JP2919157B2 - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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JP2919157B2
JP2919157B2 JP5630992A JP5630992A JP2919157B2 JP 2919157 B2 JP2919157 B2 JP 2919157B2 JP 5630992 A JP5630992 A JP 5630992A JP 5630992 A JP5630992 A JP 5630992A JP 2919157 B2 JP2919157 B2 JP 2919157B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造装置に関
し、特にディップ式ウェット装置に付属するウェハース
立て替えシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のウェハース立て替えシス
テムは図6に示すような構造を有しており、図3(b)
に示すフローチャートにそって作業を行っていた。
【0003】まず、ウェハースホルダ1の下方に、ウェ
ハースの入ったウェハースキャリア4をセットして起動
すると、プッシャー5が上昇し、ウェハースキャリア4
内のウェハースの底縁がプッシャー5に支持されたまま
ウェハースが上昇し、ウェハースホルダ1内に移動収納
される。このとき、ウェハースは、ウェハースホルダ1
の対向する側壁に対をなして設けられたウェハース用溝
6に1枚ずつ嵌合される。
【0004】その状態でウェハースストッパ2が、図7
(b)の原点の状態から(c)の状態へ移動する。その
後、プッシャー5がもとの位置に下降する。この状態
で、ウェハースキャリア4を入れ替える。
【0005】この時、ウェハースキャリア4にはウェハ
ースは入っていない。その後プッシャー5が再び上昇
し、ウェハースホルダ1に収納され、ウェハースストッ
パー2でストックされているウェハースを保持する。
【0006】この状態でウェハースストッパ2が図7
(c)の状態から(b)の状態(原点)に移動し、プッ
シャー5が下降する。
【0007】これによって、ウェハースの立て替えが終
了する。ウェハースキャリア4に立て替えられたウェハ
ースは立て替え前の状態と同じ状態で図5のようにウェ
ハースキャリア4に収納されたことになる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】この従来のウェハース
立て替えシステムによって立て替えられたウェハース
は、ウェハースキャリア内に同一方向に入っているた
め、1枚目のウェハースの裏面が2枚目のウェハースの
表面と対向する状態になる。
【0009】その状態でディップ式ウェット処理を行う
場合、処理槽内にウェハースキャリアを浸漬すると、ウ
ェハース裏面の汚れが対向するウェハース表面に付着
し、半導体集積回路のパターンショート等の原因とな
り、歩留りを低下させるという問題点があった。
【0010】また、上述の問題点を未然に最小限におさ
えるため、ウェハース裏面の汚れを種々の工程において
除去する必要が生じ、半導体集積回路の製造工程が長く
なるという問題点があった。
【0011】本発明の目的は、ディップ式ウェット処理
において、一のウェハース裏面の汚れが他のウェハース
裏面に付着するのを防止した半導体製造装置を提供する
ことにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体製造装置は、ウェハースホルダ
と、ウェハースキャリアと、ウェハースキャリア回転機
構と、プッシャーと、ストッパとを有し、半導体基板の
立て替えを行う半導体製造装置であって、ウェハースホ
ルダは、平行な側壁の対向内面の縦方向に半導体基板の
側縁を嵌合させる対をなすウェハース用溝を有するもの
であり、ウェハースキャリアは、前記ウェハースホルダ
の下方に交換可能に配置され、かつウェハースホルダの
下方位置で縦軸のまわりに反転可能に設けられ、対向す
る内面に前記ウェハースホルダのウェハース用溝と同一
ピッチの対をなす保持溝を有しており、該対をなす保持
溝は、下部相互間の間隔が狭められ、半導体基板を前記
ウェハースキャリア内に縦置きで嵌合保持するものであ
り、ウェハースキャリア回転機構は、前記ウェハースホ
ルダの下方位置でウェハースキャリアを縦軸のまわりに
反転させるものであり、プッシャーは、前記ウェハース
キャリアの底部開口から内部に進入し、前記保持溝内の
半導体基板の底縁を支持して上昇し、該保持溝内の半導
体基板を前記ウェハースホルダのウェハース用溝内に移
し替えるものであり、ストッパは、選択的に切替えて使
用される2種類のストッパからなり、第1のストッパ
は、前記ウェハースホルダのウェハース用溝を1つおき
に閉塞し、第2のストッパは、前記ウェハースホルダの
全部のウェハース用溝を同時に閉塞するものであり、
1のストッパ及び第2のストッパの開閉制御と前記ウェ
ハースキャリアの反転動作と前記プッシャーの昇降動作
との組合せにより、隣接する半導体基板の同一面が向き
合う状態に半導体基板の立て替えを行なうものである。
【0013】
【作用】ウェハースキャリアに収納されているウェハー
スを1枚おきに裏返し、ウェハース表面はウェハース表
面と、ウェハース裏面はウェハース裏面と対向させるこ
とができるように、ウェハースホルダー部に1枚おきに
ウェハースを止めるストッパーを設け、かつウェハース
キャリアを反転させるため回転機構を備えている。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図により説明す
る。図1は、本発明の一実施例を示す斜視図、図2は、
図1のウェハースホルダとストッパとの位置関係を示す
図、図3(a)は、本発明の動作手順を示すフローチャ
ートである。
【0015】図1において、本実施例に係る半導体製造
装置は、ウェハースホルダ1と、ウェハースキャリア4
と、ウェハースキャリア回転機構9と、プッシャー5
と、ストッパ2,3とを有し、半導体基板(以下、ウェ
ハースという)の立て替えを行うものである。
【0016】ウェハースホルダ1は、平行な側壁の対向
内面の縦方向にウェハースの側縁を嵌合させる対をなす
ウェハース用溝6を有している。
【0017】ウェハースキャリア4は、ウェハースホル
ダ1の下方に配置され、対向する内面にウェハースホル
ダ1のウェハース用溝6と同一ピッチの対をなす保持溝
4aを有している。対をなす保持溝4aは、下部相互間
の間隔が狭められ、ウェハースがウェハースキャリア4
の底部開口から抜け出るのを防止して該ウェハースをウ
ェハースキャリア4内に縦置きで嵌合保持するものであ
る。
【0018】ウェハースキャリア回転機構9は、ウェハ
ースキャリア4を縦軸のまわりに反転するものである。
【0019】プッシャー5は、上面が半円弧状に形成さ
れ、その上面に保持溝4aと同一ピッチの支持溝5aを
有し、ウェハースキャリア4の底部開口から内部に進入
し、保持溝4a内のウェハースの底縁を支持溝5aに支
持して上昇し、保持溝4a内のウェハースをウェハース
ホルダ1のウェハース用溝6内に移し替えるものであ
る。
【0020】ストッパ2,3は、選択的に切替えて使用
される2種類のストッパ2,3からなり、第1のストッ
パ3は、図2に示すようにウェハースホルダ1のウェハ
ース用溝6を1つおきに閉塞し、閉塞されたウェハース
用溝6内にウェハースを支持するものであり、第2のス
トッパ2は、ウェハースホルダ1の全部のウェハース用
溝6を同時に閉塞し、ウェハース溝6内にウェハースを
支持するものである。
【0021】まず、ウェハースホルダ1の下方に、ウェ
ハースの入ったウェハースキャリア4をセットし、プッ
シャー5を上昇させると、ウェハースキャリア4の全部
の保持溝4aに保持されたウェハースがプッシャー5に
より押し上げられ、全てのウェハースがウェハースホル
ダ1内の全てのウェハース用溝6内に移し替えられる。
【0022】この状態で図2に示すように、ストッパ3
を(b)の原点位置から(c)のようにウェハース用溝
6を1つおきに閉塞する位置に動作する。
【0023】これにより、ウェハース溝6は、1つおき
にストッパ3により閉塞され、その閉塞されたウェハー
ス溝6内にのみプッシャー5で移し替えられたウェハー
スが嵌合保持される。この場合、ストッパ3が動作しな
いウェハース用溝6内の残りのウェハースは、プッシャ
ー5に支持されたままとなっている。
【0024】この状態でプッシャー5を下降させ、残り
のウェハースをウェハースキャリア4の保持溝4a内に
戻す。この場合、ウェハースキャリア4の保持溝4a内
には、1つおきにウェハースが支持されている。
【0025】次に、ウェハースキャリア4をウェハース
キャリア回転機構9により180°回転して反転させ
る。この状態では、ウェハースホルダ1内のウェハース
の表面と、ウェハースキャリア4内のウェハースの表面
とは、互いに向き合う状態になる。ウェハースキャリア
4内のウェハースを保持した保持溝4aが、ウェハース
ホルダ1内の空のウェハース用溝6と対向するように位
置合せを行う。
【0026】次にプッシャー5を再び上昇させ、ウェハ
ースキャリア4内に残っているウェハースをウェハース
ホルダ1内に移し替える。
【0027】そして、ストッパ3を図2(c)の位置か
ら(b)の原点位置に戻すとともに、別のストッパ2を
図2(d)の原点位置から(e)に示すような全てのウ
ェハース用溝6を閉塞する位置に移動させる。これによ
り、ウェハースホルダ1のウェハース用溝6の底部が閉
じられるため、全てのウェハース用溝6内にウェハース
がそれぞれ嵌合保持される。
【0028】次に、空になったウェハースキャリア4を
入れ替え、再度プッシャー5を上昇させてウェハースホ
ルダ1内の全てのウェハースをプッシャー5により支持
し、ストッパ2を図2(d)の原点位置に移動させてウ
ェハース用溝6を開放する。
【0029】この状態でプッシャー5を下降させ、ウェ
ハースをウェハースホルダ1のウェハース用溝6から下
段のウェハースキャリア4の保持溝4a内に移し替え
る。これによって、ウェハースの立て替えが完了する。
【0030】この状態では、図4(a)に示すようにウ
ェハースキャリア4内の隣接するウェハースは一のウェ
ハースの表面7が他のウェハースの表面7に向き合い、
かつ裏面8同士が向き合う状態で支持される。本発明で
は、ディップ式ウェット処理装置での処理後に、ウェハ
ースに付着するパーティクルの数が図4(b)に示すよ
うに従来のものに比して大幅に減少していることが分か
る。
【0031】また、ディップ式ウェット処理後、ウェハ
ースキャリア内に収納されているウェハースを初期の同
一方向に向いた状態に戻す場合も、同様の操作で行うこ
とが可能となる。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ディップ
式装置にて処理するウェハースキャリアに収納されたウ
ェハースを、ウェハース表面は表面と、ウェハース裏面
は裏面と対向する状態で処理されることとなり、ウェハ
ース裏面の汚れが対向するウェハースの表面に付着する
ことがなく、図4(b)に示すようにディップ式ウェッ
ト処理後にウェハース表面のパーティクルが大幅に減少
することとなり、半導体集積回路の歩留りを向上でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す斜視図である。
【図2】図1におけるウェハースホルダ,ストッパの各
々の位置関係を示す断面図である。
【図3】(a)は、本発明の技術の動作手順を示すフロ
ーチャート、(b)は、従来の技術の動作手順を示すフ
ローチャートである。
【図4】(a)は、本発明の実施によって得られるウェ
ハース収納状態を示す図、(b)は、ウェハース表面に
付着する0.2μm以上のパーティクルを示す図であ
る。
【図5】従来技術によって得られるウェハース収納状態
を示す図である。
【図6】従来の装置構成図である。
【図7】図6におけるウェハースホルダ,ストッパの位
置関係を示す断面図である。
【符号の説明】
1 ウェハースホルダ 2 ストッパ 3 ストッパ 4 ウェハースキャリア 4a ウェハースキャリアの保持溝 5 プッシャー 5a プッシャーの支持溝 6 ウェハース用溝 7 ウェハース表面 8 ウェハース裏面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/306 H01L 21/304 H01L 21/68

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェハースホルダと、ウェハースキャリ
    アと、ウェハースキャリア回転機構と、プッシャーと、
    ストッパとを有し、半導体基板の立て替えを行う半導体
    製造装置であって、 ウェハースホルダは、平行な側壁の対向内面の縦方向に
    半導体基板の側縁を嵌合させる対をなすウェハース用溝
    を有するものであり、 ウェハースキャリアは、前記ウェハースホルダの下方に
    交換可能に配置され、かつウェハースホルダの下方位置
    で縦軸のまわりに反転可能に設けられ、対向する内面に
    前記ウェハースホルダのウェハース用溝と同一ピッチの
    対をなす保持溝を有しており、該対をなす保持溝は、下
    部相互間の間隔が狭められ、半導体基板を前記ウェハー
    スキャリア内に縦置きで嵌合保持するものであり、 ウェハースキャリア回転機構は、前記ウェハースホルダ
    の下方位置でウェハースキャリアを縦軸のまわりに反転
    させるものであり、 プッシャーは、前記ウェハースキャリアの底部開口から
    内部に進入し、前記保持溝内の半導体基板の底縁を支持
    して上昇し、該保持溝内の半導体基板を前記ウェハース
    ホルダのウェハース用溝内に移し替えるものであり、 ストッパは、選択的に切替えて使用される2種類のスト
    ッパからなり、第1のストッパは、前記ウェハースホル
    ダのウェハース用溝を1つおきに閉塞し、第2のストッ
    パは、前記ウェハースホルダの全部のウェハース用溝を
    同時に閉塞するものであり、 第1のストッパ及び第2のストッパの開閉制御と前記ウ
    ェハースキャリアの反転動作と前記プッシャーの昇降動
    作との組合せにより、隣接する半導体基板の同一面が向
    き合う状態に半導体基板の立て替えを行なうもので ある
    ことを特徴とする半導体製造装置。
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