JP3014833B2 - 構造物レベル計測装置 - Google Patents
構造物レベル計測装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、構造物の多数点のレベ
ルをレ−ザ光線を利用して計測する計測装置の改良に関
する。
ルをレ−ザ光線を利用して計測する計測装置の改良に関
する。
【０００２】
【従来の技術】構造物の不同沈下の計測など、構造物に
設置された多数の計測点のレベル変化を知る方法とし
て、最近レ−ザ光線の発光器と受光器を用いて計測を行
う電子計測方法が多く採用されている。
設置された多数の計測点のレベル変化を知る方法とし
て、最近レ−ザ光線の発光器と受光器を用いて計測を行
う電子計測方法が多く採用されている。
【０００３】例えば特開昭６０−２５４１３号公報に
は、レ−ザ光線の発光器を基準点に設置し、被測定部位
に受光器を取り付け、上下方向に多数の受光素子を配置
した受光器にレ−ザ光線を照射することにより、受光し
た素子の位置からその測定部位のレベルを判断するもの
が提案されている。構造物の不同沈下のように測定点が
多数にわたり、しかも定期的な計測を必要とする場合に
は、受光器をその位置にセットしておき、その出力をコ
ンピュータに入力させることにより、能率の良い測定を
実施することができる。
は、レ−ザ光線の発光器を基準点に設置し、被測定部位
に受光器を取り付け、上下方向に多数の受光素子を配置
した受光器にレ−ザ光線を照射することにより、受光し
た素子の位置からその測定部位のレベルを判断するもの
が提案されている。構造物の不同沈下のように測定点が
多数にわたり、しかも定期的な計測を必要とする場合に
は、受光器をその位置にセットしておき、その出力をコ
ンピュータに入力させることにより、能率の良い測定を
実施することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところがこの場合、レ
ベル計測の精度（分解能）を高めるには受光器に上下方
向へ配列する受光素子の配列密度を高くする必要がある
が、測定点が多数にわたる場合は、受光器の設置個数が
増えることもあって、このような素子密度の高い受光器
を多数準備しなければならず、計測装置を非常に高価な
ものにしてしまい、さらに、分解能を高めるには周囲の
振動、作業用の車両や人員などの外乱による計測誤差を
検知して排除しなければならない。
ベル計測の精度（分解能）を高めるには受光器に上下方
向へ配列する受光素子の配列密度を高くする必要がある
が、測定点が多数にわたる場合は、受光器の設置個数が
増えることもあって、このような素子密度の高い受光器
を多数準備しなければならず、計測装置を非常に高価な
ものにしてしまい、さらに、分解能を高めるには周囲の
振動、作業用の車両や人員などの外乱による計測誤差を
検知して排除しなければならない。
【０００５】そこで本発明は、以上の問題点を解決すべ
くなされたもので、計測誤差の少ない高精度の構造物レ
ベル計測装置を提供することを目的とする。
くなされたもので、計測誤差の少ない高精度の構造物レ
ベル計測装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１の発明は、図１にお
いて、構造物の計測点に設置してレ−ザ光線の受光によ
り受光信号を出力する受光器２と、レ−ザ光線を水平方
向に照射しながら所定の速度で水平旋回するレ−ザ照射
器１と、このレ−ザ照射器１を所定の速度で上下させる
昇降装置と、レ−ザ照射器１の発光レベルの変化を所定
の単位毎に検出する手段１９と、この検出手段１９が検
出する各レ−ザ発光レベルにおける前記受光器２の受光
信号の出力回数の平均値とから受光器２を配置した計測
点のレベルを演算する受光位置演算手段３０と、受光レ
ベルの最高値と最低値の差が予め設定した許容値を越え
るときに計測異常を判定するレベル分布比較手段３２
と、この比較手段３２の異常判定時には少なくとも前記
演算手段３０のレベル演算結果の無効を表示し、再計測
する制御手段３１を備える。
いて、構造物の計測点に設置してレ−ザ光線の受光によ
り受光信号を出力する受光器２と、レ−ザ光線を水平方
向に照射しながら所定の速度で水平旋回するレ−ザ照射
器１と、このレ−ザ照射器１を所定の速度で上下させる
昇降装置と、レ−ザ照射器１の発光レベルの変化を所定
の単位毎に検出する手段１９と、この検出手段１９が検
出する各レ−ザ発光レベルにおける前記受光器２の受光
信号の出力回数の平均値とから受光器２を配置した計測
点のレベルを演算する受光位置演算手段３０と、受光レ
ベルの最高値と最低値の差が予め設定した許容値を越え
るときに計測異常を判定するレベル分布比較手段３２
と、この比較手段３２の異常判定時には少なくとも前記
演算手段３０のレベル演算結果の無効を表示し、再計測
する制御手段３１を備える。
【０００７】第２の発明は、図１において、構造物の計
測点に設置してレ−ザ光線の受光により受光信号を出力
する受光器２と、レ−ザ光線を水平方向に照射しながら
所定の速度で水平旋回するレ−ザ照射器１と、このレ−
ザ照射器１を所定の速度で上下させる昇降装置と、レ−
ザ照射器の発光レベルの変化を所定の単位毎に検出する
手段１９と、この検出手段１９が検出するレ−ザ発光レ
ベルの変化と、これらの各レベルにおける前記受光器２
の受光信号の出力回数の平均値とから受光器２を配置し
た計測点のレベルを演算する受光位置演算手段３０と、
前記昇降装置の上昇方向での前記演算手段３０の結果と
下降方向での演算手段３０の結果との差が予め設定した
許容値を越えるときに計測異常を判定する往復値比較手
段３３と、この比較手段３３の異常判定時には少なくと
も前記演算手段３０のレベル演算結果の無効を表示し、
再計測する制御手段３１を備える。
測点に設置してレ−ザ光線の受光により受光信号を出力
する受光器２と、レ−ザ光線を水平方向に照射しながら
所定の速度で水平旋回するレ−ザ照射器１と、このレ−
ザ照射器１を所定の速度で上下させる昇降装置と、レ−
ザ照射器の発光レベルの変化を所定の単位毎に検出する
手段１９と、この検出手段１９が検出するレ−ザ発光レ
ベルの変化と、これらの各レベルにおける前記受光器２
の受光信号の出力回数の平均値とから受光器２を配置し
た計測点のレベルを演算する受光位置演算手段３０と、
前記昇降装置の上昇方向での前記演算手段３０の結果と
下降方向での演算手段３０の結果との差が予め設定した
許容値を越えるときに計測異常を判定する往復値比較手
段３３と、この比較手段３３の異常判定時には少なくと
も前記演算手段３０のレベル演算結果の無効を表示し、
再計測する制御手段３１を備える。
【０００８】
【作用】第１の発明は、受光位置演算手段がレ−ザ光線
の各発光レベルとそのレベルにおける受光器の受光回数
の積の総和を総受光回数で除した結果を計測レベルと
し、レベル分布比較手段は前記受光位置演算手段におい
て受光信号が発生したレベルの最高値と最低値との差を
予め設定した許容値と比較して、最高値と最低値の差が
許容値を越えるた場合、計測値異常と判定して前記受光
位置演算手段の演算結果を無効とするとともに、計測制
御手段により計測値の異常を表示し、昇降装置を原点に
復帰させて再度計測を行い、外乱による計測値の異常を
排除する。
の各発光レベルとそのレベルにおける受光器の受光回数
の積の総和を総受光回数で除した結果を計測レベルと
し、レベル分布比較手段は前記受光位置演算手段におい
て受光信号が発生したレベルの最高値と最低値との差を
予め設定した許容値と比較して、最高値と最低値の差が
許容値を越えるた場合、計測値異常と判定して前記受光
位置演算手段の演算結果を無効とするとともに、計測制
御手段により計測値の異常を表示し、昇降装置を原点に
復帰させて再度計測を行い、外乱による計測値の異常を
排除する。
【０００９】第２の発明は、受光位置演算手段がレ−ザ
光線の各発光レベルとそのレベルにおける受光器の受光
回数の積の総和を総受光回数で除した結果を計測レベル
とし、この計測レベルを昇降装置の上昇方向及び下降方
向のそれぞれで算出し、さらに往復値比較手段でこれら
レベルの差を算出し、この算出した差と予め設定した許
容値とを比較し、この差が許容値を越えると前記受光位
置演算手段の演算結果を無効とするとともに、計測値異
常と判定して計測制御手段により表示装置に計測値の異
常を表示し、昇降装置を原点に復帰させて再度計測を行
い、外乱による計測値の異常を排除する。
光線の各発光レベルとそのレベルにおける受光器の受光
回数の積の総和を総受光回数で除した結果を計測レベル
とし、この計測レベルを昇降装置の上昇方向及び下降方
向のそれぞれで算出し、さらに往復値比較手段でこれら
レベルの差を算出し、この算出した差と予め設定した許
容値とを比較し、この差が許容値を越えると前記受光位
置演算手段の演算結果を無効とするとともに、計測値異
常と判定して計測制御手段により表示装置に計測値の異
常を表示し、昇降装置を原点に復帰させて再度計測を行
い、外乱による計測値の異常を排除する。
【００１０】
【実施例】以下、図面に従って本発明の実施例を説明す
る。
る。
【００１１】図２において、１はレ−ザ光線を照射する
レ−ザ照射器１で、レ−ザ光線を受光する数多くの受光
器２がレ−ザ照射器の周囲の各計測点に配置される。
レ−ザ照射器１で、レ−ザ光線を受光する数多くの受光
器２がレ−ザ照射器の周囲の各計測点に配置される。
【００１２】受光器２はレ−ザ光線を受光することで電
気的な信号を出力する単一の受光素子を備える。この受
光素子には例えばフォトトランジスタやフォトダイオー
ドが使用される。
気的な信号を出力する単一の受光素子を備える。この受
光素子には例えばフォトトランジスタやフォトダイオー
ドが使用される。
【００１３】レ−ザ照射器１は昇降装置１５に支持さ
れ、レ−ザ光線を水平方向に発射しながら所定の速度で
水平に旋回する。
れ、レ−ザ光線を水平方向に発射しながら所定の速度で
水平に旋回する。
【００１４】このためにレ−ザ照射器１は所定の一定速
度で回転する旋回用モータを備える。また、昇降装置１
５との間に水平調整装置４を備える。水平調整装置４は
直交する水平の回転軸まわりにそれぞれレ−ザ照射器１
を回転させるモータと、各軸回りのレ−ザ照射器１の傾
斜角度を検出する傾斜センサを備え、制御装置２０が傾
斜センサの検出角度に基づき各モータを駆動することに
より、レ−ザ照射器１を水平に維持する。
度で回転する旋回用モータを備える。また、昇降装置１
５との間に水平調整装置４を備える。水平調整装置４は
直交する水平の回転軸まわりにそれぞれレ−ザ照射器１
を回転させるモータと、各軸回りのレ−ザ照射器１の傾
斜角度を検出する傾斜センサを備え、制御装置２０が傾
斜センサの検出角度に基づき各モータを駆動することに
より、レ−ザ照射器１を水平に維持する。
【００１５】また、昇降装置１５は例えばモータの回転
により送りがかかるねじ機構などで構成され、所定の一
定速度で伸縮する。なお、昇降装置１５は油圧シリンダ
などで構成することもできる。
により送りがかかるねじ機構などで構成され、所定の一
定速度で伸縮する。なお、昇降装置１５は油圧シリンダ
などで構成することもできる。
【００１６】昇降装置１５と並列に上下位置検出器１９
が設けられる。上下位置検出器１９はレ−ザ照射器１の
発光レベルが所定の計測単位Δｈ変化するごとに、その
レベルを検出し、制御装置２０に高さ信号として出力す
る。
が設けられる。上下位置検出器１９はレ−ザ照射器１の
発光レベルが所定の計測単位Δｈ変化するごとに、その
レベルを検出し、制御装置２０に高さ信号として出力す
る。
【００１７】制御装置２０には前述の傾斜センサの出力
する傾斜信号に基づきモータを駆動してレ−ザ照射器１
を水平に維持すると共に昇降装置１５を駆動し、同時に
前記上下位置検出器１９、受光器２の出力に基づいて計
測点のレベルを演算し、また、この計測が正常に行われ
たかどうかを判断し、異常時にはエラーを表示するとと
もに再計測を行う。
する傾斜信号に基づきモータを駆動してレ−ザ照射器１
を水平に維持すると共に昇降装置１５を駆動し、同時に
前記上下位置検出器１９、受光器２の出力に基づいて計
測点のレベルを演算し、また、この計測が正常に行われ
たかどうかを判断し、異常時にはエラーを表示するとと
もに再計測を行う。
【００１８】制御装置２０は、受光器２によるレ−ザ光
線の受光期間内に上下位置検出器１９が検出するレ−ザ
発光レベルと、これらの各レベルにおける受光信号の出
力回数の平均値とから受光器２を設置した計測点のレベ
ルを演算する。すなわち、レ−ザ発光レベルとそのレベ
ルにおける受光信号の出力回数との積を各レベルについ
て合計し、これを受光信号の出力総数で除することによ
り、計測点のレベルを演算する。
線の受光期間内に上下位置検出器１９が検出するレ−ザ
発光レベルと、これらの各レベルにおける受光信号の出
力回数の平均値とから受光器２を設置した計測点のレベ
ルを演算する。すなわち、レ−ザ発光レベルとそのレベ
ルにおける受光信号の出力回数との積を各レベルについ
て合計し、これを受光信号の出力総数で除することによ
り、計測点のレベルを演算する。
【００１９】そして、前記受光位置演算手段において受
光信号が発生した各レベルについて、これらレベルの最
高値と最低値の差を演算し、演算結果が所定の範囲内に
あるかを比較し、範囲外の場合は計測異常と判定し、再
計測を行わせる。
光信号が発生した各レベルについて、これらレベルの最
高値と最低値の差を演算し、演算結果が所定の範囲内に
あるかを比較し、範囲外の場合は計測異常と判定し、再
計測を行わせる。
【００２０】さらに、レ−ザ照射器１の上昇中に算出し
た計測レベルと下降中に算出した計測レベルとの差を演
算し、この演算結果が所定の範囲内にあるかを判断し、
範囲外のときは前記と同様に計測異常と判断し、エラー
を表示するとともに再計測を行う。
た計測レベルと下降中に算出した計測レベルとの差を演
算し、この演算結果が所定の範囲内にあるかを判断し、
範囲外のときは前記と同様に計測異常と判断し、エラー
を表示するとともに再計測を行う。
【００２１】図６のフローチャートを参照してさらに詳
しく説明する。
しく説明する。
【００２２】ステップ５０で計測が開始されると、昇降
装置１５に支持されたレ−ザ照射器１は、所定の速度で
例えば最低位置（以下原点とする）から上昇し、所定の
速度で旋回しながらレ−ザ光線を水平方向に発射し、こ
のレ−ザ光線が受光器２に入ると受光器２が受光信号を
制御装置２０に出力する。
装置１５に支持されたレ−ザ照射器１は、所定の速度で
例えば最低位置（以下原点とする）から上昇し、所定の
速度で旋回しながらレ−ザ光線を水平方向に発射し、こ
のレ−ザ光線が受光器２に入ると受光器２が受光信号を
制御装置２０に出力する。
【００２３】ところで、レ−ザ照射器１の発射するレ−
ザ光線は円形断面の平行レ−ザ光線であることから、受
光器２は図３で示すようにレ−ザ光線の中心が、高さｈ
ａ±αの範囲に入るとレ−ザ光線を受光し、受光信号を
出力する。
ザ光線は円形断面の平行レ−ザ光線であることから、受
光器２は図３で示すようにレ−ザ光線の中心が、高さｈ
ａ±αの範囲に入るとレ−ザ光線を受光し、受光信号を
出力する。
【００２４】その結果、レ−ザ光線がこの高さ範囲にあ
る間は、受光器２はレ−ザ照射器１の旋回速度に応じた
一定の間隔で制御装置２０に受光信号を出力する。ま
た、レ−ザ照射器１のレ−ザ発光レベルが図４に示すΔ
ｈずつ上昇するごとに上下位置検出器１９から新たなレ
−ザ発光レベルを示す高さ信号が制御装置２０に入力さ
れる。
る間は、受光器２はレ−ザ照射器１の旋回速度に応じた
一定の間隔で制御装置２０に受光信号を出力する。ま
た、レ−ザ照射器１のレ−ザ発光レベルが図４に示すΔ
ｈずつ上昇するごとに上下位置検出器１９から新たなレ
−ザ発光レベルを示す高さ信号が制御装置２０に入力さ
れる。
【００２５】つまり、受光信号の出力範囲であっても上
下位置検出器１９が検出するレ−ザ発光レベルは微妙に
変化するので、一個の高さ信号のみでは受光器２のレベ
ルを正確に決定することはできない。
下位置検出器１９が検出するレ−ザ発光レベルは微妙に
変化するので、一個の高さ信号のみでは受光器２のレベ
ルを正確に決定することはできない。
【００２６】そこで、制御装置２０は上記入力信号に基
づいて次の方法で受光器２のレベルを演算する。
づいて次の方法で受光器２のレベルを演算する。
【００２７】まず図４に示す単位高さΔｈずつ異なる各
レ−ザ発光レベルにおいて同一の受光器２から入力され
る受光信号のパルス数ｎ1、ｎ2、ｎ3、．．．ｎnをカウ
ントし、次にこの単位高さΔｈごとに高さ信号の中心値
ｈ1、ｈ2、ｈ3、．．．ｈnを求める。そして、これらの
値に基づいて、下記の計算を行って受光器２のレベルを
求める。
レ−ザ発光レベルにおいて同一の受光器２から入力され
る受光信号のパルス数ｎ1、ｎ2、ｎ3、．．．ｎnをカウ
ントし、次にこの単位高さΔｈごとに高さ信号の中心値
ｈ1、ｈ2、ｈ3、．．．ｈnを求める。そして、これらの
値に基づいて、下記の計算を行って受光器２のレベルを
求める。
【００２８】
【数１】
【００２９】しかし、上式によって求められる受光器２
のレベルｈａは、図７に示す正常時の計測値のような平
行レ−ザ光線の半径に基づく検出高さのばらつきを排除
しただけであり、外乱による計測誤差は排除されていな
い。
のレベルｈａは、図７に示す正常時の計測値のような平
行レ−ザ光線の半径に基づく検出高さのばらつきを排除
しただけであり、外乱による計測誤差は排除されていな
い。
【００３０】そこで、ステップ５１では、外乱による計
測の乱れを除去する。例えば、上昇方向でのレベル計測
中に構造物の付近を大型車両などが通過すると、図４で
示すようにレ−ザ照射器１の振動によりレーザー光線も
振動して、受光器２の受光信号及び受光信号が発生する
レベル範囲が図７で示す正常時に較べて大きく乱れてし
まい、このまま上式で受光器２のレベルを求めると、実
際のレベルと異なる計算結果となる。
測の乱れを除去する。例えば、上昇方向でのレベル計測
中に構造物の付近を大型車両などが通過すると、図４で
示すようにレ−ザ照射器１の振動によりレーザー光線も
振動して、受光器２の受光信号及び受光信号が発生する
レベル範囲が図７で示す正常時に較べて大きく乱れてし
まい、このまま上式で受光器２のレベルを求めると、実
際のレベルと異なる計算結果となる。
【００３１】高さ信号ｈiの最低値ｈ1と最高値ｈnを検
出して、次式により高さ信号の分布範囲であるΔＨｉを
求める。
出して、次式により高さ信号の分布範囲であるΔＨｉを
求める。
【００３２】ΔＨｉ ＝ ｜ｈn − ｈ1｜
【００３３】次にステップ５１で上式で求めたΔＨｉと
予め設定した高さ信号の分布範囲の許容値ΔＨｌとの比
較を行い、ΔＨｉが許容値ΔＨｌを越えていると算出し
たレベルを無効とするとともに計測値が異常であること
の信号を出力し、制御装置２０の図示しない表示装置で
エラーを表示させ（ステップ６０）、昇降装置１５を原
点に復帰させて再度計測を行う。
予め設定した高さ信号の分布範囲の許容値ΔＨｌとの比
較を行い、ΔＨｉが許容値ΔＨｌを越えていると算出し
たレベルを無効とするとともに計測値が異常であること
の信号を出力し、制御装置２０の図示しない表示装置で
エラーを表示させ（ステップ６０）、昇降装置１５を原
点に復帰させて再度計測を行う。
【００３４】ステップ５１で計測値に異常がなければ上
昇方向、下降方向でそれぞれレベルを計測し、原点に復
帰して計測を終了する（ステップ５２）。
昇方向、下降方向でそれぞれレベルを計測し、原点に復
帰して計測を終了する（ステップ５２）。
【００３５】しかし、前記レベル分布比較で排除できる
外乱による計測値の異常は、振動などによりレーザー光
線が乱れた場合であり、レーザー光線が障害物により遮
断された場合の計測値の異常は排除されていない。
外乱による計測値の異常は、振動などによりレーザー光
線が乱れた場合であり、レーザー光線が障害物により遮
断された場合の計測値の異常は排除されていない。
【００３６】例えば、レ−ザ照射器１の上昇方向での計
測中にレ−ザ照射器１と受光器２との間を作業用車両あ
るいは作業員の通過などによってレ−ザ光線が一時的に
遮断された場合、図５の実線で示す部分が計測値とな
る。
測中にレ−ザ照射器１と受光器２との間を作業用車両あ
るいは作業員の通過などによってレ−ザ光線が一時的に
遮断された場合、図５の実線で示す部分が計測値とな
る。
【００３７】すなわち、レ−ザ光線が遮断されたため
に、受光器２で受光信号が検出されるレベルの最高値は
ｈnとなり、本来なら計測できるレベルの最高値ｈn′ま
での計測値が欠落してしまい、誤差のある計測レベルを
出力する。
に、受光器２で受光信号が検出されるレベルの最高値は
ｈnとなり、本来なら計測できるレベルの最高値ｈn′ま
での計測値が欠落してしまい、誤差のある計測レベルを
出力する。
【００３８】そこで、上昇方向での計測で受光器２のレ
ベルをｈａU、下降方向での計測で受光器２のレベルを
ｈａDとし（ステップ５３、５４）、往復して計測した
受光器２のレベルの誤差ΔＭｉを次式により算出する。
ベルをｈａU、下降方向での計測で受光器２のレベルを
ｈａDとし（ステップ５３、５４）、往復して計測した
受光器２のレベルの誤差ΔＭｉを次式により算出する。
【００３９】ΔＭｉ ＝ ｜ｈａU−ｈａD｜
【００４０】次にステップ５５において、上式で求めた
誤差ΔＭｉと予め設定した誤差の許容範囲ΔＭｌとを比
較を行い、ΔＭｉが許容値ΔＭｌを越えている場合は、
算出したｈａU及びｈａDを無効とするとともに計測値が
異常であることの信号を出力し、制御装置２０の図示し
ない表示装置でエラーを表示させ（ステップ６０）、昇
降装置１５を原点に復帰させて再度計測を行う。
誤差ΔＭｉと予め設定した誤差の許容範囲ΔＭｌとを比
較を行い、ΔＭｉが許容値ΔＭｌを越えている場合は、
算出したｈａU及びｈａDを無効とするとともに計測値が
異常であることの信号を出力し、制御装置２０の図示し
ない表示装置でエラーを表示させ（ステップ６０）、昇
降装置１５を原点に復帰させて再度計測を行う。
【００４１】このようにして算出された受光器２のレベ
ルから振動などによる計測値の異常を排除し、さらにレ
−ザ光線の遮断による計測値の異常を排除するため、計
測の対象となるすべての受光器２についてレベルを高精
度で計測することができる。
ルから振動などによる計測値の異常を排除し、さらにレ
−ザ光線の遮断による計測値の異常を排除するため、計
測の対象となるすべての受光器２についてレベルを高精
度で計測することができる。
【００４２】
【発明の効果】以上のように第１の発明によれば、レ−
ザ受光期間中の各レ−ザ発光レベルにおける受光信号の
出力回数とそのレベルの分布が適正であるかを判定し、
判定結果が不適正である場合は演算したレベルを無効と
するとともに制御装置で計測値の異常を表示し、昇降装
置を原点に復帰させて再度計測するため、構造物の振動
による計測値の異常を排除して精度及び信頼性の高いレ
ベル計測を行うことが可能となる。
ザ受光期間中の各レ−ザ発光レベルにおける受光信号の
出力回数とそのレベルの分布が適正であるかを判定し、
判定結果が不適正である場合は演算したレベルを無効と
するとともに制御装置で計測値の異常を表示し、昇降装
置を原点に復帰させて再度計測するため、構造物の振動
による計測値の異常を排除して精度及び信頼性の高いレ
ベル計測を行うことが可能となる。
【００４３】また、第２の発明によれば１カ所の受光器
についてレ−ザ光線の上昇方向と下降方向でそれぞれレ
ベルを演算し、これらレベルの差が適正であるかを判定
し、判定結果が不適正である場合は前記演算したレベル
を無効とするとともに制御装置で計測値の異常を表示
し、昇降装置を原点に復帰させて再度計測するため、偶
発的なレ−ザ光線の遮断による計測値の異常を排除して
精度及び信頼性の高いレベル計測を行うことが可能とな
る。
についてレ−ザ光線の上昇方向と下降方向でそれぞれレ
ベルを演算し、これらレベルの差が適正であるかを判定
し、判定結果が不適正である場合は前記演算したレベル
を無効とするとともに制御装置で計測値の異常を表示
し、昇降装置を原点に復帰させて再度計測するため、偶
発的なレ−ザ光線の遮断による計測値の異常を排除して
精度及び信頼性の高いレベル計測を行うことが可能とな
る。
【図１】本発明のクレーム対応図である。
【図２】本発明の実施例を示す構成図である。
【図３】受光器２の受光範囲を示す説明図である。
【図４】外乱によって乱れた受光信号パルスと高さ信号
との関係を示すグラフである。
との関係を示すグラフである。
【図５】一部が欠落した受光信号パルスと高さ信号との
関係を示すグラフである。
関係を示すグラフである。
【図６】制御装置における制御のフローチャートであ
る。
る。
【図７】正常な受光信号パルスと高さ信号との関係を示
すグラフである。
すグラフである。
１ レ−ザ照射器 ２ 受光器 １５ 昇降装置 １９ 上下位置検出器 ２０ 制御装置 ３０ 受光位置演算手段 ３２ 往復値比較手段 ３３ レベル分布比較手段
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01C 3/00 - 5/00 G01C 15/00 G01B 11/00 - 11/30
Claims (2)
- 【請求項１】 構造物の計測点に設置してレ−ザ光線の
受光により受光信号を出力する受光器と、レ−ザ光線を
水平方向に照射しながら所定の速度で水平旋回するレ−
ザ照射器と、このレ−ザ照射器を所定の速度で上下させ
る昇降装置と、レ−ザ照射器の発光レベルの変化を所定
の単位毎に検出する手段と、この検出手段が検出する各
レ−ザ発光レベルにおける前記受光器の受光信号の出力
回数の平均値とから受光器を配置した計測点のレベルを
演算する受光位置演算手段と、受光レベルの最高値と最
低値の差が予め設定した許容値を越えるときに計測異常
を判定するレベル分布比較手段と、この比較手段の異常
判定時には少なくとも前記演算手段のレベル演算結果の
無効を表示し、再計測する制御手段を備えたことを特徴
とする構造物レベル計測装置。 - 【請求項２】 構造物の計測点に設置してレ−ザ光線の
受光により受光信号を出力する受光器と、レ−ザ光線を
水平方向に照射しながら所定の速度で水平旋回するレ−
ザ照射器と、このレ−ザ照射器を所定の速度で上下させ
る昇降装置と、レ−ザ照射器の発光レベルの変化を所定
の単位毎に検出する手段と、この検出手段が検出するレ
−ザ発光レベルの変化と、これらの各レベルにおける前
記受光器の受光信号の出力回数の平均値とから受光器を
配置した計測点のレベルを演算する受光位置演算手段
と、前記昇降装置の上昇方向での前記演算手段の結果と
下降方向での演算手段の結果との差が予め設定した許容
値を越えるときに計測異常を判定する往復値比較手段
と、この比較手段の異常判定時には少なくとも前記演算
手段のレベル演算結果の無効を表示し、再計測する制御
手段を備えたことを特徴とする構造物レベル計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3264036A JP3014833B2 (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | 構造物レベル計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3264036A JP3014833B2 (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | 構造物レベル計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0694458A JPH0694458A (ja) | 1994-04-05 |
| JP3014833B2 true JP3014833B2 (ja) | 2000-02-28 |
Family
ID=17397661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3264036A Expired - Lifetime JP3014833B2 (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | 構造物レベル計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3014833B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102798377A (zh) * | 2012-08-07 | 2012-11-28 | 张东光 | 平面误差测量分析系统及方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100440980B1 (ko) * | 2002-02-22 | 2004-07-21 | 조주현 | 레이저 수평계를 위한 자동 수평 조절장치 |
| KR101534812B1 (ko) * | 2014-08-28 | 2015-07-09 | 김지용 | 레이저 광을 이용한 포인트 발생장치 |
-
1991
- 1991-10-11 JP JP3264036A patent/JP3014833B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102798377A (zh) * | 2012-08-07 | 2012-11-28 | 张东光 | 平面误差测量分析系统及方法 |
| CN102798377B (zh) * | 2012-08-07 | 2014-07-09 | 张东光 | 平面误差测量分析系统及方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0694458A (ja) | 1994-04-05 |
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