JP2854213B2 - Cleaning equipment - Google Patents
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- JP2854213B2 JP2854213B2 JP6056893A JP6056893A JP2854213B2 JP 2854213 B2 JP2854213 B2 JP 2854213B2 JP 6056893 A JP6056893 A JP 6056893A JP 6056893 A JP6056893 A JP 6056893A JP 2854213 B2 JP2854213 B2 JP 2854213B2
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えば液晶ディスプレ
イ等の製造工程において、ガラス等からなる角型基板の
洗浄工程に用いられる洗浄装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cleaning apparatus used in a process of cleaning a rectangular substrate made of glass or the like in a process of manufacturing a liquid crystal display or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】例えば、TFTカラー液晶パネルは、ガ
ラス基板上の各画素ごとに薄膜トランジスタ(TFT)
を設けるもので、その製造工程におけるフォトリソグラ
フィープロセスでは、3μm〜10μmパターンの微細
加工が行われる。したがって、ガラス基板に付着してい
る塵埃等の異物が、歩留りに大きく影響する。このた
め、例えば、フォトリソグラフィープロセスにおけるレ
ジスト塗布前には、ガラス基板を洗浄して上記塵埃等を
極力除去するようになっている。2. Description of the Related Art For example, a TFT color liquid crystal panel has a thin film transistor (TFT) for each pixel on a glass substrate.
In the photolithography process in the manufacturing process, fine processing of a 3 μm to 10 μm pattern is performed. Therefore, foreign substances such as dust adhering to the glass substrate greatly affect the yield. For this reason, for example, before applying a resist in a photolithography process, the glass substrate is washed to remove the dust and the like as much as possible.
【0003】このような洗浄装置は、図6に示すよう
に、ガラス基板13の中央部を真空吸着により固定する
スピンチャック(支持台)11が本体部10の略中央位
置に設けられると共に、純水を噴射する基板洗浄液噴射
ノズル15と、上記スピンチャック11上に吸着固定さ
れたガラス基板13をブラシ洗浄するための洗浄ブラシ
21とが設けられた構成を有している。In such a cleaning apparatus, as shown in FIG. 6, a spin chuck (support table) 11 for fixing a central portion of a glass substrate 13 by vacuum suction is provided at a substantially central position of a main body 10 and a pure chuck is provided. It has a configuration in which a substrate cleaning liquid jet nozzle 15 for jetting water and a cleaning brush 21 for brush cleaning the glass substrate 13 adsorbed and fixed on the spin chuck 11 are provided.
【0004】そして、スピンチャック11上に吸着固定
されたガラス基板13を回転させながら、基板洗浄液噴
射ノズル15から純水を噴射し、必要に応じて洗浄ブラ
シ21を用いて、ガラス基板13の洗浄を行うようにな
っている。[0004] While rotating the glass substrate 13 adsorbed and fixed on the spin chuck 11, pure water is jetted from the substrate cleaning liquid jet nozzle 15, and the glass substrate 13 is cleaned with a cleaning brush 21 as necessary. It is supposed to do.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記構成の
洗浄装置にて、ガラス基板13を洗浄した場合、基板洗
浄液噴射ノズル15から噴出された水が跳ね飛ばされて
飛散し、この水が周辺部を汚染するという問題が生じて
いる。即ち、ガラス基板13は、四角形からなるため、
回転中心から基板端までの距離が部位によって異なり、
基板洗浄液噴射ノズル15から噴出された水に、長距離
側の基板側面、即ち、四隅側の基板側面が当たると、当
たった水が跳ね飛ばされて飛散し、上記のような不具合
を引き起こすこととなる。However, when the glass substrate 13 is cleaned by the cleaning apparatus having the above structure, the water jetted from the substrate cleaning liquid jet nozzle 15 is splashed and scattered, and this water is dispersed in the peripheral portion. There is a problem of contamination. That is, since the glass substrate 13 has a rectangular shape,
The distance from the center of rotation to the edge of the board varies depending on the location,
If the long side of the substrate side, that is, the side surfaces of the four corners, hits the water jetted from the substrate cleaning liquid jet nozzle 15, the hit water is splashed and scattered, causing the above-described problem. Become.
【0006】また、回転中心から基板端までの距離が部
位によって異なるので、洗浄ブラシ21の端部側は、ガ
ラス基板13のエッジに繰り返し接触され、このとき
に、毛先部分が切削され、洗浄ブラシ21が短時間で老
朽化するという問題も生じている。同時に、このとき発
生する毛の破片にてガラス基板13が再び汚染され、洗
浄効果が低下するという問題も生じている。Since the distance from the center of rotation to the edge of the substrate varies depending on the region, the end of the cleaning brush 21 is repeatedly brought into contact with the edge of the glass substrate 13, and at this time, the tip of the brush is cut off and the cleaning is performed. There is also a problem that the brush 21 gets old in a short time. At the same time, there is also a problem that the glass substrate 13 is again contaminated by hair fragments generated at this time, and the cleaning effect is reduced.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明の洗浄装置は、上
記課題を解決するために、被洗浄基板を支持すると共に
回転させる支持台が設けられ、被洗浄基板を回転させな
がら洗浄液を基板表面に供給して洗浄する洗浄装置にお
いて、被洗浄基板の外周に嵌合されると共に、上面が被
洗浄基板の上面と同一平面を成し、かつ、被洗浄基板と
一体に回転する円形板が設けられていることを特徴とし
ている。In order to solve the above-mentioned problems, the cleaning apparatus of the present invention is provided with a support for supporting and rotating the substrate to be cleaned, and applying the cleaning liquid to the surface of the substrate while rotating the substrate to be cleaned. In the cleaning apparatus for supplying and cleaning the substrate to be cleaned, a circular plate is provided which is fitted to the outer periphery of the substrate to be cleaned, has an upper surface flush with the upper surface of the substrate to be cleaned, and rotates integrally with the substrate to be cleaned. It is characterized by being.
【0008】[0008]
【作用】上記の構成によれば、被洗浄基板の外周に嵌合
されると共に、上面が被洗浄基板の上面と同一平面を成
し、かつ、被洗浄基板と一体に回転する円形板が設けら
れているので、洗浄の際、被洗浄基板はこの円形板表面
に嵌め込まれた状態で洗浄されることとなる。したがっ
て、洗浄時、被洗浄基板の側面は露出せず、従来の装置
においては、四角形であった回転体が円形となり、回転
中の外周は常に同一軌道を通る円形板端となる。これに
より、従来のような、基板側面にて洗浄液(例えば水)
が跳ね飛ばされるような事態とはならず、周辺部が汚染
されることを抑制することができる。According to the above arrangement, there is provided a circular plate which is fitted to the outer periphery of the substrate to be cleaned, has an upper surface flush with the upper surface of the substrate to be cleaned, and rotates integrally with the substrate to be cleaned. Therefore, at the time of cleaning, the substrate to be cleaned is cleaned while being fitted on the surface of the circular plate. Therefore, at the time of cleaning, the side surface of the substrate to be cleaned is not exposed, and in the conventional apparatus, the rotating body, which has been square in the related art, becomes circular, and the outer periphery during rotation always becomes the end of a circular plate that passes through the same track. As a result, the cleaning liquid (for example, water)
Does not occur, and the surrounding portion can be prevented from being contaminated.
【0009】また、例えば前記したように、洗浄時に洗
浄ブラシを使用した場合、洗浄ブラシの毛に、繰り返し
ガラス基板のエッジが接触することがなくなるので、毛
の切削が抑制される。この結果、毛の破片による洗浄効
果の低下を抑制し、洗浄ブラシの寿命を延ばすことがで
きる。Further, for example, as described above, when a cleaning brush is used at the time of cleaning, the bristle of the cleaning brush does not repeatedly come into contact with the bristle of the cleaning brush, so that cutting of the bristle is suppressed. As a result, it is possible to suppress a reduction in the cleaning effect due to hair fragments, and to extend the life of the cleaning brush.
【0010】[0010]
【実施例】本発明の一実施例について図1ないし図4に
基づいて説明すれば、以下の通りである。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
【0011】TFT(薄膜トランジスタ)カラー液晶パ
ネルの製造におけるフォトリソグラフィーの工程では、
図4に示すようなレジスト塗布装置1が用いられる。こ
の装置の一端側には、複数のガラス基板を収納する送出
側カセットが装着されるローダ部2が設けられる一方、
他端側には、上記ローダ部2から一枚ずつ送られてくる
ガラス基板を受納側カセットに順次収納するアンローダ
部3が設けられている。In the step of photolithography in the production of a TFT (thin film transistor) color liquid crystal panel,
A resist coating apparatus 1 as shown in FIG. 4 is used. On one end side of the apparatus, a loader unit 2 is provided, on which a delivery-side cassette for accommodating a plurality of glass substrates is mounted.
On the other end side, there is provided an unloader section 3 for sequentially storing glass substrates sent one by one from the loader section 2 in a receiving-side cassette.
【0012】上記ローダ部2とアンローダ部3との間に
は、ローダ部2側から、ガラス基板の表面に純水をかけ
ながらブラシ洗浄を行う洗浄部4、洗浄後のガラス基板
の乾燥を行う脱水ベーク部5、HMDS(ヘキサメチレ
ンジシラザン)を塗布するHMDS処理部6、レジスト
を塗布するレジスト塗布部7、レジストの加熱乾燥を行
うプリベーク部8が順次設けられている。ローダ部2か
ら一枚ずつアンローダ部3に向かって送られるガラス基
板は、上記の各処理部4〜8を通過することによって、
洗浄処理とレジスト塗布処理とが順次行われるようにな
っている。Between the loader section 2 and the unloader section 3, from the loader section 2 side, a cleaning section 4 for performing brush cleaning while applying pure water to the surface of the glass substrate, and drying the glass substrate after cleaning. A dehydration bake section 5, an HMDS processing section 6 for applying HMDS (hexamethylene disilazane), a resist coating section 7 for applying a resist, and a pre-bake section 8 for heating and drying the resist are sequentially provided. The glass substrates sent one by one from the loader unit 2 toward the unloader unit 3 pass through the processing units 4 to 8 described above,
The cleaning process and the resist coating process are sequentially performed.
【0013】上記洗浄部4には、本発明を適用して構成
された洗浄装置が組込まれており、図1に示すように、
この洗浄装置の本体部10の略中央箇所には、円盤状の
回転自在なスピンチャック(支持台)11が設けられて
いる。このスピンチャック11の上面には吸着孔(図示
せず)が複数穿設されており、これら吸着孔は、スピン
チャック11の裏面中央から下方に延びる回転軸12内
を通して、図示しない真空ポンプに接続されるようにな
っている。これにより、スピンチャック11上にガラス
基板13(被洗浄基板)が載置されたとき、上記吸着孔
を通して作用する真空吸着力によって、ガラス基板13
がスピンチャック11に吸着固定される。上記回転軸1
2には、回転駆動源(図示せず)が連結されており、こ
の回転駆動源の駆動力にて、スピンチャック11が回転
可能となっている。The cleaning unit 4 incorporates a cleaning device constructed by applying the present invention, and as shown in FIG.
A disk-shaped rotatable spin chuck (support table) 11 is provided substantially at the center of the main body 10 of the cleaning apparatus. A plurality of suction holes (not shown) are formed in the upper surface of the spin chuck 11, and these suction holes are connected to a vacuum pump (not shown) through a rotation shaft 12 extending downward from the center of the back surface of the spin chuck 11. It is supposed to be. Thereby, when the glass substrate 13 (substrate to be cleaned) is placed on the spin chuck 11, the vacuum suction force acting through the suction hole causes the glass substrate 13 to be cleaned.
Is fixed to the spin chuck 11 by suction. The rotating shaft 1
A rotary drive source (not shown) is connected to 2, and the spin chuck 11 can be rotated by the driving force of the rotary drive source.
【0014】さらに、本実施例のスピンチャック11の
外周には、少なくともガラス基板13の対角線の長さと
等しい直径を有する円形プレート(円形板)9が嵌着さ
れている。この円形プレート9の上面には、ガラス基板
13の外周形状に応じた凹部9aが設けられており、こ
の凹部9aに、スピンチャック11に吸着固定されてい
るガラス基板13が嵌合されるようになっている。そし
て、この凹部9aの深さは、凹部9aにガラス基板13
が嵌合された際に、ガラス基板13の上面と円形プレー
ト9の上面とが同一平面を成すように設定されている。Further, a circular plate (circular plate) 9 having a diameter at least equal to the length of a diagonal line of the glass substrate 13 is fitted around the outer periphery of the spin chuck 11 of this embodiment. On the upper surface of the circular plate 9, a concave portion 9a corresponding to the outer peripheral shape of the glass substrate 13 is provided. The concave portion 9a is fitted so that the glass substrate 13 fixed by suction to the spin chuck 11 is fitted. Has become. The depth of the recess 9a is such that the glass substrate 13
When the is fitted, the upper surface of the glass substrate 13 and the upper surface of the circular plate 9 are set to be on the same plane.
【0015】一方、本体部10の上方は、スピンチャッ
ク11の側方をほぼ全周にわたって囲う形状のスピンカ
ップ14として形成されている。そして、スピンチャッ
ク11を挟んで図において左右に相対向する位置には、
基板洗浄液噴射ノズル15とブラシ洗浄液噴射ノズル1
6とがそれぞれスピンカップ14の上縁に沿って設けら
れている。基板洗浄液噴射ノズル15は、スピンチャッ
ク11の上面、すなわち、基板洗浄位置に向けて洗浄液
である純水を噴射させる噴射角度で設けられている。一
方、上記基板洗浄液噴射ノズル15の取付位置に対向す
る領域は、中間隔壁17にて上記基板洗浄位置から区画
されたブラシ待機ステーション18として形成されてお
り、ブラシ洗浄液噴射ノズル16は、このブラシ待機ス
テーション18に位置する洗浄ブラシ21に向けて純水
を噴射させるように設けられている。On the other hand, an upper portion of the main body 10 is formed as a spin cup 14 having a shape surrounding substantially the entire side of the spin chuck 11. Then, at positions facing left and right in the figure with the spin chuck 11 interposed therebetween,
Substrate cleaning liquid injection nozzle 15 and brush cleaning liquid injection nozzle 1
6 are provided along the upper edge of the spin cup 14. The substrate cleaning liquid injection nozzle 15 is provided at an injection angle at which pure water as a cleaning liquid is injected toward the upper surface of the spin chuck 11, that is, the substrate cleaning position. On the other hand, a region facing the mounting position of the substrate cleaning liquid injection nozzle 15 is formed as a brush standby station 18 partitioned from the substrate cleaning position by the intermediate partition wall 17, and the brush cleaning liquid injection nozzle 16 It is provided so that pure water is sprayed toward the cleaning brush 21 located at the station 18.
【0016】上記洗浄ブラシ21は、図2に示すよう
に、ガラス基板13の送り方向(図において上下方向)
に平行に配設されている。この洗浄ブラシ21の軸部2
2は、両端でそれぞれアーム部25・25により回転自
在に支持されると共に、上記アーム部25・25は図示
しない移動機構に連結されており、この移動機構によっ
て、洗浄ブラシ21は、図のようにブラシ待機ステーシ
ョン18内に位置する待機位置から、スピンチャック1
1上の基板洗浄位置へと移動し得るようになっている。
また、上記アーム部25・25を通して洗浄ブラシ21
はその軸部22が回転駆動機構(図示せず)にも連結さ
れている。As shown in FIG. 2, the cleaning brush 21 is moved in the direction in which the glass substrate 13 is fed (in the vertical direction in the figure).
It is arranged in parallel to. Shaft 2 of this cleaning brush 21
The arm 2 is rotatably supported at both ends by arm portions 25, 25, and the arm portions 25, 25 are connected to a moving mechanism (not shown). From the standby position located in the brush standby station 18, the spin chuck 1
1 to a substrate cleaning position.
Further, the cleaning brush 21 is passed through the arm portions 25.
The shaft 22 is also connected to a rotation drive mechanism (not shown).
【0017】なお、洗浄ブラシ21は上記のように円柱
形状をなしていることから、前記のブラシ洗浄液噴射ノ
ズル16は、図のように直管形状の純水供給パイプ16
aが洗浄ブラシ21と平行に配設されると共に、この純
水供給パイプ16aに所定の間隔で複数のノズル管16
b…を取付けて構成され、これにより、洗浄ブラシ21
のほぼ全長にわたっての純水の吹き付けが行われるよう
になっている。Since the cleaning brush 21 has a columnar shape as described above, the brush cleaning liquid injection nozzle 16 has a straight pure water supply pipe 16 as shown in FIG.
a is disposed in parallel with the cleaning brush 21 and a plurality of nozzle pipes 16 are arranged at predetermined intervals in the pure water supply pipe 16a.
b, so that the cleaning brush 21
Is sprayed over almost the entire length of pure water.
【0018】また、上記ブラシ待機ステーション18に
は、図1に示すように、待機位置に位置する洗浄ブラシ
21の下方に、塵埃除去具26が設けられており、洗浄
ブラシ21の回転を利用して、ブラシの毛を捌いて、毛
の根本付近に付着した塵埃を除去するようになってい
る。As shown in FIG. 1, the brush standby station 18 is provided with a dust remover 26 below the cleaning brush 21 located at the standby position. Then, the brush bristles are removed to remove dust adhering near the root of the bristles.
【0019】次に、上記構成のレジスト塗布装置におけ
る動作について説明する。前記ローダ部2からアンロー
ダ部3の方向に送り出されたガラス基板13は、まず、
洗浄部4へと送られ、スピンチャック11の外周に嵌着
された円形プレート9の凹部9aに嵌合される。その
後、スピンチャック11の吸着孔が前記の真空ポンプに
接続され、ガラス基板13はスピンチャック11上に吸
着固定される。次いで、スピンチャック11が回転駆動
されると共に、基板洗浄液噴射ノズル15から純水の噴
射が開始される。同時に、洗浄ブラシ21がブラシ待機
ステーション18において中間隔壁17を越える高さ位
置まで上昇移動された後、スピンチャック11上に移動
される。そして、スピンチャック11上に達すると、図
3に示すように、スピンチャック11と共に回転してい
る円形プレート9及びガラス基板13の表面に接するま
で下降される。この洗浄ブラシ21は、例えば100rpm〜
200rpmの回転数にて回転駆動されており、これによっ
て、ガラス基板13のブラシ洗浄が行われる。Next, the operation of the resist coating apparatus having the above configuration will be described. The glass substrate 13 sent from the loader unit 2 in the direction of the unloader unit 3 first
It is sent to the cleaning unit 4 and fitted into the recess 9 a of the circular plate 9 fitted on the outer periphery of the spin chuck 11. Thereafter, the suction holes of the spin chuck 11 are connected to the vacuum pump, and the glass substrate 13 is suction-fixed on the spin chuck 11. Next, the spin chuck 11 is driven to rotate, and the injection of pure water from the substrate cleaning liquid injection nozzle 15 is started. At the same time, the cleaning brush 21 is moved up to a position above the intermediate partition 17 at the brush standby station 18 and then moved onto the spin chuck 11. Then, upon reaching the spin chuck 11, as shown in FIG. 3, it is lowered until it comes into contact with the surfaces of the circular plate 9 and the glass substrate 13 rotating together with the spin chuck 11. The cleaning brush 21 is, for example, 100 rpm
The glass substrate 13 is rotationally driven at a rotation speed of 200 rpm, whereby the glass substrate 13 is brush-cleaned.
【0020】上記ブラシ洗浄を所定時間行った後、洗浄
ブラシ21は上記と逆の動作にてブラシ待機ステーショ
ン18へと戻され、また、基板洗浄液噴射ノズル15か
らの純水の噴射が停止されると共に、スピンチャック1
1の回転も停止される。そして、スピンチャック11に
おける吸着孔の真空ポンプへの連通状態が遮断されると
共に、上記吸着孔に大気が導入されてガラス基板13の
吸着固定が解除される。その後、上記のように洗浄の完
了したガラス基板13の洗浄部4からの取出しが行わ
れ、ガラス基板13は、次の脱水ベーク部5へと送られ
る一方、ローダ部2からガラス基板13が新たに洗浄部
4に送られて、この新たなガラス基板13に対し、洗浄
部4では上記同様の動作が繰返される。After the brush cleaning has been performed for a predetermined time, the cleaning brush 21 is returned to the brush standby station 18 in the reverse operation, and the injection of pure water from the substrate cleaning liquid injection nozzle 15 is stopped. With the spin chuck 1
The rotation of 1 is also stopped. Then, the communication state of the suction holes in the spin chuck 11 with the vacuum pump is cut off, and the air is introduced into the suction holes to release the glass substrate 13 from being fixed by suction. Thereafter, the glass substrate 13 that has been cleaned as described above is taken out of the cleaning unit 4 and the glass substrate 13 is sent to the next dehydration bake unit 5, while the glass substrate 13 is newly loaded from the loader unit 2. Then, the same operation as described above is repeated for the new glass substrate 13 in the cleaning unit 4.
【0021】上記のように洗浄済みのガラス基板13が
洗浄部4から取出され、新たなガラス基板13がスピン
チャック11上に吸着固定される間、洗浄ブラシ21は
ブラシ待機ステーション18の待機位置で保持され、洗
浄ブラシ21の回転を継続しながら、ブラシ洗浄液噴射
ノズル16を通して純水の噴射が行われることで、洗浄
される。While the glass substrate 13 having been cleaned as described above is taken out of the cleaning section 4 and a new glass substrate 13 is sucked and fixed on the spin chuck 11, the cleaning brush 21 is kept at the standby position of the brush standby station 18. The cleaning is performed by jetting pure water through the brush cleaning liquid jet nozzle 16 while holding the cleaning brush 21 while rotating the cleaning brush 21.
【0022】なお、前記レジスト塗布装置において、洗
浄部4でブラシ洗浄されたガラス基板13は、次いで、
脱水ベーク部5において、上記洗浄によりガラス基板に
付着した水分を蒸発させるための加熱乾燥が行われる。
その後、HMDS処理部6に送られて、表面にHMDS
(ヘキサメチレンジシラザン)が塗布される。次いで、
レジスト塗布部7において、レジストの塗布が行われ
る。上記HMDSは親水基と疎水基とを両端に有し、ガ
ラス基板13上において、レジストの密着を劣化させる
原因となる基板の吸着水分に親水基側が結合し、この結
果、疎水性のレジストが塗布される表面側に疎水基が位
置するようになって、レジストの密着性が強化される。In the resist coating apparatus, the glass substrate 13 brush-cleaned by the cleaning unit 4 is
In the dehydration bake section 5, heating and drying are performed to evaporate the water adhered to the glass substrate by the above washing.
After that, it is sent to the HMDS processing unit 6 and the HMDS
(Hexamethylene disilazane) is applied. Then
In the resist application section 7, application of a resist is performed. The HMDS has a hydrophilic group and a hydrophobic group at both ends, and on the glass substrate 13, the hydrophilic group side is bonded to the adsorbed moisture of the substrate, which causes deterioration of the adhesion of the resist. As a result, the hydrophobic resist is coated. The hydrophobic group is located on the surface side to be formed, and the adhesiveness of the resist is enhanced.
【0023】レジスト塗布部7においてレジストの塗布
されたガラス基板13は、次いで、プリベーク部8にお
いて、レジスト中の溶剤を揮発させてレジストの硬化を
促すと共にガラス基板13への密着力が上がるように加
熱処理が行われる。その後、ガラス基板13は、アンロ
ーダ部3に送り込まれ、受納側カセットに順次納められ
る。The glass substrate 13 coated with the resist in the resist coating section 7 is then evaporated in a pre-baking section 8 so that the solvent in the resist is volatilized to accelerate the curing of the resist and increase the adhesion to the glass substrate 13. Heat treatment is performed. Thereafter, the glass substrate 13 is sent to the unloader unit 3 and is sequentially stored in the receiving cassette.
【0024】以上の説明のように、上記実施例では、円
盤状の回転自在なスピンチャック11の外周に、スピン
チャック11と共に回転し、上面にガラス基板13が同
一平面を成すように嵌合される凹部9aを有する円形プ
レート9が嵌着されており、ガラス基板13は、洗浄
時、この円形プレート9に嵌合された状態で回転され
る。したがって、回転中の外周は、この円形プレート9
のプレート端となり、常に同一軌道を通り、従来装置を
用いて洗浄した場合のように、ガラス基板13の側面に
て、基板洗浄位置に供給された水が跳ね飛ばされるとい
うことがなくなり、周辺部の汚染を抑制することができ
る。As described above, in the above embodiment, the glass substrate 13 is fitted around the outer periphery of the disk-shaped rotatable spin chuck 11 so as to rotate together with the spin chuck 11 and to form the same plane on the upper surface. A circular plate 9 having a concave portion 9a is fitted, and the glass substrate 13 is rotated while being fitted to the circular plate 9 during cleaning. Therefore, the outer circumference during rotation is the circular plate 9
The water supplied to the substrate cleaning position does not splash off on the side surface of the glass substrate 13 as in the case where the cleaning is performed by using the conventional apparatus. Contamination can be suppressed.
【0025】また、同時に、洗浄ブラシ21の毛に、繰
り返しガラス基板13のエッジが接触することがなくな
るので、エッジによる毛先の切削が抑制され、洗浄ブラ
シ21の寿命が延び、同時に、洗浄ブラシ21の破片を
原因とするガラス基板13洗浄効果の低下が抑制される
ので、TFTカラー液晶パネルの製造歩留りが向上す
る。At the same time, the edge of the glass substrate 13 does not repeatedly come into contact with the bristles of the cleaning brush 21, so that the cutting of the bristles by the edge is suppressed, and the life of the cleaning brush 21 is extended. Since the reduction in the cleaning effect of the glass substrate 13 due to the fragments of the 21 is suppressed, the production yield of the TFT color liquid crystal panel is improved.
【0026】なお、上記実施例は、ガラス基板13の対
角長以上の長さを有するロール形状の洗浄ブラシ21を
備えた洗浄装置を例示したが、例えば、図5に示すよう
に、ガラス基板13の基板端まで移動可能に構成された
小さな洗浄ブラシ27を備えた洗浄装置、もしくは、ブ
ラシを用いない洗浄装置にも採用可能である。In the above embodiment, the cleaning device provided with the roll-shaped cleaning brush 21 having a length equal to or longer than the diagonal length of the glass substrate 13 has been exemplified. For example, as shown in FIG. The present invention can also be applied to a cleaning device having a small cleaning brush 27 configured to be movable to the 13 substrate ends, or a cleaning device not using a brush.
【0027】また、上記実施例においては、レジスト塗
布装置に組み込まれた洗浄装置を例に挙げて説明した
が、被洗浄基板が角型基板であれば、例えばフォトリソ
グラフィープロセス以外の工程で用いられる洗浄装置、
さらには、TFTカラー液晶パネル以外の被洗浄基板の
洗浄装置にも本発明を適用することが可能である。In the above embodiment, the cleaning apparatus incorporated in the resist coating apparatus has been described as an example. However, if the substrate to be cleaned is a square substrate, it is used in a process other than the photolithography process, for example. Cleaning equipment,
Further, the present invention can be applied to an apparatus for cleaning a substrate to be cleaned other than the TFT color liquid crystal panel.
【0028】[0028]
【発明の効果】本発明の洗浄装置は、以上のように、被
洗浄基板の外周に嵌合されると共に、上面が被洗浄基板
の上面と同一平面を成し、かつ、被洗浄基板と一体に回
転する円形板が設けられているものである。As described above, the cleaning apparatus of the present invention is fitted to the outer periphery of the substrate to be cleaned, the upper surface thereof is flush with the upper surface of the substrate to be cleaned, and is integrated with the substrate to be cleaned. Is provided with a rotating circular plate.
【0029】これにより、洗浄時、被洗浄基板の側面は
露出せず、従来の装置においては、四角形であった回転
体が円形となり、回転中の外周は常に同一軌道を通る円
形板端となる。これにより、従来のような、基板側面に
て洗浄液(例えば水)が跳ね飛ばされるような事態とは
ならず、周辺部が汚染されることを抑制することができ
る。As a result, at the time of cleaning, the side surface of the substrate to be cleaned is not exposed, and in the conventional apparatus, the rotating body, which has been square in the conventional apparatus, becomes circular, and the outer periphery during rotation becomes the end of a circular plate that always passes through the same track. . As a result, the cleaning liquid (for example, water) does not splash off on the side surface of the substrate as in the related art, and the peripheral portion can be prevented from being contaminated.
【0030】また、例えば前記したように、洗浄時に洗
浄ブラシを使用した場合、洗浄ブラシの毛に、繰り返し
ガラス基板のエッジが接触することがなくなるので、毛
の切削が抑制される。この結果、毛の破片による洗浄効
果の低下を抑制し、洗浄ブラシの寿命を延ばすことがで
きる。Further, for example, as described above, when a cleaning brush is used at the time of cleaning, the hair of the cleaning brush does not come into contact with the edge of the glass substrate repeatedly, so that the cutting of the hair is suppressed. As a result, it is possible to suppress a reduction in the cleaning effect due to hair fragments, and to extend the life of the cleaning brush.
【0031】これらの結果、本洗浄装置を、例えば液晶
ディスプレイの製造工程に採用することで、製造歩留ま
りを向上し、コスト削減を可能にするという効果を奏す
る。As a result, by adopting the present cleaning apparatus in, for example, a liquid crystal display manufacturing process, there is an effect that the manufacturing yield is improved and the cost can be reduced.
【図1】本発明の一実施例における洗浄装置の要部構成
を示す縦断面図である。FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a configuration of a main part of a cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】上記洗浄装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the cleaning device.
【図3】上記洗浄装置でのガラス基板の洗浄動作を示す
斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a cleaning operation of the glass substrate in the cleaning apparatus.
【図4】上記洗浄装置が組込まれているレジスト塗布装
置の構成を示す模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a configuration of a resist coating apparatus in which the cleaning device is incorporated.
【図5】上記洗浄装置以外に、本発明を採用することが
できる洗浄装置の要部を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic view showing a main part of a cleaning apparatus to which the present invention can be applied, in addition to the above-described cleaning apparatus.
【図6】従来の洗浄装置でのガラス基板の洗浄動作を示
す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing a cleaning operation of a glass substrate in a conventional cleaning apparatus.
9 円形プレート(円形板) 9a 凹部 11 スピンチャック(支持台) 13 ガラス基板(被洗浄基板) 15 基板洗浄液噴射ノズル 21 洗浄ブラシ Reference Signs List 9 circular plate (circular plate) 9a concave portion 11 spin chuck (support table) 13 glass substrate (substrate to be cleaned) 15 substrate cleaning liquid spray nozzle 21 cleaning brush
Claims (1)
持台が設けられ、被洗浄基板を回転させながら洗浄液を
基板表面に供給して洗浄する洗浄装置において、 被洗浄基板の外周に嵌合されると共に、上面が被洗浄基
板の上面と同一平面を成し、かつ、被洗浄基板と一体に
回転する円形板が設けられていることを特徴とする洗浄
装置。1. A cleaning device for supporting and rotating a substrate to be cleaned and rotating the substrate to be cleaned and supplying a cleaning liquid to the surface of the substrate while rotating the substrate, the cleaning device being fitted to the outer periphery of the substrate to be cleaned. And a circular plate whose upper surface is flush with the upper surface of the substrate to be cleaned, and which is provided with a circular plate that rotates integrally with the substrate to be cleaned.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6056893A JP2854213B2 (en) | 1993-03-19 | 1993-03-19 | Cleaning equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6056893A JP2854213B2 (en) | 1993-03-19 | 1993-03-19 | Cleaning equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06273919A JPH06273919A (en) | 1994-09-30 |
JP2854213B2 true JP2854213B2 (en) | 1999-02-03 |
Family
ID=13146002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2854213B2 (en) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100402901B1 (en) * | 2001-06-07 | 2003-10-22 | 주식회사 디엠에스 | Multi functional cleaning module of manufacturing apparatus for liquid crystal display device and Cleaning apparatus using the same |
US7513262B2 (en) * | 2002-09-30 | 2009-04-07 | Lam Research Corporation | Substrate meniscus interface and methods for operation |
JP2007225810A (en) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Hoya Corp | Spin washing method and spin washing device |
JP5312923B2 (en) | 2008-01-31 | 2013-10-09 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Substrate processing equipment |
JP2008124515A (en) * | 2008-02-13 | 2008-05-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Apparatus for cleansing substrate |
JP7020986B2 (en) * | 2018-04-16 | 2022-02-16 | 株式会社荏原製作所 | Board processing equipment and board holding equipment |
CN109772794B (en) * | 2019-02-20 | 2020-12-04 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Substrate cleaning machine |
-
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06273919A (en) | 1994-09-30 |
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