JP3047336B2 - 測定用ソケット - Google Patents

測定用ソケット

Info

Publication number
JP3047336B2
JP3047336B2 JP3215670A JP21567091A JP3047336B2 JP 3047336 B2 JP3047336 B2 JP 3047336B2 JP 3215670 A JP3215670 A JP 3215670A JP 21567091 A JP21567091 A JP 21567091A JP 3047336 B2 JP3047336 B2 JP 3047336B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
socket
upper plate
measuring
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP3215670A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0555320A (ja
Inventor
康範 渡部
博 細川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3215670A priority Critical patent/JP3047336B2/ja
Publication of JPH0555320A publication Critical patent/JPH0555320A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3047336B2 publication Critical patent/JP3047336B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は測定用ソケットに関し、
特に基板上に実装された集積回路の測定のときに使用す
る測定用ソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】図7は従来の集積回路の測定手段の一例
を示す斜視図、図8は従来の集積回路の測定手段の他の
例を示す正面図である。
【0003】従来の基板上に実装された集積回路を測定
するための従来の手段は、図7または図8に示すような
手段が用いられている。
【0004】すなわち、図7に示すように、集積回路4
の端子5に測定用のプローブ18の先端を手で接触させ
て保持したり、プローブ19の先端部の鈎状部を引掛け
て固定して測定を行っている。
【0005】また、図8に示すすように、DIPタイプ
の集積回路14に対しては、蝶番16で開閉自在に結合
された2個の側板13の先端部に接点11を設け、かつ
側板13の頂部に接点11の接続している測定ピン10
を設け、スプリング12の力で側板13押圧すること
によって接点11を基板17上に実装した集積回路14
の端子15に接触させて固定し、測定ピン10を用いて
測定を行う測定用ソケットを用いている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
集積回路の測定手段は、測定用のプローブを集積回路の
端子に接触させる前者の場合は、接触抵抗が不安定であ
り、また一人で持つことができるプローブの数が限定さ
れるという欠点がある。更に、集積回路の端子の間隔が
狭くなると、プローブの先端部を集積回路の端子に引掛
けて固定することが不可能になるという問題点も有して
いる。
【0007】一方、集積回路の端子を挟持する後者の場
合は、QFPタイプの集積回路には使用できないという
欠点がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の測定用ソケット
は、測定対象の集積回路の端子と接触する複数個の測定
ピンと、前記複数個の測定ピンを前記集積回路の端子に
対応する位置に植設するソケット上板と、前記ソケット
上板の四隅に設けられて前記ソケット上板を前記集積回
路に装着したとき前記ソケット上板を前記集積回路に固
定するための固定用フックとを備え、前記測定ピンを中
空のチューブの中にプローブを上下方向に滑動自在に設
けてスプリングの力によって下方に押圧したものとし、
前記固定用フックを前記ソケット上板に軸支して開閉自
在としたものである。
【0009】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0010】図1は本発明の第一の実施例と測定対象の
集積回路とを示す分解斜視図、図2は図1の実施例を集
積回路に装着した状態を示す斜視図、図3は図1の実施
例の測定ピンと集積回路の端子とを示す断面図、図4は
図1の実施例の測定ピンの詳細を示す断面図で、(a)
は集積回路の端子と接触していないときの状態を示す
図、(b)は集積回路の端子と接触したときの状態を示
す図、図5は図1の実施例の固定用フックの詳細を示す
断面図である。
【0011】本実施例は、図1および図2に示すよう
に、測定対象の集積回路4の端子5と同数の複数個の測
定ピン2と、それらの測定ピン2を集積回路4の端子5
に対応する位置に植設するソケット上板1と、ソケット
上板1の四隅に設けられてソケット上板1を集積回路4
に装着したときソケット上板1を集積回路4に固定する
ための固定用フック3とを備えている。
【0012】上述のように構成した測定用ソケットを用
いて集積回路4の測定を行うときは、図3に示すよう
に、ソケット上板1を集積回路4の上に装着し、ソケッ
ト上板1に植設している測定ピン2を集積回路4の端子
5に接触させる。
【0013】測定ピン2は、図4に示すように、中空の
チューブ2aの中にプローブ2bが上下方向に滑動自在
に設けられており、スプリング2cの力によって下方に
押圧されている。従って、プローブ2bが集積回路の端
子と接触していないときは、(a)に示すように、スプ
リング2cの長さはAとなっていて、プローブ2bを下
方に突出させているが、プローブ2bが集積回路の端子
と接触すると、スプリング2cは圧縮されてその長さは
Bとなり、プローブ2bは所定の接触圧力で集積回路の
端子と接触する。
【0014】固定用フック3は、図5に示すように、軸
7を支点として開閉できるようになっており、ソケット
上板1を集積回路4の上に装着するときは、固定用フッ
ク3を開いて図中に点線で示した開放状態3aとし、装
着完了後に矢印F方向に動かして先端部3bを集積回路
4の下面の下に挿入することによってソケット上板1を
集積回路4に固定する。
【0015】図6は本発明の第二の実施例と測定対象の
集積回路とを示す断面図である。
【0016】本実施例は、端子の間隔が狭い集積回路に
対して使用するためのものであり、隣接する測定ピン2
2aおよび22bの上部を互いに反対方向に前後に折曲
げてソケット上板1に植設したものであり、これによっ
て実質的に測定ピンの間隔を広げて端子間隔が狭い集積
回路の測定を可能としたものである。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の測定用ソ
ケットは、測定対象の集積回路の端子と接触する複数個
の測定ピンをソケット上板の集積回路の端子に対応する
位置に植設し、ソケット上板を集積回路に装着したとき
ソケット上板を集積回路に固定するための固定用フック
をソケット上板の四隅に設けることにより、QFPタイ
プの集積回路に対しても、同時に多数のプローブを集積
回路の端子に接触させ、安定した接触抵抗を保持して測
定を行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施例と測定対象の集積回路と
を示す分解斜視図である。
【図2】図1の実施例を集積回路に装着した状態を示す
斜視図である。
【図3】図1の実施例の測定ピンと集積回路の端子とを
示す断面図である。
【図4】図1の実施例の測定ピンの詳細を示す断面図
で、(a)は集積回路の端子と接触していないときの状
態を示す図、(b)は集積回路の端子と接触したときの
状態を示す図である。
【図5】図1の実施例の固定用フックの詳細を示す断面
図である。
【図6】本発明の第二の実施例と測定対象の集積回路と
を示す断面図である。
【図7】従来の集積回路の測定手段の一例を示す斜視図
である。
【図8】従来の集積回路の測定手段の他の例を示す正面
図である。
【符号の説明】
1 ソケット上板 2 測定ピン 2a チューブ 2b プローブ 2c スプリング 3 固定用フック 3a 開放状態 3b 先端部 4 集積回路 5 端子 7 軸 10 測定ピン 11 接点 12 スプリング 13 側板 14 集積回路 15 端子 16 蝶番 17 基板 18 プローブ 19 プローブ 22a 測定ピン 22b 測定ピン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 細川 博 東京都港区西新橋三丁目20番4号日本電 気エンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 平3−120740(JP,A) 特開 昭64−18233(JP,A) 実開 平1−70351(JP,U) 実開 平1−168983(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/66 G01R 31/26

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板に固定された測定対象の集積回路の端
    子と接触する複数個の測定ピンと、 前記複数個の測定ピンの一端が前記集積回路の端子に接
    触し、他端がその上部に突出するように配設されたソケ
    ット上板と、 前記ソケット上板の四隅に設けられて前記ソケット上板
    を前記集積回路に装着したとき前記ソケット上板を前記
    集積回路に固定するための固定用フックとを備えること
    を特徴とする測定用ソケット。
  2. 【請求項2】前記測定ピンを中空のチューブの中にプロ
    ーブを上下方向に滑動自在に設けてスプリングの力によ
    って下方に押圧したものとし、前記固定用フックを前記
    ソケット上板に軸支して開閉自在としたものとしたこと
    を特徴とする請求項1に記載の測定用ソケット。
  3. 【請求項3】前記測定用ピンは、前記ソケット上板内で
    折曲げられており、かつ隣接する測定用ピンは、この測
    定用ソケットの内部方向と外部方向野2つの方向の中
    で、異なる方向に前記ソケットの上板内で折曲げられて
    いることを特徴とする請求項1または2に記載の測定用
    ソケット。
JP3215670A 1991-08-28 1991-08-28 測定用ソケット Expired - Lifetime JP3047336B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3215670A JP3047336B2 (ja) 1991-08-28 1991-08-28 測定用ソケット

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3215670A JP3047336B2 (ja) 1991-08-28 1991-08-28 測定用ソケット

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0555320A JPH0555320A (ja) 1993-03-05
JP3047336B2 true JP3047336B2 (ja) 2000-05-29

Family

ID=16676226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3215670A Expired - Lifetime JP3047336B2 (ja) 1991-08-28 1991-08-28 測定用ソケット

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3047336B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4519977B2 (ja) * 2000-03-07 2010-08-04 曙ブレーキ工業株式会社 マイクロマシニングセンサエレメント及びウェッジワイヤボンディング取付け方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0170351U (ja) * 1987-10-29 1989-05-10
JPH01168983U (ja) * 1988-05-18 1989-11-29

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0555320A (ja) 1993-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5360348A (en) Integrated circuit device test socket
US6782614B2 (en) Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts
US6848928B2 (en) Socket
JP3813986B2 (ja) ボールグリッドアレイデバイスのための上部装着ソケット及びそのコンタクト
KR940002667Y1 (ko) Tab번인 시험용 소켓
JP3047336B2 (ja) 測定用ソケット
JP2000311756A (ja) 電気部品用ソケット
JPH02309579A (ja) 検査用icソケット
JPH10106706A (ja) 集積回路用テストソケット
JP2724675B2 (ja) Ic測定治具
JPH01153982A (ja) 集積回路キャリヤ用の試験アダプタ
JPH0427507B2 (ja)
JPH0566243A (ja) Lsi評価用治具
JP3132465B2 (ja) 半導体装置及びプローブユニット
US20010005142A1 (en) Contact pin elastic body for supporting the same and socket having them for testing module
JPH07294593A (ja) リードつきldモジュールの接触保持機構
KR100459561B1 (ko) 키폰의 기능시험기
JP2004134141A (ja) Icソケット
JPH0668917A (ja) コネクタ
JPH07220840A (ja) Icソケット
JPH11176544A (ja) 半導体装置用ソケット
JPH04113443U (ja) プローブへの過負荷防止機構
JPS60141563U (ja) 導電塗膜抵抗値測定具
JPH06160430A (ja) コネクタピン電圧測定治具
JPS63169038A (ja) プロ−ブカ−ド

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980324