JP2948217B1 - ヒータ制御回路 - Google Patents

ヒータ制御回路

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JP2948217B1 JP23445098A JP23445098A JP2948217B1 JP 2948217 B1 JP2948217 B1 JP 2948217B1 JP 23445098 A JP23445098 A JP 23445098A JP 23445098 A JP23445098 A JP 23445098A JP 2948217 B1 JP2948217 B1 JP 2948217B1
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Abstract

【要約】 【課題】 交流電源電圧と制御回路とのアイソレーショ
ンと、測定用電流や制御用回路に必要な平均電流をより
少なくしたヒータ制御回路を提供する。 【解決手段】 交流電源端子1,2とヒータH間にサイ
リスタSCRを設けたヒータ回路において、パルス電圧
発生手段4を設けて負の半サイクルごとにヒータHにパ
ルス状の微少な測定電流を流して温度を測定すること
で、温度測定時の消費電力を小さくする。また、測定電
流を供給する上記サイリスタSCRとヒータの接続点に
電流制限抵抗を通じて発光ダイオードLEDなどのクラ
ンプ素子を接続し、ヒータHに測定電流Ispを供給し
たときの測定電圧Vmが、前記クランプ素子のクランプ
電圧以下になるようにすることにより、交流電源電圧と
制御回路とのアイソレーションを図る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、温度センサを兼
ね備えたヒータのヒータ制御回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】温度センサを兼ね備えたヒータのヒータ
温度制御回路としては、特公平2−54574号公報に
記載されたものなどが知られている。
【0003】このヒータ温度制御回路は、交流電源に半
導体スイッチング素子を介してヒータを接続するととも
に、このヒータ自体に測定用パルス電流を別途流す測定
回路を設けて、この測定電流よりヒータの抵抗値を得る
ことでヒータの温度を測定し、この測定結果に基づいて
トリガ回路で半導体スイッチング素子をオンまたはオフ
してヒータを所望の温度となるように制御している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ヒータ制御回路では、交流電源電圧が数十ボルト以内の
比較的低い電圧で使用するには問題ないが、商業電源電
圧である100ボルト以上での使用になると、ヒータ抵
抗値の測定制御回路とのアイソレーション(耐圧分離)
の問題を解決する必要があった。
【0005】そこで、この発明の課題は、交流電源電圧
と制御回路との合理的な耐圧分離と、測定用電流や制御
用回路に必要な電源の容量をより少なくすることで、交
流電源電圧からのドロッパー抵抗の発熱を少なくし、よ
り小型で安定なヒータ制御回路を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、請求項1では、交流電源端子間に半導体スイッチン
グ素子とヒータ自体の温度がヒータの電気抵抗の変化で
測定できる温度センサを兼ね備えたヒータを直列接続し
たヒータ制御回路において、上記半導体スイッチング素
子が通電していないときに、上記半導体スイッチング素
子に接続されていない側のヒータ端子がコモン端子にな
る極性のパルス電圧発生手段と、そのパルス電圧発生時
のみに制御回路への電源供給と、上記半導体スイッチン
グ素子とヒータの接続点に測定電流を供給する電流供給
手段と、同接続点に電流制限抵抗を通じて発光ダイオー
ドなどのクランプ素子とを接続し、このときに発生する
クランプ素子とコモン端子間の電圧を予め設定された基
準電圧と比較する比較手段と、この比較手段のコンパレ
ート出力に応じて上記半導体スイッチング素子をオン・
オフするトリガ手段とをそれぞれ設けた構成を採用した
のである。
【0007】このような構成を採用することにより、交
流電源のサイクルごとに発生するパルス電圧から制御回
路の電源供給とヒータの抵抗値を測定するための電流供
給とをパルス駆動で行うことで、制御に必要な電源回路
の平均電流は少なくなる。
【0008】さらに、ヒータに測定電流を供給したとき
の測定電圧であるヒータ端子間電圧と、ヒータに供給さ
れる加熱電圧との分離のために、測定電流を供給する上
記半導体スイッチング素子とヒータの接続点に電流制限
抵抗を通じて発光ダイオードなどのクランプ素子を接続
し、ヒータに測定電流を供給したときの測定電圧が、前
記クランプ素子のクランプ電圧以下になるようにヒータ
に供給する測定電流の設定を制限することで、測定電圧
はクランプされずにクランプ素子とコモン端子間に現わ
れ、ヒータ抵抗値の測定電圧として制御回路に導くこと
ができる。
【0009】また、ヒータに供給された加熱電圧は、前
記のクランプ素子でクランプされるので、クランプ電圧
以上にならず、ヒータに供給される電源電圧からヒータ
抵抗値の測定回路を保護することができる。
【0010】このとき、前記のクランプ素子に発光ダイ
オードを利用すれば、クランプ電流で発光ダイオードが
発光するので、ヒータに加熱電圧が供給されていること
を表示するヒータ通電表示ランプとクランプ機能を兼ね
ることができ、より合理的な回路構成になる。
【0011】請求項2では、上記比較手段のコンパレー
ト出力を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶した
コンパレート出力を上記半導体スイッチング素子の通電
が可能時に、この半導体スイッチング素子のトリガ端子
へ出力するスイッチ手段とを設けた構成を採用したこと
により、制御回路の電源と、ヒータに測定電流を供給す
る電源を同じパルス電圧手段から供給するために生じる
下記の問題を解決することができる。
【0012】パルス電圧発生手段の共用によってヒータ
抵抗値の測定電圧と、予め設定された基準電圧とを比較
する比較手段のコンパレート出力もパルス電圧と同じタ
イミングで発生するので、そのタイミングのままで半導
体スイッチング素子をトリガすると、ヒータへの測定電
流にトリガ電流が重複してしまい、ヒータ抵抗値の測定
電圧に誤差が生じてコンパレート出力が否定され、半導
体スイッチング素子のトリガが不安定になる。このた
め、コンパレート出力やトリガ信号を遅延させるなどタ
イミングが重ならない工夫が必要になる。その方法とし
て、コンパレート出力を記憶する記憶手段と、この記憶
したコンパレート出力を半導体スイッチング素子のトリ
ガ端子へ出力するスイッチ手段とを設けることで、ヒー
タ抵抗値の測定と半導体スイッチング素子のトリガが安
定かつ確実に行えるようにした。
【0013】請求項3では、上記半導体スイッチング素
子が単方向サイリスタである構成を採用することによ
り、交流電源電圧やヒータに供給される電源電圧からヒ
ータに測定電流を供給する電流供給手段と、半導体スイ
ッチング素子のトリガ手段とを保護する耐圧分離が、半
導体スイッチング素子を単方向サイリスタとすること
で、ダイオードのみで容易に行えるようになる。
【0014】請求項4では、上記パルス電圧の発生タイ
ミングが、上記単方向サイリスタの逆バイアス期間であ
る構成を採用したことにより、パルス電圧発生手段の発
生タイミングを交流電源端子の電圧が単方向サイリスタ
の逆バイアス期間にすることで、ヒータに測定電流を供
給するタイミングとトリガのタイミングが干渉しないの
で、安定したヒータ抵抗値の測定と半導体スイッチング
素子のトリガが行える。
【0015】請求項5では、上記パルス電圧発生手段の
パルス幅より狭いストローブ信号で、上記比較手段のコ
ンパレート出力を有効となるようにした構成を採用した
ことにより、制御回路の電源もヒータ抵抗値の測定電流
と共通のパルス電圧で駆動するため、パルス電圧の過渡
時に発生するハザードを前記パルス電圧のパルス幅より
狭いストローブ信号で比較手段のコンパレート出力を有
効となるように構成することで防いだ。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。
【0017】図1に第1実施形態のヒータ制御回路を示
す。
【0018】この回路は、図1に示すように、交流電源
端子1,2と、セラミックヒータH間に直列に設けられ
た単方向サイリスタ(以下サイリスタ)SCRと、パル
ス電圧発生手段4、測定電流供給手段5、検出手段6、
比較手段7、基準電圧発生手段8、ゲート手段9、記憶
手段10、スイッチ手段11及び直流電源12とで構成
されている。
【0019】パルス電圧発生手段4は、図1に示すよう
に、コンデンサC2を介して接続されたトランジスタT
R1とTR2とからなり、前記トランジスタTR2のベ
ースは交流電源端子1と直流電源12に、それぞれ、抵
抗R2,R4とR5を介して接続されている。
【0020】また、トランジスタTR2のベースは、抵
抗R5によってプルアップされ、図2(b)に示すよう
に、動作点はマイナス側に移動させてある。一方、前記
コンデンサC2の電荷は、抵抗R6(R6≫R15)に
より放電するようになっており、トランジスタTR2
は、図2(e)のように、交流電源サイクルの図2
(b)で示す負の点でオンとなり、放電されたコンデン
サC2の電荷を抵抗R15とトランジスタTR1のベー
スを介して充電する。そして、その充電電流によりトラ
ンジスタTR1はオンとなり、コンデンサC2が充電さ
れきって充電電流がなくなると、トランジスタTR1は
オフとなる。
【0021】再び負のサイクルになるとトランジスタT
R2がオフになり、抵抗R6によってコンデンサC2の
電荷が放電されることになり、上記の動作を繰り返す。
【0022】このようにトランジスタTR1は、コンデ
ンサC2の充電と放電を繰り返すことにより、図2
(g)に示すように、サイリスタの逆バイアス期間にパ
ルス状の電圧Vpを出力する。
【0023】このパルス電圧発生手段4は、測定電流供
給手段5と比較手段7及びゲート手段9とに接続されて
おり、測定電流供給手段5に測定電流Ispを供給し、
比較手段7とゲート手段9へ電力を供給するようになっ
ている。また、後述するように基準電圧発生手段8に接
続されて電力を供給するようになっている。
【0024】すなわち、測定電流供給手段5、比較手段
7、ゲート手段9、基準電圧発生手段8は、パルス電圧
発生手段4のパルス電圧Vpによって駆動され、そのパ
ルスに同期して作動する。そのため、それ以外のときに
は電力の供給を停止して、電力削減が可能となってい
る。
【0025】測定電流供給手段5は、パルス電圧発生手
段4に接続された抵抗R12(抵抗R12≫:ヒータ抵
抗のために定電流源として働く)と逆流防止用のダイオ
ードD3との直列回路からなり、前記直列回路のダイオ
ードD3のカソードをサイリスタSCRとヒータHとの
接続点に接続し、パルス電圧Vpが出力されると、測定
電流Ispを上記ヒータHに供給するようになってい
る。また、ヒータHには検出手段6が接続されている。
【0026】検出手段6は、この形態の場合、抵抗R1
の一端と発光ダイオードLEDのアノードとを接続した
直列回路で、この直列回路の抵抗R1の他端をサイリス
タSCRとヒータHとの接続点に接続して上記ヒータH
と並列に、かつ、上記サイリスタSCRがオンした際に
発光ダイオードLEDに順方向の電流が流れるように接
続してある。そして、このように接続した直列回路の抵
抗R1と発光ダイオードLEDのアノードとの接続点を
比較手段7と接続することにより、ヒータHの端子電圧
を検出できるようにしてある。
【0027】このとき、比較手段7には、後述するよう
な入力インピーダンスの高いオペアンプOP1などを用
いれば、比較手段7の入力インピーダンスと無関係に直
列回路の抵抗R1の抵抗値を発光ダイオードLEDの電
流値でもって設定することができる。
【0028】すなわち、このような接続にすれば、検出
電圧が発光ダイオードLEDの順方向電圧以下であるよ
うに、ヒータHに供給する測定電流Ispを制限する前
記測定電流供給手段の抵抗R12の抵抗値を設定するこ
とで、発光ダイオードLEDの影響を受けずに検出電圧
を比較手段7にそのまま入力することができる。
【0029】このように、従来の検出抵抗による分圧回
路のように検出電圧を分圧しないので、検出電圧の低下
がなく、検出電圧の増幅など必要としない。また、ヒー
タHの通電中には、比較手段7への入力電圧は発光ダイ
オードLEDがオンになり順方向電圧でクランプされる
ので、比較手段7を破損することがない。このとき、発
光ダイオードLEDは点灯するので、表示手段としても
使用できる。
【0030】比較手段7は、この形態の場合、上述した
ように、オペアンプOP1を用いたもので、オペアンプ
OP1の非反転入力を前記検出手段6の接続点と接続
し、反転入力は、基準電圧発生手段8と接続してある。
【0031】前記基準電圧発生手段8は、図1のよう
に、抵抗R8,R9,R10と半固定抵抗TP及び可変
抵抗器VRで構成されており、半固定抵抗TPは可変抵
抗器VRとヒータ抵抗値のばらつきを補正し、可変抵抗
器VRを調節することで、基準電圧Vrefを設定でき
るようになっている。また、抵抗R8,R9及びR10
を設けることで、可変範囲の設定を容易にしてある。
【0032】この基準電圧発生手段8はパルス電圧発生
手段4と接続されており、パルス電圧発生手段4からパ
ルス電圧Vpが出力されると、そのパルスに同期した基
準電圧Vrefを比較手段7のオペアンプOP1へ入力
する。
【0033】前記比較手段7のオペアンプOP1は、入
力した測定電圧Vmと基準電圧Vrefとを比較し、基
準電圧Vrefよりも測定電圧Vmが低いと「L」出力
となり、逆に基準電圧Vrefよりも測定電圧Vmが高
くなると、「H」出力となる。
【0034】このとき、オペアンプOP1はパルス電圧
Vpにより給電されて作動しているので、パルス電圧V
pのある間だけ、前記コンパレート出力を出力するが、
パルス電圧Vpの立ち上がりと立ち下がり時に不要なハ
ザードも出力される。
【0035】このため、この出力は、次段のゲート手段
9に入力される。ゲート手段9はオペアンプOP2を使
ったもので、この形態では、オペアンプOP2の反転入
力を抵抗R11でパルス電圧発生手段4の出力と接続
し、パルス電圧Vpでプルアップしてコンパレート出力
Vbを入力している。
【0036】こうすることで、コンパレート出力Vbが
「L」の際に、オペアンプOP2の反転入力が0.6〜
0.8V程度の飽和電圧を呈するようにしてある。
【0037】一方、オペアンプOP2の非反転入力は、
パルス電圧発生手段4のトランジスタTR2のエミッタ
に接続されている。そして、図3のVspのようなパル
ス電圧Vpより幅の狭い三角波に近いストローブ信号V
spを入力するようにしてある。
【0038】このため、コンパレート出力Vbが「H」
の時、つまり、基準電圧Vrefよりも測定電圧Vmの
方が高い場合は、図3(a)のように、ストローブ信号
Vspの方が低くなりゲート出力Vgは「L」のままと
なる。
【0039】逆に、コンパレート出力Vbが「L」の
時、つまり、基準電圧Vrefよりも測定電圧Vmの方
が低い場合は、図3(b)に示すように、コンパレート
出力Vbが0.6〜0.8Vの飽和電圧となるため、ス
トローブ信号Vspの方が高くなり、ゲート出力Vgは
「H」となってトリガ出力Vgを出力する。
【0040】このように、ストローブ信号Vspとゲー
ト手段9を用いることで、比較手段7の出力が確定した
時にコンパレート出力Vbを取り出すようにしたので、
比較手段7のパルス駆動による誤動作を防止できる。
【0041】このゲート手段9のトリガ出力Vgは、記
憶手段10に入力するようになっており、記憶手段10
は、スイッチ手段11を介してサイリスタSCRのトリ
ガ端子と接続されている。
【0042】前記記憶手段10は、この形態では、逆流
防止ダイオードD4と保持用コンデンサC3とで構成さ
れており、ゲート手段9からのトリガ出力Vgを保持用
コンデンサC3に充電するようになっている。
【0043】スイッチ手段11は、トランジスタTR3
を用いたもので、前記トランジスタTR3のコレクタを
記憶手段10と接続し、エミッタは逆流防止用のダイオ
ードD2を介してサイリスタSCRのトリガ端子に接続
してある。そして、トランジスタTR3のベースを抵抗
R3、R2を介して交流電源1に接続することにより、
交流電圧が正の半サイクルのときにオンし、負の半サイ
クルでオフとなるようにしてある。そのため、交流電圧
が負の半サイクルから正の半サイクルに変わるとスイッ
チ手段11はすぐにオンとなり、保持用コンデンサC3
に保持したトリガ出力である電荷をサイリスタSCRの
トリガ端子に入力することができるようになっている。
【0044】なお、抵抗R16は、抵抗R3を介して流
れ込んだベース電流のバイパス抵抗であり、また、ダイ
オードD5とコンデンサC4及び抵抗R14はヒステリ
シス回路で、この回路を設けることによりヒータHのオ
ン・オフが頻繁に起きないようにしてある。
【0045】この形態は、以上のように構成され、この
ヒータ制御回路の交流電源端子1,2に交流電源ACを
接続すると、交流電圧の負の半サイクルでパルス電圧発
生手段4のトランジスタTR2がオンとなり、トランジ
スタTR1からパルス状のパルス電圧Vpが出力され
る。このパルス電圧Vpにより比較手段7と測定電流供
給手段5に電力が供給され、測定電流供給手段5からヒ
ータHに測定電流Ispが供給される。そして、供給さ
れた測定電流Ispにより検出手段6が検出した測定電
圧Vmが比較手段7に入力される。同時に、基準電圧発
生手段8にもパルス電圧Vpによって電流が供給され、
基準電圧Vrefが比較手段7に供給される。
【0046】このとき、ヒータHには、駆動電流が流れ
ておらず、比較手段7に入力する測定電圧Vmは低いの
で、図3(b)に示すように、コンパレート出力は
「L」となる。そのため、ゲート手段9からトリガ信号
Vgが記憶手段10のコンデンサC3に充電される。
【0047】そしてコンデンサC3に保持されたトリガ
信号Vgは、交流電圧が正の半サイクルに変わると、ス
イッチ手段11がオンとなり、サイリスタSCRのトリ
ガ端子に入力され、サイリスタSCRをトリガする。そ
の結果、サイリスタSCRがオンとなってヒータHに駆
動電流が流れる。
【0048】このとき、検出手段6には、交流電圧が直
接印加されるが、発光ダイオードLEDがオンとなって
点灯するので、比較手段には順方向電圧以上の電圧は入
力されない。
【0049】こうして負の半サイクル中にパルス状のパ
ルス電圧Vpでもって温度を測定し、次の正の半サイク
ルにトリガを行ってヒータHを加熱する。これを繰り返
すことで、ヒータHの温度が上昇して行き、測定電流I
spによって比較手段7に入力する測定電圧Vmが上昇
して基準電圧Vrefを上回ると、比較手段7のコンパ
レート出力Vbは、図3(a)に示すように「H」とな
り、ゲート出力は「L」となる。そのため、記憶手段1
0へトリガ信号Vgは出力されなくなってコンデンサC
3に電荷が充電されなくなる。
【0050】したがって、スイッチ手段11がオンとな
ってもサイリスタSCRはトリガされずに、ヒータHへ
の加熱電力の供給は停止する。
【0051】また、加熱電力の供給が停止してヒータH
の温度が下がると、比較手段7に入力する測定電圧Vm
が低くなり、コンパレート出力Vbは「L」となる。そ
のため、ゲート手段9からトリガ信号Vgが記憶手段1
0に出力され、記憶手段10のコンデンサC3に充電さ
れる。その結果、サイリスタSCRは再びトリガされる
ようになる。
【0052】このように、この装置では、負の半サイク
ルごとにパルス電圧Vpを出力してヒータHの温度を測
定する。そして、その結果に基づいて記憶手段10にト
リガ信号Vgを記憶し、記憶したトリガ信号Vgで次の
正の半サイクルが始まる時にサイリスタSCRをトリガ
することで、ヒータ温度を所定値に保持する。
【0053】その際、非常に短い期間だけ測定電流Is
pを流すので、大きな測定電流Ispを流しても平均電
流は少なく、さらに、比較手段7やゲート手段9など他
の回路も測定電流と同じくパルス電圧Vpで駆動してい
るので、制御用電源容量を非常に少なくでき、発熱も少
なくなる。したがって、回路の小型化も図りやすい。
【0054】図4に第2実施形態を示す。
【0055】この形態は、第1実施形態のゲート手段9
に代えて、比較手段7の基準電圧Vrefをストローブ
信号Spで規制することにより、上記比較手段7からの
出力を有効となるようにしたものである。
【0056】すなわち、本形態では図4に示すように、
基準電圧発生手段8をトランジスタTR5を介して直流
電源12と接続してある。
【0057】また、そのトランジスタTR5をパルス電
圧発生手段4のトランジスタTR2のエミッタに接続し
たトランジスタTR4と接続している。
【0058】このような接続をすることによりトランジ
スタTR4は、トランジスタTR2がオンとなり図5の
ようにトランジスタTR2のエミッタ電圧VspがVb
eより上昇した時点でオンとなる。また、コンデンサC
2の充電電流が減少してVbeを下回るとオフとなる。
【0059】そのため、トランジスタTR4は、パルス
電圧Vpよりも狭い幅だけオンとなり、この信号でトラ
ンジスタTR5を駆動してストローブ信号Spを出力
し、基準電圧Vrefを比較手段7へ入力することにな
る。したがって、比較手段7の動作が安定してからコン
パレート出力Vgを出力するようにできるので、オペア
ンプOP1のパルス駆動によって生じるハザードを防止
することができる。
【0060】なお、この形態では、第1実施形態のよう
なゲート手段9を用いないため、比較手段7のコンパレ
ート出力の極性を第1実施形態のものと逆にしてある。
そのため、オペアンプOP1の非反転入力に基準電圧V
refを入力し、反転入力に検出器出力を入力すること
によって記憶手段10にトリガ信号Vgを入力するよう
にしている。
【0061】他の構成及び作用効果については、第1実
施形態と同じなので、図4に同一符号を付して説明を省
略する。
【0062】
【発明の効果】この発明は上記のように構成したので、
交流電源電圧と制御回路との合理的な耐圧分離と、測定
用電流や制御用回路に必要な平均電流をより少なくする
ことで、交流電源電圧からのドロッパー抵抗の発熱や電
源回路の発熱を少なくし、より小型で安定なヒータ制御
回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態の回路図
【図2】第1実施形態の電圧波形図
【図3】第1実施形態の電圧波形図
【図4】第2実施形態の回路図
【図5】第2実施形態の電圧波形図
【符号の説明】
1 交流電源端子 2 交流電源端子 4 パルス電圧発生手段 5 測定電流供給手段 6 検出手段 7 比較手段 8 基準電圧発生手段 9 ゲート手段 10 記憶手段 11 スイッチ手段 Isp 測定電流 Sp ストローブ信号 Vref 基準電圧

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 交流電源端子間に半導体スイッチング素
    子とヒータ自体の温度がヒータの電気抵抗の変化で測定
    できる温度センサを兼ね備えたヒータを直列接続したヒ
    ータ制御回路において、 上記半導体スイッチング素子が通電していないときに、
    上記半導体スイッチング素子に接続されていない側のヒ
    ータ端子がコモン端子になる極性のパルス電圧発生手段
    と、そのパルス電圧発生時のみに制御回路への電源供給
    と、上記半導体スイッチング素子とヒータの接続点に測
    定電流を供給する電流供給手段と、同接続点に電流制限
    抵抗を通じて発光ダイオードなどのクランプ素子とを接
    続し、このときに発生するクランプ素子とコモン端子間
    の電圧を予め設定された基準電圧と比較する比較手段
    と、この比較手段のコンパレート出力に応じて上記半導
    体スイッチング素子をオン・オフするトリガ手段とを設
    けたヒータ制御回路。
  2. 【請求項2】 上記比較手段のコンパレート出力を記憶
    する記憶手段と、この記憶手段に記憶したコンパレート
    出力を上記半導体スイッチング素子の通電が可能時に、
    この半導体スイッチング素子のトリガ端子へ出力するス
    イッチ手段とを設けた請求項1に記載のヒータ制御回
    路。
  3. 【請求項3】 上記半導体スイッチング素子が単方向サ
    イリスタである請求項1または2に記載のヒータ制御回
    路。
  4. 【請求項4】 上記パルス電圧の発生タイミングが、上
    記単方向サイリスタの逆バイアス期間である請求項3に
    記載のヒータ制御回路。
  5. 【請求項5】 上記パルス電圧発生手段のパルス幅より
    狭いストローブ信号で、上記比較手段のコンパレート出
    力を有効となるようにした請求項1乃至4のいづれか一
    つに記載のヒータ制御回路。
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