JP3013361B2 - ビデオ信号処理回路 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明を以下の順序で説明する。

A.産業上の利用分野 B.発明の概要 C.従来の技術 D.発明が解決しようとする課題 E.課題を解決するための手段 F.作用 G.実施例 Ｇ−1.基本構成（第１図） Ｇ−2.本発明を適用したエラー修整装置全体の構成
（第２図） Ｇ−3.1次元エラー修整回路（第３図、第４図） Ｇ−4.ランキング制御回路（第５図乃至第７図） Ｇ−5.2次元エラー修整回路（第１図、第８図乃至第1
0図） H.発明の効果 A.産業上の利用分野 本発明は、ビデオ信号処理回路に関し、特にビデオ信
号のエラー修整を行うビデオ信号処理回路に関するもの
である。

B.発明の概要 本発明は、ビデオ信号処理回路に関し、ビデオ信号の
サンプルデータが供給され、サンプルデータが誤ってい
るとき周辺のサンプルデータを用いて当該エラーサンプ
ルデータのエラー修整を行うビデオ信号処理回路におい
て、少なくとも上記エラーサンプルデータの周辺のサン
プルデータ及び上記エラーサンプルデータ位置に対応す
る前フレームのサンプルデータの誤りを検出し、エラー
パターンを決定するエラーパターン決定手段と、少なく
とも上記周辺のサンプルデータを用いて上記エラーサン
プルデータを補間する補間手段と上記周辺のサンプルデ
ータを用いて上記エラーサンプルデータを置換する第１
の置換手段と上記前フレームのサンプルデータを用いて
上記エラーサンプルデータを置換する第２の置換手段と
を設けたエラー修整手段と、エラーパターン決定手段か
らのエラーパターンに応じて上記エラー修整手段におけ
る上記補間手段、第１の置換手段、第２の置換手段の１
つを選択制御するエラー修整制御手段とを有し、エラー
サンプルデータの周辺等のサンプルデータのエラーパタ
ーンに基づいて上記補間手段、第１の置換手段、第２の
置換手段を切替え選択してエラー修整を行うものであ
る。

C.従来の技術 例えば、VTR（ビデオテープレコーダ）からの再生さ
れたビデオ信号のサンプルデータの誤りに対しては、誤
り検出符号や誤り訂正符号を用いた誤り訂正処理が行わ
れる。更に、これらの誤り訂正処理で訂正ができなかっ
たサンプルデータについては、誤りが無い他のサンプル
データ（エラーフリーサンプルデータ）を用いた補間処
理や置換処理等の方法により、エラー修整（誤り修整）
を行っている。このエラー修整は、ビデオ信号処理過程
において、誤り検出や誤り訂正の処理の後で、ビデオ信
号を出力する前に行われる。

そして、エラー修整方法の種類として、誤りがあるサ
ンプルデータ（エラーサンプルデータ）と同一ライン上
の該エラーサンプルデータの両側のサンプルデータを用
いて補間（水平方向の補間）する方法、エラーサンプル
データの上下ライン上の同じ位置のサンプルデータを用
いて補間（垂直方向の補間）する方法、エラーサンプル
データの周辺のサンプルデータを用いて置換する方法、
更に１フィールド前あるいは１フレーム前の対応する位
置のサンプルデータを用いて置換（時間的な置換）する
方法等が知られている。

D.発明が解決しようとする課題 ところで、従来は上記方法を単独に用いてエラー修整
を行っていたために、良好なエラー修整を行うことがで
きなかった。例えば、エラー修整が施されるエラーサン
プルデータの周辺のサンプルデータのエラーパターンに
よっては、例えば補間処理に用いるサンプルデータがエ
ラー状態にあるときには、補間処理を行うよりもエラー
が無い近傍のサンプルデータを用いて置換処理を行った
方が良好なエラー修整結果を得る場合がある。しかし、
従来は、この場合でも補間処理によりエラー修整を行っ
ていた。

また、上記複数の方法から１つの方法を選択してエラ
ー修整を行う場合であっても、これらを適切に選択制御
する方法は確立されていなっかた。このため、エラーパ
ターンに対応した良好なエラー修整を行うことができな
っかた。

本発明は、上述の実情に鑑みてなされたものであり、
周辺のサンプルデータのエラーパターンに対応してエラ
ー修整に用いる補間処理、置換処理等を選択制御すると
共に、補間処理、置換処理等に用いるサンプルデータを
選択制御することにより、エラーパターンに適合したエ
ラー修整を行うことができるビデオ信号処理回路の提供
を目的とするものである。

E.課題を解決するための手段 本発明に係るビデオ信号処理回路は、上述の課題を解
決するために、ビデオ信号のサンプルデータが供給さ
れ、サンプルデータが誤っているとき周辺のサンプルデ
ータを用いて当該エラーサンプルデータのエラー修整を
行うビデオ信号処理回路において、少なくとも上記エラ
ーサンプルデータの周辺のサンプルデータ及び上記エラ
ーサンプルデータ位置に対応する前フレームのサンプル
データのエラーの状態を示すエラーフラグと、エラー修
整方向の優先順位を示すランキングフラグと、各エラー
修整方向毎の計算可能性を示す演算可能信号とに基づい
てエラーパターンを決定するエラーパターン決定手段
と、少なくとも上記周辺のサンプルデータを用いて上記
エラーサンプルデータを補間する補間手段と上記周辺の
サンプルデータを用いて上記エラーサンプルデータを置
換する第１の置換手段と上記前フレームのサンプルデー
タを用いて上記エラーサンプルデータを置換する第２の
置換手段とを設けたエラー修整手段と、上記エラーパタ
ーン決定手段からのエラーパターンに応じて上記エラー
修整手段における上記補間手段、第１の置換手段、第２
の置換手段の１つを選択制御するエラー修整制御手段と
を有することを特徴とするものである。

ここで、上記エラーパターンとは、上記補間手段、第
１の置換手段、第２の置換手段から１つエラー修整方法
を決定するためのものである。

F.作用 本発明に係るビデオ信号処理回路では、エラーサンプ
ルデータの周辺等のサンプルデータのエラーパターンに
応じて、上記補間手段、第１の置換手段、第２の置換手
段を切替え選択し、エラーサンプルデータのエラー修整
を行う。

G.実施例 以下、本発明に係るビデオ信号処理回路の一実施例を
図面を参照しながら説明する。

Ｇ−1.基本構成（第１図） 第１図は本発明に係るビデオ信号処理回路の一実施例
を示すブロック回路図である。このビデオ信号処理回路
は、エラー修整が施されるエラーサンプルデータの周辺
のサンプルデータ等を用いてエラーサンプルデータのエ
ラー修整を行うものであり、以下２次元エラー修整回路
という。

この第１図に示すように、２次元エラー修整回路は、
入力端子70を介して入力されるエラー修整が施されるサ
ンプルデータの周辺のサンプルデータ及び前のフレーム
の対応するラインのサンプルデータのエラー状態を示す
エラーフラグを検出（判別）し、エラーパターンを決定
するエラーパターン決定手段50と、エラーサンプルデー
タの周辺のサンプルデータを用いて水平、垂直、斜め方
向の補間処理を行う補間手段とエラーサンプルデータの
周辺のサンプルデータを用いてエラーサンプルデータを
置き換える第１の置換手段と前フレームにおけるエラー
サンプルデータと同じ位置のサンプルデータを用いてエ
ラーサンプルデータを置き換える第２の置換手段からな
るエラー修整手段60と、上記エラーパターン決定回路50
からのエラーパターンに基づいてエラー修整手段60を制
御するエラー修整制御手段90とから構成される。

上記エラーパターン決定手段50は、各方向の補間処理
の中で最適な補間方向を決定する最適補間方向決定回路
51、フレーム間の相関関係が高いとき、すなわち、時間
的な変化がすくないときに前フレームのサンプルデータ
を用いてエラーサンプルデータを置き換えることを決定
する高精度テンポラル（時間的）置換決定回路52、各方
向の置換処理のうちで最適な置換方向を決定する最適置
換方向決定回路53、任意の方向の補間処理を行うことが
できるかを決定する任意補間方向決定回路54、上記高精
度置換処理ができないときに所定の条件のもとに、前フ
レームのサンプルデータを用いてエラーサンプルデータ
を置き換えることを決定する低精度テンポラル置換決定
回路55、エラーサンプルデータに最も近い位置のサンプ
ルデータを用いてエラーサンプルデータを置き換えるこ
とを決定する最近隣置換決定回路56、エラー修整が施さ
れたサンプルデータを用いて再びエラーサンプルデータ
を置き換えることを決定する繰り返し置換決定回路57か
ら構成される。すなわち、上記各決定回路51〜57は、エ
ラーパターン決定機能により、少なくとも上述した補間
手段、第１の置換手段、第２の置換手段を切替え制御す
る機能を有する。なお、これらの決定回路51〜57は上記
エラーパターン決定機能だけではなく、より細分化し
た、例えば補間処理や置換処理に用いるサンプルデータ
（補間方向や置換方向等）を決定する機能を有するもの
である。

上記エラー修整手段60の補間手段は、端子74、75を介
して入力される垂直（Ｖ）方向のサンプルデータを用い
て垂直方向の補間処理を行うＶ補間回路61、端子76、77
を介して入力されるサンプルデータを用いて右下がりの
対角線（D₊）方向の補間処理を行うD₊補間回路62、端子
78、79を介して入力されるサンプルデータを用いて左下
がりの対角線（D_-）方向の補間処理を行うD_-補間回路6
3、これらの補間回路からの補間値及び端子73を介して
入力される水平（Ｈ）方向の補間値から１つの補間値を
選択するセレクタ64から構成される。

上記エラー修整手段60の第１の置換手段は、端子80乃
至端子87を介して入力されるエラーサンプルデータの周
辺のサンプルデータから１つのサンプルデータを選択す
るセレクタ65から構成される。

上記エラー修整手段60の第２の置換手段は、端子88を
介して入力される前フレームのエラーサンプルデータに
対応する位置のサンプルデータを選択するセレクタ66か
ら構成される。

上記エラー修整制御手段90は、上記エラーパターン決
定手段50の各決定回路51〜57からのエラーパターン等に
基づいて上記各セレクタ64〜66を制御するエラー修整方
法セレクタ58から構成される。

以下、Ｇ−２において本発明に係る２次元エラー修整
回路を用いたエラー修整装置全体の説明を、Ｇ−３にお
いて第１図に示す端子73の前段の水平（Ｈ）方向の補間
回路（１次元エラー修整回路）の説明を、Ｇ−４におい
て上記最適補間方向決定回路51、最適置換方向決定回路
53で用いられる補間方向及び置換方向の優先順位（ラン
キング）を決定するランキング制御回路の説明を、Ｇ−
５において本発明に係る２次元エラー修整回路の詳細を
説明する。

Ｇ−2.本発明を適用したエラー修整装置全体の構成（第
２図） 第２図は本発明に係る２次元エラー修整回路を用いた
エラー修整装置全体の構成を示す図である。このエラー
修整装置は、エラーサンプルデータと同一ライン上の該
エラーサンプルデータの近傍の誤りがないサンプルデー
タを用いてエラー修整を行う１次元エラー修整部と、エ
ラーサンプルデータと同一ライン上、上下ライン上の該
エラーサンプルデータの周辺のサンプルデータや前フレ
ームの同じ位置のサンプルデータを用いてエラー修整を
行う２次元エラー修整部に大別することができる。

この第２図において、入力端子１には、例えば、VTR
（ビデオテープレコーダ）からの再生ビデオ信号に誤り
訂正処理等を施した後のビデオ信号のサンプルデータ及
び該サンプルデータに対応するエラーフラグが供給され
ている。通常、この入力サンプルデータには、上記誤り
訂正処理によっては訂正しきれなかったエラーサンプル
データが含まれており、上記エラーフラグは、これらの
エラーサンプルデータを識別するために用いられる。こ
れらのエラーフラグは、エラー訂正処理回路において、
サンプルデータに誤りがあるときに、セット状態
（「１」）とされ、サンプルデータに誤りがないときに
リセット状態（「０」）とされる。

これらのサンプルデータ及びエラーフラグは１次元エ
ラー修整回路２に供給され、この１次元エラー修整回路
２において、水平方向（ライン方向）についてのエラー
修整（１次元エラー修整）が行われる。この１次元エラ
ー修整が施されたサンプルデータは２次元エラー修整回
路３、ライン遅延回路４及びランキング制御回路７に供
給される。

２次元エラー修整回路３には、１次元エラー修整回路
２の出力に対して１ライン（1H＝１水平走査期間）遅延
した上記ライン遅延回路４からのサンプルデータ、１次
元エラー修整回路２の出力に対して２ライン遅延したラ
イン遅延回路５からのサンプルデータ及びライン遅延回
路４の出力に対して１フレーム（1F＝２垂直走査時間）
遅延したフレーム遅延回路６からのサンプルデータが供
給されている。すなわち、ライン遅延回路４からのサン
プルデータを基準にすると、１次元エラー修整回路２か
らのサンプルデータは1H進んでおり、ライン遅延回路５
からのサンプルデータは1H遅延しており、フレーム遅延
回路６からのサンプルデータは1F遅延している。換言す
ると、現在のライン、上のライン、下のライン及び１フ
レーム前の現在のラインに対応するラインの各サンプル
データが、この２次元エラー修整回路３に供給される。

この２次元エラー修整回路３では、上記４つのライン
上のサンプルデータを用いて最適なエラー修整が行われ
る。すなわち、この２次元エラー修整回路３は、例えば
各種方向の補間処理、前のフレームの同じ位置のサンプ
ルデータを用いてエラーサンプルデータを置き換える置
換処理、近傍のサンプルデータを用いてエラーサンプル
データを置き換える置換処理等の各種エラー修整機能を
有し、この２次元エラー修整回路３において、ランキン
グ制御回路７からの制御信号によって、例えば近傍サン
プルデータと最も変化が少なくなるような（最適な）エ
ラー修整が行われる。すなわち、ランキング制御回路７
には、１次元エラー修整回路２、ライン遅延回路４、５
からのサンプルデータ及び各エラーフラグが供給され、
このランキング制御回路７において、各サンプルデータ
及び各エラーフラグに基づいて最適な２次元エラー修整
方向が決定され、この結果が制御信号として２次元エラ
ー修整回路３に供給される。

ところで、上記各入力サンプルデータは、例えば８ビ
ットから成り、16進で「01」から「FE」までの値をと
り、これらの８ビットのデータの演算や判断等を行うこ
とにより、上述のエラー修整を行うものである。なお、
エラー修整後のサンプルデータは、16進で「00」から
「FF」の値となるようにしてもよい。また、カラービデ
オ信号の場合、端子１には、１つの画素に対して、例え
ば輝度信号のサンプルデータ、色差信号のサンプルデー
タ及び輝度信号及び色差信号の各サンプルデータ対応し
たエラーフラグがそれぞれ供給される。このとき、輝度
信号のサンプリング周波数は色差信号のサンプリング周
波数の２倍であり、輝度信号のサンプルデータは色差信
号のサンプルデータより帯域が広く、より詳細な情報を
含んでいる。すなわち、輝度信号のサンプルデータ及び
エラーフラグは、輝度信号及び色差信号のエラー修整に
対して、エラー修整の方向を決定するのに良好な予測性
を有している。したがって、通常、輝度信号のサンプル
データ及びエラーフラグが、最適なエラー修整の方向を
決定するのに用いられる。なお、１画素に対する輝度信
号のエラーフラグと色差信号のエラーフラグとが異なる
ときは、輝度信号のエラー修整と色差信号のエラー修整
とをそれぞれ最適な方向で行うようにする。

以上のようにして、前段のエラー訂正処理過程におい
てエラー訂正ができなかったエラーサンプルデータのエ
ラー修整が行われる。

Ｇ−3.1次元エラー修整回路（第３図、第４図） 第３図は、本発明に係る２次元エラー修整処理の前段
のエラー修整処理としての水平（Ｈ）方向のエラー修整
処理を行う１次元エラー修整回路のブロック回路図であ
る。この第３図に示すように、１次元エラー修整回路
は、誤りがあるサンプルデータと同一ライン上の該エラ
ーサンプルデータの両側の複数のサンプルデータの加重
平均値を用いてエラー修整を行う可変長補間処理部と、
エラーサンプルデータと同一ライン上の該エラーサンプ
ルデータの近傍のサンプルデータの１つを用いてエラー
サンプルデータを置き換える置換処理部とに大別するこ
とができる。上記可変長補間処理部は、第２図に示す端
子１を介して入力されるエラー修整が施されるエラーサ
ンプルデータの両側の複数のサンプルデータを用いて加
重平均値を演算する可変長補間処理回路11と、同じく第
２図に示す端子１を介して入力される上記各サンプルデ
ータに対応したエラーフラグを判別し、判別結果に基づ
いて加重平均に用いるサンプルデータの個数及び加重平
均の係数を制御するサンプル数制御回路13から構成され
る。また、上記置換処理部は、上記サンプルデータのう
ちで誤りがないサンプルデータ（以下、エラーフリーサ
ンプルデータという。）の１つを用いてエラーサンプル
データを置き換える置換処理回路12と、上記エラーフラ
グを判別し、判別結果に基づいて置換処理に用いるサン
プルデータを決定する置換モード制御回路14から構成さ
れる。可変長補間処理回路11及び置換処理回路12からの
エラー修整が施された各サンプルデータはセレクタ16に
供給され、このセレクタ16において、補間処理が可能な
ときは、補間処理によって得られたサンプルデータが端
子18から取り出され、補間処理が不可能なときは、置換
処理で得られたサンプルデータが端子18から取り出さ
れ、勿論サンプルデータにエラーが無いときは、該サン
プルデータが端子18から取り出される。この出力サンプ
ルデータは第２図に示す２次元エラー修整回路３に供給
される。

次に、この１次元エラー修整回路の具体的な動作につ
いて、第３図、第４図を用いて説明する。

この１次元エラー修整回路２には、第３図に示すよう
にビデオ信号の同一ライン上の、例えば７個のサンプル
データP3、P2、P1、P0、M1、M2、M3及びこれらのサンプ
ルデータに対応するエラーフラグFP3、FP2、FP1、FP0、
FM1、FM2、FM3が供給される。上記サンプルデータP0は
エラー修整が施されるサンプルデータであり、サンプル
データP1、P2、P3は、サンプルデータP0の左側の近い方
から順に３個のサンプルデータであり、サンプルデータ
M1、M2、M3は、サンプルデータP0の右側の近い方から順
に３個のサンプルデータである。これらのサンプルデー
タP3、P2、P1、M1、M2、M3は可変長補間処理回路11及び
置換処理回路12に供給される。一方エラーフラグFP3、F
P2、FP1、FM1、FM2、FM3は、サンプル数制御回路13及び
置換モード制御回路14に供給される。また、サンプルデ
ータP0及びエラーフラグFP0は、ラッチ15及びセレクタ1
6に供給される。

上記サンプル数制御回路13において、エラー修整が施
されるエラーサンプルデータP0の両側の複数のサンプル
データのエラーフラグの状態の判断が行われ、エラーフ
ラグが「１」（エラー有り）であるサンプルデータを除
外して加重平均処理を行わせる制御信号が可変長補間処
理回路11に供給される。第３図に示す具体例では、６個
のエラーフラグFP3、FP2、FP1、FM1、FM2、FM3の判断が
行われ、「１」（エラー有り）であるサンプルデータを
除外して加重平均処理を行わせる制御信号が可変長補間
処理回路11に供給される。そして、可変長補間処理回路
11において、サンプルデータP3、P2、P1、M1、M2、M3の
うちで上記エラーフラグが「１」（エラー有り）である
サンプルデータを除外して加重平均処理が行われる。こ
こで、第４図に示す具体例を説明する。なお、この図に
示す○はエラーフリーサンプルデータを示し、×はエラ
ーサンプルデータを示し、△は左右のサンプルデータ対
のうち少なくとも１つがエラーサンプルデータであるこ
とを示し、□はエラー状態を考慮しないサンプルデータ
を示す。

第４図のａに示すように、エラーフラグタFP3、FP2、
FP1、FM1、FM2、FM3が全て「０」（エラー無し）であ
り、エラー修整が施されるエラーサンプルデータP0の両
側の６個のサンプルデータP3、P2、P1、M1、M2、M3全て
がエラーフリー状態（６サンプル使用）のとき、加重平
均の係数をK1、K2、K3とし、加重平均値Ｐを、 Ｐ＝K1×（P1＋M1）＋K2×（P2＋M2）＋K3×（P3＋M3） とする。

第４図のｂに示すようにエラーフラグFP2、FP1、FM
1、FM2が全て「０」（エラー無し）であり、エラーフラ
グFP3、FM3の少なくとも１つが「１」（エラー有り）で
あり、エラー修整が施されるエラーサンプルデータP0の
両側の４個のサンプルデータP2、P1、M1、M2がエラーフ
リー状態（４サンプル使用）のとき、加重平均値Ｐを、 Ｐ＝K1×（P1＋M1）＋K2×（P2＋M2） とする。

第４図のｃに示すようにエラーフラグFP1及びFM1が
「０」（エラー無し）であり、エラーフラグFP2、FM2の
少なくとも１つが「１」（エラー有り）であり、エラー
修整が施されるエラーサンプルデータP0の両側の２個の
サンプルデータP1、M1がエラーフリー状態（２サンプル
使用）のとき、加重平均値Ｐを、 Ｐ＝K1×（P1＋M1） とする。

以上のようにして可変長補間処理回路11で得られた加
重平均値Ｐは、セレクタ16に供給される。ところで、上
記の係数群K1、K2、K3の値としては、回路構成の容易
性、構成部品点数等を考慮し、具体的には下記のような
値を用いる。

２サンプル使用のとき、 K1＝1/2＝0.5,K2＝K3＝０とする。

４サンプル使用のとき、 K1＝1/2＋1/8＋1/16＝0.6875, K2＝−（1/2＋1/4）/4＝−0.1875,K3＝０とする。

６サンプル使用のとき、 K1＝1/2＋1/4＝0.75,K2＝−（1/2＋1/8）/2＝−0.3125, K3＝1/16＝0.0625とする。

次に、第３図に示す置換処理部（置換処理回路12、置
換モード制御回路14）の説明をする。上述の第４図の
ａ、ｂ、ｃに示す３つのエラーモード以外のときは、次
に述べる置換処理が、置換モード制御回路14の制御のも
とに置換処理回路12において行われる。

置換モード制御回路14において、エラーフラグFP1、F
M1の状態が判断され、エラーフラグFP1、FM1の少なくと
も１つが「１」（エラー有り）のとき、サンプルデータ
P1、M1のうちでエラーフリーサンプルデータを用いてエ
ラーサンプルデータP0の置き換えが行われる。

エラーフラグFP1及びFM1が「１」（エラー有り）であ
って、エラーフラグFP2、FM2の少なくとも１つが「０」
（エラー無し）のとき、サンプルデータP2、M2のうちで
エラーフリーサンプルデータを用いてエラーサンプルデ
ータP0の置き換えが行われる。なお、エラーフラグFP
2、FM2の両方が「０」（エラー無し）のときは、サンプ
ルデータP2がサンプルデータM2に優先して用いられる。

エラーフラグFP2、FP1、FM1、FM2が全て「１」（エラ
ー有り）であって、エラーフラグFP3、FM3の少なくとも
１つが「０」（エラー無し）のとき、サンプルデータP
3、M3のうちでエラーフリーサンプルデータを用いてエ
ラーサンプルデータP0の置換処理が行われる。なお、エ
ラーフラグFP3、FM3の両方が「０」（エラー無し）のと
きは、サンプルデータP3がサンプルデータM3に優先して
用いられる。

エラーフラグFP3、FP2、FP1、FM1、FM2、FM3の全てが
「１」（エラー有り）のときには、最後のエラーフリー
サンプルデータを用いてエラーサンプルデータP0の置き
換えが行われる。ここで、最後のエラーフリーサンプル
データとは、ラッチ14に設けられた１サンプルデータ分
のメモリを同一ライン上のエラーフリーサンプルデータ
で順次更新しておき、この記憶されているサンプルデー
タをいう。

以上のようにして、置換処理が施されたサンプルデー
タがセレクタ16に供給される。すなわち、セレクタ16に
は、可変長補間処理回路11で得られたサンプルデータ
（加重平均値）、置換処理回路12で得られたサンプルデ
ータ及びサンプルデータP0の３つのサンプルデータが供
給され、補間／置換処理制御回路17からの制御信号及び
エラーフラグFP0状態に基づいて１つのサンプルデータ
が選択され、端子18を介して取り出される。すなわち、
セレクタ16において、エラーフラグFP0が「０」（エラ
ー無し）のときは、サンプルデータP0が選択されて端子
18より取り出され、エラーフラグFP0が「１」（エラー
有り）であって、上記補間処理が可能なときは、可変長
補間処理回路11からの上記加重平均値Ｐ（補間処理を施
したサンプルデータ）が取り出され、補間処理ができな
いときは、置換処理回路12からの上記置換処理で得られ
たサンプルデータが端子18より取り出される。この出力
サンプルデータは、第２図に示す２次元エラー修整回路
３等に供給される。

Ｇ−4.ランキング制御回路（第５図乃至第７図） 以上のようにして１次元エラー修整が施された後のサ
ンプルデータは、第２図に示す２次元エラー修整回路３
において２次元エラー修整が施される。この２次元エラ
ー修整回路３では、エラーサンプルデータと同一ライン
上及び上下ライン上の該エラーサンプルデータの周辺の
サンプルデータや前フレームの同じ位置のサンプルデー
タ等を用いて補間処理や置換処理によるエラー修整が行
われる。例えば、エラーサンプルデータの周辺のサンプ
ルデータを用いた各種方向の補間処理、前のフレームの
同じ位置のサンプルデータを用いてエラーサンプルデー
タを置き換える置換処理、近傍のサンプルデータを用い
てエラーサンプルデータを置き換える置換処理等が行わ
れる。

これらの補間処理、置換処理における補間処理や置換
処理の結果が近傍サンプルデータと最も変化が少なくな
る（最適な）方向を予測し、これらの方向の優先順位
（ランキング）を決定するランキング制御回路７につい
て説明する。ここで、１次元エラー修整回路２、ライン
遅延回路４、５、フレーム遅延回路６から得られる各サ
ンプルデータを第５図に示し、これらのサンプルデータ
に対応するエラーフラグを第６図に示す。第５図に示す
ように、エラー修整が施されるサンプルデータP0と同一
ライン（現在のライン）上の該サンプルデータP0の両側
の６つのサンプルデータを、P3、P2、P1、M1、M2、M3と
し、上のライン上の各サンプルデータを、PP3、PP2、PP
1、PP0、PM1、PM2、PM3とし、下のライン上の各サンプ
ルデータを、NP3、NP2、NP1、NP0、NM1、NM2、NM3と
し、１フレーム前の現在のラインに対応するライン上の
各サンプルデータを、LP3、LP2、LP1、LP0、LM1、LM2、
LM3とする。また、第６図に示すように、上記各サンプ
ルデータに対応するエラーフラグを、それぞれFP0、FP
3、FP2、FP1、FM1、FM2、FM3、FPP3、FPP2、FPP1、FPP
0、FPM1、FPM2、FPM3、FNP3、FNP2、FNP1、FNP0、FNM
1、FNM2、FNM3、FLP3、FLP2、FLP1、FLP0、FLM1、FLM
2、FLM3とする。

第２図に示すランキング制御回路７は、エラーサンプ
ルデータP0の周辺のサンプルデータを用いて互いに異な
る複数のエラー修整方向の修整エラーを求め、これらの
修整エラーが所定の閾値より大きいとき、この所定の閾
値より大きい修整エラーを除外して互いにその修整エラ
ーを比較し、エラー修整方向のランキング付けを行うも
のである。具体的には、第７図に示すように、水平方向
（第５図に示すＨ方向）の修整エラーを演算するＨ修整
精度出力回路41と、垂直方向（第５図に示すＶ方向）の
修整エラーを演算するＶ修整精度出力回路42と、右下が
りの対角線方向（第５図に示すD₊方向）の修整エラーを
演算するD₊修整精度出力回路43と、左下がりの対角線方
向（第５図に示すD_-方向）の修整エラーを演算するD_-修
整精度出力回路44と、ランキング決定回路45から構成さ
れている。以下、各修整精度出力回路を説明する。

Ｈ修整精度出力回路41は、Ｈ方向のエラー修整の精度
を、エラーサンプルデータの近傍でのＨ方向の修整エラ
ーに基づいて予測するためのものであり、エラー修整が
施されるエラーサンプルデータP0の上のライン上のサン
プルデータを用いて修整エラーを演算するＨ（Ｕ）誤差
演算回路41aと、同じく下のラインのサンプルデータを
用いて修整エラーを演算するＨ（Ｄ）誤差演算回路41b
と、該Ｈ（Ｕ）誤差演算回路41aの出力とＨ（Ｄ）誤差
演算回路41bの出力との平均値を演算する平均値／セレ
クタ回路41cから構成される。

すなわち、Ｈ（Ｕ）誤差演算回路41aには、例えばエ
ラー修整が施されるサンプルデータP0の上のラインのサ
ンプルデータPP1、PP0、PM1及びエラーフラグFPP1、FPP
0、FPM1が供給され、Ｈ方向の第１の修整エラー |PP0−（PP1＋PM1）/2| が求められる。また、Ｈ（Ｄ）誤差演算回路41bには、
例えばエラー修整が施されるサンプルデータP0の下のラ
インのサンプルデータNP1、NP0、NM1及びエラーフラグF
NP1、FNP0、FNM1が供給され、Ｈ方向の第２の修整エラ
ー |NP0−（NP1＋NM1）/2| が求められる。これらの第１、第２の修整エラーは平均
値／セレクタ回路41cに供給される。この平均値／セレ
クタ回路41cにおいて、上記Ｈ方向の第１、第２の修整
エラーの平均値を求める演算が行われる。すなわち、Ｈ
方向の修整エラーＥ（Ｈ）； Ｅ（Ｈ）＝（|PP0−（PP1＋PM1）/2| ＋|NP0−（NP1＋NM1）/2|）/2 が求められる。このＨ方向の修整エラーＥ（Ｈ）はラン
キング決定回路45に供給される。なお、上記Ｈ方向の修
整エラーＥ（Ｈ）は、例えば上述の１次元エラー修整に
おいる加重平均の演算式を用いて、 Ｅ（Ｈ）＝0.5×（|PP0−（0.75×（PP1＋PM1） −0.3125×（PP2＋PM2）＋0.0625×（PP3＋PM3））｜ ＋|NP0−（0.75×（NP1＋NM1） −0.3125×（NP2＋NM2）＋0.0625×（NP3＋NM3））
｜） としてもよい。また、例えば上記Ｈ方向の第１の修整エ
ラー|PP0−（PP1＋PM1）/2|の演算に用いられるサンプ
ルデータPP1のエラーフラグFPP1が「１」（エラー有
り）のときは、Ｈ方向の修整エラーＥ（Ｈ）を Ｅ（Ｈ）＝|NP0−（NP1＋NM1）/2| とする。また、例えば上記Ｈ方向の第１の修整エラー|P
P0−（PP1＋PM1）/2|の演算に用いられるサンプルデー
タPP1のエラーフラグFPP1及び上記Ｈ方向の第２の修整
エラー|NP0−（NP1＋NM1）/2|の演算に用いられるサン
プルデータNP1のエラーフラグFNP1が「１」（エラー有
り）のときは、Ｈ方向の修整エラーＥ（Ｈ）は演算でき
ないものとし、Ｈ方向のＨ演算可能信号を出力端子46を
介して、第２図に示す２次元エラー修整回路３に送出す
る。

また、上記Ｈ方向の第１、第２の修整エラーは、所定
の閾値Ｔと比較が行われる。この比較の結果、少なくと
も１つの修整エラーが所定の閾値Ｔ以上のときは、当該
Ｈ方向は２次元エラー修整の最適な方向として考慮しな
いようにする。なお、上記閾値Ｔの値は可変なもとの
し、外部から設定できるもとのする。この閾値Ｔを小さ
くすることにより、最適な２次元エラー修整の方向の決
定の精度を高くすることができるが、多くの位置におい
てエラー修整の方向が決定できなくなる。反対に閾値Ｔ
を大きくすることにより、多くの位置においてエラー修
整の方向決定の精度が悪くなる。

Ｖ修整精度出力回路42は、Ｖ方向のエラー修整の精度
を、エラーサンプルデータの近傍でのＶ方向の修整エラ
ーに基づいて予測するためのものであり、例えばエラー
修整が施されるエラーサンプルデータP0の左側のサンプ
ルデータP1及び該サンプルデータP1の上下のサンプルデ
ータPP1、NP1を用いて修整エラーを演算するＶ（Ｌ）誤
差演算回路42aと、同じくサンプルデータP0の右側のサ
ンプルデータM1及び該サンプルデータM1の上下のサンプ
ルデータPM1、NM1を用いて修整エラーを演算するＶ
（Ｒ）誤差演算回路42bと、該Ｖ（Ｌ）誤差演算回路42a
の出力とＶ（Ｒ）誤差演算回路42bの出力との平均値を
演算する平均値／セレクタ回路42cから構成される。す
なわち、Ｖ（Ｌ）修整誤差演算回路42a、Ｖ（Ｒ）修整
誤差演算回路42b、平均値／セレクタ回路42cにおいて、
例えばＶ方向の第１の修整エラー |P1−（PP1＋NP1）/2|、 Ｖ方向の第２の修整エラー |M1−（PM1＋NM1）/2|、 Ｖ方向の修整エラーＥ（Ｖ）； Ｅ（Ｖ）＝（|P1−（PP1＋NP1）/2|＋|M1−（PM1＋NM
1）/2|）/2 がそれぞれ求められる。このＶ方向の修整エラーＥ
（Ｖ）はランキング決定回路45に供給される。なお、Ｈ
方向の修整エラーを求めるときと同様に、修整エラーが
演算できないときはＶ演算可能信号が出力端子47を介し
て、第２図に示す２次元エラー修整回路３に出力され
る。また、第１、第２の修整エラーが所定の閾値Ｔより
大きいか否かが判断され、閾値Ｔより大きいときはその
方向は２次元エラー修整の最適な方向として考慮されな
いようになされる。

D₊修整精度出力回路43は、D₊方向のエラー修整の精度
を、エラーサンプルデータの近傍でのD₊方向の修整エラ
ーに基づいて予測するためのものであり、例えばエラー
修整が施されるエラーサンプルデータP0の左側のサンプ
ルデータP1及び該サンプルデータP1の右下がり対角線上
の両側のサンプルデータPP2、NP0を用いて修整エラーを
演算するD₊（Ｌ）誤差演算回路43aと、同じくサンプル
データP0の右側のサンプルデータM1及び該サンプルデー
タM1の右下がり対角線上の両側のサンプルデータPP0、N
M2を用いて修整エラーを演算するD₊（Ｒ）誤差演算回路
43bと、該D₊（Ｌ）誤差演算回路43aの出力とD₊（Ｒ）誤
差演算回路43bの出力との平均値を演算する平均値／セ
レクタ回路43cから構成される。すなわち、上記D
₊（Ｌ）修整誤差演算回路43a、D₊（Ｒ）修整誤差演算回
路43b、平均値／セレクタ回路43cにおいて、例えばD₊方
向の第１の修整エラー |P1−（PP2＋NP0）/2|、 D₊方向の第２の修整エラー |M1−（PP0＋NM2）/2|、 D₊方向の修整エラーＥ（D₊）； Ｅ（D₊）＝（|P1−（PP2＋NP0）/2| ＋|M1−（PP0＋NM2）/2|）/2 がそれぞれ求められる。このD₊方向の修整エラーＥ
（D₊）はランキング決定回路45に供給される。なお、Ｈ
方向の修整エラーを求めるときと同様に、修整エラーが
演算できないときはD₊演算可能信号が出力端子48を介し
て、第２図に示す２次元エラー修整回路３に出力され
る。また、第１、第２の修整エラーが所定の閾値Ｔより
大きいか否かが判断され、閾値Ｔより大きいときはその
方向は２次元エラー修整の最適な方向として考慮されな
いようになされる。

D_-修整精度出力回路44は、D_-方向のエラー修整の精度
を、エラーサンプルデータの近傍でのD_-方向の修整エラ
ーに基づいて予測するためのものであり、例えばエラー
修整が施されるエラーサンプルデータP0の左側のサンプ
ルデータP1及び該サンプルデータP1の左下がり対角線上
の両側のサンプルデータPP0、NP2を用いて修整エラーを
演算するD_-（Ｌ）誤差演算回路44aと、同じくサンプル
データP0の右側のサンプルデータM1及び該サンプルデー
タM1の左下がり対角線上の両側のサンプルデータPM2、N
P0を用いて修整エラーを演算するD_-（Ｒ）誤差演算回路
44bと、該D_-（Ｌ）誤差演算回路44aの出力とD_-（Ｒ）誤
差演算回路44bの出力との平均値を演算する平均値／セ
レクタ回路44cから構成される。すなわち、上記D
_-（Ｌ）修整誤差演算回路44a、D_-（Ｒ）修整誤差演算回
路44b、平均値／セレクタ回路44cにおいて、例えばD_-方
向の第１の修整エラー |P1−（PP0＋NP2）/2|、 D_-方向の第２の修整エラー |M1−（PM2＋NP0）/2|、 D_-方向の修整エラーＥ（D_-）； Ｅ（D_-）＝（|P1−（PP0＋NP2）/2| ＋|M1−（PM2＋NP0）/2|）/2 がそれぞれ求められる。このD_-方向の修整エラーＥ
（D_-）はランキング決定回路45に供給される。なお、Ｈ
方向の修整エラーを求めるときと同様に、修整エラーが
演算できないときはD_-演算可能信号が出力端子49を介し
て、第２図に示す２次元エラー修整回路３に出力され
る。また、第１、第２の修整エラーが所定の閾値Ｔより
大きいか否かが判断され、閾値Ｔより大きいときはその
方向は２次元エラー修整の最適な方向として考慮されな
いようになされる。

次に、ランキング決定回路45において、上記修整エラ
ーＥ（Ｈ）、Ｅ（Ｖ）、Ｅ（D₊）、Ｅ（D_-）が互いに比
較され、値が小さい順に修整方向ランキング（優先順
位）が決定される。なお、各方向の修整エラー値が等し
いときは、Ｈ方向、Ｖ方向、D₊方向、D_-方向の順に優先
順位があるものとされる。このランキング決定回路45か
らのランキングフラグ（複数ビット）は、第２図に示す
２次元エラー修整回路３に供給される。

Ｇ−5.2次元エラー修整回路（第１図、第８図乃至第10
図） 上記２次元エラー修整回路３は、基本構成（Ｇ−１）
で述べたように、エラーパターン決定手段50、エラー修
整制御手段90、エラー修整手段60から構成される。以下
この２次元エラー修整回路の詳細を説明する。

第１図において、最適補間方向決定回路51には、エラ
ー修整が施されるエラーサンプルデータP0周辺のサンプ
ルデータのエラーフラグFPP1、FPP0、FPM1、FP1、FM1、
FNP1、FNP0、FNM1、上記ランキング制御回路７からのラ
ンキングフラグ及び各方向の演算可能信号が供給され、
これらのエラーフラグ（エラーパターン）、ランキング
フラグ及び演算可能信号の状態が判断され、最適な補間
方向が決定される。具体的には、エラーフラグが「１」
（エラー有り）である方向を除外し、ランキングフラグ
に基づいて最優先の方向が決定される。この最優先の方
向を示す制御信号がエラー修整方法セレクタ58に供給さ
れる。すなわち、ランキング制御回路７において修整エ
ラーが最小と判断された方向であっても、この方向にお
ける補間処理に用いられるサンプルデータがエラー状態
にあるときは、この方向は選択されず、次に優先順位か
高い方向が選択される。

高精度テンポラル置換決定回路52には、エラー修整が
施されるエラーサンプルデータP0の両側の６個のサンプ
ルデータP3、P2、P1、M1、M2、M3、前フレームの対応す
るラインの７個のサンプルデータLP3、LP2、LP1、LP0、
LM1、LM2、LM3、これらのサンプルデータのエラーフラ
グFP3、FP2、FP1、FM1、FM2、FM3、FLP3、FLP2、FLP1、
FLP0、FLM1、FLM2、FLM3が供給され、上記エラーフラグ
（エラーパターン）が判断され、時間的（時間軸上の）
置換処理が可能か否かが決定される。上記エラーフラグ
の全てが「０」（エラー無し）であり、かつ対応するサ
ンプルデータ同士の差が所定の閾値HT以下のとき、前フ
レームのサンプルデータLP0を用いてエラーサンプルデ
ータP0を置換する制御信号がエラー修整方法セレクタ58
に供給される。具体的には、 FP3＝FP2＝FP1＝FM1＝FM2＝FM3＝FLP3＝FLP2＝FLP1＝FL
P0＝FLM1＝FLM2＝FLM3＝0, |LP3−P3|≦HT,|LM1−M1|≦HT, |LP2−P2|≦HT,|LM2−M2|≦HT, |LP1−P1|≦HT,|LM3−M3|≦HT の条件全てを満足するとき、エラーサンプルデータP0を
サンプルデータLP0で置き換えるのである。すなわち、
エラーサンプルデータP0の両側の６個のサンプルデータ
が時間的に余り変化しないときは、エラーサンプルデー
タP0も時間的に変化がないものとして置換を行うのであ
る。なお、上記閾値HTは小さな値とされる。

最適置換方向決定回路53には、エラーフラグFPP1、FP
P0、FPM1、FP1、FM1、FNP1、FNP0、FNM1、ランキング回
路７からのランキングフラグ及び各方向の演算可能信号
が供給され、これらのエラーフラグ（エラーパター
ン）、ランキングフラグ及び演算可能信号の状態が判断
され、最適な置換方向が決定される。具体的には、エラ
ーフラグが「１」（エラー有り）である方向を除外し、
残りの方向のランキングフラグに基づいて最優先の方向
が決定される。この最優先の方向を示す制御信号がエラ
ー修整方法セレクタ58に供給される。

任意補間方向決定回路54には、エラーフラグFPP1、FP
P0、FPM1、FP1、FM1、FNP1、FNP0、FNM1が供給され、こ
れらのエラーフラグ（エラーパターン）の状態が判断さ
れる。すなわち、エラーフラグが「０」（エラー無し）
である方向が選択され、この方向の補間処理が可能な制
御信号がエラー修整方法セレクタ58に供給される。な
お、複数の方向が選択されるときは、Ｈ方向、Ｖ方向、
D₊方向、D_-方向の順に優先順位が設定される。

低精度テンポラル置換決定回路55には、エラー修整が
施されるエラーサンプルデータP0の両側の６個のサンプ
ルデータP3、P2、P1、M1、M2、M3、前フレームの対応す
るラインの７個のサンプルデータLP3、LP2、LP1、LP0、
LM1、LM2、LM3及びこれらのサンプルデータのエラーフ
ラグFP3、FP2、FP1、FM1、FM2、FM3、FLP3、FLP2、FLP
1、FLP0、FLM1、FLM2、FLM3が供給される。この低精度
テンポラル置換決定回路56において、上記エラーフラグ
（エラーパターン）が判断され、エラーフラグFLP0が
「０」（エラー無し）であり、エラーサンプルデータP0
の各片側の対応する３組のエラーフラグのうちの少なく
とも１組がそれぞれ「０」（エラー無し）であり、かつ
上記２組の各サンプルデータの差が所定の閾値LT以下の
とき、前フレームのサンプルデータLP0を用いてエラー
サンプルデータP0を置換する制御信号がエラー修整方法
セレクタ58に供給される。すなわち、 FLP0＝0, FP3＝FLP3＝０又はFP2＝FLP2＝０又はFP1＝FLP1＝0, FM1＝FLM1＝０又はFM2＝FLM2＝０又はFM3＝FLM3＝0, |LPn−Pn|≦LT,|LMm−Mm|≦LT （n,mはエラーフリーの番号を表す。） の条件を満足するとき、エラーサンプルデータP0をサン
プルデータLP0で置き換えるのである。換言すると、上
記高精度テンポラル置換回路52においては、エラーサン
プルデータP0の両側６個のサンプルデータ及び対応する
前のフレームのサンプルデータが全てエラーフリー状態
でなければならなく、エラーレートが低い状態のとき、
該高精度テンポラル置換が有効であり、低精度テンポラ
ル置換は、高いエラーレートのときに有効である。な
お、上記閾値LTは小さな値とされる。

最近隣置換決定回路56には、エラー修整が施されるエ
ラーサンプルデータP0の両側の４個のエラーフラグFP
2、FP1、FM1、FM2、上のラインの３個のエラーフラグFP
P1、FPP0、FPM1及び下のラインの３個のエラーフラグFN
P1、FNP0、FNM1が供給され、これらのエラーフラグ（エ
ラーパターン）の状態が判断される。すなわち、エラー
フラグが「０」（エラー無し）のサンプルデータのうち
で一番近い（最近隣）サンプルデータを用いてエラーサ
ンプルデータP0を置き換えるのである。この最近隣サン
プルデータでエラーサンプルデータP0を置き換える制御
信号がエラー修整方法セレクタ58に供給される。なお、
複数のサンプルデータが使用可能なときは、サンプルデ
ータP1、M1、P2、M2、PP0、NP0、PP1、PM1、NP1、NM1の
順に優先順位が設定される。

繰り返し置換決定回路57には、エラーフラグFP0及び
リカージョンカウント（再帰計数）メモリ67からの再帰
計数が供給される。ここで、繰り返し置換とは、エラー
サンプルデータP0の置き換えを、エラー修整が施された
サンプルデータを用いて繰り返し行うことをいう。例え
ば、エラー修整が施されたサンプルデータを用いて置換
処理で得られたサンプルデータを１世代目とし、この１
世代目のサンプルデータを用いて再び置換処理で得られ
るサンプルデータを２世代目とする。また、これらの世
代の状態を再帰計数（リカージョンカウント）で表すも
のとする。すなわち、例えば第８図に示すようにサンプ
ルデータP5はエラーフリー状態（○）にあり、サンプル
データP4、P3、P2、P1、P0は全てエラー状態（×）にあ
るとき、サンプルデータP4はエラーフリーサンプルデー
タP5で置換され、サンプルデータP3はサンプルデータP4
で置換されて１世代目となる。サンプルデータP2はサン
プルデータP3で置換されて２世代目となる。サンプルデ
ータP1はサンプルデータP2で置換されて３世代目とな
る。サンプルデータP0はサンプルデータP1で置換されて
４世代目となる。第９図に８世代目のサンプルデータの
具体例を示す。上記再帰計数の具体的な値としては、第
１表に示すように各エラー修整の方法によって初期値を
設定し、この初期値に上記繰り返し置換を１回行う毎に
２加算するものとする。

なお、第１表中のディフォルトテンポラル置換とは、
上記エラー修整方法の全てを用いることができないとき
に、前フレームのサンプルデータLP0を用いてエラーサ
ンプルデータP0を置き換えることをいう。また、上記再
帰計数に外部より可変の上限値を設け、上記繰り返し置
換の世代を制限するようにする。すなわち、例えば、再
帰計数の最大値を７として繰り返し置換の世代を４に制
限する。また、再帰計数の最大値を15として繰り返し置
換の世代を８に制限する。ところで、この再帰計数は第
１図に示すリカージョンカウントメモリ67に記憶されて
おり、全てのサンプルデータに対応して再帰計数が設け
られている。

繰り返し置換決定回路57において、エラー修整が施さ
れるサンプルデータの前のサンプルデータP1、上のライ
ンのサンプルデータPP1、PP0、PM1の位置の再帰計数が
判断され、例えば７以下であって、最小再帰計数の位置
が選択され、この繰り返し置換を行う制御信号がエラー
修整方法セレクタ58に供給される。また、この繰り返し
置換決定回路57からリカージョンカウント発生器59に、
上記選択された位置の再帰計数が送られる。このリカー
ジョンカウント発生器59には、エラー修整方法セレクタ
58において繰り返し置換が選択されたことを示す信号が
供給され、当該繰り返し置換方法が選択されたとき、上
記選択された位置の再帰計数に２が加算され、この加算
された再帰計数が当該置換が施された位置の再帰計数と
して、リカージョンカウントメモリ67に新たに記憶され
る。なお、上記サンプルデータP1、PP1、PP0、PM1の位
置の各再帰計数が同じ値のときは、サンプルデータP1、
PP0、PP1、PM1の各位置の順に優先順位を設定する。

ここで、上記繰り返し置換決定回路57の具体的回路構
成を第10図に示す。この図において、比較器110、111、
112、113には、端子100、101、102、103をそれぞれ介し
てエラー修整が施されるサンプルデータP0の近傍のサン
プルデータP1、PP0、PP1、PM1のＨ方向再帰計数、Ｖ方
向再帰計数、D₊方向再帰計数、D_-方向再帰計数がそれぞ
れ供給される。これらの比較器110、111、112、113にお
いて、端子104を介して供給される外部より可変にする
ことができる最大再帰計数、例えば７との比較がそれぞ
れ行われ、少なくとも１つの再帰計数が７より小さいと
きに、NANDゲート114から繰り返し置換を行うことがで
きる繰り返し置換可能信号が端子105から取り出され
る。また、上記各再帰計数は再帰方向選択回路115に供
給され、この再帰方向選択回路115において、最小の再
帰計数の位置が選択され、この位置を示す信号が端子10
6から取り出される。これらの繰り返し置換可能信号及
び位置を示す信号は、上述の繰り返し置換を行う制御信
号として、第１図に示すエラー修整方法セレクタ回路58
に供給される。

以上のようにして、最適補間方向決定回路51、高精度
テンポラル置換決定回路52、最適置換方向決定回路53、
任意補間方向決定回路54、低精度テンポラル置換決定回
路55、最近隣置換決定回路56、繰り返し置換決定回路57
からの各種のエラー修整を行うための制御信号がエラー
修整方法セレクタ58に供給される。このエラー修整方法
セレクタ58において、第２表に示す優先順位（上から順
に）に基づいて、最適なエラー修整方法が選択される。

なお、第２表中のエラーレートは各エラー修整方法が
適用可能な範囲を示し、同一のエラーレートに対して、
複数のエラー修整方法が適用可能であることを示してい
る。しかし、該エラーレートはエラー修整方法を決定す
るためには用いられず、上述のようにエラー修整が施さ
れるサンプルデータの周辺のエラーフラグの状態（エラ
ーパターン）によってエラー修整方法が決定される。以
上のようにして、エラー修整方法がエラー修整方法セレ
クタ58において決定され、このエラー修整方法セレクタ
58からの制御信号によって、エラー修整が行われる。以
下、各エラー修整方法を説明する。

最適補間方向による補間が可能なとき、エラー修整方
法セレクタ58からセレクタ64、65を制御する信号が送出
される。この制御信号により、セレクタ64において、補
間処理されたサンプルデータ（補間値Ｐ）の１つが選択
される。すなわち、セレクタ64には、端子73を介して第
２図に示す１次元エラー修整回路２で得られたＨ方向の
加重平均値（補間値）Ｐが供給されている。また、例え
ばＶ補間回路61には、端子74、75を介して補間処理が施
されるサンプルデータP0の上下のサンプルデータPP0、N
P0がそれぞれ供給れ、このＶ補間回路61において、Ｖ方
向の補間値Ｐ（（PP0＋NP0）/2）が求められ、このＶ方
向の補間値Ｐがセレクタ64に供給されている。また、D₊
補間回路62には、端子76、77を介して、補間処理が施さ
れるサンプルデータP0の右下がり対角線上のサンプルデ
ータPP1、NM1がそれぞれ供給れ、このD₊補間回路62にお
いて、D₊方向の補間値Ｐ（（PP1＋NM1）/2）が求めら
れ、このD₊方向の補間値Ｐがセレクタ64に供給されてい
る。D_-補間回路63には、端子78、79を介して、補間処理
が施されるサンプルデータP0の左下がり対角線上のサン
プルデータPM1、NP1がそれぞれ供給れ、このD_-補間回路
63において、D_-方向の補間値Ｐ（（PM1＋NP1）/2）が求
められ、このＤ−方向の補間値Ｐがセレクタ64に供給さ
れている。以上のように各方向の補間値Ｐがセレクタ64
に供給され、エラー修整方法セレクタ58からの制御信号
のもとに、上記最適補間方向決定回路51で決定された方
向（エラーフリーサンプルデータを用いて補間値が演算
でき、かつ修整エラーが最小の方向）の補間値Ｐが選択
され、セレクタ66を介して端子８に出力される。

エラー修整方法セレクタ58において、高精度テンポラ
ル置換が選択されたとき、セレクタ66が制御され、端子
88を介して入力される前フレームのサンプルデータLP0
が端子８に出力される。

エラー修整方法セレクタ58において、最適置換方向に
よる置換が選択されたとき、セレクタ65、66が制御さ
れ、端子80、81、82、83、84、85、86、87を介してそれ
ぞれ入力されるサンプルデータPP1、PP0、PM1、P1、M
1、NP1、NP0、NM1のうちで上記最適置換方向決定回路53
で決定された方向（エラーフリーサンプルデータを用い
て置換処理ができ、かつ修整エラーが最小の方向）のサ
ンプルデータがセレクタ65及びセレクタ66を介して端子
８に出力される。

エラー修整方法セレクタ58において、任意補間方向に
よる補間が選択されたとき、セレクタ64、66が制御さ
れ、セレクタ64に入力される各方向の補間値Ｐのうちで
上記任意補間方向決定回路54で決定された方向（エラー
フリーサンプルデータを用いて補間値が演算できる方
向）の補間値Ｐが選択され、セレクタ66を介して端子８
に出力される。

エラー修整方法セレクタ58において、低精度テンポラ
ル置換が選択されたとき、セレクタ66が制御され、端子
88を介して入力される前フレームのサンプルデータLP0
が端子８に出力される。

エラー修整方法セレクタ58において、最近隣置換が選
択されたとき、セレクタ65、66が制御され、端子80、8
1、82、83、84、85、86、87を介して入力されるサンプ
ルデータPP1、PP0、PM1、P1、M1、NP1、NP0、NM1から上
記最近隣置換決定回路56で決定されたサンプルデータが
選択され、セレクタ66を介して端子８に出力される。

エラー修整方法セレクタ58において、繰り返し置換が
選択されたとき、セレクタ65、66が制御され、端子80、
81、82、83、84、85、86、87を介して入力されるサンプ
ルデータPP1、PP0、PM1、P1、M1、NP1、NP0、NM1から上
記繰り返し置換決定回路57で決定されたサンプルデータ
が選択され、セレクタ66を介して端子８に出力される。

なお、エラー修整方法セレクタ58において、上記エラ
ー修整方法全てを用いることができないと判断されたと
きは、ディフォルト置換とされ、セレクタ66が制御され
て端子88を介して入力される前フレームのサンプルデー
タLP0が端子８に出力される。

以上の説明で明らかなように、エラー修整が施される
エラーサンプルデータの周辺等のエラーパターンに基づ
いて、上記周辺のサンプルデータを用いて行う複数方向
の補間処理、周辺のサンプルデータを用いて行う置換処
理、前のフレームのサンプルデータを用いて行う時間的
な置換処理のうちで、エラー修整の結果が周辺のサンプ
ルデータと比べて変化が少ない（最適な）エラー修整方
法を選択することにより、いろんなエラーパターンに対
して、そのエラーパターンに適したエラー修整を行うこ
とができ、これまでにない良好なエラー修整を行うこと
ができる。

H.発明の効果 本発明に係るビデオ信号処理回路によれば、少なくと
もエラーサンプルデータの周辺及び前フレームのサンプ
ルデータのエラーの状態を示すエラーフラグと、エラー
修整方向の優先順位を示すランキングフラグと、各エラ
ー修整方向毎の計算可能性を示す演算可能信号とに基づ
いてエラーパターンを決定するエラーパターン決定手段
を有し、このエラーパターン決定手段からのエラーパタ
ーンに応じて、少なくとも上記周辺のサンプルデータを
用いて上記エラーサンプルデータを補間する補間手段
と、上記周辺のサンプルデータを用いて上記エラーサン
プルデータを置換する第１の置換手段と、上記前フレー
ムのサンプルデータを用いて上記エラーサンプルデータ
を置換する第２の置換手段とのうちの１つを選択制御す
ることにより、周辺サンプルによる補間、周辺サンプル
による置換、前フレームのサンプルによる置換を適応的
に行うことを可能とし、より良好なエラー修整を実現す
るものである。換言すると、本発明に係るビデオ信号処
理回路は、いろんなエラーパターンに対応したエラー修
整を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係るビデオ信号処理回路の一実施例
（２次元エラー修整回路）のブロック回路図、第２図は
本発明に係るビデオ信号処理回路を適用したエラー修整
装置のブロック回路図、第３図は１次元エラー修整回路
のブロック回路図、第４図は可変長補間処理回路の動作
原理を説明するためのサンプルデータのエラー状態を示
す図、第５図は２次元エラー修整のときに使用されるサ
ンプルデータの配置を示す図、第６図は２次元エラー修
整のときに使用されるエラーフラグの配置を示す図、第
７図はランキング制御回路のブロック回路図、第８図及
び第９図は繰り返し置換の具体例を示す図、第10図は繰
り返し置換決定回路のブロック回路図である。 50……エラーパターン決定手段 60……エラー修整手段 90……エラー修整制御手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04N 5/91 - 5/956 G11B 20/18

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ビデオ信号のサンプルデータが供給され、
   サンプルデータが誤っているとき周辺のサンプルデータ
   を用いて当該エラーサンプルデータのエラー修整を行う
   ビデオ信号処理回路において、 少なくとも上記エラーサンプルデータの周辺のサンプル
   データ及び上記エラーサンプルデータ位置に対応する前
   フレームのサンプルデータのエラーの状態を示すエラー
   フラグと、エラー修整方向の優先順位を示すランキング
   フラグと、各エラー修整方向毎の計算可能性を示す演算
   可能信号とに基づいてエラーパターンを決定するエラー
   パターン決定手段と、 少なくとも上記周辺のサンプルデータを用いて上記エラ
   ーサンプルデータを補間する補間手段と上記周辺のサン
   プルデータを用いて上記エラーサンプルデータを置換す
   る第１の置換手段と上記前フレームのサンプルデータを
   用いて上記エラーサンプルデータを置換する第２の置換
   手段とを設けたエラー修整手段と、 上記エラーパターン決定手段からのエラーパターンに応
   じて上記エラー修整手段における上記補間手段、第１の
   置換手段、第２の置換手段の１つを選択制御するエラー
   修整制御手段とを有すること を特徴とするビデオ信号処理回路。
2. 【請求項２】上記エラーパターン決定手段は、最適の補
   間方向を決定する最適補間方向決定回路と、高精度及び
   低精度に前フレームのサンプルデータの置換が可能かを
   決定する高精度テンポラル置換決定回路及び低精度テン
   ポラル置換決定回路と、最適の置換方向を決定する最適
   置換方向決定回路と、エラーフラグに応じて任意の補間
   方向を決定する任意補間方向決定回路と、最も近い位置
   のサンプルデータでの置換を決定する最近隣置換決定回
   路とを有し、 上記エラー修整手段は、垂直方向の補間を行うＶ補間回
   路と、右下がり方向の補間を行うD₊補間回路と、左下が
   り方向の補間を行うD_-補間回路と、これらの補間回路か
   らの補間値及び水平方向の補間値の１つを選択する第１
   のセレクタと、上記エラーサンプルデータの周辺及び前
   フレームの周辺のサンプルデータの１つを選択する第２
   のセレクタと、上記第１のセレクタからのデータ、第２
   のセレクタからのデータ、前フレームのサンプルデー
   タ、及び上記エラーサンプルデータの１つを選択する第
   ３のセレクタとを有することを特徴とする請求項（１）
   記載のビデオ信号処理回路。
3. 【請求項３】上記エラーパターン決定手段は、エラー修
   整されたサンプルデータの繰り返し置換を決定する繰り
   返し置換決定回路と、この繰り返し置換の回数を計数す
   るためのリカージョンカウント発生器とを有することを
   特徴とする請求項（２）記載のビデオ信号処理回路。