JP2609860B2 - Printed circuit board inspection jig pin - Google Patents

Printed circuit board inspection jig pin

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【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、プリント基板検査治具に配置され、検査装
置のプローブピンと基板接点との電気的接続を行うプリ
ント基板検査治具用ピンに係わり、特に検査装置と、所
定ピッチ以外のピッチで配列された接点を有するプリン
ト基板との電気的接続に好適なプリント基板検査治具用
ピンに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial application field) The present invention is arranged on a printed board inspection jig, and performs an electrical connection between a probe pin of an inspection apparatus and a board contact. More particularly, the present invention relates to a printed board inspection jig pin suitable for electrical connection between an inspection device and a printed board having contacts arranged at a pitch other than a predetermined pitch.

(従来の技術) 従来、例えばIC等の接点は、0.1インチ(2.54mm)の
所定のピッチで形成されるよう規格化されており、プリ
ント基板の試験測定を行うプリント基板検査装置には、
この所定ピッチで多数のプローブピンが配列されてい
る。
(Prior art) Conventionally, for example, contacts such as ICs are standardized to be formed at a predetermined pitch of 0.1 inch (2.54 mm).
Many probe pins are arranged at the predetermined pitch.

そして、このような所定ピッチ以外のピッチで接点を
形成されたプリント基板の試験測定を行う場合は、例え
ば第3図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試
験測定を行っている。
When test measurement is performed on a printed circuit board on which contacts are formed at a pitch other than the predetermined pitch, test measurement is performed using, for example, a printed circuit board inspection jig as shown in FIG.

すなわち、0.1インチの所定ピッチで多数配列された
プローブピン21を備えた検査装置20上に設置されるボト
ムボード1は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート
等から構成されており、上記プローブピン21と同ピッチ
で多数の透孔1aが形成されている。
That is, the bottom board 1 installed on the inspection device 20 having a large number of probe pins 21 arranged at a predetermined pitch of 0.1 inch is made of a material such as acrylic, polycarbonate or the like. , A large number of through holes 1a are formed.

ボトムボード1の上部には、複数の支柱2によって支
持されたトップボード3が配置されている。このトップ
ボード3は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔3aが形成されている。
On the upper part of the bottom board 1, a top board 3 supported by a plurality of columns 2 is arranged. The top board 3 is made of a material, for example, acrylic, polycarbonate, or the like.
A plurality of through-holes 3a are formed corresponding to the position of 31.

そして、トップボード3の透孔3aと、ボトムボード1
の透孔1aとの間には、プリント基板検査治具用ピン4が
配置され、検査装置20のプローブピン21と、プリント基
板30の接点31との電気的接続を行い測定を行う。
Then, the through hole 3a of the top board 3 and the bottom board 1
The printed circuit board inspection jig pins 4 are arranged between the through holes 1a, and the probe pins 21 of the inspection device 20 and the contacts 31 of the printed circuit board 30 are electrically connected to perform measurement.

上記プリント基板検査治具用ピン4は、材質例えばBe
Cu等からなり、表面に例えばNi、Rh等のメッキ処理を施
された直径例えば1.0mm〜2.0mmの丸棒から構成されてい
る。そして、このプリント基板検査治具用ピン4の下側
端部は、逆円錘形に形成された測定装置側接続部4aとさ
れ、上側端部は、円錘形に形成されたプリント基板側接
続部4bとされている。したがって、測定装置側接続部4a
とプリント基板側接続部4bとは、同一軸上に配置されて
いる。
The printed board inspection jig pin 4 is made of a material such as Be.
It is composed of a round bar having a diameter of, for example, 1.0 mm to 2.0 mm, which is made of Cu or the like and whose surface is plated with, for example, Ni or Rh. The lower end of the printed circuit board inspection jig pin 4 is a measuring device side connecting portion 4a formed in an inverted conical shape, and the upper end is formed in a conical shaped printed circuit board side. The connection portion 4b is provided. Therefore, the measuring device side connection portion 4a
And the printed circuit board side connection part 4b are arranged on the same axis.

上記説明のプリント基板検査治具では、プローブピン
21のピッチと、接点31のピッチとが異なる場合でも、プ
ローブピン21と接点31との間にプリント基板検査治具用
ピン4を斜めに配置することにより、プローブピン21と
接点31との電気的接続を行い、測定可能とするものであ
る。
In the printed board inspection jig described above, the probe pin
Even when the pitch of the contact 21 and the pitch of the contact 31 are different, the electric connection between the probe pin 21 and the contact 31 can be obtained by arranging the printed circuit board inspection jig pin 4 between the probe pin 21 and the contact 31 at an angle. The connection is established and measurement is possible.

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら近年は、高集積化のため、基板に形成さ
れる接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッ
チで形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント
基板検査治具用ピンでは、所定の基準ピッチて異なるピ
ッチ、例えば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数
の接点を連続して形成された基板等の場合、一本の棒状
体から構成されたプリント基板検査治具用ピンを斜めに
配置することには限界が生じ、測定を行うことができな
いという問題がある。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in recent years, due to high integration, the pitch of the contacts formed on the substrate is often formed at a pitch smaller than a predetermined reference pitch. In the conventional printed circuit board inspection jig pin described above, a predetermined reference pitch is different, for example, in the case of a substrate or the like in which many contacts are continuously formed at a pitch smaller than the predetermined reference pitch, a single rod-shaped There is a limit in arranging the pins for a printed board inspection jig composed of a body obliquely, and there is a problem that measurement cannot be performed.

本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもの
で、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基
準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成
された基板等でも、試験測定を行うことのできるプリン
ト基板検査治具用ピンを提供しようとするものである。
The present invention has been made in view of such a conventional situation, and is intended for test measurement even on a substrate or the like in which a large number of contacts are continuously formed at a pitch different from a predetermined reference pitch, for example, a pitch smaller than the predetermined reference pitch. It is an object of the present invention to provide a printed circuit board inspection jig pin capable of performing the following.

[発明の構成] (問題点を解決するための手段) すなわち本発明は、所定ピッチで透孔が配設されたボ
トムボードとこのボトムボードの上方に設けられたトッ
プボードとを貫通する如く配設され、前記ボトムボード
の下方に設けられる検査装置のプローブピンと、前記ト
ップボード上方に設けられるプリント基板の接点とを電
気的に接続するプリント基板検査治具用ピンにおいて、 前記ボトムボードの透孔と、このボトムボードの透孔
に対応して前記トップボードに設けられた透孔を貫通す
る如く配設され、下端部が前記プローブピンと接触する
プローブピン側接触部とされたピン本体と、 前記トップボードの上方において前記ピン本体から側
方に延在するよう設けられた導電性部材と、 前記プローブピン側接触部とは異なる軸上に位置する
如く、前記導電性部材から上方に突出する如く設けられ
たプリント基板側接触部と、 前記プリント基板側接触部に対応して、前記導電性部
材から下方に突出する如く設けられ、前記トップボード
に設けられた透孔に挿入される固定用突起部と を具備したことを特徴とする。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) That is, according to the present invention, a bottom board provided with through holes at a predetermined pitch and a top board provided above the bottom board are penetrated. A printed circuit board inspection jig pin for electrically connecting a probe pin of an inspection device provided below the bottom board and a contact point of a printed circuit board provided above the top board; A pin body disposed so as to penetrate a through hole provided in the top board corresponding to the through hole of the bottom board, and a lower end portion serving as a probe pin side contact portion that contacts the probe pin; A conductive member provided to extend laterally from the pin main body above the top board; and a position on an axis different from the probe pin side contact portion. A printed board side contact portion provided to protrude upward from the conductive member, and a top board provided to protrude downward from the conductive member corresponding to the printed board side contact portion. And a fixing projection inserted into the through-hole provided in.

また、上記プリント基板検査治具用ピンは、材質がBe
Cuからなることを特徴とし、さらに、表面にNiまたはRh
のメッキ処理がなされたことを特徴とする。
In addition, the pin for the printed circuit board inspection jig is made of Be
It is characterized by being made of Cu, and further has Ni or Rh on the surface.
Characterized by being subjected to a plating process.

(作用) 本発明のプリント基板検査治具用ピンでは、プローブ
ピンとの接触部と、プリント基板の接点との接触部と
が、異なる軸上に位置するよう構成されている。
(Operation) In the pin for a printed board inspection jig of the present invention, the contact portion with the probe pin and the contact portion with the contact of the printed board are located on different axes.

したがって、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例え
ば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数連続して形
成された接点を有するプリント基板等においても、これ
らの接点と、該接点と異なる軸上に位置する検査装置の
プローブピンとを電気的に接続し、試験測定を行うこと
ができる。
Therefore, even in a printed circuit board or the like having a large number of contacts formed continuously at a pitch different from the predetermined reference pitch, for example, a pitch smaller than the predetermined reference pitch, these contacts and an inspection positioned on a different axis from the contacts. A test measurement can be performed by electrically connecting the probe pins of the device.

また、ピンを斜めに配設したりする必要もないのでピ
ン等に無理がかからず、さらに、固定用突起部によって
プリント基板側接触部の位置が固定されるので、容易か
つ確実に電気的接続を行うことができ、良好な試験測定
を行うことができる。
Also, since there is no need to arrange the pins diagonally, the pins and the like are not forced, and the position of the contact portion on the printed circuit board side is fixed by the fixing projection, so that the electrical connection can be easily and reliably made. Connection can be made and good test measurements can be made.

(実施例) 以下本発明のプリント基板検査治具用ピンを、第1図
および第2図を参照して実施例について説明する。
(Example) Hereinafter, an example of a pin for a printed circuit board inspection jig of the present invention will be described with reference to FIG. 1 and FIG.

この実施例のプリント基板検査治具用ピン11は、棒状
のピン本体12と、このピン本体12上部に溶接等により固
着された板状部材13とから構成されている。
The printed circuit board inspection jig pin 11 of this embodiment includes a rod-shaped pin main body 12 and a plate-like member 13 fixed to the upper portion of the pin main body 12 by welding or the like.

上記ピン本体12は、材質例えばBeCu等からなり、表面
に例えばNi、Rh等のメッキ処理を施された直径例えば1.
0mm〜2.0mmの丸棒から構成されている。そして、このピ
ン本体12の下側端部は、逆円錘形に形成された測定装置
側接続部12aとされている。
The pin main body 12 is made of a material such as BeCu or the like, and the surface thereof is plated with, for example, Ni or Rh.
It consists of a round bar of 0mm to 2.0mm. The lower end of the pin body 12 is a measuring device-side connecting portion 12a formed in an inverted conical shape.

また、上記板状部材13は、材質例えばBeCu等からな
り、表面に例えばNi、Rh等のメッキ処理が施されたほぼ
長方形の板から構成されている。そして、固着部13aに
おいてピン本体12上部に、このピン本体12とほぼ直角に
固着されており、このピン本体12の軸心から水平方向に
所定間隔dを設けて三角形状に上方へ突出するプリント
基板側接続部13bが形成されている。また、このプリン
ト基板側接続部13bの下側には、下方へ向けて突出する
固定用突起部13cが形成されている。
The plate-like member 13 is made of a material such as BeCu or the like, and is formed of a substantially rectangular plate having a surface plated with, for example, Ni or Rh. A print is fixed to the upper part of the pin main body 12 at a substantially right angle to the pin main body 12 at the fixing portion 13a, and is provided with a predetermined interval d in the horizontal direction from the axis of the pin main body 12 and protrudes upward in a triangular shape. The board-side connection part 13b is formed. In addition, a fixing protrusion 13c that protrudes downward is formed below the printed circuit board side connection portion 13b.

上記構成のプリント基板検査治具用ピン11は、第2図
に示すようなプリント基板検査治具に配置される。
The printed board inspection jig pin 11 having the above-described configuration is arranged on a printed board inspection jig as shown in FIG.

すなわち、0.1インチの所定ピッチで多数配列された
プローブピン21を備えた検査装置20上に載置されるボト
ムボード14は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート
等から構成されており、上記プローブピン21と同ピッチ
で多数の透孔14aが形成されている。
That is, the bottom board 14 mounted on the inspection device 20 having a large number of probe pins 21 arranged at a predetermined pitch of 0.1 inch is made of a material such as acrylic, polycarbonate, or the like. Many through holes 14a are formed at a pitch.

ボトムボード14の上部には、複数の支柱15によって支
持されたトップボード16が配置されている。このトップ
ボード16は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔16aが形成されてい
る。
Above the bottom board 14, a top board 16 supported by a plurality of columns 15 is arranged. The top board 16 is made of a material, for example, acrylic, polycarbonate, or the like.
A plurality of through holes 16a are formed corresponding to the positions of 31.

また、プリント基板30の接点31の位置が、所定ピッチ
と異なるピッチで配列されている部位には、接点31の位
置に対応する透孔16aの他に、この透孔16aの近傍の所定
ピッチ位置、すなわちボトムボード14の透孔14aに対応
した位置に透孔16bが形成されている。
In addition, in a portion where the positions of the contacts 31 of the printed circuit board 30 are arranged at a pitch different from the predetermined pitch, in addition to the through holes 16a corresponding to the positions of the contacts 31, a predetermined pitch position near the through holes 16a is provided. That is, a through hole 16b is formed in the bottom board 14 at a position corresponding to the through hole 14a.

そして、プリント基板30の接点31が所定ピッチ以外の
ピッチ、例えば所定ピッチより小ピッチで配列された部
位には、プリント基板検査治具用ピン11を配置する。す
なわち、ピン本体12を、トップボード16の透孔16b上方
からボトムボード14の透孔14aを貫通して配置する。そ
して、固定用突起部13cを、接点31の位置に対応する透
孔16aに挿入して、プリント基板側接続部13bをプリント
基板30の接点31の位置に対応した位置に固定する。
Then, the printed circuit board inspection jig pins 11 are arranged at positions where the contacts 31 of the printed circuit board 30 are arranged at a pitch other than the predetermined pitch, for example, at a pitch smaller than the predetermined pitch. That is, the pin main body 12 is disposed through the through hole 14a of the bottom board 14 from above the through hole 16b of the top board 16. Then, the fixing projection 13c is inserted into the through hole 16a corresponding to the position of the contact 31, and the printed circuit board side connection portion 13b is fixed at a position corresponding to the position of the contact 31 on the printed circuit board 30.

なお、板状部材13のプリント基板側接続部13bと、ピ
ン本体12の軸心との間隔dは、あらかじめ、接点31の所
定ピッチからオフセット量に対応して設定しておく。
The distance d between the printed circuit board side connection portion 13b of the plate member 13 and the axis of the pin main body 12 is set in advance from a predetermined pitch of the contacts 31 in accordance with the offset amount.

また、プリント基板30の接点31が所定ピッチで配列さ
れている部位には、前述の従来のプリント基板検査治具
用ピンと同様なプリント基板検査治具用ピン17を配置す
る。
Further, at the site where the contacts 31 of the printed circuit board 30 are arranged at a predetermined pitch, the printed circuit board inspection jig pins 17 similar to the above-described conventional printed circuit board inspection jig pins are arranged.

上記構成のこの実施例のプリント基板検査治具用ピン
11では、プリント基板30に0.1インチの所定ピッチと異
なるピッチ、例えば所定ピッチより小ピッチで配列され
た接点31と、検査装置20のプローブピン21との電気的接
続を行うことができる。
The printed circuit board inspection jig pin of this embodiment having the above configuration
In 11, electrical connections can be made between the contacts 31 arranged on the printed circuit board 30 at a pitch different from the predetermined pitch of 0.1 inches, for example, at a smaller pitch than the predetermined pitch, and the probe pins 21 of the inspection device 20.

なお、上記実施例では、板状部材13によりプリント基
板側接続部13bを形成し、ピン本体12の測定装置側接続
部12aと異なる軸上にプリント基板側接続部13bを配置し
たが、本発明はかかる実施例に限定されるものではな
く、例えばピン本体12を曲折された形状にする等、どの
ようにしてプリント基板側接続部13bと測定装置側接続
部12aとを異なる軸上に配置してもよいことは、もちろ
んである。
In the above-described embodiment, the printed board side connection portion 13b is formed by the plate-shaped member 13, and the printed board side connection portion 13b is arranged on a different axis from the measurement device side connection portion 12a of the pin body 12. The present invention is not limited to such an embodiment.However, for example, the pin body 12 is formed into a bent shape, and how to arrange the printed circuit board side connection portion 13b and the measurement device side connection portion 12a on different axes. Of course, it is possible.

[発明の効果] 上述のように、本発明のプリント基板検査治具用ピン
では、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の
基準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形
成された基板等でも、試験測定を行うことができる。
[Effects of the Invention] As described above, in the pin for a printed board inspection jig of the present invention, a substrate on which a large number of contacts are continuously formed at a pitch different from a predetermined reference pitch, for example, a pitch smaller than the predetermined reference pitch. Also, test measurement can be performed.

また、ピンを斜めに配設したりする必要もないのでピ
ン等に無理がかからず、さらに、固定用突起部によって
プリント基板側接触部の位置が固定されるので、容易か
つ確実に電気的接続を行うことができ、良好な試験測定
を行うことができる。
Also, since there is no need to arrange the pins diagonally, the pins and the like are not forced, and the position of the contact portion on the printed circuit board side is fixed by the fixing projection, so that the electrical connection can be easily and reliably made. Connection can be made and good test measurements can be made.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例のプリント基板検査治具用ピ
ンを示す側面図、第2図は第1図のプリント基板検査治
具用ピンを配置されたプリント基板検査治具を示す側面
図、第3図は従来のプリント基板検査治具用ピンを配置
されたプリント基板検査治具示す側面図である。 11……プリント基板検査治具用ピン、12……ピン本体、
12a……測定装置側接続部、13……板状部材、13b……プ
リント基板側接続部。
FIG. 1 is a side view showing a printed circuit board inspection jig pin according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side view showing a printed circuit board inspection jig provided with the printed circuit board inspection jig pin of FIG. FIG. 3 is a side view showing a conventional printed board inspection jig on which pins for a printed board inspection jig are arranged. 11 …… PCB inspection jig pin, 12 …… Pin body,
12a: connection part on the measuring device side, 13: plate-shaped member, 13b ... connection part on the printed circuit board side.

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】所定ピッチで透孔が配設されたボトムボー
ドとこのボトムボードの上方に設けられたトップボード
とを貫通する如く配設され、前記ボトムボードの下方に
設けられる検査装置のプローブピンと、前記トップボー
ド上方に設けられるプリント基板の接点とを電気的に接
続するプリント基板検査治具用ピンにおいて、 前記ボトムボードの透孔と、このボトムボードの透孔に
対応して前記トップボードに設けられた透孔を貫通する
如く配設され、下端部が前記プローブピンと接触するプ
ローブピン側接触部とされたピン本体と、 前記トップボードの上方において前記ピン本体から側方
に延在するよう設けられた導電性部材と、 前記プローブピン側接触部とは異なる軸上に位置する如
く、前記導電性部材から上方に突出する如く設けられた
プリント基板側接触部と、 前記プリント基板側接触部に対応して、前記導電性部材
から下方に突出する如く設けられ、前記トップボードに
設けられた透孔に挿入される固定用突起部と を具備したことを特徴とするプリント基板検査治具用ピ
ン。
1. A probe of an inspection device provided so as to penetrate a bottom board provided with through holes at a predetermined pitch and a top board provided above the bottom board, and provided below the bottom board. A pin for a printed board inspection jig for electrically connecting a pin and a contact of a printed board provided above the top board, wherein the through hole of the bottom board and the top board corresponding to the through hole of the bottom board. A pin body disposed so as to penetrate a through hole provided at a lower end thereof and having a probe pin side contact portion contacting the probe pin, and extending laterally from the pin body above the top board And a conductive member provided so as to protrude upward from the conductive member so as to be located on a different axis from the probe pin side contact portion. And a fixing projection, which is provided so as to protrude downward from the conductive member and is inserted into a through hole provided in the top board, corresponding to the printed board side contact portion. A pin for a printed circuit board inspection jig, comprising:
【請求項2】材質がBeCuからなることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載のプリント基板検査治具用ピン。
2. The printed circuit board inspection jig pin according to claim 1, wherein the material is made of BeCu.
【請求項3】表面にNiまたはRhのメッキ処理がなされた
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のプリント
基板検査治具用ピン。
3. The printed circuit board inspection jig pin according to claim 1, wherein the surface is plated with Ni or Rh.
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