JP2934146B2 - 動画像圧縮におけるブロック・マッチング方法と装置 - Google Patents
動画像圧縮におけるブロック・マッチング方法と装置Info
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- JP2934146B2 JP2934146B2 JP3408594A JP3408594A JP2934146B2 JP 2934146 B2 JP2934146 B2 JP 2934146B2 JP 3408594 A JP3408594 A JP 3408594A JP 3408594 A JP3408594 A JP 3408594A JP 2934146 B2 JP2934146 B2 JP 2934146B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はディジタル動画像のデー
タ量の圧縮に関する。具体的には、インタレース画像の
動きベクトル探索および符号化モード判定において用い
る動き補償をフィールド/フレーム適応予測する改良さ
れたブロック・マッチング方法と装置を提供しようとす
るものである。
タ量の圧縮に関する。具体的には、インタレース画像の
動きベクトル探索および符号化モード判定において用い
る動き補償をフィールド/フレーム適応予測する改良さ
れたブロック・マッチング方法と装置を提供しようとす
るものである。
【0002】
【従来の技術】図26にはディジタル動画像のデータ量
を圧縮するために用いるフレーム間予測の概念が示さ
れ、同図(a)には前フレームの画像A(t=t0 )か
ら(c)に示す1フレーム後の現画像B(t=t0 +1
/30)を予測している。動きベクトルMVを用いる動
き補償フレーム間予測と、動きベクトルMVを用いない
単純フレーム予測があり、単純フレーム予測は前フレー
ムの画像Aから現画像Bを直接予測するのに対して、動
き補償フレーム間予測では、同図(b)に示すように破
線で示した前フレームの画像から、実線で示した現画像
の位置を予測し動きベクトルMVを得て、動きベクトル
MVを用いて(c)に示す現画像Bを得ている。この動
き補償フレーム間予測を用いることによって、単純フレ
ーム間予測に較べて一般にそのデータ量を大幅に圧縮で
きる。
を圧縮するために用いるフレーム間予測の概念が示さ
れ、同図(a)には前フレームの画像A(t=t0 )か
ら(c)に示す1フレーム後の現画像B(t=t0 +1
/30)を予測している。動きベクトルMVを用いる動
き補償フレーム間予測と、動きベクトルMVを用いない
単純フレーム予測があり、単純フレーム予測は前フレー
ムの画像Aから現画像Bを直接予測するのに対して、動
き補償フレーム間予測では、同図(b)に示すように破
線で示した前フレームの画像から、実線で示した現画像
の位置を予測し動きベクトルMVを得て、動きベクトル
MVを用いて(c)に示す現画像Bを得ている。この動
き補償フレーム間予測を用いることによって、単純フレ
ーム間予測に較べて一般にそのデータ量を大幅に圧縮で
きる。
【0003】この動きベクトルMVを検出する手法に
は、多くの技術が存在するが、その中で最も一般的な方
法は、連続するフレーム間のある大きさの画素ブロック
ごとの処理を基本としたものであり、ブロック・マッチ
ング法と呼ばれている。
は、多くの技術が存在するが、その中で最も一般的な方
法は、連続するフレーム間のある大きさの画素ブロック
ごとの処理を基本としたものであり、ブロック・マッチ
ング法と呼ばれている。
【0004】図27にはブロック・マッチング法におけ
るブロック関係が示されている。同図(a)には前フレ
ームのサーチ・ウィンドウ61内の候補ブロック62
が、同図(b)には現フレームの参照ブロック63が示
され、参照ブロック63に対応する前フレームにおける
位置には同図(a)に破線で、サーチ・ウィンドウ61
に対応する位置には同図(b)に1点鎖線で示されてい
る。
るブロック関係が示されている。同図(a)には前フレ
ームのサーチ・ウィンドウ61内の候補ブロック62
が、同図(b)には現フレームの参照ブロック63が示
され、参照ブロック63に対応する前フレームにおける
位置には同図(a)に破線で、サーチ・ウィンドウ61
に対応する位置には同図(b)に1点鎖線で示されてい
る。
【0005】ブロック・マッチング法では、現フレーム
における参照ブロック63は前フレームのサーチ・ウィ
ンドウ61に囲まれた領域に含まれる同じ大きさの候補
ブロック62との算術的比較により探索される。そのフ
レーム間の比較結果はディストーションと呼ばれ、2つ
のブロックの類似性の単位として使用される。最も小さ
いディストーション値をもつ候補ブロック62は最良の
マッチングを示すものであり、それを参照ブロック63
と関連付ける動きベクトルMVとにより、動き予測を行
う。探索するサーチ・ウィンドウ61内に含まれる可能
なすべてのブロックが参照ブロック63と逐次比較され
るとき、このプロセスは全点探索法(フルサーチ・ブロ
ック・マッチング法)と呼ばれる。
における参照ブロック63は前フレームのサーチ・ウィ
ンドウ61に囲まれた領域に含まれる同じ大きさの候補
ブロック62との算術的比較により探索される。そのフ
レーム間の比較結果はディストーションと呼ばれ、2つ
のブロックの類似性の単位として使用される。最も小さ
いディストーション値をもつ候補ブロック62は最良の
マッチングを示すものであり、それを参照ブロック63
と関連付ける動きベクトルMVとにより、動き予測を行
う。探索するサーチ・ウィンドウ61内に含まれる可能
なすべてのブロックが参照ブロック63と逐次比較され
るとき、このプロセスは全点探索法(フルサーチ・ブロ
ック・マッチング法)と呼ばれる。
【0006】図28には全点探索法による探索範囲−8
〜+7のディストーションの求め方を示しており、
(a)のサーチ・ウィンドウ61と、それに対応する現
フレーム(b)の参照ブロック63と、(c)の一点鎖
線で示す候補ブロック62と、(d)のディストーショ
ンDijが示され、サーチ・ウィンドウ61に対応する
(b)の参照ブロック63のデータをaで、(c)の候
補ブロック62のデータをbで、iおよびjをy方向お
よびx方向の画素点の座標とすると、連続するフレーム
における参照ブロック63と(c)の矢印の動きベクト
ルMVの示す候補ブロック62とのブロック間累積誤差
値であるディストーション Dijは、 Dij=ΣΣ|a(i,j)−b(i+v,j+h)| ただし、最初のΣはi=0からM−1までの累和を表わ
し、次のΣはj=0からN−1までの累和を表わしてい
る。すると、ミーン・アブソリュート・エラーはこのデ
ィストーション Dijで表わされる。
〜+7のディストーションの求め方を示しており、
(a)のサーチ・ウィンドウ61と、それに対応する現
フレーム(b)の参照ブロック63と、(c)の一点鎖
線で示す候補ブロック62と、(d)のディストーショ
ンDijが示され、サーチ・ウィンドウ61に対応する
(b)の参照ブロック63のデータをaで、(c)の候
補ブロック62のデータをbで、iおよびjをy方向お
よびx方向の画素点の座標とすると、連続するフレーム
における参照ブロック63と(c)の矢印の動きベクト
ルMVの示す候補ブロック62とのブロック間累積誤差
値であるディストーション Dijは、 Dij=ΣΣ|a(i,j)−b(i+v,j+h)| ただし、最初のΣはi=0からM−1までの累和を表わ
し、次のΣはj=0からN−1までの累和を表わしてい
る。すると、ミーン・アブソリュート・エラーはこのデ
ィストーション Dijで表わされる。
【0007】動画の国際標準方式CCITT H.26
1では、フレーム間符号化のデータ圧縮効率を上げる技
術として、動きベクトルMVを用いる動き補償を採用し
た。この動きベクトルの探索には、ブロック単位のパタ
ーン・マッチングであるブロック・マッチングを高速に
処理する演算が要求される。
1では、フレーム間符号化のデータ圧縮効率を上げる技
術として、動きベクトルMVを用いる動き補償を採用し
た。この動きベクトルの探索には、ブロック単位のパタ
ーン・マッチングであるブロック・マッチングを高速に
処理する演算が要求される。
【0008】図29には、ブロック・マッチングを全点
探索法を使用し高速に処理して動きベクトルMVを得
る、ブロック・マッチング処理部の回路構成が示されて
いる。入力選択回路51,16個の演算エレメントPE
0〜PE15を含む演算エレメント群52,比較回路5
3,出力回路55と、入力選択回路51,比較回路5
3,出力回路55に必要なタイミング信号を供給するタ
イミング発生回路54が含まれている。
探索法を使用し高速に処理して動きベクトルMVを得
る、ブロック・マッチング処理部の回路構成が示されて
いる。入力選択回路51,16個の演算エレメントPE
0〜PE15を含む演算エレメント群52,比較回路5
3,出力回路55と、入力選択回路51,比較回路5
3,出力回路55に必要なタイミング信号を供給するタ
イミング発生回路54が含まれている。
【0009】入力画面の現フレームに含まれた参照ブロ
ック63の16×16画素のデータa(i,j)と、前
フレームの32×32画素のサーチ・ウィンドウ61の
左半面の16×32画素のデータb(i+v,j+h)
と、同じく右半面の16×32画素のデータb′(i+
v,j+h)とが選択回路51に印加され、参照ブロッ
ク63のデータaをシフト転送して、サーチ・ウインド
ウ61のデータbまたはb′がaと入力対となるように
選択している。
ック63の16×16画素のデータa(i,j)と、前
フレームの32×32画素のサーチ・ウィンドウ61の
左半面の16×32画素のデータb(i+v,j+h)
と、同じく右半面の16×32画素のデータb′(i+
v,j+h)とが選択回路51に印加され、参照ブロッ
ク63のデータaをシフト転送して、サーチ・ウインド
ウ61のデータbまたはb′がaと入力対となるように
選択している。
【0010】参照ブロック63のデータaとサーチ・ウ
インドウ61のデータbまたはb′とは対となって演算
エレメント群52に含まれた16個の演算エレメントP
E0〜PE15に印加され、各演算エレメントPE0〜
PE15では、垂直方向16回分の Dij=ΣΣ|a(i,j)−b(i+v,j+h)| の演算をしてそれぞれのディストーションD(=Dij)
を比較回路53へ出力する。
インドウ61のデータbまたはb′とは対となって演算
エレメント群52に含まれた16個の演算エレメントP
E0〜PE15に印加され、各演算エレメントPE0〜
PE15では、垂直方向16回分の Dij=ΣΣ|a(i,j)−b(i+v,j+h)| の演算をしてそれぞれのディストーションD(=Dij)
を比較回路53へ出力する。
【0011】比較回路53では、演算エレメント群52
の各演算エレメントPE0〜PE15から印加された1
6個のディストーションDを比較して、最も小さい値を
もつディストーションDを選択する。上記の動作を16
回繰返した後、最も小さい値を示したディストーション
Dを得るために用いたデータbまたはb′の候補ブロッ
ク62はデータaの参照ブロック63と最も良いマッチ
ングを示すものであり、出力回路55において参照ブロ
ック63から候補ブロック62への空間的位置と値を示
す動きベクトルMV(図28(c)参照)を得て、この
動きベクトルMVによって動き予測が行われている。図
29に示した構成によるプロセスは、前フレームのサー
チ・ウィンドウ61内に含まれるすべての候補ブロック
62が現フレームの参照ブロック63と演算エレメント
群52で並列に比較される、ブロック・マッチング法と
呼ばれるものである。
の各演算エレメントPE0〜PE15から印加された1
6個のディストーションDを比較して、最も小さい値を
もつディストーションDを選択する。上記の動作を16
回繰返した後、最も小さい値を示したディストーション
Dを得るために用いたデータbまたはb′の候補ブロッ
ク62はデータaの参照ブロック63と最も良いマッチ
ングを示すものであり、出力回路55において参照ブロ
ック63から候補ブロック62への空間的位置と値を示
す動きベクトルMV(図28(c)参照)を得て、この
動きベクトルMVによって動き予測が行われている。図
29に示した構成によるプロセスは、前フレームのサー
チ・ウィンドウ61内に含まれるすべての候補ブロック
62が現フレームの参照ブロック63と演算エレメント
群52で並列に比較される、ブロック・マッチング法と
呼ばれるものである。
【0012】図30には演算エレメントPE0〜PE1
5のうちの任意の1つの演算エレメントPEの動作の流
れを示している。
5のうちの任意の1つの演算エレメントPEの動作の流
れを示している。
【0013】参照ブロック63のデータa(i,j)と
候補ブロック62のデータb(i+v,j+h)または
b′(i+v′,j+h′)が印加されると、a−bを
演算し(S101)、ラッチする(S102)。そこ
で、その絶対値|a−b|を得て(S103)、それを
ラッチする(S104)。この絶対値は、前に得た絶対
値と加算されて、 Dij=ΣΣ|a−b| を得て(S105)、ラッチしてディストーションDを
出力する。ここで最初のΣはi=0からM−1までの累
和を表わし、次のΣはj=0からN−1までの累和を表
わしている。
候補ブロック62のデータb(i+v,j+h)または
b′(i+v′,j+h′)が印加されると、a−bを
演算し(S101)、ラッチする(S102)。そこ
で、その絶対値|a−b|を得て(S103)、それを
ラッチする(S104)。この絶対値は、前に得た絶対
値と加算されて、 Dij=ΣΣ|a−b| を得て(S105)、ラッチしてディストーションDを
出力する。ここで最初のΣはi=0からM−1までの累
和を表わし、次のΣはj=0からN−1までの累和を表
わしている。
【0014】図31には演算エレメントPE0〜PE1
5のうちの任意の1つの演算エレメントPEの回路構成
が示されている。演算エレメントPEは差分絶対値|a
−b|を演算する差分絶対値算出部10と、それを加算
してディストーションDを得る加算部20とから成って
いる。差分絶対値算出部10は加算器11,セレクタ1
2とインバータ15,16を含み、加算部20は加算器
21,ラッチ22とインバータ25を含んでいる。ラッ
チ22のリセット端子Rにはリセット信号Rが印加され
初期化されている。
5のうちの任意の1つの演算エレメントPEの回路構成
が示されている。演算エレメントPEは差分絶対値|a
−b|を演算する差分絶対値算出部10と、それを加算
してディストーションDを得る加算部20とから成って
いる。差分絶対値算出部10は加算器11,セレクタ1
2とインバータ15,16を含み、加算部20は加算器
21,ラッチ22とインバータ25を含んでいる。ラッ
チ22のリセット端子Rにはリセット信号Rが印加され
初期化されている。
【0015】参照ブロック63のデータa(i,j)は
加算器11の入力端子Aiに印加され、候補ブロック6
2のデータb(i+v,j+h)はインバータ15を介
して入力端子Biに印加され、加算器11の入力端子C
iには“1”が印加されて、その出力端子Ai+Biに
は差分a−bを得て、出力端子Coには選択信号を出力
している。
加算器11の入力端子Aiに印加され、候補ブロック6
2のデータb(i+v,j+h)はインバータ15を介
して入力端子Biに印加され、加算器11の入力端子C
iには“1”が印加されて、その出力端子Ai+Biに
は差分a−bを得て、出力端子Coには選択信号を出力
している。
【0016】差分a−bはセレクタ12の入力端子Ai
にはインバータ16を介して、入力端子Biには直接に
印加され、加算器11からの選択信号を入力端子Sに受
けて差分絶対値|a−b|を出力端子Yiに得ている。
ここで入力端子Sに“0”が印加されるときには、出力
端子Yiには入力端子Aiの値が得られ、入力端子Sに
“1”が印加されているときには、出力端子Yiには入
力端子Biの値が得られる。
にはインバータ16を介して、入力端子Biには直接に
印加され、加算器11からの選択信号を入力端子Sに受
けて差分絶対値|a−b|を出力端子Yiに得ている。
ここで入力端子Sに“0”が印加されるときには、出力
端子Yiには入力端子Aiの値が得られ、入力端子Sに
“1”が印加されているときには、出力端子Yiには入
力端子Biの値が得られる。
【0017】加算部20に含まれた加算器21の入力端
子Ciには加算器11からの選択信号がインバータ25
を介して印加され、入力端子Aiにはセレクタ12から
の差分絶対値|a−b|が印加され、入力端子Biには
ラッチ22の出力端子Qiからの出力である前回得られ
たディストーションDが印加され、その出力端子Ai+
BiからはΣΣ|a−b|を得て、それをラッチ22の
入力端子Diに印加してそのクロック端子にクロックC
Kが印加されるごとにラッチし、ディストーションDを
得ている。
子Ciには加算器11からの選択信号がインバータ25
を介して印加され、入力端子Aiにはセレクタ12から
の差分絶対値|a−b|が印加され、入力端子Biには
ラッチ22の出力端子Qiからの出力である前回得られ
たディストーションDが印加され、その出力端子Ai+
BiからはΣΣ|a−b|を得て、それをラッチ22の
入力端子Diに印加してそのクロック端子にクロックC
Kが印加されるごとにラッチし、ディストーションDを
得ている。
【0018】以上において説明した全点探索法において
は、入力された参照(対象)ブロック63によりサーチ
・ウィンドウ(探索エリア)61に含まれる全てのブロ
ックの差分絶対値和を求めて、その最小値を持つブロッ
クを候補(予測)ブロック62としていた。そのためイ
ンタレース画像におけるフレーム/フィールド適応予測
は、膨大な演算(たとえば、524,288オペレーシ
ョン)を必要としていた。
は、入力された参照(対象)ブロック63によりサーチ
・ウィンドウ(探索エリア)61に含まれる全てのブロ
ックの差分絶対値和を求めて、その最小値を持つブロッ
クを候補(予測)ブロック62としていた。そのためイ
ンタレース画像におけるフレーム/フィールド適応予測
は、膨大な演算(たとえば、524,288オペレーシ
ョン)を必要としていた。
【0019】図32には3段探索法が示されている。3
段探索法は全点探索法において要求される膨大な演算を
避けてサーチ・ウインドウ61におけるサーチの対象と
なる1点鎖線で囲んだ参照ブロック63の探索点を減ら
すことにより演算量を減らしている。同図においては、
サーチ・ウインドウ61の多くの探索点を黒点で示して
おり、サーチ・ウインドウ61の範囲がX軸およびY軸
ともに−7〜+7となっている。最初のステップでは、
黒丸を含む9個の丸印で示した9点の探索が行われ、そ
の9点のうち、黒丸の点が最小のディストーション(差
分絶対値和)を示したとする。第2のステップでは、そ
の周辺の黒4角を含む8個の4角印で示した8点の探索
が行われ、その8点のうち黒4角の点が最小のディスト
ーションを示したとする。第3のステップでは、その周
辺の黒3角を含む8個の3角印で示した8点の探索が行
われ、その8点のうち黒3角の点が最小のディストーシ
ョンを示したことを示している。この2点鎖線で囲んだ
候補ブロック62に含まれた黒3角の点の位置が動きベ
クトルとされる。
段探索法は全点探索法において要求される膨大な演算を
避けてサーチ・ウインドウ61におけるサーチの対象と
なる1点鎖線で囲んだ参照ブロック63の探索点を減ら
すことにより演算量を減らしている。同図においては、
サーチ・ウインドウ61の多くの探索点を黒点で示して
おり、サーチ・ウインドウ61の範囲がX軸およびY軸
ともに−7〜+7となっている。最初のステップでは、
黒丸を含む9個の丸印で示した9点の探索が行われ、そ
の9点のうち、黒丸の点が最小のディストーション(差
分絶対値和)を示したとする。第2のステップでは、そ
の周辺の黒4角を含む8個の4角印で示した8点の探索
が行われ、その8点のうち黒4角の点が最小のディスト
ーションを示したとする。第3のステップでは、その周
辺の黒3角を含む8個の3角印で示した8点の探索が行
われ、その8点のうち黒3角の点が最小のディストーシ
ョンを示したことを示している。この2点鎖線で囲んだ
候補ブロック62に含まれた黒3角の点の位置が動きベ
クトルとされる。
【0020】図33にはインタレース画像の1フレーム
が示されている。輝線となる太い実線の走査線で示す奇
数フィールドおよび太い破線の走査線で示す偶数フィー
ルドの2回の走査で1フレームが構成され、各走査線の
間には輝線とはならない細線で示す帰線で結ばれてい
る。奇数および偶数のフィールド画像によって完全な画
像であるフレーム画像を得ている。
が示されている。輝線となる太い実線の走査線で示す奇
数フィールドおよび太い破線の走査線で示す偶数フィー
ルドの2回の走査で1フレームが構成され、各走査線の
間には輝線とはならない細線で示す帰線で結ばれてい
る。奇数および偶数のフィールド画像によって完全な画
像であるフレーム画像を得ている。
【0021】図34には動画像の動き予測をフィールド
単位で予測するかフレーム単位で予測するかを適応的に
切替えて予測するフィールド/フレーム適応予測の方法
が示されている。時間tの経過にしたがって、時間t
n-1 において白丸により示された垂直位置vの方向に並
んだ前フレームのフィールド1(奇,偶フィールドの一
方)の画素および黒丸により示されたフィールド2
(奇,偶フィールドの他方)の画素のうちの1点鎖線で
囲んだフィールド1aの画素および2点鎖線で囲んだフ
ィールド2aの画素から、それぞれフィールド1および
2の動きベクトルであるフィールド・ベクトルFIV1
およびFIV2を得て、時間tn における白丸および黒
丸の画素で示したフィールド1および2の画素からなる
現フレームの画素の位置を予測している。また、フィー
ルド1およびフィールド2の画素を1つのブロックとし
て時間tn-1 のフレーム3aから1つの動きベクトルで
あるフレーム・ベクトルFRVを得て、時間tn におけ
る白丸および黒丸の画素で示したフィールド1および2
の画素からなる現フレームの画素の位置を予測してい
る。
単位で予測するかフレーム単位で予測するかを適応的に
切替えて予測するフィールド/フレーム適応予測の方法
が示されている。時間tの経過にしたがって、時間t
n-1 において白丸により示された垂直位置vの方向に並
んだ前フレームのフィールド1(奇,偶フィールドの一
方)の画素および黒丸により示されたフィールド2
(奇,偶フィールドの他方)の画素のうちの1点鎖線で
囲んだフィールド1aの画素および2点鎖線で囲んだフ
ィールド2aの画素から、それぞれフィールド1および
2の動きベクトルであるフィールド・ベクトルFIV1
およびFIV2を得て、時間tn における白丸および黒
丸の画素で示したフィールド1および2の画素からなる
現フレームの画素の位置を予測している。また、フィー
ルド1およびフィールド2の画素を1つのブロックとし
て時間tn-1 のフレーム3aから1つの動きベクトルで
あるフレーム・ベクトルFRVを得て、時間tn におけ
る白丸および黒丸の画素で示したフィールド1および2
の画素からなる現フレームの画素の位置を予測してい
る。
【0022】ここで原理的に、フィールド単位の予測に
より得たフィールド・ベクトルFIVにともなうディス
トーションDfiは、フレーム単位の予測により得たフレ
ーム・ベクトルFRVにともなうディストーションDfr
より小さくなるが、フィールド単位の予測ではフィール
ド・ベクトルFIV1とFIV2が得られるから、この
2つの動きベクトルを伝送しなければならないのに対し
て、フレーム単位の予測の場合には1つのベクトルを伝
送すればよい。そこで、適当な閾値THを設定し、最小
値を示すフィールドおよびフィールド2からの予測によ
るディストーションDfi1mおよびDfi2mと同じく最小値
を示すフレームからの予測によるディストーションD
frmから、 Dfrm≧Dfi1m+Dfi2m+TH の場合にはフィールド予測を採用すべきであると判定し
て2つのフィールド・ベクトルFIV1とFIV2を伝
送し、 Dfrm<Dfi1m+Dfi2m+TH の場合にはフレーム予測を採用すべきであると判定して
フレーム・ベクトルFRVを適応的に伝送している。
より得たフィールド・ベクトルFIVにともなうディス
トーションDfiは、フレーム単位の予測により得たフレ
ーム・ベクトルFRVにともなうディストーションDfr
より小さくなるが、フィールド単位の予測ではフィール
ド・ベクトルFIV1とFIV2が得られるから、この
2つの動きベクトルを伝送しなければならないのに対し
て、フレーム単位の予測の場合には1つのベクトルを伝
送すればよい。そこで、適当な閾値THを設定し、最小
値を示すフィールドおよびフィールド2からの予測によ
るディストーションDfi1mおよびDfi2mと同じく最小値
を示すフレームからの予測によるディストーションD
frmから、 Dfrm≧Dfi1m+Dfi2m+TH の場合にはフィールド予測を採用すべきであると判定し
て2つのフィールド・ベクトルFIV1とFIV2を伝
送し、 Dfrm<Dfi1m+Dfi2m+TH の場合にはフレーム予測を採用すべきであると判定して
フレーム・ベクトルFRVを適応的に伝送している。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】全点探索法を用いる
と、膨大な演算を要求されるから、高速処理のために装
置の構造が高価となってしまい実施が困難であるという
問題点があった。サーチ・ウインドウ61を大きくとる
ととくに問題点が顕著となる。
と、膨大な演算を要求されるから、高速処理のために装
置の構造が高価となってしまい実施が困難であるという
問題点があった。サーチ・ウインドウ61を大きくとる
ととくに問題点が顕著となる。
【0024】この全点探索法の問題点を解決するために
3段探索法が用いられるが、 サーチ・ウインドウ61内
における探索点が隣合わせておらず飛び飛びになってし
まう(図32)ために、複数の点におけるデータが同一
の値を示すこともあり、同一のデータを繰返し読み込み
演算することがある。探索点が離れてデータの連続性が
途切れてしまうために、データの高速処理に適したパイ
プライン構成を使った並列処理を使用することができな
い。さらに、探索点が少ないために、局所的にディスト
ーションが最小値を示す点の動きベクトルを選択してし
まうこともあり、その動きベクトルが候補ブロック62
の動きを示すものとはならない場合があるという解決さ
れねばならない課題があった。
3段探索法が用いられるが、 サーチ・ウインドウ61内
における探索点が隣合わせておらず飛び飛びになってし
まう(図32)ために、複数の点におけるデータが同一
の値を示すこともあり、同一のデータを繰返し読み込み
演算することがある。探索点が離れてデータの連続性が
途切れてしまうために、データの高速処理に適したパイ
プライン構成を使った並列処理を使用することができな
い。さらに、探索点が少ないために、局所的にディスト
ーションが最小値を示す点の動きベクトルを選択してし
まうこともあり、その動きベクトルが候補ブロック62
の動きを示すものとはならない場合があるという解決さ
れねばならない課題があった。
【0025】
【課題を解決するための手段】入力ブロックである参照
ブロック63とサーチ・ウィンドウ61に含まれた候補
ブロック62をライン周期で、奇数ラインのブロック
(フィールド)と偶数ラインのブロック(フィールド)
に分割するためのフィールド分割部と、参照ブロック6
3と候補ブロック62から得た各フィールドの、たとえ
ば、水平成分についてフィールド1および2毎に位相を
ずらして所定の間隔で行うサブサンプル部と、サブサン
プルで得たフィールド1またはフィールド2のサブサン
プル結果を切替えて選択する選択部と、選択された候補
ブロック62のサブサンプル結果と参照ブロック63の
サブサンプル結果とからディストーションを算出するた
めのディストーション算出部と、候補ブロック62およ
び参照ブロック63のそれぞれからのディストーション
を加算してフレームのディストーションを得るための第
1の加算器と、候補ブロック62および参照ブロック6
3のそれぞれからのディストーションとその加算により
得たフレーム・ディストーションの値のそれぞれの最小
値を検出し、その最小値を検出した時点を示すタイミン
グ信号を得るための最小値検出部と、候補ブロック62
および参照ブロック63のそれぞれから得たディストー
ションの最小値を加算してフィールド・ディストーショ
ンの最小値の和を得るための加算器と、フレーム・ディ
ストーションの最小値と、2つのフィールド・ディスト
ーションの最小値の和と閾値THの和を比較して、フィ
ールド・ディストーションの最小値の方が小さい値を示
したときにはフィールド予測と判定し、その逆のときに
はフレーム予測と判定するための比較器と、候補ブロッ
ク62および参照ブロック63のそれぞれからのディス
トーションと、その加算により得たフレーム・ディスト
ーションのそれぞれの最小値を得たタイミングからフィ
ールド1の動きベクトルFIV1と、フィールド2の動
きベクトルFIV2と、フレームの動きベクトルFRV
を得るための動きベクトル算出器とを設けた。
ブロック63とサーチ・ウィンドウ61に含まれた候補
ブロック62をライン周期で、奇数ラインのブロック
(フィールド)と偶数ラインのブロック(フィールド)
に分割するためのフィールド分割部と、参照ブロック6
3と候補ブロック62から得た各フィールドの、たとえ
ば、水平成分についてフィールド1および2毎に位相を
ずらして所定の間隔で行うサブサンプル部と、サブサン
プルで得たフィールド1またはフィールド2のサブサン
プル結果を切替えて選択する選択部と、選択された候補
ブロック62のサブサンプル結果と参照ブロック63の
サブサンプル結果とからディストーションを算出するた
めのディストーション算出部と、候補ブロック62およ
び参照ブロック63のそれぞれからのディストーション
を加算してフレームのディストーションを得るための第
1の加算器と、候補ブロック62および参照ブロック6
3のそれぞれからのディストーションとその加算により
得たフレーム・ディストーションの値のそれぞれの最小
値を検出し、その最小値を検出した時点を示すタイミン
グ信号を得るための最小値検出部と、候補ブロック62
および参照ブロック63のそれぞれから得たディストー
ションの最小値を加算してフィールド・ディストーショ
ンの最小値の和を得るための加算器と、フレーム・ディ
ストーションの最小値と、2つのフィールド・ディスト
ーションの最小値の和と閾値THの和を比較して、フィ
ールド・ディストーションの最小値の方が小さい値を示
したときにはフィールド予測と判定し、その逆のときに
はフレーム予測と判定するための比較器と、候補ブロッ
ク62および参照ブロック63のそれぞれからのディス
トーションと、その加算により得たフレーム・ディスト
ーションのそれぞれの最小値を得たタイミングからフィ
ールド1の動きベクトルFIV1と、フィールド2の動
きベクトルFIV2と、フレームの動きベクトルFRV
を得るための動きベクトル算出器とを設けた。
【0026】
【作用】サブサンプル部において奇および偶フィールド
毎に位相をずらして所定の間隔でサブサンプルを行うこ
とにより、画像の水平および垂直方向の相関が斜め方向
の相関よりも強いことから、相関の強い水平および垂直
方向の成分をサンプルせずに捨ててブロック・マッチン
グの精度を上げている。
毎に位相をずらして所定の間隔でサブサンプルを行うこ
とにより、画像の水平および垂直方向の相関が斜め方向
の相関よりも強いことから、相関の強い水平および垂直
方向の成分をサンプルせずに捨ててブロック・マッチン
グの精度を上げている。
【0027】さらに、フィールド・ベクトルFIV1,
FIV2の探索時にサブサンプルの位相をフィールド1
およびフィールド2毎にずらして所定の間隔で行うか
ら、フレーム・ベクトルFRVの探索も同時に行える。
このようにしてフィールド・ベクトルFIV1,FIV
2およびフレーム・ベクトルFRVの探索を同時に少な
い演算量で精度良く高速に行うことができる。
FIV2の探索時にサブサンプルの位相をフィールド1
およびフィールド2毎にずらして所定の間隔で行うか
ら、フレーム・ベクトルFRVの探索も同時に行える。
このようにしてフィールド・ベクトルFIV1,FIV
2およびフレーム・ベクトルFRVの探索を同時に少な
い演算量で精度良く高速に行うことができる。
【0028】
【実施例】図1には本発明の一実施例が示されている。
ここでRは各構成要素をイニシヤライズするためのリセ
ット信号、PCKは画素クロック、BCKはブロック・
クロック、PHSはサンプル位相切替信号、FISはフ
ィールド切替信号であり、各構成要素において用いられ
る。
ここでRは各構成要素をイニシヤライズするためのリセ
ット信号、PCKは画素クロック、BCKはブロック・
クロック、PHSはサンプル位相切替信号、FISはフ
ィールド切替信号であり、各構成要素において用いられ
る。
【0029】現フレームの参照ブロック63のデータ
と、前フレームのサーチ・ウィンドウ61のデータとを
印加されて、フィールド分割部150においては、参照
ブロック63のフィールド1およびフィールド2のデー
タをそれぞれ示す信号166および167と、サーチ・
ウィンドウ61内の候補ブロック62のフィールド1お
よび2のデータをそれぞれ示す信号168および169
を得ている。
と、前フレームのサーチ・ウィンドウ61のデータとを
印加されて、フィールド分割部150においては、参照
ブロック63のフィールド1およびフィールド2のデー
タをそれぞれ示す信号166および167と、サーチ・
ウィンドウ61内の候補ブロック62のフィールド1お
よび2のデータをそれぞれ示す信号168および169
を得ている。
【0030】信号166ないし169を受けたサブサン
プル部170では、フィールド1および2の、たとえ
ば、水平成分についてフィールド1および2毎に位相を
ずらして所定の間隔でサブサンプルを行って、参照ブロ
ック63のフィールド1および2のサブサンプル結果を
それぞれ信号186および187として、また、候補ブ
ロック62のフィールド1および2のサブサンプル結果
をそれぞれ信号188および189として得ている。
プル部170では、フィールド1および2の、たとえ
ば、水平成分についてフィールド1および2毎に位相を
ずらして所定の間隔でサブサンプルを行って、参照ブロ
ック63のフィールド1および2のサブサンプル結果を
それぞれ信号186および187として、また、候補ブ
ロック62のフィールド1および2のサブサンプル結果
をそれぞれ信号188および189として得ている。
【0031】信号188および189を受けた選択部2
00では、信号218として信号188または信号18
9のいずれか一方を選択し、また、信号219として信
号189または188のいずれか他方を選択して出力し
ている。
00では、信号218として信号188または信号18
9のいずれか一方を選択し、また、信号219として信
号189または188のいずれか他方を選択して出力し
ている。
【0032】信号186,187,218,219を受
けたディストーション算出部220では、参照ブロック
63のフィールド1から得ている信号186と候補ブロ
ック62のフィールド1または2の一方から得ている信
号218との間のディストーションを得て信号248と
して出力し、参照ブロック63のフィールド2から得て
いる信号187と候補ブロック62のフィールド1また
は2の他方から得ている信号219との間のディストー
ションを得て信号249として出力している。
けたディストーション算出部220では、参照ブロック
63のフィールド1から得ている信号186と候補ブロ
ック62のフィールド1または2の一方から得ている信
号218との間のディストーションを得て信号248と
して出力し、参照ブロック63のフィールド2から得て
いる信号187と候補ブロック62のフィールド1また
は2の他方から得ている信号219との間のディストー
ションを得て信号249として出力している。
【0033】加算器250では、フィールド1のディス
トーションである信号248とフィールド2のディスト
ーションである信号249を加算することにより、フレ
ーム・ディストーションを表わす信号259を出力して
いる。
トーションである信号248とフィールド2のディスト
ーションである信号249を加算することにより、フレ
ーム・ディストーションを表わす信号259を出力して
いる。
【0034】信号248,249および259を受けた
最小値検出部260では各信号の示す値の最小値を検出
し、フィールド1のディストーションの最小値を表わす
信号288を出力し、フィールド2のディストーション
の最小値を表わす信号289を出力し、フィールド1と
フィールド2のディストーションの和であるフレーム・
ディストーションの最小値を表わす信号287を出力
し、フィールド1のディストーションの最小値を検出し
た時点を示すタイミング信号284と、フィールド2の
ディストーションの最小値を検出した時点を示すタイミ
ング信号286とフレーム・ディストーションの最小値
を検出した時点を示すタイミング信号285を出力して
いる。
最小値検出部260では各信号の示す値の最小値を検出
し、フィールド1のディストーションの最小値を表わす
信号288を出力し、フィールド2のディストーション
の最小値を表わす信号289を出力し、フィールド1と
フィールド2のディストーションの和であるフレーム・
ディストーションの最小値を表わす信号287を出力
し、フィールド1のディストーションの最小値を検出し
た時点を示すタイミング信号284と、フィールド2の
ディストーションの最小値を検出した時点を示すタイミ
ング信号286とフレーム・ディストーションの最小値
を検出した時点を示すタイミング信号285を出力して
いる。
【0035】フィールド1およびフィールド2のディス
トーションの最小値を示す信号288および289を受
けた加算器300では、それらの最小値を加算して信号
309として出力する。
トーションの最小値を示す信号288および289を受
けた加算器300では、それらの最小値を加算して信号
309として出力する。
【0036】フレーム・ディストーションの最小値を表
わす信号287と、フィールド1およびフィールド2の
ディストーションの最小値の加算値を示す信号309と
を受けて比較器310において比較し、フレーム・ディ
ストーションの最小値Dfrmとフィールド1のディスト
ーションの最小値Dfi1mとフィールド2のディストーシ
ョンの最小値Dfi2mとが図示されてはいない適当な閾値
THを加えて、 Dfrm≧Dfi1m+Dfi2m+TH のときにフィールド予測と判定し、 Dfrm<Dfi1m+Dfi2m+TH のときにフレーム予測と判定して、フィールド/フレー
ム選択用の信号319を出力している。
わす信号287と、フィールド1およびフィールド2の
ディストーションの最小値の加算値を示す信号309と
を受けて比較器310において比較し、フレーム・ディ
ストーションの最小値Dfrmとフィールド1のディスト
ーションの最小値Dfi1mとフィールド2のディストーシ
ョンの最小値Dfi2mとが図示されてはいない適当な閾値
THを加えて、 Dfrm≧Dfi1m+Dfi2m+TH のときにフィールド予測と判定し、 Dfrm<Dfi1m+Dfi2m+TH のときにフレーム予測と判定して、フィールド/フレー
ム選択用の信号319を出力している。
【0037】フィールド1および2のディストーション
のそれぞれの最小値を検出した時点を示すタイミング信
号284および286と、フレーム・ディストーション
の最小値を検出した時点を示すタイミング信号285を
受けた動きベクトル算出器320では、それぞれのタイ
ミング信号を受けた時点から、それまでに印加されたブ
ロック・クロックBCKの数をカウントすることによ
り、それぞれ、フィールド1のフィールド・ベクトルF
IV1を表わす信号347,フィールド2のフィールド
・ベクトルFIV2を表わす信号348,フレーム・ベ
クトルFRVを表わす信号349を出力している。
のそれぞれの最小値を検出した時点を示すタイミング信
号284および286と、フレーム・ディストーション
の最小値を検出した時点を示すタイミング信号285を
受けた動きベクトル算出器320では、それぞれのタイ
ミング信号を受けた時点から、それまでに印加されたブ
ロック・クロックBCKの数をカウントすることによ
り、それぞれ、フィールド1のフィールド・ベクトルF
IV1を表わす信号347,フィールド2のフィールド
・ベクトルFIV2を表わす信号348,フレーム・ベ
クトルFRVを表わす信号349を出力している。
【0038】図2には、フィールド分割部150,サブ
サンプル部170および選択部200の詳細な回路構成
が示されている。
サンプル部170および選択部200の詳細な回路構成
が示されている。
【0039】2つのフィールド分割回路151と152
には、それぞれのX端子に参照ブロック63のデータ
と、サーチ・ウィンドウ61に含まれた候補ブロック6
2のデータが印加され、それぞれのリセット端子Rに
は、イニシャライズ用のリセット信号Rが、それぞれの
クロック端子には画素クロックPCKが印加されてい
る。フィールド分割回路151の出力端子Y1およびY
2からは、それぞれ、参照ブロック63のフィールド1
および2の各画素が分離されて信号166および167
として出力されている。フィールド分割回路152の出
力端子Y1およびY2からは、それぞれ候補ブロック6
2のフィールド1およびフィールド2の各画素が分離さ
れて信号168および信号169として出力されてい
る。
には、それぞれのX端子に参照ブロック63のデータ
と、サーチ・ウィンドウ61に含まれた候補ブロック6
2のデータが印加され、それぞれのリセット端子Rに
は、イニシャライズ用のリセット信号Rが、それぞれの
クロック端子には画素クロックPCKが印加されてい
る。フィールド分割回路151の出力端子Y1およびY
2からは、それぞれ、参照ブロック63のフィールド1
および2の各画素が分離されて信号166および167
として出力されている。フィールド分割回路152の出
力端子Y1およびY2からは、それぞれ候補ブロック6
2のフィールド1およびフィールド2の各画素が分離さ
れて信号168および信号169として出力されてい
る。
【0040】4個のサブサンプル回路171〜174の
クロック端子には画素クロックPCKが印加されてい
る。サブサンプル回路171の位相入力端子PHには
“0”が、サブサンプル回路172の位相入力端子PH
には“1”が印加されている。サブサンプル回路173
の位相入力端子PHにはサンプル位相切替信号PHS
が、サブサンプル回路174の位相入力端子PHにはサ
ンプル位相切替信号PHSがインバータ175を介して
印加されている。
クロック端子には画素クロックPCKが印加されてい
る。サブサンプル回路171の位相入力端子PHには
“0”が、サブサンプル回路172の位相入力端子PH
には“1”が印加されている。サブサンプル回路173
の位相入力端子PHにはサンプル位相切替信号PHS
が、サブサンプル回路174の位相入力端子PHにはサ
ンプル位相切替信号PHSがインバータ175を介して
印加されている。
【0041】そこで、サブサンプル回路171の出力端
子Yからは参照ブロック63のフィールド1の画素を所
定の間隔をおいてサブサンプルしたデータが信号186
として得られる。サブサンプル回路172の出力端子Y
からは参照ブロック63のフィールド2の画素をサブサ
ンプル回路171のサブサンプルの位相とは逆の位相
で、すなわち、サブサンプルの位相をずらして、サブサ
ンプルしたデータが信号187として得られる。サーチ
・ウィンドウ61内の候補ブロック62のフィールド1
およびフィールド2のデータをそれぞれ示す信号168
および169を受けたサブサンプル回路173および1
74は、互いに位相をずらして、所定の間隔で互いちが
いに候補ブロック62のフィールド1および2のデータ
をサブサンプルしてその結果を信号188および信号1
89として出力している。両信号188および189は
セレクタ201および202の入力端子AおよびBに印
加され、セレクト端子Sに印加されたフィールド切替信
号FISによって選択的に切替られて、信号218およ
び219としてそれぞれ信号188および189が出力
されたり、あるいは逆に、信号189および188が出
力されたりする。
子Yからは参照ブロック63のフィールド1の画素を所
定の間隔をおいてサブサンプルしたデータが信号186
として得られる。サブサンプル回路172の出力端子Y
からは参照ブロック63のフィールド2の画素をサブサ
ンプル回路171のサブサンプルの位相とは逆の位相
で、すなわち、サブサンプルの位相をずらして、サブサ
ンプルしたデータが信号187として得られる。サーチ
・ウィンドウ61内の候補ブロック62のフィールド1
およびフィールド2のデータをそれぞれ示す信号168
および169を受けたサブサンプル回路173および1
74は、互いに位相をずらして、所定の間隔で互いちが
いに候補ブロック62のフィールド1および2のデータ
をサブサンプルしてその結果を信号188および信号1
89として出力している。両信号188および189は
セレクタ201および202の入力端子AおよびBに印
加され、セレクト端子Sに印加されたフィールド切替信
号FISによって選択的に切替られて、信号218およ
び219としてそれぞれ信号188および189が出力
されたり、あるいは逆に、信号189および188が出
力されたりする。
【0042】図3には、ディストーション算出部22
0,加算器250,最小値検出部260,加算器30
0,比較器310および動きベクトル算出器320の詳
細な回路構成が示されている。
0,加算器250,最小値検出部260,加算器30
0,比較器310および動きベクトル算出器320の詳
細な回路構成が示されている。
【0043】ディストーション算出回路221および2
22のクロック端子には、画素クロックPCKが印加さ
れ、リセット端子Rにはブロック・クロックBCKが印
加されている。ディストーション算出回路221の2つ
の入力端子AおよびBには信号186および218が印
加され、ディストーション算出回路222の2つの入力
端子AおよびBには信号187および219が印加さ
れ、それぞれの入力端子AおよびBに印加された信号の
ディストーションをそれぞれの出力端子Yに信号248
および249として出力している。フィールド1のディ
ストーションDfi 1 を表わす信号248とフィールド2
のディストーションDfi2 を表わす信号249とは加算
器250において加算されて、フレーム・ディストーシ
ョンDfrを表わす信号259を出力している。
22のクロック端子には、画素クロックPCKが印加さ
れ、リセット端子Rにはブロック・クロックBCKが印
加されている。ディストーション算出回路221の2つ
の入力端子AおよびBには信号186および218が印
加され、ディストーション算出回路222の2つの入力
端子AおよびBには信号187および219が印加さ
れ、それぞれの入力端子AおよびBに印加された信号の
ディストーションをそれぞれの出力端子Yに信号248
および249として出力している。フィールド1のディ
ストーションDfi 1 を表わす信号248とフィールド2
のディストーションDfi2 を表わす信号249とは加算
器250において加算されて、フレーム・ディストーシ
ョンDfrを表わす信号259を出力している。
【0044】最小値検出回路261,262および26
3のクロック端子にはブロック・クロックBCKが、リ
セット端子Rには初期化のためにイニシャライズするリ
セット信号Rが印加されている。最小値検出回路261
および263の入力端子Xにそれぞれ印化されたフィー
ルド1のディストーションDfi1 を表わす信号248と
フィールド2のディストーションDfi2 を表わす信号2
49が印加され、最小値検出回路262の入力端子には
フレーム・ディストーションDfrを表わす信号259が
印加されて、それぞれのディストーションの最小値D
fi1m ,Dfi2m ,Dfrm が、それぞれの出力端子Yから
信号288,289および287として得られる。各最
小値検出回路261,262,263が、それぞれ最小
値を検出したときに、それらの端子MINにタイミング
用の信号284,285および286を出力している。
3のクロック端子にはブロック・クロックBCKが、リ
セット端子Rには初期化のためにイニシャライズするリ
セット信号Rが印加されている。最小値検出回路261
および263の入力端子Xにそれぞれ印化されたフィー
ルド1のディストーションDfi1 を表わす信号248と
フィールド2のディストーションDfi2 を表わす信号2
49が印加され、最小値検出回路262の入力端子には
フレーム・ディストーションDfrを表わす信号259が
印加されて、それぞれのディストーションの最小値D
fi1m ,Dfi2m ,Dfrm が、それぞれの出力端子Yから
信号288,289および287として得られる。各最
小値検出回路261,262,263が、それぞれ最小
値を検出したときに、それらの端子MINにタイミング
用の信号284,285および286を出力している。
【0045】フィールド1および2のディストーション
の最小値Dfi1m およびDfi2m を表わす信号288と2
89は加算器300で加算され、Dfi1m +Dfi2m を表
わす信号309を出力している。この加算器300に適
当な閾値THを加えるならば信号309はDfi1m +D
fi2m +THを表わすことになる。
の最小値Dfi1m およびDfi2m を表わす信号288と2
89は加算器300で加算され、Dfi1m +Dfi2m を表
わす信号309を出力している。この加算器300に適
当な閾値THを加えるならば信号309はDfi1m +D
fi2m +THを表わすことになる。
【0046】フレーム・ディストーションの最小値D
frm を表わす信号287と、Dfi1m+Dfi2m +THを
表わす信号309を入力端子AおよびBに印加された比
較器310では比較して、 Dfrm≧Dfi1m+Dfi2m+TH であるか、 Dfrm<Dfi1m+Dfi2m+TH であるかを判定し、その比較結果をフィールド/フレー
ム適応予測用の信号319として出力する。
frm を表わす信号287と、Dfi1m+Dfi2m +THを
表わす信号309を入力端子AおよびBに印加された比
較器310では比較して、 Dfrm≧Dfi1m+Dfi2m+TH であるか、 Dfrm<Dfi1m+Dfi2m+TH であるかを判定し、その比較結果をフィールド/フレー
ム適応予測用の信号319として出力する。
【0047】動きベクトル算出器320では、フィール
ド1および2のフィールド・ディストーションの最小値
Dfi1mおよびDfi2mを検出した時点を表わすタイミング
用の信号284および286と、フレーム・ディストー
ションの最小値Dfrm を検出した時点を表わすタイミン
グ用の信号285とを入力端子A,BおよびCに印加さ
れ、クロック端子にはブロック・クロックBCKを、リ
セット端子Rには初期化のためのリセット信号Rを印加
されて、その出力端子X,YおよびZから、それぞれフ
ィールド1のフィールド・ベクトルFIV1を表わす信
号347,フィールド2のフィールド・ベクトルFIV
2を表わす信号348,フレーム・ベクトルFRVを表
わす信号349を出力している。
ド1および2のフィールド・ディストーションの最小値
Dfi1mおよびDfi2mを検出した時点を表わすタイミング
用の信号284および286と、フレーム・ディストー
ションの最小値Dfrm を検出した時点を表わすタイミン
グ用の信号285とを入力端子A,BおよびCに印加さ
れ、クロック端子にはブロック・クロックBCKを、リ
セット端子Rには初期化のためのリセット信号Rを印加
されて、その出力端子X,YおよびZから、それぞれフ
ィールド1のフィールド・ベクトルFIV1を表わす信
号347,フィールド2のフィールド・ベクトルFIV
2を表わす信号348,フレーム・ベクトルFRVを表
わす信号349を出力している。
【0048】図4にはディストーション算出回路221
のより具体的な回路構成が示されている。ディストーシ
ョン算出回路222の回路構成も同様である。この回路
は図31に示したものにほぼ同じであり、異なる点は、
加算部20に含まれたラッチ22のクロック端子に画素
クロックPCKを、クリア端子CRにブロック・クロッ
クBCKを印加している点であり、画素クロックPCK
ごとに差分絶対値|a−b|を加算し、ブロック・クロ
ックBCKが印加されるとクリアされる。ここで入力さ
れるデータa(i,j)として信号186が、入力され
るデータb(i+v,j+h)としては信号218が、
出力されるディストーションDとしては信号248がそ
れぞれ対応している。
のより具体的な回路構成が示されている。ディストーシ
ョン算出回路222の回路構成も同様である。この回路
は図31に示したものにほぼ同じであり、異なる点は、
加算部20に含まれたラッチ22のクロック端子に画素
クロックPCKを、クリア端子CRにブロック・クロッ
クBCKを印加している点であり、画素クロックPCK
ごとに差分絶対値|a−b|を加算し、ブロック・クロ
ックBCKが印加されるとクリアされる。ここで入力さ
れるデータa(i,j)として信号186が、入力され
るデータb(i+v,j+h)としては信号218が、
出力されるディストーションDとしては信号248がそ
れぞれ対応している。
【0049】図5には最小値検出回路261のより具体
的な回路構成が示されている。最小値検出回路262お
よび263の回路構成も同様である。同図において、フ
ィールド1のDfi1 を表わす信号248を入力端子Ai
に、前回までの最小値検出動作において得られたDfi1
の最小値を入力端子Biに受けた比較回路271では、
両入力端子の信号の値を比較して、Ai≧Biならば選
択信号S=1を、Ai<Biならば選択信号S=0を出
力し、この選択信号Sが“1”から“0”に変換するタ
イミングを通知するための信号MINを出力している。
フィールド1のディストーションDfi1 を表わす信号2
48を入力端子Aiに、前回まで最小値検出動作におい
て得られたディストーションDfi1 の最小値を入力端子
Biに受けたセレクタ272では、選択信号端子Sに受
けた選択信号Sが“1”ならば、Ai≧Biであるか
ら、入力端子Biに印加されている前回までの最小値を
出力端子Yiにそのまま出力する。選択信号Sが“0”
ならばAi<BiであるからAiを出力端子Yiに出力
する。この出力端子Yiの出力はラッチ273のデータ
端子Diに印加され、ブロック・クロックBCKが印加
されるごとにラッチされるから、その出力端子Qiから
は、フィールド1のディストーションの最小値Dfi1mを
表わす信号288をリセット信号Rがクリア端子に受け
るまで出力することができる。リセット信号Rが入力さ
れると、ラッチ273は表わされうる最大値にセッテイ
ングされる。
的な回路構成が示されている。最小値検出回路262お
よび263の回路構成も同様である。同図において、フ
ィールド1のDfi1 を表わす信号248を入力端子Ai
に、前回までの最小値検出動作において得られたDfi1
の最小値を入力端子Biに受けた比較回路271では、
両入力端子の信号の値を比較して、Ai≧Biならば選
択信号S=1を、Ai<Biならば選択信号S=0を出
力し、この選択信号Sが“1”から“0”に変換するタ
イミングを通知するための信号MINを出力している。
フィールド1のディストーションDfi1 を表わす信号2
48を入力端子Aiに、前回まで最小値検出動作におい
て得られたディストーションDfi1 の最小値を入力端子
Biに受けたセレクタ272では、選択信号端子Sに受
けた選択信号Sが“1”ならば、Ai≧Biであるか
ら、入力端子Biに印加されている前回までの最小値を
出力端子Yiにそのまま出力する。選択信号Sが“0”
ならばAi<BiであるからAiを出力端子Yiに出力
する。この出力端子Yiの出力はラッチ273のデータ
端子Diに印加され、ブロック・クロックBCKが印加
されるごとにラッチされるから、その出力端子Qiから
は、フィールド1のディストーションの最小値Dfi1mを
表わす信号288をリセット信号Rがクリア端子に受け
るまで出力することができる。リセット信号Rが入力さ
れると、ラッチ273は表わされうる最大値にセッテイ
ングされる。
【0050】図6には動きベクトル算出器320のより
具体的な回路構成が示されている。そこにはカウンタ3
31とラッチ332,333,334が含まれている。
カウンタ331はリセット端子Rに初期化時にイニシャ
ライズするリセット信号Rを受けてカウントしてそのカ
ウント出力を出力端子Qiに得て、それを各ラッチ33
2,333,334のデータ端子Diに印加している。
各ラッチ332,333,334のクロック端子にはフ
ィールド1のフィールド・ディストーションの最小値D
fi1mを検出した時点を表わす信号284と、フィールド
2のフィールド・ディストーションの最小値Dfi2mを検
出した時点を表わす信号286と、フレーム・ディスト
ーションの最小値Dfrm を検出した時点を表わす信号2
85を受けて、それぞれのディストーションの最小値を
示したアドレスを得て、フィールド1の動きベクトルで
あるフィールド・ベクトルFIV1を表わす信号34
7,フィールド2の動きベクトルであるフィールド・ベ
クトルFIV2を表わす信号348およびフレームの動
きベクトルであるFRVを表わす信号349を出力して
いる。リセット信号Rが入力されると、ラッチ273は
表わされ得る最大値にセッティングされる。
具体的な回路構成が示されている。そこにはカウンタ3
31とラッチ332,333,334が含まれている。
カウンタ331はリセット端子Rに初期化時にイニシャ
ライズするリセット信号Rを受けてカウントしてそのカ
ウント出力を出力端子Qiに得て、それを各ラッチ33
2,333,334のデータ端子Diに印加している。
各ラッチ332,333,334のクロック端子にはフ
ィールド1のフィールド・ディストーションの最小値D
fi1mを検出した時点を表わす信号284と、フィールド
2のフィールド・ディストーションの最小値Dfi2mを検
出した時点を表わす信号286と、フレーム・ディスト
ーションの最小値Dfrm を検出した時点を表わす信号2
85を受けて、それぞれのディストーションの最小値を
示したアドレスを得て、フィールド1の動きベクトルで
あるフィールド・ベクトルFIV1を表わす信号34
7,フィールド2の動きベクトルであるフィールド・ベ
クトルFIV2を表わす信号348およびフレームの動
きベクトルであるFRVを表わす信号349を出力して
いる。リセット信号Rが入力されると、ラッチ273は
表わされ得る最大値にセッティングされる。
【0051】図7には8×8画素の入力ブロックをフィ
ールド分割してサブサンプルする場合の画素の配列を示
している。第1行目にはフィールド1の画素があり、そ
のうちの白丸、すなわち、アドレスa(0,0),a
(2,0),a(4,0),a(6,0)がサンプルさ
れ、黒丸、すなわち、a(1,0),a(3,0),a
(5,0),a(7,0)はサンプルされないことを表
わしている。第2行目にはフィールド2の画素があり、
そのうちの丸に横棒の画素すなわち、a(1,1),a
(3,1),a(5,1),a(7,1)がサンプルさ
れる。以下の行においても同様である。サンプルされた
画素は5の目状に配列されている。8×8画素の入力ブ
ロックから、フィールド1とフィールド2とに分割する
のがフィールド分割部150であり、フィールド1の白
丸およびフィールド2の丸に横棒のように5の目状にと
びとびにサブサンプルするのがサブサンプル部170で
ある。
ールド分割してサブサンプルする場合の画素の配列を示
している。第1行目にはフィールド1の画素があり、そ
のうちの白丸、すなわち、アドレスa(0,0),a
(2,0),a(4,0),a(6,0)がサンプルさ
れ、黒丸、すなわち、a(1,0),a(3,0),a
(5,0),a(7,0)はサンプルされないことを表
わしている。第2行目にはフィールド2の画素があり、
そのうちの丸に横棒の画素すなわち、a(1,1),a
(3,1),a(5,1),a(7,1)がサンプルさ
れる。以下の行においても同様である。サンプルされた
画素は5の目状に配列されている。8×8画素の入力ブ
ロックから、フィールド1とフィールド2とに分割する
のがフィールド分割部150であり、フィールド1の白
丸およびフィールド2の丸に横棒のように5の目状にと
びとびにサブサンプルするのがサブサンプル部170で
ある。
【0052】図8には探索エリアであるサーチ・ウィン
ドウ61の一部の画素の配列が示されている。フィール
ド1および2の行が交互に並んでおり、第1行目のフィ
ールド1にはアドレスb(−4,4),b(−3,−
4),b(−2,−4),…,b(10,−4)があ
り、最下行の右下のb(10,10)まで各画素が示さ
れている。ここで、たとえば左上方の一点鎖線で囲んだ
8×8画素のブロックは候補ブロック62の一例を示し
ており、この候補ブロック62の位置は候補ブロック6
2の中の最左上の画素の位置(−4,−4)で表わす。
すると、同図中程の破線で囲った8×8画素のブロック
の位置はそのブロック内の最左上の画素の位置(0,
0)で表わされ、右下方の2点鎖線で囲んだ8×8画素
のブロックの位置はそのブロック内の最左上の画素の位
置(3,3)で表わされる。各ブロック内の画素は4つ
のフェーズa,b,c,dにおいて探索が行われるが、
各フェーズにおいて探索される画素は、フェーズaでは
白丸で、フェーズbでは丸に縦棒で、フェーズcでは丸
に横棒で、フェーズdでは黒丸で表わされている。
ドウ61の一部の画素の配列が示されている。フィール
ド1および2の行が交互に並んでおり、第1行目のフィ
ールド1にはアドレスb(−4,4),b(−3,−
4),b(−2,−4),…,b(10,−4)があ
り、最下行の右下のb(10,10)まで各画素が示さ
れている。ここで、たとえば左上方の一点鎖線で囲んだ
8×8画素のブロックは候補ブロック62の一例を示し
ており、この候補ブロック62の位置は候補ブロック6
2の中の最左上の画素の位置(−4,−4)で表わす。
すると、同図中程の破線で囲った8×8画素のブロック
の位置はそのブロック内の最左上の画素の位置(0,
0)で表わされ、右下方の2点鎖線で囲んだ8×8画素
のブロックの位置はそのブロック内の最左上の画素の位
置(3,3)で表わされる。各ブロック内の画素は4つ
のフェーズa,b,c,dにおいて探索が行われるが、
各フェーズにおいて探索される画素は、フェーズaでは
白丸で、フェーズbでは丸に縦棒で、フェーズcでは丸
に横棒で、フェーズdでは黒丸で表わされている。
【0053】図9,図10および図11には、画素クロ
ックPCKが(a)に、サブサンプルされたフィールド
1および2の画素のデータを表わす信号186および1
87をそれぞれ(b)および(c)に、候補ブロック6
2のフィールド1または2のうちのいずれか一方および
他方の画素データを表わす信号218および219をそ
れぞれ(d)および(e)に、8×8画素から構成され
る候補ブロック62毎に印加されるブロック・クロック
BCKを(f)に示している。理解を容易にするために
図10は図9の最後の画素クロックPCKの期間をオー
バラップして表わし、図11は図10の最後の画素クロ
ックPCKの期間をオーバラップして表わしている。
ックPCKが(a)に、サブサンプルされたフィールド
1および2の画素のデータを表わす信号186および1
87をそれぞれ(b)および(c)に、候補ブロック6
2のフィールド1または2のうちのいずれか一方および
他方の画素データを表わす信号218および219をそ
れぞれ(d)および(e)に、8×8画素から構成され
る候補ブロック62毎に印加されるブロック・クロック
BCKを(f)に示している。理解を容易にするために
図10は図9の最後の画素クロックPCKの期間をオー
バラップして表わし、図11は図10の最後の画素クロ
ックPCKの期間をオーバラップして表わしている。
【0054】図9,図10および図11(b)の参照ブ
ロック63のフィールド1の画素をサブサンプルしたデ
ータを表わす信号186には、図7の白丸のサンプルさ
れたフィールド1の画素であるa(0,0),a(2,
0),a(4,0),a(6,0),…,a(2,
6),a(4,6),a(6,6)まで(a)の画素ク
ロックPCKの印加とともに(f)のブロック・クロッ
クBCKの印加により出力が開始され、図10(f)の
ブロック・クロックBCKの印加で、再び図7の白丸の
サンプルされたフィールド1の画素であるa(0,
0),a(2,0),a(4,0),a(6,0),
…,a(2,6),a(4,6),a(6,6)を出力
することをくり返す。このくり返しにより、位置をずら
した候補ブロック62との間でのディストーションの最
小値の検出が可能となる。
ロック63のフィールド1の画素をサブサンプルしたデ
ータを表わす信号186には、図7の白丸のサンプルさ
れたフィールド1の画素であるa(0,0),a(2,
0),a(4,0),a(6,0),…,a(2,
6),a(4,6),a(6,6)まで(a)の画素ク
ロックPCKの印加とともに(f)のブロック・クロッ
クBCKの印加により出力が開始され、図10(f)の
ブロック・クロックBCKの印加で、再び図7の白丸の
サンプルされたフィールド1の画素であるa(0,
0),a(2,0),a(4,0),a(6,0),
…,a(2,6),a(4,6),a(6,6)を出力
することをくり返す。このくり返しにより、位置をずら
した候補ブロック62との間でのディストーションの最
小値の検出が可能となる。
【0055】図9,図10および図11(c)の参照ブ
ロック63のフィールド2の画素をサブサンプルしたデ
ータを表わす信号187も同様に、図7の丸に横棒のサ
ンプルされたフィールド2の画素であるa(1,1),
a(3,1),a(5,1),a(7,1),…,a
(3,7),a(5,7),a(7,7)を(f)のブ
ロック・クロックBCK毎にくり返している。
ロック63のフィールド2の画素をサブサンプルしたデ
ータを表わす信号187も同様に、図7の丸に横棒のサ
ンプルされたフィールド2の画素であるa(1,1),
a(3,1),a(5,1),a(7,1),…,a
(3,7),a(5,7),a(7,7)を(f)のブ
ロック・クロックBCK毎にくり返している。
【0056】図9,図10および図11(d)および
(e)のデータを表わす信号218および219は、図
8のサーチ・ウィンドウ61に含まれた候補ブロック6
2の1つである、たとえば、1点鎖線で表わすブロック
のアドレスを示している。すなわち、(d)の信号21
8は、そのブロックの白丸のアドレスb(−4,−
4),b(−2,−4),b(0,−4),b(2,−
4),…,b(−2,2),b(0,2),b(2,
2)まで進むと、図10(f)のブロック・クロックB
CKの印加により、図8の候補ブロック62の1つであ
る1点鎖線の枠が右方へ2画素分移動し、そのアドレス
b(−2,−4),b(0,−4),b(2,−4),
b(4,−4),…,b(0,2),b(2,2),b
(4,2)と進み図11(f)のブロック・クロックB
CKの印加で図8の1点鎖線の候補ブロック62の枠が
さらに2画素分右へ移動し、アドレスb(0,−4)か
ら出力を始める。図9,図10および図11(e)のデ
ータを表わす信号219の場合も同様であり、図8の1
点鎖線の枠内のフィールド2の黒丸で表わした最左上の
画素のアドレスb(−3,3)のデータから出力が始ま
り、以下同様に進行する。
(e)のデータを表わす信号218および219は、図
8のサーチ・ウィンドウ61に含まれた候補ブロック6
2の1つである、たとえば、1点鎖線で表わすブロック
のアドレスを示している。すなわち、(d)の信号21
8は、そのブロックの白丸のアドレスb(−4,−
4),b(−2,−4),b(0,−4),b(2,−
4),…,b(−2,2),b(0,2),b(2,
2)まで進むと、図10(f)のブロック・クロックB
CKの印加により、図8の候補ブロック62の1つであ
る1点鎖線の枠が右方へ2画素分移動し、そのアドレス
b(−2,−4),b(0,−4),b(2,−4),
b(4,−4),…,b(0,2),b(2,2),b
(4,2)と進み図11(f)のブロック・クロックB
CKの印加で図8の1点鎖線の候補ブロック62の枠が
さらに2画素分右へ移動し、アドレスb(0,−4)か
ら出力を始める。図9,図10および図11(e)のデ
ータを表わす信号219の場合も同様であり、図8の1
点鎖線の枠内のフィールド2の黒丸で表わした最左上の
画素のアドレスb(−3,3)のデータから出力が始ま
り、以下同様に進行する。
【0057】図12,図13,図14および図15に
は、その(a)にブロック・クロックBCKが、(b)
には動作を開始するためのリセット信号Rが、(c)に
はサンプル位相切替信号PHSが、(d)にはフィール
ド切替信号FISが、(e)には候補ブロック62にお
けるフィールド1の探索フェーズPH1a,b,c,d
が、(f)には信号218が、(g)には信号288
が、(h)には候補ブロック62におけるフィールド2
の探索フェーズPH2d,c,b,aが、(i)には信
号219が、(j)には信号289が示されている。理
解を容易にするために図13は図12の最後の2つのブ
ロック・クロックBCKの期間をオーバラップして表わ
し、図14は図13の最後の2つのブロック・クロック
BCKの期間をオーバラップして表わし、図15は図1
4の最後の2つのブロック・クロックBCKの期間をオ
ーバラップして表わしている。ここで図12ないし図1
5(f)の信号218として表わしているのは、図8に
たとえば1点鎖線で示した候補ブロック62の左肩の画
素のアドレスにより、その候補ブロック62の位置を表
わしている。すなわち、図8の1点鎖線の候補ブロック
の位置は(−4,−4)で表わし、破線の枠で示した候
補ブロックの位置はその枠内の左肩の画素のアドレス
(0,0)で表わし、2点鎖線の枠で示した候補ブロッ
クの位置はその枠内の左肩の画素のアドレス(3,3)
で表わしている。
は、その(a)にブロック・クロックBCKが、(b)
には動作を開始するためのリセット信号Rが、(c)に
はサンプル位相切替信号PHSが、(d)にはフィール
ド切替信号FISが、(e)には候補ブロック62にお
けるフィールド1の探索フェーズPH1a,b,c,d
が、(f)には信号218が、(g)には信号288
が、(h)には候補ブロック62におけるフィールド2
の探索フェーズPH2d,c,b,aが、(i)には信
号219が、(j)には信号289が示されている。理
解を容易にするために図13は図12の最後の2つのブ
ロック・クロックBCKの期間をオーバラップして表わ
し、図14は図13の最後の2つのブロック・クロック
BCKの期間をオーバラップして表わし、図15は図1
4の最後の2つのブロック・クロックBCKの期間をオ
ーバラップして表わしている。ここで図12ないし図1
5(f)の信号218として表わしているのは、図8に
たとえば1点鎖線で示した候補ブロック62の左肩の画
素のアドレスにより、その候補ブロック62の位置を表
わしている。すなわち、図8の1点鎖線の候補ブロック
の位置は(−4,−4)で表わし、破線の枠で示した候
補ブロックの位置はその枠内の左肩の画素のアドレス
(0,0)で表わし、2点鎖線の枠で示した候補ブロッ
クの位置はその枠内の左肩の画素のアドレス(3,3)
で表わしている。
【0058】図12ないし図15において、(b)のリ
セット信号Rにより動作がスタートし、それと同時に
(c)のサンプル位相切替信号PHSが“1”から
“0”になり、(d)のフィールド切替信号FISも
“1”から“0”なって、(e)のフィールド1の探索
フェーズPH1aが、(h)のフィールド2の探索フェ
ーズ2の探索フェーズPH2dがともに開始して、
(a)のブロック・クロックBCKの印加毎に位置(−
4,−4),(−2,−4),(0,−4),…の候補
ブロック62のデータを位置をずらして(f)および
(i)の信号218および219として出力している。
フィールド1および2の探索フェーズPH1aおよびP
H2dにおいては図8の白丸の位置(−4,−4)の画
素を左肩にもつ候補ブロック62の枠内の白丸と黒丸の
画素を用いて参照ブロック63とのディストーションが
求められ、次に(−2,−4)の白丸の画素を左肩にも
つ候補ブロック62の枠内の白丸と黒丸の画素を用いて
参照ブロック63とのディストーションが求められ、同
様にして、白丸を左肩に有する枠を候補ブロック62と
して1点鎖線内の(2,2)の白丸を左肩に有する枠ま
でディストーションが求める作業が終わると、(c)の
サンプル位相切替信号PHSが“0”から“1”に切替
わってフェーズPH1b,PH2cに入る。そこで丸に
縦棒で示す画素の位置(−3,−4)を左肩の画素とし
た新たな候補ブロック62が設定されて丸に縦棒および
横棒のフェーズb,cのディストーションが求められ、
次の位置(−1,−4)の丸に縦棒の画素をもつ候補ブ
ロック62が設定されて、フェーズPH1b,PH2c
のディストーションが求められる。この動作をくり返し
て位置(2,2)までの作業を終わるとフェーズPH1
b,PH2cが終了する。
セット信号Rにより動作がスタートし、それと同時に
(c)のサンプル位相切替信号PHSが“1”から
“0”になり、(d)のフィールド切替信号FISも
“1”から“0”なって、(e)のフィールド1の探索
フェーズPH1aが、(h)のフィールド2の探索フェ
ーズ2の探索フェーズPH2dがともに開始して、
(a)のブロック・クロックBCKの印加毎に位置(−
4,−4),(−2,−4),(0,−4),…の候補
ブロック62のデータを位置をずらして(f)および
(i)の信号218および219として出力している。
フィールド1および2の探索フェーズPH1aおよびP
H2dにおいては図8の白丸の位置(−4,−4)の画
素を左肩にもつ候補ブロック62の枠内の白丸と黒丸の
画素を用いて参照ブロック63とのディストーションが
求められ、次に(−2,−4)の白丸の画素を左肩にも
つ候補ブロック62の枠内の白丸と黒丸の画素を用いて
参照ブロック63とのディストーションが求められ、同
様にして、白丸を左肩に有する枠を候補ブロック62と
して1点鎖線内の(2,2)の白丸を左肩に有する枠ま
でディストーションが求める作業が終わると、(c)の
サンプル位相切替信号PHSが“0”から“1”に切替
わってフェーズPH1b,PH2cに入る。そこで丸に
縦棒で示す画素の位置(−3,−4)を左肩の画素とし
た新たな候補ブロック62が設定されて丸に縦棒および
横棒のフェーズb,cのディストーションが求められ、
次の位置(−1,−4)の丸に縦棒の画素をもつ候補ブ
ロック62が設定されて、フェーズPH1b,PH2c
のディストーションが求められる。この動作をくり返し
て位置(2,2)までの作業を終わるとフェーズPH1
b,PH2cが終了する。
【0059】そこで(d)のフィールド切替信号FIS
が“0”から“1”に、(c)のサンプル切替信号PH
Sが“1”から“0”に切替わって、フェーズPH1
c,PH2bの動作がなされ、次に(c)のサンプル位
相切替信号PHSが“0”から“1”に切替わってフェ
ーズPH1d,PH2aのディストーションを求める動
作を終了し、(c)のサンプル切替信号PHSおよび
(d)のフィールド切替信号FISがともに“1”から
“0”になると、それまでデータの出力が無かった
(g),(j)の信号288および289に、フレーム
1および2のフィールド・ディストーションの最小値D
fi1mおよびしDfi2mが出力される。
が“0”から“1”に、(c)のサンプル切替信号PH
Sが“1”から“0”に切替わって、フェーズPH1
c,PH2bの動作がなされ、次に(c)のサンプル位
相切替信号PHSが“0”から“1”に切替わってフェ
ーズPH1d,PH2aのディストーションを求める動
作を終了し、(c)のサンプル切替信号PHSおよび
(d)のフィールド切替信号FISがともに“1”から
“0”になると、それまでデータの出力が無かった
(g),(j)の信号288および289に、フレーム
1および2のフィールド・ディストーションの最小値D
fi1mおよびしDfi2mが出力される。
【0060】図16には8×8画素の入力ブロックを図
7に示したものとは異なる方法でフィールド分割してサ
ブサンプルする場合の画素の配列が示され、図7の場合
には画素数の1/2を5の目状にサブサンプルした場合
を示したが、図16においては1/3の画素をサブサン
プルしている。この場合には、図8の1点鎖線などで示
した枠の候補ブロック62におけるサンプルも、図16
と同様のサンプル位置にする。
7に示したものとは異なる方法でフィールド分割してサ
ブサンプルする場合の画素の配列が示され、図7の場合
には画素数の1/2を5の目状にサブサンプルした場合
を示したが、図16においては1/3の画素をサブサン
プルしている。この場合には、図8の1点鎖線などで示
した枠の候補ブロック62におけるサンプルも、図16
と同様のサンプル位置にする。
【0061】図17には8×8画素の入力ブロックを図
7および図16に示したものとは異なる方法でフィール
ド分割してサブサンプルする場合の画素の配列が示さ
れ、図17においては1/4の画素をサブサンプルして
いる。この場合には、図8の1点鎖線などで示した枠の
候補ブロック62におけるサンプルも、図17と同様の
サンプル位置にする。
7および図16に示したものとは異なる方法でフィール
ド分割してサブサンプルする場合の画素の配列が示さ
れ、図17においては1/4の画素をサブサンプルして
いる。この場合には、図8の1点鎖線などで示した枠の
候補ブロック62におけるサンプルも、図17と同様の
サンプル位置にする。
【0062】図18には8×8画素の入力ブロックを図
7および図16および図17に示したものとは異なる方
法でフィールド分割時にライン方向にサブサンプルする
場合の画素の配列が示され、1/2のラインの画素をサ
ンプルしている。この場合には、図8の1点鎖線などで
示した枠の候補ブロック62におけるサンプルも、図1
8と同様のサンプル位置にする。
7および図16および図17に示したものとは異なる方
法でフィールド分割時にライン方向にサブサンプルする
場合の画素の配列が示され、1/2のラインの画素をサ
ンプルしている。この場合には、図8の1点鎖線などで
示した枠の候補ブロック62におけるサンプルも、図1
8と同様のサンプル位置にする。
【0063】図19には図18とは異なる方法でフィー
ルド分割時にライン方向にサブサンプルする場合の画素
の配列が示され、3/4のラインの画素をサンプルして
いる。この場合には、図8の1点鎖線などで示した枠の
候補ブロック62におけるサンプルも、図19と同様の
サンプル位置にする。
ルド分割時にライン方向にサブサンプルする場合の画素
の配列が示され、3/4のラインの画素をサンプルして
いる。この場合には、図8の1点鎖線などで示した枠の
候補ブロック62におけるサンプルも、図19と同様の
サンプル位置にする。
【0064】図20には図18および図19とは異なる
方法でフィールド分割時にライン方向にサブサンプルす
る場合の画素の配列が示され、1/2のラインの画素を
サンプルしている。2対1インタレースに適用すると効
果的である。この場合には、図8の1点鎖線などで示し
た枠の候補ブロック62におけるサンプルも、図20と
同様のサンプル位置にする。
方法でフィールド分割時にライン方向にサブサンプルす
る場合の画素の配列が示され、1/2のラインの画素を
サンプルしている。2対1インタレースに適用すると効
果的である。この場合には、図8の1点鎖線などで示し
た枠の候補ブロック62におけるサンプルも、図20と
同様のサンプル位置にする。
【0065】以上の説明においてはブロック・マッチン
グ処理におけるディストーション算出回路として図4の
構成および動作をする差分絶対値和を用いる場合であ
り、出力されるディストーションD(=Dij)は、 Dij=ΣΣ|a(i,j)−b(i+v,j+h)| の演算をしていた。
グ処理におけるディストーション算出回路として図4の
構成および動作をする差分絶対値和を用いる場合であ
り、出力されるディストーションD(=Dij)は、 Dij=ΣΣ|a(i,j)−b(i+v,j+h)| の演算をしていた。
【0066】これに対して差分2乗和の場合のディスト
ーションDijは次式のように表わされ、 Dij=ΣΣ(a(i,j)−b(i+v,j+h))2 これを用いると、動きベクトルMVを検出するための動
き予測の精度は差分絶対値和を用いる場合よりも高い
が、そのために図4の(a−b)を求める差分絶対値算
出部10とΣΣを求める加算部20との間に(a−b)
2 を求める乗算部を必要とし、回路構成が複雑で大規模
になる。そこで乗算部を設けたのと同様の効果を簡単な
回路構成で得ることのできる重み付け処理部を差分絶対
値算出部10と加算部20との間に設けることができ
る。
ーションDijは次式のように表わされ、 Dij=ΣΣ(a(i,j)−b(i+v,j+h))2 これを用いると、動きベクトルMVを検出するための動
き予測の精度は差分絶対値和を用いる場合よりも高い
が、そのために図4の(a−b)を求める差分絶対値算
出部10とΣΣを求める加算部20との間に(a−b)
2 を求める乗算部を必要とし、回路構成が複雑で大規模
になる。そこで乗算部を設けたのと同様の効果を簡単な
回路構成で得ることのできる重み付け処理部を差分絶対
値算出部10と加算部20との間に設けることができ
る。
【0067】図21はその一実施例の回路構成を示して
いる。図4に示したものとの相異は、差分絶対値算出部
10と加算部20との間に入力端子Diと出力端子Yi
を有する重み付け処理部30を設けた点にあり、入力端
子Diに印加されたデータ値に応じた係数kn を乗じた
ディストーションDとして Dij=ΣΣ(kn ×|a(i,j)−b(i+v,j+h)|) を得るようにしているから、この相異点について説明す
る。その他は図4において説明したものに同じである。
いる。図4に示したものとの相異は、差分絶対値算出部
10と加算部20との間に入力端子Diと出力端子Yi
を有する重み付け処理部30を設けた点にあり、入力端
子Diに印加されたデータ値に応じた係数kn を乗じた
ディストーションDとして Dij=ΣΣ(kn ×|a(i,j)−b(i+v,j+h)|) を得るようにしているから、この相異点について説明す
る。その他は図4において説明したものに同じである。
【0068】図22には重み付け処理部30の一実施例
の回路構成が示されている。セレクタ31と比較器32
を含み、差分絶対値算出部10に含まれたセレクタ12
の出力端子Yiからの差分絶対値を示すデータD0〜D
3がセレクタ31および比較器32に印加されている。
の回路構成が示されている。セレクタ31と比較器32
を含み、差分絶対値算出部10に含まれたセレクタ12
の出力端子Yiからの差分絶対値を示すデータD0〜D
3がセレクタ31および比較器32に印加されている。
【0069】図23(a)には、データD0〜D3が比
較器32の入力端子a0〜a3にそれぞれ印加されたと
きの出力端子y0,y1の値を例示している。×印はド
ント・ケアを表わす。データD3,D2,D1が“00
0”であるときはD0の値に関係なく出力端子y1,y
0は“00”、データD3,D2,D1が“001”で
あるときはD0の値に関係なく出力端子y1,y0は
“01”、データD3,D2が“01”であるときはD
1,D0の値に関係なく出力端子y1,y0は“10”
データD3が“1”のときはD2,D1,D0の値に関
係なくy1,y0は“11”を示す。ここにおける比較
器32はデータD3〜D0で示された差分絶対値の値の
範囲を判別して判別信号となるy1,y0を出力する判
別器の機能を果している。
較器32の入力端子a0〜a3にそれぞれ印加されたと
きの出力端子y0,y1の値を例示している。×印はド
ント・ケアを表わす。データD3,D2,D1が“00
0”であるときはD0の値に関係なく出力端子y1,y
0は“00”、データD3,D2,D1が“001”で
あるときはD0の値に関係なく出力端子y1,y0は
“01”、データD3,D2が“01”であるときはD
1,D0の値に関係なく出力端子y1,y0は“10”
データD3が“1”のときはD2,D1,D0の値に関
係なくy1,y0は“11”を示す。ここにおける比較
器32はデータD3〜D0で示された差分絶対値の値の
範囲を判別して判別信号となるy1,y0を出力する判
別器の機能を果している。
【0070】図23(b)には比較器32の出力端子y
1,y0に接続されたセレクタ31のセレクト端子s
1,s0の値とセレクタ31の出力端子y6〜y0の値
を例示している。s1,s0が“00”のときy6〜y
0(yi)はa6〜a0(ai)の値を、s1,s0が
“01”のときy6〜y0(yi)はb6〜b0(b
i)の値を、s1,s0が“10”のときy6〜y0
(yi)はc6〜c0(ci)の値を、s1,s0が
“11”のときy6〜y0(yi)はd6〜d0(d
i)の値を出力する。
1,y0に接続されたセレクタ31のセレクト端子s
1,s0の値とセレクタ31の出力端子y6〜y0の値
を例示している。s1,s0が“00”のときy6〜y
0(yi)はa6〜a0(ai)の値を、s1,s0が
“01”のときy6〜y0(yi)はb6〜b0(b
i)の値を、s1,s0が“10”のときy6〜y0
(yi)はc6〜c0(ci)の値を、s1,s0が
“11”のときy6〜y0(yi)はd6〜d0(d
i)の値を出力する。
【0071】図23(c)には入力データD3〜D0と
出力のデータY6〜Y0の関係を示している。D3,D
2,D1が“000”のときには、D0の値がY0とな
りY6〜Y1は“000000”となる。
出力のデータY6〜Y0の関係を示している。D3,D
2,D1が“000”のときには、D0の値がY0とな
りY6〜Y1は“000000”となる。
【0072】D3,D2,D1が“001”のときはY
6〜Y2は“00001”となり、Y1はD0の値にな
り、Y0は“0”となり、入力のデータD3〜D0に対
して出力のデータY6〜Y0は1ビット分の重み付けが
なされている。D3,D2が“01”のときはY6〜Y
4は“001”となりY3,Y2はそれぞれD1,D0
の値を示し、Y1,Y0は“00”となり、入力のデー
タD3〜D0に対して出力のデータY6〜Y0は2ビッ
ト分の重み付けがなされている。D3が“1”のときは
Y6は“1”となりY5〜Y3はそれぞれD2,D1,
D0の値になりY2〜Y0は“000”となって、入力
のデータD3〜D0に対して出力のデータY6〜Y0は
3ビット分の重み付けがなされている。
6〜Y2は“00001”となり、Y1はD0の値にな
り、Y0は“0”となり、入力のデータD3〜D0に対
して出力のデータY6〜Y0は1ビット分の重み付けが
なされている。D3,D2が“01”のときはY6〜Y
4は“001”となりY3,Y2はそれぞれD1,D0
の値を示し、Y1,Y0は“00”となり、入力のデー
タD3〜D0に対して出力のデータY6〜Y0は2ビッ
ト分の重み付けがなされている。D3が“1”のときは
Y6は“1”となりY5〜Y3はそれぞれD2,D1,
D0の値になりY2〜Y0は“000”となって、入力
のデータD3〜D0に対して出力のデータY6〜Y0は
3ビット分の重み付けがなされている。
【0073】図24には、重み付け処理部30の他の実
施例の回路構成が示されている。差分絶対値算出部10
に含まれたセレクタ12の出力端子Yiからの差分絶対
値を示すデータD0〜D3がROM(リード・オンリ・
メモリ)の入力端子a0〜a3に印加されると、出力端
子y0〜y6から出力のデータY0〜Y6が得られ、こ
れが加算部20に含まれた加算器21の入力端子Aiに
印加される。ここで、入力のデータD3〜D0と出力の
データY6〜Y0の関係は、たとえば、図23(c)に
示したようになっており、図24のROM33は図22
の構成と同じ機能を有する。
施例の回路構成が示されている。差分絶対値算出部10
に含まれたセレクタ12の出力端子Yiからの差分絶対
値を示すデータD0〜D3がROM(リード・オンリ・
メモリ)の入力端子a0〜a3に印加されると、出力端
子y0〜y6から出力のデータY0〜Y6が得られ、こ
れが加算部20に含まれた加算器21の入力端子Aiに
印加される。ここで、入力のデータD3〜D0と出力の
データY6〜Y0の関係は、たとえば、図23(c)に
示したようになっており、図24のROM33は図22
の構成と同じ機能を有する。
【0074】図25には重み付け処理部30のさらに他
の実施例の回路構成が示されている。差分絶対値算出部
10に含まれたセレクタ12の出力端子Yiからの差分
絶対値を示すデータD0〜D3が、3個のシフタ34−
1〜34−3の入力端子Aと、比較器36の入力端子A
と、セレクタ37の入力端子Dにそれぞれ印加される。
の実施例の回路構成が示されている。差分絶対値算出部
10に含まれたセレクタ12の出力端子Yiからの差分
絶対値を示すデータD0〜D3が、3個のシフタ34−
1〜34−3の入力端子Aと、比較器36の入力端子A
と、セレクタ37の入力端子Dにそれぞれ印加される。
【0075】シフタ34−1では差分絶対値を示すデー
タD0〜D3をb0 (たとえば、1)ビット分シフトア
ップしたデータS0 をその出力端子Yに得て、これをセ
レクタ37の入力端子Cと加算器35−1の入力端子B
に印加している。シフタ34−2では差分絶対値を示す
データD0〜D3をb1 (>b0 )(たとえば、2)ビ
ット分シフトアップしたデータS1 をその出力端子Yに
得て、これを加算器35−1の入力端子Aと加算器35
−2の入力端子Bに印加している。シフタ34−3では
差分絶対値を示すデータD0〜D3をb2 (>b1 )
(たとえば、3)ビット分シフトアップしたデータS2
をその出力端子Yに得て、これを加算器35−2の入力
端子Aに印加している。
タD0〜D3をb0 (たとえば、1)ビット分シフトア
ップしたデータS0 をその出力端子Yに得て、これをセ
レクタ37の入力端子Cと加算器35−1の入力端子B
に印加している。シフタ34−2では差分絶対値を示す
データD0〜D3をb1 (>b0 )(たとえば、2)ビ
ット分シフトアップしたデータS1 をその出力端子Yに
得て、これを加算器35−1の入力端子Aと加算器35
−2の入力端子Bに印加している。シフタ34−3では
差分絶対値を示すデータD0〜D3をb2 (>b1 )
(たとえば、3)ビット分シフトアップしたデータS2
をその出力端子Yに得て、これを加算器35−2の入力
端子Aに印加している。
【0076】加算器35−1,35−2では、それぞれ
の入力端子AおよびBに印加されたデータを加算してそ
れぞれの出力端子A+Bからデータを得て、それぞれセ
レクタ37の入力端子BおよびAへ印加している。そこ
でセレクタ37の入力端子Dには差分絶対値を示すデー
タD0〜D3がそのまま、セレクタ37の入力端子Cに
は差分絶対値を示すデータD0〜D3をb0 (たとえ
ば、1)ビット分シフトアップしたデータS0 が、セレ
クタ37の入力端子Bには差分絶対値を示すデータD0
〜D3をb0 (たとえば、1)ビット分シフトアップし
たデータS0 とb1 (たとえば、2)ビット分シフトア
ップしたデータS1 を加算したデータP1=S1 +S0
が、セレクタ37の入力端子Aには差分絶対値を示すデ
ータD0〜D3をb1 (例えば、2)ビット分シフトア
ップしたデータS1 とb2 (たとえば、3)ビット分シ
フトアップしたデータS2 を加算したデータP2 =S2
+S1 が印加される。
の入力端子AおよびBに印加されたデータを加算してそ
れぞれの出力端子A+Bからデータを得て、それぞれセ
レクタ37の入力端子BおよびAへ印加している。そこ
でセレクタ37の入力端子Dには差分絶対値を示すデー
タD0〜D3がそのまま、セレクタ37の入力端子Cに
は差分絶対値を示すデータD0〜D3をb0 (たとえ
ば、1)ビット分シフトアップしたデータS0 が、セレ
クタ37の入力端子Bには差分絶対値を示すデータD0
〜D3をb0 (たとえば、1)ビット分シフトアップし
たデータS0 とb1 (たとえば、2)ビット分シフトア
ップしたデータS1 を加算したデータP1=S1 +S0
が、セレクタ37の入力端子Aには差分絶対値を示すデ
ータD0〜D3をb1 (例えば、2)ビット分シフトア
ップしたデータS1 とb2 (たとえば、3)ビット分シ
フトアップしたデータS2 を加算したデータP2 =S2
+S1 が印加される。
【0077】差分絶対値を示すデータD0〜D3をを印
加された比較器36は、差分絶対値を示すデータD0〜
D3をその入力端子Aに入力されたとき、その入力され
たデータの値の範囲を判別して出力端子Dに判別信号を
出力する。この差分絶対値を示すデータD0〜D3の値
と、出力端子Dに得られる判別信号の一例は図23
(a)に示すようになっており、図23(a)中のy
1,y0が判別信号に対応している。この比較器36の
動作は、たとえば図23(a)に示すような動作をすれ
ばよいから、ROMであってもよい。
加された比較器36は、差分絶対値を示すデータD0〜
D3をその入力端子Aに入力されたとき、その入力され
たデータの値の範囲を判別して出力端子Dに判別信号を
出力する。この差分絶対値を示すデータD0〜D3の値
と、出力端子Dに得られる判別信号の一例は図23
(a)に示すようになっており、図23(a)中のy
1,y0が判別信号に対応している。この比較器36の
動作は、たとえば図23(a)に示すような動作をすれ
ばよいから、ROMであってもよい。
【0078】比較器36の出力端子Dに得られた選択信
号を印加されたセレクタ37は、たとえば、データD
3,D2,D1が“000”であるときにはD0の値に
関係なくセレクタ37の入力端子Dのデータがその出力
端子Yから出力データY0〜Y6として出力され、デー
タD3,D2,D1が“001”であるときはD0の値
に関係なくセレクタ37の入力端子Cのデータがその出
力端子Yから出力データY0〜Y6として出力され、デ
ータD3,D2が“01”であるときはD1,D0の値
に関係なくセレクタ37の入力端子Bのデータがその出
力端子Yから出力データY0〜Y6として出力され、デ
ータD3が“1”のときにはD2,D1,D0の値に関
係なくセレクタ37の入力端子Aのデータがその出力端
子Yから出力データY0〜Y6として出力される。
号を印加されたセレクタ37は、たとえば、データD
3,D2,D1が“000”であるときにはD0の値に
関係なくセレクタ37の入力端子Dのデータがその出力
端子Yから出力データY0〜Y6として出力され、デー
タD3,D2,D1が“001”であるときはD0の値
に関係なくセレクタ37の入力端子Cのデータがその出
力端子Yから出力データY0〜Y6として出力され、デ
ータD3,D2が“01”であるときはD1,D0の値
に関係なくセレクタ37の入力端子Bのデータがその出
力端子Yから出力データY0〜Y6として出力され、デ
ータD3が“1”のときにはD2,D1,D0の値に関
係なくセレクタ37の入力端子Aのデータがその出力端
子Yから出力データY0〜Y6として出力される。
【0079】差分絶対値を示すデータD0〜D3のビッ
ト数がさらに大きくなったときには、シフタ34の段数
および加算器35の段数を大きくすればよい。すなわ
ち、シフタ34の段数をn+1,加算器35の段数をn
とし、n+1個のシフタ34からは順次に大きいビット
数b0 ,b1 ,…,bn 分シフトアップしてn+1個の
シフトアップした値S0 ,S1 ,…,Sn を得て、n個
の加算器35のそれぞれでは、n+1個のシフトアップ
した値S0 ,S1,…,Sn からi段目(iは1からn
まで順次に変化する整数)の加算器35においてi段目
の加算値Pi =Si +Si-1 を得ることによりn個の加
算値P1 ,P2 ,…,Pn を得るように構成することが
できる。
ト数がさらに大きくなったときには、シフタ34の段数
および加算器35の段数を大きくすればよい。すなわ
ち、シフタ34の段数をn+1,加算器35の段数をn
とし、n+1個のシフタ34からは順次に大きいビット
数b0 ,b1 ,…,bn 分シフトアップしてn+1個の
シフトアップした値S0 ,S1 ,…,Sn を得て、n個
の加算器35のそれぞれでは、n+1個のシフトアップ
した値S0 ,S1,…,Sn からi段目(iは1からn
まで順次に変化する整数)の加算器35においてi段目
の加算値Pi =Si +Si-1 を得ることによりn個の加
算値P1 ,P2 ,…,Pn を得るように構成することが
できる。
【0080】本発明による動きベクトルの探索法と、全
画素を探索する従来の探索法を比較する。インタレース
画像で、動き予測はフレーム/フィールド適応予測とす
る。参照ブロックのサイズを16×16画素、サブサン
プリングされたフィールドのサイズ8×8画素の2フィ
ールド、サーチ・ウィンドウ61の範囲は水平方向およ
び垂直方向ともに−16〜+15の32箇所の範囲で、
ブロック・マッチング評価関数は図4にその一例を示し
た絶対値和を用いるものとする。
画素を探索する従来の探索法を比較する。インタレース
画像で、動き予測はフレーム/フィールド適応予測とす
る。参照ブロックのサイズを16×16画素、サブサン
プリングされたフィールドのサイズ8×8画素の2フィ
ールド、サーチ・ウィンドウ61の範囲は水平方向およ
び垂直方向ともに−16〜+15の32箇所の範囲で、
ブロック・マッチング評価関数は図4にその一例を示し
た絶対値和を用いるものとする。
【0081】まず従来例においては、1個の評価値|
(a−b)|を得るために16×16=256回の差分
絶対値計算が必要になる。さらに探索範囲が水平32箇
所,垂直32箇所であるから、2つのフィールド・ベク
トルFIV1およびFIV2を求めるために、 2×16×8×32×32=262144オペレーショ
ン フレーム・ベクトルFRVを求めるために、 16×16×32×32=262144オペレーション であり、2つのフィールド・ベクトルFIV1,FIV
2およびフレーム・ベクトルFRVを求めるためには合
計して総演算量は、 262144+262144=524288オペレーシ
ョン となる。
(a−b)|を得るために16×16=256回の差分
絶対値計算が必要になる。さらに探索範囲が水平32箇
所,垂直32箇所であるから、2つのフィールド・ベク
トルFIV1およびFIV2を求めるために、 2×16×8×32×32=262144オペレーショ
ン フレーム・ベクトルFRVを求めるために、 16×16×32×32=262144オペレーション であり、2つのフィールド・ベクトルFIV1,FIV
2およびフレーム・ベクトルFRVを求めるためには合
計して総演算量は、 262144+262144=524288オペレーシ
ョン となる。
【0082】これに対して、本発明では、図7に例示し
た5つ目状のサブサンプリングを用いたとすると、フェ
ーズPH1a,b,c,dとPH2d,c,b,aの2
×4のフェーズでそれぞれ8×8画素のブロックを水平
16箇所,垂直16箇所探索するから総演算量は、 2×4×8×8×16×16=131072オペレーシ
ョンとなり、従来例の1/4のオペレーションでよいこ
とになる。
た5つ目状のサブサンプリングを用いたとすると、フェ
ーズPH1a,b,c,dとPH2d,c,b,aの2
×4のフェーズでそれぞれ8×8画素のブロックを水平
16箇所,垂直16箇所探索するから総演算量は、 2×4×8×8×16×16=131072オペレーシ
ョンとなり、従来例の1/4のオペレーションでよいこ
とになる。
【0083】
【発明の効果】入力ブロックをサブサンプルし得られた
ブロックで動きベクトルを探索することにより演算量の
大幅な軽減が図れる。また、サブサンプル時に入力ブロ
ックをライン毎に位相を変えることにより、画素間の相
関が小さくなり、効果的な探索が可能となる。
ブロックで動きベクトルを探索することにより演算量の
大幅な軽減が図れる。また、サブサンプル時に入力ブロ
ックをライン毎に位相を変えることにより、画素間の相
関が小さくなり、効果的な探索が可能となる。
【0084】さらに、2フィールドに分割して探索を行
うことにより、各画素の水平方向および垂直方向が揃う
ためパイプライン処理およびシストリック・アレイ処理
が簡単に構成できるから高速化に適している。
うことにより、各画素の水平方向および垂直方向が揃う
ためパイプライン処理およびシストリック・アレイ処理
が簡単に構成できるから高速化に適している。
【0085】また、とくにインタレース画像において、
動きベクトルをフレーム/フィールド適応予測する場
合、入力ブロックを2つのフィールドに分割し各フィー
ルド毎に探索を行い、求められた各フィールドのディス
トーションを加算してフレーム・ディストーションを求
めることにより、あらためてフレーム・ディストーショ
ンの演算を行う必要もなく簡単に求めることが可能とな
る。また、上記処理においてフレーム・ディストーショ
ンを求めるときに、各フィールドのディストーションの
演算のフェーズを合せることにより、フィールド・ディ
ストーション演算中に、同時にフレーム・ディストーシ
ョンを求めることができるから、処理の軽減が図れる。
動きベクトルをフレーム/フィールド適応予測する場
合、入力ブロックを2つのフィールドに分割し各フィー
ルド毎に探索を行い、求められた各フィールドのディス
トーションを加算してフレーム・ディストーションを求
めることにより、あらためてフレーム・ディストーショ
ンの演算を行う必要もなく簡単に求めることが可能とな
る。また、上記処理においてフレーム・ディストーショ
ンを求めるときに、各フィールドのディストーションの
演算のフェーズを合せることにより、フィールド・ディ
ストーション演算中に、同時にフレーム・ディストーシ
ョンを求めることができるから、処理の軽減が図れる。
【0086】さらに、フィールド/フレーム適応予測を
行う動きベクトル符号化において、フィールド動きベク
トル探索とフレーム動きベクトル探索を同時に実行させ
ることにより処理スピードを上げることができる。した
がって、本発明の効果は極めて大きい。
行う動きベクトル符号化において、フィールド動きベク
トル探索とフレーム動きベクトル探索を同時に実行させ
ることにより処理スピードを上げることができる。した
がって、本発明の効果は極めて大きい。
【図1】本発明の一実施例を示す回路構成図である。
【図2】図1の構成要素であるフィールド分割部,サブ
サンプル部および選択部の詳細な回路構成図である。
サンプル部および選択部の詳細な回路構成図である。
【図3】図1の構成要素であるディストーション算出
部,最小値検出部,2つの加算器,比較器および動きベ
クトル算出器の詳細な回路構成図である。
部,最小値検出部,2つの加算器,比較器および動きベ
クトル算出器の詳細な回路構成図である。
【図4】図3のディストーション算出部に含まれるディ
ストーション算出回路の詳細な回路構成図である。
ストーション算出回路の詳細な回路構成図である。
【図5】図3の構成要素である最小値検出部を構成して
いる最小値検出回路の詳細な回路構成図である。
いる最小値検出回路の詳細な回路構成図である。
【図6】図3の構成要素である動きベクトル算出器の詳
細な回路構成図である。
細な回路構成図である。
【図7】フィールド分割後のサブサンプル方法を説明す
るための画素図である。
るための画素図である。
【図8】サーチ・ウィンドウにおける探索フェーズを示
す画素図である。
す画素図である。
【図9】図1の各部の動作を示すタイム・チャートであ
る。
る。
【図10】図9とともに図1の各部の動作を示すタイム
・チャートである。
・チャートである。
【図11】図9および図10とともに図1の各部の動作
を示すタイム・チャートである。
を示すタイム・チャートである。
【図12】図9ないし図11とともに図1の各部の動作
を示すタイム・チャートである。
を示すタイム・チャートである。
【図13】図9ないし図12とともに図1の各部の動作
を示すタイム・チャートである。
を示すタイム・チャートである。
【図14】図9ないし図13とともに図1の各部の動作
を示すタイム・チャートである。
を示すタイム・チャートである。
【図15】図9ないし図14とともに図1の各部の動作
を示すタイム・チャートである。
を示すタイム・チャートである。
【図16】サブサンプル部で入力ブロックを1/3にサ
ブサンプルした場合の画素図である。
ブサンプルした場合の画素図である。
【図17】サブサンプル部で入力ブロックを1/4にサ
ブサンプルした場合の画素図である。
ブサンプルした場合の画素図である。
【図18】フィールド分割時にライン方向で1/2にサ
ブサンプルした画素図である。
ブサンプルした画素図である。
【図19】フィールド分割時にライン方向で3/4にサ
ブサンプルした画素図である。
ブサンプルした画素図である。
【図20】2:1インタレースにおいてフィールド分割
時にライン方向で1/2にサブサンプルした画素図であ
る。
時にライン方向で1/2にサブサンプルした画素図であ
る。
【図21】図1の構成要素であるディストーション算出
部を構成しているディストーション算出回路の一実施例
を示す詳細な回路構成図である。
部を構成しているディストーション算出回路の一実施例
を示す詳細な回路構成図である。
【図22】図21の要部である重み付け処理部の一実施
例を示す回路構成図である。
例を示す回路構成図である。
【図23】図21の多くの端子のデータ値を示したデー
タ値図である。
タ値図である。
【図24】図21の要部である重み付け処理部の他の実
施例を示す回路構成図である。
施例を示す回路構成図である。
【図25】図21の要部である重み付け処理部のさらに
他の実施例を示す回路構成図である。
他の実施例を示す回路構成図である。
【図26】従来の動き補償フレーム間予測の概念を示す
概念図である。
概念図である。
【図27】従来の動き補償フレーム間予測のブロック・
マッチングによる動きベクトル探索法におけるサーチ・
ウィンドウの候補ブロックと参照ブロックの関係を示す
ブロック関係図である。
マッチングによる動きベクトル探索法におけるサーチ・
ウィンドウの候補ブロックと参照ブロックの関係を示す
ブロック関係図である。
【図28】図27の候補ブロックと参照ブロックからデ
ィストーションを計算する画素を示す画素図である。
ィストーションを計算する画素を示す画素図である。
【図29】従来の動きベクトルを探索するブロック・マ
ッチング処理部の回路構成図である。
ッチング処理部の回路構成図である。
【図30】図29の構成要素である演算エレメントの動
作の流れを示すフローチャートである。
作の流れを示すフローチャートである。
【図31】従来の演算エレメントの回路構成図である。
【図32】従来のブロック・マッチングにおける3段探
索法を説明する画素図である。
索法を説明する画素図である。
【図33】従来のインタレース走査画像を示す走査線図
である。
である。
【図34】従来のフィールド/フレーム適応予測を示す
画素図である。
画素図である。
10 差分絶対値算出部 11 加算器 12 セレクタ 15,16 インバータ 20 加算部 21 加算器 22 ラッチ 25 インバータ 30 重み付け処理部 31 セレクタ 32 比較器 33 ROM 34−1〜34−3 シフタ 35−1,35−2 加算器 36 比較器 37 セレクタ 51 入力選択回路 52 演算エレメント群 53 比較回路 54 タイミング信号発生回路 55 出力回路 61 サーチ・ウィンドウ 62 候補ブロック 63 参照ブロック 150 フィールド分割部 151,152 フィールド分割回路 166〜169 信号 171〜174 サブサンプル回路 175 インバータ 186〜189 信号 201,202 セレクタ 218,219 信号 220 ディストーション算出部 221,222 ディストーション算出回路 248,249 信号 250 加算器 259 信号 260 最小値検出部 261〜263 最小値検出回路 271 比較回路 272 セレクタ 273 ラッチ 284〜289 信号 300 加算器 309 信号 310 比較器 319 信号 320 動きベクトル算出器 331 カウンタ 332〜334 ラッチ 347〜349 信号 a,b データ BCK ブロック・クロック CK クロック D,Dij ディストーション FIS フィールド切替信号 FIV1 フィールド1のフィールド・ベクトル FIV2 フィールド2のフィールド・ベクトル FRV フレーム・ベクトル MV 動きベクトル PE,PE0〜PE15 演算エレメント PH1 フィールド1の探索フェーズ PH2 フィールド2の探索フェーズ PHS サンプル位相切替信号 R リセット信号 t 時間 v 垂直位置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−274083(JP,A) 特開 平2−295288(JP,A) 特開 平5−260460(JP,A) 特開 平5−336512(JP,A) 1991年テレビジョン学会年次大会、 1991年7月、p.313−314 (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H04N 7/24 - 7/68
Claims (15)
- 【請求項1】 現フレームの奇数ラインと偶数ラインの
2つのフィールドからなる参照ブロック(63)と、前
フレームのサーチ・ウィンドウ(61)に含まれた奇数
ラインと偶数ラインの2つのフィールドからなる候補ブ
ロック(62)とを、それぞれフィールドに分割して奇
数ラインのフィールドからなる第1フィールド参照ブロ
ック(166)と、偶数ラインのフィールドからなる第
2のフィールド参照ブロック(167)と、奇数ライン
のフィールドからなる第1フィールド候補ブロック(1
68)と、偶数ラインのフィールドからなる第2フィー
ルド候補ブロック(169)とに分割し(150)、 前記第1フィールド参照ブロック(166)と、前記第
2フィールド参照ブロック(167)と、前記第1フィ
ールド候補ブロック(168)と、前記第2フィールド
候補ブロック(169)とに含まれる画素をそれぞれ所
定の間隔でサンプルして、それぞれ第1サブサンプル参
照ブロック(186)と、第2サブサンプル参照ブロッ
ク(187)と、第1サブサンプル候補ブロック(18
8)と、第2サブサンプル候補ブロック(189)とを
得て(170)、 前記第1および第2サブサンプル参照ブロック(18
6,187)と、前記第1および第2サブサンプル候補
ブロック(188,189)とを用いて動きベクトルの
探索を行う(200,220,250,260,30
0,310,320)動画像圧縮におけるブロック・マ
ッチング方法において、 前記第1および第2サブサンプル参照ブロック(18
6,187)と前記第1および第2サブサンプル候補ブ
ロック(188,189)とを用いて動きベクトルの探
索を行う場合に、 前記第1サブサンプル参照ブロック(186)と前記第
1および第2サブサンプル候補ブロック(188,18
9)のうちの一方(218)との間のディストーション
を第1フィールド・ディストーション(248)とし、
前記第2サブサンプル参照ブロック(187)と前記第
1および第2サブサンプル候補ブロック(188,18
9)のうちの他方(219)との間のディストーション
を第2フィールド・ディストーション(249)として
算出し(200,220)、 前記第1および第2フィールド・ディストーション(2
48,249)を加算してフレーム・ディストーション
(259)を得る(250) 動画像圧縮におけるブロッ
ク・マッチング方法。 - 【請求項2】 現フレームの奇数ラインと偶数ラインの
2つのフィールドからなる参照ブロック(63)と、前
フレームのサーチ・ウィンドウ(61)に含まれた奇数
ラインと偶数ラインの2つのフィールドからなる候補ブ
ロック(62)とを、それぞれフィールドに分割して奇
数ラインのフィールドからなる第1フィールド参照ブロ
ック(166)と、偶数ラインのフィールドからなる第
2のフィールド参照ブロック(167)と、奇数ライン
のフィールドからなる第1フィールド候補ブロック(1
68)と、偶数ラインのフィールドからなる第2フィー
ルド候補ブロック(169)とに分割し(150)、 前記第1フィールド参照ブロック(166)と、前記第
2フィールド参照ブロック(167)と、前記第1フィ
ールド候補ブロック(168)と、前記第2フィールド
候補ブロック(169)とに含まれる画素をそれぞれ所
定の間隔でサンプルして、それぞれ第1サブサンプル参
照ブロック(186)と、第2サブサンプル参照ブロッ
ク(187)と、第1サブサンプル候補ブロック(18
8)と、第2サブサンプル候補ブロック(189)とを
得て(170)、 前記第1サブサンプル参照ブロック(186)と、前記
第1および第2サブサンプル候補ブロック(188,1
89)のうちの一方(218)との間のディストーショ
ンを第1フィールド・ディストーション(248)と
し、前記第2サブサンプル参照ブロック(187)と、
前記第1および第2サブサンプル候補ブロック(18
8,189)のうちの他方(219)との間のディスト
ーションを第2フィールド・ディストーション(24
9)として算出し(200,220)、 前記第1および第2フィールド・ディストーション(2
48,249)を加算してフレーム・ディストーション
(259)を得て(250)、 前記第1および第2フィールド・ディストーション(2
48,249)および前記フレーム・ディストーション
(259)のそれぞれの最小値である第1フィールド・
ディストーション最小値(288)と、第2フィールド
・ディストーション最小値(289)と、フレーム・デ
ィストーション最小値(287)とを検出し、これらの
最小値を得たそれぞれの時点を示す第1最小値タイミン
グ信号(284)と、第2最小値タイミング信号(28
6)と、第3最小値タイミング信号(285)とを得て
(260)、 前記第1および第2フィールド・ディストーション最小
値(288,289)の和(309)と前記フレーム・
ディストーション最小値(287)とを比較してフィー
ルド適応予測とするかフレーム適応予測とするかを決定
し(300,310)、 前記第1タイミング信号(284)の発生時点から第1
フィールド動きベクトル(347)を得、前記第2タイ
ミング信号(286)の発生時点から第2フィールド動
きベクトル(348)を得、前記第3タイミング信号
(285)の発生時点からフレーム動きベクトル(34
9)を得るようにした(320)動画像圧縮におけるブ
ロック・マッチング方法。 - 【請求項3】 前記第1フィールド参照ブロック(16
6)と、前記第2フィールド参照ブロック(167)
と、前記第1フィールド候補ブロック(168)と、前
記第2フィールド候補ブロック(169)とに含まれる
画素をそれぞれ所定の間隔でサンプルして、それぞれ第
1サブサンプル参照ブロック(186)と、第2サブサ
ンプル参照ブロック(187)と、第1サブサンプル候
補ブロック(188)と、第2サブサンプル候補ブロッ
ク(189)とを得る(170)場合に、 前記画素をそれぞれ所定の間隔でサンプルする前記所定
の間隔が、前記参照ブロック(63)および前記候補ブ
ロック(62)のラインをライン単位に所定の間隔で間
引いたものである請求項1または2の動画像圧縮におけ
るブロック・マッチング方法。 - 【請求項4】 前記第1フィールド参照ブロック(16
6)と、前記第2フィールド参照ブロック(167)
と、前記第1フィールド候補ブロック(168)と、前
記第2フィールド候補ブロック(169)とに含まれる
画素をそれぞれ所定の間隔でサンプルして、それぞれ第
1サブサンプル参照ブロック(186)と、第2サブサ
ンプル参照ブロック(187)と、第1サブサンプル候
補ブロック(188)と、第2サブサンプル候補ブロッ
ク(189)とを得る(170)場合に、 前記画素をそれぞれ所定の間隔でサンプルする前記所定
の間隔が、 前記第1および第2フィールド参照ブロック(166,
167)と前記第1および第2フィールド候補ブロック
(168,169)における第1フィールドと第2フィ
ールドの画素を1画素分ずらして5の目状になっている
請求項1または2の動画像圧縮におけるブロック・マッ
チング方法。 - 【請求項5】 前記第1および第2フィールド・ディス
トーション(248,249)を得る場合に、前記第1
および第2サブサンプル参照ブロック(186,18
7)のうちの1つのサブサンプル参照ブロックのデータ
(a)と前記第1および第2サブサンプル候補ブロック
のうちの1つのサブサンプル候補ブロックのデータ
(b)とから、前記第1および第2フィールド・ディス
トーション(248,249)のうちの1つのディスト
ーション(Dij)を得るために、 前記サブサンプル参照ブロックのデータ(a)と前記サ
ブサンプル候補ブロックのデータ(b)とからディスト
ーション用の差分絶対値(|a(i,j)−b(i+
v,j+h)|)を算出し(10)、 前記ディストーション用の差分絶対値(|a(i,j)
−b(i+v,j+h)|)を累和して前記ディストー
ション(Dij=ΣΣ(|a(i,j)−b(i+v,j
+h)|)を得る(20)請求項1または2の動画像圧
縮におけるブロック・マッチング方法。 - 【請求項6】 前記第1および第2フィールド・ディス
トーション(248,249)を得る場合に、前記第1
および第2サブサンプル参照ブロック(186,18
7)のうちの1つのサブサンプル参照ブロックのデータ
(a)と前記第1および第2サブサンプル候補ブロック
のうちの1つのサブサンプル候補ブロックのデータ
(b)とから、前記第1および第2フィールド・ディス
トーション(248,249)のうちの1つのディスト
ーション(Dij)を得るために、 前記サブサンプルされた参照ブロックのデータ(a)と
前記サブサンプル候補ブロックのデータ(b)とからデ
ィストーション用の差分値(a(i,j)−b(i+
v,j+h))を算出し、 前記ディストーション用の差分値(a(i,j)−b
(i+v,j+h))を2乗して差分2乗値((a
(i,j)−b(i+v,j+h))2 )を算出し、 前記差分2乗値((a(i,j)−b(i+v,j+
h))2 )を累和してディストーション(Dij=ΣΣ
(a(i,j)−b(i+v,j+h))2 )を得る請
求項1または2の動画像圧縮におけるブロック・マッチ
ング方法。 - 【請求項7】 前記第1および第2フィールド・ディス
トーション(248,249)を得る場合に、前記第1
および第2サブサンプル参照ブロック(186,18
7)のうちの1つのサブサンプル参照ブロックのデータ
(a)と前記第1および第2サブサンプル候補ブロック
のうちの1つのサブサンプル候補ブロックのデータ
(b)とから、前記第1および第2フィールド・ディス
トーション(248,249)のうちの1つのディスト
ーション(Dij)を得るために、 前記サブサンプル参照ブロックのデータ(a)と前記サ
ブサンプル候補ブロックのデータ(b)とからディスト
ーション用の差分絶対値(|a(i,j)−b(i+
v,j+h)|)を算出し(10)、 前記ディストーション用の差分絶対値(|a(i,j)
−b(i+v,j+h)|)にあらかじめ定めた重み付
け処理をし(30)、 前記重み付け処理をした差分絶対値を累和して重み付け
処理後の前記差分絶対値和をディストーション(Dij=
ΣΣ(kn ×|a(i,j)−b(i+v,j+h)
|))として得る(20)請求項1または2の動画像圧
縮におけるブロック・マッチング方法。 - 【請求項8】 現フレームの奇数ラインと偶数ラインの
2つのフィールドからなる参照ブロック(63)と、前
フレームのサーチ・ウィンドウ(61)に含まれた奇数
ラインと偶数ラインの2つのフィールドからなる候補ブ
ロック(62)とを、それぞれフィールドに分割して奇
数ラインのフィールドからなる第1フィールド参照ブロ
ック(166)と、偶数ラインのフィールドからなる第
2のフィールド参照ブロック(167)と、奇数ライン
のフィールドからなる第1フィールド候補ブロック(1
68)と、偶数ラインのフィールドからなる第2フィー
ルド候補ブロック(169)とに分割するためのフィー
ルド分割手段(150)と、 前記第1フィールド参照ブロック(166)と、前記第
2フィールド参照ブロック(167)と、前記第1フィ
ールド候補ブロック(168)と、前記第2フィールド
候補ブロック(169)とに含まれる画素をそれぞれ所
定の間隔でサンプルしてそれぞれ第1サブサンプル参照
ブロック(186)と、第2サブサンプル参照ブロック
(187)と、第1サブサンプル候補ブロック(18
8)と、第2サブサンプル候補ブロック(189)とを
得るためのサブサンプル手段(170)と、 前記第1および第2サブサンプル参照ブロック(18
6,187)と、前記第1および第2サブサンプル候補
ブロック(188,189)とを用いて動きベクトルの
探索を行うための動きベクトル探索手段(200,22
0,250,260,300,310,320)とを含
む動画像圧縮におけるブロック・マッチング装置におい
て、 前記動きベクトル探索手段が、 前記第1サブサンプル参照ブロック(186)と前記第
1および第2サブサンプル候補ブロック(188,18
9)のうちの一方(218)との間のディストーション
を第1フィールド・ディストーション(248)とし、
前記第2サブサンプル参照ブロック(187)と前記第
1および第2サブサンプル候補ブロック(188,18
9)のうちの他方(219)との間のディストーション
を第2フィールド・ディストーション(249)として
算出するためのディストーション算出手段(200,2
20)と、 前記第1および第2フィールド・ディストーション(2
48,249)を加算してフレーム・ディストーション
(259)を得るための加算手段(250)とを含む 動
画像圧縮におけるブロック・マッチング装置。 - 【請求項9】 現フレームの奇数ラインと偶数ラインの
2つのフィールドからなる参照ブロック(63)と、前
フレームのサーチ・ウィンドウ(61)に含まれた奇数
ラインと偶数ラインの2つのフィールドからなる候補ブ
ロック(62)とを、それぞれフィールドに分割して奇
数ラインのフィールドからなる第1フィールド参照ブロ
ック(166)と、偶数ラインのフィールドからなる第
2のフィールド参照ブロック(167)と、奇数ライン
のフィールドからなる第1フィールド候補ブロック(1
68)と、偶数ラインのフィールドからなる第2フィー
ルド候補ブロック(169)とに分割するためのフィー
ルド分割手段(150)と、 前記第1フィールド参照ブロック(166)と、前記第
2フィールド参照ブロック(167)と、前記第1フィ
ールド候補ブロック(168)と、前記第2フィールド
候補ブロック(169)とに含まれる画素をそれぞれ所
定の間隔でサンプルして、それぞれ第1サブサンプル参
照ブロック(186)と、第2サブサンプル参照ブロッ
ク(187)と、第1サブサンプル候補ブロック(18
8)と、第2サブサンプル候補ブロック(189)とを
得るためのサブサンプル手段(170)と、 前記第1サブサンプル参照ブロック(186)と、前記
第1および第2サブサンプル候補ブロック(188,1
89)のうちの一方(218)との間のディストーショ
ンを第1フィールド・ディストーション(248)と
し、前記第2サブサンプル参照ブロック(187)と前
記第1および第2サブサンプル候補ブロック(188,
189)のうちの他方(219)との間のディストーシ
ョンを第2フィールド・ディストーション(249)と
して算出するためのディストーション算出手段(20
0,220)と、 前記第1および第2フィールド・ディストーション(2
48,249)を加算してフレーム・ディストーション
(259)を得るための加算手段(250)と、 前記第1および第2フィールド・ディストーション(2
48,249)および前記フレーム・ディストーション
(259)のそれぞれの最小値である第1フィールド・
ディストーション最小値(288)と、第2フィールド
・ディストーション最小値(289)と、フレーム・デ
ィストーション最小値(287)とを検出し、これらの
最小値を得たそれぞれの時点を示す第1最小値タイミン
グ信号(284)と、第2最小値タイミング信号(28
6)と、第3最小値タイミング信号(285)として得
るための最小値検出手段(260)と、 前記第1および第2フィールド・ディストーション最小
値(288,289)の和(309)と前記フレーム・
ディストーション最小値(287)とを比較してフィー
ルド適応予測とするかフレーム適応予測とするかを決定
するための加算比較手段(300,310)と、 前記第1タイミング信号(284)の発生時点から第1
フィールド動きベクトル(347)を得、前記第2タイ
ミング信号(286)の発生時点から第2フィールド動
きベクトル(348)を得、前記第3タイミング信号
(285)の発生時点からフレーム動きベクトル(34
9)を得るための動きベクトル算出手段(320)とを
含む動画像圧縮におけるブロック・マッチング装置。 - 【請求項10】 前記フィールド分割手段(150)
が、 前記参照ブロック(63)および前記候補ブロック(6
2)のそれぞれのラインをライン単位に所定の間隔で間
引いた前記第1および第2フィールド参照ブロック(1
66,167)と、前記第1および第2フィールド候補
ブロック(168,169)を出力する請求項8または
9の動画像圧縮におけるブロック・マッチング装置。 - 【請求項11】 前記サブサンプル手段(170)が、 前記画素をそれぞれ所定の間隔でサンプルする前記所定
の間隔が、前記参照ブロック(63)および前記候補ブ
ロック(62)のラインをライン単位に所定の間隔で間
引くように動作する請求項8または9の動画像圧縮にお
けるブロック・マッチング装置。 - 【請求項12】 前記サブサンプル手段(170)が、 前記画素をそれぞれ所定の間隔でサンプルする場合に、
前記第1および第2フィールド参照ブロック(166,
167)と前記第1および第2フィールド候補ブロック
(168,169)における第1フィールドと第2フィ
ールドの画素を1画素分ずらして5の目状にサンプルす
るように動作する請求項8または9の動画像圧縮におけ
るブロック・マッチング装置。 - 【請求項13】 前記ディストーション算出手段(20
0,220)が、 前記第1および第2サブサンプル参照ブロック(18
6,187)のうちの1つのサブサンプル参照ブロック
のデータ(a)と前記第1および第2サブサンプル候補
ブロックのうちの1つのサブサンプル候補ブロックのデ
ータ(b)とから、前記第1および第2フィールド・デ
ィストーション(248,249)のうちの1つのディ
ストーション(Dij)を得るために、 サブサンプル参照ブロックのデータ(a)と前記サブサ
ンプル候補ブロックのデータ(b)とから、ディストー
ション用の差分絶対値(|a(i,j)−b(i+v,
j+h)|)を算出するための差分絶対値算出手段(1
0)と、 前記ディストーション用の差分絶対値(|a(i,j)
−b(i+v,j+h)|)を累和して前記ディストー
ション(Dij=ΣΣ(|a(i,j)−b(i+v,j
+h)|)を得るためのディストーション用の加算手段
(20)とを含む請求項8または9の動画像圧縮におけ
るブロック・マッチング装置。 - 【請求項14】 前記ディストーション算出手段(20
0,220)が、 前記第1および第2サブサンプル参照ブロック(18
6,187)のうちの1つのサブサンプル参照ブロック
のデータ(a)と前記第1および第2サブサンプル候補
ブロックのうちの1つのサブサンプル候補ブロックのデ
ータ(b)とから、前記第1および第2フィールド・デ
ィストーション(248,249)のうちの1つのディ
ストーション(Dij)を得るために、 前記サブサンプル参照ブロックのデータ(a)と前記サ
ブサンプル候補ブロックのデータ(b)とからディスト
ーション用の差分絶対値(|a(i,j)−b(i+
v,j+h)|)を算出するための差分絶対値算出手段
(10)と、 ディストーション用の差分値(a(i,j)−b(i+
v,j+h))を算出するためのディストーション用の
差分値算出手段と、 前記ディストーション用の差分値(a(i,j)−b
(i+v,j+h))を2乗して差分2乗値((a
(i,j)−b(i+v,j+h))2 )を算出するた
めの差分2乗手段と、 前記差分2乗値((a(i,j)−b(i+v,j+
h))2 )を累和して前記ディストーション(Dij=Σ
Σ((a(i,j)−b(i+v,j+h)2 )を得る
ための差分2乗値加算手段とを含む請求項8または9の
動画像圧縮におけるブロック・マッチング装置。 - 【請求項15】 前記ディストーション算出手段(20
0,220)が、 前記第1および第2サブサンプル参照ブロック(18
6,187)のうちの1つのサブサンプル参照ブロック
のデータ(a)と前記第1および第2サブサンプル候補
ブロックのうちの1つのサブサンプル候補ブロックのデ
ータ(b)とから、前記第1および第2フィールド・デ
ィストーション(248,249)のうちの1つのディ
ストーション(Dij)を得るために、 前記サブサンプル参照ブロックのデータ(a)と前記サ
ブサンプル候補ブロックのデータ(b)とからディスト
ーション用の差分絶対値(|a(i,j)−b(i+
v,j+h)|)を算出するための差分絶対値算出手段
(10)と、 前記ディストーション用の差分絶対値(|a(i,j)
−b(i+v,j+h)|)にあらかじめ定めた重み付
け処理をするための重み付け処理手段(30)と、 前記重み付け処理をした差分絶対値を累和して重み付け
処理後の前記差分絶対値和を前記ディストーション(D
ij=ΣΣ((kn ×|a(i,j)−b(i+v,j+
h)|))として得るためのディストーション用の加算
手段(20)とを含む請求項8または9の動画像圧縮に
おけるブロック・マッチング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3408594A JP2934146B2 (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | 動画像圧縮におけるブロック・マッチング方法と装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP3408594A JP2934146B2 (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | 動画像圧縮におけるブロック・マッチング方法と装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH07222176A JPH07222176A (ja) | 1995-08-18 |
JP2934146B2 true JP2934146B2 (ja) | 1999-08-16 |
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ID=12404432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP3408594A Expired - Fee Related JP2934146B2 (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | 動画像圧縮におけるブロック・マッチング方法と装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2934146B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2004023673A (ja) * | 2002-06-19 | 2004-01-22 | Sony Corp | 動きベクトル検出装置及び方法、動き補正装置及び方法 |
WO2004012460A1 (ja) * | 2002-07-29 | 2004-02-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 動きベクトル検出装置及び動きベクトル検出方法 |
-
1994
- 1994-02-07 JP JP3408594A patent/JP2934146B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
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1991年テレビジョン学会年次大会、1991年7月、p.313−314 |
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JPH07222176A (ja) | 1995-08-18 |
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