JP2855803B2 - シンチレーションカメラ - Google Patents
シンチレーションカメラInfo
- Publication number
- JP2855803B2 JP2855803B2 JP17317290A JP17317290A JP2855803B2 JP 2855803 B2 JP2855803 B2 JP 2855803B2 JP 17317290 A JP17317290 A JP 17317290A JP 17317290 A JP17317290 A JP 17317290A JP 2855803 B2 JP2855803 B2 JP 2855803B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- count
- counting
- correction
- pixel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Description
この発明は、シンチレーションカメラに関し、とくに
シンチレーションカメラの数え落し補正技術に関する。
シンチレーションカメラの数え落し補正技術に関する。
シンチレーションカメラにおいて、順次入射する多数
のガンマ線を各画素ごとに計数する場合、ガンマ線の入
射タイミングが接近してくるとガンマ線検出信号の間隔
が短くなり、それらの処理を行えなくなることに起因し
て数え落しが生じる。 すなわち、信号の分解時間をτとすると、真のガンマ
線入射カウント数Rinと、実際に計数されるカウント数R
oとの間には、 Ro＝Rin・ｅ−Rin・τ の関係がある。 そこで、従来より、所定のエネルギーウインド内に入
ったガンマ線検出信号のカウント数についてのみ、その
計数率に応じた数え落し補正を行うようにしている。
のガンマ線を各画素ごとに計数する場合、ガンマ線の入
射タイミングが接近してくるとガンマ線検出信号の間隔
が短くなり、それらの処理を行えなくなることに起因し
て数え落しが生じる。 すなわち、信号の分解時間をτとすると、真のガンマ
線入射カウント数Rinと、実際に計数されるカウント数R
oとの間には、 Ro＝Rin・ｅ−Rin・τ の関係がある。 そこで、従来より、所定のエネルギーウインド内に入
ったガンマ線検出信号のカウント数についてのみ、その
計数率に応じた数え落し補正を行うようにしている。
しかしながら、単に所定のエネルギーウインド内のカ
ウント数についてのみ数え落し補正を行うのでは、エネ
ルギーウインド内の信号とウインド外の信号とが重なっ
ても数え落しが生じるため、不正確な補正しか行えない
という問題がある。 この発明は、正確な数え落し補正を行うことができる
シンチレーションカメラを提供することを目的とする。
ウント数についてのみ数え落し補正を行うのでは、エネ
ルギーウインド内の信号とウインド外の信号とが重なっ
ても数え落しが生じるため、不正確な補正しか行えない
という問題がある。 この発明は、正確な数え落し補正を行うことができる
シンチレーションカメラを提供することを目的とする。
上記の目的を達成するため、この発明によるシンチレ
ーションカメラにおいては、放射線入射に応じて発光す
る手段と、該光を電気信号に変換する光電変換手段と、
該光電変換手段の出力から位置信号とエネルギー信号と
を得る手段と、該エネルギー信号の波高を分析して所定
のエネルギーウインド内の信号を検出する手段と、該信
号検出に応じて上記の位置信号により示される画素ごと
に計数を行う第１の計数手段と、上記位置信号とエネル
ギー信号とが生じるごとに該位置信号により示される画
素ごとの計数を行う第２の計数手段と、該第２の計数手
段の計数値に応じた数え落し補正係数があらかじめ記憶
されている補正係数記憶手段と、比較的短い時間間隔内
で得られた、第１の計数手段における各画素の計数値に
対して、対応する画素についての第２の計数手段の計数
値に応じて上記補正係数記憶手段から読み出された補正
係数を、上記時間間隔ごとに作用させることにより数え
落し補正を行う補正手段と、該補正後の計数値を画素ご
とに加算する手段とが備えられる。
ーションカメラにおいては、放射線入射に応じて発光す
る手段と、該光を電気信号に変換する光電変換手段と、
該光電変換手段の出力から位置信号とエネルギー信号と
を得る手段と、該エネルギー信号の波高を分析して所定
のエネルギーウインド内の信号を検出する手段と、該信
号検出に応じて上記の位置信号により示される画素ごと
に計数を行う第１の計数手段と、上記位置信号とエネル
ギー信号とが生じるごとに該位置信号により示される画
素ごとの計数を行う第２の計数手段と、該第２の計数手
段の計数値に応じた数え落し補正係数があらかじめ記憶
されている補正係数記憶手段と、比較的短い時間間隔内
で得られた、第１の計数手段における各画素の計数値に
対して、対応する画素についての第２の計数手段の計数
値に応じて上記補正係数記憶手段から読み出された補正
係数を、上記時間間隔ごとに作用させることにより数え
落し補正を行う補正手段と、該補正後の計数値を画素ご
とに加算する手段とが備えられる。
第１の計数手段では、所定のエネルギーウインド内に
入った放射線入射について、画素ごとのカウントが行わ
れる。 他方、第２の計数手段においては、位置信号とエネル
ギー信号とが生じるごとにその位置信号により示される
画素ごとの計数が行われる。すなわち、全エネルギー範
囲で、画素ごとの放射線入射に関するカウントが行われ
る。 そして全エネルギー範囲のカウント数に応じて補正係
数が読み出され、この補正係数によってエネルギーウイ
ンド内のカウント数についての数え落し補正が行われ
る。 したがって、数え落しの原因となる信号のオーバーラ
ップを生じる場合のすべてに対応した補正係数を用いて
数え落し補正を行うことができるため、正確な補正を行
うことができる。 しかも、この数え落し補正は、比較的短い時間間隔ご
とに、第１の係数手段における係数値に対して行うた
め、リアルタイムで行うことができる。
入った放射線入射について、画素ごとのカウントが行わ
れる。 他方、第２の計数手段においては、位置信号とエネル
ギー信号とが生じるごとにその位置信号により示される
画素ごとの計数が行われる。すなわち、全エネルギー範
囲で、画素ごとの放射線入射に関するカウントが行われ
る。 そして全エネルギー範囲のカウント数に応じて補正係
数が読み出され、この補正係数によってエネルギーウイ
ンド内のカウント数についての数え落し補正が行われ
る。 したがって、数え落しの原因となる信号のオーバーラ
ップを生じる場合のすべてに対応した補正係数を用いて
数え落し補正を行うことができるため、正確な補正を行
うことができる。 しかも、この数え落し補正は、比較的短い時間間隔ご
とに、第１の係数手段における係数値に対して行うた
め、リアルタイムで行うことができる。
以下、この発明の一実施例にかかるシンチレーション
カメラについて図面を参照しながら詳細に説明する。第
１図において、被検体（図示しない）から放射されたガ
ンマ線がコリメータ１を通ってシンチレータ２に入射し
て発光する。その光は多数のフォトマルチプライア（PM
T）３に導かれ、その入射光量に応じた大きさの信号を
生じる。この信号はプリアンプ４を経て重み付け演算回
路５に送られて、重み付け加算されＸ方向位置信号Ｘ、
Ｙ方向位置信号Ｙ及びエネルギー信号Ｚを得る。このエ
ネルギー信号Ｚは、波高分析器６においてその波高が分
析され、所定のエネルギーウインド内に入っている場合
に波高分析器６から出力を生じる。すなわち、エネルギ
ースペクトルがたとえば第２図のようになっている場
合、通常そのピークを中心にして20％の範囲のエネルギ
ーウインドが設定され、エネルギー信号Ｚの波高がこの
ウインド内に入っているかの分析がなされ、入っている
場合に出力が生じることになる。この波高分析器６の出
力が生じると、メモリ７の信号X,Yで指定されるアドレ
スに「１」が加算され、エネルギーウインド内に入射ガ
ンマ線についての各画素ごとの計数がなされる。 他方、メモリ８においては、エネルギー信号Ｚが生じ
るごとに、信号X,Yで指定されるアドレスに「１」が加
算され、全エネルギーについての（つまり100％のエネ
ルギーウインドについての）入射ガンマ線の計数がなさ
れる。 メモリ７はたとえば10msecの期間上記のデータ収集を
行い、その各画素ごとの積算カウント数データを補正回
路10に送る。これに対してメモリ８では、上記の期間よ
りも長い期間たとえば１秒の期間においてデータ収集を
行い、その各画素ごとの積算カウント数に対応した補正
計数がROMなどにより構成されるテーブル９より読み出
され、この補正計数が補正回路10においてメモリ７から
のカウント数に作用させられる。 たとえばある画素に関して、上記の20％ウインドに入
るものについての10msecごとの積算カウント数と、100
％ウインドに入るものについての10msecごとの積算カウ
ント数のそれぞれの時間的推移が、各々第３図A,Bに示
すようになっているとして、ある時点Ｔにおける、それ
以前の10msecの期間での20％ウインドに入るものの積算
カウント数がCtであったとする（これはメモリ７で得ら
れる）。そして、この時点Ｔより１秒前からの期間にお
ける100％ウインドについての積算カウント数は斜線で
示す部分の面積で表され、Ｑであったとする。 一方、全カウント数（100％ウインドのカウント数）R
oは、第４図のカーブに示すように、数え落しによっ
て、単位時間当りの入射ガンマ線数（計数率、cps:coun
t per second）Rinが増えるにしたがって、これに対す
る直線的な対応関係がなくなってきて低下するようにな
る。すなわち、上記のようにカウント数Ｑが得られたと
きの、実際の入射ガンマ線数はＰとなっているはずであ
る。そこで、このカーブに対応した補正係数をあらかじ
めテーブル９に記憶させておき、Ｑに相当する補正係数
（P/Q）を読み出してＱに作用させれば真の値Ｐを求め
ることができる。 この補正係数（P/Q）は、補正回路10においてカウン
ト数Ctに対して作用させられ、 Ct×（P/Q）＝Ct′＋αｔ が求められる。Ct′は整数であり、αｔは余りである。
このCt′の値はメインメモリ11の対応する画素のアドレ
スに加算され、αｔの値はサブメモリ12の対応する画素
のアドレスに加算される。そして、これらの加算が10ms
ecごとに行われ、αｔの積算値が１以上となったとき、
それを演算回路13が検出してメインメモリ11の値に
「１」を加算するとともに、サブメモリ12から「１」を
マイナスする。 ここで、補正係数を求めるのに、全カウント数Ｑを用
いているのは、数え落しは重み付け演算回路５の段階で
生じるもので、波高分析器６で20％ウインドに入るもの
として判定されたものの間で生じるものではないからで
ある。つまり、数え落しは、20％ウインドに入る信号が
相互に重なる場合だけでなく、そのウインドに入る信号
とウインド外の信号とが相互に重なる場合にも生じるか
らであり、20％ウインドに入る信号の計数率よりも全カ
ウントの計数率により対応するからである。 また、補正係数を求めるのに、Ctを求めるための積算
時間（10msec）よりも長い積算時間（１秒）での全カウ
ント数Ｑを用いたのは、比較的長い時間内での平均的な
計数率に対応した補正係数を用いた方がより好ましいか
らである。すなわち、10msecのような短い単位時間毎の
計数率を１秒ごとの計数率（cps）に変換して補正係数
を求めると、補正係数が10msecごとに大きく変動してし
まい、かえって不正確な補正しかできない結果となるか
らである。 したがって、10msecという非常に短い時間間隔で数え
落し補正が行われるため、リアルタイムでの正確な数え
落し補正が可能となる。
カメラについて図面を参照しながら詳細に説明する。第
１図において、被検体（図示しない）から放射されたガ
ンマ線がコリメータ１を通ってシンチレータ２に入射し
て発光する。その光は多数のフォトマルチプライア（PM
T）３に導かれ、その入射光量に応じた大きさの信号を
生じる。この信号はプリアンプ４を経て重み付け演算回
路５に送られて、重み付け加算されＸ方向位置信号Ｘ、
Ｙ方向位置信号Ｙ及びエネルギー信号Ｚを得る。このエ
ネルギー信号Ｚは、波高分析器６においてその波高が分
析され、所定のエネルギーウインド内に入っている場合
に波高分析器６から出力を生じる。すなわち、エネルギ
ースペクトルがたとえば第２図のようになっている場
合、通常そのピークを中心にして20％の範囲のエネルギ
ーウインドが設定され、エネルギー信号Ｚの波高がこの
ウインド内に入っているかの分析がなされ、入っている
場合に出力が生じることになる。この波高分析器６の出
力が生じると、メモリ７の信号X,Yで指定されるアドレ
スに「１」が加算され、エネルギーウインド内に入射ガ
ンマ線についての各画素ごとの計数がなされる。 他方、メモリ８においては、エネルギー信号Ｚが生じ
るごとに、信号X,Yで指定されるアドレスに「１」が加
算され、全エネルギーについての（つまり100％のエネ
ルギーウインドについての）入射ガンマ線の計数がなさ
れる。 メモリ７はたとえば10msecの期間上記のデータ収集を
行い、その各画素ごとの積算カウント数データを補正回
路10に送る。これに対してメモリ８では、上記の期間よ
りも長い期間たとえば１秒の期間においてデータ収集を
行い、その各画素ごとの積算カウント数に対応した補正
計数がROMなどにより構成されるテーブル９より読み出
され、この補正計数が補正回路10においてメモリ７から
のカウント数に作用させられる。 たとえばある画素に関して、上記の20％ウインドに入
るものについての10msecごとの積算カウント数と、100
％ウインドに入るものについての10msecごとの積算カウ
ント数のそれぞれの時間的推移が、各々第３図A,Bに示
すようになっているとして、ある時点Ｔにおける、それ
以前の10msecの期間での20％ウインドに入るものの積算
カウント数がCtであったとする（これはメモリ７で得ら
れる）。そして、この時点Ｔより１秒前からの期間にお
ける100％ウインドについての積算カウント数は斜線で
示す部分の面積で表され、Ｑであったとする。 一方、全カウント数（100％ウインドのカウント数）R
oは、第４図のカーブに示すように、数え落しによっ
て、単位時間当りの入射ガンマ線数（計数率、cps:coun
t per second）Rinが増えるにしたがって、これに対す
る直線的な対応関係がなくなってきて低下するようにな
る。すなわち、上記のようにカウント数Ｑが得られたと
きの、実際の入射ガンマ線数はＰとなっているはずであ
る。そこで、このカーブに対応した補正係数をあらかじ
めテーブル９に記憶させておき、Ｑに相当する補正係数
（P/Q）を読み出してＱに作用させれば真の値Ｐを求め
ることができる。 この補正係数（P/Q）は、補正回路10においてカウン
ト数Ctに対して作用させられ、 Ct×（P/Q）＝Ct′＋αｔ が求められる。Ct′は整数であり、αｔは余りである。
このCt′の値はメインメモリ11の対応する画素のアドレ
スに加算され、αｔの値はサブメモリ12の対応する画素
のアドレスに加算される。そして、これらの加算が10ms
ecごとに行われ、αｔの積算値が１以上となったとき、
それを演算回路13が検出してメインメモリ11の値に
「１」を加算するとともに、サブメモリ12から「１」を
マイナスする。 ここで、補正係数を求めるのに、全カウント数Ｑを用
いているのは、数え落しは重み付け演算回路５の段階で
生じるもので、波高分析器６で20％ウインドに入るもの
として判定されたものの間で生じるものではないからで
ある。つまり、数え落しは、20％ウインドに入る信号が
相互に重なる場合だけでなく、そのウインドに入る信号
とウインド外の信号とが相互に重なる場合にも生じるか
らであり、20％ウインドに入る信号の計数率よりも全カ
ウントの計数率により対応するからである。 また、補正係数を求めるのに、Ctを求めるための積算
時間（10msec）よりも長い積算時間（１秒）での全カウ
ント数Ｑを用いたのは、比較的長い時間内での平均的な
計数率に対応した補正係数を用いた方がより好ましいか
らである。すなわち、10msecのような短い単位時間毎の
計数率を１秒ごとの計数率（cps）に変換して補正係数
を求めると、補正係数が10msecごとに大きく変動してし
まい、かえって不正確な補正しかできない結果となるか
らである。 したがって、10msecという非常に短い時間間隔で数え
落し補正が行われるため、リアルタイムでの正確な数え
落し補正が可能となる。
この発明のシンチレーションカメラによれば、数え落
しに関する正確な補正をリアルタイムで行うことができ
る。
しに関する正確な補正をリアルタイムで行うことができ
る。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図はエ
ネルギースペクトルを示すグラフ、第３図はカウント数
の時間的推移を示すグラフ、第４図は真のガンマ線入射
数とカウント数との関係を表すグラフである。 １……コリメータ、２……シンチレータ、３……フォト
マルチプライア、４……プリアンプ、５……重み付け演
算回路、６……波高分析器、７、８……画像収集用メモ
リ、９……補正係数用テーブル、10……補正回路、11…
…画像収集用メインメモリ、12……画像収集用サブメモ
リ、13……演算回路。
ネルギースペクトルを示すグラフ、第３図はカウント数
の時間的推移を示すグラフ、第４図は真のガンマ線入射
数とカウント数との関係を表すグラフである。 １……コリメータ、２……シンチレータ、３……フォト
マルチプライア、４……プリアンプ、５……重み付け演
算回路、６……波高分析器、７、８……画像収集用メモ
リ、９……補正係数用テーブル、10……補正回路、11…
…画像収集用メインメモリ、12……画像収集用サブメモ
リ、13……演算回路。
Claims (1)
- 【請求項１】放射線入射に応じて発光する手段と、該光
を電気信号に変換する光電変換手段と、該光電変換手段
の出力から位置信号とエネルギー信号とを得る手段と、
該エネルギー信号の波高を分析して所定のエネルギーウ
インド内の信号を検出する手段と、該信号検出に応じて
上記の位置信号により示された画素ごとに計数を行う第
１の計数手段と、上記位置信号とエネルギー信号とが生
じるごとに該位置信号により示される画素ごとの計数を
行う第２の計数手段と、該第２の計数手段の計数値に応
じた数え落し補正係数があらかじめ記憶されている補正
係数記憶手段と、比較的短い時間間隔内で得られた、第
１の計数手段における各画素の計数値に対して、対応す
る画素についての第２の計数手段の計数値に応じて上記
補正係数記憶手段から読み出された補正係数を、上記時
間間隔ごとに作用させることにより数え落し補正を行う
補正手段と、該補正後の計数値を画素ごとに加算する手
段とを備えることを特徴とするシンチレーションカメ
ラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17317290A JP2855803B2 (ja) | 1990-06-30 | 1990-06-30 | シンチレーションカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17317290A JP2855803B2 (ja) | 1990-06-30 | 1990-06-30 | シンチレーションカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0462493A JPH0462493A (ja) | 1992-02-27 |
| JP2855803B2 true JP2855803B2 (ja) | 1999-02-10 |
Family
ID=15955428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17317290A Expired - Lifetime JP2855803B2 (ja) | 1990-06-30 | 1990-06-30 | シンチレーションカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2855803B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3566384B2 (ja) * | 1995-03-29 | 2004-09-15 | 株式会社東芝 | ガンマカメラ |
| JP2012007899A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線測定装置 |
| JP5171891B2 (ja) * | 2010-07-01 | 2013-03-27 | 三菱電機株式会社 | 放射線測定装置 |
| JP7217528B2 (ja) * | 2019-10-24 | 2023-02-03 | 株式会社リガク | 処理装置、システム、ｘ線測定方法およびプログラム |
-
1990
- 1990-06-30 JP JP17317290A patent/JP2855803B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0462493A (ja) | 1992-02-27 |
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