JP3003647B2 - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置

Info

Publication number
JP3003647B2
JP3003647B2 JP9254675A JP25467597A JP3003647B2 JP 3003647 B2 JP3003647 B2 JP 3003647B2 JP 9254675 A JP9254675 A JP 9254675A JP 25467597 A JP25467597 A JP 25467597A JP 3003647 B2 JP3003647 B2 JP 3003647B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
voltage
state
mass spectrometer
ionization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP9254675A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1083791A (ja
Inventor
忠男 三村
博 広瀬
貞夫 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP9254675A priority Critical patent/JP3003647B2/ja
Publication of JPH1083791A publication Critical patent/JPH1083791A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3003647B2 publication Critical patent/JP3003647B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は質量分析装置に関す
る。好ましくは大気圧イオン化(AtomosphericPressure
Ionization)あるいは化学イオン化など分子反応を利用
したイオン化機能を有する大気圧イオン化質量分析計に
係る、さらに、好ましくは、分子イオンを分解させて負
イオン検出を行う場合の改良に関する。 【0002】 【従来の技術】一般に、多くの質量分析装置では、大気
圧下で試料をイオン化し、これを高真空の質量分析部に
導いて質量分析するように構成されている。このような
ものでは、イオン化された試料は、大気圧から高真空に
導かれる過程で、断熱膨張により、急速に冷却される。
そのために、試料イオンの周囲には水等の分子が付着
し、いわゆるクラスターイオンが形成される。クラスタ
ーイオンが形成されると、このイオンがバックグランド
ノイズとなって、質量分析精度を低下させる。 【0003】また、このような装置と液体クロマトグラ
フを組み合わせた装置を例として説明する。大気圧イオ
ン化(以下、APIと略称する)を利用した液体クロマ
トグラフ直結形質量分析計(以下、LC/API質量分
析計と略称する)は、従来の電子衝撃形イオン化(以
下、EIと略称する)を利用したガスクロマトグラフ直
結形質量分析計(以下、GC質量分析計と略称する)に
比べ、そのイオン化機構において衝撃の少ない穏やかな
イオン化手段を用いているため、試料をイオン化する際
分解することが少なく、分子イオンが観測しやすい特徴
を有し、GC質量分析計では得られない多くの知見を有
している。しかし反面、分子イオンは観測されるものの
分解したイオンの観測が少ないことから情報量も少なく
なり、分子構造等を知るうえでは難点でもあった。 【0004】そこで、これらクラスターイオンの影響を
低減し、或いは、イオンの観測の情報を得るため、現在
行われている測定例が図1に示されている。図1におい
て、イオン化部と中間圧力領域部の間に設けられた電極
1(以下、第1細孔電極と略称する)と、中間圧力領域
部と分析部の間に設けられた電極2(以下、第2細孔電
極と略称する)との間に、「第1細孔電極電圧>第2細
孔電極電圧」となる電圧(以下、ドリフト電圧と略称す
る)を印加し、中間圧力領域部において分子イオンを加
速させ、中性分子と衝突させている。 【0005】すなわち、中間圧力領域では、空気等の分
子の存在率が適度であり、また、分子の平均自由行程が
適度であるので、イオン化された試料は空気等の中性分
子と衝突を繰り返す。そのため、試料分子の周りに付着
された分子がはぎ取られ、クラスターイオンが解裂され
る。 【0006】さらに、分子の加速が大きくなるように制
御すると、分子イオンを故意に分解し、分解したイオン
を分析部に導入することにより情報を多く得られる。 【0007】 【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術では、
「第1細孔電極電圧>第2細孔電極電圧」となる電圧を
印加していたので、試料が正のイオンにイオン化された
ときには、中間圧力領域で加速して中性分子と衝突でき
る。しかしながら、試料によっては、例えば、有機酸
(乳酸,酢酸等)のようにプロトン親和力の小さい化合
物では、正イオンにイオン化するのが困難であり、その
ため、負イオンにイオン化される。 【0008】「第1細孔電極電圧>第2細孔電極電圧」
となる電圧を印加していたのでは、負のイオンを加速す
ることができずに、形成された中間圧力領域で、中性分
子と衝突させることができなかった。 【0009】本発明の目的は、特にプロトン親和力が大
きい試料に対してでも、質量分析可能とすることにあ
る。より詳細には、試料が負のイオンにイオン化された
ときでも、中間圧力領域で、イオンを加速させて、イオ
ンを中性分子と衝突させることを可能とすることにあ
る。 【0010】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、試料をイオン化するイオン化部と、前記イオン化部
より低い圧力に保たれた中間圧力部と、前記中間圧力部
より低い圧力に保たれた高真空部と、前記中間圧力部の
前記イオン化部側に配置され且つ前記イオン化された試
料が通過する開口を有する第1の電極と、前記中間圧力
部の前記高真空部側に配置され且つ前記イオン化された
試料が通過する開口を有する第2の電極とを有し、前記
イオン化された試料を前記第1の電極の開口と第2の電
極の開口を介して前記高真空部に導いて質量分析する質
量分析装置であって、前記第1の電極への印加電圧が前
記第2の電極への印加電圧より高くなる第1の状態、ま
たは前記第1の電極への印加電圧が前記第2の電極への
印加電圧より低くなる第2の状態の何れかの状態になる
ように、前記第1の電極及び前記第2の電極に電圧を印
加する手段と、前記第1の状態または前記第2の状態で
印加する電圧値を所定の範囲で変化させる手段を有する
ように構成した。 【0011】 【0012】このように構成したことにより、プロトン
親和力の大きな試料でも分析可能となる。また、中間圧
力領域において、試料が負のイオンにイオン化されたと
きでも、中間圧力領域で、イオンを加速させて、イオン
を中性分子と衝突されることが可能となる。 【0013】また更には、正イオン,負イオン測定のい
ずれの場合も分子イオンを分解させて測定することが可
能となる。 【0014】 【発明の実施の形態】以下、実施例を図面を参照しつつ
説明する。 【0015】図2は本発明に係る負イオン測定のための
ドリフト電圧切り替え装置の一実施例構成を示す図であ
る。この実施例においては、1つのフローティング状態
のドリフト電源3を利用し、ドリフト電圧切替回路4と
その駆動回路5によって、第1細孔電極1と第2細孔電
極2間に印加する電圧を反転させる点に特徴がある。ド
リフト電圧切替回路4は4つのリレーで構成され、リレ
ー6とリレー7,リレー8とリレー9はそれぞれ2個ず
つ動作する。例えば正イオン測定を行う場合は、リレー
6とリレー7が同時に動作し、「第1細孔電極電圧>第
2細孔電極電圧」となるドリフト電圧を印加する。この
時リレー8とリレー9は動作せず接点は開の状態となっ
ている。反対に負イオンを測定する場合には、リレー8
とリレー9が動作し、「第1細孔電極電圧<第2細孔電
極電圧」となるドリフト電圧を印加する。この時リレー
6,リレー7は動作せず接点は開の状態となっている。
駆動回路5はリレー6,7,8,9の4つのリレーを、
制御データー処理装置10、あるいは正,負イオン測定
モード切替スイッチ11の信号によって2個ずつ動作さ
せる回路である。例えば制御データー処理装置10より
正イオン測定モードとして“H”レベルの信号が送られ
ればリレー6,7が動作し、負イオンモードとして
“L”レベルの信号が送られればリレー8,9が動作す
る。 【0016】ドリフト電源3は通常イオン加速電圧(約
3KV〜4KV)に浮いた状態で動作するため、フロー
ティングになっており、更に測定する試料によって分子
イオンが分解するための衝突エネルギーが異なることか
ら、ドリフト電圧はドリフト電圧設定ダイヤル12によ
って可変(0V〜約250V)できるようになってい
る。 【0017】尚、本実施例ではドリフト電源3の切り替
えのみについて述べたが、イオン検出器13に分子イオ
ンあるいは分子イオンより分解したイオンを検出するた
めには、ニードル電源18については正イオン測定モー
ドの時は、ニードル21に5KV〜10KVの電圧が印
加され、負イオン測定モードの時は−5KV〜−10K
Vの電圧が印加される。更に第2細孔電極2にはイオン
加速電圧として、正イオン測定モードの時は3KV〜4
KV、負イオン測定モードの時は−3KV〜−4KVの
電圧が印加され、分析部においても正イオン測定モード
の時は正イオンが測定可能な状態に、負イオン測定モー
ドの時は負イオンが測定可能な状態に保たれていること
は言うまでもない。しかもこれらの電圧の印加、あるい
は測定状態の設定は、いずれも制御データー処理装置1
0あるいは正負イオン測定モード切り替えスイッチの信
号に同期し行われる。 【0018】 【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
プロトン親和力の小さい化合物をイオン化して、分析で
きる。さらには、中間圧力領域で加速して中性分子と衝
突させることができる。そのため、このような試料にお
いても、質量分析の精度が向上し、質量分析装置の利用
領域が大いに拡がるという効果を有する。 【0019】さらに好ましい構成によれば、1つのドリ
フト電源で、第1細孔電極と第2細孔電極との間に、
正,負のドリフト電圧を切り替えて印加することが可能
となり、負イオンの測定においても正イオン測定と同様
の多くの情報を得ることができる。
【図面の簡単な説明】 【図1】正イオンを測定する場合のドリフト電圧の印加
方法を示す図である。 【図2】本発明のドリフト電圧切り替え装置を示す図で
ある。 【図3】正イオンの測定例を示す図である。 【図4】負イオンの測定例を示す図である。 【符号の説明】 1…第1細孔電極、2…第2細孔電極、3…ドリフト電
源、4…ドリフト電圧切替回路、5…駆動回路、6,
7,8,9…リレー、10…制御データー処理装置、1
1…正負イオン測定モード切替スイッチ、12…ドリフ
ト電圧設定ダイヤル、13…イオン検出器、14…分析
管、15…マグネット電源、16…マグネットコイル、
17…イオン加速電源、18…ニードル電源、19…液
体クロマトグラフ、20…マグネット。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−15747(JP,A) 特開 昭59−35347(JP,A) 特開 昭55−9107(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 49/06 H01J 49/10

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 1.試料をイオン化するイオン化部と、前記イオン化部
    より低い圧力に保たれた中間圧力部と、前記中間圧力部
    より低い圧力に保たれた高真空部と、前記中間圧力部の
    前記イオン化部側に配置され且つ前記イオン化された試
    料が通過する開口を有する第1の電極と、前記中間圧力
    部の前記高真空部側に配置され且つ前記イオン化された
    試料が通過する開口を有する第2の電極とを有し、前記
    イオン化された試料を前記第1の電極の開口と第2の電
    極の開口を介して前記高真空部に導いて質量分析する質
    量分析装置であって前記第1の電極への印加電圧が前記第2の電極への印加
    電圧より高くなる第1の状態、または前記第1の電極へ
    の印加電圧が前記第2の電極への印加電圧より低くなる
    第2の状態の何れかの状態になるように、前記第1の電
    極及び前記第2の電極に電圧を印加する手段と、 前記第1の状態または前記第2の状態で印加する電圧値
    を所定の範囲で変化させる手段を有すること を特徴とす
    る質量分析装置。 2.請求項1において、前記イオン化部は針状電極を有し、 前記針状電極は、前記第1の状態のときには正電圧が印
    加され、前記第2の状態のときには負電圧が印加される
    こと を特徴とする質量分析装置。 3.請求項において、前記第1の状態または前記第2の状態で印加する電圧値
    は、0〜250Vの範囲で変化し得ること を特徴とする
    質量分析装置。
JP9254675A 1997-09-19 1997-09-19 質量分析装置 Expired - Lifetime JP3003647B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9254675A JP3003647B2 (ja) 1997-09-19 1997-09-19 質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9254675A JP3003647B2 (ja) 1997-09-19 1997-09-19 質量分析装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08121323A Division JP3117071B2 (ja) 1996-05-16 1996-05-16 質量分析装置及び質量分析方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1083791A JPH1083791A (ja) 1998-03-31
JP3003647B2 true JP3003647B2 (ja) 2000-01-31

Family

ID=17268308

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9254675A Expired - Lifetime JP3003647B2 (ja) 1997-09-19 1997-09-19 質量分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3003647B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1083791A (ja) 1998-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3840417B2 (ja) 質量分析装置
US7102128B2 (en) Ambient pressure matrix-assisted laser desorption ionization (MALDI) apparatus and method of analysis
US6469297B1 (en) Mass analysis apparatus and method for mass analysis
US20040089802A1 (en) Mass analysis apparatus and method for mass analysis
WO2013127262A1 (zh) 一种低压下产生分析用离子的方法和装置
Chan et al. Desorption ionization by charge exchange (DICE) for sample analysis under ambient conditions by mass spectrometry
WO2003073463A1 (en) Internal introduction of lock masses in mass spectrometer systems
US6515279B1 (en) Device and method for alternating operation of multiple ion sources
JP3300602B2 (ja) 大気圧イオン化イオントラップ質量分析方法及び装置
JP5142273B2 (ja) 中性粒子質量分析装置及び分析方法
JP3003647B2 (ja) 質量分析装置
JP3117071B2 (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
JP2948146B2 (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
CN110854009A (zh) 宽范围质量测量离子源的质谱装置及其质谱方法
JPH07211282A (ja) 質量分析計
Weber et al. Direct mixture analysis of surfactants by combined field desorption-collisionally activated dissociation mass spectrometry using simultaneous ion detection
CN101777482B (zh) 一种用于内离子源质谱仪的电子传输方法和装置
JPH0744029B2 (ja) 液体クロマトグラフ―大気圧質量分析計
JPS5832200Y2 (ja) イオン源装置
JP2877144B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析計
JP2000315474A (ja) 質量分析計
Schmitz State of the Art in the LC/MS
JPS60152949A (ja) 質量分析計のイオン検出器
JPH1092374A (ja) 大気圧イオン化質量分析計
JPH0342615Y2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071119

Year of fee payment: 8