JP2904686B2 - Ledアレイ - Google Patents

Ledアレイ

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JP2904686B2
JP2904686B2 JP23888193A JP23888193A JP2904686B2 JP 2904686 B2 JP2904686 B2 JP 2904686B2 JP 23888193 A JP23888193 A JP 23888193A JP 23888193 A JP23888193 A JP 23888193A JP 2904686 B2 JP2904686 B2 JP 2904686B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の利用分野】この発明は、LEDヘッドに用いる
LEDアレイの改良に関し、特にアレイ両端での発光出
力の低下の防止に関する。
【0002】
【従来技術】LEDアレイはLEDヘッドの主要部品
で、GaAs等の基板上にSi3N4等の拡散マスク層を
設け、マスク層に設けた窓(マスク層の穴)からZn等
の不純物を注入し、不純物注入部と不純物が注入されて
いない部分との界面で発光させる。
【0003】LEDアレイで重要なことは全ての発光体
の出力を均一にすることであるが、両端の発光体の出力
が異常に低下し易いことが指摘されている。例えば特開
平3−81164号公報は、LEDアレイの両端で発光
体の出力が低下することを指摘し、その対策として、両
端の発光体の発光面積を他の発光体よりも大きくするこ
とを提案している。両端で発光体の出力が低下する原因
としては、ダイシング時の衝撃が集中する、あるいはボ
ンディングの衝撃がアレイの両端に集中し易い等のこと
が指摘されている。しかしながらこれらの対策を全て施
しても、なお両端での出力低下が解消しないことが判明
した。また特開平3−81164号公報のように両端の
発光体の発光面積を大きくすることは一種の自己矛盾
で、両端の発光体の出力を異常に増加させる危険性があ
る。即ち両端での出力低下の程度にはばらつきがあり、
これを抑制することが課題である。ここで両端の発光体
の面積を一律に増加させると、両端の発光体が他よりも
出力が大きくなる可能性があり、発光面積を増加させて
もばらつき自体は解消しない。
【0004】発明者は、両端の発光体の出力が低下する
原因を解明するため、図6,図7のLEDアレイ02を
試作した。Si3N4から成る拡散マスク層6に64個の
窓を設けて不純物を注入し、発光体8−1〜8−64と
した。発光体8−1〜8−64にはAl電極10を真空
蒸着し、ボンディングパッド12に接続した。ボンディ
ングパッド12はアレイ02の両端から遠ざけ、ボンデ
ィング時の衝撃が両端の発光体8−1,8−64に集中
することを防止した。ダイシング時の衝撃で拡散マスク
層6が剥離するのを防止するため、常法に従ってソース
トリート03には拡散マスク層6を設けず、その両端に
切断ライン28,30を設けた。しかしながらこのよう
にしても、両端の発光体8−1,8−64の出力低下を
防止することはできなかった。
【0005】次に発明者は、発光体8−1〜8−64の
配列ラインに沿った不純物濃度の分布を検討した。図7
に結果を示す。拡散マスク層6の窓から注入した不純物
は横方向にも広がり、図のような不純物注入層16が形
成される。不純物注入層16は、発光体と発光体との間
の拡散マスク層6の下部にも広がるが、発光体と発光体
との間では拡散マスク層6に20〜30μm程度の幅が
あるため、不純物注入層16は重ならない。ところでソ
ーストリート03にはダイシング時の拡散マスク層6の
剥離を防止するため、拡散マスク層6が無く表面が露出
している。そこでこの部分にも不純物が注入される。一
方両端の拡散マスク層6−1,6−65は幅が10μm
程度しかなく、ソーストリート03から注入された不純
物と両端の発光体8−1,8−64から注入された不純
物とが重なり、ショート部04が発生することが判明し
た。電極10からの発光電流は、不純物拡散層16に沿
って広がり、不純物が拡散していない領域との界面で発
光する。従って、発光体8−1と8−64は、拡散面積
が他の発光体(8−2〜8−63)よりも広くなること
となり、他の発光体と発光形態が異なって印画品質に悪
影響を与えることとなる。そこでアレイ02両端での発
光出力の低下を防止するのに必要なことは、両端の拡散
マスク層6−1,6−65の下部に不純物のショート部
04が生じないようにすることである。
【0006】
【発明の課題】この発明の課題は、LEDアレイの発光
出力の均一化にあり、特にアレイ両端の発光体の出力を
他の発光体の出力に等しくすることにある。
【0007】この発明のLEDアレイは、半導体基板上
に設けた拡散マスク層の窓から不純物を注入して多数の
発光体を形成したLEDアレイにおいて、両端の発光体
と該アレイの端部との間の拡散マスク層下部での不純物
濃度を、発光体と発光体間の拡散マスク層下部の不純物
濃度とほぼ同等としたことを特徴とする。
【0008】この発明では、LEDアレイの端部と両端
の発光体との間の拡散マスク層下部での不純物濃度を、
発光体と発光体間の拡散マスク層下部の不純物濃度とほ
ぼ同等とする。このようにすれば、両端の発光体から拡
散マスク層を介してアレイの端面側へと流れる発光電流
(以下この種の無効な発光電流をショート電流と呼ぶ)
はなくなり、両端の発光体の出力が他の部分の発光体の
出力に等しくなることになる。両端以外の発光体では、
発光体と発光体との間の拡散マスク層に大きな幅をとる
ことができるため、注入した不純物分布の重なりはな
く、ショート電流はなくなる。このため両端の発光体と
アレイ端面との間の拡散マスク層下部の不純物濃度は、
発光体/発光体間の拡散マスク層下部の不純物濃度と同
等となる。
【0009】
【実施例】図1〜図3に、実施例を示す。図1に製造後
のLEDアレイの構造を示し、図2にその不純物濃度の
分布を示す。また図3に、アレイの両端付近での不純物
濃度の分布を拡大して示す。図1〜図3において、2は
長方形状のLEDアレイで、ここでは300DPI対応
のものとして、サイズを示す。LEDアレイ2は、Ga
As基板4にSi3N4やSiO2等の拡散マスク層6
(例えば厚さ1000オングストロームのSi3N4)を
設け、拡散マスク層6に設けた窓から亜鉛等の不純物を
注入して発光体8−1〜8−64を形成したものであ
る。基板4は厚さ300〜400μm程度のGaAsウ
ェハーに不純物濃度が異なるGaAs層を20μm程度
エピタキシャル成長させたもので、拡散マスク層6の窓
から注入した不純物は深さ方向にも基板4の水平方向に
も5〜6μm程度拡散する。発光体8−1〜8−64に
は、幅10μm程度のAl電極を接続し、電極10の引
出し部を中央に寄せてボンディングパッド12を形成す
る。ボンディングパッド12をLEDアレイ2の両端か
ら遠ざけるのは、ボンディング時の衝撃で両端の発光体
8−1,8−64が損傷するのを防止するためである。
またLEDアレイ2には2箇所に位置決めマーカ14,
14を設け、これは発光体8−1〜8−64と同時に形
成した拡散マスク層6の窓に電極材料からなる十字マー
クを形成したものである。LEDアレイ2は300DP
I対応としたので、発光体8−1〜8−64の配列ピッ
チは84.6μmとなり、このうち発光体8−1〜8−
64には60μm幅を割り当て、発光体/発光体間の拡
散マスク層6には24.6μm幅を割り当てた。なお各
発光体8−1〜8−64は、60μm×60μmの正方
形状をしている。
【0010】図2に、LEDアレイ2での不純物濃度の
分布を示す。拡散マスク層6の窓から注入した不純物の
亜鉛は、深さ方向にも水平方向にも5〜6μm程度広が
って、不純物注入層16を形成する。電極10からの発
光電流は不純物注入層16に広がり、不純物が注入され
ていない部分との界面で発光する。このうち発光として
有効なものは、発光体8−1〜8−64の下部で発光し
たもので、拡散マスク層6の下部に広がった部分はマス
ク層6を通して発光する。発光体/発光体間の拡散マス
ク層6には25μm程度の幅があるので、不純物注入層
16が5〜6μm程度広がっても、その間には10μm
程度の幅のギャップが残り、発光体/発光体間のショー
ト電流は生じない。LEDアレイ2の端面5と両端の発
光体8−1,8−64との間の拡散マスク層6−1,6
−65は、アレイ2,2間で発光体の間隔が変動しない
という条件のため、10μm程度の幅となる。そして図
6,図7のLEDアレイ02では、ソーストリート03
から拡散した不純物のため、両端の拡散マスク層6−
1,6−65の下部にショート部04が生じる。しかし
ながら実施例では、図4,図5に示す手法により、両端
の拡散マスク層6−1,6−65下部での不純物濃度の
分布を他の発光体/発光体間の不純物濃度の分布と等し
くする。より厳密に表現すると、発光体/発光体間の拡
散マスク層6の中心線からみた不純物濃度の分布と、ア
レイ端面5からみた不純物の分布とを等しくする。
【0011】ここで両端の拡散マスク層6−1,6−6
5の下部での不純物濃度の分布を、発光体/発光体間の
拡散マスク層6の下部での不純物濃度の分布と等しくし
たのは、両端の発光体8−1,8−64からアレイ端面
5側へと流れるショート電流を、他の部分と完全に等し
くするためである。
【0012】図4,図5に、LEDアレイ2の製造工程
を示す。図4,図5はLEDアレイ2での切断前のウェ
ハーの状態を示し、20はソーストリートで、22はソ
ーストリート20上に設けたダミーの発光体である。ダ
ミーの発光体22は他の発光体8−1〜8−64と等し
い形状とし、相違点は電極10を接続していないことの
みである。ダミーの発光体22を設けたのは、両端の発
光体8−1,8−64の周囲での不純物濃度の分布を、
他の発光体と完全に等しくさせるためである。ソースト
リート20の両側には溝24,26を設け、これは発光
体8−1〜8−64と同時に形成する。このためには拡
散マスク層6のエッチング時のレジストマスクに、溝2
4,26の上部の位置で幅の狭いスリット状の穴を設
け、発光体8−1〜8−64を設ける部分のエッチング
と同時にエッチングすれば良い。溝24,26はダイシ
ング時のソーの位置決めマークとなり、同時にダイシン
グ時の衝撃によって、拡散マスク層6が剥離するのを防
止する役割を持つ。また溝24,26からの不純物注入
は無視し得る。
【0013】図5に、図4での不純物濃度の分布を示
す。図の28,30は切断ラインで、溝24,26の下
部にある。両端の発光体8−1,8−64の周囲での不
純物濃度分布は、他の発光体8−2〜8−63の周囲と
完全に等しくなる。これはダミーの発光体22を加味し
て考えると、全ての発光体8−1〜8−64が同じ大き
さで等ピッチに配列されているからである。また発光体
/発光体間の拡散マスク層6の幅l1と、ダミーの発光
体22と両端の発光体8−1,8−64との間隔l2は
等しくする。なおダミーの発光体22を設けたのは、両
端の発光体8−1,8−64とアレイ端面5との間の僅
かなショート電流を、他の発光体8−2〜8−63につ
いてのショート電流と等しくするためである。
【0014】
【発明の効果】この発明では、LEDアレイの発光出力
を均一化し、特にアレイ両端の発光体の出力を他の発光
体の出力に等しくする。この結果、出力の均一なLED
ヘッドが得られ、画像品位が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例のLEDアレイの要部平面図
【図2】 実施例のLEDアレイでの不純物分布を示
す断面図
【図3】 図2の要部拡大断面図
【図4】 実施例のLEDアレイのダイシング前の状
態を示す図
【図5】 図4での不純物分布を示す拡大断面図
【図6】 従来例のLEDアレイのダイシング前の状
態を示す図
【図7】 図6での不純物分布を示す拡大断面図
【符号の説明】
03 ソーストリート 04 ショート部 2 LEDアレイ 4 GaAs基板 5 アレイ端面 6 拡散マスク層 6−1,6−65 両端の拡散マスク層 8−1〜8−64 発光体 10 電極 12 ボンディングパッド 14 位置決めマーカ 16 不純物注入層 20 ソーストリート 22 ダミーの発光体 24,26 溝 28,30 切断ライン

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板上に設けた拡散マスク層の窓
    から不純物を注入して多数の発光体を形成したLEDア
    レイにおいて、 両端の発光体と該アレイの端部との間の拡散マスク層下
    部での不純物濃度を、発光体と発光体間の拡散マスク層
    下部の不純物濃度とほぼ同等としたことを特徴とするL
    EDアレイ。
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