JP2977863B2 - ２つのファイバ端部のアライメント方法および装置 - Google Patents

２つのファイバ端部のアライメント方法および装置

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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、保持装置に保持された光導波体の２つのフ
ァイバ端部のアライメント方法およびアライメント装置
に関する。
従来の技術 この形式の方法は、米国特許第4506947号明細書から
公知であり、この場合に紫外線は光導波体の２つのファ
イバ端部に指向されている。スプライス個所領域は、互
いに垂直に走行する２つの方向において光学レンズを介
してビデオカメラにより観察され、このようにして得ら
れたファイバ端部の像は画像スクリーンに表示される。
この場合に、この位置整定のための基礎として、蛍光の
ために画像スクリーンにファイバクラッドに対して異な
って写像されるファイバコアが用いられる。このような
方法は何よりも、ファイバクラッドに対するファイバコ
アのコントラストが非常に僅かであり、画像装置に過大
なコストをかけることによってしか改善できない欠点を
有する。このような機器は従って工場内では使用するこ
とができるが、しかし小型軽量の他にコスト的に好適な
形状が重要となる屋外では使用できない。特に高価な画
像システムと高分解能のカメラシステムはこれに関連し
て使用することは適切でない。
ヨーロッパ特許第0030108号明細書から２つのファイ
バ端部の位置整定のための補償装置が公知であり、この
装置においては１つのファイバ端部の中に検査光を導入
し、この検査光から、ファイバ端部が完全に正確にアラ
イメントされていない場合にはすべての光がコアの中を
伝送されず、一部がコアの外部を第２の光導波体の長手
軸線に平行にこれに沿って走行する。誤位置調整に比例
する、コアの外側を走行する光の成分を検出するため
に、４つのセクタ状の感光素子が１つのレベル面の内に
光導波体の長手軸線を横断する方向に配置され、これら
の感光素子に評価回路が対応して配置される。個々のセ
クタから到来する測定信号により誤位置調整の大きさお
よび方向が検出され、対応する操作部材による事後調整
が可能となる。この形式の装置の欠点はなによりも、セ
クタ状の感光素子を先ず光導波体に装着しなければなら
ないことである。この場合、可及的正確な測定のために
感光素子をスライディング収容部が必要である、何故な
らばこれらの素子の横方向の遊びは直接に測定誤差の中
に侵入するからである。さらに、セクタの尖端のみが光
導波体のクラッドの領域の中に位置するのでこの場所で
も僅かな光量のみしか受けられないことは欠点である。
本装置の感度は従って、誤位置調整の程度が低下すると
ともに低下し、従って細密な最終補償は比較的不正確に
しか行うことができない。
さらに、西独特許出願公開第3429947号公報から公知
の測定装置と同様にこれらの測定方法においても、スプ
ライス個所の直接前に測定送光器からの光が光導波体の
中に入力結合されることが前提になっている。これは通
常は、この光導波体に所定の湾曲率で形成され、スプラ
イス個所の背後に同様に湾曲手段を利用して、ファイバ
スプライス個所を経て導かれた光信号の一部の出力結合
が行られる。湾曲された光導波管の形状であるこの形式
の結合手段の使用は、たとえば特に強く湾曲に対して敏
感なファイバ（たとえば気密にコーティングされたファ
イバ等）の特別の１次コーティングを有するファイバの
場合には、制限されて可能であるかまたは不可能であ
り、たとえば既製のケーブルすなわちいわゆるピグテイ
ルの場合および特別に短いスプライス長（Absatzlaeng
e）の場合のようにファイバに自由に接近することが可
能でない場合には常に不可能である。
発明が解決しようとする課題 本発明の課題は、特別に簡単でコストのかからない方
法で誤位置調整の検出を可能にし、障害がある場合でも
高い精度を得ることのできる、分離個所の観察による２
つのファイバ端部のアライメントを提供することにあ
る。
課題を解決するための手段 本発明によればこの課題は、シリンダレンズとして作
用する各ファイバ端部を光束により照射して、強度の最
大値がファイバ端部影像の中央に形成されるように配置
し、このようにして形成された各ファイバ端部の画像を
ビデオカメラの画像センサにより走査し、互いにおよび
光束に対し垂直な２つの平面におけるファイバ端部の位
置を求め、該２つの平面の各々についてファイバ長手軸
線に対し垂直方向で、各ファイバ端部の像に対し強度分
布を別個に離散的な強度値として求めて、ディジタル形
式でメモリに別個に格納し、このようにして格納された
強度分布における最大値の間隔から、前記２つの平面の
各ファイバ長手軸線間のずれを計算装置により求め、該
ずれに基づき調整量を導出し、該調整量により保持装置
の少なくとも一方を用い各ファイバ端部のうち少なくと
も一方において、光束に対し垂直に伸びる平面に関して
正確にアライメントされるまで、自動的な事後調整を行
うことにより解決される。
さらに本発明によればこの課題は、シリンダレンズと
して作用する各ファイバ端部が光源により照射され、そ
のようにして形成された各ファイバ端部の影像がビデオ
カメラにより走査され、前記光源により白色光が各ファ
イバ端部に向けられ、記憶装置が設けられており、該記
憶装置内に、２つの平面の各々についてファイバ長手軸
線に対し垂直方向で、各ファイバ端部の像に対し強度分
布が別個に離散的な強度値として格納され、調整装置が
設けられており、該調整装置は、格納された強度分布の
最大値の間隔から求められた調整量に基づき、各ファイ
バ端部を収容している保持装置のうちの少なくとも一方
の事後調整を行うことにより解決される。
発明の利点 ファイバ端部をシリンダレンズとして使用することに
より、僅かにしかコントラストを形成しないファイバコ
アをサーチし結像することは必要でなくなる。特別の紫
外線も必要でない。２つの強度分布は比較的正確にファ
イバ長手軸線の位置を表す。
その他の実施例はその他の請求項に記載されている。
実施例 第１図において、たとえば溶接により互いに接合させ
るべき２つの光導波体LW1,LW2が示されている。端部領
域においては光導波体のコーティングは除去されてお
り、裸のファイバ端部FE1,FE2が、（たとえばマニピュ
レータ等の）公知の形式に対応する保持装置HR1およびH
R2の中で保持されている。これらの保持装置HR1およびH
R2は共通の基板GPの上に接着され、少なくとも１つの保
持装置（本例においてはHR2）は、対応する操作素子CTU
により制御線SMXを介して少なくとも１つの方向、すな
わちファイバ長手軸線方向に対して横断方向にシフト可
能に形成されている。
本例においては、すべての３つの方向、すなわちｘ
（横断横行）およびｙ（上方へまたは下方へ）およびｚ
（ファイバ長手方向）において運動が可能であると仮定
されている。（たとえばハロゲンランプまたは発光ダイ
オードまたはレーザー等の）白色光を有する光源LQを介
してレンズLS1により光束LEはファイバ端部FE1,FE2に指
向され、これらのファイバ端部FE1およびFE2により光束
LEの影が発生する。後続のレンズLS2によりファイバ端
部FE1およびFE2の影SF1およびSF2は、それぞれファイバ
長手軸線方向に対して横断方向すなわちｘ方向）に行毎
に走査される１つの面の上にまたは画像平面の内に投影
される。この走査動作は、ｘ方向における全装置の対称
線に対応しファイバ端部FE1およびFE2の端面の正確な目
標値継目個所をマーキングする線SBに対してそれぞれ平
行に走行する概念的に矢印SC1およびSC2により示されて
いる。矢印SC1およびSC2に対応する行毎の走査はインク
リメント的に半径方向（すなわちｘ方向）で行われ、従
って走査装置SCDによりファイバ端部FE1およびFE2のそ
れぞれに対してＸ方向における強度分布が得られる。
好適には、ファイバ分離個所の直接の近傍に、すなわ
ちSF1およびSF2の端面側端部において走査される。これ
により、光学装置における歪および／または保持装置HR
1およびHR2の領域における溝の中またはファイバ上の汚
物による角度誤差による誤位置調整が回避される。
種々のｚ位置における多重の走査および後続の平均値
形成は、（たとえば汚物等の居所的な欠陥等の）光学的
障害および／または電気的障害量をより良好に抑圧する
ために用いることができる。一定のｚと後続の平均値形
成を伴う多重走査は電気的障害量を抑圧し、従って前述
の場合と同様に有効であると見なすことができる。いず
れにしても各影像SF1およびSF2に対してｘ方向における
少なくとも１つの走査動作が必要である。
評価および計算装置COMを介して、線SL1およびSL2を
介して伝送される別個の強度情報を矢印SC1およびSC2に
対応して分離して互いに結合することができ、対応する
表示装置DPLへの表示もその際に可能である。略示され
ているように、２つの強度分布IV1およびIV2はｘ方向に
おいて、位置調整誤差に対応し位置調整動作の終了時に
すなわちファイバ端部FE1およびFE2の溶接部が僅か前で
零になされるべきずれdxを有する。
強度分布を次に曲線VI1を用いて詳しく説明する。影
領域SF1の外部（すなわちファイバ端部FE1の直径領域Ｄ
の外側）では強度IV1は高い、何故ならばこの場合には
光源LQの光がまったく阻止されずに伝播することができ
るからである。影像SF1の外側端縁に到達すると、強度
分布は非常に強く、というより比較的突然に低下する。
影により覆われる全領域Ｄにわたりしかし強度IV1は一
定ではなく、強度IV1はこの影領域の中央で最大値に達
する、何故ならば裸の（すなわちきれいにコーティング
が剥離されている）ファイバ端部FE1はシリンダレンズ
として作用するからである。影像SF1の他方の端縁に対
して対称に再び強度IV1の低下が発生し、影像SF1を去る
際に強度IV1は再び突然に元の値に上昇する。Ｄの領域
の中の最大値IVM1は従って正確にファイバ端部FE1の中
心軸線または長手方向軸線に対応する。従って強度曲線
IV1の最大値IVM1の評価により、ファイバ端部SF1の長手
方向軸線の位置を検出することができる。同様の方法
で、影像SF2からの強度曲線IV2の最大値IVM2はファイバ
端部FE2の長手方向軸線の位置を決め、２つの最大値IVM
1とIVM2との相互のずれば、ｘ方向における２つのファ
イバ端部FE1とFE2との長手方向軸線のずれdxに比例す
る。従ってファイバ端部のうちの１つたとえばFE2のシ
フトだけを、長手方向軸線のずれｄが零になるまで行え
ばよい、何故ならばｄが零になるとファイバ端部が、測
定される平面において正確にアライメントされるからで
ある。このアライメントは操作員により、２つの強度分
布IV1およびIV2の観察に基づいて表示機器DPLで行うこ
ともできるが、自動的に計算機COMにおいて差ｄを形成
し、制御機器CTUを介して保持装置HR2を作動するための
制御信号を導出することによっても行うことができる。
本例における走査装置SCDは、本方法の順序により明
瞭にするために略示されていることを指摘しておく。評
価が詳細にはどのように行われるかは第９図ないし第11
図を用いて詳しく説明する。
強度分布IV1およびIV2の相互相関を有利には、後に詳
述する方法で計算機においてとり、その際に、制御機器
CTUを介してｘ方向における保持装置HR2のシフトを、dx
が零になるまで行う操作信号が発生される。
ｙ方向におけるシフトも必要であり、２次元の補償を
行うべき場合には、第２図の実施例に対応して行うこと
ができる。この場合、光源および評価回路は二重に設け
られており（光源LQおよびLQ＊）、同様に評価側におけ
る影像SF1,SF2およびSF1＊およびSF2＊のための対応す
る走査装置SCDおよびSCDも二重に設けられている。これ
に対応して、互いに垂直に位置する２つのレベル面の信
号の評価は、COM XおよびCOM Yにより示されている別個
の計算装置において行われる。
対応する制御線SMXおよびSMYを介して保持装置HR2は
ｘ方向またはｙ方向に、ファイバ端部FE1およびFE2のア
ライメントの双方の面内で得られるまでシフトされる。
２つの光源および２つの装置（ビデオカメラ）が必要
となることを回避するためには、場合に応じては基板GP
を90゜回転可能に形成し、このようにして先ずたとえば
光源LQと走査装置SCDとにより図示の方法でｘ方向にお
けるずれを検出し、この方向でのアライメント（すなわ
ちdx＝０）が得られたならば基板GPをファイバ端部FE1
およびFE2と一緒に90゜上方へ向かって傾斜することも
十分である。この場合に位置調整装置PEは、光源LQによ
りｙ方向（すなわちdy）における横断方向のずれが検出
されるように位置付ける。次いでこの方向における補償
が行われ、従ってこのずれも同様に零にされる。
操作員は、ファイバ端部FE1およびFE2の挿入した直接
後にこれらを、約１の間隔で線SBに対して対称に位置す
る、スクリーン画面の２つの線を用いてｚ方向に粗に位
置調整し、端面の間に間隙がないようにする。次いで双
方の半部においてずれdxが検出され、ほぼ補償調整され
る。次いで、第12図に略線図で示されているように、矢
印SC12によりｚ方向における１つの行が読出され、強度
分布IVZが走査装置SCDにより検出され、その際に列領域
dzにおいて、はっきりした最大値が発生する。これから
ファイバ端部FE1,FE2の端面の間の列の正確な位置およ
び大きさが検出される。場合に応じてこの場合に再び、
長手軸線LA1およびLA2に対して横方向に所定間隔で位置
する２つの列が標本化され、このようにしてｚ方向にお
ける微細な位置調整をこれら２つの列の強度分布から行
うことができる。
第１図においては、ファイバ端部FE1およびFE2の輪郭
の影像SF1およびSF2が走査され、評価に用いられるのに
対して、シリンダレンズとして作動するファイバ端部に
より形成される、反射光の画像を評価のために用いるこ
とも可能である。これら２つの方向が第３図に略示され
ており、この図はファイバ長手軸線方向から見たもので
ある。実線により示されている光束LEは影像の評価に対
応する（第１図を参照）、何故ならばこの図では光はフ
ァイバ端部FE1およびFE2を透過し、走査装置SCDにより
走査面に入射するからである。
これに対して、破線により示されている光成分は、フ
ァイバ端部FE1およびFE2における光反射に起因し、この
光成分は、第１図の走査装置SCDと同様の働きをする評
価装置SCDRにレンズLSRL2を介して導かれる。その他の
点では、強度分布の引続いての評価は第１図の装置と同
様に行うことができる。
ファイバ端部により形成されているガラスシリンダに
光がどのように到達しようとも、反射光は最大強度を有
しなければならず、この最大強度の反射光は円弧状部分
において反射される。相応する光学装置が、強く分散し
た反射光を集束する。散乱光成分は、結像するセンサの
上のファイバ軸線の方向においてそれが不均一の強度分
布となると、障害となる。
第１図を用いて説明したように、自動化された作動に
対してと、ファイバ端部FE1およびFE2の自動アライメン
トに対して、長手軸線の間の差ｄを検出し、これから操
作量を導出することが課題となる。これに関する詳細を
第４図および第７図を用いて説明する。これらの図にお
いては最大値IVM1およびIVM2の両側に位置する強度領域
IV1およびIV2、すなわちシリンダレンズとしての光ファ
イバの機能により惹起される領域のみが示されている。
後に詳細に説明するように、対応するディジタル化され
たメモリに、第１図の矢印SC1ないしSC2に対応する１つ
または複数の走査動作からｉ＝０ないしｉ＝Ｎ−１の固
定保持されているＮ個の標本値が格納されている。ファ
イバ端部FE1およびFE2を通過する光により発生される高
い横方向の肩状部の抑圧は簡単に、第１の急峻な側縁立
下りが生じた後の値をはじめて通過させそれから第２の
側縁立上り後に発生する値が再び抑圧させるようにする
ことにより行われる。ファイバ端部における急峻な立上
りまたは立下りを直接に誤差指示の決定のために用いる
ことも可能である。このような急峻な側縁は、IVM1およ
びIVM2におけるように最大値として簡単に検出すること
ができる。
ファイバ端部をその外径によって位置決めする場合に
ファイバ画像の上端縁および下端縁における画素の情報
のみを用いる場合、これらの個所における汚物またはフ
ァイバ破断等は調整回路において障害量のように作用す
る。一般に、これらは、ビデオ画像の評価において電気
ノイズと重なり、従ってビデオ画像の中の誤り個所の強
度および大きさに依存して誤位置調整ひいては場合によ
ってはより高い接続減衰を招く。
相互相関関数を計算するために側縁も用いる場合、フ
ァイバ表面における障害の除去の下に、dxの検出の際に
精度を高めることさえも可能である。しかし測定値の数
を増加すると、計算時間が部分的には著しく長くなる。
第４図および第５図の（量子化された）最大値IVM1お
よびIVM2の間隔は３列幅（標本化ステップ）である。こ
れらの値により、近似されたアライメントを行うことが
できる。相互相関により精度を著しく高めることができ
る。
ファイバ影SF1およびSF2のIVM1（第４図）およびIVM2
（第５図）の強度分布の離散値（列要素）は相互相関関
数（KKF）にかけられ、このようにしてIV1（ｉ）および
IV2（ｉ）のKKF（ｎ）を形成する。但しＮは列要素数、
ｎは第ｎ番目の値（第６図の例においてはｎ＝−４……
＋10）である。
ファイバ端部FE1およびFE2の軸線の間の半径方向のず
れdxに対するＮ列要素においては式 dx＝ｎ［Max（KKF（ｎ））］ （１） が成立する。
この例においてn Max（KKF（ｎ））は関数KKF（ｎ）
が最大となる第３の値である。
Max（KKF（ｎ））は相互相関関数の最大値であり、ｎ
［Max（KKF（ｎ））］は、所属の個所の最大値である。
IV1（ｉ）およびIV2（ｉ）の相互相関関数KKF（ｎ）は
式 により決まる。但しＴは２つの隣接する強度値の間隔で
ある。実際の上で重要なのは、離散関数KKF（ｎ）を
（たとえば多項式補間等の）関数的従属性により近似す
ることである、何故ならば２つの強度値の間隔にするdx
の分解能は制限させるからである。ＫＦが関数的従属
性を有すると式 が成立する。計算されたずれ はマイクロコンピュータCPUにより公知の方法で、ファ
イバ保持部材HR1,HR2における操作素子CTUを制御するた
めの適当な信号に変換される。たとえば操作素子のヒス
テリシス、反転遊び等障害量は、最適位置への逐次的到
達法により最小化することができる。
相互相関関数KKF（ｎ）が、Ｎ＝８での上記の例に対
して第６図に示されており、この場合に、第４図および
第５図のそれぞれの横軸の下に記載されているように、
ｊにより列数（絶対値）が示されている、すなわちこの
値は、画像端縁の一端における第１図のSC1およびSC2に
対応する走査動作から開示して他端まで走行するインク
リメントステップでの計数により得られる。本例におい
ては、検出された全領域が列番号42と56との間に位置
し、これに対して相互相関関数のために列番号44ないし
52が用いられる（Ｎ＝８）と仮定されている。第４図お
よび第５図から分かるようにdxは、２つの最大値IVM1と
IVM2との間の間隔である。
第７図はKKF（ｎ）の関数的従属性KKFとその最大値が
示されている。補償すべき横方向ずれdxは本例において
は約3.4（Ｔ＝１を有する相対単位）。好適には、値間
隔Ｔによりdxの分解能は制限されるために、離散相互相
関関数KKF（ｎ）は関数的従属性KKFにより近似される。
本例においては、広く使用されている最小自乗法により
行うことが提案される。これは形式的には式 を、ρが最小となるように解くことを意味する。これか
らＫＦはKKF（ｎ）から一義的に求めることができる
（ＫＦ（ｎ）は値ｎに対して計算された関数ＫＦで
ある）。
第８図は２つのファイバ端部FE1およびFE2を大きく拡
大して示しており、これらは付加的に、それらの長手軸
線LA1とLA2の間に角度誤差を有する。ファイバ端部FE1
において（またはその影において）、（第２図の矢印SC
1に対応して）２つの走査を間隔ａで行う場合、２つの
列SP1およびSP2と角度誤差φに対して式 が成立する。但しｄφは、順次に続く列SP1とSP2との間
の間隔から得られるずれである。
値φが、たとえばφmax等の固定値を越えると、位置
調整動作が誤り通報により中断され、同様に接合動作も
中断される。この場合に少なくとも１つのファイバを新
しく嵌込まなくてはならない。
第９図の装置は、種々の制御素子および評価素子のブ
ロック回路図により第１図の構成を簡単かつが概念的に
示している。基板GPの下方に開口部OPの領域の中にビデ
オカメラVCが設けられ、このビデオカメラVCは、破線に
より示されているように（第１図の矢印SC1およびSC2に
対応して）ｘ方向に、ビデオカメラVCに到来する画像を
行毎に走査化し、その際に、第10図に時間ｔに依存して
示されているようにアナログビデオ信号UVが発生する。
第11図は、通常のようにフィールドの順次の走査を示
し、実線は第１のフィールドを、点線は第２のフィール
ドを示す。この走査動作によるアナログ信号UVが第10図
に対応して発生し、凹部HB1,HB2,HB3はそれぞれフィー
ルドの１つの行の端部をマーキングしている。第10図の
右側部分に示されているように、このようにして得られ
たアナログ信号からサンプルホールド回路により個々の
標本値が（第４図または第５図の量子化した値に対応し
て）得られる。このようにして得られたUVのアナログサ
ンプル信号はA/D変換器ADWに供給され、ディジタル化さ
れたビデオ信号UVDの個々の標本値は、（第４図および
第５図の量子化された値に対応して）、順次にRAMメモ
リRMSに書込まれる。メモリRMSは、ディジタル化された
ビデオ信号のデータを第４図および第５図の標本値に対
応して記憶しているRAMである。
メモリRMSは評価装置のマイクロコンピュータCPUと接
続されており、マイクロコンピュータCPUは、測定動作
を命令形式で記憶している、すなわちプログラムシーケ
ンス全体を制御しデータを評価するプログラムを格納し
ているEPROMにより制御される。このプログラムは、順
次の接合動作におけるすべての走査動作に対して常に同
一である。
演算および制御ユニットすなわちマイクロコンピュー
タCPUは全動作をスタートし、標本化される個々の列の
番号（ｊ）を順次に同期および制御論理装置SCLに出力
する。この同期および制御論理装置SCLはA/D変換器を走
査動作の開始時にスタートし、ビデオカメラにおける実
際の走査動作の開始もスタートする。このようにして列
毎にｘ方向における標本値がメモリRMSに書込まれ、走
査動作の後即第４図および第５図の双方の関数のディジ
タル化された値から得られると、次いで相互相関が第６
図または第７図に対応してマイクロコンピュータCPUに
おいて行われる。この結果に基づいてマイクロコンピュ
ータCPUは保持装置HR2を、可及的正確なアライメント
（dx＝０）を得るという指示の下に制御する。
走査の際に発生するフィールド（第11図参照）はその
際に奇数の行のみであり、これに対して第２のフィール
ドは偶数の行を再生している。行の数は規格化されてお
り（CCITTまたはNTSC）、１つの行の情報はそれぞれｎ
の列に分配される、すなわち画像情報はｎの行およびｊ
の列を有するマトリクスとして示される。ｎの列を有す
るただ１つの行の結果が第４図および第５図に示されて
いる。第４図および第５図に示されている標本値のそれ
ぞれは従って、面全体の中の大きさ0.001×0.001に狭く
制限されている、所定の部分面における強度値を表す。
マイクロコンピュータCPUは、ディジタル化する行ま
たは列を求め、同期および制御論理装置SCLに、行ディ
ジタル化されるのか列がディジタル化されるのかを伝達
する。同期および制御論理装置SCLはさらに、第１のフ
ィールドがディジタル化されるのか第２のフィールドが
ディジタル化されるのかを伝達し、同期および制御論理
装置SCLはさらにそれぞれの行または列の番号を伝達す
る。
同期および制御論理装置SCLは次いで適当な時点でｊ
列またはｎ行をスタートし、さらにA/D変換動作をスタ
ートする。行または列のディジタル化された値はこの
後、すなわち測定動作の終了時にメモリRMSに記憶さ
れ、マイクロコンピュータSPUにより対応して第６図お
よび第７図に対応する相互相関関数に従って評価され
る。
調整素子におけるヒステリシス、反転遊び等の障害量
を位置調整動作の繰返しにより、最適なファイバ位置に
逐次に到達して最小化すると好適である。
ビーム反転によりｘ方向およびｙ方向におけるファイ
バ端部の結像を上下に重ねて画像センサを行うことも可
能であり、その際にそれぞれ１つの列はｘ方向における
そして付加的にｙ方向におけるそれぞれ１つのファイバ
端部の強度分布を含んでいる。これら２つの強度分布は
順次にマイクロコンピュータCPUで、対向して位置する
ファイバの対応する強度分布とを相互相関される。
少なくとも１つの方向におけるファイバ端部FE1およ
びFE2のアライメントの後に、有利には溶接工程の形式
のスプライス工程を行い、スプライス工程の終了後に走
査動作を繰返し、残存する横方向のずれ、または角度誤
差をスプライスの質を判断するために用い、対応して表
示すると好適である。多重スプライス機器においては、
横方向のずれと、場合に応じて角度誤差とを各溶接され
たファイバ対に対して計算する。強度分布は好適にはフ
ァイバ端部FE1およびFE2の端面のできるだけ近傍で検出
する。
多くの走査を、ファイバ端部FE1,FE2の長手軸線LA1,L
A2の同一個所（ｚ＝１）における強度分布を検出するた
めに行うと非常に有利である。多くの走査を、ファイバ
端部FE1,FE2の長手軸線LA1,LA2の種々の個所（ｚは一定
でない）における強度分布を検出するために行うことも
可能である。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の方法を実施する装置の基本構造を部分
的に斜視図で示す概念図、第２図は、２つのレベル面に
おいてファイバ端部のアライメントを行うために用いる
第１図の装置の変形を部分的に斜視図で示す概念図、第
３図は透過光および反射光の伝搬装置を示す概念図、第
４図および第５図は２つのファイバ端部の２つの強度分
布を示す線図、第６図は対応する相互相関関数の線図、
第７図は相互相関関数の被変数関数および対応する最大
値を示す線図、第８図はファイバ端部のアライメントに
おける角度誤差を求める方法を示す側面図、第９図は本
発明の方法を実施するのに適する評価装置の構成のブロ
ック回路図が補足されている概念図、第10図はアナログ
および標本化された信号列のビデオ信号の変化を示す線
図、第11図はファイバ端部の列毎の走査におけるフィー
ルドの分布を示す線図、第12図はファイバ長手軸線の方
向における走査の概略図である。 ADW……A/D変換器、CPU……マイクロコンピュータ、FE
1,FE2……ファイバ端部、GP……基板、HB1,HB2,HB3……
凹部、HR1,HR2……保持装置、IVM1,IVM2……最大値、LA
1,LA2……長手軸線、、LE……光束、LS1,LS2,LSR2……
レンズ、LQ,LQ＊……光源、LW1,LW2……光導波体、OP…
…開口部、RMS……RAMメモリ、SB……線、SC1,SC2,SC12
……矢印、SCD,SCD＊,SCDR……走査装置、SCL……制御
論理装置、SF1,SF2,SF1＊,SF2＊……影像、SL1,SL2……
導線、SMX,SMY……制御線、UV……アナログビデオ信
号、UVD……ディジタル化されたビデオ信号、VC……ビ
デオカメラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−121804（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−189409（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−61703（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G02B 6/24 - 6/255

Claims (19)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】保持装置（HR1,HR2）に保持された光導波
    体の２つのファイバ端部（FE1,FE2）のアライメント方
    法において、 シリンダレンズとして作用する各ファイバ端部（FE1,FE
    2）を光束（LE）により照射して、強度の最大値がファ
    イバ端部影像の中央に形成されるように配置し、 このようにして形成された各ファイバ端部（FE1,FE2）
    の画像をビデオカメラの画像センサにより走査し、互い
    におよび光束（LE）に対し垂直な２つの平面におけるフ
    ァイバ端部の位置を求め、 該２つの平面の各々についてファイバ長手軸線に対し垂
    直方向で、各ファイバ端部の像に対し強度分布を別個に
    離散的な強度値として求めて、ディジタル形式でメモリ
    に別個に格納し、 このようにして格納された強度分布における最大値の間
    隔から、前記２つの平面の各ファイバ長手軸線間のずれ
    を計算装置（COM X,COM Y）により求め、 該ずれに基づき調整量を導出し、該調整量により保持装
    置（HR1,HR2）を少なくとも一方（HR2）を用い各ファイ
    バ端部（FE1,FE2）のうち少なくとも一方において、光
    束（LE）に対し垂直に延びる平面に関して正確にアライ
    メントされるまで、自動的な事後調整を行うことを特徴
    とする、 ２つのファイバ端部のアライメント方法。
  2. 【請求項２】ファイバ端部（FE1,FE2）を白色光により
    照射する、請求項１記載の方法。
  3. 【請求項３】ファイバ端部（FE1,FE2）の照明をハロゲ
    ンランプを用いて行う、請求項１または２記載の方法。
  4. 【請求項４】ファイバ端部（FE1,FE2）の照明を発光ダ
    イオードにより行う、請求項１または２記載の方法。
  5. 【請求項５】ファイバ端部（FE1,FE2）照明を半導体レ
    ーザーにより行う、請求項１または２記載の方法。
  6. 【請求項６】各ファイバ端部（FE1,FE2）の像をその長
    手軸線（LA1,LA2）を横断する方向に少なくとも１度だ
    け行に沿って走査し、 各行の中で列毎に離散的な強度分布を求めてメモリ装置
    に格納し、 このようにして行毎に２つのファイバ端部（FE1,FE2）
    に対して得られた列毎に量子化された強度分布を、２つ
    のファイバ端部（FE1,FE2）を評価するために別個に準
    備し、 ２つのファイバ端部の強度分布の列毎の位置における差
    からアライメントにおける誤差（dx）を求め、アライメ
    ントするために少なくとも１つのファイバ端部（たとえ
    ばFE2）を事後調整する、請求項１〜５のいずれか１項
    記載の方法。
  7. 【請求項７】２つのファイバ端部（FE1,FE2）から得ら
    れた別個の２つの強度分布を相互相関にかける、請求項
    ７記載の方法。
  8. 【請求項８】離散的な相互相関関数を（たとえば多項式
    補間等の）関数的従属性により近似する、請求項７記載
    の方法。
  9. 【請求項９】ファイバ長手軸線の方向において互いにず
    れている２つの列毎の各ファイバ端部の走査を評価する
    ことにより角度誤差を検出する、請求項１〜８のいずれ
    か１項記載の方法。
  10. 【請求項１０】位置調整素子におけるヒステリシス、反
    転遊び等の障害量を位置決めプロセスの繰返しにより、
    最適のファイバ位置へ逐次に到達するために最小化す
    る、請求項１〜９のいずれか１項記載の方法。
  11. 【請求項１１】第１の観察レベル面（ｘ）に対して垂直
    の第２の測定動作において、第１の観察レベル面（ｘ）
    に対して垂直のファイバ端部（FE1,FE2）のアライメン
    トの評価を行い、第２のレベル面（ｙ）の内でも事後調
    整を行う、請求項１〜10のいずれか１項記載の方法。
  12. 【請求項１２】ビーム方向変換よりにｘ方向およびｙ方
    向におけるファイバ端部を画像センサにおいて上下に重
    ねて結像し、それぞれ１つの列が、ｘ方向そして付加的
    にｙ方向におけるそれぞれ１つのファイバ端部の強度分
    布を含み、２つの強度分布を順次に演算ユニットで、対
    向して位置するファイバの対応する強度分布と相互相関
    する、請求項11記載の方法。
  13. 【請求項１３】少なくとも１つの方向におけるファイバ
    端部（FE1,FE2）のアライメントの後に、有利には溶接
    工程であるスプライス工程を行い、スプライス工程の終
    了後に走査動作を繰返し、残存した横方向のずれ、また
    は角度誤差を、スプライスの質を判断するために用い
    る、請求項１〜12のいずれか１項記載の方法。
  14. 【請求項１４】多重スプライス機器において、横方向の
    ずれと場合に応じて角度誤差とを、各溶接するファイバ
    対に対して計算する、請求項13記載の方法。
  15. 【請求項１５】強度分布を、ファイバ端部（FE1,FE2）
    の端面のできるだけ近傍で検出する、請求項１〜14のい
    ずれか１項記載の方法。
  16. 【請求項１６】ファイバ端部（FE1,FE2）の長手軸線（L
    A1,LA2）の同一個所における強度分布を検出するために
    複数の走査を行う、請求項１〜15のいずれか１項記載の
    方法。
  17. 【請求項１７】ファイバ端部（FE1,FE2）の長手軸線（L
    A1,LA2）の種々の個所における強度分布を検出するため
    に複数の走査を行う、請求項１〜16のいずれか１項記載
    の方法。
  18. 【請求項１８】ファイバ端部（FE1,FE2）の像の走査を
    そのファイバ長手軸線（LA1,LA2）の方向で行い、対応
    する強度分布から２つのファイバ端部の間のギャップの
    大きさ（dz）を検出し、この大きさに基づいて、ファイ
    バ端部（FE1,FE2）の長手方向（ｚ）におけるファイバ
    端部（FE1,FE2）の事後調整を行う、請求項１〜17のい
    ずれか１項記載の方法。
  19. 【請求項１９】保持装置（HR1,HR2）に保持された光導
    波体の２つのファイバ端部（FE1,FE2）のアライメント
    装置において、 シリンダレンズとして作用する各ファイバ端部（FE1,FE
    2）が光源（LQ）により照射され、そのようにして形成
    された各ファイバ端部の影像がビデオカメラにより走査
    され、 前記光源（LQ）により白色光が各ファイバ端部（FE1,FE
    2）へ向けられ、 記憶装置が設けられており、該装置装置内に、２つの平
    面の各々についてファイバ長手軸線に対し垂直方向で、
    各ファイバ端部の像に対し強度分布が別個に離散的な強
    度値として格納され、 調整装置が設けられており、該調整装置は、格納された
    強度分布の最大値の間隔から求められた調整量に基づ
    き、各ファイバ端部を収容している保持装置のうちの少
    なくとも一方（HR2）を事後調整を行うことを特徴とす
    る、 ２つのファイバ端部（FE1,FE2）のアライメント装置。
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Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04315107A (ja) * 1991-04-12 1992-11-06 Sumitomo Electric Ind Ltd 光ファイバの接続方法
DE4139152B4 (de) * 1991-11-28 2005-12-01 CCS Technology, Inc., Wilmington Verfahren zum Spleißen von Lichtwellenleitern
FR2688059A1 (fr) * 1992-02-28 1993-09-03 Vareille Aime Procede optique de determination de positions relatives de deux pieces et dispositif pour sa mise en óoeuvre.
EP0582116B1 (de) * 1992-08-07 1999-01-27 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Ermittlung der Lage von Lichtwellenleitern und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US6203214B1 (en) * 1993-09-01 2001-03-20 Laurence N. Wesson Alignment system for splicing of polarization-maintaining single mode optical fiber
CA2116934C (en) * 1994-03-03 2000-08-01 Murray R. Harman Method for controlling the contact of optical fibers
US5740301A (en) * 1994-06-27 1998-04-14 Fiberlign Division Of Preformed Line Products Ltd. Fusion splicing block with electrodes disposed on planar surface
JP3168844B2 (ja) 1994-10-13 2001-05-21 住友電気工業株式会社 定偏波光ファイバの融着接続方法
SE505771C2 (sv) * 1994-10-24 1997-10-06 Ericsson Telefon Ab L M Förfarande och anordning för bestämning av avståndet mellan kärnor i en optisk fiber samt användning av förfarandet respektive anordningen
US5524163A (en) * 1994-12-29 1996-06-04 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Apparatus for splicing optical fibers and method for the same
US5768409A (en) * 1995-08-02 1998-06-16 Lucent Technologies Inc. Automatic inspection method for contactlessly measuring an offset of a central feature of an object
US5729622A (en) * 1995-08-02 1998-03-17 Lucent Technologies Inc. Automatic inspection system for contactlessly measuring an offset of a central feature of an object
SE504588C2 (sv) * 1995-09-29 1997-03-10 Ericsson Telefon Ab L M Förfarande och anordning för att bestämma avstånd mellan optiska fibrer samt fiberskarvningsmaskin innefattande sådan anordning
EP0813081A1 (de) * 1996-06-12 1997-12-17 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum Erkennen des Schiefstellungswinkels mindestens einer Lichtleitfaser und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE19746080A1 (de) 1996-10-24 1998-04-30 Siemens Ag Verfahren sowie Vorrichtung zur Einstellung von Schweißparametern
US5912736A (en) * 1996-11-25 1999-06-15 Lucent Technologies Inc. Optical reflection methods and apparatus for aligning communication system components
DE19737358A1 (de) * 1997-08-27 1999-03-04 Siemens Ag Verfahren sowie Vorrichtung zum thermischen Verschweißen von Lichtleitfasern
DE19737410A1 (de) * 1997-08-27 1999-03-04 Siemens Ag Verfahren sowie Vorrichtung zur Gewinnung von Informationen über mindestens ein Lichtleitfaserende
JP3176574B2 (ja) 1997-10-15 2001-06-18 住友電気工業株式会社 光ファイバ観察装置および光ファイバ融着接続装置
DE69937595D1 (de) * 1998-03-18 2008-01-03 Furukawa Electric Co Ltd Bildverarbeitungsanlage zur prüfung von optischen fasern
US6266472B1 (en) 1999-09-03 2001-07-24 Corning Incorporated Polymer gripping elements for optical fiber splicing
CA2354289A1 (en) * 2001-07-26 2003-01-26 Viamode Photonics Inc. Method and apparatus for aligning an optical fiber with a radiation source
US7004640B2 (en) * 2003-03-24 2006-02-28 Aurora Instruments, Inc. Low profile local injection and detection system for optical fiber waveguides
US7070342B2 (en) * 2003-03-24 2006-07-04 Aurora Instruments, Inc. Low profile system for joining optical fiber waveguides
US7090414B2 (en) * 2003-03-25 2006-08-15 Aurora Instruments, Inc. Automatic apparatus for cleaving optical fiber waveguides
US6984077B2 (en) * 2003-03-25 2006-01-10 Aurora Instruments, Inc. System for joining polarization-maintaining optical fiber waveguides
JP2008514344A (ja) * 2004-10-01 2008-05-08 ユニバーシティ・オブ・ワシントン スキャニング・ビーム・デバイス用の構成メモリ
US8929688B2 (en) * 2004-10-01 2015-01-06 University Of Washington Remapping methods to reduce distortions in images
US7298938B2 (en) * 2004-10-01 2007-11-20 University Of Washington Configuration memory for a scanning beam device
WO2006071216A1 (en) * 2004-12-23 2006-07-06 University Of Washington Methods of driving a scanning beam device to achieve high frame rates
US7784697B2 (en) 2004-12-23 2010-08-31 University Of Washington Methods of driving a scanning beam device to achieve high frame rates
US7159782B2 (en) * 2004-12-23 2007-01-09 University Of Washington Methods of driving a scanning beam device to achieve high frame rates
US7189961B2 (en) 2005-02-23 2007-03-13 University Of Washington Scanning beam device with detector assembly
US20060226231A1 (en) * 2005-03-29 2006-10-12 University Of Washington Methods and systems for creating sequential color images
DE102005021119A1 (de) * 2005-05-06 2006-11-16 CCS Technology, Inc., Wilmington Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung einer Dämpfung an einer Verbindungsstelle zweier optischer Fasern
US7395967B2 (en) * 2005-07-21 2008-07-08 University Of Washington Methods and systems for counterbalancing a scanning beam device
US7312879B2 (en) * 2005-08-23 2007-12-25 University Of Washington Distance determination in a scanned beam image capture device
SE530854C2 (sv) * 2005-12-30 2008-09-30 Ericsson Telefon Ab L M Inriktning av optiska fibrer vid dessas skarvning
DE102006047425A1 (de) * 2006-10-06 2008-04-10 CCS Technology, Inc., Wilmington Gerät und Verfahren zum thermischen Verbinden von Lichtleitfasern
WO2009115311A1 (de) * 2008-03-19 2009-09-24 Thomas Kollewe Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der lage und ausrichtung eines prüflings
US8998511B2 (en) 2008-07-08 2015-04-07 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Cladding alignment for fusion splicing optical fibers
WO2010033498A1 (en) * 2008-09-16 2010-03-25 Afl Telecommunications Llc Automatic alignment for splicing of non-circular fiber
US9057838B2 (en) 2011-06-27 2015-06-16 Vytran, Llc Apparatus and methods for the determination of a birefringence axis of a polarization-maintaining optical fiber
US20130070252A1 (en) * 2011-09-21 2013-03-21 Honeywell International Inc. Systems and methods for a hollow core resonant filter
CN104101482B (zh) * 2013-04-10 2016-08-10 致茂电子(苏州)有限公司 发光模块检测装置以及发光模块检测方法
CN104777559B (zh) * 2014-01-14 2017-07-14 泰科电子(上海)有限公司 校准系统和方法、光纤插芯组件及制造方法、光纤连接器
WO2017008112A1 (en) * 2015-07-13 2017-01-19 The University Of Sydney Waveguide positioning
JP6383457B2 (ja) * 2017-05-09 2018-08-29 株式会社フジクラ 間欠連結型光ファイバテープの検査方法、検査装置及び製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3068253D1 (en) * 1979-12-03 1984-07-19 Post Office Improvements in or relating to the coupling of dielectric optical waveguides
JPS5886507A (ja) * 1981-11-18 1983-05-24 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 光フアイバのコア軸合せ方法
US4474469A (en) * 1982-04-19 1984-10-02 Northern Telecom Limited Precise positioning of optical fibers
JPS59187305A (ja) * 1983-04-08 1984-10-24 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 光フアイバ融着接続時のコア軸合せ方法
DE3471644D1 (en) * 1983-10-24 1988-07-07 Lyonnaise Transmiss Optiques Automatic machine for fusion splicing the ends of optical fibres
DE3429947A1 (de) * 1984-08-14 1986-02-27 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung zur einkopplung von licht in einen lichtwellenleiter
JPS6261010A (ja) * 1985-09-12 1987-03-17 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 光ファイバの融着接続方法
US5013345A (en) * 1987-12-04 1991-05-07 Fujikura Ltd. Method of fusion-splicing polarization maintaining optical fibers

Also Published As

Publication number Publication date
DE59010576D1 (de) 1997-01-09
EP0400408A2 (de) 1990-12-05
JPH0323408A (ja) 1991-01-31
US5011259A (en) 1991-04-30
ATE145732T1 (de) 1996-12-15
EP0400408A3 (de) 1992-03-11
EP0400408B1 (de) 1996-11-27

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