JP2978327B2 - 板圧延のエッジドロップ制御方法 - Google Patents
板圧延のエッジドロップ制御方法Info
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- JP2978327B2 JP2978327B2 JP4095558A JP9555892A JP2978327B2 JP 2978327 B2 JP2978327 B2 JP 2978327B2 JP 4095558 A JP4095558 A JP 4095558A JP 9555892 A JP9555892 A JP 9555892A JP 2978327 B2 JP2978327 B2 JP 2978327B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ロ−ル胴端部が先細り
となったワ−クロ−ルおよび該ワ−クロ−ルを胴軸に沿
う方向に駆動するシフト機構を有する圧延機で板圧延す
るにおいて、該シフト機構を用いるエッジドロップの制
御に関する。
となったワ−クロ−ルおよび該ワ−クロ−ルを胴軸に沿
う方向に駆動するシフト機構を有する圧延機で板圧延す
るにおいて、該シフト機構を用いるエッジドロップの制
御に関する。
【０００２】
【従来技術】例えば冷間連続圧延では、高速圧延および
エッジドロップ改善のため、複数個の圧延スタンドで順
次圧延し、その中の１個以上の圧延スタンドでエッジド
ロップを制御する。例えば、圧延機入側の圧延材のエッ
ジドロップ（入側エッジドロップ），圧延機のロ−ルシ
フト量および圧延機出側の圧延材のエッジドロップ（出
側エッジドロップ）の関係を表わすエッジドロップ予測
モデル式を用いて所要の出側エッジドロップ（出側エッ
ジドロップ目標値）を得るに要するロ−ルシフト量を算
出しこれを圧延機に設定する。
エッジドロップ改善のため、複数個の圧延スタンドで順
次圧延し、その中の１個以上の圧延スタンドでエッジド
ロップを制御する。例えば、圧延機入側の圧延材のエッ
ジドロップ（入側エッジドロップ），圧延機のロ−ルシ
フト量および圧延機出側の圧延材のエッジドロップ（出
側エッジドロップ）の関係を表わすエッジドロップ予測
モデル式を用いて所要の出側エッジドロップ（出側エッ
ジドロップ目標値）を得るに要するロ−ルシフト量を算
出しこれを圧延機に設定する。
【０００３】ところで、実際の圧延過程では、圧延条件
がたえず変化し、モデル式の、入力（入側エッジドロッ
プ，出側エッジドロップ目標値）と出力（設定すべきロ
−ルシフト量）の間の関係を規定する係数，定数（モデ
ルパラメ−タ）がオフラインで定められるものであるの
で、エッドロップ制御精度が常に保証されるとは限ら
ず、圧延条件特に圧延機の経時的な圧延特性の変化によ
りかなりの制御誤差を生ずることがある。そこで、本発
明者等は、実際に圧延したときの、入側エッジドロッ
プ，ロ−ルシフト量および出側エッジドロップ等の実績
デ−タに基づいて、この実績デ−タに整合するようにエ
ッジドロップ予測モデル式のモデルパラメ−タを更新す
ることを提案した（例えば特願平２−３６２１０号，特
願平２−２０８２０３号）。これによれば、圧延条件の
変化に連動して、エッジドロップ予測モデル式が最新の
圧延条件に適合するものに更新され、すなわちエッジド
ロップ予測モデル式が学習により更新され、概ね高いエ
ッジドロップ制御精度が安定して確保される。
がたえず変化し、モデル式の、入力（入側エッジドロッ
プ，出側エッジドロップ目標値）と出力（設定すべきロ
−ルシフト量）の間の関係を規定する係数，定数（モデ
ルパラメ−タ）がオフラインで定められるものであるの
で、エッドロップ制御精度が常に保証されるとは限ら
ず、圧延条件特に圧延機の経時的な圧延特性の変化によ
りかなりの制御誤差を生ずることがある。そこで、本発
明者等は、実際に圧延したときの、入側エッジドロッ
プ，ロ−ルシフト量および出側エッジドロップ等の実績
デ−タに基づいて、この実績デ−タに整合するようにエ
ッジドロップ予測モデル式のモデルパラメ−タを更新す
ることを提案した（例えば特願平２−３６２１０号，特
願平２−２０８２０３号）。これによれば、圧延条件の
変化に連動して、エッジドロップ予測モデル式が最新の
圧延条件に適合するものに更新され、すなわちエッジド
ロップ予測モデル式が学習により更新され、概ね高いエ
ッジドロップ制御精度が安定して確保される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、エッジドロ
ップ予測モデル式は例えば、 Ｄx＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋Ｅx ・・・(1p) と表わされ、第１パスの圧延を行なう第１スタンド，第
２パスの圧延を行なう第１スタンドおよび第３パスの圧
延を行なう第３スタンドの、それぞれのロ−ルシフト量
ＨＣＷ1，ＨＣＷ2，ＨＣＷ3（すなわちｓ＝１，２およ
び３）でエッジドロップを制御する場合は、(1p)式は例
えば、 Ｄx＝Ａx1・ＨＣＷ1 2＋Ａx2・ＨＣＷ2 2＋Ａx3・ＨＣＷ3 2＋Ｃx・Γx＋Ｅx ・・・(2p) と定めている。記号は次の事項を表わす。 Ｄx：基準点を板側端から板中央側に100ｍｍの点とし
た、板側端からｘの点（板端点）の、出側エッジドロッ
プ。 ＨＣＷ1：第１スタンド１ｓｔのロ−ルシフト量。 ＨＣＷ2：第２スタンド２ｓｔのロ−ルシフト量。 ＨＣＷ3：第３スタンド３ｓｔのロ−ルシフト量。 Γx：鋼板１の入側エッジドロップ。 Ａx1〜Ａx3，Ｃx：影響係数。 Ｅx：定数。 例えば、ｘ＝１５ｍｍおよび２５ｍｍの出側エッジドロ
ップＤ15，Ｄ25は次の(2p15)式および(2p25)式で表わさ
れる。
ップ予測モデル式は例えば、 Ｄx＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋Ｅx ・・・(1p) と表わされ、第１パスの圧延を行なう第１スタンド，第
２パスの圧延を行なう第１スタンドおよび第３パスの圧
延を行なう第３スタンドの、それぞれのロ−ルシフト量
ＨＣＷ1，ＨＣＷ2，ＨＣＷ3（すなわちｓ＝１，２およ
び３）でエッジドロップを制御する場合は、(1p)式は例
えば、 Ｄx＝Ａx1・ＨＣＷ1 2＋Ａx2・ＨＣＷ2 2＋Ａx3・ＨＣＷ3 2＋Ｃx・Γx＋Ｅx ・・・(2p) と定めている。記号は次の事項を表わす。 Ｄx：基準点を板側端から板中央側に100ｍｍの点とし
た、板側端からｘの点（板端点）の、出側エッジドロッ
プ。 ＨＣＷ1：第１スタンド１ｓｔのロ−ルシフト量。 ＨＣＷ2：第２スタンド２ｓｔのロ−ルシフト量。 ＨＣＷ3：第３スタンド３ｓｔのロ−ルシフト量。 Γx：鋼板１の入側エッジドロップ。 Ａx1〜Ａx3，Ｃx：影響係数。 Ｅx：定数。 例えば、ｘ＝１５ｍｍおよび２５ｍｍの出側エッジドロ
ップＤ15，Ｄ25は次の(2p15)式および(2p25)式で表わさ
れる。
【０００５】 Ｄ15＝Ａ15・1・ＨＣＷ1 2＋Ａ15・2・ＨＣＷ2 2＋Ａ15・3・ＨＣＷ3 2 ＋Ｃ15・Γ15＋Ｅ15 ・・・(2p15) Ｄ25＝Ａ25・1・ＨＣＷ1 2＋Ａ25・2・ＨＣＷ2 2＋Ａ25・3・ＨＣＷ3 2 ＋Ｃ25・Γ25＋Ｅ25 ・・・(2p25) そして、圧延中の入側エッジドロップΓxt，ロ−ルシフ
ト量ＨＣＷsおよび出側エッジドロップＤxtを記憶し、
記憶した値の内の、入側エッジドロップΓxtとロ−ルシ
フト量ＨＣＷsをエッジドロップ予測モデル式(2p)に代
入して得られる出側エッジドロップ値と、上記記憶した
出側エッジドロップＤxtとの偏差が実質上最小となる、
エッジドロップ予測モデル式(2p)のＡx1〜Ａx3，Ｃxお
よびＥxを算出し、エッジドロップ予測モデル式(2p)の
Ａx1〜Ａx3，ＣxおよびＥxを算出値に更新するが、Ａx1
〜Ａx3，ＣxおよびＥxの算出に例えば遂次最小二乗法を
用いると、対角ゲイン行列の定数設定が難かしく、しか
も算出すべきパラメ−タがＡx1〜Ａx3，ＣxおよびＥxと
多いので、多くの実績デ−タ数と多くの演算処理が必要
であり、比較的に短周期でエッジドロップ予測モデル式
(2p)を学習更新しにくいという問題がある。
ト量ＨＣＷsおよび出側エッジドロップＤxtを記憶し、
記憶した値の内の、入側エッジドロップΓxtとロ−ルシ
フト量ＨＣＷsをエッジドロップ予測モデル式(2p)に代
入して得られる出側エッジドロップ値と、上記記憶した
出側エッジドロップＤxtとの偏差が実質上最小となる、
エッジドロップ予測モデル式(2p)のＡx1〜Ａx3，Ｃxお
よびＥxを算出し、エッジドロップ予測モデル式(2p)の
Ａx1〜Ａx3，ＣxおよびＥxを算出値に更新するが、Ａx1
〜Ａx3，ＣxおよびＥxの算出に例えば遂次最小二乗法を
用いると、対角ゲイン行列の定数設定が難かしく、しか
も算出すべきパラメ−タがＡx1〜Ａx3，ＣxおよびＥxと
多いので、多くの実績デ−タ数と多くの演算処理が必要
であり、比較的に短周期でエッジドロップ予測モデル式
(2p)を学習更新しにくいという問題がある。
【０００６】一方、出側エッジドロップの、目標値に対
する偏差（出側エッジドロップ偏差）を極力小さくする
ため、モデルパラメ−タの更新を頻繁にすると、この更
新によりエッジドロップ予測モデル式が特殊化して行
く。すなわち、圧延条件のある特定の小範囲において最
適の解を得る形に変化する。その結果、該小範囲を外れ
る圧延条件の変化があると、そこで制御誤差が一時的に
大きくなりそして次第に小さく収束する。つまり、圧延
条件の変化が小範囲で長期に安定する場合には、非常に
高精度なエッジドロップ制御が実現するが、圧延条件が
比較的に大きく速く変化するときに、例えば入側エッジ
ドロップが比較的に大きく変化したときに、エッジドロ
ップ制御精度が低下するなど、制御精度が不安定にな
る。モデルパラメ−タＡx1〜Ａx3，ＣxおよびＥxの更新
頻度を比較的に低くし出側エッジドロップ偏差をある程
度許すことにより、エッジドロップ制御精度は安定する
が、比較的に低い。このように、制御精度の向上と安定
性とが両立しにくいという問題がある。
する偏差（出側エッジドロップ偏差）を極力小さくする
ため、モデルパラメ−タの更新を頻繁にすると、この更
新によりエッジドロップ予測モデル式が特殊化して行
く。すなわち、圧延条件のある特定の小範囲において最
適の解を得る形に変化する。その結果、該小範囲を外れ
る圧延条件の変化があると、そこで制御誤差が一時的に
大きくなりそして次第に小さく収束する。つまり、圧延
条件の変化が小範囲で長期に安定する場合には、非常に
高精度なエッジドロップ制御が実現するが、圧延条件が
比較的に大きく速く変化するときに、例えば入側エッジ
ドロップが比較的に大きく変化したときに、エッジドロ
ップ制御精度が低下するなど、制御精度が不安定にな
る。モデルパラメ−タＡx1〜Ａx3，ＣxおよびＥxの更新
頻度を比較的に低くし出側エッジドロップ偏差をある程
度許すことにより、エッジドロップ制御精度は安定する
が、比較的に低い。このように、制御精度の向上と安定
性とが両立しにくいという問題がある。
【０００７】本発明は、エッジドロップ制御精度を高く
しかつ安定したものとすることを目的とする。
しかつ安定したものとすることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明では、ロ−ル胴端
部が先細りとなったワ−クロ−ルおよび該ワ−クロ−ル
を胴軸に沿う方向に駆動するシフト機構を有する圧延機
で板圧延するにおいて、（Ａ） 圧延機入側の圧延材の
エッジドロップΓx，圧延機のロ−ルシフト量ＨＣＷsお
よび圧延機出側の圧延材のエッジドロップＤxの関係を
表わすエッジドロップ予測モデル式 Ｄx＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ1＋ｆ2 ・・・(1i) Ｄx：基準点から板中央側にｘの距離の板端点の出側エ
ッジドロップ、 Γx：入側エッジドロップ、 Ｅx：モデルパラメ−タ、 ＨＣＷs：第ｓパスのロ−ルシフト量、 ｆ1：学習項、 ｆ2：学習項、 を用いて所要の出側エッジドロップＤxoを得るに要する
ロ−ルシフト量ＨＣＷsoを算出しこれを圧延機に設定
し、（Ｂ） 圧延中の圧延条件に基づいて算出した値Ｄ
x’＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ2と実測出側エッジドロッ
プＤxtに基づいて、第１指数平滑処理により学習項ｆ1
の学習値ｆ1i+1を算出して学習項ｆ1の値をこの算出値
ｆ1i+1に更新し、（Ｃ） 圧延中の実測出側エッジドロ
ップＤxtと、このエッジドロップを得た圧延条件に基づ
いて算出した値Ｄx”＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ1に基づ
いて、第２指数平滑処理により学習項ｆ2の学習値ｆ
2t+1を算出して学習項ｆ2の値をこの算出値ｆ2t+1に更
新し、（Ｄ） 第１指数平滑処理による学習項ｆ1の更
新よりも、第２指数平滑処理による学習項ｆ2の更新
を、高頻度にして同一コイル内で繰返し実行する。
部が先細りとなったワ−クロ−ルおよび該ワ−クロ−ル
を胴軸に沿う方向に駆動するシフト機構を有する圧延機
で板圧延するにおいて、（Ａ） 圧延機入側の圧延材の
エッジドロップΓx，圧延機のロ−ルシフト量ＨＣＷsお
よび圧延機出側の圧延材のエッジドロップＤxの関係を
表わすエッジドロップ予測モデル式 Ｄx＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ1＋ｆ2 ・・・(1i) Ｄx：基準点から板中央側にｘの距離の板端点の出側エ
ッジドロップ、 Γx：入側エッジドロップ、 Ｅx：モデルパラメ−タ、 ＨＣＷs：第ｓパスのロ−ルシフト量、 ｆ1：学習項、 ｆ2：学習項、 を用いて所要の出側エッジドロップＤxoを得るに要する
ロ−ルシフト量ＨＣＷsoを算出しこれを圧延機に設定
し、（Ｂ） 圧延中の圧延条件に基づいて算出した値Ｄ
x’＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ2と実測出側エッジドロッ
プＤxtに基づいて、第１指数平滑処理により学習項ｆ1
の学習値ｆ1i+1を算出して学習項ｆ1の値をこの算出値
ｆ1i+1に更新し、（Ｃ） 圧延中の実測出側エッジドロ
ップＤxtと、このエッジドロップを得た圧延条件に基づ
いて算出した値Ｄx”＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ1に基づ
いて、第２指数平滑処理により学習項ｆ2の学習値ｆ
2t+1を算出して学習項ｆ2の値をこの算出値ｆ2t+1に更
新し、（Ｄ） 第１指数平滑処理による学習項ｆ1の更
新よりも、第２指数平滑処理による学習項ｆ2の更新
を、高頻度にして同一コイル内で繰返し実行する。
【０００９】上記（Ｂ）の第１指数平滑処理では、例え
ば、 ｆ1i+1＝α（Ｄxt−Ｄx’）＋（１−α）・ｆ1 ・・・(4i) ｆ1i+1：今回算出の学習値、 ｆ1 ：学習項ｆ1の前回値、 α ：指数平滑係数、０＜α＜１、 Ｄxt：圧延中の実測出側エッジドロップ、 Ｄx'＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ2：圧延中の圧延条件に
基づいて算出した値、 で、学習値ｆ1i+1を算出し、学習項ｆ1をこの算出値ｆ
1i+1に更新する。
ば、 ｆ1i+1＝α（Ｄxt−Ｄx’）＋（１−α）・ｆ1 ・・・(4i) ｆ1i+1：今回算出の学習値、 ｆ1 ：学習項ｆ1の前回値、 α ：指数平滑係数、０＜α＜１、 Ｄxt：圧延中の実測出側エッジドロップ、 Ｄx'＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ2：圧延中の圧延条件に
基づいて算出した値、 で、学習値ｆ1i+1を算出し、学習項ｆ1をこの算出値ｆ
1i+1に更新する。
【００１０】また、上記（Ｃ）の第２指数平滑処理で
は、例えば、 ｆ2t+1＝β（Ｄxt−Ｄx”）＋（１−β）・ｆ2 ・・・(3i) ｆ2t+1：今回算出の学習値、 ｆ2 ：学習項ｆ2の前回値、 β ：指数平滑係数、０＜β＜１、 Ｄxt：圧延中の実測出側エッジドロップ、 Ｄx"＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ1：圧延中の圧延条件に
基づいて算出した値、 で、学習値ｆ2t+1を算出し、学習項ｆ2をこの算出値ｆ
2t+1に更新する。
は、例えば、 ｆ2t+1＝β（Ｄxt−Ｄx”）＋（１−β）・ｆ2 ・・・(3i) ｆ2t+1：今回算出の学習値、 ｆ2 ：学習項ｆ2の前回値、 β ：指数平滑係数、０＜β＜１、 Ｄxt：圧延中の実測出側エッジドロップ、 Ｄx"＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ1：圧延中の圧延条件に
基づいて算出した値、 で、学習値ｆ2t+1を算出し、学習項ｆ2をこの算出値ｆ
2t+1に更新する。
【００１１】
【作用】本発明によれば、上記（Ｃ）の第２指数平滑処
理による学習項ｆ2の更新は、学習項ｆ2の算出が簡単で
あるので、その更新を高頻度で行なうことができ、エッ
ジドロップ予測モデル式の追従性が速い。したがって該
モデル式を用いる所要ロ−ルシフト量の算出と圧延機へ
の設定を高頻度にして、比較的に速い圧延条件の変動例
えば入側エッジドロップの変動に追従することができ、
制御精度が向上する。
理による学習項ｆ2の更新は、学習項ｆ2の算出が簡単で
あるので、その更新を高頻度で行なうことができ、エッ
ジドロップ予測モデル式の追従性が速い。したがって該
モデル式を用いる所要ロ−ルシフト量の算出と圧延機へ
の設定を高頻度にして、比較的に速い圧延条件の変動例
えば入側エッジドロップの変動に追従することができ、
制御精度が向上する。
【００１２】更に、上記（Ｂ）の第１指数平滑処理によ
り学習項ｆ2が低頻度で更新され、例えば上記（Ｃ）は
コイル内学習処理であるが上記（Ｂ）をコイル間学習処
理とすることにより、予測モデル式の追従性は遅いが、
安定性が高く、比較的に遅い圧延条件の変動例えば圧延
機の圧延特性の変化に追従する。
り学習項ｆ2が低頻度で更新され、例えば上記（Ｃ）は
コイル内学習処理であるが上記（Ｂ）をコイル間学習処
理とすることにより、予測モデル式の追従性は遅いが、
安定性が高く、比較的に遅い圧延条件の変動例えば圧延
機の圧延特性の変化に追従する。
【００１３】かくして、高頻度で実行され高速応答性で
ある第２指数平滑処理による学習項ｆ2の更新すなわち
第１学習制御と、低頻度で実行され低速応答性である第
１指数平滑処理による学習項ｆ1の更新すなわち第２学
習制御とが、一方の制御誤差を他方が補正する形で相補
し合い、したがって制御精度が高くしかも安定したエッ
ジドロップ制御が実現する。
ある第２指数平滑処理による学習項ｆ2の更新すなわち
第１学習制御と、低頻度で実行され低速応答性である第
１指数平滑処理による学習項ｆ1の更新すなわち第２学
習制御とが、一方の制御誤差を他方が補正する形で相補
し合い、したがって制御精度が高くしかも安定したエッ
ジドロップ制御が実現する。
【００１４】本発明の他の目的および特徴は、図面を参
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【００１５】
【実施例】図１に本発明を一態様で実施する、複数パス
多重冷間圧延機の概要を示す。圧延材である鋼板１は、
圧延機の第１スタンド１ｓｔ〜第５スタンド５ｓｔで順
次に所要圧に圧延される。鋼板１の板幅および板厚（幅
方向所要部：複数点）が入側のＳ点でそれぞれ幅検出器
４および板厚検出器５で検出される。圧延を終えた鋼板
１の板厚（幅方向所要部：複数点）が出側のＯ点で板厚
検出器６で検出される。
多重冷間圧延機の概要を示す。圧延材である鋼板１は、
圧延機の第１スタンド１ｓｔ〜第５スタンド５ｓｔで順
次に所要圧に圧延される。鋼板１の板幅および板厚（幅
方向所要部：複数点）が入側のＳ点でそれぞれ幅検出器
４および板厚検出器５で検出される。圧延を終えた鋼板
１の板厚（幅方向所要部：複数点）が出側のＯ点で板厚
検出器６で検出される。
【００１６】この例では、エッジドロップは第１〜３ス
タンド１ｓｔ〜３ｓｔで調整する。少なくとも第１〜３
スタンド１ｓｔ〜３ｓｔには、ワ−クロ−ル２を軸方向
（紙面と垂直な方向）に駆動するシフト機構が備わって
おり、ワ−クロ−ル２の胴端部は先細りすなわちテ−パ
面になっているので、シフト機構がワ−クロ−ル２を駆
動すると鋼板１のエッジドロップが変化する。すなわち
ワ−クロ−ル２の軸方向位置（ロ−ルシフト量）により
鋼板１のエッジドロップが定まる。
タンド１ｓｔ〜３ｓｔで調整する。少なくとも第１〜３
スタンド１ｓｔ〜３ｓｔには、ワ−クロ−ル２を軸方向
（紙面と垂直な方向）に駆動するシフト機構が備わって
おり、ワ−クロ−ル２の胴端部は先細りすなわちテ−パ
面になっているので、シフト機構がワ−クロ−ル２を駆
動すると鋼板１のエッジドロップが変化する。すなわち
ワ−クロ−ル２の軸方向位置（ロ−ルシフト量）により
鋼板１のエッジドロップが定まる。
【００１７】なお、エッジドロップは、鋼板１の板幅方
向の基準点と板端点の板厚の差をいう。基準点は例えば
板側端から板中央側に１００ｍｍの点に定められる。板
端点は例えば板側端から１５ｍｍの点および２５ｍｍの
点と、一点又は数点定められる。
向の基準点と板端点の板厚の差をいう。基準点は例えば
板側端から板中央側に１００ｍｍの点に定められる。板
端点は例えば板側端から１５ｍｍの点および２５ｍｍの
点と、一点又は数点定められる。
【００１８】ロ−ルシフトコントロ−ラ１０が、幅検出
器４，板厚検出器５，６の検出値を所定のタイミングお
よび所定のサンプリング周期で読込んで、出力レジスタ
に最新のものを保持しており、これら検出値をロ−ルシ
フト計算機２０に、それが要求して来たときに、転送す
る。ロ−ルシフト計算機２０がコントロ−ラ１０に各ス
タンド（１ｓｔ〜３ｓｔ）のロ−ルシフト量を指定し、
これに答えてコントロ−ラ１０が、第１，第２および第
３スタンド１ｓｔ〜３ｓｔのワ−クロ−ル２のロ−ルシ
フト量を、指定されたものに定める。
器４，板厚検出器５，６の検出値を所定のタイミングお
よび所定のサンプリング周期で読込んで、出力レジスタ
に最新のものを保持しており、これら検出値をロ−ルシ
フト計算機２０に、それが要求して来たときに、転送す
る。ロ−ルシフト計算機２０がコントロ−ラ１０に各ス
タンド（１ｓｔ〜３ｓｔ）のロ−ルシフト量を指定し、
これに答えてコントロ−ラ１０が、第１，第２および第
３スタンド１ｓｔ〜３ｓｔのワ−クロ−ル２のロ−ルシ
フト量を、指定されたものに定める。
【００１９】ロ−ルシフト計算機２０には、後述する各
種演算および制御処理を実行するロ−ルシフト演算計算
機２１，ロ−ルシフトコントロ−ラ１０とデ−タを交換
しかつ検出器４〜６の検出値を読込むための入／出力装
置５２，読込んだデ−タを所定期間保存するための入力
デ−タメモリ２３，出力したデ−タを所定期間保存する
ための出力デ−タメモリ２４，演算したデ−タを保存す
るための演算値デ−タメモリ２５、および、圧延制御計
算機３０とデ−タを交換するための入／出力装置２６が
備わっている。
種演算および制御処理を実行するロ−ルシフト演算計算
機２１，ロ−ルシフトコントロ−ラ１０とデ−タを交換
しかつ検出器４〜６の検出値を読込むための入／出力装
置５２，読込んだデ−タを所定期間保存するための入力
デ−タメモリ２３，出力したデ−タを所定期間保存する
ための出力デ−タメモリ２４，演算したデ−タを保存す
るための演算値デ−タメモリ２５、および、圧延制御計
算機３０とデ−タを交換するための入／出力装置２６が
備わっている。
【００２０】図２〜図４に、ロ−ルシフト演算計算機２
１の、エッジドロップ制御の内容を示す。以下これらの
図面を参照して、ロ−ルシフト演算計算機２１の処理内
容を説明する。
１の、エッジドロップ制御の内容を示す。以下これらの
図面を参照して、ロ−ルシフト演算計算機２１の処理内
容を説明する。
【００２１】本実施例では、エッジドロップ予測モデル
式を、 Ｄx＝Ax1・HCW1 2＋Ax2・HCW2 2＋Ax3・HCW3 2＋Cx・Γx＋Ex＋ｆ1＋ｆ2 ・・・(2i) と定めている。記号は次の事項を表わす。 Ｄx：基準点を板側端から板中央側に100ｍｍの点とし
た、板側端からｘの点（板端点）の、出側エッジドロッ
プ。 ＨＣＷ1：第１スタンド１ｓｔのロ−ルシフト量。 ＨＣＷ2：第２スタンド２ｓｔのロ−ルシフト量。 ＨＣＷ3：第３スタンド３ｓｔのロ−ルシフト量。 Γx：鋼板１の入側エッジドロップ。 Ａx1〜Ａx3，Ｃx：係数。 Ｅx：定数。 ｆ1：第１学習項。 ｆ2：第２学習項。 例えば、ｘ＝１５ｍｍおよび２５ｍｍの出側エッジドロ
ップＤ15,Ｄ25は次の(2i15)式および(2i25)式で表わさ
れる。
式を、 Ｄx＝Ax1・HCW1 2＋Ax2・HCW2 2＋Ax3・HCW3 2＋Cx・Γx＋Ex＋ｆ1＋ｆ2 ・・・(2i) と定めている。記号は次の事項を表わす。 Ｄx：基準点を板側端から板中央側に100ｍｍの点とし
た、板側端からｘの点（板端点）の、出側エッジドロッ
プ。 ＨＣＷ1：第１スタンド１ｓｔのロ−ルシフト量。 ＨＣＷ2：第２スタンド２ｓｔのロ−ルシフト量。 ＨＣＷ3：第３スタンド３ｓｔのロ−ルシフト量。 Γx：鋼板１の入側エッジドロップ。 Ａx1〜Ａx3，Ｃx：係数。 Ｅx：定数。 ｆ1：第１学習項。 ｆ2：第２学習項。 例えば、ｘ＝１５ｍｍおよび２５ｍｍの出側エッジドロ
ップＤ15,Ｄ25は次の(2i15)式および(2i25)式で表わさ
れる。
【００２２】 Ｄ15＝Ａ15・1・ＨＣＷ1 2＋Ａ15・2・ＨＣＷ2 2＋Ａ15・3・ＨＣＷ3 2 ＋Ｃ15・Γ15＋Ｅ15＋ｆ15・1＋ｆ15・2 ・・・(2i15) Ｄ25＝Ａ25・1・ＨＣＷ1 2＋Ａ25・2・ＨＣＷ2 2＋Ａ25・3・ＨＣＷ3 2 ＋Ｃ25・Γ25＋Ｅ25＋ｆ25・1＋ｆ25・2 ・・・(2i25) この実施例では、(2i)式で表わされる所要のエッジドロ
ップ予測モデル式が、圧延条件（ロット）対応で演算値
デ−タメモリ２５に予め格納されており、使用実績があ
るモデル式は、後述の学習処理により最適式に更新され
ている。すなわちモデル式の学習項ｆ1，ｆ2が更新され
ている。
ップ予測モデル式が、圧延条件（ロット）対応で演算値
デ−タメモリ２５に予め格納されており、使用実績があ
るモデル式は、後述の学習処理により最適式に更新され
ている。すなわちモデル式の学習項ｆ1，ｆ2が更新され
ている。
【００２３】(I) ロ−ルシフト初期値の設定(図2の1〜
3):図２を参照する。図１に示す圧延機で、前回の圧延
条件（ロット）と異なる圧延を開始するときに、計算機
２１はオペレ−タの指示に対応して、変更する圧延条件
（ロット）に割り当てられているエッジドロップ予測モ
デル式をメモリ２５から読み出し、計算機２１内部のメ
モリ（以下レジスタと称す）に書込む（図２のサブル−
チン１：以下、カッコ内では、サブル−チンとかステッ
プという語を省略しその番号数字のみを記す）。
3):図２を参照する。図１に示す圧延機で、前回の圧延
条件（ロット）と異なる圧延を開始するときに、計算機
２１はオペレ−タの指示に対応して、変更する圧延条件
（ロット）に割り当てられているエッジドロップ予測モ
デル式をメモリ２５から読み出し、計算機２１内部のメ
モリ（以下レジスタと称す）に書込む（図２のサブル−
チン１：以下、カッコ内では、サブル−チンとかステッ
プという語を省略しその番号数字のみを記す）。
【００２４】次に計算機２１は、第１〜第３スタンド１
ｓｔ〜３ｓｔに設定すべきロ−ルシフト量ＨＣＷso（初
期設定値）を、レジスタに書込んだエッジドロップ予測
モデル式を用いて算出する（２）。ｓ＝１〜３である。
すなわち、ＨＣＷ1o，ＨＣＷ2oおよびＨＣＷ3oを算出す
る。
ｓｔ〜３ｓｔに設定すべきロ−ルシフト量ＨＣＷso（初
期設定値）を、レジスタに書込んだエッジドロップ予測
モデル式を用いて算出する（２）。ｓ＝１〜３である。
すなわち、ＨＣＷ1o，ＨＣＷ2oおよびＨＣＷ3oを算出す
る。
【００２５】これにおいては、まず、エッジドロップ予
測モデル式、 Ｄx＝Ax1・HCW1 2＋Ax2・HCW2 2＋Ax3・HCW3 2＋Cx・Γx＋Ex＋ｆ1＋ｆ2 ・・・(2i) のΓxに入側エッジドロップ予期値Γxoを与え、ＨＣＷ2
およびＨＣＷ3に適当な値(例えば変更範囲の中央値)を
与えておいて、ＨＣＷ1をある値にしたときのＤxの値Ｄ
xa1を算出してその偏差ΔＤxa1＝Ｄxa1−Ｄxo(Ｄxoは出
側エッジドロップ目標値)を算出し次にＨＣＷ1を所定値
大きい数に変更して同様に偏差ΔＤxa2＝Ｄxa2−Ｄxoを
算出し、偏差ΔＤxa2がΔＤxa1より大きいとＨＣＷ1の
変更方向を小さくする方向に、小さいと変更方向を大き
くする方向に定めて、ＨＣＷ1を順次に所定値づつ変更
して同様に偏差を算出し、偏差が次第に小さくなって設
定値以下になったときのＨＣＷ1の値を第１圧延スタン
ド１ｓｔのロ−ルシフト量ＨＣＷ1o（算出値）とし、あ
るいは低下から上昇に転じたときには上昇に転ずる直前
のＨＣＷ1の値を第１圧延スタンド１ｓｔのロ−ルシフ
ト量ＨＣＷ1o（算出値）とする。
測モデル式、 Ｄx＝Ax1・HCW1 2＋Ax2・HCW2 2＋Ax3・HCW3 2＋Cx・Γx＋Ex＋ｆ1＋ｆ2 ・・・(2i) のΓxに入側エッジドロップ予期値Γxoを与え、ＨＣＷ2
およびＨＣＷ3に適当な値(例えば変更範囲の中央値)を
与えておいて、ＨＣＷ1をある値にしたときのＤxの値Ｄ
xa1を算出してその偏差ΔＤxa1＝Ｄxa1−Ｄxo(Ｄxoは出
側エッジドロップ目標値)を算出し次にＨＣＷ1を所定値
大きい数に変更して同様に偏差ΔＤxa2＝Ｄxa2−Ｄxoを
算出し、偏差ΔＤxa2がΔＤxa1より大きいとＨＣＷ1の
変更方向を小さくする方向に、小さいと変更方向を大き
くする方向に定めて、ＨＣＷ1を順次に所定値づつ変更
して同様に偏差を算出し、偏差が次第に小さくなって設
定値以下になったときのＨＣＷ1の値を第１圧延スタン
ド１ｓｔのロ−ルシフト量ＨＣＷ1o（算出値）とし、あ
るいは低下から上昇に転じたときには上昇に転ずる直前
のＨＣＷ1の値を第１圧延スタンド１ｓｔのロ−ルシフ
ト量ＨＣＷ1o（算出値）とする。
【００２６】そして次は、エッジドロップ予測モデル式
のＨＣＷ1にこの算出値ＨＣＷ1oを与え、ＨＣＷ3は前回
与えた値と同じ値としておいて、上述のＨＣＷ1oの算出
と同様にしてＨＣＷ2を変更して、出側エッジドロップ
Ｄx＝Ｄxo(目標値)に最も近い出側エッジドロップを与
えるＨＣＷ2の値ＨＣＷ2oを算出する。
のＨＣＷ1にこの算出値ＨＣＷ1oを与え、ＨＣＷ3は前回
与えた値と同じ値としておいて、上述のＨＣＷ1oの算出
と同様にしてＨＣＷ2を変更して、出側エッジドロップ
Ｄx＝Ｄxo(目標値)に最も近い出側エッジドロップを与
えるＨＣＷ2の値ＨＣＷ2oを算出する。
【００２７】最後に、エッジドロップ予測モデル式のＤ
xに出側エッジドロップ目標値Ｄxoを、Γxに入側エッジ
ドロップ予期値Γxoを、ＨＣＷ1およびＨＣＷ2にそれぞ
れＨＣＷ1oおよびＨＣＷ2oを与えて、該モデル式を満す
ＨＣＷ3の値ＨＣＷ3oを算出する。
xに出側エッジドロップ目標値Ｄxoを、Γxに入側エッジ
ドロップ予期値Γxoを、ＨＣＷ1およびＨＣＷ2にそれぞ
れＨＣＷ1oおよびＨＣＷ2oを与えて、該モデル式を満す
ＨＣＷ3の値ＨＣＷ3oを算出する。
【００２８】このように出側エッジドロップ目標値Ｄxo
をもたらすロ−ルシフト量ＨＣＷ1o，ＨＣＷ2oおよびＨ
ＣＷ3oを算出すると、これらをスタンド１ｓｔ〜３ｓｔ
に設定する（３）。
をもたらすロ−ルシフト量ＨＣＷ1o，ＨＣＷ2oおよびＨ
ＣＷ3oを算出すると、これらをスタンド１ｓｔ〜３ｓｔ
に設定する（３）。
【００２９】(II) 入側エッジドロップの算出(図2の4-6
〜9):そして第１番のコイル（鋼板１）の先端が第１ス
タンド１ｓｔに到来するのを待ち（４）、到来すると鋼
板１のその長手方向どの位置が１ｓｔにあるかを追跡す
る位置Ｐｔカウントを開始する（６）。この例では、位
置Ｐｔを表わすレジスタＲＰｔの内容をクリアし、図示
しないメジャリングロ−ラ又は圧延スタンド１ｓｔのワ
−クロ−ルの所定小角度の回転毎に１パルスを発生する
位置同期パルス発生器の発生パルスのカウント（１パル
ス発生毎にレジスタＲＰｔの内容Ｐｔを１大きい値に更
新）を開始する（６）。そして検出器４，５の検出値す
なわち入側板幅および板厚（少くとも、側端から１００
ｍｍの基準点の板厚と、側端からｘの板端点の板厚）を
読込み（７）、入側エッジドロップΓxtを算出して
（８）、算出したΓxtを、位置Ｐｔ対応でレジスタにメ
モリする（９）。なお、Γxtのｔは鋼板１上の、その先
端から長手方向で位置Ｐｔにおける値を意味する。
〜9):そして第１番のコイル（鋼板１）の先端が第１ス
タンド１ｓｔに到来するのを待ち（４）、到来すると鋼
板１のその長手方向どの位置が１ｓｔにあるかを追跡す
る位置Ｐｔカウントを開始する（６）。この例では、位
置Ｐｔを表わすレジスタＲＰｔの内容をクリアし、図示
しないメジャリングロ−ラ又は圧延スタンド１ｓｔのワ
−クロ−ルの所定小角度の回転毎に１パルスを発生する
位置同期パルス発生器の発生パルスのカウント（１パル
ス発生毎にレジスタＲＰｔの内容Ｐｔを１大きい値に更
新）を開始する（６）。そして検出器４，５の検出値す
なわち入側板幅および板厚（少くとも、側端から１００
ｍｍの基準点の板厚と、側端からｘの板端点の板厚）を
読込み（７）、入側エッジドロップΓxtを算出して
（８）、算出したΓxtを、位置Ｐｔ対応でレジスタにメ
モリする（９）。なお、Γxtのｔは鋼板１上の、その先
端から長手方向で位置Ｐｔにおける値を意味する。
【００３０】(III) 入側エッジドロップ対応のロ−ルシ
フト量の算出(図2の10,11):計算機２１は次に、入側エ
ッジドロップΓxtに対応するロ−ルシフト量ＨＣＷ1t，
ＨＣＷ2tおよびＨＣＷ3tを、モデル式(2i)に基づいて算
出する（１０）。この算出は、上記(I)と同様に行な
う。ただし、上記(I)での入側エッジドロップ予期値Γx
oにかえて、ステップ８で算出した実測入側エッジドロ
ップΓxtを用いる。算出したロ−ルシフト量ＨＣＷ1t，
ＨＣＷ2tおよびＨＣＷ3tは、位置Ｐｔ（レジスタＲＰｔ
の内容）対応でレジスタ(メモリ)に格納する（１１）。
そして入側の鋼板１が所定量ΔＰｔ進行するのを待って
（１２）、所定量ΔＰｔ進行する毎に、検出器４，５の
検出値を読込み（７）、入側エッジドロップΓxtを算出
して（８）、Γxtをレジスタにメモリし（９）、そし
て、エッジドロップモデル式(2i)に基づいて入側エッジ
ドロップに対応して、第１〜３スタンド１ｓｔ〜３ｓｔ
のロ−ルシフト量ＨＣＷ1t〜ＨＣＷ3tを算出し(１
０）、これを位置Ｐｔ（レジスタＲＰｔの内容）対応で
レジスタにメモリする（１１）。
フト量の算出(図2の10,11):計算機２１は次に、入側エ
ッジドロップΓxtに対応するロ−ルシフト量ＨＣＷ1t，
ＨＣＷ2tおよびＨＣＷ3tを、モデル式(2i)に基づいて算
出する（１０）。この算出は、上記(I)と同様に行な
う。ただし、上記(I)での入側エッジドロップ予期値Γx
oにかえて、ステップ８で算出した実測入側エッジドロ
ップΓxtを用いる。算出したロ−ルシフト量ＨＣＷ1t，
ＨＣＷ2tおよびＨＣＷ3tは、位置Ｐｔ（レジスタＲＰｔ
の内容）対応でレジスタ(メモリ)に格納する（１１）。
そして入側の鋼板１が所定量ΔＰｔ進行するのを待って
（１２）、所定量ΔＰｔ進行する毎に、検出器４，５の
検出値を読込み（７）、入側エッジドロップΓxtを算出
して（８）、Γxtをレジスタにメモリし（９）、そし
て、エッジドロップモデル式(2i)に基づいて入側エッジ
ドロップに対応して、第１〜３スタンド１ｓｔ〜３ｓｔ
のロ−ルシフト量ＨＣＷ1t〜ＨＣＷ3tを算出し(１
０）、これを位置Ｐｔ（レジスタＲＰｔの内容）対応で
レジスタにメモリする（１１）。
【００３１】以上に説明した、図２に示すステップ７〜
１２−１６−７〜１２−・・・の繰返し、すなわち上記
(II)および(III)の繰返しにより、入側Ｓ点で、鋼板１
の移動方向所定長ΔＰｔ毎に、検出器４，５の検出値が
読込まれて入側エッジドロップΓxtが算出されて検出位
置Ｐｔ対応でレジスタにメモリされると共に、Γxt対応
のロ−ルシフト量（所要値）ＨＣＷ1t〜ＨＣＷ3tが算出
されてレジスタにメモリされる。
１２−１６−７〜１２−・・・の繰返し、すなわち上記
(II)および(III)の繰返しにより、入側Ｓ点で、鋼板１
の移動方向所定長ΔＰｔ毎に、検出器４，５の検出値が
読込まれて入側エッジドロップΓxtが算出されて検出位
置Ｐｔ対応でレジスタにメモリされると共に、Γxt対応
のロ−ルシフト量（所要値）ＨＣＷ1t〜ＨＣＷ3tが算出
されてレジスタにメモリされる。
【００３２】上記(II),(III)のようにデ−タ処理がされ
た鋼板１上の位置Ｐｔを以下サンプリング点という。
た鋼板１上の位置Ｐｔを以下サンプリング点という。
【００３３】(IV) 入側エッジドロップ対応のロ−ルシ
フト量の設定(図2の14,22):次に図３を参照する。上述
の(II),(III)の処理を繰返している間に計算機２１は、
第１圧延スタンド１ｓｔにサンプリング点（各点）が到
達する直前のタイミングで、該サンプリング点のロ−ル
シフト量ＨＣＷ1tをレジスタより読出してロ−ルシフト
コントロ−ラ１０に与える。コントロ−ラ１０は、上記
(I)で第１圧延スタンド１ｓｔに設定したロ−ルシフト
量を、今回与えられた値〔上記(III)で算出した値〕に
変更する。この変更が実質上終了した時点に該サンプリ
ング点が１ｓｔのワ−クロ−ル間に到達する。これによ
り、モデル式に基づいた、入側エッジドロップΓxtに対
応するフィ−ドフォワ−ド制御が実現する。
フト量の設定(図2の14,22):次に図３を参照する。上述
の(II),(III)の処理を繰返している間に計算機２１は、
第１圧延スタンド１ｓｔにサンプリング点（各点）が到
達する直前のタイミングで、該サンプリング点のロ−ル
シフト量ＨＣＷ1tをレジスタより読出してロ−ルシフト
コントロ−ラ１０に与える。コントロ−ラ１０は、上記
(I)で第１圧延スタンド１ｓｔに設定したロ−ルシフト
量を、今回与えられた値〔上記(III)で算出した値〕に
変更する。この変更が実質上終了した時点に該サンプリ
ング点が１ｓｔのワ−クロ−ル間に到達する。これによ
り、モデル式に基づいた、入側エッジドロップΓxtに対
応するフィ−ドフォワ−ド制御が実現する。
【００３４】(V) モデル式の学習更新２(図3の13-17〜2
0):上述の(II),(III)，(IV)の処理を繰返している間に
計算機２１は、図１に示す出側Ｏ点の板厚検出器６にサ
ンプリング点（各点）が到達したときの板幅検出器６の
検出値を読込んで（１７）、出側エッジドロップＤxtを
算出して（１８）、位置Ｐｔ（サンプリング点）対応で
レジスタにメモリする（１９）。そして第２指数平滑処
理で、使用中のモデル式(2i)の学習項ｆ2を更新する
（２０）。すなわち、 ｆ2t+1＝β（Ｄxt−Ｄx”）＋（１−β）・ｆ2 ・・・(3i) ｆ2t+1：学習値ｆ2の今回算出値、 ｆ2 ：学習項ｆ2の前回値(現在値)、 β ：指数平滑係数、０＜β＜１、 Ｄxt：圧延中の実測出側エッジドロップ、 Ｄx"＝Ax1・HCW1 2＋Ax2・HCW2 2＋Ax3・HCW3 2＋Cx・Γx＋Ex＋ｆ1 このＤx"式の右辺第１〜６項は、使用中のモデル式(2i)
のものであり、HCW1〜HCW3は、上記Ｄxtを得た位置が、
スタンド１st〜３stに到来するときに図３の22A〜22cで
設定されたロ−ルシフト量(図２の１１でメモリされた
値）、で、学習値ｆ2t+1を算出し、学習項ｆ2をこの算
出値ｆ2t+1に更新する。
0):上述の(II),(III)，(IV)の処理を繰返している間に
計算機２１は、図１に示す出側Ｏ点の板厚検出器６にサ
ンプリング点（各点）が到達したときの板幅検出器６の
検出値を読込んで（１７）、出側エッジドロップＤxtを
算出して（１８）、位置Ｐｔ（サンプリング点）対応で
レジスタにメモリする（１９）。そして第２指数平滑処
理で、使用中のモデル式(2i)の学習項ｆ2を更新する
（２０）。すなわち、 ｆ2t+1＝β（Ｄxt−Ｄx”）＋（１−β）・ｆ2 ・・・(3i) ｆ2t+1：学習値ｆ2の今回算出値、 ｆ2 ：学習項ｆ2の前回値(現在値)、 β ：指数平滑係数、０＜β＜１、 Ｄxt：圧延中の実測出側エッジドロップ、 Ｄx"＝Ax1・HCW1 2＋Ax2・HCW2 2＋Ax3・HCW3 2＋Cx・Γx＋Ex＋ｆ1 このＤx"式の右辺第１〜６項は、使用中のモデル式(2i)
のものであり、HCW1〜HCW3は、上記Ｄxtを得た位置が、
スタンド１st〜３stに到来するときに図３の22A〜22cで
設定されたロ−ルシフト量(図２の１１でメモリされた
値）、で、学習値ｆ2t+1を算出し、学習項ｆ2をこの算
出値ｆ2t+1に更新する。
【００３５】このように更新したモデル式(2i)が、上述
の(III)の、入側エッジドロップ対応のロ−ルシフト量
の算出(図2の10,11)において用いられる。これにより、
モデル式(2i)の第２学習処理を介した、フィ−ドバック
制御が実現する。
の(III)の、入側エッジドロップ対応のロ−ルシフト量
の算出(図2の10,11)において用いられる。これにより、
モデル式(2i)の第２学習処理を介した、フィ−ドバック
制御が実現する。
【００３６】(VI) １コイルの圧延終了(図3の15-23〜2
5):１コイルの尾端が出側板厚検出器６を抜けると計算
機２１は、「Ｄｘの更新１」（２５）で後述するエッジ
ドロップ予測モデル式の更新１を実行する。そして次コ
イルの到来があるか、設定変え入力があるかを待つ（２
４，２５）。次コイルが到来すると、図２のステップ６
に進み、上述の(I)〜(V)ならびに本項(VI)および後述の
(VII)を同様に実行する。設定変え(圧延条件の変更＝ロ
ットの変更)入力があると、図示は省略したが、計算機
２１に保持している最新（使用中）のエッジドロップ予
測モデル式を、演算値デ−タメモリ２５に更新メモリ
し、そして図１のステップ１に進む。
5):１コイルの尾端が出側板厚検出器６を抜けると計算
機２１は、「Ｄｘの更新１」（２５）で後述するエッジ
ドロップ予測モデル式の更新１を実行する。そして次コ
イルの到来があるか、設定変え入力があるかを待つ（２
４，２５）。次コイルが到来すると、図２のステップ６
に進み、上述の(I)〜(V)ならびに本項(VI)および後述の
(VII)を同様に実行する。設定変え(圧延条件の変更＝ロ
ットの変更)入力があると、図示は省略したが、計算機
２１に保持している最新（使用中）のエッジドロップ予
測モデル式を、演算値デ−タメモリ２５に更新メモリ
し、そして図１のステップ１に進む。
【００３７】(VII) エッジドロップ予測モデル式の更新
１(図３の２３）:計算機２１は、設定されているロジッ
クで、この直前に圧延を終了したコイルのエッジドロッ
プ実績値の中からの代表値を選択し代表値を得たサンプ
リング点を特定する。換言すると、圧延条件に対して、
１コイル内で代表的な結果となったサンプリング点を摘
出する。代表値の項目は、出側エッジドロップＤxt，入
側エッジドロップΓxtおよび第１〜第３スタンド１ｓｔ
〜３ｓｔのロ−ルシフト量HCW1〜HCW3である。そして、 ｆ1i+1＝α（Ｄxt−Ｄx’）＋（１−α）・ｆ1 ・・・(4i) ｆ1i+1：学習値ｆ1の今回算出値、 ｆ1 ：学習項ｆ1の前回値（現在値）、 α ：指数平滑係数、０＜α＜１、 Ｄxt：圧延中の実測出側エッジドロップ、 Ｄx'＝Ax1・HCW1 2＋Ax2・HCW2 2＋Ax3・HCW3 2＋Cx・Γx＋Ex＋ｆ2 このＤx’式の右辺第１〜６項は、使用中のモデル式(2
i)のものであり、HCW1〜HCW3は、上記Ｄxtを得た位置
が、スタンド１st〜３stに到来するときに図３の22A〜2
2cで設定されたロ−ルシフト量(図２の１１でメモリさ
れた値）で、学習値ｆ1i+1を算出し、学習項ｆ1をこの
算出値ｆ1i+1に更新する。
１(図３の２３）:計算機２１は、設定されているロジッ
クで、この直前に圧延を終了したコイルのエッジドロッ
プ実績値の中からの代表値を選択し代表値を得たサンプ
リング点を特定する。換言すると、圧延条件に対して、
１コイル内で代表的な結果となったサンプリング点を摘
出する。代表値の項目は、出側エッジドロップＤxt，入
側エッジドロップΓxtおよび第１〜第３スタンド１ｓｔ
〜３ｓｔのロ−ルシフト量HCW1〜HCW3である。そして、 ｆ1i+1＝α（Ｄxt−Ｄx’）＋（１−α）・ｆ1 ・・・(4i) ｆ1i+1：学習値ｆ1の今回算出値、 ｆ1 ：学習項ｆ1の前回値（現在値）、 α ：指数平滑係数、０＜α＜１、 Ｄxt：圧延中の実測出側エッジドロップ、 Ｄx'＝Ax1・HCW1 2＋Ax2・HCW2 2＋Ax3・HCW3 2＋Cx・Γx＋Ex＋ｆ2 このＤx’式の右辺第１〜６項は、使用中のモデル式(2
i)のものであり、HCW1〜HCW3は、上記Ｄxtを得た位置
が、スタンド１st〜３stに到来するときに図３の22A〜2
2cで設定されたロ−ルシフト量(図２の１１でメモリさ
れた値）で、学習値ｆ1i+1を算出し、学習項ｆ1をこの
算出値ｆ1i+1に更新する。
【００３８】このように更新したエッジドロップ予測モ
デル式(2i)が、上述の(I)の、入側エッジドロップ予期
値Γxoおよび出側エッジドロップ目標値Ｄxoに対応した
ロ−ルシフト量の設定、および上述の(III)〜(V)の入側
エッジドロップ実測値Γxｔおよび出側エッジドロップ
目標値Ｄxoに対応したロ−ルシフト量の設定、において
用いられる。これにより、エッジドロップ予測モデル式
に基づいた、比較的に長期的な(コイル間の)、フィ−ド
バック制御が実現する。
デル式(2i)が、上述の(I)の、入側エッジドロップ予期
値Γxoおよび出側エッジドロップ目標値Ｄxoに対応した
ロ−ルシフト量の設定、および上述の(III)〜(V)の入側
エッジドロップ実測値Γxｔおよび出側エッジドロップ
目標値Ｄxoに対応したロ−ルシフト量の設定、において
用いられる。これにより、エッジドロップ予測モデル式
に基づいた、比較的に長期的な(コイル間の)、フィ−ド
バック制御が実現する。
【００３９】この実施例では、前述の、入側エッジドロ
ップΓxt対応のロ−ルシフト量の設定（７〜１２：エッ
ジドロップ予測モデル式に基づいたフィ−ドフォワ−ド
制御）および「Ｄx式の更新２」（２０）による第２学習
制御(ｆ2の学習更新によるフィ−ドバック制御)が、同
一コイル内で所定のサンプリングピッチ（ΔＰｔ）で行
なわれるので、エッジドロップ予測モデル式（特に
ｆ2）の学習更新によるフィ−ドバック制御の応答速度
が速い。
ップΓxt対応のロ−ルシフト量の設定（７〜１２：エッ
ジドロップ予測モデル式に基づいたフィ−ドフォワ−ド
制御）および「Ｄx式の更新２」（２０）による第２学習
制御(ｆ2の学習更新によるフィ−ドバック制御)が、同
一コイル内で所定のサンプリングピッチ（ΔＰｔ）で行
なわれるので、エッジドロップ予測モデル式（特に
ｆ2）の学習更新によるフィ−ドバック制御の応答速度
が速い。
【００４０】これに対して、第１学習項ｆ1の学習更新
による第１学習制御は、コイル単位で行なわれるのでエ
ッジドロップ予測モデル式（特にｆ1）の学習更新によ
るフィ−ドバック制御の応答性は遅い。
による第１学習制御は、コイル単位で行なわれるのでエ
ッジドロップ予測モデル式（特にｆ1）の学習更新によ
るフィ−ドバック制御の応答性は遅い。
【００４１】したがって、第２学習制御が、比較的に速
い圧延条件変化（例えば入側エッジドロップの変動）に
よる出側エッジドロップ偏差を抑制する。そして第１学
習制御が、比較的に緩やかな圧延条件変化（例えば圧延
スタンドの圧延特性の変化）による出側エッジドロップ
偏差を抑制する。つまり、第２学習制御と第１学習制御
が、一方の誤差を他方が吸収する形で相補し合い、した
がって制御精度が高くしかも安定している。
い圧延条件変化（例えば入側エッジドロップの変動）に
よる出側エッジドロップ偏差を抑制する。そして第１学
習制御が、比較的に緩やかな圧延条件変化（例えば圧延
スタンドの圧延特性の変化）による出側エッジドロップ
偏差を抑制する。つまり、第２学習制御と第１学習制御
が、一方の誤差を他方が吸収する形で相補し合い、した
がって制御精度が高くしかも安定している。
【００４２】
【効果】第２指数平滑処理を用いたエッジドロップ予測
モデル式の第２学習項ｆ2の更新による第２学習制御
と、第１指数平滑処理を用いたエッジドロップ予測モデ
ル式の第１学習項ｆ1の更新による第１学習制御のいず
れも、指数平滑処理により学習項を更新するので、更新
演算処理が簡単かつ高速であり、コイル内およびコイル
間に容易かつ十分に適用でき、第２学習制御が、比較的
に速い圧延特性変化による出側エッジドロップ偏差を抑
制し、これによっても生ずる、比較的に緩やかな圧延特
性変化による出側エッジドロップ偏差を、第１学習制御
が抑制する。したがって、第２学習制御と第１学習制御
が、一方の誤差を他方が吸収する形で相補し合い、長期
的視点および短期的視点のいずれにおいても制御精度が
高くしかも安定したエッジドロップ制御が実現する。
モデル式の第２学習項ｆ2の更新による第２学習制御
と、第１指数平滑処理を用いたエッジドロップ予測モデ
ル式の第１学習項ｆ1の更新による第１学習制御のいず
れも、指数平滑処理により学習項を更新するので、更新
演算処理が簡単かつ高速であり、コイル内およびコイル
間に容易かつ十分に適用でき、第２学習制御が、比較的
に速い圧延特性変化による出側エッジドロップ偏差を抑
制し、これによっても生ずる、比較的に緩やかな圧延特
性変化による出側エッジドロップ偏差を、第１学習制御
が抑制する。したがって、第２学習制御と第１学習制御
が、一方の誤差を他方が吸収する形で相補し合い、長期
的視点および短期的視点のいずれにおいても制御精度が
高くしかも安定したエッジドロップ制御が実現する。
【図１】 本発明を実施する圧延機の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】 図１に示す計算機２１の、エッジドロップ制
御の内容を示すフロ−チャ−トである。
御の内容を示すフロ−チャ−トである。
【図３】 図１に示す計算機２１の、エッジドロップ制
御の内容を示すフロ−チャ−トである。
御の内容を示すフロ−チャ−トである。
１：鋼板 ２：ワ−クロ
−ル ３：バックアップロ−ル ４：板幅検出
器 ５：板厚検出器 ６：板厚検出
器 １ｓｔ〜５ｓｔ：圧延スタンド
−ル ３：バックアップロ−ル ４：板幅検出
器 ５：板厚検出器 ６：板厚検出
器 １ｓｔ〜５ｓｔ：圧延スタンド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 檜 室 善 彦 北九州市戸畑区飛幡町１番１号 新日本 製鐵株式会社 八幡製鐵所内 (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) B21B 37/28 B21B 37/40
Claims (1)
- 【請求項１】ロ−ル胴端部が先細りとなったワ−クロ−
ルおよび該ワ−クロ−ルを胴軸に沿う方向に駆動するシ
フト機構を有する圧延機で板圧延するにおいて、 圧延機入側の圧延材のエッジドロップΓx，圧延機のロ
−ルシフト量ＨＣＷsおよび圧延機出側の圧延材のエッ
ジドロップＤxの関係を表わすエッジドロップ予測モデ
ル式 Ｄx＝ｆ（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ1＋ｆ2 ・・・(1i) Ｄx：基準点から板中央側にｘの距離の板端点の出側エ
ッジドロップ、 Γx：入側エッジドロップ、 Ｅx：モデルパラメ−タ、 ＨＣＷs：第ｓパスのロ−ルシフト量、 ｆ1：学習項、 ｆ2：学習項、 を用いて所要の出側エッジドロップＤxoを得るに要する
ロ−ルシフト量ＨＣＷsoを算出しこれを圧延機に設定
し、 圧延中の、圧延条件に基づいて算出した値Ｄx’＝ｆ
（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ2と実測出側エッジドロップＤxt
に基づいて、第１指数平滑処理により学習項ｆ1の学習
値ｆ1i+1を算出して学習項ｆ1の値をこの算出値ｆ1i+1
に更新し、 圧延中の実測出側エッジドロップＤxtと、このエッジド
ロップを得た圧延条件に基づいて算出した値Ｄx”＝ｆ
（ＨＣＷs，Γx）＋ｆ1に基づいて、第２指数平滑処理
により学習項ｆ2の学習値ｆ2t+1を算出して学習項ｆ2の
値をこの算出値ｆ2t+1に更新し、 第１指数平滑処理による学習項ｆ1の更新よりも、第２
指数平滑処理による学習項ｆ2の更新を、高頻度にして
同一コイル内で繰返し実行する、ことを特徴とする板圧
延のエッジドロップ制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4095558A JP2978327B2 (ja) | 1992-04-15 | 1992-04-15 | 板圧延のエッジドロップ制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4095558A JP2978327B2 (ja) | 1992-04-15 | 1992-04-15 | 板圧延のエッジドロップ制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05285515A JPH05285515A (ja) | 1993-11-02 |
| JP2978327B2 true JP2978327B2 (ja) | 1999-11-15 |
Family
ID=14140921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4095558A Expired - Lifetime JP2978327B2 (ja) | 1992-04-15 | 1992-04-15 | 板圧延のエッジドロップ制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2978327B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5875663A (en) * | 1996-07-18 | 1999-03-02 | Kawasaki Steel Corporation | Rolling method and rolling mill of strip for reducing edge drop |
-
1992
- 1992-04-15 JP JP4095558A patent/JP2978327B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05285515A (ja) | 1993-11-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990817 |