KR20080049359A - Apparatus for polshing substrate - Google Patents

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KR20080049359A
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오경진
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

A grinding apparatus is provided to remove dirt stuck to substrates with a grinding material for improving productivity of flat panel displays. A grinding apparatus(110) for removing dirt(116) stuck to substrates includes a grinding material(112) for removing dirt attached on the surface of a substrate(114) placed on a stage(134), a head(118) for making the grinding material contact with dirt to be removed, a first main roller(120) and a second main roller(122) for running the grinding material, and a first auxiliary roller(126) and a second auxiliary roller(128) for keeping the grinding material in a proper position.

Description

기판 연마 장치 {APPARATUS FOR POLSHING SUBSTRATE}Substrate Polishing Machine {APPARATUS FOR POLSHING SUBSTRATE}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 기판 연마 장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.1 is a view schematically showing a substrate polishing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 연마테이프가 정위치를 유지하는 상태를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 2 is a view for explaining a state in which the polishing tape shown in FIG. 1 maintains its position.

{도면의 주요부분에 대한 부호의 설명}{Description of symbols for main parts of the drawing}

110: 기판 연마 장치 112: 연마 부재110: substrate polishing apparatus 112: polishing member

114: 기판 116: 이물114: substrate 116: foreign matter

118: 헤드 120: 제1 메인 롤러118: head 120: first main roller

122: 제2 메인 롤러 124: 고정 부재122: second main roller 124: fixing member

126: 제1 보조 롤러 128: 제2 보조 롤러126: first auxiliary roller 128: second auxiliary roller

130: 세정 부재 134: 스테이지130: cleaning member 134: stage

본 발명은 평판 표시장치의 제조에 관한 것으로, 보다 구체적으로 평판 표시장치에 사용되는 기판 상의 이물을 제거하기 위한 기판 연마 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of flat panel displays, and more particularly, to a substrate polishing apparatus for removing foreign matter on a substrate used in a flat panel display.

정보화 사회의 발전에 부응하여 액정 표시장치(Liquid Crystal Display: LCD) 및 유기전계 발광소자(Organic Light Emitting Diodes: OLED) 등과 같은 평판 표시장치(Flat Panel Display: FPD)의 사용이 증가하고 있다. 이러한 평판 표시장치 중 이하에서는 액정 표시장치를 예로 들어 설명한다.In response to the development of the information society, the use of flat panel displays (FPDs) such as liquid crystal displays (LCDs) and organic light emitting diodes (OLEDs) is increasing. Among such flat panel display devices, a liquid crystal display device will be described below as an example.

액정 표시장치는 액정 분자들의 전기 광학 특성을 이용하여 화상을 표시하는 장치이다. 이를 위해, 액정 표시장치는 액정 패널, 백라이트 유닛 및 구동회로 유닛을 포함한다.Liquid crystal displays are devices that display images by using the electro-optical properties of liquid crystal molecules. To this end, the liquid crystal display includes a liquid crystal panel, a backlight unit, and a driving circuit unit.

액정 패널은 화상을 표시하며, 액정 분자들로 이루어진 액정층을 사이에 두고 합착된 컬러 필터 기판 및 박막 트랜지스터 기판을 포함한다.The liquid crystal panel displays an image, and includes a color filter substrate and a thin film transistor substrate bonded together with a liquid crystal layer made of liquid crystal molecules therebetween.

컬러 필터 기판은 색을 표현하며, 유리나 플라스틱 등과 같은 투명한 재질의 기판 상에 박막으로 형성된 적/녹/청색 컬러 필터를 포함한다.The color filter substrate expresses color and includes a red / green / blue color filter formed as a thin film on a transparent substrate such as glass or plastic.

박막 트랜지스터 기판은 액정층에 전압을 인가하며, 유리나 플라스틱 등과 같은 재질의 투명한 다른 기판 상에 박막으로 형성된 박막 트랜지스터, 화소 전극 및 공통 전극을 포함한다.The thin film transistor substrate applies a voltage to the liquid crystal layer and includes a thin film transistor, a pixel electrode, and a common electrode formed of a thin film on another transparent substrate made of a material such as glass or plastic.

백라이트 유닛은 액정 패널의 배면에 위치하여 액정 패널에 광을 제공한다.The backlight unit is located at the rear of the liquid crystal panel to provide light to the liquid crystal panel.

구동회로 유닛은 액정 패널을 구동하기 위한 구동 전압들을 생성하며, 생성된 구동 전압들을 자신과 접속된 액정 패널에 공급한다.The driving circuit unit generates driving voltages for driving the liquid crystal panel, and supplies the generated driving voltages to the liquid crystal panel connected thereto.

상기의 구성을 가지는 종래의 액정 표시장치는 크게 기판 제조 공정, 셀 제조 공정 및 모듈 제조 공정을 통해 제조된다. 여기서, 기판 제조 공정이란 세정된 기판을 이용한 컬러 필터 기판을 제조하는 공정 및 세정된 다른 기판을 이용한 박 막 트랜지스터 기판을 제조하는 공정을 말한다. 또한, 셀 제조 공정이란 컬러 필터 기판 및 박막 트랜지스터 기판 사이에 액정층을 형성한 후, 상기 두 기판을 합착시켜 액정 패널을 제조하는 공정을 말한다. 그리고, 모듈 제조 공정이란 액정 패널의 패드부에 구동회로 유닛을 부착한 후, 구동회로 유닛이 부착된 액정 패널을 백라이트 유닛과 조립하는 공정을 말한다.The conventional liquid crystal display device having the above structure is largely manufactured through a substrate manufacturing process, a cell manufacturing process, and a module manufacturing process. Here, a substrate manufacturing process means the process of manufacturing the color filter substrate using the cleaned board | substrate, and the process of manufacturing the thin film transistor substrate using the other board | substrate cleaned. The cell manufacturing process refers to a process of forming a liquid crystal panel by forming a liquid crystal layer between a color filter substrate and a thin film transistor substrate and then joining the two substrates together. The module manufacturing step refers to a step of assembling the liquid crystal panel having the driving circuit unit with the backlight unit after attaching the driving circuit unit to the pad portion of the liquid crystal panel.

한편, 상기 제조 공정 중 기판 제조 공정 및 셀 제조 공정의 각 단위 공정들은 고온하에서 진행되는 경우가 많다. 이때, 고온 상의 기판 상에 이물 등이 부착되면, 상기 이물은 기판 상에 고착될 수 있다. 기판 상에 고착된 이물은 브러시 세정 또는 초음파 세정 등으로 쉽게 제거되지 않을 수 있다라는 문제점이 있다. 기판 상에 고착된 이물은 결국 액정 표시장치의 표시 품질을 떨어뜨리게 된다.On the other hand, each unit process of the substrate manufacturing process and the cell manufacturing process of the manufacturing process is often carried out at a high temperature. At this time, if a foreign material is attached to the substrate on a high temperature, the foreign material may be fixed on the substrate. There is a problem that the foreign matter stuck on the substrate may not be easily removed by brush cleaning or ultrasonic cleaning. Foreign matter adhered to the substrate eventually degrades the display quality of the liquid crystal display.

이 때문에, 종래에는 칼날을 사용하여 기판 상의 이물을 제거하고 있다. 즉, 칼날을 기판 상의 이물에 접촉시킨 다음, 기판의 표면을 따라 칼날을 이동시켜 이물을 제거하고 있다.For this reason, the foreign material on a board | substrate is removed conventionally using a blade. That is, the blade is brought into contact with foreign matter on the substrate, and then the blade is moved along the surface of the substrate to remove the foreign matter.

그러나, 상기 칼날을 이용하는 방법은 상기 칼날에 의해 기판 자체가 손상될 수 있다라는 문제점이 있다. 이 때문에, 불량품의 액정 패널이 다량 발생할 수 있다라는 문제점이 있다. 이는 결국, 액정 표시장치의 생산성을 악화시킬 수 있다.However, the method using the blade has a problem that the substrate itself may be damaged by the blade. For this reason, there exists a problem that a large amount of defective liquid crystal panels may arise. This, in turn, may deteriorate the productivity of the liquid crystal display.

따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 연마 부재를 사용하여 기판 상의 이물을 제거할 수 있는 기판 연마 장치를 제공하고자 하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a substrate polishing apparatus capable of removing foreign substances on a substrate by using a polishing member.

또한, 본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 연마 부재를 사용하여 기판 상의 이물을 제거함으로써 평판 표시장치의 생산성을 높일 수 있는 기판 연마 장치를 제공하고자 하는 것이다.In addition, another technical problem to be achieved by the present invention is to provide a substrate polishing apparatus that can increase the productivity of the flat panel display by removing foreign matter on the substrate using the polishing member.

본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Further technical problems to be achieved by the present invention are not limited to the above-mentioned technical problems, and other technical problems not mentioned above are clearly understood by those skilled in the art from the following description. It can be understood.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판 연마 장치는 기판 상의 이물을 연마함으로써 상기 기판 상의 이물을 제거하기 위한 연마 부재; 상기 연마 부재를 상기 기판 상의 이물과 접촉시키기 위한 헤드; 상기 헤드를 사이에 두고 양측에 각각 설치되며, 상기 연마 부재를 이동시키기 위한 제1 및 제2 메인 롤러; 및 상기 연마 부재가 정위치를 벗어나지 않도록 하기 위한 고정 부재를 포함한다.A substrate polishing apparatus according to the present invention for achieving the above technical problem is a polishing member for removing the foreign matter on the substrate by polishing the foreign material on the substrate; A head for contacting the polishing member with a foreign material on the substrate; First and second main rollers respectively provided on both sides with the head interposed therebetween for moving the polishing member; And a fixing member for preventing the polishing member from being out of position.

여기서, 상기 고정 부재는, 상기 제1 및 제2 메인 롤러 각각에 인접하여 설치되며, 상기 제1 및 제2 메인 롤러 각각의 회전 방향과 반대 방향으로 회전하는 제1 및 제2 보조 롤러를 포함할 수 있다.Here, the fixing member may be provided adjacent to each of the first and second main rollers, and include first and second auxiliary rollers that rotate in a direction opposite to a rotation direction of each of the first and second main rollers. Can be.

여기서, 상기 제1 및 제2 메인 롤러는, 하나의 모터에 의해 구동될 수 있다.Here, the first and second main rollers may be driven by one motor.

여기서, 상기 연마 부재는, 연마 테이프일 수 있다.Here, the polishing member may be an abrasive tape.

여기서, 상기 기판 연마 장치는 기판 상의 이물 연마 시 상기 기판을 세정하기 위한 세정 부재를 더 포함할 수 있다.Here, the substrate polishing apparatus may further include a cleaning member for cleaning the substrate when the foreign material is polished on the substrate.

여기서, 상기 세정 부재는, 에어 나이프(air knife)일 수 있다.Here, the cleaning member may be an air knife.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings. Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 기판 연마 장치에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a substrate polishing apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 기판 연마 장치를 개략적으로 나타낸 도면이다. 도 2는 도 1에 도시된 연마테이프가 정위치를 유지하는 상태를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view schematically showing a substrate polishing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a view for explaining a state in which the polishing tape shown in FIG. 1 maintains its position.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 기판 연마 장치(110)는 연마 부재(112), 헤드(118), 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122), 및 고정 부재(124)를 포함한다. 또한, 본 발명의 실시예에 따른 기판 연마 장치(110)는 세정 부재(130) 및 스테이지(134)를 더 포함한다.1 and 2, a substrate polishing apparatus 110 according to an embodiment of the present invention may include an abrasive member 112, a head 118, first and second main rollers 120 and 122, and a fixing member. 124. In addition, the substrate polishing apparatus 110 according to the embodiment of the present invention further includes a cleaning member 130 and a stage 134.

연마 부재(112)는 기판(114) 상의 이물(116)을 연마함으로써 기판(114) 상의 이물(116)을 제거한다. 여기서, 상기 기판(114)은 액정 표시장치 및 유기전계 발광소자 등과 같은 평판 표시장치의 제조에 사용되는 기판(114)일 수 있다. 여기서, 기판(114)의 재질은 유리나 플라스틱 등일 수 있으나, 이에 국한되지 않는다.The polishing member 112 removes the foreign material 116 on the substrate 114 by polishing the foreign material 116 on the substrate 114. The substrate 114 may be a substrate 114 used for manufacturing a flat panel display such as a liquid crystal display and an organic light emitting diode. Here, the material of the substrate 114 may be glass, plastic, or the like, but is not limited thereto.

연마 부재(112)의 양측은 도시되지 않는 제1 및 제2 릴(reel)에 감겨져 있을 수 있다. 여기서, 제1 및 제2 릴 각각은 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122) 각각의 상측에 설치될 수 있다.Both sides of the polishing member 112 may be wound around first and second reels (not shown). Here, each of the first and second reels may be installed above each of the first and second main rollers 120 and 122.

연마 부재(112)는 헤드(118)의 하강 동작에 의해 기판(114) 상의 이물(116)과 맞닿게 되며, 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122)의 회전 동작에 의해 수평 방향으로 이동하여 기판(114) 상의 이물(116)을 연마하게 된다. 이때, 연마 부재(112)는 고정 부재(124)에 의해 정위치를 유지한 상태로 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122)에 의해 수평 방향으로 이동하게 된다.The polishing member 112 is brought into contact with the foreign material 116 on the substrate 114 by the lowering operation of the head 118, and moves in the horizontal direction by the rotation operation of the first and second main rollers 120 and 122. Thus, the foreign material 116 on the substrate 114 is polished. At this time, the polishing member 112 is moved in the horizontal direction by the first and second main rollers 120 and 122 in a state in which the polishing member 112 is maintained in the fixed position.

연마 부재(112)가 기판(114) 상의 이물(116)을 완전히 제거하면, 연마 부재(112)는 헤드(118)의 상승 동작에 의해 기판(114)으로부터 떨어질 수 있다.When the polishing member 112 completely removes the foreign matter 116 on the substrate 114, the polishing member 112 may be separated from the substrate 114 by the lifting operation of the head 118.

연마 부재(112)는 기판(114) 상의 이물(116)을 연마하기 위해 지지체, 및 상기 지지체 상에 형성된 연마층을 포함할 수 있다.The polishing member 112 may include a support for polishing the foreign material 116 on the substrate 114, and a polishing layer formed on the support.

연마 부재(112)는, 구체적으로, 연마 테이프일 수 있으나, 이에 국한되지 않는다. 여기서, 연마 테이프는 지지체 상에 연마제, 바인더 폴리머, 경화제 및 혼합용제 등으로 이루어진 연마 페인트를 도포한 후, 이를 건조시켜 지지체 상에 연마층을 형성함으로써 얻을 수 있다.The abrasive member 112 may be specifically, but not limited to, an abrasive tape. Here, the abrasive tape can be obtained by applying an abrasive paint composed of an abrasive, a binder polymer, a curing agent, a mixed solvent, and the like on a support, and then drying the abrasive tape to form an abrasive layer on the support.

연마층의 표면 거칠기가 커지면 기판(114)에 손상을 줄 수 있으므로, 기판(114) 상의 이물(116)만 제거하고 기판(114) 품질에 손상을 주지 않도록 연마제의 평균 입경을 예를 들어, 0.1㎛ 내지 10㎛ 내로 하여 연마층의 표면 거칠기를 조절할 수 있다. 여기서, 연마제의 재질은, 예를 들어, 알루미나, 공업용 다이아몬드, 탄화규소, 산화철, 산화크롬 등 중 적어도 어느 하나 이상일 수 있으나, 이에 국한되지 않는다.As the surface roughness of the polishing layer is increased, the substrate 114 may be damaged. Therefore, the average particle diameter of the abrasive may be, for example, 0.1 to remove only the foreign matter 116 on the substrate 114 and not damage the quality of the substrate 114. The surface roughness of the polishing layer can be adjusted to within the range of µm to 10 µm. Here, the material of the abrasive may be, for example, at least one or more of alumina, industrial diamond, silicon carbide, iron oxide, chromium oxide, and the like, but is not limited thereto.

헤드(118)는 연마 부재(112)를 기판(114) 상의 이물(116)과 접촉시킨다.The head 118 contacts the polishing member 112 with the foreign material 116 on the substrate 114.

구체적으로, 헤드(118)는 도시되지 않은 가이드 블록을 따라 상하 방향으로 이동할 수 있도록 설치된다. 여기서, 헤드(118)의 하강 동작에 의해 연마 부재(112)는 기판(114) 상의 이물(116)과 접촉할 수 있다. 또한, 헤드(118)의 상승 동작에 의해 연마 부재(112)는 기판(114)으로부터 떨어질 수 있다.Specifically, the head 118 is installed to move in the vertical direction along the guide block (not shown). Here, the polishing member 112 may contact the foreign material 116 on the substrate 114 by the lowering operation of the head 118. In addition, the polishing member 112 may be separated from the substrate 114 by the lifting operation of the head 118.

헤드(118)는 원통 형상을 가질 수 있다. 이는 헤드(118)에 의해 하강된 연마 부재(112)가 기판(114) 상의 이물(116)과만 접촉되도록 하기 위함이다.The head 118 may have a cylindrical shape. This is to allow the polishing member 112 lowered by the head 118 to contact only the foreign material 116 on the substrate 114.

제1 및 제2 메인 롤러(120, 122) 각각은 헤드(118)를 사이에 두고 양측에 각각 설치되며, 연마 부재(112)를 이동시킨다.Each of the first and second main rollers 120 and 122 is provided at both sides with the head 118 interposed therebetween, and moves the polishing member 112.

구체적으로, 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122)는 헤드(118)의 하강 동작에 의해 기판(114) 상의 이물(116)과 접촉된 연마 부재(112)를 수평 방향으로 이동시킨다. 이는 기판(114) 상의 이물(116)의 연마 공정 시, 연마 부재(112) 중 마모된 부분을 수평 방향으로 이동시키기 위함이다.Specifically, the first and second main rollers 120 and 122 move the polishing member 112 in contact with the foreign material 116 on the substrate 114 in the horizontal direction by the lowering operation of the head 118. This is to move the worn part of the polishing member 112 in the horizontal direction during the polishing process of the foreign material 116 on the substrate 114.

제1 및 제2 메인 롤러(120, 122)는 도시되지 않은 하나의 모터에 의해 구동될 수 있다. 이는 동시에 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122)를 동일한 방향 및 속도로 회전시키기 위함이다.The first and second main rollers 120 and 122 may be driven by one motor not shown. This is for simultaneously rotating the first and second main rollers 120 and 122 in the same direction and speed.

고정 부재(124)는 연마 부재(112)가 정위치를 벗어나지 않도록 한다.The fixing member 124 prevents the polishing member 112 from leaving in position.

이를 위해, 고정 부재(124)는 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122) 각각에 인접하여 설치되며, 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122) 각각의 회전 방향과 반대 방향으로 회전하는 제1 및 제2 보조 롤러(126, 128)를 포함할 수 있다.To this end, the fixing member 124 is installed adjacent to each of the first and second main rollers 120 and 122, and rotates in a direction opposite to the rotation direction of each of the first and second main rollers 120 and 122. First and second auxiliary rollers 126 and 128 may be included.

상기와 같은 경우, 제1 메인 롤러(120) 및 제1 보조 롤러(126), 및 제2 메인 롤러(122) 및 제2 보조 롤러(128) 각각의 사이에 연마 부재(112)가 위치할 수 있다.In this case, the polishing member 112 may be positioned between the first main roller 120 and the first auxiliary roller 126, and each of the second main roller 122 and the second auxiliary roller 128. have.

이때, 제1 보조 롤러(126)를 제1 메인 롤러(120) 측으로 이동시킴으로써 연마 부재(112)가 정위치를 벗어나지 않도록 할 수 있다. 마찬가지로, 제2 보조 롤러(128)를 제2 메인 롤러(122) 측으로 이동시킴으로써 연마 부재(112)가 정위치를 벗어나지 않도록 할 수 있다. 여기서, 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122)의 회전 동작에 의해 연마 부재(112)는 수평 방향으로 이동할 수 있어야 하므로, 제1 및 제2 보조 롤러(126, 128) 각각이 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122) 각각의 측으로 얼마만큼 이동시켜야 하는지는 상기한 바를 고려하여 결정될 수 있다.At this time, by moving the first auxiliary roller 126 to the first main roller 120 side, it is possible to prevent the polishing member 112 from leaving the correct position. Similarly, by moving the second auxiliary roller 128 to the second main roller 122 side, it is possible to prevent the polishing member 112 from being out of position. Here, since the polishing member 112 must be able to move in the horizontal direction by the rotational operation of the first and second main rollers 120 and 122, the first and second auxiliary rollers 126 and 128 are respectively the first and the second How much to move to each side of the second main roller (120, 122) can be determined in consideration of the above.

세정 부재(130)는 기판(114) 상의 이물(116) 연마 시 기판(114)을 세정한다.The cleaning member 130 cleans the substrate 114 when polishing the foreign material 116 on the substrate 114.

이를 위해, 세정 부재(130)는 제1 및 제2 메인 롤러(120, 122)를 연결하는 가이드 부재(132) 상에 설치될 수 있으나, 상기 세정 부재(130)가 설치되는 위치 및 개수는 한정되지 않는다.To this end, the cleaning member 130 may be installed on the guide member 132 connecting the first and second main rollers 120 and 122, but the location and number of the cleaning member 130 are limited. It doesn't work.

세정 부재(130)는 고압의 에어를 기판(114) 방향으로 분사함으로써 이물(116) 연마 시 기판(114)을 세정하는 에어 나이프(air knife)일 수 있으나, 이에 국한되지 않는다.The cleaning member 130 may be an air knife that cleans the substrate 114 when the foreign material 116 is polished by spraying high pressure air toward the substrate 114, but is not limited thereto.

스테이지(134)는, 예를 들어, 도시되지 않은 LM 가이드에 의해 이동 가능하도록 설치되며, 상기 스테이지(134) 상에는 기판(114)이 안착된다. 이때, 스테이지(134) 상에 안착된 기판(114)은 스테이지(134) 상부에 형성된 진공 홀을 통해 스 테이지(134)에 진공 흡착됨으로써 스테이지(134) 상에 고정될 수 있다.The stage 134 is installed to be movable by, for example, an LM guide (not shown), and the substrate 114 is seated on the stage 134. In this case, the substrate 114 mounted on the stage 134 may be fixed on the stage 134 by being vacuum-adsorbed to the stage 134 through a vacuum hole formed on the stage 134.

이상 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains can realize that the present invention can be implemented in other specific forms without changing the technical spirit or essential features. I can understand that.

따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Therefore, since the embodiments described above are provided to completely inform the scope of the invention to those skilled in the art, it should be understood that they are exemplary in all respects and not limited. The invention is only defined by the scope of the claims.

본 발명에 따르면, 연마 부재를 사용하여 기판 상의 이물을 손쉽게 제거할 수 있으며, 이로 인해 평판 표시장치의 생산성을 높일 수 있다.According to the present invention, the foreign matter on the substrate can be easily removed using the polishing member, thereby increasing the productivity of the flat panel display.

또한, 제1 및 제2 메인 롤러를 하나의 모터로 동시에 동작시킬 수 있으며, 고정 부재를 통해 연마 부재가 정위치를 벗어나지 않도록 할 수 있다. 이로 인해, 작업자의 실수를 줄일 수 있다.In addition, the first and second main rollers can be operated simultaneously with one motor, and the fixing member can be prevented from leaving the home position. As a result, the operator's mistake can be reduced.

Claims (6)

기판 상의 이물을 연마함으로써 상기 기판 상의 이물을 제거하기 위한 연마 부재;A polishing member for removing the foreign matter on the substrate by polishing the foreign matter on the substrate; 상기 연마 부재를 상기 기판 상의 이물과 접촉시키기 위한 헤드;A head for contacting the polishing member with a foreign material on the substrate; 상기 헤드를 사이에 두고 양측에 각각 설치되며, 상기 연마 부재를 이동시키기 위한 제1 및 제2 메인 롤러; 및First and second main rollers respectively provided on both sides with the head interposed therebetween for moving the polishing member; And 상기 연마 부재가 정위치를 벗어나지 않도록 하기 위한 고정 부재Fixing member for ensuring that the polishing member is not out of position 를 포함하는 기판 연마 장치.Substrate polishing apparatus comprising a. 제1항에 있어서, 상기 고정 부재는,The method of claim 1, wherein the fixing member, 상기 제1 및 제2 메인 롤러 각각에 인접하여 설치되며, 상기 제1 및 제2 메인 롤러 각각의 회전 방향과 반대 방향으로 회전하는 제1 및 제2 보조 롤러First and second auxiliary rollers installed adjacent to each of the first and second main rollers and rotating in a direction opposite to the rotation direction of each of the first and second main rollers. 를 포함하는 기판 연마 장치.Substrate polishing apparatus comprising a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1 및 제2 메인 롤러는, 하나의 모터에 의해 구동되는 것을 특징으로 하는 기판 연마 장치.And said first and second main rollers are driven by one motor. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 연마 부재는, 연마 테이프인 것을 특징으로 하는 기판 연마 장치.The polishing member is a substrate polishing apparatus, characterized in that the polishing tape. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판 상의 이물 연마 시 상기 기판을 세정하기 위한 세정 부재Cleaning member for cleaning the substrate when the foreign material polishing on the substrate 를 더 포함하는 기판 연마 장치.Substrate polishing apparatus further comprising. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 세정 부재는, 에어 나이프(air knife)인 것을 특징으로 하는 기판 연마 장치.The said cleaning member is an air knife, The board | substrate grinding apparatus characterized by the above-mentioned.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101025497B1 (en) * 2008-12-12 2011-04-04 세메스 주식회사 Apparatus for treating substrate
US8955530B2 (en) * 2011-01-18 2015-02-17 Taiwan Semiconductor Manufaturing Company, Ltd. System and method for cleaning a wafer chuck
KR20220076664A (en) * 2020-12-01 2022-06-08 주식회사 에이치비테크놀러지 Apparatus for Polishing Defects Using Polishing Tapes

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