CN104048981B - 一种用于x射线荧光光谱仪的恒温控制系统及控制方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统及控制方法,由测温和控温两部分组成。测温部分包括:恒流源驱动电路、电桥测温电路、滤波限幅电路;控制算法采用PID线性控制器和Fuzzy控制器混合控制;加热器驱动电路采用光电耦合器结合双向可控硅进行交流电源控制。本发明系统性能稳定,抗干扰能力强,可实现温度分辨率0.1℃,温度设置及控制精度36±0.2℃。本发明系统不仅可以为X射线荧光光谱仪的样品室和分光室提供恒温环境,也可以应用于需要恒温调节的小环境场合的计量与测试。

Description

一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统及控制方法
技术领域
本发明涉及一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统及控制方法,属于光谱仪恒温控制技术领域。
背景技术
X射线荧光光谱分析技术,具有制样简单、分析精度高、准确度好、成本低、低污染、能同时对多元素快速分析等优点,应用领域广泛,已成为现代分析实验室必有的三大仪器之一。据不完全统计,全国各个分析领域拥有各种类型的大功率波长色散X射线荧光光谱仪超过2000台,并且以每年200-300台的速度在增加或更新。由于目前国内尚无大功率波长色散X射线荧光光谱仪的生产基地,长期依赖进口,因此,研究、设计、开发拥有自主知识产权的X射线荧光光谱仪是十分必要的。
X射线荧光光谱定性分析的基本原理可以表述为:样品受X射线照射后,其中各元素原子的內壳层(K、L或者M壳层)电子被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线(荧光)。每一种元素都有其特定波长(或能量)的特征X射线。通过测定样品中特征X射线的波长(或能量),便可确定样品中存在何种元素。
X射线荧光光谱定量分析的基本原理可以表述为:元素特征X射线的强度与该元素在样品中的原子数量(即含量)成比例,因此通过测量样品中某元素特征X射线的强度,采用适当的方法进行校准与校正,便可求出该元素在样品中的含量。
无论是定性分析还是定量分析,一般都采用晶体分光的方法测量X射线的波长或强度,分光晶体作为X射线衍射的光栅。由于晶体都存在一定的热膨胀系数,所以温度的变化会引起晶体的面间距变化,从而引起探测角度的变化,给测量带来误差。因此,尽量保持分光晶体所在环境的温度稳定,是提高测量准确度的一个重要方面。
发明内容
本发明的目的是为了解决上述问题,提出一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统及控制方法,实现温度分辨率0.1℃,温度设置及控制精度36±0.2℃。
一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统,包括测温和控温两个部分;
测温部分包括恒流源驱动电路、电桥测温电路、滤波放大限幅电路;
控温部分包括控制芯片、加热器驱动电路;
应用于一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统的控制方法,包括以下几个步骤:
步骤一:高精度电压基准芯片AD588BQ输出精准的+5V的基准电压,分别输出至OP07AZ1的正相输入端管脚3和OP07AZ2的反相输入端管脚2;OP07AZ1构成加法器,OP07AZ2构成跟随器,通过调整电位器R3,控制OP07AZ1的输出端管脚6输出0.5mA的恒定电流至电桥测温电路驱动温度传感器Pt1000;
步骤二:温度传感器Pt1000采用三线制接法,将温度信号转换为电压信号;步骤一中输出的0.5mA恒定电流经过参考电阻R9和温度传感器Pt1000;OP07AZ3对电阻R9的端电压进行单位放大后输入至OP07AZ5的反相输入端管脚2;OP07AZ4对Pt1000的端电压进行2倍放大后,输入至OP07AZ5的正相输入端管脚3;OP07AZ5的输出管脚6的输出信号即为经过放大的由Pt1000电阻变化引起的电压变化;
步骤三:步骤二中输出的电压信号经过滤波放大后,输入到限幅电路,将输出信号稳定在3.3V以下,然后将该信号输入到控制芯片中;
步骤四:根据步骤三的结果确定控制算法;控制算法采用PID线性控制器和Fuzzy控制器混合控制,在偏离设定温度点大于±0.5℃时采用Fuzzy控制,在工作点附近±0.5℃以内采用PID控制;根据控制算法计算得到的控制量,利用控制芯片中的事件管理器EV模块产生PWM波形,并将此波形输出到加热器的驱动电路;当PWM信号为高电平时,满足触发条件,故光耦产生电流信号从而驱动双向可控硅导通,加热器电源接通;当PWM信号为低电平时,光耦内部光电二极管不工作,双向可控硅关断,加热器电源断开。
本发明的优点在于:
(1)恒温控制系统抗干扰能力强,性能稳定工作可靠;
(2)采用了限幅保护,防止了瞬时高电压所引起的击穿破坏,有效保护了系统的稳定工作;
(3)本恒温控制系统不仅可以为X射线荧光光谱仪的样品室和分光室提供恒温环境,也可以应用于需要恒温调节的小环境场合的计量与测试;
(4)本恒温控制系统控温部分采用Fuzzy-PID混合控制,可以通过改变输出PWM波的占空比控制加热器的功率,达到精确控温的目的。
附图说明
图1是恒流源驱动电路的电路设计图;
图2是电桥测温电路的电路设计图;
图3是滤波放大限幅电路的电路设计图;
图4是系统实际测量的阶跃响应曲线图;
图5是加热器驱动电路的电路设计图;
图6是恒温控制系统的短期温控曲线;
图7是恒温控制系统的长期温控曲线;
图8是本发明测温模块的完整电路图。
具体实施方式
下面将结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。
本发明是一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统,如图8所示,包括测温和控温两个部分。
测温部分包括恒流源驱动电路、电桥测温电路、滤波放大限幅电路。
恒流源驱动电路包括高精度电压基准芯片AD588BQ以及具有低噪声、低失调、高开环增益的双极性运算放大器OP07AZ1和OP07AZ2构成,如图1所示。
高精度电压基准芯片AD588BQ采用双电源供电,供电电源置于图1中的P3位置,P3是接线端子,外接的正电源通过P3的管脚3与AD588BQ的管脚2相连,外接的负电源通过P3的管脚1与AD588BQ的管脚16相连,P3的管脚2接地。在AD588BQ的管脚2连接极性电容C1的正极,管脚16连接极性电容C2的负极,电容C1的负极和电容C2的正极接地。管脚1和管脚3相连后,经电容C6接地。管脚6和管脚8之间接电位器R1和R2,R1的抽头与管脚12相连,R2的抽头与管脚5相连。管脚4和管脚6相连,经过电阻R8与P3的管脚3连接。管脚7接极性电容C3的正极,C3的负极接地。管脚9直接接地。管脚10和管脚11直接相连。管脚13和管脚8相连。管脚14和管脚15相连,经过电容C7后接地。AD588BQ的管脚1和管脚3相连,输出精准的+5V的基准电压,经过电阻R4后分成两路,一路输入至OP07AZ1的正相输入端管脚3,另一路经过电阻R5后输入至OP07AZ2的反相输入端管脚2。
OP07AZ2构成电压跟随器,输出端管脚6与反相输入端管脚2直接相连。管脚3与OP07AZ1的输出端管脚6经过电阻R3相连,再经过极性电容C4接地。
OP07AZ1构成加法器,其管脚2经过电阻R6后接地,管脚6与管脚2之间接电阻R7。管脚6接电位器R3,R3的抽头与管脚6相连。通过调整R3,控制OP07AZ1的输出端管脚6输出0.5mA的恒定电流至电桥测温电路。
电桥测温电路主要由温度传感器Pt1000和运算放大器OP07AZ3和OP07AZ4构成,如图2所示。
恒流源驱动电路输出的0.5mA恒定电流经过由电阻R22和极性电容C4、C5组成的滤波电路后分成两路,一路接OP07AZ3的正相输入端管脚3,另一路驱动参考电阻R9和温度传感器Pt1000。R22的两端分别与极性电容C4和C5的正极相连,这两个电容的负极接地。温度传感器Pt1000将温度信号转换为电压信号,采用三线制接法,作为电桥的一个桥臂电阻,通过接线端子P1接入测温电路,P1的管脚1直接接地,管脚2接OP07AZ4的正相输入端管脚3,P1的管脚3与参考电阻R9相连。
OP07AZ3构成电压跟随器,管脚6和管脚2直接相连,对电阻R9的端电压进行单位放大,经过电阻R14后输入至OP07AZ5的反相输入端管脚2;
OP07AZ4与电阻R10和R11构成电压串联负反馈电路,管脚6经电阻R11与管脚2相连,再经过电阻R10接地,构成反馈。OP07AZ4对Pt1000的端电压进行2倍放大后,其输出端管脚6经电阻R12输入至OP07AZ5的正相输入端管脚3。
OP07AZ5起差分放大作用,反馈电阻R15置于OP07AZ5的反相输入端管脚2和输出端管脚6之间,电阻R13的一端接OP07AZ5的正相输入端3,另一端接地。OP07AZ5的输出端管脚6输出的信号即为经过放大的由Pt1000电阻变化引起的电压变化,即把温度的变化转化成为电信号的变化。
滤波放大稳压电路主要由运算放大器OP07AZ6和OP07AZ7,以及一系列电阻和电容组成,将OP07AZ5输出的电压信号进行滤波放大,如图3所示。
OP07AZ5的输出经电阻R16和R18后,输入至OP07AZ6的正相输入端管脚3,电容C8一端接在R16和R18之间,另一端与OP07AZ6的输出端管脚6相连,起滤波作用。电容C9一端接OP07AZ6的正相输入端管脚3,另一端直接接地。反馈电阻R19接在OP07AZ6的反相输入端管脚2和输出端管脚6之间,反相输入端管脚2经电阻R17后直接接地。
OP07AZ6的输出端管脚6与OP07AZ7的正相输入端管脚3相连,反馈电阻R21接在OP07AZ7的反相输入端管脚2和输出端管脚6之间,反相输入端管脚2经电阻R20后直接接地。OP07AZ7的输出管脚6输出的信号即为经过低通滤波放大的模拟温度信号,经过电阻R23后连接稳压二极管ZPD3.3V的阴极,利用稳压二极管ZPD3.3V将输出电压限制在0~3.3V之内后,通过接线端子P2输出至控制芯片的AD转换模块。
接线端子P2用以实现测温电路与控制芯片的连接,管脚1接测温电路的输出,管脚2接地。
所有附图中的运算放大器OP07AZ,管脚7接电源电压+5V,管脚4接电源电压-5V,管脚1,管脚5和管脚8悬空。
测温电路中各元件参数为:电阻R1=100K,R2=100K,R3=15K,R4=10K,R5=10K,R6=10K,R7=10K,R8=5K,R9=1.05K,R10=10K,R11=10K,R12=10K,R13=20K,R14=10K,R15=20K,R16=200K,R17=10K,R18=200K,R19=10K,R20=1K,R21=13K,R22=8.1K,R23=1K,电容C1=1μF,C2=1μF,C3=1μF,C4=1μF,C5=100μF,C6=0.01μF,C7=0.01μF,C8=1μF,C9=1μF,运算放大器的型号为OP07AZ,电压基准芯片的型号为AD588BQ,稳压二极管的型号为ZPD3.3V,控制芯片采用TMS320F28335。
控温部分包括控制芯片、加热器驱动电路;
本系统的控制算法是在控制芯片TMS320F28335中完成,采用Fuzzy-PID复合控制,根据测温电路输出的温度变化的电信号,采用相应的控制算法。当温度偏差偏离设定点大于±0.5℃时采用Fuzzy控制,响应速度快,动态性能好;当偏差在设定点附近±0.5℃以内采用PID控制,使其静态性能好,满足系统控制精度。参数的确定方法如下:
1、Fuzzy控制方法
Fuzzy控制以温差e和温差变化率ec作为输入,经量化后建立相应的隶属函数。输入变量e的模糊语言描述为{负大,负中,负小,负零,正零,正小,正中,正大},用字母表示为{NB,NM,NS,-0,+0,PS,PM,PB},温差e的论域为X,将其量化为14个等级,X={-6,-5,-4,-3,-2,-1,-0,+0,1,2,3,4,5,6},输入变量ec的模糊语言描述为{负大,负中,负小,零,正小,正中,正大},用字母表示为{NB,NM,NS,0,PS,PM,PB},ec的论域为Y,将其量化为13个等级,Y={-6,-5,-4,-3,-2,-1,0,1,2,3,4,5,6};输出变量u的模糊语言描述为{负大,负中,负小,零,正小,正中,正大},用字母表示为{NB,NM,NS,0,PS,PM,PB},u的论域为Z,将其量化为15个等级,Z={-7,-6,-5,-4,-3,-2,-1,0,1,2,3,4,5,6,7}。温差e的隶属度表如表1所示。
表1温差e的隶属度表
-6 -5 -4 -3 -2 -1 -0 +0 1 2 3 4 5 6
PB 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0.1 0.4 0.8 1.0
PM 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0.2 0.7 1.0 0.7 0.2
PS 0 0 0 0 0 0 0 0.3 0.8 1.0 0.5 0.1 0 0
-0 0 0 0 0 0 0 0 1.0 0.6 0.1 0 0 0 0
+0 0 0 0 0.1 0.6 1.0 0 0 0 0 0 0 0 0
NS 0 0 0.1 0.5 1.0 0.8 0.3 0 0 0 0 0 0 0
NM 0.2 0.7 1.0 0.7 0.2 0 0 0 0 0 0 0 0 0
NB 1.0 0.8 0.4 0.1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
温差变化率ec隶属度表如表2所示。
表2温差变化率ec的隶属度表
-6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6
PB 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0.1 0.4 0.8 1.0
PM 0 0 0 0 0 0 0 0 0.2 0.7 1.0 0.7 0.2
PS 0 0 0 0 0 0 0 0.9 1.0 0.7 0.2 0 0
0 0 0 0 0 0 0.5 1.0 0.5 0 0 0 0 0
NS 0 0 0.2 0.7 1.0 0.9 0 0 0 0 0 0 0
NM 0.2 0.7 1.0 0.7 0.2 0 0 0 0 0 0 0 0
NB 1.0 0.8 0.4 0.1 0 0 0 0 0 0 0 0 0
输出量u隶属度表如表3所示。
表3输出量u的隶属度表
-7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7
PB 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0.1 0.4 0.8 1
PM 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0.2 0.7 1.0 0.7 0.2 0
PS 0 0 0 0 0 0 0 0.4 1.0 0.8 0.4 0.1 0 0 0
0 0 0 0 0 0 0 0.5 1.0 0.5 0 0 0 0 0 0
NS 0 0 0 0.1 0.4 0.8 1.0 0.4 0 0 0 0 0 0 0
NM 0 0.2 0.7 1.0 0.7 0.2 0 0 0 0 0 0 0 0 0
NB 1.0 0.8 0.4 0.1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
建立模糊控制规则的基本思想:当误差大或较大时,选择控制量以尽快消除误差为主,而当误差较小时,选择控制量要注意防止超调,以系统的稳定性为主要出发点。以误差e为负大时,误差变化ec为负大为例,这时误差有增大的趋势,为尽快消除已有的负大误差并抑制误差变大,所以控制量取负大,即使发热电阻丝功率达到最小。建立编程实现的控制规则表如表4所示。
表4规则控制表
根据建立的隶属度表和控制规则表可得到控制器的输出值。如当温差e和温差变化率ec都为负大时,得到输出值C={1,0.7,0.1,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0},采用加权平均法得到精确控制量为
U = - 7 * 1 + ( - 6 ) * 0.7 + ( - 5 ) * 0.1 1 + 0.7 + 0.1 = - 6.5 - - - ( 1 )
2、PID控制方法
PID控制器的微分方程为:
u ( t ) = K p [ e ( t ) + 1 T I ∫ 0 t e ( t ) d t + T D d e ( t ) d t ] - - - ( 2 )
式中,u(t)为PID控制量;e(t)为输入偏差信号,为设定值与实际输出值的差;Kp为比例增益,TI为积分时间常数,TD为微分时间常数,Kd为微分增益。写成传递函数的形式为:
D ( S ) = U ( S ) E ( S ) = K p [ 1 + 1 T I S + T D S ] - - - ( 3 )
本控制系统的PID算法在传统的增量型控制方式上进行改进,实现了不完全微分,梯形积分和消除积分不灵敏区。比例部分的增量为:
ΔUp(n)=Kp[e(n)-e(n-1)] (4)
式中,e(n)为第n次采样时的偏差。
改进后的积分部分的增量为:
ΔU I ( n ) = K p T 2 T I [ e ( n ) + e ( n - 1 ) ] - - - ( 5 )
不完全微分改进后其增量为:
U d ( n ) = T D K d T + T D { U d ( n - 1 ) + K p K d [ e ( n ) - e ( n - 1 ) ] } - - - ( 6 )
ΔUd(n)=Ud(n)-Ud(n-1) (7)
最终得到比例积分微分算法(PID控制算法)的精确控制量:
U(n)=U(n-1)+ΔUp(n)+ΔUI(n)+ΔUd(n) (8)
PID控制系统根据恒温箱体实际情况进行参数选定,最终把各系数确定为Kp=50,TI=8,Td=5,Kd=10,使PID控制系统得到了很好的控制。
图4为系统实际测量的阶跃响应曲线图,它的横轴表示时间,纵轴表示系统的输出量。由图4中可以看出当系统单独采用PID控制时,存在很大的超调量,且调节时间过长,如果测量环境存在干扰将会影响系统的稳定性。当单独采用Fuzzy模糊控制时,虽然超调量减小,但是系统稳态误差过大,无法达到较高的控制精度要求。当系统采用Fuzzy模糊控制与PID控制相结合时,在超调量和静态误差方面都能够达到系统的控制要求。
根据控制算法计算得到的控制量,利用控制芯片中的事件管理器(EV)模块产生PWM波形,并将此波形输出到加热器的驱动电路。
加热器驱动电路采用光电耦合器moc3041结合双向可控硅VT1进行交流电源控制,如图5所示。控制芯片输出的PWM信号经过电阻R1与moc3041内部光电二极管的阳极管脚1相连,阴极管脚2接地。moc3041的管脚6经电阻R2接双向可控硅的管脚1,双向可控硅的管脚2经电阻R3与moc3041的管脚4相连,双向可控硅的管脚3与moc3041的管脚4直接相连。电阻R4’和极性电容C1’的正极串联后与双向可控硅VT1并联。交流电220V输入与双向可控硅的管脚1相连,双向可控硅的管脚2为加热器的驱动输出。当PWM信号为高电平时,满足触发条件,故光耦产生电流信号从而驱动双向可控硅VT1导通,加热器电源接通。当PWM信号为低电平时,光耦内部光电二极管不工作,双向可控硅VT1关断,加热器电源断开。
加热器驱动电路各元件参数为:电阻R1=100Ω,R2=360Ω,R3=330Ω,R4=39Ω,电容C1=0.01μF,光电耦合器的型号为moc3041,双向可控硅VT1的型号为BTA12-600B。
本发明是一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统的控制方法,包括以下几个步骤:
步骤一:高精度电压基准芯片AD588输出精准的+5V的基准电压,分别输出至OP07AZ1的正相输入端管脚3和OP07AZ2的反相输入端管脚2。OP07AZ1构成加法器,OP07AZ2构成跟随器,通过调整电位器R3,控制OP07AZ1的输出端管脚6输出0.5mA的恒定电流至电桥测温电路驱动温度传感器Pt1000。
步骤二:温度传感器Pt1000采用三线制接法,将温度信号转换为电压信号。步骤一中输出的0.5mA恒定电流经过参考电阻R9和温度传感器Pt1000。OP07AZ3对电阻R9的端电压进行单位放大后输入至OP07AZ5的反相输入端管脚2;OP07AZ4对Pt1000的端电压进行2倍放大后,输入至OP07AZ5的正相输入端管脚3。OP07AZ5的输出端管脚6输出的信号即为经过放大的由Pt1000电阻变化引起的电压变化。
步骤三:步骤二中输出的电压信号经过滤波放大后,输入到限幅电路,将输出信号稳定在3.3V以下,然后将该信号输入到控制芯片中。
步骤四:根据步骤三的结果确定控制算法。本系统的控制算法采用PID线性控制器和Fuzzy控制器混合控制,在偏离设定温度点大于±0.5℃时采用Fuzzy控制,在工作点附近±0.5℃以内采用PID控制。根据控制算法计算得到的控制量,利用控制芯片中的事件管理器(EV)模块产生PWM波形,并将此波形输出到加热器的驱动电路。当PWM信号为高电平时,满足触发条件,故光耦产生电流信号从而驱动双向可控硅导通,加热器电源接通。当PWM信号为低电平时,光耦内部光电二极管不工作,双向可控硅关断,加热器电源断开。
实施例:
结合附图说明本发明的实验效果;
以木质实验箱为例,箱体尺寸为:60cm×40cm×80cm;
控制芯片采样后,利用线性拟合标定得到相应的温度值。当系统达到稳定时,进行短期温控精度测量。以1分钟为基准,测量1小时,共获得60个测量数据。最大温度值为36.05882℃,最小温度值为35.96973℃,平均值为36.01049℃,均方误差为6.31×10-4℃。很好的把温度控制在0.1℃以内,达到预期控制精度要求。恒温控制系统的短期温控曲线如图6所示。
为测量系统得长期稳定性,以10分钟为基准,测量10小时,共获得60个测量数据。最大温度值为36.05956℃,最小温度值为35.96469℃,平均值为36.01287℃,均方误差为6.43×10-4℃。在长时间内,系统保持了良好的稳定性,达到指标要求。恒温控制系统的长期温控曲线如图7所示。
为测量系统的抗干扰性,在系统稳定时打开箱体外壳,使箱体内部温度下降至室温,然后封闭箱体让系统继续运行。升温时间约1分钟,调节时间5分钟,超调量4.17%。经多次测量证实了系统的抗干扰性良好。

Claims (6)

1.一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统,包括测温和控温两个部分;
测温部分包括恒流源驱动电路、电桥测温电路、滤波放大限幅电路;
恒流源驱动电路包括电压基准芯片AD588BQ、运算放大器OP07AZ1、运算放大器OP07AZ2;
P3为供电电源接线端子,外接的正电源通过P3的管脚3与AD588BQ的管脚2相连,外接的负电源通过P3的管脚1与AD588BQ的管脚16相连,P3的管脚2接地;
AD588BQ的管脚2和管脚16的输入端分别连接极性电容C1的正极和极性电容C2的负极,电容C1的负极和电容C2的正极接地;管脚1和管脚3相连后,经电容C6接地;管脚6和管脚8之间接电位器R1和电位器R2,电位器R1的抽头与管脚12相连,电位器R2的抽头与管脚5相连;管脚4和管脚6相连,经过电阻R8与P3的管脚3连接;管脚7接极性电容C3的正极,C3的负极接地;管脚9直接接地;管脚10和管脚11直接相连;管脚13和管脚8相连;管脚14和管脚15相连,经过电容C7后接地;AD588BQ的管脚1和管脚3相连,输出精准的+5V的基准电压,经过电阻R4后分成两路,一路输入至OP07AZ1的正相输入端管脚3,另一路经过电阻R5后输入至OP07AZ2的反相输入端管脚2;
OP07AZ2构成电压跟随器,输出端管脚6与反相输入端管脚2直接相连;管脚3与OP07AZ1的管脚6经过电阻R3相连,再经过极性电容C4接地;
OP07AZ1构成加法器,管脚2经过电阻R6后接地,管脚6与管脚2之间接电阻R7;管脚6接电位器R3,R3的抽头与管脚6相连;通过调整R3,控制OP07AZ1的管脚6输出0.5mA的恒定电流至电桥测温电路;
电桥测温电路包括温度传感器Pt1000、运算放大器OP07AZ3、运算放大器OP07AZ4;
恒流源驱动电路输出的0.5mA恒定电流经过由电阻R22和极性电容C4、极性电容C5组成的滤波电路后分成两路,一路接OP07AZ3的管脚3,另一路驱动参考电阻R9和温度传感器Pt1000;电阻R22的两端分别与电容C4和电容C5的正极相连,电容C4和电容C5的负极接地;温度传感器Pt1000将温度信号转换为电压信号,采用三线制接法,作为电桥的一个桥臂电阻,通过接线端子P1接入测温电路,P1的管脚1直接接地,管脚2接OP07AZ4的管脚3,P1的管脚3与参考电阻R9相连;
OP07AZ3构成电压跟随器,管脚6和管脚2直接相连,对电阻R9的端电压进行单位放大,经过电阻R14后输入至OP07AZ5管脚2;
OP07AZ4与电阻R10和电阻R11构成电压串联负反馈电路,管脚6经电阻R11与管脚2相连,再经过电阻R10接地,构成反馈;OP07AZ4对温度传感器Pt1000的端电压进行2倍放大后,管脚6经电阻R12输入至OP07AZ5的管脚3;
OP07AZ5起差分放大作用,反馈电阻R15置于OP07AZ5的管脚2和管脚6之间,电阻R13的一端接OP07AZ5的管脚3,另一端接地;OP07AZ5的管脚6的输出即为经过放大的由温度传感器Pt1000电阻变化引起的电压变化,即把温度的变化转化成为电信号的变化;
滤波放大限幅电路包括运算放大器OP07AZ6、运算放大器OP07AZ7;
OP07AZ5的输出经电阻R16和电阻R18后,输入至OP07AZ6的管脚3,电容C8一端接在电阻R16和电阻R18之间,另一端与OP07AZ6的管脚6相连;电容C9一端接OP07AZ6的管脚3,另一端直接接地;反馈电阻R19接在OP07AZ6的管脚2和管脚6之间,管脚2经电阻R17后直接接地;
OP07AZ6的管脚6与OP07AZ7的管脚3相连,反馈电阻R21接在OP07AZ7的管脚2和管脚6之间,管脚2经电阻R20后直接接地;OP07AZ7的管脚6输出的信号即为经过低通滤波放大的模拟温度信号,经过电阻R23后连接稳压二极管ZPD3.3V的阴极,利用稳压二极管ZPD3.3V将输出电压限制在0~3.3V之内后,通过接线端子P2输出至控制芯片的AD转换模块;
接线端子P2用以实现测温电路与控制芯片的连接,管脚1接测温电路的输出,管脚2接地;
所有的运算放大器OP07AZ中管脚7接电源电压+5V,管脚4接电源电压-5V,管脚1,管脚5和管脚8悬空;
控温部分包括控制芯片、加热器驱动电路;
控制芯片内采用Fuzzy-PID复合控制,根据测温电路输出的温度变化的电信号,当温度偏差偏离设定点大于±0.5℃时,采用Fuzzy控制方法,当偏差在设定点附近±0.5℃以内,采用PID控制方法,根据控制方法计算得到的控制量,利用控制芯片中的事件管理器模块产生PWM波形,并将此波形输出到加热器的驱动电路;
加热器驱动电路包括光电耦合器、双向可控硅VT1,控制芯片输出的PWM信号经过电阻R1’与光电耦合器内部光电二极管的阳极管脚1相连,阴极管脚2接地;光电耦合器的管脚6经电阻R2’接双向可控硅的管脚1,双向可控硅的管脚2经电阻R3’与光电耦合器的管脚4相连,双向可控硅的管脚3与光电耦合器的管脚4直接相连;电阻R4’和极性电容C1’的正极串联后与双向可控硅VT1并联;交流电220V输入与双向可控硅的管脚1相连,双向可控硅的管脚2为加热器的驱动输出;当PWM信号为高电平时,满足触发条件,故光耦产生电流信号从而驱动双向可控硅VT1导通,加热器电源接通;当PWM信号为低电平时,光耦内部光电二极管不工作,双向可控硅VT1关断,加热器电源断开。
2.根据权利要求1所述的一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统,所述的测温部分中,电路中各元件参数为:电阻R1=100K,R2=100K,R3=15K,R4=10K,R5=10K,R6=10K,R7=10K,R8=5K,R9=1.05K,R10=10K,R11=10K,R12=10K,R13=20K,R14=10K,R15=20K,R16=200K,R17=10K,R18=200K,R19=10K,R20=1K,R21=13K,R22=8.1K,R23=1K,单位为欧姆;电容C1=1μF,C2=1μF,C3=1μF,C4=1μF,C5=100μF,C6=0.01μF,C7=0.01μF,C8=1μF,C9=1μF。
3.根据权利要求1所述的一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统,所述的Fuzzy控制方法为:
Fuzzy控制以温差e和温差变化率ec作为输入,经量化后建立相应的隶属函数;输入变量e的模糊语言描述为{负大,负中,负小,负零,正零,正小,正中,正大},用字母表示为{NB,NM,NS,-0,+0,PS,PM,PB},温差e的论域为X,将其量化为14个等级,X={-6,-5,-4,-3,-2,-1,-0,+0,1,2,3,4,5,6},输入变量ec的模糊语言描述为{负大,负中,负小,零,正小,正中,正大},用字母表示为{NB,NM,NS,0,PS,PM,PB},ec的论域为Y,将其量化为13个等级,Y={-6,-5,-4,-3,-2,-1,0,1,2,3,4,5,6};输出变量u的模糊语言描述为{负大,负中,负小,零,正小,正中,正大},用字母表示为{NB,NM,NS,0,PS,PM,PB},u的论域为Z,将其量化为15个等级,Z={-7,-6,-5,-4,-3,-2,-1,0,1,2,3,4,5,6,7};温差e的隶属度表如表1所示;
表1 温差e的隶属度表
温差变化率ec隶属度表如表2所示;
表2 温差变化率ec的隶属度表
输出量u隶属度表如表3所示;
表3 输出量u的隶属度表
建立编程实现的控制规则表如表4所示;
表4 规则控制表
根据建立的隶属度表和控制规则表可得到控制器的输出值;如当温差e和温差变化率ec都为负大时,得到输出值C={1,0.7,0.1,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0},采用加权平均法得到精确控制量为
U = - 7 * 1 + ( - 6 ) * 0.7 + ( - 5 ) * 0.1 1 + 0.7 + 0.1 = - 6.5 - - - ( 1 ) .
4.根据权利要求1所述的一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统,所述的PID控制方法为:
式中,u(t)为PID控制量;e(t)为输入偏差信号,为设定值与实际输出值的差;Kp为比例增益,TI为积分时间常数,TD为微分时间常数,Kd为微分增益;PID控制器的微分方程为:
u ( t ) = K p [ e ( t ) + 1 T I ∫ 0 t e ( t ) d t + T D d e ( t ) d t ] - - - ( 2 )
写成传递函数的形式为:
D ( S ) = U ( S ) E ( S ) = K p [ 1 + 1 T I S + T D S ] - - - ( 3 )
式中,D(S)为PID控制器的传递函数,U(S)和E(S)分别为u(t)和e(t)的拉普拉斯变换,S表示复频率;
控制量比例部分的增量ΔUP(n)为:
ΔUP(n)=Kp[e(n)-e(n-1)] (4)
式中,e(n)为第n次采样时的偏差;
为了提高控制精度,采用改进型PID控制算法,改进后的控制量积分部分的增量ΔUI(n)为:
ΔU I ( n ) = K p T 2 T I [ e ( n ) + e ( n - 1 ) ] - - - ( 5 )
式中,T为采样周期;
第n次采样时,微分部分的控制量UD(n)为:
U D ( n ) = T D K d T + T D { U D ( n - 1 ) + K P K d [ e ( n ) - e ( n - 1 ) ] } - - - ( 6 )
改进后的控制量不完全微分部分的增量ΔUD(n)为:
ΔUD(n)=UD(n)-UD(n-1) (7)
最终得到PID算法的精确控制量U(n):
U(n)=U(n-1)+ΔUP(n)+ΔUI(n)+ΔUD(n) (8)
PID控制系统根据恒温箱体实际情况进行参数选定。
5.根据权利要求1所述的一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统,所述的加热器驱动电路各元件参数为:电阻R1’=100Ω,R2’=360Ω,R3’=330Ω,R4’=39Ω,电容C1’=0.01μF。
6.应用于权利要求1所述的一种用于X射线荧光光谱仪的恒温控制系统的控制方法,包括以下几个步骤:
步骤一:高精度电压基准芯片AD588BQ输出精准的+5V的基准电压,分别输出至OP07AZ1的正相输入端管脚3和OP07AZ2的反相输入端管脚2;OP07AZ1构成加法器,OP07AZ2构成跟随器,通过调整电位器R3,控制OP07AZ1的输出端管脚6输出0.5mA的恒定电流至电桥测温电路驱动温度传感器Pt1000;
步骤二:温度传感器Pt1000采用三线制接法,将温度信号转换为电压信号;步骤一中输出的0.5mA恒定电流经过参考电阻R9和温度传感器Pt1000;OP07AZ3对电阻R9的端电压进行单位放大后输入至OP07AZ5的反相输入端管脚2;OP07AZ4对Pt1000的端电压进行2倍放大后,输入至OP07AZ5的正相输入端管脚3;OP07AZ5的输出管脚6的输出信号即为经过放大的由Pt1000电阻变化引起的电压变化;
步骤三:步骤二中输出的电压信号经过滤波放大后,输入到限幅电路,将输出信号稳定在3.3V以下,然后将该信号输入到控制芯片中;
步骤四:根据步骤三的结果确定控制算法;控制算法采用PID线性控制器和Fuzzy控制器混合控制,在偏离设定温度点大于±0.5℃时采用Fuzzy控制,在工作点附近±0.5℃以内采用PID控制;根据控制算法计算得到的控制量,利用控制芯片中的事件管理器EV模块产生PWM波形,并将此波形输出到加热器的驱动电路;当PWM信号为高电平时,满足触发条件,故光耦产生电流信号从而驱动双向可控硅导通,加热器电源接通;当PWM信号为低电平时,光耦内部光电二极管不工作,双向可控硅关断,加热器电源断开。
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