JP2004105848A - Equipment and method for cleaning substrate - Google Patents

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JP2004105848A JP2002271486A JP2002271486A JP2004105848A JP 2004105848 A JP2004105848 A JP 2004105848A JP 2002271486 A JP2002271486 A JP 2002271486A JP 2002271486 A JP2002271486 A JP 2002271486A JP 2004105848 A JP2004105848 A JP 2004105848A
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Yasuo Futami
二見 泰雄
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide equipment and a method for cleaning substrate for surely removing contamination of a substrate by preventing building-up of dusts, etc. on a washing brush, and detecting contamination of the brush. <P>SOLUTION: A brush-cleaning substrate 3 is provided to the outside periphery of a substrate 2. A 1st cleaning brush 7 is brought into contact with a surface 2A of the rotating substrate 2 and a surface 3A of the substrate 3 to scrub and clean the surface 2A of the substrate 2, which is cleaned by the brush-cleaning substrate 3. A 2nd cleaning-brush 12 for cleaning the substrate 3, and a detector 14 for detecting contamination of the 2nd cleaning-brush 12 are placed to appropriate places of the substrate 3 to detect timing for replacement of the brush 12. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板洗浄装置とその洗浄方法に関する。特に、基板表面をスクラブ洗浄する洗浄ブラシの洗浄方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
周知のように、液晶ライトバルブ等の液晶装置は、ガラス基板、石英基板等からなる2枚の基板間に液晶を封入して構成されており、一方の基板に、例えば薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下、TFTと称す)をマトリクス状に配置し、他方の基板に対向電極を配置して、両基板間に封止した液晶層の光学特性を画像信号に応じて変化させることで、画像表示を可能としている。
【0003】
また、TFTを配置したTFT基板と、このTFT基板に相対して配置される対向基板とは、別々に製造され、この両基板は、パネル組み立て工程において高精度に貼り合わされた後、液晶が封入されるようになっている。
【0004】
このパネル組立工程は、先ず、各基板の製作工程において夫々製造されたTFT基板と対向基板とを対向させ、その対向面、即ち、対向基板及びTFT基板の液晶層と接する面上に、液晶分子を基板面に沿って配向させるための配向膜を形成する。この配向膜は、例えばポリイミドを約数十ナノメータの厚さで印刷することにより形成される。その後、焼成を行い、さらに、電圧無印加時の液晶分子の配列を決定させるためのラビング処理を施す。次いで、一方の基板上の端辺に接着剤となるシール部を形成し、このシール部を用いてTFT基板と対向基板を貼り合わせ、アライメントを施しながら圧着硬化させ、その後シール部の一部に設けられた切り欠きを介して液晶を封入するといった手法が用いられている。
【0005】
ここで、ラビング処理とは、配向膜表面に細かい溝を形成して配向膜を配向異方性の膜にするものであり、配向膜に一定方向のラビング処理を施すことで、液晶分子の配列を規定することができる。
【0006】
ところで、このような配向膜形成時の焼成及びラビング処理において、焼成時並びにラビング処理作業中に、多量の塵埃が発生して基板表面に付着してしまい、基板のパターン不良を起こしてしまうという問題がある。そこで、配向膜印刷、並びに焼成後に行われる両基板のラビング処理後に、基板表面に付着した塵埃を除去するための洗浄工程が行われており、この洗浄工程で用いられる基板洗浄装置および基板洗浄方法は、特許文献1等に種々開示されている。
【0007】
上記特許文献1に開示された基板洗浄装置および基板洗浄方法は、図13に示すように、回動軸121と、この回動軸121に軸支され、回動軸によって回動する円形状の回動台120と、この回動台120の端縁部から上方に延出し、基板200の周面を保持する複数の保持ピン123と、回動台120の側近に配設されたブラシ洗浄機構127と、このブラシ洗浄機構127のアーム軸129に軸支され、基板200の表面を洗浄するスポンジ状の洗浄ブラシ126と、超音波振動装置131、及び振動アーム軸130により構成され、回動台120側近に配設された超音波振動機構128と、この超音波振動機構128の振動アーム軸130に取り付けられ、基板200の表裏両面に超音波振動を伴う洗浄液を供給する一対のノズル124とで構成されている。
【0008】
このように構成された上記基板洗浄装置においては、回動軸121によって回動する基板200の上下面に、超音波振動機構128によって超音波振動が伴う洗浄液を、往復運動するノズル124より供給し、さらに、ブラシ洗浄機構127によって操作される洗浄ブラシ126を回動しながら基板表面に当接させることにより、基板200の表裏両面の汚れをスクラブ洗浄するようにしている。
【0009】
【特許文献1】
特開2002−124504号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
このように、上記特許文献1に開示されている基板洗浄装置及び基板洗浄方法では、洗浄ブラシ126で基板200の表面をスクラブ洗浄することにより基板の汚れを除去している。しかしながら、この方法では基板200から除去された塵埃等の一部は、洗浄ブラシ126側に再付着し、洗浄ブラシ126に汚れが蓄積されてしまう。この塵埃等が付着した洗浄ブラシ126を用いて次に洗浄する基板の洗浄を行うと、洗浄ブラシ126に付着した塵埃等を逆に基板側に再付着させてしまうことがあり、洗浄不良が生じるという問題があった。また、洗浄ブラシ126の汚染を確認できる手段がないため、汚れた洗浄ブラシに気付かずに使い続けてしまう虞があった。
【0011】
さらに、洗浄ブラシ126による基板のスクラブ洗浄は、規定位置のみしか洗浄していないため、基板200の規定位置の汚れしか洗浄できないといった問題があった。
【0012】
本発明は上記問題に着目してなされたものであり、その目的は、洗浄ブラシへの塵埃等の蓄積を防止すると共に、洗浄ブラシの汚染の検出を可能とすることにより、確実に基板の汚れを除去することができる基板洗浄装置とその洗浄方法を提供するにある。
【0013】
【課題を解決するための手段及び作用】
本発明に係る基板洗浄装置の一つの態様としては、回転台に取り付けた基板に洗浄ブラシを当接させて摺動させることにより、上記基板の表面を洗浄する基板洗浄装置において、上記基板の外周に、上記洗浄ブラシを洗浄するためのブラシ洗浄基板を配設したことを特徴とする。
【0014】
また、本発明の基板洗浄装置としては、基板の外周に配設されたブラシ洗浄基板と、上記基板を取り付ける回転台と、回転する上記基板の表面、及び上記ブラシ洗浄基板の表面に当接する洗浄ブラシとを具備し、上記洗浄ブラシは、上記基板の表面を洗浄するとともに上記ブラシ洗浄基板によって洗浄されることを特徴とする。
【0015】
本発明の基板洗浄装置によれば、回転台に取り付けられ、同回転台と共に回転する基板の表面及びブラシ洗浄基板の表面に、洗浄ブラシが当接することにより、基板表面は洗浄され、また、洗浄ブラシもブラシ洗浄基板により洗浄され、洗浄ブラシへの汚れの再付着を防止することができるという効果を有する。
【0016】
また、本発明の基板洗浄装置としては、上記洗浄ブラシは、回転する上記基板及び上記ブラシ洗浄基板に対し、前記基板の中心から上記ブラシ洗浄基板の外側に向かって半径方向に摺動して順次当接し、上記基板の表面を洗浄することを特徴とする。
【0017】
この構成によれば、洗浄ブラシは、回転する基板及びブラシ洗浄基板に対し、前記基板の中心から上記ブラシ洗浄基板の外側に向かって半径方向に摺動して順次当接するので、上記基板及び上記ブラシ洗浄基板の表面を漏れなく摺動することができ、上記基板表面並びに上記洗浄ブラシを確実に洗浄することができるという効果を有する。
【0018】
さらに、本発明の基板洗浄装置としては、上記洗浄ブラシは、洗浄によって付着した前記基板表面の汚れを、上記ブラシ洗浄基板の表面を摺動することによって同ブラシ洗浄基板に付着させることを特徴とする。
【0019】
この構成によれば、洗浄ブラシが回転する基板に対して、半径方向に移動し、基板の表面の塵埃等の汚れを落し、またブラシ洗浄基板の表面を摺動することにより、洗浄ブラシに付着した基板表面の汚れをブラシ洗浄基板に付着させることで、表面全体を確実に洗浄することができ、洗浄ブラシもブラシ洗浄基板により洗浄されるため、洗浄ブラシへの汚れの再付着を防止することができるという効果を有する。
【0020】
また、本発明の基板洗浄装置としては、上記ブラシ洗浄基板は、上記基板の外周面に圧着によって当接していることを特徴とする。
【0021】
この構成によれば、洗浄ブラシが回転する基板に対して、半径方向に移動することにより、上記洗浄ブラシにより洗浄された前記基板表面の汚れを、上記基板の外周面に当接した前記ブラシ洗浄基板に付着させることができ、また、上記基板の外周面を前記ブラシ洗浄基板で保持することができるという効果を有する。
【0022】
また、本発明の基板洗浄装置としては、上記ブラシ洗浄基板は、上記回転台に対し、真空吸引チャックにより上記基板とともに取り付けられていることを特徴とする。
【0023】
この構成によれば、ブラシ洗浄基板が基板と共に、回転台に取り付けられていることにより、ブラシ洗浄基板は、常に基板の外周面と圧着当接していなくても良く、また取り付けも容易であるという効果を有する。
【0024】
また、本発明の基板洗浄装置としては、上記ブラシ洗浄基板と上記基板は、それぞれの表面が同一平面となるように取り付けられていることを特徴とする。
【0025】
この構成によれば、ブラシ洗浄基板と基板の表面が同一平面となっているので、洗浄ブラシの摺動動作を円滑にでき、かつ、1回の直線的な動作で基板表面、並びに洗浄ブラシを洗浄することができるという効果を有する。
【0026】
また、本発明の基板洗浄装置としては、上記ブラシ洗浄基板は、その表面が鏡面加工されていることを特徴とする。
【0027】
この構成によれば、ブラシ洗浄基板の表面が鏡面加工されていることにより、ブラシ洗浄基板の表面を当接する洗浄ブラシの汚れをより効果的に洗浄することができるという効果を有する。
【0028】
また、本発明の基板洗浄装置の1つの態様としては、回転する基板に洗浄液を供給して、該基板を洗浄する基板洗浄装置において、上記基板の外周に配設されたブラシ洗浄基板と、上記基板の表面及び上記ブラシ洗浄基板に当接して摺動する第1の洗浄ブラシと、上記ブラシ洗浄基板、及び前記基板を保持しながら回転させる基板駆動手段と、上記ブラシ洗浄基板に当接する第2の洗浄ブラシと、上記ブラシ洗浄基板の汚れを検出する汚れ検出器とを具備することを特徴とする。
【0029】
本発明の基板洗浄装置によれば、ブラシ洗浄基板に第2の洗浄ブラシを当接し、汚れ検出器を配設することにより、ブラシ洗浄基板の汚れを検出し、その汚れを洗浄することができるという効果を有する。
【0030】
また、本発明の基板洗浄装置としては、上記汚れ検出器は、上記ブラシ洗浄基板の汚れを検出するCCDカメラによって構成されることを特徴とする。
【0031】
この構成によれば、汚れ検出器にCCDカメラを用いて、汚れを観察することにより、より正確にブラシ洗浄基板の汚れを検出することができると共に、第2の洗浄ブラシの交換時期を検出することができるという効果を有する。
【0032】
本発明の基板洗浄装置の洗浄方法の1つの態様としては、回転台に取り付けた基板に洗浄ブラシを当接させて摺動させることにより、上記基板の表面を洗浄する基板の洗浄工程において、上記基板の外周に配設したブラシ洗浄基板により、上記洗浄ブラシを洗浄する工程とを具備したことを特徴とする。
【0033】
また、本発明の基板洗浄装置の洗浄方法は、基板の外周にブラシ洗浄基板を配設する工程と、上記基板を回転台に取り付ける工程と、回転する上記基板の表面、及び上記ブラシ洗浄基板の表面に洗浄ブラシを当接させる工程と、上記洗浄ブラシが、上記基板の表面を洗浄する工程と、上記洗浄ブラシが上記ブラシ洗浄基板によって洗浄される工程とを具備したことを特徴とする。
【0034】
本発明の基板洗浄装置の洗浄方法によれば、回転台に取り付けられ、同回転台と共に回転する基板の表面及びブラシ洗浄基板の表面に、洗浄ブラシが当接する工程により、基板表面は洗浄され、また、洗浄ブラシもブラシ洗浄基板により洗浄され、洗浄ブラシへの汚れの再付着を防止することができるという効果を有する。
【0035】
さらに、本発明の基板洗浄装置の洗浄方法は、基板の外周にブラシ洗浄基板を配設する工程と、上記基板と上記ブラシ洗浄基板を回転台上に真空吸引作用により取り付ける工程と、回転する上記基板の表面にノズルを向け、前記ノズルから洗浄液を吹き付ける工程と、回転する上記基板の表面に第1の洗浄ブラシを当接させ、同洗浄ブラシを基板の半径方向に移動させて基板表面を洗浄し、基板表面の汚れを上記ブラシ洗浄基板に付着させる工程と、上記ブラシ洗浄基板に上記第1の洗浄ブラシを摺接させることで前記第1の洗浄ブラシを洗浄する工程と、上記ブラシ洗浄基板を第2の洗浄ブラシにより洗浄する工程と、上記第2の洗浄ブラシの汚れを汚れ検出器により検出する工程とからなることを特徴とする。
【0036】
本発明の基板洗浄装置の洗浄方法によれば、回転する基板表面、及びブラシ洗浄基板の表面に、第1の洗浄ブラシが基板の半径方向に移動して摺接することにより、確実に基板表面の汚れを洗浄し、その汚れをブラシ洗浄基板に付着させることができ、かつ、洗浄ブラシもブラシ洗浄基板によって洗浄されるので、第1の洗浄ブラシに汚れの再付着を防止することができるという効果を有する。さらに、第2の洗浄ブラシにより、ブラシ洗浄基板を洗浄することにより、第2の洗浄ブラシに汚れの再付着を防止することができるという効果を有する。
【0037】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【0038】
図1は、本発明の一実施の形態である基板洗浄装置の構成の概略を一部を断面にして示した正面図、図2は、図1中の基板及びブラシ洗浄基板のみを示す平面図、図3乃至図6は、図1の基板洗浄装置の洗浄工程を説明するための正面図である。
【0039】
図1に示すように、基板洗浄装置1は、例えば石英等の平板で構成された円形状をなす基板2を洗浄するための装置であり、リング状のブラシ洗浄基板3と、回転装置5と、この回転装置5から上方に延出し、前記回転装置のオン動作によって回転する回転軸6と、この回転軸6に下面中央を軸支され、該回転軸6によって回転する円形状の回転台4と、この回転台4の内部に配設され、基板2並びにブラシ洗浄基板3を、下面から図示しない真空装置により吸引保持するための真空吸引チャック11と、回転装置5に支持アームによって取り付けられていて、ブラシ洗浄基板3に当接し、ブラシ洗浄基板3の汚れを清掃する第2の洗浄ブラシ12と、この第2の洗浄ブラシ12に配設され、ブラシ洗浄基板3の汚染状態を検出するCCDカメラ等からなる汚れ検出器14と、回転装置5に支持アームによって取り付けられていて、基板洗浄時に種々の洗浄液を基板2上に供給する洗浄ノズル13と、基板洗浄時に基板2の表面及びブラシ洗浄基板3の表面に当接し、基板2の表面を洗浄する、例えばポリビニルアルコール(以下、PBCと称す)等で構成された第1の洗浄ブラシ7と、第1の洗浄ブラシ7の動作を制御する第1の洗浄ブラシ駆動装置10と、この第1の洗浄ブラシ駆動装置10により制御され、第1の洗浄ブラシ7を基板の半径方向に移動させる第1の伸縮アーム8並びに第1の洗浄ブラシ7の基板表面に対する昇降動作を行う第2の伸縮アーム9とで構成されている。
【0040】
上記ブラシ洗浄基板3は、表面が鏡面加工されたシリコン、あるいは基板2と同じ材質等で構成され、嵌合部を介して基板2に圧着させて当接し、基板2の外周面を保持するとともに、基板2の汚れを付着させ、第1の洗浄ブラシ7を洗浄するためのものである。
【0041】
尚、本発明の一実施の形態における基板洗浄装置は、基板を1枚づつ洗浄する枚葉式の洗浄装置である。
【0042】
次に、このように構成された基板洗浄装置によって洗浄される基板2及び洗浄ブラシ7の洗浄方法について説明する。
【0043】
まず、図2に示すように、上記基板洗浄装置1で洗浄される、基板2の外周面に対して、表面3Aが鏡面加工されたリング状のブラシ洗浄基板3を、その嵌合部3a並びに3bを介して、基板2の表面2Aと同一平面となるように圧着させて当接し、基板2の外周面を保持する。
【0044】
次に、ブラシ洗浄基板3により外周を保持された基板2及びブラシ洗浄基板3を、上記基板洗浄装置1の回転台4上に載置し、真空吸引チャック11により固定する。その後、回転装置5の電源をオンすると、基板2及びブラシ洗浄基板3は、回転軸6の回転により回転台4と共に回転する。このとき、第2の洗浄ブラシ12は、ブラシ洗浄基板3に当接している。この状態で、基板2の洗浄を開始する。
【0045】
まず、図3に示すように、洗浄ノズル13から例えば純水等の洗浄液を、回転する基板2の表面2Aに向かって吹き付ける。次に、第1の洗浄ブラシ駆動装置10の制御により、第1の伸縮アーム8を伸縮させ、第1の洗浄ブラシ7を基板2の回転中心位置と対向する上方に配置し、次いで第2の伸縮アーム9を縮小させ、第1の洗浄ブラシ7を、基板2の表面2Aの回転中心に当接させる。
【0046】
続いて図4に示すように、第1の洗浄ブラシ7を、第2の洗浄ブラシ12が固設された位置以外の方向に低速でブラシ洗浄基板3の外周縁部まで移動させる。すると、基板表面2Aは、この洗浄ブラシ7の1回の摺動動作により、スクラブ洗浄され、基板2の表面2Aに付着していた、例えば基板製造工程における焼成処理時に付着したSiO2やポリシリコン等の塵埃は、第1の洗浄ブラシ7に付着する。
【0047】
尚、第1の洗浄ブラシ7は、上述したようにPVA(ポリビニルアルコール)等の材質で構成されているため、純水等を用いた洗浄においては、第1の洗浄ブラシ7自体が純水等を含むため、毛状部材で構成された洗浄ブラシを用いた場合よりも付着した塵埃が離れないようになっている。
【0048】
さらに、図5に示すように、第1の洗浄ブラシ7を、回転するブラシ洗浄基板3の表面3Aに摺動させながら、ブラシ洗浄基板3から離間する方向に第1の伸縮アーム8によって移動させる。すると、第1の洗浄ブラシ7は、上述したように鏡面加工されたブラシ洗浄基板3の表面3A上を摺動することによって、第1の洗浄ブラシ7に付着した塵埃は、ブラシ洗浄基板3の表面3Aに付着し、第1の洗浄ブラシ7は、ブラシ洗浄基板3によって洗浄される。
【0049】
また、ブラシ洗浄基板3に付着された塵埃は、ブラシ洗浄基板3に当接した第2の洗浄ブラシ12に付着され洗浄される。この第2の洗浄ブラシ12の汚染は洗浄終了後、即ち、回転台4及び基板2並びにブラシ洗浄基板3の回転停止時に、第2の洗浄ブラシ12に配設された汚れ検出器14により汚れの具合が検出される。
【0050】
最後に、図6に示すように、第1の洗浄ブラシ駆動装置10の制御により、第2の伸縮アーム9が上方に延出することにより、第1の洗浄ブラシ7は基板2の上方に離間する。
【0051】
このように本発明の一実施の形態を示す基板洗浄装置とその洗浄方法においては、洗浄ノズル13から洗浄液が供給され、回転する基板2の表面2A、並びにブラシ洗浄基板3の表面3Aに第1の洗浄ブラシ7が当接し、この第1の洗浄ブラシ7が基板2の回転中心から半径方向にブラシ洗浄基板3の外側まで直線的に1回摺動するだけで、基板2の表面2A上の塵埃は、洗浄液とともに第1の洗浄ブラシ7に付着し、基板2の表面2Aをスクラブ洗浄することができる。
【0052】
また、塵埃が付着した第1の洗浄ブラシ7がブラシ洗浄基板3の表面3Aを摺動することにより、第1の洗浄ブラシ7の塵埃は、ブラシ洗浄基板3の表面3Aに付着するため、第1の洗浄ブラシ7は、ブラシ洗浄基板3によって洗浄され、次の洗浄工程に、第1の洗浄ブラシ7の汚染を持ち込み塵埃の再付着を防止することができる。また、第1の洗浄ブラシ7は、基板2上、並びにブラシ洗浄基板3上を直線的に1回摺動するだけで、洗浄を行うことができるため洗浄工程の効率化、並びに装置の小型化を図ることができる。
【0053】
さらに、第1の洗浄ブラシ7を洗浄したことによりブラシ洗浄基板3の表面3Aに付着した塵埃は、第2の洗浄ブラシ12によって洗浄されるため、ブラシ洗浄基板3の表面3Aを常にクリーンな状態に保つことができ、かつ、第2の洗浄ブラシ12の汚染状態を汚れ検出器14が検出するため、第2の洗浄ブラシ12の交換時期を適切に検出することができ、ブラシ洗浄基板3に第2の洗浄ブラシ12の汚れの再付着を防止することができる。
【0054】
尚、上述した本発明の一実施の形態においては、基板2並びにブラシ洗浄基板3は、真空吸引チャック11によって回転台4に固定、保持されるようにしたが、これに限らず、ブラシ洗浄基板3は、基板2の外周面に当接して圧着保持されるので、図7に示すように、基板2のみを回転台4に真空吸引し、ブラシ洗浄基板3を回転台で保持しなくても良いことは勿論である。
【0055】
また、図8に示すように、ブラシ洗浄基板3は、基板2の外周面全面に当接する必要はなく、基板2の外周面の中心より下面を圧着、当接するように、L字型に配設しても良く、この場合も、上述した本発明の一実施形態と同様に、第1の洗浄ブラシ7の半径方向への直線的な1回の摺動動作で、基板2の表面2A並びに第1の洗浄ブラシ7の洗浄を行うことができ、上述した本発明の一実施の形態と同様の効果が得られることは云うまでもない。
【0056】
また、図9に示すように、ブラシ洗浄基板3を基板2の外周面に圧着、当接させずに、上記外周面から離間させて真空吸引チャック11により回転台4に固定してもよく、この場合も、上述した本発明の一実施形態と同様に、第1の洗浄ブラシ7の半径方向への直線的な1回の摺動動作で、基板2の表面2A並びに第1の洗浄ブラシ7の洗浄を行うことができ、上述した本発明の一実施の形態と同様の効果が得られることは勿論である。
【0057】
さらに、上述した本発明の一実施形態においては、作業の効率化を図るため、第1の洗浄ブラシ7の1回の直線的な動作で基板等を洗浄するようにしたが、これに限らず、基板2の洗浄をより確実に行うために、第1の洗浄ブラシ7を基板2の表面2A上に複数回摺動させてスクラブ洗浄動作を行わせるようにしても良いことは云うまでもない。
【0058】
また、第1の洗浄ブラシ7の1回の直線的な動作で基板等を洗浄する必要がない場合には、図10並びに図11に示すように、ブラシ洗浄基板30、及び31の表面30A、31Aを基板2の表面2Aと同一平面をなすようにしなくとも良い。
【0059】
さらに、第1の洗浄ブラシ7は、基板2並びにブラシ洗浄基板3に当接する際には、第1の洗浄ブラシ7自体が回転しながら当接させるようにすればより一層洗浄効果が高まることは勿論である。
【0060】
また、上述した本発明の一実施形態においては、第1の洗浄ブラシ7を基板2の表面2A並びにブラシ洗浄基板3の表面3Aを摺動させながら移動させることにより、基板2の表面2A、及び第1の洗浄ブラシ7を洗浄するようにしたが、これに限らず、図12に示すように第1の洗浄ブラシ保持装置101及び支持アーム102並びに第1の洗浄ブラシ70を固定して、第1の洗浄ブラシ70に基板2の表面2Aを当接させ、第1の洗浄ブラシ保持装置101、支持アーム102、第1の洗浄ブラシ70、回転装置50、第2の洗浄ブラシ141、汚れ検出器140、洗浄ノズル142、回転台40、回転軸60から構成される基板洗浄装置100を、第2の洗浄ブラシ140が固設された位置以外の方向に、第1の洗浄ブラシ70がブラシ洗浄基板3の外側に至るまで移動させても同様の効果が得られることは、云うまでもない。
【0061】
尚、本発明に係る洗浄される基板は、液晶装置用基板に限るものではなく、電気泳動装置、EL装置や半導体装置等の基板にも適用できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態である基板洗浄装置の構成の概略を一部を断面にして示した正面図。
【図2】図1の基板洗浄装置における基板およびブラシ洗浄基板のみを示す平面図。
【図3】図1の基板洗浄装置の洗浄工程において、第1の洗浄ブラシが基板の回転中心に当接した状態を示す要部正面図。
【図4】図1の基板洗浄装置の洗浄工程において、第1の洗浄ブラシがブラシ洗浄基板まで摺動した状態を示す要部正面図。
【図5】図1の基板洗浄装置の洗浄工程において、第1の洗浄ブラシがブラシ洗浄基板の外方に移動した状態を示す要部正面図。
【図6】図1の基板洗浄装置の洗浄工程において、第1の洗浄ブラシが基板外方の上方に移動した状態を示す要部正面図。
【図7】基板のみを回転台に真空吸引チャックによって固定した状態を示す要部正面図。
【図8】L字型に形成されたブラシ洗浄基板が、基板の外周面の中心より下面に圧着、当接した状態を示す要部正面図。
【図9】ブラシ洗浄基板を、基板から離間して回転台に固定した状態を示す要部正面図。
【図10】ブラシ洗浄基板の表面が基板の表面よりも高い位置に配設された状態を示す要部正面図。
【図11】ブラシ洗浄基板の表面が基板の表面よりも低い位置に配設された状態を示す要部正面図。
【図12】本発明の一実施の形態である基板洗浄装置の変形例を示す正面図。
【図13】従来の基板洗浄装置の一例を示す正面図。
【符号の説明】
1,100…基板洗浄装置
2…基板
2A…基板表面
3…ブラシ洗浄基板
3A…ブラシ洗浄基板表面
4,40…回転台
5,50…回転装置(基板駆動手段)
7,70…第1の洗浄ブラシ
11,110…真空吸引チャック
12,141…第2の洗浄ブラシ
13,142…洗浄ノズル
14,140…汚れ検出器
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate cleaning apparatus and a cleaning method thereof. In particular, the present invention relates to a cleaning method of a cleaning brush for scrub cleaning a substrate surface.
[0002]
[Prior art]
As is well known, a liquid crystal device such as a liquid crystal light valve has a configuration in which liquid crystal is sealed between two substrates such as a glass substrate and a quartz substrate, and a thin film transistor (Thin Film Transistor, In the following, TFTs are arranged in a matrix, an opposing electrode is arranged on the other substrate, and the optical characteristics of the liquid crystal layer sealed between the two substrates are changed according to an image signal, thereby displaying an image. It is possible.
[0003]
In addition, the TFT substrate on which the TFT is disposed and the opposing substrate disposed opposite to the TFT substrate are manufactured separately, and the two substrates are laminated with high precision in a panel assembling process and then filled with liquid crystal. It is supposed to be.
[0004]
In the panel assembling process, first, the TFT substrate and the opposing substrate manufactured in the manufacturing process of each substrate are opposed to each other, and the liquid crystal molecules are placed on the opposing surface, that is, the surface in contact with the liquid crystal layer of the opposing substrate and the TFT substrate. To form an alignment film for orienting the substrate along the substrate surface. This alignment film is formed, for example, by printing polyimide with a thickness of about several tens of nanometers. After that, baking is performed, and further, a rubbing treatment is performed to determine the arrangement of the liquid crystal molecules when no voltage is applied. Next, a seal portion serving as an adhesive is formed on one edge of one substrate, and the TFT substrate and the opposing substrate are bonded to each other using the seal portion, and pressure-bonded and cured while performing alignment. A method of enclosing a liquid crystal through a notch provided is used.
[0005]
Here, the rubbing treatment is to form a fine groove on the surface of the alignment film to make the alignment film anisotropically oriented. By subjecting the alignment film to a rubbing treatment in a certain direction, the alignment of the liquid crystal molecules is performed. Can be defined.
[0006]
By the way, in the firing and rubbing processing at the time of forming such an alignment film, a large amount of dust is generated during the firing and during the rubbing processing and adheres to the substrate surface, thereby causing a pattern defect of the substrate. There is. Therefore, after the alignment film printing and the rubbing treatment of both substrates performed after firing, a cleaning process for removing dust adhered to the substrate surface is performed. The substrate cleaning apparatus and the substrate cleaning method used in the cleaning process are used. Are variously disclosed in Patent Document 1 and the like.
[0007]
As shown in FIG. 13, the substrate cleaning apparatus and the substrate cleaning method disclosed in Patent Document 1 have a rotating shaft 121 and a circular shape that is supported by the rotating shaft 121 and is rotated by the rotating shaft. A turntable 120, a plurality of holding pins 123 extending upward from an edge of the turntable 120 and holding the peripheral surface of the substrate 200, and a brush cleaning mechanism disposed near the turntable 120. 127, a sponge-like cleaning brush 126 that is pivotally supported by the arm shaft 129 of the brush cleaning mechanism 127 and cleans the surface of the substrate 200, an ultrasonic vibration device 131, and a vibration arm shaft 130. And a pair of nozzles 1 attached to a vibration arm shaft 130 of the ultrasonic vibration mechanism 128 for supplying a cleaning liquid with ultrasonic vibration to both front and back surfaces of the substrate 200. 4 is composed of a.
[0008]
In the substrate cleaning apparatus configured as described above, the cleaning liquid accompanied by ultrasonic vibration is supplied from the reciprocating nozzle 124 to the upper and lower surfaces of the substrate 200 rotated by the rotation shaft 121 by the ultrasonic vibration mechanism 128. Further, the cleaning brush 126 operated by the brush cleaning mechanism 127 is rotated and brought into contact with the surface of the substrate while scrubbing dirt on both the front and back surfaces of the substrate 200.
[0009]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-124504
[Problems to be solved by the invention]
As described above, in the substrate cleaning apparatus and the substrate cleaning method disclosed in Patent Literature 1, the surface of the substrate 200 is scrub-cleaned by the cleaning brush 126 to remove dirt from the substrate. However, in this method, a part of the dust and the like removed from the substrate 200 adheres again to the cleaning brush 126 side, and dirt is accumulated on the cleaning brush 126. If the substrate to be cleaned next is cleaned using the cleaning brush 126 to which the dust or the like has adhered, the dust or the like adhered to the cleaning brush 126 may be re-adhered to the substrate side in reverse, resulting in poor cleaning. There was a problem. Further, since there is no means for confirming the contamination of the cleaning brush 126, there is a risk that the cleaning brush 126 may be continuously used without being noticed.
[0011]
Further, the scrub cleaning of the substrate by the cleaning brush 126 only cleans the specified position, so that there is a problem that only the dirt at the specified position of the substrate 200 can be cleaned.
[0012]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to prevent accumulation of dust and the like on a cleaning brush and to enable detection of contamination of the cleaning brush, thereby ensuring that the substrate is contaminated. It is an object of the present invention to provide a substrate cleaning apparatus and a cleaning method capable of removing the substrate.
[0013]
Means and Action for Solving the Problems
As one mode of the substrate cleaning apparatus according to the present invention, in a substrate cleaning apparatus for cleaning a surface of the substrate by bringing a cleaning brush into contact with a substrate mounted on a turntable and sliding the substrate, an outer periphery of the substrate is provided. In addition, a brush cleaning substrate for cleaning the cleaning brush is provided.
[0014]
Further, as a substrate cleaning apparatus of the present invention, there is provided a brush cleaning substrate disposed on an outer periphery of a substrate, a rotating table for mounting the substrate, a surface of the rotating substrate, and a cleaning contacting the surface of the brush cleaning substrate. A cleaning brush, wherein the cleaning brush cleans a surface of the substrate and is cleaned by the brush cleaning substrate.
[0015]
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the board | substrate washing | cleaning apparatus of this invention, a washing | cleaning brush abuts on the surface of the board | substrate attached to a turntable, and rotates with the same turntable, and the surface of a brush washing board | substrate. The brush is also cleaned by the brush cleaning substrate, which has the effect of preventing re-adhesion of dirt to the cleaning brush.
[0016]
Further, in the substrate cleaning apparatus of the present invention, the cleaning brush slides radially from the center of the substrate toward the outside of the brush cleaning substrate with respect to the rotating substrate and the brush cleaning substrate. Abutting and cleaning the surface of the substrate.
[0017]
According to this configuration, the cleaning brush slides radially from the center of the substrate toward the outside of the brush cleaning substrate and sequentially contacts the rotating substrate and the brush cleaning substrate. The surface of the brush cleaning substrate can be slid without leakage, and the surface of the substrate and the cleaning brush can be reliably cleaned.
[0018]
Further, in the substrate cleaning apparatus of the present invention, the cleaning brush is configured to cause the dirt on the substrate surface adhered by the cleaning to adhere to the brush cleaning substrate by sliding on the surface of the brush cleaning substrate. I do.
[0019]
According to this configuration, the cleaning brush moves in the radial direction with respect to the rotating substrate, removes dirt such as dust on the surface of the substrate, and adheres to the cleaning brush by sliding on the surface of the brush cleaning substrate. By adhering the dirt on the cleaned substrate surface to the brush cleaning substrate, the entire surface can be surely cleaned, and the cleaning brush is also cleaned by the brush cleaning substrate, so that re-adhesion of the dirt to the cleaning brush is prevented. This has the effect of being able to
[0020]
Further, in the substrate cleaning apparatus of the present invention, the brush cleaning substrate is in contact with the outer peripheral surface of the substrate by pressure bonding.
[0021]
According to this configuration, by moving the cleaning brush in the radial direction with respect to the rotating substrate, the dirt on the substrate surface cleaned by the cleaning brush is removed by the brush cleaning contacting the outer peripheral surface of the substrate. The brush cleaning substrate can be attached to the substrate, and the outer peripheral surface of the substrate can be held by the brush cleaning substrate.
[0022]
In the substrate cleaning apparatus of the present invention, the brush cleaning substrate is attached to the rotary table together with the substrate by a vacuum suction chuck.
[0023]
According to this configuration, since the brush cleaning substrate is attached to the turntable together with the substrate, the brush cleaning substrate does not always need to be in pressure contact with the outer peripheral surface of the substrate, and is easy to attach. Has an effect.
[0024]
Further, the substrate cleaning apparatus of the present invention is characterized in that the brush cleaning substrate and the substrate are mounted such that their surfaces are flush with each other.
[0025]
According to this configuration, the brush cleaning substrate and the surface of the substrate are flush with each other, so that the sliding operation of the cleaning brush can be performed smoothly, and the substrate surface and the cleaning brush can be cleaned by one linear operation. It has the effect that it can be washed.
[0026]
Further, the substrate cleaning apparatus of the present invention is characterized in that the brush cleaning substrate has a mirror-finished surface.
[0027]
According to this configuration, since the surface of the brush cleaning substrate is mirror-finished, there is an effect that dirt on the cleaning brush that contacts the surface of the brush cleaning substrate can be more effectively cleaned.
[0028]
In one aspect of the substrate cleaning apparatus of the present invention, a substrate cleaning apparatus for supplying a cleaning liquid to a rotating substrate and cleaning the substrate includes: a brush cleaning substrate disposed on an outer periphery of the substrate; A first cleaning brush that slides in contact with the surface of the substrate and the brush cleaning substrate, a substrate driving unit that rotates the brush cleaning substrate while holding the substrate, and a second cleaning brush that contacts the brush cleaning substrate. And a dirt detector for detecting dirt on the brush cleaning substrate.
[0029]
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the board | substrate cleaning apparatus of this invention, a dirt of a brush cleaning board | substrate can be detected and the dirt can be wash | cleaned by contacting a 2nd cleaning brush with a brush cleaning board | substrate, and arrange | positioning a dirt detector. This has the effect.
[0030]
Further, in the substrate cleaning apparatus according to the present invention, the dirt detector is constituted by a CCD camera for detecting dirt on the brush cleaning substrate.
[0031]
According to this configuration, the dirt on the brush cleaning substrate can be more accurately detected by observing the dirt using the CCD camera as the dirt detector, and the replacement time of the second cleaning brush is detected. It has the effect of being able to.
[0032]
As one mode of the cleaning method of the substrate cleaning apparatus of the present invention, in the substrate cleaning step of cleaning the surface of the substrate by bringing the cleaning brush into contact with the substrate attached to the turntable and sliding the cleaning brush, Cleaning the cleaning brush with a brush cleaning substrate disposed on the outer periphery of the substrate.
[0033]
Also, the cleaning method of the substrate cleaning apparatus of the present invention includes a step of arranging a brush cleaning substrate on an outer periphery of the substrate, a step of attaching the substrate to a turntable, a surface of the rotating substrate, and a method of cleaning the brush cleaning substrate. A cleaning brush is brought into contact with the surface; the cleaning brush cleans the surface of the substrate; and the cleaning brush is cleaned by the brush cleaning substrate.
[0034]
According to the cleaning method of the substrate cleaning apparatus of the present invention, the surface of the substrate is cleaned by a process in which the cleaning brush is in contact with the surface of the substrate and the surface of the brush cleaning substrate that is attached to the rotating table and rotates together with the rotating table. In addition, the cleaning brush is also cleaned by the brush cleaning substrate, which has the effect of preventing reattachment of dirt to the cleaning brush.
[0035]
Further, the cleaning method of the substrate cleaning apparatus according to the present invention includes a step of disposing a brush cleaning substrate on an outer periphery of the substrate; a step of attaching the substrate and the brush cleaning substrate to a rotating table by a vacuum suction operation; A step of directing a nozzle toward the surface of the substrate and spraying a cleaning liquid from the nozzle; and a step of bringing a first cleaning brush into contact with the rotating surface of the substrate and moving the cleaning brush in the radial direction of the substrate to clean the substrate surface. A step of attaching dirt on the surface of the substrate to the brush cleaning substrate; a step of cleaning the first cleaning brush by sliding the first cleaning brush on the brush cleaning substrate; And a step of detecting dirt on the second cleaning brush with a dirt detector.
[0036]
According to the cleaning method of the substrate cleaning apparatus of the present invention, the first cleaning brush moves in the radial direction of the substrate and slides on the surface of the rotating substrate and the surface of the brush cleaning substrate, so that the surface of the substrate can be surely removed. The dirt can be cleaned and the dirt can be adhered to the brush cleaning substrate, and the cleaning brush is also cleaned by the brush cleaning substrate, so that the dirt can be prevented from re-adhering to the first cleaning brush. Having. Further, by cleaning the brush cleaning substrate with the second cleaning brush, there is an effect that re-adhesion of dirt to the second cleaning brush can be prevented.
[0037]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0038]
FIG. 1 is a front view partially showing a cross section of a schematic configuration of a substrate cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view showing only a substrate and a brush cleaning substrate in FIG. 3 to 6 are front views for explaining the cleaning process of the substrate cleaning apparatus of FIG.
[0039]
As shown in FIG. 1, a substrate cleaning apparatus 1 is an apparatus for cleaning a circular substrate 2 made of a flat plate such as quartz, and includes a ring-shaped brush cleaning substrate 3, a rotating device 5, and the like. A rotating shaft 6 extending upward from the rotating device 5 and rotating when the rotating device is turned on, and a circular rotating table 4 supported at the center of the lower surface of the rotating shaft 6 and rotated by the rotating shaft 6. And a vacuum suction chuck 11 disposed inside the turntable 4 for sucking and holding the substrate 2 and the brush cleaning substrate 3 from below by a vacuum device (not shown), and attached to the rotation device 5 by a support arm. A second cleaning brush 12 that contacts the brush cleaning substrate 3 and cleans the dirt on the brush cleaning substrate 3, and a CCD that is disposed on the second cleaning brush 12 and detects a contamination state of the brush cleaning substrate 3. Mosquito A cleaning nozzle 13 which is attached to the rotating device 5 by a support arm and supplies various cleaning liquids onto the substrate 2 at the time of cleaning the substrate; a cleaning nozzle 13 for cleaning the surface of the substrate 2 and the brush at the time of cleaning the substrate; A first cleaning brush 7 made of, for example, polyvinyl alcohol (hereinafter, referred to as PBC) or the like, which is in contact with the surface of the substrate 3 to clean the surface of the substrate 2, and controls the operation of the first cleaning brush 7. A first cleaning brush driving device 10, a first telescopic arm 8 controlled by the first cleaning brush driving device 10 for moving the first cleaning brush 7 in a radial direction of the substrate, and a first cleaning brush 7 And a second telescopic arm 9 that performs a vertical movement on the substrate surface.
[0040]
The brush cleaning substrate 3 is made of mirror-finished silicon or the same material as the substrate 2, and is pressed against the substrate 2 via a fitting portion to be in contact with the substrate 2 to hold the outer peripheral surface of the substrate 2. , For cleaning the first cleaning brush 7 by adhering dirt on the substrate 2.
[0041]
The substrate cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention is a single-wafer cleaning apparatus for cleaning substrates one by one.
[0042]
Next, a method of cleaning the substrate 2 and the cleaning brush 7 to be cleaned by the substrate cleaning apparatus configured as described above will be described.
[0043]
First, as shown in FIG. 2, a ring-shaped brush cleaning substrate 3 whose surface 3A is mirror-finished with respect to the outer peripheral surface of the substrate 2 to be cleaned by the substrate cleaning apparatus 1 is fitted to its fitting portion 3a and The outer peripheral surface of the substrate 2 is held by pressing and abutting through the surface 3A so as to be flush with the surface 2A of the substrate 2.
[0044]
Next, the substrate 2 and the brush cleaning substrate 3, the outer circumferences of which are held by the brush cleaning substrate 3, are placed on the turntable 4 of the substrate cleaning apparatus 1 and fixed by the vacuum suction chuck 11. Thereafter, when the power of the rotation device 5 is turned on, the substrate 2 and the brush cleaning substrate 3 rotate together with the turntable 4 by the rotation of the rotation shaft 6. At this time, the second cleaning brush 12 is in contact with the brush cleaning substrate 3. In this state, the cleaning of the substrate 2 is started.
[0045]
First, as shown in FIG. 3, a cleaning liquid such as pure water is sprayed from the cleaning nozzle 13 toward the surface 2A of the rotating substrate 2. Next, under the control of the first cleaning brush driving device 10, the first telescopic arm 8 is extended and retracted, and the first cleaning brush 7 is disposed above the substrate 2 so as to oppose the rotation center position of the substrate 2, and then the second The telescopic arm 9 is reduced, and the first cleaning brush 7 is brought into contact with the rotation center of the surface 2A of the substrate 2.
[0046]
Subsequently, as shown in FIG. 4, the first cleaning brush 7 is moved to the outer peripheral edge of the brush cleaning substrate 3 at a low speed in a direction other than the position where the second cleaning brush 12 is fixed. Then, the substrate surface 2A is scrub-cleaned by one sliding operation of the cleaning brush 7, and is adhered to the surface 2A of the substrate 2, for example, SiO2 or polysilicon adhered at the time of the baking process in the substrate manufacturing process. Dust adheres to the first cleaning brush 7.
[0047]
Since the first cleaning brush 7 is made of a material such as PVA (polyvinyl alcohol) as described above, in cleaning using pure water or the like, the first cleaning brush 7 itself becomes pure water or the like. Therefore, the attached dust is less likely to be separated than in the case where a cleaning brush made of a hairy member is used.
[0048]
Further, as shown in FIG. 5, the first cleaning brush 7 is moved by the first telescopic arm 8 in a direction away from the brush cleaning substrate 3 while sliding on the surface 3A of the rotating brush cleaning substrate 3. . Then, the first cleaning brush 7 slides on the mirror-finished surface 3A of the brush cleaning substrate 3 as described above, so that the dust adhered to the first cleaning brush 7 is removed from the brush cleaning substrate 3. The first cleaning brush 7 attached to the surface 3A is cleaned by the brush cleaning substrate 3.
[0049]
Further, the dust adhered to the brush cleaning substrate 3 is adhered to the second cleaning brush 12 in contact with the brush cleaning substrate 3 and is cleaned. The contamination of the second cleaning brush 12 is determined by the dirt detector 14 disposed on the second cleaning brush 12 after the cleaning is completed, that is, when the rotation of the turntable 4, the substrate 2, and the brush cleaning substrate 3 is stopped. The condition is detected.
[0050]
Finally, as shown in FIG. 6, the first cleaning brush 7 is separated above the substrate 2 by the control of the first cleaning brush driving device 10 to extend the second telescopic arm 9 upward. I do.
[0051]
As described above, in the substrate cleaning apparatus and the cleaning method according to the embodiment of the present invention, the cleaning liquid is supplied from the cleaning nozzle 13 and the first surface 2A of the rotating substrate 2 and the first surface 3A of the brush cleaning substrate 3 are firstly cleaned. The first cleaning brush 7 abuts on the surface 2A of the substrate 2 by linearly sliding once from the center of rotation of the substrate 2 to the outside of the brush cleaning substrate 3 linearly. The dust adheres to the first cleaning brush 7 together with the cleaning liquid, and can scrub clean the surface 2A of the substrate 2.
[0052]
In addition, since the first cleaning brush 7 to which the dust adheres slides on the surface 3A of the brush cleaning substrate 3, the dust of the first cleaning brush 7 adheres to the surface 3A of the brush cleaning substrate 3. The first cleaning brush 7 is cleaned by the brush cleaning substrate 3, and the contamination of the first cleaning brush 7 can be brought into the next cleaning step to prevent reattachment of dust. Further, the first cleaning brush 7 can perform cleaning only by sliding once linearly on the substrate 2 and the brush cleaning substrate 3, so that the efficiency of the cleaning process and the size of the apparatus can be reduced. Can be achieved.
[0053]
Further, dust adhering to the surface 3A of the brush cleaning substrate 3 by cleaning the first cleaning brush 7 is cleaned by the second cleaning brush 12, so that the surface 3A of the brush cleaning substrate 3 is always kept in a clean state. , And the contamination detector 14 detects the contamination state of the second cleaning brush 12, so that the replacement time of the second cleaning brush 12 can be appropriately detected. The re-adhesion of dirt on the second cleaning brush 12 can be prevented.
[0054]
In the above-described embodiment of the present invention, the substrate 2 and the brush cleaning substrate 3 are fixed and held on the rotary table 4 by the vacuum suction chuck 11, but the present invention is not limited to this. 7 is held in pressure contact with the outer peripheral surface of the substrate 2, so as shown in FIG. 7, it is not necessary to vacuum-suction only the substrate 2 on the turntable 4 and hold the brush cleaning substrate 3 on the turntable. The good thing is, of course.
[0055]
Further, as shown in FIG. 8, the brush cleaning substrate 3 does not need to contact the entire outer peripheral surface of the substrate 2, but is arranged in an L-shape so that the lower surface is pressed and contacted from the center of the outer peripheral surface of the substrate 2. In this case as well, in the same manner as in the above-described embodiment of the present invention, the surface 2A of the substrate 2 and the surface 2A of the substrate 2 can be moved by one linear sliding operation in the radial direction of the first cleaning brush 7. Needless to say, the first cleaning brush 7 can be cleaned, and the same effects as those of the above-described embodiment of the present invention can be obtained.
[0056]
As shown in FIG. 9, the brush cleaning substrate 3 may be separated from the outer peripheral surface and fixed to the rotary table 4 by the vacuum suction chuck 11 without being pressed and brought into contact with the outer peripheral surface of the substrate 2, Also in this case, as in the above-described embodiment of the present invention, the surface 2A of the substrate 2 and the first cleaning brush 7 can be moved by one linear sliding operation of the first cleaning brush 7 in the radial direction. It is needless to say that the same effect as that of the above-described embodiment of the present invention can be obtained.
[0057]
Further, in the above-described embodiment of the present invention, the substrate and the like are cleaned by one linear operation of the first cleaning brush 7 in order to improve the work efficiency, but the present invention is not limited to this. Needless to say, in order to perform the cleaning of the substrate 2 more reliably, the first cleaning brush 7 may be slid over the surface 2A of the substrate 2 a plurality of times to perform the scrub cleaning operation. .
[0058]
When it is not necessary to clean the substrate or the like by one linear operation of the first cleaning brush 7, as shown in FIGS. 10 and 11, the surfaces 30A of the brush cleaning substrates 30 and 31, 31A does not have to be flush with the surface 2A of the substrate 2.
[0059]
Further, when the first cleaning brush 7 contacts the substrate 2 and the brush cleaning substrate 3, the cleaning effect can be further enhanced if the first cleaning brush 7 is rotated and contacted. Of course.
[0060]
In the above-described embodiment of the present invention, the first cleaning brush 7 is moved while sliding the surface 2A of the substrate 2 and the surface 3A of the brush cleaning substrate 3 so that the surface 2A of the substrate 2 and Although the first cleaning brush 7 is cleaned, the present invention is not limited to this. The first cleaning brush holding device 101, the support arm 102, and the first cleaning brush 70 are fixed as shown in FIG. The surface 2A of the substrate 2 is brought into contact with the first cleaning brush 70, and the first cleaning brush holding device 101, the support arm 102, the first cleaning brush 70, the rotating device 50, the second cleaning brush 141, the dirt detector The first cleaning brush 70 is moved in a direction other than the position where the second cleaning brush 140 is fixed to the substrate cleaning apparatus 100 including the cleaning nozzle 140, the cleaning nozzle 142, the turntable 40, and the rotating shaft 60. The same effect can be moved up to the outside of the cleaning substrate 3 is obtained, without saying.
[0061]
The substrate to be cleaned according to the present invention is not limited to a substrate for a liquid crystal device, but can be applied to a substrate of an electrophoretic device, an EL device, a semiconductor device, or the like.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view partially showing a cross section of a schematic configuration of a substrate cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view showing only a substrate and a brush cleaning substrate in the substrate cleaning apparatus of FIG. 1;
3 is an essential part front view showing a state in which a first cleaning brush is in contact with a rotation center of the substrate in a cleaning step of the substrate cleaning apparatus of FIG. 1;
4 is an essential part front view showing a state in which a first cleaning brush slides to a brush cleaning substrate in a cleaning step of the substrate cleaning apparatus of FIG. 1;
5 is a main part front view showing a state in which a first cleaning brush has moved to the outside of the brush cleaning substrate in a cleaning step of the substrate cleaning apparatus of FIG. 1;
FIG. 6 is a main part front view showing a state in which the first cleaning brush has moved upward outside the substrate in the cleaning step of the substrate cleaning apparatus of FIG. 1;
FIG. 7 is an essential part front view showing a state in which only the substrate is fixed to the rotary table by a vacuum suction chuck.
FIG. 8 is an essential part front view showing a state in which the L-shaped brush cleaning substrate is pressed and abutted on the lower surface from the center of the outer peripheral surface of the substrate.
FIG. 9 is an essential part front view showing a state in which the brush cleaning substrate is fixed to the turntable while being separated from the substrate;
FIG. 10 is a main part front view showing a state where the surface of the brush cleaning substrate is disposed at a position higher than the surface of the substrate.
FIG. 11 is a main part front view showing a state where the surface of the brush cleaning substrate is disposed at a position lower than the surface of the substrate.
FIG. 12 is a front view showing a modification of the substrate cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention;
FIG. 13 is a front view showing an example of a conventional substrate cleaning apparatus.
[Explanation of symbols]
1,100 substrate cleaning device 2 substrate 2A substrate surface 3 brush cleaning substrate surface 3A brush cleaning substrate surface 4,40 rotating table 5,50 rotating device (substrate driving means)
7, 70 first cleaning brushes 11, 110 vacuum suction chucks 12, 141 second cleaning brushes 13, 142 cleaning nozzles 14, 140 dirt detector

Claims (13)

回転台に取り付けた基板に洗浄ブラシを当接させて摺動させることにより、上記基板の表面を洗浄する基板洗浄装置において、
上記基板の外周に、上記洗浄ブラシを洗浄するためのブラシ洗浄基板を配設したことを特徴とする基板洗浄装置。
In a substrate cleaning apparatus that cleans the surface of the substrate by bringing the cleaning brush into contact with the substrate attached to the turntable and sliding the cleaning brush,
A substrate cleaning apparatus, wherein a brush cleaning substrate for cleaning the cleaning brush is disposed on an outer periphery of the substrate.
基板の外周に配設されたブラシ洗浄基板と、
上記基板を取り付ける回転台と、
回転する上記基板の表面、及び上記ブラシ洗浄基板の表面に当接する洗浄ブラシと、
を具備し、
上記洗浄ブラシは、上記基板の表面を洗浄するとともに上記ブラシ洗浄基板によって洗浄されることを特徴とする基板洗浄装置。
A brush cleaning substrate arranged on the outer periphery of the substrate,
A turntable for mounting the board,
A cleaning brush that contacts the surface of the rotating substrate and the surface of the brush cleaning substrate,
With
The substrate cleaning apparatus, wherein the cleaning brush cleans a surface of the substrate and is cleaned by the brush cleaning substrate.
上記洗浄ブラシは、回転する上記基板及び上記ブラシ洗浄基板に対し、前記基板の中心から上記ブラシ洗浄基板の外側に向かって半径方向に摺動して順次当接し、上記基板の表面を洗浄することを特徴とする請求項2に記載の基板洗浄装置。The cleaning brush slides radially from the center of the substrate toward the outside of the brush cleaning substrate to sequentially contact the rotating substrate and the brush cleaning substrate to clean the surface of the substrate. The substrate cleaning apparatus according to claim 2, wherein: 上記洗浄ブラシは、洗浄によって付着した前記基板表面の汚れを、上記ブラシ洗浄基板の表面を摺動することによって同ブラシ洗浄基板に付着させることを特徴とする請求項2に記載の基板洗浄装置。3. The substrate cleaning apparatus according to claim 2, wherein the cleaning brush causes the dirt on the substrate surface adhered by the cleaning to adhere to the brush cleaning substrate by sliding on the surface of the brush cleaning substrate. 上記ブラシ洗浄基板は、上記基板の外周面に圧着によって当接していることを特徴とする請求項2に記載の基板洗浄装置。The substrate cleaning apparatus according to claim 2, wherein the brush cleaning substrate is in contact with an outer peripheral surface of the substrate by pressure bonding. 上記ブラシ洗浄基板は、上記回転台に対し、真空吸引チャックにより上記基板とともに取り付けられていることを特徴とする請求項2に記載の基板洗浄装置。The substrate cleaning apparatus according to claim 2, wherein the brush cleaning substrate is attached to the turntable together with the substrate by a vacuum suction chuck. 上記ブラシ洗浄基板と上記基板は、それぞれの表面が同一平面となるように取り付けられていることを特徴とする請求項2に記載の基板洗浄装置。The substrate cleaning apparatus according to claim 2, wherein the brush cleaning substrate and the substrate are mounted such that their surfaces are flush with each other. 上記ブラシ洗浄基板は、その表面が鏡面加工されていることを特徴とする請求項2に記載の基板洗浄装置。The substrate cleaning apparatus according to claim 2, wherein a surface of the brush cleaning substrate is mirror-finished. 回転する基板に洗浄液を供給して、該基板を洗浄する基板洗浄装置において、
上記基板の外周に配設されたブラシ洗浄基板と、
上記基板の表面及び上記ブラシ洗浄基板の表面に当接して摺動する第1の洗浄ブラシと、
上記ブラシ洗浄基板、及び前記基板を保持しながら回転させる基板駆動手段と、
上記ブラシ洗浄基板に当接する第2の洗浄ブラシと
上記ブラシ洗浄基板の汚れを検出する汚れ検出器と、
を具備することを特徴とする基板洗浄装置。
In a substrate cleaning apparatus for supplying a cleaning liquid to a rotating substrate and cleaning the substrate,
A brush cleaning substrate disposed on the outer periphery of the substrate,
A first cleaning brush that slides in contact with the surface of the substrate and the surface of the brush cleaning substrate;
The brush cleaning substrate, and substrate driving means for rotating while holding the substrate,
A second cleaning brush abutting on the brush cleaning substrate, a dirt detector for detecting dirt on the brush cleaning substrate,
A substrate cleaning apparatus comprising:
上記汚れ検出器は、上記ブラシ洗浄基板の汚れを検出するCCDカメラによって構成されることを特徴とする請求項9に記載の基板洗浄装置。The substrate cleaning apparatus according to claim 9, wherein the dirt detector is configured by a CCD camera that detects dirt on the brush cleaning substrate. 回転台に取り付けた基板に洗浄ブラシを当接させて摺動させることにより、上記基板の表面を洗浄する基板の洗浄工程において、
上記基板の外周に配設したブラシ洗浄基板により、上記洗浄ブラシを洗浄する工程を具備したことを特徴とする基板洗浄装置の洗浄方法。
In the substrate cleaning step of cleaning the surface of the substrate by sliding the cleaning brush against the substrate attached to the turntable,
A method for cleaning a substrate cleaning apparatus, comprising: a step of cleaning the cleaning brush with a brush cleaning substrate disposed on an outer periphery of the substrate.
基板の外周にブラシ洗浄基板を配設する工程と、
上記基板を回転台に取り付ける工程と、
回転する上記基板の表面、及び上記ブラシ洗浄基板の表面に洗浄ブラシを当接させる工程と、
上記洗浄ブラシが、上記基板の表面を洗浄する工程と、
上記洗浄ブラシが上記ブラシ洗浄基板によって洗浄される工程と、
を具備したことを特徴とする請求項11に記載の基板洗浄装置の洗浄方法。
Arranging a brush cleaning substrate on the outer periphery of the substrate;
Attaching the substrate to a turntable,
A step of bringing a cleaning brush into contact with the surface of the rotating substrate, and the surface of the brush cleaning substrate,
A step of the cleaning brush cleaning the surface of the substrate;
A step in which the cleaning brush is cleaned by the brush cleaning substrate;
The method for cleaning a substrate cleaning apparatus according to claim 11, further comprising:
基板の外周にブラシ洗浄基板を配設する工程と、
上記基板と上記ブラシ洗浄基板を回転台上に真空吸引作用により取り付ける工程と、
回転する上記基板の表面にノズルを向け、前記ノズルから洗浄液を吹き付ける工程と、
回転する上記基板の表面に第1の洗浄ブラシを当接させ、同洗浄ブラシを基板の半径方向に移動させて基板表面を洗浄し、基板表面の汚れを上記ブラシ洗浄基板に付着させる工程と、
上記ブラシ洗浄基板に上記第1の洗浄ブラシを摺接させることで前記第1の洗浄ブラシを洗浄する工程と、
上記ブラシ洗浄基板を第2の洗浄ブラシにより洗浄する工程と、
上記第2の洗浄ブラシの汚れを汚れ検出器により検出する工程と、
からなることを特徴とする請求項11または12に記載の基板洗浄装置の洗浄方法。
Arranging a brush cleaning substrate on the outer periphery of the substrate;
Mounting the substrate and the brush cleaning substrate on a turntable by vacuum suction,
Aiming a nozzle at the surface of the rotating substrate, and spraying a cleaning liquid from the nozzle,
Contacting a first cleaning brush on the surface of the rotating substrate, moving the cleaning brush in a radial direction of the substrate to clean the substrate surface, and attaching dirt on the substrate surface to the brush cleaning substrate;
Cleaning the first cleaning brush by sliding the first cleaning brush on the brush cleaning substrate;
Cleaning the brush cleaning substrate with a second cleaning brush;
A step of detecting dirt on the second cleaning brush with a dirt detector;
The method for cleaning a substrate cleaning apparatus according to claim 11, wherein the method comprises:
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