JP2951821B2

JP2951821B2 - プラント診断装置

Info

Publication number: JP2951821B2
Application number: JP5127825A
Authority: JP
Inventors: 健郎鈴木
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1993-04-30
Filing date: 1993-04-30
Publication date: 1999-09-20
Anticipated expiration: 2014-09-20
Also published as: JPH06314363A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、産業プラントで生産
される製品の品質データを解析の基礎データとして収集
するプラント診断装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来のプラント診断装置としては、１９
９２年４月三菱電機株式会社発行のカタログ「ＭＩＴＵ
ＢＩＳＨＩデータトレースバックシステム」に示されて
いるようなプラント監視支援装置がある。

【０００３】次にこのプラント監視支援装置の動作を説
明する。プラントで生産される製品の品質データを、高
速スキャニングしつつ、あらかじめ登録されたトリガ条
件のもとに、時間軸上の定周期のタイミングで収集して
表示装置に時系列に表示する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記従来のプラント診
断装置としてのプラント監視支援装置は、以上のように
構成されているので、オペレータ（操作者）が表示装置
に時系列に表示された品質データを見ることにより、そ
の見た品質データが図７に示すようにプラントで製造処
理を受ける鋼板のような製品Ｗのどの部位、例えば製品
Ｗの先端から１０ｍの部位Ｗ１を測定した品質データで
あるかを、即座に認識することができない。このため、
収集した品質データを基礎データとして、オペレータが
プラントにおけるプロセスでの過渡現象解析や異常発生
時の原因解析などを行う際において、時系列に表示され
た品質データがプラントで生産される製品のプラント内
のどこの製造過程（どの位置を通過した時）における品
質データであるかを解析するためには、プラントの生産
速度と生産時間などから、上記表示された品質データそ
れぞれをその計測部位と対応づける（ひもづける）必要
があり、データ解析上手間がかかる問題があった。

【０００５】また、品質データの収集が時系列に定周期
であるため、高速で品質データの収集を行った場合、品
質データの保存量が膨大な量となり、プラントでの製品
の製造途中で品質データの保存量がプラント診断装置に
おける記憶容量の最大値となった場合、製品全体の品質
データを収集することができず、製品全体のデータ解析
が不可能となる問題があった。

【０００６】この発明は上記のような課題を解消するた
めになされたものであって、プラントでの製品に関する
品質データを製品の計測部位と対応づけるとともに製造
の全過程に合わせて収集して保存し、データの解析容易
性、信頼性に優れたプラント診断装置を提供することを
目的とするものである。

【０００７】第１の発明に係るプラント診断装置は、ミ
クロデータ定義データベースに製品がプラントの製造過
程にラインインする場所から製品の品質データを測定す
る計測器の設置位置までの距離データを記憶し、品質ミ
クロデータサンプリング部で製品の製造過程へのライン
イン信号により品質データの収集開始を判断し、同ライ
ンイン信号と製品の製造過程での生産速度などを表すプ
ロセス情報とミクロデータ定義データベースより抽出し
た距離データとに基づく上記製品の特定位置が計測器の
設置位置を通過するタイミングにより品質データの収集
可否を判断し、上記ラインアウトセンサからのラインア
ウト信号により品質データの収集終了を判断しつつ品質
データを収集するとともに、この収集した品質データを
その製品に対する測定部位に対応づけて品質ミクロデー
タ収集データベースに格納保存するようにしたものであ
る。

【０００８】第２の発明に係るプラント診断装置は、上
記品質ミクロデータ収集データベースに保存された品質
データを表示手段にプラントの製造過程の距離データに
対応づけて表示するようにしたものである。

【０００９】第３の発明に係るプラント診断装置は、上
記品質ミクロデータ収集データベースに保存された品質
データを表示手段に統計処理して編集項目ごとに表示す
るようにしたものである。

【００１０】

【作用】第１の発明におけるプラント診断装置では、ミ
クロデータ定義データベースに距離データを記憶させた
状態において、プラントを運転開始すると、品質ミクロ
データサンプリング部がラインイン信号を受け取った後
の生産速度に相当する定長ピッチ信号を計数して製品の
生産距離を演算し、この演算距離が上記ミクロ定義デー
タベース中の距離データと一致し得る製品の特定位置が
計測器の設置位置を通過するタイミングにより計測器で
測定した製品の品質データを収集し、この収集した品質
データをその製品に対する測定部位に対応づけて品質ミ
クロデータ収集データベースに格納保存し、ラインアウ
ト信号により品質データの収集の１サイクルを終了す
る。

【００１１】第２の発明におけるプラント診断装置で
は、品質ミクロデータサンプリング部が品質ミクロデー
タ収集データベースに保存された品質データを表示手段
にプラントの製造過程の距離データに対応づけて表示す
る。

【００１２】第３の発明におけるプラント診断装置で
は、品質ミクロデータサンプリング部が品質ミクロデー
タ収集データベースに保存された品質データを最大値、
最小値、平均値などに統計処理して収集項目ごとに表示
手段に表示する。

【００１３】

【実施例】以下、この発明の実施例を図１乃至図６を用
いて説明する。

【００１４】実施例１．図３は、この発明に係る実施例
１のプラント診装置を使用する例えば鉄鋼プラントや紙
パルププラントなどのプラントを示す構成図であり、こ
の図において、２１Ａ，２１Ｂはコイル、２２Ａ，２２
Ｂはコイル２１Ａ，２２Ｂそれぞれを形成するように巻
き付けられる帯板状で長尺に形成された製品（プラント
で製造処理を受ける部材）、Ｓ１，Ｓ２，………，Ｓｉ
はプラントの生産ラインに設置された計測器、Ｐ１はプ
ロセス情報としてのラインイン信号を出力するラインイ
ンセンサ、Ｐ２はプロセス情報としてのラインアウト信
号を出力するラインアウトセンサ、Ａは製品２２Ａ，２
２Ｂの継ぎ目２３を起点としてコイル２１Ａ側の範囲、
Ｂは上記継ぎ目２３を起点としてコイル２１Ｂ側の範囲
である。

【００１５】次に上記プラントの動作を説明する。製品
２２Ａの後端にコイル２１Ｂから繰り出される製品２２
Ｂの先端をつなぎ、このつないだ製品２２Ａ，２２Ｂを
生産ラインに沿いコイル２１Ｂ側からコイル２１Ａ側に
帯板状に展開しつつ搬送し、その搬送される製品２２
Ａ，２２Ｂに生産ラインでの所定の製造処理を施しなが
ら、製品２２Ａの先端側をコイル２１Ｂとは異なる径の
コイル形状に巻き付けることにより、コイル２１Ｂとは
径の異なるコイル２１Ａを形成する。上記生産ラインに
おける製造処理が、搬送中の製品２２Ａ，２２Ｂに施さ
れることから、コイル２１Ｂを形成する製品２２Ａはコ
イル２１Ｂを形成する製品２２Ｂとは品質が異なってい
る。

【００１６】そして、製品２２Ａ，２２Ｂの継ぎ目２３
がプロセスの生産ラインに入る時点で、ラインインセン
サＰ１が、製品２２Ａ，２２Ｂの継ぎ目部分において製
品２２Ａの終端と製品２２Ｂの始端の両方またはいずれ
か一方に形成された継ぎ目を表す図示しない穴や溝など
を検出することにより、製品２２Ａ，２２Ｂの継ぎ目が
生産ラインに搬入されたことを知らせるラインイン信号
を出力する。また、製品２２Ａ，２２Ｂの継ぎ目がプロ
セスの生産ラインから出る時点で、ラインアウトセンサ
Ｐ２が、上記製品２２Ａ，２２Ｂの継ぎ目部分に形成さ
れた図示しない穴や溝などを検出することにより、製品
２２Ａ，２２Ｂの継ぎ目２３が生産ラインから搬出され
たことを知らせるラインインアウト信号を出力する。

【００１７】さらに、製品２２Ａ，２２Ｂがコイル２１
Ｂ側からコイル２１Ａ側へ搬送される製造過程におい
て、計測器Ｓ１，Ｓ２，………，Ｓｉが製品２２Ａ，２
２Ｂの品質データを測定する。例えば一つの計測器Ｓ１
が製品２２Ａ，２２Ｂの厚さを測定し、別の計測器Ｓ２
が製品２２Ａ，２２Ｂの幅を測定し、さらに別の図示し
ない計測器が製品２２Ａ，２２Ｂの温度を測定し、さら
に別の計測器Ｓｉが製品２２Ａ，２２Ｂの搬送速度を測
定するというように、複数の計測器Ｓ１，Ｓ２，……
…，Ｓｉが、搬送されながら製造処理を受ける製品２２
Ａ，２２Ｂの寸法データや物理データなどの品質データ
を測定する。

【００１８】図４は、同実施例１のプラント診断装置に
おける品質ミクロデータサンプリングの収集状態を示す
説明図であり、図において、製品２２Ａ，２２Ｂの生産
方向（長さ方向）の品質データを、生産方向での定ピッ
チごとのポイントで収集している。つまり、製品２２
Ａ，２２Ｂを生産方向の定ピッチに区分すると、サンプ
リングポイントＮｏ．ｎ（ただし、ｎ＝１，２，……，
ｉ，１，２，……ｉ）となる。そして、製品２２Ａ，２
２Ｂの継ぎ目２３が計測器Ｓ１の位置を通過してから計
測器Ｓ１が測定した品質データの収集を行う。同じく、
製品２２Ａ，２２Ｂの継ぎ目２３が計測器Ｓ２の位置を
通過すると、計測器Ｓ２が測定した品質データの収集を
行う。このようにして、製造処理を受ける製品２２Ａ，
２２Ｂに関して計測器Ｓ１，Ｓ２，………，Ｓｉが測定
した品質データを収集した場合、製品２２Ａ，２２Ｂの
生産方向について、定ピッチで収集した品質データデー
タと項目との関係は、図４の〇印のようになる。

【００１９】図１は、この発明に係る実施例１のプラン
ト診断装置を示す構成図であり、この図において、１１
は計測器Ｓ１，Ｓ２，………，Ｓｉで測定した品質デー
タ、１２は品質ミクロデータサンプリング部、１３はミ
クロデータ定義データベース、１４は品質ミクロデータ
収集データベース、１５はラインインセンサＰ１で測定
したラインイン信号やラインアウトセンサＰ２で測定し
たラインアウト信号および図示しないプロセス制御装置
から出力される定長ピッチ信号などのプロセス情報であ
る。

【００２０】次に、上記プラント診断装置の動作を説明
する。ミクロデータ定義データベース１３に、製品２２
Ａ，２２Ｂが生産ラインに入る場所を起点とし、各計測
器Ｓ１，Ｓ２，………，Ｓｉが設置された位置を終点と
する、起点から終点までの距離データを計測器Ｓ１，Ｓ
２，………，Ｓｉと対応づけしつつ記憶させておく。ま
た、生産ラインのラインインセンサＰ１よりもコイル２
１Ｂ側において、製品２２Ａの終端と製品２２Ｂの始端
とをつなぐ。そして、プラントを運転開始すると、品質
ミクロデータサンプリング部１２にプロセス情報１５と
品質データ１１が所定の順序で入力されると同時に、品
質ミクロデータサンプリング部１２がミクロデータ定義
データベース１３から距離データを取り込んでデータ収
集処理を行う。

【００２１】即ち、品質ミクロデータサンプリング部１
２は、先ず、プロセ情報であるラインイン信号と定長ピ
ッチ信号とミクロデータ定義データベース１３中の距離
データとによりサンプリング開始位置を求める。具体的
には、図２に示すように、ラインイン信号で製品２２
Ａ，２２Ｂの継ぎ目２３、つまり製品２２Ｂに注目して
みると製品２２Ｂの先端が生産ラインに入ったことが分
かるので、ラインイン信号によって距離を「０」に設定
する。次に、例えば製品２２Ｂの先端が生産ラインの入
口から１０ｍ進むごとに、定長ピッチ信号が品質ミクロ
データサンプリング部１２に入力されるので、定長ピッ
チ信号を計数することにより、製品２２Ｂの先端が生産
ラインの入口から出口側へどのくらいの距離だけ進んだ
のかが分かる。

【００２２】そこで、品質ミクロデータサンプリング部
１２は、製品２２Ｂの先端が生産ライン中をどれだけの
距離だけ進んだかを、ラインイン信号と定長ピッチ信号
とから演算し、その演算した距離がミクロデータ定義デ
ータベース１３から抽出した生産ラインの入口側に最近
い第１番目の計測器Ｓ１と対応する距離データと一致し
たときに、製品２２Ｂの先端が計測器Ｓ１の設置位置に
来たことになり、それがデータ収集のサンプリング開始
位置となる。以後、例えば１０ｍごとに入力される定長
ピッチ信号によって該当する計測器Ｓ２，………，Ｓｉ
で測定した品質データ１１を取り込む。そして、ライン
アウト信号が入力されたときは、製品２２Ｂの先端が生
産ラインから出たことを示すので、品質ミクロデータサ
ンプリング部１２は品質データ収集の１サイクルを終了
する。

【００２３】つまり、品質ミクロデータサンプリング部
１２は、ラインインセンサＰ１からのラインイン信号と
図示しないプロセス制御装置からの定長ピッチ信号とで
サンプリング開始位置を求め、この求めたサンプリング
開始位置がミクロデータ定義データベース１３の距離デ
ータと一致すればサンプリングを開始し、その後、定長
ピッチ信号により計測器Ｓ１，Ｓ２，………，Ｓｉで測
定した品質データ１１を取り込み、その取り込んだ品質
データ１１をその取り込み時刻と合わせて品質ミクロデ
ータ収集データベース１４に格納する。また、次のライ
ンイン信号が入力されば、次の製品２２Ｂの先端である
と認識されるため、定長ピッチ信号で次の製品２２Ｂに
対するサンプリング開始位置を求めると同時に、前の製
品２１Ａに対するサンプリング終了位置も求められる。
このようにして、継ぎ合わされた製品２２Ａ，２２Ｂの
厚さ、幅などの形状データや製造中の温度、速度などの
物理データからなるミクロな品質データ１１を、計測器
Ｓ１，Ｓ２，………，Ｓｉの設置位置ごとに対応づけし
ながら、品質ミクロデータ収集データベース１４に格納
収集することができる。

【００２４】上記品質ミクロデータ収集データベース１
４では、ミクロな品質データ１１がコイル２１Ａ，２１
Ｂの単位ごとに格納されるとともに、各コイル２１Ａ，
２１Ｂごとのミクロな品質データ１１が計測器Ｓ１，Ｓ
２，………，Ｓｉの個数分格納されることになる。これ
を図１の品質ミクロデータ収集データベース１４の右側
に図示した部分について詳述すると、コイル２１Ａ，２
１Ｂごとにデータベースがまとめられており、それがコ
イル２１Ａ，２１Ｂを付した四角の部分である。また、
コイル２１Ａ，２１Ｂに相当するデータベース内におい
て、計測器Ｓ１，Ｓ２，………，Ｓｉごとに対応するデ
ータ部分に分けられており、それがＳ１，Ｓ２，Ｓｉを
付した四角のデータ部分である。例えば、コイル２１Ａ
を付したデータベース中のＳ１を付したデータ部分にお
いては、Ｓ１データポイント＝製品部材２２Ａの先端でのＳ１データ、Ｓ２データポイント＝製品部材２２Ａの先端から１０ｍでのＳ１データ、Ｓ３データポイント＝製品部材２２Ａの先端から２０ｍでのＳ１データ、 ……… ＝ ………… ……… ＝製品部材２２Ａの後端でのＳ１データ、といように、品質データ１１が格納されている。よっ
て、オペレータがプラントの製造過渡現象解析や異常発
生時の解析を行うに際して、上記品質ミクロデータ収集
データベース１４に収集保存された品質データ１１を基
礎データとして取り出すことにより、生産ラインで製造
処理を受ける製品２２Ａ，２２Ｂの測定部位と対応づけ
られた品質データ１１を基礎データとして入手すること
ができ、上記解析作業が容易となる。

【００２５】また、品質ミクロデータ収集データベース
１４における各コイル２１Ａ，２１Ｂのミクロな品質デ
ータ１１には、取り込み時刻が対応づけられつつスタン
プされているため、オペレータがプラントの製造過渡現
象解析や異常発生時の解析に際して、上記品質ミクロデ
ータ収集データベース１４に収集保存された品質データ
１１を基礎データとして取り出すことにより、生産時刻
を容易に知ることができ、解析結果の信頼性も高まる。

【００２６】実施例２．図５は、この発明に係る実施例
２として、上記品質ミクロデータ収集データベース１４
中の情報を統計処理してＣＲＴのような表示装置に表示
した画面４０を示す平面図であり、図において、オペレ
ータが図示しないキーボードやマウスなどの入力手段を
操作してコイルとミクロの項目を指定すると、上記品質
ミクロデータサンプリング部１２が品質ミクロデータ収
集データベース１４から上記指定されたコイルとミクロ
な品質データ１１を検索して図示のように描画する。即
ち、表示装置の画面４０の横軸に距離をとり、上記距離
ごとに編集にされた品質データが折れ線グラフとして描
画される。

【００２７】また、上記ミクロデータ定義データベース
１３に測定データの異常範囲を決める上下限値をあらか
じめ定義として記憶しておく。そして、品質ミクロデー
タサンプリング部１２がミクロデータ定義データベース
１３から抽出した上下限値と上記品質ミクロデータ収集
データベース１４から検索した品質データ１１とを比較
し、上記画面４０に描画された折れ線グラフの異常な範
囲を示す部分を矢印４１で指示する。これにより、画面
４０の左上のコイル識別データ表示部分４２に表示され
たコイルとして巻き込まれている製品において、オペレ
ータが画面４０を見ることにより、製品として使用でき
る部分が当該製品の先端からどれだけの距離のところま
であるのかを簡単に把握し、品質管理、不良解析を的確
に行うことができる。

【００２８】さらに、品質ミクロデータサンプリング部
１２が上記品質データの統計値を算出して最大値、最小
値、平均値を求め、これら最大値、最小値、平均値を画
面４０の右側の統計表示部４３に表示したり、また、生
産開始時刻と生産終了時刻を品質ミクロデータ収集デー
タベース１４から検索して画面４０の右下の時刻表示部
４４に表示すれば、品質管理と不良解析をより適切なも
のとして提供できる。

【００２９】実施例３．図６は、この発明に係る実施例
３として、上記品質ミクロデータ収集データベース１４
中の情報を編集処理して上記画面４０に表示した状態を
示す平面図であり、図において、先ず、オペレータが図
示しないキーボードやマウスの入力手段で編集を指示す
ると、品質ミクロデータサンプリング部１２が品質ミク
ロデータ収集データベース１４中のコイル識別情報５１
を抽出して画面４０に格子配置で表示する。次に、オペ
レータが上記コイル識別情報５１の詳細なデータを把握
しようとして、その把握しようとするコイル識別情報５
１を上記入力手段にて画面４０中から選択すると、品質
ミクロデータサンプリング部１２が上記コイル情報５１
に対応する詳細なデータを画面４０に第１ウインドウ５
２として表示する。この第１ウインドウ５２の上段部分
５３には製品としてのコイル番号、生産開始時刻、生産
終了時刻などが表示され、第１ウインドウ５２の下段部
分５４には品質データ１１の収集項目ごとに最小値、最
大値、平均値、不良データのサンプリング数５５などが
表示される。そして、オペレータが第１ウインドウ５２
の左側の複数の選択子５６を入力手段で選択すると、該
当する複数の項目を表示させるようにすることもでき
る。

【００３０】また、オペレータが第１ウインドウ５２中
の不良データを詳細に知ろうとして、サンプリング数５
５を入力手段で選択すると、品質ミクロデータサンプリ
ング部１２が上記選択された詳細な不良データを第２ウ
インドウ５７として画面４０に表示する。この第２ウイ
ンドウ５７では、不良を発生した位置を示すサンプリン
グポイントとそのときのデータが表示される。そして、
オペレータが第２ウインドウ５７の左側の複数の選択子
５８を入力手段で選択すると、該当する複数の不良デー
タを表示させるようにすることもできる。上記画面４０
において、第１ウインドウ５２が表示されたときは第２
ウインドウ５７は消去され、第２ウインドウ５７が表示
されたときは第１ウインドウ５２は消去されるように、
第１ウインドウ５２と第２のウインドウ５７が交互に表
示される。

【００３１】

【発明の効果】以上のように第１の発明によれば、プロ
セス情報中のラインイン信号を受け取った後の生産速度
に相当する定長ピッチ信号を計数して製品の生産距離を
演算し、この演算距離が製品の製造過程へのラインイン
する場所から計測器までの距離データと一致するごとに
上記計測器で測定した製品の品質データを収集するとと
もに、上記品質データをプラントの全製造過程に合わせ
て収集し、この収集した品質データをその製品に対する
測定部位に対応づけて格納保存するように構成したの
で、収集保存した品質データを基礎データとして、プラ
ントにおけるプロセスでの過渡現象解析や異常発生時の
原因解析などを行う際において、品質データがプラント
で生産される製品のプラント内のどこの製造過程でのデ
ータであるかを即座に確認し、品質データの解析を容易
に行なうことができ、また、品質データの全製造過程に
ついて的確に保存し、信頼性に優れた品質データを得ら
れる効果がある。

【００３２】また、第２の発明によれば、上記格納保存
された品質データをプラントの製造過程の距離データに
対応づけて表示するように構成したので、製品として使
用できる部分が当該製品の先端からどれだけの距離のと
ころまであるのかというように、品質管理、不良解析を
簡単かつ的確に把握できる効果がある。

【００３３】さらに、第３の発明によれば、上記格納保
存された品質データを最大値、最小値、平均値などに統
計処理して編集項目ごとに表示するように構成したの
で、上記品質管理と不良解析をより適切なものにするこ
とができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明による実施例１のプラント診断装置を
示す構成図である。

【図２】実施例１における製品のラインイン状態を示す
側面図である。

【図３】実施例１のプラント診断装置を採用するプラン
トを示す構成図である。

【図４】実施例１のプラント診断装置における品質ミク
ロデータ収集データベースのデータ保存状態を示す説明
図である。

【図５】この発明による実施例２のプラント診断装置の
データ画面表示状態を示す平面図である。

【図６】この発明による実施例３のプラント診断装置の
データ画面表示状態を示す平面図である。

【図７】従来のプラント診断装置の作用を説明する説明
図である。

【符号の説明】

１１品質データ１２品質ミクロデータサンプリング部１３ミクロデータ定義データベース１４品質ミクロデータ収集データベース２１Ａ，２１Ｂコイル２２Ａ，２２Ｂ製品４０画面

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G07C 3/14 G01B 21/20 B21B 39/00 G01D 7/00 G01D 21/00

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】プラントで生産される製品の製造過程中
における品質データをプラント設備の診断に供する解析
の基礎データとして収集するプラント診断装置におい
て、製品の特定位置がプラントの製造過程にラインインした
ことを検出してラインイン信号を出力するラインインセ
ンサと、上記製品の特定位置がプラントの製造過程よりラインア
ウトしたことを検出してラインアウト信号を出力するラ
インアウトセンサと、上記製品の特定位置がプラントの製造過程にラインイン
する場所から上記品質データを測定する計測器の設置位
置までの距離データを記憶したミクロデータ定義データ
ベースと、上記ラインセンサからのラインイン信号により品質デー
タの収集開始を判断し、同ラインイン信号と製品の製造
過程での生産速度などを表すプロセス情報とミクロデー
タ定義データベースより抽出した距離データとに基づく
上記製品の特定位置が上記計測器の設置位置を通過する
タイミングにより同計測器が測定した品質データの収集
可否を判断し、上記ラインアウトセンサからのラインア
ウト信号により品質データの収集終了を判断しつつ品質
データを収集する品質ミクロデータサンプリング部と、この品質ミクロデータサンプリング部で収集した品質デ
ータをその製品に対する測定部位に対応づけて格納保存
する品質ミクロデータ収集データベースと、を備えたことを特徴とするプラント診断装置。
【請求項２】上記品質ミクロデータ収集データベース
に保存された品質データをプラントの製造過程の距離デ
ータに対応づけて表示する表示手段を備えたことを特徴
とする請求項第１項記載のプラント診断装置。
【請求項３】上記品質ミクロデータ収集データベース
に保存された品質データを統計処理して編集項目ごとに
表示する表示手段を備えたことを特徴とする請求項第１
項記載のプラント診断装置。