JP2898215B2 - ローカル・エリア・ネットワーク・ケーブルの試験装置及び方法 - Google Patents
ローカル・エリア・ネットワーク・ケーブルの試験装置及び方法Info
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- Signal Processing (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Small-Scale Networks (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般に、ローカル・エ
リア・ネットワーク（ＬＡＮ）ケーブルを試験する際に
用いる装置、特に、導体の総てのペアの間の容量を測定
すると共に、蓄積した測定データ上で作用するソフトウ
ェア方法を用いて銅導体のＬＡＮケーブルの関連したパ
ラメータを試験する装置及び方法に関する。
リア・ネットワーク（ＬＡＮ）ケーブルを試験する際に
用いる装置、特に、導体の総てのペアの間の容量を測定
すると共に、蓄積した測定データ上で作用するソフトウ
ェア方法を用いて銅導体のＬＡＮケーブルの関連したパ
ラメータを試験する装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】現在、ローカル・エリア・ネットワーク
（ＬＡＮ）は、近代的なオフィス内の膨大な数のパーソ
ナル・コンピュータ、ワークステーション、プリンタ及
びファイル・サーバを接続している。これら総ての機器
を銅導体ツィスト・ペア（捩った１対の銅導体）ＬＡＮ
ケーブルにより物理的に接続するのが、最も一般的なＬ
ＡＮシステムの実現方法である。ＬＡＮケーブルの最も
一般的なものは、業界標準コネクタにてケーブルの各端
部を終端した４組のツィスト・ワイヤ・ペアで構成され
た８本のワイヤ・ケーブルである。いくつかのＬＡＮケ
ーブルでは、電気的なシールドとして作用する柔軟な金
属箔の包みを具えている。典型的な設置では、ＬＡＮケ
ーブルが、ビルの壁、床及び天井に配線されている。Ｌ
ＡＮケーブル及びコネクタが損傷したり、オフィスや機
器を移動したり、新たな機器を追加したりするので、Ｌ
ＡＮケーブル・システムには、一定の保守、更新及び故
障修理が必要である。
（ＬＡＮ）は、近代的なオフィス内の膨大な数のパーソ
ナル・コンピュータ、ワークステーション、プリンタ及
びファイル・サーバを接続している。これら総ての機器
を銅導体ツィスト・ペア（捩った１対の銅導体）ＬＡＮ
ケーブルにより物理的に接続するのが、最も一般的なＬ
ＡＮシステムの実現方法である。ＬＡＮケーブルの最も
一般的なものは、業界標準コネクタにてケーブルの各端
部を終端した４組のツィスト・ワイヤ・ペアで構成され
た８本のワイヤ・ケーブルである。いくつかのＬＡＮケ
ーブルでは、電気的なシールドとして作用する柔軟な金
属箔の包みを具えている。典型的な設置では、ＬＡＮケ
ーブルが、ビルの壁、床及び天井に配線されている。Ｌ
ＡＮケーブル及びコネクタが損傷したり、オフィスや機
器を移動したり、新たな機器を追加したりするので、Ｌ
ＡＮケーブル・システムには、一定の保守、更新及び故
障修理が必要である。
【０００３】ケーブルを設置したり、交換したり、再配
置する作業は、専門のケーブル設置者や、組織内のネッ
トワーク保守員に依頼しなければならない。設置段階で
は、各ケーブルがビル内を徘徊し、コネクタが新たなケ
ーブルの各端部に取り付けられる。ＬＡＮ接続が適切に
機能するためには、ケーブル内の各ワイヤをＬＡＮの両
端で適切な夫々の電気接続部に接続しなければならな
い。業界で使用されている種々のＬＡＮケーブルには、
シールドされていないツィスト・ペア（ＵＴＰ）、シー
ルドされたツィスト・ペア（ＳＴＰ）及び同軸ケーブル
がある。ＬＡＮケーブルの設置業務、ケーブルの性能規
格及びビル内の配線業務に関する標準は、電気工業協会
業務ビル電気通信配線標準（Electronic Industries As
sociationCommercial Building Telecommunications Wi
ring Standard）ＥＩＡ／ＴＩＡ５６８である。
置する作業は、専門のケーブル設置者や、組織内のネッ
トワーク保守員に依頼しなければならない。設置段階で
は、各ケーブルがビル内を徘徊し、コネクタが新たなケ
ーブルの各端部に取り付けられる。ＬＡＮ接続が適切に
機能するためには、ケーブル内の各ワイヤをＬＡＮの両
端で適切な夫々の電気接続部に接続しなければならな
い。業界で使用されている種々のＬＡＮケーブルには、
シールドされていないツィスト・ペア（ＵＴＰ）、シー
ルドされたツィスト・ペア（ＳＴＰ）及び同軸ケーブル
がある。ＬＡＮケーブルの設置業務、ケーブルの性能規
格及びビル内の配線業務に関する標準は、電気工業協会
業務ビル電気通信配線標準（Electronic Industries As
sociationCommercial Building Telecommunications Wi
ring Standard）ＥＩＡ／ＴＩＡ５６８である。
【０００４】かかる接続の試験は、抵抗計として一般に
知られている電気抵抗測定装置によりできる。抵抗計で
は、この抵抗計の試験リード線間の電気経路の直流（Ｄ
Ｃ）抵抗を試験する。抵抗計を用いてＬＡＮケーブルを
効果的に試験するには、適切な接続部の詳細な知識が必
要である。試験装置が適用されるＬＡＮケーブル・シス
テムの端部を「近い端部（near-end）」という。よっ
て、このＬＡＮケーブルの他端部は、「遠い端部（far-
end ）」という。回路を完全にするために、ケーブルの
遠い端部に抵抗器の如き既知の終端を行って、短絡（シ
ョート）回路及び解放（オープン）回路の配線エラーに
関する「ワイヤ・マップ」即ち、接続の設定を見分ける
ことができる。接続部を迅速にプロービング（接続）す
る手作業技術は、極端に非効率であり、時間がかかる。
Ｎ本のワイヤのケーブルに対して、Ｎ本のワイヤの総て
のペアの間を完全に試験するためには、全部でＮ！／
（Ｎ−２）！回の測定が必要である。この際、各ペアを
負極性及び正極性の両方でプロービングする。
知られている電気抵抗測定装置によりできる。抵抗計で
は、この抵抗計の試験リード線間の電気経路の直流（Ｄ
Ｃ）抵抗を試験する。抵抗計を用いてＬＡＮケーブルを
効果的に試験するには、適切な接続部の詳細な知識が必
要である。試験装置が適用されるＬＡＮケーブル・シス
テムの端部を「近い端部（near-end）」という。よっ
て、このＬＡＮケーブルの他端部は、「遠い端部（far-
end ）」という。回路を完全にするために、ケーブルの
遠い端部に抵抗器の如き既知の終端を行って、短絡（シ
ョート）回路及び解放（オープン）回路の配線エラーに
関する「ワイヤ・マップ」即ち、接続の設定を見分ける
ことができる。接続部を迅速にプロービング（接続）す
る手作業技術は、極端に非効率であり、時間がかかる。
Ｎ本のワイヤのケーブルに対して、Ｎ本のワイヤの総て
のペアの間を完全に試験するためには、全部でＮ！／
（Ｎ−２）！回の測定が必要である。この際、各ペアを
負極性及び正極性の両方でプロービングする。
【０００５】特殊化したＬＡＮケーブル試験装置が開発
されており、最も一般的に遭遇するケーブルの問題を診
断する。この測定装置は、一連の抵抗測定を自動的に行
って、個別の接続部に手動でプロービングを行う煩わし
さから操作者（ユーザ）を解放する。また、この測定装
置は、ケーブルを連続的にチェックして、総ての接続部
が業界標準の規格通りになっているかを確認すると共
に、ケーブルを通る各ワイヤ・ペアの連続性及び適切な
接続を視覚的に操作者に示す。よって、解放回路エラ
ー、短絡回路エラー及びクロス・ペア・エラーの試験を
行える。
されており、最も一般的に遭遇するケーブルの問題を診
断する。この測定装置は、一連の抵抗測定を自動的に行
って、個別の接続部に手動でプロービングを行う煩わし
さから操作者（ユーザ）を解放する。また、この測定装
置は、ケーブルを連続的にチェックして、総ての接続部
が業界標準の規格通りになっているかを確認すると共
に、ケーブルを通る各ワイヤ・ペアの連続性及び適切な
接続を視覚的に操作者に示す。よって、解放回路エラ
ー、短絡回路エラー及びクロス・ペア・エラーの試験を
行える。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】最も安価なＬＡＮケー
ブル試験装置は、ＥＩＡ／ＴＩＡ−５６８に応じて業界
標準終端及びワイヤ・マップを試験するように基本的に
特殊化された抵抗計である。かかる試験装置は、特殊終
端装置（ケーブル識別器）に応じてＬＡＮケーブルに直
接接続できる。この特殊終端装置は、ケーブルの遠い端
部に接続されている。そして、試験装置が供給した直流
試験電流が、所定値の抵抗及び所定極性のダイオードを
通過するので、各特定のワイヤ・ペアの戻り経路を容易
に知ることができる。しかし、かかる試験装置には、い
くつかの顕著な欠点がある。第１の欠点として、この試
験装置は、直流測定に限定されるので、試験装置が実行
できる１組の試験が制限され、ケーブル内の多くの潜在
的故障を検出できない。重要なパラメータは、ワイヤ・
ペア間の結合、一般的にはクロストークの量である。４
組のワイヤ・ペアの各々は、ケーブル内で互いに撚られ
ており、各ペアは、他のペアから適切に分離するように
維持されている。一般的な配線エラーは、ケーブルの一
端におけるワイヤ・ペアの交差であり、他端においても
このエラーが生じる。この場合、直流測定により接続が
適切と判断されても、ワイヤ・ペアが別々に撚られおら
ず、入り交じった状態となり、２組のワイヤ・ペア間で
のクロストークが許容できるレベルでなくなる。
ブル試験装置は、ＥＩＡ／ＴＩＡ−５６８に応じて業界
標準終端及びワイヤ・マップを試験するように基本的に
特殊化された抵抗計である。かかる試験装置は、特殊終
端装置（ケーブル識別器）に応じてＬＡＮケーブルに直
接接続できる。この特殊終端装置は、ケーブルの遠い端
部に接続されている。そして、試験装置が供給した直流
試験電流が、所定値の抵抗及び所定極性のダイオードを
通過するので、各特定のワイヤ・ペアの戻り経路を容易
に知ることができる。しかし、かかる試験装置には、い
くつかの顕著な欠点がある。第１の欠点として、この試
験装置は、直流測定に限定されるので、試験装置が実行
できる１組の試験が制限され、ケーブル内の多くの潜在
的故障を検出できない。重要なパラメータは、ワイヤ・
ペア間の結合、一般的にはクロストークの量である。４
組のワイヤ・ペアの各々は、ケーブル内で互いに撚られ
ており、各ペアは、他のペアから適切に分離するように
維持されている。一般的な配線エラーは、ケーブルの一
端におけるワイヤ・ペアの交差であり、他端においても
このエラーが生じる。この場合、直流測定により接続が
適切と判断されても、ワイヤ・ペアが別々に撚られおら
ず、入り交じった状態となり、２組のワイヤ・ペア間で
のクロストークが許容できるレベルでなくなる。
【０００７】ケーブル・マップを作成する試験装置の第
２の欠点は、ケーブル識別器を被試験ケーブルの遠い端
部に接続して、直流試験電流用の戻り経路を知らなけれ
ばならないことである。ケーブルの遠い端部が数百フィ
ート（１００メートル程度）離れていると、ケーブルを
試験する手順がやっかいになり、しばしば２人の操作者
が必要になる。この場合、１人が近い端部におり、別の
１人が遠い端部にいることになる。そして、しばしば初
期インストレーションの完了後からかなり経った時に、
故障修理や多くのケーブルの確認業務を行うことになる
ので、この再度の作業にコストがかかる。
２の欠点は、ケーブル識別器を被試験ケーブルの遠い端
部に接続して、直流試験電流用の戻り経路を知らなけれ
ばならないことである。ケーブルの遠い端部が数百フィ
ート（１００メートル程度）離れていると、ケーブルを
試験する手順がやっかいになり、しばしば２人の操作者
が必要になる。この場合、１人が近い端部におり、別の
１人が遠い端部にいることになる。そして、しばしば初
期インストレーションの完了後からかなり経った時に、
故障修理や多くのケーブルの確認業務を行うことになる
ので、この再度の作業にコストがかかる。
【０００８】より最新のＬＡＮケーブル試験装置は、し
ばしば、近い端部のクロストーク（一般に、「ＮＥＸ
Ｔ」という）の標準化した測定により、ケーブルの近い
端部でのワイヤ・ペア間のクロストークを評価するよう
になっている。ＮＥＸＴは、分離したワイヤ・ペア間の
隔離レベルの尺度である。ＮＥＸＴ試験を典型的に行う
ためには、１６ＭＨｚのように高いレンジで実際のデー
タ・レートに類似した周波数の高周波交流（ＡＣ）試験
信号をケーブルの近い端部にてワイヤ・ペアに供給す
る。そして、近い端部での測定により、他のペアの各々
に誘導された信号レベルを測定し、この誘導された信号
レベルと供給された信号とを比較して、隔離のレベルを
求める。データ通信経路間の干渉を防止するには、ワイ
ヤ・ペア間の隔離レベルが高いことが必要である。ワイ
ヤ・ペア間の隔離が不適切であると、通信の信頼性が低
下し、エラー・レートが高くなる。不適切なＮＥＸＴ隔
離により多くの問題が生じる可能性がある。これら問題
には、不正確に配線されたＬＡＮコネクタや、データ通
信の規格に合わない電話等級のケーブルの問題がある。
試験装置がＮＥＸＴの読みしか出力しない場合の欠点
は、この試験装置が、問題の原因に関するいかなる付加
的情報も提供しないので、操作者がその問題を解決しな
ければならないことである。
ばしば、近い端部のクロストーク（一般に、「ＮＥＸ
Ｔ」という）の標準化した測定により、ケーブルの近い
端部でのワイヤ・ペア間のクロストークを評価するよう
になっている。ＮＥＸＴは、分離したワイヤ・ペア間の
隔離レベルの尺度である。ＮＥＸＴ試験を典型的に行う
ためには、１６ＭＨｚのように高いレンジで実際のデー
タ・レートに類似した周波数の高周波交流（ＡＣ）試験
信号をケーブルの近い端部にてワイヤ・ペアに供給す
る。そして、近い端部での測定により、他のペアの各々
に誘導された信号レベルを測定し、この誘導された信号
レベルと供給された信号とを比較して、隔離のレベルを
求める。データ通信経路間の干渉を防止するには、ワイ
ヤ・ペア間の隔離レベルが高いことが必要である。ワイ
ヤ・ペア間の隔離が不適切であると、通信の信頼性が低
下し、エラー・レートが高くなる。不適切なＮＥＸＴ隔
離により多くの問題が生じる可能性がある。これら問題
には、不正確に配線されたＬＡＮコネクタや、データ通
信の規格に合わない電話等級のケーブルの問題がある。
試験装置がＮＥＸＴの読みしか出力しない場合の欠点
は、この試験装置が、問題の原因に関するいかなる付加
的情報も提供しないので、操作者がその問題を解決しな
ければならないことである。
【０００９】よって、ＬＡＮケーブルの遠い端部にケー
ブル識別器を設ける必要がなく、より完全な１組の自動
診断試験により種々のＬＡＮケーブル・システムの適切
な接続を確認し、故障修理できる試験装置が望まれてい
る。しかしながら、ケーブル識別器を設けた場合には、
後述するように更に詳細なケーブル評価を行うことがで
きる。
ブル識別器を設ける必要がなく、より完全な１組の自動
診断試験により種々のＬＡＮケーブル・システムの適切
な接続を確認し、故障修理できる試験装置が望まれてい
る。しかしながら、ケーブル識別器を設けた場合には、
後述するように更に詳細なケーブル評価を行うことがで
きる。
【００１０】したがって、本発明の目的の１つは、一連
の抵抗及び容量測定と、この測定結果を評価するソフト
ウェアとを用いて、銅ワイヤのＬＡＮケーブル・システ
ムを故障修理し、確認できるＬＡＮケーブルの試験方法
及び装置の提供にある。本発明の他の目的は、銅ワイヤ
ＬＡＮケーブルの遠い端部にケーブル識別器を接続する
ことなく、このＬＡＮケーブル・システムを故障修理及
び確認できる測定装置の提供にある。本発明の更に他の
目的は、数学的に計算した差容量の技法を用いて、ＮＥ
ＸＴパラメータを与える試験方法及び装置の提供にあ
る。本発明の別の目的は、広範囲の形式のＬＡＮケーブ
ルに容易に適用できる銅ワイヤＬＡＮケーブルを故障修
理及び確認する測定装置の提供にある。
の抵抗及び容量測定と、この測定結果を評価するソフト
ウェアとを用いて、銅ワイヤのＬＡＮケーブル・システ
ムを故障修理し、確認できるＬＡＮケーブルの試験方法
及び装置の提供にある。本発明の他の目的は、銅ワイヤ
ＬＡＮケーブルの遠い端部にケーブル識別器を接続する
ことなく、このＬＡＮケーブル・システムを故障修理及
び確認できる測定装置の提供にある。本発明の更に他の
目的は、数学的に計算した差容量の技法を用いて、ＮＥ
ＸＴパラメータを与える試験方法及び装置の提供にあ
る。本発明の別の目的は、広範囲の形式のＬＡＮケーブ
ルに容易に適用できる銅ワイヤＬＡＮケーブルを故障修
理及び確認する測定装置の提供にある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、可能な
総てのワイヤの組み合わせの間の抵抗及び容量を測定
し、この測定結果を分析するソフトウェアを用いて、銅
ワイヤＬＡＮケーブルを故障修理及び確認できる試験装
置が得られる。被試験ＬＡＮケーブル・システムは、Ｌ
ＡＮケーブルと、その各端部のコネクタとで構成され
る。ＬＡＮケーブル・システムの近い端部を、いくつか
の業界標準コネクタの１つにより試験装置に結合する。
スイッチ・マトリクスは抵抗測定ユニットに結合してお
り、このスイッチ・マトリクスを用いて選択したケーブ
ルにおけるワイヤ・ペアの総ての可能な組み合わせの間
で、一連の抵抗測定を行う。この抵抗測定結果を、抵抗
マトリクスの形式でデジタル・メモリに蓄積する。
総てのワイヤの組み合わせの間の抵抗及び容量を測定
し、この測定結果を分析するソフトウェアを用いて、銅
ワイヤＬＡＮケーブルを故障修理及び確認できる試験装
置が得られる。被試験ＬＡＮケーブル・システムは、Ｌ
ＡＮケーブルと、その各端部のコネクタとで構成され
る。ＬＡＮケーブル・システムの近い端部を、いくつか
の業界標準コネクタの１つにより試験装置に結合する。
スイッチ・マトリクスは抵抗測定ユニットに結合してお
り、このスイッチ・マトリクスを用いて選択したケーブ
ルにおけるワイヤ・ペアの総ての可能な組み合わせの間
で、一連の抵抗測定を行う。この抵抗測定結果を、抵抗
マトリクスの形式でデジタル・メモリに蓄積する。
【００１２】次に、試験装置内のマイクロプロセッサを
用いて、蓄積された抵抗マトリクス値を評価して、ケー
ブルの他端における遠隔ケーブル識別器の存在と共に、
いかなる短絡接続をも検出する。条件が許せば、試験装
置の抵抗測定機能を高めるように設計された遠隔ケーブ
ル識別器は、独自のケーブル識別番号に対応する所定値
の抵抗及びダイオードのシステムを含んでいる。ＬＡＮ
ケーブル・システムの遠い端部にケーブル識別器を結合
することにより、逆極性エラー（ワイヤ・ペアにおい
て、ワイヤの極性が逆になったエラー）や、遠い端部で
の解放回路のエラーに関して、各ワイヤ・ペアを試験で
きる。また、特定のＬＡＮケーブル・システムを識別す
る目的で、各ケーブル識別番号を決定する。ＬＡＮケー
ブル・システムの遠い端部にケーブル識別器が取り付け
られていない場合、抵抗測定により短絡回路エラーをチ
ェックする。測定した抵抗値と、所定しきい値を基にし
た短絡回路エラーの良度指数（figure of merit ）とを
比較して、短絡回路エラーを試験する。測定した抵抗値
が良度指数よりも小さいと、短絡回路エラーとなる。短
絡回路エラーが検出されると、ケーブルの形式で予想さ
れる単位長当たりの抵抗により測定抵抗を除算して、ケ
ーブルの近い端部からの短絡回路エラーまでの距離を計
算する。短絡回路エラー、解放回路エラー及びダイオー
ド極性に関連した判断を、マトリクス形式で記号として
メモリ内に蓄積し、予測されるＬＡＮケーブル・システ
ムの所定パターンと更に比較して、交差したペア及び逆
極性エラーを検出する。求めた記号マトリクスのパター
ンと予測パターンとの間で不一致を検出すると、操作者
に対してエラー信号を発生する。
用いて、蓄積された抵抗マトリクス値を評価して、ケー
ブルの他端における遠隔ケーブル識別器の存在と共に、
いかなる短絡接続をも検出する。条件が許せば、試験装
置の抵抗測定機能を高めるように設計された遠隔ケーブ
ル識別器は、独自のケーブル識別番号に対応する所定値
の抵抗及びダイオードのシステムを含んでいる。ＬＡＮ
ケーブル・システムの遠い端部にケーブル識別器を結合
することにより、逆極性エラー（ワイヤ・ペアにおい
て、ワイヤの極性が逆になったエラー）や、遠い端部で
の解放回路のエラーに関して、各ワイヤ・ペアを試験で
きる。また、特定のＬＡＮケーブル・システムを識別す
る目的で、各ケーブル識別番号を決定する。ＬＡＮケー
ブル・システムの遠い端部にケーブル識別器が取り付け
られていない場合、抵抗測定により短絡回路エラーをチ
ェックする。測定した抵抗値と、所定しきい値を基にし
た短絡回路エラーの良度指数（figure of merit ）とを
比較して、短絡回路エラーを試験する。測定した抵抗値
が良度指数よりも小さいと、短絡回路エラーとなる。短
絡回路エラーが検出されると、ケーブルの形式で予想さ
れる単位長当たりの抵抗により測定抵抗を除算して、ケ
ーブルの近い端部からの短絡回路エラーまでの距離を計
算する。短絡回路エラー、解放回路エラー及びダイオー
ド極性に関連した判断を、マトリクス形式で記号として
メモリ内に蓄積し、予測されるＬＡＮケーブル・システ
ムの所定パターンと更に比較して、交差したペア及び逆
極性エラーを検出する。求めた記号マトリクスのパター
ンと予測パターンとの間で不一致を検出すると、操作者
に対してエラー信号を発生する。
【００１３】次に、試験装置では、同じ測定ユニットの
構成が容量測定用になる。この測定ユニットにはスイッ
チ・マトリクスが結合されており、総ての可能性のある
ワイヤ・ペアの組み合わせをこのスイッチ・マトリクス
を用いて選択する。選択されたワイヤ・ペア間で、一連
の容量測定を行い、この測定データを容量マトリクスの
形式でデジタル・メモリに蓄積する。次に、蓄積された
容量マトリクス値を評価する。この際、互いに捩られた
ワイヤ・ペアは、互いに捩られていない隣接のワイヤよ
りも容量値が極めて高いという現象を用いて、どのワイ
ヤ・ペアが互いに捩られているかを判断する。さらに、
最大測定容量値の所定の一部（所定の分数値：最大容量
値を所定の分数値と乗算した値）を基にした解放回路の
良度指数と測定した容量値とを比較して、ケーブルの近
くの端部の解放回路エラーを試験する。解放回路エラー
は、他の測定容量値よりも大幅に小さい測定容量値とな
る。解放回路エラー及びワイヤ・ペアに関する判断をマ
トリクス形式でメモリに記号として蓄積して、予測され
るＬＡＮケーブル・システムの所定パターンとの別の比
較を行い、分離ペア・エラーを検出する。不一致を検出
すると、操作者にエラー信号を発生する。
構成が容量測定用になる。この測定ユニットにはスイッ
チ・マトリクスが結合されており、総ての可能性のある
ワイヤ・ペアの組み合わせをこのスイッチ・マトリクス
を用いて選択する。選択されたワイヤ・ペア間で、一連
の容量測定を行い、この測定データを容量マトリクスの
形式でデジタル・メモリに蓄積する。次に、蓄積された
容量マトリクス値を評価する。この際、互いに捩られた
ワイヤ・ペアは、互いに捩られていない隣接のワイヤよ
りも容量値が極めて高いという現象を用いて、どのワイ
ヤ・ペアが互いに捩られているかを判断する。さらに、
最大測定容量値の所定の一部（所定の分数値：最大容量
値を所定の分数値と乗算した値）を基にした解放回路の
良度指数と測定した容量値とを比較して、ケーブルの近
くの端部の解放回路エラーを試験する。解放回路エラー
は、他の測定容量値よりも大幅に小さい測定容量値とな
る。解放回路エラー及びワイヤ・ペアに関する判断をマ
トリクス形式でメモリに記号として蓄積して、予測され
るＬＡＮケーブル・システムの所定パターンとの別の比
較を行い、分離ペア・エラーを検出する。不一致を検出
すると、操作者にエラー信号を発生する。
【００１４】最後に、割り当てたワイヤ・ペアを基に、
差容量マトリクスを計算する。ケーブル内の総ての他の
ワイヤに対するペアの各ワイヤ間での容量の差を計算し
て、近い端部のクロストーク（ＮＥＸＴ）に対する相対
良度指数を求める。ＮＥＸＴは、１つのワイヤ・ペア内
の信号が容量結合を介して他のワイヤ・ペア内に電圧を
誘導するというワイヤ・ペア間の相対的な電圧分離の尺
度である。ワイヤ・ペアの各々ワイヤと他のワイヤとの
間の容量値が完全に平衡していると、容量値が一致し、
容量差マトリクス内への各入力がゼロになる。ワイヤ・
ペア及び他のワイヤ・ペア間の容量結合を介して誘導さ
れる差電圧がゼロになるので、低い差容量は、ワイヤ・
ペア及び他のワイヤ・ペア間の高い電圧分離の程度に正
確に相関している。これとは逆に、大きな差容量値が、
許容できない低いレベルのＮＥＸＴ分離を表す。低いＮ
ＥＸＴ分離に関する可能性のある原因には、被試験ワイ
ヤ・ペアにおける分離ペア配線エラー（ペア内のワイヤ
の組み合わせが間違った配線エラー）及び解放回路エラ
ーがあり、その結果がワイヤの電気的長さの差となる。
差容量マトリクスを計算する。ケーブル内の総ての他の
ワイヤに対するペアの各ワイヤ間での容量の差を計算し
て、近い端部のクロストーク（ＮＥＸＴ）に対する相対
良度指数を求める。ＮＥＸＴは、１つのワイヤ・ペア内
の信号が容量結合を介して他のワイヤ・ペア内に電圧を
誘導するというワイヤ・ペア間の相対的な電圧分離の尺
度である。ワイヤ・ペアの各々ワイヤと他のワイヤとの
間の容量値が完全に平衡していると、容量値が一致し、
容量差マトリクス内への各入力がゼロになる。ワイヤ・
ペア及び他のワイヤ・ペア間の容量結合を介して誘導さ
れる差電圧がゼロになるので、低い差容量は、ワイヤ・
ペア及び他のワイヤ・ペア間の高い電圧分離の程度に正
確に相関している。これとは逆に、大きな差容量値が、
許容できない低いレベルのＮＥＸＴ分離を表す。低いＮ
ＥＸＴ分離に関する可能性のある原因には、被試験ワイ
ヤ・ペアにおける分離ペア配線エラー（ペア内のワイヤ
の組み合わせが間違った配線エラー）及び解放回路エラ
ーがあり、その結果がワイヤの電気的長さの差となる。
【００１５】所定の高周波数でアナログ信号レベルを比
較して、ワイヤ・ペア間の分離を直接測定する従来のＮ
ＥＸＴ測定とは異なり、本発明の測定装置は、容量マト
リクス内に蓄積された容量測定値を用いて、可能性のあ
る各ワイヤ・ペアに対する差容量を計算し、この結果を
差容量マトリクスに蓄積する。許容できるＮＥＸＴ分離
のしきい値と相関する経験的な測定に基づいた所定の良
度指数を用いて、差容量マトリクス内の値に対する比較
を行う。良度指数よりも高い差容量マトリクス内の任意
の値は、故障を示し、エラー信号の発生となる。
較して、ワイヤ・ペア間の分離を直接測定する従来のＮ
ＥＸＴ測定とは異なり、本発明の測定装置は、容量マト
リクス内に蓄積された容量測定値を用いて、可能性のあ
る各ワイヤ・ペアに対する差容量を計算し、この結果を
差容量マトリクスに蓄積する。許容できるＮＥＸＴ分離
のしきい値と相関する経験的な測定に基づいた所定の良
度指数を用いて、差容量マトリクス内の値に対する比較
を行う。良度指数よりも高い差容量マトリクス内の任意
の値は、故障を示し、エラー信号の発生となる。
【００１６】本発明の他の特徴、達成度及び利点は、添
付図を参照した以下の説明から当業者には明らかになろ
う。
付図を参照した以下の説明から当業者には明らかになろ
う。
【００１７】
【実施例】図１１Ａ及びＢは、一般的には４本及び８本
の間の絶縁された銅導体ワイヤ４０を含む一般的なＬＡ
Ｎケーブル１０を示す。ワイヤの絶縁をカラー・コード
にして、コネクタ３０へのケーブルの適切な接続を容易
に行えるようにできる。ワイヤは、互いに捩られてＬＡ
Ｎケーブル内のワイヤ・ペアとなり、各ペアを他のペア
からの電気的分離を最大にしている。捩りのレートと、
他の電気的及び機械的なパラメータを特定するが、これ
らは、ＬＡＮケーブルの等級に応じたデータとして業界
で周知である。ＬＡＮケーブルをシールドしてもよく、
これは、シールド２０が導電体のカバーとして、ケーブ
ルのワイヤを巻いていることを意味し、外部干渉に対す
る感度を低下させると共に、データ伝送により誘導され
るケーブルからの電磁放射も低下させる。コネクタ３０
は、典型的には、８本の導体の電話型コネクタであり、
業界ではＲＪ−４５コネクタとして一般的である。
の間の絶縁された銅導体ワイヤ４０を含む一般的なＬＡ
Ｎケーブル１０を示す。ワイヤの絶縁をカラー・コード
にして、コネクタ３０へのケーブルの適切な接続を容易
に行えるようにできる。ワイヤは、互いに捩られてＬＡ
Ｎケーブル内のワイヤ・ペアとなり、各ペアを他のペア
からの電気的分離を最大にしている。捩りのレートと、
他の電気的及び機械的なパラメータを特定するが、これ
らは、ＬＡＮケーブルの等級に応じたデータとして業界
で周知である。ＬＡＮケーブルをシールドしてもよく、
これは、シールド２０が導電体のカバーとして、ケーブ
ルのワイヤを巻いていることを意味し、外部干渉に対す
る感度を低下させると共に、データ伝送により誘導され
るケーブルからの電磁放射も低下させる。コネクタ３０
は、典型的には、８本の導体の電話型コネクタであり、
業界ではＲＪ−４５コネクタとして一般的である。
【００１８】図１２は、ＬＡＮケーブル１０及び各端部
のコネクタ３０を具えたエラーのない完全なＬＡＮケー
ブル・システムを示す図である。ワイヤ４０は、ＥＩＡ
／ＴＩＡ−５６８に適合して図示のように接続されてい
る。ツイスト・ワイヤ・ペアは、ケーブルの長さに沿っ
て互いに捩られた２本の個別のワイヤから構成されてお
り、ケーブル内の他のツィスト・ペア及び外部の干渉源
から電磁気的に絶縁されている。ＬＡＮケーブル１０
は、典型的には４組のツイスト・ワイヤ・ペアとして形
成された８本のワイヤ４０を具えている。シールド２０
が存在するならば、このシールドをＬＡＮケーブル１０
の両方の端部にあるコネクタ３０のシールド接続部に接
続する。ＬＡＮケーブル・システムを試験する際、ＬＡ
Ｎ試験装置が接続されたＬＡＮケーブル１０の端部を
「近い端部」とし、ＬＡＮケーブル１０の他方の端部を
「遠い端部」とする。
のコネクタ３０を具えたエラーのない完全なＬＡＮケー
ブル・システムを示す図である。ワイヤ４０は、ＥＩＡ
／ＴＩＡ−５６８に適合して図示のように接続されてい
る。ツイスト・ワイヤ・ペアは、ケーブルの長さに沿っ
て互いに捩られた２本の個別のワイヤから構成されてお
り、ケーブル内の他のツィスト・ペア及び外部の干渉源
から電磁気的に絶縁されている。ＬＡＮケーブル１０
は、典型的には４組のツイスト・ワイヤ・ペアとして形
成された８本のワイヤ４０を具えている。シールド２０
が存在するならば、このシールドをＬＡＮケーブル１０
の両方の端部にあるコネクタ３０のシールド接続部に接
続する。ＬＡＮケーブル・システムを試験する際、ＬＡ
Ｎ試験装置が接続されたＬＡＮケーブル１０の端部を
「近い端部」とし、ＬＡＮケーブル１０の他方の端部を
「遠い端部」とする。
【００１９】図１３は、ＬＡＮケーブル・システムにお
けるいくつかの共通配線エラーの例を示す。ケーブルの
両端部で、コネクタ３０の接続部２及び３へのワイヤの
接続が逆になっており、分離ペア配線エラー５０ａとな
って、これら２つのデータ経路間が許容できない程の貧
弱な絶縁となる。ＬＡＮケーブル１０の一端における接
続部７及び８に対する接続部４及び５の如き２組のデー
タ経路の全体的な置き換えは、クロス・ペア配線エラー
５０ｂとなる。
けるいくつかの共通配線エラーの例を示す。ケーブルの
両端部で、コネクタ３０の接続部２及び３へのワイヤの
接続が逆になっており、分離ペア配線エラー５０ａとな
って、これら２つのデータ経路間が許容できない程の貧
弱な絶縁となる。ＬＡＮケーブル１０の一端における接
続部７及び８に対する接続部４及び５の如き２組のデー
タ経路の全体的な置き換えは、クロス・ペア配線エラー
５０ｂとなる。
【００２０】図１４は、ＬＡＮケーブル・システムにお
けるいくつかのより一般的な配線エラーを示す。解放回
路は、非常に高い直流抵抗の電流路であり、ＬＡＮケー
ブル・システムのワイヤ４０の任意のペア間で通常予測
される状態は、遠い端部で電流路を与える終端がない状
態である。解放回路の配線エラー５０ｃは、ＬＡＮケー
ブル・システムのいかなる位置でも発生するが、最も一
般的なのは、コネクタ３０での電気的接続におけるワイ
ヤ４０の配線の失敗である。短絡回路は、比較的低い直
流抵抗の電流路である。短絡回路配線エラー５０ｄがＬ
ＡＮケーブル・システム内の任意の２本のワイヤ間で生
じるが、これは、ワイヤの絶縁の欠陥又はＬＡＮケーブ
ル１０の長さに沿ったある点で物理的に破損したＬＡＮ
ケーブルの結果である。ＬＡＮケーブル１０の一端での
ワイヤ・ペアのワイヤが逆になると、極性反転エラー５
０ｅとなる。シールド２０が存在する場合、シールド２
０とコネクタ３０のシールド接点との間の電気的接続の
故障により、解放シールド・エラー５０ｆとなる。
けるいくつかのより一般的な配線エラーを示す。解放回
路は、非常に高い直流抵抗の電流路であり、ＬＡＮケー
ブル・システムのワイヤ４０の任意のペア間で通常予測
される状態は、遠い端部で電流路を与える終端がない状
態である。解放回路の配線エラー５０ｃは、ＬＡＮケー
ブル・システムのいかなる位置でも発生するが、最も一
般的なのは、コネクタ３０での電気的接続におけるワイ
ヤ４０の配線の失敗である。短絡回路は、比較的低い直
流抵抗の電流路である。短絡回路配線エラー５０ｄがＬ
ＡＮケーブル・システム内の任意の２本のワイヤ間で生
じるが、これは、ワイヤの絶縁の欠陥又はＬＡＮケーブ
ル１０の長さに沿ったある点で物理的に破損したＬＡＮ
ケーブルの結果である。ＬＡＮケーブル１０の一端での
ワイヤ・ペアのワイヤが逆になると、極性反転エラー５
０ｅとなる。シールド２０が存在する場合、シールド２
０とコネクタ３０のシールド接点との間の電気的接続の
故障により、解放シールド・エラー５０ｆとなる。
【００２１】図１は、ＬＡＮケーブル試験装置１００の
本発明に係る実施例のブロック図である。入力コネクタ
（入力手段）１１０は、実施例では、ＤＢ−９、ＲＪ−
４５及びＢＮＣなどの種々の形式の業界標準コネクタで
あるコネクタ３０（図１１）を受ける。入力コネクタ１
１０の各接点は、１〜８の番号を付した並列入力線のシ
ステム１２０を介して、スイッチ・マトリクス（第１ス
イッチ手段）１３０の入力端及びスイッチ・マトリクス
（第２スイッチ手段）１４０の対応する入力端に結合す
る。ＬＡＮケーブル１０のシールド２０（図１１）は、
コネクタ１１０のハウジングに結合する。入カコネクタ
１１０は、実施例において８本の入力線を受けるが、こ
の技術は、より多くの入力線を含むように容易に拡張で
きる。スイッチ・マトリクスであるアナログ・マルチプ
レックサ１３０の出力端は、測定ユニット（測定手段）
１５０の第１入力端に結合し、スイッチ・マトリクス１
４０の出力端は、測定ユニット１５０の第２入力端に結
合する。コネクタ１１０のハウジングを測定ユニット１
５０の「シールド」と付した入力端に結合する。スイッ
チ・マトリクス１３０及び１４０は、測定ユニット１５
０にスイッチング機能を与えるものであり、測定入力に
対して単に「入力」と総称的に付した各入力端を入力線
１２０の任意の２本に結合して、これら入力端における
電気的なパラメータを測定する。これらパラメータに
は、選択したワイヤ・ペアを通しての抵抗や、選択した
ワイヤ・ペア間の容量がある。測定ユニット１５０の出
力端からの測定データをマイクロコントローラ１６０の
入力チャンネルに結合する。
本発明に係る実施例のブロック図である。入力コネクタ
（入力手段）１１０は、実施例では、ＤＢ−９、ＲＪ−
４５及びＢＮＣなどの種々の形式の業界標準コネクタで
あるコネクタ３０（図１１）を受ける。入力コネクタ１
１０の各接点は、１〜８の番号を付した並列入力線のシ
ステム１２０を介して、スイッチ・マトリクス（第１ス
イッチ手段）１３０の入力端及びスイッチ・マトリクス
（第２スイッチ手段）１４０の対応する入力端に結合す
る。ＬＡＮケーブル１０のシールド２０（図１１）は、
コネクタ１１０のハウジングに結合する。入カコネクタ
１１０は、実施例において８本の入力線を受けるが、こ
の技術は、より多くの入力線を含むように容易に拡張で
きる。スイッチ・マトリクスであるアナログ・マルチプ
レックサ１３０の出力端は、測定ユニット（測定手段）
１５０の第１入力端に結合し、スイッチ・マトリクス１
４０の出力端は、測定ユニット１５０の第２入力端に結
合する。コネクタ１１０のハウジングを測定ユニット１
５０の「シールド」と付した入力端に結合する。スイッ
チ・マトリクス１３０及び１４０は、測定ユニット１５
０にスイッチング機能を与えるものであり、測定入力に
対して単に「入力」と総称的に付した各入力端を入力線
１２０の任意の２本に結合して、これら入力端における
電気的なパラメータを測定する。これらパラメータに
は、選択したワイヤ・ペアを通しての抵抗や、選択した
ワイヤ・ペア間の容量がある。測定ユニット１５０の出
力端からの測定データをマイクロコントローラ１６０の
入力チャンネルに結合する。
【００２２】マイクロコントローラ１６０は、測定制
御、測定処理及びユーザとの相互作用を行う。実施例に
おいて、マイクロコントローラ１６０は、単一の集積回
路内にＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）及びＲＯ
Ｍ（リード・オンリ・メモリ）を含むマイクロプロセッ
サである。ＲＡＭは、測定データ及び試験結果を蓄積す
るのに用い、ＲＯＭは、試験装置１００の全体的な動作
を制御するためにマイクロコントローラ１６０が実行す
るソフトウェア・プログラムであるシステム制御命令を
記憶している。これらＲＡＭ及びＲＯＭがメモリ手段と
なる。マイクロコントローラ１６０の代わりに、独立し
たマイクロプロセッサ、ＲＡＭ及びＲＯＭの集積回路を
使用することも可能である。マイクロコントローラ１６
０は、測定制御バス１９０を介して、測定ユニット１５
０、スイッチ・マトリクス１３０及び１４０に結合して
おり、被試験ワイヤ・ペアの選択を制御すると共に、測
定ユニット１５０の動作も制御する。測定を行う処理期
間中、マイクロコントローラ１６０は、測定機能を抵抗
又は容量のいずれかから選択すると共に、トリガ信号を
供給して測定を開始させ、測定データを受けるなどし
て、測定ユニット１５０を制御する。同時に、マイクロ
コントローラ１６０は、測定制御バス１９０を介して、
スイッチ・マトリクス１３０及び１４０に命令を送るこ
とにより、どの入力線１２０を測定ユニット１５０に結
合させるかを決定する。測定処理期間中、測定ユニット
１５０が得た測定値を従来方法でマイクロコントローラ
１６０内のＲＡＭ内に蓄積する。例えば、入力線１２０
の線１及び２間の容量測定期間中、マイクロコントロー
ラ１６０は、適切なデジタル制御信号をアナログ・マル
チプレックサ（スイッチ・マトリクス）１３０及び１４
０に送って、測定ユニット１５０の入力端を線１及び２
に結合させると共に、測定ユニット１５０を容量モード
に設定する。そして、容量測定値を得て、ＲＡＭ内にＣ
１２のような記号として蓄積する。ＲＡＭ内には、独立
したメモリ記憶場所があり、容量及び抵抗測定値を蓄積
する。
御、測定処理及びユーザとの相互作用を行う。実施例に
おいて、マイクロコントローラ１６０は、単一の集積回
路内にＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）及びＲＯ
Ｍ（リード・オンリ・メモリ）を含むマイクロプロセッ
サである。ＲＡＭは、測定データ及び試験結果を蓄積す
るのに用い、ＲＯＭは、試験装置１００の全体的な動作
を制御するためにマイクロコントローラ１６０が実行す
るソフトウェア・プログラムであるシステム制御命令を
記憶している。これらＲＡＭ及びＲＯＭがメモリ手段と
なる。マイクロコントローラ１６０の代わりに、独立し
たマイクロプロセッサ、ＲＡＭ及びＲＯＭの集積回路を
使用することも可能である。マイクロコントローラ１６
０は、測定制御バス１９０を介して、測定ユニット１５
０、スイッチ・マトリクス１３０及び１４０に結合して
おり、被試験ワイヤ・ペアの選択を制御すると共に、測
定ユニット１５０の動作も制御する。測定を行う処理期
間中、マイクロコントローラ１６０は、測定機能を抵抗
又は容量のいずれかから選択すると共に、トリガ信号を
供給して測定を開始させ、測定データを受けるなどし
て、測定ユニット１５０を制御する。同時に、マイクロ
コントローラ１６０は、測定制御バス１９０を介して、
スイッチ・マトリクス１３０及び１４０に命令を送るこ
とにより、どの入力線１２０を測定ユニット１５０に結
合させるかを決定する。測定処理期間中、測定ユニット
１５０が得た測定値を従来方法でマイクロコントローラ
１６０内のＲＡＭ内に蓄積する。例えば、入力線１２０
の線１及び２間の容量測定期間中、マイクロコントロー
ラ１６０は、適切なデジタル制御信号をアナログ・マル
チプレックサ（スイッチ・マトリクス）１３０及び１４
０に送って、測定ユニット１５０の入力端を線１及び２
に結合させると共に、測定ユニット１５０を容量モード
に設定する。そして、容量測定値を得て、ＲＡＭ内にＣ
１２のような記号として蓄積する。ＲＡＭ内には、独立
したメモリ記憶場所があり、容量及び抵抗測定値を蓄積
する。
【００２３】マイクロコントローラ１６０は、周辺装置
に結合して、ユーザと通信を行い、命令状態及び試験結
果をユーザ（操作者）のために表示器１７０上に表示す
ると共に、ユーザ制御インタフェース１８０を介しての
ユーザ入力に応答する。実施例の場合、表示器１７０
は、液晶表示器（ＬＣＤ）であり、ユーザ制御インタフ
ェース１８０は、キーパッド及び回転スイッチである。
オーディオ・トーン発生器、外部表示器、キーボードな
どの他の周辺装置を追加してもよいことは、明らかであ
る。
に結合して、ユーザと通信を行い、命令状態及び試験結
果をユーザ（操作者）のために表示器１７０上に表示す
ると共に、ユーザ制御インタフェース１８０を介しての
ユーザ入力に応答する。実施例の場合、表示器１７０
は、液晶表示器（ＬＣＤ）であり、ユーザ制御インタフ
ェース１８０は、キーパッド及び回転スイッチである。
オーディオ・トーン発生器、外部表示器、キーボードな
どの他の周辺装置を追加してもよいことは、明らかであ
る。
【００２４】図２〜図４は、測定を行い、データを処理
して、被試験ＬＡＮケーブル・システムが故障か否かの
結論に達するための過程を示す流れ図である。これら図
の流れは、Ａ及びＢの符号で連結している。この処理
は、論理的には、３つの大きな部分に分かれている。第
１の部分では、図２に示すように、短絡回路配線エラー
５０ｄを見つけるために、可能な総てのワイヤ・ペア間
の抵抗を測定し、評価する。ケーブル識別器が存在すれ
ば、より詳細な評価を行える。第２の部分は、図３に示
すように、解放回路配線エラー５０ｃを見つけるため
に、可能な総てのワイヤ・ペア間の容量を測定し、評価
して、ワイヤ・ペアを決定し、良度指数を基準にペアを
評価する。第３の部分は、図４に示すように、測定した
容量値に基づいて計算した値のマトリクスを用いて、識
別した総てのワイヤ・ペア間のクロストーク分離を評価
する。
して、被試験ＬＡＮケーブル・システムが故障か否かの
結論に達するための過程を示す流れ図である。これら図
の流れは、Ａ及びＢの符号で連結している。この処理
は、論理的には、３つの大きな部分に分かれている。第
１の部分では、図２に示すように、短絡回路配線エラー
５０ｄを見つけるために、可能な総てのワイヤ・ペア間
の抵抗を測定し、評価する。ケーブル識別器が存在すれ
ば、より詳細な評価を行える。第２の部分は、図３に示
すように、解放回路配線エラー５０ｃを見つけるため
に、可能な総てのワイヤ・ペア間の容量を測定し、評価
して、ワイヤ・ペアを決定し、良度指数を基準にペアを
評価する。第３の部分は、図４に示すように、測定した
容量値に基づいて計算した値のマトリクスを用いて、識
別した総てのワイヤ・ペア間のクロストーク分離を評価
する。
【００２５】図２は、抵抗測定を行う処理を示す流れ図
である。試験手順は、ステップ２００で開始する。この
試験は、ユーザの制御によってか、又は１つの試験の後
に次の他の試験が自動的に続く連続試験状態で開始す
る。
である。試験手順は、ステップ２００で開始する。この
試験は、ユーザの制御によってか、又は１つの試験の後
に次の他の試験が自動的に続く連続試験状態で開始す
る。
【００２６】マイクロコントローラ１６０は、ステップ
２１０に進み、シールドのされていないツィスト・ペア
（ＵＴＰ）、シールドされたツィスト・ペア（ＳＴＰ）
又は同軸であるかのワイヤ形式及びケーブルの構造など
の如き被試験ＬＡＮケーブルの形式を読み取る（選択す
る）。表示器１７０上に表示されたメニュを制御インタ
フェース１８０を介してユーザが確定選択することによ
るユーザ要求によって、ＬＡＮケーブルの形式を変更で
きる。ＬＡＮケーブル形式のこの設定は、実行する試験
の形式に主に影響する。ＵＴＰの規格ならば、最も一般
的なケーブル形式である。ＳＴＰが選択されたならば、
試験装置１００は、ＵＴＰケーブル用に実行する測定の
他に、解放シールド・エラーもチェックする。同軸が選
択されれば、測定の限定された一部の項目を用いて、わ
ずか１本のワイヤとシールドとを試験する。
２１０に進み、シールドのされていないツィスト・ペア
（ＵＴＰ）、シールドされたツィスト・ペア（ＳＴＰ）
又は同軸であるかのワイヤ形式及びケーブルの構造など
の如き被試験ＬＡＮケーブルの形式を読み取る（選択す
る）。表示器１７０上に表示されたメニュを制御インタ
フェース１８０を介してユーザが確定選択することによ
るユーザ要求によって、ＬＡＮケーブルの形式を変更で
きる。ＬＡＮケーブル形式のこの設定は、実行する試験
の形式に主に影響する。ＵＴＰの規格ならば、最も一般
的なケーブル形式である。ＳＴＰが選択されたならば、
試験装置１００は、ＵＴＰケーブル用に実行する測定の
他に、解放シールド・エラーもチェックする。同軸が選
択されれば、測定の限定された一部の項目を用いて、わ
ずか１本のワイヤとシールドとを試験する。
【００２７】測定ステップ２２０が、総てのワイヤ・ペ
ア間の抵抗値の測定を管理する。図５は、データ構造を
示す。すなわち、抵抗マトリクス５００は、デジタル・
メモリに蓄積された抵抗測定データを示す。全部で５６
個の測定値が集められて、このマトリクスを埋めてい
る。Ｒ１１、Ｒ２２、Ｒ３３などのようにこのマトリク
スを斜めに埋めるドットは、これら特定の値が有効でな
いことを示す。これは、これらドットがワイヤ・ペア間
の測定でないので、無視されるためである。（なお、Ｒ
mnは、ワイヤｍとワイヤｎとの間の抵抗を意味する。）
抵抗測定値は、上側の三角形範囲の値と下側の三角形範
囲の値とで対称ではない。例えば、直流試験電流を供給
する抵抗測定試験は、これら測定間で逆極性のために、
Ｒ１２は必然的にＲ２１と同じでない。電流路にダイオ
ード接合があれば、このダイオード接合は、一方の方向
で順バイアスされ、他方の方向で逆バイアスされて、こ
れら２つの極性間で現れる抵抗には大きな差がある。Ｌ
ＡＮケーブル・システムの接続を確認する目的でケーブ
ルの遠い端部にケーブル識別器が接続された際に、この
現象を効果的に利用できる。
ア間の抵抗値の測定を管理する。図５は、データ構造を
示す。すなわち、抵抗マトリクス５００は、デジタル・
メモリに蓄積された抵抗測定データを示す。全部で５６
個の測定値が集められて、このマトリクスを埋めてい
る。Ｒ１１、Ｒ２２、Ｒ３３などのようにこのマトリク
スを斜めに埋めるドットは、これら特定の値が有効でな
いことを示す。これは、これらドットがワイヤ・ペア間
の測定でないので、無視されるためである。（なお、Ｒ
mnは、ワイヤｍとワイヤｎとの間の抵抗を意味する。）
抵抗測定値は、上側の三角形範囲の値と下側の三角形範
囲の値とで対称ではない。例えば、直流試験電流を供給
する抵抗測定試験は、これら測定間で逆極性のために、
Ｒ１２は必然的にＲ２１と同じでない。電流路にダイオ
ード接合があれば、このダイオード接合は、一方の方向
で順バイアスされ、他方の方向で逆バイアスされて、こ
れら２つの極性間で現れる抵抗には大きな差がある。Ｌ
ＡＮケーブル・システムの接続を確認する目的でケーブ
ルの遠い端部にケーブル識別器が接続された際に、この
現象を効果的に利用できる。
【００２８】再び図２を参照し、マイクロコントローラ
１６０は、判断ステップ２３０に進む。短絡回路エラー
に対する所定の良度指数と各抵抗測定値とを比較する。
なお、良度指数の値は、ケーブル識別器が表す値のよう
な通常の抵抗値から、本当の短絡回路エラーを分離する
ように選択された値であり、指示値の最小値には故障の
可能性がある。抵抗測定値が短絡回路エラーに対する良
度指数よりも小さければ、マイクロコントローラ１６０
は、表示ステップ２４０に分岐して、発見した短絡回路
エラーの詳細を表示器１７０によりユーザに知らせる。
１６０は、判断ステップ２３０に進む。短絡回路エラー
に対する所定の良度指数と各抵抗測定値とを比較する。
なお、良度指数の値は、ケーブル識別器が表す値のよう
な通常の抵抗値から、本当の短絡回路エラーを分離する
ように選択された値であり、指示値の最小値には故障の
可能性がある。抵抗測定値が短絡回路エラーに対する良
度指数よりも小さければ、マイクロコントローラ１６０
は、表示ステップ２４０に分岐して、発見した短絡回路
エラーの詳細を表示器１７０によりユーザに知らせる。
【００２９】マイクロコントローラ１６０が判断ステッ
プ２５０に進むと、ＬＡＮケーブル・システムの遠い端
部にケーブル識別器が存在するかを判断する。ケーブル
識別器が検出されなければ、抵抗測定試験が、ワイヤ・
ペア間の短絡回路エラーの検出に限定される。これらワ
イヤ・ペアは、短絡回路でなければ、総て解放状態であ
る。
プ２５０に進むと、ＬＡＮケーブル・システムの遠い端
部にケーブル識別器が存在するかを判断する。ケーブル
識別器が検出されなければ、抵抗測定試験が、ワイヤ・
ペア間の短絡回路エラーの検出に限定される。これらワ
イヤ・ペアは、短絡回路でなければ、総て解放状態であ
る。
【００３０】ケーブル識別器がＬＡＮケーブル・システ
ムに結合していると、実施例におけるケーブル識別器
は、予測されるワイヤ・ペア１−２、３−６、４−５及
び７−８の各々において、半導体ダイオードが直列にな
った所定の抵抗値を試験装置１００に与える。所定の抵
抗値は、ケーブル識別器番号の特定の識別となり、実施
例では、８個以上の異なるケーブル識別器が利用可能で
ある。マイクロコントローラ１６０は、抵抗測定値の各
々を、上限定数及び下限定数の対を構成する一連の良度
指数と比較する。これら１組の定数は、与えられたケー
ブル識別器の値の予測範囲を基にしており、１０００フ
ィート（約３００メートル）までの長さのケーブルに対
して挿入されたＬＡＮケーブル・システムの抵抗の存在
にもかかわらず、ケーブル識別器の存在及びその識別器
番号を高い確度で決定できるように、注意深く選択され
る。例えば、測定した抵抗値がケーブル識別器１に対し
て下限値よりも大きく、上限値よりも大きければ、マイ
クロコントローラ１６０は、ケーブル識別器１が存在す
ると判断する。次に、マイクロコントローラ１６０は、
このケーブル識別器の存在を基にした一連のステップに
分岐して、表示ステップ２６０を開始する。
ムに結合していると、実施例におけるケーブル識別器
は、予測されるワイヤ・ペア１−２、３−６、４−５及
び７−８の各々において、半導体ダイオードが直列にな
った所定の抵抗値を試験装置１００に与える。所定の抵
抗値は、ケーブル識別器番号の特定の識別となり、実施
例では、８個以上の異なるケーブル識別器が利用可能で
ある。マイクロコントローラ１６０は、抵抗測定値の各
々を、上限定数及び下限定数の対を構成する一連の良度
指数と比較する。これら１組の定数は、与えられたケー
ブル識別器の値の予測範囲を基にしており、１０００フ
ィート（約３００メートル）までの長さのケーブルに対
して挿入されたＬＡＮケーブル・システムの抵抗の存在
にもかかわらず、ケーブル識別器の存在及びその識別器
番号を高い確度で決定できるように、注意深く選択され
る。例えば、測定した抵抗値がケーブル識別器１に対し
て下限値よりも大きく、上限値よりも大きければ、マイ
クロコントローラ１６０は、ケーブル識別器１が存在す
ると判断する。次に、マイクロコントローラ１６０は、
このケーブル識別器の存在を基にした一連のステップに
分岐して、表示ステップ２６０を開始する。
【００３１】表示ステップ２６０において、表示器１７
０を用いてケーブル識別器の番号（ロケータ番号）をユ
ーザに表示する。前の例では、ケーブル識別器１の存在
をユーザに示す。マイクロコントローラ１６０は、判断
ステップ２７０に進み、ＬＡＮケーブル・システムのワ
イヤ・マップ内のエラーをチェックする。ワイヤ・マッ
プは、試験装置１００及びケーブル識別器間に結合され
たＬＡＮケーブル・システム内の接続を完全に特徴付け
たものである。ワイヤ・マップには、ケーブル識別器内
のダイオード・ペアが示す予測電流方向を用いて、可能
性のある総ての配線エラーをチェックし、その方向に応
じた指示値を発生できるようにする。予測したケーブル
・ペアの各々に対する指示値と対応する予測指示値とを
比較して、ワイヤ・マップをチェックする。例えば、Ｒ
１２及びＲ２１を夫々の所定上限値及び下限値と比較し
て、ペア１−２をチェックする。ペア１−２は、ケーブ
ル識別器による直列ダイオード及び所定の抵抗値がある
ので、Ｒ１２及びＲ２１の値により、このペアが正しい
極性で適切に接続されているかを判断できる。ワイヤ・
マップ・エラーが検出されると、マイクロコントローラ
１６０は、表示ステップ２８０に進み、表示器１７０に
より、ワイヤ・マップのエラーをユーザに表示する。
０を用いてケーブル識別器の番号（ロケータ番号）をユ
ーザに表示する。前の例では、ケーブル識別器１の存在
をユーザに示す。マイクロコントローラ１６０は、判断
ステップ２７０に進み、ＬＡＮケーブル・システムのワ
イヤ・マップ内のエラーをチェックする。ワイヤ・マッ
プは、試験装置１００及びケーブル識別器間に結合され
たＬＡＮケーブル・システム内の接続を完全に特徴付け
たものである。ワイヤ・マップには、ケーブル識別器内
のダイオード・ペアが示す予測電流方向を用いて、可能
性のある総ての配線エラーをチェックし、その方向に応
じた指示値を発生できるようにする。予測したケーブル
・ペアの各々に対する指示値と対応する予測指示値とを
比較して、ワイヤ・マップをチェックする。例えば、Ｒ
１２及びＲ２１を夫々の所定上限値及び下限値と比較し
て、ペア１−２をチェックする。ペア１−２は、ケーブ
ル識別器による直列ダイオード及び所定の抵抗値がある
ので、Ｒ１２及びＲ２１の値により、このペアが正しい
極性で適切に接続されているかを判断できる。ワイヤ・
マップ・エラーが検出されると、マイクロコントローラ
１６０は、表示ステップ２８０に進み、表示器１７０に
より、ワイヤ・マップのエラーをユーザに表示する。
【００３２】図６において、記号マトリクス５１０は、
抵抗マトリクス５００に対して作用したステップ２３０
〜２８０で実行した判断処理の結果の蓄積である。抵抗
マトリクス５００の抵抗測定値を、先ず、任意の２本の
ワイヤ間での短絡回路配線エラー５０ｄに関して調べ
る。所定の良度指数未満の測定抵抗値を短絡回路とし、
記号マトリクス５１０内の各位置で指示値「０」を割り
当てる。次に、抵抗マトリクス５００における抵抗測定
値を所定の良度指数と比較して、ダイオード及び解放回
路の存在を調べる。なお、所定の良度指数は、対応する
１組のケーブル識別器の１つが与えた予測抵抗を基にし
た得た一連の高い抵抗値及び低い抵抗値のペアである。
抵抗値が上限値及び下限値の間ならば、記号マトリクス
５１０内の各位置に指示値「＋」を割り当て、ドットを
中心に対称となるマトリクス位置に指示値「−」を割り
当てる。測定値がケーブル識別器用に予測した最高の抵
抗値よりも上ならば、記号マトリクス５１０の対応位置
を解放回路と判断して、識別値「＊」を割り当てる。例
としての記号マトリクス５１０に示したように、各ワイ
ヤ・ペアを介した各方向に割り当てた極性の夫々の経路
において、ワイヤ・ペア１−２、３−６、４−５及び７
−８がダイオードを有することが判り、短絡回路配線エ
ラー５０ｄのないことが判る。
抵抗マトリクス５００に対して作用したステップ２３０
〜２８０で実行した判断処理の結果の蓄積である。抵抗
マトリクス５００の抵抗測定値を、先ず、任意の２本の
ワイヤ間での短絡回路配線エラー５０ｄに関して調べ
る。所定の良度指数未満の測定抵抗値を短絡回路とし、
記号マトリクス５１０内の各位置で指示値「０」を割り
当てる。次に、抵抗マトリクス５００における抵抗測定
値を所定の良度指数と比較して、ダイオード及び解放回
路の存在を調べる。なお、所定の良度指数は、対応する
１組のケーブル識別器の１つが与えた予測抵抗を基にし
た得た一連の高い抵抗値及び低い抵抗値のペアである。
抵抗値が上限値及び下限値の間ならば、記号マトリクス
５１０内の各位置に指示値「＋」を割り当て、ドットを
中心に対称となるマトリクス位置に指示値「−」を割り
当てる。測定値がケーブル識別器用に予測した最高の抵
抗値よりも上ならば、記号マトリクス５１０の対応位置
を解放回路と判断して、識別値「＊」を割り当てる。例
としての記号マトリクス５１０に示したように、各ワイ
ヤ・ペアを介した各方向に割り当てた極性の夫々の経路
において、ワイヤ・ペア１−２、３−６、４−５及び７
−８がダイオードを有することが判り、短絡回路配線エ
ラー５０ｄのないことが判る。
【００３３】指示値の集合した記号マトリクス５１０を
眺め、既知の良好なＬＡＮケーブル用に作成した予測パ
ターンと識別したパターンとを比較すれば、ワイヤ・マ
ップのエラーを特定できる。遠い端部にケーブル識別器
のないＬＡＮケーブル・システムでは、全体的に解放回
路の「＊」指示値のパターンとなる。遠い端部にケーブ
ル識別器のあるＬＡＮケーブル・システムは、主に解放
回路のパターンとなるが、記号マトリクスの適当な位置
に「＋」及び「−」指示値が現れる。異なるケーブル形
式も利用可能なので、短絡回路エラー、ダイオード経路
及び解放回路エラーに対する測定値と比較するための良
度指数を変更してもよく、新たな全体的な指示値の判断
パターンは、当業者により新たなケーブル形式に合うよ
うにあつらえることができる。
眺め、既知の良好なＬＡＮケーブル用に作成した予測パ
ターンと識別したパターンとを比較すれば、ワイヤ・マ
ップのエラーを特定できる。遠い端部にケーブル識別器
のないＬＡＮケーブル・システムでは、全体的に解放回
路の「＊」指示値のパターンとなる。遠い端部にケーブ
ル識別器のあるＬＡＮケーブル・システムは、主に解放
回路のパターンとなるが、記号マトリクスの適当な位置
に「＋」及び「−」指示値が現れる。異なるケーブル形
式も利用可能なので、短絡回路エラー、ダイオード経路
及び解放回路エラーに対する測定値と比較するための良
度指数を変更してもよく、新たな全体的な指示値の判断
パターンは、当業者により新たなケーブル形式に合うよ
うにあつらえることができる。
【００３４】図７において、容量マトリクス５２０は、
容量測定値が蓄積されたデータ構造である。全部で２８
個の測定値を集めて、マトリクスを埋めている。なお、
Ｃmnは、ワイヤｍ及びワイヤｎ間の容量を示す。このマ
トリクスを斜めに横切る位置で、Ｃ１１、Ｃ２２、Ｃ３
３などの斜めの値の位置に代わって配置されたドット
は、これら特定の値が有効でないことを示す。これは、
ドットがワイヤ・ペア間の測定を含まないためであるの
で、無視される。容量測定は、単一極性ではない交流
（ＡＣ）形式の測定であるために、Ｃ１２及びＣ２１の
ように容量マトリクス５２０を斜めに横切る位置を対称
にしたマトリクス値は等しい。
容量測定値が蓄積されたデータ構造である。全部で２８
個の測定値を集めて、マトリクスを埋めている。なお、
Ｃmnは、ワイヤｍ及びワイヤｎ間の容量を示す。このマ
トリクスを斜めに横切る位置で、Ｃ１１、Ｃ２２、Ｃ３
３などの斜めの値の位置に代わって配置されたドット
は、これら特定の値が有効でないことを示す。これは、
ドットがワイヤ・ペア間の測定を含まないためであるの
で、無視される。容量測定は、単一極性ではない交流
（ＡＣ）形式の測定であるために、Ｃ１２及びＣ２１の
ように容量マトリクス５２０を斜めに横切る位置を対称
にしたマトリクス値は等しい。
【００３５】図３において、総てのワイヤ・ペア間の容
量値の測定は、測定ステップ２９０で管理される。マイ
クロコントローラ１６０は、ステップ３００に進み、近
い端部に解放回路エラーがあるかを見つける。ＬＡＮケ
ーブル・システム内の近い端部接続での解放ワイヤは、
適切に接続されたワイヤ・ペアの容量測定よりも極端に
小さい容量測定となる。先ず、最大容量値を測定して、
他の総ての容量値を最大値の所定の一部（最大容量値を
所定値で分割した値）と比較する。任意の他の容量値が
最大値の所定の部分値（最大値を所定の分数値と乗算し
た値）よりも小さければ、これらは解放回路を意味し、
対応するエラー表示を行う。この所定の部分値は、ケー
ブル・パラメータ及び近い端部からのケーブルの最大長
により決まる良度指数であり、解放回路エラーを判断で
きる。例えば、実施例の場合、最大値の１０％未満の容
量は、解放回路配線エラーと見なされる。この場合、所
定値が０．１であり、最大容量値と所定値０．１とを乗
算した結果が良度指数となる。解放回路を検出すると、
マイクロコントローラ１６０は、表示ステップ３１０に
分岐して、表示器１７０により操作者に解放回路を表示
する。
量値の測定は、測定ステップ２９０で管理される。マイ
クロコントローラ１６０は、ステップ３００に進み、近
い端部に解放回路エラーがあるかを見つける。ＬＡＮケ
ーブル・システム内の近い端部接続での解放ワイヤは、
適切に接続されたワイヤ・ペアの容量測定よりも極端に
小さい容量測定となる。先ず、最大容量値を測定して、
他の総ての容量値を最大値の所定の一部（最大容量値を
所定値で分割した値）と比較する。任意の他の容量値が
最大値の所定の部分値（最大値を所定の分数値と乗算し
た値）よりも小さければ、これらは解放回路を意味し、
対応するエラー表示を行う。この所定の部分値は、ケー
ブル・パラメータ及び近い端部からのケーブルの最大長
により決まる良度指数であり、解放回路エラーを判断で
きる。例えば、実施例の場合、最大値の１０％未満の容
量は、解放回路配線エラーと見なされる。この場合、所
定値が０．１であり、最大容量値と所定値０．１とを乗
算した結果が良度指数となる。解放回路を検出すると、
マイクロコントローラ１６０は、表示ステップ３１０に
分岐して、表示器１７０により操作者に解放回路を表示
する。
【００３６】マイクロコントローラ１６０は、次にステ
ップ３２０に進み、４組の有効なワイヤ・ペアをチェッ
クする。ツイスト・ワイヤ・ペアの相互容量は、互いに
捩れていない同じケーブル内のワイヤの容量よりも高
い。測定データ間の４つの最高の容量値を選択して、こ
れら値を他のペアでない容量測定の値と比較して、マッ
チしたペアとしての有効性をチェックする。有効なマッ
チしたペアであるためには、総ての測定におけるペアで
ない容量に対するペアの容量の最小の比における所定の
良度指数を各比が越えなければならない。本発明の実施
例では、標準データ等級のＬＡＮケーブルの最小予測比
の値は、２．０である。他の良度指数は、当業者が過度
の実験を行うことなく、容易に得られる。２．０の良度
指数未満の比は、音声等級電話ケーブルのようにデータ
通信に適切でないケーブルを含むかもしれないという多
くの間題のいくつかを示す。４組の有効なペアを求める
際に問題を検出すると、マイクロコントローラ１６０
は、表示ステップ３３０に分岐して、表示器１７０によ
り操作者にエラー・メッセージを表示する。ＬＡＮケー
ブルのいくつかの形式は、４組ではなく８組の有効ペア
となるように互いに捩れている。この特別な状態では、
判断ステップ３２０にて、エラーがなく、多くのマッチ
したペアとなる。
ップ３２０に進み、４組の有効なワイヤ・ペアをチェッ
クする。ツイスト・ワイヤ・ペアの相互容量は、互いに
捩れていない同じケーブル内のワイヤの容量よりも高
い。測定データ間の４つの最高の容量値を選択して、こ
れら値を他のペアでない容量測定の値と比較して、マッ
チしたペアとしての有効性をチェックする。有効なマッ
チしたペアであるためには、総ての測定におけるペアで
ない容量に対するペアの容量の最小の比における所定の
良度指数を各比が越えなければならない。本発明の実施
例では、標準データ等級のＬＡＮケーブルの最小予測比
の値は、２．０である。他の良度指数は、当業者が過度
の実験を行うことなく、容易に得られる。２．０の良度
指数未満の比は、音声等級電話ケーブルのようにデータ
通信に適切でないケーブルを含むかもしれないという多
くの間題のいくつかを示す。４組の有効なペアを求める
際に問題を検出すると、マイクロコントローラ１６０
は、表示ステップ３３０に分岐して、表示器１７０によ
り操作者にエラー・メッセージを表示する。ＬＡＮケー
ブルのいくつかの形式は、４組ではなく８組の有効ペア
となるように互いに捩れている。この特別な状態では、
判断ステップ３２０にて、エラーがなく、多くのマッチ
したペアとなる。
【００３７】次に、マイクロコントローラ１６０は、判
断ステップ３４０に進み、発見した有効ワイヤ・ペアが
予測したペア（所望ペア）に対応するかを判断する。こ
の場合、ワイヤ１−２、３−６、４−５及び７−８が識
別した有効なペアである。４組の有効ペアを得る際に間
題を検出すれば、マイクロコントローラ１６０は表示ス
テップ３５０に分岐して、表示器１７０により、操作者
にエラー・メッセージを表示する。
断ステップ３４０に進み、発見した有効ワイヤ・ペアが
予測したペア（所望ペア）に対応するかを判断する。こ
の場合、ワイヤ１−２、３−６、４−５及び７−８が識
別した有効なペアである。４組の有効ペアを得る際に間
題を検出すれば、マイクロコントローラ１６０は表示ス
テップ３５０に分岐して、表示器１７０により、操作者
にエラー・メッセージを表示する。
【００３８】図８において、記号マトリクス５３０は、
容量マトリクス５２０で作用するステップ２９０〜３５
０にて実行された判断処理の結果を蓄積する。容量マト
リクス５２０の容量測定値を、先ず、任意の２本のワイ
ヤ間の近い端部の解放回路配線エラー５０ｃについて調
べる。所定の良度指数未満の測定容量値は、解放回路配
線エラーと判断され、記号マトリクス５３０内の夫々の
位置に「＊」の指示値が割り当てられ蓄積される。ツイ
スト・ワイヤ・ペアに関連した高い値の容量を、互いに
捩られていないワイヤの容量に対して判断する。ツイス
ト・ワイヤ・ペアには、記号マトリクスに指示値「Ｈ」
が割り当てられ、他のワイヤには、指示値「Ｌ」が割り
当てられる。記号マトリクス５３０内に試験結果の例と
して示すように、ワイヤ・ペア１−２、３−６、４−５
及び７−８は、ツイスト・ワイヤ・ペアであると判り、
解放回路エラーが識別されない。
容量マトリクス５２０で作用するステップ２９０〜３５
０にて実行された判断処理の結果を蓄積する。容量マト
リクス５２０の容量測定値を、先ず、任意の２本のワイ
ヤ間の近い端部の解放回路配線エラー５０ｃについて調
べる。所定の良度指数未満の測定容量値は、解放回路配
線エラーと判断され、記号マトリクス５３０内の夫々の
位置に「＊」の指示値が割り当てられ蓄積される。ツイ
スト・ワイヤ・ペアに関連した高い値の容量を、互いに
捩られていないワイヤの容量に対して判断する。ツイス
ト・ワイヤ・ペアには、記号マトリクスに指示値「Ｈ」
が割り当てられ、他のワイヤには、指示値「Ｌ」が割り
当てられる。記号マトリクス５３０内に試験結果の例と
して示すように、ワイヤ・ペア１−２、３−６、４−５
及び７−８は、ツイスト・ワイヤ・ペアであると判り、
解放回路エラーが識別されない。
【００３９】記号マトリクス５３０による視覚的な眺
め、既知の良好なＬＡＮケーブルに対する指示値の予測
パターンと求めた指示値のパターンとを比較すれば、ワ
イヤをペアにする際にエラーを特定できる。ケーブルの
遠い端部に接続されたケーブル識別器の存在又は不存在
は、指示値パターンに影響しない。異なるケーブル形式
を使用できるので、解放回路エラー及びツイスト・ワイ
ヤのペアリング（ペアの組み合わせ）を検出するための
良度指数を変更して、新たなケーブル形式にマッチする
ように、全体的な判断パターンを当業者があつらえても
よい。
め、既知の良好なＬＡＮケーブルに対する指示値の予測
パターンと求めた指示値のパターンとを比較すれば、ワ
イヤをペアにする際にエラーを特定できる。ケーブルの
遠い端部に接続されたケーブル識別器の存在又は不存在
は、指示値パターンに影響しない。異なるケーブル形式
を使用できるので、解放回路エラー及びツイスト・ワイ
ヤのペアリング（ペアの組み合わせ）を検出するための
良度指数を変更して、新たなケーブル形式にマッチする
ように、全体的な判断パターンを当業者があつらえても
よい。
【００４０】図９において、マイクロコントローラ１６
０は、容量マトリクス５２０からのデータを基にして容
量差マトリクス５４０を計算する。容量差マトリクスに
おける各入力は、各ペアの各ワイヤから第３ワイヤで測
定した容量間の差である。ワイヤ・ペア１−２のＮＥＸ
Ｔ分離は、差容量マトリクス５４０の第１行にて評価す
る。夫々Ｃ１１−Ｃ２１及びＣ１２−Ｃ２２である最初
の２つの入力は意味のない値である。すなわち、これら
値は、元の容量マトリクス５２０からの意味のない値で
ある斜めの値Ｃ１１及びＣ２２を各々含んでいるので、
代わりにドットを配置して無視する。差容量マトリクス
５４０の上の行における第３入力は、ワイヤ・ペア１−
２及びワイヤ３間の分離の良度指数であるＣ１３−Ｃ２
３である。同様に、差容量マトリクス５４０の上の行の
第４入力は、ペア１−２及びワイヤ４間の分離の良度指
数であるＣ１４−Ｃ２４である。容量差マトリクス５４
０の他の入力は、第２行、第３行及び第４行の夫々の割
り当てワイヤ・ペア３−６、４−５及び７−８で、同様
に行われる。容量差マトリクス５４０の値を用いて、識
別したワイヤ・ペア及びＬＡＮケーブルの他の総てのワ
イヤ間の近い端部のクロストーク（ＮＥＸＴ）分離を確
認する。この確認には、ＮＥＸＴ分離の許容レベルのし
きい値に相関する良度指数と各値とを比較し、良度指数
を超えた値に対して、エラー信号を発生する。
０は、容量マトリクス５２０からのデータを基にして容
量差マトリクス５４０を計算する。容量差マトリクスに
おける各入力は、各ペアの各ワイヤから第３ワイヤで測
定した容量間の差である。ワイヤ・ペア１−２のＮＥＸ
Ｔ分離は、差容量マトリクス５４０の第１行にて評価す
る。夫々Ｃ１１−Ｃ２１及びＣ１２−Ｃ２２である最初
の２つの入力は意味のない値である。すなわち、これら
値は、元の容量マトリクス５２０からの意味のない値で
ある斜めの値Ｃ１１及びＣ２２を各々含んでいるので、
代わりにドットを配置して無視する。差容量マトリクス
５４０の上の行における第３入力は、ワイヤ・ペア１−
２及びワイヤ３間の分離の良度指数であるＣ１３−Ｃ２
３である。同様に、差容量マトリクス５４０の上の行の
第４入力は、ペア１−２及びワイヤ４間の分離の良度指
数であるＣ１４−Ｃ２４である。容量差マトリクス５４
０の他の入力は、第２行、第３行及び第４行の夫々の割
り当てワイヤ・ペア３−６、４−５及び７−８で、同様
に行われる。容量差マトリクス５４０の値を用いて、識
別したワイヤ・ペア及びＬＡＮケーブルの他の総てのワ
イヤ間の近い端部のクロストーク（ＮＥＸＴ）分離を確
認する。この確認には、ＮＥＸＴ分離の許容レベルのし
きい値に相関する良度指数と各値とを比較し、良度指数
を超えた値に対して、エラー信号を発生する。
【００４１】図１０は、ワイヤ４０を含むＬＡＮケーブ
ル１０の断面図において、各入力に対する容量差の物理
的意味を表す。図示の如く、第３ワイヤ３に対して測定
した容量の差についてワイヤ・ペア１−２を評価する。
この第３ワイヤ３に対する容量は、差容量マトリクスで
の適切な入力に対応するＣ１３−Ｃ２３として示す。同
様に、ペア１−２及びワイヤ４間の差容量を図示のよう
に示すが、点線で容量が接続されている。容量差マトリ
クス５４０内の他の入力も同様な方法で計算する。容量
差の値は、従来のアナログ技法により測定したＮＥＸＴ
値に相関する。なお、このアナログ技法では、ワイヤ・
ペアに電圧を誘導し、供給した信号に対する誘導信号の
比を測定して、信号分離を直接測定する。容量差が比較
的低ければ、ワイヤ３によるワイヤ・ペア１−２内のＣ
１２に誘導された電圧は等しいので、ワイヤ３内に存在
する電圧からワイヤ・ペアに容量的に誘導された差電圧
がない。しかし、差容量が大幅に大きいと、ワイヤ３へ
のワイヤ・ペア１−２のＮＥＸＴ分離が比例的に悪化す
る。よって、最大差容量に対する良度指数は、ＮＥＸＴ
分離の許容レベルに相関して得られる。なお、このＮＥ
ＸＴ分離の許容レベルは、業界規格で決まる。
ル１０の断面図において、各入力に対する容量差の物理
的意味を表す。図示の如く、第３ワイヤ３に対して測定
した容量の差についてワイヤ・ペア１−２を評価する。
この第３ワイヤ３に対する容量は、差容量マトリクスで
の適切な入力に対応するＣ１３−Ｃ２３として示す。同
様に、ペア１−２及びワイヤ４間の差容量を図示のよう
に示すが、点線で容量が接続されている。容量差マトリ
クス５４０内の他の入力も同様な方法で計算する。容量
差の値は、従来のアナログ技法により測定したＮＥＸＴ
値に相関する。なお、このアナログ技法では、ワイヤ・
ペアに電圧を誘導し、供給した信号に対する誘導信号の
比を測定して、信号分離を直接測定する。容量差が比較
的低ければ、ワイヤ３によるワイヤ・ペア１−２内のＣ
１２に誘導された電圧は等しいので、ワイヤ３内に存在
する電圧からワイヤ・ペアに容量的に誘導された差電圧
がない。しかし、差容量が大幅に大きいと、ワイヤ３へ
のワイヤ・ペア１−２のＮＥＸＴ分離が比例的に悪化す
る。よって、最大差容量に対する良度指数は、ＮＥＸＴ
分離の許容レベルに相関して得られる。なお、このＮＥ
ＸＴ分離の許容レベルは、業界規格で決まる。
【００４２】図４において、マイクロコントローラ１６
０は、処理ステップ３６０に進み、上述のように容量差
マトリクス５４０を計算する。次に、マイクロコントロ
ーラ１６０は、判断ステップ３７０に進み、ＮＥＸＴ分
離のチェックを行う。ここでは、容量差マトリクス５４
０内の各入力をＮＥＸＴ分離の良度指数と比較し、任意
の入力が良度指数を超せば、マイクロコントローラ１６
０が表示ステップ３８０に分岐して、表示器１７０によ
り、検出したＮＥＸＴ問題を操作者に表示する。
０は、処理ステップ３６０に進み、上述のように容量差
マトリクス５４０を計算する。次に、マイクロコントロ
ーラ１６０は、判断ステップ３７０に進み、ＮＥＸＴ分
離のチェックを行う。ここでは、容量差マトリクス５４
０内の各入力をＮＥＸＴ分離の良度指数と比較し、任意
の入力が良度指数を超せば、マイクロコントローラ１６
０が表示ステップ３８０に分岐して、表示器１７０によ
り、検出したＮＥＸＴ問題を操作者に表示する。
【００４３】マイクロコントローラ１６０は、判断ステ
ップ３９０に進み、全体的な試験過程期間中に、上述の
エラーの任意のものに遭遇したかを判断する。エラーが
検出されなければ、マイクロコントローラ１６０は、表
示ステップ４００に分岐して、エラーが見つからなかっ
たこと（合格）を知らせる。図２、図３及び図４に示し
た試験シーケンスは、ステップ４１０で終了する。
ップ３９０に進み、全体的な試験過程期間中に、上述の
エラーの任意のものに遭遇したかを判断する。エラーが
検出されなければ、マイクロコントローラ１６０は、表
示ステップ４００に分岐して、エラーが見つからなかっ
たこと（合格）を知らせる。図２、図３及び図４に示し
た試験シーケンスは、ステップ４１０で終了する。
【００４４】上述した例では、ＬＡＮケーブルを試験す
る方法を示した。これを要約すれば、次のようになる。
すなわち、一連の抵抗測定を可能性のある総てのワイヤ
・ペア間で行い、抵抗マトリクスに蓄積する。この抵抗
マトリクスでは、短絡回路エラーに関する判断を行う。
ケーブル識別器が存在すれば、抵抗測定値を所定の１組
の良度指数と比較して、ダイオード極性及びケーブル識
別番号を知ることができる。個々の判断を指示値として
記号マトリクス内に記号的に蓄積して、指示値のパター
ンを既知の良好なパターンと比較する。一連の容量測定
を可能性のある総てのワイヤ・ペア間で行い、容量マト
リクスに蓄積する。ここでは、容量測定値を所定の１組
の良度指数と比較して、解放回路エラー及びワイヤのペ
アリング（ペアの組み合わせ）に関する判断を行う。個
別の判断を他の記号マトリクス内に記号的に蓄積して、
記号のパターンを既知の良好なパターンと比較する。最
後に、容量マトリクス内に蓄積された値から差容量を計
算して、識別したケーブル・ペア間の近い端部のクロス
トーク分離を評価し、その結果の差容量値を、ＮＥＸＴ
分離の許容可能なしきい値レベルに相関する所定の良度
指数と比較する。
る方法を示した。これを要約すれば、次のようになる。
すなわち、一連の抵抗測定を可能性のある総てのワイヤ
・ペア間で行い、抵抗マトリクスに蓄積する。この抵抗
マトリクスでは、短絡回路エラーに関する判断を行う。
ケーブル識別器が存在すれば、抵抗測定値を所定の１組
の良度指数と比較して、ダイオード極性及びケーブル識
別番号を知ることができる。個々の判断を指示値として
記号マトリクス内に記号的に蓄積して、指示値のパター
ンを既知の良好なパターンと比較する。一連の容量測定
を可能性のある総てのワイヤ・ペア間で行い、容量マト
リクスに蓄積する。ここでは、容量測定値を所定の１組
の良度指数と比較して、解放回路エラー及びワイヤのペ
アリング（ペアの組み合わせ）に関する判断を行う。個
別の判断を他の記号マトリクス内に記号的に蓄積して、
記号のパターンを既知の良好なパターンと比較する。最
後に、容量マトリクス内に蓄積された値から差容量を計
算して、識別したケーブル・ペア間の近い端部のクロス
トーク分離を評価し、その結果の差容量値を、ＮＥＸＴ
分離の許容可能なしきい値レベルに相関する所定の良度
指数と比較する。
【００４５】上述した例は、本発明の好適な実施例につ
いて説明したが、本発明の要旨を逸脱することなく、本
発明に係る上述の好適実施例の細部において種々の変更
が可能なことが当業者には明らかであろう。例えば、ス
イッチ・マトリクス１３０及び１４０の代わりに異なる
形式のスイッチを用いてもよい。また、表示器１７０及
びユーザ制御インタフェース１８０の代わりに、異なる
ユーザ・インタフェース技法を用いてもよい。新たな形
式のＬＡＮケーブル構造及びシステムが生じた際に、こ
れらに適合するように、抵抗及び容量測定を評価する方
法を容易に準備でき、プログラムした試験シーケンスも
容易に変更できる。したがって、本発明の要旨は、特許
請求の範囲に指摘したようになる。
いて説明したが、本発明の要旨を逸脱することなく、本
発明に係る上述の好適実施例の細部において種々の変更
が可能なことが当業者には明らかであろう。例えば、ス
イッチ・マトリクス１３０及び１４０の代わりに異なる
形式のスイッチを用いてもよい。また、表示器１７０及
びユーザ制御インタフェース１８０の代わりに、異なる
ユーザ・インタフェース技法を用いてもよい。新たな形
式のＬＡＮケーブル構造及びシステムが生じた際に、こ
れらに適合するように、抵抗及び容量測定を評価する方
法を容易に準備でき、プログラムした試験シーケンスも
容易に変更できる。したがって、本発明の要旨は、特許
請求の範囲に指摘したようになる。
【００４６】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、抵抗及び
容量を測定し、これら測定結果をソフトウェアで評価す
ることにより、銅ワイヤＬＡＮケーブルの遠い端部にケ
ーブル識別器を接続しなくても、銅ワイヤのＬＡＮケー
ブル・システムの故障修理や確認を容易に行える。ま
た、本発明では、数学的に計算した差容量の技法を用い
て、ＮＥＸＴパラメータを得ることができ、広範囲の形
式のＬＡＮケーブルに容易に適用できる。
容量を測定し、これら測定結果をソフトウェアで評価す
ることにより、銅ワイヤＬＡＮケーブルの遠い端部にケ
ーブル識別器を接続しなくても、銅ワイヤのＬＡＮケー
ブル・システムの故障修理や確認を容易に行える。ま
た、本発明では、数学的に計算した差容量の技法を用い
て、ＮＥＸＴパラメータを得ることができ、広範囲の形
式のＬＡＮケーブルに容易に適用できる。
【図１】可能性のある総てのワイヤ・ペアの抵抗及び容
量を測定する方法を用いた本発明のＬＡＮケーブル試験
装置の好適実施例のブロック図である。
量を測定する方法を用いた本発明のＬＡＮケーブル試験
装置の好適実施例のブロック図である。
【図２】本発明に従って、図１に示すマイクロコントロ
ーラが実行するプログラムを示す流れ図である。
ーラが実行するプログラムを示す流れ図である。
【図３】本発明に従って、図１に示すマイクロコントロ
ーラが図２に引き続き実行するプログラムを示す流れ図
である。
ーラが図２に引き続き実行するプログラムを示す流れ図
である。
【図４】本発明に従って、図１に示すマイクロコントロ
ーラが図３に引き続き実行するプログラムを示す流れ図
である。
ーラが図３に引き続き実行するプログラムを示す流れ図
である。
【図５】抵抗データが蓄積されたマトリクス・データ構
造のフォーマットを示す図である。
造のフォーマットを示す図である。
【図６】記号フォーマットで蓄積された判断関連情報と
して、抵抗測定データを処理する際の説明図である。
して、抵抗測定データを処理する際の説明図である。
【図７】容量データが蓄積されたマトリクス・データ構
造のフォーマットを示す図である。
造のフォーマットを示す図である。
【図８】記号フォーマットで蓄積された判断関連情報と
して、容量測定データを処理する際の説明図である。
して、容量測定データを処理する際の説明図である。
【図９】どのように容量差マトリクスを計算するのかを
示すマトリクス・フォーマットの説明図である。
示すマトリクス・フォーマットの説明図である。
【図１０】容量差マトリクス内で計算されたワイヤ間の
物理的容量要素の関係を示す８本のワイヤＬＡＮケーブ
ルの物理的端部を示す図である。
物理的容量要素の関係を示す８本のワイヤＬＡＮケーブ
ルの物理的端部を示す図である。
【図１１】物理的銅導体ＬＡＮケーブル及びＬＡＮケー
ブル・コネクタを夫々示す図である。
ブル・コネクタを夫々示す図である。
【図１２】銅導体ＬＡＮケーブル及びＬＡＮケーブル・
コネクタから構成されるＬＡＮケーブル・システムであ
って、各端部がワイヤの予測ペアとなっている場合の回
路図である。
コネクタから構成されるＬＡＮケーブル・システムであ
って、各端部がワイヤの予測ペアとなっている場合の回
路図である。
【図１３】分離ペア配線エラー及び交差ペア配線エラー
を示すＬＡＮケーブルの回路図である。
を示すＬＡＮケーブルの回路図である。
【図１４】解放回路配線エラー、短絡回路配線エラー、
極性反転配線エラー及び解放シールド配線エラーを示す
ＬＡＮケーブルの回路図である。
極性反転配線エラー及び解放シールド配線エラーを示す
ＬＡＮケーブルの回路図である。
１００ 試験装置 １１０ 入力コネクタ（入力手段） １２０ 入力線 １３０ スイッチ・マトリクス（第１スイッチ手段） １４０ スイッチ・マトリクス（第２スイッチ手段） １５０ 測定ユニット（測定手段） １６０ マイクロコントローラ １７０ 表示器 １８０ ユーザ制御インタフェース １９０ 測定制御バス ＲＡＭ、ＲＯＭ メモリ手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 トーマス・ピー・ロック アメリカ合衆国 ワシントン州 ウッド インビルエヌイー ワンハンドレッドナ インティナインス・プレイス 16603 (72)発明者 ツアフリール・シェファー アメリカ合衆国 ワシントン州 シアト ルノースイースト ナインティフォー ス・ストリート 3525 (56)参考文献 特開 平３−89177（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 31/02 G01R 27/04 H04L 12/28
Claims (12)
- 【請求項１】 被試験ローカル・エリア・ネットワーク
・ケーブルのツイスト・ワイヤ・ペアをなす複数のワイ
ヤの近端部に接続される入力手段と、 該入力手段に接続され、上記複数のワイヤから第１及び
第２のワイヤを夫々選択する第１及び第２スイッチ手段
と、 該第１スイッチ手段を介して上記第１ワイヤに接続され
る第１の入力端と、上記第２スイッチ手段を介して上記
第２ワイヤに接続される第２の入力端とを有し、上記第
１及び第２ワイヤ間の抵抗及び容量を測定して抵抗値及
び容量値を出力する測定手段と、 該測定手段に接続して上記抵抗値及び容量値を記憶する
記憶手段と、 該記憶手段に接続し、上記抵抗値及び容量値に基づいて
上記ローカル・エリア・ネットワーク・ケーブル内のツ
イスト・ワイヤ・ペアの接続状態を試験するマイクロプ
ロセッサとを有するローカル・エリア・ネットワーク・
ケーブルの試験装置。 - 【請求項２】 上記記憶手段は、上記第１及び第２ワイ
ヤとして選択された上記複数のワイヤの各ペアの上記抵
抗値及び容量値を記憶する請求項１に記載のローカル・
エリア・ネットワーク・ケーブルの試験装置。 - 【請求項３】 上記マイクロプロセッサは、上記記録手
段に記憶されている容量値に基づいて容量値の差を表す
マトリックスを求めて各ツスイト・ワイヤ・ペアのクロ
ストークを評価する請求項２に記載のローカル・エリア
・ネットワーク・ケーブルの試験装置。 - 【請求項４】 上記マイクロプロセッサは、上記抵抗値
及び容量値を第１の所定値と比較し、上記第１及び第２
ワイヤ間の短絡回路を検知する請求項１に記載のローカ
ル・エリア・ネットワーク・ケーブルの試験装置。 - 【請求項５】 上記マイクロプロセッサは、上記抵抗値
及び容量値を第２の所定値と比較し、上記第１及び第２
ワイヤ間の開放回路を検知する請求項１に記載のローカ
ル・エリア・ネットワーク・ケーブルの試験装置。 - 【請求項６】 上記マイクロプロセッサに接続し、ロー
カル・エリア・ネットワーク・ケーブルの各ツスイト・
ワイヤ・ペアに関する測定結果を表示する表示器を更に
有する請求項１に記載のローカル・エリア・ネットワー
ク・ケーブルの試験装置。 - 【請求項７】 識別番号を有するケーブル識別器を更に
有し、該ケーブル識別器は被試験ローカル・エリア・ネ
ットワーク・ケーブルの遠端部に接続され、上記第１及
び第２ワイヤを介して上記識別番号に関連した所定の抵
抗値を与える請求項１に記載のローカル・エリア・ネッ
トワーク・ケーブルの試験装置。 - 【請求項８】 上記マイクロプロセッサは、上記所定の
抵抗値を一連の良度指数と比較して上記識別番号を測定
する請求項７に記載のローカル・エリア・ネットワーク
・ケーブルの試験装置。 - 【請求項９】 被試験ローカル・エリア・ネットワーク
・ケーブルのツイスト・ワイヤ・ペアをなす複数のワイ
ヤの近端部に接続される入力手段と、 該入力手段に接続され、上記複数のワイヤから第１及び
第２のワイヤを夫々選択する第１及び第２スイッチ手段
と、 該第１スイッチ手段を介して上記第１ワイヤに接続され
る第１の入力端と、上記第２スイッチ手段を介して上記
第２ワイヤに接続される第２の入力端とを有し、上記第
１及び第２ワイヤ間の抵抗及び容量を測定して抵抗値及
び容量値を出力する測定手段と、 該測定手段に接続して上記抵抗値及び容量値を記憶する
記憶手段と、 該記憶手段に接続し、上記抵抗値及び容量値に基づいて
上記ローカル・エリア・ネットワーク・ケーブル内のツ
イスト・ワイヤ・ペアの接続状態を試験すると共に、上
記記録手段に記憶されている容量値に基づいて容量値の
差を表すマトリックスを求めて各ツスイト・ワイヤ・ペ
アのクロストークを評価するマイクロプロセッサとを有
するローカル・エリア・ネットワーク・ケーブルの試験
装置。 - 【請求項１０】 上記マイクロプロセッサは、上記抵抗
値を所定値と比較し、上記第１及び第２ワイヤ間の短絡
回路を検知する請求項１に記載のローカル・エリア・ネ
ットワーク・ケーブルの試験装置。 - 【請求項１１】 上記マイクロプロセッサは、上記容量
値を所定値と比較し、上記第１及び第２ワイヤ間の開放
回路を検知する請求項１に記載のローカル・エリア・ネ
ットワーク・ケーブルの試験装置。 - 【請求項１２】 ローカル・エリア・ネットワーク・ケ
ーブルを試験する方法であって、 （ａ）被試験ローカル・エリア・ネットワーク・ケーブ
ルのツイスト・ワイヤ・ペアをなす複数のワイヤの近端
部に入力手段を接続し、 （ｂ）上記入力手段に接続された第１及び第２スイッチ
手段を用いて上記複数のワイヤから第１及び第２のワイ
ヤを夫々選択し、 （ｃ）上記工程（ｂ）で選択された上記第１及び第２ワ
イヤを測定手段に接続し、該接続手段により上記第１及
び第２ワイヤ間の抵抗及び容量を測定して抵抗値及び容
量値を出力し、 （ｄ）上記抵抗値及び容量値を記憶手段に記憶し、 （ｅ）該記憶手段に記憶されている上記抵抗値及び容量
値に基づいて上記ローカル・エリア・ネットワーク・ケ
ーブルのツイスト・ワイヤ・ペアの接続状態を試験し、 （ｆ）上記記録手段に記憶されている容量値に基づいて
容量値の差を表すマトリックスを求めて各ツスイト・ワ
イヤ・ペアのクロストークを評価するローカル・エリア
・ネットワーク・ケーブルの試験方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/222,156 | 1994-04-04 | ||
| US08/222,156 US5559427A (en) | 1994-04-04 | 1994-04-04 | Instrument and method for testing local area network cables |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07301654A JPH07301654A (ja) | 1995-11-14 |
| JP2898215B2 true JP2898215B2 (ja) | 1999-05-31 |
Family
ID=22831095
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7096147A Expired - Lifetime JP2898215B2 (ja) | 1994-04-04 | 1995-03-29 | ローカル・エリア・ネットワーク・ケーブルの試験装置及び方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5559427A (ja) |
| EP (1) | EP0681187B1 (ja) |
| JP (1) | JP2898215B2 (ja) |
| KR (1) | KR0138160B1 (ja) |
| CA (1) | CA2137191C (ja) |
| DE (1) | DE69432173T2 (ja) |
| TW (1) | TW253030B (ja) |
Families Citing this family (86)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5559427A (en) * | 1994-04-04 | 1996-09-24 | Fluke Corporation | Instrument and method for testing local area network cables |
| JP3319565B2 (ja) * | 1996-03-18 | 2002-09-03 | 矢崎総業株式会社 | 車両用ワイヤハーネスの異常電流検出方法及びその装置 |
| US5764725A (en) * | 1996-03-26 | 1998-06-09 | Hitech Corporation | Apparatus for testing the line continuity of telephone switch equipment |
| FR2749395B1 (fr) * | 1996-05-29 | 1998-07-31 | Aerospatiale | Dispositif pour la mesure des parametres capacitifs et inductifs de cables electriques |
| US5821760A (en) * | 1996-07-31 | 1998-10-13 | Fluke Corporation | Method and apparatus for measuring near-end cross-talk in patch cords |
| US6278729B1 (en) | 1997-02-10 | 2001-08-21 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for testing a communications line in a data processing system |
| US6438212B1 (en) * | 1997-09-18 | 2002-08-20 | Verizon Services Corp. | Automated telephone line test apparatus with intelligent diagnostic function |
| WO1999053627A1 (en) | 1998-04-10 | 1999-10-21 | Chrimar Systems, Inc. Doing Business As Cms Technologies | System for communicating with electronic equipment on a network |
| FR2779828B1 (fr) * | 1998-06-10 | 2001-04-13 | Peugeot | Procede de localisation des courts-circuits dans au moins un bus d'un reseau de transmission d'informations multiplexe et dispositif de diagnostic mettant en oeuvre le procede |
| US6385297B2 (en) * | 1998-11-03 | 2002-05-07 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for qualifying loops for data services |
| US6389109B1 (en) * | 1998-11-03 | 2002-05-14 | Teradyne, Inc. | Fault conditions affecting high speed data services |
| US6259256B1 (en) | 1999-03-01 | 2001-07-10 | Nordx/Cdt, Inc. | Cable testing apparatus |
| US6895081B1 (en) * | 1999-04-20 | 2005-05-17 | Teradyne, Inc. | Predicting performance of telephone lines for data services |
| US6433558B1 (en) * | 1999-05-13 | 2002-08-13 | Microtest, Inc. | Method for diagnosing performance problems in cabling |
| US6600727B1 (en) * | 1999-05-27 | 2003-07-29 | Cisco Technology, Inc. | Distributed network repeater system |
| GB2355361B (en) * | 1999-06-23 | 2004-04-14 | Teradyne Inc | Qualifying telephone lines for data transmission |
| US6538451B1 (en) | 1999-06-25 | 2003-03-25 | Telcordia Technologies, Inc. | Single ended measurement method and system for determining subscriber loop make up |
| US6198292B1 (en) * | 1999-07-20 | 2001-03-06 | Agilent Technologies, Inc. | Crosstalk test unit and method of calibration |
| US6724859B1 (en) | 1999-09-30 | 2004-04-20 | Telcordia Technologies, Inc. | Method for determining subscriber loop make-up by subtracting calculated signals |
| US6819744B1 (en) | 1999-09-30 | 2004-11-16 | Telcordia Technologies, Inc. | System and circuitry for measuring echoes on subscriber loops |
| WO2001024491A1 (en) * | 1999-09-30 | 2001-04-05 | Telcordia Technologies, Inc. | Improved method for determining subscriber loop make-up |
| GB0005227D0 (en) * | 2000-03-03 | 2000-04-26 | Teradyne Inc | Technique for estimatio of insertion loss |
| DE10023305C2 (de) * | 2000-05-15 | 2002-10-17 | Grieshaber Vega Kg | Verfahren zur Ansteuerung einer Wandlereinrichtung in Füllstandmessgeräten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| GB2365253B (en) * | 2000-07-19 | 2004-06-16 | Teradyne Inc | Method of performing insertion loss estimation |
| US7042983B2 (en) * | 2000-10-19 | 2006-05-09 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for bridged tap impact analysis |
| US6529020B1 (en) | 2000-11-15 | 2003-03-04 | Ge Fanuc Automation North America, Inc. | Methods and systems for automated emissions measuring |
| US6488533B1 (en) * | 2000-12-29 | 2002-12-03 | Nortel Networks Limited | Devices for protecting network equipment from electrostatic discharge emanating from network cables |
| JP4676078B2 (ja) * | 2001-02-28 | 2011-04-27 | 日置電機株式会社 | 多芯ケーブル検査方法および多芯ケーブル検査装置 |
| US6483318B1 (en) * | 2001-06-29 | 2002-11-19 | Ideal Industries, Inc. | Electric circuit providing selectable short circuit for instrumentation applications |
| KR100427527B1 (ko) * | 2001-08-01 | 2004-04-27 | (주)오버링크 | 네트워크 장비의 연결케이블 시험장치 |
| US6661237B2 (en) * | 2001-09-26 | 2003-12-09 | Northrop Grumman Corporation | Smart AWA |
| DE10158574A1 (de) * | 2001-11-29 | 2003-07-03 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Lokalisierung von Unterbrechungen |
| US6777952B2 (en) * | 2002-01-29 | 2004-08-17 | Elenco Electronics Inc. | Method and apparatus for testing cables |
| JP2005521861A (ja) | 2002-02-14 | 2005-07-21 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | センサ素子並びにセンサ装置への給電リード部の電気抵抗の測定方法並びにセンサ装置 |
| US7005861B1 (en) * | 2002-06-07 | 2006-02-28 | Marvell International Ltd. | Cable tester |
| US7375532B1 (en) | 2002-06-07 | 2008-05-20 | Marvell International Ltd. | Cable tester |
| US7358745B1 (en) | 2002-06-07 | 2008-04-15 | Marvell International Ltd. | Cable tester |
| US7173431B1 (en) | 2002-06-07 | 2007-02-06 | Marvell International Ltd. | Cable tester |
| KR20040016236A (ko) * | 2002-08-16 | 2004-02-21 | 조용걸 | 멀티 랜케이블 테스팅 시스템 및 이를 이용한 멀티랜케이블 테스팅 방법 |
| FR2845772B1 (fr) * | 2002-10-11 | 2005-01-21 | Airbus France | Procede de detection de defaut de blindage d'un cable multifilaire |
| US7026603B2 (en) * | 2002-11-26 | 2006-04-11 | Dit-Mco International Corporation | Fault locator for testing a complex optical circuit |
| JP2004184186A (ja) * | 2002-12-02 | 2004-07-02 | Agilent Technologies Japan Ltd | 容量測定システム |
| CN1251468C (zh) * | 2003-02-18 | 2006-04-12 | 联想(北京)有限公司 | 传输线特性阻抗的测试方法 |
| US20050141431A1 (en) * | 2003-08-06 | 2005-06-30 | Caveney Jack E. | Network managed device installation and provisioning technique |
| US20050083067A1 (en) * | 2003-09-23 | 2005-04-21 | Kirbas Emuel P. | Coded multi-frequency transmitter and receiver for testing multi-conductor cables |
| US7386039B2 (en) * | 2003-09-26 | 2008-06-10 | Tollgrade Communications, Inc. | Method and apparatus for identifying faults in a broadband network |
| US6960919B2 (en) * | 2003-12-19 | 2005-11-01 | Avo Multi-Amp Corporation | Measurement connector for test device |
| US7590142B2 (en) * | 2004-04-02 | 2009-09-15 | Avo Multi-Amp Corporation Dba Megger | Adapter channel mapping system and method |
| US20050268183A1 (en) * | 2004-05-25 | 2005-12-01 | Barmettler Mark G | Local area network measurement test device |
| KR20050118978A (ko) * | 2004-06-15 | 2005-12-20 | (주) 대하전선 | 단선 판별 방법 및 그 장치 |
| US7366630B2 (en) * | 2004-06-29 | 2008-04-29 | Jds Uniphase Corporation | Management of electrical cable installations in a building |
| US7324911B2 (en) * | 2004-06-29 | 2008-01-29 | Jds Uniphase Corporation | Method of planning, installing, and verifying a set of electrical cables in a building |
| US7411405B2 (en) * | 2004-11-03 | 2008-08-12 | Panduit Corp. | Method and apparatus for reliable network cable connectivity |
| US20060176944A1 (en) * | 2005-02-10 | 2006-08-10 | Avo Multi-Amp Corporation D/B/A Megger | Synthesizer design for network testing device |
| US7693076B2 (en) * | 2005-02-15 | 2010-04-06 | Cisco Technology, Inc. | Detection algorithm for delivering inline power down four pairs of an ethernet cable to a single powered device |
| US7400151B2 (en) * | 2005-07-25 | 2008-07-15 | Avo Multi-Amp Corporation | Connector crosstalk and return loss cancellation |
| US7906973B1 (en) | 2006-06-09 | 2011-03-15 | Marvell International Ltd. | Cable tester |
| US7429866B2 (en) * | 2006-08-21 | 2008-09-30 | Avo Multi-Amp Corporation | System and method for resistance measurement |
| JP4965193B2 (ja) * | 2006-08-25 | 2012-07-04 | 日置電機株式会社 | 多芯ケーブル検査装置 |
| US7804784B1 (en) | 2006-08-28 | 2010-09-28 | Marvell International Ltd. | Cable tester |
| CN101563619B (zh) * | 2006-12-21 | 2012-07-18 | 德雷格医疗系统股份有限公司 | 电缆检测系统 |
| US7808249B1 (en) | 2007-02-22 | 2010-10-05 | Marvell International Ltd. | Methods and apparatus for measuring a length of a cable |
| US7808247B1 (en) | 2007-02-22 | 2010-10-05 | Marvel International Ltd. | Fast cable tester |
| US8203325B2 (en) * | 2007-09-07 | 2012-06-19 | Analog Devices, Inc. | Activation systems and methods to initiate HDMI communication with mobile sources |
| JP5248089B2 (ja) * | 2007-11-27 | 2013-07-31 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 通信回路の異常検知装置 |
| US8284904B2 (en) * | 2008-10-22 | 2012-10-09 | Textron Innovations Inc. | Method for performing a shield integrity test and for isolating trouble in the shield using graphical analysis |
| JP5420277B2 (ja) * | 2009-03-05 | 2014-02-19 | 日置電機株式会社 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
| US8253420B2 (en) * | 2009-12-04 | 2012-08-28 | Volterra Semiconductor Corporation | Integrated electrical circuit and test to determine the integrity of a silicon die |
| JP5577724B2 (ja) * | 2010-02-02 | 2014-08-27 | 富士ゼロックス株式会社 | 状態検出装置およびプログラム |
| US20120069194A1 (en) * | 2010-03-26 | 2012-03-22 | Yoshifumi Sakata | Communication apparatus, television receiver, video signal recording apparatus, and communication method |
| DE102011087451A1 (de) * | 2011-11-30 | 2013-06-06 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Feststellen eines Fehlers in Verbindungleitungen zwischen einer Zentraleinheit und einer Mehrzahl von voreinander unabhängigen elektronischen Baueinheiten |
| US9103251B2 (en) | 2012-01-25 | 2015-08-11 | Cummins Inc. | Devices and methods for compliant aftertreatment component assembly |
| US9077646B2 (en) * | 2012-02-13 | 2015-07-07 | Fluke Corporation | Method and apparatus for testing and displaying test results |
| US9871701B2 (en) * | 2013-02-18 | 2018-01-16 | Hcs Kablolama Sistemleri Sanayi Ve Ticaret A.S. | Endpoint mapping in a communication system using serial signal sensing |
| US9429534B2 (en) * | 2013-05-16 | 2016-08-30 | Fluke Corporation | Method and apparatus for determining wire resistance |
| FR3015040B1 (fr) * | 2013-12-16 | 2016-01-08 | Continental Automotive France | Dispositif de detection en continu de rupture d'isolement electrique d'un cable haute tension et procede de detection associe |
| CN103852666B (zh) * | 2014-02-28 | 2017-01-04 | 成都蓉盛达系统工程技术有限公司 | 一种线束测试仪 |
| WO2016011017A1 (en) * | 2014-07-15 | 2016-01-21 | Adc Telecommunications, Inc. | Capacitive compensation |
| US9847928B2 (en) * | 2014-09-30 | 2017-12-19 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Verifying connector placement via loopback schemas |
| US9835669B2 (en) | 2014-12-19 | 2017-12-05 | The Boeing Company | Automatic data bus wire integrity verification device |
| DE102016116695B4 (de) * | 2016-09-07 | 2024-06-20 | Leoni Bordnetz-Systeme Gmbh | Verfahren und Messvorrichtung zum Überprüfen eines Kabelbaumes |
| TWI615620B (zh) * | 2016-12-13 | 2018-02-21 | 英業達股份有限公司 | 適用於rj45連接器的導通檢測系統 |
| FR3071065B1 (fr) * | 2017-09-08 | 2020-10-02 | Dcns | Dispositif de controle d'isolement et/ou de continuite d'au moins un cable electrique et procede de controle associe |
| US10955465B2 (en) * | 2018-09-14 | 2021-03-23 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for bond wire testing in an integrated circuit |
| US11551635B2 (en) | 2020-07-30 | 2023-01-10 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Determining whether video display interfaces are coupled to terminations |
| US20220246328A1 (en) * | 2021-01-18 | 2022-08-04 | Xiaozheng Lu | Cables with Low Capacitance and Switches for Variable Capacitance |
Family Cites Families (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3944914A (en) * | 1974-04-29 | 1976-03-16 | Perkins Research And Manufacturing Co. | Fault detection method and apparatus for multiconductor cables |
| US4173736A (en) * | 1978-03-06 | 1979-11-06 | Western Electric Company, Incorporated | Capacitance detecting system and method for testing wire connections |
| JPS5669564A (en) * | 1979-11-09 | 1981-06-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Multipair cable for correspondence measuring device |
| JPS5772078A (en) * | 1980-10-20 | 1982-05-06 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Method for chicking erroneous connection conductors of communication cable having connector |
| US4418312A (en) * | 1981-10-23 | 1983-11-29 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Apparatus for testing multi-conductor cables |
| SU1083377A1 (ru) * | 1982-06-23 | 1984-03-30 | Всесоюзный заочный институт инженеров железнодорожного транспорта | Устройство дл измерени переходного затухани в кабел х св зи |
| JPS59194539A (ja) * | 1983-04-20 | 1984-11-05 | Fujitsu Ltd | 導通・混線試験方法 |
| SU1166322A1 (ru) * | 1983-06-29 | 1985-07-07 | Всесоюзный заочный институт инженеров железнодорожного транспорта | Устройство дл одновременного контрол характеристик взаимных вли ний между лини ми св зи |
| US4634964A (en) * | 1984-07-30 | 1987-01-06 | Dcm Industries, Inc. | Instruments and systems for measuring cable capacitances |
| US4959792A (en) * | 1986-01-24 | 1990-09-25 | Sullivan Thomas P | Harness integrity tester (hit) |
| US4772845A (en) * | 1987-01-15 | 1988-09-20 | Raytheon Company | Cable continuity testor including a sequential state machine |
| GB8805459D0 (en) * | 1988-03-08 | 1988-04-07 | Communication & Network Archit | Method of & apparatus for testing multi-wire cable |
| JPH0275973A (ja) * | 1988-09-12 | 1990-03-15 | Hitachi Ltd | 多芯ケーブル試験装置 |
| GB2234598A (en) * | 1989-07-25 | 1991-02-06 | Pm Communications Limited | Testing multiconductor cables |
| JP2767296B2 (ja) * | 1989-08-31 | 1998-06-18 | アンリツ株式会社 | ケーブル接続試験器 |
| US5097213A (en) * | 1990-05-24 | 1992-03-17 | Hunting Curtis J | Apparatus for automatic testing of electrical and electronic connectors |
| US5228072A (en) * | 1991-05-29 | 1993-07-13 | Independent Technologies, Inc. | Multiwire-pair telecommunications test system |
| US5185735A (en) * | 1991-07-10 | 1993-02-09 | Hewlett Packard Company | Lan noise monitor |
| US5247259A (en) * | 1991-07-26 | 1993-09-21 | Amp Incorporated | Cable testing method and apparatus |
| US5280251A (en) * | 1991-11-07 | 1994-01-18 | Cami Research, Inc. | Continuity analysis system with graphic wiring display |
| US5420512A (en) * | 1991-11-21 | 1995-05-30 | Paladin Corporation | Electronic cable testing system |
| RU2108669C1 (ru) * | 1992-01-28 | 1998-04-10 | Алан РОСС | Система и способ измерения характеристик линии связи |
| US5502392A (en) * | 1992-04-30 | 1996-03-26 | International Business Machines Corporation | Methods for the measurement of the frequency dependent complex propagation matrix, impedance matrix and admittance matrix of coupled transmission lines |
| US5414343A (en) * | 1992-07-28 | 1995-05-09 | Samuel J. Flaherty | Permanently installed cable system with integrated multi-cable tester |
| US5502391A (en) * | 1992-09-11 | 1996-03-26 | Microtest, Inc. | Apparatus for measuring the crosstalk in a cable |
| US5559427A (en) * | 1994-04-04 | 1996-09-24 | Fluke Corporation | Instrument and method for testing local area network cables |
| US5532603A (en) * | 1995-01-27 | 1996-07-02 | Fluke Corporation | Cross-talk measurement apparatus with near-end compensation |
-
1994
- 1994-04-04 US US08/222,156 patent/US5559427A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-11-29 EP EP94308823A patent/EP0681187B1/en not_active Expired - Lifetime
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