JP3312543B2 - CPU monitoring circuit - Google Patents

CPU monitoring circuit

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JP3312543B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】 本発明は、論理回路を用い
た高精度のCPU監視回路に関する。
The present invention relates to a high-precision CPU monitoring circuit using a logic circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】 まず、CPUからの繰り返しパルス信
号を監視する従来の回路には図7に示すようなものがあ
る。本回路は抵抗R1〜R3・コンデンサC1,C2に
よるバンドパスフィルタ01、NPNトランジスタ0
2、シュミットインバータ03、抵抗R4・コンデンサ
C3による時定数発生回路04で構成されている。以下
で従来例の回路動作を説明する。従来回路では、PRU
N信号がバンドパスフィルタ回路01を通過すると、そ
の立上りエッジおよび立下がりエッジ毎に微分(積分)
信号が出力される(図7A点)。この回路ではPRUN
立上り時の微分(積分)信号の振幅AW とNPNトラン
ジスタ02のVBEの関係を利用することでPRUN監視
を行うことを特徴としている。すなわち、 (1)AW>VBEの場合には、回路は正常PRUNが入力
されたものと判定し、PRUN信号の立上り毎に図7中
のコンデンサC3に溜った電荷を放電させる。
2. Description of the Related Art First, there is a conventional circuit for monitoring a repetitive pulse signal from a CPU as shown in FIG. This circuit includes a bandpass filter 01 including resistors R1 to R3 and capacitors C1 and C2, and an NPN transistor 0.
2, a Schmitt inverter 03, and a time constant generating circuit 04 including a resistor R4 and a capacitor C3. Hereinafter, the circuit operation of the conventional example will be described. In the conventional circuit, PRU
When the N signal passes through the band-pass filter circuit 01, differentiation (integration) is performed for each rising edge and falling edge.
A signal is output (point A in FIG. 7). In this circuit, PRUN
PRUN monitoring is performed by utilizing the relationship between the amplitude AW of the differential (integral) signal at the time of rising and the VBE of the NPN transistor 02. That is, (1) If AW> VBE, the circuit determines that the normal PRUN has been input, and discharges the charge stored in the capacitor C3 in FIG. 7 every time the PRUN signal rises.

【0003】(2)AW<VBE(PRUN周期が非常に短
い)の場合またはPRUN立上り時の積分(微分)信号
が入力されていない(PRUN信号停止)場合には、回
路はPRUN信号を異常と判定し、図7中のコンデンサ
C3への充電を継続させる。
(2) If AW <VBE (PRRUN cycle is very short) or if an integral (differential) signal at the rise of PRUN is not input (PRUN signal stops), the circuit determines that the PRUN signal is abnormal. It is determined, and the charging of the capacitor C3 in FIG. 7 is continued.

【0004】図8に示すように、PRUN信号が正常の
場合は、PRUN立上り時の微分(積分)信号によりB
点の電圧がシュミットインバータ03のHレベル側しき
い値(VtH)を超える前にコンデンサC3に溜った電荷
が放電されるために、シュミットインバータ03の出力
は反転することなく、WRES出力はHを保持する。し
かしながら、PRUN信号が異常、例えば停止してしま
う場合を考えると、コンデンサC3への充電が継続され
ることで、B点の電圧が徐々に上昇し、シュミットイン
バータ03のHレベル側しきい値(VtH)を超えた時点
で、シュミットインバータ03の出力が反転しWRES
出力がLとなる。その直後コンデンサC3の電荷は放電
され、今度はB点の電圧がシュミットインバータ03の
Lレベル側しきい値(VtL)まで下がると、シュミット
インバータ03の出力は再度反転して、WRES出力が
再びHとなる。その後更にコンデンサC3に電荷が放電
され、B点の電圧がシュミットインバータ03のHレベ
ル側しきい値(VtH)を超えるとWRES出力がLとな
る。以降は正常PRUN信号(NPN−TrのVBEを超
える振幅のPRUN立上り時の微分(積分)信号)が入
力されるまで、上記動作を繰り返すことで間欠リセット
信号が出力されることになる。
[0004] As shown in FIG. 8, when the PRUN signal is normal, the differential (integral) signal at the rise of PRUN is used as the signal B.
Before the point voltage exceeds the H-level threshold (VtH) of the Schmitt inverter 03, the charge accumulated in the capacitor C3 is discharged. Therefore, the output of the Schmitt inverter 03 does not invert, and the WRES output becomes H. Hold. However, in consideration of a case where the PRUN signal is abnormal, for example, when the capacitor C3 is stopped, the voltage at the point B gradually increases due to the continuous charging of the capacitor C3, and the H-level threshold value of the Schmitt inverter 03 ( VtH), the output of the Schmitt inverter 03 is inverted and WRES
The output becomes L. Immediately thereafter, the electric charge of the capacitor C3 is discharged, and when the voltage at the point B falls to the L-level threshold value (VtL) of the Schmitt inverter 03, the output of the Schmitt inverter 03 is again inverted, and the WRES output becomes H again. Becomes Thereafter, the electric charge is further discharged to the capacitor C3, and when the voltage at the point B exceeds the H-level threshold (VtH) of the Schmitt inverter 03, the WRES output becomes L. Thereafter, the above operation is repeated until a normal PRUN signal (a differential (integral) signal at the time of PRUN rising with an amplitude exceeding the VBE of the NPN-Tr) is input, whereby an intermittent reset signal is output.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】 しかしながらこのよ
うな従来のCPU監視回路にあっては、PRUN立上り
時の微分(積分)信号によりコンデンサを放電させる回
路構成となっているため、PRUN信号の立上り(最
小)パルスおよび立上り間隔を監視しているにすぎず、
PRUN信号の短周期異常・長周期異常・停止異常およ
び入力ノイズの(どれもPRUN立上り間隔による)正
常/異常の判定は可能だが、PRUN周期正常時のD
uty異常やDuty異常を含めた上記PRUN異常
(停止異常・周期異常・Duty異常)の複合パターン
の検知は困難であるという問題点があった。また、PR
UNの長周期・停止など長い側の時定数の故障に関して
は、図7において、B点のノードがコンデンサにより0
〜VtH(V)まで充電される時間にPRUN立上り時の
微分(積分)信号が入力されるかどうか、とういう判定
を行っているため、PRUN長周期検知限は停止検知
限と同じ時定数でしか監視できないという問題点もあっ
た。
However, in such a conventional CPU monitoring circuit, since a capacitor is discharged by a differential (integral) signal at the time of rising of the PRUN, the rising of the PRUN signal (the rising of the PRUN signal) is performed. Min) only monitors the pulse and rise time,
It is possible to judge whether the PRUN signal is short-period abnormal, long-period abnormal, stop abnormal, or input noise is normal / abnormal (all based on the PRUN rising interval).
There is a problem that it is difficult to detect a composite pattern of the PRUN abnormalities (stop abnormality, cycle abnormality, duty abnormality) including a duty abnormality and a duty abnormality. In addition, PR
Regarding the failure of the time constant on the long side such as the long cycle and stop of the UN, the node at the point B in FIG.
It is determined whether or not a differential (integral) signal at the rise of PRUN is input during the time when the battery is charged up to VtH (V). Therefore, the PRUN long cycle detection limit has the same time constant as the stop detection limit. There was also a problem that only monitoring was possible.

【0006】さらに、従来回路はディスクリート素子
(C,R)によるアナログ回路であるため、素子毎の
ばらつき(例:抵抗ばらつき±5%、温特2000ppm
,コンデンサばらつき±20%、温特15%など)の
積み重ねにより、トータルのPRUN監視のばらつきも
大きく、また、これらばらつきを考慮した上で、ワース
トケースでも正常PRUNを異常と誤判断しないように
設計すると、監視幅をPRUN正常値にあまり近づけら
れないという問題点もあった。
Further, since the conventional circuit is an analog circuit using discrete elements (C, R), the variation among the elements (eg, resistance variation ± 5%, temperature characteristic 2000 ppm)
, Capacitor variation ± 20%, temperature characteristic 15%, etc.), the variation in total PRUN monitoring is large, and in consideration of these variations, it is designed so that even in the worst case, the normal PRUN is not erroneously judged as abnormal. Then, there is also a problem that the monitoring width cannot be brought very close to the PRUN normal value.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】 本発明はこのような従
来の問題点に着目してなされたもので、エッジ検出回路
と、第1、第2、第3および第4のカウンタと、第1、
第2、第3、第4、第5および第6の論理回路と、第
1、第2、第3、第4及び第5の記憶回路を備えたCP
U監視回路であって、前記エッジ検出回路は、CPUか
らの繰り返し監視パルス信号(以下、PRUN信号)を
入力とし、第1のクロックパルスに応じて、前記PRU
N信号の立上りおよび立下りエッジ検出信号を出力し、
前記第1のカウンタは、前記エッジ検出回路から出力さ
れる立上りエッジ検出信号および前記第5の記憶回路が
出力する間欠リセット信号が出力される毎にリセットさ
れると共に、第2のクロックパルスを受けてカウントを
行ない、カウント値を前記第1の論理回路へと出力し、
前記第1の論理回路は、前記第1のカウンタから出力さ
れるカウント値が論理値に到達すると、ばらつき許容範
囲に相当するウインドウ幅を前記第1の記憶回路へと出
力し、前記第1の記憶回路は、前記第1の論理回路から
出力されたウインドウ幅と、前記エッジ検出回路から出
力される立下り検出信号に基づいて、前記PRUN信号
のH幅の正常/異常判定を行ない、この結果を前記第3
の論理回路へと出力し、前記第2のカウンタは、前記エ
ッジ検出回路から出力される立下りエッジ検出信号およ
び前記第5の記憶回路が出力する間欠リセット信号が出
力される毎にリセットされると共に、第2のクロックパ
ルスを受けてカウントを行ない、カウント値を前記第2
の論理回路へと出力し、前記第2の論理回路は、前記第
2のカウンタから出力されるカウント値が論理値に到達
すると、ばらつき許容値に相当するウインドウ幅を前記
第2の記憶回路へと出力し、前記第2の記憶回路は、前
記第2の論理回路から出力されたウインドウ幅と、前記
エッジ検出回路から出力される立上り検出信号に基づい
て、前記PRUN信号のL幅の正常/異常判定を行な
い、この結果を前記第3の論理回路へと出力し、前記第
3の論理回路は、前記第1の記憶回路から出力される前
記PRUN信号のH幅の正常/異常判定結果と、前記第
2の記憶回路から出力される前記PRUN信号のL幅の
正常/異常判定結果と、前記エッジ検出回路から出力さ
れる前記PRUN信号のエッジ検出信号に基づいて、前
記PRUN信号のH幅およびL幅の両方が正常か異常か
を判定し、この結果を前記第3のカウンタへと出力し、
前記第3のカウンタは、前記第3の論理回路から出力さ
れる判定結果に基づいてリセットされるとともに、第3
のクロックパルスを受けてカウントを行ない、カウント
値を前記第4の論理回路へ出力し、前記第4の論理回路
は、前記PRUN信号が異常と判定された時点から間欠
リセット信号の最初のLパルスを出力するまでの待ち時
間が設定されており、前記第3のカウンタから出力され
るカウント値が前記待ち時間となった場合に、間欠リセ
ット信号のトリガパルスを前記第3の記憶回路へと出力
し、前記第3の記憶回路は、第3の論理回路が正常を示
す信号を出力する毎にリセットされ、このリセットに基
づいて、前記第4のカウンタをリセットすると共に、前
記第4の論理回路から間欠リセット信号のトリガパルス
が出力された場合には、前記第4のカウンタを起動さ
せ、前記第4のカウンタは、第4のクロックパルスを受
けてカウントを行ない、前記間欠リセット信号のトリガ
パルスに対応して間欠リセット信号をカウントし、前記
第5の論理回路は、前記第4のカウンタのカウント値を
用いて、間欠リセット信号の繰り返し周期を決定し、前
記第4の記憶回路は、前記第5の論理回路で決定された
間欠リセット信号の繰り返し周期を記憶すると共に、決
定された繰り返し周期ごとに、前記第4のカウンタをリ
セットし、前記第6の論理回路は、前記第4のカウンタ
のカウント値を用いて、間欠リセット信号のH幅および
L幅の長さを決定し、前記第5の記憶回路は、前記第6
の論理回路で決定された間欠リセット信号のH幅および
L幅の長さを記憶し、この記憶された間欠リセット信号
ごとに、前記間欠リセット信号を前記第1のカウンタお
よび第2のカウンタへと出力することによって、上記問
題点を解決することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such a conventional problem, and includes an edge detection circuit, first, second, third, and fourth counters, and a first counter. ,
CP including second, third, fourth, fifth, and sixth logic circuits and first, second, third, fourth, and fifth storage circuits
U monitoring circuit, wherein the edge detection circuit receives a repetitive monitoring pulse signal (hereinafter, referred to as a PRUN signal) from a CPU and receives the PRU signal in response to a first clock pulse.
Output rising and falling edge detection signals of the N signal;
The first counter is reset each time a rising edge detection signal output from the edge detection circuit and an intermittent reset signal output from the fifth storage circuit are output, and receives the second clock pulse. Counting, outputting the count value to the first logic circuit,
When the count value output from the first counter reaches a logical value, the first logic circuit outputs a window width corresponding to a variation allowable range to the first storage circuit, and The storage circuit determines whether the H width of the PRUN signal is normal or abnormal based on the window width output from the first logic circuit and the falling detection signal output from the edge detection circuit. The third
And the second counter is reset each time a falling edge detection signal output from the edge detection circuit and an intermittent reset signal output from the fifth storage circuit are output. At the same time, the second clock pulse is received and counting is performed.
When the count value output from the second counter reaches a logical value, the second logical circuit sends a window width corresponding to the variation allowable value to the second storage circuit. The second storage circuit outputs a normal / L width of the PRUN signal based on the window width output from the second logic circuit and the rising detection signal output from the edge detection circuit. An abnormality determination is performed, and the result is output to the third logic circuit. The third logic circuit determines whether the H width of the PRUN signal output from the first storage circuit is normal or abnormal. , Based on the L / N normal / abnormal judgment result of the PRUN signal output from the second storage circuit and the edge detection signal of the PRUN signal output from the edge detection circuit, And both L width determines whether normal or abnormal, and outputs the result to the third counter,
The third counter is reset based on a determination result output from the third logic circuit, and
And outputs the count value to the fourth logic circuit. The fourth logic circuit outputs the first L pulse of the intermittent reset signal from the time when the PRRUN signal is determined to be abnormal. Is set, and when the count value output from the third counter reaches the waiting time, a trigger pulse of an intermittent reset signal is output to the third storage circuit. The third storage circuit is reset every time the third logic circuit outputs a signal indicating normality. Based on the reset, the third storage circuit resets the fourth counter, and resets the fourth logic circuit. When the trigger pulse of the intermittent reset signal is output from the controller, the fourth counter is started, and the fourth counter counts in response to the fourth clock pulse. Counting the intermittent reset signal in response to the trigger pulse of the intermittent reset signal, the fifth logic circuit determines a repetition period of the intermittent reset signal using a count value of the fourth counter, The fourth storage circuit stores the repetition cycle of the intermittent reset signal determined by the fifth logic circuit, resets the fourth counter for each determined repetition cycle, and resets the sixth logic circuit. The circuit determines the length of the H width and the L width of the intermittent reset signal using the count value of the fourth counter, and the fifth storage circuit stores
The lengths of the H width and the L width of the intermittent reset signal determined by the logic circuit are stored, and for each of the stored intermittent reset signals, the intermittent reset signal is sent to the first counter and the second counter. The purpose is to solve the above problem by outputting.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】 以下、本発明を図面に基づいて
説明する。図1は本発明の実施の形態を示す論理回路を
用いた(=デジタル)CPU監視回路のブロック構成図
である。まず本実施の形態の構成を説明すると、図1に
おいてPRUN信号が立上り/立下りエッジ検出回路1
に入力されている。この立上り/立下りエッジ検出回路
1は、例えば図2に示すような回路で、第1のクロック
パルス入力CLK1に応答して動作する。PRUN信号
の立上り側は、立上りエッジ検出パルスを位相をずらし
て連続2回出力し、図1に示すように第1の立上りエッ
ジ検出パルス(UPED1)を第1のカウンタ2のリセ
ット端子および第2の記憶回路7のCK端子に入力し、
第2の立上りエッジ検出パルス(UPED2)を第3の
論理回路8に入力している。同様にPRUN信号の立下
り側は、立下りエッジ検出パルスを位相をずらして連続
2回出力し、第1の立下りエッジ検出パルス(DWED
1)を第2のカウンタ5のリセット端子および第1の記
憶回路4のCK端子に入力、第2の立下りエッジ検出パ
ルス(DWED2)を第3の論理回路8に入力してい
る。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a (digital) CPU monitoring circuit using a logic circuit according to an embodiment of the present invention. First, the configuration of the present embodiment will be described. In FIG.
Has been entered. The rising / falling edge detection circuit 1 is, for example, a circuit as shown in FIG. 2 and operates in response to a first clock pulse input CLK1. The rising side of the PRUN signal outputs the rising edge detection pulse twice consecutively with the phase shifted, and outputs the first rising edge detection pulse (UPED1) to the reset terminal of the first counter 2 and to the second terminal as shown in FIG. To the CK terminal of the storage circuit 7 of
The second rising edge detection pulse (UPED2) is input to the third logic circuit 8. Similarly, on the falling side of the PRUN signal, the falling edge detection pulse is output twice consecutively with the phase shifted, and the first falling edge detection pulse (DWED
1) is input to the reset terminal of the second counter 5 and the CK terminal of the first storage circuit 4, and the second falling edge detection pulse (DWED2) is input to the third logic circuit 8.

【0009】第1のカウンタ2は、第2のクロックパル
ス入力CLK2によりカウントを行い、その出力は第1
の論理回路3に接続される。この第1の論理回路3は、
第1のカウンタ2の出力を用いてPRUN信号のH幅が
規定の範囲内にあるかどうかを判定するためのウィンド
ウ幅に相当する論理を構成しており、その出力は第1の
記憶回路4のD端子に接続されている。
The first counter 2 counts in response to a second clock pulse input CLK2, and its output is the first
Logic circuit 3. This first logic circuit 3
The output of the first counter 2 constitutes a logic corresponding to a window width for determining whether or not the H width of the PRUN signal is within a specified range. D terminal.

【0010】第2のカウンタ5も、第2のクロックパル
ス入力CLK2によりカウントを行い、その出力は第2
の論理回路6に接続される。この第2の論理回路6は、
PRUN信号のL幅が規定の範囲内にあるかどうかを判
定するためのウィンドウ幅に相当する論理を構成してお
り、その出力は第2の記憶回路7のD端子に接続されて
いる。
The second counter 5 also counts with the second clock pulse input CLK2, and its output is
Is connected to the logic circuit 6. This second logic circuit 6
A logic corresponding to a window width for determining whether the L width of the PRUN signal is within a prescribed range is formed, and an output thereof is connected to a D terminal of the second storage circuit 7.

【0011】第1の記憶回路4のQ端子からPRUN信
号H幅の正常/異常判定信号(HWD(Q))が出力さ
れ、第2の記憶回路7のQ端子からPRUN信号L幅の
正常/異常判定信号(LWD(Q))が出力され、それ
ぞれ第3の論理回路8に入力される。
A normal / abnormal judgment signal (HWD (Q)) of the PRUN signal H width is output from the Q terminal of the first storage circuit 4, and the normal / abnormality of the PRUN signal L width is output from the Q terminal of the second storage circuit 7. An abnormality determination signal (LWD (Q)) is output and input to the third logic circuit 8, respectively.

【0012】第3の論理回路8は、PRUN信号のH幅
およびL幅の両方が正常かどうかを判定する論理を構成
しており、その出力(DFR)は第3のカウンタ9およ
び第3の記憶回路11のリセット端子Rに接続されてい
る。
The third logic circuit 8 constitutes a logic for judging whether both the H width and the L width of the PRUN signal are normal, and the output (DFR) of the logic is determined by the third counter 9 and the third counter. It is connected to the reset terminal R of the storage circuit 11.

【0013】第3のカウンタ9は、第3のクロックパル
ス入力CLK3によりカウントを行うカウンタで、その
出力は第4の論理回路10に接続されている。
The third counter 9 is a counter that counts with a third clock pulse input CLK3, and its output is connected to the fourth logic circuit 10.

【0014】第4の論理回路10は、PRUN信号の異
常開始点から間欠リセット信号の最初のLレベルパルス
を出力するまでの時定数=クロックオフタイム(tOF
F)を出力するための論理を構成しており、その出力
(WDF)は間欠リセットを出力させるためのトリガ信
号であり、第3の記憶回路11のCK端子に接続されて
いる。
The fourth logic circuit 10 calculates the time constant from the abnormal start point of the PRUN signal to the output of the first L level pulse of the intermittent reset signal = clock off time (tOF).
The output (WDF) is a trigger signal for outputting an intermittent reset, and is connected to the CK terminal of the third storage circuit 11.

【0015】第3の記憶回路11のQ端子は、第4のカ
ウンタ12のリセット端子に接続され、ここからは第4
のカウンタ12のリセットを解除する信号が出力され
る。
The Q terminal of the third storage circuit 11 is connected to the reset terminal of the fourth counter 12, and from there the fourth terminal
Of the counter 12 is released.

【0016】第4のカウンタ12は、第4のクロックパ
ルス入力CLK4によりカウントを行い、その出力は第
5の論理回路13および第6の論理回路15に接続され
ている。
The fourth counter 12 counts according to a fourth clock pulse input CLK4, and its output is connected to the fifth logic circuit 13 and the sixth logic circuit 15.

【0017】第5の論理回路13は、第4のカウンタ1
2の出力を用いて間欠リセット信号の繰り返し周期を決
める論理を構成しており、その出力は第4の記憶回路1
4のD端子に接続されている。
The fifth logic circuit 13 includes a fourth counter 1
2 is configured to determine the repetition period of the intermittent reset signal by using the output of the fourth storage circuit 1.
4 is connected to the D terminal.

【0018】第4の記憶回路14のQ端子は、第4のカ
ウンタ12のリセット端子に接続されており、間欠リセ
ットの周期毎に第4のカウンタ12をリセットする(T
RES)。
The Q terminal of the fourth storage circuit 14 is connected to the reset terminal of the fourth counter 12, and resets the fourth counter 12 every intermittent reset cycle (T
RES).

【0019】第6の論理回路15は、間欠セットのH幅
(tRH)/L幅(tRL)を決める論理を構成してお
り、その出力は第5の記憶回路16のD端子に接続され
ている。
The sixth logic circuit 15 constitutes logic for determining the H width (tRH) / L width (tRL) of the intermittent set, and its output is connected to the D terminal of the fifth storage circuit 16. I have.

【0020】第5の記憶回路16のQ端子からは、リセ
ット信号(PRUN正常時はH一定、異常時は間欠リセ
ット信号)が出力され、第1のカウンタ2および第2の
カウンタ5のそれぞれのリセット端子に接続されてい
る。
From the Q terminal of the fifth storage circuit 16, a reset signal (H constant when PRUN is normal, intermittent reset signal when abnormal) is output, and each of the first counter 2 and the second counter 5 is output. Connected to reset terminal.

【0021】次に本実施の形態の回路動作について説明
する。図1に示すように、PRUN信号が立上り/立下
りエッジ検出回路1に入力されると、PRUN信号の立
上りおよび立下り毎に立上り/立下りエッジ検出パルス
が出力される。
Next, the circuit operation of the present embodiment will be described. As shown in FIG. 1, when the PRUN signal is input to the rising / falling edge detection circuit 1, a rising / falling edge detection pulse is output each time the PRUN signal rises and falls.

【0022】第1のカウンタ2はこの立上りエッジ検出
パルスによりリセットと同時に起動され、第2の入力ク
ロックパルスCLK2のカウントを開始する。この時の
第2の入力クロックパルスCLK2は、PRUN信号に
対して十分短い周期であることが必須で、システムが高
いPRUN監視精度を要するほど短い周期のクロックパ
ルスが必要になる。
The first counter 2 is activated simultaneously with the reset by the rising edge detection pulse, and starts counting the second input clock pulse CLK2. At this time, the second input clock pulse CLK2 must have a sufficiently short cycle with respect to the PRUN signal, and a shorter clock pulse is required as the system requires higher PRUN monitoring accuracy.

【0023】カウンタ起動後は、時間と共に第1のカウ
ンタ2の出力(=カウント値)が増加していく。カウン
ト値が第1の論理回路3の論理値(=デコード値)に到
達すると、第1の論理回路3はシステムからくるUPE
D1からPRUN信号H幅のばらつき許容範囲に相当す
るウィンドウを論理出力する。
After the counter is started, the output (= count value) of the first counter 2 increases with time. When the count value reaches the logical value (= decode value) of the first logical circuit 3, the first logical circuit 3
From D1, a window corresponding to the permissible variation range of the PRUN signal H width is logically output.

【0024】設計段階でこのウィンドウ幅を設定するこ
とにより、PRUN信号の監視精度を厳しめにも、緩や
かにもできる。PRUN信号H幅の正常/異常判定は、
第1の記憶回路4でD端子に入力されるウィンドウがH
レベルの期間にCK端子に第1の立下りエッジ検出パル
スDWED1が入力されるかどうかによって行われ、P
RUN信号H幅が正常範囲にある場合はQ端子はHを、
異常の場合はQ端子はLを出力する。PRUN信号のL
幅監視もH幅の監視と同様な動作で行う。
By setting this window width at the design stage, the monitoring accuracy of the PRUN signal can be made strict or moderate. The normal / abnormal judgment of the PRUN signal H width
The window input to the D terminal in the first storage circuit 4 is H
It is determined whether or not the first falling edge detection pulse DWED1 is input to the CK terminal during the level period.
When the RUN signal H width is in the normal range, the Q terminal is set to H,
If abnormal, the Q terminal outputs L. L of PRUN signal
The width monitoring is performed by the same operation as the H width monitoring.

【0025】第2のカウンタ5は、第1の立下りエッジ
検出パルスDWED1によりリセットと同時に起動さ
れ、第2の入力クロックパルスのカウントを開始する。
The second counter 5 is activated simultaneously with the reset by the first falling edge detection pulse DWED1, and starts counting the second input clock pulse.

【0026】カウンタ起動後は、時間と共に第2のカウ
ンタ5の出力(=カウント値)が増加していく。カウン
ト値が第2の論理回路6の論理値(=デコード値)に到
達すると、第2の論理回路6はシステムからくるDWE
D1からPRUN信号L幅のばらつき許容範囲に相当す
るウィンドウを論理出力する。PRUN信号L幅の正常
/異常判定は、第2の記憶回路7でD端子に入力される
ウィンドウがHレベルの期間にCK端子に第1の立上り
エッジ検出パルスUPED1が入力されるかどうかによ
って行われ、PRUN信号L幅が正常範囲にある場合は
Q端子はHを、異常の場合はQ端子はLを出力する。
After the counter is started, the output (= count value) of the second counter 5 increases with time. When the count value reaches the logic value (= decode value) of the second logic circuit 6, the second logic circuit 6 sets the DWE coming from the system.
From D1, a window corresponding to the permissible variation range of the PRRUN signal L width is logically output. Whether the PRUN signal L width is normal or abnormal is determined by whether or not the first rising edge detection pulse UPED1 is input to the CK terminal while the window input to the D terminal in the second storage circuit 7 is at the H level. When the width of the PRUN signal L is within the normal range, the Q terminal outputs H, and when the width is abnormal, the Q terminal outputs L.

【0027】第3の論理回路8では、第1の記憶回路4
のQ出力(HWD)および第2の記憶回路7のQ出力
(LWD)によりPRUN信号のH幅およびL幅の両方
(すなわちPRUN周期)が正常であるかどうかを判定
し、正常の場合は第2の立上りエッジ検出パルス(UP
ED2)および第2の立下りエッジ検出パルス(DWE
D2)毎に第2のクロック入力CLK2で決まるLレベ
ルのパルスをDFRに出力し、異常の場合はDFRはH
一定となる。第3の論理回路8の一例を図3に示す。
In the third logic circuit 8, the first storage circuit 4
It is determined whether both the H width and the L width of the PRUN signal (ie, the PRUN cycle) are normal based on the Q output (HWD) of the second storage circuit 7 and the Q output (LWD) of the second storage circuit 7. 2 rising edge detection pulse (UP
ED2) and the second falling edge detection pulse (DWE)
D2), an L-level pulse determined by the second clock input CLK2 is output to the DFR.
It will be constant. FIG. 3 shows an example of the third logic circuit 8.

【0028】ここで、これまでの回路動作を図5にまと
める。図5においてPRUN信号が正常な時は、HWD
がHの期間にDWED1が、LWDがHの期間にUPE
D1が入っているため、第1の記憶回路4のQ出力HW
D(Q)および第2の記憶回路7のQ出力LWD(Q)
はそれぞれHレベルを維持し、従って、第3の論理回路
8はUPED2およびDWED2毎にLレベルパルスを
出力する。
Here, the circuit operation so far is summarized in FIG. In FIG. 5, when the PRUN signal is normal, HWD
DWED1 during the H period, and UPE during the LWD H period.
Since D1 is included, the Q output HW of the first storage circuit 4
D (Q) and the Q output LWD (Q) of the second storage circuit 7
Maintain an H level, respectively, so that the third logic circuit 8 outputs an L level pulse for each of UPED2 and DWED2.

【0029】また、PRUN信号が異常、例えばLレベ
ルで停止する異常の場合には、仮にそれまでのPRUN
信号が正常でHWD(Q)およびLWD(Q)が共にH
レベルだとしても、PRUN信号のエッジ入力がないた
め、第3の論理回路8の出力(DFR)は、Hレベルを
保持し、次段以降の間欠リセット信号を起動させるカウ
ンタはリセットされることなく、カウントアップを継続
する。
If the PRUN signal is abnormal, for example, if it stops at the L level, it is assumed that the PRUN signal has been
Signal is normal and both HWD (Q) and LWD (Q) are H
Even if it is the level, since there is no edge input of the PRUN signal, the output (DFR) of the third logic circuit 8 holds the H level, and the counter for activating the intermittent reset signal of the next and subsequent stages is not reset. Continue counting up.

【0030】さらに、PRUN信号のDuty異常また
は周期異常の場合(図4)には、DWED1の入力がH
WDのHの期間を外れるか、UPED1の入力がLWD
のHの期間を外れるか、その両方か、のうちのどれかが
生じるため、HWD(Q)またたLWD(Q)またはそ
の両方がLレベルとなり、PRUN停止異常時と同様
に、DFRはHレベルを保持する。
Further, in the case of a duty abnormality or a period abnormality of the PRUN signal (FIG. 4), the input of DWED1 is set to H level.
WD goes out of H period or UPED1 input is LWD
, HWD (Q) and / or LWD (Q) are at the L level, and the DFR is at H level as in the case of abnormal PRUN stop. Hold the level.

【0031】第3のカウンタ9は、ウォッチドッグタイ
マにおける、いわゆるクロックオフタイム(tOFF)
をカウントするカウンタであり、その出力は第4の論理
回路10に接続される。
The third counter 9 is a so-called clock off time (tOFF) in the watchdog timer.
The output of which is connected to the fourth logic circuit 10.

【0032】第4の論理回路10は、第3のカウンタ9
の出力を用いてPRUN信号の異常開始点から間欠リセ
ットパルスの最初のLパルスを出力するまでの待ち時間
を設定する論理で構成される。
The fourth logic circuit 10 includes a third counter 9
Is used to set the waiting time from the abnormal start point of the PRUN signal to the output of the first L pulse of the intermittent reset pulse.

【0033】第3の記憶回路11は、第4の論理回路1
0の出力、つまり第4のカウンタ12を起動させるトリ
ガパルスをCK端子に入力することにより第4のカウン
タ12のリセット状態を決定する。つまり、そのQ出力
がLレベル(=初期状態)の時はカウンタリセット、ト
リガパルス入力によりHレベルとなるとカウンタ起動と
なる。
The third storage circuit 11 stores the fourth logic circuit 1
The reset state of the fourth counter 12 is determined by inputting an output of 0, that is, a trigger pulse for activating the fourth counter 12 to the CK terminal. That is, when the Q output is at the L level (= initial state), the counter is reset, and when the Q output is at the H level due to the input of the trigger pulse, the counter is activated.

【0034】第4のカウンタ12は、間欠リセット信号
(tRH=繰り返し信号H幅、tRL=繰り返し信号L
幅)をカウントするカウンタであり、その出力は第5の
論理回路13および第6の論理回路15の2箇所に接続
されている。
The fourth counter 12 outputs an intermittent reset signal (tRH = repetition signal H width, tRL = repetition signal L
The output of the counter is connected to two points of a fifth logic circuit 13 and a sixth logic circuit 15.

【0035】第5の論理回路13は、第4のカウンタ1
2の出力を用いて、間欠リセット信号の繰り返し周期を
決める論理を構成しており、その出力を第4の記憶回路
14で記憶し、そのQ出力毎に第4のカウンタ12をリ
セットすることで、一定周期の繰り返し信号を得てい
る。
The fifth logic circuit 13 includes a fourth counter 1
The logic of determining the repetition period of the intermittent reset signal is configured by using the output of the second circuit 2. The output is stored in the fourth storage circuit 14, and the fourth counter 12 is reset every Q output. , A repetitive signal having a constant period is obtained.

【0036】また、第6の論理回路15は、第4のカウ
ンタ12の出力を用いて間欠リセット信号のH幅とL幅
の長さを決める論理を構成しており、その出力を第5の
記憶回路16で記憶することで、そのQ出力(WRE
S)から所望の間欠リセットパルスを得ることが可能に
なる。
The sixth logic circuit 15 constitutes a logic for determining the lengths of the H width and the L width of the intermittent reset signal using the output of the fourth counter 12, and outputs the output to the fifth logic. The Q output (WRE) is stored by the storage circuit 16.
A desired intermittent reset pulse can be obtained from S).

【0037】ここで、以上で述べたデジタルウォッチド
ッグタイマの概略動作を図6を用いて説明する。図6に
おいて、PRUN信号が正常の時は、第3のカウンタ9
は立上り/立下りエッジ検出パルスにより周期的にリセ
ットされるため、第4のカウンタ12も常時リセットさ
れ、結果としてWRES出力はHレベルを保持する。次
にPRUN信号の異常が続くと、PRUN異常から一定
時間(設計時に第4の論理回路10で設定)後に間欠リ
セットのトリガパルス(WDF)が出力され、このトリ
ガ信号により第4のカウンタ12が起動し、WRES出
力から間欠リセットパルスがL幅、H幅の順番で出力さ
れることになる。一般に、CPUはリセット中にはPR
UN信号を出力しないため、間欠リセットのLの期間
は、PRUN信号のカウントをマスクする必要がある。
WRES出力により第1のカウンタ2および第2のカウ
ンタ5がリセットされる構成となっているのは、この理
由による。
Here, the schematic operation of the digital watchdog timer described above will be described with reference to FIG. In FIG. 6, when the PRUN signal is normal, the third counter 9
Is periodically reset by the rising / falling edge detection pulse, the fourth counter 12 is also constantly reset, and as a result, the WRES output holds the H level. Next, when the PRUN signal continues to be abnormal, a trigger pulse (WDF) for an intermittent reset is output after a predetermined time (set by the fourth logic circuit 10 at the time of design) from the PRUN abnormality, and the fourth counter 12 is output by the trigger signal. Upon activation, an intermittent reset pulse is output from the WRES output in the order of L width and H width. Generally, during reset, the CPU
Since the UN signal is not output, it is necessary to mask the count of the PRUN signal during the L period of the intermittent reset.
This is the reason that the first counter 2 and the second counter 5 are reset by the WRES output.

【0038】なお、実施の形態の第1〜第6の論理回路
3,6,8,10,13,15は、カウンタ毎のクロッ
クパルスの周期およびそれぞれの速度の時定数をどの程
度に設定するかにより、論理パターンが変化するため、
一意的に規定されない。また、エッジ検出回路1および
第1〜第4のカウンタ2,5,9,12のクロック入力
は、各時定数および監視精度などを考慮して実施の形態
には異なるクロックとして記載したが、同一のクロック
でも問題ない。
The first to sixth logic circuits 3, 6, 8, 10, 13, and 15 of the embodiment set the period of the clock pulse for each counter and the time constant of each speed. Depending on the logical pattern,
Not uniquely specified. Although the clock inputs of the edge detection circuit 1 and the first to fourth counters 2, 5, 9, and 12 are described as different clocks in the embodiment in consideration of each time constant, monitoring accuracy, and the like, the same clock is used. No problem with the clock.

【0039】本構成のデジタルCPU監視回路では、P
RUN信号のH幅およびL幅の両方の長さを立上り/立
下りエッジ毎に監視し、PRUN異常が所定の時間継続
した場合に間欠リセットを出力する構成としているた
め、(1)従来のPRUN立上り周期監視方式では検知
が困難であったDuty異常やDuty・停止・周期変
動を含めたPRUNの複合異常を検出することができ
る、(2)H幅/L幅の各々の最小パルス/最大パルス
検知限および停止検知限、またクロックオフタイム、間
欠リセット時間(H幅/L幅)を個別に設定することが
でき、従来のPRUN立上り周期監視方式では、同じ時
定数でしか扱えなかった最大周期検知限と最大停止検知
限を、異なる時定数として扱うことが可能となる、とい
う利点もある。
In the digital CPU monitoring circuit of this configuration, P
Since the length of both the H width and the L width of the RUN signal is monitored for each rising / falling edge, and an intermittent reset is output when the PRUN abnormality continues for a predetermined time, (1) the conventional PRUN (2) Minimum pulse / maximum pulse of each of H width / L width, which can detect a duty abnormality and a composite abnormality of PRUN including a duty / stop / periodic variation, which were difficult to detect by the rising cycle monitoring method. The detection limit and the stop detection limit, as well as the clock off time and the intermittent reset time (H width / L width) can be set individually, and the maximum period that could be handled only by the same time constant in the conventional PRUN rising cycle monitoring method There is also an advantage that the detection limit and the maximum stop detection limit can be handled as different time constants.

【0040】さらに、従来例にて問題となっていた精度
(ばらつき)に関して、本実施の形態はフルデジタルで
あるため、(3)IC化した面積も小さく、外付素子も
発振回路のみとなるため、PRUN監視精度もほぼ発振
子の誤差程度(例:セラロック ばらつきおよび温特込
みで±1%)で済み、PRUN監視精度が格段に向上す
る、という利点もある。
Further, with respect to the accuracy (variation) which has been a problem in the conventional example, since the present embodiment is full digital, (3) the area formed into an IC is small, and the external element is only an oscillation circuit. For this reason, the PRUN monitoring accuracy is almost the same as the error of the oscillator (eg, ± 1% due to the variation of CERALOCK and the temperature), and there is an advantage that the PRUN monitoring accuracy is remarkably improved.

【0041】さらに(2)および(3)の効果より、
(4)素子ばらつきを殆ど考慮せず、PRUN信号に関
する各々の監視幅を任意に設定することが可能となる、
という利点もある。
Further, from the effects of (2) and (3),
(4) It is possible to arbitrarily set each monitoring width of the PRUN signal without considering the element variation.
There is also an advantage.

【0042】[0042]

【発明の効果】 以上説明してきたように本発明によれ
ば、その構成を論理回路を用いてPRUN信号のH幅お
よびL幅の両方を監視する方式としたため、PRUN信
号に関してDuty・周期などの複合異常状態の検出が
可能で、H幅/L幅の周期異常(最大および最小)検知
限・停止異常検知限を各々任意に設定でき、しかも精度
良く監視することが可能なCPU監視回路が実現できる
という効果が得られる。
As described above, according to the present invention, the configuration is such that both the H width and the L width of the PRUN signal are monitored using a logic circuit. A CPU monitoring circuit that can detect complex abnormal conditions, can set the H- / L-width period abnormality (maximum and minimum) detection limit and stop abnormality detection limit arbitrarily, and can monitor with high accuracy The effect that it can be obtained is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態を示す論理回路を用いた
CPU監視回路のブロック構成図である。
FIG. 1 is a block diagram of a CPU monitoring circuit using a logic circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施の形態に用いられたエッジ検出
回路のブロック構成図である。
FIG. 2 is a block diagram of an edge detection circuit used in the embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の実施の形態に用いられた第3の論理
回路を示す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a third logic circuit used in the embodiment of the present invention.

【図4】 実施の形態のCPU監視回路の一般的な動作
を説明するタイムチャート(その1)である。
FIG. 4 is a time chart (part 1) illustrating a general operation of the CPU monitoring circuit according to the embodiment;

【図5】 実施の形態のCPU監視回路の一般的な動作
を説明するタイムチャート(その2)である。
FIG. 5 is a time chart (part 2) illustrating a general operation of the CPU monitoring circuit according to the embodiment;

【図6】 実施の形態のCPU監視回路の一般的な動作
を説明するタイムチャート(その3)である。
FIG. 6 is a time chart (part 3) illustrating a general operation of the CPU monitoring circuit according to the embodiment;

【図7】 従来例のCPU監視回路を示す電気結線図で
ある。
FIG. 7 is an electrical connection diagram showing a conventional CPU monitoring circuit.

【図8】 従来例のCPU監視回路の一般的な動作を説
明するタイムチャートである。
FIG. 8 is a time chart illustrating a general operation of a conventional CPU monitoring circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 エッジ検出回路 2 第1のカウンタ 3 第1の論理回路 4 第1の記憶回路 5 第2のカウンタ 6 第2の論理回路 7 第2の記憶回路 8 第3の論理回路 9 第3のカウンタ 10 第4の論理回路 11 第3の記憶回路 12 第4のカウンタ 13 第5の論理回路 14 第4の記憶回路 15 第6の論理回路 16 第5の記憶回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Edge detection circuit 2 1st counter 3 1st logic circuit 4 1st memory circuit 5 2nd counter 6 2nd logic circuit 7 2nd memory circuit 8 3rd logic circuit 9 3rd counter 10 Fourth logic circuit 11 Third storage circuit 12 Fourth counter 13 Fifth logic circuit 14 Fourth storage circuit 15 Sixth logic circuit 16 Fifth storage circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 エッジ検出回路と、第1、第2、第3お
よび第4のカウンタと、第1、第2、第3、第4、第5
および第6の論理回路と、第1、第2、第3、第4及び
第5の記憶回路を備えたCPU監視回路であって、 前記エッジ検出回路は、CPUからの繰り返し監視パル
ス信号(以下、PRUN信号)を入力とし、第1のクロ
ックパルスに応じて、前記PRUN信号の立上りおよび
立下りエッジ検出信号を出力し、 前記第1のカウンタは、前記エッジ検出回路から出力さ
れる立上りエッジ検出信号および前記第5の記憶回路が
出力する間欠リセット信号が出力される毎にリセットさ
れると共に、第2のクロックパルスを受けてカウントを
行ない、カウント値を前記第1の論理回路へと出力し、 前記第1の論理回路は、前記第1のカウンタから出力さ
れるカウント値が論理値に到達すると、ばらつき許容範
囲に相当するウインドウ幅を前記第1の記憶回路へと出
力し、 前記第1の記憶回路は、前記第1の論理回路から出力さ
れたウインドウ幅と、前記エッジ検出回路から出力され
る立下り検出信号に基づいて、前記PRUN信号のH幅
の正常/異常判定を行ない、この結果を前記第3の論理
回路へと出力し、前記第2のカウンタは、前記エッジ検
出回路から出力される立下りエッジ検出信号および前記
第5の記憶回路が出力する間欠リセット信号が出力され
る毎にリセットされると共に、第2のクロックパルスを
受けてカウントを行ない、カウント値を前記第2の論理
回路へと出力し、 前記第2の論理回路は、前記第2のカウンタから出力さ
れるカウント値が論理値に到達すると、ばらつき許容値
に相当するウインドウ幅を前記第2の記憶回路へと出力
し、 前記第2の記憶回路は、前記第2の論理回路から出力さ
れたウインドウ幅と、前記エッジ検出回路から出力され
る立上り検出信号に基づいて、前記PRUN信号のL幅
の正常/異常判定を行ない、この結果を前記第3の論理
回路へと出力し、前記第3の論理回路は、前記第1の記
憶回路から出力される前記PRUN信号のH幅の正常/
異常判定結果と、前記第2の記憶回路から出力される前
記PRUN信号のL幅の正常/異常判定結果と、前記エ
ッジ検出回路から出力される前記PRUN信号のエッジ
検出信号に基づいて、前記PRUN信号のH幅およびL
幅の両方が正常か異常かを判定し、この結果を前記第3
のカウンタへと出力し、 前記第3のカウンタは、前記第3の論理回路から出力さ
れる判定結果に基づいてリセットされるとともに、第3
のクロックパルスを受けてカウントを行ない、カウント
値を前記第4の論理回路へ出力し、 前記第4の論理回路は、前記PRUN信号が異常と判定
された時点から間欠リセット信号の最初のLパルスを出
力するまでの待ち時間が設定されており、前記第3のカ
ウンタから出力されるカウント値が前記待ち時間となっ
た場合に、間欠リセット信号のトリガパルスを前記第3
の記憶回路へと出力し、 前記第3の記憶回路は、第3の論理回路が正常を示す信
号を出力する毎にリセットされ、このリセットに基づい
て、前記第4のカウンタをリセットすると共に、前記第
4の論理回路から間欠リセット信号のトリガパルスが出
力された場合には、前記第4のカウンタを起動させ、 前記第4のカウンタは、第4のクロックパルスを受けて
カウントを行ない、前記間欠リセット信号のトリガパル
スに対応して間欠リセット信号をカウントし、前記第5
の論理回路は、前記第4のカウンタのカウント値を用い
て、間欠リセット信号の繰り返し周期を決定し、 前記第4の記憶回路は、前記第5の論理回路で決定され
た間欠リセット信号の繰り返し周期を記憶すると共に、
決定された繰り返し周期ごとに、前記第4のカウンタを
リセットし、 前記第6の論理回路は、前記第4のカウンタのカウント
値を用いて、間欠リセット信号のH幅およびL幅の長さ
を決定し、 前記第5の記憶回路は、前記第6の論理回路で決定され
た間欠リセット信号のH幅およびL幅の長さを記憶し、
この記憶された間欠リセット信号ごとに、前記間欠リセ
ット信号を前記第1のカウンタおよび第2のカウンタへ
と出力することを特徴とするCPU監視回路。
1. An edge detection circuit, first, second, third, and fourth counters, and first, second, third, fourth, and fifth counters.
And a sixth logic circuit, and a first, second, third, fourth, and fifth storage circuit, wherein the edge detection circuit is configured to output a repetitive monitoring pulse signal (hereinafter, referred to as a “pulse signal”) from the CPU. , PRUN signal), and outputs a rising and falling edge detection signal of the PRUN signal in response to a first clock pulse. The first counter detects a rising edge output from the edge detection circuit. Each time the signal and the intermittent reset signal output by the fifth storage circuit are output, the reset is performed, and the count is performed in response to the second clock pulse, and the count value is output to the first logic circuit. When the count value output from the first counter reaches a logical value, the first logic circuit changes the window width corresponding to the variation allowable range to the first value. The first storage circuit outputs an H width of the PRUN signal based on a window width output from the first logic circuit and a falling detection signal output from the edge detection circuit. And outputs the result to the third logic circuit. The second counter determines whether the falling edge detection signal output from the edge detection circuit and the fifth storage circuit Each time the output intermittent reset signal is output, the reset is performed, and the count is performed in response to the second clock pulse, and the count value is output to the second logic circuit. When the count value output from the second counter reaches a logical value, a window width corresponding to the variation allowable value is output to the second storage circuit, and the second storage circuit 2 based on the window width output from the logic circuit 2 and the rising detection signal output from the edge detection circuit, and determines whether the L width of the PRUN signal is normal or abnormal. And the third logic circuit outputs a signal indicating whether the H width of the PRUN signal output from the first storage circuit is normal or not.
The PRUN signal is output based on the PRUN signal output from the second storage circuit, the L-width normal / abnormal determination result, and the PRUN signal output from the edge detection circuit. H width and L of signal
It is determined whether both widths are normal or abnormal.
The third counter is reset based on the determination result output from the third logic circuit, and the third counter is reset.
Counts and outputs the count value to the fourth logic circuit. The fourth logic circuit outputs the first L pulse of the intermittent reset signal from the time when the PRRUN signal is determined to be abnormal. Is set, and when the count value output from the third counter reaches the waiting time, the trigger pulse of the intermittent reset signal is set to the third time.
The third storage circuit is reset each time the third logic circuit outputs a signal indicating normality, and based on this reset, resets the fourth counter, When the trigger pulse of the intermittent reset signal is output from the fourth logic circuit, the fourth counter is started, and the fourth counter receives a fourth clock pulse and counts. The intermittent reset signal is counted according to the trigger pulse of the intermittent reset signal, and the fifth
The logic circuit determines the repetition period of the intermittent reset signal using the count value of the fourth counter, and the fourth storage circuit determines the repetition period of the intermittent reset signal determined by the fifth logic circuit. While memorizing the cycle,
Resetting the fourth counter for each determined repetition cycle, the sixth logic circuit uses the count value of the fourth counter to determine the lengths of the H width and the L width of the intermittent reset signal. The fifth storage circuit stores the lengths of the H width and the L width of the intermittent reset signal determined by the sixth logic circuit,
A CPU monitoring circuit for outputting the intermittent reset signal to the first counter and the second counter for each of the stored intermittent reset signals.
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