JP2939169B2 - 放射線生成管の光学焦点の寸法測定方法 - Google Patents
放射線生成管の光学焦点の寸法測定方法Info
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- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2921—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ピンホールカメラ
を用いて得られたフィルムによる放射線生成管の光学焦
点の寸法測定方法に関するものである。この方法は、特
に部品の放射線検査に利用される。
を用いて得られたフィルムによる放射線生成管の光学焦
点の寸法測定方法に関するものである。この方法は、特
に部品の放射線検査に利用される。
【０００２】
【従来の技術】部品内部の欠陥を発見するためには放射
線検査を行うことが一般的である。これらの欠陥とは、
材料不足や密度の異なる物質の存在などである。フィル
ム上への放射線透過写真の場合、材料不足があるとＸ線
写真では、より弱い放射線の吸収に起因してより暗いゾ
ーンが形成され、密度がより大きいまたはより小さい物
質が存在すると、放射線の吸収度の違いからそれぞれ、
より明るいゾーンとより暗いゾーンがＸ線写真上にみら
れる。しかしながら、この方法では特定の最小サイズ未
満の欠陥を発見することはできず、その最小サイズは検
知器の感度や放射線生成管のパワーや放射線生成管の光
学焦点の寸法によって左右される。したがって、部品の
なかの欠陥を検知し、その寸法を測定するためには放射
線生成管の特性を知ること、とりわけこの管の光学焦点
の寸法を知ることが必要である。
線検査を行うことが一般的である。これらの欠陥とは、
材料不足や密度の異なる物質の存在などである。フィル
ム上への放射線透過写真の場合、材料不足があるとＸ線
写真では、より弱い放射線の吸収に起因してより暗いゾ
ーンが形成され、密度がより大きいまたはより小さい物
質が存在すると、放射線の吸収度の違いからそれぞれ、
より明るいゾーンとより暗いゾーンがＸ線写真上にみら
れる。しかしながら、この方法では特定の最小サイズ未
満の欠陥を発見することはできず、その最小サイズは検
知器の感度や放射線生成管のパワーや放射線生成管の光
学焦点の寸法によって左右される。したがって、部品の
なかの欠陥を検知し、その寸法を測定するためには放射
線生成管の特性を知ること、とりわけこの管の光学焦点
の寸法を知ることが必要である。
【０００３】さらに、光学焦点のサイズ及び放射された
輻射束の均質性は時間とともに変化する恐れがあるの
で、この焦点の寸法を検査できるとともに、得られた画
像の品質が劣化した疑いがある場合には放射された輻射
束の均質性を検査し、さらに偏向がないことを保証する
ためにこれらの検査を定期的に行うことが必要である。
輻射束の均質性は時間とともに変化する恐れがあるの
で、この焦点の寸法を検査できるとともに、得られた画
像の品質が劣化した疑いがある場合には放射された輻射
束の均質性を検査し、さらに偏向がないことを保証する
ためにこれらの検査を定期的に行うことが必要である。
【０００４】放射線生成管の光学焦点の寸法の測定を行
うためには、ピンホールカメラを使用し、Ｘ線管の陽極
から出る放射線の軌道上にピンホールカメラを設置し、
Ｘ線に高感度な微粒子フィルムに光学焦点のＸ線像を作
成する方法が知られている。ピンホールとフィルム面と
の間及び管の焦点とピンホールとの間の距離を適切に選
択することによって、フィルム上に焦点の拡大された像
を得ることができる。こうして得られた像は、従来の方
法では、目盛り付きルーペを通して眼で、あるいはマイ
クロ密度計を使用して検査することができる。
うためには、ピンホールカメラを使用し、Ｘ線管の陽極
から出る放射線の軌道上にピンホールカメラを設置し、
Ｘ線に高感度な微粒子フィルムに光学焦点のＸ線像を作
成する方法が知られている。ピンホールとフィルム面と
の間及び管の焦点とピンホールとの間の距離を適切に選
択することによって、フィルム上に焦点の拡大された像
を得ることができる。こうして得られた像は、従来の方
法では、目盛り付きルーペを通して眼で、あるいはマイ
クロ密度計を使用して検査することができる。
【０００５】眼で像の検査を行う場合、焦点の寸法の測
定は、拡大率を計算に入れて、像の知覚できる縁に基づ
いて行われる。しかしながら、この方法は主観的である
ことから、信頼性が低く、オペレータによって異なる結
果を導くことになる。
定は、拡大率を計算に入れて、像の知覚できる縁に基づ
いて行われる。しかしながら、この方法は主観的である
ことから、信頼性が低く、オペレータによって異なる結
果を導くことになる。
【０００６】マイクロ密度計を用いた像の検査の場合に
は、測定は自動的に行われる。マイクロ密度計は較正さ
れ、像の唯一本のラインにしたがって切断が行われ、そ
の断面から光学焦点の寸法が測定される。この方法は、
光学焦点を具現する斑点が最も大きい場所で切断が行わ
れるようにマイクロ密度計の位置を正確に決定するとい
う条件においてのみ非常に精度が高くなる。しかしなが
ら、このように行われた切断では、一度に像の一本のラ
インしか見ることができないので、この方法によって
は、エネルギーの分布を知り、放射された輻射束の均質
性をチェックすることはできない。エネルギーの分布
は、フィルムの完全なスキャニングを行った場合にのみ
得られ、その結果非常に多くの時間と費用がかかってし
まう。
は、測定は自動的に行われる。マイクロ密度計は較正さ
れ、像の唯一本のラインにしたがって切断が行われ、そ
の断面から光学焦点の寸法が測定される。この方法は、
光学焦点を具現する斑点が最も大きい場所で切断が行わ
れるようにマイクロ密度計の位置を正確に決定するとい
う条件においてのみ非常に精度が高くなる。しかしなが
ら、このように行われた切断では、一度に像の一本のラ
インしか見ることができないので、この方法によって
は、エネルギーの分布を知り、放射された輻射束の均質
性をチェックすることはできない。エネルギーの分布
は、フィルムの完全なスキャニングを行った場合にのみ
得られ、その結果非常に多くの時間と費用がかかってし
まう。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、信頼性が高
く迅速な放射線生成管の光学焦点の測定方法であって、
高価な特定の装置を必要とせず、放射線生成管によって
放射されたエネルギーの分布の単純な写像を得ることが
できる方法を対象にしている。
く迅速な放射線生成管の光学焦点の測定方法であって、
高価な特定の装置を必要とせず、放射線生成管によって
放射されたエネルギーの分布の単純な写像を得ることが
できる方法を対象にしている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】そのためには、この方法
は、Ｘ線に高感度な微粒子フィルム上に光学焦点のＸ線
像をつくりだし、時間が経過しても一定の強度及び均質
な放射線を放射する光源を用いて、得られたフィルムを
照らしだし、カメラを用いてフィルムのビデオ画像を獲
得し、光学焦点の２進画像を得ることができるようにビ
デオ画像を処理し、得られた２進画像に基づいて光学焦
点の寸法を測定することからなる。
は、Ｘ線に高感度な微粒子フィルム上に光学焦点のＸ線
像をつくりだし、時間が経過しても一定の強度及び均質
な放射線を放射する光源を用いて、得られたフィルムを
照らしだし、カメラを用いてフィルムのビデオ画像を獲
得し、光学焦点の２進画像を得ることができるようにビ
デオ画像を処理し、得られた２進画像に基づいて光学焦
点の寸法を測定することからなる。
【０００９】本発明によれば、放射線生成管の光学焦点
の寸法測定方法は以下のステップから構成される。
の寸法測定方法は以下のステップから構成される。
【００１０】ステップ１では、従来の段階的な異なる密
度範囲を示すマスターフィルムのビデオ画像を獲得し、
ステップ２では、寸法の画像較正曲線及び密度較正曲線
を作成し、ステップ３では、放射線生成管の光学焦点の
Ｘ線像を現わすフィルムを作成し、ステップ４では、光
学焦点のＸ線像を現わすフィルムのビデオ画像の獲得を
行い、ステップ５では、光学焦点のＸ線像を現わすフィ
ルム基部のかぶり密度を評価し、ステップ６では、限界
密度を計算し、密度較正曲線によって、フィルムのビデ
オ画像内の対応するグレイレベルを決定し、ステップ７
では、ステップ６で決定したグレイレベルに等しい限界
値でビデオ画像を２進化し、ステップ８では、２進化さ
れたビデオ画像に基づいて、寸法の較正曲線を利用しな
がら、放射線生成管の光学焦点の寸法を測定する。
度範囲を示すマスターフィルムのビデオ画像を獲得し、
ステップ２では、寸法の画像較正曲線及び密度較正曲線
を作成し、ステップ３では、放射線生成管の光学焦点の
Ｘ線像を現わすフィルムを作成し、ステップ４では、光
学焦点のＸ線像を現わすフィルムのビデオ画像の獲得を
行い、ステップ５では、光学焦点のＸ線像を現わすフィ
ルム基部のかぶり密度を評価し、ステップ６では、限界
密度を計算し、密度較正曲線によって、フィルムのビデ
オ画像内の対応するグレイレベルを決定し、ステップ７
では、ステップ６で決定したグレイレベルに等しい限界
値でビデオ画像を２進化し、ステップ８では、２進化さ
れたビデオ画像に基づいて、寸法の較正曲線を利用しな
がら、放射線生成管の光学焦点の寸法を測定する。
【００１１】添付の図面を参照して、限定的でなく例示
的なものとして、本発明の他の特性及び利点を以下に説
明する。
的なものとして、本発明の他の特性及び利点を以下に説
明する。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１に示されている測定装置は、
たとえば白色光ランプのような均質の光線を発する光源
１０と、レンズ付きのビデオカメラ２０と、画像処理装
置３０と、フィルムサポート４０とを備えている。分析
されるフィルム５０は、ランプとビデオカメラとの間の
フィルムサポート上に置かれる。
たとえば白色光ランプのような均質の光線を発する光源
１０と、レンズ付きのビデオカメラ２０と、画像処理装
置３０と、フィルムサポート４０とを備えている。分析
されるフィルム５０は、ランプとビデオカメラとの間の
フィルムサポート上に置かれる。
【００１３】図２は、本発明による測定方法ステップの
フローチャートである。
フローチャートである。
【００１４】測定方法の最初のステップ１は、マスター
フィルムのビデオ画像の獲得である。マスターフィルム
は最低でも０．２から２．５までの従来の段階的な異な
る密度範囲を示すフィルムである。このマスターフィル
ムは、たとえば、異なる厚みの範囲を有する段状金属ゲ
ージを使用して、またＸ線に高感度な微粒子フィルム上
にこの段状ゲージのＸ線像を映しだすことによってつく
りだすことができる。さらに、各フィルムに他のプレー
トの厚みとは異なる一定の厚みのプレートを使用して数
枚のマスターフィルムを作り出すことも可能である。そ
れぞれのプレートのＸ線像を現わすそれぞれのフィルム
は、同じ微粒子フィルム上につくりだされる。
フィルムのビデオ画像の獲得である。マスターフィルム
は最低でも０．２から２．５までの従来の段階的な異な
る密度範囲を示すフィルムである。このマスターフィル
ムは、たとえば、異なる厚みの範囲を有する段状金属ゲ
ージを使用して、またＸ線に高感度な微粒子フィルム上
にこの段状ゲージのＸ線像を映しだすことによってつく
りだすことができる。さらに、各フィルムに他のプレー
トの厚みとは異なる一定の厚みのプレートを使用して数
枚のマスターフィルムを作り出すことも可能である。そ
れぞれのプレートのＸ線像を現わすそれぞれのフィルム
は、同じ微粒子フィルム上につくりだされる。
【００１５】マスターフィルムは、フィルムサポート４
０上に置かれ、このフィルムの画像の獲得は、ビデオカ
メラ２０によって行われる。
０上に置かれ、このフィルムの画像の獲得は、ビデオカ
メラ２０によって行われる。
【００１６】第二のステップ２では、密度の較正曲線と
寸法の較正曲線が得られる。密度較正曲線は、マスター
フィルムの各密度に対してこのフィルムの画像上で得ら
れたグレイレベルでの対応を割り当てることによって作
成される。寸法の較正曲線は、画像の水平軸と垂直軸に
ついてたとえば０．１ミリメートルに分割された目盛り
のついた十字線を用いて行われる。この較正曲線によっ
て画像のピクセルの寸法を知ることができる。
寸法の較正曲線が得られる。密度較正曲線は、マスター
フィルムの各密度に対してこのフィルムの画像上で得ら
れたグレイレベルでの対応を割り当てることによって作
成される。寸法の較正曲線は、画像の水平軸と垂直軸に
ついてたとえば０．１ミリメートルに分割された目盛り
のついた十字線を用いて行われる。この較正曲線によっ
て画像のピクセルの寸法を知ることができる。
【００１７】第三のステップ３では、放射線生成管の光
学焦点のＸ線像が、マスターフィルムの作成のために用
いられたのと同じＸ線に高感度な細粒子フィルム上に作
成される。フィルムは、従来の方法では、Ｘ線管の光学
焦点を構成する陽極からａの距離に位置するピンホール
カメラを用いてつくられ、一方フィルムはピンホールか
らｂの距離にある。焦点とピンホールとの間の距離ａに
対するピンホールとフィルムとの距離ｂの比が、フィル
ム上につくられる焦点画像の拡大率を示している。
学焦点のＸ線像が、マスターフィルムの作成のために用
いられたのと同じＸ線に高感度な細粒子フィルム上に作
成される。フィルムは、従来の方法では、Ｘ線管の光学
焦点を構成する陽極からａの距離に位置するピンホール
カメラを用いてつくられ、一方フィルムはピンホールか
らｂの距離にある。焦点とピンホールとの間の距離ａに
対するピンホールとフィルムとの距離ｂの比が、フィル
ム上につくられる焦点画像の拡大率を示している。
【００１８】第四のステップ４では、マスターフィルム
がフィルムサポート４０から取り除かれ、その代わりに
放射線生成管の光学焦点のＸ線像を現わすフィルムが置
かれる。このとき、このフィルムのビデオ画像の獲得は
ビデオカメラ２０によって行われる。
がフィルムサポート４０から取り除かれ、その代わりに
放射線生成管の光学焦点のＸ線像を現わすフィルムが置
かれる。このとき、このフィルムのビデオ画像の獲得は
ビデオカメラ２０によって行われる。
【００１９】第五のステップ５では、放射線生成管の光
学焦点のＸ線像を現わすフィルムのＤＶで示された基部
のかぶり密度の評価が行われる。フィルム基部のかぶり
密度は、Ｘ線にさらされていないフィルムの部分の密度
である。この評価は、較正された密度計を用いた直接的
読取りによって、またはビデオ画像内のこの基部のかぶ
りに対応するグレイレベルに基づいて、さらに密度較正
曲線を用いて得ることができる。
学焦点のＸ線像を現わすフィルムのＤＶで示された基部
のかぶり密度の評価が行われる。フィルム基部のかぶり
密度は、Ｘ線にさらされていないフィルムの部分の密度
である。この評価は、較正された密度計を用いた直接的
読取りによって、またはビデオ画像内のこの基部のかぶ
りに対応するグレイレベルに基づいて、さらに密度較正
曲線を用いて得ることができる。
【００２０】第六のステップ６では、ＤＳで表された限
界密度が計算される。この計算は、規格ＮＦＣ７４−１
００によって与えられた指示にしたがって行われる。
界密度が計算される。この計算は、規格ＮＦＣ７４−１
００によって与えられた指示にしたがって行われる。
【００２１】ＤＳ＝１．１ＤＶ この限界密度は、画像における５％のコントラスト率に
対応する。このときグレイレベルにおけるこの限界密度
の対応は、密度較正曲線に基づいて決定され、フィルム
のビデオ画像を２進化するためのステップ７において利
用される。
対応する。このときグレイレベルにおけるこの限界密度
の対応は、密度較正曲線に基づいて決定され、フィルム
のビデオ画像を２進化するためのステップ７において利
用される。
【００２２】また放射線生成管の光学焦点の寸法の決定
は、２進化されたビデオ画像に基づき、寸法較正曲線を
用いてステップ８で行われる。典型的に測定される寸法
は焦点の高さと幅である。選択される値は、２進化され
たグレイレベルでの画像について測定された最大値であ
る。
は、２進化されたビデオ画像に基づき、寸法較正曲線を
用いてステップ８で行われる。典型的に測定される寸法
は焦点の高さと幅である。選択される値は、２進化され
たグレイレベルでの画像について測定された最大値であ
る。
【００２３】さらに、２進化されたグレイレベルの画像
によって、ステップ９において放射線生成管によって生
じたエネルギーの分布の分析が可能になる。このエネル
ギー分布は、この画像のなかに含まれたグレイレベルの
変化によって表される。この分析によって形成された画
像において生じる恐れのある不均質の問題を説明するこ
とができる。
によって、ステップ９において放射線生成管によって生
じたエネルギーの分布の分析が可能になる。このエネル
ギー分布は、この画像のなかに含まれたグレイレベルの
変化によって表される。この分析によって形成された画
像において生じる恐れのある不均質の問題を説明するこ
とができる。
【００２４】ビデオ画像の獲得は、できれば、光学焦点
が画像の大部分を占めるような拡大率で行われることが
好ましく、この拡大率はステップ１と４の最中に行われ
るあらゆるビデオ画像の獲得について一定である。
が画像の大部分を占めるような拡大率で行われることが
好ましく、この拡大率はステップ１と４の最中に行われ
るあらゆるビデオ画像の獲得について一定である。
【００２５】さらに、カメラの調整は、できればゲイン
のレベル及び黒のレベルがあらゆるビデオ画像の獲得に
対して一定となるように行われることが好ましい。
のレベル及び黒のレベルがあらゆるビデオ画像の獲得に
対して一定となるように行われることが好ましい。
【図１】本発明による測定装置の原理図である。
【図２】本発明による測定方法のステップのフローチャ
ートである。
ートである。
１０ 光源 ２０ ビデオカメラ ３０ 画像処理装置 ４０ フィルムサポート ５０ フィルム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ベロニク・エレン・マリー・ピエール・ プレジヤン−レフエブル フランス国、92330・シエオー・リユ・ ラカナル、４・ビス (56)参考文献 特開 平６−334862（ＪＰ，Ａ) 米国特許4442539（ＵＳ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H04N 5/232 G01N 23/18 G01T 1/29 H01J 35/00 H04N 7/18
Claims (5)
- 【請求項１】 放射線生成管の光学焦点の寸法測定方法
であって、 ステップ１では、従来の段階的な異なる密度範囲を示す
マスターフィルムのビデオ画像の獲得を行い、 ステップ２で、寸法の画像較正曲線と密度較正曲線を作
成し、 ステップ３で、放射線生成管の光学焦点のＸ線像を現わ
すフィルムを作成し、 ステップ４で、光学焦点のＸ線像を現わすフィルムのビ
デオ画像の獲得を行い、 ステップ５で、光学焦点のＸ線像を現わすフィルム基部
のかぶり密度を評価し、 ステップ６で、限界密度を計算し、密度較正曲線を用い
て、フィルムのビデオ画像のなかで対応するグレイレベ
ルを決定し、 ステップ７で、ステップ６で決定したグレイレベルに等
しい限界値でビデオ画像を２進化し、 ステップ８で、２進化されたビデオ画像に基づき、寸法
の較正曲線を利用することによって、放射線生成管の光
学焦点の寸法を測定することを特徴とする測定方法。 - 【請求項２】 さらにステップ９で、２進化されたビデ
オ画像に基づいて管から発せられたエネルギーの分布を
分析することを特徴とする、請求項１に記載の測定方
法。 - 【請求項３】 光学焦点のＸ線像を現わすフィルムが、
放射線生成管によって放射されるＸ線の輻射束の軌道上
に位置するピンホールカメラを用いて作成されることを
特徴とする、請求項１または２に記載の測定方法。 - 【請求項４】 フィルム基部のかぶり密度が、較正され
た密度計を用いた直接読取りによって得られることを特
徴とする、請求項３に記載の測定方法。 - 【請求項５】 フィルム基部のかぶり密度は、ビデオ画
像におけるこの基部のかぶりに対応するグレイレベルに
基づき、密度較正曲線を用いて得られることを特徴とす
る、請求項３に記載の測定方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9415045A FR2728353B1 (fr) | 1994-12-14 | 1994-12-14 | Procede de mesure des dimensions du foyer optique d'un tube radiogene |
| FR9415045 | 1994-12-14 | ||
| US08/573,259 US5606591A (en) | 1994-12-14 | 1995-12-15 | Procedure for measuring the dimensions of the optical focus of an X-ray tube |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08242401A JPH08242401A (ja) | 1996-09-17 |
| JP2939169B2 true JP2939169B2 (ja) | 1999-08-25 |
Family
ID=26231613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32564395A Expired - Fee Related JP2939169B2 (ja) | 1994-12-14 | 1995-12-14 | 放射線生成管の光学焦点の寸法測定方法 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5606591A (ja) |
| EP (1) | EP0717291B1 (ja) |
| JP (1) | JP2939169B2 (ja) |
| AT (1) | ATE177848T1 (ja) |
| DE (1) | DE69508362T2 (ja) |
| ES (1) | ES2130552T3 (ja) |
| FR (1) | FR2728353B1 (ja) |
| GR (1) | GR3030109T3 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6233349B1 (en) * | 1997-06-20 | 2001-05-15 | General Electric Company | Apparata and methods of analyzing the focal spots of X-ray tubes |
| US7249886B1 (en) | 2006-05-30 | 2007-07-31 | General Electric Company | Method and apparatus for measuring effective focal spot parameters of an X-ray source |
| US20090188438A1 (en) * | 2008-01-29 | 2009-07-30 | Schmucker Celina E | Device for attaching an artificial tail to an animal |
| JP6381884B2 (ja) * | 2013-10-09 | 2018-08-29 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 医用画像診断装置および焦点サイズ校正方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4442539A (en) | 1980-06-19 | 1984-04-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Measuring instrument for the optical focal spot |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2652909B1 (fr) * | 1989-10-11 | 1992-03-27 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de localisation en temps reel de sources de rayonnement. |
| US4979199A (en) * | 1989-10-31 | 1990-12-18 | General Electric Company | Microfocus X-ray tube with optical spot size sensing means |
-
1994
- 1994-12-14 FR FR9415045A patent/FR2728353B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-12-13 DE DE69508362T patent/DE69508362T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-12-13 AT AT95402802T patent/ATE177848T1/de not_active IP Right Cessation
- 1995-12-13 EP EP95402802A patent/EP0717291B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1995-12-13 ES ES95402802T patent/ES2130552T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1995-12-14 JP JP32564395A patent/JP2939169B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-12-15 US US08/573,259 patent/US5606591A/en not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-04-30 GR GR990401191T patent/GR3030109T3/el unknown
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4442539A (en) | 1980-06-19 | 1984-04-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Measuring instrument for the optical focal spot |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2728353B1 (fr) | 1997-01-24 |
| DE69508362D1 (de) | 1999-04-22 |
| DE69508362T2 (de) | 1999-09-09 |
| FR2728353A1 (fr) | 1996-06-21 |
| GR3030109T3 (en) | 1999-07-30 |
| EP0717291B1 (fr) | 1999-03-17 |
| JPH08242401A (ja) | 1996-09-17 |
| ES2130552T3 (es) | 1999-07-01 |
| ATE177848T1 (de) | 1999-04-15 |
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