JP2910385B2 - 集積回路パッケージ用キャリアボード - Google Patents

集積回路パッケージ用キャリアボード

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JP2910385B2
JP2910385B2 JP4063527A JP6352792A JP2910385B2 JP 2910385 B2 JP2910385 B2 JP 2910385B2 JP 4063527 A JP4063527 A JP 4063527A JP 6352792 A JP6352792 A JP 6352792A JP 2910385 B2 JP2910385 B2 JP 2910385B2
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integrated circuit
circuit package
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carrier board
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和紀 ▲菅▼野
剛久 辻村
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Fujitsu Ltd
Fujitsu Integrated Microtechnology Ltd
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Fujitsu Ltd
Fujitsu Integrated Microtechnology Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路パッケージを
搭載して搬送、試験を行うのに用いる集積回路パッケー
ジ用キャリアの改良に関するものである。
【0002】高集積化した半導体チップを実装する集積
回路パッケージにおいては、リードの幅が極端に狭くな
り、リードの数が増加してピッチが極端に狭くなってい
る。このようなリードを有する集積回路パッケージを搭
載して搬送或いは試験を行うのに用いる集積回路パッケ
ージ用のキャリアは、集積回路パッケージのリードを挿
入するリード受け部の幅が極端に狭くなり、リードの数
が増加してピッチが極端に狭くなったため、集積回路パ
ッケージ用のキャリアを製造するのが極めて困難にな
り、リードをリード受け部に正確に挿入するのも困難に
なっている。
【0003】以上のような状況から、数が増加して幅が
極端に狭くなり、ピッチも極端に狭くなったリードを有
する集積回路パッケージを容易に搭載することが可能な
集積回路パッケージ用のキャリアが要望されている。
【0004】
【従来の技術】従来の集積回路パッケージ用のキャリア
について図5により詳細に説明する。図5は従来の集積
回路パッケージ用のキャリアに集積回路パッケージを搭
載した状態を示す図である。
【0005】従来の集積回路パッケージ用のキャリアは
図5に示すようにリード受け部11aを設け、集積回路パ
ッケージ2のリード2bをこのリード受け部11a に挿入し
て集積回路パッケージ2を搭載するキャリア11である。
【0006】集積度が高くなり、リードの数が多くなっ
たフラットタイプの集積回路パッケージにおいては、リ
ード2bの幅は0.2mm と狭くなり、リード2bのピッチが0.
5mmになっているので、キャリア11のリード受け部11a
の幅を0.3mm にし、ピッチを0.5mm にしており、絶縁物
である合成樹脂を用いる場合にはこのようなキャリア11
を製造することが非常に困難になっている。
【0007】このような微細な寸法のキャリア11を何と
か製造できた場合においても、多数のリード2bをリード
受け部11a に正しく挿入して集積回路パッケージ2をキ
ャリア11に搭載することが非常に難しく、何とか搭載で
きても輸送中や試験を行う場合に試験用端子を接触させ
た時にリード2bが変形を起こす障害が発生している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】以上説明した従来の集
積回路パッケージ用のキャリアにおいては、集積回路パ
ッケージのリードの幅が極端に狭くなり、リードの数が
増加してピッチが極端に狭くなったため、このような集
積回路パッケージを搭載する集積回路パッケージ用のキ
ャリアを製造するのが極めて困難になったという問題点
があり、集積回路パッケージをこの集積回路パッケージ
用のキャリアに搭載すると図6(a) に示すようにリード
2bとキャリア11のリード受け部11a の底とが密着しない
ことがあり、試験を行う場合に試験用端子3でリード2b
の先端部を押さえると、図6(b) に示すようにリード2b
が変形して試験用端子3とリード2bとの接触が不安定に
なるという問題点があった。
【0009】本発明は以上のような状況から、幅が極端
に狭くなり、数が増加してピッチが極端に狭くなったリ
ードを有する集積回路パッケージを搭載することが可能
となる集積回路パッケージ用のキャリアの提供を目的と
したものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の集積回路パッケ
ージ用キャリアボードは、半導体チップを実装した集積
回路パッケージを搭載して搬送或いは試験を行うのに用
いる集積回路パッケージ用のキャリアであって、この半
導体チップの試験を行う場合にこの集積回路パッケージ
のリードを切断する位置に第1スリットを備え、この集
積回路パッケージを使用する前にこのリードを切断する
この第1スリットよりも内側の位置に第2スリットを備
え、この第2スリットより外方にこの集積回路パッケー
ジのタイバー及びリードを接着する接着剤の塗布領域を
設けるように構成する。
【0011】
【作用】即ち本発明においては、集積回路パッケージ用
キャリアボードの位置決め用のピン孔と集積回路パッケ
ージの位置決め用のピン孔とを位置合わせして、集積回
路パッケージのタイバー及びリードをキャリアボードの
塗布領域に塗布されている接着剤により集積回路パッケ
ージ用キャリアボードに接着して搬送し、試験を行う前
には第1スリット内においてこの第1スリットの幅より
もやや狭い寸法のリードを切断して除去し、このタイバ
ーと分離されたリードに試験用端子を接触させて試験を
行い、集積回路パッケージを使用する前には第2スリッ
ト内においてこの第2スリットの幅よりもやや狭い寸法
のリードを切断して除去するから、この第2スリットよ
り外側にのみ接着剤を塗布しているので、集積回路パッ
ケージを集積回路パッケージ用キャリアボードから取り
外すことが可能となる。
【0012】
【実施例】以下図1〜図3により本発明の一実施例につ
いて詳細に説明する。図1は本発明による一実施例の集
積回路パッケージ用キャリアボードを示す図、図2は本
発明による一実施例の集積回路パッケージ用キャリアボ
ードに集積回路パッケージを貼り付けて搭載した状態を
示す図、図3は本発明による一実施例の集積回路パッケ
ージの試験を行う状態を示す図、図4は集積回路パッケ
ージを取り外した状態の本発明による一実施例の集積回
路パッケージ用キャリアボードを示す図である。
【0013】本発明による一実施例の集積回路パッケー
ジ用キャリアボードは、半導体チップを実装した集積回
路パッケージを貼り付けて搭載し、搬送或いは試験を行
うキャリアである。
【0014】この集積回路パッケージ用のキャリアボー
ド1は図1に示すように、外縁より接着剤の塗布領域1
c、第1スリット1a、塗布領域1d、第2スリット1bを形
成し、集積回路パッケージのタイバーの位置決め用のピ
ン孔と位置合わせするピン孔1eを設けたキャリアボード
1である。
【0015】図2に示すようにキャリアボード1のピン
孔1eと集積回路パッケージ2のピン孔2cとを一致させて
集積回路パッケージ2をキャリアボード1に貼り付ける
場合に、タイバー2aをキャリアボード1に貼り付ける位
置に塗布領域1cを設け、この集積回路パッケージ2に実
装した半導体チップの試験を行う前にこの集積回路パッ
ケージ2のリード2bを切断する位置に第1スリット1aを
設け、この集積回路パッケージ2を使用する前に、この
集積回路パッケージ2のリード2bを切断する位置に第2
スリット1bを設けている。
【0016】このような集積回路パッケージ2をキャリ
アボード1に貼り付けて搭載するから、タイバー2aもリ
ード2bも確実にキャリアボード1に固定されるので、搬
送時のリード2bの変形がなくなる。
【0017】キャリアボード1に実装した半導体チップ
の試験を行う前には、図3に示すように第1スリット1a
内において第1スリット1aの幅よりもやや狭いリード2b
を切り落として除去し、図において小さな〇印を付けた
試験用端子の接触点に試験用端子を接触させて試験を行
う。
【0018】リード2bは一部で切断されているが塗布領
域1dに貼り付けられているので、この状態で保管し、搬
送してもリード2bの変形は生じない。集積回路パッケー
ジ2を顧客の組立て工程においてこの集積回路パッケー
ジ2を使用する直前に、図4に示すように第2スリット
1b内において第2スリット1bの幅よりもやや狭いリード
2bを切り落として除去すると、第2スリット1bより内側
のキャリアボード1の表面には接着剤が塗布されていな
いから、集積回路パッケージ2をこのキャリアボード1
から取り外して使用することが可能となる。
【0019】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば極めて簡単な構造の集積回路パッケージ用キャ
リアボードに集積回路パッケージを接着して固定するこ
とにより、リードを変形させないで集積回路パッケージ
の搬送や試験を行うことが可能となる利点があり、著し
い経済的及び、信頼性向上の効果が期待できる集積回路
パッケージ用キャリアボードの提供が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による一実施例の集積回路パッケージ
用キャリアボードを示す図、
【図2】 本発明による一実施例の集積回路パッケージ
用キャリアボードに集積回路パッケージを貼り付けて搭
載した状態を示す図、
【図3】 本発明による一実施例の集積回路パッケージ
の試験を行う状態を示す図、
【図4】 集積回路パッケージを取り外した状態の本発
明による一実施例の集積回路パッケージ用キャリアボー
ドを示す図、
【図5】 従来の集積回路パッケージ用のキャリアに集
積回路パッケージを搭載した状態を示す図、
【図6】 従来の集積回路パッケージ用のキャリアの問
題点を示す図、
【符号の説明】
1はキャリアボード、1aは第1スリット、1bは第2スリ
ット、1cは塗布領域、1dは塗布領域、1eはピン孔、2は
集積回路パッケージ、2aはタイバー、2bはリード、2cは
ピン孔、
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−257663(JP,A) 特開 昭53−81073(JP,A) 特開 平4−102359(JP,A) 実開 平1−44646(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/66,21/68 H01L 23/00,23/50 G01R 31/26

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップを実装した集積回路パッケ
    ージを搭載して搬送或いは試験を行うのに用いる集積回
    路パッケージ用のキャリアであって、 前記半導体チップの試験を行う場合に、前記集積回路パ
    ッケージのリードを切断する位置に第1スリット(1a)を
    備え、前記集積回路パッケージを使用する前に前記リー
    ドを切断する前記第1スリット(1a)よりも内側の位置に
    第2スリット(1b)を備え、該第2スリット(1b)より外方
    に前記集積回路パッケージのタイバー及びリードを接着
    する接着剤の塗布領域(1c)を設けたことを特徴とする集
    積回路パッケージ用キャリアボード。
JP4063527A 1992-03-19 1992-03-19 集積回路パッケージ用キャリアボード Expired - Fee Related JP2910385B2 (ja)

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