JP3056033U - Sockets and contacts for ball grid array integrated circuit chips - Google Patents

Sockets and contacts for ball grid array integrated circuit chips

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JP3056033U
JP3056033U JP1998005207U JP520798U JP3056033U JP 3056033 U JP3056033 U JP 3056033U JP 1998005207 U JP1998005207 U JP 1998005207U JP 520798 U JP520798 U JP 520798U JP 3056033 U JP3056033 U JP 3056033U
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添財 李
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 接触不良を防止するボールグリットアレイ集
積回路チップのソケットとコンタクトを提供する。 【解決手段】 本考案はボールグリットアレイ集積回路
チップ(BGA ICチップ)のソケットとコンタクト
に関するもので、ソケットは上部カバー10、スライダ
ー20、プラスチックハウジング30、ハンドルバー4
0、金属コンタクト、スプリング、固定脚70等の部品
から構成され、BGA ICチップをソケット内に装着
した後、BGA ICチップ下端にある金属ボールとソ
ケット内の金属コンタクトは側圧により確実に接触し、
傾斜角を持つコンタクト足部とPCBの半田付けの精度
も向上する。またハウジング上部の覗孔を利用して半田
付け作業の良否を肉眼で観測することが出来るので半田
付けの不良を減少させることができる。
(57) [Problem] To provide a socket and a contact of a ball grid array integrated circuit chip for preventing a contact failure. SOLUTION: The present invention relates to a socket and a contact of a ball grid array integrated circuit chip (BGA IC chip), and the socket includes an upper cover 10, a slider 20, a plastic housing 30, and a handle bar 4.
After the BGA IC chip is mounted in the socket, the metal ball at the lower end of the BGA IC chip and the metal contact in the socket are securely contacted by lateral pressure.
The accuracy of soldering the contact foot with the inclined angle to the PCB is also improved. Further, the quality of the soldering operation can be visually observed using the viewing hole in the upper part of the housing, so that defective soldering can be reduced.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案はBGA ICチップ(Ball grid array集積回路チップ)のソケット とコンタクトの構造に関するもので、特にスライダーの移動を利用して、ソケッ ト内に収容される金属コンタクトとBGA ICチップ下部にある金属ボールを 側圧で均一に接触させて、信号を正確に伝送するのソケットとコンタクトに関す るものである。 The present invention relates to the structure of a socket and a contact of a BGA IC chip (Ball grid array integrated circuit chip). In particular, by using a slider movement, a metal contact accommodated in a socket and a metal under a BGA IC chip are provided. This relates to sockets and contacts that transmit the signal accurately by uniformly contacting the ball with lateral pressure.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

ICチップはコンピュータ等の装備に広く採用されており、従来ICチップと PCボード(PCB)間の接続方式には、直接挿入半田付(DIP)方式や、ICチ ップのコンタクトの足部を球状にしたSMT(surface mount technology)方式が ある。 IC chips are widely used in equipment such as computers. Conventionally, the connection method between the IC chip and a PC board (PCB) is a direct insertion soldering (DIP) method or a foot portion of a contact of the IC chip. There is a spherical SMT (surface mount technology) method.

【0003】[0003]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the invention]

DIP方式では半田付作業のコントロールが困難で、ICチップのコンタクト 足部が曲がったり、折れたりする。SMT方式ではコンタクトの足部が非常に多 数になる場合、半田付けに必要な熱が林立するコンタクト足部の深い内部に到達 できず、半田付け作業の質が低下し、また、こうした半田付け作業の良否は検査 することが困難である。不良ICチップの交換、或いは大規模なコンピュータ設 備の変更の場合、上記のDIP方式やSMT方式に依存していては効率が上がら ないし、良好な作業の品質も期待出来ないのが実状である。これらの解決のため 、コンタクトとBGA ICチップ下端の金属ボールの接触に下圧式を採用した 中華民国実用新案登録第119885号「BGA ICチップ用ソケットの構造 」と中華民国実用新案登録第86219485号「BGA ICチップ用ソケッ ト構造の改良」があるが、ソケットをPCB上に乗せて半田付けする時、ソケッ ト内に収容されたコンタクトとチップ下端にある金属ボールとの接触を確実にす るために下圧方式を用いるためPCBが圧力を受けて破損したり、変形したりす るという問題があった。本発明は、これらの問題を解決することを目的とする。 With the DIP method, it is difficult to control the soldering operation, and the contact foot of the IC chip is bent or broken. In the case of the SMT method, when the number of contact feet is very large, the heat required for soldering cannot reach the deep inside of the contact foot where the forest is established, and the quality of the soldering work is degraded. It is difficult to inspect the quality of work. In the case of replacement of a defective IC chip or a large-scale change of computer equipment, the actual situation is that efficiency cannot be improved and good work quality cannot be expected if the above-mentioned DIP method or SMT method is used. . To solve these problems, Republic of China Utility Model Registration No. 119885 "BGA IC Chip Socket Structure" and Republic of China Utility Model Registration No. 86219485 " Although there is an improvement in the socket structure for BGA IC chips, when the socket is placed on the PCB and soldered, it is necessary to ensure that the contacts housed in the socket and the metal balls at the lower end of the chip are in contact with each other. However, there is a problem that the PCB is damaged or deformed by receiving pressure because the lower pressure method is used. The present invention aims to solve these problems.

【0004】[0004]

【課題を解決しようとする手段】[Means for solving the problem]

本考案の請求項1記載のボールグリッドアレイ集積回路チップに用いるソケッ トとコンタクトにおいては、中空の上部カバーと、中央部が凹下した四角形のプ ラスチックボディで形成され、その中央部に複数個の四角形の孔が設置され、前 端部に凸塊が形成され、左右両側部には滑槽を有するスライダーと、プラスチッ クで形成された中央部が凹んだ四角形で、中央の凹部にコンタクトを収容する前 記スライダーと相対する複数の四角形の孔が形成され、凹部の左右両側には定位 ブロックが設置され、前端部に円洞が形成され、両側辺にはハンドルバーを固定 するフックを有するプラスチックハウジングと、一端がシャフトを形成し、前記 シャフトの一部分は中心が異なる離心部になったL字型のハンドルバーと、上端 部の全体はやや円弧形を形成し、接触端部はV字型を形成し、傾斜したピン状の 足部を有する複数の金属コンタクトと、4つの固定脚と、スプリングとを有し、 金属コンタクトはプラスチックハウジング内に収容され、シャフトは円洞内に収 容され、ハンドルバーは固定脚で前記プラスチックハウジングに固定され、ボー ルグリッドアレイ集積回路チップがソケット内に装置された後、ハンドルバーの 離心部の作用で前記プラスチックハウジング内にあるスライダーを移動して、ボ ールグリッドアレイ集積回路チップ下部にある金属ボールと金属コンタクトを側 圧で接触させるため、下圧によるPCBの変形や破損等を防止する。また、金属 コンタクト上端部を弧形、その接触部をV形に形成することにより、コンタクト とBGA ICチップ下端にある金属ボールとの接触を良好にする。また、金属 コンタクト足部に適当な傾斜角をもたせることにより、コンタクトとPCB間の 半田付けの効果を向上させる。またプラスチックハウジング上に覗孔を形成する ことにより、目測でコンタクト半田付け作業の良否を概略的に判断し、従来のよ うに精密な検測機器を用いずに、検測を容易にする。 The socket and the contact used for the ball grid array integrated circuit chip according to the first aspect of the present invention are formed by a hollow upper cover and a rectangular plastic body having a concave central portion. A rectangular hole is set up, a convex block is formed at the front end, a slider with a synovial tank on both left and right sides, and a plastic-formed square with a concave central part, and a contact in the central concave part. A plurality of square holes facing the slider to be housed are formed, stereotactic blocks are installed on both left and right sides of the recess, a circular cavity is formed at the front end, and hooks are provided on both sides to fix the handlebar A plastic housing, an L-shaped handlebar having one end forming a shaft, a part of the shaft being an eccentric part having a different center, and an entire upper end being slightly Forming an arc, the contact end forming a V-shape, having a plurality of metal contacts having inclined pin-shaped feet, four fixed legs and a spring, the metal contacts being in a plastic housing; The handlebar is fixed to the plastic housing by fixed legs, and after the ball grid array integrated circuit chip is mounted in the socket, the eccentric portion of the handlebar is actuated. Then, the slider in the plastic housing is moved to bring the metal ball and the metal contact under the ball grid array integrated circuit chip into contact with the side pressure, so that the deformation and breakage of the PCB due to the low pressure are prevented. Also, by forming the upper end of the metal contact in an arc shape and the contact portion in a V shape, the contact between the contact and the metal ball at the lower end of the BGA IC chip is improved. Also, by providing the metal contact foot with an appropriate inclination angle, the effect of soldering between the contact and the PCB is improved. In addition, by forming a peephole on the plastic housing, the quality of the contact soldering work can be roughly determined by visual measurement, and the inspection can be easily performed without using a precise inspection device as in the past.

【0005】[0005]

【実施例】【Example】

本考案の一実施例によるボールグリッドアレイ集積回路チップに用いるソケッ トとコンタクトを詳細に説明する。 本考案によるBGA ICチップのソケットとコンタクトの構造は、図1と図 2に示すように主として上部カバー10、スライダー20、プラスチックハウジ ング30、ハンドルバー40、複数の金属コンタクト50、スプリング60、四 つの固定脚70を有する。 The socket and the contacts used in the ball grid array integrated circuit chip according to one embodiment of the present invention will be described in detail. The structure of the socket and contact of the BGA IC chip according to the present invention mainly includes an upper cover 10, a slider 20, a plastic housing 30, a handle bar 40, a plurality of metal contacts 50, a spring 60, and a four as shown in FIGS. It has two fixed legs 70.

【0006】 上部カバー10は、中央部が開口した板状のふたで、その前端に二つの歯止め 12があり、上部カバー10が閉じ止めされた時、歯止め12は、プラスチック ハウジング30のスロット31に嵌まり固定される。[0006] The upper cover 10 is a plate-like lid having an open central portion, and has two pawls 12 at its front end. When the upper cover 10 is closed, the pawls 12 are inserted into slots 31 of the plastic housing 30. It is fitted and fixed.

【0007】 スライダー20は、中央部が凹んだ四角形のプラスチックボディで形成され、 その中央部にプラスチックハウジング30と相対した複数個の四角形孔が設置さ れ、前端部には凸塊22が形成され、左右両側部には滑槽25を有する。The slider 20 is formed of a rectangular plastic body having a concave central portion, a plurality of rectangular holes facing the plastic housing 30 is provided at the central portion, and a convex block 22 is formed at the front end. The tank 25 is provided on both left and right sides.

【0008】 プラスチックハウジング30は、中央部が凹んだ四角形のプラスチックボディ で形成され、その中央の凹部にコンタクトを収容する複数の四角形の孔33が形 成され、凹部の左右両側には定位ブロック37が形成される。プラスチックハウ ジング30の前端部には円洞35が形成され、またハウジング30の両側辺には ハンドルバー40を固定するフック39を形成する。 ハンドルバー40はL字型で、一端がシャフト43を形成し、そのシャフト4 3の一部分は中心の異なる離心部46になっている。 その外、複数の金属コンタクト50、四つの固定脚70及びスプリング60が ある。The plastic housing 30 is formed of a rectangular plastic body with a concave central portion, and a plurality of rectangular holes 33 for receiving contacts are formed in the central concave portion. Is formed. A circular cavity 35 is formed at the front end of the plastic housing 30, and hooks 39 for fixing the handlebar 40 are formed on both sides of the housing 30. The handlebar 40 is L-shaped, one end of which forms a shaft 43, and a portion of the shaft 43 is an eccentric portion 46 having a different center. In addition, there are a plurality of metal contacts 50, four fixing legs 70, and springs 60.

【0009】 複数の金属コンタクト50はハウジング30内に収容され、ハンドルバー40 は固定脚70によりハウジング30に固定され、シャフト43はハウジング30 前端部に形成された円洞35内に挿しこまれ、スライダー20は、滑槽25に沿 ってハウジング30内にはめこまれ定位ブロック37により固定される。上部カ バー10は、固定脚70によりハウジング30の上端部に定置される。The plurality of metal contacts 50 are housed in the housing 30, the handle bar 40 is fixed to the housing 30 by the fixing legs 70, and the shaft 43 is inserted into a circular cavity 35 formed at the front end of the housing 30. The slider 20 is fitted in the housing 30 along the slide tank 25 and fixed by the positioning block 37. The upper cover 10 is fixed to the upper end of the housing 30 by the fixed legs 70.

【0010】 図3に示すように、金属コンタクト50の上端部がやや弧形を呈し、下方に位 置する金属ボール85を圧触し、接触部53はV形に形成してコンタクト50と 金属ボール85間の接触面を大きくし、また図8に示すようにコンタクト足部5 6は、その傾斜角度にて形成された空間に液体のソルダーを包含して金属ボール 85との接触性を向上させる。これにより金属コンタクト50とPCB95との 間の半田付けは確実になる。図4にプラスチックハウジング30内の四角形孔3 3内に収容されている複数の金属コンタクト50が、力を受けていない状態を示 す。As shown in FIG. 3, the upper end of the metal contact 50 has a slightly arcuate shape, and a metal ball 85 located below is pressed, and the contact portion 53 is formed in a V-shape to form the contact 50 with the contact 50. The contact surface between the balls 85 is increased, and as shown in FIG. 8, the contact foot 56 includes a liquid solder in a space formed at the inclined angle to improve the contact with the metal ball 85. Let it. This ensures soldering between metal contact 50 and PCB 95. FIG. 4 shows a state in which the plurality of metal contacts 50 accommodated in the square holes 33 in the plastic housing 30 are not subjected to a force.

【0011】 図5及び図6に示すように、BGA ICチップ80がソケット90内に装着 された時、チップ80下部の金属ボール85も四角形孔33に入り、すでに孔3 3内に収容されているコンタクト50と軽い接触をする。このまま半田付け作業 をすれば、確実に半田付けをすることは難しく、まったく接触していないコンタ クト80と金属ボール85が生じることも有り得るので、完成品使用時の断信や 通信不良の事故原因を起こす原因となる。故に図7に示すように、ハンドルバー 40を下に押し、シャフト43の離心部46の作用により、スライダー20前端 部の凸塊22を押してハウジング30内のスライダー20を移動し、金属コンタ クト50とチップ80下端部の金属ボール85を側圧で確実に接触させる。As shown in FIGS. 5 and 6, when the BGA IC chip 80 is mounted in the socket 90, the metal ball 85 under the chip 80 also enters the rectangular hole 33 and is already housed in the hole 33. Make a light contact with the existing contact 50. If soldering is performed as it is, it is difficult to perform reliable soldering, and contact 80 and metal ball 85 that are not in contact at all may be generated. Cause Therefore, as shown in FIG. 7, the handlebar 40 is pushed downward, and the eccentric part 46 of the shaft 43 pushes the convex block 22 at the front end of the slider 20 to move the slider 20 inside the housing 30 to move the metal contact 50. And the metal ball 85 at the lower end of the chip 80 are securely brought into contact with each other by the lateral pressure.

【0012】 上記の構成により、各コンタクト50と金属ボール85間の接触が確実となり 、完成後の信号伝送を確実にすることができる。図8に示すように金属コンタク ト50と金属ボール85を下圧の代わりに側圧で接触させることが本実施例の最 大の特徴である。With the above configuration, the contact between each contact 50 and the metal ball 85 is ensured, and the signal transmission after completion can be ensured. As shown in FIG. 8, the greatest feature of the present embodiment is that the metal contact 50 and the metal ball 85 are brought into contact with each other by a lateral pressure instead of a lower pressure.

【0013】 一方、スライダー20の移動により、BGA ICチップ80下端の金属ボー ルと金属コンタクト50が側圧で接触するとき、作業者はソケット90のプラス チックハウジング30上部に設置された覗孔(図示されない)からコンタクト5 0の足部56とPCB95の半田付け状態を目視で観測でき、半田付け状態の不 良を早期に発見し、事故の発生を未然に防止できる。On the other hand, when the metal ball at the lower end of the BGA IC chip 80 comes into contact with the metal contact 50 by lateral pressure due to the movement of the slider 20, the operator can see through a peephole (shown in the figure) provided above the plastic housing 30 of the socket 90. ), The soldering state of the foot 56 of the contact 50 and the PCB 95 can be visually observed, and a defect in the soldering state can be found at an early stage, thereby preventing an accident from occurring.

【0014】[0014]

【考案の効果】[Effect of the invention]

上述のように本考案のボールグリッドアレイ集積回路チップに用いるソケット とコンタクトによるとコンタクトと金属ボールの側圧による接触で、従来の下圧 接触によるPCBの変形や破損を防止し、スライダーの移動により、ハウジング 上部の覗孔からコンタクトの足部とPCB95の半田付け状態が肉眼で観測でき 、従来のように精密な検測機器を使用することなく、不良な半田付けを早期に発 見でき、金属コンタクト上端部を弧形に形成して、コンタクトが下にある金属ボ ールを圧触し、チップがスライダーの移動でソケット外に飛び出す恐れがなく、 またコンタクトの接触端部はV形を呈しているため、接触面が大きくなり、コン タクトと金属ボール間の接触状態が向上し、金属コンタクトの足部にある程度の 傾斜角があるため、その空間に液体の半田を含んで、半田付けの効果が向上する 。 As described above, according to the socket and contact used for the ball grid array integrated circuit chip of the present invention, the contact and the contact of the metal ball by the side pressure prevent the deformation and breakage of the PCB due to the conventional lower pressure contact, and the movement of the slider, The soldering condition of the contact foot and PCB95 can be visually observed from the peephole at the top of the housing, and defective soldering can be detected at an early stage without using a precision measuring instrument as in the past, and metal contacts The upper end is formed in an arc shape, and the contact touches the metal ball below, so that there is no danger that the chip will jump out of the socket due to the movement of the slider, and the contact end of the contact has a V-shape. As a result, the contact surface becomes large, the contact state between the contact and the metal ball is improved, and the foot of the metal contact has a certain inclination angle. , Including a solder liquid to the space, to improve the effect of soldering.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案の実施例によるBGA ICチップのソ
ケットとコンタクトを組立てた状態を表す斜視図であ
る。
FIG. 1 is a perspective view illustrating an assembled state of a socket and a contact of a BGA IC chip according to an embodiment of the present invention.

【図2】本考案の実施例によるBGA ICチップのソ
ケットとコンタクトを分解した状態を表す斜視図であ
る。
FIG. 2 is a perspective view showing a state in which a socket and a contact of the BGA IC chip according to the embodiment of the present invention are disassembled.

【図3】(い)は本考案の実施例によるコンタクトの正
面図、(ろ)は同じく側面図、(は)は同じく平面図で
ある。
3A is a front view of the contact according to the embodiment of the present invention, FIG. 3B is a side view thereof, and FIG.

【図4】(い)は本考案の実施例によるBGA ICチ
ップのソケットとコンタクトの断面図、(ろ)はその部
分拡大図である。
4A is a sectional view of a socket and a contact of the BGA IC chip according to the embodiment of the present invention, and FIG. 4B is a partially enlarged view thereof.

【図5】本考案の実施例によるBGA ICチップを本
考案のソケットに装置した状態を示す平面図である。
FIG. 5 is a plan view illustrating a state in which a BGA IC chip according to an embodiment of the present invention is mounted on a socket of the present invention;

【図6】(い)は本考案の実施例によるBGA ICチ
ップのソケットとコンタクト実施例のスライダー動作前
の断面図、(ろ)はその部分拡大図である。
FIG. 6A is a sectional view of a socket and a contact of a BGA IC chip according to an embodiment of the present invention before a slider operation, and FIG.

【図7】(い)は図6に於けるスライダー動作後の断面
図、(ろ)はその部分拡大図である。
7A is a cross-sectional view after the operation of the slider in FIG. 6, and FIG. 7B is a partially enlarged view of FIG.

【図8】(い)は本考案によるBGA ICチップのソ
ケットとコンタクト各部品の動作を示す断面図、(ろ)
はその部分拡大図、(は)は図8(ろ)の矢視図であ
る。
8 (a) is a sectional view showing the operation of each component of the socket and the contact of the BGA IC chip according to the present invention, and FIG.
FIG. 8 is a partially enlarged view of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 上部カバー 12 歯止め 20 スライダー 22 凸塊 25 滑槽 28 四角形孔 30 プラスチックハウジング 31 スロット 33 四角形 35 円洞 32 定位ブロック 39 フック 40 ハンドルバー 43 シャフト 46 シャフトの離心部 50 金属コンタクト 53 接触端部 56 足部 60 スプリング 70 固定脚 80 BGA ICチップ 85 金属ボール 90 ソケット 95 PCボード(PCB) DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Top cover 12 Stopper 20 Slider 22 Convex block 25 Smooth tank 28 Square hole 30 Plastic housing 31 Slot 33 Square 35 Circular sinus 32 Localization block 39 Hook 40 Handlebar 43 Shaft 46 Eccentric part of shaft 50 Metal contact 53 Contact end 56 Feet Part 60 Spring 70 Fixed leg 80 BGA IC chip 85 Metal ball 90 Socket 95 PC board (PCB)

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Utility model registration claims] 【請求項1】 ボールグリッドアレイ集積回路チップに
用いるソケットとコンタクトに於て、 中空の上部カバーと、 中央部が凹下した四角形のプラスチックボディで形成さ
れ、その中央部に複数個の四角形の孔が設置され、前端
部に凸塊が形成され、左右両側部には滑槽を有するスラ
イダーと、 プラスチックで形成された中央部が凹んだ四角形で、中
央の凹部にコンタクトを収容する前記スライダーと相対
する複数の四角形の孔が形成され、凹部の左右両側には
定位ブロックが設置され、前端部に円洞が形成され、両
側辺にはハンドルバーを固定するフックを有するプラス
チックハウジングと、 一端がシャフトを形成し、前記シャフトの一部分は中心
が異なる離心部になったL字型のハンドルバーと、 上端部の全体はやや円弧形を形成し、接触端部はV字型
を形成し、傾斜したピン状の足部を有する複数の金属コ
ンタクトと、 4つの固定脚と、 スプリングとを有し、 前記金属コンタクトは前記プラスチックハウジング内に
収容され、前記シャフトは前記円洞内に収容され、前記
ハンドルバーは前記固定脚で前記プラスチックハウジン
グに固定され、ボールグリッドアレイ集積回路チップが
ソケット内に装置された後、ハンドルバーの離心部の作
用で前記プラスチックハウジング内にある前記スライダ
ーを移動して、ボールグリッドアレイ集積回路チップ下
部にある金属ボールと前記金属コンタクトを側圧で接触
させることを特徴とするボールグリッドアレイ集積回路
チップのソケットとコンタクト。
1. A socket and a contact for use in a ball grid array integrated circuit chip, comprising: a hollow upper cover; and a rectangular plastic body having a concave central portion, and a plurality of rectangular holes formed in the central portion. Is installed, a convex mass is formed at the front end, and a slider having a synovial tank on both left and right sides, and a square formed of plastic with a concave central part, which accommodates a contact in the central concave part. A plastic housing having hooks for fixing handlebars on both sides, a rectangular housing is provided on each of the left and right sides of the recess, a stereotactic block is provided on both left and right sides of the recess, and a shaft at one end. A part of the shaft is an L-shaped handlebar with an eccentric part having a different center, and the entire upper end part forms a slightly arcuate shape, The contact end has a V-shape and includes a plurality of metal contacts having inclined pin-shaped feet, four fixing legs, and a spring, wherein the metal contacts are housed in the plastic housing; The shaft is housed in the cavity, the handlebar is fixed to the plastic housing with the fixing legs, and after the ball grid array integrated circuit chip is mounted in the socket, the handlebar is eccentrically operated. A socket and a contact of the ball grid array integrated circuit chip, wherein the slider in the plastic housing is moved to contact a metal ball under the ball grid array integrated circuit chip with the metal contact by lateral pressure.
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