JP3019059B2 - ブラインドビアホール加工方法 - Google Patents
ブラインドビアホール加工方法Info
- Publication number
- JP3019059B2 JP3019059B2 JP10109232A JP10923298A JP3019059B2 JP 3019059 B2 JP3019059 B2 JP 3019059B2 JP 10109232 A JP10109232 A JP 10109232A JP 10923298 A JP10923298 A JP 10923298A JP 3019059 B2 JP3019059 B2 JP 3019059B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- via hole
- blind via
- processing
- laser beam
- contour
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Description
基板等に対してレーザによるブラインドビアホールを加
工するブラインドビアホール加工方法に関するものであ
る。
いて、複数の層からなる基板に対してレーザによるブラ
インドビアホールを加工する場合がある。
に、ポリイミド層17を挟んで両面に銅層16,18が
張り付けた構造になっており、図2に示す基板には、図
4に示すようなブラインドビアホール19が加工され
る。
ンドビアホール19は、一側の銅層16及びポリイミド
層17をレーザにより開口し、他側の銅層18を残して
凹陥状に形成される。
インドビアホール19を加工するには、レーザビームの
径をブラインドビアホール19の直径R1に一致するよ
うに調整する。
の銅層16を加工するに必要なパワー値に設定し、この
レーザビームをもって表層の銅層16に直径R1の開口
を全面加工する。これにより、表層の銅層16の箇所が
加工され、下層のポリイミド層17が露出する。
せ、この状態でポリイミド層17をレーザビームをもっ
て加工する。この場合、レーザビームの出力パワーは低
下され、最下層の銅層18を加工するには至らないた
め、図4に示すような直径R1をもつブラインドビアホ
ール19が形成される。
ラインドビアホール加工方法では、レーザビームの出力
パワーを昇圧させて、ブラインドビアホール19の全面
の範囲で加工するものであり、加工に長時間を費やすと
いう問題がある。
ル19の全面を対象範囲として行なわれるため、レーザ
ビームの出力パワーが過大となり、加工費用が嵩むとい
う問題がある。
の加工を短時間で行なうことができるブラインドビアホ
ール加工方法を提供することにある。
め、本発明に係るブラインドビアホール加工方法は、複
数の層が積層された被加工物に対してレーザによるブラ
インドビアホールを加工するブラインドビアホール加工
方法であって、ブラインドビアホールの内側と輪郭に沿
う外側とに分離してビアホールの加工を行ない、前記ブ
ラインドビアホールの輪郭に沿う外側の加工時に内側に
発生する蓄熱を利用して前記ブラインドビアホールの内
側を加工するものである。
記ブラインドビアホールの輪郭に沿う外側を小幅に加工
するものである。
沿う外側を加工した後、前記レーザビームの焦点をぼか
して前記ブラインドビアホールの全面範囲で加工するも
のである。
少なくともポリイミド層を挟んで両面に銅層を張り付け
た構造のものである。
層の銅層を残して表層の銅層とポリイミド層に渡って形
成するものである。
より説明する。
に係るブラインドビアホール加工装置を示す構成図であ
る。
ンドビアホール加工装置は、レーザ発振器1と、レーザ
発振器1からのレーザビームを走査するガルバノメータ
2及びガルバノメータ3と、基板8上でのレーザビーム
の焦点(ビーム径)を変化させるエキスパンダ4と、レ
ーザビームを集光させるfθレンズ5と、基板8を保持
し基板8を水平方向及び垂直方向に移動するステージ6
と有している。
は、コントローラ7により制御される。コントローラ7
にてガルバノメータ2及びガルバノメータ3を駆動させ
ることにより、ガルバノメータ2及びガルバノメータ3
に取り付いているミラー9及びミラー10が回転し、f
θレンズ5からのレーザビームの出射角度が変わること
となり、ミラー9及びミラー10を個別に制御すること
により、基板8の上面の任意の位置にレーザビームを走
査することが可能となる。
凸レンズ12,LMガイド13,モータ14,コントロ
ーラ15にて構成される。
り、ガイド13はモータ14の直動軸に取り付いてい
る。モータ14をコントローラ15にて制御することに
より、凹レンズ11が平行移動し、凹レンズ11と凸レ
ンズ12の距離を変えることが可能となる。これによ
り、基板8の上面における焦点(ビーム径)を変化させ
ることが可能となる。
ール加工方法は、複数の層が積層された被加工物に対し
てレーザによるブラインドビアホールを加工するもので
あり、その複数の層からなる基板は図2に示すように、
ポリイミド層17を挟んで両面に銅層16,18が張り
付けた構造になっており、図2に示す基板には、図4に
示すようなブラインドビアホール19を加工する。
実施形態に係るブラインドビアホール加工方法は基本的
構成として、ブラインドビアホール19の内側19bと
輪郭に沿う外側19aとに分離してビアホール19の加
工を行ない、ブラインドビアホール19の輪郭に沿う外
側19aの加工時に内側19bに発生する蓄熱を利用し
てブラインドビアホール19の内側19bを加工するこ
とを特徴とするものである。
ンドビアホール19の輪郭に沿う外側19aを小幅に加
工し、ブラインドビアホール19の輪郭に沿う外側19
aの加工時に内側19bに発生する熱を有効に蓄熱す
る。
沿う外側19aを加工した後、レーザビームの焦点をぼ
かしてブラインドビアホール19の全面範囲で加工す
る。
ビアホール加工方法を具体例を用いて説明する。
ポリイミド層17、銅層18の3層基板に対して2工程
を経て円形のブラインドビアホール19を加工する場合
について説明する。図3は、最終的に基板8にブライン
ドビアホール19を加工した後の状態を示す断面図であ
る。
ら出力されたレーザビームの焦点を絞り、焦点が合った
状態(ビーム径が最小になる状態)に成形する。
ラインドビアホール19の輪郭に沿って走査し、ブライ
ンドビアホール19の輪郭に沿う外側19aに位置する
銅層16aを小幅{(R1−R2)/2}に加工する。
に、ブラインドビアホール19の輪郭に沿って表層の銅
層16aがリング状に開口(削除)される。そして、ブ
ラインドビアホール19の輪郭に沿う外側19aに位置
するポリイミド層17aがリング状に露出する。
すように、ブラインドビアホール19の内側19bに位
置する表層の銅層16aは円形に残り、外周側19aの
切り込み(開口)によって表層全体の銅層16b部分か
ら切り離されることとなり、ブラインドビアホール19
の輪郭に沿う外側19aの加工時に内側19bに発生す
る熱が有効に蓄熱することとなる。
ホール19の輪郭に沿う外側19aを加工した後、レー
ザビームの焦点をぼかしてブラインドビアホール19の
全面範囲で加工する。
ドビアホール19の内側19bに位置する円形の銅層1
6aを含むブラインドビアホール19の全面範囲を、焦
点をずらした状態(ビーム径が大きくなった状態)で、
同じくガルバノメータ2及び3によるレーザ走査にて加
工する。
ホール19の内側19bに位置する円形の銅層16a
は、基板全面に設けられる他の銅層16から分離されて
いるため、焦点をずらした状態でも、熱が逃げないた
め、レーザビームの出力パワーを低下する、すなわちポ
リイミド層17を除去するのに必要な出力パワーをもっ
て、短時間で蒸発(溶融)温度に昇温することとなり、
加工時間を短縮することができる。
リイミド層17bは、表層の銅層16aを加工する際に
同時に加工される。
層17aも、レーザビームの径が大きいので、同時に加
工される。
は焦点をずらし、銅層を加工するパワー密度にまでは達
していないため、最下層の銅層18は未加工状態とな
り、ブラインドビアホール19の底部として残る。
ドビアホール19の内側19b部分の銅層16a及びポ
リイミド層17a,17bまで完全に除去し、図4に示
すブラインドビアホール19として形成される。
ンドビアホール19の加工形状を円形としたが、これに
限定されるものではなく、四角形等の多様な形状のブラ
インドビアホール19を加工することが可能となる。
ラインドビアホールを加工するにあたって内外に分離し
て加工し、レーザ加工の際に発生する熱を有効利用すた
るため、従来例のようにブラインドビアホールを全面加
工する必要がなく、加工時間を短縮することができる。
ルの全面を対象範囲として行なう必要がなく、レーザビ
ームの必要最小限に絞ることができ、加工費用を廉価に
することができる。
を加工するレーザ加工装置を示す構成図である。
面図である。
ビアホール加工方法を示す断面図、(b)は同平面図で
ある。
状態を示す断面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 複数の層が積層された被加工物に対して
レーザによるブラインドビアホールを加工するブライン
ドビアホール加工方法であって、 ブラインドビアホールの内側と輪郭に沿う外側とに分離
してビアホールの加工を行ない、 前記ブラインドビアホールの輪郭に沿う外側の加工時に
内側に発生する蓄熱を利用して前記ブラインドビアホー
ルの内側を加工することを特徴とするブラインドビアホ
ール加工方法。 - 【請求項2】 前記レーザビームの焦点を絞って前記ブ
ラインドビアホールの輪郭に沿う外側を小幅に加工する
ことを特徴とする請求項1に記載のブラインドビアホー
ル加工方法。 - 【請求項3】 前記ブラインドビアホールの輪郭に沿う
外側を加工した後、前記レーザビームの焦点をぼかして
前記ブラインドビアホールの全面範囲で加工することを
特徴とする請求項2に記載のブラインドビアホール加工
方法。 - 【請求項4】 複数の層が積層された被加工物は、少な
くともポリイミド層を挟んで両面に銅層を張り付けた構
造のものであることを特徴とする請求項1に記載のブラ
インドビアホール加工方法。 - 【請求項5】 前記ブラインドビアホールを、裏面層の
銅層を残して表層の銅層とポリイミド層に渡って形成す
ることを特徴とする請求項4に記載のブラインドビアホ
ール加工方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10109232A JP3019059B2 (ja) | 1998-04-20 | 1998-04-20 | ブラインドビアホール加工方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10109232A JP3019059B2 (ja) | 1998-04-20 | 1998-04-20 | ブラインドビアホール加工方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11307939A JPH11307939A (ja) | 1999-11-05 |
JP3019059B2 true JP3019059B2 (ja) | 2000-03-13 |
Family
ID=14504973
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10109232A Expired - Fee Related JP3019059B2 (ja) | 1998-04-20 | 1998-04-20 | ブラインドビアホール加工方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3019059B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4974516B2 (ja) * | 2005-11-30 | 2012-07-11 | 三洋電機株式会社 | 多層基板の製造方法 |
CN110567369B (zh) * | 2019-08-30 | 2021-01-08 | 苏州康代智能科技股份有限公司 | 一种基于上下钻孔电路板的孔位检测方法及检测设备 |
-
1998
- 1998-04-20 JP JP10109232A patent/JP3019059B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11307939A (ja) | 1999-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6841482B2 (en) | Laser machining of semiconductor materials | |
US5922224A (en) | Laser separation of semiconductor elements formed in a wafer of semiconductor material | |
US7585751B2 (en) | Wafer dividing method using laser beam with an annular spot | |
JP4643889B2 (ja) | レーザ加工システム及び方法 | |
US6586707B2 (en) | Control of laser machining | |
JPS583478B2 (ja) | レ−ザ加熱方法および装置 | |
JP2004066327A (ja) | レーザ加工装置、加工方法、および当該加工方法を用いた回路基板の製造方法 | |
JP6012185B2 (ja) | 半導体デバイスの製造方法 | |
JP4711774B2 (ja) | 平板状ワークの加工方法 | |
JP3019059B2 (ja) | ブラインドビアホール加工方法 | |
JP2007029990A (ja) | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 | |
JP5969214B2 (ja) | 半導体デバイスの製造方法 | |
JPS6054151B2 (ja) | レ−ザ切断方法 | |
JP3186706B2 (ja) | 半導体ウェハのレーザマーキング方法及び装置 | |
JP4039306B2 (ja) | 立体回路パターンの形成方法、装置、及びこれらを用いて製造される立体回路板 | |
JP2009252892A (ja) | レーザ加工方法、プリント基板製造方法およびレーザ加工装置 | |
JP2003290959A (ja) | レーザ加工方法 | |
JPH07214360A (ja) | レーザ加工 | |
JP4177730B2 (ja) | レーザ加工方法及び装置 | |
JP3978152B2 (ja) | レーザ加工方法 | |
JPS63160779A (ja) | エネルギ−ビ−ム切断・穿孔方法 | |
JP2003236690A (ja) | レーザ加工方法 | |
JPH02197388A (ja) | レーザ加工方法 | |
JP2024110313A (ja) | レーザ加工方法 | |
JP2006035303A (ja) | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080107 Year of fee payment: 8 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080107 Year of fee payment: 8 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080107 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090107 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090107 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100107 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100107 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110107 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110107 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120107 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120107 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130107 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130107 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140107 Year of fee payment: 14 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |