JP3043275B2 - セラミック電子部品の製造方法 - Google Patents
セラミック電子部品の製造方法Info
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Description
供給手段を有する雰囲気焼成炉を用いたセラミック電子
部品の製造方法に関する。
を使用した電子部品の製造に好適な雰囲気焼成炉の改善
された制御方法に関する。言い換えると、本発明は、セ
ラミクスを使用した電子部品の製造方法に関し、さらに
特定すると、本発明は、セラミック電子部品の製造方法
の改良に関する。
て、磁器コンデンサ、バリスタ、フェライト等があっ
て、一般的に、セラミック電子部品は、焼成を要する各
種セラミクスを使用しており、現在では、広範に民生用
機器や産業用機器に使用されるため、大量に生産されて
いる。これらの各種セラミクスを焼成するためには、一
般にトンネル炉が用いられている。
部品のうち、半導体磁器コンデンサや卑金属電極多層配
線セラミック基板などのように、所望の特性を得るため
に、還元性あるいは中性などの雰囲気ガス中で焼成する
必要のあるものもあり、種々の雰囲気トンネル炉の構造
が発明されている。
アルミナ磁器などからなる棚板を複数段積み重ね、これ
らの棚板上に、図4に示すように、それぞれ被焼成物を
配置した構造が提案されている。この場合、雰囲気ガス
の流入は、炉外から炉室内に、炉壁を貫通した雰囲気ガ
スの供給パイプ11により行なわれる。
られた棚板上に、被焼成物を配置した場合、棚板の位置
によっては、被焼成物に、新鮮な雰囲気ガスが供給され
にくいという欠点があった。
図5の焼成炉断面図に見られるように、各棚板上に配置
された被焼成物に対し、新鮮な雰囲気ガスがより多く供
給されるように、炉1の上方より穴の開いたガス供給パ
イプ11を挿入し、そのパイプ11に設けた細孔13
が、被焼成物に向かうようセットされたものが提案され
ている。
性といった雰囲気ガス中の焼成において、炉室3内に供
給された雰囲気ガスは、炉内にあった雰囲気ガスとの比
重差などにより、炉室3の上方、あるいは下方を層流と
なって、炉入口方向に流動しやすく、また被焼成物と反
応してガスを発生させたりするため、せっかくの新鮮な
高純度の雰囲気ガスも、台板または棚板上のすべての被
焼成物を包囲せず、被焼成物の品質にバラツキを生じる
欠点があった。
炉における上記課題を解決して、被焼成物に最適条件で
雰囲気ガスが供給できるような、すなわち、より速い流
速で雰囲気ガスが供給されるとともに、段積みの各段毎
に、適正な量の雰囲気ガスが供給できるような焼成炉を
提供することにある。
の製造方法は、複数段積み重ねられた棚板上に、被焼成
物である未焼成のセラミック成型体を配置した場合、棚
板の位置によっては、該被焼成物に、新鮮な雰囲気ガス
が供給されにくいという欠点があった。具体的には、従
来のセラミック電子部品の製造方法においては、雰囲気
ガス中において焼成をする場合、炉室内に供給された新
しい雰囲気ガスが、炉内にあった旧い雰囲気ガスとの比
重差などによって、炉室の上方あるいは下方を層流とな
って、炉室の出入口方向に流動しやすく、また雰囲気ガ
スが被焼成物と反応して気体を発生させたりするため、
せっかくの新鮮な高純度の雰囲気ガスが、すべての被焼
成物を包囲せず、結果として、被焼成物の焼成品質にバ
ラツキが生じるという欠点があった。
法は、被焼成物である未焼成のセラミック成型体にそれ
ぞれ、最適な条件で雰囲気ガスを供給できるようにする
目的から、開発されたものである。言い換えると、本発
明によるセラミック電子部品の製造方法は、段積みの各
段ごとの未焼成セラミック成型体に、より新鮮な雰囲気
ガスを供給するとともに、段積みの各段ごとの未焼成セ
ラミック成型体に、適正な量の雰囲気ガスを供給できる
ようにする目的から開発されたものである。
を達成すべく研究の結果、図3に示されている従来方式
の焼成炉では、各棚板上の被焼成物に均一に、新鮮な雰
囲気ガスが供給されないことに鑑み、また従来方式の改
良型として知られている図5の方式の焼却炉でも、各段
毎のガス流量を調節できないことから、各段毎に、雰囲
気ガスの供給パイプを直接配置した焼成炉を使用するよ
うにすると、上記課題が解決されることを見い出し、本
発明に到達した。
た焼成空間である炉室、(ロ)該炉室内を所定温度に加
熱・保温するための発熱体、および(ハ)前記炉壁を貫
通する複数のパイプからなる雰囲気ガス供給手段の各員
を有し、かつ前記炉室内には(ニ)被焼成物を配置する
ための複数の棚板を、台板上に順次積み重ねて組み立て
られた移動可能な焼成用架台、が配置され、プッシャ−
により順次搬送されて、焼成が行なわれる構造のセラミ
クス電子部品用雰囲気焼成炉であって、前記雰囲気ガス
供給手段は、前記各棚板上に配置された被焼成物に対向
するように、高さ方向の異なる位置に配設された先端開
口部を持つ複数のパイプからなり、かつ、これらパイプ
はそれぞれ独立して、雰囲気ガス流量を調節できる手段
を有していることを特徴とするセラミクス電子部品用雰
囲気焼成炉、ならびに、上記パイプの先端開口部は、雰
囲気ガスの流速を高め得るように、中間部よりも縮小さ
れた断面を有している上記の雰囲気焼成炉を提供するも
のである。
セラミクスを使用した電子部品を製造する方法におい
て、少なくとも、電子部品にするための未焼成のセラミ
ック成型体を、棚板に載置する工程と、前記未焼成のセ
ラミック成型体を載置した前記棚板を、複数個積み重ね
る工程と、これら積み重ねられた複数個の前記棚板を、
焼成炉内に搬送する工程と、該焼成炉内に搬送された複
数個の前記棚板の間に、それぞれ独立して、雰囲気ガス
を供給する工程とを含むこと、を特徴としている。
気ガスを供給する工程において、該雰囲気ガスがそれぞ
れ、前記棚板に載置された前記セラミック成型体に向け
て供給されることを特徴としていると共に、前記雰囲気
ガスを供給する工程において、該雰囲気ガスがそれぞ
れ、高さの異なる位置から、前記棚板に載置された前記
セラミック成型体に向けて供給されることを特徴とし、
加えて、前記雰囲気ガスを供給する工程において、該雰
囲気ガスがそれぞれ、独立して流量を調節できることを
特徴としている。
火性の、足無しまたは足付き棚板上に、未焼成の誘電体
磁器成型体などを配置し、これを数段重ねて、所望の雰
囲気ガス中で焼成する際、それぞれの段の中間の被焼成
物に直接、新鮮な雰囲気ガスが当たるように、雰囲気ガ
スの供給パイプが配置されているので、製品のバラツキ
などの不都合を生じることなく、しかも、それぞれのパ
イプのガス量を独立して変えることができるので、各位
置ごとに最適流量で雰囲気ガスを供給することができ
る。
使用した電子部品を製造する方法は、電子部品にするた
めの未焼成のセラミック成型体を、棚板に載置して、こ
れらの棚板を、複数個積み重ね、これら積み重ねられた
複数個の前記棚板を、焼成炉内に搬送し、該焼成炉内に
搬送された複数個の前記棚板の間に、それぞれ独立し
て、雰囲気ガスを供給でき、しかも、該雰囲気ガスはそ
れぞれ、前記セラミック成型体に向けて供給でき、加え
て、該雰囲気ガスをそれぞれ、独立して流量調節できる
ようにしたため、結果として、焼成品質の均一な、言い
換えると、電気特性の均一なセラミック電子部品が製造
できることになる。
の図面を参照して説明する。
成炉の模式的横断面図である。図2は、本発明の他の実
施例である雰囲気焼成炉の模式的横断面図である。図3
は、従来の雰囲気焼成炉の模式的横断面図である。図4
は、雰囲気焼成炉における被焼成物の焼成用架台部を拡
大して示す模式的横断面図である。図5は、図3の雰囲
気ガス供給手段の改良型として知られている供給手段を
具備した、従来の雰囲気焼成炉の模式的横断面図であ
る。
を含む製法について、本発明の一例である、焼成炉を用
いた焼成における雰囲気ガスの供給方法を示した、図1
を参照して説明する。
するセラミクス材料粉末に、ポリビニルアルコ−ル等の
公知のバインダ−を加えて、混合・造粒したのち、乾式
成型プレスを用いて、円板状に加圧成型した。その後、
300℃の温度で、2時間加熱し、バインダ−を除去し
た未焼成の成型体試料を用意した。
てるため、一辺が250mmの正方形で厚み20mm
の、アルミナを主成分とする台板7を、さらに一辺が2
20mmの正方形で厚みが5mm程度の、板状体アルミ
ナを主成分とする足無し棚板8、および、その四隅にそ
れぞれ足部を設けた足付き棚板9を用意した。
および足付き棚板8、9の用意ができたら、上記円板状
試料を、ほぼ1ないし3層になるように、主面いっぱい
に積載した棚板8、9を、台板7上に積み重ね、試料を
積載しない足付き棚板9をさらにその上に載せ、架台6
を組み立てた。
m径の円筒状で、その先端口に1〜3mm径の開口部を
設けた、炭化珪素製の8本の雰囲気ガス供給パイプ11
を装着し、このパイプ11から流速5〜10m/sの9
9vol.%N2〜1vol.%N2弱還元性の混合雰
囲気ガスを、炉室3内の各棚板8、9の間に供給するよ
うにした。なお、図2は、図から明らかなように、2組
8本の雰囲気ガス供給パイプ11を、組ごとに束ねて、
トンネル炉1内に配設しやすいようにした例を示したも
のである。
1,480℃に加熱されたプッシャ−式トンネル炉1内
で、プッシャ−によって炉内に搬送された、前述の組み
立てられた架台7の、焼成を行なった。なお、パイプ1
1内の雰囲気ガスの流速は、最上段のみ5〜6m/sと
し、その他のパイプ11においては9〜10m/sとし
た。
実施例を要約すると、本実施例は、電子部品にするため
の未焼成のセラミック成型体を、棚板に載置して、該棚
板を複数個積み重ね、これら積み重ねられた複数個の前
記棚板を、焼成炉内に搬送し、該焼成炉内に搬送された
複数個の前記棚板の間に、それぞれ独立して、雰囲気ガ
スを供給することを特徴とし、さらには、該雰囲気ガス
が、それぞれ独立して流量を調節できることを特徴と
し、加えて、該雰囲気ガスがそれぞれ、前記棚板に載置
された前記セラミック成型体に向けて供給されるように
したことを特徴としている。
mの半導体磁器試料を得た。
試料の表面にそれぞれ付着させ、これらを酸化性雰囲気
中で、1,300℃で2時間熱処理して、上記半導体磁
器試料の結晶粒界に拡散させて、該結晶粒界を絶縁化し
たのち、この試料の両対向主面に、各々銀電極を塗布、
焼き付けして、コンデンサ試料とした。
ついて、静電容量ならびに誘電損失tanδを、1kH
zで測定したのち、DC50Vを1分間印加後の、絶縁
抵抗を測定し、さらに、絶縁破壊電圧を測定し、前記静
電容量から公知の算出式を用いて比誘電率を算出し、得
られた結果を、下記の表に記載した。
には、本発明の雰囲気焼成炉を用い、各段の雰囲気ガス
供給パイプからの噴出ガス流出速度を、最適に調節して
焼成した試料を、棚板の段位置(1〜4)ごとに、採取
して測定した電気的特性を示す。比誘電率60,000
ないし62,000、tanδ0.7%以下、絶縁抵抗
140,000MΩ、破壊電圧1,300ないし1,4
00V/mmという特性が示されている。
べての雰囲気ガス供給パイプからの噴出ガス流速を、9
ないし10m/sとしたこと以外は、上記第1の実験
(試料番号1ないし4)と同様に焼成した場合の、各段
の試料についての測定結果を示す。1段目の焼成物は比
誘電率が高く、絶縁抵抗が低くなってしまい、品質のバ
ラツキが生じていた。
の結果を示した。
焼成炉で製造した半導体磁器コンデンサに比べ、誘電
率、tanδが極めて改善されており、コンデンサの有
用性を著しく高めることができた。
給手段を持つトンネル炉により、雰囲気ガス焼成により
作製した試料の、電気的特性を測定したところ、表の下
方に示すように、比誘電率、絶縁抵抗、破壊電圧とも、
低かった。
の焼成炉によると、被焼成物を段積みで焼成する場合で
も、各段の被焼成物に対して、それぞれ最適の流速で雰
囲気ガスを供給することができるので、被焼成物の品質
にバラツキが生じにくく、製品収率が向上し、また、棚
板の段の位置に応じて、雰囲気ガス量のコントロ−ルが
可能であるため、適正なガス量で操炉できるなど経済的
効果が大きい。
合、電子部品にするための未焼成のセラミック成型体を
多数個棚板に載置して、該棚板を多数個積み重ね、これ
ら積み重ねられた多数個の前記棚板を焼成炉内に搬送
し、該焼成炉内に搬送された多数個の前記棚板の間に、
それぞれ独立して、雰囲気ガスを供給することができる
ため、さらには、該雰囲気ガスを、それぞれ独立して流
量調節できるため、結果として、雰囲気ガスは、それぞ
れ、前記棚板に載置された前記セラミック成型体に向け
て、均一かつ満遍なく供給できるという大きな効果が得
られる。
に生産する必要があるセラミック電子部品を、バラツキ
なく均一な品質のものを、多数個製造できるという大き
な利点が得られることになる。
的横断面図である。
式的横断面図である。
を拡大して示す模式的横断面図である。
れている供給手段を具備した、従来の雰囲気焼成炉の模
式的横断面図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 セラミクスを使用した電子部品を製造す
る方法において、少なくとも、電子部品にするための未
焼成のセラミック成型体を棚板に載置して、該棚板を、
複数個積み重ねる工程と、これら積み重ねられた複数個
の前記棚板を、焼成炉内に搬送する工程と、該焼成炉内
に搬送された複数個の前記棚板の間に、それぞれ独立し
て、雰囲気ガスを供給し、且つ該雰囲気ガスの流量をそ
れぞれ独立して調節する工程と、を含むことを特徴とし
たセラミック電子部品の製造方法。 - 【請求項2】 前記雰囲気ガスを供給する工程におい
て、該雰囲気ガスがそれぞれ、前記棚板に載置された前
記セラミック成型体に向けて供給することを特徴とした
請求項1に記載の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8104509A JP3043275B2 (ja) | 1996-04-02 | 1996-04-02 | セラミック電子部品の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8104509A JP3043275B2 (ja) | 1996-04-02 | 1996-04-02 | セラミック電子部品の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08320188A JPH08320188A (ja) | 1996-12-03 |
JP3043275B2 true JP3043275B2 (ja) | 2000-05-22 |
Family
ID=14382471
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8104509A Expired - Lifetime JP3043275B2 (ja) | 1996-04-02 | 1996-04-02 | セラミック電子部品の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP2001326102A (ja) * | 2000-05-15 | 2001-11-22 | Murata Mfg Co Ltd | 積層型半導体セラミック素子およびその製造方法 |
JP2001328870A (ja) * | 2000-05-19 | 2001-11-27 | Taiyo Yuden Co Ltd | セラミックの焼成方法、トンネル式焼成炉、セラミック電子部品の製造方法及び装置、セラミック電子部品の焼成用収納体 |
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-
1996
- 1996-04-02 JP JP8104509A patent/JP3043275B2/ja not_active Expired - Lifetime
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JPH08320188A (ja) | 1996-12-03 |
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