JP2885342B2 - Protection control device - Google Patents

Protection control device

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JP2885342B2
JP2885342B2 JP63216303A JP21630388A JP2885342B2 JP 2885342 B2 JP2885342 B2 JP 2885342B2 JP 63216303 A JP63216303 A JP 63216303A JP 21630388 A JP21630388 A JP 21630388A JP 2885342 B2 JP2885342 B2 JP 2885342B2
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【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、保護制御装置,特に不連続的に発生する装
置不良を検出する保護制御装置に関するものである。
Description: Object of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a protection control device, and more particularly to a protection control device for detecting a device failure that occurs discontinuously.

(従来の技術) 従来、保護制御装置,特に電力系統を対象とした保護
制御装置に対しては、高い信頼性が要求されている。例
えば、保護継電装置が、万一不具合動作をした場合、そ
の影響が大きく、最悪の場合、系統崩壊にもつながるこ
とが考えられる。又、保護継電装置に限らず他の保護制
御装置、例えば系統安定化装置,事故点標定装置,系統
電気量観測装置等の装置も、電力系統の運用面より見た
責務は重大であり、高い信頼性が要求されることに変り
はない。
2. Description of the Related Art Conventionally, a protection control device, particularly a protection control device for a power system, has been required to have high reliability. For example, in the event that the protective relay device malfunctions, the effect is large, and in the worst case, it may lead to system collapse. In addition to the protection relay device, other protection control devices, such as a system stabilization device, an accident point locating device, and a system electric quantity observation device, also have responsibilities from the viewpoint of the operation of the power system. High reliability is still required.

これら保護制御装置の信頼度向上対策としては、使用
部品の品質向上,多重化構成,多系列化構成,自動監視
の適用などが挙げられ、特に、自動監視の適用は、電力
系統用保護制御装置一般に広く行なわれている。
Measures to improve the reliability of these protection control devices include improving the quality of the components used, multiplexing configuration, multi-sequence configuration, and applying automatic monitoring. In general, it is widely used.

一方、近年マイクロプロセッサを適用した保護制御装
置の実用化が急速に進められているが、これと共に、装
置の複雑さも、従来より、増している。従って、前述の
自動監視機能も、このような装置構成の発展に対応して
より高度な形態になってきている。
On the other hand, in recent years, the practical application of a protection control device to which a microprocessor is applied has been rapidly advanced, and at the same time, the complexity of the device has been increased more than before. Therefore, the above-mentioned automatic monitoring function has also become more sophisticated in response to the development of such a device configuration.

最近の保護制御装置の代表的なものとして、マイクロ
コンピュータを適用したデジタル形保護継電装置があ
る。以下、デジタル形保護継電装置の自動監視機能を例
にとり、保護制御装置の自動監視機能が持つ問題点を明
らかにする。
As a typical protection control device in recent years, there is a digital protection relay device using a microcomputer. Hereinafter, the problems of the automatic monitoring function of the protection control device will be clarified by taking the automatic monitoring function of the digital protection relay device as an example.

デジタル形保護継電装置(以下デジタルリレーと呼
ぶ)の自動監視機能の特徴は、マイクロプロセッサの処
理機能を活用して、装置を構成する大部分のハードウェ
ア部の監視が可能となっていることである。
The feature of the automatic monitoring function of the digital protection relay device (hereinafter referred to as digital relay) is that it can monitor most of the hardware that makes up the device by utilizing the processing function of the microprocessor. It is.

以下に、デジタルリレーで実施されている代表的監視
の概要を述べる。第13図は、一般的なデジタルリレーの
構成図である。
The following is an overview of typical monitoring performed by digital relays. FIG. 13 is a configuration diagram of a general digital relay.

第13図において、送電線1の電流・電圧量を、電流変
成器(CT)2,電圧変成器(PT)3を介して入力変換器4
に取込み、ここで所定のレベルに変換する。入力変換器
4の出力は、アナログフィルタ5を介して安定な信号と
し、サンプリングホールド回路(S/H)6に取込まれた
電流・電圧量は、直流量に変換されてマルチプレクサ
(MPX)7に入力されて、順次アナログ量をデジタル量
に変換するためのA/D変換器8に取込まれる。そして、A
/D変換器8で変換された電流・電圧量のデジタルデータ
は、マイクロコンピュータ9内のデータメモリ(RAM)
9−1に順次格納される。一方、プログラムメモリ(RO
M)9−2には、プログラム命令が格納されており、こ
の命令に従って、データメモリ(RAM)9−1のデータ
を用いて、中央演算処理ユニット(CPU)9−3にて演
算がなされ、所定の判定結果等を入出力インターフェー
ス(I/O)9−4を介して外部へ出力する。
In FIG. 13, the current / voltage amount of the transmission line 1 is input to an input converter 4 via a current transformer (CT) 2 and a voltage transformer (PT) 3.
, Where it is converted to a predetermined level. The output of the input converter 4 is converted into a stable signal via the analog filter 5, and the current / voltage amount taken into the sampling / hold circuit (S / H) 6 is converted into a DC amount and converted into a DC (multiplexer) (MPX) 7. And is taken into an A / D converter 8 for sequentially converting an analog amount into a digital amount. And A
The digital data of the current / voltage amount converted by the / D converter 8 is stored in a data memory (RAM) in the microcomputer 9.
9-1 are sequentially stored. On the other hand, program memory (RO
M) 9-2 stores a program instruction. According to the instruction, the central processing unit (CPU) 9-3 performs an operation using the data of the data memory (RAM) 9-1. A predetermined determination result or the like is output to the outside via an input / output interface (I / O) 9-4.

上記構成を有するデジタルリレーは、入力変換器4を
通して得られる電流・電圧データを用いて、複数の保護
特性を実現している。
The digital relay having the above configuration realizes a plurality of protection characteristics by using current / voltage data obtained through the input converter 4.

上記デジタルリレーを構成している各ハードウェア部
の監視は前述の如く、CPU9-3の処理機能を活用して、実
現している。監視内容の項目としては、例えば電気協同
研究第41巻第4号「デジタルリレー」71頁によれば、PC
T回路2,3を監視する各相平衡度監視、入力変換器4、ア
ナログフィルタ5、S/H6、マルチプレクサ7等を監視す
る零相成分監視、A/D変換器8の精度を監視するA/D精度
監視、入出力インターフェース(I/O)9−4を監視す
るDI,DO監視、RAM9-1を監視するリード・ライトチェッ
ク、ROM9-2を監視するインバリッドチェック(未定義命
令検出)等がある。これの監視により、不具合が発生し
たと判断するタイミングとしては、前述資料71頁にある
ように、瞬時の場合と、連続して所定回数以上あるいは
所定時間以上監視不良が発生した際に不具合と判定する
場合とがある。監視対象の性質を考慮して、大部分の監
視については、後者の所定回数連続検出方法あるいは、
所定時間連続検出方法が用いられている。一般に、一定
の周期で同一の監視が実施されることから、所定回数連
続検出方法は、所定時間連続検出方法と等価と言える。
第14図に、所定時間連続検出方法による監視処理のフロ
ー図を示す。本プログラムはROM9-2に格納されCPU9-3で
実行される。ステップS1-1で開始が指令されると、ステ
ップS1-2で、監視不良検出を行なう。例えば、前述のA/
D精度監視であれば、サンプリングホールドS/H6に常時
印加される既知直流電圧の値が所定範囲に入っているか
否かを判定し、範囲外であれば、A/D精度監視不良検出
とするものである。ステップS1-3では、ステップS1-2の
結果により、不良が検出されなければステップS1-4で、
検出タイマーTをリセットした後、ステップS1-5に進
む。また、不良が検出されれば、ステップS1-6に進む制
御を行なう。ステップS1-5では、装置内に不具合が発生
していないことを、I/O9-4を通して外部へ出力する。
As described above, the monitoring of each hardware unit constituting the digital relay is realized by utilizing the processing function of the CPU 9-3. According to the Electric Cooperative Research Vol. 41, No. 4, "Digital Relay", page 71
Monitoring of the degree of balance of each phase for monitoring the T circuits 2 and 3, monitoring of the zero-phase component for monitoring the input converter 4, analog filter 5, S / H6, multiplexer 7, etc., and monitoring for the accuracy of the A / D converter 8 / D accuracy monitoring, DI / DO monitoring for monitoring input / output interface (I / O) 9-4, read / write check for monitoring RAM9-1, invalid check for monitoring ROM9-2 (undefined instruction detection) Etc. As shown on page 71 of the above document, the timing of determining that a failure has occurred by monitoring this can be determined as instantaneous, or when a monitoring failure has occurred continuously for a predetermined number of times or for a predetermined time or more. There are times when you do. Considering the nature of the monitoring target, for the majority of monitoring,
A predetermined time continuous detection method is used. In general, the same monitoring is performed at a fixed cycle, and thus the method for detecting a predetermined number of times continuously can be said to be equivalent to the method for continuously detecting a predetermined time.
FIG. 14 shows a flowchart of a monitoring process by the predetermined time continuous detection method. This program is stored in the ROM 9-2 and executed by the CPU 9-3. When start is instructed in step S1-1, monitoring failure detection is performed in step S1-2. For example, A /
In the case of D accuracy monitoring, it is determined whether or not the value of the known DC voltage constantly applied to the sampling hold S / H6 falls within a predetermined range. Things. In step S1-3, according to the result of step S1-2, if no defect is detected, in step S1-4,
After resetting the detection timer T, the process proceeds to step S1-5. If a defect is detected, control is passed to step S1-6. In step S1-5, the fact that no trouble has occurred in the apparatus is output to the outside through the I / O 9-4.

以下、上記と同様の繰り返し処理が行なわれる。この
繰り返し処理は、一般に、一定周期(サンプリング周期
の倍数)ΔTで実行される。
Hereinafter, the same repetitive processing as described above is performed. This repetition process is generally executed at a fixed period (a multiple of the sampling period) ΔT.

一方、不良検出し、ステップS1-6に進んだ場合、検出
タイマーTにΔTを加算し、タイマー値を更新する。こ
の値が、所定値TK以上となったか否かをステップS1-7で
判別し、TK未満ならば、ステップS1-4に進み、不具合無
の処置をする。以下は、前述どおりに実行される。逆
に、検出タイマーTがTK以上となった場合は、装置内に
不具合が発生したと判定し、I/O9-4を通して、警報,表
示,不具合時の制御信号等を出力する。これにより、自
動的あるいは人間系により、装置の運用停止等の処置が
とられる。その後ステップS1-2に戻り、以下、前述と同
様な繰り返し処理が行なわれる。以上の処理を論理記号
で表現すると、第15図となる。即ち、時限TKのオンディ
レータイマーが前述の監視不良検出タイマーに相当す
る。尚、第14図は、ソフトウェア処理で検出タイマーを
実現する方法を示したが、第15図のオンディレータイマ
ーは、ハードウェアにても実現できることは周知であ
る。(実現方法は省略する。)第16図(a)は、上記監
視不良検出タイマーの機能を表現するタイムチャートで
ある。監視不良が連続TK時間継続した場合、不具合発生
信号が出力され、監視不良復帰と同時に、不具合発生信
号も復帰することを示している。
On the other hand, when a defect is detected and the process proceeds to step S1-6, ΔT is added to the detection timer T to update the timer value. In step S1-7, it is determined whether or not this value is equal to or greater than a predetermined value T K. If the value is less than T K , the process proceeds to step S1-4 to take action for no defect. The following is performed as described above. Conversely, the detection timer T is if equal to or more than T K, determines that a malfunction has occurred in the apparatus, through the I / O9-4, alarm, display, and outputs the control signal or the like at the time of failure. Thereby, measures such as operation stop of the apparatus are taken automatically or by a human system. Thereafter, the process returns to step S1-2, and thereafter, the same repetitive processing as described above is performed. FIG. 15 shows the above processing represented by logical symbols. That is, the on-delay timer of the time period T K corresponds to the monitoring failure detection timer described above. Although FIG. 14 shows a method of realizing the detection timer by software processing, it is well known that the on-delay timer of FIG. 15 can also be realized by hardware. (A realization method is omitted.) FIG. 16 (a) is a time chart expressing the function of the monitoring failure detection timer. If the monitoring failure continues for the continuous TK time, a failure occurrence signal is output, indicating that the failure occurrence signal is restored at the same time as the monitoring failure is recovered.

以上が従来実施されている監視検出処理であるが、従
来処理では、連続的に発生しない監視不良即ち、断続的
に発生する監視不良は、不具合発生として検出できない
場合がある。この様子を第16図(b)に示す。即ち、TK
時間以上監視不良が継続しない不良が断続的に発生して
も不具合発生として、検出できないことになる。
The above is the monitoring detection processing conventionally performed. In the conventional processing, a monitoring failure that does not occur continuously, that is, a monitoring failure that occurs intermittently, may not be detected as a failure occurrence. This is shown in FIG. 16 (b). That is, T K
Even if a failure in which the monitoring failure does not continue for a longer period of time occurs intermittently, it cannot be detected as a failure.

従来、上記の所定時間連続検出方式が採用されている
が、これは、ノイズ等の単発的な原因で監視不良が発生
し、これにより、瞬時に、装置に不具合があると判定
し、装置の運用停止等の処置をとることは、装置の稼働
率を低下させることにもつながり、好ましくないという
背景による。即ち、所定時間連続の確認を行なうことに
より、ノイズ等による単発的不良(以後再発しないと期
待される不良)と、本来の監視対象の不良(以後も再発
が予想される不良)とを区別することを期待していると
言える。
Conventionally, the above-described continuous detection method for a predetermined time has been adopted. However, this is because a monitoring failure occurs due to a single cause such as noise, thereby instantaneously determining that there is a failure in the apparatus, and Taking measures such as stopping the operation also leads to a decrease in the operation rate of the device, which is not preferable. That is, by confirming for a predetermined period of time, a single failure due to noise or the like (a failure that is not expected to reoccur) is distinguished from a failure of the original monitoring target (a failure that is expected to reoccur thereafter). You can expect that.

(発明が解決しようとする課題) 一方、監視不良の発生様相を考えると、必ずしも、所
定時間以上連続して不良が継続されず、第16図(b)の
如く、断続的に、不良が発生する場合もあると言える。
即ち、不良発生様相は、主に、監視対象部位を構成する
ハードウェアの劣化及び周囲環境に依存すると考えられ
るが、これら発生原因が複雑に影響した場合、発生様相
即ち、発生頻度,発生間隔,発生継続時間等は、多様で
あると言える。従って、従来のような所定時間連続検出
方式では、装置機能上問題がある様相の監視不良が発生
していても、不具合と判定できない場合があるという問
題がある。特に不良発生頻度が高い状態で継続していて
も、所定時間以内で不良復帰していれば、累積時間とし
ては長時間不良状態となっているにもかかわらず装置が
運用されることになり、長時間装置に正常な動作が期待
できないと言える。これに対する対策として、所定時間
TKを短くする手法も考えられるが、これは前述の如く、
ノイズ等の単発的不良により結果として稼働率を下げる
ことになり、得策ではない。
(Problems to be Solved by the Invention) On the other hand, considering the aspect of the occurrence of the monitoring failure, the failure is not always continued for a predetermined time or more, and the failure occurs intermittently as shown in FIG. 16 (b). It can be said that there are times when it does.
That is, it is considered that the failure occurrence mode mainly depends on the deterioration of the hardware constituting the monitoring target part and the surrounding environment. However, when the causes of occurrence are complicatedly affected, the occurrence modes, that is, occurrence frequency, occurrence interval, It can be said that the occurrence duration time and the like are various. Therefore, in the conventional method for continuous detection for a predetermined time as described above, there is a problem in that even if a monitoring failure of an aspect having a problem in the function of the device occurs, it may not be possible to determine the failure. In particular, even if the failure continues at a high frequency, if the failure is recovered within a predetermined time, the device will be operated despite the long-time failure state as the accumulated time, It can be said that normal operation of the device cannot be expected for a long time. As a countermeasure against this, a predetermined time
A method of shortening T K is also conceivable, but as described above,
It is not a good idea to reduce the operation rate as a result of a single failure such as noise.

以上では、保護制御装置内の構成要素の不良を対象と
して説明したが、装置外の不良検出についても、同様な
事情がある。装置外の不良検出例としては、デジタルリ
レーでは、前述のPCT回路を監視する各相平衡度監視が
挙げられる。これは、PT,CT回路の断線等の不良を検出
する監視であり、保護機能が正常に働くためには必須で
ある。従って、装置内の構成要素の不良と装置外の特定
部位の不良の検出は、同等の重要性があり、従来手法で
は、両者とも同様な問題があると言える。
In the above, the description has been made with respect to the failure of the components in the protection control device. However, the same applies to the failure detection outside the device. As an example of failure detection outside the device, in a digital relay, the above-described phase balance monitoring for monitoring the PCT circuit can be cited. This is monitoring for detecting a failure such as disconnection of the PT and CT circuits, and is essential for the protection function to operate normally. Therefore, detection of a defect in a component inside the apparatus and detection of a defect in a specific portion outside the apparatus are equally important, and both can be said to have similar problems in the conventional method.

本発明は、以上の事情に鑑みてなされたものであり、
断続的に発生する監視不良を検出し、不具合発生出力を
得ることが可能な保護制御装置を提供することを目的と
している。
The present invention has been made in view of the above circumstances,
It is an object of the present invention to provide a protection control device capable of detecting an intermittent monitoring failure and obtaining a failure occurrence output.

〔発明の構成〕[Configuration of the invention]

(課題を解決するための手段) 第1図は、本発明の基本概念を示す機能ブロック図で
あり、本発明は、保護制御装置内の監視対象1,装置外の
監視対象2の少くとも一つ以上の不良を検出する監視不
良検出手段11と、手段11によって検出された監視不良の
発生時間,発生頻度,発生間隔,発生継続時間の少くと
も一つ以上を所定期間観測し、観測結果により、監視対
象の不具合発生の有無を判定する不具合発生判定手段12
とにより構成される。
(Means for Solving the Problems) FIG. 1 is a functional block diagram showing a basic concept of the present invention, and the present invention relates to at least one of a monitoring target 1 inside a protection control device and a monitoring target 2 outside a device. Monitoring failure detecting means 11 for detecting one or more failures, and observing at least one of an occurrence time, an occurrence frequency, an occurrence interval, and an occurrence continuation time of the monitoring failure detected by the means 11 for a predetermined period; A failure occurrence determining means 12 for determining whether or not a monitoring target failure has occurred;
It is composed of

(作用) 上記構成についての作用を説明する。まず、監視対象
の不良検出を所定の方法により実施する。実施後得られ
た監視不良の発生様相を、所定期間観測し、この結果に
より、不具合の有無を判定し、不具合判定出力を得て、
装置内外に警報,表示,装置運用停止などの処置が実施
される。
(Operation) The operation of the above configuration will be described. First, failure detection of a monitoring target is performed by a predetermined method. The occurrence of the monitoring failure obtained after the implementation is observed for a predetermined period, and based on the result, the presence or absence of a failure is determined, and a failure determination output is obtained.
Measures such as alarms, displays, and stoppage of operation of the device are performed inside and outside the device.

(実施例) 以下に、図面を参照して、本発明の実施例を示す。実
施例のハードウェア構成は、デジタルリレーと同等であ
り、詳細は、前述第13図と同様である。従って、説明は
省略する。本発明を構成する機能は、第13図ROM9-2に格
納されたプログラムを、CPU9-3にて実行することにより
実現される。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings. The hardware configuration of this embodiment is equivalent to that of a digital relay, and details are the same as those in FIG. Therefore, description is omitted. The functions constituting the present invention are realized by executing a program stored in the ROM 9-2 in FIG. 13 by the CPU 9-3.

本発明の特徴は、従来方式では不具合として判定不可
であった断続的不良をも検出可能とした点であり、この
ために、前述の不具合発生判定手段11として、次式によ
り、所定期間Lの監視不良発生時間の累積値Aを算出
し、所定値TKと比較し、不具合発生の有無を判定する機
能を設ける。
A feature of the present invention is that it is possible to detect an intermittent failure that could not be determined as a failure in the conventional method. calculating a cumulative value a monitoring failure time is compared with a predetermined value T K, provided with a function determines the presence or absence of defect occurrence.

(1)式は、所定期間L中に、監視不良発生時間の累
積値がTK以上となった場合は、不具合発生有と判定する
ことを示している。(1)式を、上記プログラムで実現
した一例を、第2図のフロー図に示す。ここで(1)式
の積分はΔT周期でのk・ΔTの加算である(2)式で
近似されている。
(1), during the predetermined period L, the cumulative value of the monitoring failure time is equal to or greater than T K shows that determines that a malfunction occurs Yes. An example in which the equation (1) is realized by the above program is shown in the flowchart of FIG. Here, the integral of the expression (1) is approximated by the expression (2) which is the addition of k · ΔT in the ΔT cycle.

ここでΔT→0ならば、(2)式の近似値は限りなく
(1)式に近づく。まず、ステップS2-1で、本プログラ
ムを開始し、ステップS2-2で、期間算出値t及び累積値
Aを初期化する。
Here, if ΔT → 0, the approximate value of the expression (2) approaches the expression (1) without limit. First, in step S2-1, the program is started, and in step S2-2, the period calculation value t and the accumulated value A are initialized.

次に、ステップS2-3にて、監視不良の検出を実施す
る。本処理は、前述の監視不良検出手段11に相当し、
又、従来方式の説明で記した、第14図ステップS1-2と等
しい。次にステップS2-4で、不良検出の有無を判定し、
有ならば、ステップS2-5で、累積値Aに本プログラムの
周期ΔTを加算し、Aの値を更新する。本処理が前述
(2)式に相当する。次にステップS2-6で累積値Aが、
所定値TK以上となれば、ステップS2-7にて不具合有と
し、警報,表示,運用停止等の処置を行なうための信号
を出力する。一方、AがTK未満であれば、ステップS2-8
で、不具合無とし、警報等の復帰指令を出力する。次に
ステップS2-9にて、期間算出値tを更新する。tがLを
超えた時点をステップS2-10にて判定し、ステップS2-11
にて、tとAを初期化する。以上を、ΔTの周期で繰り
返すことにより、(1)式が実現できる。
Next, in step S2-3, a monitoring failure is detected. This processing corresponds to the monitoring failure detecting means 11 described above,
Also, it is the same as step S1-2 in FIG. 14 described in the description of the conventional method. Next, in step S2-4, the presence or absence of defect detection is determined,
If there is, in step S2-5, the cycle ΔT of this program is added to the accumulated value A, and the value of A is updated. This processing corresponds to the above equation (2). Next, in step S2-6, the accumulated value A is
If it is equal to or more than the predetermined value T K, it is determined that there is a defect in step S2-7, and a signal for performing measures such as alarm, display, and operation stop is output. On the other hand, if A is less than T K , step S2-8
Then, it is determined that there is no failure, and a return command such as an alarm is output. Next, in step S2-9, the period calculation value t is updated. The point in time when t exceeds L is determined in step S2-10, and step S2-11
Initializes t and A. By repeating the above with a period of ΔT, the expression (1) can be realized.

次に、本実施例の作用を、第3図に示す。第3図に示
すように、監視不良が、断続的に発生している場合にお
いても、上記実施例であれば、任意の区間L中の発生時
間の累積値AがTK以上になれば、不具合発生とするので
あるから、確実な判定が期待できる。本実施例により、
従来方式では不可能であった断続的に発生している不良
が、確実に検出し、不具合と判定できることになる。TK
とAの値としては、例えば、正常な動作を期待する確率
をPとすると、TK/A=Pにより決定することが考えられ
る。これによれば、従来方式に比べ、より装置の運用面
に対応した監視方式を実現できると言える。
Next, the operation of the present embodiment is shown in FIG. As shown in FIG. 3, even when the monitoring failure occurs intermittently, according to the above embodiment, if the cumulative value A of the occurrence time in any section L becomes equal to or greater than T K , Since a failure occurs, reliable determination can be expected. According to this embodiment,
Intermittent failures, which were impossible with the conventional method, can be reliably detected and determined to be defective. T K
For example, assuming that the probability of expecting a normal operation is P, the value of A and A may be determined by T K / A = P. According to this, it can be said that a monitoring method that is more compatible with the operation of the apparatus can be realized as compared with the conventional method.

以上の実施例では、所定期間Lを第3図のように、L
間隔でずれるように設定したが、より短い間隔で設定し
ても、同様の効果を期待できる。この場合のフロー図を
第4図に示す。第4図で示す実施例は、ΔT間隔で、所
定区間Lをずらしていく方式である。まず、ステップS3
-1で、本プログラムを開始し、ステップS3-2で、累積値
Aを初期化する。ステップS3-3は、前述S2-3と同様であ
る。ステップS3-4で、不良検出無の場合は、ステップS3
-5で、現時点の加算値ΔTIを0とする。不良検出有の場
合は、ΔTIに、プログラム周期ΔTを代入する。ステッ
プS3-7では、このΔTIをAに加算する。ステップS3-8で
は、L時間前の加算値ΔTMを減算する。ΔTMは、L時間
前のΔTIであり、RAM9-1に、格納されているものとす
る。次にステップS3-9で、ΔTIを格納する。これは、L
時間後に、ΔTMとして使用される。ステップS3-10で
は、Aと所定値TKを比較し、各々ステップS3-11,S3-12
で、不具合無,有の出力処理実施する。
In the above embodiment, the predetermined period L is set to L as shown in FIG.
Although it is set so as to be shifted at intervals, the same effect can be expected even if the interval is set shorter. FIG. 4 shows a flowchart in this case. The embodiment shown in FIG. 4 is a method in which a predetermined section L is shifted at intervals of ΔT. First, step S3
The program is started at -1 and the accumulated value A is initialized at step S3-2. Step S3-3 is the same as S2-3 described above. If no defect is detected in step S3-4, step S3
At -5, the current addition value ΔT I is set to 0. If a defect is detected, the program cycle ΔT is substituted for ΔT I. In step S3-7, ΔT I is added to A. In step S3-8, it subtracts the L time before the addition value [Delta] T M. ΔT M is ΔT I L hours before and is stored in the RAM 9-1. Next, in step S3-9, ΔT I is stored. This is L
After a time, it is used as ΔT M. In step S3-10, A is compared with a predetermined value T K , and in steps S3-11, S3-12, respectively.
Then, the output processing is performed with or without a defect.

以上の処理を繰り返すことにより、所定区間LをΔT
毎にずらして、累積値Aを算出することが可能となる。
本処理の作用を第5図に示すが、本処理によれば、第3
図のように、L時間毎に、不具合出力がリセットされ
ず、監視不良が継続傾向であれば、不具合出力も同様に
継続方向になるという利点がある。
By repeating the above processing, the predetermined section L is set to ΔT
It is possible to calculate the accumulated value A by shifting each time.
FIG. 5 shows the operation of this processing.
As shown in the figure, if the faulty output is not reset every L time, and if the monitoring failure tends to continue, there is an advantage that the faulty output also has a continuing direction.

以上実施例では、監視不良発生時間の累積値を観測す
る例を示したが、不具合発生判定手段として、次式によ
り、所定期間の監視不良発生頻度(発生回数)の累積値
Aを算出し、所定値Kと比較し、不具合発生の有無を判
定する方法もある。
In the above embodiment, the example in which the cumulative value of the monitoring failure occurrence time is observed is shown. However, as the failure occurrence determination means, the cumulative value A of the monitoring failure occurrence frequency (the number of occurrences) in a predetermined period is calculated by the following equation. There is also a method of comparing with a predetermined value K to determine whether or not a failure has occurred.

但し、監視不良発生時点は監視不良発生継続時間に含
まれないものとする。ここで、(3)式の積分は、ΔT
周期でのkの加算である(4)式で近似できる。
However, the monitoring failure occurrence time is not included in the monitoring failure occurrence continuation time. Here, the integral of the equation (3) is ΔT
It can be approximated by equation (4), which is the addition of k in the cycle.

ここでΔT→0ならば、(4)式の近似値は、(3)
式に近づく。上記(4)式を実現するためには、第2図
のステップS2-4,S2-5,S2-6を、第6図のステップS2′−
4,S2′−5,S2′−6に置き換えればよい。
Here, if ΔT → 0, the approximate value of equation (4) is given by (3)
Approach the ceremony. In order to realize the above equation (4), steps S2-4, S2-5, and S2-6 in FIG.
4, S2'-5 and S2'-6.

ここで、S2′−4で不良発生時点を判断する具体的方
法としては、ΔT以前が正常で、現時点が不良であるな
らば、不良発生時点であると判断する方法がある。本実
施例の作用を第7図に示す。第7図の例では、K=4と
して、所定期間L中に、監視不良が4回以上発生し、不
具合発生とすることを示している。監視対象の劣化特性
などを考慮すると、前述の累積発生時間よりも、累積発
生頻度を計数することが適切な場合があり、本実施例
は、このような場合に効果が期待できる。
Here, as a specific method of judging the point of occurrence of a failure in S2'-4, there is a method of judging the point of occurrence of a defect if the time before ΔT is normal and the current point of time is defective. FIG. 7 shows the operation of this embodiment. In the example of FIG. 7, K = 4, indicating that a monitoring failure has occurred four or more times during the predetermined period L, and that a failure has occurred. In consideration of the degradation characteristics of the monitoring target, it may be more appropriate to count the cumulative occurrence frequency than the above-described cumulative occurrence time, and this embodiment can be expected to be effective in such a case.

以上の実施例では、発生時間又は、発生頻度を観測す
る例を挙げたが、不具合発生手段として、次式により、
所定期間の監視不良発生間隔の変化を観測することで、
不具合発生の有無を判定する方法もある。
In the above embodiment, an example in which the occurrence time or occurrence frequency is observed has been described.
By observing the change in the monitoring failure occurrence interval for a predetermined period,
There is also a method of determining whether or not a failure has occurred.

T1>T2>T3…>Tn-1>Tnならば不具合発生有 (5)−
(a) T1<T2<T3…<Tn-1<Tnならば不具合発生無 (5)−
(b) 但し、n …所定期間中に発生する監視不良発生回数 Ti…所定期間中に発生する監視不良の発生間隔
(i=1〜n) 一般的に、監視対象の不良発生様相は、劣化特性によ
り断続的状態から、連続的状態に移行する傾向あると考
えられる。従って、不良発生状態では、監視不良の発生
間隔は、任意の期間にて、(5)−(a)式の如く、短
くなっていく方向にある。逆に、周囲環境の変化等によ
り、再度監視不良状態から、正常状態に復旧する場合
は、監視不良の発生間隔は、任意の期間にて、(5)−
(b)式の如く、長くなっていく方向にある。従って、
(5)−(a)及び(5)−(b)式により、不具合の
発生の有無を判定できる。
If T 1 > T 2 > T 3 …> T n-1 > T n then a problem has occurred (5) −
(A) T 1 <Mu T 2 <T 3 ... <T n-1 <T n If a problem occurs (5) -
(B) where n: the number of occurrences of monitoring failures occurring during a predetermined period T i : intervals at which monitoring failures occur during a predetermined period (i = 1 to n) In general, the failure occurrence aspect of the monitoring target is: It is considered that there is a tendency to shift from an intermittent state to a continuous state due to the deterioration characteristics. Therefore, in the failure occurrence state, the monitoring failure occurrence interval tends to be shorter in an arbitrary period, as shown in Expressions (5) to (a). Conversely, when the monitoring failure is restored from the monitoring failure state to the normal state again due to a change in the surrounding environment, the monitoring failure occurs at an arbitrary interval (5)-
As shown in equation (b), the length is in the direction of becoming longer. Therefore,
The presence / absence of a failure can be determined by the equations (5)-(a) and (5)-(b).

本実施例を実現するためのプログラムを第8図に示
す。まずステップS4-1で、本処理を開始し、ステップS4
-2で、所定期間算出値tを初期化する。その後ステップ
S4-3にて、所定期間Lが経過したか否かを判定する。t
がL以下ならば、ステップS4-4で、監視不良検出処理を
行なう。これは、前述ステップS3-3と同等な処理であ
る。次にステップS4-5で、不良発生の判定を行なう。不
良発生と判定した場合は、ステップS4-6で監視不良発生
間隔Tiの算出を実施する。Tiは、前監視不良(i−1)
の発生時点より、現不良iの発生時点までの時間を算出
することで得られる。ステップS4-7では、tの更新を行
なって、ステップS4-3へ戻る。以下繰り返し、上記処理
が行なわれ、ステップS4-3で、tがLを超えたと判断す
ると、ステップS4-8で、算出されたT1〜Tnまでの関係が
前述(5)−(a)式を満たしていることをチェック
し、成立しているならば、ステップS4-9で、不具合発生
として、前実施例と同等の処理を行なう。又、ステップ
S4-10では、Tiが(5)−(b)式を満たすかをチェッ
クし、成立しているならば、ステップS4-11で、不具合
無として処理する。以上により、所定区間Lでの処理は
終了し、再び、ステップS4-2に戻り、tを初期化し、以
上の処理を繰り返す。本実施例の作用を第9図に示す。
(a)図は、不具合発生状態となる場合、(b)図は、
不具合が回復していく場合を示している。本実施例は、
不具合状態の変遷を観測していることから、永続的な不
具合に至る事又は回復する事を、前もって予測すること
と等価となる。
FIG. 8 shows a program for realizing this embodiment. First, in step S4-1, the present process is started, and in step S4
At -2, the predetermined period calculation value t is initialized. Then step
In S4-3, it is determined whether a predetermined period L has elapsed. t
If L is equal to or smaller than L, monitoring failure detection processing is performed in step S4-4. This is a process equivalent to step S3-3 described above. Next, in step S4-5, the occurrence of a defect is determined. If it is determined that the failure occurred, performing the calculation of the monitoring failure interval T i in step S4-6. Ti is the previous monitoring failure (i-1)
Is calculated by calculating the time from the occurrence of the current failure to the occurrence of the current failure i. In step S4-7, t is updated, and the process returns to step S4-3. Hereinafter repeated, the processing is performed, at step S4-3, when it is determined that t is greater than L, and the in step S4-8, the relationship to the calculated T 1 through T n is described above (5) - (a) It is checked that the expression is satisfied. If the expression is satisfied, in step S4-9, a process equivalent to that of the previous embodiment is performed as occurrence of a failure. Also step
In S4-10, T i is (5) - (b) Checks satisfies the equation, if satisfied, at step S4-11, processing a bug-free. Thus, the processing in the predetermined section L is completed, and the process returns to step S4-2 again, initializes t, and repeats the above processing. The operation of this embodiment is shown in FIG.
FIG. 7A shows a case where a failure occurs, and FIG.
This shows a case where the defect recovers. In this embodiment,
Observing the transition of the failure state is equivalent to predicting in advance that a permanent failure will be caused or recovered.

従って、致命的な不良に至る前に、不具合を検出で
き、選択性に優れた監視が可能となるという利点があ
る。
Therefore, there is an advantage that a failure can be detected before a fatal failure occurs, and monitoring with excellent selectivity becomes possible.

上記実施例では監視不良発生間隔の変化を観測した
が、不具合発生手段として、次式により、所定期間の監
視不良発生継続時間Tiの変化を観測することで、不具合
発生の有無を判定する方法もある。
In the above embodiment has been observed change in monitoring failure interval, as defect generation means, according to the following equation by observing the monitor changes in failure duration T i of a predetermined time period, the method determines the presence or absence of defect occurrence There is also.

T1<T2…<Tn-1<Tnならば不具合発生有(6)−(a)
T1>T2…>Tn-1>Tnならば不具合発生無(6)−(b)
但し、n …所定期間中に発生する監視不良発生回数 Ti…所定期間中に発生する監視不良の継続時間(i=1
〜n) 一般的に、監視不良の継続時間は、永続的不良発生
(即ち永久故障)に至る以前は、長くなる方向にあり、
逆に、永続的不良から、回復する際は、短くなる方向に
ある。従って(6)−(a)及び(b)式により不具合
の有無を判定できる。本実施例の実現方法は、前記実施
例の第8図と同等であり、ステップS4-5,S4-6,S4-8,S4-
10を、変更すればよい。即ち、ステップS4-5では、不良
が復帰したことを検出し、ステップS4-6では、不良発生
時より不良復帰時までの時間を算出することで不良継続
時間Tiを得る。又、ステップS4-8,ステップS4-10では各
々(6)−(a)式及び(6)−(b)式が成立するか
を判定する。
If T 1 <T 2 ... <T n-1 <T n , a problem has occurred (6)-(a)
T 1> T 2 ...> T n-1> T Mu n If a problem occurs (6) - (b)
Here, n: the number of occurrences of monitoring failures occurring during the predetermined period T i : the duration of monitoring failures occurring during the predetermined period (i = 1
~ N) In general, the duration of a monitoring failure tends to be longer before a permanent failure occurs (i.e., a permanent failure),
Conversely, when recovering from a permanent failure, it tends to be shorter. Therefore, the presence or absence of a defect can be determined by the equations (6)-(a) and (b). The realization method of this embodiment is the same as that of FIG. 8 of the above embodiment, and the steps S4-5, S4-6, S4-8, S4-
10 can be changed. That is, in step S4-5, detects that the failure is recovered, in step S4-6, get bad duration T i by calculating the time until the failure recovery than during failure. In steps S4-8 and S4-10, it is determined whether the expressions (6)-(a) and (6)-(b) are satisfied.

本実施例の作用を第10図に示す。本実施例は、前記実
施例と同様に、不良状態の予測が可能という利点があ
る。
FIG. 10 shows the operation of the present embodiment. This embodiment has an advantage that a failure state can be predicted as in the above-described embodiment.

他の実施例としては、不具合発生判定手段として、次
式により、所定期間の監視不良発生時間累積値の変化を
観測し、不具合発生の有無を判定する方法もある。
As another embodiment, there is also a method of observing a change in the cumulative value of the monitoring failure occurrence time during a predetermined period and determining whether or not a failure has occurred, using the following equation as the failure occurrence determination means.

f1(Ai,Ai-1,…A1)<Ai<f2(Ai,Ai-1,…A1)ならば
不具合発生有 (7)−(a) g1(Ai,Ai-1,…A1)<Ai<g2(Ai,Ai-1,…A1)ならば
不具合発生無 (7)−(b) f1,f2,g1,g2は過去の累積値Ai,…A1の少くとも1つ
以上に依存する関数又は定数値 一般的に、監視不良の発生時間累積値Aiは、永続的不
良に至る前、ある傾向をとり、又永続的不良から回復す
る際も、他の傾向で変化すると言える。従って、任意の
Aiに着目すれば、不具合発生時は、(7)−(a),回
復時は(7)−(b)で、不具合有無の判定が可能とな
る。
If f 1 (A i , A i−1 ,..., A 1 ) <A i <f 2 (A i , A i−1 ,... A 1 ), a problem occurs (7) − (a) g 1 (A i , A i-1 ,... A 1 ) <A i <g 2 (A i , A i−1 ,... A 1 ), no failure occurs (7) − (b) f 1 , f 2 , g 1 , g 2 are functions or constant values dependent on at least one of the past cumulative values A i ,... A 1. Generally, the monitoring failure occurrence time cumulative value A i is It can be said that a certain tendency is taken before reaching a permanent failure, and that when recovering from a permanent failure, it changes in another tendency. Therefore, any
Focusing on A i , it is possible to determine the presence / absence of a failure by (7)-(a) when a failure occurs and by (7)-(b) when recovering.

前記実施例の発生時間を発生頻度に変えて、次式によ
り所定期間の監視不良発生頻度の累積値の変化を観測
し、不具合発生の有無を判定する方法もある。この場合
の効果も、前記実施例と同等である。
There is also a method in which the occurrence time is changed to the occurrence frequency in the above-described embodiment, and the change in the cumulative value of the monitoring failure occurrence frequency for a predetermined period is observed by the following equation to determine whether or not a failure has occurred. The effect in this case is the same as that of the above embodiment.

f1(Ai,Ai-1,…A1)<Ai<f2(Ai,Ai-1,…A1)ならば
不具合発生有 (8)−(a) g1(Ai,Ai-1,…A1)<Ai<g2(Ai,Ai-1,…A1)ならば
不具合発生無 (8)−(b) f1,f2,g1,g2は過去の累積値Ai,…A1の少くとも1つ
以上に依存する関数又は定数値 以上の実施例では、発生時間,発生頻度が、任意の関
数値又は、定数値のある範囲にあるとして、判定した
が、発生時間,発生頻度の変りに、(9)式で示す発生
間隔とした場合、あるいは(10)式で示す発生継続時間
とした場合も、同等の効果が期待できる。(9)式で、
発生間隔が指数関数的に短くなって不具合に至る場合の
不具合検出領域を第11図に示す。本実施例によれば、監
視対象の不具合に至るまでの不良発生様相が既知であれ
ば、これに対応した関数値を設定することにより、極め
て精度の高い監視が可能になると言える。
If f 1 (A i , A i−1 ,... A 1 ) <A i <f 2 (A i , A i−1 ,... A 1 ), there is a problem (8) − (a) g 1 (A i , A i-1 ,... A 1 ) <A i <g 2 (A i , A i−1 ,... A 1 ), no failure occurs (8) − (b) f 1 , f 2 , g 1 , g 2 are functions or constant values dependent on at least one of the past accumulated values A i ,... A 1 In the above embodiments, the occurrence time and occurrence frequency are arbitrary. It was determined that the function value or the constant value was within a certain range. However, when the occurrence time and the occurrence frequency changed, the occurrence interval indicated by the expression (9) was used, or the occurrence continuation time indicated by the expression (10) was used. In this case, the same effect can be expected. In equation (9),
FIG. 11 shows a defect detection area when the interval of occurrence becomes exponentially shorter and leads to a defect. According to the present embodiment, if the failure occurrence mode up to the failure of the monitoring target is known, extremely high-precision monitoring can be performed by setting a function value corresponding to this.

f1(Ti,Ti-1,…T1)<Ti<f2(Ti,Ti-1,…T1)ならば
不具合発生有 (9)−(a) g1(Ti,Ti-1,…T1)<Ti<g2(Ti,Ti-1,…T1)ならば
不具合発生無 (9)−(b) 但し、f1,f2,g1,g2は過去の発生継続時間Ti…T1の少
くとも1つ以上に依存する関数又は、定数値 Ti…(i=1〜n)所定期間中に発生する監視不良の発
生継続時間 f1(Ti,Ti-1,…T1)<Ti<f2(Ti,Ti-1,…T1)ならば
不具合発生有 (10)−(a) g1(Ti,Ti-1,…T1)<Ti<g2(Ti,Ti-1,…T1)ならば
不具合発生無 (10)−(b) 但し、f1,f2,g1,g2は過去の発生間隔Ti…T1の少くと
も1つ以上に依存する関数又は、定数値 Ti…(i=1〜n)所定期間中に発生する監視不良の発
生間隔 以上述べてきた実施例は、ソフトウェアで不具合発生
判定手段を実現する方法を述べてきたが、ハードウェア
にても当然実現可能であり、その効果も同等である。特
に、ソフトウェアの信頼性が落ちる不具合(例えばRAM
不良,ROM不良,CPU不良等)では、ハードウェアでの検出
が有効となる。この場合の実現例を、第12図に示す。図
中の累積カウンタはハードウェアで実現しており、I/O
インターフェイスより監視不良発生の信号を受け、累積
的にカウントを行なう。累積カウンタは、(2)式相当
を実現する手段であり、具体的回路構成は周知であるの
で省略する。累積カウンタの替りに、抵抗,コンデンサ
で構成した積分回路と、トランジスタ等で構成するレベ
ル検出回路で(1)式相当を実現する方法もある。
If f 1 (T i , T i−1 ,... T 1 ) <T i <f 2 (T i , T i−1 ,... T 1 ), a problem occurs (9) − (a) g 1 (T i , T i−1 ,... T 1 ) <T i <g 2 (T i , T i−1 ,... T 1 ), no failure occurs (9) − (b) where f 1 , f 2 , g 1 and g 2 are functions dependent on at least one or more of the past occurrence continuation times T i ... T 1 or constant values T i . If the duration f 1 (T i , T i−1 ,..., T 1 ) <T i <f 2 (T i , T i−1 ,..., T 1 ), a problem occurs (10) − (a) g 1 If (T i , T i−1 ,... T 1 ) <T i <g 2 (T i , T i−1 ,... T 1 ), no failure occurs (10) − (b) where f 1 , f 2 , g 1 and g 2 are functions that depend on at least one or more past occurrence intervals T i ... T 1 or constant values T i (i = 1 to n) of monitoring failures occurring during a predetermined period. Occurrence interval In the embodiment described above, a problem occurs in software. Has been described how to achieve a constant means, but it is naturally also feasible in hardware, the effect is equally. In particular, problems that reduce the reliability of software (for example, RAM
Failure, ROM failure, CPU failure, etc.), detection by hardware is effective. FIG. 12 shows an implementation example in this case. The cumulative counter in the figure is realized by hardware, and the I / O
Upon receiving a signal indicating the occurrence of a monitoring failure from the interface, counting is cumulatively performed. The accumulative counter is a means for realizing the equation (2), and its concrete circuit configuration is well known, so that the explanation is omitted. Instead of the accumulation counter, there is also a method of realizing the equation (1) by using an integrating circuit composed of a resistor and a capacitor and a level detecting circuit composed of a transistor and the like.

尚、以上実施例では、単一の監視不良について説明し
てきたが、一般に一装置内には、複数の監視対象部位が
あり、異った監視を行なっている。従って、各々の監視
部位に対応して、不具合発生判定手段が設けられること
となる。この場合の作用,効果も、以上述べた実施例と
同等である。
Although a single monitoring failure has been described in the above embodiment, a plurality of monitoring target parts are generally provided in one apparatus, and different monitoring is performed. Therefore, a failure occurrence determination means is provided for each monitoring part. The operation and effect in this case are also the same as those of the embodiment described above.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明した如く、本発明によれば、監視不良の発生
様相を所定期間観測し、発生様相を考慮して、不具合判
定を行なうようにしたので、従来不可能であった断続的
不良が検出可能となり、更に、発生様相,運用形態に対
応した高精度かつ柔軟性に富んだ監視手段を持つ保護制
御装置を提供できる。
As described above, according to the present invention, the occurrence of a monitoring failure is monitored for a predetermined period, and the failure is determined in consideration of the occurrence, so that an intermittent failure that has been impossible in the past can be detected. Further, it is possible to provide a protection control device having highly accurate and flexible monitoring means corresponding to the generation mode and operation mode.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明による保護制御装置の基本概念を示す機
能ブロック図、第2図は一実施例の処理を示すフローチ
ャート、第3図は実施例の作用を説明するタイムチャー
ト、第4図は他実施例を示すフローチャート、第5図は
同作用を説明するタイムチャート、第6図乃至第9図は
他の実施例を示すフローチャート、第10図は他の実施例
のタイムチャート、第11図は他の実施例の作用を説明す
るグラフ、第12図は他の実施例を説明する構成図、第13
図は従来の保護制御装置の構成例図、第14図は従来手法
を示すフローチャート、第15図は従来手法を示す論理回
路図、第16図は同タイムチャートである。 10……保護制御装置、11……監視不良検出手段 12……不具合発生判定手段
FIG. 1 is a functional block diagram showing the basic concept of the protection control device according to the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing the processing of one embodiment, FIG. 3 is a time chart for explaining the operation of the embodiment, and FIG. Flowchart showing another embodiment, FIG. 5 is a time chart for explaining the same operation, FIGS. 6 to 9 are flowcharts showing another embodiment, FIG. 10 is a time chart of another embodiment, FIG. Is a graph illustrating the operation of another embodiment, FIG. 12 is a configuration diagram illustrating another embodiment, FIG.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a conventional protection control device, FIG. 14 is a flowchart showing a conventional method, FIG. 15 is a logic circuit diagram showing the conventional method, and FIG. 16 is a time chart thereof. 10: protection control device, 11: monitoring failure detection means 12: failure occurrence determination means

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】保護制御装置の監視方式において、当該保
護制御装置の内部回路の複数の監視対象項目の不良を所
定の検出周期で検出する監視不良検出手段と、各監視対
象項目毎に前記監視不良検出手段により検出される不良
検出を前回の検出周期で不良検出していないことを条件
に計数し、周期的な所定期間の監視不良発生回数の累積
値Aを監視不良発生頻度として次式により算出する累積
値算出手段と、前記累積値算出手段が算出した累積値と
所定値TKとを比較し、累積値が所定値より大きい場合は
不具合発生有りと判定する不具合発生判定手段とを備え
ることを特徴とする保護制御装置。
In a monitoring method of a protection control device, a monitoring failure detection means for detecting failures of a plurality of monitoring target items of an internal circuit of the protection control device at a predetermined detection cycle, and the monitoring for each monitoring target item The failure detection detected by the failure detection means is counted on the condition that no failure has been detected in the previous detection cycle, and the cumulative value A of the number of monitoring failure occurrences during a predetermined period is defined as the monitoring failure occurrence frequency by the following equation. A cumulative value calculating means for calculating, and a failure occurrence determining means for comparing the cumulative value calculated by the cumulative value calculating means with a predetermined value T K and determining that a failure has occurred if the cumulative value is larger than the predetermined value. A protection control device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】保護制御装置の監視方式において、当該保
護制御装置の内部回路の複数の監視対象項目の不良を検
出する監視不良検出手段と、各監視対象項目毎に前記監
視不良検出手段により検出される周期的な所定期間の監
視不良の発生間隔を算出する不良発生間隔算出手段と、
前記不良発生間隔算出手段が算出した前記所定期間中の
監視不良の発生間隔が順次短くなるならば不具合発生有
りと判定し判定信号を出力し、前記所定期間中の監視不
良の発生間隔が順次長くなるならば不具合発生無しと判
定し判定信号を復帰させる不具合発生判定手段とを備え
ることを特徴とする保護制御装置。
2. A monitoring method for a protection control device, comprising: monitoring failure detection means for detecting failures of a plurality of monitoring target items in an internal circuit of the protection control device; and monitoring failure detection means for each monitoring target item. Failure occurrence interval calculation means for calculating the occurrence interval of monitoring failures for a predetermined period that is periodic,
If the occurrence interval of the monitoring failure during the predetermined period calculated by the failure occurrence interval calculating means is sequentially shortened, it is determined that a failure has occurred and a determination signal is output, and the occurrence interval of the monitoring failure during the predetermined period is sequentially increased. A protection control device comprising: a failure occurrence determination unit that determines that no failure has occurred if it is, and restores the determination signal.
【請求項3】保護制御装置の監視方式において、当該保
護制御装置の内部回路の複数の監視対象項目の不良を検
出する監視不良検出手段と、各監視対象項目毎に前記監
視不良検出手段により検出される周期的な所定期間の監
視不良発生継続時間を算出する不良発生継続時間算出手
段と、前記不良発生継続時間算出手段が算出した前記所
定期間中の監視不良発生継続時間が順次長くなるならば
不具合発生有りと判定し判定信号を出力し、前記所定期
間中の監視不良発生継続時間が順次短くなるならば不具
合発生無しと判定し判定信号を復帰させる不具合発生判
定手段とを備えることを特徴とする保護制御装置。
3. A monitoring method for a protection control device, comprising: a monitoring failure detecting means for detecting failures of a plurality of monitoring target items of an internal circuit of the protection control device; and a monitoring failure detecting means for each monitoring target item. A failure occurrence duration calculating means for calculating a monitoring failure occurrence duration for a predetermined period periodically, and a monitoring failure occurrence duration for the predetermined period calculated by the failure occurrence duration calculation means which becomes longer sequentially. A failure occurrence determining means for determining that a failure has occurred, outputting a determination signal, and determining that no failure has occurred if the duration of the monitoring failure occurrence during the predetermined period is sequentially reduced, and returning the determination signal. Protection control device.
JP63216303A 1988-09-01 1988-09-01 Protection control device Expired - Lifetime JP2885342B2 (en)

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