JP2990155B1 - Verification test pattern design apparatus and verification test pattern design method - Google Patents

Verification test pattern design apparatus and verification test pattern design method

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JP2990155B1
JP2990155B1 JP10154134A JP15413498A JP2990155B1 JP 2990155 B1 JP2990155 B1 JP 2990155B1 JP 10154134 A JP10154134 A JP 10154134A JP 15413498 A JP15413498 A JP 15413498A JP 2990155 B1 JP2990155 B1 JP 2990155B1
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Abstract

【要約】 【課題】 電子回路の回路動作を検証するためのテスト
パタンの設計と入力を効率良く行う。 【解決手段】 動作を検証する電子回路の各端子への信
号の入力指示を与える入力装置2と、入力装置2からの
入力指示に従ってテストパタン作成制御を行うテストパ
タン作成手段5と、テストパタン作成手段5からの各種
命令によりテストパタン設計の演算処理を行う演算処理
装置3と、演算処理装置3の処理結果であるテストパタ
ンの入力用の表形式(縦:パタン番号×横:端子名の
表)の画面と入力結果の波形形式(縦:端子名×横:パ
タン番号のタイムチャート)の画面を表示する出力装置
1とを備え、テストパタンの設計プロセスに基づいたテ
ストパタンの設計が行えるようにテストパタンの信号の
入力を表形式の画面で行い、入力結果を波形形式で画面
表示する。
An object of the present invention is to efficiently design and input a test pattern for verifying a circuit operation of an electronic circuit. SOLUTION: An input device 2 for giving an instruction to input a signal to each terminal of an electronic circuit for verifying an operation, a test pattern creating means 5 for performing test pattern creation control according to an input instruction from the input device 2, and a test pattern creation An arithmetic processing unit 3 for performing arithmetic processing of test pattern design in accordance with various instructions from the means 5; and a table format for inputting test patterns as processing results of the arithmetic processing unit 3 (vertical: pattern number x horizontal: table of terminal names) ) And an output device 1 for displaying a screen of a waveform format of input results (vertical: terminal name × horizontal: pattern number time chart) so that a test pattern can be designed based on a test pattern designing process. First, the input of the test pattern signal is performed on the screen in the table format, and the input result is displayed on the screen in the waveform format.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、電子回路の回路
動作を検証するためのテストパタンを設計する検証用テ
ストパタン設計装置および検証用テストパタン設計方法
に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a verification test pattern designing apparatus and a verification test pattern designing method for designing a test pattern for verifying a circuit operation of an electronic circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子回路の回路動作を検証するためのテ
ストパタンを設計する従来の検証用テストパタン設計方
式の一例が、特開平6−266790号公報に記載され
ている。この公報の図18に示すように、この従来の検
証用テストパタン設計方式では、ある一定時間を1パタ
ンとしてパタン単位に各端子の入力信号を波形形式で入
力する手段でテストパタンの設計を行っている。
2. Description of the Related Art An example of a conventional test pattern design method for designing a test pattern for verifying the circuit operation of an electronic circuit is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-266790. In this conventional test pattern design method for verification, as shown in FIG. 18 of this publication, a test pattern is designed by means of inputting the input signal of each terminal in a waveform format in a pattern unit with a certain fixed time as one pattern. ing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来のテストパタン設
計で主に用いられている波形入力方式では、テストパタ
ンを設計しながら入力するには設計および入力の効率が
低いという問題点があった。テストパタンの設計では、
パタン単位に各端子の入力信号を決めていくプロセスに
対して、波形入力方式では、端子単位に波形形式で入力
するという、テストパタン設計のプロセスと異なった入
力を行うためであり、このため波形入力方式では、机上
で最終パタンまで設計してから端子単位に波形形式で入
力するため、テストパタンを設計しながらテストパタン
を入力することが困難であった。
In the waveform input method mainly used in the conventional test pattern design, there is a problem that the efficiency of design and input is low when inputting a test pattern while designing it. In the test pattern design,
In the process of deciding the input signal of each terminal for each pattern, the waveform input method is to input in the form of a waveform for each terminal, which is different from the test pattern design process. In the input method, since a final pattern is designed on a desk and then input in a waveform format for each terminal, it is difficult to input a test pattern while designing a test pattern.

【0004】この発明の目的は、テストパタンを表形式
で入力する手段により、パタン単位に各端子の入力信号
を決めていくテストパタン設計のプロセスに沿ってテス
トパタンを入力することができる検証用テストパタン設
計装置および検証用テストパタン設計方法を提供するこ
とにある。
[0004] It is an object of the present invention to verify a test pattern by inputting test patterns in a tabular form so that a test pattern can be input in accordance with a test pattern design process of determining an input signal of each terminal in pattern units. An object of the present invention is to provide a test pattern design apparatus and a test pattern design method for verification.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この発明は、電子回路の
回路動作を検証するためのテストパタンを設計する検証
用テストパタン設計装置において、前記電子回路の各端
子への信号の入力指示を与える入力手段と、この入力手
段から入力した前記入力指示に従ってテストパタン作成
制御を行うテストパタン作成手段と、このテストパタン
作成手段からの各種命令によりテストパタン設計の演算
処理を行う演算手段と、前記入力手段からの指示を入力
するための縦がパタン番号、横が端子名である表形式の
テストパタン入力画面と、戦記演算手段の処理結果であ
る縦が端子名、横がパタン番号である波形形式のタイム
チャート画面を表示する出力手段とを備えることを特徴
とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a test pattern design apparatus for designing a test pattern for verifying a circuit operation of an electronic circuit, in which a signal input instruction is given to each terminal of the electronic circuit. input means, a test pattern generation means for performing test pattern generation control according to the input instruction input from the input means, a calculating means for performing a calculation process of the test pattern designed by various commands from the test pattern forming means, the input Enter instructions from means
Table format where the vertical number is the pattern number and the horizontal
The test pattern input screen and the processing result of the
The time in the waveform format where the vertical is the terminal name and the horizontal is the pattern number
Output means for displaying a chart screen .

【0006】また、前記テストパタン作成手段は、前記
入力手段からの前記入力指示に対応する各種手段の制御
を行う入力制御手段と、前記テストパタン入力画面に端
子名および信号の情報を表示する表・画面制御手段と、
前記タイムチャート画面に端子名および信号の情報を波
形形式で表示するタイムチャート・画面制御手段と、前
記入力手段で受け付けた前記入力指示の端子名から表示
すべき端子名情報を作成する端子名入力手段と、前記入
力手段で受け付けた前記入力指示の信号から表示すべき
信号情報を作成する信号入力手段と、既に作成されたテ
ストパタン・データを読み込むテストパタン読み込み手
段と、入力したテストパタン・データを保存するテスト
パタン保存手段とを備えることを特徴とする。
[0006] Table the test pattern generating means, for displaying the input control means for controlling the various means corresponding to said input instruction from the input means, the terminal name and the signal information of the test pattern input screen Screen control means;
The terminal name and signal information are displayed on the time chart screen.
Time chart / screen control means for displaying in the form of a terminal, terminal name input means for creating terminal name information to be displayed from the terminal name of the input instruction received by the input means, and the input instruction received by the input means Signal input means for creating signal information to be displayed from the signals of the above, test pattern reading means for reading already created test pattern data, and test pattern storage means for saving the input test pattern data. Features.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】次に、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0008】図1は、この発明の検証用テストパタン設
計装置の実施の形態を示すブロック図である。図1に示
す検証用テストパタン設計装置は、設計者がキーボード
やマウス等を操作して入力指示を行う入力装置2と、こ
の入力結果および設計されたテストパタンのディスプレ
イへの表示を含む各種情報の表示を行う出力装置1と、
作成されたテストパタン・データ41を記憶するデータ
記憶装置4と、入力装置2から入力した入力指示に従っ
てテストパタン作成制御を行うテストパタン作成手段5
と、入力装置2およびデータ記憶装置4からの各種情報
とテストパタン作成手段5からの各種命令とによりテス
トパタン設計の演算処理を行い演算処理結果を出力装置
1に出力する演算処理装置3を備えている。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a test pattern design apparatus for verification of the present invention. The test pattern design device for verification shown in FIG. 1 includes an input device 2 in which a designer operates a keyboard, a mouse, or the like to perform an input instruction, and various information including a display of the input result and the designed test pattern on a display. An output device 1 for displaying
A data storage device 4 for storing the created test pattern data 41; and a test pattern creating means 5 for performing test pattern creation control in accordance with an input instruction input from the input device 2.
And an arithmetic processing unit 3 for performing arithmetic processing of test pattern design based on various information from the input device 2 and the data storage device 4 and various instructions from the test pattern creating means 5 and outputting the arithmetic processing result to the output device 1. ing.

【0009】そして、テストパタン作成手段5は、入力
装置2からの入力指示を受け付けて対応する各種手段を
制御する入力制御手段51と、テストパタン入力画面に
端子名や信号等を表示する表・画面制御手段521と入
力した端子名および信号等をタイムチャートで表示する
タイムチャート・画面制御手段522を備える画面制御
手段52と、入力制御手段51で受け付けた入力指示の
端子名から表示する端子名情報を作成する端子名入力手
段53と、入力制御手段51で受け付けた入力指示の信
号から表示する信号情報を作成する信号入力手段54
と、データ記憶装置4から既に作成されたテストパタン
・データ41を読み込むテストパタン読み込み手段55
と、入力したテストパタン・データを保存するテストパ
タン保存手段56とを備えている。
The test pattern creating means 5 receives input instructions from the input device 2 and controls various corresponding means, and a table for displaying terminal names and signals on a test pattern input screen. A screen control means 52 including a time chart / screen control means 522 for displaying a terminal name, a signal, and the like input to the screen control means 521 in a time chart, and a terminal name displayed from a terminal name of an input instruction received by the input control means 51 A terminal name input unit 53 for creating information, and a signal input unit 54 for creating signal information to be displayed from a signal of an input instruction received by the input control unit 51
Test pattern reading means 55 for reading the already generated test pattern data 41 from the data storage device 4.
And test pattern storage means 56 for storing the input test pattern data.

【0010】なお、このテストパタン作成手段5は、全
て、記録媒体に記録されたソフトウェア(プログラム)
で構成され、このソフトウェアを演算処理装置3が実行
処理してテストパタンが設計され、テストパタンの入力
用の表形式(縦:パタン番号×横:端子名の表)の画面
と入力結果を波形形式で表すタイムチャート(縦:端子
名×横:パタン番号のタイムチャート)が表示される。
[0010] The test pattern creation means 5 is all software (program) recorded on a recording medium.
The software is executed and processed by the arithmetic processing unit 3 to design a test pattern. A screen in a table format for inputting the test pattern (vertical: pattern number × horizontal: table of terminal names) and a waveform of the input result are displayed. A time chart (vertical: terminal name × horizontal: pattern number time chart) is displayed.

【0011】次に、図1〜図4を参照してこの実施の形
態の全体の動作について詳細に説明する。図2は、この
実施の形態の動作を説明するフローチャートであり、図
3はテストパタンの入力用の表形式画面の一例を示す図
であり、図4は、テストパタンの入力結果の波形形式画
面の一例を示す図である。
Next, the overall operation of this embodiment will be described in detail with reference to FIGS. FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation of this embodiment. FIG. 3 is a view showing an example of a tabular screen for inputting a test pattern. FIG. 4 is a waveform screen of an input result of the test pattern. It is a figure showing an example of.

【0012】まず、画面制御手段52は、入力用の表・
画面G1と入力結果のタイムチャート・画面G2を出力
装置1のディスプレイに表示する(ステップS10)。
First, the screen control means 52 has a table for input.
The screen G1 and the time chart / screen G2 of the input result are displayed on the display of the output device 1 (step S10).

【0013】次に、入力制御手段51は、入力装置2の
キーボードやマウス等から入力指示を受け付ける(S2
0)。
Next, the input control means 51 receives an input instruction from a keyboard, a mouse or the like of the input device 2 (S2).
0).

【0014】ここで、データ記憶装置4内に既に作成さ
れたテストパタン・データ41が存在するときには、テ
ストパタン読み込み手段55は、データ記憶装置4から
テストパタン・データ41を読み込んで(S50)、入
力用の表・画面G1にテストパタン・データを表示し
(S83)、入力結果のタイムチャート・画面G2にテ
ストパタン・データを波形形式で表示する(S93)。
Here, when the test pattern data 41 already created exists in the data storage device 4, the test pattern reading means 55 reads the test pattern data 41 from the data storage device 4 (S50). The test pattern data is displayed on the input table / screen G1 (S83), and the test pattern data is displayed in a waveform format on the time chart / screen G2 of the input result (S93).

【0015】また、端子名を入力するには、端子名入力
手段53が表・画面G1の端子名エリアG11の位置を
認識して、入力装置2内のキーボードから入力すると
(S30)、端子名を表・画面G1の端子名エリアG1
1の認識した位置に表示し(S81)、タイムチャート
・画面G2の端子名エリアG21にも表示する(S9
1)。
To input a terminal name, the terminal name input means 53 recognizes the position of the terminal name area G11 of the table / screen G1 and inputs it from the keyboard in the input device 2 (S30). In the terminal name area G1 of the table / screen G1.
1 (S81), and is also displayed in the terminal name area G21 of the time chart / screen G2 (S9).
1).

【0016】また、テストパタンを入力するには、信号
入力手段54が表・画面G1のテストパタンエリアG1
2の位置を認識して、入力装置2内のキーボードから入
力すると(S40)、テストパタンを表・画面G1のテ
ストパタンエリアG12の認識した位置に表示し(S8
2)、タイムチャート・画面G2の波形エリアG22に
テストパタンを波形に変換して表示する(S91)。
In order to input a test pattern, the signal input means 54 operates the test pattern area G1 of the table / screen G1.
When the position of No. 2 is recognized and input from the keyboard in the input device 2 (S40), a test pattern is displayed at the recognized position in the test pattern area G12 of the table / screen G1 (S8).
2) The test pattern is converted into a waveform and displayed in the waveform area G22 of the time chart / screen G2 (S91).

【0017】なお、テストパタンは、図5の例に示す規
則に従って波形に変換し、タイムチャート・画面G2に
表示する。
The test pattern is converted into a waveform according to the rule shown in the example of FIG. 5 and displayed on the time chart / screen G2.

【0018】また、テストパタン保存手段56は、入力
したフローチャートのテストパタン・データを保存する
ことができる(S60)。
The test pattern storage means 56 can store the test pattern data of the input flowchart (S60).

【0019】さらに、テストパタン入力が終了したとき
は、入力用の表・画面G1と入力結果のタイムチャート
・画面G2を消去する(S70)。
Further, when the test pattern input is completed, the input table / screen G1 and the input result time chart / screen G2 are deleted (S70).

【0020】[0020]

【発明の効果】以上説明したように、この発明は、テス
トパタンの設計ではパタン単位に各端子の入力信号を決
めていくプロセスが、表形式(縦:パタン番号×横:端
子名の表)の画面でテストパタンの設計プロセスに沿っ
た入力が行えるため、テストパタンの設計と入力が効率
良くできるという効果を有する。
As described above, according to the present invention, in the test pattern design, the process of determining the input signal of each terminal for each pattern is performed in a table format (vertical: pattern number × horizontal: terminal name table). Since the input according to the test pattern design process can be performed on the screen of (1), there is an effect that the design and input of the test pattern can be efficiently performed.

【0021】また、この発明は、設計し入力したテスト
パタンを波形形式(縦:端子名×横:パタン番号のタイ
ムチャート)の画面で容易に確認できるという効果を有
する。テストパタンの設計と入力においては、パタン単
位に各端子の入力信号決めていくが、設計後のテストパ
タンの確認において0/1の文字で確認するより波形で
横にパタンを並べて信号の変化を見て確認するのが容易
であるためである。
Further, the present invention has an effect that the designed and inputted test pattern can be easily confirmed on a screen of a waveform format (vertical: terminal name × horizontal: pattern number time chart). In the design and input of the test pattern, the input signal of each terminal is determined for each pattern. In checking the test pattern after the design, the pattern is arranged side by side with a waveform instead of checking with 0/1 characters, and the change in signal is checked. This is because it is easy to see and confirm.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の検証用テストパタン設計装置の実施
の形態を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a verification test pattern design apparatus according to the present invention.

【図2】図1に示す実施の形態の動作を示すフローチャ
ートである。
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the embodiment shown in FIG.

【図3】この実施の形態におけるテストパタンの入力用
の表形式画面の一例を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of a tabular screen for inputting a test pattern according to the embodiment.

【図4】この実施の形態におけるテストパタンの入力結
果の波形形式画面の一例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a waveform format screen of a test pattern input result according to the embodiment;

【図5】この実施の形態における波形の変換規則の一例
を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a waveform conversion rule in this embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 出力装置 2 入力装置 3 演算処理装置 4 データ記憶装置 5 テストパタン作成手段 41 テストパタン・データ 51 入力制御手段 52 画面制御手段 53 端子名入力手段 54 信号名入力手段 55 テストパタン読み込み手段 56 テストパタン保存手段 521 表・画面制御手段 522 タイムチャート・画面制御手段 G1 表・画面 G11 表・画面の端子名エリア G12 表・画面のテストパタンエリア G2 タイムチャート・画面 G21 タイムチャート・画面の端子名エリア G22 タイムチャート・画面の波形エリア DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Output device 2 Input device 3 Arithmetic processing unit 4 Data storage device 5 Test pattern creation means 41 Test pattern data 51 Input control means 52 Screen control means 53 Terminal name input means 54 Signal name input means 55 Test pattern reading means 56 Test pattern Storage means 521 Table / screen control means 522 Time chart / screen control means G1 Table / screen G11 Table / screen terminal name area G12 Table / screen test pattern area G2 Time chart / screen G21 Time chart / screen terminal name area G22 Waveform area of time chart / screen

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/3183 G06F 11/22 310 G06F 17/50 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01R 31/3183 G06F 11/22 310 G06F 17/50

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】電子回路の動作を検証するためのテストパ
タンを設計する検証用テストパタン設計装置において、 前記電子回路の各端子への信号の入力指示を与える入力
手段と、 この入力手段から入力した前記入力指示に従ってテスト
パタン作成制御を行うテストパタン作成手段と、 このテストパタン作成手段から各種命令によりテストパ
タン設計の演算処理を行う演算処理手段と、前記入力手段からの指示を入力するための縦がパタン番
号、横が端子名である表形式のテストパタン入力画面
と、戦記演算処理手段の処理結果である縦が端子名、横
がパタン番号である波形形式のタイムチャート画面を
示する出力手段と、を備えることを特徴とする検証用テ
ストパタン設計装置。
1. A verification test pattern designing apparatus for designing a test pattern for verifying an operation of an electronic circuit, comprising: input means for giving a signal input instruction to each terminal of the electronic circuit; and input from the input means. Test pattern creation means for performing test pattern creation control in accordance with the input instruction, arithmetic processing means for performing arithmetic processing of test pattern design by various instructions from the test pattern creation means, and inputting instructions from the input means. The vertical is the pattern number
Test pattern input screen in tabular format with numbers and terminal names next to terminals
And the vertical line, which is the processing result of the battle calculation processing means, is the terminal name, and the horizontal line is
Output means for displaying a time chart screen in a waveform format in which is a pattern number .
【請求項2】前記テストパタン作成手段は、 前記入力手段からの前記入力指示に対応する各種手段の
制御を行う入力制御手段と、前記 テストパタン入力画面に端子名および信号の情報を
表示する表・画面制御手段と、前記タイムチャート画面に端子名および信号の情報を波
形形式 で表示するタイムチャート・画面制御手段と、 前記入力手段で受け付けた前記入力指示の端子名から表
示すべき端子名情報を作成する端子名入力手段と、 前記入力手段で受け付けた前記入力指示の信号から表示
すべき信号情報を作成する信号入力手段と、 既に作成されたテストパタン・データを読み込むテスト
パタン読み込み手段と、 入力したテストパタン・データを保存するテストパタン
保存手段と、を備えることを特徴とする請求項1に記載
の検証用テストパタン設計装置。
Wherein said test pattern generating means, the table that displays the input control means for controlling the various means corresponding to said input instruction from the input means, the terminal name and the signal information of the test pattern input screen -Screen control means and terminal name and signal information are displayed on the time chart screen.
Time chart / screen control means for displaying in the form of a terminal, terminal name input means for creating terminal name information to be displayed from the terminal name of the input instruction received by the input means, and the input instruction received by the input means Signal input means for creating signal information to be displayed from the signals of the above, test pattern reading means for reading already created test pattern data, and test pattern storage means for saving the inputted test pattern data. The test pattern design device for verification according to claim 1, wherein:
【請求項3】電子回路の動作を検証するためのテストパ
タンを設計する検証用テストパタン設計方法において、 入力手段から前記電子回路の各端子への信号の入力指示
を与えるステップと、 前記入力手段から入力した前記入力指示に従ってテスト
パタン作成制御を行うステップと、 このテストパタン作成制御を行うステップによる各種命
令によりテストパタン設計の演算処理を行うステップ
と、前記入力手段からの指示を入力するための縦がパタン番
号、横が端子名である表形式のテストパタン入力画面
と、戦記演算処理手段の処理結果である縦が端子名、横
がパタン番号である波形形式のタイムチャート画面を
示するステップと、を含むことを特徴とする検証用テス
トパタン設計方法。
3. A verification test pattern designing method for designing a test pattern for verifying an operation of an electronic circuit, wherein a step of inputting a signal input instruction from an input unit to each terminal of the electronic circuit is provided. Performing a test pattern creation control in accordance with the input instruction input from step (a), performing a test pattern design calculation process using various instructions by the test pattern creation control step, and inputting an instruction from the input means. The vertical is the pattern number
Test pattern input screen in tabular format with numbers and terminal names next to terminals
And the vertical line, which is the processing result of the war calculation processor, is the terminal name,
Displaying a time chart screen in the form of a waveform in which is a pattern number .
【請求項4】前記テストパタン作成制御を行うステップ
は、 前記入力手段からの前記入力指示に対応する各種ステッ
プの制御を行うステップと、前記 テストパタン入力画面に端子名および信号の情報を
表示するステップと、前記タイムチャート画面に端子名および信号の情報を波
形形式 で表示するステップと、 前記入力手段で受け付けた前記入力指示の端子名から表
示すべき端子名情報を作成するステップと、 前記入力手段で受け付けた前記入力指示の信号から表示
すべき信号情報を作成するステップと、 既に作成されたテストパタン・データを読み込むステッ
プと、 入力したテストパタン・データを保存するステップと、 を含むことを特徴とする請求項3に記載の検証用テスト
パタン設計方法。
Wherein the step of performing the test pattern creation control displays the steps for controlling the various steps corresponding to the input instruction from the input means, the terminal name and the signal information of the test pattern input screen Steps and terminal name and signal information are displayed on the time chart screen.
Displaying in the form of a terminal; generating terminal name information to be displayed from the terminal name of the input instruction received by the input means; and signal information to be displayed from the signal of the input instruction received by the input means. 4. The test pattern design method for verification according to claim 3, further comprising: creating a test pattern data; reading the already created test pattern data; and saving the input test pattern data. .
【請求項5】電子回路の動作を検証するためのテストパ
タンを設計するプログラムを記録した記録媒体におい
て、 入力手段から前記電子回路の各端子への信号の入力指示
を与えるステップと、 前記入力手段から入力した前記入力指示に従ってテスト
パタン作成制御を行うステップと、 このテストパタン作成制御を行うステップによる各種命
令によりテストパタン設計の演算処理を行うステップ
と、前記入力手段からの指示を入力するための縦がパタン番
号、横が端子名である表形式のテストパタン入力画面
と、戦記演算処理手段の処理結果である縦が端子名、横
がパタン番号である波形形式のタイムチャート画面を
示するステップと、を実行させるためのプログラムを記
録したことを特徴とする記録媒体。
5. A recording medium on which a program for designing a test pattern for verifying operation of an electronic circuit is recorded, wherein a step of giving a signal input instruction from an input unit to each terminal of the electronic circuit is provided; Performing a test pattern creation control in accordance with the input instruction input from step (a), performing a test pattern design calculation process using various instructions by the test pattern creation control step, and inputting an instruction from the input means. The vertical is the pattern number
Test pattern input screen in tabular format with numbers and terminal names next to terminals
And the vertical line, which is the processing result of the battle calculation processing means, is the terminal name, and the horizontal line is
A step of displaying a time chart screen in a waveform format in which is a pattern number; and a program for executing the step.
【請求項6】前記テストパタン作成制御を行うステップ
は、 前記入力手段からの前記入力指示に対応する各種ステッ
プの制御を行うステップと、前記 テストパタン入力画面に端子名および信号の情報を
表示するステップと、前記タイムチャート画面に端子名および信号の情報を波
形形式 で表示するステップと、 前記入力手段で受け付けた前記入力指示の端子名から表
示すべき端子名情報を作成するステップと、 前記入力手段で受け付けた前記入力指示の信号から表示
すべき信号情報を作成するステップと、 既に作成されたテストパタン・データを読み込むステッ
プと、 入力したテストパタン・データを保存するステップと、
を含むことを特徴とする請求項5に記載の記録媒体。
6. The method of performing the test pattern creation control displays the steps for controlling the various steps corresponding to the input instruction from the input means, the terminal name and the signal information of the test pattern input screen Steps and terminal name and signal information are displayed on the time chart screen.
Displaying in the form of a terminal; generating terminal name information to be displayed from the terminal name of the input instruction received by the input means; and signal information to be displayed from the signal of the input instruction received by the input means. Creating the test pattern data, reading the already created test pattern data, saving the input test pattern data,
The recording medium according to claim 5, comprising:
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