JP2986656B2

JP2986656B2 - 光電センサ

Info

Publication number: JP2986656B2
Application number: JP5192615A
Authority: JP
Inventors: 育夫西本
Original assignee: Azbil Corp
Current assignee: Azbil Corp
Priority date: 1993-08-03
Filing date: 1993-08-03
Publication date: 1999-12-06
Anticipated expiration: 2014-12-06
Also published as: JPH0750570A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光電センサに係り、
とくにその光軸調整ならびに距離設定に関するものであ
って、物体の距離を光学的に検出する変位センサあるい
は距離判定型光電スイッチ等に適用することが可能であ
る。

【０００２】

【従来の技術】光学的に物体までの距離を計測する方法
として３角測量法がある。図５は位置検出機能を有する
光電センサの基本的な動作を説明するために単線をもっ
て描いた構成図、図６は光電センサの被検出物体までの
距離Ｘと受光面上の輝点の位置Ｙとの関係を示す特性図
である。すなわち、図５において、投光部３より発せら
れた光が検出体上に輝点を作り、レンズ系２を介して受
光面上に上記輝点の像を形成する。この受光面上には光
電変換装置である受光部４が配設され、この受光部４か
ら電気信号を取り出す。受光面上の輝点像は被検出物体
６までの距離Ｘが変わると、受光面上の輝点像の位置Ｙ
が動く。従来、光の位置を検出するものとして、特公昭
５８−４２４１１号公報に見られるＰＳＤすなわち光位
置検出素子（受光エレメント）１０がある。この光位置
検出素子１０は図１に示すような構成を有し、この光位
置検出素子１０を光電変換装置に適用することで、この
光電変換装置の電気信号の値から輝点像の位置Ｙが判
り、よってＸが判る。したがってその電気信号にもとづ
き出力されるセンサの出力は距離Ｘに律された出力とな
る。なお、検出距離Ｘと受光面上の輝点像の位置Ｙとの
関係を示すと図６のようになる。

【０００３】先に、出願人は特願平４−１５４０１４号
で、受光部４、分流部１２、分流制御部１４を有し、受
光面上の特定の位置の入射光位置感度が光位置検出素子
（ＰＳＤ）に比べて任意の受光面上の位置Ｙｏ近傍で高
感度にすることができる光電変換方法およびその装置を
発明した。これはその光電変換装置を用い、受光面上の
光位置検出が高感度の位置を光判定基準位置Ｙ０とする
ことで、高感度な距離判定型光電スイッチ、変位センサ
を実現できるものである。すなわち光位置検出が高感度
な位置を光判定基準位置Ｙ０とすると、光判定基準位置
Ｙ０を設定基準距離Ｘｏに対応させることで、光電変換
装置の出力は輝点像の位置Ｙを光判定基準位置Ｙ０と比
較することになり、距離Ｘと設定基準距離Ｘｏとを比較
することになる。（Ｙ−Ｙｏ）の符号を出力するように
すれば距離判定型光電スイッチとできるし、（Ｙ−Ｙ
ｏ）の大きさに応じた信号を出力すれば変位センサとす
ることができる。

【０００４】ＸとＹとの関係はＹ＝ｇ／Ｘ又はＸ＝ｇ／Ｙ・・・・・・・・・・（１）（ただしｇは光学系で決まる常数）で表せる。よって、受光面上の輝点像の位置Ｙを検出す
れば距離Ｘを求めることができる。実際に使用する投光
素子、投光レンズ、受光レンズ、受光素子等の寸法公
差、並びに組付時の公差等を考慮すると実際には投光軸
と受光軸の相対位置にばらつきがある。これらのばらつ
きは（１）式においてＹの値に誤差を与える。この誤差
をεとすると、Ｙの値がεの値に比べて充分大きいとき
にはＸを求める演算に大きな誤差を与えないが、Ｙの値
がεの値に比べて充分大きくないときにはＸを求める演
算に大きな誤差を与える。すなわち長距離を検出すると
きに誤差が大きくなり、実用限度を越えることがあっ
た。このためレンズ、投光素子、受光素子等の光学系の
部品間の相対位置の許される誤差範囲が極めて狭くな
り、精密な部品が必要であったり、光学系部品の組付時
に精密な位置合わせ調整が必要であった。

【０００５】また、操作部の操作量に対して受光面上の
光判定基準位置Ｙ０が比例的に対応すると、設定基準距
離Ｘｏと光判定基準位置Ｙ０との関係も（１）式で表せ
るので、操作量と設定基準距離Ｘｏの非線形が光学系等
により極端になることがあり、実用限界を越えることが
あった。このため、操作部の操作量に対して光判定基準
位置Ｙ０の関係が（１）の非線形を低減する逆非線形を
持つことが望ましい。上記非線形は光学系の寸法、設定
範囲等で決まるので、この値を予測して補正する手段が
必要である。しかし、光学系の寸法、設定範囲等等の変
更は非線形の関数の定数が変わってしまうので上記非線
形補正手段は固定関数でなく常数を簡単に変えられるも
のでなくてはならない。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】この発明が解決しよう
とする第１の課題は、上述のように、投光素子、投光レ
ンズ、受光レンズ、受光素子等の寸法公差、並びに組付
時の公差等を考慮すると、実際には投光軸と受光軸の相
対位置にばらつきがあることである。とくに光学系部品
の組付時に精密な位置合わせ調整を行なうことは時間を
要し、精密調整用の精密位置合わせ機構が必要であるこ
とである。

【０００７】この発明が解決しようとする第２の課題
は、光判定基準位置Ｙ０と設定基準距離Ｘｏの非線形関
係が光学系の条件、距離設定範囲等により極端となり、
実用限界を越える怖れがあることである。

【０００８】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたものであり、請求項１の発明は、機構的
な精密位置合わせの代わりに電気的な調整で光軸の相対
誤差を補正する装置を提供することを目的とする。

【０００９】請求項２の発明は、操作部の操作量と光判
定基準位置との関係が受光免状の輝点像の位置と被検出
物体までの距離の非線形を補正する逆非線形関係を有
し、かつこの逆非線形の程度、すなわち距離設定が簡単
に変更できる装置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明に係る光電セン
サは、従来の光位置検出素子に代え、受光エレメントを
用いるもので、請求項１の発明は、被検出体の変位に伴
い結像が移動する方向に配列されたｎ（ｎ＞２）個の受
光エレメント１０と、この各受光エレメント１０１、１
０２、・・・、１０ｎの各光電流Ｉ１、Ｉ２、・・・、
Ｉｎを所定比率ｋ１と１−ｋ１、ｋ２と１−ｋ２、・・
・ｋｎと１−ｋｎに分割して第１、第２の光電流出力端
にそれぞれ導くｎ個の分流器と、第１、第２の光電流出
力を入力としてその比率に基づき検出信号を演算する演
算部と、参照抵抗と設定抵抗とを有する操作部を含み参
照抵抗と設定抵抗の抵抗比率を設定する設定部と、上記
所定比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎをｋ１＞０．５＞ｋｎ
及びｋｐ≧ｋｍ（ｐ＝ｍ−１；ｍ＝２〜ｎ）なる関係を
保って制御する分流制御部と、上記参照抵抗は抵抗値を
修正することで設定抵抗値との比率を補正し、参照抵抗
値と設定抵抗値の比率により定まる上記所定比率ｋ１、
ｋ２、・・・ｋｎを修正し、もって、上記被検出体が所
定の距離の時に上記第１、第２の光電流が所望の比率と
なるようにするトリミング抵抗とを備えたものである。

【００１１】請求項２の発明は、被検出体の変位に伴い
結像が移動する方向に配列されたｎ（ｎ＞２）個の受光
エレメント１０と、この各受光エレメント１０１、１０
２、・・・、１０ｎの各光電流Ｉ１、Ｉ２、・・・、Ｉ
ｎを所定比率ｋ１と１−ｋ１、ｋ２と１−ｋ２、・・・
ｋｎと１−ｋｎに分割して第１、第２の光電流出力端に
それぞれ導くｎ個の分流器と、第１、第２の光電流出力
を入力としてその比率に基づき検出信号を出力する演算
部と、参照抵抗と設定抵抗とを有する操作部を含み参照
抵抗と設定抵抗の抵抗比率を設定する設定部と、所定比
率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎをｋ１＞０．５＞ｋｎ及びｋ
ｐ≧ｋｍ（ｐ＝ｍ−１；ｍ＝２〜ｎ）なる関係を保って
制御する分流制御部と、上記参照抵抗は抵抗値を修正す
ることで設定抵抗値との比率を補正し、参照抵抗値と設
定抵抗値の比率により定まる上記所定比率ｋ１、ｋ２、
・・・ｋｎを修正し、もって、上記被検出体が所定の距
離の時に上記第１、第２の光電流が所望の比率となるよ
うにするトリミング抵抗とを備えたものである。

【００１２】

【作用】第１の発明は、ｎ個の分流器により受光エレメ
ント１０１、１０２、・・・、１０ｎの各光電流Ｉ１、
Ｉ２、・・・、Ｉｎを所定比率ｋ１と１−ｋ１、ｋ２と
１−ｋ２、・・・ｋｎと１−ｋｎに分割して第１、第２
の光電流出力端にそれぞれ導くとともに、演算部により
第１、第２の光電流出力を演算し、分流制御部により所
定比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎをｋ１＞０．５＞ｋｎ及
びｋｐ≧ｋｍ（ｐ＝ｍ−１；ｍ＝２〜ｎ）なる関係を保
って制御し、さらに分流制御部において、参照抵抗と設
定抵抗との比率により分割比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎ
を調整し、投光軸と受光軸のずれを補正する。

【００１３】請求項２の発明は、ｎ個の分流器により各
受光エレメント１０１、１０２、・・・、１０ｎの各光
電流Ｉ１、Ｉ２、・・・、Ｉｎを所定比率ｋ１と１−ｋ
１、ｋ２と１−ｋ２、・・・ｋｎと１−ｋｎに分割して
第１、第２の光電流出力端にそれぞれ導くとともに、演
算部により上記第１、第２の光電流出力を演算し、分流
制御部により上記所定比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎをｋ
１＞０．５＞ｋｎ及びｋｐ≧ｋｍ（ｐ＝ｍ−１；ｍ＝２
〜ｎ）なる関係を保って制御し、さらにこの分流制御部
において、この参照抵抗と設定抵抗との比率により分割
比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎを調整し、これによって光
電センサの距離を設定する。

【００１４】

【実施例】以下この発明の一実施例を図によって説明す
る。図１は光電センサのブロック図、図２は図１におけ
る分流部と分流制御部をより具体的に示す回路図、図３
は図１における受光部に配列される受光エレメントの配
列を示す平面図である。図４は本発明の受光部の光位置
検出感度を説明する特性図である。図３に示すようなｎ
個の受光エレメント１０を被検出体の変位に伴い結像が
移動する方向に図１の受光部４に配列する。図１におい
て、４は受光部、１２は分流部、１３は差動アンプ部、
１４は分流制御部である。分流制御部１４には設定部２
６が接続される。そしてこの設定部２６の一部には操作
部１５が設けられる。なおこの設定部２６は言うまでも
なく、分流制御部１４とともに、回路的に一体に形成す
ることも可能であるが、理解を容易にするために分流制
御部１４と分離して画かれている。そして受光部４には
図３に示すようなｎ個の受光エレメント１０が図５に示
す被検出体の変位に伴い結像が移動する方向に配列され
る。受光部からの信号を処理し出力信号とするまでの中
で、本発明の要部は図１に示す受光部４、分流部１２お
よび分流制御部１４であるのでこれらについて図２を参
照して、より詳しく説明する。図２において、１６は演
算部である。今、ａ点にボルツマン電圧Ｖｔ（＝ｋＴ／
ｑ）に比例した電圧αＶｔが生じ、トランジスタＱ１と
トランジスタＱ２の大きさの比によりαが決まることが
知られている。よってｂ点の電圧は参照抵抗Ｒｒｅｆの
大きさによらずαＶｔとなる。固定抵抗Ｒｐと設定抵抗
ＶＲ１との合成抵抗すなわち設定抵抗の値Ｒｖｐ１と参
照抵抗Ｒｒｅｆとの比によりｃ点に電圧が生じる。ｃ点
の電圧は所定値だけシフトされｄ点の電圧となる。この
電圧を設定電圧と呼ぶ。設定抵抗ＶＲ１の大きさを変え
ると設定電圧はそれに応じて連続的に変化する。抵抗Ｒ
１に流れる電流に比例した電流がｅ点より流れるのでｆ
点、ｇ点、ｈ点の順に電圧が小さくなっていき、その電
圧差は抵抗Ｒ１と抵抗Ｒｊの比とボルツマン電圧Ｖｔと
で決まる一定値である。この電圧が参照電圧となる。こ
の図においてＲｊとその前後の計３つの抵抗だけしか示
していないが、受光エレメント１０の数だけこの抵抗が
直列に接続される。多数の受光エレメント１０１、１０
２、１０３・・・１０ｎのうちｊ番目とその前後の計３
つを示して残りの受光エレメントは省略してある。ま
た、分流部１２も同様にｊ番目とその前後の計３つだけ
を示してある。各分流部はエミッタをたがいに接続した
一対のトランジスタを有する。このエミッタに各受光エ
レメントが接続され、各トランジスタの一方のコレクタ
が第１の電流出力端ｐに接続され、各トランジスタの他
方のコレクタが第２の電流出力端ｑに接続される。これ
によりｎ個の受光エレメントのｎ本の光電流信号はｐ、
ｑの２つの信号に変換される。各トランジスタの一方の
ベースには参照電圧を他方のベースには設定電圧が与え
られる。設定電圧は各分流器とも同一の電圧であるが、
参照電圧は各分流器で所定の電位差を持っていてその差
はボルツマン電圧Ｖｔの定数倍したものである。

【００１５】今、設定抵抗ＶＲ１の値により設定電圧が
ｊ番目の参照電圧Ｖｊに近い場合を考える。隣り合った
分流器の参照電圧の差を適当に設計することにより、１
番目からｊ−２番目までの全ての分流器の参照電圧は設
定電圧より十分小さく受光エレメントの光電流のほとん
どすべてを第１の電流出力端ｐに、ｊ＋２番目からｎ番
目までの全ての分流器の参照電圧は設定電圧より十分大
きく受光エレメント１０の光電流のほとんどすべてを第
２の電流出力端ｑに分流していると見なすことが出来
る。ｊ−１番目の分流器の参照電圧は設定電圧より低い
ので受光エレメント１０の光電流を第１の電流出力端ｐ
に電流の多くを分流し、ｊ＋１番目の分流器の参照電圧
は設定電圧より高いので受光エレメント１０の光電流を
第２の電流出力端ｑに電流の多くを分流する。ｊ番目の
受光エレメント１０の光電流は第１の電流出力端ｐと第
２の電流出力端ｑに分流する。このようにすることで第
１の電流出力端ｐの電流をＩａ、第２の電流出力端ｑの
電流をＩｂとすると、図４に示すようにｊ番目近傍の入
射光の位置に対しては入射光位置の変化に対して敏感な
出力特性が得られる。すなわち、ｊ番目近傍は受光部全
長がＬｅに小さくなった光位置検出素子（ＰＳＤ）の特
性と等価であり、Ｌ／Ｌｅ倍の感度が得られる。この敏
感な特性の位置を光判定基準位置Ｙ０とする。以上述べ
たように、受光面が光を受けて第１の電流出力端ｐと第
２の電流出力端ｑからの２つの出力を有する２分割受光
素子と類似の機能となる。また演算部１６は上記２つの
電流Ｉａ、Ｉｂを入力とし所望の出力を得る。設定抵抗
ＶＲ１の値を操作することで上記ｊ番目は１番目からｎ
番目までその間の任意の位置に光判定基準位置Ｙ０を自
由に設定できる。光判定基準位置Ｙ０が判定基準距離Ｘ
０に対応しているので、設定抵抗ＶＲ１の値を変えるこ
とで判定基準距離Ｘ０を操作できる。

【００１６】今、設定抵抗ＶＲ１の操作量をｈ（ｈ＝０
〜１００％）としその時の合成抵抗Ｒｖｐ１の値をＲｖ
ｐ１（ｈ）、Ｒｖｐ１（ｈ）に対応する受光面上の光判
定基準位置をＹ０（ｈ）、Ｙ０（ｈ）に対応する判定基
準距離をＸ０（ｈ）と書くことにする。ｊの値が大きく
なるにつれてＹの値が小さくなるようにＹ軸の方向を定
める。このようにすると、設定抵抗ＶＲ１の調整量がＶ
Ｒ１＝０％のとき光判定基準位置Ｙ０（ｈ）は最大で判
定基準距離Ｘ０（ｈ）は最小であり、設定抵抗ＶＲ１の
調整量がＶＲ１＝１００％のとき光判定基準位置Ｙ０
（ｈ）は最小で判定基準距離Ｘ０（ｈ）は最大となる。
いま光軸がずれの影響が最も大きいのは前述のとおりＹ
の値が最小のときすなわちＸが最大のときであるのでｈ
＝１００の場合を考える。判定基準距離Ｘ０（１００）
の所の物体に存在すると受光面上の輝点像は光判定基準
位置Ｙ０（１００）に位置せず、光軸ずれのため｛Ｙ０
（１００）＋δ｝であったとする。この状態では判定基
準距離Ｘ０（１００）の近傍で距離Ｘが変化しても距離
Ｘに対応する受光面上の輝点の位置ＹがＹ０（１００）
近傍で変化せず電流Ｉａ、Ｉｂから演算される距離は実
際の距離Ｘに対して非常に大きな誤差を持つことにな
る。

【００１７】そこで参照抵抗Ｒｒｅｆをトリミングする
ことで参照抵抗Ｒｒｅｆに流れる電流が変わるので合成
抵抗Ｒｖｐ１に生じている電圧が変わり、結果として光
判定基準位置Ｙ０が変わっていくことになる。よって、
光判定基準位置Ｙ０が｛Ｙ０（１００）＋δ｝まで変え
ることで光軸ずれがない場合と同様の電流Ｉａ、Ｉｂが
得られることになる。すなわち、電流Ｉａ、Ｉｂが所定
の値になるようにＲｒｅｆをトリミングすることにより
ｈ＝１００で判定基準距離Ｘ０（１００）上に物体があ
るときの誤差が補正されたことになる。この方法によれ
ば、設定抵抗ＶＲ１と固定抵抗Ｒｐとの関係は変化がな
いので設定抵抗ＶＲ１の操作量ｈと合成抵抗Ｒｖｐ１と
で設定されている逆非線形に影響を与えない。以上判定
基準距離Ｘ０（１００）で光軸ずれの誤差の補正につい
て述べたが、判定基準距離Ｘ０が近い場合の誤差は
（１）式よりわかるように影響が少ないので本方法によ
り実質的に光軸のずれがほとんどないのと等価となる。
これが請求項１の発明である。

【００１８】操作量ｈと合成抵抗値Ｒｖｐ１の関係は、
ｈ＝０であると合成抵抗Ｒｖｐ１＝０となる。ｈが小さ
くＶＲ１（ｈ）＜Ｒｐのときは合成抵抗Ｒｖｐ１は合成
抵抗Ｒｖｐ１（ｈ）に近いのでｈが変化したときの合成
抵抗Ｒｖｐ１の変化も大きいが、ＶＲ１（ｈ）＞Ｒｐと
なるようにｈが大きい時は合成抵抗Ｒｖｐ１は固定抵抗
Ｒｐに近いのでｈが変化したときの合成抵抗Ｒｖｐ１の
変化が小さくなる。この非線形はＸ−Ｙ非線形を補正す
る傾向の非線形でありｈとＸ０の関係を線形に近づける
ことができる。

【００１９】

【発明の効果】以上説明したように請求項１の発明にお
ける光電センサの光軸調整装置によれば、とくに参照抵
抗と設定抵抗の抵抗比率を設定する操作部１５を含む設
定部と、上記所定比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎをｋ１＞
０．５＞ｋｎ及びｋｐ≧ｋｍ（ｐ＝ｍ−１；ｍ＝２〜
ｎ）なる関係を保って上記参照抵抗と設定抵抗との比率
により定める分流制御部１４と、上記参照抵抗は抵抗値
を修正することで設定抵抗値との比率を補正し、参照抵
抗値と設定抵抗値の比率により定まる上記所定比率ｋ
１、ｋ２、・・・ｋｎを修正し、もって、上記被検出体
が所定の距離の時に上記第１、第２の光電流が所望の比
率となるようにするトリミング抵抗とで構成したので、
光学系の部品公差、組付時の位置公差等により生じる光
位置検出装置の出力を電気的な抵抗トリミングで補正で
き、かつＸ−Ｙ非線形補正に影響を与えずに行うことが
できるという効果がある。

【００２０】また請求項２の発明における光電センサの
距離設定装置によれば、参照抵抗と、可変抵抗および固
定抵抗の並列回路からなる設定抵抗とにより構成され、
この参照抵抗と設定抵抗との比率により分割比率ｋ１、
ｋ２、・・・ｋｎを調整し、光電センサの距離を設定す
る設定部とを備えているので、Ｘ−Ｙ非線形補正を２つ
の抵抗部品だけで簡単に行なえ、請求項１の光軸調整装
置と併用でき、設定抵抗以外を集積回路としても外付部
品となる設定抵抗だけで非線形を自由に設定でき、さら
に光学系の違う多種製品に対して同一集積回路で対応で
きるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明における光電センサの一実施例を示す
ブロック図である。

【図２】図１における分流部と分流制御部をより具体的
に示す回路図であり、本発明の方法を具体的に説明する
回路図である。

【図３】図１における受光部に配列される受光エレメン
トの配列を示す平面図である。

【図４】この発明における光電センサの受光部の光位置
検出感度を説明する特性図である。

【図５】位置検出機能を有する光電センサの基本的な動
作を説明するために単線をもって描いた構成図である。

【図６】光電センサの被検出物体までの距離Ｘと受光面
上の輝点の位置Ｙとの関係を示す特性図である。

【符号の説明】

１光電センサ２レンズ系３投光部４受光部６被検出物体１０受光エレメント１２分流部１４分流制御部１５操作部１６演算部２６設定部Ｒｐ固定抵抗ＶＲ１設定抵抗Ｒｒｅｆ参照抵抗

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) H03K 17/78 - 17/98 G01B 11/00 G01C 3/06

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】投光軸を通して被検出物体上に光を照射
するとともに、この被検出物体上に輝点を作る投光部
と、上記被検出物体からの光をレンズ系を介して受け、
かつ上記被検出物体上の輝点の像を結像させる受光面を
有する受光部と、上記受光面上において、被検出体の変
位に伴い結像が移動する方向に配列されたｎ（ｎ＞２）
個の受光エレメントと、この各受光エレメントの各光電
流を所定比率ｋ１と１−ｋ１、ｋ２と１−ｋ２、・・・
ｋｎと１−ｋｎに分割して第１、第２の光電流出力端に
それぞれ導くｎ個の分流器を有する分流部と、上記第
１、第２の光電流出力を入力としてその比率に基づき検
出信号を演算する演算部と、参照抵抗と設定抵抗とを有
する操作部を含み参照抵抗と設定抵抗の抵抗比率を設定
する設定部と、上記所定比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎを
ｋ１＞０．５＞ｋｎ及びｋｐ≧ｋｍ（ｐ＝ｍ−１；ｍ＝
２〜ｎ）なる関係を保って上記抵抗比率に基づき定める
分流制御部と、上記参照抵抗は抵抗値を修正することで
設定抵抗値との比率を補正し、参照抵抗値と設定抵抗値
の比率により定まる上記所定比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋ
ｎを修正し、もって、上記被検出体が所定の距離の時に
上記第１、第２の光電流が所望の比率となるようにする
トリミング抵抗とを備えた光電センサ。
【請求項２】投光軸を通して被検出物体上に光を照射
するとともに、この被検出物体上に輝点を作る投光部
と、上記被検出物体からの光をレンズ系を介して受け、
かつ上記被検出物体上の輝点の像を結像させる受光面を
有する受光部と、上記受光面上において、被検出体の変
位に伴い結像が移動する方向に配列されたｎ（ｎ＞２）
個の受光エレメントと、この各受光エレメントの各光電
流を所定比率ｋ１と１−ｋ１、ｋ２と１−ｋ２、・・・
ｋｎと１−ｋｎに分割して第１、第２の光電流出力端に
それぞれ導くｎ個の分流器を有する分流部と、上記第
１、第２の光電流出力を入力としてその比率に基づき検
出信号を出力する演算部と、参照抵抗と設定抵抗とを有
する操作部を含み参照抵抗と設定抵抗の抵抗比率を設定
する設定部と、上記所定比率ｋ１、ｋ２、・・・ｋｎを
ｋ１＞０．５＞ｋｎ及びｋｐ≧ｋｍ（ｐ＝ｍ−１；ｍ＝
２〜ｎ）なる関係を保って上記抵抗比率に基づき定めら
れる分流制御部と、上記参照抵抗は抵抗値を修正するこ
とで設定抵抗値との比率を補正し、参照抵抗値と設定抵
抗値の比率により定まる上記所定比率ｋ１、ｋ２、・・
・ｋｎを修正し、もって、上記被検出体が所定の距離の
時に上記第１、第２の光電流が所望の比率となるように
するトリミング抵抗とを備えた光電センサ。