JP3060143B2 - 記録媒体及びそれを用いた情報処理装置 - Google Patents
記録媒体及びそれを用いた情報処理装置Info
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B9/12—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
- G11B9/14—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B9/149—Record carriers for recording or reproduction involving the use of microscopic probe means characterised by the memorising material or structure
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
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- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y30/00—Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、走査型トンネル顕微鏡
や原子間力顕微鏡の原理を応用した超高密度の記録媒体
及びそれを用いて情報の記録再生等を行う情報処理装置
に関する。
や原子間力顕微鏡の原理を応用した超高密度の記録媒体
及びそれを用いて情報の記録再生等を行う情報処理装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年情報化社会の発展につれ、大容量メ
モリーの開発が極めて活発に行われている。メモリーに
要求される性能は一般に １）高密度で記録容量が大きい ２）記録再生の応答速度が速い ３）消費電力が少ない ４）生産性が高く、価格が安い 等が挙げられ、現在もこうした性能を実現するメモリー
方式やメモリー媒体の開発が極めて活発に進められてい
る。
モリーの開発が極めて活発に行われている。メモリーに
要求される性能は一般に １）高密度で記録容量が大きい ２）記録再生の応答速度が速い ３）消費電力が少ない ４）生産性が高く、価格が安い 等が挙げられ、現在もこうした性能を実現するメモリー
方式やメモリー媒体の開発が極めて活発に進められてい
る。
【０００３】従来、メモリーの中心は磁性体、半導体を
素材とした磁気メモリー、半導体メモリーであったが、
近年、レーザー技術の進展に伴い、有機色素、フォトポ
リマーなどの有機薄膜を用いた安価で高密度な光メモリ
ーが登場している。
素材とした磁気メモリー、半導体メモリーであったが、
近年、レーザー技術の進展に伴い、有機色素、フォトポ
リマーなどの有機薄膜を用いた安価で高密度な光メモリ
ーが登場している。
【０００４】現在これらのメモリーをさらに高密度で大
容量にするために単位メモリービットの微細化に向けて
の技術開発が進められているが、これらの従来のメモリ
ーとは全く別の原理に基づくメモリーの提案もされてい
る。例えば、個々の有機分子に論理素子やメモリー素子
の機能を持たせた分子電子デバイスの概念もそのひとつ
である。分子電子デバイスは単位メモリービットの微細
化を極限まで進めたものと見ることができるが、これま
で個々の分子にいかにしてアクセスするかが問題とされ
てきた。
容量にするために単位メモリービットの微細化に向けて
の技術開発が進められているが、これらの従来のメモリ
ーとは全く別の原理に基づくメモリーの提案もされてい
る。例えば、個々の有機分子に論理素子やメモリー素子
の機能を持たせた分子電子デバイスの概念もそのひとつ
である。分子電子デバイスは単位メモリービットの微細
化を極限まで進めたものと見ることができるが、これま
で個々の分子にいかにしてアクセスするかが問題とされ
てきた。
【０００５】一方、最近では走査型トンネル顕微鏡（以
下、ＳＴＭと略す）が開発され（Ｇ．Ｂｉｎｎｉｎｇ
ｅｔ ａｌ．フィジカルレビューレター（Ｐｈｙｓ．Ｒ
ｅｖ．Ｌｅｔｔ．）４９、５７（１９８２））単結晶、
非晶質を問わず実空間の高い分解能の測定ができるよう
になった。ＳＴＭは金属の探針（プローブ電極）と導電
性物質の間に電圧を加えて１０Å程度の距離まで近付け
るとトンネル電流が流れることを利用している。この電
流は両者の距離変化に非常に敏感であり、トンネル電流
を一定に保つように探針を走査することにより実空間の
表面構造を描くことができると同時に表面原子の全電子
雲に関する種々の情報をも読み取ることができる。この
際の面内方向の分解能は１Å程度である。従って、ＳＴ
Ｍの原理を応用すれば充分に原子オーダー（数Å）で高
密度記録再生を行うことが可能である。この際の記録再
生方法として粒子線（電子線、イオン線）或いはＸ線等
の高エネルギー電磁波及び可視・紫外光等のエネルギー
線を用いて適当な記録層の表面状態を変化させて記録を
行いＳＴＭで再生する方法や、記録層として電圧電流の
スイッチング特性に対するメモリー効果を持つ材料、例
えばπ電子系有機化合物やカルコゲン化物類の薄膜層を
用いて記録・再生をＳＴＭを用いて行う方法等が提案さ
れている（特開昭６３−１６１５５２号公報）。その他
電圧パルスを印加することで、基板上に分子を流体から
捕捉し、選択的にデータビットを書き込み、またそれを
読み取り、消去を行う方法、装置の提案がある（特開平
１−１９６７５１号公報）。
下、ＳＴＭと略す）が開発され（Ｇ．Ｂｉｎｎｉｎｇ
ｅｔ ａｌ．フィジカルレビューレター（Ｐｈｙｓ．Ｒ
ｅｖ．Ｌｅｔｔ．）４９、５７（１９８２））単結晶、
非晶質を問わず実空間の高い分解能の測定ができるよう
になった。ＳＴＭは金属の探針（プローブ電極）と導電
性物質の間に電圧を加えて１０Å程度の距離まで近付け
るとトンネル電流が流れることを利用している。この電
流は両者の距離変化に非常に敏感であり、トンネル電流
を一定に保つように探針を走査することにより実空間の
表面構造を描くことができると同時に表面原子の全電子
雲に関する種々の情報をも読み取ることができる。この
際の面内方向の分解能は１Å程度である。従って、ＳＴ
Ｍの原理を応用すれば充分に原子オーダー（数Å）で高
密度記録再生を行うことが可能である。この際の記録再
生方法として粒子線（電子線、イオン線）或いはＸ線等
の高エネルギー電磁波及び可視・紫外光等のエネルギー
線を用いて適当な記録層の表面状態を変化させて記録を
行いＳＴＭで再生する方法や、記録層として電圧電流の
スイッチング特性に対するメモリー効果を持つ材料、例
えばπ電子系有機化合物やカルコゲン化物類の薄膜層を
用いて記録・再生をＳＴＭを用いて行う方法等が提案さ
れている（特開昭６３−１６１５５２号公報）。その他
電圧パルスを印加することで、基板上に分子を流体から
捕捉し、選択的にデータビットを書き込み、またそれを
読み取り、消去を行う方法、装置の提案がある（特開平
１−１９６７５１号公報）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述のような情報処理
装置における再生方法としては、具体的にはプローブ電
極と記録媒体表面との距離を一定に保持しながら記録媒
体表面上でプローブ電極を走査し、記録ビットに相当す
る凹凸を検知する方法や、記録ビットに相当する電導度
の高い領域上で、プローブ電極と記録媒体表面間を流れ
る電流が増すことを利用し、この電流量を検知して記録
ビットを再生するものがある。
装置における再生方法としては、具体的にはプローブ電
極と記録媒体表面との距離を一定に保持しながら記録媒
体表面上でプローブ電極を走査し、記録ビットに相当す
る凹凸を検知する方法や、記録ビットに相当する電導度
の高い領域上で、プローブ電極と記録媒体表面間を流れ
る電流が増すことを利用し、この電流量を検知して記録
ビットを再生するものがある。
【０００７】しかし、前者の再生方法をとった場合、記
録媒体のわずかな凹凸に対しても、プローブ電極が追従
するため、媒体表面の凹凸と記録ビットの区別をプロー
ブ電極の動き量だけから行なうことは困難であった。ま
た、電流を一定に保持するための帰還制御回路の帯域の
上限によって、制御可能な走査周波数が制限されるた
め、高速走査が困難であった。また、後者の再生方法に
よった場合も、高速走査が可能であるものの、媒体表面
の凹凸によっても、電流量が変化してしまい前者同様区
別が困難であった。さらにプローブ電極と媒体表面間は
一定距離だけ離れており、これが絶縁障壁として働いて
いるが、この障壁は記録ビット書き込み部と非書き込み
部とに共通であり、実効的にはトンネル抵抗として直列
に挿入されることになる。このためプローブ電極と媒体
表面の距離が変化してしまった場合、書き込み部と非書
き込み部とで検出される電流量の比が大きく異なってし
まうため、ビットを正確に読み出す際に問題となる可能
性があった。
録媒体のわずかな凹凸に対しても、プローブ電極が追従
するため、媒体表面の凹凸と記録ビットの区別をプロー
ブ電極の動き量だけから行なうことは困難であった。ま
た、電流を一定に保持するための帰還制御回路の帯域の
上限によって、制御可能な走査周波数が制限されるた
め、高速走査が困難であった。また、後者の再生方法に
よった場合も、高速走査が可能であるものの、媒体表面
の凹凸によっても、電流量が変化してしまい前者同様区
別が困難であった。さらにプローブ電極と媒体表面間は
一定距離だけ離れており、これが絶縁障壁として働いて
いるが、この障壁は記録ビット書き込み部と非書き込み
部とに共通であり、実効的にはトンネル抵抗として直列
に挿入されることになる。このためプローブ電極と媒体
表面の距離が変化してしまった場合、書き込み部と非書
き込み部とで検出される電流量の比が大きく異なってし
まうため、ビットを正確に読み出す際に問題となる可能
性があった。
【０００８】したがって、再生信号は記録媒体の凹凸に
よる成分が分離されたものである必要があり、また、プ
ローブ電極と記録媒体表面間の絶縁障壁によるトンネル
抵抗を可能な限り小さく、一定に保持して記録ビットの
有無による再生信号比を可能な限り大きくする必要があ
る。また、記録による印加電圧変化がプローブ電極と媒
体との間隔制御に影響を与えにくいことが好ましい。
よる成分が分離されたものである必要があり、また、プ
ローブ電極と記録媒体表面間の絶縁障壁によるトンネル
抵抗を可能な限り小さく、一定に保持して記録ビットの
有無による再生信号比を可能な限り大きくする必要があ
る。また、記録による印加電圧変化がプローブ電極と媒
体との間隔制御に影響を与えにくいことが好ましい。
【０００９】さらに、記録媒体とプローブ電極間の距離
が大きい場合、ＳＴＭとしての分解能が下がり、即ち、
記録密度の点からも記録媒体とプローブ電極は極力接近
するほうが好ましい。
が大きい場合、ＳＴＭとしての分解能が下がり、即ち、
記録密度の点からも記録媒体とプローブ電極は極力接近
するほうが好ましい。
【００１０】また、上述の様な記録・再生を大気中で行
なうと、炭化水素や水などの吸着により記録媒体表面が
汚染されたり、記録媒体とプローブ電極が接近した状態
で記録・再生を行なおうとすると、記録媒体とプローブ
電極との間に働く相互作用によって記録媒体表面が変形
したり、記録媒体とプローブ電極との間に働く力が急激
に変化し、滑らかな走査が困難であった。
なうと、炭化水素や水などの吸着により記録媒体表面が
汚染されたり、記録媒体とプローブ電極が接近した状態
で記録・再生を行なおうとすると、記録媒体とプローブ
電極との間に働く相互作用によって記録媒体表面が変形
したり、記録媒体とプローブ電極との間に働く力が急激
に変化し、滑らかな走査が困難であった。
【００１１】ここで、記録媒体表面に存在する吸着水を
極力減少させ、記録媒体とプローブ電極との間に働く相
互作用を小さくする方法として、記録層上に脂肪酸金属
塩で表面処理したり、かかる脂肪酸金属塩の分子の一部
又は全部をフッ素基で置換し、水に対する接触角を９０
°さらにはそれ以上に高くしようとする方法がある。例
えば、脂肪酸金属塩の単分子累積膜を用いることによっ
て水に対する接触角を１１５°程度とすることも可能で
あるが、この場合には記録層上の表面処理層によって、
記録層とプローブ電極の距離が離れてしまい記録層にア
クセスすることが困難になるという問題点を有してい
る。そこでかかる脂肪酸金属塩の単分子膜を用いると、
その膜中にピンホール等の欠陥を生じ、このことが原因
となって機械的耐久性の低下を招く場合があった。この
機械的強度を増すために重合性物質を用いる方法もある
が、かかる方法では一旦記録層を形成したのちに、重合
を行なうため、表面処理層内の重合度に局所的な変動を
もたらし、これが原因となって均一な表面を得にくい場
合があった。更に、利用可能な材料は重合性部位を有す
るものに限定され、その選択範囲が狭められている。更
には、重合時における膜の体積変化（膨張又は収縮）を
ゼロにすることは事実上極めて困難であり、かかる体積
変化に伴って、膜中に亀裂等の欠陥が生じ、先の脂肪酸
金属塩の単分子膜を用いる場合と同様、機械的耐久性の
低下を招く場合があった。また、前記フッ素置換物の単
分子膜又は単分子累積膜を作成する場合においても、該
フッ素置換物が互いに反発するため、均質さを保ったま
ま、膜内の分子密度を高めることは必ずしも容易ではな
かった。また、一般に上記単分子膜又は単分子累積膜を
作成する手法としては、ラングミュアーブロジェット
（ＬＢ）法によるのが簡単であるが、特に、前記フッ素
置換物をＬＢ法によって成膜する際には、前述した分子
の反発をうまく緩和するために、特別な金属イオンを導
入するなど、その膜材料や、成膜条件は非常に限定され
たものとなり、汎用性に乏しい。
極力減少させ、記録媒体とプローブ電極との間に働く相
互作用を小さくする方法として、記録層上に脂肪酸金属
塩で表面処理したり、かかる脂肪酸金属塩の分子の一部
又は全部をフッ素基で置換し、水に対する接触角を９０
°さらにはそれ以上に高くしようとする方法がある。例
えば、脂肪酸金属塩の単分子累積膜を用いることによっ
て水に対する接触角を１１５°程度とすることも可能で
あるが、この場合には記録層上の表面処理層によって、
記録層とプローブ電極の距離が離れてしまい記録層にア
クセスすることが困難になるという問題点を有してい
る。そこでかかる脂肪酸金属塩の単分子膜を用いると、
その膜中にピンホール等の欠陥を生じ、このことが原因
となって機械的耐久性の低下を招く場合があった。この
機械的強度を増すために重合性物質を用いる方法もある
が、かかる方法では一旦記録層を形成したのちに、重合
を行なうため、表面処理層内の重合度に局所的な変動を
もたらし、これが原因となって均一な表面を得にくい場
合があった。更に、利用可能な材料は重合性部位を有す
るものに限定され、その選択範囲が狭められている。更
には、重合時における膜の体積変化（膨張又は収縮）を
ゼロにすることは事実上極めて困難であり、かかる体積
変化に伴って、膜中に亀裂等の欠陥が生じ、先の脂肪酸
金属塩の単分子膜を用いる場合と同様、機械的耐久性の
低下を招く場合があった。また、前記フッ素置換物の単
分子膜又は単分子累積膜を作成する場合においても、該
フッ素置換物が互いに反発するため、均質さを保ったま
ま、膜内の分子密度を高めることは必ずしも容易ではな
かった。また、一般に上記単分子膜又は単分子累積膜を
作成する手法としては、ラングミュアーブロジェット
（ＬＢ）法によるのが簡単であるが、特に、前記フッ素
置換物をＬＢ法によって成膜する際には、前述した分子
の反発をうまく緩和するために、特別な金属イオンを導
入するなど、その膜材料や、成膜条件は非常に限定され
たものとなり、汎用性に乏しい。
【００１２】一方、媒体表面の凹凸による成分を再生信
号から除き、かつ記録時の間隔制御が印加電圧に左右さ
れないようにするためには、媒体表面とプローブ間の距
離を両者間に流れる電流以外の量によって一定に制御す
る方法が考えられ、このひとつとして両者間に働く原子
間力によって距離を制御する原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）
の利用が特開平１−２４５４４５号公報に開示されてい
る。
号から除き、かつ記録時の間隔制御が印加電圧に左右さ
れないようにするためには、媒体表面とプローブ間の距
離を両者間に流れる電流以外の量によって一定に制御す
る方法が考えられ、このひとつとして両者間に働く原子
間力によって距離を制御する原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）
の利用が特開平１−２４５４４５号公報に開示されてい
る。
【００１３】ＡＦＭにおいては、プローブ電極を弾性体
で支持し、プローブ電極先端と記録媒体表面間に働く力
を弾性体の変形によるばね力と釣り合わせ、この変形量
を一定に保持するように帰還制御が行なわれる。
で支持し、プローブ電極先端と記録媒体表面間に働く力
を弾性体の変形によるばね力と釣り合わせ、この変形量
を一定に保持するように帰還制御が行なわれる。
【００１４】従って、本発明の目的とするところは、記
録媒体の水に対する接触角を大きくすることで、記録媒
体表面の吸着水の影響を極力小さくし、大気中での使用
における耐湿性を高め、かつ、記録媒体表面の凹凸を減
少させることで、記録媒体とプローブ電極の走査を滑ら
かに行なうことを可能にする記録媒体を提供することに
あり、さらにかかる記録媒体に対して原子間力を用い、
より簡易な形で、プローブ・媒体間を可能なかぎり一定
に保持して、情報の記録・再生等を行なう情報処理装置
を提供することにある。
録媒体の水に対する接触角を大きくすることで、記録媒
体表面の吸着水の影響を極力小さくし、大気中での使用
における耐湿性を高め、かつ、記録媒体表面の凹凸を減
少させることで、記録媒体とプローブ電極の走査を滑ら
かに行なうことを可能にする記録媒体を提供することに
あり、さらにかかる記録媒体に対して原子間力を用い、
より簡易な形で、プローブ・媒体間を可能なかぎり一定
に保持して、情報の記録・再生等を行なう情報処理装置
を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段及び作用】そこで本発明は
第一に、少なくとも一本のフルオロアルキル基と少なく
とも一つのアルコキシ基又は塩素が硅素に結合した有機
硅素化合物からなる表面処理剤とポリイミドの単分子膜
又は単分子累積膜からなる記録層を有する記録媒体であ
り、１０５°以上の水に対する接触角を有することで、
記録媒体表面の吸着水が少なく、耐湿性に優れた記録媒
体である。
第一に、少なくとも一本のフルオロアルキル基と少なく
とも一つのアルコキシ基又は塩素が硅素に結合した有機
硅素化合物からなる表面処理剤とポリイミドの単分子膜
又は単分子累積膜からなる記録層を有する記録媒体であ
り、１０５°以上の水に対する接触角を有することで、
記録媒体表面の吸着水が少なく、耐湿性に優れた記録媒
体である。
【００１６】また、本発明は第二に、ポリアミド酸と第
１のアルキルアミンとＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2
からなる単分子膜又はその累積膜からなる記録層を有す
る記録媒体であり、ポリアミド酸と第１のアルキルアミ
ンと混合して作成したポリアミド酸アルキルアミン塩を
マトリックス材とし、かかるマトリックス材にＣＦ
3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 を添加することによって、
上記マトリックス材中に存在する第１のアルキルアミン
分子間の空間をＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 が埋め
ることで、かかる単分子膜又は単分子累積膜の機械的強
度、配向性、均一性、面内密度が向上し記録媒体表面の
均一性も保たれている。さらに９５°以上の水に対する
接触角を有することで、記録媒体表面の吸着水が少な
く、耐湿性に優れた記録媒体である。
１のアルキルアミンとＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2
からなる単分子膜又はその累積膜からなる記録層を有す
る記録媒体であり、ポリアミド酸と第１のアルキルアミ
ンと混合して作成したポリアミド酸アルキルアミン塩を
マトリックス材とし、かかるマトリックス材にＣＦ
3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 を添加することによって、
上記マトリックス材中に存在する第１のアルキルアミン
分子間の空間をＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 が埋め
ることで、かかる単分子膜又は単分子累積膜の機械的強
度、配向性、均一性、面内密度が向上し記録媒体表面の
均一性も保たれている。さらに９５°以上の水に対する
接触角を有することで、記録媒体表面の吸着水が少な
く、耐湿性に優れた記録媒体である。
【００１７】上記本発明第一，第二においては、９０°
以上の水に対する接触角を記録媒体に与えることによっ
て、該記録媒体−プローブ電極間の相互作用が小さく、
滑らかな走査が可能になり、高速走査時の記録・再生時
のエラーを減少させることが可能である。
以上の水に対する接触角を記録媒体に与えることによっ
て、該記録媒体−プローブ電極間の相互作用が小さく、
滑らかな走査が可能になり、高速走査時の記録・再生時
のエラーを減少させることが可能である。
【００１８】更に、本発明は第三に、上記本発明の記録
媒体にプローブを介して情報の記録及び／又は再生を行
う情報処理装置であり、プローブを支持する弾性部材
を、プローブ・記録媒体の間隔変動を補正する方向に変
形させる力、例えばプローブ・記録媒体間の原子間斥力
がプローブ・記録媒体間に作用するように、プローブ・
記録媒体を配置することによってプローブ・記録媒体間
隔を制御し、該制御状態で前記プローブ・記録媒体間に
電圧を印加して情報の記録を行なう及び／又は、前記プ
ローブ・情報記録媒体間の電流を検出、或いはこの電流
の検出により記録媒体の電気特性を検出することによっ
て再生を行なうようにしている。
媒体にプローブを介して情報の記録及び／又は再生を行
う情報処理装置であり、プローブを支持する弾性部材
を、プローブ・記録媒体の間隔変動を補正する方向に変
形させる力、例えばプローブ・記録媒体間の原子間斥力
がプローブ・記録媒体間に作用するように、プローブ・
記録媒体を配置することによってプローブ・記録媒体間
隔を制御し、該制御状態で前記プローブ・記録媒体間に
電圧を印加して情報の記録を行なう及び／又は、前記プ
ローブ・情報記録媒体間の電流を検出、或いはこの電流
の検出により記録媒体の電気特性を検出することによっ
て再生を行なうようにしている。
【００１９】本発明第一で用いられる表面処理剤は少な
くとも一本のフルオロアルキル基と少なくとも一つのア
ルコキシ基又は塩素が硅素に結合している有機硅素化合
物からなり、フッ素基の特異的性質を充分に発揮するた
めには一本のフルオロアルキル基が有する炭素数が１０
〜２０であることが好ましい。かかるフルオロアルキル
基はアルキル基の水素原子の一部又は全部がフッ素基で
置換された官能基を指している。
くとも一本のフルオロアルキル基と少なくとも一つのア
ルコキシ基又は塩素が硅素に結合している有機硅素化合
物からなり、フッ素基の特異的性質を充分に発揮するた
めには一本のフルオロアルキル基が有する炭素数が１０
〜２０であることが好ましい。かかるフルオロアルキル
基はアルキル基の水素原子の一部又は全部がフッ素基で
置換された官能基を指している。
【００２０】又、前記アルコキシ基としては、メトキシ
又は、エトキシが好ましく、前記有機硅素化合物はかか
るアルコキシ基又は塩素を少なくとも１つ有していれば
良いが、かかるアルコキシ基又は塩素を２つ又は３つ有
している場合には、基板又は薄膜表面との結合はより強
固になり、隣接する有機硅素化合物同志の結合も期待で
きる。
又は、エトキシが好ましく、前記有機硅素化合物はかか
るアルコキシ基又は塩素を少なくとも１つ有していれば
良いが、かかるアルコキシ基又は塩素を２つ又は３つ有
している場合には、基板又は薄膜表面との結合はより強
固になり、隣接する有機硅素化合物同志の結合も期待で
きる。
【００２１】本発明第一においてフルオロアルキル基、
アルコキシ基又は塩素の他、有機硅素化合物に結合して
いる官能基について何等制限を有していないが、前記フ
ルオロアルキル基と比較して、立体的に小さいものであ
ることが望ましく、例えば水酸基、メチル基を挙げるこ
とが出来る。
アルコキシ基又は塩素の他、有機硅素化合物に結合して
いる官能基について何等制限を有していないが、前記フ
ルオロアルキル基と比較して、立体的に小さいものであ
ることが望ましく、例えば水酸基、メチル基を挙げるこ
とが出来る。
【００２２】かかる記録層の水に対する接触角が高くな
る詳細な機構は明らかでないが、加熱焼成することでポ
リアミド酸アミン塩の脱水閉環化（イミド化）反応及び
脱アミン化反応と同時に有機硅素化合物との相互拡散が
生じ、フッ素基が最表面に並ぶことで水に対する接触角
が高くなるものと考えられる。また、加熱焼成により記
録層表面が平滑になることが走査型電子顕微鏡観察によ
っても確かめられた。
る詳細な機構は明らかでないが、加熱焼成することでポ
リアミド酸アミン塩の脱水閉環化（イミド化）反応及び
脱アミン化反応と同時に有機硅素化合物との相互拡散が
生じ、フッ素基が最表面に並ぶことで水に対する接触角
が高くなるものと考えられる。また、加熱焼成により記
録層表面が平滑になることが走査型電子顕微鏡観察によ
っても確かめられた。
【００２３】本発明第一においてはポリイミド単分子
膜、単分子累積膜はラングミュアーブロジェット（Ｌ
Ｂ）法によって形成することが薄膜化の観点からいって
好ましい。高分子材料であるポリイミドをＬＢ法を用い
て成膜するためには、まず、ポリアミド酸に適度の疎水
性を導入するための長鎖アルキルアミン類を混合し、ポ
リアミド酸アミン塩として成膜し、その後、加熱焼成す
ることにより、脱水閉環化（イミド化）反応および脱ア
ミン化反応を行なわしめ、ポリイミド膜とする。
膜、単分子累積膜はラングミュアーブロジェット（Ｌ
Ｂ）法によって形成することが薄膜化の観点からいって
好ましい。高分子材料であるポリイミドをＬＢ法を用い
て成膜するためには、まず、ポリアミド酸に適度の疎水
性を導入するための長鎖アルキルアミン類を混合し、ポ
リアミド酸アミン塩として成膜し、その後、加熱焼成す
ることにより、脱水閉環化（イミド化）反応および脱ア
ミン化反応を行なわしめ、ポリイミド膜とする。
【００２４】また、本発明第二において、ポリアミド酸
と第１のアルキルアミンにＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）Ｎ
Ｈ 2 を混合することによって形成される単分子膜又は単
分子累積膜は従来公知の塗布法などを用いることも可能
であるが、本発明第二においてもラングミュアーブロジ
ェット（ＬＢ）法を用いるのが好ましい。
と第１のアルキルアミンにＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）Ｎ
Ｈ 2 を混合することによって形成される単分子膜又は単
分子累積膜は従来公知の塗布法などを用いることも可能
であるが、本発明第二においてもラングミュアーブロジ
ェット（ＬＢ）法を用いるのが好ましい。
【００２５】より詳しくは、記録層としてポリアミド酸
と一般式（１）から（３）のいずれかで表される第１の
アルキルアミンとＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 から
なる単分子膜又はその累積膜を用いることで均一な膜厚
を有し、水に対する接触角が９５°以上の記録媒体を実
現した。
と一般式（１）から（３）のいずれかで表される第１の
アルキルアミンとＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 から
なる単分子膜又はその累積膜を用いることで均一な膜厚
を有し、水に対する接触角が９５°以上の記録媒体を実
現した。
【００２６】
【化２】 但し、Ｘ，Ｙは−Ｈ，−ＣＨ3 ，−Ｃ2Ｈ5のうちのい
ずれかを表し、Ｘ，Ｙに含まれる炭素の数をそれぞれ
ｎ，ｍとしたとき一般式（１）から（３）において ｐ≦２６，ｑ≦２６，ｗ≦２６ １６≦ｐ＋ｎ＋ｍ≦２６ １７≦ｐ＋ｑ＋ｎ≦５２ １８≦ｐ＋ｑ＋ｗ≦６０ 本発明で用いられるポリアミド酸はカルボン酸無水物と
ジアミンとを縮合反応させることによって得られる。カ
ルボン酸無水物としては例えば、ピロメリット酸無水
物、３，３’，４，４’−ビフェニルテトラカルボン酸
無水物、３，３’，４，４’−ベンゾフェノンテトラカ
ルボン酸無水物、２，２−ビス（３，４−ジカルボキシ
フェニル）−１，１，１，３，３，３−ヘキサフルオロ
プロパン酸無水物等が挙げられる。ジアミンとしてはフ
ェニレンジアミン、４，４’−オキシジアニリン、４，
４’−ジオキシフェニレンジアニリン、４，４’−フェ
ニレンジアニリン、４，４’−チオジアニリン、４，
４’−サルフォニルジアニリン、４，４’−メチレンジ
アニリン、２−ビス（４−アミノフェニル）−１，１，
１，３，３，３−ヘキサフルオロプロパン、１，３−ビ
ス（３−アミノプロピル）−１，１，３，３−テトラメ
チルジシロキサンなどが挙げられる。
ずれかを表し、Ｘ，Ｙに含まれる炭素の数をそれぞれ
ｎ，ｍとしたとき一般式（１）から（３）において ｐ≦２６，ｑ≦２６，ｗ≦２６ １６≦ｐ＋ｎ＋ｍ≦２６ １７≦ｐ＋ｑ＋ｎ≦５２ １８≦ｐ＋ｑ＋ｗ≦６０ 本発明で用いられるポリアミド酸はカルボン酸無水物と
ジアミンとを縮合反応させることによって得られる。カ
ルボン酸無水物としては例えば、ピロメリット酸無水
物、３，３’，４，４’−ビフェニルテトラカルボン酸
無水物、３，３’，４，４’−ベンゾフェノンテトラカ
ルボン酸無水物、２，２−ビス（３，４−ジカルボキシ
フェニル）−１，１，１，３，３，３−ヘキサフルオロ
プロパン酸無水物等が挙げられる。ジアミンとしてはフ
ェニレンジアミン、４，４’−オキシジアニリン、４，
４’−ジオキシフェニレンジアニリン、４，４’−フェ
ニレンジアニリン、４，４’−チオジアニリン、４，
４’−サルフォニルジアニリン、４，４’−メチレンジ
アニリン、２−ビス（４−アミノフェニル）−１，１，
１，３，３，３−ヘキサフルオロプロパン、１，３−ビ
ス（３−アミノプロピル）−１，１，３，３−テトラメ
チルジシロキサンなどが挙げられる。
【００２７】さらにかかるポリアミド酸はそのポリマー
主鎖中に前述の構造単位が一部含まれていてもよいので
２種以上のカルボン酸無水物及び／又は、２種以上のジ
アミンを用いた共重合体ポリアミド酸の利用も可能であ
る。
主鎖中に前述の構造単位が一部含まれていてもよいので
２種以上のカルボン酸無水物及び／又は、２種以上のジ
アミンを用いた共重合体ポリアミド酸の利用も可能であ
る。
【００２８】本発明において、上記アルキルアミンには
１〜３級のアルキルアミン、更に、アルキル基の一部又
は全部がハロゲン置換されているもの、アルキル鎖の一
部が水酸基に置換されているもの、分岐型アルキル基、
ベンゼン環等環状構造を有しているものなどを用いるこ
とが可能である。
１〜３級のアルキルアミン、更に、アルキル基の一部又
は全部がハロゲン置換されているもの、アルキル鎖の一
部が水酸基に置換されているもの、分岐型アルキル基、
ベンゼン環等環状構造を有しているものなどを用いるこ
とが可能である。
【００２９】特に、上記ポリアミド酸、アルキルアミン
のうち、少なくとも１つ以上若しくは全てについてその
分子内にフッ素基を有している場合、さらに水に対する
接触角を向上させることが容易である。
のうち、少なくとも１つ以上若しくは全てについてその
分子内にフッ素基を有している場合、さらに水に対する
接触角を向上させることが容易である。
【００３０】これら分子の混合比としては、ポリアミド
酸のカルボキシル基をすべてアミン塩化させる程度とす
ることが好ましい。即ち、ポリアミド酸の１繰り返し単
位当たり通常２個のカルボキシル基が存在するが、本発
明第一の場合ポリアミド酸の繰り返し単位数の総和：ア
ルキルアミンのモル数＝１：１から１：３、より好まし
くは１：２から１：２．５であり、また本発明第二の場
合ポリアミド酸の繰り返し単位数の総和：第１のアルキ
ルアミンのモル数＝１：１から１：３、より好ましくは
１：２から１：２．５、ＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ
2 のモル数はポリアミド酸の繰り返し単位数の総和：Ｃ
Ｆ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 のモル数＝１：２から
１：１００００、より好ましくは１：１０から１：１０
００である。
酸のカルボキシル基をすべてアミン塩化させる程度とす
ることが好ましい。即ち、ポリアミド酸の１繰り返し単
位当たり通常２個のカルボキシル基が存在するが、本発
明第一の場合ポリアミド酸の繰り返し単位数の総和：ア
ルキルアミンのモル数＝１：１から１：３、より好まし
くは１：２から１：２．５であり、また本発明第二の場
合ポリアミド酸の繰り返し単位数の総和：第１のアルキ
ルアミンのモル数＝１：１から１：３、より好ましくは
１：２から１：２．５、ＣＦ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ
2 のモル数はポリアミド酸の繰り返し単位数の総和：Ｃ
Ｆ 3 （ＣＦ 2 ） 2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 のモル数＝１：２から
１：１００００、より好ましくは１：１０から１：１０
００である。
【００３１】この時の溶媒としては、Ｎ，Ｎ−ジメチル
アセトアミド（ＤＭＡＣ）など、ポリアミド酸およびア
ミンが充分に溶解し、かつ水面上にかかる溶液を展開す
ることが可能な溶媒であれば何を用いてもよく、また、
混合溶媒でもよい。
アセトアミド（ＤＭＡＣ）など、ポリアミド酸およびア
ミンが充分に溶解し、かつ水面上にかかる溶液を展開す
ることが可能な溶媒であれば何を用いてもよく、また、
混合溶媒でもよい。
【００３２】また、濃度にも特に制限はないが、展開性
の面から、１×１０-7〜１×１０-3繰り返し単位数／１
の範囲とすることが好ましい。
の面から、１×１０-7〜１×１０-3繰り返し単位数／１
の範囲とすることが好ましい。
【００３３】さて、以上のようにして作成したポリアミ
ド酸アミン塩或いはポリアミド酸混合アミン塩の溶液を
水面上に静かに展開する。この時、水相としては、２〜
２５℃の純水が一般に用いられるが各種金属イオンの添
加や酸、アルカリを加えてｐＨの調整を行なっても構わ
ない。つぎに水面上に展開したポリアミド酸アミン塩溶
媒或いはポリアミド酸混合アミン塩溶媒を圧縮し、水面
上にポリアミド酸アミン塩の単分子膜を形成する。
ド酸アミン塩或いはポリアミド酸混合アミン塩の溶液を
水面上に静かに展開する。この時、水相としては、２〜
２５℃の純水が一般に用いられるが各種金属イオンの添
加や酸、アルカリを加えてｐＨの調整を行なっても構わ
ない。つぎに水面上に展開したポリアミド酸アミン塩溶
媒或いはポリアミド酸混合アミン塩溶媒を圧縮し、水面
上にポリアミド酸アミン塩の単分子膜を形成する。
【００３４】かかる単分子膜を表面圧を一定に保ったま
ま、水面上単分子膜を横切る方向に浸漬し、引き続き引
き上げることにより２層のＹ型単分子膜を支持体上に累
積することが可能となる。
ま、水面上単分子膜を横切る方向に浸漬し、引き続き引
き上げることにより２層のＹ型単分子膜を支持体上に累
積することが可能となる。
【００３５】ポリアミド酸アミン塩の単分子膜を基板上
にうつしとるには、上述した垂直浸漬法の他、水平付着
法、回転円筒法等の方法によることもできる。
にうつしとるには、上述した垂直浸漬法の他、水平付着
法、回転円筒法等の方法によることもできる。
【００３６】上記の様な単分子累積膜を金属電極で挟持
したＭＩＭ構造素子を図７に示す。図中、７１は基板、
７２は上記の単分子累積膜、７３，７４は金属電極であ
る。上記素子は図８、図９に示されるような電流電圧特
性を示し（特開昭６３−９６９５６号公報参照）、２つ
の状態（ＯＮ状態とＯＦＦ状態）は、しきい値以上の電
圧印加によって相互に遷移し、かつ、それぞれの状態は
しきい値電圧以下で保持される。これらの特性は数Åか
ら数１０００Åの膜厚のものに発現されているが、後述
実施例における記録媒体としては、特開昭６３−１６１
５５２号及び特開昭６３−１６１５５３号公報に開示さ
れた如く、数Åから５００Åの範囲の膜厚のものがよ
く、もっとも好ましくは１０Åから２００Åの膜厚を持
つものがよい。
したＭＩＭ構造素子を図７に示す。図中、７１は基板、
７２は上記の単分子累積膜、７３，７４は金属電極であ
る。上記素子は図８、図９に示されるような電流電圧特
性を示し（特開昭６３−９６９５６号公報参照）、２つ
の状態（ＯＮ状態とＯＦＦ状態）は、しきい値以上の電
圧印加によって相互に遷移し、かつ、それぞれの状態は
しきい値電圧以下で保持される。これらの特性は数Åか
ら数１０００Åの膜厚のものに発現されているが、後述
実施例における記録媒体としては、特開昭６３−１６１
５５２号及び特開昭６３−１６１５５３号公報に開示さ
れた如く、数Åから５００Åの範囲の膜厚のものがよ
く、もっとも好ましくは１０Åから２００Åの膜厚を持
つものがよい。
【００３７】また、後述する実施例で用いられる電極材
料も高い電導性を有するものであればよく、例えば、Ａ
ｕ，Ｐｔ，Ａｇ，Ｐｄ，Ａｌ，Ｉｎ，Ｓｎ，Ｐｂ，Ｗな
どの金属やこれらの合金、さらにはグラファイトやシリ
サイドまた、さらにはＩＴＯなどの導電性酸化物を始め
として数多くの材料が挙げられ、これらの本発明への適
用が考えられる。かかる材料を用いた電極形成方法とし
ても従来公知の薄膜技術で充分である。ただし、基板上
に直接形成される電極材料は表面がＬＢ膜形成の際、絶
縁性の酸化膜を作らない導電材料、例えば貴金属やＩＴ
Ｏなどの酸化物導電体を用いることが好ましい。
料も高い電導性を有するものであればよく、例えば、Ａ
ｕ，Ｐｔ，Ａｇ，Ｐｄ，Ａｌ，Ｉｎ，Ｓｎ，Ｐｂ，Ｗな
どの金属やこれらの合金、さらにはグラファイトやシリ
サイドまた、さらにはＩＴＯなどの導電性酸化物を始め
として数多くの材料が挙げられ、これらの本発明への適
用が考えられる。かかる材料を用いた電極形成方法とし
ても従来公知の薄膜技術で充分である。ただし、基板上
に直接形成される電極材料は表面がＬＢ膜形成の際、絶
縁性の酸化膜を作らない導電材料、例えば貴金属やＩＴ
Ｏなどの酸化物導電体を用いることが好ましい。
【００３８】なお、本発明の記録媒体において、記録層
の絶縁性が高い場合には、上記の金属電極を用いたほう
が好ましいが、記録層がＭΩ以下の半導体的性質を示す
ものであれば、金属電極は用いなくてもよい。
の絶縁性が高い場合には、上記の金属電極を用いたほう
が好ましいが、記録層がＭΩ以下の半導体的性質を示す
ものであれば、金属電極は用いなくてもよい。
【００３９】以下に述べる実施例中の情報処理装置で
は、プローブ電極と記録媒体間に働く斥力を弾性体の変
形によるばね力とつり合わせる構成を用いる。弾性体と
しては、例えば、両持ち梁の中央や片持ち梁の自由端側
にプローブ電極を設けるなどが挙げられる。また、梁の
材料としては、Ａｕ，Ｎｉ，ＳＵＳなどの箔を用いるの
がよく、さらに微小な梁を作るには、マイクロメカニク
スでよく行なわれるＳｉＯ2 薄膜などが挙げられる。
は、プローブ電極と記録媒体間に働く斥力を弾性体の変
形によるばね力とつり合わせる構成を用いる。弾性体と
しては、例えば、両持ち梁の中央や片持ち梁の自由端側
にプローブ電極を設けるなどが挙げられる。また、梁の
材料としては、Ａｕ，Ｎｉ，ＳＵＳなどの箔を用いるの
がよく、さらに微小な梁を作るには、マイクロメカニク
スでよく行なわれるＳｉＯ2 薄膜などが挙げられる。
【００４０】また、プローブ電極と記録媒体との間に働
く力は非常に小さいので、プローブ電極及び弾性支持体
の質量はできるだけ小さくしたほうが好ましく、また、
変化を大きくするために弾性支持体は柔らかくしかも外
部からの振動に対しては強いことが好ましい。
く力は非常に小さいので、プローブ電極及び弾性支持体
の質量はできるだけ小さくしたほうが好ましく、また、
変化を大きくするために弾性支持体は柔らかくしかも外
部からの振動に対しては強いことが好ましい。
【００４１】本発明第三の情報処理装置においては、上
記プローブ電極と記録媒体のあいだの距離を両者の間に
斥力が作用するまで近接した状態でプローブ電極を記録
媒体表面上で走査し、かつ両者間に電圧印加回路によっ
て所望の電圧を加え、記録、再生、及び消去を行なう。
記プローブ電極と記録媒体のあいだの距離を両者の間に
斥力が作用するまで近接した状態でプローブ電極を記録
媒体表面上で走査し、かつ両者間に電圧印加回路によっ
て所望の電圧を加え、記録、再生、及び消去を行なう。
【００４２】そのため、プローブ電極の先端は記録、再
生、消去の分解能をあげるためにできるだけ尖らせるこ
とが好ましい。以下の実施例では、ＳｉＯ2 基板上にＳ
ｉをフォーカストイオンビームで打ち込み、Ｓｉの上に
選択的にＳｉを結晶させ、Ａｕを蒸着して導電性処理を
行なったプローブを用いているが、プローブの形状や処
理方法は何らこれに限定するものではない。
生、消去の分解能をあげるためにできるだけ尖らせるこ
とが好ましい。以下の実施例では、ＳｉＯ2 基板上にＳ
ｉをフォーカストイオンビームで打ち込み、Ｓｉの上に
選択的にＳｉを結晶させ、Ａｕを蒸着して導電性処理を
行なったプローブを用いているが、プローブの形状や処
理方法は何らこれに限定するものではない。
【００４３】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。
【００４４】実施例１ 図１は本発明の情報処理装置を示すブロック構成図であ
る。図中、１は基板１０１、下地電極１０２、記録層１
０３からなる記録媒体、２は記録媒体１に対向して設け
られたプローブ電極、３はプローブ電極２が取付けられ
ている片持ち梁、４は片持ち梁３の支持体である。この
片持ち梁３によってプローブ電極２はＺ軸方向に変位で
きるようになっている。記録媒体１はｘｙｚ微動装置５
によってｘ，ｙ及びｚ軸方向に微小量動かすことがで
き、さらにｘｙｚ粗動装置６によって動かすことができ
る。片持ち梁の支持体４とｘｙｚ粗動装置６はベース７
に固定されている。ベース７は図示されていないが、除
震台上に設置してある。
る。図中、１は基板１０１、下地電極１０２、記録層１
０３からなる記録媒体、２は記録媒体１に対向して設け
られたプローブ電極、３はプローブ電極２が取付けられ
ている片持ち梁、４は片持ち梁３の支持体である。この
片持ち梁３によってプローブ電極２はＺ軸方向に変位で
きるようになっている。記録媒体１はｘｙｚ微動装置５
によってｘ，ｙ及びｚ軸方向に微小量動かすことがで
き、さらにｘｙｚ粗動装置６によって動かすことができ
る。片持ち梁の支持体４とｘｙｚ粗動装置６はベース７
に固定されている。ベース７は図示されていないが、除
震台上に設置してある。
【００４５】片持ち梁３はシリコンのエッチング技術を
用いて作成した。シリコンの結晶の性質を高度に利用し
た異方性エッチングの手法で長さ１００μｍ、幅２０μ
ｍ、厚さ１μｍのＳｉＯ2 の片持ち梁を形成した。この
手法は公知である［Ｋ．Ｅ．Ｐｅｔｅｒｓｅｎ，Ｐｒｏ
ｃ．ＩＥＥＥ ７０、４２０（１９８２）］。プローブ
電極２は前記異方性エッチングで作成したＳｉＯ2 の片
持ち梁３の一端にＳｉイオンを打ち込み、このＳｉ上に
選択的にＳｉを結晶成長させて、先端の鋭利なピラミッ
ド状の結晶２０２を形成した後、Ａｕを真空蒸着法によ
り厚さ３００Å蒸着し、導電層２０１を形成して作成し
た。ｘｙｚ微動装置５は円筒形圧電素子を用いており、
任意の電圧を印加することで、ｘ，ｙ及びｚ軸方向に記
録媒体１を微動できる。
用いて作成した。シリコンの結晶の性質を高度に利用し
た異方性エッチングの手法で長さ１００μｍ、幅２０μ
ｍ、厚さ１μｍのＳｉＯ2 の片持ち梁を形成した。この
手法は公知である［Ｋ．Ｅ．Ｐｅｔｅｒｓｅｎ，Ｐｒｏ
ｃ．ＩＥＥＥ ７０、４２０（１９８２）］。プローブ
電極２は前記異方性エッチングで作成したＳｉＯ2 の片
持ち梁３の一端にＳｉイオンを打ち込み、このＳｉ上に
選択的にＳｉを結晶成長させて、先端の鋭利なピラミッ
ド状の結晶２０２を形成した後、Ａｕを真空蒸着法によ
り厚さ３００Å蒸着し、導電層２０１を形成して作成し
た。ｘｙｚ微動装置５は円筒形圧電素子を用いており、
任意の電圧を印加することで、ｘ，ｙ及びｚ軸方向に記
録媒体１を微動できる。
【００４６】尚、ｘｙｚ粗動装置６にはｘｙｚステージ
を使用している。
を使用している。
【００４７】プローブ電極２と、記録媒体１の下地電極
１０２は、記録、消去用の電圧を印加する電圧印加回路
とプローブ電極２と記録媒体１の間を流れる電流を検知
する電流検知回路からなる、電圧印加及び電流検知回路
１０に接続されている。
１０２は、記録、消去用の電圧を印加する電圧印加回路
とプローブ電極２と記録媒体１の間を流れる電流を検知
する電流検知回路からなる、電圧印加及び電流検知回路
１０に接続されている。
【００４８】ｘｙｚ微動装置５及びｘｙｚ粗動装置６は
制御回路８，９によってそれぞれ駆動される。これらの
回路と、電圧印加及び電流検知回路１０はマイクロコン
ピュータ１２と接続され、制御される。
制御回路８，９によってそれぞれ駆動される。これらの
回路と、電圧印加及び電流検知回路１０はマイクロコン
ピュータ１２と接続され、制御される。
【００４９】本実施例では、記録媒体を以下の如く作成
した。
した。
【００５０】光学研磨したガラス基板（基板１０１）を
中性洗剤及びトレクレンを用いて洗浄した後、下引き層
としてＣｒを真空蒸着法により５０Å堆積させ、さらに
Ａｕを同法により、４００Å蒸着した下地電極（Ａｕ電
極１０２）を形成した。かかる基板をＣＦ3 （ＣＦ2 ）
7 ＣＨ2 ＣＨ2 Ｓｉ（ＯＣ2 Ｈ5 ）3 の蒸気中に室温で
一昼夜保持したのち、エタノール溶液に浸漬し単分子吸
着層を形成する。
中性洗剤及びトレクレンを用いて洗浄した後、下引き層
としてＣｒを真空蒸着法により５０Å堆積させ、さらに
Ａｕを同法により、４００Å蒸着した下地電極（Ａｕ電
極１０２）を形成した。かかる基板をＣＦ3 （ＣＦ2 ）
7 ＣＨ2 ＣＨ2 Ｓｉ（ＯＣ2 Ｈ5 ）3 の蒸気中に室温で
一昼夜保持したのち、エタノール溶液に浸漬し単分子吸
着層を形成する。
【００５１】次に下式で表されるポリアミド酸をジメチ
ルアセトアミド（ＤＭＡＣ）に溶解させた（単量体換算
濃度１×１０-3Ｍ）。
ルアセトアミド（ＤＭＡＣ）に溶解させた（単量体換算
濃度１×１０-3Ｍ）。
【００５２】
【化３】 続いて、別途用意したＮ，Ｎ−ジメチルオクタデシルア
ミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２（Ｖ／
Ｖ）に混合して、ポリアミド酸アミン塩溶液を調製し
た。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上に展
開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去後、
表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定に保
ちながら、上述の基板を水面を横切る方向に速度５ｍｍ
／ｍｉｎで静かに浸漬した後、続いて５ｍｍ／ｍｉｎで
静かに引き上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成した。
かかる操作を繰り返して、６層のポリアミド酸アミン塩
の単分子累積膜を形成した。
ミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２（Ｖ／
Ｖ）に混合して、ポリアミド酸アミン塩溶液を調製し
た。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上に展
開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去後、
表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定に保
ちながら、上述の基板を水面を横切る方向に速度５ｍｍ
／ｍｉｎで静かに浸漬した後、続いて５ｍｍ／ｍｉｎで
静かに引き上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成した。
かかる操作を繰り返して、６層のポリアミド酸アミン塩
の単分子累積膜を形成した。
【００５３】続いて、かかる基板を３００℃で１０分間
加熱焼成しポリイミド膜とし本発明第一における記録層
とした。
加熱焼成しポリイミド膜とし本発明第一における記録層
とした。
【００５４】かかるポリイミド膜の膜厚はエリプソメト
リ法により、一層あたり４Åと求められた。
リ法により、一層あたり４Åと求められた。
【００５５】かかる記録層の水に対する接触角は１１０
°であった。
°であった。
【００５６】次に記録、再生、消去の具体的な仕方につ
いて述べる。
いて述べる。
【００５７】図１に示した情報処理装置において、上述
のようにして得られた記録媒体１をｘｙｚ微動装置５の
上に固定した後、プローブ電極２とＡｕ電極１０２の間
にバイアス電圧１００ｍＶを印加し、ｘｙｚ粗動装置
６、そしてｘｙｚ微動装置５を駆動し、記録媒体１をプ
ローブ電極２に近付ける。プローブ電極２と記録媒体１
の間を流れる電流をモニターしながら両者間の距離を変
えてゆくと図３に示すような電流特性（図中のＩで示す
曲線）が得られた。
のようにして得られた記録媒体１をｘｙｚ微動装置５の
上に固定した後、プローブ電極２とＡｕ電極１０２の間
にバイアス電圧１００ｍＶを印加し、ｘｙｚ粗動装置
６、そしてｘｙｚ微動装置５を駆動し、記録媒体１をプ
ローブ電極２に近付ける。プローブ電極２と記録媒体１
の間を流れる電流をモニターしながら両者間の距離を変
えてゆくと図３に示すような電流特性（図中のＩで示す
曲線）が得られた。
【００５８】一方、プローブ電極２と記録媒体１が接近
すると両者の間に力が働き、この力によって片持ち梁３
が変形する。この変形量をレーザービームの片持ち梁で
の反射ビームのずれによって検出する光てこ方式を用い
て、前記電流特性と同時に測定した結果も同時に図３に
示してある（図中のＦで示す曲線）。
すると両者の間に力が働き、この力によって片持ち梁３
が変形する。この変形量をレーザービームの片持ち梁で
の反射ビームのずれによって検出する光てこ方式を用い
て、前記電流特性と同時に測定した結果も同時に図３に
示してある（図中のＦで示す曲線）。
【００５９】プローブ電極２と記録媒体１の間に斥力が
働く図３のａ領域では、両者間に流れる電流は両者間の
距離に対してほぼ一定となっている。そこで以後の走査
では、まず、回路１０によって電流をモニターして、マ
イクロコンピュータ１１による制御によってプローブ電
極２と記録媒体１とを両者間に斥力（具体的には１０-8
［Ｎ］程度）が働く距離まで接近させる。
働く図３のａ領域では、両者間に流れる電流は両者間の
距離に対してほぼ一定となっている。そこで以後の走査
では、まず、回路１０によって電流をモニターして、マ
イクロコンピュータ１１による制御によってプローブ電
極２と記録媒体１とを両者間に斥力（具体的には１０-8
［Ｎ］程度）が働く距離まで接近させる。
【００６０】この状態でｘｙｚ微動装置５は記録媒体１
のｚ軸方向の位置を固定させ、ｘ軸及びｙ軸方向に記録
媒体１を移動させることにより、プローブ電極２で記録
媒体１を走査させる。情報記録時にはこの走査中に記録
情報に応じて所定の位置で記録媒体１をＯＮ状態にする
しきい値電圧以上の電圧を回路１０で印加していく。こ
れにより記録媒体１上に情報記録がなされていく。
のｚ軸方向の位置を固定させ、ｘ軸及びｙ軸方向に記録
媒体１を移動させることにより、プローブ電極２で記録
媒体１を走査させる。情報記録時にはこの走査中に記録
情報に応じて所定の位置で記録媒体１をＯＮ状態にする
しきい値電圧以上の電圧を回路１０で印加していく。こ
れにより記録媒体１上に情報記録がなされていく。
【００６１】消去時には媒体をＯＦＦ状態に戻すしきい
値以上の電圧を印加しながら、回路１０でプローブ電極
２と記録媒体１との間に流れる電流を検出していく。こ
の時の検出電流の変化状態が媒体上に記録された情報を
示すことになる。
値以上の電圧を印加しながら、回路１０でプローブ電極
２と記録媒体１との間に流れる電流を検出していく。こ
の時の検出電流の変化状態が媒体上に記録された情報を
示すことになる。
【００６２】このようにプローブ電極の先端と記録媒体
表面とを、この間に斥力が働く距離まで近付け、該斥力
によってプローブ電極の支持体を弾性変形させた状態で
プローブ電極２を記録媒体１表面上で走査させ、同時に
プローブ電極２と記録媒体１間に媒体変化電圧を加えて
記録、消去を行ない、かつ微小電圧を印加して記録媒体
を流れる電流を検知することによって電導度の異なる領
域、即ち、記録ビットを検出する。
表面とを、この間に斥力が働く距離まで近付け、該斥力
によってプローブ電極の支持体を弾性変形させた状態で
プローブ電極２を記録媒体１表面上で走査させ、同時に
プローブ電極２と記録媒体１間に媒体変化電圧を加えて
記録、消去を行ない、かつ微小電圧を印加して記録媒体
を流れる電流を検知することによって電導度の異なる領
域、即ち、記録ビットを検出する。
【００６３】プローブ電極の支持体をプローブ電極先端
と記録媒体表面との間に働く斥力による弾性変形状態で
使用するため、媒体表面の凹凸によって、プローブ電極
先端が媒体表面に近づき斥力が大きくなれば、支持体の
変形は増して、プローブ電極先端は媒体表面から遠ざか
り、また、プローブ電極先端が媒体表面から遠ざかって
斥力が小さくなれば、支持体の変形が減りプローブ電極
先端は媒体表面に近づき、走査中の表面凹凸によるプロ
ーブ電極支持体の変形量が弾性変形の範囲にあれば、プ
ローブ電極２と記録媒体１表面との距離は、支持体にア
クチュエータを取付け、支持体の変形量によって帰還制
御をしなくても略一定に保たれることになる。
と記録媒体表面との間に働く斥力による弾性変形状態で
使用するため、媒体表面の凹凸によって、プローブ電極
先端が媒体表面に近づき斥力が大きくなれば、支持体の
変形は増して、プローブ電極先端は媒体表面から遠ざか
り、また、プローブ電極先端が媒体表面から遠ざかって
斥力が小さくなれば、支持体の変形が減りプローブ電極
先端は媒体表面に近づき、走査中の表面凹凸によるプロ
ーブ電極支持体の変形量が弾性変形の範囲にあれば、プ
ローブ電極２と記録媒体１表面との距離は、支持体にア
クチュエータを取付け、支持体の変形量によって帰還制
御をしなくても略一定に保たれることになる。
【００６４】さらにこの状態でプローブ電極と記録媒体
間に微小電圧を印加することによって検出される電流信
号には記録媒体表面の凹凸に起因する電流信号は含まれ
ないため、正確な記録ビットの再生が可能となる。
間に微小電圧を印加することによって検出される電流信
号には記録媒体表面の凹凸に起因する電流信号は含まれ
ないため、正確な記録ビットの再生が可能となる。
【００６５】また、本発明第一の記録媒体は前述した形
成方法により、記録媒体表面の均一性が高いだけでなく
水に対する接触角が１０５°以上を有しているので、記
録媒体表面をプローブ電極が走査したときにプローブ電
極先端で記録媒体表面を変形させる危険性が減少した。
さらに、記録媒体表面の吸着水が減少したために、耐湿
性が高く、記録媒体とプローブ電極間の相互作用が小さ
くなり、記録媒体に近づいたり、記録媒体からプローブ
電極が遠ざかるときに急激にプローブ電極が離れるな
ど、走査中のトラブルによる記録、再生、消去のエラー
を減少させることが可能になった。
成方法により、記録媒体表面の均一性が高いだけでなく
水に対する接触角が１０５°以上を有しているので、記
録媒体表面をプローブ電極が走査したときにプローブ電
極先端で記録媒体表面を変形させる危険性が減少した。
さらに、記録媒体表面の吸着水が減少したために、耐湿
性が高く、記録媒体とプローブ電極間の相互作用が小さ
くなり、記録媒体に近づいたり、記録媒体からプローブ
電極が遠ざかるときに急激にプローブ電極が離れるな
ど、走査中のトラブルによる記録、再生、消去のエラー
を減少させることが可能になった。
【００６６】次にこの装置において行なった記録、再
生、消去の実験について述べる。
生、消去の実験について述べる。
【００６７】検出電流をモニターしながらプローブ電極
２と記録媒体１との距離を図３のａ領域で示す状態まで
接近させ、この状態でｘｙｚ微動装置５、ｘｙｚ粗動装
置６の制御回路８，９の出力を保持し、ＯＮ状態を生じ
るしきい値電圧Ｖth ON 以上の電圧である図４に示され
る波形を持つ三角波パルス電圧をプローブ電極２とＡｕ
電極１０２との間に印加した後、再び１００ｍＶのバイ
アスを印加して測定したところ、８μＡ程度の電流が流
れ、ＯＮ状態となったことを示した。
２と記録媒体１との距離を図３のａ領域で示す状態まで
接近させ、この状態でｘｙｚ微動装置５、ｘｙｚ粗動装
置６の制御回路８，９の出力を保持し、ＯＮ状態を生じ
るしきい値電圧Ｖth ON 以上の電圧である図４に示され
る波形を持つ三角波パルス電圧をプローブ電極２とＡｕ
電極１０２との間に印加した後、再び１００ｍＶのバイ
アスを印加して測定したところ、８μＡ程度の電流が流
れ、ＯＮ状態となったことを示した。
【００６８】次にＯＮ状態からＯＦＦ状態へ変化するし
きい値電圧Ｖth OFF以上の電圧である図５に示される波
形を持つ三角波パルス電圧を印加した後、再び１００ｍ
Ｖのバイアスを印加したところ、電流値１ｎＡ程度で、
ＯＦＦ状態へ戻ることが確認された。
きい値電圧Ｖth OFF以上の電圧である図５に示される波
形を持つ三角波パルス電圧を印加した後、再び１００ｍ
Ｖのバイアスを印加したところ、電流値１ｎＡ程度で、
ＯＦＦ状態へ戻ることが確認された。
【００６９】次に前記と同様に、プローブ電極２と記録
媒体１との距離を図３のａ領域で示される状態まで接近
させた状態でｘｙｚ微動装置５のｙ，ｚ軸を固定し、ｘ
軸方向のみに駆動して電流をモニターしたところ電流値
はほぼ１ｎＡの一定値を示した。次にｘ軸方向のみを駆
動しながら、１０ｎｍ間隔に図４の波形を有するしきい
値電圧Ｖth ON 以上の三角波パルス電圧をプローブ電極
２とＡｕ電極１０２の間に印加した後、バイアス１００
ｍＶ一定下で、再び、ｘ軸方向のみの駆動を繰り返し、
プローブ電極２とＡｕ電極１０２の間を流れる電流を測
定したところ、１０ｎｍ周期で４桁程度に変化する電流
が観測され、ＯＮ状態が周期的に書き込まれたことが確
認された。さらにＯＮ状態とＯＦＦ状態とでの電流の比
もほぼ一定値を保持していた。
媒体１との距離を図３のａ領域で示される状態まで接近
させた状態でｘｙｚ微動装置５のｙ，ｚ軸を固定し、ｘ
軸方向のみに駆動して電流をモニターしたところ電流値
はほぼ１ｎＡの一定値を示した。次にｘ軸方向のみを駆
動しながら、１０ｎｍ間隔に図４の波形を有するしきい
値電圧Ｖth ON 以上の三角波パルス電圧をプローブ電極
２とＡｕ電極１０２の間に印加した後、バイアス１００
ｍＶ一定下で、再び、ｘ軸方向のみの駆動を繰り返し、
プローブ電極２とＡｕ電極１０２の間を流れる電流を測
定したところ、１０ｎｍ周期で４桁程度に変化する電流
が観測され、ＯＮ状態が周期的に書き込まれたことが確
認された。さらにＯＮ状態とＯＦＦ状態とでの電流の比
もほぼ一定値を保持していた。
【００７０】また、上記ＯＮ状態が周期的に書き込まれ
た領域を再びｘ軸駆動のみによって走査し、任意のＯＮ
状態領域上でｘｙｚ微動装置５を停止させこの位置を保
持した状態で、図５の波形を有するしきい値電圧Ｖth
OFF以上の三角波パルス電圧を印加した。ｘ軸方向のみ
の走査を繰り返し、電流を測定したところ上記パルス電
圧を印加した領域のＯＮ状態が消去され、１ｎＡ程度の
電流を示すＯＦＦ状態に戻っていることが確認された。
この任意のビット消去同様、プローブ電極２とＡｕ電極
１０２のあいだの電圧をしきい値Ｖth OFF以上に設定し
て、記録領域上を走査し、その後電流測定をしたとこ
ろ、電流値は１ｎＡ程度でほぼ一定値を示し、１０ｎｍ
周期で記録されたＯＮ状態がすべて消去されＯＦＦ状態
となったことが確認された。
た領域を再びｘ軸駆動のみによって走査し、任意のＯＮ
状態領域上でｘｙｚ微動装置５を停止させこの位置を保
持した状態で、図５の波形を有するしきい値電圧Ｖth
OFF以上の三角波パルス電圧を印加した。ｘ軸方向のみ
の走査を繰り返し、電流を測定したところ上記パルス電
圧を印加した領域のＯＮ状態が消去され、１ｎＡ程度の
電流を示すＯＦＦ状態に戻っていることが確認された。
この任意のビット消去同様、プローブ電極２とＡｕ電極
１０２のあいだの電圧をしきい値Ｖth OFF以上に設定し
て、記録領域上を走査し、その後電流測定をしたとこ
ろ、電流値は１ｎＡ程度でほぼ一定値を示し、１０ｎｍ
周期で記録されたＯＮ状態がすべて消去されＯＦＦ状態
となったことが確認された。
【００７１】続いて、ｘｙｚ微動装置５を制御し１ｎｍ
から１μｍのあいだの種々のピッチで長さ１μｍのスト
ライプを上記方法で書き込み、分解能を測定したとこ
ろ、３ｎｍ以上のピッチでは常に４桁程度の電流変化が
書き込みピッチと同じピッチで確認されたが、３ｎｍ未
満のピッチでは電流量の変化がしだいに小さくなった。
から１μｍのあいだの種々のピッチで長さ１μｍのスト
ライプを上記方法で書き込み、分解能を測定したとこ
ろ、３ｎｍ以上のピッチでは常に４桁程度の電流変化が
書き込みピッチと同じピッチで確認されたが、３ｎｍ未
満のピッチでは電流量の変化がしだいに小さくなった。
【００７２】さらに上記実験のあいだ、プローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【００７３】実施例２ 本実施例では実施例１で用いた片持ち梁の形成方法及
び、プローブ電極の形成方法によって１片のＳｉ基板上
に長さ１００μｍ、幅２０μｍ、厚さ１μｍのＳｉＯ2
の片持ち梁を複数個形成し、それぞれの片持ち梁の先端
にプローブ電極を設けている。
び、プローブ電極の形成方法によって１片のＳｉ基板上
に長さ１００μｍ、幅２０μｍ、厚さ１μｍのＳｉＯ2
の片持ち梁を複数個形成し、それぞれの片持ち梁の先端
にプローブ電極を設けている。
【００７４】本実施例の情報処理装置では、図２に示さ
れるように片持ち梁が形成されたＳｉ基板４を支持台１
３に固定している。支持台１３は少なくとも３個の圧電
素子１４を介してベース７に取付けられている。これら
圧電素子１４はマイクロコンピュータ１１によって制御
された圧電素子制御回路１２によって個々に駆動され
る。また電圧印加及び電流検知回路１０’によって、個
々のプローブ電極２に電圧が印加され、個々のプローブ
電極２と記録媒体１の間に流れる電流がそれぞれ別個に
検知される。
れるように片持ち梁が形成されたＳｉ基板４を支持台１
３に固定している。支持台１３は少なくとも３個の圧電
素子１４を介してベース７に取付けられている。これら
圧電素子１４はマイクロコンピュータ１１によって制御
された圧電素子制御回路１２によって個々に駆動され
る。また電圧印加及び電流検知回路１０’によって、個
々のプローブ電極２に電圧が印加され、個々のプローブ
電極２と記録媒体１の間に流れる電流がそれぞれ別個に
検知される。
【００７５】この他の構成は実施例１で用いたものと同
じである。
じである。
【００７６】本実施例で用いる記録媒体は実施例１と同
様にして形成されたＡｕ電極１０２上に記録層１０１を
有する。記録層１０１の形成は、以下のようにして行な
った。
様にして形成されたＡｕ電極１０２上に記録層１０１を
有する。記録層１０１の形成は、以下のようにして行な
った。
【００７７】まず、実施例１と同様にしてＣＦ3 （ＣＦ
2 ）7 ＣＨ2 ＣＨ2 Ｓｉ（ＯＣ2 Ｈ5 ）3 の単分子吸着
層を形成し、次に、下式で表されるポリアミド酸とＮ，
Ｎ−ジメチルオクタデシルアミンをそれぞれ単量体換算
濃度１×１０-3Ｍにジメチルアセトアミド（ＤＭＡＣ）
で溶解した溶液を１：２（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリア
ミド酸アミン塩溶液を調製した。
2 ）7 ＣＨ2 ＣＨ2 Ｓｉ（ＯＣ2 Ｈ5 ）3 の単分子吸着
層を形成し、次に、下式で表されるポリアミド酸とＮ，
Ｎ−ジメチルオクタデシルアミンをそれぞれ単量体換算
濃度１×１０-3Ｍにジメチルアセトアミド（ＤＭＡＣ）
で溶解した溶液を１：２（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリア
ミド酸アミン塩溶液を調製した。
【００７８】
【化４】 かかる溶液を用いて実施例１と同様にして、上記基板上
に６層のポリアミド酸アミン塩の単分子累積膜を形成し
記録層とした。
に６層のポリアミド酸アミン塩の単分子累積膜を形成し
記録層とした。
【００７９】次に、かかる基板を３００℃で１０分間加
熱焼成した。
熱焼成した。
【００８０】かかる記録層の水に対する接触角は１１７
°であった。
°であった。
【００８１】続いて、かかる記録媒体１を図２に示した
装置に設置し、ｘｙｚ微動装置５を駆動し、プローブ電
極２とＡｕ電極１０２の間にバイアス１００ｍＶを印加
した状態で両者を接近させる。この際、圧電素子１４を
制御して、全プローブ電極が一様に記録媒体１に接近す
るように調節し、全プローブを図３のａ領域の状態にな
るまで接近させる。この状態下でｘｙｚ微動装置５によ
り記録媒体１をｘ方向に移動させながら、各プローブ電
極２について実施例１と同様の記録、再生、消去操作を
行なった。
装置に設置し、ｘｙｚ微動装置５を駆動し、プローブ電
極２とＡｕ電極１０２の間にバイアス１００ｍＶを印加
した状態で両者を接近させる。この際、圧電素子１４を
制御して、全プローブ電極が一様に記録媒体１に接近す
るように調節し、全プローブを図３のａ領域の状態にな
るまで接近させる。この状態下でｘｙｚ微動装置５によ
り記録媒体１をｘ方向に移動させながら、各プローブ電
極２について実施例１と同様の記録、再生、消去操作を
行なった。
【００８２】次に本装置における実験を述べる。上述し
た接近状態で、ｘｙｚ微動装置５を制御して、記録媒体
ｘｙ面内で駆動しながら個々のプローブ電極２とＡｕ電
極１０２の間を流れる電流を測定したところ、いずれも
ほぼ１ｎＡ程度の電流値を示し、個々のプローブ電極を
流れる電流の走査中の変更は極めて小さかった。
た接近状態で、ｘｙｚ微動装置５を制御して、記録媒体
ｘｙ面内で駆動しながら個々のプローブ電極２とＡｕ電
極１０２の間を流れる電流を測定したところ、いずれも
ほぼ１ｎＡ程度の電流値を示し、個々のプローブ電極を
流れる電流の走査中の変更は極めて小さかった。
【００８３】続いて図６を用いて記録動作を説明する。
上と同様に記録媒体をｘｙ面内で駆動しながら、個々の
プローブ電極に個別のビット情報（図６中の（ａ））に
基づいて図６中の（ｂ）に示すような書き込みパルス列
を生成して、個々のプローブ電極とＡｕ電極との間に印
加した。ここで、ビット情報の最初のビットは個々のビ
ット情報すべてについてＯＮ状態に対応するビットとし
ておいた（図中ａ−１）。上記のパルス印加後、再び書
き込み時と同じ方法で記録媒体をｘｙ平面内で駆動し
て、バイアス１００ｍＶ印加条件下でプローブ電極２と
Ａｕ電極１０２の間を流れる電流を測定したところ４桁
程度の電流変化が各プローブ電極に対して得られ、これ
らの電流測定値を２値化して得たパルス列は、各プロー
ブ電極２に加えた個々のビット情報（図６中の（ａ））
に一致した。
上と同様に記録媒体をｘｙ面内で駆動しながら、個々の
プローブ電極に個別のビット情報（図６中の（ａ））に
基づいて図６中の（ｂ）に示すような書き込みパルス列
を生成して、個々のプローブ電極とＡｕ電極との間に印
加した。ここで、ビット情報の最初のビットは個々のビ
ット情報すべてについてＯＮ状態に対応するビットとし
ておいた（図中ａ−１）。上記のパルス印加後、再び書
き込み時と同じ方法で記録媒体をｘｙ平面内で駆動し
て、バイアス１００ｍＶ印加条件下でプローブ電極２と
Ａｕ電極１０２の間を流れる電流を測定したところ４桁
程度の電流変化が各プローブ電極に対して得られ、これ
らの電流測定値を２値化して得たパルス列は、各プロー
ブ電極２に加えた個々のビット情報（図６中の（ａ））
に一致した。
【００８４】次に、上で書き込んだ個々の個別ビット情
報に基づいて図６中の（ｃ）に示すような消去パルス列
を生成した。個々ですべてのビット情報に対して最初の
ビットはＯＮのまま消去しないものとしておく。書き込
み時と同じ方法で記録媒体をｘｙ平面内で駆動して、電
流値を測定し、最初のビット、即ち最初に電流値が４桁
程度変化した位置で媒体の駆動を一時停止した。この
時、初めに定めたビット情報の条件のとおりすべてのプ
ローブ電極２について４桁程度の変化が認められた。続
いて媒体の駆動を再開し、これに同期させて先に生成し
た個々のプローブ２に対して個別の消去パルス列を印加
した。再び、書き込み時と同じ方法で記録媒体１をｘｙ
平面内で駆動して電流を測定したところ、最初のビット
以外はすべてＯＦＦ状態即ち１ｎＡ程度の電流値を示し
消去が完了したことが確認された。
報に基づいて図６中の（ｃ）に示すような消去パルス列
を生成した。個々ですべてのビット情報に対して最初の
ビットはＯＮのまま消去しないものとしておく。書き込
み時と同じ方法で記録媒体をｘｙ平面内で駆動して、電
流値を測定し、最初のビット、即ち最初に電流値が４桁
程度変化した位置で媒体の駆動を一時停止した。この
時、初めに定めたビット情報の条件のとおりすべてのプ
ローブ電極２について４桁程度の変化が認められた。続
いて媒体の駆動を再開し、これに同期させて先に生成し
た個々のプローブ２に対して個別の消去パルス列を印加
した。再び、書き込み時と同じ方法で記録媒体１をｘｙ
平面内で駆動して電流を測定したところ、最初のビット
以外はすべてＯＦＦ状態即ち１ｎＡ程度の電流値を示し
消去が完了したことが確認された。
【００８５】ここで使用した消去パルスに変えて、書き
込みに用いたビット情報のうち、最初のビットを除く任
意のビットを選んで消去パルス列（図６中の（ｄ））を
生成し、前述の手法と同様にして消去実験をしたとこ
ろ、選択したビットのみの消去が確認できた。
込みに用いたビット情報のうち、最初のビットを除く任
意のビットを選んで消去パルス列（図６中の（ｄ））を
生成し、前述の手法と同様にして消去実験をしたとこ
ろ、選択したビットのみの消去が確認できた。
【００８６】さらに本実施例においてもプローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【００８７】実施例３ 記録層１０１を以下のようにして形成した点以外は、実
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
【００８８】実施例１と同様にして基板上に６層のポリ
アミド酸アミン塩の単分子累積膜を形成した。
アミド酸アミン塩の単分子累積膜を形成した。
【００８９】次に、かかる基板をＣＦ3 （ＣＦ2 ）7 Ｃ
Ｈ2 ＣＨ2 Ｓｉ（ＯＣ2 Ｈ5 ）3 の蒸気中に室温で一昼
夜保持したのち、エタノール溶液に浸漬し単分子吸着層
を形成する。
Ｈ2 ＣＨ2 Ｓｉ（ＯＣ2 Ｈ5 ）3 の蒸気中に室温で一昼
夜保持したのち、エタノール溶液に浸漬し単分子吸着層
を形成する。
【００９０】続いて、３００℃で１０分間加熱焼成を行
ない、実施例１と同様にして、かかる記録層の水に対す
る接触角を測定すると１１５°であった。
ない、実施例１と同様にして、かかる記録層の水に対す
る接触角を測定すると１１５°であった。
【００９１】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
【００９２】また、本実施例においてもプローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【００９３】実施例４ 記録層１０１を以下のようにして形成した点以外は、実
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
【００９４】実施例１と同様にして形成したＡｕ基板を
ＣＦ3 （ＣＦ2 ）7 ＣＨ2 ＣＨ2 ＳｉＣｌ3 の蒸気中に
室温で一時間保持し、吸着層を形成する。
ＣＦ3 （ＣＦ2 ）7 ＣＨ2 ＣＨ2 ＳｉＣｌ3 の蒸気中に
室温で一時間保持し、吸着層を形成する。
【００９５】次にかかる吸着層上に実施例１と全く同様
にして６層のポリイミド単分子累積膜を形成した。
にして６層のポリイミド単分子累積膜を形成した。
【００９６】続いて、かかる有機薄膜を３００℃で１０
分間加熱焼成し、水に対する接触角を測定したところ１
１２°であった。
分間加熱焼成し、水に対する接触角を測定したところ１
１２°であった。
【００９７】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
【００９８】また、本実施例においてもプローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【００９９】実施例５ 記録層１０１を以下のようにして形成した点以外は、実
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
【０１００】実施例１と同様にして形成したＡｕ基板を
ＣＦ3 （ＣＦ2 ）7 ＣＨ2 ＣＨ2 Ｓｉ（ＯＣ2 Ｈ5 ）3
の蒸気中に室温で一昼夜保持し、吸着層を形成する。
ＣＦ3 （ＣＦ2 ）7 ＣＨ2 ＣＨ2 Ｓｉ（ＯＣ2 Ｈ5 ）3
の蒸気中に室温で一昼夜保持し、吸着層を形成する。
【０１０１】次に、かかる基板を水温２０℃の純水から
なる水相上の水面を横切る方向に静かに浸漬した後、実
施例１と同様のポリアミド酸アミン塩の溶液をかかる水
相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発
除去後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を
一定に保ちながら、１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き上げ
て１層の単分子膜を作成したのち、かかる記録層を３０
０℃で１０分間加熱焼成し、記録層とした。
なる水相上の水面を横切る方向に静かに浸漬した後、実
施例１と同様のポリアミド酸アミン塩の溶液をかかる水
相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発
除去後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を
一定に保ちながら、１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き上げ
て１層の単分子膜を作成したのち、かかる記録層を３０
０℃で１０分間加熱焼成し、記録層とした。
【０１０２】かかる記録層の水に対する接触角は１１６
°であった。
°であった。
【０１０３】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
【０１０４】また、本実施例においてもプローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【０１０５】比較例１ 記録層１０１を以下のようにして形成した点以外は実施
例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なった。
以下に記録層１０１の形成方法を記す。
例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なった。
以下に記録層１０１の形成方法を記す。
【０１０６】まず、下式に示すポリアミド酸をＤＭＡＣ
に溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
に溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
【０１０７】
【化５】 続いて、別途用意したＮ−メチル−ジ−ｎ−オクタデシ
ルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２
（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリアミド酸アミン塩溶液を調
製した。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上
に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去
後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、実施例１と同様にして形成したＡｕ基板
を水面を横切る方向に速度５ｍｍ／ｍｉｎで静かに浸漬
した後、続いて１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き上げて２
層のＹ型単分子累積膜を作成した。かかる操作を繰り返
して４層のポリアミド酸アミン塩の単分子累積膜を形成
したのち、かかる記録層を３００℃で１０分間加熱焼成
し、記録層とした。
ルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２
（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリアミド酸アミン塩溶液を調
製した。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上
に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去
後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、実施例１と同様にして形成したＡｕ基板
を水面を横切る方向に速度５ｍｍ／ｍｉｎで静かに浸漬
した後、続いて１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き上げて２
層のＹ型単分子累積膜を作成した。かかる操作を繰り返
して４層のポリアミド酸アミン塩の単分子累積膜を形成
したのち、かかる記録層を３００℃で１０分間加熱焼成
し、記録層とした。
【０１０８】かかる記録層の水に対する接触角は８８°
であった。
であった。
【０１０９】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
ったがプローブ電極操作中に記録媒体表面が変形し、プ
ローブ電極が急激に記録媒体に近づき、プローブ電極走
査によるエラーが発生した。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
ったがプローブ電極操作中に記録媒体表面が変形し、プ
ローブ電極が急激に記録媒体に近づき、プローブ電極走
査によるエラーが発生した。
【０１１０】実施例６ 本実施例の記録媒体は以下の如く作成した。
【０１１１】まず、光学研磨したガラス基板（基板１０
３）を中性洗剤及びトリクレンを用いて洗浄した後、下
引き層としてＣｒを真空蒸着法により５０Å堆積させ、
さらにＡｕを同法により、４００Å蒸着した下地電極
（Ａｕ電極１０２）を形成した。
３）を中性洗剤及びトリクレンを用いて洗浄した後、下
引き層としてＣｒを真空蒸着法により５０Å堆積させ、
さらにＡｕを同法により、４００Å蒸着した下地電極
（Ａｕ電極１０２）を形成した。
【０１１２】つぎに、下式で表されるポリアミド酸をＤ
ＭＡＣに溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
ＭＡＣに溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
【０１１３】
【化６】 続いて、別途用意したＮ，Ｎ−ジメチルオクタデシルア
ミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液と２，２，３，
３，４，４，４−ヘプタフルオロブチルアミンの同溶媒
による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２：２（Ｖ／Ｖ）に混
合して、ポリアミド酸混合アミン塩溶液を調製した。か
かる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上に展開し、
水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去後、表面圧
を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定に保ちなが
ら、上述の基板を水面を横切る方向に速度５ｍｍ／ｍｉ
ｎで静かに浸漬した後、続いて５ｍｍ／ｍｉｎで静かに
引き上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成した。かかる
操作を繰り返して、４層（膜厚〜６０Å）のポリアミド
酸混合アミン塩の単分子累積膜を形成することで本発明
第２における記録層とした。
ミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液と２，２，３，
３，４，４，４−ヘプタフルオロブチルアミンの同溶媒
による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２：２（Ｖ／Ｖ）に混
合して、ポリアミド酸混合アミン塩溶液を調製した。か
かる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上に展開し、
水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去後、表面圧
を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定に保ちなが
ら、上述の基板を水面を横切る方向に速度５ｍｍ／ｍｉ
ｎで静かに浸漬した後、続いて５ｍｍ／ｍｉｎで静かに
引き上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成した。かかる
操作を繰り返して、４層（膜厚〜６０Å）のポリアミド
酸混合アミン塩の単分子累積膜を形成することで本発明
第２における記録層とした。
【０１１４】かかる記録層の水に対する接触角は９７°
であった。
であった。
【０１１５】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行う
ことができた。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行う
ことができた。
【０１１６】さらに上記実験のあいだプローブ電極によ
る記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の変
動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
る記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の変
動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【０１１７】このように、本発明第二の記録媒体は前述
した形成方法により、記録媒体表面の均一性が高いだけ
でなく水に対する接触角が９５°以上を有しているの
で、記録媒体表面をプローブ電極が走査したときにプロ
ーブ電極先端で記録媒体表面を変形させる危険性が減少
した。
した形成方法により、記録媒体表面の均一性が高いだけ
でなく水に対する接触角が９５°以上を有しているの
で、記録媒体表面をプローブ電極が走査したときにプロ
ーブ電極先端で記録媒体表面を変形させる危険性が減少
した。
【０１１８】さらに、記録媒体表面の吸着水が減少した
ために、記録媒体とプローブ電極間の相互作用が小さく
なり、記録媒体にプローブ電極先端が近づいたときに急
激にプローブ電極が記録媒体に近づいたり、記録媒体か
らプローブ電極が遠ざかるときに急激にプローブ電極が
離れるなど、走査中のトラブルによる記録、再生、消去
のエラーを減少させることが可能になった。
ために、記録媒体とプローブ電極間の相互作用が小さく
なり、記録媒体にプローブ電極先端が近づいたときに急
激にプローブ電極が記録媒体に近づいたり、記録媒体か
らプローブ電極が遠ざかるときに急激にプローブ電極が
離れるなど、走査中のトラブルによる記録、再生、消去
のエラーを減少させることが可能になった。
【０１１９】実施例７ 本実施例で用いる記録媒体は実施例６と同様にして形成
されたＡｕ電極１０２上に記録層１０１を有する。記録
層１０１の形成は、以下のようにして行なった。
されたＡｕ電極１０２上に記録層１０１を有する。記録
層１０１の形成は、以下のようにして行なった。
【０１２０】まず、下式で表されるポリアミド酸をＤＭ
ＡＣに溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
ＡＣに溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
【０１２１】
【化７】 続いて、別途用意したＮ−メチル−ジ−ｎ−オクタデシ
ルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液と２，２，
３，３，４，４，４−ヘプタフルオロブチルアミンの同
溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２：１０（Ｖ／
Ｖ）に混合して、ポリアミド酸混合アミン塩溶液を調製
した。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上に
展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去
後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、上述基板を水面を横切る方向に速度１０
ｍｍ／ｍｉｎで静かに浸漬した後、続いて１０ｍｍ／ｍ
ｉｎで静かに引き上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成
した。かかる操作を繰り返して、４層（膜厚〜６０Å）
のポリアミド酸混合アミン塩の単分子累積膜を形成し、
記録層とした。
ルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液と２，２，
３，３，４，４，４−ヘプタフルオロブチルアミンの同
溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２：１０（Ｖ／
Ｖ）に混合して、ポリアミド酸混合アミン塩溶液を調製
した。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上に
展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去
後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、上述基板を水面を横切る方向に速度１０
ｍｍ／ｍｉｎで静かに浸漬した後、続いて１０ｍｍ／ｍ
ｉｎで静かに引き上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成
した。かかる操作を繰り返して、４層（膜厚〜６０Å）
のポリアミド酸混合アミン塩の単分子累積膜を形成し、
記録層とした。
【０１２２】かかる記録層の水に対する接触角は９８°
であった。
であった。
【０１２３】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
【０１２４】また、本実施例においてもプローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【０１２５】実施例８ 記録層１０１を以下のようにして形成した点以外は、実
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
【０１２６】下式で表されるポリアミド酸をＤＭＡＣに
溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
【０１２７】
【化８】 続いて、別途用意したＮ，Ｎ−ジメチルオクタデシルア
ミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とヘプタフルオロ
ブチルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：
２：１０（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリアミド酸混合アミ
ン塩溶液を調製した。かかる溶液を水温２０℃の純水か
らなる水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。
溶媒蒸発除去後、表面圧を２０ｍＮ／ｍにまで高めた。
表面圧を一定に保ちながら、実施例６と同様にして形成
したＡｕ基板を水面を横切る方向に速度１０ｍｍ／ｍｉ
ｎで静かに浸漬した後、続いて１０ｍｍ／ｍｉｎで静か
に引き上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成した。かか
る操作を繰り返して、４層（膜厚〜６０Å）のポリアミ
ド酸混合アミン塩の単分子累積膜を形成し、記録層とし
た。
ミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とヘプタフルオロ
ブチルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：
２：１０（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリアミド酸混合アミ
ン塩溶液を調製した。かかる溶液を水温２０℃の純水か
らなる水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。
溶媒蒸発除去後、表面圧を２０ｍＮ／ｍにまで高めた。
表面圧を一定に保ちながら、実施例６と同様にして形成
したＡｕ基板を水面を横切る方向に速度１０ｍｍ／ｍｉ
ｎで静かに浸漬した後、続いて１０ｍｍ／ｍｉｎで静か
に引き上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成した。かか
る操作を繰り返して、４層（膜厚〜６０Å）のポリアミ
ド酸混合アミン塩の単分子累積膜を形成し、記録層とし
た。
【０１２８】かかる記録層の水に対する接触角は９７°
であった。
であった。
【０１２９】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
【０１３０】また、本実施例においてもプローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【０１３１】実施例９ 記録層１０１を以下のようにして形成した点以外は、実
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
【０１３２】実施例８と同様のポリアミド酸をＤＭＡＣ
に溶解させた。
に溶解させた。
【０１３３】続いて、別途用意したＮ−メチル−ジ−ｎ
−オクタデシルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液
と２，２，３，３，４，４，４−ヘプタフルオロブチル
アミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２：１
０（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリアミド酸混合アミン塩溶
液を調製した。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる
水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸
発除去後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧
を一定に保ちながら、実施例６と同様にして形成したＡ
ｕ基板を水面を横切る方向に速度１０ｍｍ／ｍｉｎで静
かに浸漬した後、続いて１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き
上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成した。かかる操作
を繰り返して、２層（膜厚〜３０Å）のポリアミド酸混
合アミン塩の単分子累積膜を形成し、記録層とした。
−オクタデシルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液
と２，２，３，３，４，４，４−ヘプタフルオロブチル
アミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２：１
０（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリアミド酸混合アミン塩溶
液を調製した。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる
水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸
発除去後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧
を一定に保ちながら、実施例６と同様にして形成したＡ
ｕ基板を水面を横切る方向に速度１０ｍｍ／ｍｉｎで静
かに浸漬した後、続いて１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き
上げて２層のＹ型単分子累積膜を作成した。かかる操作
を繰り返して、２層（膜厚〜３０Å）のポリアミド酸混
合アミン塩の単分子累積膜を形成し、記録層とした。
【０１３４】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
【０１３５】また、本実施例においてもプローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【０１３６】実施例１０ 記録層１０１を以下のようにして形成した点以外は実施
例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なった。
以下に記録層１０１の形成方法を記す。
例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なった。
以下に記録層１０１の形成方法を記す。
【０１３７】実施例６と同様のポリアミド酸をＤＭＡＣ
に溶解し、別途用意したＮ，Ｎ−ジメチルオクタデシル
アミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液と２，２，３，
３，４，４，４−ヘプタフルオロブチルアミンの同溶媒
による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２：１０（Ｖ／Ｖ）に
混合して、ポリアミド酸混合アミン塩溶液を調製した。
に溶解し、別途用意したＮ，Ｎ−ジメチルオクタデシル
アミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液と２，２，３，
３，４，４，４−ヘプタフルオロブチルアミンの同溶媒
による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２：１０（Ｖ／Ｖ）に
混合して、ポリアミド酸混合アミン塩溶液を調製した。
【０１３８】ここで、実施例６と同様にして形成したＡ
ｕ基板を水温２０℃の純水からなる水相上の水面を横切
る方向に静かに浸漬した後、前述溶液をかかる水相上に
展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去
後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き上げて１
層（１５Å）の単分子膜を作成し、記録層とした。
ｕ基板を水温２０℃の純水からなる水相上の水面を横切
る方向に静かに浸漬した後、前述溶液をかかる水相上に
展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去
後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き上げて１
層（１５Å）の単分子膜を作成し、記録層とした。
【０１３９】かかる記録層の水に対する接触角は９８°
であった。
であった。
【０１４０】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
うことができた。
【０１４１】また、本実施例においてもプローブ電極に
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
よる記録媒体表面の変形やプローブ電極の急激な位置の
変動はなくプローブ電極走査中のエラーはなかった。
【０１４２】比較例２ 記録層１０１を以下のようにして形成した点以外は、実
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
施例１，２と同様の記録、再生、消去の実験を行なっ
た。以下に記録層１０１の形成方法を記す。
【０１４３】まず、下式に示すポリアミド酸をＤＭＡＣ
に溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
に溶解させた（単量体換算濃度１×１０-3Ｍ）。
【０１４４】
【化９】 続いて、別途用意したＮ−メチル−ジ−ｎ−オクタデシ
ルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２
（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリアミド酸アミン塩溶液を調
製した。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上
に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去
後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、実施例６と同様にして形成したＡｕ基板
を水面を横切る方向に速度５ｍｍ／ｍｉｎで静かに浸漬
した後、続いて１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き上げて２
層のＹ型単分子累積膜を作成した。かかる操作を繰り返
して、４層（膜厚〜６０Å）のポリアミド酸アミン塩の
単分子累積膜を形成し、記録層とした。
ルアミンの同溶媒による１×１０-3Ｍ溶液とを１：２
（Ｖ／Ｖ）に混合して、ポリアミド酸アミン塩溶液を調
製した。かかる溶液を水温２０℃の純水からなる水相上
に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発除去
後、表面圧を２５ｍＮ／ｍにまで高めた。表面圧を一定
に保ちながら、実施例６と同様にして形成したＡｕ基板
を水面を横切る方向に速度５ｍｍ／ｍｉｎで静かに浸漬
した後、続いて１０ｍｍ／ｍｉｎで静かに引き上げて２
層のＹ型単分子累積膜を作成した。かかる操作を繰り返
して、４層（膜厚〜６０Å）のポリアミド酸アミン塩の
単分子累積膜を形成し、記録層とした。
【０１４５】かかる記録層の水に対する接触角は９４°
であった。
であった。
【０１４６】以上のようにして形成した記録媒体１に対
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
ったがプローブ電極走査中に記録媒体表面が変形し、プ
ローブ電極が急激に記録媒体に近づき、プローブ電極走
査によるエラーが発生した。
しても、実施例１，２と同様な記録、再生、消去を行な
ったがプローブ電極走査中に記録媒体表面が変形し、プ
ローブ電極が急激に記録媒体に近づき、プローブ電極走
査によるエラーが発生した。
【０１４７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明第一の記録
媒体は、記録層表面の平滑性が高く、さらに水に対する
接触角が１０５°以上であり、記録媒体表面の吸着水が
少なく、耐湿性に優れる。また、本発明第二の記録媒体
は、記録層の機械的強度、配向性、均一性が高く、さら
に水に対する接触角が９５°以上であり耐湿性に優れ
る。このため、本発明の記録媒体にプローブを介して情
報の記録・再生等を行なう情報処理装置では、記録媒体
−プローブ電極間の相互作用が小さく、滑らかな走査が
可能であり、更にはＳ／Ｎ比が向上されるため、高速走
査での記録・再生時のエラーが減少し、高速かつ高精度
の情報処理が実現される。
媒体は、記録層表面の平滑性が高く、さらに水に対する
接触角が１０５°以上であり、記録媒体表面の吸着水が
少なく、耐湿性に優れる。また、本発明第二の記録媒体
は、記録層の機械的強度、配向性、均一性が高く、さら
に水に対する接触角が９５°以上であり耐湿性に優れ
る。このため、本発明の記録媒体にプローブを介して情
報の記録・再生等を行なう情報処理装置では、記録媒体
−プローブ電極間の相互作用が小さく、滑らかな走査が
可能であり、更にはＳ／Ｎ比が向上されるため、高速走
査での記録・再生時のエラーが減少し、高速かつ高精度
の情報処理が実現される。
【図１】本発明の実施例１の情報処理装置のブロック構
成図である。
成図である。
【図２】本発明の実施例２の複数のプローブ電極を備え
た情報処理装置のブロック構成図である。
た情報処理装置のブロック構成図である。
【図３】プローブ電極と記録層表面との距離を変えたと
きに得られた両者間に流れる電流と両者間に働く力の変
化を示す特性図である。
きに得られた両者間に流れる電流と両者間に働く力の変
化を示す特性図である。
【図４】記録用のパルス電圧波形である。
【図５】消去用のパルス電圧波形である。
【図６】複数個のプローブ電極を用いた記録、再生、消
去実験においてある１つのプローブ電極に与えられたビ
ット情報、記録層パルス列、消去用パルス列を示す。
去実験においてある１つのプローブ電極に与えられたビ
ット情報、記録層パルス列、消去用パルス列を示す。
【図７】本発明に用いた記録層を金属電極で挟持したＭ
ＩＭ素子の概略構成図である。
ＩＭ素子の概略構成図である。
【図８】図７の素子で得られる電流電圧特性である。
【図９】図７の素子で得られるメモリー効果を表す電流
電圧特性である。
電圧特性である。
１ 記録媒体 ２ プローブ電極 ３ 片持ち梁 ４ 片持ち梁の支持体 ５ ｘｙｚ微動装置 ６ ｘｙｚ粗動装置 ７ ベース ８ ｘｙｚ微動装置の制御回路 ９ ｘｙｚ粗動装置の制御回路 １０ 電圧印加及び電流検知回路 １１ マイクロコンピュータ １２ 圧電素子の制御回路 １３ 支持台 １４ 圧電素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−156749（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−264217（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 9/14
Claims (10)
- 【請求項１】 プローブ電極を介して情報の記録、再
生、消去を行う情報処理装置に用いる記録媒体であっ
て、少なくとも一本のフルオロアルキル基と少なくとも
一つのアルコキシ基又は塩素が硅素に結合した有機硅素
化合物からなる表面処理剤とポリイミドの単分子膜又は
単分子累積膜からなる記録層を有することを特徴とする
記録媒体。 - 【請求項２】 ポリイミドが分子内にフッ素基を有して
いることを特徴とする請求項１に記載の記録媒体。 - 【請求項３】 プローブ電極を介して情報の記録、再
生、消去を行う情報処理装置に用いる記録媒体であっ
て、ポリアミド酸と一般式（１）から（３）のいずれか
で表される第１のアルキルアミンとＣＦ 3 （ＣＦ 2 ）
2 （ＣＨ 2 ）ＮＨ 2 からなる単分子膜又はその累積膜から
なる記録層を有していることを特徴とする記録媒体。 【化１】 但し、Ｘ，Ｙは−Ｈ，−ＣＨ3 ，−Ｃ2Ｈ5のうちのい
ずれかを表し、Ｘ，Ｙに含まれる炭素の数をそれぞれ
ｎ，ｍとしたとき一般式（１）から（３）において ｐ≦２６，ｑ≦２６，ｗ≦２６ １６≦ｐ＋ｎ＋ｍ≦２６ １７≦ｐ＋ｑ＋ｎ≦５２ １８≦ｐ＋ｑ＋ｗ≦６０ - 【請求項４】 ポリアミド酸が分子内にフッ素基を有し
ていることを特徴とする請求項３に記載の記録媒体。 - 【請求項５】 請求項１〜４いずれかに記載の記録媒体
にプローブを介して情報の記録及び／又は再生を行なう
ことを特徴とする情報処理装置。 - 【請求項６】 プローブを支持する弾性部材を、プロー
ブ・記録媒体の間隔変動を補正する方向に変形させる力
がプローブ・記録媒体間に作用するように、プローブ・
記録媒体を配置することによってプローブ・記録媒体間
隔を制御し、該制御状態で前記プローブ・記録媒体間の
電流を検出することによって再生を行なうことを特徴と
する請求項５記載の情報処理装置。 - 【請求項７】 プローブ・記録媒体間に作用する力がプ
ローブ・記録媒体間の原子間斥力であることを特徴とす
る請求項６記載の情報処理装置。 - 【請求項８】 プローブ・記録媒体間の電圧印加により
記録媒体の電気特性を変化させることにより記録を行な
うことを特徴とする請求項５〜７いずれかに記載の情報
処理装置。 - 【請求項９】 プローブ・記録媒体間の電流を検出して
記録媒体の電気特性を検出することにより再生を行なう
ことを特徴とする請求項８記載の情報処理装置。 - 【請求項１０】 各々が弾性部材で支持されている複数
のプローブを有することを特徴とする請求項５〜９いず
れかに記載の情報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22364092A JP3060143B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | 記録媒体及びそれを用いた情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22364092A JP3060143B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | 記録媒体及びそれを用いた情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0652581A JPH0652581A (ja) | 1994-02-25 |
| JP3060143B2 true JP3060143B2 (ja) | 2000-07-10 |
Family
ID=16801365
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22364092A Expired - Fee Related JP3060143B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | 記録媒体及びそれを用いた情報処理装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3060143B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100389903B1 (ko) | 2000-12-01 | 2003-07-04 | 삼성전자주식회사 | 접촉 저항 측정을 이용한 정보 저장 장치 및 그 기록과재생 방법 |
| KR100499127B1 (ko) * | 2002-07-05 | 2005-07-04 | 삼성전자주식회사 | 고밀도 정보저장매체 및 그 제조방법 및 정보저장장치 및이를 이용한 정보 기록 및 재생 및 소거방법 |
-
1992
- 1992-07-31 JP JP22364092A patent/JP3060143B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH0652581A (ja) | 1994-02-25 |
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