフィル
タ１１３、１１７は予備系の試験セルのみを転送する。
このことにより、主情報は、現用系および予備系の双方
の機能ブロック１〜６内を転送され、また、現用系の試
験セルは、現用系の各機能ブロック１、３、５間を転送
され、現用系の各機能ブロック１、３、５内および相互
間のセル導通の正常性の確認試験を行なうことができ
る。また同時に、予備系の試験セルは、予備系の各機能
ブロック２、４、６間を転送され、各機能ブロック２、
４、６内および相互間のセル導通の正常性の確認試験を
行なうことができる。
ブロック１、５に現用系の試験回路２０１を接続し、予
備系の機能ブロック２、６に予備系の試験回路２００を
接続する。そして、現用系の機能ブロック１、３から現
用系の機能ブロック３、５へのセル転送ルート上のセル
フィルタ１１０、１１４は全てのセルを転送し、予備系
の機能ブロック２、４から現用系の機能ブロック３、５
へのセル転送ルート上のセルフィルタ１１１、１１５は
全てのセルを廃棄し、また現用系の機能ブロック１、３
から予備系の機能ブロック４、６へのセル転送ルート上
のセルフィルタ１１２、１１６は主情報セルのみを転送
し、そして、予備系の機能ブロック２、４から予備系の
機能ブロック４、６へのセル転送ルート上のセルフィル
タ１１３、１１７は予備系の試験セルのみを転送する。
このことにより、主情報は、現用系および予備系の双方
の機能ブロック１〜６内を転送され、また、現用系の試
験セルは、現用系の各機能ブロック１、３、５間を転送
され、現用系の各機能ブロック１、３、５内および相互
間のセル導通の正常性の確認試験を行なうことができ
る。また同時に、予備系の試験セルは、予備系の各機能
ブロック２、４、６間を転送され、各機能ブロック２、
４、６内および相互間のセル導通の正常性の確認試験を
行なうことができる。
【００２６】以上、図１〜図９を用いて説明したよう
に、本実施例のＡＴＭ交換機およびＡＴＭ網の試験シス
テムでは、現用系のサービスを中断することなく、予備
系の各機能ブロック同士を接続して試験系を構成し、導
通試験を含む各種の試験を実施することができる。この
ことにより、現用系の運用中にも保守試験等を行ない、
従来は潜在化することが多かった予備系における故障を
早期に検出することができ、潜在障害を減少させること
ができる。また、運用中の現用系の機能ブロックに対す
るサービス上のクレームが、ユーザから生じたような場
合にも、当該する装置に対するＡＣＴチェンジを行な
い、現用系を予備系に状態遷移させて試験系を構成する
ことにより、運用中には実施することができないような
試験装置を用いた現用系の詳細な検証試験を行なうこと
ができ、ユーザクレームに対する迅速かつ詳細な原因解
析の実現が可能となる。さらに、試験回路を直接接続で
きないＰＫＧ増設時などに、試験回路の接続が可能な既
設の機能ブロックの予備系を利用した増設ＰＫＧのセル
導通状態の正常性試験が可能になる。
に、本実施例のＡＴＭ交換機およびＡＴＭ網の試験シス
テムでは、現用系のサービスを中断することなく、予備
系の各機能ブロック同士を接続して試験系を構成し、導
通試験を含む各種の試験を実施することができる。この
ことにより、現用系の運用中にも保守試験等を行ない、
従来は潜在化することが多かった予備系における故障を
早期に検出することができ、潜在障害を減少させること
ができる。また、運用中の現用系の機能ブロックに対す
るサービス上のクレームが、ユーザから生じたような場
合にも、当該する装置に対するＡＣＴチェンジを行な
い、現用系を予備系に状態遷移させて試験系を構成する
ことにより、運用中には実施することができないような
試験装置を用いた現用系の詳細な検証試験を行なうこと
ができ、ユーザクレームに対する迅速かつ詳細な原因解
析の実現が可能となる。さらに、試験回路を直接接続で
きないＰＫＧ増設時などに、試験回路の接続が可能な既
設の機能ブロックの予備系を利用した増設ＰＫＧのセル
導通状態の正常性試験が可能になる。
【００２７】尚、本発明は、図１〜図９を用いて説明し
た実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々変更可能である。例えば、本実施
例では、３つの機能ブロックから構成されるＡＴＭ交換
機を用いて説明しているが、これ以外の任意の数の機能
ブロックにより構成されるＡＴＭ交換機およびＡＴＭ網
に対しても、本発明は適用可能である。また、ＡＴＭ網
に関しても、本実施例では、図１〜図３で示す２つの交
換機または伝送装置から構成されるＡＴＭ網を用いて説
明しているが、図６〜図９で示す任意の数の交換機また
は伝送装置により構成されるＡＴＭ網に対しても、本発
明は適用可能である。
た実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々変更可能である。例えば、本実施
例では、３つの機能ブロックから構成されるＡＴＭ交換
機を用いて説明しているが、これ以外の任意の数の機能
ブロックにより構成されるＡＴＭ交換機およびＡＴＭ網
に対しても、本発明は適用可能である。また、ＡＴＭ網
に関しても、本実施例では、図１〜図３で示す２つの交
換機または伝送装置から構成されるＡＴＭ網を用いて説
明しているが、図６〜図９で示す任意の数の交換機また
は伝送装置により構成されるＡＴＭ網に対しても、本発
明は適用可能である。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、運用中のサービスを中
断することなく現用系および予備系のセル導通試験や保
守試験等を行なうことができ、予備系に潜在化している
故障の早期検出による障害発生の防止や、運用中の現用
系でのユーザからのクレームに対する詳細な検証試験に
よる迅速かつ詳細な原因解析などが可能となり、ＡＴＭ
交換機およびＡＴＭ網の信頼性と性能が向上する。
断することなく現用系および予備系のセル導通試験や保
守試験等を行なうことができ、予備系に潜在化している
故障の早期検出による障害発生の防止や、運用中の現用
系でのユーザからのクレームに対する詳細な検証試験に
よる迅速かつ詳細な原因解析などが可能となり、ＡＴＭ
交換機およびＡＴＭ網の信頼性と性能が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のＡＴＭ網の試験システムに係わるＡＴ
Ｍ交換機の試験システムの構成と動作例を示す説明図で
ある。
Ｍ交換機の試験システムの構成と動作例を示す説明図で
ある。
【図２】図１におけるＡＴＭ交換機の試験システムの他
の構成例および動作例を示す説明図である。
の構成例および動作例を示す説明図である。
【図３】本発明のＡＴＭ網の試験システムに係わるＡＴ
Ｍ交換機の試験システムの他の構成と動作例を示す説明
図である。
Ｍ交換機の試験システムの他の構成と動作例を示す説明
図である。
【図４】本発明のＡＴＭ網の試験システムの本発明に係
わる構成と動作の第１の実施例を示す説明図である。
わる構成と動作の第１の実施例を示す説明図である。
【図５】本発明のＡＴＭ網の試験システムの本発明に係
わる構成と動作の第２の実施例を示す説明図である。
わる構成と動作の第２の実施例を示す説明図である。
【図６】本発明のＡＴＭ交換機の試験システムの本発明
に係わる構成と動作 の第１の実施例を示す説明図であ
る。
に係わる構成と動作 の第１の実施例を示す説明図であ
る。
【図７】本発明のＡＴＭ交換機の試験システムの本発明
に係わる構成と動作 の第２の例を示す説明図である。
に係わる構成と動作 の第２の例を示す説明図である。
【図８】本発明のＡＴＭ交換機の試験システムの本発明
に係わる詳細な構成と動作例を示す説明図である。
に係わる詳細な構成と動作例を示す説明図である。
【図９】本発明のＡＴＭ交換機の試験システムの本発明
に係わる他の詳細な構成と動作例を示す説明図である。
に係わる他の詳細な構成と動作例を示す説明図である。
【図１０】従来の冗長化されたＡＴＭ交換機の構成例と
その動作を示す説明図である。
その動作を示す説明図である。
１〜１２ 機能ブロック ２０、２１ 系交絡 ３０〜３３ 分配部 ４０、４０ａ、４１、４１ａ 交換機または伝送装置 ５０〜５７ 交絡セレクタ ７０〜７３ 系選択指示回路 ８０〜８３ 系交絡 １００〜１０７、１００ａ〜１０３ａ 個別系選択指示
回路 １１０〜１１７ セルフィルタ １２０〜１２３ 多重化回路 １３０〜１３３ フィルタ指示回路 １５０、１５１ 伝送路 ２００〜２０３ 試験回路
回路 １１０〜１１７ セルフィルタ １２０〜１２３ 多重化回路 １３０〜１３３ フィルタ指示回路 １５０、１５１ 伝送路 ２００〜２０３ 試験回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (73)特許権者 000005223 富士通株式会社 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１ 番１号 (72)発明者 ▲高▼木 康志 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 伊藤 新 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 宮保 憲治 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 竹中 豊文 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 鈴木 晃司 東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 柴田 治朗 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株式会社日立製作所情報通信事業部内 (72)発明者 下江 敏夫 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 坂元 宏行 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電 気工業株式会社内 (56)参考文献 特開 平７−38565（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−327757（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04L 12/28 H04L 12/56
Claims (4)
- 【請求項１】 現用系と予備系に冗長化され、セルの転
送を行なう複数の機能ブロックと、該各々の機能ブロッ
ク間のパス設定を行なう複数の系交絡手段とを有するＡ
ＴＭ交換機の試験システムであり、 上記現用系の最上流の機能ブロックと上記予備系の最下
流の機能ブロックとに接続され、上記現用系の最上流の
機能ブロックと上記予備系の最下流の機能ブロック間の
セル導通試験を行なう試験手段と、上記系交絡手段を制
御して、上記現用系のパスとは独立に、上流の上記現用
系の機能ブロックから下流の上記予備系の機能ブロック
へのパスを設定させると共に、上記試験手段による試験
毎に、上記予備系の最下流の機能ブロック側から順次
に、上記パスの上流側を現用系から予備系に切り替えさ
せる系交絡制御手段とを設け、 上記現用系でのサービス提供中に、上記現用系の最上流
の機能ブロックと上記予備系の最下流の機能ブロック間
の現用系から予備系への交絡ルートの試験を行なうこと
を特徴とするＡＴＭ交換機の試験システム。 - 【請求項２】 請求項１に記載の複数のＡＴＭ交換機
間、あるいは、該ＡＴＭ交換機と同様の現用系と予備系
の冗長構成を持つ複数の伝送装置間を、現用系と予備系
の伝送媒体で接続し、上記複数のＡＴＭ交換機もしくは
伝送装置間にまたがるＡＴＭ網の現用系から予備系への
交絡ルートのセル導通状態の正常性の試験を、上記現用
系でのサービス提供中に行なうことを特徴とするＡＴＭ
網の試験システム。 - 【請求項３】 現用系と予備系に冗長化され、セルの転
送を行なう複数の機能ブロックと、該各々の機能ブロッ
ク間のパス設定を行なう複数の系交絡手段と、該系交絡
手段を制御して、上記現用系のパスとは独立に、上記予
備系の各機能ブロック間のパスを設定させる系交絡制御
手段と、該系交絡制御手段の制御に基づきパス設定され
た上記予備系のセル導通試験を行なう試験手段とを有
し、上記現用系でのサービス提供中に上記予備系の試験
を行なう複数のＡＴＭ交換機間、もしくは、上記ＡＴＭ
交換機と同様の現用系と予備系の冗長構成を持つ複数の
伝送装置間を、現用系と予備系の伝送媒体で接続し、上
記複数のＡＴＭ交換機もしくは伝送装置間にまたがるＡ
ＴＭ網の予備系でのセル導通状態の正常性の試験を、上
記現用系でのサービス提供中に行なうことを特徴とする
ＡＴＭ網の試験システム。 - 【請求項４】 請求項３に記載のＡＴＭ網の試験システ
ムにおいて、上記複数のＡＴＭ交換機もしくは伝送装置
間にまたがる現用系と予備系のそれぞれに、セルの導通
試験を行なう網試験手段を個別に設け、上記複数のＡＴ
Ｍ交換機もしくは伝送装置間にまたがるＡＴＭ網のセル
導通試験を、現用系と予備系で独立に行なうことを特徴
とするＡＴＭ網の試験システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5182706A JP3070039B2 (ja) | 1993-07-23 | 1993-07-23 | Ａｔｍ交換機およびａｔｍ網の試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5182706A JP3070039B2 (ja) | 1993-07-23 | 1993-07-23 | Ａｔｍ交換機およびａｔｍ網の試験システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0738573A JPH0738573A (ja) | 1995-02-07 |
| JP3070039B2 true JP3070039B2 (ja) | 2000-07-24 |
Family
ID=16123017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5182706A Expired - Lifetime JP3070039B2 (ja) | 1993-07-23 | 1993-07-23 | Ａｔｍ交換機およびａｔｍ網の試験システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3070039B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6947374B2 (en) | 2000-04-28 | 2005-09-20 | Fujitsu Limited | Apparatus for user connection setting in a connection oriented mode communication system |
| US8638673B2 (en) * | 2009-02-19 | 2014-01-28 | Nec Corporation | Communication path monitoring method and transmission apparatus |
-
1993
- 1993-07-23 JP JP5182706A patent/JP3070039B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0738573A (ja) | 1995-02-07 |
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