JP2904686B2 - Ledアレイ - Google Patents
LedアレイInfo
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- JP2904686B2 JP2904686B2 JP23888193A JP23888193A JP2904686B2 JP 2904686 B2 JP2904686 B2 JP 2904686B2 JP 23888193 A JP23888193 A JP 23888193A JP 23888193 A JP23888193 A JP 23888193A JP 2904686 B2 JP2904686 B2 JP 2904686B2
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- Japan
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- light
- mask layer
- diffusion mask
- light emitters
- led array
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Description
【0001】
【発明の利用分野】この発明は、LEDヘッドに用いる
LEDアレイの改良に関し、特にアレイ両端での発光出
力の低下の防止に関する。
LEDアレイの改良に関し、特にアレイ両端での発光出
力の低下の防止に関する。
【0002】
【従来技術】LEDアレイはLEDヘッドの主要部品
で、GaAs等の基板上にSi3N4等の拡散マスク層を
設け、マスク層に設けた窓(マスク層の穴)からZn等
の不純物を注入し、不純物注入部と不純物が注入されて
いない部分との界面で発光させる。
で、GaAs等の基板上にSi3N4等の拡散マスク層を
設け、マスク層に設けた窓(マスク層の穴)からZn等
の不純物を注入し、不純物注入部と不純物が注入されて
いない部分との界面で発光させる。
【0003】LEDアレイで重要なことは全ての発光体
の出力を均一にすることであるが、両端の発光体の出力
が異常に低下し易いことが指摘されている。例えば特開
平3−81164号公報は、LEDアレイの両端で発光
体の出力が低下することを指摘し、その対策として、両
端の発光体の発光面積を他の発光体よりも大きくするこ
とを提案している。両端で発光体の出力が低下する原因
としては、ダイシング時の衝撃が集中する、あるいはボ
ンディングの衝撃がアレイの両端に集中し易い等のこと
が指摘されている。しかしながらこれらの対策を全て施
しても、なお両端での出力低下が解消しないことが判明
した。また特開平3−81164号公報のように両端の
発光体の発光面積を大きくすることは一種の自己矛盾
で、両端の発光体の出力を異常に増加させる危険性があ
る。即ち両端での出力低下の程度にはばらつきがあり、
これを抑制することが課題である。ここで両端の発光体
の面積を一律に増加させると、両端の発光体が他よりも
出力が大きくなる可能性があり、発光面積を増加させて
もばらつき自体は解消しない。
の出力を均一にすることであるが、両端の発光体の出力
が異常に低下し易いことが指摘されている。例えば特開
平3−81164号公報は、LEDアレイの両端で発光
体の出力が低下することを指摘し、その対策として、両
端の発光体の発光面積を他の発光体よりも大きくするこ
とを提案している。両端で発光体の出力が低下する原因
としては、ダイシング時の衝撃が集中する、あるいはボ
ンディングの衝撃がアレイの両端に集中し易い等のこと
が指摘されている。しかしながらこれらの対策を全て施
しても、なお両端での出力低下が解消しないことが判明
した。また特開平3−81164号公報のように両端の
発光体の発光面積を大きくすることは一種の自己矛盾
で、両端の発光体の出力を異常に増加させる危険性があ
る。即ち両端での出力低下の程度にはばらつきがあり、
これを抑制することが課題である。ここで両端の発光体
の面積を一律に増加させると、両端の発光体が他よりも
出力が大きくなる可能性があり、発光面積を増加させて
もばらつき自体は解消しない。
【0004】発明者は、両端の発光体の出力が低下する
原因を解明するため、図6,図7のLEDアレイ02を
試作した。Si3N4から成る拡散マスク層6に64個の
窓を設けて不純物を注入し、発光体8−1〜8−64と
した。発光体8−1〜8−64にはAl電極10を真空
蒸着し、ボンディングパッド12に接続した。ボンディ
ングパッド12はアレイ02の両端から遠ざけ、ボンデ
ィング時の衝撃が両端の発光体8−1,8−64に集中
することを防止した。ダイシング時の衝撃で拡散マスク
層6が剥離するのを防止するため、常法に従ってソース
トリート03には拡散マスク層6を設けず、その両端に
切断ライン28,30を設けた。しかしながらこのよう
にしても、両端の発光体8−1,8−64の出力低下を
防止することはできなかった。
原因を解明するため、図6,図7のLEDアレイ02を
試作した。Si3N4から成る拡散マスク層6に64個の
窓を設けて不純物を注入し、発光体8−1〜8−64と
した。発光体8−1〜8−64にはAl電極10を真空
蒸着し、ボンディングパッド12に接続した。ボンディ
ングパッド12はアレイ02の両端から遠ざけ、ボンデ
ィング時の衝撃が両端の発光体8−1,8−64に集中
することを防止した。ダイシング時の衝撃で拡散マスク
層6が剥離するのを防止するため、常法に従ってソース
トリート03には拡散マスク層6を設けず、その両端に
切断ライン28,30を設けた。しかしながらこのよう
にしても、両端の発光体8−1,8−64の出力低下を
防止することはできなかった。
【0005】次に発明者は、発光体8−1〜8−64の
配列ラインに沿った不純物濃度の分布を検討した。図7
に結果を示す。拡散マスク層6の窓から注入した不純物
は横方向にも広がり、図のような不純物注入層16が形
成される。不純物注入層16は、発光体と発光体との間
の拡散マスク層6の下部にも広がるが、発光体と発光体
との間では拡散マスク層6に20〜30μm程度の幅が
あるため、不純物注入層16は重ならない。ところでソ
ーストリート03にはダイシング時の拡散マスク層6の
剥離を防止するため、拡散マスク層6が無く表面が露出
している。そこでこの部分にも不純物が注入される。一
方両端の拡散マスク層6−1,6−65は幅が10μm
程度しかなく、ソーストリート03から注入された不純
物と両端の発光体8−1,8−64から注入された不純
物とが重なり、ショート部04が発生することが判明し
た。電極10からの発光電流は、不純物拡散層16に沿
って広がり、不純物が拡散していない領域との界面で発
光する。従って、発光体8−1と8−64は、拡散面積
が他の発光体(8−2〜8−63)よりも広くなること
となり、他の発光体と発光形態が異なって印画品質に悪
影響を与えることとなる。そこでアレイ02両端での発
光出力の低下を防止するのに必要なことは、両端の拡散
マスク層6−1,6−65の下部に不純物のショート部
04が生じないようにすることである。
配列ラインに沿った不純物濃度の分布を検討した。図7
に結果を示す。拡散マスク層6の窓から注入した不純物
は横方向にも広がり、図のような不純物注入層16が形
成される。不純物注入層16は、発光体と発光体との間
の拡散マスク層6の下部にも広がるが、発光体と発光体
との間では拡散マスク層6に20〜30μm程度の幅が
あるため、不純物注入層16は重ならない。ところでソ
ーストリート03にはダイシング時の拡散マスク層6の
剥離を防止するため、拡散マスク層6が無く表面が露出
している。そこでこの部分にも不純物が注入される。一
方両端の拡散マスク層6−1,6−65は幅が10μm
程度しかなく、ソーストリート03から注入された不純
物と両端の発光体8−1,8−64から注入された不純
物とが重なり、ショート部04が発生することが判明し
た。電極10からの発光電流は、不純物拡散層16に沿
って広がり、不純物が拡散していない領域との界面で発
光する。従って、発光体8−1と8−64は、拡散面積
が他の発光体(8−2〜8−63)よりも広くなること
となり、他の発光体と発光形態が異なって印画品質に悪
影響を与えることとなる。そこでアレイ02両端での発
光出力の低下を防止するのに必要なことは、両端の拡散
マスク層6−1,6−65の下部に不純物のショート部
04が生じないようにすることである。
【0006】
【発明の課題】この発明の課題は、LEDアレイの発光
出力の均一化にあり、特にアレイ両端の発光体の出力を
他の発光体の出力に等しくすることにある。
出力の均一化にあり、特にアレイ両端の発光体の出力を
他の発光体の出力に等しくすることにある。
【0007】この発明のLEDアレイは、半導体基板上
に設けた拡散マスク層の窓から不純物を注入して多数の
発光体を形成したLEDアレイにおいて、両端の発光体
と該アレイの端部との間の拡散マスク層下部での不純物
濃度を、発光体と発光体間の拡散マスク層下部の不純物
濃度とほぼ同等としたことを特徴とする。
に設けた拡散マスク層の窓から不純物を注入して多数の
発光体を形成したLEDアレイにおいて、両端の発光体
と該アレイの端部との間の拡散マスク層下部での不純物
濃度を、発光体と発光体間の拡散マスク層下部の不純物
濃度とほぼ同等としたことを特徴とする。
【0008】この発明では、LEDアレイの端部と両端
の発光体との間の拡散マスク層下部での不純物濃度を、
発光体と発光体間の拡散マスク層下部の不純物濃度とほ
ぼ同等とする。このようにすれば、両端の発光体から拡
散マスク層を介してアレイの端面側へと流れる発光電流
(以下この種の無効な発光電流をショート電流と呼ぶ)
はなくなり、両端の発光体の出力が他の部分の発光体の
出力に等しくなることになる。両端以外の発光体では、
発光体と発光体との間の拡散マスク層に大きな幅をとる
ことができるため、注入した不純物分布の重なりはな
く、ショート電流はなくなる。このため両端の発光体と
アレイ端面との間の拡散マスク層下部の不純物濃度は、
発光体/発光体間の拡散マスク層下部の不純物濃度と同
等となる。
の発光体との間の拡散マスク層下部での不純物濃度を、
発光体と発光体間の拡散マスク層下部の不純物濃度とほ
ぼ同等とする。このようにすれば、両端の発光体から拡
散マスク層を介してアレイの端面側へと流れる発光電流
(以下この種の無効な発光電流をショート電流と呼ぶ)
はなくなり、両端の発光体の出力が他の部分の発光体の
出力に等しくなることになる。両端以外の発光体では、
発光体と発光体との間の拡散マスク層に大きな幅をとる
ことができるため、注入した不純物分布の重なりはな
く、ショート電流はなくなる。このため両端の発光体と
アレイ端面との間の拡散マスク層下部の不純物濃度は、
発光体/発光体間の拡散マスク層下部の不純物濃度と同
等となる。
【0009】
【実施例】図1〜図3に、実施例を示す。図1に製造後
のLEDアレイの構造を示し、図2にその不純物濃度の
分布を示す。また図3に、アレイの両端付近での不純物
濃度の分布を拡大して示す。図1〜図3において、2は
長方形状のLEDアレイで、ここでは300DPI対応
のものとして、サイズを示す。LEDアレイ2は、Ga
As基板4にSi3N4やSiO2等の拡散マスク層6
(例えば厚さ1000オングストロームのSi3N4)を
設け、拡散マスク層6に設けた窓から亜鉛等の不純物を
注入して発光体8−1〜8−64を形成したものであ
る。基板4は厚さ300〜400μm程度のGaAsウ
ェハーに不純物濃度が異なるGaAs層を20μm程度
エピタキシャル成長させたもので、拡散マスク層6の窓
から注入した不純物は深さ方向にも基板4の水平方向に
も5〜6μm程度拡散する。発光体8−1〜8−64に
は、幅10μm程度のAl電極を接続し、電極10の引
出し部を中央に寄せてボンディングパッド12を形成す
る。ボンディングパッド12をLEDアレイ2の両端か
ら遠ざけるのは、ボンディング時の衝撃で両端の発光体
8−1,8−64が損傷するのを防止するためである。
またLEDアレイ2には2箇所に位置決めマーカ14,
14を設け、これは発光体8−1〜8−64と同時に形
成した拡散マスク層6の窓に電極材料からなる十字マー
クを形成したものである。LEDアレイ2は300DP
I対応としたので、発光体8−1〜8−64の配列ピッ
チは84.6μmとなり、このうち発光体8−1〜8−
64には60μm幅を割り当て、発光体/発光体間の拡
散マスク層6には24.6μm幅を割り当てた。なお各
発光体8−1〜8−64は、60μm×60μmの正方
形状をしている。
のLEDアレイの構造を示し、図2にその不純物濃度の
分布を示す。また図3に、アレイの両端付近での不純物
濃度の分布を拡大して示す。図1〜図3において、2は
長方形状のLEDアレイで、ここでは300DPI対応
のものとして、サイズを示す。LEDアレイ2は、Ga
As基板4にSi3N4やSiO2等の拡散マスク層6
(例えば厚さ1000オングストロームのSi3N4)を
設け、拡散マスク層6に設けた窓から亜鉛等の不純物を
注入して発光体8−1〜8−64を形成したものであ
る。基板4は厚さ300〜400μm程度のGaAsウ
ェハーに不純物濃度が異なるGaAs層を20μm程度
エピタキシャル成長させたもので、拡散マスク層6の窓
から注入した不純物は深さ方向にも基板4の水平方向に
も5〜6μm程度拡散する。発光体8−1〜8−64に
は、幅10μm程度のAl電極を接続し、電極10の引
出し部を中央に寄せてボンディングパッド12を形成す
る。ボンディングパッド12をLEDアレイ2の両端か
ら遠ざけるのは、ボンディング時の衝撃で両端の発光体
8−1,8−64が損傷するのを防止するためである。
またLEDアレイ2には2箇所に位置決めマーカ14,
14を設け、これは発光体8−1〜8−64と同時に形
成した拡散マスク層6の窓に電極材料からなる十字マー
クを形成したものである。LEDアレイ2は300DP
I対応としたので、発光体8−1〜8−64の配列ピッ
チは84.6μmとなり、このうち発光体8−1〜8−
64には60μm幅を割り当て、発光体/発光体間の拡
散マスク層6には24.6μm幅を割り当てた。なお各
発光体8−1〜8−64は、60μm×60μmの正方
形状をしている。
【0010】図2に、LEDアレイ2での不純物濃度の
分布を示す。拡散マスク層6の窓から注入した不純物の
亜鉛は、深さ方向にも水平方向にも5〜6μm程度広が
って、不純物注入層16を形成する。電極10からの発
光電流は不純物注入層16に広がり、不純物が注入され
ていない部分との界面で発光する。このうち発光として
有効なものは、発光体8−1〜8−64の下部で発光し
たもので、拡散マスク層6の下部に広がった部分はマス
ク層6を通して発光する。発光体/発光体間の拡散マス
ク層6には25μm程度の幅があるので、不純物注入層
16が5〜6μm程度広がっても、その間には10μm
程度の幅のギャップが残り、発光体/発光体間のショー
ト電流は生じない。LEDアレイ2の端面5と両端の発
光体8−1,8−64との間の拡散マスク層6−1,6
−65は、アレイ2,2間で発光体の間隔が変動しない
という条件のため、10μm程度の幅となる。そして図
6,図7のLEDアレイ02では、ソーストリート03
から拡散した不純物のため、両端の拡散マスク層6−
1,6−65の下部にショート部04が生じる。しかし
ながら実施例では、図4,図5に示す手法により、両端
の拡散マスク層6−1,6−65下部での不純物濃度の
分布を他の発光体/発光体間の不純物濃度の分布と等し
くする。より厳密に表現すると、発光体/発光体間の拡
散マスク層6の中心線からみた不純物濃度の分布と、ア
レイ端面5からみた不純物の分布とを等しくする。
分布を示す。拡散マスク層6の窓から注入した不純物の
亜鉛は、深さ方向にも水平方向にも5〜6μm程度広が
って、不純物注入層16を形成する。電極10からの発
光電流は不純物注入層16に広がり、不純物が注入され
ていない部分との界面で発光する。このうち発光として
有効なものは、発光体8−1〜8−64の下部で発光し
たもので、拡散マスク層6の下部に広がった部分はマス
ク層6を通して発光する。発光体/発光体間の拡散マス
ク層6には25μm程度の幅があるので、不純物注入層
16が5〜6μm程度広がっても、その間には10μm
程度の幅のギャップが残り、発光体/発光体間のショー
ト電流は生じない。LEDアレイ2の端面5と両端の発
光体8−1,8−64との間の拡散マスク層6−1,6
−65は、アレイ2,2間で発光体の間隔が変動しない
という条件のため、10μm程度の幅となる。そして図
6,図7のLEDアレイ02では、ソーストリート03
から拡散した不純物のため、両端の拡散マスク層6−
1,6−65の下部にショート部04が生じる。しかし
ながら実施例では、図4,図5に示す手法により、両端
の拡散マスク層6−1,6−65下部での不純物濃度の
分布を他の発光体/発光体間の不純物濃度の分布と等し
くする。より厳密に表現すると、発光体/発光体間の拡
散マスク層6の中心線からみた不純物濃度の分布と、ア
レイ端面5からみた不純物の分布とを等しくする。
【0011】ここで両端の拡散マスク層6−1,6−6
5の下部での不純物濃度の分布を、発光体/発光体間の
拡散マスク層6の下部での不純物濃度の分布と等しくし
たのは、両端の発光体8−1,8−64からアレイ端面
5側へと流れるショート電流を、他の部分と完全に等し
くするためである。
5の下部での不純物濃度の分布を、発光体/発光体間の
拡散マスク層6の下部での不純物濃度の分布と等しくし
たのは、両端の発光体8−1,8−64からアレイ端面
5側へと流れるショート電流を、他の部分と完全に等し
くするためである。
【0012】図4,図5に、LEDアレイ2の製造工程
を示す。図4,図5はLEDアレイ2での切断前のウェ
ハーの状態を示し、20はソーストリートで、22はソ
ーストリート20上に設けたダミーの発光体である。ダ
ミーの発光体22は他の発光体8−1〜8−64と等し
い形状とし、相違点は電極10を接続していないことの
みである。ダミーの発光体22を設けたのは、両端の発
光体8−1,8−64の周囲での不純物濃度の分布を、
他の発光体と完全に等しくさせるためである。ソースト
リート20の両側には溝24,26を設け、これは発光
体8−1〜8−64と同時に形成する。このためには拡
散マスク層6のエッチング時のレジストマスクに、溝2
4,26の上部の位置で幅の狭いスリット状の穴を設
け、発光体8−1〜8−64を設ける部分のエッチング
と同時にエッチングすれば良い。溝24,26はダイシ
ング時のソーの位置決めマークとなり、同時にダイシン
グ時の衝撃によって、拡散マスク層6が剥離するのを防
止する役割を持つ。また溝24,26からの不純物注入
は無視し得る。
を示す。図4,図5はLEDアレイ2での切断前のウェ
ハーの状態を示し、20はソーストリートで、22はソ
ーストリート20上に設けたダミーの発光体である。ダ
ミーの発光体22は他の発光体8−1〜8−64と等し
い形状とし、相違点は電極10を接続していないことの
みである。ダミーの発光体22を設けたのは、両端の発
光体8−1,8−64の周囲での不純物濃度の分布を、
他の発光体と完全に等しくさせるためである。ソースト
リート20の両側には溝24,26を設け、これは発光
体8−1〜8−64と同時に形成する。このためには拡
散マスク層6のエッチング時のレジストマスクに、溝2
4,26の上部の位置で幅の狭いスリット状の穴を設
け、発光体8−1〜8−64を設ける部分のエッチング
と同時にエッチングすれば良い。溝24,26はダイシ
ング時のソーの位置決めマークとなり、同時にダイシン
グ時の衝撃によって、拡散マスク層6が剥離するのを防
止する役割を持つ。また溝24,26からの不純物注入
は無視し得る。
【0013】図5に、図4での不純物濃度の分布を示
す。図の28,30は切断ラインで、溝24,26の下
部にある。両端の発光体8−1,8−64の周囲での不
純物濃度分布は、他の発光体8−2〜8−63の周囲と
完全に等しくなる。これはダミーの発光体22を加味し
て考えると、全ての発光体8−1〜8−64が同じ大き
さで等ピッチに配列されているからである。また発光体
/発光体間の拡散マスク層6の幅l1と、ダミーの発光
体22と両端の発光体8−1,8−64との間隔l2は
等しくする。なおダミーの発光体22を設けたのは、両
端の発光体8−1,8−64とアレイ端面5との間の僅
かなショート電流を、他の発光体8−2〜8−63につ
いてのショート電流と等しくするためである。
す。図の28,30は切断ラインで、溝24,26の下
部にある。両端の発光体8−1,8−64の周囲での不
純物濃度分布は、他の発光体8−2〜8−63の周囲と
完全に等しくなる。これはダミーの発光体22を加味し
て考えると、全ての発光体8−1〜8−64が同じ大き
さで等ピッチに配列されているからである。また発光体
/発光体間の拡散マスク層6の幅l1と、ダミーの発光
体22と両端の発光体8−1,8−64との間隔l2は
等しくする。なおダミーの発光体22を設けたのは、両
端の発光体8−1,8−64とアレイ端面5との間の僅
かなショート電流を、他の発光体8−2〜8−63につ
いてのショート電流と等しくするためである。
【0014】
【発明の効果】この発明では、LEDアレイの発光出力
を均一化し、特にアレイ両端の発光体の出力を他の発光
体の出力に等しくする。この結果、出力の均一なLED
ヘッドが得られ、画像品位が向上する。
を均一化し、特にアレイ両端の発光体の出力を他の発光
体の出力に等しくする。この結果、出力の均一なLED
ヘッドが得られ、画像品位が向上する。
【図1】 実施例のLEDアレイの要部平面図
【図2】 実施例のLEDアレイでの不純物分布を示
す断面図
す断面図
【図3】 図2の要部拡大断面図
【図4】 実施例のLEDアレイのダイシング前の状
態を示す図
態を示す図
【図5】 図4での不純物分布を示す拡大断面図
【図6】 従来例のLEDアレイのダイシング前の状
態を示す図
態を示す図
【図7】 図6での不純物分布を示す拡大断面図
03 ソーストリート 04 ショート部 2 LEDアレイ 4 GaAs基板 5 アレイ端面 6 拡散マスク層 6−1,6−65 両端の拡散マスク層 8−1〜8−64 発光体 10 電極 12 ボンディングパッド 14 位置決めマーカ 16 不純物注入層 20 ソーストリート 22 ダミーの発光体 24,26 溝 28,30 切断ライン
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体基板上に設けた拡散マスク層の窓
から不純物を注入して多数の発光体を形成したLEDア
レイにおいて、 両端の発光体と該アレイの端部との間の拡散マスク層下
部での不純物濃度を、発光体と発光体間の拡散マスク層
下部の不純物濃度とほぼ同等としたことを特徴とするL
EDアレイ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23888193A JP2904686B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | Ledアレイ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23888193A JP2904686B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | Ledアレイ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0766449A JPH0766449A (ja) | 1995-03-10 |
JP2904686B2 true JP2904686B2 (ja) | 1999-06-14 |
Family
ID=17036658
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23888193A Expired - Fee Related JP2904686B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | Ledアレイ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2904686B2 (ja) |
-
1993
- 1993-08-30 JP JP23888193A patent/JP2904686B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0766449A (ja) | 1995-03-10 |
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