JP3066201B2 - Circuit board and method of manufacturing the same - Google Patents

Circuit board and method of manufacturing the same

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JP3066201B2
JP3066201B2 JP4291299A JP29129992A JP3066201B2 JP 3066201 B2 JP3066201 B2 JP 3066201B2 JP 4291299 A JP4291299 A JP 4291299A JP 29129992 A JP29129992 A JP 29129992A JP 3066201 B2 JP3066201 B2 JP 3066201B2
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nickel
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4007Surface contacts, e.g. bumps

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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は回路基板及びその製造方
法に関し、特に、はんだバンプを介して半導体素子が搭
載される回路基板及びその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit board and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a circuit board on which semiconductor elements are mounted via solder bumps and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子を搭載する多層回路基板等
は、一主面に半導体素子側のはんだバンプが接合される
搭載部と、他主面側に外部電気基板と電気的に接続され
る入出力パッドとを有している。搭載部は、例えば銅か
らなる薄膜配線層上に形成されたニッケルと金メッキ層
とから構成されている。また、入出力パッドは、タング
ステン又はモリブデン等からなる厚膜配線層の入出力端
子上に形成された、2層のニッケルメッキ層から構成さ
れている。搭載部のニッケルメッキ層と入出力パッドの
2層目のニッケルメッキ層とは、無電解メッキ法により
同時に形成される。
2. Description of the Related Art A multi-layer circuit board or the like on which a semiconductor element is mounted has a mounting portion to which solder bumps on the semiconductor element side are joined on one main surface, and an input portion electrically connected to an external electric board on the other main surface side. And an output pad. The mounting portion is composed of, for example, nickel and a gold plating layer formed on a thin film wiring layer made of copper. Further, the input / output pad is composed of two nickel plating layers formed on the input / output terminals of the thick film wiring layer made of tungsten or molybdenum. The nickel plating layer of the mounting portion and the second nickel plating layer of the input / output pad are simultaneously formed by an electroless plating method.

【0003】[0003]

【考案が解決しようとする課題】前記従来の回路基板で
は、同時無電解ニッケルメッキを行うと、ニッケルメッ
キ層上のメッキ形成が優先的に行われ、薄膜配線層に無
メッキの部分が生じてしまう。これは、ニッケルと銅と
で表面電位が異なっているからである。薄膜配線層に無
メッキの部分が生じると、搭載部の接合強度が低下す
る。
In the conventional circuit board, when the simultaneous electroless nickel plating is performed, the plating on the nickel plating layer is preferentially performed, and a non-plated portion is generated in the thin film wiring layer. I will. This is because nickel and copper have different surface potentials. When a non-plated portion occurs in the thin film wiring layer, the bonding strength of the mounting portion decreases.

【0004】本発明の目的は、回路基板の搭載部と入出
力パッドの両方に充分なメッキ層を形成することにあ
る。
An object of the present invention is to form a sufficient plating layer on both a mounting portion of a circuit board and input / output pads.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】第1の発明に係る回路基
板は、絶縁体と、入出力パッドと、搭載部とを備えてい
る。前記絶縁体は、入出力端子と配線層を表面に有して
いる。前記入出力パッドは、入出力端子上に形成されて
いる。前記搭載部は、はんだバンプを介して半導体素子
が搭載されるものであり、配線層に設けられている。前
記入出力パッドは、入出力端子上に形成された第1ニッ
ケルメッキ層と、第1ニッケルメッキ層上に無電解ニッ
ケルメッキ法により形成された第2ニッケルメッキ層と
を含んでいる。前記搭載部は、配線層上にスパッタリン
グ法により形成されたニッケルスパッタ層と、ニッケル
スパッタ層上に無電解ニッケルメッキ法により形成され
た第3ニッケルメッキ層とを含んでいる。
A circuit board according to a first aspect of the present invention includes an insulator, input / output pads, and a mounting portion. The insulator has an input / output terminal and a wiring layer on a surface. The input / output pad is formed on an input / output terminal. The mounting portion is for mounting a semiconductor element via a solder bump, and is provided on a wiring layer. The input / output pad includes a first nickel plating layer formed on the input / output terminal, and a second nickel plating layer formed on the first nickel plating layer by electroless nickel plating. The mounting portion includes a nickel sputtered layer formed on the wiring layer by a sputtering method, and a third nickel plated layer formed on the nickel sputtered layer by an electroless nickel plating method.

【0006】第2の発明に係る回路基板製造方法は、準
備行程と、第1メッキ行程と、スパッタリング行程と、
第2メッキ行程とを含んでいる。前記準備行程では、入
出力端子を表面に有する絶縁体を準備する。前記第1メ
ッキ行程では、入出力端子に第1ニッケルメッキ層を形
成する。前記スパッタリング行程では、配線層を形成す
るとともに、前記配線層上にスパッタリング法によりニ
ッケルスパッタ層を形成する。前記第2メッキ行程で
は、無電解ニッケルメッキ法により、第1ニッケルメッ
キ層上に第2ニッケルメッキ層を形成し、同時にニッケ
ルスパッタ層上に第3ニッケルメッキ層を形成する。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a circuit board manufacturing method comprising: a preparation step, a first plating step, a sputtering step,
And a second plating step. In the preparation step, an insulator having input / output terminals on the surface is prepared. In the first plating step, a first nickel plating layer is formed on the input / output terminals. In the sputtering process, a nickel layer is formed on the wiring layer by a sputtering method while a wiring layer is formed. In the second plating step, a second nickel plating layer is formed on the first nickel plating layer by an electroless nickel plating method, and at the same time, a third nickel plating layer is formed on the nickel sputtering layer.

【0007】[0007]

【作用】第1の発明に係る回路基板では、入出力パッド
の第2ニッケルメッキ層と搭載部の第3ニッケルメッキ
層は、無電解ニッケルメッキ法により同時に形成するこ
とが可能である。このとき、配線は、予めその上にはス
パッタリング法によりニッケルスパッタ層が形成されて
いるために、入出力パッドの第1ニッケルメッキ層とほ
ぼ同一の表面電位を有している。その結果、入出力パッ
ドの第2ニッケルメッキ層と搭載部の第3ニッケルメッ
キ層とは共に均一に形成され、いずれにも無メッキの部
分が生じにくい。
In the circuit board according to the first aspect of the invention, the second nickel plating layer of the input / output pad and the third nickel plating layer of the mounting portion can be formed simultaneously by electroless nickel plating. At this time, the wiring has a surface potential substantially the same as that of the first nickel plating layer of the input / output pad since a nickel sputtered layer is previously formed thereon by a sputtering method. As a result, the second nickel plating layer of the input / output pad and the third nickel plating layer of the mounting portion are both formed uniformly, and a non-plated portion hardly occurs in any of them.

【0008】第2の発明に係る回路基板製造方法では、
スパッタリング行程で配線層にニッケルスパッタ層が形
成されている。したがって、第2メッキ行程で第2ニッ
ケルメッキ層と第3ニッケルメッキ層とを同時に形成す
るときに、第1ニッケルメッキ層とニッケルスパッタ層
とがほぼ同一の表面電位を有するために、第2ニッケル
メッキ層と第3ニッケルメッキ層とは共に均一に形成さ
れ、いずれにも無メッキの部分が生じにくい。
In the method for manufacturing a circuit board according to the second invention,
A nickel sputtering layer is formed on the wiring layer in the sputtering process. Therefore, when the second nickel plating layer and the third nickel plating layer are simultaneously formed in the second plating step, the first nickel plating layer and the nickel sputter layer have substantially the same surface potential, so that the second nickel plating layer and the nickel sputter layer have the same surface potential. Both the plating layer and the third nickel plating layer are formed uniformly, and a non-plated portion hardly occurs in any of them.

【0009】[0009]

【実施例】図1は、本発明の一実施例としての多層回路
基板1を示している。多層回路基板1は、主に、セラミ
ック基板2と、セラミック基板2上に積層されたポリイ
ミドからなる樹脂絶縁層3と、セラミック基板2の下面
に形成された入出力パッド4と、樹脂絶縁層3の上面に
形成されたバンプ搭載部5とから構成されている。銅か
らなる第1薄膜配線層6は、セラミック基板2と第1絶
縁層3aとの間に形成されている。第2薄膜配線層7
は、第1絶縁層3aと第2絶縁層3bとの間に形成され
ている。第3薄膜配線層8は、第2絶縁層3bと第3絶
縁層3cとの間に形成されている。第4薄膜配線層9
は、第3絶縁層3c上に形成され、その上にバンプ搭載
部5が設けられている。各薄膜配線層は、スルーホール
を介して電気的に接続されている。
FIG. 1 shows a multilayer circuit board 1 as one embodiment of the present invention. The multilayer circuit board 1 mainly includes a ceramic substrate 2, a resin insulating layer 3 made of polyimide laminated on the ceramic substrate 2, input / output pads 4 formed on the lower surface of the ceramic substrate 2, and a resin insulating layer 3. And a bump mounting portion 5 formed on the upper surface of the substrate. The first thin film wiring layer 6 made of copper is formed between the ceramic substrate 2 and the first insulating layer 3a. Second thin film wiring layer 7
Is formed between the first insulating layer 3a and the second insulating layer 3b. The third thin-film wiring layer 8 is formed between the second insulating layer 3b and the third insulating layer 3c. Fourth thin film wiring layer 9
Is formed on the third insulating layer 3c, and the bump mounting portion 5 is provided thereon. Each thin film wiring layer is electrically connected via a through hole.

【0010】セラミック基板2の内部には、モリブデ
ン,タングステン等からなり、第1薄膜配線層6に電気
的に接続された厚膜配線導体10が形成されている。厚
膜配線導体10は、セラミック基板2の下面において露
出する入出力端子部10a(図2)を有している。入出
力端子部10a上に、入出力パッド4が形成されてい
る。
Inside the ceramic substrate 2, there is formed a thick-film wiring conductor 10 made of molybdenum, tungsten or the like and electrically connected to the first thin-film wiring layer 6. The thick film wiring conductor 10 has an input / output terminal portion 10a (FIG. 2) exposed on the lower surface of the ceramic substrate 2. The input / output pad 4 is formed on the input / output terminal 10a.

【0011】図2を用いて入出力パッド4の構造につい
て説明する。入出力パッド4は、入出力端子部10a上
に順番に形成された、硼素を含む第1ニッケルメッキ層
11と、リンを含む第2ニッケルメッキ層12と、金メ
ッキ層13とから形成されている。この入出力パッド4
を介して、厚膜配線導体10は外部電気回路基板と電気
的に接続され得る。
The structure of the input / output pad 4 will be described with reference to FIG. The input / output pad 4 is formed of a first nickel-plated layer 11 containing boron, a second nickel-plated layer 12 containing phosphorus, and a gold-plated layer 13 formed in this order on the input / output terminal portion 10a. . This input / output pad 4
, The thick film wiring conductor 10 can be electrically connected to an external electric circuit board.

【0012】図3に示されたバンプ搭載部5は、第4薄
膜配線層9上に順番に形成された、ニッケルスパッタ層
15と、ニッケルスパッタ層15上に形成された第3ニ
ッケルメッキ層16と、第3ニッケルメッキ層16上に
形成された金メッキ層17とから構成されている。第3
ニッケルメッキ層16は、入出力パッド4の第2ニッケ
ルメッキ層12と同じくリンを含んでいる。
The bump mounting portion 5 shown in FIG. 3 is composed of a nickel sputter layer 15 formed on the fourth thin film wiring layer 9 in sequence and a third nickel plating layer 16 formed on the nickel sputter layer 15. And a gold plating layer 17 formed on the third nickel plating layer 16. Third
The nickel plating layer 16 contains phosphorus similarly to the second nickel plating layer 12 of the input / output pad 4.

【0013】第4薄膜配線層9とポリイミドからなる第
3絶縁層3cとの間にはクロム密着層14が形成されて
いる。クロム密着層14は、第4薄膜配線層9と第3絶
縁層3cとの密着性を向上させるためのものであり、さ
らに第4薄膜配線層9の銅が第3絶縁層3c内に拡散す
るのを防止している。次に、多層回路基板1の製造方法
について説明する。セラミック基板2は、複数枚のセラ
ミックグリーンシートから形成される。セラミックグリ
ーンシートは、適当な打ち抜き加工が施された後に、タ
ングステン,モリブデン等の高融点金属粉末からなる金
属ペーストをスクリーン印刷法で塗布する。次に、複数
枚のセラミックグリーンシートを積層してセラミックグ
リーンシートと積層体を形成し、適当な温度で形成する
ことにより、内部に厚膜配線導体10を含むセラミック
基板2を形成する。
A chromium adhesion layer 14 is formed between the fourth thin film wiring layer 9 and the third insulating layer 3c made of polyimide. The chromium adhesion layer 14 is for improving the adhesion between the fourth thin film wiring layer 9 and the third insulating layer 3c, and furthermore, the copper of the fourth thin film wiring layer 9 diffuses into the third insulating layer 3c. Is prevented. Next, a method for manufacturing the multilayer circuit board 1 will be described. The ceramic substrate 2 is formed from a plurality of ceramic green sheets. After the ceramic green sheet is appropriately punched, a metal paste made of a high melting point metal powder such as tungsten or molybdenum is applied by a screen printing method. Next, a plurality of ceramic green sheets are laminated to form a ceramic green sheet and a laminate, and the laminate is formed at an appropriate temperature to form the ceramic substrate 2 including the thick film wiring conductor 10 therein.

【0014】次に、厚膜配線導体10を有するセラミッ
ク基板2を、塩化アミンパラジウム2.0g/l、水酸
化カリウム50.0g/l、エチレンジアミンテトラア
セティクアシッド5.0g/lからなる70℃の活性液
中に5分間浸漬させる。すると、厚膜配線導体10の露
出部分である入出力端子部10aの表面が活性化され
る。次に、セラミック基板2を、硫酸ニッケル30.0
g/l、クエン酸ナトリウム50.0g/l、酢酸アン
モニウム10.0g/l、ジメチルアミンボラン3.0
g/lからなる液温60℃のニッケルメッキ液に20分
間浸漬させる。すると、第1ニッケルメッキ層11が入
出力端子部10aの表面に被着される。この第1ニッケ
ルメッキ層11は、厚膜配線導体10の酸化を防止す
る。
Next, the ceramic substrate 2 having the thick-film wiring conductor 10 was heated to 70 ° C. comprising 2.0 g / l of amine palladium chloride, 50.0 g / l of potassium hydroxide, and 5.0 g / l of ethylenediaminetetraacetate. For 5 minutes. Then, the surface of the input / output terminal portion 10a, which is the exposed portion of the thick film wiring conductor 10, is activated. Next, the ceramic substrate 2 was coated with nickel sulfate 30.0.
g / l, sodium citrate 50.0 g / l, ammonium acetate 10.0 g / l, dimethylamine borane 3.0
It is immersed in a nickel plating solution having a liquid temperature of 60 ° C. and a temperature of 60 g for 20 minutes. Then, the first nickel plating layer 11 is attached to the surface of the input / output terminal portion 10a. This first nickel plating layer 11 prevents oxidation of the thick film wiring conductor 10.

【0015】次に、セラミック基板2の上面に蒸着,ス
パッタリング等により薄膜銅層を形成する。続いて、感
光性レジストの塗布,現像,エッチング処理を施して、
所望のパターンの第1薄膜配線層6を形成する。次に、
セラミック基板2上に感光性ポリイミドペーストをスピ
ンコート法で塗布し、ベーク,露光,現像,ベーク処理
を連続して施し、窒素雰囲気中で約400℃の炉内で焼
成し、第1樹脂絶縁層3aを形成する。第2樹脂絶縁層
3b及び第3樹脂絶縁層3cと、第2,第3及び第4薄
膜配線層の形成方法は、前述した方法と同様であり、同
様な作業を繰り返すことで樹脂絶縁層3が形成される。
Next, a thin-film copper layer is formed on the upper surface of the ceramic substrate 2 by vapor deposition, sputtering, or the like. Then, apply, develop and etch photosensitive resist,
The first thin film wiring layer 6 having a desired pattern is formed. next,
A photosensitive polyimide paste is applied on the ceramic substrate 2 by a spin coating method, and baking, exposure, development, and baking are continuously performed, and baked in a furnace at about 400 ° C. in a nitrogen atmosphere. 3a is formed. The method for forming the second resin insulating layer 3b and the third resin insulating layer 3c and the method for forming the second, third and fourth thin film wiring layers are the same as those described above. Is formed.

【0016】第4薄膜配線層9は、クロムからなる密着
層14上に形成される。セラミック基板2の表面に、ニ
ッケルスパッタリングを行う。すなわち、純度99.9
9%以上のニッケルターゲットを用い、ターゲット印加
電流8A、アルゴンガス流量23SCCM、真空度0.
5パスカル、ターゲット−基板間距離約60mm、約3
0分間の条件でスパッタリングを行う。このとき形成さ
れるニッケルスパッタ層は、厚みが0.1〜1.0μm
範囲内にあることが好ましい。続いて、周知のレジスト
加工及びエッチング処理を行い、所望のニッケルスパッ
タ層15を得る。
The fourth thin film wiring layer 9 is formed on the adhesion layer 14 made of chromium. Nickel sputtering is performed on the surface of the ceramic substrate 2. That is, purity 99.9.
Using a nickel target of 9% or more, a target applied current of 8 A, an argon gas flow rate of 23 SCCM, and a degree of vacuum of 0.
5 Pascal, target-substrate distance about 60 mm, about 3
Sputtering is performed for 0 minutes. The nickel sputter layer formed at this time has a thickness of 0.1 to 1.0 μm.
It is preferably within the range. Subsequently, well-known resist processing and etching are performed to obtain a desired nickel sputtering layer 15.

【0017】セラミック基板2に無電解メッキ処理を行
う。すなわち、セラミック基板2を、塩化アミンパラジ
ウム2.0g/l、水酸化カリウム50.0g/l、エ
チレンジアミンテトラアセティクアシッド5.0g/l
からなる70℃の活性液中に5分間浸漬させて、第1ニ
ッケルメッキ層11とニッケルスパッタ層15とを活性
化させる。このセラミック基板2を塩化ニッケル16.
0g/l、次亜燐酸ナトリウム24.0g/l、コハク
酸ナトリウム16.0g/l、リンゴ酸18.0g/l
からなる、液温90℃のニッケルメッキ浴中に10分程
度浸漬させる。この結果、バンプ搭載部5上には第3ニ
ッケルメッキ層16が、入出力パッド4の第1ニッケル
メッキ層11上には第2ニッケルメッキ層12が同時に
形成される。このとき、両箇所において下地となる部分
はニッケルからなるために、電位が等しくなっている。
そのため、両者には均一にメッキが形成され一方に無メ
ッキが発生するのが防止されている。
An electroless plating process is performed on the ceramic substrate 2. That is, the ceramic substrate 2 was prepared by adding 2.0 g / l of amine palladium chloride, 50.0 g / l of potassium hydroxide, and 5.0 g / l of ethylenediaminetetraacetic acid.
Then, the first nickel plating layer 11 and the nickel sputtering layer 15 are activated by immersing in a 70 ° C. activation solution for 5 minutes. This ceramic substrate 2 was coated with nickel chloride 16.
0 g / l, sodium hypophosphite 24.0 g / l, sodium succinate 16.0 g / l, malic acid 18.0 g / l
For about 10 minutes in a nickel plating bath having a liquid temperature of 90 ° C. As a result, the third nickel plating layer 16 is formed on the bump mounting portion 5 and the second nickel plating layer 12 is formed on the first nickel plating layer 11 of the input / output pad 4 at the same time. At this time, since the portions serving as the bases at both locations are made of nickel, the potentials are equal.
Therefore, plating is uniformly formed on both of them, and non-plating is prevented on one side.

【0018】最後に、第3ニッケルメッキ層16及び第
2ニッケルメッキ層12の表面に同時にそれぞれ金メッ
キ層17及び金メッキ層13を形成する。具体的には、
セラミック基板2を、シアン化金カリウム5.0g/
l、クエン酸カリウム50.0g/l、エチレンジアミ
ンテトラアセティクアシド5.0g/lからなる、液温
90℃の一次金メッキ浴中に5分間浸漬させて一次金メ
ッキを形成する。その後に、セラミック基板2を、シア
ン化金カリウム5.0g/l、シアン化カリウム10.
0g/l、クエン酸カリウム50.0g/l、水酸化カ
リウム15.0g/l、ジメチルアミンボラン20.0
g/lからなる、液温70℃の二次金メッキ浴中に30
分間浸漬させて、金メッキ層17及び金メッキ層13を
同時に形成する。
Finally, a gold plating layer 17 and a gold plating layer 13 are simultaneously formed on the surfaces of the third nickel plating layer 16 and the second nickel plating layer 12, respectively. In particular,
The ceramic substrate 2 was prepared by adding 5.0 g of potassium potassium cyanide /
1, 50.0 g / l of potassium citrate and 5.0 g / l of ethylenediaminetetraacetic acid are immersed in a primary gold plating bath at a liquid temperature of 90 ° C. for 5 minutes to form primary gold plating. Thereafter, the ceramic substrate 2 was prepared by adding 5.0 g / l of potassium gold cyanide and 10 g of potassium cyanide.
0 g / l, potassium citrate 50.0 g / l, potassium hydroxide 15.0 g / l, dimethylamine borane 20.0
g / l in a secondary gold plating bath at a liquid temperature of 70 ° C.
The gold plating layer 17 and the gold plating layer 13 are formed at the same time by immersion for minutes.

【0019】この実施例では、入出力パッド4とバンプ
搭載部5との両方でニッケルメッキ処理を同時に行うこ
とができる。従来例では、別々にニッケルメッキ層を形
成する必要があるために、まず入出力パッド側を有機レ
ジスト膜等でコートし、薄膜配線層側にニッケル,金メ
ッキ層を形成する。次に入出力パッド側の有機レジスト
膜を剥離し、薄膜配線層を有機レジスト膜等でコート
し、入出力パッド側にニッケル,金メッキ層を形成す
る。この製造方法では、入出力パッド側とバンプ搭載部
との両方で有機レジスト膜コート及びその剥離といった
行程が必要であり、さらにニッケルメッキ層の形成は2
回も行わなければならないために、行程数が増えて作業
が煩雑になっている。さらに、入出力パッド部分では、
第1ニッケルメッキ層上に有機レジスト膜コートを形成
するために、剥離後に有機レジスト残滓が第2ニッケル
メッキ層の密着度を低下させることがある。本発明に係
る多層回路基板1では、ニッケルメッキ層の同時形成が
可能となっているために、以上のような不具合は生じな
い。
In this embodiment, nickel plating can be performed simultaneously on both the input / output pad 4 and the bump mounting portion 5. In the conventional example, since it is necessary to separately form a nickel plating layer, first, the input / output pad side is coated with an organic resist film or the like, and a nickel and gold plating layer is formed on the thin film wiring layer side. Next, the organic resist film on the input / output pad side is peeled off, the thin film wiring layer is coated with an organic resist film or the like, and a nickel or gold plating layer is formed on the input / output pad side. In this manufacturing method, a step of coating an organic resist film and removing the same is required on both the input / output pad side and the bump mounting portion.
Since the operation has to be performed several times, the number of steps is increased, and the work is complicated. Furthermore, in the input / output pad part,
In order to form an organic resist film coat on the first nickel plating layer, the organic resist residue after peeling may reduce the adhesion of the second nickel plating layer. In the multilayer circuit board 1 according to the present invention, since the nickel plating layer can be simultaneously formed, the above-described problems do not occur.

【0020】本願出願人は、それぞれ入出力パッドを5
00個有する基板10000枚について従来技術と本発
明を採用したものとで無メッキ率を比較してみた。従来
技術では無メッキの入出力パッドは0.9%の基板に発
生したが、本発明が採用された基板では入出力パッドの
無メッキを有する基板は皆無であった。 〔他の実施例〕前記実施例ではセラミック基板上に複数
の樹脂絶縁層が形成された多層回路基板を本発明の一実
施例として説明したが、図4に示すような、セラミック
基板上に単層の薄膜配線層が形成されたものにも本発明
を採用できる。図4に示す薄膜単層回路基板21は、セ
ラミック基板22と、セラミック基板22の下面に露出
する入出力パッド24と、はんだバンプを介して図示し
ない半導体素子が搭載される、セラミック基板22の上
面に形成されたバンプ搭載部25とから主に構成されて
いる。セラミック基板22内には、上下に延びる厚膜配
線導体30が形成されている。厚膜配線導体30によ
り、入出力パッド24とバンプ搭載部25とは電気的に
接続されている。なお、セラミック基板22の上面に
は、厚膜配線導体30に接続された薄膜配線層29が形
成されている。前述したバンプ搭載部25は、薄膜配線
層29上に形成されている。
The applicant of the present invention has five input / output pads.
A comparison was made of the non-plating rate between the conventional technology and the one employing the present invention for 10,000 substrates having 00 pieces. In the prior art, unplated input / output pads occurred on 0.9% of the substrates, but none of the substrates employing the present invention had unplated input / output pads. [Other Embodiments] In the above embodiment, a multilayer circuit board in which a plurality of resin insulating layers are formed on a ceramic substrate has been described as one embodiment of the present invention. However, as shown in FIG. The present invention can also be applied to a device having a plurality of thin film wiring layers. The thin-film single-layer circuit board 21 shown in FIG. 4 has a ceramic substrate 22, an input / output pad 24 exposed on the lower surface of the ceramic substrate 22, and an upper surface of the ceramic substrate 22 on which semiconductor elements (not shown) are mounted via solder bumps. And a bump mounting portion 25 formed on the substrate. A thick-film wiring conductor 30 extending vertically is formed in the ceramic substrate 22. The input / output pad 24 and the bump mounting portion 25 are electrically connected by the thick film wiring conductor 30. Note that a thin film wiring layer 29 connected to the thick film wiring conductor 30 is formed on the upper surface of the ceramic substrate 22. The above-mentioned bump mounting portion 25 is formed on the thin film wiring layer 29.

【0021】この実施例においては、入出力パッド24
とバンプ搭載部25との構造は、前記実施例と同様であ
る。そのため、製造行程においてもまた製造後の製品に
おいても、前記実施例と全く同様な効果が得られる。
In this embodiment, the input / output pad 24
The structure of the bump mounting portion 25 is the same as that of the above embodiment. Therefore, the same effects as in the above embodiment can be obtained both in the manufacturing process and in the manufactured product.

【0022】[0022]

【発明の効果】第1の発明に係る回路基板では、ニッケ
ルスパッタ層が予め搭載部側に形成されているため、入
出力パッドの第2ニッケルメッキ層と搭載部の第3ニッ
ケルメッキ層とは無電解メッキ法で均一に形成され、い
ずれにも無メッキの部分が生じにくい。
In the circuit board according to the first aspect of the present invention, since the nickel sputter layer is formed on the mounting portion in advance, the second nickel plating layer of the input / output pad and the third nickel plating layer of the mounting portion are different from each other. It is formed uniformly by the electroless plating method, and a non-plated portion hardly occurs in any of them.

【0023】第2の発明に係る回路基板製造方法では、
スパッタリング行程で配線層にニッケルスパッタ層を形
成する。したがって、第2メッキ行程で第2ニッケルメ
ッキ層と第3ニッケルメッキ層とを無電解メッキ法で同
時に形成するときに、両者は均一に形成され、共に無メ
ッキの部分が生じにくい。
In the method for manufacturing a circuit board according to the second invention,
A nickel sputtering layer is formed on the wiring layer in the sputtering process. Therefore, when the second nickel plating layer and the third nickel plating layer are simultaneously formed by the electroless plating method in the second plating step, the two are uniformly formed, and both of them are less likely to have no plating.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例としての多層回路基板の縦断
面図。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a multilayer circuit board as one embodiment of the present invention.

【図2】図1の拡大部分図。FIG. 2 is an enlarged partial view of FIG. 1;

【図3】図1の拡大部分図。FIG. 3 is an enlarged partial view of FIG. 1;

【図4】本発明の他の実施例としての単層薄膜回路基板
の縦断面概略図。
FIG. 4 is a schematic longitudinal sectional view of a single-layer thin-film circuit board as another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 多層回路基板 4 入出力パッド 5 バンプ搭載部 9 第4薄膜配線層 10a 入出力端子部 11 第1ニッケルメッキ層 12 第2ニッケルメッキ層 15 ニッケルスパッタ層 16 第3ニッケルメッキ層 21 単層薄膜回路基板 22 セラミック基板 24 入出力パッド 25 バンプ搭載部 29 薄膜配線層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Multilayer circuit board 4 I / O pad 5 Bump mounting part 9 4th thin film wiring layer 10a I / O terminal section 11 1st nickel plating layer 12 2nd nickel plating layer 15 nickel sputter layer 16 3rd nickel plating layer 21 single layer thin film circuit Substrate 22 Ceramic substrate 24 I / O pad 25 Bump mounting part 29 Thin film wiring layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 1/11 H01L 21/60 311 H05K 3/24 H05K 3/46 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H05K 1/11 H01L 21/60 311 H05K 3/24 H05K 3/46

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】入出力端子と配線層を表面に有する絶縁体
と、前記入出力端子上に形成された入出力パッドと、は
んだバンプを介して半導体素子が搭載される、前記配線
層に設けられた搭載部とを備えた回路基板において、 前記入出力パッドは、前記入出力端子上に形成された第
1ニッケルメッキ層と、前記第1ニッケルメッキ層上に
無電解ニッケルメッキ法により形成された第2ニッケル
メッキ層とを含んでおり、 前記搭載部は、前記配線層上にスパッタリング法により
形成されたニッケルスパッタ層と、前記ニッケルスパッ
タ層上に無電解ニッケルメッキ法により形成された第3
ニッケルメッキ層とを含んでいることを特徴とする回路
基板。
An insulator having an input / output terminal and a wiring layer on a surface, an input / output pad formed on the input / output terminal, and a semiconductor element mounted on the wiring layer via a solder bump. Wherein the input / output pads are formed by a first nickel plating layer formed on the input / output terminals and an electroless nickel plating method on the first nickel plating layer. A second nickel plating layer, wherein the mounting portion includes a nickel sputtering layer formed on the wiring layer by a sputtering method, and a third nickel plating layer formed on the nickel sputtering layer by an electroless nickel plating method.
A circuit board comprising a nickel plating layer.
【請求項2】入出力端子を表面に有する絶縁体を準備す
る準備行程と、 前記入出力端子に第1ニッケルメッキ層を形成する第1
メッキ行程と、 前記絶縁体に配線層を形成するとともに、前記配線層上
にスパッタリング法によりニッケルスパッタ層を形成す
るスパッタリング行程と、 無電解ニッケルメッキ法により、前記第1ニッケルメッ
キ層上に第2ニッケルメッキ層を形成し、同時に前記ニ
ッケルスパッタ層上に第3ニッケルメッキ層を形成する
第2メッキ行程と、 を含む回路基板製造方法。
2. A preparation step of preparing an insulator having an input / output terminal on a surface thereof, and a first step of forming a first nickel plating layer on the input / output terminal.
A plating step; forming a wiring layer on the insulator; and forming a nickel sputtering layer on the wiring layer by a sputtering method; and a second electroless nickel plating method on the first nickel plating layer. A second plating step of forming a nickel plating layer and simultaneously forming a third nickel plating layer on the nickel sputtering layer.
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