JP3042518B1 - 導通試験システム及びatm試験装置 - Google Patents
導通試験システム及びatm試験装置Info
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- JP3042518B1 JP3042518B1 JP10353698A JP35369898A JP3042518B1 JP 3042518 B1 JP3042518 B1 JP 3042518B1 JP 10353698 A JP10353698 A JP 10353698A JP 35369898 A JP35369898 A JP 35369898A JP 3042518 B1 JP3042518 B1 JP 3042518B1
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Abstract
【要約】
【課題】 ATM区間とSTM区間が含まれる伝送路に
おいて、ユーザデータが流れているインサービス中であ
っても、ユーザデータの瞬断を最小限にして導通試験を
行うことができる導通試験システムを提供する。 【解決手段】 ATM試験装置4から出力したループバ
ック用試験セルのループバック点をCLAD3のデセル
化部34として、ループバック試験を実行する場合、C
LAD3では、受信したループバック用試験セルをST
Mデータとして、DSU2に対してループバック制御情
報と同一フレームに含めて送信するが、CLAD3から
DSU2に送信されるユーザデータを廃棄する等してル
ープバック制御情報のフレームを優先して送信する。D
SU2では、受信したSTMデータ中にループバック制
御情報がある場合には、同時に送られてくるデータをそ
のままCLAD3に送り返すが、ループバック制御情報
のフレームを優先させるため、ユーザデータのフレーム
に上書きされる。
おいて、ユーザデータが流れているインサービス中であ
っても、ユーザデータの瞬断を最小限にして導通試験を
行うことができる導通試験システムを提供する。 【解決手段】 ATM試験装置4から出力したループバ
ック用試験セルのループバック点をCLAD3のデセル
化部34として、ループバック試験を実行する場合、C
LAD3では、受信したループバック用試験セルをST
Mデータとして、DSU2に対してループバック制御情
報と同一フレームに含めて送信するが、CLAD3から
DSU2に送信されるユーザデータを廃棄する等してル
ープバック制御情報のフレームを優先して送信する。D
SU2では、受信したSTMデータ中にループバック制
御情報がある場合には、同時に送られてくるデータをそ
のままCLAD3に送り返すが、ループバック制御情報
のフレームを優先させるため、ユーザデータのフレーム
に上書きされる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、伝送路の接続性を
確認するための導通試験システム及びATM試験装置に
関し、特に、ATM(Asynchronous Transfer Mode)区
間及びSTM(Synchronous Transfer Mode)区間を含
む伝送路の接続の確認をインサービス中でも行うことが
できる導通試験システム及びATM試験装置に関する。
確認するための導通試験システム及びATM試験装置に
関し、特に、ATM(Asynchronous Transfer Mode)区
間及びSTM(Synchronous Transfer Mode)区間を含
む伝送路の接続の確認をインサービス中でも行うことが
できる導通試験システム及びATM試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、既存サービスとしてのSTMネ
ットワークからATMネットワークへの収容は、CLA
D(Cell Assembler/Disassembler:セル分解組立装
置)を経由して行われるが、ユーザとATMネットワー
クとのインタフェースはSTMであり、その分界点はD
SU(Digital Service Unit:回線終端装置)である。
そのため、ネットワーク網としてはDSUからATMネ
ットワークまでの正常性を保守する必要があり、ATM
区間とSTM区間とを含む伝送路の接続性を確認するた
めの導通試験が必要となる。
ットワークからATMネットワークへの収容は、CLA
D(Cell Assembler/Disassembler:セル分解組立装
置)を経由して行われるが、ユーザとATMネットワー
クとのインタフェースはSTMであり、その分界点はD
SU(Digital Service Unit:回線終端装置)である。
そのため、ネットワーク網としてはDSUからATMネ
ットワークまでの正常性を保守する必要があり、ATM
区間とSTM区間とを含む伝送路の接続性を確認するた
めの導通試験が必要となる。
【0003】通常、ATM区間の導通試験はOAM(Op
eration And Maintenance)セル(試験用ATMセル)を
用いたループバック試験により行われる。また、STM
区間の導通試験は予め試験したいSTM終端点にループ
バックを設定して、全データが折り返されることで行わ
れる。
eration And Maintenance)セル(試験用ATMセル)を
用いたループバック試験により行われる。また、STM
区間の導通試験は予め試験したいSTM終端点にループ
バックを設定して、全データが折り返されることで行わ
れる。
【0004】ATM区間とSTM区間とを含む伝送路の
導通試験には、大別して2つの方法が知られている。第
1の方法は、ATM区間とSTM区間の導通試験を個別
に行う方法である。第2の方法は、STM区間でループ
バックを設定しておき、ATM試験装置から試験セルを
挿入する方法である。この方法では、試験セルはCLA
DでSTMデータに変換され、ループバックが設定され
たSTM終端点でSTMデータが折り返されて、CLA
DでATMセル化され、ATM試験装置で試験セルを受
信して確認する。
導通試験には、大別して2つの方法が知られている。第
1の方法は、ATM区間とSTM区間の導通試験を個別
に行う方法である。第2の方法は、STM区間でループ
バックを設定しておき、ATM試験装置から試験セルを
挿入する方法である。この方法では、試験セルはCLA
DでSTMデータに変換され、ループバックが設定され
たSTM終端点でSTMデータが折り返されて、CLA
DでATMセル化され、ATM試験装置で試験セルを受
信して確認する。
【0005】ATM区間とSTM区間を含む伝送路の接
続性を確認する導通試験として、特願平10−1890
63号の「ATM試験方法とATM試験システム及び導
通試験装置」(以下、従来例という)が提案されてい
る。
続性を確認する導通試験として、特願平10−1890
63号の「ATM試験方法とATM試験システム及び導
通試験装置」(以下、従来例という)が提案されてい
る。
【0006】図3は、従来例の導通試験システムを示す
ブロック図である。図3において、端末1は、STMネ
ットワークと接続するSTM端末であり、ユーザによっ
て操作される。
ブロック図である。図3において、端末1は、STMネ
ットワークと接続するSTM端末であり、ユーザによっ
て操作される。
【0007】DSU2は端末1に接続され、ユーザイン
ターフェースを終端するSTM終端部21と、網インタ
ーフェースを終端するSTM終端部23と、ループバッ
ク機能を備えたループバック(LB)部22とを有す
る。
ターフェースを終端するSTM終端部21と、網インタ
ーフェースを終端するSTM終端部23と、ループバッ
ク機能を備えたループバック(LB)部22とを有す
る。
【0008】CLAD3は、STMネットワークとAT
Mネットワークとを整合よく交換するSTMデータとA
TMセルとに分解して組み立てるセル分解/組立装置で
ある。CLAD3は、STMネットワークインターフェ
ースを終端するSTM終端部31と、ATMネットワー
クインターフェースを終端するATM終端部35と、A
TMセルをSTMデータに変換するデセル化部34と、
STMデータをATMセルに変換するセル化部33と、
網インターフェースを通してDSU2のループバック機
能を制御するループバック(LB)制御部32とを有す
る。
Mネットワークとを整合よく交換するSTMデータとA
TMセルとに分解して組み立てるセル分解/組立装置で
ある。CLAD3は、STMネットワークインターフェ
ースを終端するSTM終端部31と、ATMネットワー
クインターフェースを終端するATM終端部35と、A
TMセルをSTMデータに変換するデセル化部34と、
STMデータをATMセルに変換するセル化部33と、
網インターフェースを通してDSU2のループバック機
能を制御するループバック(LB)制御部32とを有す
る。
【0009】ATM試験装置4は、ATMネットワーク
5の一端に接続され、試験セルを生成してATMネット
ワーク5に挿入する試験セル送信部41と、試験セルを
ATMネットワーク5から分離受信する試験セル受信部
42と、その試験セル受信部42から受けた試験セルを
用いて試験セル送信部41の試験セルの送出を制御する
試験セル制御部43とを有する。
5の一端に接続され、試験セルを生成してATMネット
ワーク5に挿入する試験セル送信部41と、試験セルを
ATMネットワーク5から分離受信する試験セル受信部
42と、その試験セル受信部42から受けた試験セルを
用いて試験セル送信部41の試験セルの送出を制御する
試験セル制御部43とを有する。
【0010】次に、従来の導通試験システムの動作を説
明する。ATM試験装置4からの試験セルのループバッ
ク点をCLAD3のデセル化部34として、ループバッ
ク試験を実行した場合、CLAD3では、受信したルー
プバックセルのデータをSTMデータとして、DSU2
に対してループバック制御情報と、同一フレームに含め
て送信する。DSU2では、受信したフレーム中にルー
プバック制御情報がある場合は、同時に送られてくるデ
ータをそのままCLAD3に送り返すとともに、ループ
バック制御情報を同一フレームに含めて、CLAD3に
送信する。CLAD3では、DSU2から受信するフレ
ーム中にループバック制御情報があった場合に、同一フ
レームのSTMデータをOAMセルとしてセル化してA
TM試験装置4に送信する。
明する。ATM試験装置4からの試験セルのループバッ
ク点をCLAD3のデセル化部34として、ループバッ
ク試験を実行した場合、CLAD3では、受信したルー
プバックセルのデータをSTMデータとして、DSU2
に対してループバック制御情報と、同一フレームに含め
て送信する。DSU2では、受信したフレーム中にルー
プバック制御情報がある場合は、同時に送られてくるデ
ータをそのままCLAD3に送り返すとともに、ループ
バック制御情報を同一フレームに含めて、CLAD3に
送信する。CLAD3では、DSU2から受信するフレ
ーム中にループバック制御情報があった場合に、同一フ
レームのSTMデータをOAMセルとしてセル化してA
TM試験装置4に送信する。
【0011】従来の導通試験システムによれば、ATM
試験装置4から、一般的なATM区間の試験と同様な方
法でSTM区間を含めた導通試験が可能となる。
試験装置4から、一般的なATM区間の試験と同様な方
法でSTM区間を含めた導通試験が可能となる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来例の導通試験シス
テムでは、ループバックを行う際にユーザデータを予め
停止させる必要があり、インサービス中に導通試験を行
うことが不可能である。
テムでは、ループバックを行う際にユーザデータを予め
停止させる必要があり、インサービス中に導通試験を行
うことが不可能である。
【0013】また、DSU2とATM試験装置4間での
導通試験が失敗で終了した際に、DSU2とCLAD3
間又はCLAD3とATM試験装置4間の切り分けがで
きないために、再度CLAD3とATM試験装置4間で
ループバックを設定して、導通確認する必要がある。す
なわち、従来例の導通試験システムでは、ループバック
試験をATM試験装置4とDSU2の間及びATM試験
装置4とCLAD3の間の2度行わなければならなかっ
た。
導通試験が失敗で終了した際に、DSU2とCLAD3
間又はCLAD3とATM試験装置4間の切り分けがで
きないために、再度CLAD3とATM試験装置4間で
ループバックを設定して、導通確認する必要がある。す
なわち、従来例の導通試験システムでは、ループバック
試験をATM試験装置4とDSU2の間及びATM試験
装置4とCLAD3の間の2度行わなければならなかっ
た。
【0014】本発明の目的は、ATM区間とSTM区間
が含まれる伝送路において、ユーザデータが流れている
インサービス中であっても、ユーザデータの瞬断を最小
限にして導通試験を行うことにより、ネットワーク全体
の運用性を向上させる導通試験システム及びATM試験
装置を提供することにある。
が含まれる伝送路において、ユーザデータが流れている
インサービス中であっても、ユーザデータの瞬断を最小
限にして導通試験を行うことにより、ネットワーク全体
の運用性を向上させる導通試験システム及びATM試験
装置を提供することにある。
【0015】本発明の他の目的は、1度のループバック
試験でDSUとCLAD間、CLADとATM試験装置
間のどちらの区間で導通に失敗したかの切り分けができ
る導通試験システム及びATM試験装置を提供すること
にある。
試験でDSUとCLAD間、CLADとATM試験装置
間のどちらの区間で導通に失敗したかの切り分けができ
る導通試験システム及びATM試験装置を提供すること
にある。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の導通試験
システムは、ATM(非同期転送モード)区間とSTM
(同期転送モード)区間との双方が含まれる区間の伝送
路の接続を確認するための導通試験システムであって、
STM網に接続される端末と、その端末に接続され、ル
ープバック機能を備えたDSU(回線終端装置)と、そ
のDSUに接続され、ATMセルをSTMデータに変換
するデセル化部と、STMデータをATMセルに変換す
るセル化部とを備えたCLAD(セル分解/組立装置)
と、そのCLADに接続されるとともに、ATM網に接
続され、ループバック用試験セルを生成してATM網に
挿入し、ループバックされてきたループバック用セルを
ATM網から分離して受信して、伝送路の正常性を判定
するATM試験装置と、を有し、DSUとATM試験装
置との間の伝送路の導通試験を行う場合、CLADで
は、ATM試験装置から受信したループバック試験用セ
ルをSTMデータであるループバック用データとして、
DSUに対してループバック制御情報と同一のフレーム
に含めて送信し、DSUでは、受信したSTMデータ中
にループバック制御情報があるとき、同時に送られてく
るループバック用データをCLADに送り返し、CLA
Dでは、DSUから受信したSTMデータのフレーム中
にループバック制御情報があるとき、同時に送られてく
るループバック用データをループバック用セルとしてセ
ル化して、ATM試験装置に送信する、導通試験システ
ムにおいて、端末とATM網との間で伝送されるユーザ
データよりもループバック用データを優先させて伝送さ
せることを特徴とするものである。
システムは、ATM(非同期転送モード)区間とSTM
(同期転送モード)区間との双方が含まれる区間の伝送
路の接続を確認するための導通試験システムであって、
STM網に接続される端末と、その端末に接続され、ル
ープバック機能を備えたDSU(回線終端装置)と、そ
のDSUに接続され、ATMセルをSTMデータに変換
するデセル化部と、STMデータをATMセルに変換す
るセル化部とを備えたCLAD(セル分解/組立装置)
と、そのCLADに接続されるとともに、ATM網に接
続され、ループバック用試験セルを生成してATM網に
挿入し、ループバックされてきたループバック用セルを
ATM網から分離して受信して、伝送路の正常性を判定
するATM試験装置と、を有し、DSUとATM試験装
置との間の伝送路の導通試験を行う場合、CLADで
は、ATM試験装置から受信したループバック試験用セ
ルをSTMデータであるループバック用データとして、
DSUに対してループバック制御情報と同一のフレーム
に含めて送信し、DSUでは、受信したSTMデータ中
にループバック制御情報があるとき、同時に送られてく
るループバック用データをCLADに送り返し、CLA
Dでは、DSUから受信したSTMデータのフレーム中
にループバック制御情報があるとき、同時に送られてく
るループバック用データをループバック用セルとしてセ
ル化して、ATM試験装置に送信する、導通試験システ
ムにおいて、端末とATM網との間で伝送されるユーザ
データよりもループバック用データを優先させて伝送さ
せることを特徴とするものである。
【0017】ループバック用データをCLADからDS
Uに送信する場合、ユーザデータのフレームを廃棄して
もよく、その場合、STMデータの帯域に応じてユーザ
データを廃棄するか否かを決定するのが好ましい。
Uに送信する場合、ユーザデータのフレームを廃棄して
もよく、その場合、STMデータの帯域に応じてユーザ
データを廃棄するか否かを決定するのが好ましい。
【0018】ループバック用データをDSUからCLA
Dに送り返す場合、ユーザデータのフレームに上書きし
てもよく、その場合、STMデータの帯域に応じてルー
プバック用データをユーザデータに上書きするか否かを
決定するのが好ましい。
Dに送り返す場合、ユーザデータのフレームに上書きし
てもよく、その場合、STMデータの帯域に応じてルー
プバック用データをユーザデータに上書きするか否かを
決定するのが好ましい。
【0019】本発明の第2の導通試験システムは、AT
M(非同期転送モード)区間とSTM(同期転送モー
ド)区間との双方が含まれる区間の伝送路の接続を確認
するための導通試験システムであって、STM網に接続
される端末と、その端末に接続され、ループバック機能
を備えたDSU(回線終端装置)と、そのDSUに接続
され、ATMセルをSTMデータに変換するデセル化部
と、STMデータをATMセルに変換するセル化部とを
備えたCLAD(セル分解/組立装置)と、そのCLA
Dに接続されるとともに、ATM網に接続され、ループ
バック用試験セルを生成してATM網に挿入し、ループ
バックされてきたループバック用セルをATM網から分
離して受信して、伝送路の正常性を判定するATM試験
装置と、を有し、DSUとATM試験装置との間の伝送
路の導通試験を行う場合、CLADでは、ATM試験装
置から受信したループバック試験用セルをSTMデータ
であるループバック用データとして、DSUに対してル
ープバック制御情報と同一のフレームに含めて送信し、
DSUでは、受信したSTMデータ中にループバック制
御情報があるとき、同時に送られてくるループバック用
データをCLADに送り返し、CLADでは、DSUか
ら受信したSTMデータのフレーム中にループバック制
御情報があるとき、同時に送られてくるループバック用
データをループバック用セルとしてセル化して、ATM
試験装置に送信する、導通試験システムにおいて、CL
ADは、DSUとCLAD間の正常性を確認し、その情
報をATM試験装置に送信することを特徴とするもので
ある。
M(非同期転送モード)区間とSTM(同期転送モー
ド)区間との双方が含まれる区間の伝送路の接続を確認
するための導通試験システムであって、STM網に接続
される端末と、その端末に接続され、ループバック機能
を備えたDSU(回線終端装置)と、そのDSUに接続
され、ATMセルをSTMデータに変換するデセル化部
と、STMデータをATMセルに変換するセル化部とを
備えたCLAD(セル分解/組立装置)と、そのCLA
Dに接続されるとともに、ATM網に接続され、ループ
バック用試験セルを生成してATM網に挿入し、ループ
バックされてきたループバック用セルをATM網から分
離して受信して、伝送路の正常性を判定するATM試験
装置と、を有し、DSUとATM試験装置との間の伝送
路の導通試験を行う場合、CLADでは、ATM試験装
置から受信したループバック試験用セルをSTMデータ
であるループバック用データとして、DSUに対してル
ープバック制御情報と同一のフレームに含めて送信し、
DSUでは、受信したSTMデータ中にループバック制
御情報があるとき、同時に送られてくるループバック用
データをCLADに送り返し、CLADでは、DSUか
ら受信したSTMデータのフレーム中にループバック制
御情報があるとき、同時に送られてくるループバック用
データをループバック用セルとしてセル化して、ATM
試験装置に送信する、導通試験システムにおいて、CL
ADは、DSUとCLAD間の正常性を確認し、その情
報をATM試験装置に送信することを特徴とするもので
ある。
【0020】CLADからDSUに送信したループバッ
ク用データを、ある一定時間の間に受信できない場合、
セル化部は、DSUとCLADの間の導通失敗の情報を
含むセルを生成し、ATM試験装置に送信してもよい。
ク用データを、ある一定時間の間に受信できない場合、
セル化部は、DSUとCLADの間の導通失敗の情報を
含むセルを生成し、ATM試験装置に送信してもよい。
【0021】本発明のATM試験装置は、上記の導通試
験システムに用いられる。
験システムに用いられる。
【0022】本発明の概要を図1を参照して説明する。
ATM試験装置4から出力したループバック用試験セル
のループバック点をCLAD3のデセル化部34とし
て、ループバック試験を実行する場合、CLAD3で
は、受信したループバック用試験セルをSTMデータと
して、DSU2に対してループバック制御情報と同一フ
レームに含めて送信する。このとき、CLAD3からD
SU2に送信されるユーザデータはそのままであるが、
ループバック制御のフレームを優先して送信する。逆方
向であるDSU2からCLAD3に送出されるユーザデ
ータは影響されることなく送出されたままである。
ATM試験装置4から出力したループバック用試験セル
のループバック点をCLAD3のデセル化部34とし
て、ループバック試験を実行する場合、CLAD3で
は、受信したループバック用試験セルをSTMデータと
して、DSU2に対してループバック制御情報と同一フ
レームに含めて送信する。このとき、CLAD3からD
SU2に送信されるユーザデータはそのままであるが、
ループバック制御のフレームを優先して送信する。逆方
向であるDSU2からCLAD3に送出されるユーザデ
ータは影響されることなく送出されたままである。
【0023】DSU2では、受信したSTMデータ中に
ループバック制御情報がある場合には、同時に送られて
くるデータをそのままCLAD3に送り返す。このと
き、ループバック制御のフレームを優先させるため、ユ
ーザデータのフレームに上書きされる。DSU2からC
LAD3に送信される上書きされた以外のユーザデータ
のフレームには影響を与えない。また、このとき逆方向
であるCLAD3からDSU2へのユーザデータは影響
されることなく送出される。
ループバック制御情報がある場合には、同時に送られて
くるデータをそのままCLAD3に送り返す。このと
き、ループバック制御のフレームを優先させるため、ユ
ーザデータのフレームに上書きされる。DSU2からC
LAD3に送信される上書きされた以外のユーザデータ
のフレームには影響を与えない。また、このとき逆方向
であるCLAD3からDSU2へのユーザデータは影響
されることなく送出される。
【0024】CLAD3では、DSU2から受信された
フレーム中にループバック制御情報(ループバック中の
表示)がある場合に、同一フレームのデータをループバ
ックセルとしてセル化して、ATM試験装置4に送信す
る。
フレーム中にループバック制御情報(ループバック中の
表示)がある場合に、同一フレームのデータをループバ
ックセルとしてセル化して、ATM試験装置4に送信す
る。
【0025】このようにして、インサービス中であって
も最短の瞬断時間で、ATM試験装置から一般的なAT
M区間の試験と同様な方法でSTM区間を含めた導通試
験を実現することができる。
も最短の瞬断時間で、ATM試験装置から一般的なAT
M区間の試験と同様な方法でSTM区間を含めた導通試
験を実現することができる。
【0026】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。図1は、本発明の導通試験シ
ステムを示すブロック図である。
を参照しながら説明する。図1は、本発明の導通試験シ
ステムを示すブロック図である。
【0027】端末1は、STMネットワークと接続する
STM端末であり、ユーザによって操作される。
STM端末であり、ユーザによって操作される。
【0028】DSU2は端末1に接続され、ユーザイン
ターフェースを終端するSTM終端部21と、網インタ
ーフェースを終端するSTM終端部23と、ループバッ
ク機能を備えたループバック(LB)部22とを有す
る。
ターフェースを終端するSTM終端部21と、網インタ
ーフェースを終端するSTM終端部23と、ループバッ
ク機能を備えたループバック(LB)部22とを有す
る。
【0029】CLAD3は、STMネットワークとAT
Mネットワークとを整合よく交換するSTMデータとA
TMセルとに分解して組み立てるセル分解/組立装置で
ある。STMネットワークインタフェースを終端するS
TM終端部31と、ATMネットワークインタフェース
を終端するATM終端部35と、ATMセルをSTMデ
ータに変換するデセル化部34と、STMデータをAT
Mセルに変換するセル化部33と、網インタフェースを
通してDSU2のループバック機能を制御するループバ
ック(LB)制御部32とを有する。ATM終端部35
は、SDH(Synchronous Digital Hierarchy)フレー
ムのヘッダ部終端となり、SDHペイロードのATMセ
ルの抽出及び挿入が行われる。
Mネットワークとを整合よく交換するSTMデータとA
TMセルとに分解して組み立てるセル分解/組立装置で
ある。STMネットワークインタフェースを終端するS
TM終端部31と、ATMネットワークインタフェース
を終端するATM終端部35と、ATMセルをSTMデ
ータに変換するデセル化部34と、STMデータをAT
Mセルに変換するセル化部33と、網インタフェースを
通してDSU2のループバック機能を制御するループバ
ック(LB)制御部32とを有する。ATM終端部35
は、SDH(Synchronous Digital Hierarchy)フレー
ムのヘッダ部終端となり、SDHペイロードのATMセ
ルの抽出及び挿入が行われる。
【0030】ATM試験装置4は、ATMネットワーク
5の一端に接続され、試験セルを生成してATMネット
ワーク5に挿入する試験セル送信部41と、試験セルを
ATMネットワーク5から分離受信する試験セル受信部
42と、その試験セル受信部42から受けた試験セルを
用いて試験セル送信部41の試験セルの送出を制御する
試験セル制御部43とを有する。
5の一端に接続され、試験セルを生成してATMネット
ワーク5に挿入する試験セル送信部41と、試験セルを
ATMネットワーク5から分離受信する試験セル受信部
42と、その試験セル受信部42から受けた試験セルを
用いて試験セル送信部41の試験セルの送出を制御する
試験セル制御部43とを有する。
【0031】次に、本発明の導通試験システムの動作に
ついて説明する。図2は、本発明の導通試験システムの
動作を説明するための説明図である。
ついて説明する。図2は、本発明の導通試験システムの
動作を説明するための説明図である。
【0032】予めCLAD3のデセル化部34にループ
バックロケーションIDを設定しておく。DSU2とA
TM試験装置4の間のATMネットワーク5の伝送路の
導通試験を行うとき、まず、ATM試験装置4の試験セ
ル制御部43が試験セル送信部41と試験セル受信部4
2に試験指示を行う。この指示に従い、試験セル送信部
41ではデセル化部34のループバックロケーションI
D値と同一値のループバック用の試験セルを生成する。
試験セルは、検出した空きセルの位置に挿入され、ユー
ザセルに影響を与えることなく、CLAD3のATM終
端部35に送信される。その際、図2(A)に示すよう
に、ATMヘッダ60及びATMペイロード61を有す
るATMセル62と、試験セル63とがSDHフレーム
63のペイロードに収容される。
バックロケーションIDを設定しておく。DSU2とA
TM試験装置4の間のATMネットワーク5の伝送路の
導通試験を行うとき、まず、ATM試験装置4の試験セ
ル制御部43が試験セル送信部41と試験セル受信部4
2に試験指示を行う。この指示に従い、試験セル送信部
41ではデセル化部34のループバックロケーションI
D値と同一値のループバック用の試験セルを生成する。
試験セルは、検出した空きセルの位置に挿入され、ユー
ザセルに影響を与えることなく、CLAD3のATM終
端部35に送信される。その際、図2(A)に示すよう
に、ATMヘッダ60及びATMペイロード61を有す
るATMセル62と、試験セル63とがSDHフレーム
63のペイロードに収容される。
【0033】試験セルを受信したATM終端部35で
は、ループバックロケーションID値を判定し、ATM
終端部35ではないため、試験セルをデセル化部34に
送る。デセル化部34では、試験セル内のループバック
ロケーションID値を判定し、予め設定されたループバ
ックロケーションIDが一致した場合にSTM区間を含
む導通試験と判定し、ループバック制御部32にループ
バック制御を要求する。
は、ループバックロケーションID値を判定し、ATM
終端部35ではないため、試験セルをデセル化部34に
送る。デセル化部34では、試験セル内のループバック
ロケーションID値を判定し、予め設定されたループバ
ックロケーションIDが一致した場合にSTM区間を含
む導通試験と判定し、ループバック制御部32にループ
バック制御を要求する。
【0034】同時に、デセル化部34では、STMデー
タに変換したループバック用データをSTM終端部31
に送る。また、デセル化部34では、ATMセルのペイ
ロードからユーザデータを抽出する。
タに変換したループバック用データをSTM終端部31
に送る。また、デセル化部34では、ATMセルのペイ
ロードからユーザデータを抽出する。
【0035】ループバック制御部32では、デセル化部
34からSTM終端部31へのループバック用デ−タと
同期して、ループバック指示ビットを用いて、ループバ
ックの制御をSTM終端部31に対して行う。STM終
端部31では、ループバック用データとループバック指
示ビットをSTMデータの1フレームに含めてDSU2
に送信する。また、図2(B)に示すように、STM終
端部31では、ATMセル62のペイロード61をST
Mフレーム64のTS(タイムスロット)に収容され
る。収容されるTSは帯域によって異なる。
34からSTM終端部31へのループバック用デ−タと
同期して、ループバック指示ビットを用いて、ループバ
ックの制御をSTM終端部31に対して行う。STM終
端部31では、ループバック用データとループバック指
示ビットをSTMデータの1フレームに含めてDSU2
に送信する。また、図2(B)に示すように、STM終
端部31では、ATMセル62のペイロード61をST
Mフレーム64のTS(タイムスロット)に収容され
る。収容されるTSは帯域によって異なる。
【0036】このとき、ループバック用データはユーザ
データよりも優先度を高くするため、ユーザデータを1
フレームだけ廃棄してループバック用データを送出す
る。その際、STMの帯域に余裕がある場合には、ユー
ザデータを廃棄する必要はないが、帯域をフルに使用し
ている場合には、ユーザデータを廃棄する必要がある。
例えば、CLAD3でSTMフレームのあるチャネルに
ループバック用データを書き込んで、DSU2側に送出
した場合、DSU2のループバック制御部32では、フ
レーム全部をループバックする場合には、フレーム内の
他のチャネルに入っているユーザデータも廃棄すること
になるが、フレームのループバック用データが入ってい
るチャネルのみを取り除くことで、ユーザデータに影響
することなく、DSU2にデータを送出することが可能
である。
データよりも優先度を高くするため、ユーザデータを1
フレームだけ廃棄してループバック用データを送出す
る。その際、STMの帯域に余裕がある場合には、ユー
ザデータを廃棄する必要はないが、帯域をフルに使用し
ている場合には、ユーザデータを廃棄する必要がある。
例えば、CLAD3でSTMフレームのあるチャネルに
ループバック用データを書き込んで、DSU2側に送出
した場合、DSU2のループバック制御部32では、フ
レーム全部をループバックする場合には、フレーム内の
他のチャネルに入っているユーザデータも廃棄すること
になるが、フレームのループバック用データが入ってい
るチャネルのみを取り除くことで、ユーザデータに影響
することなく、DSU2にデータを送出することが可能
である。
【0037】ループバック用データを送出した後は、通
常通りATM試験装置4から送出されてきたユーザデー
タを送出する。また、逆方向である端末1からATM試
験装置4へのユーザデータは影響なく、通常通り流れて
いる。
常通りATM試験装置4から送出されてきたユーザデー
タを送出する。また、逆方向である端末1からATM試
験装置4へのユーザデータは影響なく、通常通り流れて
いる。
【0038】DSU2内のSTM終端部23では、受信
したユーザデータはそのまま端末1に送出されるが、ル
ープバック用データを含むフレームをループバック指示
ビットにより受信したことを確認すると、ループバック
部22でループバック用データのフレームのみを折り返
し、そのままCLAD3に送信する。このとき、端末1
から受信しているユーザデータが存在する場合、ループ
バック用データの優先度を高くしているため、ユーザデ
ータの1フレームにループバック用データを上書きして
CLAD3に送信する。これは、ユーザデータがSTM
データなので、ループバック用データを挿入することが
できないからである。
したユーザデータはそのまま端末1に送出されるが、ル
ープバック用データを含むフレームをループバック指示
ビットにより受信したことを確認すると、ループバック
部22でループバック用データのフレームのみを折り返
し、そのままCLAD3に送信する。このとき、端末1
から受信しているユーザデータが存在する場合、ループ
バック用データの優先度を高くしているため、ユーザデ
ータの1フレームにループバック用データを上書きして
CLAD3に送信する。これは、ユーザデータがSTM
データなので、ループバック用データを挿入することが
できないからである。
【0039】ただし、ループバック部22でループバッ
ク用データを検出し、DSU2からCLAD3方向にル
ープバック用データを書き込む場合、STMの帯域に余
裕があり、更に空いているチャネルを認識することがで
きれば、ユーザデータに影響することなく、ループバッ
ク用データを書き込むことが可能である。
ク用データを検出し、DSU2からCLAD3方向にル
ープバック用データを書き込む場合、STMの帯域に余
裕があり、更に空いているチャネルを認識することがで
きれば、ユーザデータに影響することなく、ループバッ
ク用データを書き込むことが可能である。
【0040】ループバック用データが入るフレームには
ループバック表示ビットを同時に設定する。ループバッ
ク用データを含むフレーム以外は通常通り、ユーザデー
タのフレームをCLAD3に送信する。CLAD3のS
TM終端部31では、受信したユーザデータはそのまま
セル化部33でセル化してATM試験装置4に送出する
が、ループバック用データを含むフレームをループバッ
ク指示ビットにより受信したことを確認すると、ループ
バック制御部32にループバック表示ビットの受信を伝
えて、同時に該当フレームのデータをセル化部33に送
信する。ループバック制御部32では、受信したデータ
をOAMセル(試験セル)としてセル化することをセル
化部33に伝える。
ループバック表示ビットを同時に設定する。ループバッ
ク用データを含むフレーム以外は通常通り、ユーザデー
タのフレームをCLAD3に送信する。CLAD3のS
TM終端部31では、受信したユーザデータはそのまま
セル化部33でセル化してATM試験装置4に送出する
が、ループバック用データを含むフレームをループバッ
ク指示ビットにより受信したことを確認すると、ループ
バック制御部32にループバック表示ビットの受信を伝
えて、同時に該当フレームのデータをセル化部33に送
信する。ループバック制御部32では、受信したデータ
をOAMセル(試験セル)としてセル化することをセル
化部33に伝える。
【0041】セル化部33では、ユーザデータのATM
セル化を行うが、ループバック制御部32からの指示に
より受信したデータを通常のユーザセルとしてではな
く、OAMセルとしてセル化してATM終端部35に送
信する。ATM終端部35はATM試験装置4にATM
セルを送信する。ATM試験装置4の試験セル受信部4
2では、受信したATMセル内のユーザセルはそのまま
ATMネットワーク5に送信され、OAMセルを検出す
るとループバックの判定を行う。判定として導通が正常
に終了したこと、DSU2とCLAD3又はCLAD3
とATM試験装置4の間で導通が失敗したこと(例え
ば、ビットエラー、CRCエラー、タイムアウト)等の
試験結果を試験セル制御部43に伝える。この場合、O
AMセル内に一定のデータを含んでおけば、データの誤
り率を測定でき、一定のQOS(Quality Of System)
を補償するサービスの際の指標を得ることができる。
セル化を行うが、ループバック制御部32からの指示に
より受信したデータを通常のユーザセルとしてではな
く、OAMセルとしてセル化してATM終端部35に送
信する。ATM終端部35はATM試験装置4にATM
セルを送信する。ATM試験装置4の試験セル受信部4
2では、受信したATMセル内のユーザセルはそのまま
ATMネットワーク5に送信され、OAMセルを検出す
るとループバックの判定を行う。判定として導通が正常
に終了したこと、DSU2とCLAD3又はCLAD3
とATM試験装置4の間で導通が失敗したこと(例え
ば、ビットエラー、CRCエラー、タイムアウト)等の
試験結果を試験セル制御部43に伝える。この場合、O
AMセル内に一定のデータを含んでおけば、データの誤
り率を測定でき、一定のQOS(Quality Of System)
を補償するサービスの際の指標を得ることができる。
【0042】また、ループバックロケーションIDは、
各装置又は各終端点に設けられるIDであり、固有な値
である。例えば、ATM終端部35にループバックロケ
ーションIDを設定した場合には、CLAD3とATM
試験装置4の間の伝送路の導通試験を行うことができ
る。
各装置又は各終端点に設けられるIDであり、固有な値
である。例えば、ATM終端部35にループバックロケ
ーションIDを設定した場合には、CLAD3とATM
試験装置4の間の伝送路の導通試験を行うことができ
る。
【0043】さらに、上記のループバックロケーション
IDの設定を解除する場合には、試験セル制御部43か
ら解除指令によって、試験セル送信部41にループバッ
クのループバックロケーションID値を他の値に変更し
たり、又は導通試験の中止を指示することにより、容易
にループを解除できる。
IDの設定を解除する場合には、試験セル制御部43か
ら解除指令によって、試験セル送信部41にループバッ
クのループバックロケーションID値を他の値に変更し
たり、又は導通試験の中止を指示することにより、容易
にループを解除できる。
【0044】なお、ユーザデータの廃棄やユーザデータ
への上書きがあった場合、その旨の通知や再送要求の通
知が端末1等に送信されるのが好ましい。
への上書きがあった場合、その旨の通知や再送要求の通
知が端末1等に送信されるのが好ましい。
【0045】本発明によれば、ATM区間とSTM区間
が含まれる伝送路において、DSU2にループバック用
データ及びループバック指示ビットを検出し、ユーザデ
ータと分離させることでユーザデータが流れているイン
サービス中であっても、ユーザデータの瞬断を最小限に
して導通試験を行うことができる。
が含まれる伝送路において、DSU2にループバック用
データ及びループバック指示ビットを検出し、ユーザデ
ータと分離させることでユーザデータが流れているイン
サービス中であっても、ユーザデータの瞬断を最小限に
して導通試験を行うことができる。
【0046】次に、本発明の他の実施の形態について説
明する。
明する。
【0047】この実施の形態では、CLAD3でのルー
プバック制御部32で、ループバック用フレームとして
受信したデータをOAMセルとしてセル化することをセ
ル化部33に伝えるが、このとき同時にDSU2とCL
AD3の間での正常性についての確認を行う。フレーム
の損失などが発生して、ある一定時間の間に送信したル
ープバック用データを受信できない場合には、セル化部
33に異常情報及びDSU2に送信したループバック用
データをCLAD3内に保持しておき、これらをセル化
部33に通知する。
プバック制御部32で、ループバック用フレームとして
受信したデータをOAMセルとしてセル化することをセ
ル化部33に伝えるが、このとき同時にDSU2とCL
AD3の間での正常性についての確認を行う。フレーム
の損失などが発生して、ある一定時間の間に送信したル
ープバック用データを受信できない場合には、セル化部
33に異常情報及びDSU2に送信したループバック用
データをCLAD3内に保持しておき、これらをセル化
部33に通知する。
【0048】セル化部33では、ループバック制御部3
2からの指示により受信したデータを通常のユーザセル
としてではなく、OAMセルとしてセル化してATM終
端部35に送信するが、さらに、異常情報があれば、同
時に通知されるループバック用データを基に、DSU2
とCLAD3の間の導通失敗の情報を乗せたOAMセル
を生成し、ATM終端部35に送信する。
2からの指示により受信したデータを通常のユーザセル
としてではなく、OAMセルとしてセル化してATM終
端部35に送信するが、さらに、異常情報があれば、同
時に通知されるループバック用データを基に、DSU2
とCLAD3の間の導通失敗の情報を乗せたOAMセル
を生成し、ATM終端部35に送信する。
【0049】この実施の形態によれば、CLAD3が上
記のような機能を備えていることにより、CLAD3で
自律的にDSU2に送出したループバック用データが、
ある一定時間の間に未到着である等の導通失敗を検出
し、OAMセルをATM試験装置4に送出することで、
1度のループバック試験でDSU2とCLAD3間、C
LAD3とATM試験装置4間のどちらの区間で導通に
失敗したかを判定できる。その結果、1度の導通試験で
DSU2とCLAD3間、CLAD3とATM試験装置
4間の確認が可能となる。例えば、DSU2とCLAD
3間の導通失敗の情報を乗せたOAMセルをATM試験
装置4が受信した場合には、DSU2とCLAD3間で
導通が失敗したと判定し、ATM試験装置4がOAMセ
ルを一定時間受信しなかったり、受信しても異常があ
り、かつDSU2とCLAD3間の導通失敗の情報を乗
せていない場合には、CLAD3とATM試験装置4間
で導通が失敗したと判定する。
記のような機能を備えていることにより、CLAD3で
自律的にDSU2に送出したループバック用データが、
ある一定時間の間に未到着である等の導通失敗を検出
し、OAMセルをATM試験装置4に送出することで、
1度のループバック試験でDSU2とCLAD3間、C
LAD3とATM試験装置4間のどちらの区間で導通に
失敗したかを判定できる。その結果、1度の導通試験で
DSU2とCLAD3間、CLAD3とATM試験装置
4間の確認が可能となる。例えば、DSU2とCLAD
3間の導通失敗の情報を乗せたOAMセルをATM試験
装置4が受信した場合には、DSU2とCLAD3間で
導通が失敗したと判定し、ATM試験装置4がOAMセ
ルを一定時間受信しなかったり、受信しても異常があ
り、かつDSU2とCLAD3間の導通失敗の情報を乗
せていない場合には、CLAD3とATM試験装置4間
で導通が失敗したと判定する。
【0050】本発明は、上記実施の形態に限定されるこ
とはなく、特許請求の範囲に記載された技術的事項の範
囲内において、種々の変更が可能である。
とはなく、特許請求の範囲に記載された技術的事項の範
囲内において、種々の変更が可能である。
【0051】
【発明の効果】本発明の請求項1から5に係る導通試験
システムによれば、端末とATM網との間で伝送される
ユーザデータよりもループバック用データを優先させて
伝送させるので、インサービス中であっても、端末から
ATM試験装置方向及びATM試験装置から端末方向の
両方向のユーザデータを停止させることなく、導通試験
を行うことが可能である。
システムによれば、端末とATM網との間で伝送される
ユーザデータよりもループバック用データを優先させて
伝送させるので、インサービス中であっても、端末から
ATM試験装置方向及びATM試験装置から端末方向の
両方向のユーザデータを停止させることなく、導通試験
を行うことが可能である。
【0052】また、STMでのループバック用フレーム
を1フレームで実施させることにより、ループバック用
フレームが送受されている方向と逆方向のユーザデータ
に影響を与えることなく導通試験を行うことが可能であ
る。その結果、ネットワークの運用コストの低減、また
予め試験設定を行わないことから試験時間の短縮という
効果を得ることができる。
を1フレームで実施させることにより、ループバック用
フレームが送受されている方向と逆方向のユーザデータ
に影響を与えることなく導通試験を行うことが可能であ
る。その結果、ネットワークの運用コストの低減、また
予め試験設定を行わないことから試験時間の短縮という
効果を得ることができる。
【0053】さらに、インサービス中であっても、ST
M網でのユーザデータの損失を最小限の瞬断で行えるの
で、ネットワーク全体の運用性を向上させることができ
る。
M網でのユーザデータの損失を最小限の瞬断で行えるの
で、ネットワーク全体の運用性を向上させることができ
る。
【0054】本発明の請求項6及び7に係る導通試験シ
ステムによれば、1度のループバック試験でDSUとC
LAD間、CLADとATM試験装置間のどちらの区間
で導通に失敗したかの切り分けができるので、従来のよ
うにループバック試験を2度行う必要がなくなる。
ステムによれば、1度のループバック試験でDSUとC
LAD間、CLADとATM試験装置間のどちらの区間
で導通に失敗したかの切り分けができるので、従来のよ
うにループバック試験を2度行う必要がなくなる。
【0055】本発明の請求項8に係るATM試験装置に
よれば、上記に述べた導通試験システムによる効果を享
受することができる。
よれば、上記に述べた導通試験システムによる効果を享
受することができる。
【図1】本発明の導通試験システムを示すブロック図で
ある。
ある。
【図2】本発明の導通試験システムの動作を説明するた
めの説明図である。
めの説明図である。
【図3】従来例の導通試験システムを示すブロック図で
ある。
ある。
1:端末 2:DSU 21:STM終端部 22:ループバック(LB)部 23:STM終端部 3:CLAD 31:STM終端部 32:ループバック(LB)制御部 33:セル化部 34:デセル化部 35:ATM終端部 4:ATM試験装置 41:試験セル送信部 42:試験セル受信部 43:試験セル制御部 5:ATMネットワーク
Claims (8)
- 【請求項1】ATM(非同期転送モード)区間とSTM
(同期転送モード)区間との双方が含まれる区間の伝送
路の接続を確認するための導通試験システムであって、 STM網に接続される端末と、 その端末に接続され、ループバック機能を備えたDSU
(回線終端装置)と、 そのDSUに接続され、ATMセルをSTMデータに変
換するデセル化部と、STMデータをATMセルに変換
するセル化部とを備えたCLAD(セル分解/組立装
置)と、 そのCLADに接続されるとともに、ATM網に接続さ
れ、ループバック用試験セルを生成してATM網に挿入
し、ループバックされてきたループバック用セルをAT
M網から分離して受信して、伝送路の正常性を判定する
ATM試験装置と、を有し、 前記DSUとATM試験装置との間の伝送路の導通試験
を行う場合、前記CLADでは、前記ATM試験装置か
ら受信したループバック試験用セルをSTMデータであ
るループバック用データとして、前記DSUに対してル
ープバック制御情報と同一のフレームに含めて送信し、
前記DSUでは、受信したSTMデータ中にループバッ
ク制御情報があるとき、同時に送られてくるループバッ
ク用データを前記CLADに送り返し、前記CLADで
は、前記DSUから受信したSTMデータのフレーム中
にループバック制御情報があるとき、同時に送られてく
るループバック用データをループバック用セルとしてセ
ル化して、前記ATM試験装置に送信する、導通試験シ
ステムにおいて、 前記端末とATM網との間で伝送されるユーザデータよ
りも前記ループバック用データを優先させて伝送させる
ことを特徴とする導通試験システム。 - 【請求項2】前記ループバック用データを前記CLAD
から前記DSUに送信する場合、ユーザデータのフレー
ムを廃棄することを特徴とする請求項1に記載の導通試
験システム。 - 【請求項3】STMデータの帯域に応じてユーザデータ
を廃棄するか否かを決定することを特徴とする請求項2
に記載の導通試験システム。 - 【請求項4】前記ループバック用データを前記DSUか
ら前記CLADに送り返す場合、ユーザデータのフレー
ムに上書きすることを特徴とする請求項1乃至3のいず
れか1つの項に記載の導通試験システム。 - 【請求項5】STMデータの帯域に応じて前記ループバ
ック用データをユーザデータに上書きするか否かを決定
することを特徴とする請求項4に記載の導通試験システ
ム。 - 【請求項6】ATM(非同期転送モード)区間とSTM
(同期転送モード)区間との双方が含まれる区間の伝送
路の接続を確認するための導通試験システムであって、 STM網に接続される端末と、 その端末に接続され、ループバック機能を備えたDSU
(回線終端装置)と、 そのDSUに接続され、ATMセルをSTMデータに変
換するデセル化部と、STMデータをATMセルに変換
するセル化部とを備えたCLAD(セル分解/組立装
置)と、 そのCLADに接続されるとともに、ATM網に接続さ
れ、ループバック用試験セルを生成してATM網に挿入
し、ループバックされてきたループバック用セルをAT
M網から分離して受信して、伝送路の正常性を判定する
ATM試験装置と、を有し、 前記DSUとATM試験装置との間の伝送路の導通試験
を行う場合、前記CLADでは、前記ATM試験装置か
ら受信したループバック試験用セルをSTMデータであ
るループバック用データとして、前記DSUに対してル
ープバック制御情報と同一のフレームに含めて送信し、
前記DSUでは、受信したSTMデータ中にループバッ
ク制御情報があるとき、同時に送られてくるループバッ
ク用データを前記CLADに送り返し、前記CLADで
は、前記DSUから受信したSTMデータのフレーム中
にループバック制御情報があるとき、同時に送られてく
るループバック用データをループバック用セルとしてセ
ル化して、前記ATM試験装置に送信する、導通試験シ
ステムにおいて、 前記CLADは、前記DSUとCLAD間の正常性を確
認し、その情報をATM試験装置に送信することを特徴
とする導通試験システム。 - 【請求項7】前記CLADから前記DSUに送信したル
ープバック用データを、ある一定時間の間に受信できな
い場合、前記セル化部は、前記DSUとCLADの間の
導通失敗の情報を含むセルを生成し、ATM試験装置に
送信することを特徴とする請求項6に記載の導通試験シ
ステム。 - 【請求項8】請求項1乃至7のいずれか1つの項に記載
に導通試験システムに用いられるATM試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10353698A JP3042518B1 (ja) | 1998-12-14 | 1998-12-14 | 導通試験システム及びatm試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10353698A JP3042518B1 (ja) | 1998-12-14 | 1998-12-14 | 導通試験システム及びatm試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3042518B1 true JP3042518B1 (ja) | 2000-05-15 |
JP2000183896A JP2000183896A (ja) | 2000-06-30 |
Family
ID=18432622
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10353698A Expired - Lifetime JP3042518B1 (ja) | 1998-12-14 | 1998-12-14 | 導通試験システム及びatm試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3042518B1 (ja) |
-
1998
- 1998-12-14 JP JP10353698A patent/JP3042518B1/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000183896A (ja) | 2000-06-30 |
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