JP2923981B2 - Ｃｒｔ用光測定装置 - Google Patents
Ｃｒｔ用光測定装置Info
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- JP2923981B2 JP2923981B2 JP1181432A JP18143289A JP2923981B2 JP 2923981 B2 JP2923981 B2 JP 2923981B2 JP 1181432 A JP1181432 A JP 1181432A JP 18143289 A JP18143289 A JP 18143289A JP 2923981 B2 JP2923981 B2 JP 2923981B2
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、CRT管面上の発光色、輝度を測定する光測
定装置に関する。
定装置に関する。
CRTの光測定装置はCRTの発光色や輝度を正確に測定す
るためにCRTの垂直同期信号に合わせて発光螢光体の光
を受光するようになされている。従来、テレビジョン用
のCRTでは垂直同期信号が50Hz又は60Hzに固定されてい
るので、光電変換素子による受光信号を二重積分してAD
変換するときの積分時間が100msecに固定されているCRT
の光測定装置が知られている。
るためにCRTの垂直同期信号に合わせて発光螢光体の光
を受光するようになされている。従来、テレビジョン用
のCRTでは垂直同期信号が50Hz又は60Hzに固定されてい
るので、光電変換素子による受光信号を二重積分してAD
変換するときの積分時間が100msecに固定されているCRT
の光測定装置が知られている。
ところで、上記従来の光測定装置では積分時間が長い
ので、正確にCRTの光測定が行える利点はあるが、高速
に測定及び処理が行えない欠点がある。また、グラフィ
ックディスプレイとして使用されるCRTでは垂直同期信
号が40Hz〜80Hzの範囲で種々のものがあるため、従来の
ように積分時間を固定した光測定装置ではCRTの種類に
よっては正確に測定できないことがある。
ので、正確にCRTの光測定が行える利点はあるが、高速
に測定及び処理が行えない欠点がある。また、グラフィ
ックディスプレイとして使用されるCRTでは垂直同期信
号が40Hz〜80Hzの範囲で種々のものがあるため、従来の
ように積分時間を固定した光測定装置ではCRTの種類に
よっては正確に測定できないことがある。
本発明は上記課題に鑑みてされたものであり、CRT管
面上の発光色、輝度を高速、かつ精度よく測定すること
のできるCRTの光測定装置を提供することを目的とす
る。
面上の発光色、輝度を高速、かつ精度よく測定すること
のできるCRTの光測定装置を提供することを目的とす
る。
上記課題を解決するために、本発明は、光電変換手段
によりCRT管面の発光量を測定するCRT用光測定装置にお
いて、上記CRTの同期信号が入力される入力手段と、入
力された上記同期信号のインターバル時間を計測する計
測手段と、上記光電変換手段の出力信号を所定の時間だ
け積分してAD変換する信号変換手段と、上記信号変換手
段の積分時間を上記計測手段で計測されるインターバル
時間と予め設定された所定の積分時間とに切換設定する
積分時間設定手段とを備えたものである（請求項１）。
によりCRT管面の発光量を測定するCRT用光測定装置にお
いて、上記CRTの同期信号が入力される入力手段と、入
力された上記同期信号のインターバル時間を計測する計
測手段と、上記光電変換手段の出力信号を所定の時間だ
け積分してAD変換する信号変換手段と、上記信号変換手
段の積分時間を上記計測手段で計測されるインターバル
時間と予め設定された所定の積分時間とに切換設定する
積分時間設定手段とを備えたものである（請求項１）。
また、本発明は、光電変換手段によりCRT管面の発光
量を測定するCRT用光測定装置において、上記CRTの同期
信号の周波数が入力される入力手段と、入力された上記
周波数に基づき上記同期信号のインターバル時間を生成
する生成手段と、上記光電変換手段の出力信号を上記イ
ンターバル時間だけ積分してAD変換する信号変換手段と
を備えたものである（請求項２）。
量を測定するCRT用光測定装置において、上記CRTの同期
信号の周波数が入力される入力手段と、入力された上記
周波数に基づき上記同期信号のインターバル時間を生成
する生成手段と、上記光電変換手段の出力信号を上記イ
ンターバル時間だけ積分してAD変換する信号変換手段と
を備えたものである（請求項２）。
また、本発明は、上記CRT用光測定装置において、上
記光電変換手段に入力光がない状態での上記信号変換手
段の作動が指示可能な指示手段と、上記指示手段の指示
信号を受けて上記光電変換手段の出力信号を予め設定さ
れた第２の時間だけ積分するとともにAD変換し、該AD変
換値と上記第２の時間とから積分時間の単位時間当たり
のAD変換値を算出する第１の演算手段と、上記CRTの発
光量を測定したAD変換値から該AD変換時の積分時間に上
記第１の演算手段の算出値を乗算したAD変換値を減算す
る第２の演算手段とを備えたものである（請求項３）。
記光電変換手段に入力光がない状態での上記信号変換手
段の作動が指示可能な指示手段と、上記指示手段の指示
信号を受けて上記光電変換手段の出力信号を予め設定さ
れた第２の時間だけ積分するとともにAD変換し、該AD変
換値と上記第２の時間とから積分時間の単位時間当たり
のAD変換値を算出する第１の演算手段と、上記CRTの発
光量を測定したAD変換値から該AD変換時の積分時間に上
記第１の演算手段の算出値を乗算したAD変換値を減算す
る第２の演算手段とを備えたものである（請求項３）。
また、本発明は、上記CRTの光測定装置においてAD変
換値のオフセット量を考慮し、より測定精度を向上させ
るものとして、上記光電変換手段に入力光がない状態で
の上記信号変換手段の作動が指示可能な指示手段と、上
記指示手段の指示信号を受けて前記光電変換手段の出力
信号を予め設定された第２の時間だけ積分してAD変換し
たAD変換値と上記指示信号を受けて前記光電変換手段の
出力信号を上記第２の時間のｎ倍の時間だけ積分してAD
変換したAD変換値とを記憶する手段と、上記各AD変換値
から積分時間の単位時間当たりのAD変換値と積分時間に
関係しないAD変換値とを算出する第３の演算手段と、上
記CRTの発光量を測定したAD変換値から該AD変換時の積
分時間に上記積分時間の単位時間当たりのAD変換値を乗
算したAD変換値と上記積分時間に関係しないAD変換値と
を減算する第４の演算手段とを備えたものである（請求
項４）。
換値のオフセット量を考慮し、より測定精度を向上させ
るものとして、上記光電変換手段に入力光がない状態で
の上記信号変換手段の作動が指示可能な指示手段と、上
記指示手段の指示信号を受けて前記光電変換手段の出力
信号を予め設定された第２の時間だけ積分してAD変換し
たAD変換値と上記指示信号を受けて前記光電変換手段の
出力信号を上記第２の時間のｎ倍の時間だけ積分してAD
変換したAD変換値とを記憶する手段と、上記各AD変換値
から積分時間の単位時間当たりのAD変換値と積分時間に
関係しないAD変換値とを算出する第３の演算手段と、上
記CRTの発光量を測定したAD変換値から該AD変換時の積
分時間に上記積分時間の単位時間当たりのAD変換値を乗
算したAD変換値と上記積分時間に関係しないAD変換値と
を減算する第４の演算手段とを備えたものである（請求
項４）。
更に、本発明は、比較的残光時間の短いCRTの光測定
を好適に行うものとして、光電変換手段によりCRT管面
の発光量を測定するCRT用光測定装置において、CRT管面
上の螢光体の発光を検出する検出手段と、該検出手段出
力から上記螢光体の発光周期を算出する手段と、該発光
周期よりも短い所定の積分時間を設定する時間設定手段
と、上記積分時間内で上記光電変換手段の受光すべき螢
光体が発光するように積分開始信号を発生する第１の信
号発生手段と、上記積分時間内では上記光電変換手段の
受光すべき螢光体が非発光となるように積分開始信号を
発生する第２の信号発生手段と、上記第１、第２の信号
発生手段の出力を受けて上記光電変換手段の出力信号を
上記設定された所定の積分時間だけ積分してAD変換する
AD変換手段と、上記第１の信号発生手段の出力に基づい
て得られたAD変換値から上記第２の信号出力手段の出力
に基づいて得られたAD変換値を減算する演算手段とを備
えたものである（請求項５）。
を好適に行うものとして、光電変換手段によりCRT管面
の発光量を測定するCRT用光測定装置において、CRT管面
上の螢光体の発光を検出する検出手段と、該検出手段出
力から上記螢光体の発光周期を算出する手段と、該発光
周期よりも短い所定の積分時間を設定する時間設定手段
と、上記積分時間内で上記光電変換手段の受光すべき螢
光体が発光するように積分開始信号を発生する第１の信
号発生手段と、上記積分時間内では上記光電変換手段の
受光すべき螢光体が非発光となるように積分開始信号を
発生する第２の信号発生手段と、上記第１、第２の信号
発生手段の出力を受けて上記光電変換手段の出力信号を
上記設定された所定の積分時間だけ積分してAD変換する
AD変換手段と、上記第１の信号発生手段の出力に基づい
て得られたAD変換値から上記第２の信号出力手段の出力
に基づいて得られたAD変換値を減算する演算手段とを備
えたものである（請求項５）。
請求項１記載のCRT用光測定装置によれば、積分時間
として計測時間が設定されると、入力手段から入力され
た測定用CRTの同期信号に基づき当該同期信号のインタ
ーバル時間（周期）が計測され、光電変換手段の出力信
号がこの実測されたインターバル時間だけ積分されてAD
変換される。一方、積分時間として予め設定された所定
の積分時間が設定されると、光電変換手段の出力信号が
その積分時間だけ積分されてAD変換される。例えば所定
の積分時間として50Hz又は60Hzの標準的な周波数に対応
した一定時間（1/50秒又は1/60秒の周期）が設定されて
いる場合、光電変換手段の出力信号がその一定時間だけ
積分されてAD変換される。
として計測時間が設定されると、入力手段から入力され
た測定用CRTの同期信号に基づき当該同期信号のインタ
ーバル時間（周期）が計測され、光電変換手段の出力信
号がこの実測されたインターバル時間だけ積分されてAD
変換される。一方、積分時間として予め設定された所定
の積分時間が設定されると、光電変換手段の出力信号が
その積分時間だけ積分されてAD変換される。例えば所定
の積分時間として50Hz又は60Hzの標準的な周波数に対応
した一定時間（1/50秒又は1/60秒の周期）が設定されて
いる場合、光電変換手段の出力信号がその一定時間だけ
積分されてAD変換される。
また、請求項２記載のCRT用光測定装置によれば、測
定用CRTの同期信号の周波数がキーボード等の入力手段
により入力されると、入力された同期周波数の周期が演
算され、光電変換手段の出力信号がその時間だけ積分さ
れてAD変換される。
定用CRTの同期信号の周波数がキーボード等の入力手段
により入力されると、入力された同期周波数の周期が演
算され、光電変換手段の出力信号がその時間だけ積分さ
れてAD変換される。
また、請求項３記載のCRT用光測定装置によれば、光
電変換手段に入力光がない状態で光電変換手段の出力信
号のAD変換動作が指示されると、予め定められた時間だ
け光電変換手段の出力信号を積分してAD変換が行われる
と共に該AD変換値と上記積分時間とから単位積分時間当
たりのAD変換値が算出される。そして、測定用CRTの発
光を受光した光電変換手段の出力信号を同期信号の周期
に対応する時間だけ積分して得られたAD変換値から該積
分時間に上記単位積分時間当たりのAD変換値を乗算して
得られるAD変換値（オフセット値）を減算して実際の発
光量に対するAD変換値が算出される。
電変換手段に入力光がない状態で光電変換手段の出力信
号のAD変換動作が指示されると、予め定められた時間だ
け光電変換手段の出力信号を積分してAD変換が行われる
と共に該AD変換値と上記積分時間とから単位積分時間当
たりのAD変換値が算出される。そして、測定用CRTの発
光を受光した光電変換手段の出力信号を同期信号の周期
に対応する時間だけ積分して得られたAD変換値から該積
分時間に上記単位積分時間当たりのAD変換値を乗算して
得られるAD変換値（オフセット値）を減算して実際の発
光量に対するAD変換値が算出される。
また、請求項４記載のCRT用光測定装置によれば、光
電変換手段に入力光がない状態で光電変換手段の出力信
号のAD変換が指示されると、光電変換手段に入力光がな
い状態における光電変換手段の出力信号を予め定められ
た時間だけ積分した第１のAD変換値と上記積分時間をｎ
倍した時間だけ積分した第２のAD変換値が測定され、該
第１、第２のAD変換値から単位積分時間当たりのAD変換
値と積分時間に関係しないAD変換値とが算出される。そ
して、測定用CRTの発光を受光した光電変換手段の出力
信号を同期信号の周期に対応する時間だけ積分して得ら
れたAD変換値から該積分時間に上記単位積分時間当たり
のAD変換値を乗算して得られるAD変換値と上記積分時間
に関係しないAD変換値とを減算して実際の発光量に対す
るAD変換値が算出される。
電変換手段に入力光がない状態で光電変換手段の出力信
号のAD変換が指示されると、光電変換手段に入力光がな
い状態における光電変換手段の出力信号を予め定められ
た時間だけ積分した第１のAD変換値と上記積分時間をｎ
倍した時間だけ積分した第２のAD変換値が測定され、該
第１、第２のAD変換値から単位積分時間当たりのAD変換
値と積分時間に関係しないAD変換値とが算出される。そ
して、測定用CRTの発光を受光した光電変換手段の出力
信号を同期信号の周期に対応する時間だけ積分して得ら
れたAD変換値から該積分時間に上記単位積分時間当たり
のAD変換値を乗算して得られるAD変換値と上記積分時間
に関係しないAD変換値とを減算して実際の発光量に対す
るAD変換値が算出される。
また、請求項５記載のCRT用光測定装置によれば、光
電変換手段とは別に設けられたCRTの発光検出手段によ
り測定用CRTの発光周期が計測され、光電変換手段の出
力信号を積分する時間として該発光周期より短い一定の
時間が設定される。そして、上記光電変換手段の受光す
べき螢光体が上記設定された積分時間内で発光するよう
な積分開始信号と上記光電変換手段の受光すべき螢光体
が上記積分時間内では発光しないような積分開始信号が
出力され、それぞれの積分開始信号を受けて上記光電変
換手段の出力信号を上記一定時間だけ積分して螢光体発
光時のAD変換値と螢光体非発光時のAD変換値とが測定さ
れる。そして、上記螢光体発光時のAD変換値から上記螢
光体非発光時のAD変換値を減算して実際の発光量に対す
るAD変換値が算出される。
電変換手段とは別に設けられたCRTの発光検出手段によ
り測定用CRTの発光周期が計測され、光電変換手段の出
力信号を積分する時間として該発光周期より短い一定の
時間が設定される。そして、上記光電変換手段の受光す
べき螢光体が上記設定された積分時間内で発光するよう
な積分開始信号と上記光電変換手段の受光すべき螢光体
が上記積分時間内では発光しないような積分開始信号が
出力され、それぞれの積分開始信号を受けて上記光電変
換手段の出力信号を上記一定時間だけ積分して螢光体発
光時のAD変換値と螢光体非発光時のAD変換値とが測定さ
れる。そして、上記螢光体発光時のAD変換値から上記螢
光体非発光時のAD変換値を減算して実際の発光量に対す
るAD変換値が算出される。
第１図は本発明に係る光測定装置を用いた、CRT管面
上の発光色と輝度を測定する測定システムの構成図であ
る。同図において、１は本発明に係る光測定装置であ
る。２は被測定用CRTであり、３は該CRT2に測定用画像
信号を供給する信号発生器である。上記信号発生器の画
像信号はラインl1及びラインl2により上記CRT2に供給さ
れ、ラインl2からは上記画像信号の垂直同期信号が供給
される。ＤはCRT2の管面上の光を受光し、該受光信号を
電気信号に変換する光電変換素子である。光電変換素子
Ｄの前面には拡散板13とフィルター14とが配設されてい
る。拡散板13はCRT2の測定範囲の光が上記光電変換素子
Ｄに一様に照射されるように光を拡散し、フィルター14
は光学部材により構成され、上記光電変換素子Ｄの前面
に配設することにより該光電変換素子Ｄの感度を測定に
必要な感度に調整する。４は上記光電変換素子Ｄの出力
レベルを後段のAD変換回路５の入力レベルにマッチング
させるためのインピーダンス変換器である。AD変換器５
は周知の二重積分回路であり、後述するカウンタ９から
ラインl9により入力される制御信号により積分時間が制
御され、制御部６からラインl10により入力される制御
信号により放電タイミングが制御される。上記AD変換器
によりデジタル変換された測定データはラインl12によ
り制御部６に入力される。なお、図において、ラインl
12及びその他の信号ラインに付された「／」の表示は信
号ラインが複数の信号ラインであることを示している。
T1は上記信号発生器３からの垂直同期信号を光測定装置
１に入力するための入力端子である。７は上記入力端子
T1から入力される上記垂直同期信号の信号レベルを光測
定装置１で処理可能なレベルに変換する電圧変換器であ
る。該電圧変換器７によりレベル変換された垂直同期信
号はラインl4により制御部６とカウンタ８とに入力され
る。カウンタ８は上記垂直同期信号のインターバル時間
（パルス周期）をパルス信号発生器10からラインl13に
より入力される基準パルスをカウントすることにより計
測する。すなわち、制御部６からラインl6によりカウン
タイネーブル信号が入力されると、その後に入力される
最初の垂直同期パルスから基準パルスのカウントを開始
して次の同期パルスが入力されると、カウントを終了す
ることによりパルス周期を計測する。その後、カウンタ
８はラインl5によりカウント結果を制御部６に出力す
る。カウンタ９は上記AD変換回路５の積分時間をカウン
トするプリセット可能なカウンタである。カウンタ９に
は制御部６からラインl8によりカウントすべきデータが
入力されるとともにラインl7からAD変換開始信号が入力
される。AD変換開始信号が入力されると、カウンタ９か
らラインl9により上記AD変換回路５及び制御部６に二重
積分タイプのAD変換用積分信号が出力される。同時にカ
ウンタ９はラインl13により入力される上記基準パルス
に従って上記設定されたカウント値が０になるまでカウ
ントダウンする。カウント値が０になると、カウンタ９
から上記AD変換回路５及び制御部６に積分停止のAD変換
用積分信号が出力され、制御部６は該信号を受けてライ
ンl10により上記AD変換回路５に放電指令信号を出力す
る。制御部６はAD変換回路５からラインl12により入力
されるAD変換終了を受けてAD変換された測光データを受
け取り、該測光データを用いて所定の演算を行い、その
演算結果をラインl16により表示ドライバー11に出力す
る。表示ドライバー11は上記演算結果を表示部12に表示
できるフォーマットに変換してラインl17により表示部1
2に出力し、上記演算結果を表示部12に表示させる。
上の発光色と輝度を測定する測定システムの構成図であ
る。同図において、１は本発明に係る光測定装置であ
る。２は被測定用CRTであり、３は該CRT2に測定用画像
信号を供給する信号発生器である。上記信号発生器の画
像信号はラインl1及びラインl2により上記CRT2に供給さ
れ、ラインl2からは上記画像信号の垂直同期信号が供給
される。ＤはCRT2の管面上の光を受光し、該受光信号を
電気信号に変換する光電変換素子である。光電変換素子
Ｄの前面には拡散板13とフィルター14とが配設されてい
る。拡散板13はCRT2の測定範囲の光が上記光電変換素子
Ｄに一様に照射されるように光を拡散し、フィルター14
は光学部材により構成され、上記光電変換素子Ｄの前面
に配設することにより該光電変換素子Ｄの感度を測定に
必要な感度に調整する。４は上記光電変換素子Ｄの出力
レベルを後段のAD変換回路５の入力レベルにマッチング
させるためのインピーダンス変換器である。AD変換器５
は周知の二重積分回路であり、後述するカウンタ９から
ラインl9により入力される制御信号により積分時間が制
御され、制御部６からラインl10により入力される制御
信号により放電タイミングが制御される。上記AD変換器
によりデジタル変換された測定データはラインl12によ
り制御部６に入力される。なお、図において、ラインl
12及びその他の信号ラインに付された「／」の表示は信
号ラインが複数の信号ラインであることを示している。
T1は上記信号発生器３からの垂直同期信号を光測定装置
１に入力するための入力端子である。７は上記入力端子
T1から入力される上記垂直同期信号の信号レベルを光測
定装置１で処理可能なレベルに変換する電圧変換器であ
る。該電圧変換器７によりレベル変換された垂直同期信
号はラインl4により制御部６とカウンタ８とに入力され
る。カウンタ８は上記垂直同期信号のインターバル時間
（パルス周期）をパルス信号発生器10からラインl13に
より入力される基準パルスをカウントすることにより計
測する。すなわち、制御部６からラインl6によりカウン
タイネーブル信号が入力されると、その後に入力される
最初の垂直同期パルスから基準パルスのカウントを開始
して次の同期パルスが入力されると、カウントを終了す
ることによりパルス周期を計測する。その後、カウンタ
８はラインl5によりカウント結果を制御部６に出力す
る。カウンタ９は上記AD変換回路５の積分時間をカウン
トするプリセット可能なカウンタである。カウンタ９に
は制御部６からラインl8によりカウントすべきデータが
入力されるとともにラインl7からAD変換開始信号が入力
される。AD変換開始信号が入力されると、カウンタ９か
らラインl9により上記AD変換回路５及び制御部６に二重
積分タイプのAD変換用積分信号が出力される。同時にカ
ウンタ９はラインl13により入力される上記基準パルス
に従って上記設定されたカウント値が０になるまでカウ
ントダウンする。カウント値が０になると、カウンタ９
から上記AD変換回路５及び制御部６に積分停止のAD変換
用積分信号が出力され、制御部６は該信号を受けてライ
ンl10により上記AD変換回路５に放電指令信号を出力す
る。制御部６はAD変換回路５からラインl12により入力
されるAD変換終了を受けてAD変換された測光データを受
け取り、該測光データを用いて所定の演算を行い、その
演算結果をラインl16により表示ドライバー11に出力す
る。表示ドライバー11は上記演算結果を表示部12に表示
できるフォーマットに変換してラインl17により表示部1
2に出力し、上記演算結果を表示部12に表示させる。
スイッチSW1は測定モードを変更するためのスイッチ
である。すなわち、測定用CRT2の垂直同期信号に応じて
上記AD変換回路５の積分時間を変更し、測定条件を好適
に制御するための測定モード切換スイッチである。本実
施例では、測定用CRT2の垂直同期信号が50Hz又は60Hzの
場合とこれ以外の周波数のときに外部から同期信号を入
力して測定条件を適合させる３種類の測定モードを備え
ている。測定モードは制御部６内のレジスタR1（不図
示）の内容を変更することにより切換えられ、上記測定
モードの内容に対する該レジスタR1の内容は第１表のよ
うになっている。また、制御部６から出力され、カウン
タ９に設定される積分時間は上記レジスタR1の内容に対
して第２表のようになっている。なお、第２表におい
て、ｍは整数、tAはカウンタ８によりカウントされる垂
直同期信号のパルス周期に対応する時間である。
である。すなわち、測定用CRT2の垂直同期信号に応じて
上記AD変換回路５の積分時間を変更し、測定条件を好適
に制御するための測定モード切換スイッチである。本実
施例では、測定用CRT2の垂直同期信号が50Hz又は60Hzの
場合とこれ以外の周波数のときに外部から同期信号を入
力して測定条件を適合させる３種類の測定モードを備え
ている。測定モードは制御部６内のレジスタR1（不図
示）の内容を変更することにより切換えられ、上記測定
モードの内容に対する該レジスタR1の内容は第１表のよ
うになっている。また、制御部６から出力され、カウン
タ９に設定される積分時間は上記レジスタR1の内容に対
して第２表のようになっている。なお、第２表におい
て、ｍは整数、tAはカウンタ８によりカウントされる垂
直同期信号のパルス周期に対応する時間である。
スイッチSW1は常開スイッチであって、ラインl14とア
ース間に設けられている。上記ラインl14は抵抗r1を介
して電源VDに接続され、制御部６には通常、ハイレベル
の測定モード切換信号が入力されている。上記スイッチ
SW1を閉成し（以下閉成状態をオン状態とする）、測定
モード切換信号をローレベルにすることにより上記レジ
スタ内容が変更される。制御部６は第２表に示すレジス
タR1の内容に対応した積分時間をカウンタ９に設定する
と共に表示ドライバー11に上記レジスタR1の内容を出力
し、表示部12に該レジスタR1の内容に対応する測定モー
ドが表示される。
ース間に設けられている。上記ラインl14は抵抗r1を介
して電源VDに接続され、制御部６には通常、ハイレベル
の測定モード切換信号が入力されている。上記スイッチ
SW1を閉成し（以下閉成状態をオン状態とする）、測定
モード切換信号をローレベルにすることにより上記レジ
スタ内容が変更される。制御部６は第２表に示すレジス
タR1の内容に対応した積分時間をカウンタ９に設定する
と共に表示ドライバー11に上記レジスタR1の内容を出力
し、表示部12に該レジスタR1の内容に対応する測定モー
ドが表示される。
スイッチSW2はラインl15とアース間に設けられたゼロ
校正用の常開スイッチである。上記ラインl15は抵抗r2
を介して電源VDに接続され、制御部６には通常、ハイレ
ベルのゼロ校正用信号が入力されている。上記スイッチ
SW2を閉成し（以下閉成状態をオン状態とする）、ゼロ
校正用信号をローレベルにすると、制御部６に予めプロ
グラムされているゼロ校正プログラムが実行され、後述
するAD変換回路５により発生する測定系のオフセット量
が測定される。
校正用の常開スイッチである。上記ラインl15は抵抗r2
を介して電源VDに接続され、制御部６には通常、ハイレ
ベルのゼロ校正用信号が入力されている。上記スイッチ
SW2を閉成し（以下閉成状態をオン状態とする）、ゼロ
校正用信号をローレベルにすると、制御部６に予めプロ
グラムされているゼロ校正プログラムが実行され、後述
するAD変換回路５により発生する測定系のオフセット量
が測定される。
第２図は表示部12の表示例を示した図である。表示12
aは測定された輝度値であり、表示12bは設定された測定
モードである。測定モード「１」、「２」又は「４」の
レジスタR1の内容に応じてそれぞれ「NTSC」、「PAL」
又は「EXT」が表示される。
aは測定された輝度値であり、表示12bは設定された測定
モードである。測定モード「１」、「２」又は「４」の
レジスタR1の内容に応じてそれぞれ「NTSC」、「PAL」
又は「EXT」が表示される。
次に、第３図のフローチャートを用いて光測定装置１
の動作について説明する。
の動作について説明する。
まず、測定が開始されると、初期設定を行う（＃
５）。すなわち、制御部６内のレジスタR1に１を設定
し、レジスタR2に格納されているフラグFLMを０に設定
し、各出力端子を初期状態に設定する。また、測定に際
してゼロ校正を行うためにゼロ校正測定の指示表示を上
記表示部12に行う。上記フラグFLMは測定モードが「EX
T」モードにおいて、垂直同期信号のパルス周期が実測
されたかどうかを判定するフラグである。フラグFLMが
１にセットされていれば、実測されていることを示し、
０にリセットされていれば、実測されていないことを示
す。ゼロ校正測定は光電変換素子Ｄを無入射光状態にし
て測定を行い、単位積分時間当たりのAD変換係数Ｋを算
出するもので、上記スイッチSW2がオン状態になるとゼ
ロ校正測定が開始される。初期設定が終了すると、スイ
ッチSW2がオン状態になるまで待機し（＃10）、オン状
態になると、上述したゼロ校正測定を行う。すなわち、
カウンタ９に予め定められたカウンタ値A1を設定した後
（＃15）、後述する「測定・AD変換」サブルーチンを実
行して無入射光状態下での光電変換素子Ｄによる受光信
号のAD変換を上記カウンタ値A1に対応する積分時間だけ
行い（＃20）、AD変換が終了すると、AD変換値Z1をレジ
スタM1に格納する（＃25）。また、続いて上記カウンタ
値A1のｎ倍（ｎ＞１）のカウント値A2をカウンタ９に設
定し（＃30）、上記と同様のAD変換を上記カウント値A2
に対応する積分時間だけ行い（＃35）、AD変換が終了す
ると、そのAD変換値Z2をレジスタM2に格納する（＃2
0）。続いて、上記２種類のAD変換値Z1,Z2を用いて無入
射光状態における測定系の単位積分時間当たりのAD変換
係数Ｋと測定系のバイアス成分Z0を次式より演算し（＃
45）、それぞれレジスタMKとレジスタM0とに格納する。
５）。すなわち、制御部６内のレジスタR1に１を設定
し、レジスタR2に格納されているフラグFLMを０に設定
し、各出力端子を初期状態に設定する。また、測定に際
してゼロ校正を行うためにゼロ校正測定の指示表示を上
記表示部12に行う。上記フラグFLMは測定モードが「EX
T」モードにおいて、垂直同期信号のパルス周期が実測
されたかどうかを判定するフラグである。フラグFLMが
１にセットされていれば、実測されていることを示し、
０にリセットされていれば、実測されていないことを示
す。ゼロ校正測定は光電変換素子Ｄを無入射光状態にし
て測定を行い、単位積分時間当たりのAD変換係数Ｋを算
出するもので、上記スイッチSW2がオン状態になるとゼ
ロ校正測定が開始される。初期設定が終了すると、スイ
ッチSW2がオン状態になるまで待機し（＃10）、オン状
態になると、上述したゼロ校正測定を行う。すなわち、
カウンタ９に予め定められたカウンタ値A1を設定した後
（＃15）、後述する「測定・AD変換」サブルーチンを実
行して無入射光状態下での光電変換素子Ｄによる受光信
号のAD変換を上記カウンタ値A1に対応する積分時間だけ
行い（＃20）、AD変換が終了すると、AD変換値Z1をレジ
スタM1に格納する（＃25）。また、続いて上記カウンタ
値A1のｎ倍（ｎ＞１）のカウント値A2をカウンタ９に設
定し（＃30）、上記と同様のAD変換を上記カウント値A2
に対応する積分時間だけ行い（＃35）、AD変換が終了す
ると、そのAD変換値Z2をレジスタM2に格納する（＃2
0）。続いて、上記２種類のAD変換値Z1,Z2を用いて無入
射光状態における測定系の単位積分時間当たりのAD変換
係数Ｋと測定系のバイアス成分Z0を次式より演算し（＃
45）、それぞれレジスタMKとレジスタM0とに格納する。
Z3＝（Z2−Z1）／（ｎ−１） … Ｋ＝Z3/A1 … Z0＝Z1−Z3 … 二重積分タイプのAD変換回路では通常、AD変換値は積
分時間に比例するが、AD変換回路５の構成によりAD変換
値にバイアス成分が含まれることがある。第４図は無入
射光状態下での光電変換素子Ｄによる受光信号のAD変換
値と積分時間との関係を示す図である。同図において、
積分時間はカウンタ値Ａに比例するので、横軸の積分時
間はカウンタ値Ａで表示している。AD変換値Z1及びZ2は
それぞれ積分時間A1と積分時間A2に対応するAD変換値で
あり、AD変換値Z0は積分時間に関係しないバイアス成分
である。同図において、関数ＦをＺ＝Ｋ・Ａ＋Z0とおく
と、比例係数Ｋは、 Ｋ＝（Z2−Z1）／（A2−A1） … となる。また、積分時間A2をｎ・A1とすると、式は、 Ｋ＝（Z2−Z1）／（ｎ−１）・A1 … となる。式で、Z3＝（Z2−Z1）／（ｎ−１）とおく
と、Ｋ＝Z3/A1となり、上記式及び式が導出され
る。また、上記Z3と式から関数Ｆは、 Ｚ＝Ｋ・Ａ＋Z0 … ＝Z3・A/A1＋Z0 … となるから、上記式に（A1,Z1）の値を代入すると、Z
1＝Z3＋Z0となり、この式より上記式が導出される。
分時間に比例するが、AD変換回路５の構成によりAD変換
値にバイアス成分が含まれることがある。第４図は無入
射光状態下での光電変換素子Ｄによる受光信号のAD変換
値と積分時間との関係を示す図である。同図において、
積分時間はカウンタ値Ａに比例するので、横軸の積分時
間はカウンタ値Ａで表示している。AD変換値Z1及びZ2は
それぞれ積分時間A1と積分時間A2に対応するAD変換値で
あり、AD変換値Z0は積分時間に関係しないバイアス成分
である。同図において、関数ＦをＺ＝Ｋ・Ａ＋Z0とおく
と、比例係数Ｋは、 Ｋ＝（Z2−Z1）／（A2−A1） … となる。また、積分時間A2をｎ・A1とすると、式は、 Ｋ＝（Z2−Z1）／（ｎ−１）・A1 … となる。式で、Z3＝（Z2−Z1）／（ｎ−１）とおく
と、Ｋ＝Z3/A1となり、上記式及び式が導出され
る。また、上記Z3と式から関数Ｆは、 Ｚ＝Ｋ・Ａ＋Z0 … ＝Z3・A/A1＋Z0 … となるから、上記式に（A1,Z1）の値を代入すると、Z
1＝Z3＋Z0となり、この式より上記式が導出される。
第３図に戻り、続いて、スイッチSW2がオン状態かど
うか判別し（＃50）、オン状態であれば、＃15に戻る。
スイッチSW2がオフ状態であれば、スイッチSW1がオン状
態かどうか判別し（＃55）、オン状態であれば、レジス
タR1の内容を２倍にする（＃65）。続いて、該レジスタ
R1の内容が「８」になっているかどうか判定し、「８」
になっていれば、レジスタR1の内容を「１」に設定する
（＃70）。上述したようにレジスタR1には測定モードの
内容が格納され、３種類の各測定モードに対するレジス
タR1の内容は第１表に示したように「NTSC」→「PAL」
→「EXT」の順に「１」→「２」→「４」と２倍ずつ増
加させている。従って、上記＃60〜＃70のフローはスイ
ッチSW1がオンされる毎に測定モードを「NTSC」→「PA
L」→「EXT」の順にサイクリックに変更させるものであ
る。
うか判別し（＃50）、オン状態であれば、＃15に戻る。
スイッチSW2がオフ状態であれば、スイッチSW1がオン状
態かどうか判別し（＃55）、オン状態であれば、レジス
タR1の内容を２倍にする（＃65）。続いて、該レジスタ
R1の内容が「８」になっているかどうか判定し、「８」
になっていれば、レジスタR1の内容を「１」に設定する
（＃70）。上述したようにレジスタR1には測定モードの
内容が格納され、３種類の各測定モードに対するレジス
タR1の内容は第１表に示したように「NTSC」→「PAL」
→「EXT」の順に「１」→「２」→「４」と２倍ずつ増
加させている。従って、上記＃60〜＃70のフローはスイ
ッチSW1がオンされる毎に測定モードを「NTSC」→「PA
L」→「EXT」の順にサイクリックに変更させるものであ
る。
スイッチSW1がオフ状態か、あるいはスイッチSW1によ
り測定モードの変更を修了すると、続いて＃75〜＃85で
設定された測定モードに対応する積分時間AMをカウンタ
９に設定する。すなわち、レジスタR1の内容を判別し
（＃75,＃85）、「１」であれば（＃75でYES）、測定モ
ードが「NSTC」モードであるからカウンタ９にm/（60×
t0）の値を設定する（＃80）。ここにt0はパルス発生器
10から出力される基準パルスの１周期の時間である。カ
ウンタ８は該基準パルス数をカウントして積分時間AM＝
m/60秒を計測する。ｍは予め定められた整数であり、AD
変換回路５でm/60秒間の積分を行うことにより垂直同期
信号のｍ周期分をAD変換することになる。従って、ｍ＝
１のとき、最も早い速度で測定を行うことができること
になる。レジスタR1の内容が「２」であれば（＃85でYE
S）、測定モードが「PAL」モードであるからカウンタ９
にm/（50×t0）の値を設定する（＃90）。また、レジス
タR1の内容が「４」であれば（＃85でNO）、測定モード
が「EXT」モードであるからフラグFLMの状態を判別し
（＃95）、フラグFLMが０にリセットされていれば、制
御部６からカウンタ８にカウンタイネーブル信号を出力
し（＃100）、カウンタ８による垂直同期信号のインタ
ーバル時間tM（パルス周期）の計測が完了するまで、待
機する（＃105）。すなわち、「EXT」モードでは、垂直
同期信号のインターバル時間が標準値ではないため積分
時間AMを実測するものである。カウンタ８は上記カウン
タイネーブル信号によりカウンタ値をリセットした後、
入力端子T1から入力される垂直同期信号の最初のパルス
によりパルス発生器10から入力される基準パルスのカウ
ントを開始し、上記最初の垂直同期信号の次のパルスに
よりカウントを停止して垂直同期信号のインターバル時
間tMを計測する。なお、上記待機時間は測定対象となる
垂直同期信号の内の最長のインターバル時間に設定され
ており、種々の垂直同期信号を有する測定用CRTのいず
れに対しても上記待機中に垂直同期信号のインターバル
時間tMの計測が完了するようになっている。続いて、カ
ウンタ８のカウント作業が正常に行われたかどうか判定
し（＃110）、異常の場合は、表示部12にエラー表示を
行い（＃115）、ステップ＃50に戻って再度測定を行
う。例えば入力端子T1に垂直同期信号が入力されていな
い場合には測定エラーとなる。カウンタ８のカウント作
業が正常に行われれば、フラグFLMを１にセットし、カ
ウンタ９に上記計測した垂直同期信号のインターバル時
間tMのｍ倍の時間ｍ・tMを設定する（＃125）。
り測定モードの変更を修了すると、続いて＃75〜＃85で
設定された測定モードに対応する積分時間AMをカウンタ
９に設定する。すなわち、レジスタR1の内容を判別し
（＃75,＃85）、「１」であれば（＃75でYES）、測定モ
ードが「NSTC」モードであるからカウンタ９にm/（60×
t0）の値を設定する（＃80）。ここにt0はパルス発生器
10から出力される基準パルスの１周期の時間である。カ
ウンタ８は該基準パルス数をカウントして積分時間AM＝
m/60秒を計測する。ｍは予め定められた整数であり、AD
変換回路５でm/60秒間の積分を行うことにより垂直同期
信号のｍ周期分をAD変換することになる。従って、ｍ＝
１のとき、最も早い速度で測定を行うことができること
になる。レジスタR1の内容が「２」であれば（＃85でYE
S）、測定モードが「PAL」モードであるからカウンタ９
にm/（50×t0）の値を設定する（＃90）。また、レジス
タR1の内容が「４」であれば（＃85でNO）、測定モード
が「EXT」モードであるからフラグFLMの状態を判別し
（＃95）、フラグFLMが０にリセットされていれば、制
御部６からカウンタ８にカウンタイネーブル信号を出力
し（＃100）、カウンタ８による垂直同期信号のインタ
ーバル時間tM（パルス周期）の計測が完了するまで、待
機する（＃105）。すなわち、「EXT」モードでは、垂直
同期信号のインターバル時間が標準値ではないため積分
時間AMを実測するものである。カウンタ８は上記カウン
タイネーブル信号によりカウンタ値をリセットした後、
入力端子T1から入力される垂直同期信号の最初のパルス
によりパルス発生器10から入力される基準パルスのカウ
ントを開始し、上記最初の垂直同期信号の次のパルスに
よりカウントを停止して垂直同期信号のインターバル時
間tMを計測する。なお、上記待機時間は測定対象となる
垂直同期信号の内の最長のインターバル時間に設定され
ており、種々の垂直同期信号を有する測定用CRTのいず
れに対しても上記待機中に垂直同期信号のインターバル
時間tMの計測が完了するようになっている。続いて、カ
ウンタ８のカウント作業が正常に行われたかどうか判定
し（＃110）、異常の場合は、表示部12にエラー表示を
行い（＃115）、ステップ＃50に戻って再度測定を行
う。例えば入力端子T1に垂直同期信号が入力されていな
い場合には測定エラーとなる。カウンタ８のカウント作
業が正常に行われれば、フラグFLMを１にセットし、カ
ウンタ９に上記計測した垂直同期信号のインターバル時
間tMのｍ倍の時間ｍ・tMを設定する（＃125）。
続いて、AD変換回路５で上記カウンタ９に設定された
積分時間AMだけ受光信号を積分してAD変換を行い、その
AD変換値ZMをレジスタMMに格納する（＃130,＃135）。
続いて上記AD変換値ZMからAD変換回路５のバイアス成分
Z5を減算し、積分時間に対する実際の発光量に対するAD
変換値ZTを算出する（＃140）。
積分時間AMだけ受光信号を積分してAD変換を行い、その
AD変換値ZMをレジスタMMに格納する（＃130,＃135）。
続いて上記AD変換値ZMからAD変換回路５のバイアス成分
Z5を減算し、積分時間に対する実際の発光量に対するAD
変換値ZTを算出する（＃140）。
第５図はCRT2の測定時におけるAD変換値と積分時間と
の関係を示す図である。同図において、関数Ｆ′はCRT2
の発光時における積分時間Ａに対するAD変換値Ｚの関数
であり、関数Ｆは第４図に示した無入射光状態における
積分時間Ａに対するAD変換値Ｚの関数である。第５図か
ら分かるように実際の発光量に対するAD変換値ZTはAD変
換値ZMから暗状態における積分時間AMに対するAD変換値
Z5を減じたものである。AD変換値Z5は式よりZ5＝Ｋ・
AM＋Z0であるから、AD変換値ZTは、 ZT＝ZM−Z5 ＝ZM−Ｋ・AM−Z0 … となる。式において、Ｋ及びZ0はステップ＃45で既に
算出され、それぞれレジスタMKとM0に格納されているの
で、該データを用いて式からAD変換値ZTが算出され
る。
の関係を示す図である。同図において、関数Ｆ′はCRT2
の発光時における積分時間Ａに対するAD変換値Ｚの関数
であり、関数Ｆは第４図に示した無入射光状態における
積分時間Ａに対するAD変換値Ｚの関数である。第５図か
ら分かるように実際の発光量に対するAD変換値ZTはAD変
換値ZMから暗状態における積分時間AMに対するAD変換値
Z5を減じたものである。AD変換値Z5は式よりZ5＝Ｋ・
AM＋Z0であるから、AD変換値ZTは、 ZT＝ZM−Z5 ＝ZM−Ｋ・AM−Z0 … となる。式において、Ｋ及びZ0はステップ＃45で既に
算出され、それぞれレジスタMKとM0に格納されているの
で、該データを用いて式からAD変換値ZTが算出され
る。
第３図に戻り、AD変換値ZTを算出した後、該AD変換値
ZTを用いてCRT2の輝度、色等の演算を行い、その演算結
果を表示部12に表示してステップ＃50に戻る（＃145,＃
150）。上記演算は本発明に関係しないので、詳細説明
は省略する。
ZTを用いてCRT2の輝度、色等の演算を行い、その演算結
果を表示部12に表示してステップ＃50に戻る（＃145,＃
150）。上記演算は本発明に関係しないので、詳細説明
は省略する。
ところで、AD変換回路５の構成又は調整により無入射
光状態におけるAD変換値Ｚにバイアス成分Z0が含まれな
いようにできる場合は、第４図において、関数Ｆの比例
係数Ｋを算出するだけでよいから積分時間Ａに対するAD
変換値の測定は１回で済み、ゼロ校正をより迅速に行う
ことができる。従って、この場合は、上記第３図のフロ
ーチャートにおけるステップ＃30〜＃45は第６図に示す
ステップに置き換えられ、ステップ＃140は第７図に示
すステップに置き換えることができる。すなわち、２回
目の積分時間A2に対するAD変換値Z2の測定が省略され、
比例係数Ｋは積分時間A1に対するAD変換値Z1からＫ＝Z1
/A1により算出される。また、AD変換値Z5はZ5＝Ｋ・AM
となるからAD変換値ZTは、 ZT＝ZM−Z5 ＝ZM−Ｋ・AM ＝ZM−Z1・AM/A1 … より算出される。
光状態におけるAD変換値Ｚにバイアス成分Z0が含まれな
いようにできる場合は、第４図において、関数Ｆの比例
係数Ｋを算出するだけでよいから積分時間Ａに対するAD
変換値の測定は１回で済み、ゼロ校正をより迅速に行う
ことができる。従って、この場合は、上記第３図のフロ
ーチャートにおけるステップ＃30〜＃45は第６図に示す
ステップに置き換えられ、ステップ＃140は第７図に示
すステップに置き換えることができる。すなわち、２回
目の積分時間A2に対するAD変換値Z2の測定が省略され、
比例係数Ｋは積分時間A1に対するAD変換値Z1からＫ＝Z1
/A1により算出される。また、AD変換値Z5はZ5＝Ｋ・AM
となるからAD変換値ZTは、 ZT＝ZM−Z5 ＝ZM−Ｋ・AM ＝ZM−Z1・AM/A1 … より算出される。
次に、第８図を用いて「測定・AD変換」サブルーチン
について説明する。
について説明する。
まず、制御部６からラインl6によりカウンタ８にカウ
ンタイネーブル信号を出力し（＃200）、入力端子T1か
ら入力される垂直同期信号のインターバル時間（パルス
周期）を計測する。続いて、レジスタR1の内容から測定
モードを判別し（＃200）、レジスタR1の内容が
「４」、すなわち、測定モードが「EXT」モードであれ
ば、垂直同期信号が入力されるまで待機し（＃210）、
入力されると、そのインターバル時間を計測する。
ンタイネーブル信号を出力し（＃200）、入力端子T1か
ら入力される垂直同期信号のインターバル時間（パルス
周期）を計測する。続いて、レジスタR1の内容から測定
モードを判別し（＃200）、レジスタR1の内容が
「４」、すなわち、測定モードが「EXT」モードであれ
ば、垂直同期信号が入力されるまで待機し（＃210）、
入力されると、そのインターバル時間を計測する。
続いて、制御部６からラインl7によりカウンタ９にAD
変換開始信号を出力する（＃215）。カウンタ９は該AD
変換開始信号を受けてライン９によりAD変換回路５に二
重積分タイプのAD変換用積分信号を出力すると共にカウ
ンタ９に設定されたカウント値をパルス発生器10からの
基準パルスに従いカウントダウンする。そして、カウン
タ９はカウント値が０となったとき、上記積分信号を停
止する。続いて、制御部６はこの積分信号の停止状態を
検出することによりラインl10により上記AD変換回路５
に放電信号を出力する（＃220,＃225）。AD変換回路５
ではこの放電信号を受けて、定電流放電が行われる。続
いて、AD変換回路５からAD変換終了信号が入力されたか
どうか判定し（＃230）、入力されると、AD変換が終了
したとしてメインルーチンにリターンする。AD変換が終
了した時、AD変換回路５内にはAD変換値が保存される。
なお、上記AD変換終了の検出は、上記放電信号が入力さ
れてからAD変換されるデータに対応した時間経過後に信
号レベルが反転するような信号をAD変換回路５から制御
部６に出力させ、制御部６内に設けたプログラムカウン
タ等のカウンタを用いて上記信号の反転時間を計測する
ようにして行ってもよい。
変換開始信号を出力する（＃215）。カウンタ９は該AD
変換開始信号を受けてライン９によりAD変換回路５に二
重積分タイプのAD変換用積分信号を出力すると共にカウ
ンタ９に設定されたカウント値をパルス発生器10からの
基準パルスに従いカウントダウンする。そして、カウン
タ９はカウント値が０となったとき、上記積分信号を停
止する。続いて、制御部６はこの積分信号の停止状態を
検出することによりラインl10により上記AD変換回路５
に放電信号を出力する（＃220,＃225）。AD変換回路５
ではこの放電信号を受けて、定電流放電が行われる。続
いて、AD変換回路５からAD変換終了信号が入力されたか
どうか判定し（＃230）、入力されると、AD変換が終了
したとしてメインルーチンにリターンする。AD変換が終
了した時、AD変換回路５内にはAD変換値が保存される。
なお、上記AD変換終了の検出は、上記放電信号が入力さ
れてからAD変換されるデータに対応した時間経過後に信
号レベルが反転するような信号をAD変換回路５から制御
部６に出力させ、制御部６内に設けたプログラムカウン
タ等のカウンタを用いて上記信号の反転時間を計測する
ようにして行ってもよい。
次に、第９図を用いて第２実施例を説明する。第２実
施例は、上記第１実施例において入力端子T1から垂直同
期信号を入力するのに代えてキーブロックにより垂直同
期信号に対応するデータを入力するものである。同図に
おいて、第１図と同一部材には同一の符号を付してい
る。31は垂直同期信号をキーブロックより入力するよう
に構成した光測定装置である。15はテンキー、入力開始
用キー及び入力終了用キー等で構成され、信号発生器２
の垂直同期信号に対応した周波数データ又は垂直同期信
号のインターバル時間に対応した時間データを入力する
キーブロックである。16は該キーブロックから入力され
るデータを記憶するレジスタである。レジスタ16ではラ
インl18によりキーブロック15に出力するストローブ信
号とラインl19によりキーブロック15から力されるリタ
ーン信号とによりキーブロック15で操作されたキーを識
別し、設定されたデータを記憶する。上記キーブロック
15から入力されたデータはラインl5により制御部６に入
力され、更に該制御部６からラインl20により表示ドラ
イバー17に出力され、表示部18に表示される。
施例は、上記第１実施例において入力端子T1から垂直同
期信号を入力するのに代えてキーブロックにより垂直同
期信号に対応するデータを入力するものである。同図に
おいて、第１図と同一部材には同一の符号を付してい
る。31は垂直同期信号をキーブロックより入力するよう
に構成した光測定装置である。15はテンキー、入力開始
用キー及び入力終了用キー等で構成され、信号発生器２
の垂直同期信号に対応した周波数データ又は垂直同期信
号のインターバル時間に対応した時間データを入力する
キーブロックである。16は該キーブロックから入力され
るデータを記憶するレジスタである。レジスタ16ではラ
インl18によりキーブロック15に出力するストローブ信
号とラインl19によりキーブロック15から力されるリタ
ーン信号とによりキーブロック15で操作されたキーを識
別し、設定されたデータを記憶する。上記キーブロック
15から入力されたデータはラインl5により制御部６に入
力され、更に該制御部６からラインl20により表示ドラ
イバー17に出力され、表示部18に表示される。
第２実施例における測定動作は、垂直同期信号がキー
入力されることを除いて第１実施例の測定動作と基本的
に変わるところがないので、第３図及び第８図で示した
第１実施例のフローチャートのステップ＃200（カウン
タイネーブル信号を受けて垂直同期信号のインターバル
時間の計測を開始する）を除けば、該フローチャートを
第２実施例に使用することができる。
入力されることを除いて第１実施例の測定動作と基本的
に変わるところがないので、第３図及び第８図で示した
第１実施例のフローチャートのステップ＃200（カウン
タイネーブル信号を受けて垂直同期信号のインターバル
時間の計測を開始する）を除けば、該フローチャートを
第２実施例に使用することができる。
次に、第10図を用いて第３実施例を説明する。第３実
施例は、CRT2の垂直同期信号を入力する代わりに該CRT2
の管面上の一部の光を検知することにより垂直同期信号
と同等の信号を得るようにしたものである。螢光体には
残光時間が数msecから数十msecの長残光タイプと100μs
ec程度の短残光タイプの２種類があるが、本実施例は短
残光タイプのCRTに有効な実施例である。同図におい
て、同一部材には同一の符号を付している。32は本実施
例に係る光測定装置である。DTは光電変換素子Ｄの上方
に配設され、上記光電変換素子Ｄが受光すべきCRT2の管
面上の螢光体以外の螢光体の光を受光する光電変換素子
である。20は該光電変換素子DTの出力レベルを後段の回
路の入力レベルにマッチングさせるためのインピーダン
ス変換回路である。上記光電変換素子DTでは螢光体の発
光周期を検出するので、CRT2の垂直同期信号に対応した
信号がインピータンス変換回路20からラインl22により
カウンタ８及び制御部６に入力される。カウンタ８は上
記発光周期信号のインターバル時間をパルス信号発生器
10からの基準パルスをカウントすることにより計測し、
その計測が終了する度に内蔵するラッチ回路（不図示）
に計測データを設定する。すなわち、上記光電変換素子
DTにより検出されたCRT2の管面上の螢光体の発光周期の
データがカウンタ８のラッチ回路に設定される。21は上
記ラッチ回路に設定されたデータを受け取り、該データ
を1/N（Ｎ＞２）に割算する割算部である。割算部21で
分割されたデータはラインl5により制御部６に入力さ
れ、該データは後述するゼロ校正及び実際の測定の際に
制御部６からカウンタ９に設定される。
施例は、CRT2の垂直同期信号を入力する代わりに該CRT2
の管面上の一部の光を検知することにより垂直同期信号
と同等の信号を得るようにしたものである。螢光体には
残光時間が数msecから数十msecの長残光タイプと100μs
ec程度の短残光タイプの２種類があるが、本実施例は短
残光タイプのCRTに有効な実施例である。同図におい
て、同一部材には同一の符号を付している。32は本実施
例に係る光測定装置である。DTは光電変換素子Ｄの上方
に配設され、上記光電変換素子Ｄが受光すべきCRT2の管
面上の螢光体以外の螢光体の光を受光する光電変換素子
である。20は該光電変換素子DTの出力レベルを後段の回
路の入力レベルにマッチングさせるためのインピーダン
ス変換回路である。上記光電変換素子DTでは螢光体の発
光周期を検出するので、CRT2の垂直同期信号に対応した
信号がインピータンス変換回路20からラインl22により
カウンタ８及び制御部６に入力される。カウンタ８は上
記発光周期信号のインターバル時間をパルス信号発生器
10からの基準パルスをカウントすることにより計測し、
その計測が終了する度に内蔵するラッチ回路（不図示）
に計測データを設定する。すなわち、上記光電変換素子
DTにより検出されたCRT2の管面上の螢光体の発光周期の
データがカウンタ８のラッチ回路に設定される。21は上
記ラッチ回路に設定されたデータを受け取り、該データ
を1/N（Ｎ＞２）に割算する割算部である。割算部21で
分割されたデータはラインl5により制御部６に入力さ
れ、該データは後述するゼロ校正及び実際の測定の際に
制御部６からカウンタ９に設定される。
次に、第11図を用いて第３実施例の動作について説明
する。
する。
まず、初期設定した後、割算部21で発光周期を1/Nに
したデータTNを取り込み、制御部６内のレジスタR3に記
憶すると共にカウンタ９に該データを設定する（＃250,
＃255,＃260）。続いて、光電変換素子DTによりCRT2の
管面上の螢光体の発光が検出されるまで待機し（＃26
5）、検出されると同時に（その発光タイミングで）
「測定・AD変換」サブルーチンを実行してAD変換値ZMを
算出し、該AD変換値をレジスタMMに格納する（＃270,＃
275）。続いて、カウンタ９に再度、レジスタR3のデー
タTNを設定した後（＃280）、光電変換素子DTによりCRT
2の管面上の螢光体の発光が検出されるまで待機し（＃2
85）、検出されると、上記データTNに対応する時間と同
じ時間だけ待機した後（＃290）、「測定・AD変換」サ
ブルーチンを実行してAD変換値Z1を算出し、該AD変換値
Z1をレジスタM1に格納する（＃295,＃300）。続いて、
上記AD変換値ZMからAD変換値Z1を引いて実際の発光によ
るAD変換値ZTを算出し、その値をレジスタＭに格納する
（＃305）。続いて、上記AD変換値ZTを用いてCRT2の輝
度及び色等の演算を行い、その演算結果を表示部12に表
示してステップ＃255に戻る（＃310,＃315）。
したデータTNを取り込み、制御部６内のレジスタR3に記
憶すると共にカウンタ９に該データを設定する（＃250,
＃255,＃260）。続いて、光電変換素子DTによりCRT2の
管面上の螢光体の発光が検出されるまで待機し（＃26
5）、検出されると同時に（その発光タイミングで）
「測定・AD変換」サブルーチンを実行してAD変換値ZMを
算出し、該AD変換値をレジスタMMに格納する（＃270,＃
275）。続いて、カウンタ９に再度、レジスタR3のデー
タTNを設定した後（＃280）、光電変換素子DTによりCRT
2の管面上の螢光体の発光が検出されるまで待機し（＃2
85）、検出されると、上記データTNに対応する時間と同
じ時間だけ待機した後（＃290）、「測定・AD変換」サ
ブルーチンを実行してAD変換値Z1を算出し、該AD変換値
Z1をレジスタM1に格納する（＃295,＃300）。続いて、
上記AD変換値ZMからAD変換値Z1を引いて実際の発光によ
るAD変換値ZTを算出し、その値をレジスタＭに格納する
（＃305）。続いて、上記AD変換値ZTを用いてCRT2の輝
度及び色等の演算を行い、その演算結果を表示部12に表
示してステップ＃255に戻る（＃310,＃315）。
上述したように光電変換素子DTは光電変換素子Ｄより
上方に配設されているので、光電変換素子Ｄが受光すべ
き螢光体をＢ、光電変換素子DTが受光すべき螢光体をBT
とすると、螢光体Ｂは螢光体BTが発光する１周期の中で
螢光体BTが発光した後、比較的直ぐに１回だけ発光す
る。従って、最初の測定では上記光電変換素子DTが螢光
体BTの発光を検出すると同時にデータTNに対応する時間
（発光周期の1/2以下の時間）だけ積分することにより
螢光体Ｂの発光を受光することになる。次に、２回目の
測定では、上記光電変換素子DTが螢光体BTの発光を検出
してから上記データTNに対応する時間だけ待機すること
により螢光体Ｂの発光周期の内、螢光体Ｂが発光してい
ない状態を受光することになる。すなわち、２回目の測
定で無入射光状態の測定を行うことになり、このときの
AD変換値から上述した測定系のオフセット量を算出して
いる。
上方に配設されているので、光電変換素子Ｄが受光すべ
き螢光体をＢ、光電変換素子DTが受光すべき螢光体をBT
とすると、螢光体Ｂは螢光体BTが発光する１周期の中で
螢光体BTが発光した後、比較的直ぐに１回だけ発光す
る。従って、最初の測定では上記光電変換素子DTが螢光
体BTの発光を検出すると同時にデータTNに対応する時間
（発光周期の1/2以下の時間）だけ積分することにより
螢光体Ｂの発光を受光することになる。次に、２回目の
測定では、上記光電変換素子DTが螢光体BTの発光を検出
してから上記データTNに対応する時間だけ待機すること
により螢光体Ｂの発光周期の内、螢光体Ｂが発光してい
ない状態を受光することになる。すなわち、２回目の測
定で無入射光状態の測定を行うことになり、このときの
AD変換値から上述した測定系のオフセット量を算出して
いる。
なお、発光検出用光電変換素子DTの配置による螢光体
BTと螢光体Ｂとの相対的な発光タイミングによっては、
積分時間を発光周期より短い時間にし、該積分時間内で
螢光体Ｂが発光するような積開始信号と該積分時間内で
螢光体Ｂが発光しないような積分開始信号とをそれぞれ
算出し、これら積分開始信号に基づいて螢光体Ｂの発光
時と非発光時の測定をそれぞれ行うようにしてもよい。
BTと螢光体Ｂとの相対的な発光タイミングによっては、
積分時間を発光周期より短い時間にし、該積分時間内で
螢光体Ｂが発光するような積開始信号と該積分時間内で
螢光体Ｂが発光しないような積分開始信号とをそれぞれ
算出し、これら積分開始信号に基づいて螢光体Ｂの発光
時と非発光時の測定をそれぞれ行うようにしてもよい。
以上説明したように、請求項１記載の発明によれば、
光電変換手段によりCRT管面の発光量を測定するCRT用光
測定装置において、測定用CRTの標準的な同期信号に対
して予め設定された固定的な積分時間と測定用CRTの同
期信号を実測して得られる積分時間とを切換設定可能に
したので、被測定用CRTの同期信号が標準的でない場合
も測定用CRTの同期信号に合わせてCRT管面上の光測定が
可能になり、測定精度が向上する。また、可能なかぎり
測定時間を短くすることができ、高速測定が可能にな
る。
光電変換手段によりCRT管面の発光量を測定するCRT用光
測定装置において、測定用CRTの標準的な同期信号に対
して予め設定された固定的な積分時間と測定用CRTの同
期信号を実測して得られる積分時間とを切換設定可能に
したので、被測定用CRTの同期信号が標準的でない場合
も測定用CRTの同期信号に合わせてCRT管面上の光測定が
可能になり、測定精度が向上する。また、可能なかぎり
測定時間を短くすることができ、高速測定が可能にな
る。
また、請求項２記載の発明によれば、測定用CRTの同
期信号の周波数の情報を入力可能にし、その周波数に基
づき同期信号のインターバル時間を算出するようにした
ので、測定用CRTの同期信号の周波数に拘らず、その同
期信号に合わせてCRT管面上の光測定が可能になり、測
定精度が向上する。また、可能なかぎり測定時間を短く
することができ、高速測定が可能になる。更に、測定用
CRTの同期信号を直接入力する信号線が必要になり、こ
の分、測定系が簡素になる。
期信号の周波数の情報を入力可能にし、その周波数に基
づき同期信号のインターバル時間を算出するようにした
ので、測定用CRTの同期信号の周波数に拘らず、その同
期信号に合わせてCRT管面上の光測定が可能になり、測
定精度が向上する。また、可能なかぎり測定時間を短く
することができ、高速測定が可能になる。更に、測定用
CRTの同期信号を直接入力する信号線が必要になり、こ
の分、測定系が簡素になる。
また、請求項３又は４記載の発明によれば、無入射光
状態での測定系のオフセット量を実測するようにしたの
で、測定時間に対応したオフセット量を算出することに
より同期信号の周期が変化した場合にも常に正確なCRT
の発光量を測定することができる。
状態での測定系のオフセット量を実測するようにしたの
で、測定時間に対応したオフセット量を算出することに
より同期信号の周期が変化した場合にも常に正確なCRT
の発光量を測定することができる。
更に、請求項５記載の発明によれば、光電変換手段と
は別に測定用CRTの発光を検出する検出手段を設け、こ
の検出手段の検出結果に基づいて測定CRTの発光周期を
検出するようにしたので、比較的残光時間の短いCRTに
対しても正確に発光量を測定することができる。
は別に測定用CRTの発光を検出する検出手段を設け、こ
の検出手段の検出結果に基づいて測定CRTの発光周期を
検出するようにしたので、比較的残光時間の短いCRTに
対しても正確に発光量を測定することができる。
第１図は本発明に係る光測定装置を用いたCRTの光測定
システムの構成図、第２図は表示部の表示例を示す図、
第３図は本発明に係る光測定装置の動作を示すフローチ
ャート、第４図及び第５図は積分時間とAD変換値の関係
を示す図、第６図及び第７図はバイアス成分のないAD変
換回路を用いた場合のAD変換値の演算ステップを示す
図、第８図は「測定・AD変換」サブルーチンのフローチ
ャート、第９図は第２実施例の光測定装置を用いたCRT
の光測定システムの構成図、第10図は第３実施例の光測
定装置を用いたCRTの光測定システムの構成図、第11図
は第３実施例の光測定装置の動作を示すフローチャート
である。 1,31,32……光測定装置、２……測定用CRT、３……信号
発生器、4,20……インピーダンス変換器、５……AD変換
回路、６……制御部、７……電圧変換器、8,9……カウ
ンタ、10……パルス信号発生器、11,17……表示ドライ
バー、12,18……表示部、13……拡散板、14……フィル
ター、15……キーボード、16……レジスタ、21……割算
部、SW1,SW2……スイッチ、T1……入力端子。
システムの構成図、第２図は表示部の表示例を示す図、
第３図は本発明に係る光測定装置の動作を示すフローチ
ャート、第４図及び第５図は積分時間とAD変換値の関係
を示す図、第６図及び第７図はバイアス成分のないAD変
換回路を用いた場合のAD変換値の演算ステップを示す
図、第８図は「測定・AD変換」サブルーチンのフローチ
ャート、第９図は第２実施例の光測定装置を用いたCRT
の光測定システムの構成図、第10図は第３実施例の光測
定装置を用いたCRTの光測定システムの構成図、第11図
は第３実施例の光測定装置の動作を示すフローチャート
である。 1,31,32……光測定装置、２……測定用CRT、３……信号
発生器、4,20……インピーダンス変換器、５……AD変換
回路、６……制御部、７……電圧変換器、8,9……カウ
ンタ、10……パルス信号発生器、11,17……表示ドライ
バー、12,18……表示部、13……拡散板、14……フィル
ター、15……キーボード、16……レジスタ、21……割算
部、SW1,SW2……スイッチ、T1……入力端子。
フロントページの続き (72)発明者 鳴瀬 一彦 大阪府大阪市中央区安土町２丁目３番13 号 大阪国際ビル ミノルタカメラ株式 会社内 (56)参考文献 特開 昭50−81470（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−15429（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01J 1/44,3/50 H04N 17/04
Claims (5)
- 【請求項１】光電変換手段によりCRT管面の発光量を測
定するCRT用光測定装置において、上記CRTの同期信号が
入力される入力手段と、入力された上記同期信号のイン
ターバル時間を計測する計測手段と、上記光電変換手段
の出力信号を所定の時間だけ積分してAD変換する信号変
換手段と、上記信号変換手段の積分時間を上記計測手段
で計測されるインターバル時間と予め設定された所定の
積分時間とに切換設定する積分時間設定手段とを備えた
ことを特徴とするCRT用光測定装置。 - 【請求項２】光電変換手段によりCRT管面の発光量を測
定するCRT用光測定装置において、上記CRTの同期信号の
周波数が入力される入力手段と、入力された上記周波数
に基づき上記同期信号のインターバル時間を生成する生
成手段と、上記光電変換手段の出力信号を上記インター
バル時間だけ積分してAD変換する信号変換手段とを備え
たことを特徴とするCRT用光測定装置。 - 【請求項３】請求項１又は２記載のCRT用光測定装置に
おいて、上記光電変換手段に入力光がない状態での上記
信号変換手段の作動が指示可能な指示手段と、上記指示
手段の指示信号を受けて上記光電変換手段の出力信号を
予め設定された第２の時間だけ積分するとともにAD変換
し、該AD変換値と上記第２の時間とから積分時間の単位
時間当たりのAD変換値を算出する第１の演算手段と、上
記CRTの発光量を測定したAD変換値から該AD変換時の積
分時間に上記第１の演算手段の算出値を乗算したAD変換
値を減算する第２の演算手段とを備えたことを特徴とす
るCRT用光測定装置。 - 【請求項４】請求項１又は２記載のCRT用光測定装置に
おいて、上記光電変換手段に入力光がない状態での上記
信号変換手段の作動が指示可能な指示手段と、上記指示
手段の指示信号を受けて前記光電変換手段の出力信号を
予め設定された第２の時間だけ積分してAD変換したAD変
換値と上記指示信号を受けて前記光電変換手段の出力信
号を上記第２の時間のｎ倍の時間だけ積分してAD変換し
たAD変換値とを記憶する手段と、上記各AD変換値から積
分時間の単位時間当たりのAD変換値と積分時間に関係し
ないAD変換値とを算出する第３の演算手段と、上記CRT
の発光量を測定したAD変換値から該AD変換時の積分時間
に上記積分時間の単位時間当たりのAD変換値を乗算した
AD変換値と上記積分時間に関係しないAD変換値とを減算
する第４の演算手段とを備えたことを特徴とするCRT用
光測定装置。 - 【請求項５】光電変換手段によりCRT管面の発光量を測
定するCRT用光測定装置において、CRT管面上の螢光体の
発光を検出する検出手段と、該検出手段の出力から上記
螢光体の発光周期を算出する手段と、該発光周期よりも
短い所定の積分時間を設定する時間設定手段と、上記積
分時間内で上記光電変換手段の受光すべき螢光体が発光
するように積分開始信号を発生する第１の信号発生手段
と、上記積分時間内では上記光電変換手段の受光すべき
螢光体が非発光となるように積分開始信号を発生する第
２の信号発生手段と、上記第１、第２の信号発生手段の
出力を受けて上記光電変換手段の出力信号を上記設定さ
れた所定の積分時間だけ積分してAD変換するAD変換手段
と、上記第１の信号発生手段の出力に基づいて得られた
AD変換値から上記第２の信号出力手段の出力に基づいて
得られたAD変換値を減算する演算手段とを備えたことを
特徴とするCRT用光測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1181432A JP2923981B2 (ja) | 1989-07-12 | 1989-07-12 | Ｃｒｔ用光測定装置 |
| US07/550,636 US5122651A (en) | 1989-07-12 | 1990-07-10 | Device for measuring luminance of fluourscent screen of cathode ray tube |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1181432A JP2923981B2 (ja) | 1989-07-12 | 1989-07-12 | Ｃｒｔ用光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0344524A JPH0344524A (ja) | 1991-02-26 |
| JP2923981B2 true JP2923981B2 (ja) | 1999-07-26 |
Family
ID=16100673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1181432A Expired - Lifetime JP2923981B2 (ja) | 1989-07-12 | 1989-07-12 | Ｃｒｔ用光測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5122651A (ja) |
| JP (1) | JP2923981B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0562976A1 (en) * | 1992-03-23 | 1993-09-29 | Eastman Kodak Company | Luminance measurement method and apparatus |
| FI119954B (fi) * | 2004-08-30 | 2009-05-15 | Optofidelity Oy | Elektronisten laitteiden testausmenetelmä |
| JP5018409B2 (ja) * | 2007-11-07 | 2012-09-05 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | 光量測定装置 |
| JPWO2009147908A1 (ja) * | 2008-06-06 | 2011-10-27 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 光測定装置、光測定方法、およびプログラム |
| JP6729578B2 (ja) * | 2015-06-19 | 2020-07-22 | コニカミノルタ株式会社 | 光学特性測定装置及び光学特性測定装置の設定方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02174491A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-05 | Minolta Camera Co Ltd | カラーｃｒｔのコンバーゼンス測定装置 |
| US4933558A (en) * | 1989-01-31 | 1990-06-12 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | X-ray sensitive area detection device |
-
1989
- 1989-07-12 JP JP1181432A patent/JP2923981B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-07-10 US US07/550,636 patent/US5122651A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0344524A (ja) | 1991-02-26 |
| US5122651A (en) | 1992-06-16 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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