JP2933751B2 - デジタルデータの検出回路及びその検出方法 - Google Patents
デジタルデータの検出回路及びその検出方法Info
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- JP2933751B2 JP2933751B2 JP3168757A JP16875791A JP2933751B2 JP 2933751 B2 JP2933751 B2 JP 2933751B2 JP 3168757 A JP3168757 A JP 3168757A JP 16875791 A JP16875791 A JP 16875791A JP 2933751 B2 JP2933751 B2 JP 2933751B2
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L7/00—Arrangements for synchronising receiver with transmitter
- H04L7/02—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information
- H04L7/033—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop
- H04L7/0331—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop with a digital phase-locked loop [PLL] processing binary samples, e.g. add/subtract logic for correction of receiver clock
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- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、他機器より出力され
たデータを入力し、内部クロックをその入力データと同
期させる位相制御ループ(以下、PLLという。)回路
を内蔵した通信装置などに用いられるデジタルデータの
検出回路及びその検出方法に関するものである。
たデータを入力し、内部クロックをその入力データと同
期させる位相制御ループ(以下、PLLという。)回路
を内蔵した通信装置などに用いられるデジタルデータの
検出回路及びその検出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、受信データクロック再生回路とし
て、データ変化点検出回路と、カウンタと、リセット制
御回路と、で構成し、全てのデータの変化点に対してP
LLが行なう回路が知られている。
て、データ変化点検出回路と、カウンタと、リセット制
御回路と、で構成し、全てのデータの変化点に対してP
LLが行なう回路が知られている。
【0003】この回路の場合、送信クロックの周波数に
対する周波数追従性は良いが、ノイズに対しては何等対
策が講じられておらず、ノイズによる悪影響を受けると
いう欠点があった。
対する周波数追従性は良いが、ノイズに対しては何等対
策が講じられておらず、ノイズによる悪影響を受けると
いう欠点があった。
【0004】そこで、ノイズの影響を排除して常に正確
なデータ変化点の検出を行うデジタルデータの検出方法
が特開昭60−245351号公報に開示されている。
この検出方法は、デジタルデータの各ビットの間に内部
クロックに同期した時系列の複数の検出クロックを形成
し、この検出クロックのタイミングでデジタルデータの
レベルを夫々検出する。そして、この検出により得られ
た複数の検出データの多数決処理によりスパイクノイズ
の影響を排除して変化点の位置を検出する。この検出に
基づき内部クロックに同期した受信クロックの形成タイ
ミングを制御することにより、デジタルデータの検出の
同期はずれを防止するものである。
なデータ変化点の検出を行うデジタルデータの検出方法
が特開昭60−245351号公報に開示されている。
この検出方法は、デジタルデータの各ビットの間に内部
クロックに同期した時系列の複数の検出クロックを形成
し、この検出クロックのタイミングでデジタルデータの
レベルを夫々検出する。そして、この検出により得られ
た複数の検出データの多数決処理によりスパイクノイズ
の影響を排除して変化点の位置を検出する。この検出に
基づき内部クロックに同期した受信クロックの形成タイ
ミングを制御することにより、デジタルデータの検出の
同期はずれを防止するものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】通信機器に入力される
データは送信側から受信側へ伝送される回線上で、図2
に示すように、データにスパイクノイズが発生していた
り、データの変化点にジッタが発生しデータの変化点の
周期が不規則になることが多い。
データは送信側から受信側へ伝送される回線上で、図2
に示すように、データにスパイクノイズが発生していた
り、データの変化点にジッタが発生しデータの変化点の
周期が不規則になることが多い。
【0006】そのため、受信側装置では内部クロックと
入力データでPLLをかけ、送信側のデータをエラーな
く検出する必要がある。
入力データでPLLをかけ、送信側のデータをエラーな
く検出する必要がある。
【0007】上述した従来の方法においては、スパイク
ノイズの影響を削除することはできるが、ジッタの変化
点でPLLのリセット回路が働いて一時的に同期はずれ
が生じデータの検出にエラーが発生するという問題があ
った。
ノイズの影響を削除することはできるが、ジッタの変化
点でPLLのリセット回路が働いて一時的に同期はずれ
が生じデータの検出にエラーが発生するという問題があ
った。
【0008】更に、上述した方法においては、ノイズに
対してセンシティブにするため、サンプリング数を増や
せばそれだけリセットをかけるタイミングが遅くなり周
波数追従性が悪くなる。逆に、サンプリング数を減らす
と周波数追従性は向上するが、今度は耐ノイズ性が悪く
なるという問題があった。しかも回線のノイズ状態は装
置毎又は、回線距離によって異なり、ノイズの小さい回
線、大きい回線と様々である。
対してセンシティブにするため、サンプリング数を増や
せばそれだけリセットをかけるタイミングが遅くなり周
波数追従性が悪くなる。逆に、サンプリング数を減らす
と周波数追従性は向上するが、今度は耐ノイズ性が悪く
なるという問題があった。しかも回線のノイズ状態は装
置毎又は、回線距離によって異なり、ノイズの小さい回
線、大きい回線と様々である。
【0009】従って、上述した従来の方法では、ノイズ
の小さな回線では使用できるが大きな回線では使用でき
なかったり、ノイズの大きな回線で使用できるが小さな
回線では通信品質が落ちたりする難点があった。
の小さな回線では使用できるが大きな回線では使用でき
なかったり、ノイズの大きな回線で使用できるが小さな
回線では通信品質が落ちたりする難点があった。
【0010】この発明は、上述した従来の難点に鑑みな
されたものにして、スパイクノイズ、ジッタの影響をな
くして、データの検出にエラー発生を生じることのない
デジタルデータの検出回路およびその検出方法を提供す
ることを課題とする。
されたものにして、スパイクノイズ、ジッタの影響をな
くして、データの検出にエラー発生を生じることのない
デジタルデータの検出回路およびその検出方法を提供す
ることを課題とする。
【0011】また、この発明は、周波数追従性と耐ノイ
ズ性のトレードオフを解消し、周波数偏差及びノイズの
どちらにも影響を受けにくい安定したPLLが可能なデ
ジタルデータ検出回路を提供することをその課題とす
る。
ズ性のトレードオフを解消し、周波数偏差及びノイズの
どちらにも影響を受けにくい安定したPLLが可能なデ
ジタルデータ検出回路を提供することをその課題とす
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明による第1のデ
ジタルデータの検出回路は、デジタルデータのビット毎
に、内部クロックに同期した受信クロックを形成し、デ
ジタルデータの内容を検出するデジタルデータの検出回
路であって、デジタルデータが1から0あるいは0から
1へ変化する変化点を検出するデータ変化点検出回路
と、上記変化点が内部クロックと同期したタイミングで
出現しているか否か判定する同期はずれ検出回路と、同
期はずれの有無が何回出現したか計数するカウンタと、
内部クロックで同期信号を生成する同期信号生成カウン
タと、前記データ変化点検出回路及びカウンタ出力に応
じて前記同期信号生成カウンタのリセットのタイミング
を制御するリセット制御回路と、を備えたことを特徴と
する。
ジタルデータの検出回路は、デジタルデータのビット毎
に、内部クロックに同期した受信クロックを形成し、デ
ジタルデータの内容を検出するデジタルデータの検出回
路であって、デジタルデータが1から0あるいは0から
1へ変化する変化点を検出するデータ変化点検出回路
と、上記変化点が内部クロックと同期したタイミングで
出現しているか否か判定する同期はずれ検出回路と、同
期はずれの有無が何回出現したか計数するカウンタと、
内部クロックで同期信号を生成する同期信号生成カウン
タと、前記データ変化点検出回路及びカウンタ出力に応
じて前記同期信号生成カウンタのリセットのタイミング
を制御するリセット制御回路と、を備えたことを特徴と
する。
【0013】又、前記カウンタの出力に応じて、0以外
のタイミングで出現した上記変化点を0のタイミングに
補正するマスク回路を上記リセット制御回路に設けたこ
とを特徴とする。
のタイミングで出現した上記変化点を0のタイミングに
補正するマスク回路を上記リセット制御回路に設けたこ
とを特徴とする。
【0014】更に、上記マスク回路を正方向に変化点の
タイミングがずれた場合にタイミング補正する正マスク
回路と、負方向に変化点のタイミングがずれた場合にタ
イミング補正する負マスク回路との2段構成にしたこと
を特徴とする。
タイミングがずれた場合にタイミング補正する正マスク
回路と、負方向に変化点のタイミングがずれた場合にタ
イミング補正する負マスク回路との2段構成にしたこと
を特徴とする。
【0015】又、この発明の検出方法は、上記デジタル
データが1から0あるいは0から1へ変化する変化点を
検出し、この変化点が内部クロックと同期しているか否
か判定するとともに、この同期はずれの有無が何回出現
したか計数し、この計数結果に対応して、上記変化点の
位置から受信クロックを形成するタイミングを制御する
ことを特徴とする。
データが1から0あるいは0から1へ変化する変化点を
検出し、この変化点が内部クロックと同期しているか否
か判定するとともに、この同期はずれの有無が何回出現
したか計数し、この計数結果に対応して、上記変化点の
位置から受信クロックを形成するタイミングを制御する
ことを特徴とする。
【0016】この発明による第2のデジタルデータの検
出回路は、デジタルデータのビット毎に、内部クロック
に同期した受信クロックを形成し、デジタルデータの内
容を検出するデジタルデータの検出回路であって、内部
クロックで同期信号を生成する同期信号生成カウンタ
と、デジタルデータが1から0あるいは0から1へ変化
する変化点を検出するデータ変化点検出回路と、データ
変化点検出回路によって変化点が検出された時点での同
期信号生成カウンタの出力が入力され、入力信号のビッ
トをマスクするためのマスク回路と、マスク回路の入力
信号の全ビツトのうち、マスクするビットを決定するマ
スクパターン制御回路と、マスク回路の出力に基づいて
前記同期信号生成カウンタのリセットのタイミングを制
御するリセット制御回路とを備え、マスクパターン制御
回路が変化点のタイミングのずれ量に応じて、マスクす
るビットを変更するようにマスク回路を制御するもので
あることを特徴とする。
出回路は、デジタルデータのビット毎に、内部クロック
に同期した受信クロックを形成し、デジタルデータの内
容を検出するデジタルデータの検出回路であって、内部
クロックで同期信号を生成する同期信号生成カウンタ
と、デジタルデータが1から0あるいは0から1へ変化
する変化点を検出するデータ変化点検出回路と、データ
変化点検出回路によって変化点が検出された時点での同
期信号生成カウンタの出力が入力され、入力信号のビッ
トをマスクするためのマスク回路と、マスク回路の入力
信号の全ビツトのうち、マスクするビットを決定するマ
スクパターン制御回路と、マスク回路の出力に基づいて
前記同期信号生成カウンタのリセットのタイミングを制
御するリセット制御回路とを備え、マスクパターン制御
回路が変化点のタイミングのずれ量に応じて、マスクす
るビットを変更するようにマスク回路を制御するもので
あることを特徴とする。
【0017】マスクパターン制御回路としては、変化点
のタイミングのずれ量に応じてマスクするビットを変更
するための複数種類のマスクパターンを発生しうるもの
であり、所与の指定信号により指定されたマスクパター
ンにもとづいてマスク回路を制御するものでもよい。
のタイミングのずれ量に応じてマスクするビットを変更
するための複数種類のマスクパターンを発生しうるもの
であり、所与の指定信号により指定されたマスクパター
ンにもとづいてマスク回路を制御するものでもよい。
【0018】この発明による第3のデジタルデータの検
出回路は、内部クロックで同期信号を生成する同期信号
生成カウンタと、同期はずれが一定期間に何度出現した
か検出し、その頻度に応じた信号を出力する同期はずれ
頻度検出回路と、この回路からの出力に応じてノイズ判
定幅を変化し、この判定幅以下のパルス幅のノイズを無
視し、デジタルデータが1から0あるいは0から1へ変
化する変化点を検出する変化点検出回路と、この変化点
検出回路の出力に応じて、前記同期信号生成カウンタの
リセットのタイミングを制御するリセット制御回路と、
を備えてなるものである。
出回路は、内部クロックで同期信号を生成する同期信号
生成カウンタと、同期はずれが一定期間に何度出現した
か検出し、その頻度に応じた信号を出力する同期はずれ
頻度検出回路と、この回路からの出力に応じてノイズ判
定幅を変化し、この判定幅以下のパルス幅のノイズを無
視し、デジタルデータが1から0あるいは0から1へ変
化する変化点を検出する変化点検出回路と、この変化点
検出回路の出力に応じて、前記同期信号生成カウンタの
リセットのタイミングを制御するリセット制御回路と、
を備えてなるものである。
【0019】
【作用】この発明による第1のデジタルデータの検出回
路または検出方法によれば、同期はずれの有無が何回出
現したかを計数するカウンタの出力とデータ変化点検出
回路の出力に基いて、リセットのタイミング制御するこ
とにより、ジッタ、スパイクノイズが削減される。
路または検出方法によれば、同期はずれの有無が何回出
現したかを計数するカウンタの出力とデータ変化点検出
回路の出力に基いて、リセットのタイミング制御するこ
とにより、ジッタ、スパイクノイズが削減される。
【0020】又、連続した同期を受けた場合、0以外の
タイミングをマスク回路で補正することにより、ジッ
タ、スパイクノイズが削減される。
タイミングをマスク回路で補正することにより、ジッ
タ、スパイクノイズが削減される。
【0021】この発明による第2のデジタルデータの検
出回路では、マスクパターン制御回路によって、変化点
のタイミングのずれ量に応じて、マスクするビットを変
更するようにマスク回路が制御される。このため、変化
点のタイミングのずれ量が、ずれ量に応じて補正され
る。したがって、ノイズによる誤動作の発生を減少させ
ることが可能となる。
出回路では、マスクパターン制御回路によって、変化点
のタイミングのずれ量に応じて、マスクするビットを変
更するようにマスク回路が制御される。このため、変化
点のタイミングのずれ量が、ずれ量に応じて補正され
る。したがって、ノイズによる誤動作の発生を減少させ
ることが可能となる。
【0022】この発明による第3のデジタルデータの検
出回路では、ノイズ判定のパルス幅を同期はずれの頻度
に応じて選択することにより、ノイズの大きさに応じて
デジタルデータのサンプリング数が調整される。従っ
て、いかなる回線環境においても、安定したPLLを行
うことができる。
出回路では、ノイズ判定のパルス幅を同期はずれの頻度
に応じて選択することにより、ノイズの大きさに応じて
デジタルデータのサンプリング数が調整される。従っ
て、いかなる回線環境においても、安定したPLLを行
うことができる。
【0023】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に従い説明す
る。図1はこの発明に係るデジタルデータ検出回路の構
成を示すブロック図、図2および図3は、この発明に入
力されるデジタルデータを示すタイミングチャートであ
り、図2は任意の一定周期にあるクロックを基本にデジ
タルデータを生成し、そのデータと入力データとの関係
を示し、図3は1周期を16分割(0〜F)した関係を
示している。
る。図1はこの発明に係るデジタルデータ検出回路の構
成を示すブロック図、図2および図3は、この発明に入
力されるデジタルデータを示すタイミングチャートであ
り、図2は任意の一定周期にあるクロックを基本にデジ
タルデータを生成し、そのデータと入力データとの関係
を示し、図3は1周期を16分割(0〜F)した関係を
示している。
【0024】図2に示すように、任意の一定周期の送信
クロックを基本クロックとして出力データが生成され、
そのデータが受信機に入力される。この入力データに
は、図中Δtで示すジッタや図中a,bで示すスパイク
ノイズが発生する事がある。
クロックを基本クロックとして出力データが生成され、
そのデータが受信機に入力される。この入力データに
は、図中Δtで示すジッタや図中a,bで示すスパイク
ノイズが発生する事がある。
【0025】上述したように、出力データは一定周期の
クロックを基本にデジタルデータが生成されているの
で、受信機側はデジタルデータの変化点が来る周期を予
測することができる。したがって、図3に示すように、
1周期を16分割で示すと、送信側は必ず0のタイミン
グでデータを変化させる。そこで、受信機側はA点でデ
ータが変化したとき、一番近い変化点はB点の0タイミ
ングであると予測できる。
クロックを基本にデジタルデータが生成されているの
で、受信機側はデジタルデータの変化点が来る周期を予
測することができる。したがって、図3に示すように、
1周期を16分割で示すと、送信側は必ず0のタイミン
グでデータを変化させる。そこで、受信機側はA点でデ
ータが変化したとき、一番近い変化点はB点の0タイミ
ングであると予測できる。
【0026】ここで、A点に変化点が存在した後、B点
の変化点が0のタイミングであれば同期、他のタイミン
グ(1〜F)にあれば同期はずれと呼ぶ。連続した同期
する変化点の後、同期はずれの変化点があればこのデー
タ入力はジッタ或いはスパイクノイズであると考えれる
ので、この発明では、この同期はずれの変化点ではPL
Lのリセットをかけないようにするものである。
の変化点が0のタイミングであれば同期、他のタイミン
グ(1〜F)にあれば同期はずれと呼ぶ。連続した同期
する変化点の後、同期はずれの変化点があればこのデー
タ入力はジッタ或いはスパイクノイズであると考えれる
ので、この発明では、この同期はずれの変化点ではPL
Lのリセットをかけないようにするものである。
【0027】この発明は上述した事項に基づいて構成さ
れている。
れている。
【0028】まず、図1に従い本発明の全体構成につい
て説明する。
て説明する。
【0029】図1において、1はデータ変化点検出回路
であり、入力されるデジタルデータの1から0或いは0
から1へ変化する変化点を検出し、この結果を同期はず
れ検出回路2及びリセット制御回路5へ供給する。
であり、入力されるデジタルデータの1から0或いは0
から1へ変化する変化点を検出し、この結果を同期はず
れ検出回路2及びリセット制御回路5へ供給する。
【0030】3は同期信号生成カウンタであり、入力さ
れる送信クロックと同期した内部クロックを元周期とす
るカウンタで、このクロックを任意に分周してデータの
受信クロックが作成される。このカウンタ3にリセット
がかかることにより受信データクロックが再生される。
このカウンタ3からのカウンタ値は同期はずれ検出回路
2へ与えられる。
れる送信クロックと同期した内部クロックを元周期とす
るカウンタで、このクロックを任意に分周してデータの
受信クロックが作成される。このカウンタ3にリセット
がかかることにより受信データクロックが再生される。
このカウンタ3からのカウンタ値は同期はずれ検出回路
2へ与えられる。
【0031】同期はずれ検出回路2は、データ変化点検
出回路1で変化点を検出したタイミングをラッチし、こ
の時のカウンタ3の出力により同期はずれの有無を検出
する。即ち、前述したように、変化点が0のタイミング
であれば同期、他のタイミング(1〜F)にあれば同期
はずれであるとし、その結果をアップダウンカウンタ4
へ与え、アップダウンカウンタ4は同期した場合には+
1、同期はずれの場合−1を加算する。
出回路1で変化点を検出したタイミングをラッチし、こ
の時のカウンタ3の出力により同期はずれの有無を検出
する。即ち、前述したように、変化点が0のタイミング
であれば同期、他のタイミング(1〜F)にあれば同期
はずれであるとし、その結果をアップダウンカウンタ4
へ与え、アップダウンカウンタ4は同期した場合には+
1、同期はずれの場合−1を加算する。
【0032】リセット制御回路5は内部クロック及びデ
ータ変化点検出回路1から変化点を検出したときのカウ
ンタ3の値とカウンタ4の値が入力される。そして、こ
の両者の信号に基づきのリセット信号を生成し、このリ
セット信号を同期信号生成カウンタ3に供給する。即
ち、同期はずれの変化点ではリセットがかからないよう
に制御する。
ータ変化点検出回路1から変化点を検出したときのカウ
ンタ3の値とカウンタ4の値が入力される。そして、こ
の両者の信号に基づきのリセット信号を生成し、このリ
セット信号を同期信号生成カウンタ3に供給する。即
ち、同期はずれの変化点ではリセットがかからないよう
に制御する。
【0033】又、このリセット制御回路5の内部にマス
ク回路を備えることにより、任意の連続した同期を受け
たことをカウンタ4の値により判断し、カウンタ4の値
が所定の値、例えば8回同期が存在した場合には、デー
タ変化点は0のタイミングで来ると判断し、データ変化
点を0に補正し、ジッタ、スパイクノイズを削除する。
ク回路を備えることにより、任意の連続した同期を受け
たことをカウンタ4の値により判断し、カウンタ4の値
が所定の値、例えば8回同期が存在した場合には、デー
タ変化点は0のタイミングで来ると判断し、データ変化
点を0に補正し、ジッタ、スパイクノイズを削除する。
【0034】次に図4に従いこの発明の第1のデジタル
検出回路の実施例につき説明する。
検出回路の実施例につき説明する。
【0035】図4に示すように、受信側の内部クロック
を4ビットのカウンタ3およびデータ変化点検出回路1
のD型フリップフロップ10のトリガ端子に供給すると
ともに、フリップフロップ10のデータ端子(D)に受
信したデジタルデータが供給される。
を4ビットのカウンタ3およびデータ変化点検出回路1
のD型フリップフロップ10のトリガ端子に供給すると
ともに、フリップフロップ10のデータ端子(D)に受
信したデジタルデータが供給される。
【0036】さらに、デジタルデータとフリップフロッ
プ10のQ出力端子の出力データとの排他的論理和を排
他的論理和回路11により演算し、排他的論理和回路1
1から同期はずれ検出回路2のラッチ回路21に、変化
点の位置の検出出力を出力する。
プ10のQ出力端子の出力データとの排他的論理和を排
他的論理和回路11により演算し、排他的論理和回路1
1から同期はずれ検出回路2のラッチ回路21に、変化
点の位置の検出出力を出力する。
【0037】一方、同期信号生成カウンタ3は内部クロ
ックを0から15までカウントすることをくり返し、Q
A、QB、QC、QDの出力端子からカウントした値の
パラレルデータを出力する。
ックを0から15までカウントすることをくり返し、Q
A、QB、QC、QDの出力端子からカウントした値の
パラレルデータを出力する。
【0038】カウンタ3のQA、QB、QC、QDから
のパラレル出力は、同期はずれ検出回路2のラッチ回路
21とリセット制御回路5の排他的論理和回路51、5
2、53、54へ夫々出力される。そして、排他的論理
和回路51にはQDが、排他的論理和回路52にはQC
が、排他的論理和回路53にはQBが、排他的論理和回
路54にはQAが夫々出力される。
のパラレル出力は、同期はずれ検出回路2のラッチ回路
21とリセット制御回路5の排他的論理和回路51、5
2、53、54へ夫々出力される。そして、排他的論理
和回路51にはQDが、排他的論理和回路52にはQC
が、排他的論理和回路53にはQBが、排他的論理和回
路54にはQAが夫々出力される。
【0039】変化点検出回路1の排他的論理和回路11
から変化点の位置検出出力がラッチ回路21に与えられ
ると、ラッチ回路21はその時のカウンタ3の出力をラ
ッチし、そのデータがNAND機能回路22及び排他的
論理和回路51、52、53、54に出力される。NA
ND機能回路22へはカウンタ3のQA,QB,QC,
QDの出力が入力される。したがって、このNAND機
能回路22からはQA,QB,QC,QDの出力が全て
0の場合のみ、ハイが出力され、それ以外のときはロー
が出力される。即ち、変化点が内部クロックの0のタイ
ミングのときのみNAND機能回路22から同期がとれ
たとして、カウンタ4を+1カウントアップする。また
それ以外のときは同期はずれとして、カウンタ4を−1
カウントダウンする。
から変化点の位置検出出力がラッチ回路21に与えられ
ると、ラッチ回路21はその時のカウンタ3の出力をラ
ッチし、そのデータがNAND機能回路22及び排他的
論理和回路51、52、53、54に出力される。NA
ND機能回路22へはカウンタ3のQA,QB,QC,
QDの出力が入力される。したがって、このNAND機
能回路22からはQA,QB,QC,QDの出力が全て
0の場合のみ、ハイが出力され、それ以外のときはロー
が出力される。即ち、変化点が内部クロックの0のタイ
ミングのときのみNAND機能回路22から同期がとれ
たとして、カウンタ4を+1カウントアップする。また
それ以外のときは同期はずれとして、カウンタ4を−1
カウントダウンする。
【0040】一方、ラッチ回路21からの出力QAは排
他的論理和回路51へ,QBは排他的論理和回路52
へ、QCは排他的論理和回路53へ,QDは排他的論理
和回路51へ出力される。その結果排他的論理和回路5
1ではQD,QA,52ではQC,QB、53ではQ
B,QD,54ではQA,QDの排他的論理和がとら
れ、この各回路からの出力がOR機能回路55へ出力さ
れる。このOR機能回路55からの出力がOR回路56
の1入力として与えられる。
他的論理和回路51へ,QBは排他的論理和回路52
へ、QCは排他的論理和回路53へ,QDは排他的論理
和回路51へ出力される。その結果排他的論理和回路5
1ではQD,QA,52ではQC,QB、53ではQ
B,QD,54ではQA,QDの排他的論理和がとら
れ、この各回路からの出力がOR機能回路55へ出力さ
れる。このOR機能回路55からの出力がOR回路56
の1入力として与えられる。
【0041】又、カウンタ4からのQD出力がOR回路
56の他入力として与えられる。このOR回路56から
の出力が反転され、カウンタ3のリセット信号として供
給される。
56の他入力として与えられる。このOR回路56から
の出力が反転され、カウンタ3のリセット信号として供
給される。
【0042】カウンタ4はこの実施例においては、同期
が8回存在した場合に、QDからハイが出力される。即
ち、8回まではリセットがかかり、8回目はリセットが
かからない。又、OR機能回路55により、変化点が0
のタイミング以外はハイが出力されるので、カウンタ4
はリセットがかからない。そして、0のタイミングのと
きのみリセットがかかるように構成されている。したが
って、ジッタやスパイクノイズによる変化点ではリセッ
トがかからない。
が8回存在した場合に、QDからハイが出力される。即
ち、8回まではリセットがかかり、8回目はリセットが
かからない。又、OR機能回路55により、変化点が0
のタイミング以外はハイが出力されるので、カウンタ4
はリセットがかからない。そして、0のタイミングのと
きのみリセットがかかるように構成されている。したが
って、ジッタやスパイクノイズによる変化点ではリセッ
トがかからない。
【0043】次に図5に従いこの発明の第2の実施例に
ついて説明する。
ついて説明する。
【0044】この実施例は、リセット制御回路5内に、
データ変化点を0のタイミングに補正するマスク回路7
を設けたものである。即ち、カウンタ4からのQD出力
がインバータ6にて反転され、更にマスク回路7を構成
するAND機能回路71、72、73、74の1入力と
して入力される。各AND機能回路の他入力はラッチ回
路21からの出力が入力される。AND機能回路71に
はQAが、AND機能回路72にはQBが、AND機能
回路73にはQCが、AND機能回路74にはQDが夫
々入力される。
データ変化点を0のタイミングに補正するマスク回路7
を設けたものである。即ち、カウンタ4からのQD出力
がインバータ6にて反転され、更にマスク回路7を構成
するAND機能回路71、72、73、74の1入力と
して入力される。各AND機能回路の他入力はラッチ回
路21からの出力が入力される。AND機能回路71に
はQAが、AND機能回路72にはQBが、AND機能
回路73にはQCが、AND機能回路74にはQDが夫
々入力される。
【0045】前述した図4の構成ではリセット制御回路
5の排他的論理和回路へラッチ回路21からの出力が入
力されていたが、この実施例ではマスク回路からの出力
が入力される。即ち、AND機能回路71の出力が排他
的論理和回路51の1入力として、AND機能回路72
が排他的論理和回路52の1入力として、AND機能回
路73の出力が排他的論理和回路53の1入力として、
AND機能回路74の出力が排他的論理和回路54の1
入力として夫々与えられる。
5の排他的論理和回路へラッチ回路21からの出力が入
力されていたが、この実施例ではマスク回路からの出力
が入力される。即ち、AND機能回路71の出力が排他
的論理和回路51の1入力として、AND機能回路72
が排他的論理和回路52の1入力として、AND機能回
路73の出力が排他的論理和回路53の1入力として、
AND機能回路74の出力が排他的論理和回路54の1
入力として夫々与えられる。
【0046】そして、各排他的論理和回路51、52、
53、54で演算され、その出力が反転されてOR機能
回路55に入力される。そして、このOR機能回路55
の出力が反転され、カウンタ3のリセット信号として供
給される。
53、54で演算され、その出力が反転されてOR機能
回路55に入力される。そして、このOR機能回路55
の出力が反転され、カウンタ3のリセット信号として供
給される。
【0047】而して、同期が8回存在した場合、データ
変化点は0のタイミングで来ると判断され、マスク回路
7でデータ変化点を0のタイミングに補正される。この
ように任意の連続した同期を受け、0以外のタイミング
がマスク回路7で補正され、ジッタ、スパイクノイズが
削除される。
変化点は0のタイミングで来ると判断され、マスク回路
7でデータ変化点を0のタイミングに補正される。この
ように任意の連続した同期を受け、0以外のタイミング
がマスク回路7で補正され、ジッタ、スパイクノイズが
削除される。
【0048】図6に従いこの発明の第3の実施例につき
説明する。
説明する。
【0049】この実施例はカウンタ4からの出力を2段
にしてマスクをかけるように構成している。即ち、カウ
ンタ4のQD出力がインバータ6を介して正マスク回路
75及び負マスク回路76に入力されると共に、カウン
タ4のQD,QC出力がNOR回路8を介して正マスク
回路75及び負マスク回路77に入力される。そして、
両マスク回路75、76の出力はセレクタ77にて選択
され、このセレクタ77から前述した図5のものと同様
に排他的論理和回路51,52,53,54へ夫々マス
クがかけられたデータが出力される。
にしてマスクをかけるように構成している。即ち、カウ
ンタ4のQD出力がインバータ6を介して正マスク回路
75及び負マスク回路76に入力されると共に、カウン
タ4のQD,QC出力がNOR回路8を介して正マスク
回路75及び負マスク回路77に入力される。そして、
両マスク回路75、76の出力はセレクタ77にて選択
され、このセレクタ77から前述した図5のものと同様
に排他的論理和回路51,52,53,54へ夫々マス
クがかけられたデータが出力される。
【0050】図7に正常のデータ変化点と負側にずれた
場合と正側にずれた場合のカウンタ3の出力を示す。こ
の図7に示すように、同じ1ビットのずれにしても正方
向では下位1ビットが1に変化にするだけである。これ
に対して、負方向では4ビット全てが1に変化する。し
たがって、例えば3ビットのずれだけを補正するとすれ
ば正方向であれば上位2ビットを固定し下位2ビットの
補正で対応することができるが、負方向の場合には、1
ビットずれれば4ビット全てを変化させ、2ビットずれ
た場合には3ビット変化させるようにに制御する必要が
ある。そのためこの実施例においては、正方向のマスク
回路75と負方向のマスク回路76を設け、変化点が正
方向にずれたか負方向にずれたかによって、夫々マスク
回路を選択して0以外のタイミングを0のタイミングに
補正している。
場合と正側にずれた場合のカウンタ3の出力を示す。こ
の図7に示すように、同じ1ビットのずれにしても正方
向では下位1ビットが1に変化にするだけである。これ
に対して、負方向では4ビット全てが1に変化する。し
たがって、例えば3ビットのずれだけを補正するとすれ
ば正方向であれば上位2ビットを固定し下位2ビットの
補正で対応することができるが、負方向の場合には、1
ビットずれれば4ビット全てを変化させ、2ビットずれ
た場合には3ビット変化させるようにに制御する必要が
ある。そのためこの実施例においては、正方向のマスク
回路75と負方向のマスク回路76を設け、変化点が正
方向にずれたか負方向にずれたかによって、夫々マスク
回路を選択して0以外のタイミングを0のタイミングに
補正している。
【0051】図8は、この発明の第4実施例を示してい
る。
る。
【0052】この実施例は、リセット制御回路5内に、
マスク回路100とマスク回路100を制御するマスク
パターン制御回路200とを設けたものである。
マスク回路100とマスク回路100を制御するマスク
パターン制御回路200とを設けたものである。
【0053】そして、これらの回路100および200
によって、変化点での同期ずれ幅を次のように修正しよ
うとするものである。すなわち、表1に示すように、ス
テップ0においては、ずれ幅をそのずれ量に係わらず0
に修正する。
によって、変化点での同期ずれ幅を次のように修正しよ
うとするものである。すなわち、表1に示すように、ス
テップ0においては、ずれ幅をそのずれ量に係わらず0
に修正する。
【0054】ステップ1においては、ずれ幅が−4から
+3の範囲ではずれ幅を0に修正し、ずれ幅が−5から
−8の範囲ではずれ幅を−4に修正し、ずれ幅が+4か
ら+7の範囲ではずれ幅を+4に修正する。
+3の範囲ではずれ幅を0に修正し、ずれ幅が−5から
−8の範囲ではずれ幅を−4に修正し、ずれ幅が+4か
ら+7の範囲ではずれ幅を+4に修正する。
【0055】ステップ2においては、ずれ幅が−2から
+1の範囲ではずれ幅を0に修正し、ずれ幅が−3から
−4の範囲ではずれ幅を−2に修正し、ずれ幅が−5か
ら−6の範囲ではずれ幅を−4に修正しずれ幅が−7か
ら−8の範囲ではずれ幅を−6に修正し、ずれ幅が+2
から+3の範囲ではずれ幅を+2に修正し、ずれ幅が+
4から+5の範囲ではずれ幅を+4に修正し、ずれ幅が
+6から+7の範囲ではずれ幅を+6に修正する。
+1の範囲ではずれ幅を0に修正し、ずれ幅が−3から
−4の範囲ではずれ幅を−2に修正し、ずれ幅が−5か
ら−6の範囲ではずれ幅を−4に修正しずれ幅が−7か
ら−8の範囲ではずれ幅を−6に修正し、ずれ幅が+2
から+3の範囲ではずれ幅を+2に修正し、ずれ幅が+
4から+5の範囲ではずれ幅を+4に修正し、ずれ幅が
+6から+7の範囲ではずれ幅を+6に修正する。
【0056】ステップ3においては、ずれ幅が−1から
0の範囲ではずれ幅を0に修正し、ずれ幅が−2から−
8の範囲ではずれ幅を1ずつ修正し、ずれ幅が+1から
+7の範囲ではずれ幅の修正を行なわない。
0の範囲ではずれ幅を0に修正し、ずれ幅が−2から−
8の範囲ではずれ幅を1ずつ修正し、ずれ幅が+1から
+7の範囲ではずれ幅の修正を行なわない。
【0057】ステップ4においては、ずれ幅の修正を行
なわない。
なわない。
【0058】
【表1】
【0059】マスク回路100は、正マスク回路110
と負マスク回路120とからなる。正マスク回路110
は、4つのAND機能回路111〜114で構成されて
いる。AND機能回路111の第1入力端子にはラッチ
回路21の出力QAが、AND機能回路112の第1入
力端子にはラッチ回路21の出力QBが、AND機能回
路113の第1入力端子にはラッチ回路21の出力QC
が、AND機能回路114の第1入力端子にはラッチ回
路21の出力QDがそれぞれ入力されている。
と負マスク回路120とからなる。正マスク回路110
は、4つのAND機能回路111〜114で構成されて
いる。AND機能回路111の第1入力端子にはラッチ
回路21の出力QAが、AND機能回路112の第1入
力端子にはラッチ回路21の出力QBが、AND機能回
路113の第1入力端子にはラッチ回路21の出力QC
が、AND機能回路114の第1入力端子にはラッチ回
路21の出力QDがそれぞれ入力されている。
【0060】負マスク回路120は、4つのOR回路1
21〜124で構成されている。OR回路121の第1
入力端子には正マスク回路110のAND機能回路11
1の出力が、OR回路122の第1入力端子には正マス
ク回路110のAND機能回路112の出力が、OR回
路123の第1入力端子には正マスク回路110のAN
D機能回路113の出力が、OR回路124の第1入力
端子には正マスク回路110のAND機能回路114の
出力がそれぞれ入力されている。
21〜124で構成されている。OR回路121の第1
入力端子には正マスク回路110のAND機能回路11
1の出力が、OR回路122の第1入力端子には正マス
ク回路110のAND機能回路112の出力が、OR回
路123の第1入力端子には正マスク回路110のAN
D機能回路113の出力が、OR回路124の第1入力
端子には正マスク回路110のAND機能回路114の
出力がそれぞれ入力されている。
【0061】マスクパターン制御回路200は、カウン
タ4の出力QAが入力するインバータ201、カウンタ
4の出力QBが入力するインバータ202、カウンタ4
の出力QCが入力するインバータ203およびカウンタ
4の出力QDが入力するインバータ204を含んでい
る。
タ4の出力QAが入力するインバータ201、カウンタ
4の出力QBが入力するインバータ202、カウンタ4
の出力QCが入力するインバータ203およびカウンタ
4の出力QDが入力するインバータ204を含んでい
る。
【0062】インバータ201の出力は、NAND機能
回路211およびインバータ231に入力する。インバ
ータ202の出力は、NAND機能回路211、NAN
D機能回路212およびインバータ232に入力する。
インバータ203の出力は、AND機能回路206の一
方の入力端子に入力する。インバータ204の出力は、
AND機能回路206の他方の入力端子に入力する。A
ND機能回路206の出力は、NAND機能回路21
1、NAND機能回路212、インバータ213および
インバータ233に入力する。
回路211およびインバータ231に入力する。インバ
ータ202の出力は、NAND機能回路211、NAN
D機能回路212およびインバータ232に入力する。
インバータ203の出力は、AND機能回路206の一
方の入力端子に入力する。インバータ204の出力は、
AND機能回路206の他方の入力端子に入力する。A
ND機能回路206の出力は、NAND機能回路21
1、NAND機能回路212、インバータ213および
インバータ233に入力する。
【0063】NAND機能回路211の出力はNAND
回路221の一方の入力端子に、NAND機能回路21
2の出力はNAND回路222の一方の入力端子に、イ
ンバータ213の出力はNAND回路223の一方の入
力端子に、それぞれ入力する。
回路221の一方の入力端子に、NAND機能回路21
2の出力はNAND回路222の一方の入力端子に、イ
ンバータ213の出力はNAND回路223の一方の入
力端子に、それぞれ入力する。
【0064】NAND回路221、222および223
の他方の入力端子には、NAND機能回路205の出力
が入力する。NAND機能回路205には、ラッチ回路
21の出力QDとインバータ204の出力とが入力す
る。
の他方の入力端子には、NAND機能回路205の出力
が入力する。NAND機能回路205には、ラッチ回路
21の出力QDとインバータ204の出力とが入力す
る。
【0065】NAND回路221の出力は正マスク回路
110のAND機能回路113およびAND機能回路1
14の第2入力端子に入力する。NAND回路222の
出力は正マスク回路110のAND機能回路112の第
2入力端子に入力する。NAND回路223の出力は正
マスク回路110のAND機能回路111の第2入力端
子に入力する。
110のAND機能回路113およびAND機能回路1
14の第2入力端子に入力する。NAND回路222の
出力は正マスク回路110のAND機能回路112の第
2入力端子に入力する。NAND回路223の出力は正
マスク回路110のAND機能回路111の第2入力端
子に入力する。
【0066】インバータ231の出力はNOR回路24
1に、インバータ232の出力はNOR回路241およ
びNOR回路242に、インバータ233の出力はNO
R回路241、NOR回路242およびインバータ24
3に入力する。
1に、インバータ232の出力はNOR回路241およ
びNOR回路242に、インバータ233の出力はNO
R回路241、NOR回路242およびインバータ24
3に入力する。
【0067】NOR回路241の出力はNOR機能回路
251の一方の入力端子に、NOR回路242の出力は
NOR機能回路252の一方の入力端子に、インバータ
243の出力はNOR機能回路253の一方の入力端子
に、それぞれ入力する。
251の一方の入力端子に、NOR回路242の出力は
NOR機能回路252の一方の入力端子に、インバータ
243の出力はNOR機能回路253の一方の入力端子
に、それぞれ入力する。
【0068】NOR機能回路251、252および25
3の他方の入力端子には、NAND機能回路205の出
力が入力する。
3の他方の入力端子には、NAND機能回路205の出
力が入力する。
【0069】NOR機能回路251の出力は、負マスク
回路120のOR回路123およびOR回路124の第
2入力端子に入力する。NOR機能回路252の出力
は、負マスク回路120のOR回路122の第2入力端
子に入力する。NOR機能回路253の出力は、負マス
ク回路120のOR回路121の第2入力端子に入力す
る。
回路120のOR回路123およびOR回路124の第
2入力端子に入力する。NOR機能回路252の出力
は、負マスク回路120のOR回路122の第2入力端
子に入力する。NOR機能回路253の出力は、負マス
ク回路120のOR回路121の第2入力端子に入力す
る。
【0070】ラツチ回路21の出力QDが「0」のとき
には、NAND機能回路205の出力は、常に「1」と
なる。したがって、NOR機能回路251〜253の出
力は、常に「0」となる。この結果、マスク回路100
の出力は、正マスク回路110の出力となる。
には、NAND機能回路205の出力は、常に「1」と
なる。したがって、NOR機能回路251〜253の出
力は、常に「0」となる。この結果、マスク回路100
の出力は、正マスク回路110の出力となる。
【0071】ラツチ回路21の出力QDが1でかつイン
バータ204の出力が「1」(カウンタ4の出力QDが
0)のときには、NAND機能回路205の出力は
「0」となる。したがって、NAND回路221〜22
3の出力は、常に「1」となる。この結果、負マスク回
路120のOR回路121〜124の第1入力端子に
は、ラッチ回路21の出力QA〜QDが入力することに
なる。つまり、この場合には、マスク回路100の出力
は、負マスク回路120の出力となる。
バータ204の出力が「1」(カウンタ4の出力QDが
0)のときには、NAND機能回路205の出力は
「0」となる。したがって、NAND回路221〜22
3の出力は、常に「1」となる。この結果、負マスク回
路120のOR回路121〜124の第1入力端子に
は、ラッチ回路21の出力QA〜QDが入力することに
なる。つまり、この場合には、マスク回路100の出力
は、負マスク回路120の出力となる。
【0072】ラツチ回路21の出力QDが「1」でかつ
インバータ204の出力が「0」(カウンタ4の出力Q
Dが「1」)のときには、NAND機能回路205の出
力は、常に「1」となる。したがって、NOR機能回路
251〜253の出力は、常に「0」となる。この結
果、マスク回路100の出力は、正マスク回路110の
出力となる。
インバータ204の出力が「0」(カウンタ4の出力Q
Dが「1」)のときには、NAND機能回路205の出
力は、常に「1」となる。したがって、NOR機能回路
251〜253の出力は、常に「0」となる。この結
果、マスク回路100の出力は、正マスク回路110の
出力となる。
【0073】以下、図8の動作を、カウンタ4のカウン
ト値が0の場合(ステップ0)、1の場合(ステップ
1)、2および3の場合(ステップ2)、4〜7の場合
(ステップ3)、8以上の場合(ステップ4)に分けて
説明する。
ト値が0の場合(ステップ0)、1の場合(ステップ
1)、2および3の場合(ステップ2)、4〜7の場合
(ステップ3)、8以上の場合(ステップ4)に分けて
説明する。
【0074】(1)カウンタ4のカウント値が0の場
合。
合。
【0075】この場合には、カウンタ4の出力QA、Q
B、QCおよびQCは、ともに「0」である。したがっ
て、インバータ201、202、203および203の
出力が全て「1」となり、NAND機能回路211およ
び212ならびにインバータ213の出力が全て「0」
となり、NAND機能回路121、122および123
の出力は常に「1」となる。
B、QCおよびQCは、ともに「0」である。したがっ
て、インバータ201、202、203および203の
出力が全て「1」となり、NAND機能回路211およ
び212ならびにインバータ213の出力が全て「0」
となり、NAND機能回路121、122および123
の出力は常に「1」となる。
【0076】また、インバータ231、232および2
34の出力は「0」となり、NOR回路241および2
42ならびにインバータ243の出力は「1」となり、
NOR機能回路251、252および253の出力は常
に「0」となる。したがって、この場合は、マスク回路
100からは、ラッチ回路21の出力QA〜QDがその
まま出力され、排他的論理和回路51〜54に送られ
る。この結果、変化点でカウンタ3にリセツトがかけら
れる。
34の出力は「0」となり、NOR回路241および2
42ならびにインバータ243の出力は「1」となり、
NOR機能回路251、252および253の出力は常
に「0」となる。したがって、この場合は、マスク回路
100からは、ラッチ回路21の出力QA〜QDがその
まま出力され、排他的論理和回路51〜54に送られ
る。この結果、変化点でカウンタ3にリセツトがかけら
れる。
【0077】(2)カウンタ4のカウント値が1の場
合。
合。
【0078】(2−1)ラツチ回路21の出力QDが
「0」の場合。
「0」の場合。
【0079】ラッチ回路21の出力QDが「0」である
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、正マスク回路110の出力となる。
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、正マスク回路110の出力となる。
【0080】この場合には、カウンタ4の出力QAが
「1」であり、QB、QCおよびQDは「0」である。
したがって、インバータ201の出力が「0」、インバ
ータ202、203および204の出力が「1」とな
り、NAND機能回路211の出力が「1」、NAND
機能回路212およびインバータ213の出力が「0」
となる。
「1」であり、QB、QCおよびQDは「0」である。
したがって、インバータ201の出力が「0」、インバ
ータ202、203および204の出力が「1」とな
り、NAND機能回路211の出力が「1」、NAND
機能回路212およびインバータ213の出力が「0」
となる。
【0081】ラッチ回路21の出力QDが0である場合
には、NAND機能回路205の出力は「1」なので、
NAND回路221の出力が「0」、NAND回路22
2および223の出力が「1」となる。
には、NAND機能回路205の出力は「1」なので、
NAND回路221の出力が「0」、NAND回路22
2および223の出力が「1」となる。
【0082】したがって、正マスク回路110のAND
機能回路113および114の出力は、常に「0」とな
る。また、AND機能回路111の出力は、ラッチ回路
21の出力QAが「1」であれば「1」となり、ラッチ
回路21の出力QAが「0」であれば「0」となる。同
様に、AND機能回路112の出力は、ラッチ回路21
の出力QBが「1」であれば「1」となり、ラッチ回路
21の出力QBが「0」であれば「0」となる。
機能回路113および114の出力は、常に「0」とな
る。また、AND機能回路111の出力は、ラッチ回路
21の出力QAが「1」であれば「1」となり、ラッチ
回路21の出力QAが「0」であれば「0」となる。同
様に、AND機能回路112の出力は、ラッチ回路21
の出力QBが「1」であれば「1」となり、ラッチ回路
21の出力QBが「0」であれば「0」となる。
【0083】この結果、ラッチ回路21の出力QD〜Q
Aで表される2進数が「0000」、「0001」、
「0010」、「0011」のときはマスク回路100
の出力はそれと同じ2進数である「0000」、「00
01」、「0010」、「0011」となり、カウンタ
3の出力が「0000」、「0001」、「001
0」、「0011」のときカウンタ3がリセットされ
る。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜QAで表
される2進数が「0000」、「0001」、「001
0」、「0011」のときは、すなわち、その変化点で
の正方向同期ずれ幅が3以下であるときには、その変化
点での同期ずれ幅が零になるように、修正される。
Aで表される2進数が「0000」、「0001」、
「0010」、「0011」のときはマスク回路100
の出力はそれと同じ2進数である「0000」、「00
01」、「0010」、「0011」となり、カウンタ
3の出力が「0000」、「0001」、「001
0」、「0011」のときカウンタ3がリセットされ
る。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜QAで表
される2進数が「0000」、「0001」、「001
0」、「0011」のときは、すなわち、その変化点で
の正方向同期ずれ幅が3以下であるときには、その変化
点での同期ずれ幅が零になるように、修正される。
【0084】ラッチ回路21の出力QDからQAで表さ
れる2進数が「0100」、「0101」、「011
0」、「0111」のときはマスク回路100の出力
は、「0000」、「0001」、「0010」、「0
011」となり、カウンタ3の出力が「0000」、
「0001」、「0010」、「0011」のときカウ
ンタ3がリセットされる。したがって、ラッチ回路21
の出力QDからQAで表される2進数が「0100」、
「0101」、「0110」、「0111」のときは、
すなわち、その変化点での正方向同期ずれ幅が4以上で
あるときには、そのずれ幅が10進数で+4に修正され
る。
れる2進数が「0100」、「0101」、「011
0」、「0111」のときはマスク回路100の出力
は、「0000」、「0001」、「0010」、「0
011」となり、カウンタ3の出力が「0000」、
「0001」、「0010」、「0011」のときカウ
ンタ3がリセットされる。したがって、ラッチ回路21
の出力QDからQAで表される2進数が「0100」、
「0101」、「0110」、「0111」のときは、
すなわち、その変化点での正方向同期ずれ幅が4以上で
あるときには、そのずれ幅が10進数で+4に修正され
る。
【0085】(2−2)ラツチ回路21の出力QDが
「1」の場合。
「1」の場合。
【0086】ラッチ回路21の出力QDが「1」である
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、負マスク回路120の出力となる。
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、負マスク回路120の出力となる。
【0087】この場合には、カウンタ4の出力QAが
「1」であり、QB、QCおよびQDは「0」である。
したがって、インバータ201の出力が「0」、インバ
ータ202、203および204の出力が「1」とな
り、インバータ231の出力が「1」、インバータ23
2および233の出力が「0」となり、NOR回路24
1の出力が「0」、NOR回路242およびインバータ
243の出力が「1」となる。
「1」であり、QB、QCおよびQDは「0」である。
したがって、インバータ201の出力が「0」、インバ
ータ202、203および204の出力が「1」とな
り、インバータ231の出力が「1」、インバータ23
2および233の出力が「0」となり、NOR回路24
1の出力が「0」、NOR回路242およびインバータ
243の出力が「1」となる。
【0088】ラッチ回路21の出力QDが「1」であ
り、カウンタ4の出力QDが「1」であるので、NAN
D機能回路205の出力は「0」となるで、NOR機能
回路251の出力が「1」、NOR機能回路252およ
び253の出力が「0」となる。
り、カウンタ4の出力QDが「1」であるので、NAN
D機能回路205の出力は「0」となるで、NOR機能
回路251の出力が「1」、NOR機能回路252およ
び253の出力が「0」となる。
【0089】したがって、負マスク回路120のOR回
路123および124の出力は、常に「1」となる。ま
た、OR回路121の出力は、ラッチ回路21の出力Q
Aが「1」であれば「1」となり、ラッチ回路21の出
力QAが「0」であれば「0」となる。同様に、OR回
路122の出力は、ラッチ回路21の出力QBが「1」
であれば「1」となり、ラッチ回路21の出力QBが
「0」であれば「0」となる。
路123および124の出力は、常に「1」となる。ま
た、OR回路121の出力は、ラッチ回路21の出力Q
Aが「1」であれば「1」となり、ラッチ回路21の出
力QAが「0」であれば「0」となる。同様に、OR回
路122の出力は、ラッチ回路21の出力QBが「1」
であれば「1」となり、ラッチ回路21の出力QBが
「0」であれば「0」となる。
【0090】この結果、ラッチ回路21の出力QD〜Q
Aで表される2進数が「1111」、「1110」、
「1101」、「1100」のときはマスク回路100
の出力はそれと同じ2進数である「1111」、「11
10」、「1101」、「1100」となり、カウンタ
3の出力が「1111」、「1110」、「110
1」、「1100」のときカウンタ3がリセットされ
る。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜QAで表
される2進数が「1111」、「1110」、「110
1」、「1100」のときは、すなわち、その変化点で
の負方向同期ずれ幅が4以下であるときには、その変化
点での同期ずれ幅が零になるように、修正される。
Aで表される2進数が「1111」、「1110」、
「1101」、「1100」のときはマスク回路100
の出力はそれと同じ2進数である「1111」、「11
10」、「1101」、「1100」となり、カウンタ
3の出力が「1111」、「1110」、「110
1」、「1100」のときカウンタ3がリセットされ
る。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜QAで表
される2進数が「1111」、「1110」、「110
1」、「1100」のときは、すなわち、その変化点で
の負方向同期ずれ幅が4以下であるときには、その変化
点での同期ずれ幅が零になるように、修正される。
【0091】ラッチ回路21の出力QDからQAで表さ
れる2進数が「1011」、「1010」、「100
1」、「1000」のときはマスク回路100の出力
は、「1111」、「1110」、「1101」、「1
100」となり、カウンタ3の出力が「1111」、
「1110」、「1101」、「1100」のときカウ
ンタ3がリセットされる。したがって、ラッチ回路21
の出力QDからQAで表される2進数が「1011」、
「1010」、「1001」、「1000」のときは、
すなわち、その変化点での負方向同期ずれ幅が5以上で
あるときには、そのずれ幅が−4に修正される。
れる2進数が「1011」、「1010」、「100
1」、「1000」のときはマスク回路100の出力
は、「1111」、「1110」、「1101」、「1
100」となり、カウンタ3の出力が「1111」、
「1110」、「1101」、「1100」のときカウ
ンタ3がリセットされる。したがって、ラッチ回路21
の出力QDからQAで表される2進数が「1011」、
「1010」、「1001」、「1000」のときは、
すなわち、その変化点での負方向同期ずれ幅が5以上で
あるときには、そのずれ幅が−4に修正される。
【0092】(3)カウンタ4のカウント値が2および
3の場合。
3の場合。
【0093】(3−1)ラツチ回路21の出力QDが
「0」の場合。
「0」の場合。
【0094】ラッチ回路21の出力QDが「0」である
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、正マスク回路110の出力となる。
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、正マスク回路110の出力となる。
【0095】この場合には、カウンタ4の出力QAが
「0」または「1」であり、QBが「1」であり、QC
およびQDは「0」である。したがって、インバータ2
01の出力が「0」または「1」、インバータ202の
出力が「0」、インバータ203および204の出力が
「1」となり、NAND機能回路211および212の
出力が「1」、インバータ213の出力が「0」とな
る。
「0」または「1」であり、QBが「1」であり、QC
およびQDは「0」である。したがって、インバータ2
01の出力が「0」または「1」、インバータ202の
出力が「0」、インバータ203および204の出力が
「1」となり、NAND機能回路211および212の
出力が「1」、インバータ213の出力が「0」とな
る。
【0096】ラッチ回路21の出力QDが0である場合
には、NAND機能回路205の出力は「1」なので、
NAND回路221および222の出力が「0」、NA
ND回路223の出力が「1」となる。
には、NAND機能回路205の出力は「1」なので、
NAND回路221および222の出力が「0」、NA
ND回路223の出力が「1」となる。
【0097】したがって、正マスク回路110のAND
機能回路112、113および114の出力は、常に
「0」となる。また、AND機能回路111の出力は、
ラッチ回路21の出力QAが「1」であれば「1」とな
り、ラッチ回路21の出力QAが「0」であれば「0」
となる。
機能回路112、113および114の出力は、常に
「0」となる。また、AND機能回路111の出力は、
ラッチ回路21の出力QAが「1」であれば「1」とな
り、ラッチ回路21の出力QAが「0」であれば「0」
となる。
【0098】この結果、ラッチ回路21の出力QD〜Q
Aで表される2進数が「0000」、「0001」のと
きはマスク回路100の出力はそれと同じ2進数である
「0000」、「0001」となり、カウンタ3の出力
が「0000」、「0001」のときカウンタ3がリセ
ットされる。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜
QAで表される2進数が「0000」、「0001」の
ときは、すなわち、その変化点での正方向同期ずれ幅が
1以下であるときには、その変化点での同期ずれ幅が零
になるように、修正される。
Aで表される2進数が「0000」、「0001」のと
きはマスク回路100の出力はそれと同じ2進数である
「0000」、「0001」となり、カウンタ3の出力
が「0000」、「0001」のときカウンタ3がリセ
ットされる。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜
QAで表される2進数が「0000」、「0001」の
ときは、すなわち、その変化点での正方向同期ずれ幅が
1以下であるときには、その変化点での同期ずれ幅が零
になるように、修正される。
【0099】ラッチ回路21の出力QD〜QAで表され
る2進数が「0010」、「0011」のときはマスク
回路100の出力は「0000」、「0001」とな
り、カウンタ3の出力が「0000」、「0001」の
ときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッチ
回路21の出力QD〜QAで表される2進数が「001
0」、「0011」のときは、すなわち、その変化点で
の正方向同期ずれ幅が2および3のときには、その変化
点での同期ずれ幅が+2になるように、修正される。
る2進数が「0010」、「0011」のときはマスク
回路100の出力は「0000」、「0001」とな
り、カウンタ3の出力が「0000」、「0001」の
ときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッチ
回路21の出力QD〜QAで表される2進数が「001
0」、「0011」のときは、すなわち、その変化点で
の正方向同期ずれ幅が2および3のときには、その変化
点での同期ずれ幅が+2になるように、修正される。
【0100】ラッチ回路21の出力QDからQAで表さ
れる2進数が「0100」、「0101」のときはマス
ク回路100の出力は、「0000」、「0001」と
なり、カウンタ3の出力が「0000」、「0001」
のときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッ
チ回路21の出力QDからQAで表される2進数が「0
100」、「0101」のときは、すなわち、その変化
点での正方向同期ずれ幅が4および5のときには、その
ずれ幅が+4に修正される。
れる2進数が「0100」、「0101」のときはマス
ク回路100の出力は、「0000」、「0001」と
なり、カウンタ3の出力が「0000」、「0001」
のときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッ
チ回路21の出力QDからQAで表される2進数が「0
100」、「0101」のときは、すなわち、その変化
点での正方向同期ずれ幅が4および5のときには、その
ずれ幅が+4に修正される。
【0101】ラッチ回路21の出力QDからQAで表さ
れる2進数が「0110」、「0111」のときはマス
ク回路100の出力は、「0000」、「0001」と
なり、カウンタ3の出力が「0000」、「0001」
のときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッ
チ回路21の出力QDからQAで表される2進数が「0
110」、「0111」のときは、すなわち、その変化
点での正方向同期ずれ幅が6および7のときには、その
ずれ幅が+6に修正される。
れる2進数が「0110」、「0111」のときはマス
ク回路100の出力は、「0000」、「0001」と
なり、カウンタ3の出力が「0000」、「0001」
のときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッ
チ回路21の出力QDからQAで表される2進数が「0
110」、「0111」のときは、すなわち、その変化
点での正方向同期ずれ幅が6および7のときには、その
ずれ幅が+6に修正される。
【0102】(3−2)ラツチ回路21の出力QDが
「1」の場合。
「1」の場合。
【0103】ラッチ回路21の出力QDが「1」である
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、負マスク回路120の出力となる。
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、負マスク回路120の出力となる。
【0104】この場合には、カウンタ4の出力QAが
「0」または「1」であり、QBが「1」であり、QC
およびQDは「0」である。したがって、インバータ2
01の出力が「0」または「1」、インバータ202の
出力が「0」、インバータ203および204の出力が
「1」となり、インバータ231の出力が「0」または
「1」、インバータ232の出力が「1」、インバータ
233の出力が「0」となり、NOR回路241および
242の出力が「0」、インバータ243の出力が
「1」となる。
「0」または「1」であり、QBが「1」であり、QC
およびQDは「0」である。したがって、インバータ2
01の出力が「0」または「1」、インバータ202の
出力が「0」、インバータ203および204の出力が
「1」となり、インバータ231の出力が「0」または
「1」、インバータ232の出力が「1」、インバータ
233の出力が「0」となり、NOR回路241および
242の出力が「0」、インバータ243の出力が
「1」となる。
【0105】ラッチ回路21の出力QDが「1」であ
り、カウンタ4の出力QDが「0」であるので、NAN
D機能回路205の出力は「0」となるで、NOR機能
回路251および252の出力が「1」、NOR機能回
路253の出力が「0」となる。
り、カウンタ4の出力QDが「0」であるので、NAN
D機能回路205の出力は「0」となるで、NOR機能
回路251および252の出力が「1」、NOR機能回
路253の出力が「0」となる。
【0106】したがって、負マスク回路120のOR回
路122、123および124の出力は、常に「1」と
なる。また、OR回路121の出力は、ラッチ回路21
の出力QAが「1」であれば「1」となり、ラッチ回路
21の出力QAが「0」であれば「0」となる。
路122、123および124の出力は、常に「1」と
なる。また、OR回路121の出力は、ラッチ回路21
の出力QAが「1」であれば「1」となり、ラッチ回路
21の出力QAが「0」であれば「0」となる。
【0107】この結果、ラッチ回路21の出力QD〜Q
Aで表される2進数が「1111」、「1110」のと
きはマスク回路100の出力はそれと同じ2進数である
「1111」、「1110」となり、カウンタ3の出力
が「1111」、「1110」のときカウンタ3がリセ
ットされる。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜
QAで表される2進数が「1111」、「1110」の
ときは、すなわち、その変化点での負方向同期ずれ幅が
2以下であるときには、その変化点での同期ずれ幅が零
になるように、修正される。
Aで表される2進数が「1111」、「1110」のと
きはマスク回路100の出力はそれと同じ2進数である
「1111」、「1110」となり、カウンタ3の出力
が「1111」、「1110」のときカウンタ3がリセ
ットされる。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜
QAで表される2進数が「1111」、「1110」の
ときは、すなわち、その変化点での負方向同期ずれ幅が
2以下であるときには、その変化点での同期ずれ幅が零
になるように、修正される。
【0108】ラッチ回路21の出力QD〜QAで表され
る2進数が「1101」、「1100」のときはマスク
回路100の出力は「1111」、「1110」とな
り、カウンタ3の出力が「1111」、「1110」の
ときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッチ
回路21の出力QD〜QAで表される2進数が「110
1」、「1100」のときは、すなわち、その変化点で
の負方向同期ずれ幅が3または4のときには、そのずれ
幅が−2に修正される。
る2進数が「1101」、「1100」のときはマスク
回路100の出力は「1111」、「1110」とな
り、カウンタ3の出力が「1111」、「1110」の
ときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッチ
回路21の出力QD〜QAで表される2進数が「110
1」、「1100」のときは、すなわち、その変化点で
の負方向同期ずれ幅が3または4のときには、そのずれ
幅が−2に修正される。
【0109】ラッチ回路21の出力QDからQAで表さ
れる2進数が「1011」、「1010」のときはマス
ク回路100の出力は、「1111」、「1110」と
なり、カウンタ3の出力が「1111」、「1110」
のときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッ
チ回路21の出力QDからQAで表される2進数が「1
011」、「1010」のときは、すなわち、その変化
点での負方向同期ずれ幅が5または6のときには、その
ずれ幅が−4に修正される。
れる2進数が「1011」、「1010」のときはマス
ク回路100の出力は、「1111」、「1110」と
なり、カウンタ3の出力が「1111」、「1110」
のときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッ
チ回路21の出力QDからQAで表される2進数が「1
011」、「1010」のときは、すなわち、その変化
点での負方向同期ずれ幅が5または6のときには、その
ずれ幅が−4に修正される。
【0110】ラッチ回路21の出力QDからQAで表さ
れる2進数が「1001」、「1000」のときはマス
ク回路100の出力は、「1111」、「1110」と
なり、カウンタ3の出力が「1111」、「1110」
のときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッ
チ回路21の出力QDからQAで表される2進数が「1
001」、「1000」のときは、すなわち、その変化
点での負方向同期ずれ幅が7または8のときには、その
ずれ幅が−6に修正される。
れる2進数が「1001」、「1000」のときはマス
ク回路100の出力は、「1111」、「1110」と
なり、カウンタ3の出力が「1111」、「1110」
のときカウンタ3がリセットされる。したがって、ラッ
チ回路21の出力QDからQAで表される2進数が「1
001」、「1000」のときは、すなわち、その変化
点での負方向同期ずれ幅が7または8のときには、その
ずれ幅が−6に修正される。
【0111】(4)カウンタ4のカウント値が4〜7の
場合。
場合。
【0112】(4−1)ラツチ回路21の出力QDが
「0」の場合。
「0」の場合。
【0113】ラッチ回路21の出力QDが「0」である
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、正マスク回路110の出力となる。
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、正マスク回路110の出力となる。
【0114】この場合には、カウンタ4の出力QAおよ
びQBが「0」または「1」であり、QCが「1」であ
り、QDが「0」である。したがって、インバータ20
1および202の出力が「0」または「1」、インバー
タ203の出力が「0」、インバータ204の出力が
「1」となり、NAND機能回路211および212な
らびにインバータ213の出力が「1」となる。
びQBが「0」または「1」であり、QCが「1」であ
り、QDが「0」である。したがって、インバータ20
1および202の出力が「0」または「1」、インバー
タ203の出力が「0」、インバータ204の出力が
「1」となり、NAND機能回路211および212な
らびにインバータ213の出力が「1」となる。
【0115】ラッチ回路21の出力QDが0である場合
には、NAND機能回路205の出力は「1」なので、
NAND回路221、222およびNAND回路223
の出力が「0」となる。
には、NAND機能回路205の出力は「1」なので、
NAND回路221、222およびNAND回路223
の出力が「0」となる。
【0116】したがって、正マスク回路110のAND
機能回路112、113、114および115の出力
は、常に「0」となる。
機能回路112、113、114および115の出力
は、常に「0」となる。
【0117】この結果、ラッチ回路21の出力QD〜Q
Aで表される2進数が「0000」〜「0111」のと
きは、マスク回路100の出力は「0000」となり、
カウンタ3の出力が「0000」のときカウンタ3がリ
セットされる。したがって、ラッチ回路21の出力QD
〜QAで表される2進数が「0000」〜「0111」
のときは、すなわち、その変化点での同期ずれが正方向
同期ずれであるときには、その変化点での同期ずれ幅は
修正されない。
Aで表される2進数が「0000」〜「0111」のと
きは、マスク回路100の出力は「0000」となり、
カウンタ3の出力が「0000」のときカウンタ3がリ
セットされる。したがって、ラッチ回路21の出力QD
〜QAで表される2進数が「0000」〜「0111」
のときは、すなわち、その変化点での同期ずれが正方向
同期ずれであるときには、その変化点での同期ずれ幅は
修正されない。
【0118】(4−2)ラツチ回路21の出力QDが
「1」の場合。
「1」の場合。
【0119】ラッチ回路21の出力QDが「1」である
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、負マスク回路120の出力となる。
場合には、上述したように、マスク回路100の出力
は、負マスク回路120の出力となる。
【0120】この場合には、カウンタ4の出力QAおよ
びQBが「0」または「1」であり、QCが「1」であ
り、QDが「0」である。したがって、インバータ20
1および202の出力が「0」または「1」、インバー
タ203の出力が「0」、インバータ204の出力が
「1」となり、インバータ231および232の出力が
「0」または「1」、インバータ233の出力が「1」
となり、NOR回路241および242ならびにインバ
ータ243の出力が「0」となる。
びQBが「0」または「1」であり、QCが「1」であ
り、QDが「0」である。したがって、インバータ20
1および202の出力が「0」または「1」、インバー
タ203の出力が「0」、インバータ204の出力が
「1」となり、インバータ231および232の出力が
「0」または「1」、インバータ233の出力が「1」
となり、NOR回路241および242ならびにインバ
ータ243の出力が「0」となる。
【0121】ラッチ回路21の出力QDが「1」であ
り、カウンタ4の出力QDが「0」であるので、NAN
D機能回路205の出力は「0」となるで、NOR機能
回路251、252および253の出力が「1」とな
る。
り、カウンタ4の出力QDが「0」であるので、NAN
D機能回路205の出力は「0」となるで、NOR機能
回路251、252および253の出力が「1」とな
る。
【0122】したがって、負マスク回路120のOR回
路122、123、124および125の出力は、常に
「1」となる。
路122、123、124および125の出力は、常に
「1」となる。
【0123】この結果、ラッチ回路21の出力QD〜Q
Aで表される2進数が「1000」〜「1111」のと
きはマスク回路100の出力は「1111」となり、カ
ウンタ3の出力が「1111」のときカウンタ3がリセ
ットされる。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜
QAで表される2進数が「1000」〜「1111」の
ときは、すなわち、その変化点での同期ずれが負方向で
あるときには、その変化点での同期ずれ幅が1ずつ修正
される。
Aで表される2進数が「1000」〜「1111」のと
きはマスク回路100の出力は「1111」となり、カ
ウンタ3の出力が「1111」のときカウンタ3がリセ
ットされる。したがって、ラッチ回路21の出力QD〜
QAで表される2進数が「1000」〜「1111」の
ときは、すなわち、その変化点での同期ずれが負方向で
あるときには、その変化点での同期ずれ幅が1ずつ修正
される。
【0124】(5)カウンタ4のカウント値が8以上の
場合。
場合。
【0125】(5−1)ラツチ回路21の出力QDが
「0」の場合。
「0」の場合。
【0126】この場合には、カウンタ4の出力QA、Q
BおよびQCが「0」または「1」となり、QDが
「1」となるが、AND機能回路206の出力は「0」
となるので、上記(4−1)の動作と同じとなる。
BおよびQCが「0」または「1」となり、QDが
「1」となるが、AND機能回路206の出力は「0」
となるので、上記(4−1)の動作と同じとなる。
【0127】したがって、ラッチ回路21の出力QD〜
QAで表される2進数が「0000」〜「0111」の
ときは、すなわち、その変化点での同期ずれが正方向同
期ずれであるときには、その変化点での同期ずれ幅は修
正されない。
QAで表される2進数が「0000」〜「0111」の
ときは、すなわち、その変化点での同期ずれが正方向同
期ずれであるときには、その変化点での同期ずれ幅は修
正されない。
【0128】(5−2)ラツチ回路21の出力QDが
「1」の場合。
「1」の場合。
【0129】この場合には、NAND機能回路205の
出力が「1」となるのでNOR機能回路251〜253
の出力は、常に0となる。この結果、マスク回路100
の出力は、正マスク回路110の出力となる。
出力が「1」となるのでNOR機能回路251〜253
の出力は、常に0となる。この結果、マスク回路100
の出力は、正マスク回路110の出力となる。
【0130】したがって、ラッチ回路21の出力QD〜
QAで表される2進数が「1000」〜「1111」の
ときも、すなわち、その変化点での同期ずれが負方向同
期ずれであるときにも、その変化点での同期ずれ幅は修
正されない。
QAで表される2進数が「1000」〜「1111」の
ときも、すなわち、その変化点での同期ずれが負方向同
期ずれであるときにも、その変化点での同期ずれ幅は修
正されない。
【0131】この第4実施例によれば、ノイズによる誤
動作の発生を少なくし、しかも変化点の変化に同期回路
を追従させることができる。上記の例でいえば、ステッ
プ1ではずれ幅が−4から+3の範囲で入力信号に同期
回路を追従させており、ノイズによる誤差発生幅も−4
から+3の範囲内となる。ステップ2ではずれ幅が−2
から+1の範囲で入力信号に同期回路を追従させてお
り、ノイズによる誤差発生幅も−2から+1の範囲内と
なる。ステップ3ではずれ幅が−1から0の範囲で入力
信号に同期回路を追従させており、ノイズによる誤差発
生幅も−1から0の範囲内となる。
動作の発生を少なくし、しかも変化点の変化に同期回路
を追従させることができる。上記の例でいえば、ステッ
プ1ではずれ幅が−4から+3の範囲で入力信号に同期
回路を追従させており、ノイズによる誤差発生幅も−4
から+3の範囲内となる。ステップ2ではずれ幅が−2
から+1の範囲で入力信号に同期回路を追従させてお
り、ノイズによる誤差発生幅も−2から+1の範囲内と
なる。ステップ3ではずれ幅が−1から0の範囲で入力
信号に同期回路を追従させており、ノイズによる誤差発
生幅も−1から0の範囲内となる。
【0132】上述した第1〜第4の実施例までのデジタ
ルデータ検出回路は、同期信号生成カウンタのリセット
信号を供給するリセット制御回路を制御してスパイクや
ノイズジッタの影響を排除し、データの検出のエラー発
生を防止するように構成したものである。
ルデータ検出回路は、同期信号生成カウンタのリセット
信号を供給するリセット制御回路を制御してスパイクや
ノイズジッタの影響を排除し、データの検出のエラー発
生を防止するように構成したものである。
【0133】この発明の第5の実施例では、データの変
化点検出回路でノイズの場合にはデータ変化点として検
出しないように制御し、ノイズの影響を排除したもので
ある。
化点検出回路でノイズの場合にはデータ変化点として検
出しないように制御し、ノイズの影響を排除したもので
ある。
【0134】この第5の実施例につき図9ないし図13
に従い説明する。図9はこの第5の実施例に係るデジタ
ルデータ検出回路の構成を示すブロック図、図10はこ
の第5の実施例に適用されるデータ変化点検出回路を示
す回路図、図11は、図10の変化点検出回路に用いら
れるモジュールの回路図である。図12および図13は
第5の実施例のタイミングチャートであり、図12は同
期はずれ頻度が最大の時から夫々頻度が減少した時を示
し、図14は同期はずれ頻度が最小の時を示す。
に従い説明する。図9はこの第5の実施例に係るデジタ
ルデータ検出回路の構成を示すブロック図、図10はこ
の第5の実施例に適用されるデータ変化点検出回路を示
す回路図、図11は、図10の変化点検出回路に用いら
れるモジュールの回路図である。図12および図13は
第5の実施例のタイミングチャートであり、図12は同
期はずれ頻度が最大の時から夫々頻度が減少した時を示
し、図14は同期はずれ頻度が最小の時を示す。
【0135】まず、図9に従いこの発明の第5の実施例
の全体構成について説明する。図9において、3は同期
信号生成カウンタであり、入力される内部クロックを元
周期とするカウンタで、このクロックを任意に分周して
データの受信クロックを作成する。このカウンタ3にリ
セットがかかることにより受信データクロックが再生さ
れる。
の全体構成について説明する。図9において、3は同期
信号生成カウンタであり、入力される内部クロックを元
周期とするカウンタで、このクロックを任意に分周して
データの受信クロックを作成する。このカウンタ3にリ
セットがかかることにより受信データクロックが再生さ
れる。
【0136】40は同期はずれ頻度検出回路であり、前
述した第1〜第4の実施例に示す同期はずれ検出回路2
により検出した同期はずれ信号あるいはリンク接続のハ
ードまたはソフトからなるマネージャーより与えられる
同期はずれ信号に基いて、同期はずれの頻度を表わす信
号MA〜MCを作成し、後述するデータ変化点検出回路
30へ供給する。
述した第1〜第4の実施例に示す同期はずれ検出回路2
により検出した同期はずれ信号あるいはリンク接続のハ
ードまたはソフトからなるマネージャーより与えられる
同期はずれ信号に基いて、同期はずれの頻度を表わす信
号MA〜MCを作成し、後述するデータ変化点検出回路
30へ供給する。
【0137】この同期はずれの頻度を表わす信号MA〜
MC信号は、本実施例においては、同期はずれの頻度の
高い順に、(MA、MB、MC)=(H、H、H)、
(H、H、L)、(H、L、L)、(L、L、L)と4
段階に変化する。ここで云う頻度とは、例えばある一定
時間に何回同期はずれを起こしたかということを計数カ
ウンタにて計数した値をモディファイしたものを用いる
ことができる。
MC信号は、本実施例においては、同期はずれの頻度の
高い順に、(MA、MB、MC)=(H、H、H)、
(H、H、L)、(H、L、L)、(L、L、L)と4
段階に変化する。ここで云う頻度とは、例えばある一定
時間に何回同期はずれを起こしたかということを計数カ
ウンタにて計数した値をモディファイしたものを用いる
ことができる。
【0138】データ変化点検出回路30は内部クロック
により、入力されるデジタルデータ(DIN)をサンプ
リングして、同期はずれ頻度検出回路40からの出力信
号MA〜MCに対応して、ノイズの判定幅を変化させ
る。そして、入力されたデータがノイズであるか受信デ
ータであるかを判定し、受信データならば、ANS信号
が”L”→”H”又は”H”→”L”に変化し、リセッ
ト制御回路5へ供給する。
により、入力されるデジタルデータ(DIN)をサンプ
リングして、同期はずれ頻度検出回路40からの出力信
号MA〜MCに対応して、ノイズの判定幅を変化させ
る。そして、入力されたデータがノイズであるか受信デ
ータであるかを判定し、受信データならば、ANS信号
が”L”→”H”又は”H”→”L”に変化し、リセッ
ト制御回路5へ供給する。
【0139】リセット制御回路5は内部クロック及びデ
ータ変化点検出回路30からのANS信号が入力され
る。そして、ANS信号からワンショットのLパルスの
リセット信号を生成し、このリセット信号を同期信号生
成カウンタ3に供給する。同期信号生成カウンタ1は前
述したように、このリセット信号により、リセットがか
かると、内部クロックに同期した受信データクロックを
再生し、出力する。
ータ変化点検出回路30からのANS信号が入力され
る。そして、ANS信号からワンショットのLパルスの
リセット信号を生成し、このリセット信号を同期信号生
成カウンタ3に供給する。同期信号生成カウンタ1は前
述したように、このリセット信号により、リセットがか
かると、内部クロックに同期した受信データクロックを
再生し、出力する。
【0140】さて、この第5の実施例の特徴とするとこ
ろは、上述したデータ変化点検出回路30の構成にあ
る。図10ないし図13に従いデータ変化点検出回路3
0並びにこの第5の実施例の動作について更に説明す
る。
ろは、上述したデータ変化点検出回路30の構成にあ
る。図10ないし図13に従いデータ変化点検出回路3
0並びにこの第5の実施例の動作について更に説明す
る。
【0141】尚、図12の信号名(DIN、内部クロッ
ク、ANS)及びノード信号A〜Gは図10に示した符
号と夫々対応している。
ク、ANS)及びノード信号A〜Gは図10に示した符
号と夫々対応している。
【0142】データ変化点検出回路30には、図12
(a)に示す内部クロック及び図12(b)に示すデジ
タルデータ(DIN)が入力される。この両信号はデー
タ変化点検出回路30の第1のD型フリップフロップ3
1に入力される。即ち、第1のD型フリップフロップ3
1のD端子に、デジタルデータ(DIN)が入力され、
トリガ端子に内部クロックが入力される。この第1のD
型フリップフロップ31のQ端子から図12(c)に示
すデータ信号Aが出力される。この第1のD型フリップ
フロップ31のQ端子からの出力が第2のD型フリップ
フロップ32のD端子に供給され、又第2のD型フリッ
プフロップ32のトリガ端子に内部クロックが入力され
る。
(a)に示す内部クロック及び図12(b)に示すデジ
タルデータ(DIN)が入力される。この両信号はデー
タ変化点検出回路30の第1のD型フリップフロップ3
1に入力される。即ち、第1のD型フリップフロップ3
1のD端子に、デジタルデータ(DIN)が入力され、
トリガ端子に内部クロックが入力される。この第1のD
型フリップフロップ31のQ端子から図12(c)に示
すデータ信号Aが出力される。この第1のD型フリップ
フロップ31のQ端子からの出力が第2のD型フリップ
フロップ32のD端子に供給され、又第2のD型フリッ
プフロップ32のトリガ端子に内部クロックが入力され
る。
【0143】この第2のD型フリップフロップ32のQ
端子からは、図12(d)に示すデータ信号Bが出力さ
れ、この第2のD型フリップフロップ32のQ端子出力
が第3のD型フリップフロップ33のD端子に供給さ
れ、又第3のD型フリップフロップ33のトリガ端子に
は内部クロックが入力される。
端子からは、図12(d)に示すデータ信号Bが出力さ
れ、この第2のD型フリップフロップ32のQ端子出力
が第3のD型フリップフロップ33のD端子に供給さ
れ、又第3のD型フリップフロップ33のトリガ端子に
は内部クロックが入力される。
【0144】この第3のD型フリップフロップ33のQ
端子からは、図12(e)に示すデータ信号Cが出力さ
れ、この第3のD型フリップフロップ33のQ端子出力
が第4のD型フリップフロップ34のD端子に供給さ
れ、又第4のD型フリップフロップ34のトリガ端子に
は内部クロックが入力される。そして、第4のフリップ
フロップ34のQ端子から図12(f)に示すデータ信
号Dが出力される。尚、デジタルデータには図12
(a)に示すように、グリッジノイズ(N)が混入して
おり、このクロックに周期したノイズ(N)も各フリッ
プフロップ31、32、33、34により伝搬される。
端子からは、図12(e)に示すデータ信号Cが出力さ
れ、この第3のD型フリップフロップ33のQ端子出力
が第4のD型フリップフロップ34のD端子に供給さ
れ、又第4のD型フリップフロップ34のトリガ端子に
は内部クロックが入力される。そして、第4のフリップ
フロップ34のQ端子から図12(f)に示すデータ信
号Dが出力される。尚、デジタルデータには図12
(a)に示すように、グリッジノイズ(N)が混入して
おり、このクロックに周期したノイズ(N)も各フリッ
プフロップ31、32、33、34により伝搬される。
【0145】また、第1のフリップフロップ31のQ端
子からの出力は排他的論理和回路35の一入力とアンド
回路36およびノア回路37に与えられる。
子からの出力は排他的論理和回路35の一入力とアンド
回路36およびノア回路37に与えられる。
【0146】そして、排他的論理和回路35の他入力に
は、変化点の検出信号ANSが与えられ、この排他的論
理和35から図12(h)に示す信号Fが出力される。
は、変化点の検出信号ANSが与えられ、この排他的論
理和35から図12(h)に示す信号Fが出力される。
【0147】一方、同期はずれ頻度検出回路40からの
出力信号MA〜MCは夫々モジュール回路61、62、
63のS端子に与えられる。そして、モジュール回路6
1、62、63のDA端子には、第2、3、4のフリッ
プフロップ32、33、34のQ端子からの出力が夫々
入力される。即ち、モジュール回路61には第2のフリ
ップフロップ32のQ端子出力が、モジュール回路62
には第3のフリップフロップ33のQ端子出力が、モジ
ュール回路63には第2のフリップフロップ34のQ端
子出力が夫々入力される。そして、このモジュール回路
61、62、63からHQ、LQの信号が夫々出力さ
れ、各HQ端子からの出力はアンド回路36に入力さ
れ、各LQ端子からの出力はノア回路37に入力され
る。
出力信号MA〜MCは夫々モジュール回路61、62、
63のS端子に与えられる。そして、モジュール回路6
1、62、63のDA端子には、第2、3、4のフリッ
プフロップ32、33、34のQ端子からの出力が夫々
入力される。即ち、モジュール回路61には第2のフリ
ップフロップ32のQ端子出力が、モジュール回路62
には第3のフリップフロップ33のQ端子出力が、モジ
ュール回路63には第2のフリップフロップ34のQ端
子出力が夫々入力される。そして、このモジュール回路
61、62、63からHQ、LQの信号が夫々出力さ
れ、各HQ端子からの出力はアンド回路36に入力さ
れ、各LQ端子からの出力はノア回路37に入力され
る。
【0148】モジュール回路61、62、63は図11
に示すように、2つのアンド回路65、66及びインバ
ータ67により構成され、DA端子に入力された信号が
アンド回路63へ入力されると共に、アンド回路66へ
インバータ67を介して、DA端子の信号の反転信号が
入力される。また、S端子に入力された信号はアンド回
路65、66に夫々入力される。アンド回路65からは
LQの信号が、アンド回路66からはHQの信号が夫々
出力される。
に示すように、2つのアンド回路65、66及びインバ
ータ67により構成され、DA端子に入力された信号が
アンド回路63へ入力されると共に、アンド回路66へ
インバータ67を介して、DA端子の信号の反転信号が
入力される。また、S端子に入力された信号はアンド回
路65、66に夫々入力される。アンド回路65からは
LQの信号が、アンド回路66からはHQの信号が夫々
出力される。
【0149】而して、モジュール回路61、62、63
のHQの出力は、フリップフロップからの出力が’L’
で同期はずれ頻度検出回路40からの信号MA、MB、
又MCが’H’のときに’H’となりその他の場合は’
L’となる。また、LQの出力は、フリップフロップか
らの出力が’H’で同期はずれ頻度検出回路3からの信
号MA、MB、又MCが’H’のときに’H’となりそ
の他の場合は’L’となる。
のHQの出力は、フリップフロップからの出力が’L’
で同期はずれ頻度検出回路40からの信号MA、MB、
又MCが’H’のときに’H’となりその他の場合は’
L’となる。また、LQの出力は、フリップフロップか
らの出力が’H’で同期はずれ頻度検出回路3からの信
号MA、MB、又MCが’H’のときに’H’となりそ
の他の場合は’L’となる。
【0150】そして、アンド回路36及びノア回路37
の出力はオア回路38に入力される。従って、このオア
回路38からは図12(g)に示す同期はずれ頻度検出
回路40からの信号に応じたパルス幅の信号Eが出力さ
れる。
の出力はオア回路38に入力される。従って、このオア
回路38からは図12(g)に示す同期はずれ頻度検出
回路40からの信号に応じたパルス幅の信号Eが出力さ
れる。
【0151】このオア回路38からの出力はアンド回路
39に入力され、このアンド回路39には更に排他的論
理和回路35からの出力が入力される。このアンド回路
39からの出力がフリップフロップ41のD端子に入力
される。また、このフリップフロップ41のトリガ端子
には内部クロックがインバータ43を介して入力され
る。そして、このフリップフロップ41のQ端子から図
12(i)に示す同期はずれ頻度検出回路40からの信
号に応じたパルス幅の信号Gが出力され、この信号Gが
フリップフロップ42のトリガ端子に供給される。この
フリップフロップ42のD端子には*Q出力が帰還入力
され、Q端子より図12(j)に示す変化点検出出力A
NSが出力される。
39に入力され、このアンド回路39には更に排他的論
理和回路35からの出力が入力される。このアンド回路
39からの出力がフリップフロップ41のD端子に入力
される。また、このフリップフロップ41のトリガ端子
には内部クロックがインバータ43を介して入力され
る。そして、このフリップフロップ41のQ端子から図
12(i)に示す同期はずれ頻度検出回路40からの信
号に応じたパルス幅の信号Gが出力され、この信号Gが
フリップフロップ42のトリガ端子に供給される。この
フリップフロップ42のD端子には*Q出力が帰還入力
され、Q端子より図12(j)に示す変化点検出出力A
NSが出力される。
【0152】尚、上述した各フリップフロップのリセッ
ト端子RBにはリセット信号にRSTBが入力されるよ
う構成されている。
ト端子RBにはリセット信号にRSTBが入力されるよ
う構成されている。
【0153】而して、図12の実線で示した波形は(M
A、MB、MC)=(H、H、H)[同期はずれ頻度最
大]の時のものを示し、、点線2は、(MA、MB、M
C)=(H、L、L)、点線3は、(MA、MB、M
C)=(H、H、L)の時のものを夫々示すものであ
る。
A、MB、MC)=(H、H、H)[同期はずれ頻度最
大]の時のものを示し、、点線2は、(MA、MB、M
C)=(H、L、L)、点線3は、(MA、MB、M
C)=(H、H、L)の時のものを夫々示すものであ
る。
【0154】更に、図13には、(MA、MB、MC)
=(L、L、L)[同期はずれ頻度最小]の時の波形が
示されている。
=(L、L、L)[同期はずれ頻度最小]の時の波形が
示されている。
【0155】図12から同期はずれ頻度が低くなると実
線→点線3→点線2に波形が変わり周波数追従性が良く
なる。
線→点線3→点線2に波形が変わり周波数追従性が良く
なる。
【0156】又、図13のように同期はずれ頻度が最小
の時に、図12に示すようなグリッジノイズ(N)が入
力されると、それを拾ってANS信号を変化させてしま
う。そこで、この実施例では、図12のような幅を持つ
グリッジノイズが多く入る回線ではその同期はずれ頻度
に応じて、自動的に(MA、MB、MC)=(H、L、
L)、(MA、MB、MC)=(H、H、L)又は(M
A、MB、MC)=(H、H、H)が選択されることに
より、ノイズの影響がなくなり安定する。
の時に、図12に示すようなグリッジノイズ(N)が入
力されると、それを拾ってANS信号を変化させてしま
う。そこで、この実施例では、図12のような幅を持つ
グリッジノイズが多く入る回線ではその同期はずれ頻度
に応じて、自動的に(MA、MB、MC)=(H、L、
L)、(MA、MB、MC)=(H、H、L)又は(M
A、MB、MC)=(H、H、H)が選択されることに
より、ノイズの影響がなくなり安定する。
【0157】尚、上述した実施例においては同期はずれ
頻度検出回路40からの出力を3ビットで構成し、4種
類の頻度の状態の場合について説明したが、更に多くの
場合分けをする場合には、出力ビット数を多くするよう
に構成すれば良い。この場合には、データ変化点検出回
路30のフリップフロップ並びにモジュール回路をその
分だけ増やすことにより容易に対応できる。
頻度検出回路40からの出力を3ビットで構成し、4種
類の頻度の状態の場合について説明したが、更に多くの
場合分けをする場合には、出力ビット数を多くするよう
に構成すれば良い。この場合には、データ変化点検出回
路30のフリップフロップ並びにモジュール回路をその
分だけ増やすことにより容易に対応できる。
【0158】
【発明の効果】以上説明したように、この発明による第
1のデジタルデータ検出回路および検出方法によれば、
同期はずれの有無が何回出現したかを計数するカウンタ
の出力とデータ変化点検出回路の出力に基いて、リセッ
トのタイミング制御することにより、ジッタ、スパイク
ノイズが削減され、安定したPLL信号を与えることが
できる。
1のデジタルデータ検出回路および検出方法によれば、
同期はずれの有無が何回出現したかを計数するカウンタ
の出力とデータ変化点検出回路の出力に基いて、リセッ
トのタイミング制御することにより、ジッタ、スパイク
ノイズが削減され、安定したPLL信号を与えることが
できる。
【0159】又、連続した同期を受けた場合、0以外の
タイミングをマスク回路で補正することにより、ジッ
タ、スパイクノイズが削減される。
タイミングをマスク回路で補正することにより、ジッ
タ、スパイクノイズが削減される。
【0160】この発明による第2のデジタルデータの検
出回路によれば、ノイズによる誤動作の発生を少なく
し、しかも変化点の変化に同期回路を追従させることが
できる。
出回路によれば、ノイズによる誤動作の発生を少なく
し、しかも変化点の変化に同期回路を追従させることが
できる。
【0161】この発明による第3のデジタルデータの検
出回路によれば、ノイズ判定のパルス幅を同期はずれの
頻度に応じて選択することにより、ノイズの大きさに応
じてデジタルデータのサンプリング数が調整される。従
って、周波数追従性とノイズ除去のトレードオフが解消
され、いかなる回線環境においても使用することができ
る。
出回路によれば、ノイズ判定のパルス幅を同期はずれの
頻度に応じて選択することにより、ノイズの大きさに応
じてデジタルデータのサンプリング数が調整される。従
って、周波数追従性とノイズ除去のトレードオフが解消
され、いかなる回線環境においても使用することができ
る。
【図1】この発明に係るデジタルデータ検出回路の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図2】任意の一定周期にある基本クロックに基づく出
力データ及び入力データの関係を示すタイミングチャー
トである。
力データ及び入力データの関係を示すタイミングチャー
トである。
【図3】基本クロックの1周期を16分割にした関係を
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
【図4】この発明の第1の実施例を示す回路図である。
【図5】この発明の第2の実施例を示す回路図である。
【図6】この発明の第3の実施例を示す回路図である。
【図7】正常のタイミングで同期したカウンタの値と正
方向と負方向に夫々ずれた場合の関係を示す図である。
方向と負方向に夫々ずれた場合の関係を示す図である。
【図8】この発明の第4の実施例を示す回路図である。
【図9】この発明の第5の実施例に係るデジタルデータ
検出回路の構成を示すブロック図である。
検出回路の構成を示すブロック図である。
【図10】この発明の第5の実施例に適用されるデータ
変化点検出回路を示す回路図である。
変化点検出回路を示す回路図である。
【図11】図10の変化点検出回路に用いられるモジュ
ールの回路図である。
ールの回路図である。
【図12】この発明の第5の実施例において、同期はず
れ頻度が最大の時から夫々頻度が減少した時のタイミン
グチャートである。
れ頻度が最大の時から夫々頻度が減少した時のタイミン
グチャートである。
【図13】この発明の第5の実施例において、同期はず
れ頻度が最小の時のタイミングチャートである。
れ頻度が最小の時のタイミングチャートである。
1 データ変化点検出回路 2 同期はずれ検出回路 3 同期信号生成カウンタ 4 カウンタ 5 リセット制御回路 30 データ変化点検出回路 40 同期はずれ頻度検出回路 100 マスク回路 200 マスクパターン制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 福井 良 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (72)発明者 今井 幸弘 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (72)発明者 佐藤 豊 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (72)発明者 山田 吉輝 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (56)参考文献 特開 昭60−245351(JP,A) 特開 平2−2716(JP,A) 特開 平3−45036(JP,A) 特開 平3−76336(JP,A) 実開 平3−123338(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H04L 7/027
Claims (7)
- 【請求項1】 デジタルデータのビット毎に、内部クロ
ックに同期した受信クロックを形成し、デジタルデータ
の内容を検出するデジタルデータの検出回路であって、
デジタルデータが1から0あるいは0から1へ変化する
変化点を検出するデータ変化点検出回路と、上記変化点
が内部クロックと同期したタイミングで出現しているか
否か判定する同期はずれ検出回路と、同期はずれの有無
が何回出現したか計数するカウンタと、内部クロックで
同期信号を生成する同期信号生成カウンタと、前記デー
タ変化点検出回路及びカウンタ出力に応じて前記同期信
号生成カウンタのリセットのタイミングを制御するリセ
ット制御回路と、を備えてなるデジタルデータの検出回
路。 - 【請求項2】 前記カウンタの出力に応じて、0以外の
タイミングで出現した上記変化点を0のタイミングに補
正するマスク回路を上記リセット制御回路に設けたこと
を特徴とする請求項第1に記載したデジタルデータの検
出回路。 - 【請求項3】 上記マスク回路を正方向に変化点のタイ
ミングがずれた場合にタイミング補正する正マスク回路
と、負方向に変化点のタイミングがずれた場合にタイミ
ング補正する負マスク回路との2段構成にしたことを特
徴とする請求項第2に記載したデジタルデータの検出回
路。 - 【請求項4】 デジタルデータのビット毎に内部クロッ
クに同期した受信クロックを形成し、この受信クロック
に基いてデジタルデータの内容を検出するデジタルデー
タの検出方法であって、上記デジタルデータが1から0
あるいは0から1へ変化する変化点を検出し、この変化
点が内部クロックと同期しているか否か判定するととも
に、この同期はずれの有無が何回出現したか計数し、こ
の計数結果に対応して、上記変化点の位置から受信クロ
ックを形成するタイミングを制御することを特徴とする
デジタルデータの検出方法。 - 【請求項5】 デジタルデータのビット毎に、内部クロ
ックに同期した受信クロックを形成し、デジタルデータ
の内容を検出するデジタルデータの検出回路であって、
内部クロックで同期信号を生成する同期信号生成カウン
タと、デジタルデータが1から0あるいは0から1へ変
化する変化点を検出するデータ変化点検出回路と、デー
タ変化点検出回路によって変化点が検出された時点での
同期信号生成カウンタの出力が入力され、入力信号のビ
ットをマスクするためのマスク回路と、マスク回路の入
力信号の全ビツトのうち、マスクするビットを決定する
マスクパターン制御回路と、マスク回路の出力に基づい
て前記同期信号生成カウンタのリセットのタイミングを
制御するリセット制御回路とを備え、マスクパターン制
御回路が変化点のタイミングのずれ量に応じて、マスク
するビットを変更するようにマスク回路を制御するもの
であることを特徴とするデジタルデータの検出回路。 - 【請求項6】 マスクパターン制御回路が、変化点のタ
イミングのずれ量に応じてマスクするビットを変更する
ための複数種類のマスクパターンを発生しうるものであ
り、所与の指定信号により指定されたマスクパターンに
もとづいてマスク回路を制御することを特徴とするデジ
タルデータの検出回路。 - 【請求項7】 デジタルデータのビット毎に、内部クロ
ックに同期した受信クロックを形成し、デジタルデータ
の内容を検出するデジタルデータの検出回路であって、
内部クロックで同期信号を生成する同期信号生成カウン
タと、同期はずれが一定期間に何度出現したか検出し、
その頻度に応じた信号を出力する同期はずれ頻度検出回
路と、この回路からの出力に応じてノイズ判定幅を変化
し、この判定幅以下のパルス幅のノイズを無視し、デジ
タルデータが1から0あるいは0から1へ変化する変化
点を検出する変化点検出回路と、この変化点検出回路の
出力に応じて、前記同期信号生成カウンタのリセットの
タイミングを制御するリセット制御回路と、を備えてな
るデジタルデータの検出回路。
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