JP2935297B2 - 計測機の自動校正装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、計測機の自動校正装置
に係り、特に、複数の計測機間の計測データのばらつき
を最小限に抑えることができる計測機の自動校正装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】例えばトランスアクスルのファイナル組
立ラインは、図４に示すレイアウトのように、ワークた
るトランスアクスルをメインラインからファイナルテス
トラインへ投入するワーク投入ステーション１５と、投
入されたトランスアクスルのファイナルテストを行うフ
ァイナルテスター群１６（図中では、＃１〜＃１０まで
の１０台の計測機たるファイナルテスターを示してあ
る）とで構成され、ワークは、図示しないワークベース
に移載されてコンベア１７上を移動するようになってい
る。

【０００３】このようなファイナル組立ラインのライン
制御は、いわゆるＩＤプレートと呼ばれる非接触でデー
タの読取りと書込みができる情報媒体を用いたシステム
が一般化しつつあり、このＩＤプレートはワークベース
に付帯されて、ワークの移動に伴ってユニットと連携し
てデータの受け渡しを行うようになっている。

【０００４】まず、ワーク投入ステーション１５では、
ファイナルテスト工程で必要なデータ、例えば車種やテ
スト項目、テスト条件、判定規格、並びにＮＣデータ等
を作成して、この作成データをＩＤプレートに書き込ん
だ後、ワークをファイナルテストラインへ投入する。フ
ァイナルテストラインへ投入されたワークは、ランダム
にファイナルテスター＃１〜＃１０に搬入され、ファイ
ナルテスターは、これを制御する制御用コンピュータが
ＩＤプレートから前記各種データを読み取ってシーケン
サ等へ指示を出しワークの位置決め等の準備を行った
後、テストを実施して、例えばトランスアクスルの油圧
特性、変速点、変速ショック、変速時間等のデータを取
り込みこれらをテスト結果として出力する。

【０００５】このようなトランスアクスルのファイナル
組立ラインにおいて、ファイナルテスターの校正は、従
来は、各ファイナルテスター＃１〜＃１０ごとに、これ
を構成するセンサーごとに実施していた。図５は、セン
サー系からデータをコンピュータへ取り込むための装置
構成の一例を示すものであって、センサー１８と、セン
サー１８からの信号を増幅するセンサーアンプ１９と、
センサーアンプ１９からの信号に対するゲイン調整及び
フィルターの働きをするゲインアンプ２０と、ゲインア
ンプ２０からのアナログ信号をディジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器２１とで構成され、Ａ／Ｄ変換器２１は
コンピュータ２２に内蔵されている。

【０００６】そしてこのようなセンサーアンプ系の校正
方法として、従来は、基準電圧発生器によりアンプのゼ
ロ、スパン調整を行ってセンサーアンプ１９を校正した
後、コンピュータ２２で処理するデータへのゲイン調整
を行ってゲインアンプ２０を校正していた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のファイナルテスターの校正方法にあっては、
各ファイナルテスター＃１〜＃１０ごとに独立してセン
サーアンプ系の校正を行っていたため、各ファイナルテ
スター特有の特性に起因して、ファイナルテスター間に
おいてセンサー系から取り込んだデータにバラツキが生
じることは避けられず、テスト結果の一元化は困難であ
った。しかも、全体として校正に要する工数が多くなる
ため作業効率はあまり良くなく、校正期間も比較的短か
かった。

【０００８】本発明は、このような従来技術の問題点に
鑑みてなされたものであり、ファイナルテスター間にお
けるデータのバラツキを抑えることができる計測機の自
動校正装置を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、複数の同種の計測機からそれぞれ出力され
た計測データの校正を自動的に行う計測機の自動校正装
置であって、基準となる計測機の基準校正データを記憶
する第１記憶手段と、該第１記憶手段に記憶されている
基準校正データと前記基準計測機以外の他の計測機の校
正用データとを比較して前記基準計測機に対する前記他
の計測機の校正用補正データを算出する算出手段と、該
算出手段により算出された校正用補正データを記憶する
第２記憶手段と、前記計測機から出力された計測データ
を当該計測機に対応する前記第２記憶手段に記憶されて
いる校正用補正データに基づいて校正する校正手段とを
有することを特徴とするものである。

【００１０】

【作用】このように構成した本発明にあっては、まずマ
スターワークを基準となる計測機へ搬入し、校正プログ
ラムの実行により基準となる校正データを求め、この基
準校正データを第１記憶手段に格納する。次に、マスタ
ーワークを他の同種の計測機へ搬入して校正プログラム
を実行し、算出手段にて、これにより得られた校正用デ
ータと第１記憶手段に記憶されている基準校正データと
を比較して当該計測機における基準計測機に対する校正
用補正データを算出し、この校正用補正データを第２記
憶手段に格納する。このような校正用補正データは、予
めライン上の全ての同種の計測機について求め、記憶し
ておく。そして、実際にワークを計測機で計測するとき
に、校正手段は、第２記憶手段から当該計測機に対応す
る校正用補正データを読み出し、この校正用補正データ
に基づいて計測機から出力された計測データを校正す
る。このようにして、計測機間における計測データのバ
ラツキが解消される。

【００１１】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。図１は本発明の一実施例に係る計測機の
自動校正装置の概略構成図であって、ここでは、計測機
として、トランスアクスルのファイナル組立ラインに用
いられるファイナルテスターを例にとっている。

【００１２】トランスアクスルのファイナル組立ライン
は、一般に、前述のように（図４参照）、ワーク投入ス
テーション１５と複数の同種のファイナルテスターから
なるファイナルテスター群１６とで構成され、ワーク
は、ワークベースに移載されてコンベア１７上を移動
し、ランダムにファイナルテスターに搬入されるように
なっている。図１では、図４に示す１０台のファイナル
テスターのうち例えば＃１〜＃４、＃９の５台のファイ
ナルテスターが示されている。本実施例では、ファイナ
ルテスター間のデータのバラツキを解消する為に、基準
となる計測機（ファイナルテスター）として、例えば＃
１のファイナルテスターを選択する。また、このファイ
ナル組立ラインにおけるライン制御は、前述のように、
ＩＤプレート２３を用いたシステムによってなされ、こ
のＩＤプレート２３はワークベースに付帯され、ワーク
の移動に伴ってユニットと連携してデータの受け渡しを
行うようになっている。なお、ＩＤプレート２３には、
前述のように、ファイナルテスト工程で必要なテスト用
データ（例えば、車種やテスト項目、テスト条件、判定
規格、並びにＮＣ機械用のＮＣデータ等）のほか、ファ
イナルテスターによるテスト結果も格納されるようにな
っている。

【００１３】図１に示すように、本実施例の自動校正装
置は、ＩＤプレート２３へのデータの書込み及び読取り
を行う装置としてのアンテナ２４、２５（例えば、アン
テナ２４はテスト用データ用、アンテナ２５はテスト結
果用である）と、後述するホストコンピュータからの指
令に基づきＩＤプレート２３へのデータの書込み及び読
出しを制御するＩＤコントローラー２６と、ファイナル
テスター内の図示しない各種センサーからの信号を入力
しこれに対するゲイン調整を行うゲインアンプ２７と、
ファイナルテスター内の図示しないアクチュエータ（例
えば、トランスアクスルを位置決めクランプするクラン
パー装置等）への指令信号のゲイン調整を行うゲインア
ンプ２８と、ＩＤプレート２３から読み取ったＮＣデー
タに基づいて前記ＮＣ機械の制御を行うシーケンサー２
９と、本自動校正システムの中心としてこれを統一的に
制御するホストコンピュータ３０と、データを画面に表
示するＣＲＴ３１とから構成されており、ＩＤコントロ
ーラー２６、ゲインアンプ２７、２８、シーケンサー２
９及びＣＲＴ３１はすべてこのホストコンピュータ３０
に接続されている。また、このホストコンピュータ３０
は、各種プログラムに従って各種の演算を実行する演算
部３２と、プログラムのほか各種データを記憶するメモ
リ３３とを有している。さらに、図１(a) に示すよう
に、ＩＤプレート２３のメモリ３４及びホストコンピュ
ータ３０のメモリ３３はいくつかの領域に分れており、
ＩＤプレート２３のメモリ３４の領域３５は基準となる
校正データが格納される校正エリアであり、ホストコン
ピュータ３０のメモリ３３のうち領域３６はＩＤプレー
ト２３の校正エリア３５に記憶されているデータを格納
するエリアであり、領域３７はコンピュータのバッテリ
ーバックアップメモリ領域であって校正用の補正データ
が格納される。なお、第１記憶手段及び第２記憶手段は
それぞれホストコンピュータ３０のメモリ３３の領域３
６及び領域３７により形成され、算出手段と校正手段は
ホストコンピュータ３０の演算部３２により形成されて
いる。

【００１４】次に、このように構成された自動校正装置
の動作について、マスターワークを用いて基準ファイナ
ルテスターに対する他のファイナルテスターの校正用補
正データを算出する過程（以下、この過程を補正データ
算出過程と呼ぶ）と、実際にワークたるトランスアクス
ルのファイナルテストを実施する過程（以下、この過程
をテスト実施過程と呼ぶ）とに分けて説明する。

【００１５】図２は、補正データ算出過程における本自
動校正装置の動作フローチャートである。まずマスター
ワークを、ＩＤプレート２３が付帯されたワークベース
に移載したまま基準となる＃１のファイナルテスター
（基準テスター）に搬入して位置決めクランプした後、
校正用のプログラム（校正プログラム）を実行して基準
となる校正データ（基準校正データ）をゲインアンプ２
７を介してコンピュータ３０に入力し（ステップ１）、
ＩＤコントローラー２６を介してその基準校正データを
アンテナ２５によりＩＤプレート２３のメモリ３４の校
正エリア３５へ書き込み格納する（ステップ２）。

【００１６】次に、このマスターワークを他のファイナ
ルテスターに搬入して位置決めクランプが完了すると、
ＩＤプレート２３の校正エリア３５に記憶されている基
準校正データをアンテナ２５により読み取って車種ごと
にコンピュータ３０のメモリ３３の領域３６に記憶する
とともに、校正プログラムを実行して当該ファイナルテ
スターから出力された校正用データをゲインアンプ２７
を介してコンピュータ３０に入力する（ステップ３）。

【００１７】次に、コンピュータ３０は、算出手段とし
ての演算部３２において、ステップ３で得られたファイ
ナルテスターの校正用データとメモリ３３の校正領域３
６に記憶されている基準校正データとを比較して、基準
テスター＃１に対する当該ファイナルテスターの校正用
の補正データを算出し（ステップ４）、この補正データ
をコンピュータ３０のメモリ３３のバッテリーバックア
ップメモリ領域３７に格納する（ステップ６）。

【００１８】次いで、基準テスター＃１以外の全てのフ
ァイナルテスターについて補正データの作成作業が終了
したか否かを判断し、その結果として全てのファイナル
テスターについて補正データの作成が終了してなけれ
ば、引き続き、補正データが算出されてないファイナル
テスターにマスターワークを搬入してステップ３以下の
動作を繰り返す（ステップ６）。

【００１９】尚、本実施例では、マスターワークを各フ
ァイナルテスターへ搬入する度に、ＩＤプレート２３に
記憶されている基準校正データをコンピュータ３０のメ
モリ３３の校正領域３６にファイナルテスターごとに格
納するようにしているが、メモリ及びプログラム負荷を
削減するため、コンピュータ３０のメモリ３３の校正領
域３６に記憶する基準校正データを各ファイナルテスタ
ー共通にして最初の１回だけ基準校正データの転送格納
作業を行えば済むようにしても良い。

【００２０】このように、基準となるファイナルテスタ
ー＃１を決めてこれの校正データを求めた後基準テスタ
ー＃１に対する他のファイナルテスターの校正用補正デ
ータを定めておき、テスト実施過程においてファイナル
テスターのテスト結果を当該ファイナルテスターに対応
する補正データを用いて補正することによって、ファイ
ナルテストの結果のファイナルテスター間のバラツキを
なくすことができるようになり、テスト結果の一元化を
図ることが可能になる。

【００２１】そして、テスト結果の一元化を図ると、テ
スト結果を判定するための規格値も各ファイナルテスタ
ー間で同一でなければならないので、ファイナルテスタ
ーの精度の向上及びファイナルテストのサイクルタイム
の短縮を図るため、ライントップで車種ごとにＩＤプレ
ート２３への書き込みデータ（例えば、テスト条件、テ
スト項目、判定項目等）を生成するためのデータ生成用
コンピュータと、その生成データに基づいてファイナル
テストを実施するファイナルテスターのテスト用プログ
ラムとに工夫が必要になる。

【００２２】そこで、本実施例では、ホストコンピュー
タ３０にデータ生成機能を持たせ、作業者は、ＣＲＴ３
１のデータ設定画面を見ながら、ファイナルテスターに
おけるテスト方法、テスト項目、テスト条件等のＩＤデ
ータを車種ごとに全て設定できるようにしてある。ま
た、ファイナルテストの準備として、ワークをファイナ
ルテスターへ搬入する段取りが車種ごとに必要である
が、この段取りに必要なアクチュエータ（ＮＣ機械）を
制御するためのＮＣデータの作成についても、ＣＲＴ３
１のデータ設定画面を見ながら、車種ごとに、ワークの
規格（スペック）より、基準ポイントからの値を入力す
ることによって自動生成できるように工夫してある。

【００２３】一方、ファイナルテスターのテスト用プロ
グラムについては、トランスアクスルの車種ごとにテス
ト方法、テスト項目を変えられるよう測定条件別にパタ
ーン化し、このようなテストパターンを組み合わせて一
連のテストプログラムを作成する。このようなパターン
化により、後述するように、条件設定プログラムと条件
チェックプログラムを入れることで、前の条件がどのよ
うな測定条件であったとしても、ＮＧのステップのみ再
テストできるようになり、従来のように、テスト終了後
にＮＧのステップがあった場合、もう１度テストプログ
ラムをその先頭から全部実行するといった必要はなくな
る。

【００２４】図３は、これらの工夫を取り入れたテスト
実施過程における本自動校正装置の動作フローチャート
である。まず、ワークたるトランスアクスルがランダム
にファイナルテスター＃１〜＃１０に搬入されると、コ
ンピュータ３０は、ＩＤプレート２３に格納されている
車種情報を読み取り（このとき、当該ワークがマスター
ワークでないことは、マスターワークでないというフラ
グにより判別される）（ステップ１０）、その車種に応
じた段取りを自動で行い、これを受けてファイナルテス
ターはシーケンサ２９の指令に従ってワークをクランプ
し、その他テスト可能な状態まで準備する（ステップ１
１）。

【００２５】次いで、条件設定プログラムを実行して当
該トランスアクスルの車種に対応するテスト方法、テス
ト項目を実施する際の測定条件を設定し（ステップ１
２）、引き続き、条件チェックプログラムを実行してス
テップ１２で設定した測定条件のチェックを行った（ス
テップ１３）後、こうして得た測定条件下で所定のテス
ト方法により所定のテスト項目につきテストを実行する
（ステップ１４）。

【００２６】次いで、全てのテストが終了したか否かを
判断し、この判断の結果として全テストが終了してなけ
ればステップ１２に戻り、全テストが終了しておれば次
のステップ１６に進む（ステップ１５）。

【００２７】ステップ１５の判断として全テストが終了
しておれば、コンピュータ３０は、テスト結果にＮＧが
あったか否かを判断し（ステップ１６）、この判断の結
果としてテスト結果にＮＧがあれば、ＮＧがあったテス
トプログラムを選択し（ステップ１７）、引き続きステ
ップ１２に戻ってＮＧとなったテストのみ再テストを実
行する。

【００２８】ステップ１６の判断としてテスト結果にＮ
Ｇがなければ、コンピュータ３０のメモリ３３のバッテ
リーバックアップメモリ領域３７から、予め補正データ
算出過程で記憶した当該ファイナルテスターに対応する
校正用補正データを読み出し（ステップ１８）、校正手
段としての演算部３２にて、その補正データに基づいて
当該ファイナルテスターからのテスト結果を校正する
（ステップ１９）。そして、校正されたテスト結果をＣ
ＲＴ３１等に出力する（ステップ２０）。

【００２９】次いで、当該ワークに対して全ての検査が
終了したか否かを最終的に判断し、この判断の結果とし
て全ての検査が終了してなければステップ１２に戻って
未検査のテストを実施する（ステップ２１）。

【００３０】以上、本実施例によれば、予め、基準とな
るファイナルテスター＃１を選択して基準校正データを
求め、この基準校正データと他のファイナルテスターの
校正用データとを比較して他のファイナルテスターそれ
ぞれの補正データを算出し記憶しておき、この補正デー
タに基づいて各ファイナルテスターのテスト結果を校正
するようにしたので、ファイナルテスター間におけるテ
スト結果のバラツキを最小限に抑えることができる。従
って、これにより、テスト結果の一元化を図ることが可
能となるほか、全体として校正に要する工数が低減され
作業効率が向上し、また、校正期間の長期化も可能とな
る。

【００３１】

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、計測
機間における計測データのバラツキを抑えることができ
るようになり、すべての計測機の校正工数の削減と校正
期間の長期化が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係る計測機の自動校正装置
の概略構成図である。

【図２】図１の自動校正装置の補正データ算出過程での
動作フローチャートである。

【図３】図１の自動校正装置のテスト実施過程での動作
フローチャートである。

【図４】トランスアクスルのファイナル組立ラインの一
レイアウト図である。

【図５】ファイナルテスターのセンサーアンプ系の一構
成図である。

【符号の説明】

１〜１０…ファイナルテスター（計測機） ２３…ＩＤプレート ３０…ホストコンピュータ ３１…ＣＲＴ ３２…演算部（算出手段、校正手段） ３５…ＩＤプレートメモリの校正領域 ３６…コンピュータメモリの校正領域（第１記憶手段） ３７…コンピュータメモリのバッテリーバックアップメ
モリ領域（第２記憶手段）

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の同種の計測機からそれぞれ出力され
   た計測データの校正を自動的に行う計測機の自動校正装
   置であって、 基準となる計測機の基準校正データを記憶する第１記憶
   手段と、 該第１記憶手段に記憶されている基準校正データと前記
   基準計測機以外の他の計測機の校正用データとを比較し
   て前記基準計測機に対する前記他の計測機の校正用補正
   データを算出する算出手段と、 該算出手段により算出された校正用補正データを記憶す
   る第２記憶手段と、 前記計測機から出力された計測データを当該計測機に対
   応する前記第２記憶手段に記憶されている校正用補正デ
   ータに基づいて校正する校正手段と、 を有することを特徴とする計測機の自動校正装置。