JP3023307B2 - 液晶表示装置の検査方法 - Google Patents
液晶表示装置の検査方法Info
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Description
オ・ビジュアル)機器やOA(オフィス・オートメーシ
ョン)機器等に使用される薄膜トランジスタを用いた液
晶パネルを検査するための液晶表示装置の検査方法に関
するものである。
広く使用環境は過酷になり、これに対応できるような検
査方法により、いっそうの高信頼性を保証されなければ
ならなくなっている。以下に従来の液晶表示装置の検査
方法について説明する。アクティブマトリックス駆動方
式の液晶表示装置は、一般に、対向電極を形成した上側
ガラス基板とXYマトリックス状に配置された走査信号
線および表示信号線と薄膜トランジスタとそれに電気的
に接続された画素電極等からなる下側半導体集積ガラス
基板とで構成された液晶パネルと、単位画素を選択する
走査信号を供給する走査信号駆動用集積回路と、選択さ
れた単位画素の液晶に表示信号を印加する表示信号駆動
用集積回路とで構成されている。
号を水平走査期間内に時系列的にサンプリングしさらに
ホールドし水平帰線期間内に表示信号線に表示信号を送
り出すことができ、かつ出力電流能力を外部よりコント
ロールできる構成となっている。この表示信号を水平走
査期間内に時系列的にサンプリングしさらにホールドし
水平帰線期間内に表示信号線に表示信号を送り出す際、
1回のサンプリングを行う表示信号駆動用集積回路をワ
ンサンプルホールド集積回路と言い、2回のサンプリン
グを行う表示信号駆動用集積回路をツーサンプルホール
ド集積回路と言う。近年コストダウンの要求が強くワン
サンプルホールド集積回路がコスト的に有利として多く
使用され始めている。
図2に示す。図2はアクティブマトリクス駆動方式の液
晶表示装置の配置を示す回路図である。図中、符号1で
示す矩形の領域が表示部である。2は表示部1の単位画
素への表示信号線である。3は単位画素への走査信号線
である。4は単位画素の薄膜トランジスタであり、通常
はMISトランジスタが用いられる。5は透明な画素電
極である。6は透明な対向電極であり、画素電極との対
向間隙に液晶が封入されている。7は補助コンデンサで
あり、表示信号の保持機能を有する。8は走査信号駆動
用集積回路である。9は表示信号駆動用集積回路であ
る。
を図3に示す。図3において、Vsは簡単に表した表示
信号であり、同図Vc は簡単に表した対向信号であり、
また同図Vg は走査信号であり、オン電圧がVg
(H)、オフ電圧がVg (L)である。ただし、Vg
(H)>Vg (L))として走査順次の早い方(画面上
部)から1,2,…,nとなっている。
の概念図を図4に示す。図4は表示信号がMAX(最大
値)において画面輝度がMIN(黒表示)になるノーマ
リーホワイト方式の状態を示している。図中の実線で表
している特性は正常な表示信号線のものであり、従来の
検査方法では、検査時の表示信号駆動用集積回路の出力
電流能力のコントロール電圧Vb0を出荷実駆動時の出力
電流能力のコントロール電圧Vbactと同じ値として、液
晶パネルを検査し、それらに対する輝度が所定の特性を
示すか否かにより合否判定を行っていた。具体的に説明
すると、液晶パネルにおいては、個々の電極間に印加す
る電圧(電流)により液晶分子のねじれがコントロール
され、これにより光の透過量がコントロールされること
により輝度が制御され、検査は、所定の表示信号で所定
の輝度特性になるかどうかで良否を判定する。
来の方法で検査した場合、表示信号線と他の信号線また
は電極間が微小な導電性異物により高抵抗でショートし
ている液晶表示装置においては、最初は表示信号駆動用
集積回路の出力電流能力が十分であって正常な性能を示
していても、機械的ストレスや熱応力により抵抗値が高
抵抗から低抵抗に経時変化して表示信号駆動用集積回路
の出力電流能力が不十分となった場合には線状欠陥が発
生してしまう可能性がある。特に、ワンサンプルホール
ド集積回路を用いた液晶表示装置は、ツーサンプルホー
ルド集積回路を用いたものよりも信号のサンプリング能
力が劣るため、経時変化に対し不利となる。
用集積回路の出力電流能力のコントロール電圧Vbactと
検査時の表示信号駆動用集積回路の出力電流能力のコン
トロール電圧Vb0とを同じ値に設定して、液晶パネルを
検査する検査方法では、この線状欠陥を予測し、長時間
使用した場合の画質性能を保証することができないとい
う問題点を有していた。
ので、製造時に高抵抗の配線間ショートが発生していて
抵抗値が機械的ストレスや熱応力により高抵抗から低抵
抗に経時変化した場合においても線状欠陥が現れること
を予測することができ、欠陥部を修理し、あるいは修理
不能のものについては廃棄することを可能として、液晶
パネルに機械的ストレスや熱応力が加えられても液晶パ
ネルの画質性能を保証できる液晶表示装置の検査方法を
提供することを目的とする。
に、この発明の液晶表示装置の検査方法は、表示信号駆
動用集積回路の出力電流能力のコントロール電圧につい
て、液晶表示装置の実駆動時のコントロール電圧をVba
ctとし、液晶表示装置の検査時のコントロール電圧をV
b0としたときに、 Vb0=Vbact−ΔVb0(ただし、ΔVb0>0) として、液晶パネルに良否判断限界の輝度変化に達する
輝度変化が生じるか否かを検査するものである。
物により表示信号線と他の信号線または電極間が高抵抗
でショートしていた場合、最初は表示信号駆動用集積回
路の出力電流能力が十分であると正常な特性を示してい
るが、使用中の機械的ストレスや熱応力によってショー
トによる抵抗値が高抵抗から低抵抗に経時変化して表示
信号駆動用集積回路の出力電流能力が不十分となる場合
があり、この場合に液晶パネル上に線状欠陥として現れ
る可能性があるが、これを検査時に表示信号駆動用集積
回路の出力電流能力が小さい状態として検査することに
より、経時変化後の状態を擬似的に作って検査を行うこ
とが可能となり、微小な導電性異物により表示信号線と
他の信号線または電極間が高抵抗でショートしていて、
経時変化によって線状欠陥が現れる可能性のあることを
予測することができ、このような欠陥を修理したり、修
理が不可能なものについては廃棄することが可能とな
り、液晶表示装置の画質性能を保証することができ、市
場での信頼性を著しく向上させることが可能となる。
いて、図面を参照しながら説明する。図1において、実
線は、4型液晶パネル(表示信号線480本、走査信号
線234本)を用いた液晶表示装置において、一定の表
示信号Vs 、対向信号Vc 、走査信号Vg (H)、Vg
(L)の下、ある表示信号線とその隣接した別の表示信
号線を微小な導電性異物によりMΩオーダーの高抵抗で
ショートさせた状態における画面輝度−電圧Vb 特性を
概念図を示し、点線は同じ液晶表示装置において、一定
の表示信号Vs 、対向信号Vc 、走査信号Vg (H)、
Vg (L)の下、ある表示信号線とその隣接した別の表
示信号線が低抵抗でのショートさせた状態における画面
輝度−電圧Vb 特性の概念図である。なお、図1の特性
は、良否判断限界の輝度変化ΔT0 と同じ輝度変化を起
こす状態のものを示しており、ショートのない正常なも
のでは、画面輝度−電圧Vb 特性は、特に図示はしてい
ないが、図1の実線よりも左に寄った状態となる。同様
にして、ショート時の抵抗が低いと、画面輝度−電圧V
b 特性は、図1の実線よりも右に寄った状態となり、点
線の特性についても、実線の特性の変化に合わせて右に
寄ることになる。
圧Vb 特性をもとにして、液晶表示装置の実駆動時にお
ける表示信号駆動用集積回路の出力電流能力のコントロ
ール電圧をVbact(=2.0V)としたときに、表示信
号駆動用集積回路の出力電流能力のコントロール電圧V
b を変化させ、良否判断限界の輝度変化ΔT0 (初期値
(MIN)に対し10%の輝度変化)が生じる電圧変化
ΔVb0=0.7Vを検出していることを示している。な
お、良否判断限界の輝度変化ΔT0 が生じる電圧変化Δ
Vb0=0.7Vは、良品の液晶パネルを基準にして良否
判断限界の輝度変化ΔT0 が生じる電圧変化ΔVb0を決
め、それに基づいて液晶パネルを検査する。また、液晶
パネルは、光源からの光の透過量を調整することにより
表示を行うもので、表示パネルとしてのコントラスト
等、予め必要とする特性となるように設計しており、上
記の初期値はその設計による決まる。
T0 が生じる電圧変化ΔVb0を知って、検査時の表示信
号駆動用集積回路の出力電流能力のコントロール電圧V
b0を Vb0=Vbact−ΔVb0(ただし、ΔVb0>0) =2.0−0.7 =1.3[V] と設定して、この電圧を印加したときに、液晶パネルに
良否判断限界の輝度変化ΔT0 に達する輝度変化が生じ
るか否かを検査する。
と他の信号線および電極間が高抵抗でショートしていた
場合、検査時の表示信号駆動用集積回路の出力電流能力
のコントロール電圧Vb0を加えた場合に液晶パネルに良
否判断限界の輝度変化ΔT0に達する輝度変化が生じる
ことになる。したがって、良否判断限界の輝度変化の量
を判定することで、微小な導電性異物により表示信号線
と他の信号線および電極間が高抵抗でショートしてい
て、使用中の機械的ストレスや熱応力によってショート
による抵抗値が高抵抗から低抵抗へ経時変化することに
より、結果的に電流駆動能力が低下することになって良
否判断限界の輝度変化ΔT0 に達する輝度変化を発生す
る可能性があることを予測することができ、該当箇所を
修理すること、あるいは修理不可能な液晶パネルについ
ては廃棄することが可能となり、液晶パネルの画質性能
を保証する検査ができる。なお、ショートが発生してい
ない正常な液晶表示装置の場合は、コントロール電圧V
b0を1.3Vとしても、良否判断限界の輝度変化ΔT0
に達する輝度変化を発生することはない。
れば、表示信号駆動用集積回路の出力電流能力のコント
ロール電圧について、液晶表示装置の実駆動時のコント
ロール電圧をVbactとし、検査時のコントロール電圧を
Vb0としたときに、 Vb0=Vbact−ΔVb0(ただし、ΔVb0>0) として、液晶パネルに良否判断限界の輝度変化に達する
輝度変化が生じるか否かを検査することにより、微小な
導電性異物により表示信号線と他の信号線および電極間
が高抵抗でショートしていて、表示信号駆動用集積回路
の出力電流能力が十分であり正常な特性を示していて
も、使用中の機械的ストレスや熱応力によってショート
による抵抗値が高抵抗から低抵抗に経時変化し線状欠陥
となる可能性があることを予測することができ、線状欠
陥となる可能性があるものについては修理をし、修理不
可能なものについては廃棄することで画質性能を保証す
る優れた検査方法を実現できる。これにより市場での信
頼性を著しく向上させることができ、実用的に極めて有
用である。
検査方法に関する輝度−電圧Vb 特性を示す概念図であ
る。
る。
図である。
電圧Vb 特性を示す概念図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 第1の基板の一主面上にXYマトリクス
状に配された走査信号線と表示信号線とが形成され、前
記走査信号線と前記表示信号線とにより区画された領域
が単位画素に相当し、前記単位画素が薄膜トランジスタ
とこの薄膜トランジスタに電気的に接続された画素電極
とから構成され、対向電極が形成された第2の基板と前
記第1の基板との対向間隙内に液晶が封入された液晶パ
ネルと、前記走査信号線に走査信号を供給する走査信号
駆動用集積回路と、表示信号を水平走査期間内に時系列
的にサンプリングしてホールドし前記水平帰線期間内に
前記表示信号線に前記表示信号を送り出すことができ、
かつ出力電流能力を外部よりコントロールできる表示信
号駆動用集積回路とを備えた液晶表示装置を検査する液
晶表示装置の検査方法であって、 前記液晶表示装置の検査時の前記表示信号駆動用集積回
路の出力電流能力のコントロール電圧をVb0とし、前記
液晶表示装置の実駆動時における前記表示信号駆動用集
積回路の出力電流能力のコントロール電圧をVbactとし
たときに、 Vb0=Vbact−ΔVb0(ただし、ΔVb0>0) として、前記液晶パネルに良否判断限界の輝度変化に達
する輝度変化が生じるか否かを検査することを特徴とす
る液晶表示装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7189696A JP3023307B2 (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 液晶表示装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7189696A JP3023307B2 (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 液晶表示装置の検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09265075A JPH09265075A (ja) | 1997-10-07 |
JP3023307B2 true JP3023307B2 (ja) | 2000-03-21 |
Family
ID=13473764
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7189696A Expired - Fee Related JP3023307B2 (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 液晶表示装置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3023307B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140062521A1 (en) * | 2011-04-25 | 2014-03-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Wiring defect inspecting method, wiring defect inspecting apparatus, and method for manufacturing semiconductor substrate |
-
1996
- 1996-03-27 JP JP7189696A patent/JP3023307B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH09265075A (ja) | 1997-10-07 |
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