JP2833349B2 - ダイナミックメモリ制御方式 - Google Patents
ダイナミックメモリ制御方式Info
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- JP2833349B2 JP2833349B2 JP4151056A JP15105692A JP2833349B2 JP 2833349 B2 JP2833349 B2 JP 2833349B2 JP 4151056 A JP4151056 A JP 4151056A JP 15105692 A JP15105692 A JP 15105692A JP 2833349 B2 JP2833349 B2 JP 2833349B2
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- Japan
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- dynamic memory
- memory
- refresh
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Description
れるダイナミックメモリの制御方式に関する。
時間、例えば約16μsecに1回の割合でダイナミッ
クメモリに対しリフレッシュサイクルを起動している。
クメモリ制御方式では、一定時間ごとにリフレッシュサ
イクルを起動する必要があるため、消費電力はこのリフ
レッシュサイクルにより律されていた。
ダイナミックメモリへのアクセス制御を行うメモリ制御
部と、ダイナミックメモリの周囲温度を計測する温度セ
ンサと、メモリアクセスの間隔を計測し一定時間以上ア
クセスがない場合に省電力モード動作を指示する動作モ
ード判定回路と、前記動作モード判定回路から省電力モ
ード動作指示があった場合にシステムクロックを規定周
波数まで低下することができるシステムクロック生成回
路と、前記動作モード判定回路から省電力モード動作指
示があった場合に前記温度センサからの温度情報と前記
省電力モード動作時のシステムクロック周波数からダイ
ナミックメモリのリフレッシュ間隔を決定し前記メモリ
制御部へリフレッシュ要求を発行するリフレッシュ制御
回路とを有する。
フレッシュ間隔を長くすることができるが、通常のダイ
ナミックメモリの規格は0°Cから70°Cの周囲温度
をカバーできるリフレッシュ間隔であるため、約16μ
secに1回の割合でリフレッシュをする必要がある。
ュ間隔を可変とし、通常の規格よりも長い値に設定する
ことが可能である。
る。
を参照すると、本実施例はダイナミックメモリ11,温
度センサ12,リフレッシュ要求回路13およびメモリ
制御回路14から成る。
の周囲温度を計測し、温度情報信号aによりリフレッシ
ュ要求回路13に温度情報を伝える。リフレッシュ要求
回路13は温度情報信号a経由で得られた現在のダイナ
ミックメモリ11の周囲温度において許される最長のリ
フレッシュ間隔を決定する。次に、決定したリフレッシ
ュ間隔でメモリ制御回路14に対しリフレッシュ要求信
号bによりリフレッシュ要求を行う。
間隔の更新を一定の時間間隔毎に温度情報信号aを確認
することにより行う。メモリ制御回路14は、リフレッ
シュ要求信号bとメモリアクセス要求信号dの要求を調
停しダイナミックメモリ11をメモリ制御信号cでリフ
レッシュ制御及びアクセス制御を行う。
2を参照すると、本実施例はダイナミックメモリ21,
温度センサ22,リフレッシュ要求回路23,メモリ制
御回路24,システムクロック生成回路25および動作
モード判定回路26から成る。
の周囲温度を計測し、温度情報信号aaにより通しリフ
レッシュ要求回路23に温度情報を伝える。動作モード
判定回路26はメモリアクセス要求信号ddを監視し一
定時間以上アクセス要求がない場合は消費電力抑制モー
ドと判断し、動作モード信号ffによりシステムクロッ
ク生成回路25及びリフレッシュ要求回路23へ動作モ
ードの通知をする。
内の動作基準クロックを生成しシステム内にクロック信
号eeを供給する。また動作モード信号ffの状態によ
り、消費電力抑制モードである場合はクロック信号ee
をシステムに許される最低の周波数で繰返すように変更
する。消費電力抑制モードでない通常モードの場合はシ
ステムに許される最高の周波数のクロック信号eeを生
成する。
aaにより得られた現在のダイナミックメモリ21の周
囲温度において許される最長のリフレッシュ間隔を決定
する。そして、この決定したリフレッシュ間隔でメモリ
制御回路24に対しリフレッシュ要求信号bによりリフ
レッシュ要求を行う。ここで、リフレッシュ要求間隔の
決定はクロック信号eeを基準に行うため、動作モード
信号ffによりクロック信号の周波数を判断する。
信号bbとメモリアクセス要求信号ddの要求を調停し
ダイナミックメモリ21をメモリ制御信号ccでリフレ
ッシュ制御及びアクセス制御を行う。
クメモリの周囲温度で許される最長のリフレッシュ間隔
でリフレッシュ行うことにより消費電力を低減すること
ができる。また、メモリアクセス頻度が少ないアイドル
状態時にはシステムクロックの周波数を低下させること
により更に消費電力を低減することができる。
Claims (1)
- 【請求項1】 ダイナミックメモリへのアクセス制御を
行うメモリ制御部と、ダイナミックメモリの周囲温度を
計測する温度センサと、メモリアクセスの間隔を計測し
一定時間以上アクセスがない場合に省電力モード動作を
指示する動作モード判定回路と、前記動作モード判定回
路から省電力モード動作指示があった場合にシステムク
ロックを規定周波数まで低下することができるシステム
クロック生成回路と、前記動作モード判定回路から省電
力モード動作指示があった場合に前記温度センサからの
温度情報と前記省電力モード動作時のシステムクロック
周波数からダイナミックメモリのリフレッシュ間隔を決
定し前記メモリ制御部へリフレッシュ要求を発行するリ
フレッシュ制御回路とを有することを特徴とするダイナ
ミックメモリ制御方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4151056A JP2833349B2 (ja) | 1992-06-11 | 1992-06-11 | ダイナミックメモリ制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4151056A JP2833349B2 (ja) | 1992-06-11 | 1992-06-11 | ダイナミックメモリ制御方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05342865A JPH05342865A (ja) | 1993-12-24 |
JP2833349B2 true JP2833349B2 (ja) | 1998-12-09 |
Family
ID=15510337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4151056A Expired - Fee Related JP2833349B2 (ja) | 1992-06-11 | 1992-06-11 | ダイナミックメモリ制御方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2833349B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6438057B1 (en) * | 2001-07-06 | 2002-08-20 | Infineon Technologies Ag | DRAM refresh timing adjustment device, system and method |
JP4392740B2 (ja) | 2001-08-30 | 2010-01-06 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶回路 |
KR100455393B1 (ko) * | 2002-08-12 | 2004-11-06 | 삼성전자주식회사 | 리프레시 플래그를 발생시키는 반도체 메모리 장치 및반도체 메모리 시스템. |
-
1992
- 1992-06-11 JP JP4151056A patent/JP2833349B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05342865A (ja) | 1993-12-24 |
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