JP3028857B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JP3028857B2
JP3028857B2 JP3065999A JP6599991A JP3028857B2 JP 3028857 B2 JP3028857 B2 JP 3028857B2 JP 3065999 A JP3065999 A JP 3065999A JP 6599991 A JP6599991 A JP 6599991A JP 3028857 B2 JP3028857 B2 JP 3028857B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】複数個のMOS電界効果トランジ
スタ及び複数個のバイポーラトランジスタが集積されて
構成されている半導体集積回路装置に関し、特に信号の
インタフェースを高速化するハードウエア構成に関す
る。
【0002】
【従来の技術】複数個のMOS電界効果トランジスタ及
び複数個のバイポーラトランジスタが集積されて構成さ
れている半導体集積回路装置において、特に信号のイン
タフェースを高速化するハードウエア構成に関して、例
えば特開昭59−28726 号にはBiCMOSトライステートバッ
ファ回路が開示されている。この回路の高速化のコンセ
プトはCMOS回路の電流をバイポーラによって増幅す
ることにより負荷駆動力を高くし、高速に負荷を駆動す
ることにある。
【0003】その他、LSIブロック間を接続する配線
ドライバ、レシーバに電流駆動形回路を用いる例とし
て、特開昭61−20346号に記載がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来技術
はCMOS回路と同様にほぼ電源電圧と接地電位の電圧
差に等しい信号振幅を有する。信号振幅が大きいため信
号を反転するために必要な充放電電荷化量が大きく、高
速化に限界がある。さらに、信号振幅が大きいため単位
時間内にながれる電流も大きく、従って、発生するノイ
ズが大きくなる。図19によって従来技術の問題点を詳
細に説明する。図19に示したのは、論理ブロック間の
インタフェースに用いられるトライステート出力バッフ
ァ回路(a)及び入力回路(b)の一例である。図19
(a)において、201は入力端子、202はイネーブ
ル端子であり202が“H”の時、出力はハイインピー
ダンスとなり、“L”の時201の反転信号を出力す
る。この出力回路の基本的な考え方は、MOSトランジ
スタで論理を構成し、バイポーラトランジスタで電流を
増幅し、配線及びファンアウトによる重い負荷を高速に
駆動することである。したがって、この出力回路の信号
振幅はCMOS回路にほぼ等しく、電源電位1と接地電
位2の電位差にほぼ等しい。更に厳密に言えば、本回路
の信号振幅Vは、電源電位をVDD、接地電位をGN
D、バイポーラトランジスタ203及び204のベース
・エミッタ間電位をVbeとすれば、V=VDD−GN
D−2Vbeとなる。具体的な一例としては、VDD=5
V,GND=0V、Vbe=0.7Vであり、この時、
信号振幅はV=3.6Vである。このように信号振幅が
3.6Vと大きいことが、上述した問題を引き起こす原
因となる。
【0005】図20に従来の入出力回路の例を示す。Bi
CMOS出力回路211とCMOS出力回路212およびB
iCMOS入力回路213がバス配線214に接続され
ている。まず、入力端子202が“L”、入力端子21
5が“L”の時、BiCMOS出力回路211が選択されCM
OS出力回路212の出力はハイインピーダンスとなっ
ている。この時、バス配線は入力端子201の状態に従
って、0Vまたは3.6Vとなる。また、入力端子202
が“H”、入力端子215が“H”の時、CMOS出力回路
212が選択されBiCMOS出力回路211の出力は
ハイインピーダンスとなっている。この時、バス配線は
入力端子216の状態に従って、0Vまたは5Vとな
る。このように、従来の回路方式によれば、バス配線の
信号振幅は5Vまたは3.6V と大きくなる。
【0006】本発明の目的は、高速動作で、かつ低ノイ
ズの半導体集積回路装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的は、第1、及
び、第2のバスと、第1のバスに接続される出力部と、
第2のバスに接続される入力部とを有する複数のメモリ
セルからなるメモリと、第1のバスに接続される入力部
と、第1,第2のバスに接続される第1,第2の出力部
とを有する所定の演算を行う複数の演算回路と、メモリ
及び演算回路を制御する制御回路とを有し、メモリの出
力部は、ソース・ドレイン路が直列接続された複数の第
1のMOS電界効果型トランジスタからなり、複数の第
1のMOS電界効果型トランジスタはメモリの出力信号
及び制御回路からの信号に応答して第1のバスと第2の
電位部との間にソース・ドレイン電流路を形成し、複数
の演算回路のそれぞれの第1の出力部は、ソース・ドレ
イン路が直列接続された複数の第2のMOS電界効果型
トランジスタからなり、複数の第2のMOS電界効果型
トランジスタは演算回路の出力信号及び制御回路からの
信号に応答して第1のバスと第2の電位部との間にソー
ス・ドレイン電流路を形成し、複数の演算回路のそれぞ
れの第2の出力部は、ソース・ドレイン路が直列接続さ
れた複数の第3のMOS電界効果型トランジスタからな
り、複数の第3のMOS電界効果型トランジスタは演算
回路の出力信号及び制御回路からの信号に応答して第2
のバスと第2の電位部との間にソース・ドレイン電流路
を形成し、メモリの入力部は、ベースが固定電位に設定
され、エミッタが定電流源に接続され、コレクタ・エミ
ッタ電流路が第1の電位部と第2のバスとの間に接続さ
れるバイポーラトランジスタにより構成され、複数の演
算回路のそれぞれの入力部は、ベースが固定電位に設定
され、エミッタが定電流源に接続され、コレクタ・エミ
ッタ電流路が第1の電位部と第1のバスとの間に接続さ
れるバイポーラトランジスタにより構成されていること
により達成することができる。
【0008】また上記目的は、複数のメモリセルをする
メモリと、所定の演算を行う複数の内部論理回路ブロッ
クと、メモリと複数の内部論理回路ブロックの出力を制
御する制御回路と、メモリからデータを読み出すために
複数の内部論理回路ブロックと接続する第1のデータ線
と、メモリにデータを書き込むために複数の内部論理回
路ブロックと接続する第2のデータ線と、少なくとも1
つの内部論理回路ブロックと接続され、接続された内部
論理回路ブロックからの出力信号を直接第1のデータ線
にバイパスする手段とを有するデータ処理装置であっ
て、バイパス手段は、ソース・ドレイン路が直列接続さ
れた複数のMOS電界効果型トランジスタからなり、複
数のMOS電界効果型トランジスタは1つの内部論理ブ
ロック回路の出力信号及び制御回路からの信号に応答し
て出力端子と第2の電位部との間にソース・ドレイン電
流路を形成する少なくとも1つの出力部と、ベースが固
定電位に設定され、エミッタが定電流源に接続され、コ
レクタ・エミッタ電流路が第1の電位部と入力端子に接
続される入力部とを有し、入力部の入力端子と出力部の
出力端子とが第3の信号線で接続されることにより達成
することができる。
【0009】
【0010】
【作用】この回路構成によって、小振幅信号インタフェ
ースが可能となることを以下に説明する。まず、入力部
200の定電流源204には常にI1の電流が流れてい
る。従って、出力部201のスイッチ205がオフして
いる場合には信号線207に電流が流れなれないので、入
力部200のバイポーラトランジスタ202のエミッタ
にはI1の電流が流れる。このときのバイポーラトラン
ジスタ202のベース・エミッタ間順方向電圧をVBE
1とすると、VBE1はI1を用いて次の式で表わせ
る。
【0011】 VBE1=(KT/q)ln(I1/Is) ここで、q:電子の電荷量、K:ボルツマン定数、T:
絶対温度、Is:飽和電流である。つぎに、出力部20
1のスイッチ205がオンしている場合には信号線20
7にI2の電流が流れる。I2がI1に比較して十分大
きくなるように設定すると、入力部200のバイポーラ
トランジスタ202のエミッタには近似的にI2の電流
が流れる。このときのバイポーラトランジスタ202の
ベース・エミッタ間順方向電圧をVBE2とすると、V
BE2はI2を用いて次式で表わせる。
【0012】 VBE2=(KT/q)ln(I2/Is) 入力部200のバイポーラトランジスタ202のベース
は固定電位VBなので、信号線207の信号振幅ΔVは
次式で表わせる。
【0013】 ΔV=(VB−VBE1)−(VB−VBE2) =VBE1−VBE2 =(KT/q)ln(I2/Is) −(KT/q)ln(I1/Is) =(KT/q)ln(I2/I1) 一例として、I2=0,5mA、I1=20μAと設定
すると、室温におけるKT/qは26mVなので信号線
207の振幅はΔV=84mVとなる。このように、本
回路構成によれば、従来技術に比較して数十分の1の信
号振幅でのインタフェースが可能となる。また、上式よ
り明らかなように、信号線207の振幅ΔVは入力部の
定電流源に流れる電流I1と出力部のスイッチを流れる
電流I2の比で決定されることが分かる。
【0014】一般に、回路の出力電流をI、出力の負荷
容量をC、信号振幅をVとすると回路の遅延時間Tは、
T=CV/Iと近似的に表すことができる。この式より
明らかなように、回路の遅延時間Tは信号振幅Vに比例
して小さくなる。ここで重要なことは、信号振幅Vが充
分小さい値であれば、回路の出力電流Iを小さい値に設
定しても、高速な信号伝搬が可能なことである。このこ
とは、小型な回路で高速な信号インタフェースが可能で
あることを意味している。
【0015】また、信号線のインダクタンスをL、回路
の出力電流をIとすると、ノイズVnは、Vn=LdI
/dtと表わされ、単位時間に流れる電流量に比例して
いる。信号振幅を十分小さくすれば回路の出力電流Iを
小さくできるので、回路に発生するノイズを小さくする
ことができる。
【0016】
【実施例】次に本発明の実施例を以下詳細に説明する。
図1は本発明の一実施例である半導体集積回路装置であ
る。101は複数の論理回路ブロック102,103,
104,105を内蔵しており、これらの論理回路ブロ
ックは内部バス106によって相互に接続されている。
また、107は制御論理回路ブロックであり、論理回路
ブロック102〜105を制御している。ここで、各論
理回路ブロックの102a,103a,104a,10
5aは信号の出力部であり、102b,103b,10
4b,105bが信号の入力部である。各論理回路ブロ
ックの出力部102a〜105aがMOSトランジスタ
のみで構成されており、入力部102b〜105bが主
としてバイポーラトランジスタで構成されている。上述
したように、従来技術では、MOSトランジスタで構成
された入力部の電流を出力部のバイポーラトランジスタ
によって増幅することが基本的な考え方であったのに対
し、本発明はMOSトランジスタとバイポーラトランジ
スタの使い方が全く逆になっており、出力部にMOSト
ランジスタを用い、入力部にバイポーラトランジスタを
用いている。図1を更に詳細に示したのが図3である。
同じ記号は、同一の部品に対応している。ここで、10
2b〜105bに示したシンボルの詳細回路図は図4に
示している。図3による一実施例では、102a〜10
5aに示すNMOSトランジスタから信号を出力し、1
02b〜105bに示すバイポーラトランジスタからな
る回路により信号を入力してブロック間インタフェース
を行う。本発明実施例の動作原理を図5を用いて説明す
る。まず、回路の構成について詳細に説明する。図5
は、図3における論理回路ブロック102から論理回路
ブロック103に信号を送る場合の説明図であり、図3
と同じ記号は同一の部品を示している。論理回路ブロッ
ク102の出力回路はNMOS503及び504で構成されて
おりNMOS503 のゲートは他の論理回路ブロック107に
より制御されており、ドレインが出力端子となって、バ
ス配線106に接続される。
【0017】NMOS503はNMOS504と直列接続されNMOS104
のソースが第2の電位部である接地電位端子2に接続さ
れる。NMOS504 のゲートは論理回路ブロック102に含
まれる内部論理回路ブロック501に接続され、外部論
理回路ブロック103に送るべき出力信号を受け取る。
一方、論理回路ブロック103では、バイポーラトラン
ジスタ505がバス106の微小信号をセンスして、内
部論理回路ブロック502に信号を送る。バイポーラトラ
ンジスタ505のエミッタが入力端子となってバス10
6に接続され、ベースが固定電位端子506に接続さ
れ、エミッタと抵抗507が直列に接地電位端子2に接
続され、コレクタと抵抗508が直列に第一の電位部で
ある電源電位端子1に接続される。バイポーラトランジ
スタ505によって増幅された信号は端子509からエ
ミッタフォロワ510により、論理回路ブロック103
に含まれる内部論理回路ブロック502へと送られる。
次に回路の動作について説明する。まず、論理回路ブロ
ック107からの制御信号が“L”の時、すなわち、信
号線512が“L”の時、NMOS503 はオフとなり出力端
子はハイインピーダンス状態となる。次に、論理回路ブ
ロック107からの制御信号が”H”の時、すなわち、
信号線512が“H”の時、NMOS503 はオンとなり論理
回路ブロックの出力回路504は送信可能な状態とな
る。内部論理回路ブロック501からの信号513が
“H”の時、NMOS504 には電流I2が流れる。一方、論
理回路ブロック103の入力回路のバイポーラトランジ
スタ505のエミッタには常に直流電流I1が流れてい
るので、結局バイポーラトランジスタ505のエミッタ
電流はI1とI2の和となる。この時の505のベース
電流をIbとすると、505のコレクタ電流Icは、I
c=I1+I2−Ibとなる。通常I1とIbはI2に
比較して充分小さい値に設定するので、Ic=I2と近
似できる。したがって、バイポーラトランジスタ505
のコレクタ509の電圧VILは、1の電源電位をVD
D、抵抗508をR1とすると、VIL=VDD−I2
・R1となり、バイポーラトランジスタ510のベース
・エミッタ間電圧をVbeとすれば、入力回路の出力端
子511の電圧は、VOL=VDD−I2・R1−Vb
eとなる。逆に内部論理回路ブロック501からの信号
513が“L”の時、NMOS504 はオフとなって電流が流
れず、論理回路ブロック103の入力回路のバイポーラ
トランジスタ505のエミッタには直流電流I1が流れ
るが、I1はI2に比較して充分小さいのでバイポーラ
トランジスタ505は近似的にオフ状態とみなせる。し
たがって、この時の出力端子511の電圧VOHは、V
OH=VDD−Vbeである。また、本発明で最も重要
な値であるバスの信号振幅Vbusは、電流I1および
電流I2を用いて次のように表される。
【0018】 Vbus=(kT/q)ln(I2/I1) ここで、q:電子の電荷量、k:ボルツマン定数、T:
温度である。具体的な数値例を次に示す。I1=20μ
A,I2=0.5mA,R1=3.3kオーム,VDD=
3.3Vの値をそれぞれ上述の各式に代入すると、VO
L=0.85V,VOH=2.5V ,Vbus=84mV
となる。この数値例が、既に述べた従来技術の問題点を
解消しているか否かを以下検証する。従来技術の問題点
は、信号振幅が大きく高速化に限界があることであっ
た。従来技術では、信号振幅が3.6Vであるのに対し、
本発明では84mVなので約1/40の振幅である。明
らかに、信号を反転させるに必要な電荷量が小さく、上
述の(1)式に従って信号の伝搬が大幅に高速化され
る。また、振幅が小さいため出力回路の瞬時の出力電流
を小さくできるので、発生するノイズを小さくできる。
【0019】次に、本発明を図1の102〜105の各
論理回路ブロック1個に相当する規模の論理回路ブロッ
ク610の内部バスに適用した例を、図6によって示
す。まず、全体の構成を説明する。601および602
は本発明の低振幅バスであり、601がレジスタファイ
ルからデータを読みだし各論理回路ブロックにデータを
取り込むソースバス、602が各論理回路ブロックから
の出力結果をレジスタファイルに書き込むターゲットバ
スである。なお、本実施例においてはソースバス601
が2ポート、ターゲットバス602が1ポートである。
603,604,605は内部論理回路ブロックであ
り、例えば、それぞれが乗算器,除算器,加算器に対応
している。606はレジスタファイルであり609a〜
609zはRAMあるいはROMのメモリセルである。
メモリセルのそれぞれは少なくともMOS電界効果型ト
ランジスタからなる。このレジスタファイルは1ライト
・2リードの3ポート構成となっている。なお、本実施
例は説明が簡単なために3ポート構成の例を挙げたが、
例えば4リード・3ライトの7ポート構成など他のバス
・レジスタファイル構成も可能である。603a〜60
6a及び603b〜606bは図4に示す入力部であ
り、603c〜606c及び603d〜605dは出力部で
ある。607は603d〜605d及び603c〜60
5cを制御する内部制御論理回路ブロックであり、60
8はレジスタファイルを制御する内部制御論理回路ブロ
ックである。動作原理は上述の実施例と同じであり、本
実施例においても、信号の出力部をNMOSトランジス
タで構成し、信号の入力部をバイポーラトランジスタで
構成しているため、バス601およびバス602の信号
振幅が約100mVと非常に小さい値となる。このこと
により、バスの高速性及び低ノイズ性が得られる。更
に、本発明実施例の他の利点は、603d〜605dに
よってバス601へのバイパスが容易に行えることにあ
る。バイパスとは、各内部論理回路ブロック603,6
04,605の演算結果を、レジスタファイルに書き込
まず直接ソースバス601に送ることである。バイパス
は、各内部論理回路ブロック603,604,605の
演算結果を次の演算ですぐに使いたい時に使用する。バ
イパス時には制御論理回路ブロック607より制御信号
が立ち、バイパス回路603d〜604dの内の一つが
選択され、選択された内部論理回路ブロックの演算結果
がバス601にバイパスされる。このように本発明実施
例においては、直列接続された2個のNMOSトランジ
スタによって、極めて簡単にバイパス回路を構成するこ
とができるので、従来技術に比較して、次の利点があ
る。
【0020】第一に、信号振幅が極めて低振幅なので高
速性・低ノイズ性が実現される。
【0021】第二に、NMOSトランジスタ2個のみの
回路構成なので、出力回路自体のスイッチングが高速で
ある。
【0022】第三に、本発明では信号振幅が小さく、し
たがって出力回路の出力電流も小さくてよいので、トラ
ンジスタのサイズを大きくする必要が無く、出力回路の
出力容量が小さい。通常、バイパスが必要となるデータ
は数多くあるので、バイパス用の出力回路がバス601
に数多くぶら下がることになり、バス601の容量はバ
イパス用の出力回路の出力容量に大きく依存している。
すなわち、バイパス用の出力回路の出力容量を小さくす
ることのできる本発明により、バスの容量を小さくする
ことができ、結局バスの高速駆動が実現できる。
【0023】以上、論理回路ブロック間のインタフェー
スに本発明を適用した実施例を図3に、論理回路ブロッ
クの内部バスに本発明を適用した実施例を図6に示し
た。更に、本発明を実際のマイクロプロセッサに適用し
た例を図9に示す。
【0024】図において900はワンチップマイクロプ
ロセッサであり、プログラムカウンタ901,命令キャ
ッシュ902,データキャッシュ903,整数演算器9
04,実数演算器905及びその他の制御論理回路より
構成される。プログラムカウンタ901と、命令キャッ
シュ902及び整数演算器904がデータバス906で
接続され、データキャッシュ903と整数演算器904
がデータバス908で接続される。データバス906は
プログラムカウンタ901又は整数演算器904が命令キ
ャッシュ902のアドレスを指定するためのものであ
り、データバス907はデータキャッシュ903から整
数演算器904及び実数演算器905にデータを送るも
のであり、データバス908は整数演算器904がデー
タキャッシュ903のアドレスを指定するためのもので
ある。これら906,907,908のデータバスはい
ずれも、負荷容量が重い点、プロセッサの性能を左右す
るクリテイカルパスである点で共通している。従って、
これらのデータバスに本発明を適用することは極めて有
効である。図9に示すように906,907,908の
データバスに本発明の入出力回路を接続するすることに
よって、小振幅信号バスインタフェースが可能となり高
速かが達成される。以上、ワンチップマイクロプロセッ
サの実施例を示したが、本発明は、例えばマルチチップ
モジュール上での複数チップ間インタフェースやウエハ
ースケールインテグレーション上でのブロック間インタ
フェースにも適用可能である。
【0025】図7は本発明の他の実施例である。本実施
例は、特にレジスタファイル及びバイパス回路に本発明
を適用した例である。708,709,710,714
はそれぞれ1個の論理回路ブロックである。このうち、
709,710は制御論理回路ブロックであり、708
はメモリであり処理すべきデータ及び命令が記憶されて
いる。714は着目する演算論理回路ブロックである。
703,704,705,706は714に含まれる内部
論理回路ブロックであり、707はレジスタファイルで
ある。711a〜711zはRAMあるいはROMのメ
モリセルである。712はレジスタファイルの内容を読
みだし各論理回路ブロックにデータを取り込むソースバ
スであり、713は論理回路ブロック703〜706の
出力結果をレジスタファイルに書き込むターゲットバス
である。本実施例においては、712及び714のバス
は通常のCMOS回路あるいはBiCMOS回路に等し
い論理回路振幅を持つ。本発明の低振幅バスは701,
702に用いている。
【0026】703a〜707aが本発明の出力部であ
り、701a,702aが図4に示す本発明の入力部で
ある。以下、動作と特徴について述べる。703〜70
6の内部論理回路ブロックの演算結果は、通常、バス7
13からレジスタファイルに書き込まれるが、この演算
結果を次のステップの演算ですぐに使用する場合は、低
振幅バイパスバス701から直接ソースバス712に演
算結果が送られる。また、メモリ708からのデータを
直接ソースバス712にロードする場合にも、低振幅バ
イパスバス701から直接ソースバス712にデータが
送られる。更に、レジスタファイルの内容をソースバス
712に読みだす場合に低振幅バス702を用いるが、
レジスタファイルについては次の実施例で詳細に説明を
する。論理回路ブロック703〜706の演算結果をソ
ースバスにバイパスする場合には、制御論理回路ブロッ
ク709から、703〜706,708の内のどの演算
結果あるいはデータをバイパスするかという制御信号が
くる。この制御信号に従って、703a〜706a,7
08aの1個が選択され、選択された演算結果あるいは
データが低振幅バス701に読みだされる。読みだされ
た演算結果は、701aの入力回路でセンスされ、セレクタ
付きバッファ回路715に入力される。一方、レジスタ
ファイルのデータは制御論理回路ブロック710の制御
信号に従って、1本が選択され、711a〜711zの
内、選択されたデータが低振幅バス702に読みだされ
る。読みだされたデータは702aの入力回路でセンス
され、セレクタ付きバッファ回路715に入力される。
セレクタ付きバッファ回路715はバイパスからの信号
かあるいはレジスタファイルのデータのどちらかを選択
し、ソースバス712に出力する。このような、本発明
実施例の最も大きな効果は、バイパスの高速化・面積縮
小化である。図19(a)に示す従来技術によって、本
実施例のバイパス構成を実現すると、ソースバス712
には6個のドライバ回路が接続される。従って、ソース
バス712の負荷容量が重くなり、高速なバス駆動がで
きない。また、6個のドライバ回路の占有面積が大きい
ので、全体の面積を大きくしてしまう。一方、本発明実
施例によれば、ソースバス712に接続されるドライバ
回路は1個であり、ソースバス712の負荷容量を小さ
くできるほか、ドライバ回路の占有面積が小さいので、
全体の面積を小さくできる。なお、本実施例では、説明
上簡単のため1ビットの回路構成について示したが、実
際は複数ビットから構成される。例えば、64ビットの
構成であれば、図7に示すかいろ構成が64個繰り返さ
れ、709,710からのせいぎょ制御線は各ビット共
通に接続され、メモリ708からデータ線は各ビット毎
に接続される。
【0027】図15は図7実施例の変形例である。図7
では、メモリ708からの信号をセンス回路701aを
介してソースバス712に出力しているのに対し、図1
5の実施例では、メモリ708からの信号とセンス回路
701aの出力信号をセレクタ151で選択し、トライ
ステートバッファ153からソースバス712に出力す
る。これにともない、レジスタファイル707のデータ
をソースバス712に出力するバッファをトライステー
トバッファ152とする。図15による構成の特徴は、
メモリからのデータをセンス回路701aを介さずにソ
ースバス712に出力するので、特にメモリから各論理
回路ブロックへのデータの取り込みを高速に実行するこ
とが可能となる点にある。
【0028】図16は図7実施例の他の変形例である。
本実施例では、メモリ708、論理回路ブロック70
4,705,706の出力信号をセレクタ161で選択
し、トライステートバッファ162からソースバス71
2に出力する。これにともない、レジスタファイル70
7のデータをソースバス712に出力するバッファをト
ライステートバッファ163とする。図16による構成
の特徴は、メモリからのデータ及び論理回路ブロック7
04,705,706の出力結果をセンス回路701a
を介さずにソースバス712に出力するので、特にメモ
リ及び論理回路ブロック704,705,706から各
論理回路ブロックへのデータ取り込みを高速に実行する
ことが可能となる点にある。
【0029】図17は図7実施例の他の変形例である。
本実施例では、論理回路ブロック704,705,70
6の出力信号をソースバス712に出力しないで直接そ
れぞれの論理回路ブロックに戻し、セレクタ171,1
72,173でソースバスのデータとそれぞれの論理回
路ブロックの出力結果を選択した後、各論理回路ブロッ
クに必要なデータを取り込む。図17による構成の特徴
は、論理回路ブロック704,705,706の出力信
号をセンス回路701aを介さず、しかも負荷容量の重
いソースバスにのせることがないため、特に論理回路ブ
ロック704,705,706の出力データを高速に各
論理回路ブロックに取り込むことが可能となる点にあ
る。
【0030】図18は図17実施例の変形例である。本
実施例では、論理回路ブロック704,705,706の
出力信号をソースバス712に出力しないで直接それぞ
れの論理回路ブロックに戻し、セレクタ171,17
2,173でソースバスのデータとそれぞれの論理回路
ブロックの出力結果を選択するとともに、メモリ708
及び論理回路ブロック703の出力結果とレジスタファ
イルからのデータをセレクタ181で選択し、バッファ
715からソースバスに出力する。図18による構成の
特徴は、図17の特徴に加えて、メモリ708及び論理
回路ブロック703から各論理回路ブロックへのデータ取
り込みを高速に実行することが可能となる点にある。
【0031】本発明をレジスタファイルに適用した実施
例を第8図に示す。本実施例は、2リード・2ライト構
成のレジスタファイルであり、あらゆるビット・ワード
構成が可能であるが、特に多ワード構成のレジスタファ
イルの読みだしの高速化に有効である。また、当然のこ
とながらリード・ライトのポート数も他の構成が可能で
ある。810は書き込み可能なメモリセルであり、81
1a,811bに接続される。また、メモリセルの一部
は書き込み不可能なROMでも構わない。メモリセル8
10はアドレス信号W1n,W2n,R1n,R2nに
よって制御される。W1n、W2nが“H”となれば書
き込み可能、R1n,R2nが“H”となれば読みだし
可能となる。NMOS811a,811bのドレインはそれぞれ
データ線801a,801bに接続され、図4に示すセ
ンス回路802a,増幅回路803a,バッファ回路804
aを介して、ソースバス805a,805bにつなが
る。806,807はそれぞれ乗算器、ALU(Arithm
etic Logic Unit)などの論理回路ブロックである。80
6,807の論理回路ブロックはそれぞれ808a,808bの
ターゲットバスに接続され、演算結果をレジスタファイ
ルに書き込む。以上の構成で、本発明実施例の特徴は、
レジスタファイルのデータ線801a,801bの信号振幅
が100mV程度に小さいことである。このことから、
特にレジスタファイルのワード数が多くデータ線の負荷
容量が重い場合、本発明はレジスタファイルの読みだし
の高速化・低ノイズ化に有効である。なお、本実施例
は、簡単のため1ビットの回路構成について示したが、
実際は数ビットから構成される。例えば、64ビットの
構成であれば、図8に示す回路構成が64回繰り返さ
れ、W1n,W2n,R1n,R2n、の制御線は各ビ
ット共通に接続される。
【0032】図10にレジスタファイルの他の実施例を
示す。1本のデータ線11が枝別れして、2個のセンス
回路12a,12bに接続される。本実施例により、同
一のレジスタファイルの内容を2ヵ所で読み取ることが
可能となる。
【0033】図12に本発明入力回路の他の実施例を示
す。基本的な回路構成及び回路動作は図5103に示す
回路と同じであるが、以下に述べる5点が異なってい
る。まず、回路構成について図5と異なる点は、第1に
121に示すラッチ回路部を有する点、第2に直流電流
を全てカットするためのMOSトランジスタ122,1
23,125,126及びトランスファーゲート124
を有する点、第3にデータをラッチしている期間のみ直
流電流をカットするためのMOSトランジスタ127を
有する点、第4にMOS抵抗128,129を有する
点、第5に定電圧電源用ダイオード120aを有する点
である。次に回路動作と効果について述べる。第1に1
21に示すラッチ回路部はCK信号が“H”時にはセン
ス回路の出力信号の反転信号を出力し、CK信号が
“L”時には出力信号の反転信号を保持する。また、回
路121の他の機能は、センス回路の出力信号を波形整
形することにある。センス回路の出力端子OUTNに出
力される信号は、第1の電源電位をVDD、第2の電源
電位をVSSとすると、ハイレベルがVDD−0.8V
、ロウレベルがVSS+1.6V におおよそ設定され
る。ラッチ回路部はこの信号をハイレベルがVDD、ロ
ウレベルがVSSとなるフル振幅信号に波形整形する。
第2に、MOSトランジスタ122,123,124,
125,126は直流電流を全てカットするための素子
である。直流電流制御端子IDに”L”の信号が入力さ
れると、MOSトランジスタ122,123,125が
オンし、MOSトランジスタ126及びトランスファー
ゲート124がオフし、回路は、図5にて述べた通常の
動作を行う。直流電流制御端子IDに“H”の信号が入
力されると、MOSトランジスタ122,123,12
5がオフして直流電流を遮断する。また、MOSトラン
ジスタ126がオンしてノードOUTNをVDDにプル
アップしてラッチ回路121の入力信号を”H”に保持
する。これは、ノードOUTNの信号レベルが不定となっ
て、ラッチ回路に貫通電流が流れるのを防止するためで
ある。さらに、トランスファーゲート124がオンしバ
イポーラトランジスタ120bのベース・エミッタ間を
ショートしてバイポーラトランジスタ120bをオフ
し、直流電流経路を遮断する。このような直流電流を遮
断する機能は主にLSIのデバイス特性の評価に用いら
れる。第3に、NMOS127 は、データをラッチしている期
間、直流電流の一部を遮断し回路の消費電力を低減する
ための素子である。まず、直流電流制御端子IDには
“L”が入力され、NMOS125 はオンしており回路は動作
状態にある。ここで、クロック信号CKが“H”の時、
本発明回路はデータを高速に伝搬させ、クロック信号C
Kが“L”の時はデータをラッチする。したがって、ク
ロック信号CKが“H”の時は回路は高速動作する必要
があるが、クロック信号CKが“L”の時は回路は高速
動作する必要はない。このラッチ期間を利用して、クロ
ック信号CKが“L”期間のみ直流電流を低減すること
ができる。NMOS127 のゲートはクロック信号CKによっ
て制御される。クロック信号CKが“H”の時は、NMOS
127がオンしバイポーラトランジスタ120cのエミッタフ
ォロワ電流を流して、回路は通常に高速動作する。クロ
ック信号CKが“L”の時は、NMOS127 がオフしバイポ
ーラトランジスタ120cのエミッタフォロワ電流を低
減する。このような制御により回路の消費電力を軽減す
ることができる。第4に、MOS抵抗128,129を
用いることにより抵抗素子を小型化することができる。
第5に、低電圧ダイオード120aによって、飽和防止
用クランプトランジスタ120bのベース電圧を図5に
示す回路に比較して低い電圧に設定することができる。
このことにより、ノードOUTNのロウレベルが下がる
ので、結局OUTNの信号振幅を大きくすることができ
る。
【0034】図13に本発明入力回路の他の実施例を示
す。図12と異なる点は、トランスファーゲート130
を追加した点である。クロック信号CKが“H”の期
間、トランスファーゲート130はオンとなり、回路は
通常動作する。クロック信号CKが“L”の期間はデー
タをラッチしているのでデータの入力を行う必要はな
い。したがって、トランスファーゲート130をオフ
し、直流電流経路を遮断することができる。このことに
より、更なる低消費電力化が可能となる。図12,図1
3に示した実施例は、図4に示す回路が用いられる全て
の適用例に適用できる。
【0035】図14、140に本発明入力回路の他の実
施例を示す。本発明回路ではPNPトランジスタ14
1,142を用いている点に特徴がある。本回路構成に
接続される出力回路は143,144に示すPMOSト
ランジスタによって構成する。前述したNPNトランジ
スタによる回路実施例では、出力信号の立ち下がり時間
に比較して、立上り時間が短い。これは、NPNトラン
ジスタによるエミッタフォロワによるものであるが、図
14では逆にPNPトランジスタによるエミッタフォロ
ワを用いるため、出力信号の立ち上がり時間に比較し
て、立下り時間が短い特徴がある。
【0036】図11にレジスタファイルの他の実施例を
示す。本実施例は、差動型レジスタファイルの一例であ
る。メモリセル21はポジ・ネガの両方の信号を出力
し、これらの信号は、NMOS22a ,22bのゲートに入力
される。NMOS23はアドレス制御信号A1によって、オン
オフが制御される。差動信号はデータバス24a,24b
により、差動型のセンス回路30に入力される。この出
力信号は差動増幅回路26,バッファ回路27,ソース
バス29を介して論理回路ブロック28に送られる。本
発明実施例の特徴は、低振幅データバス24a,24b
が差動型になっている点である。このことにより、より
強い対ノイズ性を得ることができる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、出力部を複数のM
OS電界効果型トランジスタから構成することにより出
力部のスイッチングを高速にし、バイポーラトランジス
タからなる入力部と組み合わせることによって信号振幅
を極めて低振幅にし、高速性・低ノイズ性を実現するこ
とができる。 このように高速性・低ノイズ性を実現でき
るためにバイパス回路を設け、演算結果を次の演算です
ぐ使うことができる半導体記憶装置及びデータ処理装置
を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体集積回路装置の概要を示す図で
ある。
【図2】本発明の入出力回路の概念図である。。
【図3】図1を具体化した半導体集積回路装置を示す図
である。
【図4】本発明の具体的な入力回路を示す図である。
【図5】本発明を論理回路ブロック間に適用した図であ
る。
【図6】本発明を論理回路ブロック内に適用した図であ
る。
【図7】本発明をレジスタファイル及びバイパス回路に
適用した図である。
【図8】本発明をレジスタファイルに適用した図であ
る。
【図9】本発明をマイクロセッサに適用した図である。
【図10】本発明をレジスタファイルに適用した他の例
を示す図である。
【図11】本発明をレジスタファイルに適用した更に他
の例を示す図である。
【図12】本発明の他の具体的な入力回路を示す図であ
る。
【図13】本発明の更に他の具体的な入力回路を示す図
である。
【図14】本発明の更に他の具体的な入力回路を示す図
である。
【図15】本発明をレジスタファイル及びバイパス回路
に適用した他の例を示す図である。
【図16】本発明をレジスタファイル及びバイパス回路
に適用した更に他の例を示す図である。
【図17】本発明をレジスタファイル及びバイパス回路
に適用した更に他の例を示す図である。
【図18】本発明をレジスタファイル及びバイパス回路
に適用した更に他の例を示す図である。
【図19】従来の入力回路を示す図である。
【図20】従来の入出力力回路を示す図である。
【符号の説明】
101…本発明、半導体集積回路装置、102〜10
5,107…論理ブロック、106…本発明、信号バ
ス、102a〜105a…本発明、入力部、102b〜10
5b…本発明、出力部、1…電源端子、2…接地端子、
201,202,205…入力端子、203,204…
バイポーラトランジスタ、206…出力端子、301…
バイポーラトランジスタ、501、502…内部論理ブ
ロック、503,504…NMOS、505,510…
バイポーラトランジスタ、507,508…抵抗、60
1,602…内部バス、603〜605…内部論理ブロ
ック、603a〜605a、603b〜605b…本発
明、入力部、603c〜606c…本発明、出力部、6
06…レジスタファイル、607,608…制御論理ブ
ロック、609a,609z…メモリセル、610…本
発明内部バスを有する内部論理ブロック、701,70
2…低振幅信号線、701a,702a…本発明、入力
部、703〜706…内部論理ブロック、707…レジ
スタファイル、708〜710…制御論理ブロック、7
11a〜711z…メモリセル、712,713…信号
バス、714…本発明内部論理ブロック、715…セレ
クタ付きバッファ回路、801a,801b…低振幅デ
ータ線、802a…本発明センス回路、803a…増幅
回路、804a…バッファ回路、805a,805b…ソー
スバス、806,807…内部論理ブロック、808
a,808b…ターゲットバス、809a,809b…
ライト制御トランスファーゲート、810…メモリセ
ル、811a,811b…本発明、出力部、812a,
812b,813a,813b…制御線、11…データ線、
12a,12b…本発明センス回路、13a,13b…信
号バス、21…メモリセル、22a,22b,23…本
発明、出力部、24a,24b…低振幅データ線、25
a,25b…バイポーラトランジスタ、26…増幅回
路、27…バッファ回路、28…内部論理ブロック、2
9…信号バス、30…本発明センス回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩村 将弘 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社 日立製作所 日立研究所内 (56)参考文献 特開 平1−279623(JP,A) 特開 昭63−253425(JP,A) 特開 平2−103614(JP,A) 特開 平4−268817(JP,A) 特開 昭60−175167(JP,A) 特表 平2−500238(JP,A)

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1、及び、第2のバスと、 上記第1のバスに接続される出力部と、上記第2のバス
    に接続される入力部とを有する複数のメモリセルからな
    るメモリと、 上記第1のバスに接続される入力部と、上記第1,第2
    のバスに接続される第1,第2の出力部とを有する所定
    の演算を行う複数の演算回路と、 上記メモリ及び上記演算回路を制御する制御回路とを有
    し、 上記メモリの出力部は、ソース・ドレイン路が直列接続
    された複数の第1の MOS電界効果型トランジスタから
    なり、上記複数の第1のMOS電界効果型トランジスタ
    は上記メモリの出力信号及び上記制御回路からの信号に
    応答して上記第1のバスと第2の電位部との間にソース
    ・ドレイン電流路を形成し、 複数の上記演算回路のそれぞれの上記第1の出力部は、
    ソース・ドレイン路が直列接続された複数の第2のMO
    S電界効果型トランジスタからなり、上記複数の第2の
    MOS電界効果型トランジスタは上記演算回路の出力信
    号及び上記制御回路からの信号に応答して上記第1のバ
    スと第2の電位部との間にソース・ドレイン電流路を形
    成し、 複数の上記演算回路のそれぞれの上記第2の出力部は、
    ソース・ドレイン路が直列接続された複数の第3のMO
    S電界効果型トランジスタからなり、上記複数の第3の
    MOS電界効果型トランジスタは上記演算回路の出力信
    号及び上記制御回路からの信号に応答して上記第2のバ
    スと第2の電位部との間にソース・ドレイン電流路を形
    成し、 上記メモリの上記入力部は、ベースが固定電位に設定さ
    れ、エミッタが定電流源に接続され、コレクタ・エミッ
    タ電流路が第1の電位部と上記第2のバスとの間に接続
    されるバイポーラトランジスタにより構成され、 複数の上記演算回路のそれぞれの上記入力部は、ベース
    が固定電位に設定され、エミッタが定電流源に接続さ
    れ、コレクタ・エミッタ電流路が第1の電位部と第1の
    バスとの間に接続されるバイポーラトランジスタにより
    構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、 上記制御回路は、上記メモリセルの出力を制御する第1
    の制御回路と、上記演算回路を制御する第2の制御回路
    からなることを特徴とする半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】複数のメモリセルを有するメモリと、 所定の演算を行う複数の内部論理回路ブロックと、 上記メモリと複数の上記内部論理回路ブロックの出力を
    制御する制御回路と、 上記メモリからデータを読み出すために上記複数の内部
    論理回路ブロックと接続する第1のデータ線と、 上記メモリにデータを書き込むために複数の上記内部論
    理回路ブロックと接続する第2のデータ線と、 少なくとも1つの上記内部論理回路ブロックと接続さ
    れ、接続された上記内部論理回路ブロックからの出力信
    号を直接上記第1のデータ線にバイパスする手段とを有
    するデータ処理装置であって、 上記バイパス手段は、ソース・ドレイン路が直列接続さ
    れた複数のMOS電界効果型トランジスタからなり、上
    記複数のMOS電界効果型トランジスタは1つの上記内
    部論理ブロック回路の出力信号及び上記制御回路からの
    信号に応答して出力端子と第2の電位部との間にソース
    ・ドレイン電流路を形成する少なくとも1つの出力部
    と、ベースが固定電位に設定され、エミッタが定電流源
    に接続され、コレクタ・エミッタ電流路が第1の電位部
    と入力端子に接続される入力部とを有し、上記入力部の
    入力端子と上記出力部の出力端子とが第3の信号線で接
    続されたことを特徴とするデータ処理装置。
  4. 【請求項4】請求項3において、 上記制御回路は、上記メモリセルの出力を制御する第1
    の制御回路と、上記演算回路を制御する第2の制御回路
    からなることを特徴とするデータ処理装置。
  5. 【請求項5】請求項3において、 上記データ処理装置が同一基板上に配置されていること
    を特徴とするデータ処理装置。
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