JP2827464B2 - 環線系統保護装置のトリップ試験装置 - Google Patents
環線系統保護装置のトリップ試験装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 B.発明の概要 C.従来の技術 第３図および第４図はこの種従来装置の環線系統保護
装置の回路図およびトリップシーケンスの回路図を示
す。両図において、POは電源、Ry1〜Ry10は短絡差動継
電器（17S）、地絡差動継電器（17G）、Ry110は不足電
圧継電器（27）、地絡過電圧継電器（64）、BUS1〜BUS4
は母線、L1〜L4は需要家、CTは変流器、Trは変圧器、PW
1〜PW5はパイロット・ワイヤ・ケーブルである。第３図
に示した保護装置には、継電器Ry2〜Ry9が需要家に設置
されているので、保守作業が面倒である外に、変流器を
線路と母線を含めて交叉接続しているために、線路事
故、需要家母線線事故と需要家変圧器２次側故障を識別
することが、線路長、需要家変圧器容量、電源の短絡容
量などから困難であった。
装置の回路図およびトリップシーケンスの回路図を示
す。両図において、POは電源、Ry1〜Ry10は短絡差動継
電器（17S）、地絡差動継電器（17G）、Ry110は不足電
圧継電器（27）、地絡過電圧継電器（64）、BUS1〜BUS4
は母線、L1〜L4は需要家、CTは変流器、Trは変圧器、PW
1〜PW5はパイロット・ワイヤ・ケーブルである。第３図
に示した保護装置には、継電器Ry2〜Ry9が需要家に設置
されているので、保守作業が面倒である外に、変流器を
線路と母線を含めて交叉接続しているために、線路事
故、需要家母線線事故と需要家変圧器２次側故障を識別
することが、線路長、需要家変圧器容量、電源の短絡容
量などから困難であった。
第４図は第３図に示した方式のトリップシーケンスを
示し、同図においてP.Nは正負電源ライン、27は不足電
圧継電器の常開接点、17Sは短絡差動継電器の常開接点
で、両接点はトリップコイルTCと直列接続されて上記P.
N間に接続される。また、地絡過電圧継電器64の常開接
点と地絡差動継電器17Gの常開接点との直列回路は、上
記接点27,17Sの直列回路に並列接続されている。このト
リップシーケンスは変電所しゃ断器、需要家しゃ断器に
対して同様に行われる。
示し、同図においてP.Nは正負電源ライン、27は不足電
圧継電器の常開接点、17Sは短絡差動継電器の常開接点
で、両接点はトリップコイルTCと直列接続されて上記P.
N間に接続される。また、地絡過電圧継電器64の常開接
点と地絡差動継電器17Gの常開接点との直列回路は、上
記接点27,17Sの直列回路に並列接続されている。このト
リップシーケンスは変電所しゃ断器、需要家しゃ断器に
対して同様に行われる。
第３図に示した装置の上記問題点を解決するために、
需要家変流器情報を変電所へ伝送し、線路保護と母線保
護とを分類する継電器処理を変電所で一括して行う方式
が案出された。
需要家変流器情報を変電所へ伝送し、線路保護と母線保
護とを分類する継電器処理を変電所で一括して行う方式
が案出された。
第５図は上記提案の回路図で、第３図と同一部分には
同一符号を付与して説明する。第５図においては、電流
i1とi2、i3とi4、i5とi6、i7とi8、i9とi10を使用する
各区間Z1,Z2,Z3,Z4,Z5の保護継電器Ry11（187S,187
G）、Ry12（287S,287G）、Ry13（387S,387G）、Ry14（4
87S,487G）、Ry15（587S,587G）および電流i2とi3、i4
とi5、i6とi7、i8とi9を使用する母線BUS1,BUS2,BUS3,B
US4の保護継電器、Ry21（187BS,187BG）、Ry22（287BS,
287BG）、Ry23（387BS,387BG）、Ry24（487BS,487BG）
が設置される。また、Ry3は電圧Ｖを使用する27,64と電
流i1,i10および電圧Ｖを使用して需要家母線短絡事故時
に動作し、需要家２次側短絡事故時に不動作となる電流
補償付不足電圧継電器27Sである。この27S継電器の数は
需要家数と同一である。
同一符号を付与して説明する。第５図においては、電流
i1とi2、i3とi4、i5とi6、i7とi8、i9とi10を使用する
各区間Z1,Z2,Z3,Z4,Z5の保護継電器Ry11（187S,187
G）、Ry12（287S,287G）、Ry13（387S,387G）、Ry14（4
87S,487G）、Ry15（587S,587G）および電流i2とi3、i4
とi5、i6とi7、i8とi9を使用する母線BUS1,BUS2,BUS3,B
US4の保護継電器、Ry21（187BS,187BG）、Ry22（287BS,
287BG）、Ry23（387BS,387BG）、Ry24（487BS,487BG）
が設置される。また、Ry3は電圧Ｖを使用する27,64と電
流i1,i10および電圧Ｖを使用して需要家母線短絡事故時
に動作し、需要家２次側短絡事故時に不動作となる電流
補償付不足電圧継電器27Sである。この27S継電器の数は
需要家数と同一である。
上記第５図構成の保護装置には、通常第６図に示す集
中保護手段が用いられる。すなわち、各需要家の変流器
CT情報は当該需要家設置の子局装置SUB1〜SUB4を介して
光ファイバケーブルOPF1〜OPF4を用いて中央処理装置MA
Sに入力させて第５図に示した継電器を処理する。この
処理した信号によって変電所しゃ断器CBは中央処理装置
MASによってトリップされ、需要家しゃ断器CBは中央処
理装置MASから各需要家SUBへの光伝送を介し、転送トリ
ップされる。
中保護手段が用いられる。すなわち、各需要家の変流器
CT情報は当該需要家設置の子局装置SUB1〜SUB4を介して
光ファイバケーブルOPF1〜OPF4を用いて中央処理装置MA
Sに入力させて第５図に示した継電器を処理する。この
処理した信号によって変電所しゃ断器CBは中央処理装置
MASによってトリップされ、需要家しゃ断器CBは中央処
理装置MASから各需要家SUBへの光伝送を介し、転送トリ
ップされる。
上記子局装置SUB1〜SUB4はアナログデジタル交換（A/
D）回路，サンプリング回路，伝送インターフェス，光
−電気，電気−光交換回路，電源回路，マイコン処理部
などから構成される。中央処理装置も同様に構成され
る。
D）回路，サンプリング回路，伝送インターフェス，光
−電気，電気−光交換回路，電源回路，マイコン処理部
などから構成される。中央処理装置も同様に構成され
る。
第５図に示した構成の保護装置ではF2点に故障が発生
すると、継電器Ry21が動作し、しゃ断器CB2,CB3のトリ
ップ指令を中央処理装置MASが子局SUB1へ転送し、しゃ
断器をトリップすることによって故障が解除される。ま
た、F3点に故障が発生すると、継電器Ry12が動作し、し
ゃ断器CB3,CB4のトリップ指令を中央処理装置MASが子局
SUB1,SUB2へ転送する。F1点故障の発生時には、継電器R
y11が動作し、中央処理装置MASからしゃ断器CB2にトリ
ップ指令が転送されると共に、しゃ断器CB1が直接トリ
ップされる。しかしながら、中央処理装置は集中処理を
行っており、現地の試験時に継電器Ry11〜Ry24の各試験
を実施するには中央処理装置と各子局装置を専有し、環
線系統は無保護状態となる。
すると、継電器Ry21が動作し、しゃ断器CB2,CB3のトリ
ップ指令を中央処理装置MASが子局SUB1へ転送し、しゃ
断器をトリップすることによって故障が解除される。ま
た、F3点に故障が発生すると、継電器Ry12が動作し、し
ゃ断器CB3,CB4のトリップ指令を中央処理装置MASが子局
SUB1,SUB2へ転送する。F1点故障の発生時には、継電器R
y11が動作し、中央処理装置MASからしゃ断器CB2にトリ
ップ指令が転送されると共に、しゃ断器CB1が直接トリ
ップされる。しかしながら、中央処理装置は集中処理を
行っており、現地の試験時に継電器Ry11〜Ry24の各試験
を実施するには中央処理装置と各子局装置を専有し、環
線系統は無保護状態となる。
上記状態を解決するために第７図および第８図に示す
手段が考えられるようになって来た。
手段が考えられるようになって来た。
第７図および第８図は現地試験時にも保護が可能とな
るようにしたブロック図で、両図の構成を次に述べる。
各需要家の電流情報を該需要家設置の子局装置SUB1〜SU
B4を介して変電所の中央処理装置MASに入力させ、各区
間の線路と母線とを集中保護する。そして、変電所のし
ゃ断器は直接トリップさせ、需要家のしゃ断器は中央処
理装置MASから子局装置SUB1〜SUB4を介してトリップさ
せる。このような機能をもったものにおいて、前記中央
処理装置MASは、２系統MS1,MS2設け、各中央処理装置MS
1,MS2及び子局装置SUB1〜SUB4には試験モード，平常モ
ードの選択スイッチを設けるとともに同一モードにある
中央処理装置MS1,MS2と子局装置SUB1〜SUB4間で保護機
能を可能にする。中央処理装置MS1,MS2は自装置と異モ
ードにある子局装置SUB1〜SUB4からの情報の内、電流デ
ータは強制的に零データとし、そのデータを使用するリ
レーにはタイマーを付加する機能と、子局装置SUB1〜SU
B4は自装置と異モードにある中央処理装置MS1,MS2から
の転送トリップ信号をロックする機能を備えるようにす
る。
るようにしたブロック図で、両図の構成を次に述べる。
各需要家の電流情報を該需要家設置の子局装置SUB1〜SU
B4を介して変電所の中央処理装置MASに入力させ、各区
間の線路と母線とを集中保護する。そして、変電所のし
ゃ断器は直接トリップさせ、需要家のしゃ断器は中央処
理装置MASから子局装置SUB1〜SUB4を介してトリップさ
せる。このような機能をもったものにおいて、前記中央
処理装置MASは、２系統MS1,MS2設け、各中央処理装置MS
1,MS2及び子局装置SUB1〜SUB4には試験モード，平常モ
ードの選択スイッチを設けるとともに同一モードにある
中央処理装置MS1,MS2と子局装置SUB1〜SUB4間で保護機
能を可能にする。中央処理装置MS1,MS2は自装置と異モ
ードにある子局装置SUB1〜SUB4からの情報の内、電流デ
ータは強制的に零データとし、そのデータを使用するリ
レーにはタイマーを付加する機能と、子局装置SUB1〜SU
B4は自装置と異モードにある中央処理装置MS1,MS2から
の転送トリップ信号をロックする機能を備えるようにす
る。
上記のように構成した保護装置のブロック図におい
て、現地試験時等に片方の中央処理装置MS1と子局装置S
UB1によりリレー試験（第１図Ｂに示す）を行っている
とき、第５図に示すF1点に故障が発生しても、中央処理
装置MS2と子局装置SUB2〜SUB4により第５図に示すCB4が
トリップされる。このため、上記のような試験中におい
ても環線系統の保護が充分可能となる。
て、現地試験時等に片方の中央処理装置MS1と子局装置S
UB1によりリレー試験（第１図Ｂに示す）を行っている
とき、第５図に示すF1点に故障が発生しても、中央処理
装置MS2と子局装置SUB2〜SUB4により第５図に示すCB4が
トリップされる。このため、上記のような試験中におい
ても環線系統の保護が充分可能となる。
D.発明が解決しようとする課題 電力線が健全状態であり、各需要家に正常に電力を供
給している状態で、第５図に示す回路図の第１区間（CB
1,CB2間）の試験を行うときにMS1およびSUB1を試験モー
ドとする。MS1とSUB1は同一モード（試験モード）であ
るため、CB2のトリップ試験を行うときに誤ってCB3のト
リップ指令を選択するとCB3がしゃ断する。このとき、
需要家L1にCB3側から電力を供給しているので、L1は停
電となる。
給している状態で、第５図に示す回路図の第１区間（CB
1,CB2間）の試験を行うときにMS1およびSUB1を試験モー
ドとする。MS1とSUB1は同一モード（試験モード）であ
るため、CB2のトリップ試験を行うときに誤ってCB3のト
リップ指令を選択するとCB3がしゃ断する。このとき、
需要家L1にCB3側から電力を供給しているので、L1は停
電となる。
次に第２区間（CB3,CB4）の試験を行うとき、SUB1,SU
B2と中央処理装置の１方を試験モードとする。このと
き、中央処理装置からはCB2とCB5にもしゃ断指令を送出
することが可能である。したがって、誤ってCB2のトリ
ップ指令を出せば需要家L1が停電となる。また、誤って
CB5にトリップ指令を出せば需要家L2が停電となってし
まう。以下同様に各区間の試験を行うときの、試験モー
ド子局、誤出力トリップ指令および停電需要家を次表に
掲げる。
B2と中央処理装置の１方を試験モードとする。このと
き、中央処理装置からはCB2とCB5にもしゃ断指令を送出
することが可能である。したがって、誤ってCB2のトリ
ップ指令を出せば需要家L1が停電となる。また、誤って
CB5にトリップ指令を出せば需要家L2が停電となってし
まう。以下同様に各区間の試験を行うときの、試験モー
ド子局、誤出力トリップ指令および停電需要家を次表に
掲げる。
上述のように、電力供給時に、一定区間の試験を行う
とき、中央処理装置からのトリップ指令の選択を誤る
と、需要家で停電となる問題がある。
とき、中央処理装置からのトリップ指令の選択を誤る
と、需要家で停電となる問題がある。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、試験
モードの時、当該試験区間以外への誤操作指令による停
電を防止するようにした環線系統保護装置のトリップ試
験装置を提供することを目的とする。
モードの時、当該試験区間以外への誤操作指令による停
電を防止するようにした環線系統保護装置のトリップ試
験装置を提供することを目的とする。
E.課題を解決するための手段 この発明は環線系統の需要家の電流情報を収集して送
信する機能と転送トリップ信号を受信し、需要家のしゃ
断器をトリップさせる機能を備えた複数の子局装置と、
これら子局装置から送信される情報を受信する機能と変
電所の電流、電圧情報を収集し、両情報から保護処理を
行う機能と、変電所のしゃ断器をトリップさせる機能お
よび転送トリップ信号を送信する機能を設けた変電所設
備の中央処理装置とを備え、上記中央処理装置を２系
列、子局装置を１系列設けて、各々に試験モード，平常
モードの選択スイッチを設置したものにおいて、 前記選択スイッチを試験モードに選択したときだけ、
子局および中央処理装置から試験ツール出力が送出さ
れ、 子局装置の試験ツール出力により子局装置からトリッ
プ許可信号を送出し、このトリップ許可信号を中央処理
装置に送って、このトリップ信号と中央処理装置の試験
ツール出力とが同時に到来したとき、子局装置にトリッ
プ指令を送り、 このトリップ指令と前記トリップ許可信号から得られ
るトリップ可信号との一致がとれたときに、所定のしゃ
断器にトリップ指令を送出させるようにしたものであ
る。
信する機能と転送トリップ信号を受信し、需要家のしゃ
断器をトリップさせる機能を備えた複数の子局装置と、
これら子局装置から送信される情報を受信する機能と変
電所の電流、電圧情報を収集し、両情報から保護処理を
行う機能と、変電所のしゃ断器をトリップさせる機能お
よび転送トリップ信号を送信する機能を設けた変電所設
備の中央処理装置とを備え、上記中央処理装置を２系
列、子局装置を１系列設けて、各々に試験モード，平常
モードの選択スイッチを設置したものにおいて、 前記選択スイッチを試験モードに選択したときだけ、
子局および中央処理装置から試験ツール出力が送出さ
れ、 子局装置の試験ツール出力により子局装置からトリッ
プ許可信号を送出し、このトリップ許可信号を中央処理
装置に送って、このトリップ信号と中央処理装置の試験
ツール出力とが同時に到来したとき、子局装置にトリッ
プ指令を送り、 このトリップ指令と前記トリップ許可信号から得られ
るトリップ可信号との一致がとれたときに、所定のしゃ
断器にトリップ指令を送出させるようにしたものであ
る。
F.作用 系統が健全状態で特定区間のトリップ試験を行うと
き、子局装置から送出されたトリップ許可信号を中央処
理装置が受信し、試験ツール出力との条件が満たされた
ときだけ、中央処理装置からは子局装置にトリップ指令
を送出する。子局装置ではトリップ指令とトリップ可信
号の条件が満たされたとき、必要なしゃ断器だけにトリ
ップ指令を送出する。
き、子局装置から送出されたトリップ許可信号を中央処
理装置が受信し、試験ツール出力との条件が満たされた
ときだけ、中央処理装置からは子局装置にトリップ指令
を送出する。子局装置ではトリップ指令とトリップ可信
号の条件が満たされたとき、必要なしゃ断器だけにトリ
ップ指令を送出する。
G.実施例 以下この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は中央処理装置の処理シーケンス回路図、第２
図は子局装置の処理シーケンス回路図で、まず第１図に
ついて述べる。
図は子局装置の処理シーケンス回路図で、まず第１図に
ついて述べる。
第１図において、１は試験ツール使用出力部で、この
試験ツール使用出力部１の出力信号は第１ゲート部２の
第１入力に供給される。第１ゲート部２の第２入力はイ
ンヒビット端子になっていて、この第２入力には中央処
理装置の平常モード信号が供給される。第１ゲート部２
は試験モードに選択されると出力を送出して強制的にリ
レーT2をオンする。このオン信号は第２ゲート部３を介
して第３ゲート部４の第１入力に供給される。なお、第
２ゲート部３には試験電流を入力できるようになってい
て、この試験電流の入力により該当するリレーを動作さ
せてトリップ指令を出す手段である。５は第４ゲート部
で、この第４ゲート部５の第1,第２入力はインヒビット
端子で、この端子には中央処理装置と子局装置の平常モ
ード信号が供給され、第３入力には子局装置からトリッ
プ許可信号が供給される。第４ゲート部５は試験モード
のとき、出力を送出する。その出力は第５ゲート部６を
介して第３ゲート部４の第２入力に供給される。
試験ツール使用出力部１の出力信号は第１ゲート部２の
第１入力に供給される。第１ゲート部２の第２入力はイ
ンヒビット端子になっていて、この第２入力には中央処
理装置の平常モード信号が供給される。第１ゲート部２
は試験モードに選択されると出力を送出して強制的にリ
レーT2をオンする。このオン信号は第２ゲート部３を介
して第３ゲート部４の第１入力に供給される。なお、第
２ゲート部３には試験電流を入力できるようになってい
て、この試験電流の入力により該当するリレーを動作さ
せてトリップ指令を出す手段である。５は第４ゲート部
で、この第４ゲート部５の第1,第２入力はインヒビット
端子で、この端子には中央処理装置と子局装置の平常モ
ード信号が供給され、第３入力には子局装置からトリッ
プ許可信号が供給される。第４ゲート部５は試験モード
のとき、出力を送出する。その出力は第５ゲート部６を
介して第３ゲート部４の第２入力に供給される。
次に第２図の子局装置のシーケンス回路図について述
べる。第２図において、７は子局側の試験ツール使用出
力部で、この出力部７からの信号は第６ゲート部８の第
１入力に供給される。第６ゲート部８の第２入力は試験
モードのとき信号が供給され、第６ゲート部８から出力
が送出される。この出力でトリップ許可信号発生部T1が
動作して中央処理装置MS1,MS2へトリップ許可信号を供
給する。
べる。第２図において、７は子局側の試験ツール使用出
力部で、この出力部７からの信号は第６ゲート部８の第
１入力に供給される。第６ゲート部８の第２入力は試験
モードのとき信号が供給され、第６ゲート部８から出力
が送出される。この出力でトリップ許可信号発生部T1が
動作して中央処理装置MS1,MS2へトリップ許可信号を供
給する。
トリップ許可信号は第７ゲート部９の第１入力にも供
給され、第７ゲート部９の第２入力に試験モード信号が
供給されたとき、第７ゲート部９から出力が生じる。第
７ゲート部９に生じた出力は第８ゲート部10を介してト
リップ可信号として送出される。11,12は第9,第10ゲー
ト部で、このゲート部11,12の第１入力にはMS1,MS2より
の平常モード信号が供給され、第２入力には子局装置の
平常モード信号が供給される。
給され、第７ゲート部９の第２入力に試験モード信号が
供給されたとき、第７ゲート部９から出力が生じる。第
７ゲート部９に生じた出力は第８ゲート部10を介してト
リップ可信号として送出される。11,12は第9,第10ゲー
ト部で、このゲート部11,12の第１入力にはMS1,MS2より
の平常モード信号が供給され、第２入力には子局装置の
平常モード信号が供給される。
13,14は第11,第12ゲート部で、このゲート部13,14の
第１入力にはMS1,MS2からのトリップ指令が供給され、
その第２入力には第9,第10ゲート部11,12の出力がそれ
ぞれ供給される。第11,第12ゲート部13,14の出力は第1
3,第14ゲート部15,16の第１入力にそれぞれ入力され、
その第２入力には第８ゲート部10からのトリップ可信号
が供給される。第13,第14ゲート部15,16は両入力が一致
したときに出力を送出し、この出力が第15ゲート部17を
介してトリップ指令として送出される。
第１入力にはMS1,MS2からのトリップ指令が供給され、
その第２入力には第9,第10ゲート部11,12の出力がそれ
ぞれ供給される。第11,第12ゲート部13,14の出力は第1
3,第14ゲート部15,16の第１入力にそれぞれ入力され、
その第２入力には第８ゲート部10からのトリップ可信号
が供給される。第13,第14ゲート部15,16は両入力が一致
したときに出力を送出し、この出力が第15ゲート部17を
介してトリップ指令として送出される。
次に上記実施例の動作を述べる。
試験モードの子局はしゃ断器個別にトリップ許可信号
を選択し、それを中央処理装置へ送信する。試験モード
の中央処理装置MS1,MS2ではトリップ許可信号を受信す
ると、該当しゃ断器へのトリップ指令送信を可能とす
る。MS1,MS2では該当しゃ断器をトリップするためのリ
レーを強制的に動作させれば、子局へトリップ指令を送
信する。MS1,MS2でリレーを動作させるには第１図に示
したように２通りの手段がある。第１手段は試験を行う
箇所に試験電流を入力し、該当するリレーを動作させる
ものである。第２手段は中央処理装置を試験モードにし
たときに使用可能となる試験ツール使用出力部１を設置
し、強制的に該当するリレーT2を動作させる手段であ
る。
を選択し、それを中央処理装置へ送信する。試験モード
の中央処理装置MS1,MS2ではトリップ許可信号を受信す
ると、該当しゃ断器へのトリップ指令送信を可能とす
る。MS1,MS2では該当しゃ断器をトリップするためのリ
レーを強制的に動作させれば、子局へトリップ指令を送
信する。MS1,MS2でリレーを動作させるには第１図に示
したように２通りの手段がある。第１手段は試験を行う
箇所に試験電流を入力し、該当するリレーを動作させる
ものである。第２手段は中央処理装置を試験モードにし
たときに使用可能となる試験ツール使用出力部１を設置
し、強制的に該当するリレーT2を動作させる手段であ
る。
前記トリップ指令は第２図に示す子局装置に送信され
る。例えばMS1からの送信の場合、第11ゲート部13の第
１入力に供給される。第11ゲート部13では第２入力との
関係で一致がとれれば第11ゲート部13から出力が送出さ
れる。この出力は第13ゲート部15に供給され、すでに第
13ゲート部15に供給されているトリップ可信号との一致
がとれて出力にトリップ指令が送出され、所望のしゃ断
器がトリップされる。
る。例えばMS1からの送信の場合、第11ゲート部13の第
１入力に供給される。第11ゲート部13では第２入力との
関係で一致がとれれば第11ゲート部13から出力が送出さ
れる。この出力は第13ゲート部15に供給され、すでに第
13ゲート部15に供給されているトリップ可信号との一致
がとれて出力にトリップ指令が送出され、所望のしゃ断
器がトリップされる。
次に上記第１図および第２図のシーケンス回路を第５
図に示す実際の系統に適用した場合について述べるに、
ループ系統が健全時に、CB1〜CB2間の第１区間の試験を
行うときの例について説明する。
図に示す実際の系統に適用した場合について述べるに、
ループ系統が健全時に、CB1〜CB2間の第１区間の試験を
行うときの例について説明する。
MS1およびSUB1を試験モードに選択し、第２図に示す
ように子局の試験ツール使用出力部７を使用可能とす
る。SUB1の試験ツール使用出力部７の出力でCB2のトリ
ップ許可端子T1を選択して、MS1にCB2のトリップ許可信
号を送信する。
ように子局の試験ツール使用出力部７を使用可能とす
る。SUB1の試験ツール使用出力部７の出力でCB2のトリ
ップ許可端子T1を選択して、MS1にCB2のトリップ許可信
号を送信する。
MS1は試験モードあるため、第８図に示すようにSUB1
から平常モードでない（試験モード）信号と、CB2トリ
ップ許可信号を受信することにより、試験ツールでRY11
を強制的に動作させれば、SUB1に対してCB2のトリップ
指令を送出する。誤ってRY21またはRY12を動作させて
も、子局でCB3のトリップ許可信号を選択していないの
で、CB3にトリップ指令を送出しない。一方、SUB1では
第２図に示すように、MS1からのCB2トリップ指令を受信
する。MS1とSUB1とともに試験モードであり、しかも試
験ツールでCB2のトリップ許可が選択されているので、C
B2はトリップとなる。
から平常モードでない（試験モード）信号と、CB2トリ
ップ許可信号を受信することにより、試験ツールでRY11
を強制的に動作させれば、SUB1に対してCB2のトリップ
指令を送出する。誤ってRY21またはRY12を動作させて
も、子局でCB3のトリップ許可信号を選択していないの
で、CB3にトリップ指令を送出しない。一方、SUB1では
第２図に示すように、MS1からのCB2トリップ指令を受信
する。MS1とSUB1とともに試験モードであり、しかも試
験ツールでCB2のトリップ許可が選択されているので、C
B2はトリップとなる。
なお、SUB1は試験モードであり、平常モードであるMS
2からのトリップ指令は異モードであるため、ロックす
る。
2からのトリップ指令は異モードであるため、ロックす
る。
次にCB1,CB2の第１区間からCB9,CB10の第５区間を試
験するときの試験モードおよびトリップ許可を選択する
CBおよび中央処理装置でリレー動作させる要素について
次表に示す。
験するときの試験モードおよびトリップ許可を選択する
CBおよび中央処理装置でリレー動作させる要素について
次表に示す。
但し、第１区間については中央処理装置MS1、第５区
間についてはMS2、その他区間については、どちらかの
中央処理装置を試験モードとする。
間についてはMS2、その他区間については、どちらかの
中央処理装置を試験モードとする。
上記のように子局装置で、トリップ許可を選択するこ
とにより中央処理装置でトリップ指令を出す設定を誤っ
ても試験を実施したい、しゃ断器以外にはトリップ指令
を送信しない。
とにより中央処理装置でトリップ指令を出す設定を誤っ
ても試験を実施したい、しゃ断器以外にはトリップ指令
を送信しない。
H.発明の効果 以上述べたように、この発明によれば、次のような効
果を奏する。
果を奏する。
（１）系統が健全状態で特定区間の試験を行うとき、子
局装置でのトリップ許可選択を正確に行えば、中央処理
装置で誤った箇所のトリップ指令を選択してもトリップ
することはない。従って、安心して各需要家に電力を供
給することができる。
局装置でのトリップ許可選択を正確に行えば、中央処理
装置で誤った箇所のトリップ指令を選択してもトリップ
することはない。従って、安心して各需要家に電力を供
給することができる。
（２）子局装置でトリップ許可選択を誤ったときでも、
中央処理装置でのトリップ指令の選択を正確に行えば試
験区間以外のしゃ断器をトリップすることは生じない。
中央処理装置でのトリップ指令の選択を正確に行えば試
験区間以外のしゃ断器をトリップすることは生じない。
（３）試験ツール使用出力部は試験モードのときのみ使
用可能であり、平常モードのときにはその機能が喪失さ
れるため、試験ツール使用出力部からの強制指令を送出
する設定になっていても、平常モードに選択したときに
はその信号が送出されないので、誤動作の原因などシス
テムに対して悪影響を及ぼさない利点がある。
用可能であり、平常モードのときにはその機能が喪失さ
れるため、試験ツール使用出力部からの強制指令を送出
する設定になっていても、平常モードに選択したときに
はその信号が送出されないので、誤動作の原因などシス
テムに対して悪影響を及ぼさない利点がある。
第１図および第２図はこの発明の実施例を示す中央処理
装置および子局装置のシーケンス回路図、第３図および
第５図は環線系統保護装置の回路図、第４図はトリップ
シーケンスを示す回路図、第６図は集中保護手段を示す
構成図、第７図および第８図は中央処理装置と子局装置
との正常モードと試験モードの接続関係を示す説明図で
ある。 1,7……試験ツール使用出力部、２〜6,8〜17……第１〜
第15ゲート部。
装置および子局装置のシーケンス回路図、第３図および
第５図は環線系統保護装置の回路図、第４図はトリップ
シーケンスを示す回路図、第６図は集中保護手段を示す
構成図、第７図および第８図は中央処理装置と子局装置
との正常モードと試験モードの接続関係を示す説明図で
ある。 1,7……試験ツール使用出力部、２〜6,8〜17……第１〜
第15ゲート部。
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H02H 3/05 H02H 3/28
Claims (1)
- 【請求項１】環線系統の需要家の電流情報を収集して送
信する機能と転送トリップ信号を受信し、需要家のしゃ
断器をトリップさせる機能を備えた複数の子局装置と、
これら子局装置から送信される情報を受信する機能と変
電所の電流、電圧情報を収集し、両情報から保護処理を
行う機能と、変電所のしゃ断器をトリップさせる機能お
よび転送トリップ信号を送信する機能を設けた変電所設
置の中央処理装置とを備え、上記中央処理装置を２系
列、子局装置を１系列設けて、各々に試験モード，平常
モードの選択スイッチを設置したものにおいて、 前記選択スイッチを試験モードに選択したときだけ、子
局および中央処理装置から試験ツール出力が送出され、 子局装置の試験ツール出力により子局装置からトリップ
許可信号を送出し、このトリップ許可信号を中央処理装
置に送って、このトリップ信号と中央処理装置の試験ツ
ール出力とが同時に到来したとき、子局装置にトリップ
指令を送り、 このトリップ指令と前記トリップ許可信号から得られる
トリップ可信号との一致がとれたときに、必要なしゃ断
器にトリップ指令を送出させるようにしたことを特徴と
する環線系統保護装置のトリップ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2165970A JP2827464B2 (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 環線系統保護装置のトリップ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2165970A JP2827464B2 (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 環線系統保護装置のトリップ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0458718A JPH0458718A (ja) | 1992-02-25 |
| JP2827464B2 true JP2827464B2 (ja) | 1998-11-25 |
Family
ID=15822466
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2165970A Expired - Lifetime JP2827464B2 (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 環線系統保護装置のトリップ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2827464B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5851084B2 (ja) * | 2010-05-14 | 2016-02-03 | 三菱電機株式会社 | ディジタルリレー |
-
1990
- 1990-06-25 JP JP2165970A patent/JP2827464B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0458718A (ja) | 1992-02-25 |
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