JP3017870B2 - レール断面摩耗測定装置 - Google Patents

レール断面摩耗測定装置

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JP3017870B2 JP3345347A JP34534791A JP3017870B2 JP 3017870 B2 JP3017870 B2 JP 3017870B2 JP 3345347 A JP3345347 A JP 3345347A JP 34534791 A JP34534791 A JP 34534791A JP 3017870 B2 JP3017870 B2 JP 3017870B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、鉄道における軌道(レ
ール)の保守、点検のためのレールの断面形状の計測を
行なうレール断面摩耗測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のレール断面摩耗測定装置
としては、たとえば図1に示すようなものがある。従来
技術を簡単に説明する。
【0003】基本原理として光切断法を用いている。測
定部は主に図1に示すようなXeフラッシュランプスリ
ット光源と2台のCCDカメラから成り立っている。こ
の測定部を車両下部に、測定データ処理部を車内に装備
した車両を使って被測定レール上を走行測定することに
よって、レール断面形状を計り、保線の省力化に役立て
ている。
【0004】1.測定部の働き 光源のスリット光を、レールを長手方向に対して垂直に
横切るように照射する。この時、レール表面は光帯によ
って照らし出されるが、これはレールの断面形状を示し
ている。この像をレールの両側面をカバーするために2
台のCCDカメラで撮影する。オリジナル図形をCCD
カメラで撮影し、そのカメラ画像から、オリジナル図形
の形状を求めるというものである。
【0005】オリジナル図形を座標(x,y)で表わ
し、カメラ画像の図形を座標(x’,y’)で表わす
と、(x,y)と(x’,y’)の間には以下の関係が
ある。
【0006】
【数1】 x′=a0x+a1y+a2/a6x+a7y+1 y′=a3x+a4y+a5/a6x+a7y+1 パラメータa0〜a7は、カメラとレ−ルとの位置関係か
ら求められる。パラメータa0〜a7がわかれば、上式に
よりオリジナル図形が再現できる。
【0007】像とCCDカメラの相対位置が既知であれ
ば、カメラの映像に射影変換(式1参照)を施せば、レ
ールの実寸大の断面形状を求めることができる。又、光
源がXeフラッシュランプというストロボを用いる理由
は走行測定中、ぶれのない静止画像が撮れるからであ
る。
【0008】2.処理のながれ S1.測定部でレールの両側面に対する2枚の画像を得
る。
【0009】S2.画像処理によって外乱光を除去す
る。
【0010】S3.幅を持っている画像を細線化する。
【0011】S4.射影変換で実寸大のレール形状を求
める。
【0012】S5.両側面の形状を合成する。
【0013】S6.既知のリファレンスレールの断面形
状と測定で得た断面形状を比べて、レールの摩耗値を計
算する。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のレール断面摩耗測定装置にあっては、 1.
外乱光が強くレール画像にまたがっていると、外乱光に
よるノイズを画面から除去するのが不可能となる。
【0015】2.一般に時間のかかる細線化処理を画像
全体に施すこと、及び細線化後の画像の画素全てに対し
て射影変換を施すことは高速で走行しながら計測するた
めには計算時間の浪費となる。
【0016】3.従来例ではレールの識別機能がないの
で、走行中にレールの種類が切り替わった場合(種類に
よって形状が異なる)測定データをどの種類のリファレ
ンスレールと比較すべきか認識できず、誤った摩耗値を
出力してしまう。
【0017】という問題点が(欠点が)あった。
【0018】本発明の第1の目的は、外乱光の影響を受
けにくいレール断面摩耗測定装置を提供することであ
る。
【0019】本発明の第2の目的は、計算時間の短いレ
ール断面摩耗測定装置を提供することである。
【0020】本発明の第3の目的は、レ−ルの種類の識
別ができるレール断面摩耗測定装置を提供することであ
る。
【0021】上記第1〜第3の目的を達成するため、本
発明は、レール断面摩耗測定装置において、レールに、
光を照射するXeフラッシュランプスリット光源と、レ
ールから散乱されて来た光を受光するCCDカメラと、
上記CCDカメラが一定時間、受光できる様に受光時間
を制御する電子シャッターと、上記CCDカメラが出力
するXeフラッシュランプスリット光源点灯時の画像デ
ータと消光時の画像データとの差分をとる手段と、差分
データを画像処理して、レールの形状を求める画像処理
手段とを有し、上記画像処理手段は、レールの形状に関
して基準となる複数種類のレールのデータを記憶する手
段と、レール画像に対してウインドウを切る手段と、ウ
インドウ内の差分データに対して細線化する手段と、上
記細線化されたデータによりレールの種類を識別する手
段と、上記識別された基準となるデータと上記細線化さ
れたデータとの偏差を求める手段とを有することを特徴
とすることとしたものである。
【0022】
【0023】上記第3の目的を達成するため、本発明
は、レール断面摩耗測定装置において、レールに、光を
照射するXeフラッシュランプスリット光源と、レール
から散乱されて来た光を受光するCCDカメラと、上記
CCDカメラが一定時間、受光できる様に受光時間を制
御する電子シャッターと、上記CCDカメラが出力する
Xeフラッシュランプスリット光源点灯時の画像データ
を画像処理して、レールの形状を求める画像処理手段と
を有し、上記画像処理手段は、レールの形状に関して基
準となる複数種類のレールのデータを記憶する手段と、
上記CCDカメラが出力したデータを細線化する手段
と、上記細線化されたデータによりレールの種類を識別
する手段と、上記識別された基準となるデータと上記細
線化されたデータとの偏差を求める手段とを有すること
としたものである。
【0024】
【作用】上記第1〜第3の目的を達成するために、レー
ル断面摩耗測定装置において、Xeフラッシュランプス
リット光源は、レールに、光を照射する。CCDカメラ
は、レールから散乱されて来た光を受光する。電子シャ
ッターは、上記CCDカメラが一定時間、受光できる様
に受光時間を制御する。差分をとる手段は、上記CCD
カメラが出力するXeフラッシュランプスリット光源
灯時の画像データと消光時の画像データとの差分をと
る。上記画像処理手段は、差分データを画像処理して、
レールの形状を求める。具体的には、上記画像処理手段
は、レールの形状に関して基準となる複数種類のレール
のデータを記憶する処理と、レール画像に対してウイン
ドウを切る手段と、ウインドウ内の差分データに対して
細線化する処理と、上記細線化されたデータによりレー
ルの種類を識別する処理と、上記識別された基準となる
データと上記細線化されたデータとの偏差を求める処理
とを実現する。
【0025】
【0026】第3の目的を達成するために、レール断面
摩耗測定装置において、Xeフラッシュランプスリット
光源は、レ−ルに、光を照射する。CCDカメラは、レ
−ルから散乱されて来た光を受光する。電子シャッタ−
は、上記CCDカメラが一定時間、受光できる様に受光
時間を制御する。画像処理手段は、上記CCDカメラが
出力するXeフラッシュランプスリット光源点灯時の画
像デ−タを画像処理して、レ−ルの形状を求める。細線
化する手段は、上記CCDカメラが出力したデータを細
線化する。識別する手段は、上記細線化されたデ−タに
よりレールの種類を識別する。偏差を求める手段は、上
記識別された基準となるデ−タと上記細線化されたデ−
タとの偏差を求める。
【0027】
【実施例】本実施例は、以下の特徴を有する。
【0028】1.電子シャッター機能を持ったCCDカ
メラを用いて、Xeフラッシュランプスリット光源の発
光時間にシャッタータイミングを合わせることにより外
乱光の光量を抑える。
【0029】2.Xeフラッシュランプスリット光源発
光時の画像データと、消光時の画像データの差分を求
め、外乱光を相殺し、スリット光のみの画像データを抽
出する。ただし消光時の画像データは、発光時の画像デ
ータに対して位置的にも時間的にもできるだけ近づけ
る。
【0030】3.一般に時間のかかる細線化処理と射影
変換をウインドウを切って画像の必要な部分だけに適用
する。
【0031】4.レールあご部と、あご部から降ろした
垂線とレール下部との交点との距離によりレールを識別
する。
【0032】以下、本発明を図面に基づいて説明する。
図2は、本発明の一実施例を示す図である。まず構成を
説明すると、大きく分けて測定部12と処理部4で構成
される。(ただしここでは、レールの右側面に関する処
理を説明する。)測定部12は、従来のものとほぼ同じ
だが、CCDカメラ2が電子シャッターを持っている。
【0033】電子シャッターの方式については、どのよ
うなものでも本発明に使えるが、一例として、CCDが
フレームインタライン形CCDである場合を説明する。
【0034】フレームインタライン形CCD(FITC
CD:frame interline CCD)は、撮像部は通常のイ
ンタライン形CCDと同一であるが、その下部に1フィ
ールド分の画像信号を蓄積するためのメモリー領域を備
えている。感光素子(ホトダイオード)で蓄積された信
号電荷は、インタライン形CCDの場合と同様、垂直帰
線期間に垂直CCDレジスタに読み出される。この後、
信号電荷は、高速の垂直転送パルスを印加することによ
り、垂直CCDレジスタ中を下方に転送されメモリー領
域に蓄えられる。この信号電荷は、水平帰線期間を利用
して1ラインずつ水平CCDレジスタに送り込まれた
後、水平レジスタCCD内部を水平方向に転送され出力
される。撮像部からメモリー領域への信号の転送も、垂
直帰線期間中に行われる。このときの垂直CCDレジス
タの転送周波数は通常1MHz前後の駆動周波数に選ば
れているため、通常のインタライン形CCDレジスタと
比較し、垂直CCDレジスタへ光の洩れ込む時間が短縮
化され、大幅なスミアの低減が可能となる。
【0035】フレームインタライン形CCDでは、メモ
リー領域を利用して、シャッタ−時間が可変な電子シャ
ッタ−動作を行わせることができる。ある水平帰線期間
の時刻T1において、それまでにホトダイオードに蓄積
されていた電荷は、いったん垂直CCDレジスタに読み
出される。この時点で、ホトダイオードは、電荷の存在
しない“空”の状態となり、改めて光電変換が開始され
る。垂直CCDレジスタに読み出された電荷は、通常の
垂直転送により垂直CCDレジスタ内部を下方に転送さ
れる。時刻T2において垂直帰線期間に入ると、垂直C
CDレジスタには高速の掃出しパルスが印加され、垂直
CCDレジスタに残留するすべての電荷が不要電荷とし
て外部に掃き捨てられる。この状態で、時刻T3におい
て、改めてホトダイオードに蓄積されている電荷を垂直
CCDレジスタに読み出し、この電荷を正規の信号電荷
として利用する。このような動作では、実質的な光電変
換時間は、時刻T1から時刻T3までであり、この時間
は、通常の方式のCCDの蓄積時間(1フィールドある
いは1フレーム期間)よりも短く設定できるため、電子
シャッタ動作が可能となる。ホトダイオードからの不要
電荷の読出しは、読出しパルスが有効期間の信号へ妨害
を与えるのを防ぐため、通常、水平帰線期間内に行われ
る。このため、シャッタ時間は1H単位(1水平走査周
期単位)で可変にできる。
【0036】上述のようにCCDにおける電子シャッタ
動作は、光電変換時間を通常のフィールド時間あるいは
フレーム時間よりも短く設定できる。そのため動解像度
の改良が容易なことから高速で動く被写体を撮像しても
ボケを生じにくい、あるいはCCDのフィールド周波数
と電源周波数(50Hz)とのビートによって生ずる蛍
光灯フリッカの除去が可能であるなどの利点を有する。
【0037】処理部4は、主に2個のフレームメモリ
(FM)7、10と、各デバイスの制御と摩耗値の計算
を担当する画像処理手段であるシングルチップマイコン
11と、画像デ−タの記憶先を切り替えるスイッチ(S
W)5と、FM7の入出力側に接続されたA/D6およ
びD/A8と、差分を取る手段である2値化回路とを有
する。マイコン11は、レ−ルの形状に関して基準とな
るデ−タと、上記CCDカメラが出力したデータを細線
化する手段の機能と、上記基準となるデ−タと上記細線
化されたデ−タとの偏差を求める手段の機能と、ウイン
ドウ内の画像に対して、処理を行なう手段の機能と、レ
ールの種類を識別する手段の機能と、基準点を求める手
段の機能とを有する。
【0038】次に、上記の実施例の作用を説明する。
【0039】レールの断面形状の測定の場合は、レ−ル
の上部の形の両側を測定したいので、レール1本に対し
てカメラとスリット光をそれぞれ2組使う必要がある。
【0040】日中にも測定できるためには、たとえ覆い
をつけるにしても、外乱光の影響は極力カットしたい。
本装置では、フラッシュランプと電子シャッタ−付きカ
メラを併用することによってs/n比の向上を図ってい
る。
【0041】本CCDカメラの通常の露光時間は1/6
0[s]、フラッシュランプの閃光時間は、20〜50
[μs](半値幅)、電子シャッタ−を使った露光時間
を100[μs]に設定すればs/n比は(1/60
[s])/100[μs]=167倍に改善される。
【0042】次に、鮮明な2値画像を得る方法につい
て、図3により述べる。
【0043】1.Xeフラッシュランプスリット光源発
光時の1つ手前(図3に於いて(n−1)番目のシャッ
ター開口時)の画像データを多値用フレームメモリ7に
保持する。
【0044】2.Xeフラッシュランプスリット光源発
光時(図3においてn番目のシャッター開口時)の画像
データと多値用フレームメモリ7のデータの差を適当な
しきい値で2値化回路9により、2値化して2値用フレ
ームメモリ10に保存する。
【0045】次に、2値画像よりレールの種類を認識し
て摩耗値を計算する動作について、図4により述べる。
【0046】2値画像(フレームメモリ10内に記憶さ
れている)41に対して、予め位置と大きさを決めてあ
ったウインドウを切り、処理した結果42をフレームメ
モリ10に記憶する(S41)。
【0047】ウインドウ内を細線化し、処理した結果4
3をフレームメモリ10に記憶する(S42)。
【0048】細線化した部分だけを射影変換し、処理し
た結果44をマイコン11内のメモリに記憶する(S4
3)。この時には、実線部だけを座標値として保持す
る。
【0049】この後の処理を図5により説明する。レー
ル識別と位置合わせのための特徴点(点A(レールあご
部の座標)および点B(点Aから降ろし垂線とレール下
部との交点の座標))を求め、処理した結果45をマイ
コン11内のメモリに記憶する(S44)。
【0050】リファレンスデータ群46(シングルチッ
プのメモリ内にある)と、長さABについて比較して、
レールを識別する(S45)。
【0051】リファレンスデータの選択を行ない(S4
6)、位置合わせをして、摩耗値計算を行ない、処理し
た結果47をマイコン11内のメモリに記憶する(S4
7)。この時は、測定データとリファレンスデータの点
Bが一致するように位置合わせする。そして、距離C
C′が求める摩耗値である。これを摩耗値48として出
力する。
【0052】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、以下に列挙する効果が得られる。
【0053】1.鮮明画像の取り込みと摩耗計算処理を
高速化(計算時間が従来の約1/10になる)する工夫
をしたことにより、リアルタイムに摩耗値を求めること
が可能となる。(これは現場では重要である。) 2.実際の鉄道では、しばしば形状が異なるレールどう
しが接続されている場合がある。測定データの摩耗値は
リファレンスレールの形状データと比較して計算するの
でレールの種類の判別が必要である。本システムはレー
ルの種類を自動識別できるので走行中に測定レールの種
類が変わっても正確に摩耗値を求めることができる。
【0054】なお、本実施例では、光源として、Xeラ
ンプの場合を示したが、本発明は、これに限られるもの
では無く、例えば、水銀ランプでも良い。
【0055】
【発明の効果】本発明によれば、外乱光の影響を受けに
くいレール断面摩耗測定装置を提供することができる。
【0056】また、計算時間が短くなったために、高速
走行しながら計測できるレール断面摩耗測定装置を提供
することができる。
【0057】さらに、レ−ルの種類の識別ができるレー
ル断面摩耗測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術に係るレール断面摩耗測定装置の説明
図である。
【図2】本発明に係るレール断面摩耗測定装置のブロッ
ク図である。
【図3】電子シャッタ−とXeフラッシュランプスリッ
ト光源発光のタイミングの説明図である。
【図4】画像処理の手順を示す説明図である。
【図5】画像処理の手順を示す説明図である。
【符号の説明】
1…Xeフラッシュランプスリット光源、2,3…電子
シャッター付きCCDカメラ、4…処理部、7,10…
フレ−ムメモリ、9…2値化回路、11…シングルチッ
プマイコン。
フロントページの続き (72)発明者 錦城 誘策 東京都大田区南蒲田2丁目16番46号 株 式会社トキメック内 (72)発明者 東 憲昭 大阪府大阪市阿倍野区松崎町2丁目1番 16号JR宿舎1ー18 (72)発明者 西田 哲郎 兵庫県西宮市熊野町5番2ー206号 (72)発明者 坂元 一美 兵庫県加古郡稲美町幸竹103ー1 (56)参考文献 特開 昭55−33691(JP,A) 特開 昭51−143358(JP,A) 特開 平2−85704(JP,A) 特開 平2−213708(JP,A) 特開 昭63−135849(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レールに、光を照射するXeフラッシュ
    ランプスリット光源と、 レールから散乱されて来た光を受光するCCDカメラ
    と、 上記CCDカメラが一定時間、受光できる様に受光時間
    を制御する電子シャッターと、 上記CCDカメラが出力するXeフラッシュランプスリ
    ット光源点灯時の画像データを画像処理して、レールの
    形状を求める画像処理手段とを有し、 上記画像処理手段は、レールの形状に関して基準となる
    複数種類のレールのデータを記憶する手段と、上記CC
    Dカメラが出力したデータを細線化する手段と、上記細
    線化されたデータによりレールの種類を識別する手段
    と、上記識別された基準となるデータと上記細線化され
    たデータとの偏差を求める手段とを有することを特徴と
    するレール断面摩耗測定装置。
  2. 【請求項2】 レールに、光を照射するXeフラッシュ
    ランプスリット光源と、 レールから散乱されて来た光を受光するCCDカメラ
    と、 上記CCDカメラが一定時間、受光できる様に受光時間
    を制御する電子シャッターと、 上記CCDカメラが出力するXeフラッシュランプスリ
    ット光源点灯時の画像データと消光時の画像データとの
    差分をとる手段と、 差分データを画像処理して、レールの形状を求める画像
    処理手段とを有し、 上記画像処理手段は、レールの形状に関して基準となる
    複数種類のレールのデータを記憶する手段と、レール画
    像に対してウインドウを切る手段と、ウインドウ内の差
    分データに対して細線化する手段と、上記細線化された
    データによりレールの種類を識別する手段と、上記識別
    された基準となるデータと上記細線化されたデータとの
    偏差を求める手段とを有することを特徴とするレール断
    面摩耗測定装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載のレール断面摩耗
    測定装置において、 上記の偏差を求める手段は、細線化されたデータから、
    基準となるデータと照合するための基準点を求める手段
    を有することを特徴とするレール断面摩耗測定装置。
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JP2006258531A (ja) * 2005-03-16 2006-09-28 Act Denshi Kk レール断面測定方法及びそれに使用されるレール断面測定装置
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