JP2885966B2 - スピン計測回路 - Google Patents
スピン計測回路Info
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- JP2885966B2 JP2885966B2 JP15308291A JP15308291A JP2885966B2 JP 2885966 B2 JP2885966 B2 JP 2885966B2 JP 15308291 A JP15308291 A JP 15308291A JP 15308291 A JP15308291 A JP 15308291A JP 2885966 B2 JP2885966 B2 JP 2885966B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は構造物のスピン（回転
数）計測に関するものである。
数）計測に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図８は回転する構造物の図であり、図に
おいて１は構造物で角速度Ｗで回転していることを示し
ている。図９はこの構造物１の回転数を計測する従来の
スピン（回転数）計測回路を示すブロック図であり、図
において13は、ジャイロスコープ14及びこのジャイロス
コープ14を回転させる駆動部15により構成された角速度
検出部である。５は角速度Ｗを記憶させる記憶回路で、
この記憶回路５はアナログ−デジタル変換器６および半
導体メモリ７により構成されている。また、図10はジャ
イロスコープ14の外観を示す図であり、図において16は
角速度センサである。
おいて１は構造物で角速度Ｗで回転していることを示し
ている。図９はこの構造物１の回転数を計測する従来の
スピン（回転数）計測回路を示すブロック図であり、図
において13は、ジャイロスコープ14及びこのジャイロス
コープ14を回転させる駆動部15により構成された角速度
検出部である。５は角速度Ｗを記憶させる記憶回路で、
この記憶回路５はアナログ−デジタル変換器６および半
導体メモリ７により構成されている。また、図10はジャ
イロスコープ14の外観を示す図であり、図において16は
角速度センサである。
【０００３】次に動作について説明する。角速度検出部
13の駆動部15によりジャイロスコープ14を回転させる。
構造物１が角速度Ｗで回転すると内部に備えたジャイロ
スコープ14の角速度センサ16に角速度Ｗに応じて力Ｆが
発生する。角速度センサ16は力Ｆに比例して電気信号
（角加速度信号）を発生する。
13の駆動部15によりジャイロスコープ14を回転させる。
構造物１が角速度Ｗで回転すると内部に備えたジャイロ
スコープ14の角速度センサ16に角速度Ｗに応じて力Ｆが
発生する。角速度センサ16は力Ｆに比例して電気信号
（角加速度信号）を発生する。
【０００４】次いで、角速度検出部13からの角速度信号
を記憶回路５のアナログ−デジタル変換器６を通し、半
導体メモリ７に順次記憶させる。次いで、構造物の回転
終了後、内部の半導体メモリ７のデータを順次読み出
し、構造物の角速度Ｗの時間変化のデータを得る。その
データを時間で積分し、構造物１のスピン（回転数）を
計測する。
を記憶回路５のアナログ−デジタル変換器６を通し、半
導体メモリ７に順次記憶させる。次いで、構造物の回転
終了後、内部の半導体メモリ７のデータを順次読み出
し、構造物の角速度Ｗの時間変化のデータを得る。その
データを時間で積分し、構造物１のスピン（回転数）を
計測する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のスピン（回転
数）計測回路は以上のように構成されているので、ジャ
イロスコープの構造上、振動及び衝撃等により角速度検
出に誤差が発生することがある。このため、半導体メモ
リに記憶した角速度データを積分した回転数にも誤差が
生じ、特に長時間計測する場合などは誤差が積み重な
り、計測された回転数が真の値からかなりずれる問題点
があった。
数）計測回路は以上のように構成されているので、ジャ
イロスコープの構造上、振動及び衝撃等により角速度検
出に誤差が発生することがある。このため、半導体メモ
リに記憶した角速度データを積分した回転数にも誤差が
生じ、特に長時間計測する場合などは誤差が積み重な
り、計測された回転数が真の値からかなりずれる問題点
があった。
【０００６】また、ジャイロスコープの構造及びジャイ
ロスコープを回転させる駆動部の構造から、角速度検出
部が大形化し、また、コスト的にも高価である問題点が
あった。
ロスコープを回転させる駆動部の構造から、角速度検出
部が大形化し、また、コスト的にも高価である問題点が
あった。
【０００７】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、構造物の回転の回転数を直接検
出することにより、回転数の計測誤差を小さくするとと
もに、小形化できるスピン計測回路を提供することを目
的とする。
ためになされたもので、構造物の回転の回転数を直接検
出することにより、回転数の計測誤差を小さくするとと
もに、小形化できるスピン計測回路を提供することを目
的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明に係るスピン計
測回路は、構造物の回転数の検出部に地磁気を検出する
自己方位検出回路を用いるとともに、その方位データを
順次半導体メモリに記憶させるものである。
測回路は、構造物の回転数の検出部に地磁気を検出する
自己方位検出回路を用いるとともに、その方位データを
順次半導体メモリに記憶させるものである。
【０００９】
【作用】この発明における自己方位検出回路は、地磁気
を検出し磁北に対し、自己の方位が何度の位置にあるか
検出し、その自己方位の変化の角度で構造物の回転角を
測定し、回転数を計測するようにするものである。
を検出し磁北に対し、自己の方位が何度の位置にあるか
検出し、その自己方位の変化の角度で構造物の回転角を
測定し、回転数を計測するようにするものである。
【００１０】
実施例１．以下この発明の一実施例を図について説明す
る。図１において１は回転している構造物で、２はその
構造物１の内部の回転軸上に取付けられた自己方位検出
回路、３はその自己方位検出回路２で検出する地磁気の
磁力線である。図２は構造物上面からの図であり、図に
おいて４は自己方位検出回路２の基準点で、θは地磁気
３の磁北に対する、自己方位検出回路２の基準点４の方
位角度である。図３はスピン計測回路を示すブロック図
であり、５は自己方位検出回路２の自己方位検出データ
を記憶させる記憶回路で、この記憶回路５はアナログデ
ジタル変換器６と半導体メモリ７により構成されてい
る。
る。図１において１は回転している構造物で、２はその
構造物１の内部の回転軸上に取付けられた自己方位検出
回路、３はその自己方位検出回路２で検出する地磁気の
磁力線である。図２は構造物上面からの図であり、図に
おいて４は自己方位検出回路２の基準点で、θは地磁気
３の磁北に対する、自己方位検出回路２の基準点４の方
位角度である。図３はスピン計測回路を示すブロック図
であり、５は自己方位検出回路２の自己方位検出データ
を記憶させる記憶回路で、この記憶回路５はアナログデ
ジタル変換器６と半導体メモリ７により構成されてい
る。
【００１１】次に動作について説明する。自己方位検出
回路２はそれ自身の基準点４が検出した地磁気３によっ
て、磁北から何度の方位角度θにあるか検出する。構造
物１が回転すると、構造物１内に取付けられた自己方位
検出回路２の検出方位角度θの方位データが変化し出力
される。この方位データはアナログ−デジタル変換器６
を通してディジタル信号に変換され、半導体メモリ７に
順次記憶される。
回路２はそれ自身の基準点４が検出した地磁気３によっ
て、磁北から何度の方位角度θにあるか検出する。構造
物１が回転すると、構造物１内に取付けられた自己方位
検出回路２の検出方位角度θの方位データが変化し出力
される。この方位データはアナログ−デジタル変換器６
を通してディジタル信号に変換され、半導体メモリ７に
順次記憶される。
【００１２】次いで構造物１の回転終了後内部の半導体
メモリ７のデータを読み出し、構造物の磁北に対する角
度変化及びその時間軸上の変化からスピン（回転数）を
計測する。このように構造物の回転角を自己方位検出回
路２から角度の信号として検出して記憶し、回転数を計
測できるので正確な計測を行うことができる。
メモリ７のデータを読み出し、構造物の磁北に対する角
度変化及びその時間軸上の変化からスピン（回転数）を
計測する。このように構造物の回転角を自己方位検出回
路２から角度の信号として検出して記憶し、回転数を計
測できるので正確な計測を行うことができる。
【００１３】実施例２．なお、上記実施例において、構
造物１及び方位検出回路２の水平面が地磁気の磁力線３
に対し傾いている場合においては、磁北からの検出角度
誤差は大きくなるが、方位データの変化から基準点４の
磁北方向通過は確認することができる。したがって、構
造物１の回転数を知ることは可能であり、例えば図４の
ようにロケット等の飛翔体８に本発明のスピン計測回路
を搭載することにより、飛翔中のスピン（回転数）を計
測することが可能である。
造物１及び方位検出回路２の水平面が地磁気の磁力線３
に対し傾いている場合においては、磁北からの検出角度
誤差は大きくなるが、方位データの変化から基準点４の
磁北方向通過は確認することができる。したがって、構
造物１の回転数を知ることは可能であり、例えば図４の
ようにロケット等の飛翔体８に本発明のスピン計測回路
を搭載することにより、飛翔中のスピン（回転数）を計
測することが可能である。
【００１４】実施例３．また、上記実施例では自己方位
検出データを半導体メモリ７に記憶させることにより回
転数を計測する場合について説明したが、図５のように
構造物が回転しても図６に示すブロック図のように自己
方位検出データをもとに、構造物の回転分だけモータ10
を逆方向に回転させることにより、自由に回転する構造
物１内の空中線９を一方位に指向させる空中線制御回路
11に応用することができる。
検出データを半導体メモリ７に記憶させることにより回
転数を計測する場合について説明したが、図５のように
構造物が回転しても図６に示すブロック図のように自己
方位検出データをもとに、構造物の回転分だけモータ10
を逆方向に回転させることにより、自由に回転する構造
物１内の空中線９を一方位に指向させる空中線制御回路
11に応用することができる。
【００１５】実施例４．また上記の他の実施例の応用と
して図７のように、遠隔制御受信機12を取付け、遠隔制
御で空中線の指向方位を指示することにより、自由に空
間で回転する構造物内の空中線を任意の方向に常に指向
させることができる空中線指向制御回路に応用すること
ができる。
して図７のように、遠隔制御受信機12を取付け、遠隔制
御で空中線の指向方位を指示することにより、自由に空
間で回転する構造物内の空中線を任意の方向に常に指向
させることができる空中線指向制御回路に応用すること
ができる。
【００１６】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば構造物
の回転計測に、地磁気検出をし、磁北に対する自らの方
位を知ることができる自己方位検出回路を用いるように
構成したので構造物のスピン（回転）計測を正確に行う
ことができ、従来のジャイロ方式に比べ小形化すること
ができ、かつ安価にすることができる効果がある。
の回転計測に、地磁気検出をし、磁北に対する自らの方
位を知ることができる自己方位検出回路を用いるように
構成したので構造物のスピン（回転）計測を正確に行う
ことができ、従来のジャイロ方式に比べ小形化すること
ができ、かつ安価にすることができる効果がある。
【図１】この発明の一実施例による構造物の外観構成図
である。
である。
【図２】図１の上面図である。
【図３】この発明の一実施例によるスピン計測回路のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図４】この発明の他の実施例を示す飛翔体のスピン計
測例の説明図である。
測例の説明図である。
【図５】この発明の他の実施例を示す空中線指向制御装
置の外観構成図である。
置の外観構成図である。
【図６】図５の空中線指向制御回路のブロック図であ
る。
る。
【図７】この発明の他の実施例を示す空中線指向制御回
路のブロック図である。
路のブロック図である。
【図８】従来の構造物の外観構成図である。
【図９】従来のスピン計測回路のブロック図である。
【図１０】図９のジャイロスコープを説明するための斜
視図である。
視図である。
１ 構造物 ２ 自己方位検出回路 ５ 記憶回路 ６ アナログディジタル変換器 ７ 半導体メモリ
フロントページの続き (72)発明者 森 俊彦 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電 機株式会社 通信機製作所内 (72)発明者 内藤 博夫 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電 機株式会社 通信機製作所内 (56)参考文献 特開 昭49−128500（ＪＰ，Ａ) 特開 昭51−72100（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01C 21/24
Claims (1)
- 【請求項１】 回転する構造物の回転数を計測するスピ
ン計測回路において、上記構造物の回転軸上に設けら
れ、地磁気を検出することにより、その構造物の方位を
検出する自己方位検出回路と、この自己方位検出回路か
ら出力される方位データを順次メモリに記憶する記憶回
路と、この記憶回路に記憶された方位データを順次読出
し、その時間軸上の変化より上記構造体の回転数を算出
する算出手段を備えたことを特徴とするスピン計測回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15308291A JP2885966B2 (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | スピン計測回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15308291A JP2885966B2 (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | スピン計測回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06174488A JPH06174488A (ja) | 1994-06-24 |
| JP2885966B2 true JP2885966B2 (ja) | 1999-04-26 |
Family
ID=15554587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15308291A Expired - Lifetime JP2885966B2 (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | スピン計測回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2885966B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2856145B1 (fr) * | 2003-06-16 | 2005-09-02 | Michelin Soc Tech | Detection des revolutions d'un ensemble pneumatique et roue, a l'aide du champ magnetique terrestre. |
| JP4593347B2 (ja) * | 2005-04-20 | 2010-12-08 | 横河電子機器株式会社 | 回転飛翔体 |
| CN111344590B (zh) * | 2018-01-30 | 2024-05-24 | 古野电气株式会社 | 雷达天线装置以及方位测定方法 |
-
1991
- 1991-06-25 JP JP15308291A patent/JP2885966B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06174488A (ja) | 1994-06-24 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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