JP2998695B2 - 試験信号挿入方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、データ通信サービ
スを提供するシステムを構成する伝送装置に関し、特
に、伝送装置のうち加入者回線を収容する加入者終端装
置などにおいて伝送装置の試験機能を実現する試験信号
挿入方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】データ通信サービスを提供するシステ
ム、例えば第一種通信事業者が提供する１専用線サービ
スを提供するシステムにあって、専用線伝送網を構成す
る専用線収容装置、加入者宅に置かれる回線終端装置
（以下「ディジタル・サブスクライバ・ユニット」ある
いは「ＤＵＳ」ともいう）、回線終端装置と専用線収容
装置の間に位置し、回線終端装置から接続する加入者線
を収容する加入者終端装置（以下「サブスクライバ・ラ
イン・ターミナル」あるいは「ＳＬＴ」ともいう）から
構成される従来のシステムについて以下に説明する。

【０００３】回線終端装置の外側には端末装置が置かれ
るが、通常端末速度と線専用線サービスの速度を変換す
る端末変換装置（以下「ターミナル・アダプタ」あるい
は「ＴＡ」ともいう）が回線終端装置と端末装置の間に
置かれる。そして、専用線収容装置、加入者終端装置は
サービスを提供する事業者局舎に置かれる。

【０００４】このようなサービスで提供される個々の回
線について、異常動作が検出された場合、通常事業者局
舎からの操作により、回線終端装置（ＤＳＵ）の端末変
換装置（ＴＡ）側出力部を入力側に折り返し、加入者終
端装置（ＳＬＴ）において、ＤＳＵに出力する主信号に
試験信号を挿入し、ＤＳＵで折り返される信号をＳＬＴ
に入力する主信号から分岐して試験信号入力と比較する
ことにより、回線の状態を測定し、異常動作を確認する
ことが行われる。

【０００５】回線終端装置（ＤＳＵ）までの回線を測定
する場合、挿入・分岐する試験信号の形式は、加入者終
端装置（ＳＬＴ）における主信号の形式と同じでよく、
同形式を測定する試験装置が使用される。

【０００６】端末変換装置（ＴＡ）までの回線を測定し
たい場合、上記と同様に、ＴＡの端末装置側出力部を入
力側に折り返し、ＳＬＴにおいて試験信号を挿入・分岐
して測定を行えばよいが、ＴＡから端末装置に出力され
る主信号は、ＳＬＴにおける主信号のうち、端末速度に
応じて必要な数だけ割り当てられたタイムスロットの内
容だけであり、ＳＬＴにおいて挿入・分岐する試験信号
の形式は、主信号の形式であり、かつ、前記割り当てタ
イムスロットにだけ、試験用のランダム信号が挿入され
た形式である必要がある。

【０００７】図３に、従来のシステムの構成を示す。試
験信号生成測定器５１Ｂで生成された試験信号１０Ｂ
は、加入者終端装置（ＳＬＴ）５０の位相調整部６１で
ＳＬＴに入力する入力主信号（下り）１６の位相に合う
ように遅延されて、挿入試験信号１３となる。端末速度
は、ＳＬＴの制御部（不図示）から信号２４で、速度制
御部６２に通知され、速度制御部６２は、これに従い、
挿入試験信号１３の試験信号に割り当てられたタイムス
ロットを指示する挿入指示信号１４を生成する。

【０００８】試験信号挿入部５６は、挿入指示信号１４
に従い、試験信号に割り当てられたタイムスロット部分
に試験信号を挿入し、出力主信号（下り）１７とする。

【０００９】端末変換装置（ＴＡ）６０で折り返された
入力主信号２２は、試験信号分岐部５７で分岐され信号
１５となり、そのまま試験信号検出測定器５２Ｂに出力
される。

【００１０】これら試験信号１０Ｂ、挿入試験信号１
３、挿入指示信号１４、入力主信号（下り）１６、出力
主信号（下り）１７について、そのタイムチャートを図
４に示す。位相調整部６１からの試験信号１３は試験信
号入力１０ＢをＳＬＴに入力する入力主信号（下り）１
６の位相に合うように遅延されたものでありタイムスロ
ットＴＳ１、ＴＳ２の１６ビットが試験信号とされ、挿
入指示信号１４がアクティブ（Ｈ）の時、試験信号挿入
部５６は、入力主信号（下り）１６に対して、試験信号
に割り当てられたタイムスロット部分ＴＳ１、ＴＳ２
に、試験信号を挿入し、出力主信号（下り）１７とす
る。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】上記した従来の技術に
おいては、端末変換装置（ＴＡ）の折り返し試験を行う
場合、試験装置の試験信号の形式が、加入者終端装置
（ＳＬＴ）の主信号の形式であり、かつ端末速度に応じ
たタイムスロットにだけ、試験用ランダム信号が挿入さ
れた形式である必要がある。これは、回線終端装置（Ｄ
ＳＵ）の折り返し試験を行う試験装置よりも複雑であ
る。

【００１２】また、端末速度に応じて試験装置及び加入
者終端装置（ＳＬＴ）の双方に試験すべき端末速度を、
予め設定する必要がある。

【００１３】したがって、本発明は、上記問題点に鑑み
てなされたものであって、その目的は、端末変換装置
（ＴＡ）の折り返し試験において、試験装置として前記
信号形式を扱う装置ではなく、端末速度の信号形式を扱
う装置を使用できるようにし、また試験時に、端末速度
を予め加入者終端装置（ＳＬＴ）に設定することなく、
入力された試験信号の速度に応じて自動的に動作できる
ようにした、試験信号挿入方式を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の試験信号挿入方式は、試験信号を入力する
手段と、試験信号を出力する手段と、試験信号を挿入す
る試験信号挿入手段と、試験信号を分岐する試験信号分
岐手段と、を有する伝送装置において、試験信号入力の
速度を検出する速度検出手段と、試験信号入力を伝送装
置の主信号の形式に変換する速度変換手段と、伝送装置
の主信号の形式を試験信号出力に変換する速度逆変換手
段と、を有し、前記速度変換手段が、前記速度検出手段
において検出された速度に従い前記試験信号入力を主信
号に変換する手段と、試験信号を前記試験信号挿入手段
に入力した主信号の位相と同じ位相の主信号に変換する
手段と、を備え、前記速度逆変換手段が、前記速度検出
手段において検出された速度に従い試験信号出力に変換
する手段を備え、前記速度変換手段で主信号の形式に変
換した試験信号を前記試験挿入手段で主信号に挿入し、
前記試験信号分岐手段で分岐した主信号を前記速度逆変
換手段で試験信号出力に変換する、ことを特徴とする。

【００１５】また、本発明の試験信号挿入方式は、前記
速度変換手段が、前記速度検出手段において検出された
速度に従い主信号の試験信号の位置を指示する信号をさ
らに出力し、前記試験挿入手段が、前記試験信号位置を
指示する信号により、試験信号を挿入する、ことを特徴
とする。

【００１６】また、本発明の試験信号挿入方式は、加入
者終端装置が、試験信号の速度を検出する速度検出手段
と、試験信号を主信号に変換する速度変換手段と、主信
号を試験信号に変換する速度逆変換手段と、試験信号を
挿入する試験信号挿入手段と、試験信号を分岐する試験
信号分岐手段と、を備え、前記速度検出手段が、試験信
号を生成出力する試験信号生成測定器から入力された試
験信号の速度を検出して、前記速度変換手段と前記速度
逆変換手段に通知し、前記速度変換手段では、前記加入
者終端装置に入力された主信号である入力主信号下りの
位相に合わせた主信号形式で、通知された試験信号速度
に従い、割り当てられたタイムスロットに試験信号を挿
入した挿入試験信号を生成するとともに、割り当てられ
たタイムスロットを指示する信号を生成して前記試験信
号挿入手段に送り、前記試験信号挿入手段では、前記挿
入試験信号に従い、割り当てられたタイムスロット部分
に試験信号を挿入し、この信号を回線終端装置に出力
し、端末変換装置で折り返された主信号である入力主信
号上りは、試験信号を分岐する前記試験信号分岐手段に
て分岐されて前記速度逆変換手段に送られ、前記速度逆
変換手段では、前記速度検出手段から通知された前記試
験信号速度に従い、割り当てられたタイムスロットから
試験信号を分離し、試験信号出力として試験信号を検出
する試験信号検出測定器に送り、前記試験信号生成測定
器及び前記試験信号検出測定器にてそれぞれ、端末速度
の試験信号の生成及び検出により該当回線の測定を行
う、ことを特徴とする。

【００１７】上記のように構成されてなる本発明の原理
・作用について説明すると、本発明においては、試験信
号入力の速度を検出する手段において、試験信号の入力
速度を検出し、加入者終端装置（ＳＬＴ）の各部手段
は、その結果をもとに、動作することにより、予め端末
速度をＳＬＴに設定することなく動作可能としたもので
ある。

【００１８】また、本発明においては、試験信号を主信
号に変換する手段、主信号を試験信号に変換する手段に
おいては、検出された試験信号の速度を基に、試験信号
と主信号の形式変換を行うことにより、試験装置とし
て、端末速度の試験信号を扱うものが使用可能である。

【００１９】

【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施の形態につ
いて図面を参照して以下に説明する。図１は、本発明の
好ましい実施の形態の構成をブロック図にて示したもの
である。

【００２０】図１を参照すると、本発明の実施の形態に
おいては、試験信号の速度を検出する手段である速度検
出部５３は、試験装置（試験信号生成測定器５１）から
入力された試験信号１０の速度を検出して、信号１２を
介して試験信号を主信号に変換する手段である速度変換
部５４と、主信号を試験信号に変換する手段である速度
逆変換部５５に通知する。

【００２１】試験信号を主信号に変換する手段５４で
は、加入者終端装置（ＳＬＴ）に入力された主信号、す
なわち、入力主信号（下り）１３、の位相に合わせた主
信号形式で、通知された試験信号速度（信号１２）に従
い、割り当てられたタイムスロットに試験信号を挿入し
た挿入試験信号１３を生成し、また割り当てられたタイ
ムスロットを指示する信号１４を生成し、試験信号を挿
入する手段である試験信号挿入部５６に送る。

【００２２】試験信号挿入部５６では、挿入試験信号１
３に従い、割り当てられたタイムスロット部分に試験信
号を挿入し、この信号１７を回線終端装置（ＤＳＵ）５
９に出力する。

【００２３】端末変換装置（ＴＡ）６０で折り返された
主信号、すなわち入力主信号（上り）２２は、試験信号
を分岐する手段である試験信号分岐部５７にて分岐さ
れ、主信号を試験信号に変換する手段である速度逆変換
部５５に送られる。

【００２４】速度逆変換部５５では、前記で通知された
試験信号速度（信号１２）に従い、割り当てられたタイ
ムスロットから試験信号を分離し、試験信号１１として
試験信号出力として試験信号検出測定器５２に送る。

【００２５】試験装置を構成する試験信号生成測定器５
１及び試験信号検出測定器５２は、それぞれ、端末速度
の試験信号の生成及び検出により、該当回線の測定を行
う。

【００２６】

【実施例】上記した本発明の実施の形態についてさらに
具体例をもって説明すべく、本発明の一実施例について
以下に説明する。図２は、本発明の一実施例の動作を説
明するためのタイミングチャートである。図１のブロッ
ク図及び図２のタイムチャートを参照して、本発明の一
実施例を説明する。

【００２７】図２では、主信号として、ＪＴ−Ｇ７０３
−ａの６．３１２Ｍｂｐｓフレームを例示している。こ
のフレームは１２５μｓｅｃ周期のフレームをもち、５
ビットのフレームパターン（図中Ｆで示す）と９８タイ
ムスロットＴＳ１〜ＴＳ９８（１タイムスロットは８ビ
ット）のペイロード部をもつ。

【００２８】図２では、端末速度として１２８ｋｂｐｓ
の場合を例示している。この場合、入力試験信号１０
は、１２５μｓｅｃ周期に、１６ビットの試験信号とな
る。試験信号は、特にフレームを持つ必要はなく、他の
信号との位相関係も特にない。

【００２９】速度検出部５３では、入力試験信号１０の
信号速度を検出する。これは、例えば入力信号の変化点
の最小値を統計的に観測し、その値が１／１２８ｋｂｐ
ｓ＝１５．６２５μｓｅｃに近いことで検出される。

【００３０】速度変換部５４では、挿入試験信号１３と
して、ＳＬＴの入力主信号（下り）１２と同型式・同位
相の信号で、試験信号の速度を示す信号１２で指示され
た１２８ｋｂｐｓの速度に対応するタイムスロット１〜
２に、入力試験信号１０を挿入した信号を生成する。ま
た、挿入指示信号１４として、タイムスロット１〜２を
指示する信号を生成する。

【００３１】試験信号挿入部５６では、入力主信号（下
り）１６のうち、挿入指示信号１４で指示された部分だ
け挿入試験信号１３を主信号に挿入し出力主信号（下
り）１７とする。

【００３２】端末変換装置（ＴＡ）６０で折り返された
信号は、試験信号分岐部５７で分岐された速度逆変換部
５５に送られるが、この信号の形式は、出力主信号（下
り）と同様である。

【００３３】速度逆変換部５５では、試験信号の速度信
号１２で指示された１２８ｋｂｐｓの速度に対応するタ
イムスロット１〜２の部分を分離し、平均化して出力試
験信号１１として出力する。

【００３４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
端末変換装置（ＴＡ）の折り返し試験において、試験装
置として端末速度の信号形式を扱う装置を使用でき、ま
た試験時に端末速度を予め加入者終端装置（ＳＬＴ）に
設定することを不要とし、入力された試験信号の速度に
応じて自動的に動作可能である、という効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。

【図２】本発明の一実施例の動作を示すタイムチャート
である。

【図３】従来技術の構成の一例を示すブロック図であ
る。

【図４】従来技術の動作を示すタイムチャートである。

【符号の説明】

１０ 入力試験信号 １１ 出力試験信号 １２ 信号速度指示信号 １３ 挿入試験信号 １４ 挿入指示信号 １５ 分岐試験信号 １６ 入力主信号（下り） １７ 出力主信号（下り） ２２ 入力主信号（上り） ２３ 出力主信号（上り） ５０ 加入者終端装置（ＳＬＴ） ５１ 試験信号生成測定器 ５２ 試験信号検出測定器 ５３ 速度検出部 ５４ 速度変換部 ５５ 速度逆変換部 ５６ 試験信号挿入部 ５７ 試験信号分岐部 ５８ 専用線収容装置 ５９ 回線終端装置（ＤＳＵ） ６０ 端末変換装置（ＴＡ）

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】試験信号を入力する手段と、 試験信号を出力する手段と、 試験信号を挿入する試験信号挿入手段と、 試験信号を分岐する試験信号分岐手段と、 を有する伝送装置において、 試験信号入力の速度を検出する速度検出手段と、 試験信号入力を伝送装置の主信号の形式に変換する速度
   変換手段と、 伝送装置の主信号の形式を試験信号出力に変換する速度
   逆変換手段と、 を有し、前記速度変換手段が 、前記速度検出手段において検出さ
   れた速度に従い前記試験信号入力を主信号に変換する手
   段と、試験信号を前記試験信号挿入手段に入力した主信号の位
   相と同じ位相の主信号に変換する手段と 、を備え、前記速度逆変換手段が、前記速度検出手段において検出
   された速度に従い試験信号出力に変換する手段を備え 、前記速度変換手段で 主信号の形式に変換した試験信号を
   前記試験挿入手段で主信号に挿入し、 前記試験信号分岐手段で分岐した主信号を前記速度逆変
   換手段で試験信号出力に変換する、 ことを特徴とする、試験信号挿入方式。
2. 【請求項２】請求項１記載の試験信号挿入方式におい
   て、前記速度変換 手段が、前記速度検出手段において検出さ
   れた速度に従い主信号の試験信号の位置を指示する信号
   をさらに出力し、 前記試験挿入手段が、前記試験信号位置を指示する信号
   により、試験信号を挿入する、 ことを特徴とする試験信号挿入方式。
3. 【請求項３】加入者終端装置が、試験信号の速度を検出する速度検出手段と 、試験信号を主信号に変換する速度変換手段と 、主信号を試験信号に変換する速度逆変換手段と 、試験信号を挿入する試験信号挿入手段と 、試験信号を分岐する試験信号分岐手段と 、を備え 、前記速度検出手段が、試験信号を生成出力する試験信号
   生成測定器から入力された試験信号の速度を検出して、
   前記速度変換手段と前記速度逆変換手段に通知し、 前記速度変換手段では、前記加入者終端装置に入力され
   た主信号である入力主信号下りの位相に合わせた主信号
   形式で、通知された試験信号速度に従い、割り当てられ
   たタイムスロットに試験信号を挿入した挿入試験信号を
   生成するとともに、割り当てられたタイムスロットを指
   示する信号を生成して前記試験信号挿入手段に送り 、前記試験信号挿入手段では、前記挿入試験信号に従い、
   割り当てられたタイムスロット部分に試験信号を挿入
   し、この信号を回線終端装置に出力し、 端末変換装置で折り返された主信号である入力主信号上
   りは、試験信号を分岐する前記試験信号分岐手段にて分
   岐されて前記速度逆変換手段に送られ、 前記速度逆変換手段では、前記速度検出手段から通知さ
   れた前記試験信号速度に従い、割り当てられたタイムス
   ロットから試験信号を分離し、試験信号出力として試験
   信号を検出する試験信号検出測定器に送り 、前記試験信号生成測定器及び前記試験信号検出測定器に
   てそれぞれ、端末速度の試験信号の生成及び検出により
   該当回線の測定を行う、ことを特徴とする試験信号挿入
   方式。